KR101988490B1 - 불량화소 처리장치 및 방법 - Google Patents

불량화소 처리장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101988490B1
KR101988490B1 KR1020170136903A KR20170136903A KR101988490B1 KR 101988490 B1 KR101988490 B1 KR 101988490B1 KR 1020170136903 A KR1020170136903 A KR 1020170136903A KR 20170136903 A KR20170136903 A KR 20170136903A KR 101988490 B1 KR101988490 B1 KR 101988490B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pixel
value
defective
defective pixel
pixels
Prior art date
Application number
KR1020170136903A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20190044453A (ko
Inventor
백하은
이주영
Original Assignee
국방과학연구소
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 국방과학연구소 filed Critical 국방과학연구소
Priority to KR1020170136903A priority Critical patent/KR101988490B1/ko
Publication of KR20190044453A publication Critical patent/KR20190044453A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101988490B1 publication Critical patent/KR101988490B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693Calibration of display systems

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

본 발명의 일실시예에 따르면, 디지털 영상장치에서 불량화소 처리에 있어서, 별도의 추가적인 장치 없이 입력된 영상만을 이용하여 실시간으로 디지털 영상장치의 불량화소를 검출하고 보정함으로써 디지털 영상장치의 출하 후 동작 중에 새롭게 발생하는 불량화소에 대응할 수 있어 영상의 단절 없이 장치 운용을 계속하면서 양질의 영상을 생성할 수 있다.

Description

불량화소 처리장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING DEFECT PIXEL}
본 발명은 디지털 영상장치의 불량화소 처리에 관한 것으로, 특히 입력된 영상을 활용하여 실시간으로 불량화소를 검출하고 보정할 수 있도록 하는 디지털 영상장치의 불량화소 처리장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 불량화소란 입력되는 빛, 열 등의 에너지 정보를 전기적인 신호로 변환하는 디지털 영상 장치의 이미지 센서에서 실제로 입력 받는 에너지 량 만큼 전기적 신호로 출력되지 않는 화소를 말한다. 이러한, 불량화소는 화소의 출력값이 전혀 없거나, 최대 출력값으로 포화된 상태를 일정하게 유지하는 고정형 불량화소와 비정상적인 반응도를 가지며 불규칙적인 출력값을 가지는 소프트 불량화소(soft defect pixel)로 나눌 수 있다.
한편, 위와 같은 불량화소를 검출하고 보정하는 기술에는 디지털 영상 장치 출하 전, 별도의 단계를 두어 사전에 불량화소를 걸러내는 정적(static) 보정과 출하 전 별도의 단계 없이 입력받은 디지털 영상 정보를 바탕으로 불량화소를 식별하고 보정하는 동적 (dynamic) 보정이 있다.
이때, 정적 보정은 개발자나 생산자의 개입이 가능하여 불량화소 검출이 용이하고 그 효과도 뛰어나지만, 동작 중 발생하는 불량화소는 보정이 불가능하다는 단점이 있다. 동적 보정의 경우, 사전에 별도의 보정 단계를 거치지 않아 비용이 적게 들고 동작 중 발생하는 불량화소도 보정할 수 있다는 장점이 있지만, 불량화소 검출이 매우 어렵다는 단점이 있다.
또한, 소프트 불량화소의 경우, 비정상적인 출력값을 지속적으로 유지하는 것이 아니라 정상적인 출력값을 가지기도 하기 때문에 동적 보정으로 식별하기가 매우 어렵다.
위와 같은 소프트 불량화소 보정을 위해 종래에는 많은 인력과 시간을 소요하여 개발자나 생산자가 눈으로 식별하도록 하는 수동 보정 작업을 수행하고 있으나, 역시 동작 중 발생하는 소프트 불량화소는 대응하지 못하는 문제점이 있다.
(특허문헌)
대한민국 공개특허번호 10-2017-0080763호(공개일자 2017년 07월 11일)
따라서, 본 발명의 일실시예에서는 입력된 영상을 활용하여 실시간으로 불량화소를 검출하고 보정할 수 있도록 하는 디지털 영상처리 장치의 불량화소 보정 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
상술한 본 발명의 일실시예에 따른 불량화소 처리장치로서, 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 기준 프레임 생성부와, 상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 불량화소 판별값 생성부와, 상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 불량화소 검출부를 포함한다.
