KR102055334B1 - Adhesive resin, self-assembled conductive bonding paste comprising the same and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명은 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 접착력이 우수할 뿐만 아니라, 접속저항이 낮고, 인쇄성, 절연성 및 자가융착성이 우수한 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive resin, a self-sealing conductive connection paste including the same, and a method for manufacturing the same, and more particularly, excellent adhesive strength, low connection resistance, and excellent printability, insulation, and self-adhesion property. The present invention relates to an adhesive resin, a self-sealing conductive connection paste including the same, and a manufacturing method thereof.

Description

접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법{Adhesive resin, self-assembled conductive bonding paste comprising the same and manufacturing method thereof}Adhesive resin, self-bonding conductive connection paste comprising the same and a method for manufacturing the same {Adhesive resin, self-assembled conductive bonding paste comprising the same and manufacturing method

본 발명은 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 접착력이 우수할 뿐만 아니라, 접속저항이 낮고, 인쇄성, 절연성 및 자가융착성이 우수한 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive resin, a self-sealing conductive connection paste including the same, and a method for manufacturing the same, and more particularly, not only has excellent adhesive strength, but also has low connection resistance and excellent printability, insulation, and self-adhesion property. The present invention relates to an adhesive resin, a self-sealing conductive connection paste including the same, and a method of manufacturing the same.

일반적으로 전도성 접착제는 이방성 도전 접착제와 등방성 도전 접착제로 구분할 수 있으며, 특히 이방성 도전 접착체 성분으로 제조된 이방성 도전 필름은 반도체와 같은 전자부품, 예를 들어 LCD, PDP, EL 등의 평판표시소자의 실장에 사용된다. 이방성 도전 필름은 도전성분과 열에 의해 경화되는 접착 성분을 포함하고 있으며, 주로 LCD 패널과 TCP 또는 PCB와 TCP 등의 전기적인 접속에 사용되고 있다.In general, the conductive adhesive may be classified into an anisotropic conductive adhesive and an isotropic conductive adhesive. In particular, an anisotropic conductive film made of an anisotropic conductive adhesive component may be used for electronic components such as semiconductors, for example, flat panel display devices such as LCD, PDP, and EL. Used for mounting. The anisotropic conductive film contains an adhesive component that is cured by conductive powder and heat, and is mainly used for electrical connection of LCD panels, TCP, or PCBs and TCP.

이러한 이방성 도전 필름(ACF ; anisotropic conductive adhesive films)은 배선기구 중의 하나로서 유용하며, 접속부재로서의 역할을 하고 있다. 구체적으로, 도 1을 참조하여 이방성 도전 필름(ACF)를 설명하면, 이방성 도전 필름은 접착수지와 이 수지에 충분한 양으로 분산된 금속, 흑연 또는 그와 유사한 도전성 입자(conductive particle)로서 구성된다. 이러한 이방성 도전필름은 접속하고자 하는 복수의 회로부재(FPC, IC, ITO Glass, CPT, LCD 패널 등) 사이에 위치시킨 후 가열(Heat) 및 가압(Pressure)을 가하는 공정이 진행되고, 가열(Heat) 및 가압(Pressure)에 의해 이방성 도전필름에 포함되는 도전성 입자(conductive particle) 일부는 복수의 회로부재의 전극(Electrode) 부분에 형성되어 회로부재 간의 전기적인 접속이 발생하고, 이와 동시에 접착수지는 경화되어 복수의 회로부재를 접착시킨다. 압력이 가해지는 방향의 수직방향으로는 도전물질의 입자(conductive particle)가 서로 산만하게 위치되어 전기적 절연을 유지한다.Such anisotropic conductive adhesive films (ACFs) are useful as one of wiring devices and serve as connection members. Specifically, referring to FIG. 1, an anisotropic conductive film (ACF) will be described as an anisotropic conductive film composed of a metal, graphite or similar conductive particles dispersed in a sufficient amount in an adhesive resin and this resin. The anisotropic conductive film is placed between a plurality of circuit members (FPC, IC, ITO Glass, CPT, LCD panel, etc.) to be connected, and a process of applying heat and pressure is performed. And some of the conductive particles included in the anisotropic conductive film by pressure are formed in the electrode portions of the plurality of circuit members to generate an electrical connection between the circuit members. Cured to bond a plurality of circuit members. In the vertical direction of the direction in which pressure is applied, conductive particles are distracted from each other to maintain electrical insulation.

이와 같은, 이방성 도전필름은 특정 접점만이 물리적으로 접촉되므로 상대적으로 낮은 도전성으로 인한 불안정하고 높은 접속저항, 낮은 접합강도 및 이온 마이그레이션 등의 단점을 가지고 있다. 또한, 해당기술에 사용되는 도전성 입자는 요구되는 피치 이하에서 균일한 크기의 폴리머 탄성볼에 별도의 귀금속 도금처리 및 절연처리가 필요하므로 품질관리가 곤란하며 비용이 비싸다는 단점이 있다.As such, anisotropic conductive films have disadvantages such as unstable and high connection resistance, low bonding strength, and ion migration due to relatively low conductivity because only specific contacts are in physical contact. In addition, the conductive particles used in the technology has a disadvantage that the quality control is difficult and expensive because a separate noble metal plating treatment and insulation treatment is required for a polymer elastic ball of uniform size below the required pitch.

이 뿐만 아니라, 이방성 도전필름을 이용한 접촉 방식은 접촉을 위해 별도의 고가의 설비가 필요하며, 온도와 시간 외에 필수로 압력이 가해지게 되는 바 피착되는 회로기판 또는 전자부품 등에 손상을 발생시킬 우려가 있다.In addition, a contact method using an anisotropic conductive film requires a separate expensive facility for contact, and the pressure is applied in addition to the temperature and time, there is a risk of damaging the circuit board or electronic components to be deposited. have.

따라서, 별도의 고가장비 없이도, 회로부재 간의 전기적인 접속이 가능할 뿐만 아니라, 피착제간의 접착력 향상, 접속저항의 감소 및 부품들 간의 압력손상을 제거할 수 있는 도전성 접착제가 필요하다.Accordingly, there is a need for a conductive adhesive that can not only make electrical connection between circuit members, but also improve adhesion between adherends, reduce connection resistance, and eliminate pressure damage between components without additional expensive equipment.

한국 공개특허번호 제2012-0122943호(공개일 : 2012.11.07)Korean Laid-Open Patent No. 2012-0122943 (Published Date: 2012.11.07)

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 안출한 것으로, 압력을 가하는 장비없이 융용금속에 의한 접점 도통을 통해 회로부재(회로기판, 반도체 칩, ITO Class, 플라스티 소자 기판의 단자부 등)간 전기 접속을 구현할 뿐만 아니라, 피착제간의 접착력이 우수하고, 접속저항이 낮을 뿐만 아니라, 인쇄성, 절연성 및 자가융착성이 우수한 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법을 제공하는데 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above, and is intended to provide electrical connection between circuit members (circuit boards, semiconductor chips, ITO Class, terminal parts of plastic element boards, etc.) through contact conduction by molten metal without applying pressure. In addition to providing a good adhesive strength between the adherends, low connection resistance, excellent printability, insulation and self-adhesive adhesive resin, self-sealing conductive connection paste comprising the same and a method for manufacturing the same There is this.

상술한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 접착수지는 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지를 포함하고, 상기 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지를 1 : 1.86 ~ 2.8 중량비로 포함할 수 있다.In order to solve the above problems, the adhesive resin of the present invention may include a rubber modified epoxy resin and a bisphenol A type epoxy resin, and the rubber modified epoxy resin and the bisphenol A type epoxy resin may be included in a weight ratio of 1: 1.86 to 2.8. have.

이 때, 상기 접착수지는 자가융착형 도전접속 페이스트용으로 사용할 수 있다.At this time, the adhesive resin can be used for self-sealing conductive connection paste.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 접착수지는 에폭시 당량이 230 ~ 250 g/eq일 수 있다.In one preferred embodiment of the present invention, the adhesive resin may be an epoxy equivalent of 230 ~ 250 g / eq.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 접착수지는 60 ~ 120℃에서 80 ~ 3,300 mPas의 점도를 가질 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the adhesive resin may have a viscosity of 80 ~ 3,300 mPas at 60 ~ 120 ℃.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 접착수지는 361 ~ 543의 수평균분자량(Mn), 2733 ~ 4100의 중량평균분자량(Mw)를 가질 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the adhesive resin may have a number average molecular weight (Mn) of 361 ~ 543, a weight average molecular weight (Mw) of 2733 ~ 4100.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 고무 변성 에폭시 수지는 702 ~ 1054의 수평균분자량(Mn), 12002 ~ 18004의 중량평균분자량(Mw)를 가질 수 있다.In one preferred embodiment of the present invention, the rubber modified epoxy resin may have a number average molecular weight (Mn) of 702 ~ 1054, a weight average molecular weight (Mw) of 12002 ~ 18004.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 비스페놀 A형 에폭시 수지는 278 ~ 418의 수평균분자량(Mn), 348 ~ 524의 중량평균분자량(Mw)를 가질 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the bisphenol A epoxy resin may have a number average molecular weight (Mn) of 278 to 418, a weight average molecular weight (Mw) of 348 to 524.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 고무 변성 에폭시 수지의 고무는 CTBN(Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), NBR(nitrile butadiene rubber), 아크릴(acrylic rubber) 및 실리콘(silicone) 중 1종 이상을 포함할 수 있다.In a preferred embodiment of the present invention, the rubber of the modified epoxy resin may include at least one of carboxylic terminated butadiene acrylonitrile (CTBN), nitrile butadiene rubber (NBR), acrylic rubber and silicone (silicone) have.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 고무 변성 에폭시 수지의 에폭시 수지는 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락 에폭시 수지, 페놀 노볼락 에폭시 수지, 나프탈렌계 에폭시 수지, 및 디시클로펜타디엔(DCPD)형 에폭시 수지 중 1종 이상을 포함할 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the epoxy resin of the rubber-modified epoxy resin is bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, naphthalene epoxy resin, and dicyclo It may contain one or more of pentadiene (DCPD) type epoxy resin.

