KR102000906B1 - Appearance vision inspection system for ferrite part - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 페라이트 외관 비전 검사시스템에 관한 발명으로, 더욱 상세하게는 페라이트 부품(이하, 페라이트)의 제조 시 미세 실크랙 등 육안으로 식별할 수 없는 결함을 정확하고 신속하게 검출하도록 머신 비전을 이용하는 페라이트 외관 검사시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a ferrite external vision inspection system, and more particularly, to a ferrite external vision inspection system for ferrite (hereinafter referred to as " ferrite ") which uses machine vision to accurately and quickly detect flaws, And an appearance inspection system.
산화철에 망간, 니켈, 아연 등을 배합, 소결한 산화물계 자성재료인 페라이트는 다양한 산업 분야에서 이용되고 있다. 예컨대, 자동차의 배기계통과 같이 내열특성을 필요로하는 부품은 수백 ℃의 온도범위에서 내열 및 내산화 특성이 우수한 페라이트계 합금으로 이루어진 부품이 주로 이용된다. 아울러, 자기특성을 요구하는 각종 전자제품에도 페라이트계 자성체로 이루어진 부품을 탑재한다.Ferrite, which is an oxide-based magnetic material obtained by mixing and sintering iron oxide with manganese, nickel, and zinc, is used in various industrial fields. For example, a component that requires a heat resistance characteristic, such as an automobile exhaust system passage, is mainly composed of a ferrite-based alloy excellent in heat resistance and oxidation resistance characteristics in a temperature range of hundreds of degrees Celsius. In addition, components made of a ferrite magnetic material are mounted on various electronic products requiring magnetic properties.
한편, 페라이트는 산화철 화합물로 이루어진 합금 소재를 이용해 성형 제조되므로 정련과정을 거치더라도 각종 불순물이 다량 잔존한다. 따라서, 페라이트는 제조과정에서 크랙 또는 미세 실크랙이 발생하거나 압연 등의 가공과정에서 외관의 손상 또는 변형이 발생하는 등의 문제점이 있다.On the other hand, since ferrite is formed by using an alloy material made of an iron oxide compound, a large amount of various impurities remain even though the refining process is performed. Therefore, ferrite has problems such as cracking or micro-cracking in the manufacturing process or damage or deformation of the outer appearance during processing such as rolling.
이와 같이 페라이트에 크랙 등의 결함이 발생된 상태에서 기기 등에 장착될 경우 기기의 성능 및 수명을 저하시키는 원인이 될 수 있으므로 페라이트의 제조시에는 외관을 검사하는 공정을 진행하여 양품 및 불량품을 선별하는 작업이 이루어지고 있다.When the ferrite is attached to a device in a state where defects such as cracks are generated, it may cause deterioration of the performance and lifetime of the device. Therefore, when the ferrite is manufactured, the process of inspecting the appearance is performed to select good products and defective products Work is being done.
통상적인 페라이트의 외관 검사공정은 페라이트를 이송하는 컨베이어의 일측에 검사대를 마련하고 작업자가 직접 육안으로 부품의 외관을 확인하는 방식이 일반적이며, 최근에는 이송되는 페라이트를 카메라로 촬영하여 모니터 화면을 통해 작업자가 이미지를 확인하는 검사 방식으로 이상 여부를 검출하는 기술이 적용되고 있다.In general, a method for inspecting the appearance of a ferrite is generally a method in which a test stand is provided on one side of a conveyor for conveying ferrite and a worker directly observes the appearance of the part with the naked eye. Recently, the ferrite being transferred is photographed with a camera, A technique for detecting an abnormality is applied to an inspection method in which an operator confirms an image.
공지된 기술의 일례로서, 한국공개특허 제 10 - 1997 - 0058518 호에는 반원통형 페라이트코어의 외관을 육안으로 검사하는 것에 있어서, 페라이트코어의 외관을 검사하여 양/불량을 판단하는 주제어부와, 주제어부의 제어로 페라이트코어를 로딩시키는 모터부와, 로딩된 페라이트코어를 감지하는 적외선감지센서와, 페라이트코어의 검사위치를 수정하는 프레임/그래버부와, 적외선감지센서에서 페라이트코어의 정위치를 감지시에 다수의 위치에서 페라이트코어의 영상을 찍는 카메라를 포함하는 검사장치를 구성한다.As an example of a known technique, Korean Patent Laid-Open No. 10-1997-0058518 discloses a method of visually inspecting the appearance of a semi-cylindrical ferrite core, comprising a main controller for checking the appearance of the ferrite core to judge a positive / A frame / grabber section for modifying the inspection position of the ferrite core; and a frame / grabber section for detecting the position of the ferrite core in the infrared sensor, And a camera for capturing an image of the ferrite core at a plurality of positions.
다른 예로서, 한국등록특허 제 10 - 0158400 호에는 페라이트코어가 이송되는 컨베이어 벨트의 일측에 설치되어 페라이트코어를 협지 및 이송토록 설치되는 코어 이송부와, 컨베이어 벨트의 일측으로 마련된 코어 검사대의 카메라 고정 플레이트와, 카메라 고정 플레이트 양측에 지지대를 개재하여 페라이트코어가 위치되는 코어 안치편의 하측에 설치되는 로드셀과, 코어 안치편 상측으로 카메라 고정 플레이트의 상부중앙에 지지고정되는 CCD 카메라가 설치되어 페라이트코어의 검사작업을 수행토록 설치되는 코어검사부를 포함하는 검사장치를 구성한다.As another example, Korean Patent Registration No. 10-0188400 discloses a ferrite core comprising a core conveying portion provided at one side of a conveyor belt to which a ferrite core is fed and installed so as to sandwich and convey ferrite cores, a camera fixing plate And a CCD camera supported and fixed to the upper center of the camera fixing plate on the upper side of the core holding plate, and a ferrite core And constitutes a testing apparatus including a core inspecting section installed for carrying out the work.
종래에는 페라이트의 제조시 작업자가 육안으로 제품 외관의 불량 여부를 확인하는 방식으로 검사를 실시하는 것이 일반적이다. 그러나, 이와 같은 방식은 작업자의 숙련도나 판단 기준에 따라 검사품질에 차이가 발생하므로 신뢰도가 낮을 뿐만 아니라 인건비의 발생 및 공정시간의 지연에 따른 생산성 및 효율성이 낮은 단점이 있다.Conventionally, it is a common practice for a worker to conduct inspection in such a manner as to visually check the appearance of the product when the ferrite is manufactured. However, such a method has a disadvantage in that not only the reliability is low, but also productivity and efficiency are low due to the generation of labor costs and the delay of the process time because the inspection quality is different according to the skill level of the operator or the judgment standard.
이와 같은 문제로 인해, 최근에는 이송중인 페라이트를 디지털 카메라로 촬영하여 모니터 화면을 통해 작업자가 이미지를 확인하는 검사 방식을 적용하고 있다. 그러나 일반 디지털 카메라를 이용한 검사 방식은 단순히 촬영된 이미지로부터 식별 가능한 수준에서의 결함 검출만이 가능한 한계가 있다.Due to such a problem, recently, a ferrite being conveyed is photographed with a digital camera and an inspection method in which an operator confirms an image through a monitor screen is applied. However, the inspection method using a general digital camera has a limitation in that it is possible to detect defects only at a recognizable level from a photographed image.
한편, 종래의 페라이트 검사에 일반 디지털 카메라 대신 2D 라인 스캔 카메라나 3D 라인 스캔 카메라를 적용한 예도 있다. 그러나, 2D 라인 스캔 카메라는 주지된 바와 같이 피검사물 또는 카메라를 선형 이동하면서 촬영이 이루어지는 방식이므로 노이즈 발생에 취약하고 특히 페라이트 특유의 어두운 색상 및 표면질감으로 인해 결함을 구분하기가 매우 어렵다. 따라서, 미세 실크랙의 경우 검출율이 미미할 뿐만 아니라 소프트웨어적인 영상처리에 의한 검출 효율이 낮은 문제점으로 인해 셔터 속도나 FPS 등 하드웨어에서 고사양이 요구되는 단점이 있다. 아울러, 3D 카메라의 경우 장비 자체가 고가인 점, 및 피검사물 한 단위당 촬영시간이 약 10 ~ 20초 가량 소요되는 점, 촬영된 데이터의 양이 방대하여 그에 따른 처리시간 역시 장시간 소요되는 점 등 사실상 작업 현장에 적용하기에는 실효성이 현저히 낮은 단점이 있다.On the other hand, there is an example in which a 2D line scan camera or a 3D line scan camera is applied to a conventional ferrite inspection instead of a general digital camera. However, since the 2D line scan camera is a type in which photographing is performed while linearly moving the inspected object or the camera, it is very difficult to distinguish defects due to the dark color and surface texture inherent to ferrite, particularly to noise. Therefore, in the case of micro cracks, there is a disadvantage that not only the detection rate is small but also the detection efficiency by the software image processing is low, so that the hardware such as the shutter speed and the FPS requires high quality. In addition, 3D cameras are expensive because of the high cost of the equipment itself, and it takes about 10 to 20 seconds for each unit of the inspected object, and the amount of captured data is so large that the processing time is also long. There is a disadvantage in that the efficiency is considerably low for application to the field.