또한, 상기 불량화소 판별값 생성부는, 상기 기준 프레임내 상기 각 화소에 대하여 상기 각 화소의 평균 화소값과 상기 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 평균 화소값의 차인 제1 불량화소 판별값 및 상기 제1 불량화소 판별값을 상기 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 화소값의 표준편차로 나눈 값인 제2 불량화소 판별값 중 적어도 하나를 생성하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 불량화소 검출부는, 상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크고 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 불량화소 검출부는, 상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크거나 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 처리 장치는, 불량화소로 판단된 화소에 대해, 상기 불량화소로 판단된 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들 중 상기 불량화소를 제외한 나머지 화소들의 평균 화소값을 산출한 후, 상기 불량화소로 판단된 화소의 화소값을 상기 나머지 화소들의 평균 화소값으로 대치하는 불량화소 보정부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 불량화소 처리방법으로서, 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 단계와, 상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 단계와, 상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 불량화소 판별값을 생성하는 단계는, 상기 기준 프레임내 상기 각 화소에 대하여 상기 각 화소의 평균 화소값을 산출하는 단계와, 상기 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 평균 화소값의 차인 제1 불량화소 판별값을 생성하는 단계와, 상기 제1 불량화소 판별값을 상기 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 화소값의 표준편차로 나눈 값인 제2 불량화소 판별값을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 불량화소 여부를 판단하는 단계는, 상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크고 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 불량화소 여부를 판단하는 단계는, 상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크거나 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 방법은, 불량화소로 판단된 화소에 대해, 상기 불량화소로 판단된 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들 중 상기 불량화소를 제외한 나머지 화소들의 평균 화소값을 산출한 후, 상기 불량화소로 판단된 화소의 화소값을 상기 나머지 화소들의 평균 화소값으로 대치하여 상기 불량화소를 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 디지털 영상장치에서 불량화소 처리에 있어서, 별도의 추가적인 장치 없이 입력된 영상만을 이용하여 실시간으로 디지털 영상장치의 불량화소를 검출하고 보정함으로써 디지털 영상장치의 출하 후 동작 중에 새롭게 발생하는 불량화소에 대응할 수 있어 영상의 단절 없이 장치 운용을 계속하면서 양질의 영상을 생성할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 불량화소 처리를 적용하는 경우 디지털 영상장치의 생산 과정에서 장치의 개발자나 생산자가 수동으로 불량화소를 검출하지 않아도 되어 생산성을 높일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 영상장치의 불량화소 처리 장치의 기능 블록도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 기준 프레임내 MㅧM 블록 화소 구성도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 불량화소 처리를 위한 동작 제어 흐름도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 동작 원리를 상세히 설명한다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 영상장치의 불량화소 처리 장치의 기능을 도시한 블록도이다.
이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 영상처리 장치의 불량화소 처리장치(100)내 각 구성요소의 동작을 보다 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 기준 프레임 생성부(102)는 디지털 영상장치로부터 입력되는 디지털 영상 프레임에 대해, N개의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 디지털 영상 프레임의 각 화소별 화소값을 누적한다. 이어, 각 화소별 누적된 화소값을 누적된 프레임수로 나누어서 각 화소별 평균값을 산출하고, 이러한 평균값으로 이루어진 하나의 기준 프레임을 생성한다.
즉, 위와 같은 기준 프레임에서 가로 x번째, 세로 y번째의 화소의 화소값(P(x,y))은 아래의 [수학식1]에서와 같이 산출될 수 있다.
Figure 112017103968223-pat00001
위 [수학식 1]에서 Pn(x, y)은 n 번째 프레임의 가로 x번째, 세로 y번째 화소의 화소값을 나타낸다.
이때, 디지털 영상장치로부터 입력되는 디지털 영상 프레임 중, 위와 같은 기준 프레임을 생성하는데 사용하는 프레임은 디지털 영상장치에 구비되는 이미지 센서의 주파수를 고려하여 촬영 중인 장면의 변화가 적도록 짧은 시간 간격의 프레임을 선택하는 것이 바람직하나 이에 한정되는 것은 아니다.