한편, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 앞서 언급한 접착수지, 도전성 입자, 환원제 및 용매를 포함한다.On the other hand, the self-sealing conductive connection paste of the present invention contains the above-mentioned adhesive resin, conductive particles, a reducing agent and a solvent.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 접착수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자 567 ~ 851 중량부, 환원제 80 ~ 120 중량부 및 용매 23 ~ 36 중량부를 포함할 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin, may include 567 ~ 851 parts by weight of the conductive particles, 80 to 120 parts by weight of the reducing agent and 23 to 36 parts by weight of the solvent.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 도전성 입자는 비스무트(Bi), 주석(Sn), 인듐(In), 은(Ag), 구리(Cu), 아연(Zn), 안티몬(Sb), 니켈(Ni) 및 이들의 합금 중에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있다.In one preferred embodiment of the present invention, the conductive particles are bismuth (Bi), tin (Sn), indium (In), silver (Ag), copper (Cu), zinc (Zn), antimony (Sb), nickel ( Ni) and one or more selected from these alloys.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 도전성 입자는 비스무트(Bi) 및 주석(Sn)의 합금으로, 비스무트 및 주석을 1 : 0.57 ~ 0.87 중량비로 포함할 수 있다.In one preferred embodiment of the present invention, the conductive particles are an alloy of bismuth (Bi) and tin (Sn), and may include bismuth and tin in a weight ratio of 1: 0.57 to 0.87.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 도전성 입자의 입경은 2 ~ 75㎛일 수 있다.In one preferred embodiment of the present invention, the particle diameter of the conductive particles may be 2 ~ 75㎛.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 상기 환원제는 로진계 환원제, 유기산류 환원제, 금속성 환원제 및 아민염 환원제 중에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the reducing agent may include one or more selected from rosin-based reducing agents, organic acid reducing agents, metallic reducing agents and amine salt reducing agents.

상기 용매는 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether), 에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Ethylene glycol dimethyl ether), 트리에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Triethylene glycol dimethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 다이에틸 에스터(Diethylene glycol diethyl ether) 및 다이에틸렌 글리콜 메틸 에틸 에스터(Diethylene glycol methyl ethyl ether) 중 1종 이상을 포함할 수 있다.The solvent is diethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, triethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether. diethyl ether) and diethylene glycol methyl ethyl ether.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 150 ~ 180℃의 온도에서, 2 ~ 5 kgf/cm의 접착력, 0.001 ~ 1 Ω/cm 의 접착저항을 가질 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the self-sealing conductive connection paste of the present invention may have an adhesive force of 2 to 5 kgf / cm, adhesion resistance of 0.001 ~ 1 Ω / cm at a temperature of 150 ~ 180 ℃.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 100 ~ 180℃의 온도에서 30 ~ 3,000mPa·s의 점도를 가질 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the self-sealing conductive connection paste of the present invention may have a viscosity of 30 to 3,000 mPa · s at a temperature of 100 to 180 ° C.

본 발명의 바람직한 일실시예로서, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 회로기판, 반도체 칩, ITO Glass 또는 플라스틱 소재의 기판 중에서 선택되는 1종 이상을 접합할 수 있다.As a preferred embodiment of the present invention, the self-sealing conductive connection paste of the present invention may bond one or more selected from a circuit board, a semiconductor chip, an ITO glass, or a plastic material substrate.

한편, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트의 제조방법은 접착수지 100 중량부에 대하여, 환원제 80 ~ 120 중량부 및 용매 23 ~ 36 중량부를 혼합하여 혼합물을 제조하는 제1단계 및 상기 혼합물에 접착수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자 567 ~ 851 중량부를 혼합하여, 자가융착성 도전접속 페이스트를 제조하는 제2단계를 포함할 수 있다.On the other hand, the method for producing the self-sealing conductive connection paste of the present invention is a first step of preparing a mixture by mixing 80 to 120 parts by weight of the reducing agent and 23 to 36 parts by weight of the solvent with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin and the adhesive to the mixture A second step of preparing a self-adhesive conductive connection paste may be included by mixing 567 to 851 parts by weight of the conductive particles with respect to 100 parts by weight of the resin.

본 발명의 접착수지, 이를 포함하는 자가융착형 도전접속 페이스트 및 이의 제조방법은 압력을 가하는 장비없이 융용금속에 의한 접점 도통을 통해 회로부재(회로기판, 반도체 칩, ITO Class, 플라스틱 소자 기판의 단자부 등)간 전기 접속을 구현할 뿐만 아니라, 피착제간의 접착력이 우수하고, 접속저항이 낮을 뿐만 아니라, 인쇄성, 절연성 및 자가융착성이 우수하다.The adhesive resin of the present invention, a self-sealing conductive connection paste including the same, and a method of manufacturing the same are used in a circuit member (circuit board, semiconductor chip, ITO class, terminal part of a plastic element substrate) through contact conduction by molten metal without applying pressure. Etc.) not only realize electrical connection, but also excellent adhesion between adherends, low connection resistance, and excellent printability, insulation and self-adhesion.

또한, 본 발명은 자가융착형 도전접속 페이스트에 포함된 도전성 입자가 회로부재의 전극(Electrode) 부분에만 선택적으로 형성되고, 전극부분 외에는 접착수지(환원제 포함)로 구성되어 전극 부분을 보호할 수 있어서, 외부 충격에 의한 회로 손상을 방지할 수 있다.In addition, according to the present invention, the conductive particles included in the self-sealing conductive connection paste are selectively formed only on the electrode portion of the circuit member, and other than the electrode portion, the conductive particles may be formed of an adhesive resin (including a reducing agent) to protect the electrode portion. It can prevent the circuit damage by external shock.

도 1은 종래 이방성 도전필름(ACF)의 도통 구현방식을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2은 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트(Self-assembled conductive bonding paste)의 도통 구현방식을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 구체적인 일구현예로서, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트가 열처리되어, 도전성 입자가 회로부재의 전극부분에 응집되어 회로부재 간의 전기적 도통이 이루어지는 것을 나타낸 도면이다.
1 is a view schematically showing a conductive method of the conventional anisotropic conductive film (ACF).
FIG. 2 is a view schematically showing a conduction method of a self-assembled conductive bonding paste of the present invention.
3 is a view showing a preferred specific embodiment of the present invention, in which the self-fusion conductive connection paste of the present invention is heat-treated, whereby conductive particles are agglomerated to the electrode portion of the circuit member, thereby causing electrical conduction between the circuit members.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 부가한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. The drawings and description are to be regarded as illustrative in nature and not restrictive. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

종래의 이방도전성 필름은 필름을 구성하는 도전성 입자가 상하 전극에 접속되어 물리적 접촉에 의한 회로간 도전을 추구하는 방식이나, 이는 특정 접점만으로 물리적으로 접촉되므로 상대적으로 낮은 도전성으로 인한 불안정하고 높은 접속저항, 낮은 접합강도 및 이온 마이그레이션 등의 단점을 가지고 있었지만, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 특정 성분이 특정 함량 범위로 포함되어, 금속끼리 뭉치는 성질을 이용하여 자가융착이 우수하고, 접착력, 접속저항, 인쇄성 및 절연성 또한 우수하다.In the conventional anisotropic conductive film, the conductive particles constituting the film are connected to the upper and lower electrodes to pursue the inter-circuit conduction by physical contact, but since they are physically contacted only through specific contacts, they are unstable and have high connection resistance due to relatively low conductivity. Although it has disadvantages such as low bonding strength and ion migration, the self-sealing conductive connection paste of the present invention includes a specific component in a specific content range, and has excellent self fusion using adhesive properties between metals. The connection resistance, printability and insulation are also excellent.