이에 본 발명에서는 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 발명한 것으로서,Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art,
페라이트를 로딩하고 좌측영역(Z1)과 우측영역(Z2)의 촬영데이터를 생성하는 제1외관검사유닛(100)과,A first visual inspection unit (100) for loading the ferrite and generating photographic data of the left area (Z1) and the right area (Z2)
상기 제1외관검사유닛(100)의 일측에서 페라이트를 이송받고 상부중앙영역(Z3)과 상부좌측영역(Z4)과 상부우측영역(Z5)의 촬영데이터를 생성하는 제2외관검사유닛(200)과,A second
상기 제2외관검사유닛(200)의 일측에서 페라이트를 이송받고 하부좌측영역(Z6)과 하부우측영역(Z7)과 하부중앙영역(Z8)의 촬영데이터를 생성하는 제3외관검사유닛(300)과,A third
상기 영역들에 대한 촬영데이터를 수신하고 머신 비전 영상처리에 의해 결함을 검출하는 제어유닛(400)과,A control unit (400) for receiving photographic data for the areas and detecting defects by machine vision image processing,
상기 제3외관검사유닛(300)의 일측에서 페라이트를 이송받고 상기 제어유닛(400)과 연동하여 페라이트를 선별 배출하는 선별유닛(500)을 포함하는 페라이트 외관 비전 검사시스템을 구성함으로써 페라이트의 제조 시 미세 실크랙 등의 결함을 정확하게 효율적으로 검출할 수 있는 목적 달성이 가능하다.And a screening unit (500) for transferring the ferrite from one side of the third external inspection unit (300) and intermittently discharging the ferrite by interlocking with the control unit (400), thereby forming a ferrite external vision inspection system It is possible to achieve the object of accurately and efficiently detecting defects such as micro-cracks.
본 발명은 페라이트의 제조 및 가공시 발생하는 미세 실크랙 등의 결함을 효율적으로 검출하기 위하여 머신 비전을 이용한 외관 검사시스템을 제공한다.The present invention provides an appearance inspection system using machine vision in order to efficiently detect defects such as micro-cracks that occur during the manufacture and processing of ferrite.
따라서, 기존에 작업자의 육안에 의존하여 페라이트의 외관을 검사하는 것에 비해 생산성 및 효율성을 현저히 증대할 수 있는 이점이 있다.Accordingly, there is an advantage that the productivity and efficiency can be remarkably increased as compared with the conventional inspection of the appearance of the ferrite by relying on the naked eye of the operator.
또한, 본 발명은 2D 에어리어 스캔 카메라를 적용하도록 구성하여 기존의 2D 라인 스캔 카메라나 3D 라인 스캔 카메라에 비해 저비용으로 시스템을 구축하면서도 3초 이내에 고해상도 영상 촬영데이터를 획득할 수 있으며, 소프트웨어 영상처리 및 머신 비전 딥러닝 기술을 적용하여 변별력을 현저히 향상함으로써 검사정확도 및 신뢰도를 증진하는 이점이 있다.In addition, the present invention can be configured to apply a 2D area scan camera to acquire high resolution image capturing data within 3 seconds while constructing a system at a lower cost than a conventional 2D line scan camera or 3D line scan camera, Machine vision deep learning technology is applied to improve discrimination power and improve inspection accuracy and reliability.
아울러, 본 발명은 종래 기술과 차별하여 피검사물인 페라이트의 종류에 따라서 상이한 규격 및 형상에 따른 시스템의 위치설정 및 검사기준을 보다 정밀하게 반영할 수 있으므로 결함의 발생 형태나 위치에 따른 검출 오류를 최소화할 수 있으며, 더 나아가 페라이트 외관 검사 작업 전반의 무인화를 가능하게 하는 등의 다양한 효과를 도모할 수 있다.In addition, since the present invention can differentiate the position and inspection standard of the system according to different specifications and shapes according to the type of ferrite, which is the object to be inspected, more precisely, It is possible to achieve various effects such as enabling unmanned operation of the overall ferrite inspection work, and the like.
도 1은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 개략적인 블록도.
도 2는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 평면도.
도 4는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제1외관검사유닛 사시도.
도 5는 도 4의 측면도.
도 6은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제2외관검사유닛의 사시도.
도 7은 도 6의 측면도.
도 8은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제3외관검사유닛의 사시도.
도 9는 도 8의 측면도.
도 10은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의의 선별유닛의 사시도.
도 11은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 촬영부 및 조명부 분해도.
도 12 내지 도 14는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 작동 상태 예시도.1 is a schematic block diagram of a ferrite external vision inspection system according to the present invention;
2 is a perspective view of a ferrite external vision inspection system according to the present invention.
3 is a plan view of a ferrite exterior vision inspection system according to the present invention.
4 is a perspective view of a first appearance inspection unit of a ferrite appearance vision inspection system according to the present invention.
Figure 5 is a side view of Figure 4;
6 is a perspective view of a second external inspection unit of the ferrite external vision inspection system according to the present invention.
Figure 7 is a side view of Figure 6;
8 is a perspective view of a third external inspection unit of the ferrite external vision inspection system according to the present invention.
Fig. 9 is a side view of Fig. 8; Fig.
10 is a perspective view of a screening unit of a ferrite external vision inspection system according to the present invention.
11 is an exploded view of a photographing part and a lighting part of a ferrite external vision inspection system according to the present invention.
12 to 14 are diagrams illustrating an operating state of a ferrite external vision inspection system according to the present invention.
이하, 본 발명의 페라이트 외관 비전 검사시스템의 바람직한 실시 예에 따른 구성과 작용을 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 하기의 설명에서 당해 기술분야의 통상의 기술자가 용이하게 구현할 수 있는 부분에 대한 구체적인 설명은 생략될 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a configuration and an operation of a ferrite outer appearance vision inspection system according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, a detailed description of parts that can be easily implemented by those skilled in the art may be omitted.
도 1은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 개략적인 블록도, 도 2는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 사시도, 도 3은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 평면도, 도 4는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제1외관검사유닛 사시도, 도 5는 도 4의 측면도, 도 6은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제2외관검사유닛의 사시도, 도 7은 도 6의 측면도, 도 8은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 제3외관검사유닛의 사시도, 도 9는 도 8의 측면도, 도 10은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의의 선별유닛의 사시도, 도 11은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 촬영부 및 조명부 분해도, 도 12 내지 도 14는 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템의 작동 상태 예시도를 도시한 것이다.FIG. 1 is a schematic block diagram of a ferrite external vision inspection system according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a ferrite external vision inspection system according to the present invention, FIG. 3 is a plan view of a ferrite external vision inspection system according to the present invention, Fig. 5 is a side view of Fig. 4, Fig. 6 is a perspective view of the second external inspection unit of the ferrite external vision inspection system according to the present invention, Fig. 7 is a perspective view of the second external inspection unit of the ferrite external vision inspection system according to the present invention, 9 is a side view of FIG. 8, and FIG. 10 is a sectional view of a ferrite external vision inspection system according to the present invention. FIG. 8 is a side view of FIG. 6, FIG. 8 is a perspective view of a third external inspection unit of a ferrite external vision inspection system according to the present invention, Fig. 11 is an exploded view of a photographing part and an illuminating part of a ferrite external vision inspection system according to the present invention, and Figs. 12 to 14 are views showing a ferrite external vision inspection system Fig. 2 shows an operating state example of the system.
본 발명의 기술이 적용되는 페라이트 외관 비전 검사시스템은 페라이트 부품(이하, 페라이트)의 제조 시 육안으로 식별하기 어려운 미세 실크랙과 같은 결함을 보다 정확하게 검출하도록 이루어진 머신 비전을 이용한 외관 검사시스템에 관한 것임을 주지한다.The ferrite external vision inspection system to which the technology of the present invention is applied is related to a visual inspection system using a machine vision, which is capable of more accurately detecting defects such as micro-cracks, which are hard to be visually recognized during manufacturing of a ferrite component I know.
이를 위한 본 발명의 페라이트 외관 비전 검사시스템은 페라이트 제조시스템의 후반부, 예컨대 형삭유닛 및 세정유닛을 거쳐 불순물이 제거된 상태로 취출되는 페라이트를 로딩하여 미세 실크랙, 크랙 및 이물질 여부를 검사하도록 구축한다.For this purpose, the ferrite external vision inspection system of the present invention is constructed so that ferrite taken out in a state in which impurities are removed through the latter half of the ferrite manufacturing system, for example, a finishing unit and a cleaning unit, is loaded and inspected for micro cracks, cracks and foreign matter .