불량화소 판별값 생성부(104)는 기준 프레임 생성부(102)에서 생성된 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 복수의 불량화소 판별값을 생성한다. 이때, 불량화소 판별값이라 함은 기준 프레임내 각 화소가 불량화소인지 여부를 판단하는데 사용되는 값으로 각 화소의 화소값과 그 각화소의 주변 영역내의 화소들의 평균 화소값과의 차이나, 각 화소의 화소값과 평균 화소값과 그 주변 영역내 위치된 화소값들의 표준편차와의 비 등이 될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
이때, 기준 프레임내 각 화소에 대하여 각 화소의 평균 화소값과 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 평균 화소값의 차를 제1 불량화소 판별값으로 정의할 수 있다. 또한, 제1 불량화소 판별값을 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 화소값의 표준편차로 나눈 값을 제2 불량화소 판별값으로 정의할 수 있다.
불량화소 판별값 생성부(104)는 제1 불량화소 판별값을 생성함에 있어서, 도 2에서와 같이 각 화소에서 출력된 화소값을 검출하고, 각 화소를 중심으로 MㅧM 윈도우 영역 등과 같이 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들(P(
Figure 112017103968223-pat00002
) 내지 P(
Figure 112017103968223-pat00003
))에 대한 화소값들의 평균값을 산출한다. 이어, 불량화소 판별값 생성부(104)는 각 화소의 화소값(P(x,y))에서 평균값을 감산한 값의 절대값을 복수의 불량화소 판별값 중 제1 불량화소 판별값으로 생성한다.
즉, 위와 같은 제1 불량화소 판별값(dtP(x, y))은 아래의 [수학식 2]에서와 같이 산출될 수 있다.
Figure 112017103968223-pat00004
위 [수학식 2]에서 (P(x,y))는 기준 프레임에서 가로 x번째, 세로 y번째의 화소의 화소값을 의미하고, μ(x, y)는 P(x, y)를 중심으로 하는 MㅧM 윈도우내 화소값들의 평균값을 의미한다.
또한, 불량화소 판별값 생성부(104)는 제2 불량화소 판별값을 생성함에 있어서, 각 화소를 중심으로 MㅧM 윈도우 영역 등과 같이 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들에 대해 화소값들의 표준편차를 산출한다. 이어, 불량화소 판별값 생성부(104)는 표준편차로 제1 불량화소 판별값을 나눈값을 복수의 불량화소 판별값 중 제2 불량화소 판별값으로 생성한다.
즉, 위와 같은 제2 불량화소 판별값(normP(x,y))은 아래의 [수학식 3]에서와 같이 산출될 수 있다.
Figure 112017103968223-pat00005
위 [수학식 3]에서 σ(x, y) : P(x, y)를 중심으로 하는 MㅧM 윈도우 내 화소 값들의 표준편차를 의미한다.
불량화소 검출부(106)는 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제1 불량화소 판별값과 제2 불량화소 판별값 등의 복수의 불량화소 판별값을 각 불량화소 판별값별 기설정된 복수의 임계값과 각각 비교하여 각 화소의 불량화소 여부를 판단한다. 또한 불량화소 검출부(106)는 위와 같이 불량화소로 판단된 불량화소들에 대해, 해당 불량화소들의 위치 정보를 저장하여 불량화소 맵(Map)을 생성할 수 있다.
이때, 복수의 임계값은 제1 불량화소 판별값과 비교되는 제1 임계값과 제2 불량화소 판별값과 비교되는 제2 임계값을 포함할 수 있다. 제1 임계값은 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제1 불량화소 판별값 즉, 각 화소의 화소값과 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들의 평균 화소값인 평균값과의 차이가 정상 범위를 벗어난 것인지 여부를 판단할 수 있도록 하기 위해 미리 설정된 값이 될 수 있다.
또한, 제2 임계값은 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제2 불량화소 판별값 즉, 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치된 화소들의 화소값들의 표준편차 대비 제1 불량화소 판별값이 차지하는 비율이 정상 범위를 벗어난 것인지 여부를 판단할 수 있도록 하기 위해 미리 설정된 값이 될 수 있다.