구체적으로, 도 2를 참조하여 설명하면, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트(Self-assembled conductive bonding paste)는 압력의 가함이 없이 열처리 만으로 도전성 입자(conductive particle)가 용융되고, 용융된 도전성 입자는 회로부재(회로기판, 반도체 칩, ITO Class, 플라스틱 소자 기판의 단자부 등)의 전극 부위(Electrode)에만 선택적으로 자가 융착하는 효과가 발생한다. 이 때, 수지 조성물(Resin) 부분에는 잔류된 도전성 입자(conductive particle)가 없어 접착력이 우수하고, 접속저항은 낮을 뿐만 아니라 절연성이 우수하다.Specifically, referring to FIG. 2, in the self-assembled conductive bonding paste of the present invention, the conductive particles are melted only by heat treatment without applying pressure, and the molten conductive particles are melted. Has the effect of selectively self-sealing only on the electrode portion of the circuit member (circuit board, semiconductor chip, ITO Class, terminal part of the plastic element substrate, etc.). At this time, there is no conductive particles remaining in the resin composition (Resin), so that the adhesive force is excellent, the connection resistance is low, and the insulation is excellent.

본 발명의 접착수지는 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지 를 포함한다.The adhesive resin of the present invention includes a rubber modified epoxy resin and a bisphenol A epoxy resin.

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지를 1 : 1.86 ~ 2.8 중량비, 바람직하게는 1 : 2.1 ~ 2.57 중량부, 더욱 바람직하게는 1 : 2.21 ~ 2.45 중량비로 포함할 수 있다. 만일, 본 발명의 접착수지가 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지를 1 : 1.86 중량비 미만으로 포함한다면 점도가 낮아 인쇄성이 나빠지는 문제가 발생할 수 있고, 1 : 2.8 중량비를 초과하면 포함한다면 본 발명의 접착수지를 포함하는 페이스트의 경시성이 나빠지는 문제가 발생할 수 있다.At this time, the rubber-modified epoxy resin and the bisphenol A epoxy resin may be included in a weight ratio of 1: 1.86 to 2.8, preferably 1: 2.1 to 2.57 parts by weight, more preferably 1: 2.21 to 2.45. If the adhesive resin of the present invention includes a rubber-modified epoxy resin and a bisphenol-A epoxy resin in less than 1: 1.86 weight ratio, a problem may occur in that printability is low due to low viscosity, and if it includes more than 1: 2.8 weight ratio, The problem that the time-lapse of the paste containing the adhesive resin of the present invention may deteriorate.

본 발명의 접착수지는 열처리에 의하여 경화되어 복수의 회로부재를 접착시키는 물질로서, 자가융착형 도전접속 페이스트용으로서 사용할 수 있다. The adhesive resin of the present invention is a substance which is cured by heat treatment to bond a plurality of circuit members, and can be used for self-sealing conductive connection paste.

또한, 본 발명의 접착수지는 에폭시 당량이 230 ~ 250 g/eq일 수 있다.In addition, the adhesive resin of the present invention may be an epoxy equivalent of 230 ~ 250 g / eq.

이 뿐만 아니라, 본 발명의 접착수지는 60 ~ 120℃에서 80 ~ 3,300 mPa·s의 점도, 바람직하게는 80 ~ 3,000 mPa·s의 점도, 더욱 바람직하게는 80 ~ 2,700 mPa·s의 점도를 가지는 수지일 수 있다. In addition, the adhesive resin of the present invention has a viscosity of 80 to 3,300 mPa · s, preferably 80 to 3,000 mPa · s, more preferably 80 to 2,700 mPa · s at 60 to 120 ° C. It may be a resin.

한편, 본 발명의 접착수지는 361 ~ 543의 수평균분자량(Mn), 바람직하게는 406 ~ 500의 수평균분자량(Mn), 더욱 바람직하게는 429 ~ 475의 수평균분자량(Mn)을 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 접착수지는 2733 ~ 4100의 중량평균분자량(Mw), 바람직하게는 3075 ~ 3760의 중량평균분자량(Mw), 더욱 바람직하게는 3246 ~ 3588의 중량평균분자량(Mw)을 가질 수 있다. Meanwhile, the adhesive resin of the present invention may have a number average molecular weight (Mn) of 361 to 543, preferably a number average molecular weight (Mn) of 406 to 500, and more preferably a number average molecular weight (Mn) of 429 to 475. have. In addition, the adhesive resin of the present invention may have a weight average molecular weight (Mw) of 2733 to 4100, preferably a weight average molecular weight (Mw) of 3075 to 3760, more preferably a weight average molecular weight (Mw) of 3246 to 3588. have.

본 발명의 비스페놀 A형 에폭시 수지는 액상으로서, 278 ~ 418의 수평균분자량(Mn), 바람직하게는 313 ~ 383의 수평균분자량(Mn), 더욱 바람직하게는 330 ~ 366의 수평균분자량(Mn)을 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 비스페놀 A형 에폭시 수지는 348 ~ 524의 중량평균분자량(Mw), 바람직하게는 392 ~ 480의 중량평균분자량(Mw), 더욱 바람직하게는 414 ~ 458의 중량평균분자량(Mw)를 가질 수 있다. 만일, 본 발명의 비스페놀 A형 에폭시 수지의 수평균분자량이 278 미만이거나, 중량평균분자량이 348 미만이면 점도가 낮아 페이스트의 경시성의 문제가 발생할 수 있고, 수평균분자량이 418을 초과하거나, 중량평균분자량이 524를 초과하면 인쇄성의 문제가 발생할 수 있다.The bisphenol A epoxy resin of the present invention is a liquid, which has a number average molecular weight (Mn) of 278 to 418, preferably a number average molecular weight (Mn) of 313 to 383, and more preferably a number average molecular weight (Mn) of 330 to 366. ) In addition, the bisphenol A epoxy resin of the present invention has a weight average molecular weight (Mw) of 348 to 524, preferably a weight average molecular weight (Mw) of 392 to 480, more preferably a weight average molecular weight (Mw) of 414 to 458 It can have If the number average molecular weight of the bisphenol A epoxy resin of the present invention is less than 278, or if the weight average molecular weight is less than 348, the viscosity may be low, causing problems with time of the paste, and the number average molecular weight is greater than 418, or the weight average If the molecular weight exceeds 524, a problem of printability may occur.

본 발명의 고무 변성 에폭시 수지는 에폭시 수지에 고무가 반응하여 변성된 수지이다. The rubber modified epoxy resin of this invention is resin which modified | denatured by rubber reaction to an epoxy resin.

이 때, 고무 변성 에폭시 수지의 에폭시 수지는 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락 에폭시 수지, 페놀 노볼락 에폭시 수지, 나프탈렌계 에폭시 수지, 및 디시클로펜타디엔(DCPD)형 에폭시 수지 중 1종 이상을 포함할 수 있으며, 바람직하게는 비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지 중 1종 이상을 포함할 수 있다. At this time, the epoxy resin of the rubber-modified epoxy resin is bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, naphthalene epoxy resin, and dicyclopentadiene (DCPD) type epoxy One or more kinds of resin may be included, Preferably it may contain one or more types of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin.

또한, 고무 변성 에폭시 수지의 고무는 CTBN(Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), NBR(nitrile butadiene rubber), 아크릴(acrylic rubber) 및 실리콘(silicone) 중 1종 이상을 포함할 수 있으며, 바람직하게는 CTBN(Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile)를 포함할 수 있다.In addition, the rubber of the rubber-modified epoxy resin may include at least one of CTBN (Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), NBR (nitrile butadiene rubber), acrylic (acrylic rubber) and silicone (silicone), preferably CTBN (Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile).

또한, 고무 변성 에폭시 수지의 고무로서 CTBN(Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile)을 포함할 때, CTBN은 유리전이온도(Tg)가 -50 ~ -10℃, 바람직하게는 -40 ~ -20℃, 더욱 바람직하게는 -45 ~ -25℃, 수평균분자량(Mn)이 2520 ~ 3780, 바람직하게는 2835 ~ 3465, 더욱 바람직하게는 2992 ~ 3308일 수 있다.In addition, when the rubber-modified epoxy resin contains CTBN (Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), the CTBN has a glass transition temperature (Tg) of -50 to -10 ° C, preferably -40 to -20 ° C, more preferably. Is -45 ~ -25 ℃, the number average molecular weight (Mn) may be 2520 to 3780, preferably 2835 to 3465, more preferably 2992 to 3308.

한편, 본 발명의 고무 변성 에폭시 수지는 702 ~ 1054의 수평균분자량(Mn), 바람직하게는 790 ~ 966의 수평균분자량(Mn), 더욱 바람직하게는 834 ~ 922의 수평균분자량(Mn)을 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 고무 변성 에폭시 수지는 12002 ~ 18004의 중량평균분자량(Mw), 바람직하게는 13502 ~ 16504의 중량평균분자량(Mw), 더욱 바람직하게는 14252 ~ 15754의 중량평균분자량(Mw)를 가질 수 있다. 만일, 본 발명의 고무 변성 에폭시 수지의 수평균분자량이 702 미만이거나, 중량평균분자량이 12002 미만이면 페이스트의 점도가 낮아지고 공정 시 수지가 많이 흐름으로 인해 오염이 발생하는 문제가 있을 수 있고, 수평균분자량이 1054을 초과하거나, 중량평균분자량이 18004를 초과하면 과도한 점도 상승으로 인해 공정 중 도전입자의 융착에 방해를 주는 문제가 있을 수 있다.On the other hand, the rubber-modified epoxy resin of the present invention has a number average molecular weight (Mn) of 702 ~ 1054, preferably a number average molecular weight (Mn) of 790 ~ 966, more preferably a number average molecular weight (Mn) of 834 ~ 922 Can have In addition, the rubber-modified epoxy resin of the present invention has a weight average molecular weight (Mw) of 12002 to 18004, preferably a weight average molecular weight (Mw) of 13502 to 16504, more preferably a weight average molecular weight (Mw) of 14252 to 15754. Can have If the number average molecular weight of the rubber-modified epoxy resin of the present invention is less than 702, or if the weight average molecular weight is less than 12002, the viscosity of the paste may be low and there may be a problem that contamination occurs due to the flow of the resin during the process. If the average molecular weight exceeds 1054, or if the weight average molecular weight exceeds 18004, there may be a problem that interferes with the fusion of the conductive particles during the process due to excessive viscosity rise.