구체적으로, 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템은 곡면을 가지는 입체 형태로 이루어진 페라이트의 외관을 좌측영역(Z1), 우측영역(Z2), 상부중앙영역(Z3), 상부좌측영역(Z4), 상부우측영역(Z5), 하부좌측영역(Z6), 하부우측영역(Z7), 및 하부중앙영역(Z8)으로 구분하여 각 영역을 검사하도록 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이 제1외관검사유닛(100), 제2외관검사유닛(200), 제3외관검사유닛(300), 및 제어유닛(400)과 선별유닛(500)을 포함하여 구성한다.Specifically, the ferrite external vision inspection system according to the present invention includes an outer appearance of a three-dimensional ferrite having a curved surface in a left region Z1, a right region Z2, an upper central region Z3, an upper left region Z4, As shown in Figs. 1 to 3, in order to inspect each region by dividing into an upper right region Z5, a lower left region Z6, a lower right region Z7, and a lower central region Z8,
도 4 내지 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 제1외관검사유닛(100)은 페라이트를 로딩하고 좌측영역(Z1)과, 우측영역(Z2)의 촬영데이터를 생성하도록 구성하며 제1이송모듈(110)과, 좌측면검사모듈(120)과, 우측면검사모듈(130)을 포함한다.4 to 5, the first
상기 제1이송모듈(110)은 페라이트를 일렬로 로딩하여 이송하도록 이루어지며 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)와, 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114)와, 복수의 제1이송핸들(115)을 포함한다.The
상기 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)는 페라이트의 이송방향에 평행하는 2열로 설치한다. 페라이트는 그 종류에 따라서 규격이 상이한 바, 본 발명에서는 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)로 구분하여 페라이트의 좌측 및 우측 저면을 거치하여 로딩하도록 구성함으로써 필요에 따라서 거치대 사이의 거리를 조정 가능하도록 구비한다.The first
상기 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114)는 후술하게 될 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)의 사이에서 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112) 상에 장착한다. 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114) 각각의 일측에는 상호 동일 가동범위로 연동하는 소정의 수직 실린더를 탑재한다. 페라이트의 종류에 따라서 거치대와 동일 높이에 위치하는 승강대를 승강하여 페라이트의 높이를 조정 가능하도록 구성함으로써 촬영시점에 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)의 중심에 페라이트가 위치할 수 있도록 구비한다.The first
상기 제1이송핸들(115)은 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)의 상측에서 페라이트를 한 단위씩 피딩하도록 복수를 구비한다. 제1이송핸들(115)의 일측에는 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)와 평행하게 횡동하는 소정의 횡동수단과 제1이송핸들(115)의 높이를 조정하는 종동수단을 구비한다. 본 발명에서는 상기 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114)를 기점으로 전, 후측에 복수의 제1이송핸들(115)을 구비하여 전측에서는 거치대에 로딩된 페라이트를 승강대의 상측에 위치하도록 피딩하고, 후측에서는 승강대로부터 제2외관검사유닛(200)을 향해 피딩하는 작동이 동시에 이루어지도록 구성한다.The
한편, 상기 제1이송모듈(110)의 일측에는 제1조정수단(116)을 장착한다. 상기한 바와 같이 페라이트는 그 종류에 따라서 규격이 상이하므로 제1외관검사유닛(100)에 로딩되는 페라이트를 기준으로 좌측에 위치하는 상기 제1좌측거치대(111) 제1좌측승강대(113) 좌측면검사모듈(120) 일체와, 우측에 위치하는 상기 제1우측거치대(112) 제1우측승강대(114) 우측면검사모듈(130) 일체 사이의 거리를 제1조정수단(116)을 통해 조정하도록 구성한다.On the other hand, a
상기 좌측면검사모듈(120)은 제1이송모듈(110)의 좌측에서 제1좌측조명부(121) 및 제1좌측촬영부(122)를 수평으로 정렬하여 장착하는 제1좌측위치부(123)를 구비한다.The left
상기 제1좌측조명부(121)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제1좌측거치대(111)의 일측에서 제1좌측승강대(113)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 좌측영역(Z1)에 빛을 조사하도록 구비한다.The first
상기 제1좌측촬영부(122)는 제1좌측조명부(121)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 전방 승강대 상에 위치하는 페라이트의 좌측영역(Z1)을 촬영하도록 구비한다.The first left-
상기 제1좌측위치부(123)는 제1좌측조명부(121)와 제1좌측촬영부(122)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제1좌측거치대(111)의 일측에 고정한다.The first
상기 우측면검사모듈(130)은 제1이송모듈(110)의 우측에서 좌측면검사모듈(120)에 대향하도록 제1우측조명부(131) 및 제1우측촬영부(132)를 수평으로 정렬하여 장착하는 제1우측위치부(133)를 구비한다.The right
상기 제1우측조명부(131)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제1우측거치대(112)의 일측에서 제1우측승강대(114)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 우측영역(Z2)에 빛을 조사하도록 구비한다.The first
상기 제1우측촬영부(132)는 제1우측조명부(131)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 전방 승강대 상에 위치하는 페라이트의 우측영역(Z2)을 촬영하도록 구비한다.The first right
상기 제1우측위치부(133)는 제1우측조명부(131)와 제1우측촬영부(132)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제1우측거치대(112)의 일측에 고정한다.The first right
도 6 내지 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 제2외관검사유닛(200)은 상기 제1외관검사유닛(100)의 일측에서 페라이트를 이송받고 상부중앙영역(Z3)과, 상부좌측영역(Z4)과, 상부우측영역(Z5)의 촬영데이터를 생성하도록 구성하며 제2이송모듈(210)과, 상부중앙검사모듈(220)과, 상부좌측검사모듈(230)과, 상부우측검사모듈(240)을 포함한다.6 to 7, the second
상기 제2이송모듈(210)은 제1외관검사유닛(100)을 거친 페라이트를 일렬로 로딩하여 이송하도록 이루어지며 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)와, 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214)와, 제2이송핸들(215)을 포함한다.The second conveying
상기 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)는 페라이트의 이송방향에 평행하는 2열로 설치한다. 본 발명에서는 공간 및 동선의 효율화를 위해 제1외관검사유닛(100)의 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)의 후단에서 직교하는 일측으로 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)를 설치한다. 아울러 상기한 바와 같이 페라이트는 그 종류에 따라서 규격이 상이하므로 상기 제1외관검사유닛(100)과 마찬가지로 제2외관검사유닛(200)에서도 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)로 구분하여 페라이트의 좌측 및 우측 저면을 거치하여 로딩하도록 구성함으로써 필요에 따라서 거치대 사이의 거리를 조정 가능하도록 구비한다.The second
상기 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214)는 후술하게 될 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241) 사이의 하측에서 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212) 상에 장착한다. 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214) 각각의 일측에는 상호 동일 가동범위로 연동하는 소정의 수직 실린더를 탑재한다. 상기 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214)의 높이는 후술하게 될 제4조정수단(234) 및 제5조정수단(244)과 연동하여 조정되도록 구성함이 마땅하다. 페라이트의 종류에 따라서 거치대와 동일 높이에 위치하는 승강대를 승강하여 페라이트의 높이를 조정 가능하도록 구성함으로써 촬영시점에 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)의 중심에 페라이트가 위치할 수 있도록 구비한다. The second