이때, 예를 들어 불량화소 검출부(106)는 각 화소별 제1 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제1 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제1 임계값보다 크고, 각 화소별 제2 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제2 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제2 임계값보다 큰 경우 해당 화소를 불량화소로 판단할 수 있다.
또한, 불량화소 검출부(106)는 각 화소별 제1 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제1 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제1 임계값보다 크거나, 각 화소별 제2 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제2 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제2 임계값보다 큰 경우 해당 화소를 불량화소로 판단할 수 있다.
즉, 불량화소 검출부(106)는 기준 프레임내 각 화소의 화소값이 주변 영역에 위치한 화소값과 비교하여 너무 크거나 작은 경우, 또는 각 화소의 화소값이 주변 영역에 위치한 화소값과 비교하여 표준편차가 너무 크거나 작은 경우 등을 불량화소로 검출할 수 있는 것이다.
불량화소 보정부(108)는 불량화소 검출부(106)를 통해 불량화소로 검출된 화소에 대해, 해당 불량화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들 중 불량화소를 제외한 나머지 정상 화소들에 대한 화소값들의 평균값을 산출한 후, 산출된 평균값을 해당 불량화소의 화소값으로 대치하여 불량화소를 보정한다.
즉, n 번째 프레임의 가로 x번째, 세로 y번째 화소가 불량화소인 경우 해당 불량화소의 원래 화소값(Pn(x, y)) 대신, 아래의 [수학식 4]에서와 같이 산출된 화소값(Pn'(x,y))을 해당 불량화소의 화소값으로 대치하여 불량화소를 보정할 수 있다. 이때, 아래의 [수학식 4]에서 산출된 화소값(Pn'(x,y))은 불량화소를 중심으로 MㅧM 윈도우 영역 등과 같이 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들 중 불량화소를 제외한 나머지 정상 화소들에 대한 화소값들의 평균값을 의미한다.
[수학식 4]
Figure 112017103968223-pat00006
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 영상장치의 불량화소 처리 장치(100)에서 불량화소를 검출하고 보정하는 동작 제어 흐름을 도시한 것이다. 이하 도 1 내지 도 3을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 불량화소 처리장치(100)는 디지털 영상장치로부터 입력되는 디지털 영상 프레임에 대해, N개의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 디지털 영상 프레임의 각 화소별 화소값을 누적한다(S300).
이어, 불량화소 처리장치(100)는 N개의 프레임에 대한 화소값 누적이 수행된 경우(S302), 각 화소별 누적된 화소값을 누적된 프레임수로 나누어서 각 화소별 평균값을 산출하고, 이러한 평균값으로 이루어진 하나의 기준 프레임을 생성한다(S304).
이때, 디지털 영상 프레임 중 위와 같은 기준 프레임을 생성하는데 사용하는 프레임을 선택함에 있어서, 불량화소 처리장치(100)는 디지털 영상장치에 구비되는 이미지 센서의 주파수를 고려하여 촬영 중인 장면의 변화가 적도록 짧은 시간 간격의 프레임을 선택하는 것이 바람직하나 이에 한정되는 것은 아니다.
이어, 불량화소 처리장치(100)는 생성된 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 복수의 불량화소 판별값을 생성한다(S306). 이때, 불량화소 판별값이라 함은 기준 프레임내 각 화소가 불량화소인지 여부를 판단하는데 사용되는 특정 임계값과 비교하기 위해 생성하는 값일 수 있다. 이러한 불량화소 판별값은 각 화소의 화소값에 대한 평균값과의 차이 또는 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치된 화소값들의 표준편차 대비 각 화소의 화소값과 평균값과의 차이간 비율 등이 될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
위와 같은 각 화소의 화소값에 대한 평균값과의 차이를 복수의 불량화소 판별값 중 제1 불량화소 판별값으로 정의하고, 표준편차 대비 각 화소의 평균값과의 차이간 비율을 복수의 불량화소 판별값 중 제2 불량화소 판별값으로 정의할 수 있다.