한편, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 앞서 언급한 접착수지, 도전성 입자, 환원제 및 용매를 포함한다.On the other hand, the self-sealing conductive connection paste of the present invention contains the above-mentioned adhesive resin, conductive particles, a reducing agent and a solvent.

본 발명의 도전성 입자(conductive particle)는 복수의 회로기판을 전기적으로 도통시키는 물질로서, 접착수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자 567 ~ 851 중량부, 바람직하게는 638 ~ 781 중량부, 더욱 바람직하게는 673 ~ 745 중량부를 포함할 수 있다.Conductive particles of the present invention is a material for electrically conducting a plurality of circuit boards, with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin, 567 to 851 parts by weight, preferably 638 to 781 parts by weight, more preferably May include 673 to 745 parts by weight.

만일, 도전성 입자가 접착수지 100 중량부에 대하여 567 중량부 미만으로 포함한다면 불균일한 자가융착이 형성되는 문제 또는 전기적 성질이 저하되는 문제가 있을 수 있고, 851 중량부를 초과한다면 회로 대비 과량으로 인해 전기절연성이 부족해지는 문제가 발생할 수 있다.If the conductive particles contain less than 567 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin, there may be a problem that a nonuniform self-fusion is formed or a problem that the electrical properties are lowered, and if it exceeds 851 parts by weight of the electrical The problem of insufficient insulation may occur.

도전성 입자는 비스무트(Bi), 주석(Sn), 인듐(In), 은(Ag), 구리(Cu), 아연(Zn), 안티몬(Sb), 니켈(Ni) 및 이들의 합금 중에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있고, 바람직하게는 비스무트(Bi), 주석(Sn) 및 은(Ag)의 합금 및 비스무트(Bi) 및 주석(Sn)의 합금 중에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있고, 더욱 바람직하게는 비스무트(Bi) 및 주석(Sn)의 합금을 포함할 수 있다.The conductive particles are selected from bismuth (Bi), tin (Sn), indium (In), silver (Ag), copper (Cu), zinc (Zn), antimony (Sb), nickel (Ni), and alloys thereof. It may include at least one species, preferably may include at least one selected from the alloy of bismuth (Bi), tin (Sn) and silver (Ag) and the alloy of bismuth (Bi) and tin (Sn) More preferably, an alloy of bismuth (Bi) and tin (Sn).

도전성 입자로서, 비스무트(Bi), 주석(Sn) 및 은(Ag)의 합금을 포함할 때, 비스무트 100 중량부에 대하여, 주석 58.2 ~ 87.4 중량부, 바람직하게는 65.5 ~ 80.1 중량부, 더욱 바람직하게는 69.1 ~ 76.5 중량부를 포함할 수 있다. 또한, 도전성 입자로서, 비스무트(Bi), 주석(Sn) 및 은(Ag)의 합금을 포함할 때, 비스무트 100 중량부에 대하여, 은 0.41 ~ 0.63 중량부, 바람직하게는 0.46 ~ 0.58 중량부, 더욱 바람직하게는 0.49 ~ 0.55 중량부를 포함할 수 있다. As conductive particles, when containing an alloy of bismuth (Bi), tin (Sn) and silver (Ag), 58.2 to 87.4 parts by weight of tin, preferably 65.5 to 80.1 parts by weight, more preferably, based on 100 parts by weight of bismuth. Preferably 69.1 to 76.5 parts by weight. Further, when the conductive particles include an alloy of bismuth (Bi), tin (Sn), and silver (Ag), 0.41 to 0.63 parts by weight of silver, preferably 0.46 to 0.58 parts by weight, based on 100 parts by weight of bismuth, More preferably, it may comprise 0.49 to 0.55 parts by weight.

한편, 도전성 입자로서, 비스무트(Bi) 및 주석(Sn)의 합금을 포함할 때, 비스무트 및 주석을 1 : 0.57 ~ 0.87 중량비, 바람직하게는 1 : 0.65 ~ 0.8 중량비, 더욱 바람직하게는 1 : 0.68 ~ 0.77 중량비로 포함할 수 있다. On the other hand, when the bismuth (Bi) and tin (Sn) alloys are included as the conductive particles, bismuth and tin are 1: 0.57 to 0.87 weight ratio, preferably 1: 0.65 to 0.8 weight ratio, more preferably 1: 0.68. It may be included in a weight ratio of 0.77.

나아가, 본 발명의 도전성 입자의 입경은 2 ~ 75㎛, 바람직하게는 5 ~ 45㎛, 더욱 바람직하게는 10 ~ 38㎛일 수 있다. 만일, 도전성 입자의 입경이 2㎛ 미만일 경우 비표면적의 증가로 산화된 입자 표면의 환원반응이 제대로 일어나지 않는 문제뿐만 아니라 페이스트의 점도가 매우 높아져 페이스트 사용시 도포 공정이 어려워지는 문제가 발생할 수 있고, 75㎛를 초과하면 페이스트의 보관 및 사용시 도전성 입자의 침전이 발생하고, 균일한 자가융착이 어려운 문제가 발생할 수 있다.Furthermore, the particle diameter of the electroconductive particle of this invention may be 2-75 micrometers, Preferably it is 5-45 micrometers, More preferably, it may be 10-38 micrometers. If the particle diameter of the conductive particles is less than 2 μm, the reduction of the surface of the oxidized particles may not occur properly due to the increase of the specific surface area, as well as the viscosity of the paste may be very high, thereby making it difficult to apply the coating process. If the thickness is larger than 25 μm, precipitation of the conductive particles may occur during storage and use of the paste, and a problem of uniform self fusion may be difficult.

다음으로, 본 발명의 환원제는 접착수지 100 중량부에 대하여, 80 ~ 120 중량부, 바람직하게는 90 ~ 110 중량부, 더욱 바람직하게는 95 ~ 105 중량부를 포함할 수 있다.Next, the reducing agent of the present invention may include 80 to 120 parts by weight, preferably 90 to 110 parts by weight, more preferably 95 to 105 parts by weight based on 100 parts by weight of the adhesive resin.

만일, 환원제가 접착수지 100 중량부에 대하여 80 중량부 미만으로 포함한다면 도전성 입자의 용융성 저하로 인한 자가융착이 불안정한 문제 또는 도전성 입자의 환원 부족으로 전기적 특성이 저하되는 문제가 있을 수 있고, 120 중량부를 초과한다면 페이스트 형성에 문제 또는 반응성이 높아져서 경시성이 나빠지는 문제가 생길 수 있다. If the reducing agent contains less than 80 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin, there may be a problem in that self-fusion is unstable due to deterioration of the melting of the conductive particles or electrical properties may be deteriorated due to the reduction of the conductive particles. Exceeding the weight part may cause a problem in paste formation or high reactivity, which may result in deterioration of time.

본 발명의 환원제는 로진계 환원제, 유기산계 환원제, 금속성 환원제 및 아민염 환원제 중에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있고, 바람직하게는 유기산계 환원제를 포함할 수 있고, 더욱 바람직하게는 유기산계 환원제인 아디프 산(adipic acid) 및 시트르 산(citric acid) 중 1종 이상을 포함할 수 있다.The reducing agent of the present invention may include one or more selected from rosin-based reducing agents, organic acid-based reducing agents, metallic reducing agents and amine salt reducing agents, preferably may include organic acid-based reducing agents, more preferably organic acid-based reducing agents It may include one or more of phosphoric adipic acid (cipic acid) and citric acid (citric acid).

다음으로, 본 발명의 용매는 접착수지의 용해성을 향상시킬 수 있는 물질로서, 본 발명의 도전접속 페이스트를 이용하여 회로부재의 적용되는 공정시, 일반적인 공정온도인 160 ~ 180℃에서 휘발되는 특성을 가지는 물질일 수 있다.Next, the solvent of the present invention is a material capable of improving the solubility of the adhesive resin, and when the circuit member is applied using the conductive connection paste of the present invention, volatilization is performed at a general process temperature of 160 to 180 ° C. The branch may be a substance.

본 발명의 용매는 접착수지 100 중량부에 대하여, 23 ~ 36 중량부, 바람직하게는 26 ~ 33 중량부, 더욱 바람직하게는 28 ~ 32 중량부를 포함할 수 있다.The solvent of the present invention may include 23 to 36 parts by weight, preferably 26 to 33 parts by weight, and more preferably 28 to 32 parts by weight based on 100 parts by weight of the adhesive resin.