상기 제2이송핸들(215)은 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)의 일측에서 페라이트를 한 단위씩 피딩하도록 구비한다. 제2이송핸들(215)의 일측에는 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)와 평행하게 횡동하는 소정의 횡동수단을 구비하여 거치대에 로딩된 페라이트를 상부중앙검사모듈(220)의 연직 하방, 및 승강대의 상측에 위치하도록 피딩하는 작동이 연속적으로 이루어지도록 구성한다.The
한편, 상기 제2이송모듈(210)의 일측에는 제2조정수단(216)을 장착한다. 상기한 바와 같이 페라이트는 그 종류에 따라서 규격이 상이하므로 제2외관검사유닛(200)에 로딩되는 페라이트를 기준으로 좌측에 위치하는 상기 제2좌측거치대(211) 및 제2좌측승강대(213)와, 우측에 위치하는 상기 제2우측거치대(212) 및 제2우측승강대(214) 사이의 거리를 조정한다.On the other hand, a second adjusting means 216 is mounted on one side of the second conveying
상기 상부중앙검사모듈(220)은 제2이송모듈(210)의 상측에서 제2중앙조명부(221) 및 제2중앙촬영부(222)를 수직으로 정렬하여 장착하는 제2중앙위치부(223)를 구비한다.The upper
상기 제2중앙조명부(221)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제2좌측거치대(211)와 제2우측거치대(212)의 사이의 중심을 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 상부중앙영역(Z3)에 빛을 조사하도록 구비한다.The second central illuminating
상기 제2중앙촬영부(222)는 제2중앙조명부(221)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 연직 하방에 위치하는 페라이트의 상부중앙영역(Z3)을 촬영하도록 구비한다.The second central photographing
상기 제2중앙위치부(223)는 제2중앙조명부(221)와 제2중앙촬영부(222)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제2좌측거치대(211) 또는 제2우측거치대(212)의 일측에 직립하는 소정의 수직프레임 상에 고정한다.The
상기 상부좌측검사모듈(230)은 제2이송모듈(210)의 상부 좌측에서 제2좌측조명부(231) 및 제2좌측촬영부(232)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제2좌측위치부(233)를 구비한다.The upper
상기 제2좌측조명부(231)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제2좌측거치대(211)의 일측에서 제2좌측승강대(213)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 상부좌측영역(Z4)에 빛을 조사하도록 구비한다.The second
상기 제2좌측촬영부(232)는 제2좌측조명부(231)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 사선 방향에 위치하는 페라이트의 상부좌측영역(Z4)을 촬영하도록 구비한다.The second
상기 제2좌측위치부(233)는 제2좌측조명부(231)와 제2좌측촬영부(232)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제2좌측거치대(211)의 일측에 직립하는 소정의 수직프레임 상에 사선 방향으로 고정한다.The second left
상기 상부우측검사모듈(240)은 제2이송모듈(210)의 상부 우측에서 상부좌측검사모듈(230)에 대칭하도록 제2우측조명부(241) 및 제2우측촬영부(242)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제2우측위치부(243)를 구비한다.The upper
상기 제2우측조명부(241)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제2우측거치대(212)의 일측에서 제2우측승강대(214)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 상부우측영역(Z5)에 빛을 조사하도록 구비한다.The second
상기 제2우측촬영부(242)는 제2우측조명부(241)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 사선 방향에 위치하는 페라이트의 상부우측영역(Z5)을 촬영하도록 구비한다.The second right
상기 제2우측위치부(243)는 제2우측조명부(241)와 제2우측촬영부(242)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제2우측거치대(212)의 일측에 직립하는 소정의 수직프레임 상에 사선 방향으로 고정한다.The second right
아울러, 상기 제2중앙위치부(223)와 제2좌측위치부(233) 및 제2우측위치부(243)에는 각각 제3조정수단 내지 제5조정수단(224,234,244)을 장착하여, 페라이트의 규격에 따라서 상기 제2조정수단(216)과 제3조정수단 내지 제5조정수단(224,234,244)을 연동하여 상기 상부중앙검사모듈(220)과 상부좌측검사모듈(230) 및 상부우측검사모듈(240)에서 상기 제2이송모듈(210) 사이의 사선 방향 거리를 조정하도록 구성한다.Third adjusting means to fifth adjusting means 224, 234 and 244 are mounted on the second center-
도 8 내지 도 9에 도시한 바와 같이, 상기 제3외관검사유닛(300)은 상기 제2외관검사유닛(200)의 일측에서 페라이트를 이송받고 하부좌측영역(Z6)과, 하부우측영역(Z7)과, 하부중앙영역(Z8)의 촬영데이터를 생성하도록 구성하며 제3이송모듈(310)과, 하부좌측검사모듈(320)과, 하부우측검사모듈(330)과, 하부중앙검사모듈(340)을 포함한다.8 to 9, the third
상기 제3이송모듈(310)은 제2외관검사유닛(200)을 거친 페라이트를 한 단위씩 픽업하여 이송하도록 이루어지며 제3이송핸들(311)과, 제3거치대(312)를 포함한다.The third conveying
상기 제3이송핸들(311)은 페라이트를 한 단위씩 픽업하는 복수를 구비한다. 상기 제3이송핸들(311)의 일측에는 제3거치대(312)의 전, 후측에서 상기 제2외관검사유닛(200)과 후술하게 될 선별유닛(500) 사이를 횡동하는 소정의 횡동수단과 제3이송핸들(311)의 높이를 조정하는 종동수단을 구비한다.The
상기 제3거치대(312)는 제3이송핸들(311)의 사이에서 페라이트를 임시로 로딩하도록 구비한다. 본 발명에서는 제3거치대(312)를 기점으로 전, 후측에 복수의 제3이송핸들(311)을 구비하여 전측에서는 제2외관검사유닛(200)의 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)로부터 페라이트를 픽업하여 하부좌측검사모듈(320) 및 하부우측검사모듈(330) 사이의 상측에 위치하도록 피딩하고, 제3거치대(312)에 임시로 로딩한 후, 후측에서는 제3거치대(312)로부터 선별유닛(500)을 향해 피딩하는 작동이 동시에 이루어지도록 구성한다.The
상기 하부좌측검사모듈(320)은 제3이송모듈(310)의 하부 좌측에서 제3좌측조명부(321) 및 제3좌측촬영부(322)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제3좌측위치부(323)를 구비한다.The lower
상기 제3좌측조명부(321)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제3이송모듈(310)의 일측에서 제3이송핸들(311)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 하부좌측영역(Z6)에 빛을 조사하도록 구비한다.The third
상기 제3좌측촬영부(322)는 제3좌측조명부(321)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 사선 방향에 위치하는 페라이트의 하부좌측영역(Z6)을 촬영하도록 구비한다.The third left
상기 제3좌측위치부(323)는 제3좌측조명부(321)와 제3좌측촬영부(322)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제3이송모듈(310)의 일측 베이스 상에서 사선 방향으로 고정한다.The third
상기 하부우측검사모듈(330)은 제3이송모듈(310)의 하부 우측에서 하부좌측검사모듈(320)에 대칭하도록 제3우측조명부(331) 및 제3우측촬영부(332)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제3우측위치부(333)를 구비한다.The lower right
상기 제3우측조명부(331)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제3이송모듈(310)의 일측에서 제3이송핸들(311)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 하부우측영역(Z7)에 빛을 조사하도록 구비한다.The third
상기 제3우측촬영부(332)는 제3우측조명부(331)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 사선 방향에 위치하는 페라이트의 하부우측영역(Z7)을 촬영하도록 구비한다.The third right
상기 제3우측위치부(333)는 제3우측조명부(331)와 제3우측촬영부(332)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제3이송모듈(310)의 일측 베이스 상에서 사선 방향으로 고정한다.The third right
상기 하부중앙검사모듈(340)은 제3이송모듈(310)의 하측에서 제3중앙조명부(341) 및 제3중앙촬영부(342)를 수직으로 정렬하여 장착하는 제3중앙위치부(343)를 구비한다.The lower
상기 제3중앙조명부(341)는 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고, 상기 제3이송핸들(311)의 중심부를 향하도록 위치한다. 돔 형상의 내부에는 다수의 조명을 장착하고 내주면을 통해 빛을 반사하여 페라이트의 하부중앙영역(Z8)에 빛을 조사하도록 구비한다.The third