불량화소 처리장치(100)는 제1 불량화소 판별값을 생성함에 있어서, 도 2에서와 같이 각 화소에서 출력된 화소값을 검출하고, 각 화소를 중심으로 MXM 윈도우 영역 등과 같이 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들(P(
Figure 112017103968223-pat00007
) 내지 P(
Figure 112017103968223-pat00008
))에 대한 화소값들의 평균값을 산출한다. 이어, 불량화소 처리장치(100)는 각 화소의 화소값(P(x,y))에서 평균값을 감산한 값의 절대값을 복수의 불량화소 판별값 중 제1 불량화소 판별값으로 생성할 수 있다.
또한, 불량화소 처리장치(100)는 제2 불량화소 판별값을 생성함에 있어서, 각 화소를 중심으로 MㅧM 윈도우 영역 등과 같이 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들에 대해 화소값들의 표준편차를 산출한다. 이어, 불량화소 처리장치(100)는 표준편차로 제1 불량화소 판별값을 나눈값을 복수의 불량화소 판별값 중 제2 불량화소 판별값으로 생성할 수 있다.
이어, 불량화소 처리장치(100)는 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제1 불량화소 판별값과 제2 불량화소 판별값 등 복수의 불량화소 판별값을 각 불량화소 판별값별 기설정된 복수의 임계값과 각각 비교하여 각 화소의 불량화소 여부를 판단하고, 불량화소로 판단된 불량화소들에 대해 위치 정보를 저장하여 불량화소 맵(Map)을 생성할 수 있다(S308).
이때, 복수의 임계값은 제1 불량화소 판별값과 비교되는 제1 임계값과 제2 불량화소 판별값과 비교되는 제2 임계값을 포함할 수 있다. 제1 임계값은 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제1 불량화소 판별값 즉, 각 화소의 화소값과 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들의 평균 화소값인 평균값과의 차이가 정상 범위를 벗어난 것인지 여부를 판단할 수 있도록 하기 위해 미리 설정된 값이 될 수 있다.
또한, 제2 임계값은 기준 프레임내 각 화소에 대해 생성된 제2 불량화소 판별값 즉, 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치된 화소들의 화소값들의 표준편차 대비 제1 불량화소 판별값이 차지하는 비율이 정상 범위를 벗어난 것인지 여부를 판단할 수 있도록 하기 위해 미리 설정된 값이 될 수 있다.
이때, 불량화소 처리장치(100)는 각 화소별 제1 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제1 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제1 임계값보다 크고, 각 화소별 제2 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제2 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제2 임계값보다 큰 경우 해당 화소를 불량화소로 판단할 수 있다.
또한, 불량화소 처리장치(100)는 각 화소별 제1 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제1 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제1 임계값보다 크거나, 각 화소별 제2 불량화소 판별값이 복수의 임계값 중 제2 불량화소 판별값에 대응되게 설정된 제2 임계값보다 큰 경우 해당 화소를 불량화소로 판단할 수 있다.
이어, 불량화소 처리장치(100)는 불량화소에 대해, 해당 불량화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 복수의 화소들 중 불량화소를 제외한 나머지 정상 화소들에 대한 화소값들의 평균값을 산출한 후, 산출된 평균값을 해당 불량화소의 화소값으로 대치하여 불량화소를 보정한다(S310).
상술한 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따르면, 디지털 영상장치에서 불량화소 처리에 있어서, 별도의 추가적인 장치 없이 입력된 영상만을 이용하여 실시간으로 디지털 영상장치의 불량화소를 검출하고 보정함으로써 디지털 영상장치의 출하 후 동작 중에 새롭게 발생하는 불량화소에 대응할 수 있어 영상의 단절 없이 장치 운용을 계속하면서 양질의 영상을 생성할 수 있다.
본 발명에 첨부된 각 흐름도의 각 단계의 조합들은 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들에 의해 수행될 수도 있다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 범용 컴퓨터, 특수용 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서에 탑재될 수 있으므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서를 통해 수행되는 그 인스트럭션들이 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 수행하는 수단을 생성하게 된다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 특정 방식으로 기능을 구현하기 위해 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 지향할 수 있는 컴퓨터 이용 가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장되는 것도 가능하므로, 그 컴퓨터 이용가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장된 인스트럭션들은 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능을 수행하는 인스트럭션 수단을 내포하는 제조 품목을 생산하는 것도 가능하다. 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에 탑재되는 것도 가능하므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에서 일련의 동작 단계들이 수행되어 컴퓨터로 실행되는 프로세스를 생성해서 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 수행하는 인스트럭션들은 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 실행하기 위한 단계들을 제공하는 것도 가능하다.