만일, 용매가 접착수지 100 중량부에 대하여 23 중량부 미만으로 포함한다면 경시성이 저하되는 문제가 발생할 수 있고, 36 중량부를 초과하여 포함된다면 인쇄성이 저하되는 문제가 발생할 수 있다.If the solvent contains less than 23 parts by weight based on 100 parts by weight of the adhesive resin, the problem of deterioration of time may occur, and if the solvent is contained more than 36 parts by weight, the problem of deterioration of printability may occur.

본 발명의 용매는 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether), 에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Ethylene glycol dimethyl ether), 트리에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Triethylene glycol dimethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 다이에틸 에스터(Diethylene glycol diethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 메틸 에틸 에스터(Diethylene glycol methyl ethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 메틸 부틸 에스터(Diethylene glycol methyl butyl ether), 트리에틸렌 글리콜 메틸 부틸 에스터(Triethylene glycol methyl butyl ether), 프로필렌 글리콜 다이메틸 에스터(Propylene glycol dimethyl ether), 다이프로필렌 글리콜 다이메틸 에스터(Dipropylene glycol dimethyl ether) 및 메틸 에틸 케톤(Methyl ethyl ketone) 중 1종 이상을 포함할 수 있고, 바람직하게는 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether), 에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Ethylene glycol dimethyl ether), 트리에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Triethylene glycol dimethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 다이에틸 에스터(Diethylene glycol diethyl ether) 및 다이에틸렌 글리콜 메틸 에틸 에스터(Diethylene glycol methyl ethyl ether) 중 1종 이상을 포함할 수 있고, 더욱 바람직하게는 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether)을 포함할 수 있다.The solvent of the present invention is diethylene glycol dimethyl ether (ethylene glycol dimethyl ether), ethylene glycol dimethyl ether (Ethylene glycol dimethyl ether), triethylene glycol dimethyl ether (triethylene glycol dimethyl ether), diethylene glycol diethyl ester ( Diethylene glycol diethyl ether, Diethylene glycol methyl ethyl ether, Diethylene glycol methyl butyl ether, Triethylene glycol methyl butyl ether, Propylene glycol It may include one or more of propylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether and methyl ethyl ketone, preferably diethylene glycol dimethyl ester (diethylene glycol dimethyl ether), ethylene glycol the In ethylene glycol dimethyl ether, triethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether and diethylene glycol methyl ethyl ether It may include one or more, more preferably may include diethylene glycol dimethyl ether (diethylene glycol dimethyl ether).

나아가, 본 발명의 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 상온에서, 바람직하게는 15 ~ 35℃, 더욱 바람직하게는 20 ~ 30℃의 온도에서 100,000 ~ 168,000mPa·s의 점도, 바람직하게는 110,000 ~ 165,000mPa·s의 점도를 가질 수 있다.Furthermore, the self-sealing conductive connection paste of the present invention has a viscosity of 100,000 to 168,000 mPa · s at room temperature, preferably 15 to 35 ° C, more preferably 20 to 30 ° C, preferably 110,000 to It can have a viscosity of 165,000 mPa · s.

이 때, 본 발명의 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 100 ~ 180℃의 온도에서 30 ~ 3,000mPa·s의 점도, 바람직하게는 30 ~ 2,000mPa·s의 점도, 더욱 바람직하게는 30 ~ 1,500mPa·s의 점도를 가질 수 있으며, 만일, 100 ~ 180℃의 온도에서 점도가 30mPa·s 미만이면 경화 온도에서 접착수지의 과한 흐름성에 의한 불필요 부위의 오염이 발생되는 문제가 발생할 수 있고, 3,000mPa·s를 초과하면 자가융착성이 저하될 수 있다.At this time, the self-sealing conductive connection paste of the present invention has a viscosity of 30 to 3,000 mPa · s, preferably 30 to 2,000 mPa · s at a temperature of 100 to 180 ° C., more preferably 30 to 1,500 It may have a viscosity of mPa · s, and if the viscosity is less than 30 mPa · s at a temperature of 100 to 180 ° C., a problem may occur that contamination of an unnecessary portion due to excessive flowability of the adhesive resin occurs at curing temperature, 3,000 When it exceeds mPa * s, self-adhesion property may fall.

본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 100 ~ 180℃의 온도에서 30 ~ 3,000mPa·s의 점도, 바람직하게는 30 ~ 2,000mPa·s의 점도, 더욱 바람직하게는 30 ~ 1,500mPa·s의 점도를 가질 수 있으며, 만일, 100 ~ 180℃의 온도에서 점도가 30mPa·s 미만이면 경화 온도에서 접착수지의 과한 흐름성에 의한 불필요 부위의 오염이 발생되는 문제가 발생할 수 있고, 3,000mPa·s를 초과하면 자가융착성이 저하될 수 있다.The self-sealing conductive connection paste of the present invention has a viscosity of 30 to 3,000 mPa · s, preferably 30 to 2,000 mPa · s, more preferably 30 to 1,500 mPa · s at a temperature of 100 to 180 ° C. If the viscosity is less than 30mPa · s at a temperature of 100 ~ 180 ℃, there may be a problem that the contamination of unnecessary parts due to excessive flow of the adhesive resin at the curing temperature may occur, exceeding 3,000mPa · s If it is, self-adhesion may be lowered.

구체적으로, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 특정 성분이 특정 함량 범위로 포함되어, 도전성 입자가 회로부재(회로기판, 반도체 칩, ITO Class, 플라스틱 소자 기판의 단자부 등)의 전극 부위에만 선택적으로 접속되어 도통되도록 자가융착이 일어날 수 있는 점도 범위를 가질 수 있다. Specifically, the self-sealing conductive connection paste of the present invention includes a specific component in a specific content range, so that the conductive particles are selectively selected only at the electrode portion of the circuit member (circuit board, semiconductor chip, ITO Class, terminal part of the plastic element substrate, etc.). It may have a viscosity range in which self-fusion may occur so as to be connected and conductive.

이는 도 3에서 확인할 수 있는데 도 3을 참조하여 설명하면, 경화전인 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트(3a)는 도전성 입자가 전체적으로 분포하고 있지만, 열처리를 통해 경화된 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트(3b)는 도전성 입자가 전극부위에 응집되어 전극을 통한 회로부재 간의 전기적 도통이 이루어지는 것을 확인할 수 있다. 또한, 도 3에서 확인할 수 있듯이, 열처리를 통해 경화된 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트(3b)는 전극부위 이외에는 접착수지(환원제 포함)로 구성되어 외부 충격 등으로부터 전극 부위를 보호할 수 있으므로 충격에 의한 회로부재 손상을 방지할 수 있다.This can be confirmed in FIG. 3. Referring to FIG. 3, the self-fusion conductive connection paste 3a of the present invention before curing has the entire distribution of conductive particles, but the self-fusion conductive of the present invention cured through heat treatment. In the connection paste 3b, it can be confirmed that the conductive particles are agglomerated at the electrode portion, and electrical conduction between the circuit members through the electrode is achieved. In addition, as can be seen in Figure 3, the self-sealing conductive connection paste 3b of the present invention cured through heat treatment is composed of an adhesive resin (including a reducing agent) in addition to the electrode portion to protect the electrode portion from external impacts, etc. It is possible to prevent damage to the circuit member due to the impact.

또한, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 150 ~ 180℃의 온도에서, 2 ~ 5 kgf/cm의 접착력, 바람직하게는, 2.2 ~ 4 kgf/cm의 접착력을 가질 수 있다.In addition, the self-sealing conductive connection paste of the present invention may have an adhesive force of 2 to 5 kgf / cm, preferably 2.2 to 4 kgf / cm at a temperature of 150 to 180 ° C.

또한, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 150 ~ 180℃의 온도에서, 0.001 ~ 1 Ω/cm의 접착저항을 가질 수 있다.In addition, the self-fusion conductive connection paste of the present invention may have an adhesion resistance of 0.001 ~ 1 Ω / cm at a temperature of 150 ~ 180 ℃.

한편, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 회로기판, 반도체 칩, ITO Glass 또는 플라스틱 소재의 기판 중에서 선택되는 1종 이상을 접합할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Meanwhile, the self-fusion conductive connection paste of the present invention may bond one or more selected from a circuit board, a semiconductor chip, an ITO glass, or a plastic material, but is not limited thereto.

나아가, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트의 제조방법은 다음과 같다.Furthermore, the manufacturing method of the self-fusion conductive connection paste of this invention is as follows.

먼저, 제1단계에서 접착수지, 환원제 및 용매를 혼합하여 혼합물을 제조할 수 있다. 이 때, 혼합물은 접착수지 100 중량부에 대하여, 환원제 80 ~ 120 중량부 및 용매 23 ~ 36 중량부를 혼합할 수 있다.First, a mixture may be prepared by mixing the adhesive resin, the reducing agent and the solvent in the first step. At this time, the mixture may be mixed with 80 to 120 parts by weight of the reducing agent and 23 to 36 parts by weight of the solvent with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin.