상기 제3중앙촬영부(342)는 제3중앙조명부(341)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하여 중심홀을 통해 조명부의 연직 상방에 위치하는 페라이트의 하부중앙영역(Z8)을 촬영하도록 구비한다.The third central photographing
상기 제3중앙위치부(343)는 제3중앙조명부(341)와 제3중앙촬영부(342)를 장착하는 소정의 브래킷을 형성하여 중심부가 동축선상에 위치하도록 정렬된 상태로 제3이송모듈(310)의 일측 베이스 상에 수직으로 고정한다.The third
아울러, 상기 제3중앙위치부(343)와 제3좌측위치부(323) 및 제3우측위치부(333)에는 각각 제6조정수단 내지 제8조정수단(324,334,344)을 장착하여, 페라이트의 규격에 따라서 상기 하부중앙검사모듈(340)과 하부좌측검사모듈(320) 및 하부우측검사모듈(330)에서 상기 제3이송모듈(310) 사이의 거리를 조정하도록 구성한다.The sixth to eighth adjustment means 324, 334 and 344 are mounted on the
한편, 상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 탑재하여 페라이트의 영역들을 촬영하는 복수의 촬영부는, 해상도가 20M pixel 이상이고 초당 프레임 수가 6fps 이상으로 이루어지는 에어리어 스캔 카메라로 구성한다.The plurality of photographing units mounted on the first to third
본 발명에서는 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 제1좌,우측촬영부(122,132), 제2중앙,좌,우측촬영부(222,232,242), 제3좌,우,중앙촬영부(322,332,342)를 포함하는 8개의 촬영부를 구비한다. 상기 촬영부는 CMOS 이미지센서를 탑재하는 초고화질 비전 카메라 및 렌즈로 구성하여 50 ~ 100㎛ 크기의 크랙을 식별 가능한 수준의 촬영데이터를 생성하도록 구성한다.In the present invention, the first and second
또한, 상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 탑재하여 페라이트의 영역들을 향해 빛을 조사하는 조명부는, 페라이트와의 거리가 40 ~ 80mm 범위로 위치하여 촬영부가 페라이트 크기의 3배 면적의 시야각(FOV)을 가지도록 구비하여 사각지대를 배제하도록 구성한다.The illuminating unit mounted on the first to third
본 발명에서는 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 제1좌,우측조명부(121,131), 제2중앙,좌,우측조명부(221,231,241), 제3좌,우,중앙조명부(321,331,341)를 포함하는 8개의 조명부를 구비한다. 상기 조명부는 돔 형으로 이루어져 조명을 집중 반사하며, 특히 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하로 이루어지는 스포트라이트로 구성한다. 이는 파장영역이 긴 광원에 비해 난반사율을 현저히 저하하면서 페라이트의 질감과 미세 크랙을 보다 용이하게 구분 가능하도록 구성하기 위함이다.In the present invention, the first and second
상기 제어유닛(400)은 상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 의해 생성된 페라이트의 각 영역들, 즉 좌측영역(Z1), 우측영역(Z2), 상부중앙영역(Z3), 상부좌측영역(Z4), 상부우측영역(Z5), 하부좌측영역(Z6), 하부우측영역(Z7), 하부중앙영역(Z8)에 대한 촬영데이터를 수신하고 머신 비전 영상처리에 의해 결함을 검출하도록 처리모듈(410)과 제어모듈(420)을 포함하여 구성한다.The
상기 처리모듈(410)은 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)으로부터 촬영데이터를 수신하여 영상처리하고 판독데이터를 산출한다. 상기 처리모듈(410)은 매체에 저장된 컴퓨터프로그램으로 구성한다.The
상기 처리모듈(410)은 촬영데이터를 소프트웨어적으로 처리하여 명암차를 강조하고 불필요한 잔상은 제거한 후 이진화를 통해 블롭(Blob) 영역의 면적을 산출함으로써 미세 실크랙을 검출하며, 아울러 촬영데이터에서 픽셀 위치에 따라 기울기가 가장 큰 두 지점에 대해 미분함수를 적용하여 경계선을 산출함으로써 가공치수에 대한 정확도를 검출하는 영상처리과정을 수행하도록 구성한다.The
특히, 본 발명에서는 상기 처리모듈(410)에 머신 비전 딥러닝 기술을 적용하여 판독데이터를 학습시킴에 따라 분석능력을 실시간 향상하도록 구성한다. 즉, 획득한 촬영데이터를 영상처리하여 판독하는 과정에서 다양한 양상으로 형성되는 미세 실크랙 등에 대한 판독데이터를 학습하여 추후 변별력을 현저히 증대하도록 구성한다.Particularly, in the present invention, the machine vision deep learning technique is applied to the
상기 제어모듈(420)은 처리모듈(410)과 연동하여 판독데이터에 따라 상기 선별유닛(500)을 작동하도록 구비한다. 상기 제어모듈(420)은 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체 혹은 컴퓨터 그 자체로 구성하며 상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300) 및 후술하게 될 선별유닛(500)과 데이터 송, 수신이 이루어지도록 구성한다.The
도 10에 도시한 바와 같이, 상기 선별유닛(500)은 상기 제3외관검사유닛(300)의 일측에서 페라이트를 이송받고 상기 제어유닛(400)과 연동하여 페라이트를 선별 배출하도록 구성하며 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)와, 제1선별핸들(540) 및 제2선별핸들(550)을 포함한다.10, the
상기 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)는 제3이송모듈(310)의 일측 하부를 중심으로 각각 서로 다른 경로를 형성하도록 설치하여 양품, 불량품, 보류품 페라이트를 각각 언로딩하도록 구비한다. 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)의 후단에는 소정의 적재수단을 구비하여 선별된 페라이트를 수집하도록 구성한다.The first discharge unit to the
상기 제1선별핸들(540)은 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)의 중심에서 수평 구비하고 제어모듈(420)과 연동하여 제1배출대(510)를 향해 힌지 작동하도록 구비한다. 즉, 제1선별핸들(540)은 상기 제3외관검사유닛(300)의 제3이송핸들(311)의 가동범위 내에서 연직 직하방에 구비하여 페라이트를 이송받는다.The
상기 제1선별핸들(540)의 일측 하부에는 소정의 실린더를 탑재하여 힌지축을 기점으로 제1배출대(510)를 향해 하향 작동한다. 따라서, 상기 제1배출대(510)는 제1선별핸들(540)의 힌지 작동측 하부에서 소정의 경사를 가지는 슈트 형태로 구비함이 바람직하다.A predetermined cylinder is mounted on a lower portion of one side of the first sorting handle 540 to operate downward toward the first discharge stand 510 starting from the hinge shaft. Therefore, it is preferable that the
상기 제2선별핸들(550)은 제1선별핸들(540)의 일측 상부에 구비하고 제어모듈(420)과 연동하여 제2배출대(520)를 향해 횡동하도록 구비한다. 즉, 제2선별핸들(550)은 제1선별핸들(540)이 제어모듈(420)에 의해 수평 상태를 유지하는 상태에서 제1선별핸들(540)의 상측에 안치된 페라이트를 제2배출대(520)를 향해 피딩하도록 구성한다.The
전술한 바와 같은 구성으로 이루어지는 본 발명의 기술이 적용된 페라이트 외관 비전 검사시스템의 작동 상태를 살펴보면 다음과 같다. 이하의 설명은 본 발명에 대하여 바람직한 실시 예를 들어 설명하는 것이므로 본 발명은 하기 실시 예에 의해 한정되는 것이 아니며 본 발명의 범주를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변형이 제공될 수 있음은 당연하다 할 것이다.The operation state of the ferrite external vision inspection system to which the technology of the present invention having the above-described structure is applied will be described below. It is to be understood that the present invention is not limited to the following embodiments, and various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. .
본 발명의 페라이트 외관 비전 검사시스템은 통상적으로 형삭유닛 및 세정유닛을 포함하는 페라이트 제조시스템의 후반부에 구축하여 페라이트를 공급받아 검사를 수행하도록 이루어진다. 본 실시 예에서는 자동차용 부품으로 널리 이용되는 페라이트코어 제조시스템에 적용하여 미세 실크랙 등 육안으로 식별할 수 없는 결함을 검출하기 위한 일련의 작동 상태를 설명한다.The ferrite external vision inspection system of the present invention is usually constructed in the latter part of a ferrite manufacturing system including a firing unit and a cleaning unit to perform inspection by supplying ferrite. In this embodiment, a series of operating states for detecting defects that can not be visually recognized, such as micro-cracks, are applied to a ferrite core manufacturing system widely used for automotive parts.