또한, 각 단계는 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실시예들에서는 단계들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능함을 주목해야 한다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 단계들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 또는 그 단계들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.
한편 상술한 본 발명의 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 여러 가지 변형이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 실시될 수 있다. 따라서 발명의 범위는 설명된 실시 예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위에 의해 정하여져야 한다.
102 : 기준 프레임 생성부 104 : 불량화소 판별값 생성부
106 : 불량화소 검출부 108 : 불량화소 보정부

Claims (10)

  1. 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 기준 프레임 생성부와,
    상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 불량화소 판별값 생성부와,
    상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 불량화소 검출부를 포함하고,
    상기 불량화소 판별값 생성부는,
    상기 기준 프레임 내 상기 각 화소에 대하여 상기 각 화소의 평균 화소값과 상기 각 화소를 중심으로 기설정된 영역 내에 위치한 화소들의 평균 화소값의 차인 제1 불량화소 판별값 및 상기 제1 불량화소 판별값을 상기 기설정된 영역 내에 위치한 화소들의 화소값의 표준편차로 나눈 값인 제2 불량화소 판별값 중 적어도 하나를 생성하는
    불량화소 처리장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 불량화소 검출부는,
    상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크고 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 검출하는
    불량화소 처리장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 불량화소 검출부는,
    상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크거나 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 검출하는
    불량화소 처리장치.
  5. 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 기준 프레임 생성부와,
    상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 불량화소 판별값 생성부와,
    상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 불량화소 검출부와,
    불량화소로 판단된 화소에 대해, 상기 불량화소로 판단된 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들 중 상기 불량화소를 제외한 나머지 화소들의 평균 화소값을 산출한 후, 상기 불량화소로 판단된 화소의 화소값을 상기 나머지 화소들의 평균 화소값으로 대치하는 불량화소 보정부를 포함하는
    불량화소 처리장치.
  6. 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 단계와,
    상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 단계와,
    상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 단계를 포함하고,
    상기 불량화소 판별값을 생성하는 단계는,
    상기 기준 프레임내 상기 각 화소에 대하여 상기 각 화소의 평균 화소값을 산출하는 단계와,
    상기 각 화소를 중심으로 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 평균 화소값의 차인 제1 불량화소 판별값을 생성하는 단계와,
    상기 제1 불량화소 판별값을 상기 기설정된 영역내에 위치한 화소들의 화소값의 표준편차로 나눈 값인 제2 불량화소 판별값을 생성하는 단계를 포함하는
    불량화소 처리방법.
  7. 삭제
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 불량화소 여부를 판단하는 단계는,
    상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크고 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 판단하는
    불량화소 처리방법.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 불량화소 여부를 판단하는 단계는,
    상기 각 화소에 대하여 상기 제1 불량화소 판별값이 제1 임계값보다 크거나 상기 제2 불량화소 판별값이 제2 임계값보다 큰 경우 상기 각 화소를 불량화소로 판단하는
    불량화소 처리방법.
  10. 실시간으로 입력되는 복수의 디지털 영상 프레임 중 기설정된 개수의 디지털 영상 프레임을 기반으로 각 화소별 평균 화소값으로 구성되는 하나의 기준 프레임을 생성하는 단계와,
    상기 기준 프레임내 각 화소에 대해 불량화소 여부를 판별하기 위한 불량화소 판별값을 생성하는 단계와,
    상기 각 화소에 대해 산출된 상기 불량화소 판별값을 기설정된 임계값과 비교하여 상기 각 화소의 불량화소 여부를 판단하는 단계와,
    불량화소로 판단된 화소에 대해, 상기 불량화소로 판단된 화소를 중심으로 기설정된 영역내 위치한 화소들 중 상기 불량화소를 제외한 나머지 화소들의 평균 화소값을 산출한 후, 상기 불량화소로 판단된 화소의 화소값을 상기 나머지 화소들의 평균 화소값으로 대치하여 상기 불량화소를 보정하는 단계를 포함하는
    불량화소 처리방법.