다음으로, 제2단계에서 앞서 제1단계에서 제조된 혼합물에 도전성 입자 및 용매를 혼합하여 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조할 수 있다. 이 때, 도전성 입자는 접착수지 100 중량부에 대하여, 567 ~ 851 중량부를 혼합할 수 있다.Next, the self-fusion conductive connection paste may be prepared by mixing the conductive particles and the solvent in the mixture prepared in the first step in the second step. At this time, the electroconductive particle can mix 567-851 weight part with respect to 100 weight part of adhesive resins.

한편, 본 발명의 자가융착형 도전접속 페이스트는 복수의 회로가 인쇄되어 있는 기판(=회로부재)을 전기적으로 연결시키는데 사용되는데, 이러한 자가융착형 도전접속 페이스트를 포함하는 회로부재를 제조하는 방법은 다음과 같다.On the other hand, the self-sealing conductive connection paste of the present invention is used to electrically connect a substrate (= circuit member) on which a plurality of circuits are printed. The method for manufacturing a circuit member including such a self-melting conductive connection paste is As follows.

먼저, 자가융착형 도전접속 페이스트 일면에는 복수의 제1전극이 형성된 제1회로부재를 적층하고, 타면에는 상기 제1전극에 대향하여 복수의 제2전극이 형성된 제2회로부재를 적층할 수 있다.First, a first circuit member having a plurality of first electrodes may be stacked on one surface of the self-fusion conductive connection paste, and a second circuit member having a plurality of second electrodes may be stacked on the other surface thereof to face the first electrode. .

그 뒤, 히팅 툴(Heating tool)을 이용하여, 140 ~ 260℃에서 10초 ~ 60분, 바람직하게는 30초 ~ 50분, 더욱 바람직하게는 1분 ~ 30분 동안 가열시킬 수 있다. 이와 같은 가열을 통하여, 자가융착형 도전접속 페이스트에 포함된 도전성 입자는 용융되며, 용융된 입자는 제1전극과 제2전극이 전기적으로 도통되도록 자가융착할 수 있다. 만일, 온도가 140℃ 미만일 경우에는 도전성 입자가 미융착되는 문제가 있을 수 있고, 상기 히팅 툴의 온도가 260℃를 초과할 경우에는 열에 의한 부품의 손상이 발생되는 문제가 있을 수 있으므로, 상기의 범위가 좋다.Thereafter, using a heating tool, heating may be performed at 140 to 260 ° C. for 10 seconds to 60 minutes, preferably 30 seconds to 50 minutes, and more preferably 1 minute to 30 minutes. Through such heating, the conductive particles included in the self-fusion conductive connection paste are melted, and the molten particles may be self-fused so that the first electrode and the second electrode are electrically conductive. If the temperature is less than 140 ° C., there may be a problem that the conductive particles are not fused, and when the temperature of the heating tool exceeds 260 ° C., there may be a problem that damage to the component due to heat occurs. The range is good.

히팅 툴은 본 발명의 접속필름에 열을 가하여 도전성 입자들을 용융시킬 수 있는 수단이라면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들어, 가열 오븐 또는 리플로우 건조단 등을 포함할 수 있다.The heating tool is not particularly limited as long as it is a means capable of melting conductive particles by applying heat to the connection film of the present invention, and may include, for example, a heating oven or a reflow drying stage.

이상에서 본 발명에 대하여 구현예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명의 구현예를 한정하는 것이 아니며, 본 발명의 실시예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 본 발명의 구현예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The present invention has been described above with reference to the embodiments, which are merely exemplary and are not intended to limit the embodiments of the present invention. Those of ordinary skill in the art to which the embodiments of the present invention belong will have the essential characteristics of the present invention. It will be appreciated that various modifications and applications not illustrated above are possible without departing from the scope of the invention. For example, each component specifically shown in the embodiment of the present invention may be modified. And differences relating to such modifications and applications will have to be construed as being included in the scope of the invention defined in the appended claims.

준비예 1 : 접착수지의 제조 Preparation Example 1 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지는 1 : 2.33 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber modified epoxy resin and the bisphenol-A epoxy resin were mixed in a 1: 2.33 weight ratio.

준비예 2 : 접착수지의 제조 Preparation Example 2 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지는 1 : 2.1 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber-modified epoxy resin and the bisphenol A epoxy resin were mixed in a 1: 2.1 weight ratio.

준비예 3 : 접착수지의 제조 Preparation Example 3 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지는 1 : 2.57 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber modified epoxy resin and the bisphenol-A epoxy resin were mixed in a 1: 2.57 weight ratio.

비교준비예 1 : 접착수지의 제조 Comparative Preparation Example 1 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지는 1 : 1.63 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber modified epoxy resin and the bisphenol-A epoxy resin were mixed in a weight ratio of 1: 1.63.

비교준비예 2 : 접착수지의 제조 Comparative Preparation Example 2 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지는 1 : 3.03 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber modified epoxy resin and the bisphenol-A epoxy resin were mixed at a weight ratio of 1: 3.03.

비교준비예 3 : 접착수지의 제조 Comparative Preparation Example 3 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 크레졸 노볼락 에폭시 수지(YDCN-500-7P, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a cresol novolac epoxy resin (YDCN-500-7P, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 크레졸 노볼락 에폭시 수지는 1 : 2.33 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber-modified epoxy resin and the cresol novolac epoxy resin were mixed in a 1: 2.33 weight ratio.

비교준비예 4 : 접착수지의 제조 Comparative Preparation Example 4 Preparation of Adhesive Resin

고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON) 및 DCPD형 에폭시 수지(KR-102, 국도화학)를 혼합하여 접착수지를 제조하였다.An adhesive resin was prepared by mixing a rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) and a DCPD type epoxy resin (KR-102, Kukdo Chemical).

이 때, 고무 변성 에폭시 수지 및 DCPD형 에폭시 수지는 1 : 2.33 중량비로 혼합하였다.At this time, the rubber modified epoxy resin and the DCPD type epoxy resin were mixed in a 1: 2.33 weight ratio.

실시예 1 : 자가융착형 도전접속 페이스트의 제조 Example 1 Preparation of Self-Fusing Conductive Paste

준비예 1에서 제조된 접착수지 100 중량부에 대하여, 시트르산(citric acid) 100 중량부를 혼합하여 혼합물을 제조하였다.To 100 parts by weight of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, 100 parts by weight of citric acid was mixed to prepare a mixture.

제조된 혼합물에 고무 변성 에폭시 수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자(입경 : 20 ~ 38㎛, Sn 및 Bi가 28 : 42 중량비로 포함하는 합금) 709.1 중량부 및 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether) 29.87중량부를 혼합하고, 절연화 처리한 후 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.709.1 parts by weight of conductive particles (alloy containing 20 to 38 μm, Sn and Bi in a weight ratio of 28:42) and diethylene glycol dimethyl ester based on 100 parts by weight of the rubber-modified epoxy resin in the prepared mixture. dimethyl ether) was mixed with 29.87 parts by weight, and subjected to insulation treatment to prepare a self-sealing conductive connection paste.

실시예 2 ~ 13Examples 2 to 13

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 하기 표 1와 같이 접착수지에 혼합되는 도전성 입자, 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터, 시트르산의 중량부를 달리하여 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, by varying the weight parts of the conductive particles, diethylene glycol dimethyl ester, and citric acid mixed in the adhesive resin as shown in Table 1 below to prepare a self-fusion conductive connection paste.

Figure 112017105895965-pat00001
Figure 112017105895965-pat00001

실시예 14Example 14

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터 대신, 메틸에틸케톤을 사용하여 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, instead of diethylene glycol dimethyl ester, methyl ethyl ketone was used to prepare a self-sealing conductive connection paste.

실시예 15 Example 15

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 용매를 사용하지 않고, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, a self-fusion conductive connection paste was produced without using a solvent.

실시예 16Example 16

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 준비예 2에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Preparation Example 2 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

실시예 17Example 17

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 준비예 3에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Preparation Example 3 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 비교준비예 1에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Comparative Preparation Example 1 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 2Comparative Example 2

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 비교준비예 2에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Comparative Preparation Example 2 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 3Comparative Example 3

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 비교준비예 3에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Comparative Preparation Example 3 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 4Comparative Example 4

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 비교준비예 4에서 제조된 접착수지를 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using the adhesive resin prepared in Comparative Preparation Example 4 instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 5Comparative Example 5

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 고무 변성 에폭시 수지(TSR-601, EPICLON)만을 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using only the rubber modified epoxy resin (TSR-601, EPICLON) instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

비교예 6Comparative Example 6

실시예 1과 동일한 방법으로 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다. 다만, 준비예 1에서 제조된 접착수지 대신 비스페놀 A형 에폭시 수지(YD128, 국도화학)만을 사용하여, 자가융착형 도전접속 페이스트를 제조하였다.A self-sealing conductive connection paste was prepared in the same manner as in Example 1. However, using only bisphenol A epoxy resin (YD128, Kukdo Chemical) instead of the adhesive resin prepared in Preparation Example 1, a self-sealing conductive connection paste was prepared.

실험예 1Experimental Example 1

실시예 및 비교예에서 제조된 자가융착형 도전접속 페이스트를 각각 다음과 같은 물성평가법을 기준으로 하여 평가를 실시하고, 그 결과를 표 2에 나타내었다.The self-fusion conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were evaluated based on the following physical property evaluation methods, and the results are shown in Table 2 below.

(1) 접속저항 측정(Ω/cm)(1) Connection resistance measurement (Ω / cm)

실시예 및 비교예에서 제조한 도전접속 페이스트를 각각 제 1 회로기판 (단자 100 ㎛, 단자간 거리 50㎛, 단자 높이 35 ㎛)에 스탠실(메탈마스크)과 스퀴지를 이용하여 80㎛의 두께로 도포한 후, 이어서 제 2 회로기판(단자 100 ㎛, 단자간 거리 50 ㎛, 단자 높이 35㎛)을 단자가 겹치게 가압착 한 후 120 내지 170℃의 건조오븐에 10분간 경화 및 자가융착 진행 후, 측정기(Keithley 사 2000 Multimeter)를 이용하여 4-probe 방식으로 시험 전류 1 mA를 인가하여 초기 접속 저항을 측정하여 그 평균값을 계산하였다. The conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were each formed on a first circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) using a stencil (metal mask) and a squeegee to a thickness of 80 μm. After coating, the second circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) was pressed and overlapped with terminals, and then cured and self-fused for 10 minutes in a drying oven at 120 to 170 ° C., Using an instrument (Keithley's 2000 Multimeter), a test current of 1 mA was applied in a 4-probe manner, and the initial connection resistance was measured to calculate the average value.

(2) 접착력 측정(kgf/cm)(2) Adhesive force measurement (kgf / cm)

실시예 및 비교예에서 제조된 도전접속 페이스트를 각각 제 1 회로부재 (단자 100 ㎛, 단자간 거리 50 ㎛, 단자 높이 35 ㎛)에 스탠실과 스퀴지를 이용하여 80㎛의 두께로 도포한 후, 이어서 제 2회로기판(단자 100 ㎛, 단자간 거리 50 ㎛, 단자 높이 35 ㎛)을 단자가 겹치게 가압착 한 후 180℃의 건조오븐에 10분간 경화 및 자가융착 진행 후, 복수개의 시편을 준비하여. UTM 측정기(Universal Testing Machine, Hounsfield 사, H5KT 모델)를 이용하여 10 N Load Cell을 장착한 후, 그립(grip)을 설치하여 측정 준비를 마무리하고 샘플을 그립(grip)에 물린 후에 인장시험(tensile test speed) 20 mm/min 속도 조건에서 접착력을 측정하였다.The conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were applied to the first circuit member (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) with a thickness of 80 μm using a stencil and squeegee, and then After press-fitting the second circuit board (terminal 100 µm, distance between terminals 50 µm, terminal height 35 µm), the plurality of specimens were prepared after curing and self-fusion for 10 minutes in a drying oven at 180 ° C. The 10 N Load Cell was mounted using a UTM measuring machine (Universal Testing Machine, Hounsfield, H5KT model), the grip was installed, the preparation was completed, the sample was bitten into the grip, and the tensile test was performed. test speed) Adhesion was measured at 20 mm / min speed conditions.

(3) 절연성 측정(3) insulation measurement

실시예 및 비교예에서 제조한 도전접속 페이스트를 각각 제 1 회로기판 (단자 100 ㎛, 단자간 거리 50㎛, 단자 높이 35 ㎛)에 스탠실(메탈마스크)과 스퀴지를 이용하여 80㎛의 두께로 도포한 후, 이어서 제 2 회로기판(단자 100 ㎛, 단자간 거리 50 ㎛, 단자 높이 35㎛)을 단자가 겹치게 가압착 한 후 120 내지 170℃의 건조오븐에 10분간 경화 및 자가융착 진행 후, 멀티테스터기(HIOKI社, 3244-60 CARD HITESTER)를 이용하여, 회로기판의 이웃한 회로간 전기적 도통 유무를 확인하여 절연성을 측정하였다.The conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were each formed on a first circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) using a stencil (metal mask) and squeegee to a thickness of 80 μm. After coating, the second circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) was pressed and overlapped with terminals, and then cured and self-fused for 10 minutes in a drying oven at 120 to 170 ° C., Using a multi tester (HIOKI, 3244-60 CARD HITESTER), the insulation was measured by checking the electrical conduction between adjacent circuits of the circuit board.

(4) 자가융착성 측정(4) Self-adhesiveness measurement

실시예 및 비교예에서 제조한 도전접속 페이스트를 각각 제 1 회로기판 (단자 100 ㎛, 단자간 거리 50㎛, 단자 높이 35 ㎛)에 스탠실(메탈마스크)과 스퀴지를 이용하여 80㎛의 두께로 도포한 후, 이어서 제 2 회로기판(단자 100 ㎛, 단자간 거리 50 ㎛, 단자 높이 35㎛)을 단자가 겹치게 가압착 한 후 120 내지 170℃의 건조오븐에 10분간 경화 및 자가융착 진행 후, 멀티테스터기(HIOKI社, 3244-60 CARD HITESTER)를 이용하여, 페이스트에 의해 연결된 제1, 제2 회로기판의 회로단자의 전기적 도통 유무를 확인 및 외관을 고배율 현미경으로 확인하여 자가융착성을 측정하였다.The conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were each formed on a first circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) using a stencil (metal mask) and a squeegee to a thickness of 80 μm. After coating, the second circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) was pressed and overlapped with terminals, and then cured and self-fused for 10 minutes in a drying oven at 120 to 170 ° C., Using a multi-tester (HIOKI, 3244-60 CARD HITESTER), the presence of electrical conduction of the circuit terminals of the first and second circuit boards connected by the paste was checked, and the appearance was checked by a high-magnification microscope to measure self-adhesiveness. .

(5) 인쇄성 측정(5) printability measurement

실시예 및 비교예에서 제조한 도전접속 페이스트를 각각 제 1 회로기판 (단자 100 ㎛, 단자간 거리 50㎛, 단자 높이 35 ㎛)에 스탠실(메탈마스크)과 스퀴지를 이용하여 80㎛의 두께로 도포한 후, 외관을 육안(또는 현미경)으로 확인하여 인쇄성을 측정하였다.The conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples were each formed on a first circuit board (terminal 100 μm, distance between terminals 50 μm, terminal height 35 μm) using a stencil (metal mask) and squeegee to a thickness of 80 μm. After coating, the appearance was visually checked (or microscope) to determine printability.

(6) 점도 측정(6) viscosity measurement

Malcom 사의 PCU-205를 이용하여, JIS 측정법에 의거하여 25℃의 온도 범위에서 실시예 및 비교예에서 제조된 자가융착형 도전접속 페이스트의 점도를 측정하였다.Using the PCU-205 manufactured by Malcom, the viscosity of the self-sealing conductive connection pastes prepared in Examples and Comparative Examples was measured in a temperature range of 25 ° C. based on the JIS measurement method.

Figure 112017105895965-pat00002
Figure 112017105895965-pat00002

표 2를 참조하여 설명하면, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 8에서 제조된 도전접속보다 접착력이 현저히 우수하고, 접속저항이 낮으며, 자가융착성이 우수함을 확인할 수 있었다.Referring to Table 2, the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 are significantly better in adhesive strength, lower in connection resistance, and better in self-adhesion than the conductive connections prepared in Example 8. Could confirm.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 9에서 제조된 도전접속보다 절연성이 현저히 우수하고, 자가융착성 및 인쇄성이 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, it was confirmed that the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 were significantly better in insulation than the conductive connections prepared in Example 9, and better in self-adhesion and printability.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 10에서 제조된 도전접속보다 접속저항이 낮고, 접착력 및 절연성이 현저히 우수하며, 자가융착성 및 인쇄성이 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 had lower connection resistance than the conductive connection prepared in Example 10, significantly improved adhesion and insulation, and excellent self-adhesion and printability. Could.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 11, 12에서 제조된 도전접속보다 인쇄성이 현저히 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, it was confirmed that the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 were significantly superior in printability than the conductive connections prepared in Examples 11 and 12.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 13에서 제조된 도전접속보다 접속저항이 낮고, 접착력 및 인쇄성이 현저히 우수하며, 자가융착성이 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, it was confirmed that the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 had lower connection resistance, remarkably superior adhesion and printability, and better self-adhesion than the conductive connections prepared in Example 13. .

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 14, 12에서 제조된 도전접속보다 인쇄성이 현저히 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, it was confirmed that the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 were significantly superior in printability than the conductive connections prepared in Examples 14 and 12.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 실시예 15에서 제조된 인쇄성이 현저히 우수하며, 자가융착성 및 절연성이 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 were remarkably excellent in printability prepared in Example 15, and were excellent in self-adhesion and insulation properties.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 비교예 1, 2, 5 및 6에서 제조된 도전접속보다 인쇄성이 현저히 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, it was confirmed that the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 were significantly superior in printability than the conductive connections prepared in Comparative Examples 1, 2, 5, and 6.

또한, 실시예 1 ~ 7, 16 및 17에서 제조한 도전접속 페이스트는 비교예 3, 4에서 제조된 도전접속보다 접속저항이 낮고, 접착력 및 절연성이 현저히 우수하며, 자가융착성 및 인쇄성이 우수함을 확인할 수 있었다.In addition, the conductive connection pastes prepared in Examples 1 to 7, 16, and 17 had lower connection resistance than the conductive connections prepared in Comparative Examples 3 and 4, significantly improved adhesion and insulation, and excellent self-adhesion and printability. Could confirm.

본 발명의 단순한 변형이나 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해서 용이하게 실시될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications or variations of the present invention can be easily made by those skilled in the art, and all such modifications or changes can be regarded as being included in the scope of the present invention.

Claims (17)

702 ~ 1054의 수평균분자량(Mn), 12002 ~ 18004의 중량평균분자량(Mw)를 가지는 고무 변성 에폭시 수지; 및
278 ~ 418의 수평균분자량(Mn), 348 ~ 524의 중량평균분자량(Mw)를 가지는 비스페놀 A형 에폭시 수지; 를 포함하고,
상기 고무 변성 에폭시 수지 및 비스페놀 A형 에폭시 수지를 1 : 1.86 ~ 2.8 중량비로 포함하는 것을 특징으로 하는 접착수지.
Rubber modified epoxy resins having a number average molecular weight (Mn) of 702 to 1054 and a weight average molecular weight (Mw) of 12002 to 18004; And
Bisphenol A type epoxy resins having a number average molecular weight (Mn) of 278 to 418 and a weight average molecular weight (Mw) of 348 to 524; Including,
Adhesive resin, characterized in that the rubber-modified epoxy resin and bisphenol A epoxy resin 1: 1.86 to 2.8 by weight ratio.
제1항에 있어서,
상기 접착수지는 에폭시 당량이 230 ~ 250 g/eq인 것을 특징으로 하는 접착수지.
The method of claim 1,
Adhesive resin, characterized in that the epoxy equivalent of 230 ~ 250 g / eq.
제1항에 있어서,
상기 접착수지는 60 ~ 120℃에서 80 ~ 3,300 mPas의 점도를 가지는 것을 특징으로 하는 접착수지.
The method of claim 1,
Adhesive resin, characterized in that the adhesive resin has a viscosity of 80 ~ 3,300 mPas at 60 ~ 120 ℃.
제1항에 있어서,
상기 접착수지는 361 ~ 543의 수평균분자량(Mn), 2733 ~ 4100의 중량평균분자량(Mw)를 가지는 것을 특징으로 하는 접착수지.
The method of claim 1,
The adhesive resin adhesive resin, characterized in that the number average molecular weight (Mn) of 361 ~ 543, the weight average molecular weight (Mw) of 2733 ~ 4100.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 고무 변성 에폭시 수지의 고무는 CTBN(Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), NBR(nitrile butadiene rubber), 아크릴(acrylic rubber) 및 실리콘(silicone) 중 1종 이상을 포함하고
상기 고무 변성 에폭시 수지의 에폭시 수지는 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락 에폭시 수지, 페놀 노볼락 에폭시 수지, 나프탈렌계 에폭시 수지, 및 디시클로펜타디엔(DCPD)형 에폭시 수지 중 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 접착수지.
The method of claim 1,
The rubber of the rubber-modified epoxy resin includes at least one of CTBN (Carboxylic terminated butadiene acrylonitrile), NBR (nitrile butadiene rubber), acrylic (silry rubber) and silicone (silicone)
The epoxy resin of the rubber-modified epoxy resin is bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, naphthalene epoxy resin, and dicyclopentadiene (DCPD) type epoxy resin Adhesive resin, characterized in that it comprises one or more.
제1항 내지 제4항, 제6항 중 어느 한 항의 접착수지;
도전성 입자;
환원제; 및
용매;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The adhesive resin of any one of claims 1 to 4, 6;
Electroconductive particle;
reducing agent; And
menstruum;
Self-sealing conductive connection paste comprising a.
제7항에 있어서,
상기 접착수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자 567 ~ 851 중량부, 환원제 80 ~ 120 중량부 및 용매 23 ~ 36 중량부를 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트
The method of claim 7, wherein
Self-sealing conductive connection paste, comprising 567 to 851 parts by weight of conductive particles, 80 to 120 parts by weight of reducing agent, and 23 to 36 parts by weight of solvent based on 100 parts by weight of the adhesive resin.
제7항에 있어서,
상기 도전성 입자는 비스무트(Bi), 주석(Sn), 인듐(In), 은(Ag), 구리(Cu), 아연(Zn), 안티몬(Sb), 니켈(Ni) 및 이들의 합금 중에서 선택되는 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
The conductive particles are selected from bismuth (Bi), tin (Sn), indium (In), silver (Ag), copper (Cu), zinc (Zn), antimony (Sb), nickel (Ni), and alloys thereof. A self-sealing conductive connection paste comprising at least one kind.
제9항에 있어서,
상기 도전성 입자는 비스무트(Bi) 및 주석(Sn)의 합금으로,
비스무트 및 주석을 1 : 0.57 ~ 0.87 중량비로 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 9,
The conductive particles are an alloy of bismuth (Bi) and tin (Sn),
A self-sealing conductive connection paste comprising bismuth and tin in a weight ratio of 1: 0.57 to 0.87.
제9항에 있어서,
상기 도전성 입자의 입경은 2 ~ 75㎛인 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 9,
The particle diameter of the said electroconductive particle is 2-75 micrometers, The self-fusion conductive connection paste characterized by the above-mentioned.
제7항에 있어서,
상기 환원제는 로진계 환원제, 유기산류 환원제, 금속성 환원제 및 아민염 환원제 중에서 선택되는 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
And the reducing agent comprises at least one selected from rosin-based reducing agents, organic acid reducing agents, metallic reducing agents and amine salt reducing agents.
제7항에 있어서,
상기 용매는 다이에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(diethylene glycol dimethyl ether), 에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Ethylene glycol dimethyl ether), 트리에틸렌 글리콜 다이메틸 에스터(Triethylene glycol dimethyl ether), 다이에틸렌 글리콜 다이에틸 에스터(Diethylene glycol diethyl ether) 및 다이에틸렌 글리콜 메틸 에틸 에스터(Diethylene glycol methyl ethyl ether) 중 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
The solvent is diethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, triethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ester A self-sealing conductive connection paste comprising at least one of diethyl ether and diethylene glycol methyl ethyl ether.
제7항에 있어서,
상기 도전접속 페이스트는 150 ~ 180℃의 온도에서, 2 ~ 5 kgf/cm의 접착력, 0.001 ~ 1 Ω/cm 의 접착저항을 갖는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
The conductive connection paste has an adhesive strength of 2 to 5 kgf / cm, adhesive resistance of 0.001 ~ 1 Ω / cm at a temperature of 150 ~ 180 ℃, self-fusion conductive paste.
제7항에 있어서,
상기 도전접속 페이스트는 100 ~ 180℃의 온도에서 30 ~ 3,000mPa·s의 점도를 갖는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
The conductive connection paste has a viscosity of 30 ~ 3,000mPa · s at a temperature of 100 ~ 180 ℃ self-fusion conductive paste.
제7항에 있어서,
상기 도전접속 페이스트는 회로기판, 반도체 칩, ITO Glass 또는 플라스틱 소재의 기판 중에서 선택되는 1종 이상을 접합하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트.
The method of claim 7, wherein
The conductive connection paste is a self-bonding conductive connection paste, characterized in that for bonding at least one selected from a circuit board, a semiconductor chip, ITO Glass or a plastic substrate.
접착수지 100 중량부에 대하여, 환원제 80 ~ 120 중량부 및 용매 23 ~ 36 중량부를 혼합하여 혼합물을 제조하는 제1단계; 및
상기 혼합물에 접착수지 100 중량부에 대하여, 도전성 입자 567 ~ 851 중량부를 혼합하여, 자가융착성 도전접속 페이스트를 제조하는 제2단계; 를 포함하고,
상기 접착수지는 702 ~ 1054의 수평균분자량(Mn), 12002 ~ 18004의 중량평균분자량(Mw)를 가지는 고무 변성 에폭시 수지 및 278 ~ 418의 수평균분자량(Mn), 348 ~ 524의 중량평균분자량(Mw)를 가지는 비스페놀 A형 에폭시 수지를 1 : 1.86 ~ 2.8 중량비로 포함하는 것을 특징으로 하는 자가융착형 도전접속 페이스트의 제조방법.
A first step of preparing a mixture by mixing 80 to 120 parts by weight of a reducing agent and 23 to 36 parts by weight of a solvent based on 100 parts by weight of the adhesive resin; And
A second step of preparing self-adhesive conductive connection paste by mixing 567 to 851 parts by weight of the conductive particles with respect to 100 parts by weight of the adhesive resin in the mixture; Including,
The adhesive resin is a rubber-modified epoxy resin having a number average molecular weight (Mn) of 702 ~ 1054, a weight average molecular weight (Mw) of 12002 ~ 18004 and a number average molecular weight (Mn) of 278 ~ 418, a weight average molecular weight of 348 ~ 524 A method for producing a self-sealing conductive connection paste, comprising a bisphenol A epoxy resin having a (Mw) in a weight ratio of 1: 1.86 to 2.8.
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