본 발명의 페라이트 외관 비전 검사시스템은 페라이트를 로딩하는 제1외관검사유닛(100)과, 제2외관검사유닛(200)과, 제3외관검사유닛(300), 및 선별유닛(500)을 연속적인 동선으로 구비하며 일측에 제어유닛(400)을 탑재하여 시스템 전반을 제어하도록 구성한다.The ferrite external vision inspection system of the present invention includes a first external
제어유닛(400)의 처리모듈(410)에는 피검사물인 페라이트의 선별 기준에 대한 데이터를 사전에 입력하여 설정데이터를 생성하며, 더불어 제어모듈(420)을 통해 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 탑재된 제1조정수단 내지 제8조정수단(116,216,224,234,244,324,334,344)을 제어하여 해당 페라이트의 검사에 적합하도록 좌측면검사모듈(120), 우측면검사모듈(130), 상부중앙검사모듈(220), 상부좌측검사모듈(230), 상부우측검사모듈(240), 하부중앙검사모듈(340), 하부좌측검사모듈(320), 하부우측검사모듈(330)의 위치를 설정한다.The
컨베이어를 통해 제1외관검사유닛(100)의 제1이송모듈(110)에 페라이트가 로딩된다. 제1좌측거치대(111)와 제1우측거치대(112)에 페라이트의 좌, 우측 저면이 거치되고 제1이송핸들(115)이 전진하여 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114) 상에 페라이트를 위치시킨다.The ferrite is loaded on the first conveying
상기 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114)는 제어유닛(400)과 연동하여 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)의 사이에서 중심부 상에 페라이트가 위치하도록 높이를 조절한다. 상기 제어유닛(400)에 의해 페라이트와 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131) 사이의 거리는 40 ~ 80mm 범위로 위치하게 되며 촬영부는 약 180파이의 시야각을 확보한다.The first
상기 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)는 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하인 청색톤의 빛을 페라이트의 좌측영역(Z1)과 우측영역(Z2)에 조사한다.The first
상기 제1좌측촬영부(122) 및 제1우측촬영부(132)는 20M pixel의 해상도에서 초당 6fps로 도 12에 도시한 바와 같이 페라이트의 좌측영역(Z1)과 우측영역(Z2)을 촬영하여 촬영데이터를 생성하고, 제어유닛(400)에 전송한다.The first
제1외관검사유닛(100)에서 페라이트의 좌측영역(Z1) 및 우측영역(Z2)에 대한 촬영데이터 생성이 완료되면 제1이송핸들(115)이 전진하여 페라이트를 제2외관검사유닛(200)의 제2이송모듈(210)로 로딩한다.When the first
제2외관검사유닛(200)은 제1외관검사유닛(100)과 그 동선이 직교하도록 구비되므로 제2좌측거치대(211)와 제2우측거치대(212)에 페라이트의 전, 후측 저면이 거치된다. 제2이송핸들(215)이 전진하여 제2중앙조명부(221)의 연직 하방에 페라이트를 위치시킨다.Since the second
상기 제어유닛(400)에 의해 페라이트와 제2중앙조명부(221) 사이의 거리는 40 ~ 80mm 범위로 위치하게 되며, 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하인 청색톤의 빛을 페라이트의 상부중앙영역(Z3)에 조사한다.The distance between the ferrite and the second central illuminating
상기 제2중앙촬영부(222)는 20M pixel의 해상도에서 초당 6fps로 도 13에 도시한 바와 같이 페라이트의 상부중앙영역(Z3)을 촬영하여 촬영데이터를 생성하고, 제어유닛(400)에 전송한다.The second central photographing
페라이트의 상부중앙영역(Z3)에 대한 촬영데이터가 생성되면 제2이송핸들(215)이 전진하여 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214) 상에 페라이트를 위치시킨다.When photographic data for the upper central region Z3 of the ferrite is generated, the second feed handle 215 advances to position the ferrite on the second
상기 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214)는 제어유닛(400)과 연동하여 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)의 사이에서 중심부 상에 페라이트가 위치하도록 높이를 조절한다. 상기 제어유닛(400)에 의해 페라이트와 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241) 사이의 사선 방향 거리는 40 ~ 80mm 범위로 위치하게 된다.The second
상기 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)는 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하인 청색톤의 빛을 페라이트의 상부좌측영역(Z4)과 상부우측영역(Z5)에 조사한다.The second
상기 제2좌측촬영부(232) 및 제2우측촬영부(242)는 20M pixel의 해상도에서 초당 6fps로 도 13에 도시한 바와 같이 페라이트의 상부좌측영역(Z4)과 상부우측영역(Z5)을 촬영하여 촬영데이터를 생성하고, 제어유닛(400)에 전송한다.As shown in FIG. 13, the second left
제2외관검사유닛(200)에서 페라이트의 상부중앙영역(Z3)과 상부좌측영역(Z4) 및 우측영역(Z2)에 대한 촬영데이터 생성이 완료되면 제2이송핸들(215)이 전진하여 페라이트가 제3외관검사유닛(300)의 제3이송모듈(310)을 향해 위치하도록 이송한다.When the second
제3외관검사유닛(300)은 제3이송핸들(311)을 후진하여 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)로부터 페라이트를 픽업하고, 제3이송핸들(311)을 전진하여 제3좌측조명부(321) 및 제3우측조명부(331)의 사이에서 중심부 상측에 페라이트를 위치시킨다.The third
상기 제어유닛(400)에 의해 페라이트와 제3좌측조명부(321) 및 제3우측조명부(331) 사이의 사선 방향 거리는 40 ~ 80mm 범위로 위치하게 되며, 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하인 청색톤의 빛을 페라이트의 하부좌측영역(Z6)과 하부우측영역(Z7)에 조사한다.The
상기 제3좌측촬영부(322) 및 제3우측촬영부(332)는 20M pixel의 해상도에서 초당 6fps로 도 14에 도시한 바와 같이 페라이트의 하부좌측영역(Z6)과 하부우측영역(Z7)을 촬영하여 촬영데이터를 생성하고, 제어유닛(400)에 전송한다.As shown in FIG. 14, the third left
페라이트의 하부좌측영역(Z6) 및 하부우측영역(Z7)에 대한 촬영데이터가 생성되면 제3이송핸들(311)이 전진하여 제3거치대(312) 상에 페라이트를 임시로 거치한다. 공정의 효율을 위해 제3이송핸들(311)은 복수로 구비하므로 앞서 페라이트를 하부중앙검사모듈(340)로 픽업 이송중인 제3이송핸들(311)의 복귀를 대기한다.When the photographic data for the lower left zone Z6 and the lower right zone Z7 of the ferrite are generated, the third feed handle 311 advances to temporarily mount the ferrite on the
제3이송핸들(311)이 제3거치대(312)로부터 페라이트를 픽업, 전진하여 제3중앙조명부(341)의 연직 상방에 페라이트를 위치시킨다.The third feed handle 311 picks up the ferrite from the
상기 제어유닛(400)에 의해 페라이트와 제3중앙조명부(341) 사이의 거리는 40 ~ 80mm 범위로 위치하게 되며, 휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하인 청색톤의 빛을 페라이트의 하부중앙영역(Z8)에 조사한다.The distance between the ferrite and the third central illuminating
상기 제3중앙촬영부(342)는 20M pixel의 해상도에서 초당 6fps로 도 14에 도시한 바와 같이 페라이트의 하부중앙영역(Z8)을 촬영하여 촬영데이터를 생성하고, 제어유닛(400)에 전송한다.The third central photographing
페라이트의 하부중앙영역(Z8)에 대한 촬영데이터가 생성되면 제어유닛(400)의 처리모듈(410)은 머신 비전 영상처리에 의해 각 영역에 대한 촬영데이터를 분석하여 50 ~ 100㎛ 크기의 크랙을 식별하고 판독데이터를 산출한다. 아울러, 머신 비전 딥러닝 기술을 적용하여 판독데이터를 학습시킴에 따라 분석능력을 향상하여 처리시간을 단축하고 변별력을 증대하여 실시간 검증이 가능하도록 한다.When photographed data for the lower central region Z8 of the ferrite is generated, the
판독데이터는 기입력된 설정데이터와 비교하여 선별 기준에 따라 양품, 불량품, 또는 이상이 있으나 기준치에는 미치지 못하는 보류품으로 구분하고, 제어모듈(420)은 판독데이터에 따라서 제2외관검사유닛(200)의 제3이송핸들(311), 또는 선별유닛(500)의 제1선별핸들(540) 및 제2선별핸들(550)의 동작을 제어한다.The
선별유닛(500)에는 제1선별핸들(540) 및 제2선별핸들(550)을 중심으로 각 측에 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)를 구비하여 양품, 불량품, 보류품 페라이트를 각각 배출한다.The
상기 제1선별핸들(540)이 제어유닛(400)에 의해 힌지 작동하여 경사지게 구비되면 페라이트는 제1배출대(510)를 향해 배출된다. 또는 제2선별핸들(550)이 제어유닛(400)에 의해 전진 작동하면 페라이트는 제2배출대(520)를 향해 배출된다. 제1선별핸들(540) 및 제2선별핸들(550)의 미작동시 상기 제3이송핸들(311)은 제3배출대(530)로 페라이트를 로딩하여 배출시킨다.When the
상기와 같이 선별되어 제1배출대 내지 제3배출대(510~530)를 통해 배출되는 페라이트는 적재수단에 언로딩되는바, 본 발명의 검사시스템 내부에 소정의 자율주행대차를 운행하여 이송하도록 구현함으로써 본 시스템과 함께 페라이트의 외관 검사 및 물류 작업 전반의 전자동 무인화를 실현할 수 있을 것이다.The ferrite discharged through the first to
이상에서와 같은 본 발명에 따른 페라이트 외관 비전 검사시스템은 페라이트 제조시스템에 적용하여 페라이트에 생성된 미세 실크랙 등의 결함을 효과적으로 검출하는 검사시스템을 제공한다.As described above, the ferrite external vision inspection system according to the present invention can be applied to a ferrite manufacturing system to provide an inspection system for effectively detecting defects such as micro cracks generated in ferrite.
즉, 본 발명은 곡면이나 모서리 등이 형성된 입체적 형태의 페라이트의 각 영역에 대한 정확한 외관 검사를 구현하도록 검사시스템 내 8개소에 검사모듈을 탑재하여 좌측영역(Z1), 우측영역(Z2), 상부중앙영역(Z3), 상부좌측영역(Z4), 상부우측영역(Z5), 하부좌측영역(Z6), 하부우측영역(Z7), 하부중앙영역(Z8)에 대한 검사를 자동화하여 실시하도록 구성함으로써 검출 오류를 최소화하고 검사정확도를 현저히 향상할 수 있는 이점이 있다.That is, according to the present invention, the inspection module is mounted on eight places in the inspection system so as to realize an accurate visual inspection of each area of a three-dimensional ferrite formed with a curved surface, a corner, etc. to form a left area Z1, a right area Z2, By performing the inspection for the central zone Z3, the upper left zone Z4, the upper right zone Z5, the lower left zone Z6, the lower right zone Z7 and the lower central zone Z8 There is an advantage that the detection error can be minimized and the inspection accuracy can be remarkably improved.
또한, 본 발명은 2D 에어리어 스캔 카메라를 적용하는 검사모듈을 구성하여 저비용으로 고사양의 시스템을 구축할 수 있으며, 특히 처리모듈(410)에 의한 소프트웨어 영상처리 및 머신 비전 딥러닝 기술을 적용하여 분석능력을 현저히 향상하고 피검사물인 페라이트의 종류에 따라서 상이한 규격 및 형상에 따른 시스템의 위치설정 및 검사기준을 보다 정밀하게 반영할 수 있는 이점이 있다.In addition, the present invention can constitute an inspection module employing a 2D area scan camera to construct a high-performance system at low cost, and more particularly, to provide an analysis module capable of analyzing software image processing and machine vision deep- And it is possible to more precisely reflect the position setting and inspection standard of the system in accordance with different specifications and shapes according to the kind of the ferrite as the inspected object.
따라서, 본 발명은 종래 육안 검사 방식 또는 라인 스캐너 카메라를 이용한 이미지 검사 방식에 비해 작업품질 및 신뢰도를 현저히 증대하고, 전 작업의 자동화를 통해 페라이트 외관 검사 작업 전반의 생산성, 효율성을 증대할 수 있는 등의 다양한 이점이 있으므로 산업상 이용 가능성이 매우 클 것으로 기대된다.Accordingly, the present invention significantly increases the work quality and reliability compared to the conventional visual inspection method or the image inspection method using a line scanner camera, and increases the productivity and efficiency of the entire ferrite inspection work through automation of the entire work It is expected that the possibility of industrial use will be very great.
100: 제1외관검사유닛 110: 제1이송모듈
120: 좌측면검사모듈 130: 우측면검사모듈
200: 제2외관검사유닛 210: 제2이송모듈
220: 상부중앙검사모듈 230: 상부좌측검사모듈
240: 상부우측검사모듈 300: 제3외관검사유닛
310: 제3이송모듈 320: 하부좌측검사모듈
330: 하부우측검사모듈 340: 하부중앙검사모듈
400: 제어유닛 410: 처리모듈
420: 제어모듈 500: 선별유닛
510~530: 제1배출대~제3배출대 540: 제1선별핸들
550: 제2선별핸들100: first appearance inspection unit 110: first conveyance module
120: Left side inspection module 130: Right side inspection module
200: second appearance inspection unit 210: second conveying module
220: upper central inspection module 230: upper left inspection module
240: upper right side inspection module 300: third appearance inspection unit
310: Third transfer module 320: Lower left inspection module
330: Lower right side inspection module 340: Lower right side inspection module
400: control unit 410: processing module
420: control module 500: sorting unit
510 to 530: first discharge unit to third discharge unit 540: first sorting handle
550: 2nd selection handle
Claims (11)
상기 제1외관검사유닛(100)은,
페라이트를 일렬로 로딩하여 이송하는 제1이송모듈(110)과,
제1이송모듈(110)의 좌측에서 제1좌측조명부(121) 및 제1좌측촬영부(122)를 수평으로 정렬하여 장착하는 제1좌측위치부(123)를 구비하는 좌측면검사모듈(120)과,
제1이송모듈(110)의 우측에서 좌측면검사모듈(120)에 대향하도록 제1우측조명부(131) 및 제1우측촬영부(132)를 수평으로 정렬하여 장착하는 제1우측위치부(133)를 구비하는 우측면검사모듈(130)을 포함하고,
상기 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)는, 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고,
상기 제1좌측촬영부(122) 및 제1우측촬영부(132)는, 상기 제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.A first appearance inspection unit 100 for loading ferrite and generating photographic data of the left area Z1 and the right area Z2 and a second appearance inspection unit 100 for receiving ferrite from one side of the first appearance inspection unit 100, A second exterior inspection unit 200 for generating photographic data of the upper left area Z3, the upper left area Z4 and the upper right area Z5; a second exterior inspection unit 200 for receiving the ferrite from one side of the second exterior inspection unit 200, A third visual inspection unit 300 for generating photographic data of a lower right zone Z6, a lower right zone Z7 and a lower central zone Z8; and a third visual inspection unit 300 for receiving photographic data for the areas, And a screening unit (500) for transferring the ferrite from one side of the third exterior inspection unit (300) and interlocking with the control unit (400) to selectively discharge the ferrite. In the system,
The first visual inspection unit (100)
A first transfer module 110 for loading and transferring ferrite in a row,
A left side inspection module 120 having a first left side portion 123 for horizontally aligning and mounting the first left illumination portion 121 and the first left side imaging portion 122 from the left side of the first conveyance module 110, )and,
A first right side portion 133 (see FIG. 1) for horizontally aligning and mounting the first right illumination portion 131 and the first right side imaging portion 132 so as to face the left side inspection module 120 on the right side of the first conveyance module 110, , And a right side inspection module (130)
The first left illumination section 121 and the first right illumination section 131 are provided in a dome shape forming a center hole at a rear vertex,
The first left imaging section 122 and the first right imaging section 132 are configured to position the lens so as to face the center hole from the rear of the first left illumination section 121 and the first right illumination section 131 Wherein the ferrite outer appearance vision inspection system is a ferrite outer appearance vision inspection system.
상기 제1이송모듈(110)은,
페라이트의 이송방향에 평행하는 2열로 설치하는 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)와,
제1좌측조명부(121) 및 제1우측조명부(131)의 사이에서 제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112) 상에 장착하는 제1좌측승강대(113) 및 제1우측승강대(114)와,
제1좌측거치대(111) 및 제1우측거치대(112)의 상측에서 페라이트를 한 단위씩 피딩하는 복수의 제1이송핸들(115)을 포함하고,
상기 제1이송모듈(110)의 일측에는 제1조정수단(116)을 장착하여, 상기 제1좌측거치대(111) 제1좌측승강대(113) 좌측면검사모듈(120) 일체와, 상기 제1우측거치대(112) 제1우측승강대(114) 우측면검사모듈(130) 일체 사이의 거리를 조정하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The first conveying module 110 includes:
A first left holder 111 and a first right holder 112 arranged in two rows parallel to the feeding direction of the ferrite,
A first left pedestal 113 and a first right pedestal 113 mounted on the first left pedestal 111 and the first right pedestal 112 between the first left illumination part 121 and the first right illumination part 131, 114,
And a plurality of first transport handles (115) for feeding ferrite units one above the first left pallet base (111) and the first right pallet base (112)
A first adjusting module 116 is installed on one side of the first conveying module 110 and the first left leg cradle 111 and the first left leg elevator 113 are integrally formed with the left side inspection module 120, Wherein the distance between the right side elevation base (112) and the first right side elevation base (114) right side inspection module (130) is adjusted.
상기 제2외관검사유닛(200)은,
제1외관검사유닛(100)을 거친 페라이트를 일렬로 로딩하여 이송하는 제2이송모듈(210);
제2이송모듈(210)의 상측에서 제2중앙조명부(221) 및 제2중앙촬영부(222)를 수직으로 정렬하여 장착하는 제2중앙위치부(223)를 구비하는 상부중앙검사모듈(220);
제2이송모듈(210)의 상부 좌측에서 제2좌측조명부(231) 및 제2좌측촬영부(232)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제2좌측위치부(233)를 구비하는 상부좌측검사모듈(230); 및
제2이송모듈(210)의 상부 우측에서 상부좌측검사모듈(230)에 대칭하도록 제2우측조명부(241) 및 제2우측촬영부(242)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제2우측위치부(243)를 구비하는 상부우측검사모듈(240);을 포함하고,
상기 제2중앙조명부(221)와 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)는, 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고,
상기 제2중앙촬영부(222)와 제2좌측촬영부(232) 및 제2우측촬영부(242)는, 상기 제2중앙조명부(221)와 제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The second visual inspection unit (200)
A second conveying module 210 for conveying and transporting the ferrite passing through the first external inspection unit 100 in a line;
An upper central inspection module 220 having a second central positional portion 223 vertically aligning and mounting the second central illuminating portion 221 and the second central photographing portion 222 on the upper side of the second conveying module 210, ;
And a second left position part 233 for aligning and mounting the second left illumination part 231 and the second left imaging part 232 in the oblique direction from the upper left side of the second transfer module 210. [ (230); And
A second right side positioning part 242 which aligns and mounts the second right side illumination part 241 and the second right side photographing part 242 in an oblique direction so as to be symmetrical to the upper left side inspection module 230 from the upper right side of the second conveyance module 210, (240) having an upper right side inspection module (243)
The second central illumination part 221, the second left illumination part 231 and the second right illumination part 241 are provided in a dome shape forming a center hole at a rear vertex,
The second central photographing unit 222, the second left photographing unit 232 and the second right photographing unit 242 are arranged in the order of the second central illumination unit 221, the second left illumination unit 231, And the lens is positioned so as to face the center hole from the rear side of the outer surface (241).
상기 제2이송모듈(210)은,
페라이트의 이송방향에 평행하는 2열로 설치하는 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)와,
제2좌측조명부(231) 및 제2우측조명부(241)의 사이에서 제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212) 상에 장착하는 제2좌측승강대(213) 및 제2우측승강대(214)와,
제2좌측거치대(211) 및 제2우측거치대(212)의 일측에서 페라이트를 한 단위씩 피딩하는 제2이송핸들(215)을 포함하고,
상기 제2이송모듈(210)의 일측에는 제2조정수단(216)을 장착하여, 상기 제2좌측거치대(211) 및 제2좌측승강대(213)와, 상기 제2우측거치대(212) 및 제2우측승강대(214) 사이의 거리를 조정하고,
상기 제2중앙위치부(223)와 제2좌측위치부(233) 및 제2우측위치부(243)에는 각각 제3조정수단 내지 제5조정수단(224,234,244)을 장착하여, 상기 상부중앙검사모듈(220)과 상부좌측검사모듈(230) 및 상부우측검사모듈(240)에서 상기 제2이송모듈(210) 사이의 거리를 조정하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.5. The method of claim 4,
The second conveying module (210)
A second left cradle 211 and a second right cradle 212 provided in two rows parallel to the feeding direction of the ferrite,
The second left pedestal 213 and the second right pedestal 211 mounted on the second left pedestal 211 and the second right pedestal 212 between the second left illumination part 231 and the second right illumination part 241, 214,
And a second feed handle (215) for feeding the ferrite unit by one unit from one side of the second left holder (211) and the second right holder (212)
A second adjusting module 216 is installed on one side of the second conveying module 210 so that the second left supporting table 211 and the second left supporting table 213 and the second right supporting table 212 and 2, the distance between the right side platform 214 and the right side platform 214 is adjusted,
Third adjusting means to fifth adjusting means 224, 234 and 244 are mounted on the second center-position portion 223, the second left-side position portion 233 and the second right-side position portion 243, 220), the upper left inspection module (230), and the upper right inspection module (240) to adjust the distance between the second transfer module (210) and the second transfer module (210).
상기 제3외관검사유닛(300)은,
제2외관검사유닛(200)을 거친 페라이트를 한 단위씩 픽업하여 이송하는 제3이송모듈(310);
제3이송모듈(310)의 하부 좌측에서 제3좌측조명부(321) 및 제3좌측촬영부(322)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제3좌측위치부(323)를 구비하는 하부좌측검사모듈(320);
제3이송모듈(310)의 하부 우측에서 하부좌측검사모듈(320)에 대칭하도록 제3우측조명부(331) 및 제3우측촬영부(332)를 사선 방향으로 정렬하여 장착하는 제3우측위치부(333)를 구비하는 하부우측검사모듈(330); 및
제3이송모듈(310)의 하측에서 제3중앙조명부(341) 및 제3중앙촬영부(342)를 수직으로 정렬하여 장착하는 제3중앙위치부(343)를 구비하는 하부중앙검사모듈(340);을 포함하고,
상기 제3좌측조명부(321)와 제3우측조명부(331) 및 제3중앙조명부(341)는, 후방 정점에 중심홀을 형성하는 돔 형상으로 구비하고,
상기 제3좌측촬영부(322)와 제3우측촬영부(332) 및 제3중앙촬영부(342)는, 상기 제3좌측조명부(321)와 제3우측조명부(331) 및 제3중앙조명부(341)의 후방에서 중심홀을 향하도록 렌즈를 위치하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The third visual inspection unit (300)
A third transfer module 310 for picking up and transferring the ferrite passing through the second external inspection unit 200 by one unit;
And a third left positioning part 323 for aligning and mounting the third left illumination part 321 and the third left imaging part 322 in the oblique direction from the lower left side of the third transfer module 310. [ (320);
A third right side position part 332 for aligning and mounting the third right side illumination part 331 and the third right side photographing part 332 in the oblique direction so as to be symmetrical to the lower left side inspection module 320 from the lower right side of the third conveyance module 310, A lower right side inspection module 330 having a lower right side inspection module 333; And
A lower central inspection module 340 having a third central position 343 vertically aligning and mounting the third central illumination part 341 and the third central photographing part 342 from below the third transfer module 310, ≪ / RTI >
The third left illumination section 321, the third right illumination section 331 and the third central illumination section 341 are provided in a dome shape forming a center hole at a rear vertex,
The third left side photographing part 322, the third right side photographing part 332 and the third central photographing part 342 correspond to the third left illumination part 321, the third right illumination part 331, And the lens is positioned so as to face the center hole from the rear side of the outer casing (341).
상기 제3이송모듈(310)은,
페라이트를 한 단위씩 픽업하는 복수의 제3이송핸들(311)과,
제3이송핸들(311)의 사이에서 페라이트를 임시로 로딩하는 제3거치대(312)를 포함하고,
상기 제3중앙위치부(343)와 제3좌측위치부(323) 및 제3우측위치부(333)에는 각각 제6조정수단 내지 제8조정수단(324,334,344)을 장착하여, 상기 하부중앙검사모듈(340)과 하부좌측검사모듈(320) 및 하부우측검사모듈(330)에서 상기 제3이송모듈(310) 사이의 거리를 조정하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 6,
The third conveying module 310,
A plurality of third feed handles 311 for picking up the ferrite units one by one,
And a third holder 312 for temporarily loading the ferrite between the third transfer handles 311,
Sixth to eighth adjusting means 324, 334 and 344 are mounted on the third center position 343, the third left position portion 323 and the third right position portion 333, respectively, 340), the lower left inspection module (320), and the lower right inspection module (330) to adjust the distance between the third transfer module (310) and the third transfer module (310).
상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 탑재하여 페라이트의 영역들을 촬영하는 촬영부는, 해상도가 20M pixel 이상이고 초당 프레임 수가 6fps 이상으로 이루어지는 에어리어 스캔 카메라인 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The photographing unit mounted on the first to third visual inspection units 100 to 300 to photograph areas of the ferrite is an area scan camera having a resolution of 20 M pixels or more and a frame rate per second of 6 fps or more Ferrite exterior vision inspection system.
상기 제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)에 탑재하여 페라이트의 영역들을 향해 빛을 조사하는 조명부는,
페라이트와의 거리가 40 ~ 80mm 범위로 위치하여 촬영부가 페라이트 크기의 3배 면적의 시야각을 가지도록 구비하고,
휘도가 50 ~ 150cd/㎡ 범위이고 파장영역이 470nm 이하로 이루어지는 스포트라이트인 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The illuminating unit mounted on the first to third external inspection units 100 to 300 and irradiating light toward the regions of the ferrite,
The distance between the ferrite and the ferrite is in the range of 40 to 80 mm so that the imaging portion has a viewing angle of three times the area of the ferrite size,
Wherein the ferrite external visual inspection system is a spotlight having a luminance of 50 to 150 cd / m 2 and a wavelength of 470 nm or less.
상기 제어유닛(400)은,
제1외관검사유닛 내지 제3외관검사유닛(100~300)으로부터 촬영데이터를 수신하여 영상처리하고 판독데이터를 산출하는 처리모듈(410); 및
처리모듈(410)과 연동하여 판독데이터에 따라 상기 선별유닛(500)을 작동하는 제어모듈(420);을 포함하고,
상기 처리모듈(410)에는 머신 비전 딥러닝 기술을 적용하여 판독데이터를 학습시킴에 따라 분석능력을 실시간 향상하도록 구성하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The control unit (400)
A processing module (410) for receiving photographic data from the first to third visual inspection units (100 to 300) and performing image processing and calculating read data; And
And a control module (420) that operates the sorting unit (500) in accordance with the read data in association with the processing module (410)
Wherein the processing module (410) is configured to improve the analysis capability in real time by learning the read data by applying a machine vision deep learning technique.
상기 선별유닛(500)은,
제3이송모듈(310)의 일측 하부를 중심으로 각각 서로 다른 경로를 형성하도록 설치하여 양품, 불량품, 보류품 페라이트를 각각 언로딩하는 제1배출대 내지 제3배출대(510~530);
제1배출대 내지 제3배출대(510~530)의 중심에서 수평 구비하고 제어모듈(420)과 연동하여 제1배출대(510)를 향해 힌지 작동하는 제1선별핸들(540); 및
제1선별핸들(540)의 일측 상부에 구비하고 제어모듈(420)과 연동하여 제2배출대(520)를 향해 횡동하는 제2선별핸들(550);을 포함하는 것을 특징으로 하는 페라이트 외관 비전 검사시스템.The method according to claim 1,
The sorting unit (500)
A first discharge unit to a third discharge unit 510 to 530 for respectively unloading good, defective, and stored ferrites by providing different paths around the lower side of one side of the third transfer module 310;
A first sorting handle 540 horizontally provided at the center of the first to third discharge bands 510 to 530 and hinged to the first discharge boss 510 in cooperation with the control module 420; And
And a second sorting handle (550) provided at an upper portion of one side of the first sorting handle (540) and traversing toward the second discharge stand (520) in cooperation with the control module (420) Inspection system.
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