KR1020170136903A 2017-10-20 2017-10-20 불량화소 처리장치 및 방법 KR101988490B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170136903A KR101988490B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 불량화소 처리장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170136903A KR101988490B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 불량화소 처리장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190044453A KR20190044453A (ko) 2019-04-30
KR101988490B1 true KR101988490B1 (ko) 2019-06-12

Family

ID=66285847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170136903A KR101988490B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 불량화소 처리장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101988490B1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100910593B1 (ko) 2008-12-12 2009-08-03 (주)동방데이타테크놀러지 Led 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치
JP2009271096A (ja) 2008-04-30 2009-11-19 Seiko Epson Corp 画像処理装置、集積回路装置及び電子機器

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4214480B2 (ja) * 2004-04-21 2009-01-28 ソニー株式会社 画像処理装置および方法、並びにプログラム
KR20090035978A (ko) * 2007-10-08 2009-04-13 엘지디스플레이 주식회사 데이터 변조 방법, 데이터 변조 유닛 및 이를 구비한표시장치
KR20100002770A (ko) * 2008-06-30 2010-01-07 엘지전자 주식회사 멀티형 공기조화기 및 그 제어방법
KR102090706B1 (ko) * 2012-12-28 2020-03-19 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
KR20170062949A (ko) * 2015-11-30 2017-06-08 삼성전자주식회사 영상표시장치, 영상표시장치의 구동방법 및 컴퓨터 판독가능 기록매체
KR102439150B1 (ko) * 2015-12-30 2022-09-01 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시 장치의 불량 화소 검출 방법 및 이를 이용한 유기발광 표시 장치
KR102458533B1 (ko) 2015-12-30 2022-10-25 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치의 불량 화소 검출 모듈 및 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009271096A (ja) 2008-04-30 2009-11-19 Seiko Epson Corp 画像処理装置、集積回路装置及び電子機器
KR100910593B1 (ko) 2008-12-12 2009-08-03 (주)동방데이타테크놀러지 Led 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190044453A (ko) 2019-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101354669B1 (ko) 이미지 센서의 불량 화소 검출 방법 및 장치, 이미지센서로부터의 이미지 획득 방법 및 장치
KR100651309B1 (ko) 화질 보정 장치 및 화질 보정 방법
KR101434484B1 (ko) 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치 및 비전 검사 방법
US9007495B1 (en) Image processing
JP4591046B2 (ja) 欠陥検出補正回路及び欠陥検出補正方法
US9781343B2 (en) Image processing apparatus and method for operating image processing apparatus
JP2017055308A5 (ja) 画像処理装置及び方法、及び撮像装置
US9477882B2 (en) Object detection apparatus
JP2004239733A (ja) 画面の欠陥検出方法及び装置
KR101988490B1 (ko) 불량화소 처리장치 및 방법
JP2006194657A (ja) 擬似欠陥画像作成方法及びこれを用いた装置
JP5633733B2 (ja) 暗領域ノイズ補正装置
CN104980718A (zh) 色彩校正装置以及方法
JP4991258B2 (ja) X線画像診断装置
US10643312B2 (en) Smoothed image generating device, abnormality determining device, and smoothed image generating method
JP6917145B2 (ja) 検査システム、検査方法及び検査プログラム
JP2006148748A (ja) 画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法
JP2016208343A (ja) 画像処理装置、その制御方法、および制御プログラム、並びに撮像装置
JP2002330354A (ja) 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置
CN111383180B (zh) 图像增强方法、装置以及计算机存储介质
US20230099873A1 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
US20190180435A1 (en) Abnormality determining device and abnormality determining method
JP2006234501A (ja) シミ欠陥検出用閾値設定方法、シミ欠陥検査方法、シミ欠陥検査装置
JP2023008416A (ja) 異常検知システムおよび異常検知方法
CN116894777A (zh) 图像亮度调整方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant