KR101968985B1 - 테스트핸들러용 인서트 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트핸들러용 인서트 및 테스트핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따르면 인서트의 지지부재에 형성된 개방 구멍 또는 이탈방지턱에 형성된 안내홈에 반도체소자의 단자 크기와 동일한 반경을 가지는 안내 부분을 형성함으로써 반도체소자의 위치를 정교하게 설정하여 제품의 신뢰성이 향상될 수 있는 기술이 개시된다.

Description

테스트핸들러용 인서트{INSERT FOR TEST HANDLER}
본 발명은 테스트핸들러에서 반도체소자를 적재시킬 수 있는 테스트트레이의 인서트에 관한 것이다.
테스트핸들러는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 반도체소자들을 고객트레이(CUSTOMER TRAY)로부터 테스트트레이(TEST TRAY)로 이동시킨 후, 테스트트레이에 적재되어 있는 반도체소자들이 동시에 테스터(TESTER)에 의해 테스트(TEST)될 수 있도록 지원하며, 테스트 결과에 따라 반도체소자를 등급별로 분류하면서 테스트트레이에서 고객트레이로 이동시키는 기기로서 이미 다수의 공개문서들을 통해 공개되어 있다.
테스트트레이에는, 대한민국 특허출원 10-2012-0089602호(발명의 명칭 : 테스핸들러용 인서트, 이하 '선행기술1'이라 함)나 대한민국 특허출원 10-2012-0107985호(발명의 명칭 : 테스트핸들러용 인서트, 이하 '선행기술2'라 함) 등에서 참조되는 바와 같이 반도체소자가 안착될 수 있는 인서트가 구비된다.
먼저 선행기술1을 참조하면, 지지부재에 형성된 개방 구멍은 반도체소자의 단자가 충분히 삽입될 수 있는 크기를 가져야 한다. 따라서 개방 구멍의 크기는 반도체소자의 단자가 가지는 최대공차와 반도체소자의 단자 간의 공차 및 반도체소자의 단자와 접촉하는 소켓 간의 공차를 더한 최대 크기로 결정한다. 예를 들어, 반도체소자의 단자의 크기가 지름 0.23mm± 0.05mm(공차 부분)라고 하면 그 최대 크기는 지름 0.28mm가 된다. 여기에 반도체소자의 단자 간의 공차와 반도체소자의 단자와 접촉하는 소켓 간의 공차가 ± 0.04mm이라고 하면, 개방 구멍의 크기는 0.32mm의 지름을 가지게 된다. 즉, 모든 공차들을 고려하였을 때, 개방 구멍의 크기가 0.32mm의 지름을 가져야만 반도체소자의 단자가 개방 구멍에 간섭 없이 진출입할 수가 있는 것이다. 만일 모든 공자가 0.00mm인 최적의 조건에서는, 도1에서 참조되는 바와 같이 반도체소자의 단자가 개방 구멍의 정 가운데 위치하는 것이 가장 바람직하다. 참고로 도1은 반도체소자를 인서트 하면에서 본 도면인데, 여기서 반도체소자를 일점쇄선으로 도시한 것은 개방 구멍과의 식별을 위한 것이며, 차후 설명될 도7도 동일한 방식으로 도시하였다.
또한, 선행기술2에서도 마찬가지로 도2에서 참조되는 바와 같이 안내홈의 반경이 0.32mm/2가 되어야 반도체소자의 단자가 적절히 안내홈에 의해 안내될 수 있게 되는 것이다.
일반적으로, 반도체소자의 테스트에 있어서 가장 중요한 기술적 부분은 반도체소자와 테스터의 소켓 간의 전기적 접촉이다. 따라서 반도체소자의 단자의 위치는 테스터의 소켓의 위치와 정교히 대응될 필요성이 있으며, 이러한 필요성은 기술 발달에 따라 반도체소자의 단자 크기가 갈수록 작아짐에 따라 더욱 절실히 요구되고 있다.
한편, 테스트핸들러에는 테스트트레이가 수직으로 세워진 상태에서 반도체소자의 테스트가 이루어지게 하는 수직식 테스트핸들러(사이드 도킹식 테스트핸들러라고 명명되기도 함)와 테스트트레이가 수평으로 세워진 상태에서 반도체소자의 테스트가 이루어지게 하는 수평식 테스트핸들러(언더헤드 도킹식 테스트핸들러라고 명명되기도 함)가 있다. 특히 수직식 테스트핸들러에서는 도3에서 참조되는 바와 같이 테스트트레이가 수직으로 세워짐에 따라 인서트와 인서트에 안착된 반도체소자가 세워진 상태에서 테스트가 진행되기 때문에, 도4에서 참조되는 바와 같이 반도체소자는 자중에 의해 인서트의 개방 구멍 상에서 최대한 하측에 위치되기 마련이고, 좌우 방향으로도 여유 간격이 있어서 일 측으로 치우칠 수 있다. 따라서 수직식 테스트핸들러에서는 테스터의 소켓에 접촉될 반도체소자의 단자 위치가 반도체소자의 하단을 기준으로 설정되게 인서트를 설계한다.
본 발명은 반도체소자의 단자가 가장 이상적인 위치에 놓이도록 안내할 수 있는 기능을 인서트의 개방구멍이나 안내홈에 부여하는 기술을 제공하는 것이다.
위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제1 형태에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체; 상기 삽입 구멍의 일 측에서 상기 삽입 구멍에 삽입된 반도체소자를 지지하는 지지부재; 상기 지지부재를 상기 몸체에 고정시키는 고정부재; 및 상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고, 상기 지지부재에 의해 지지된 반도체소자의 단자가 테스터 측에 전기적으로 연결될 수 있도록 상기 지지부재에는 반도체소자의 단자를 테스터 측으로 개방시키기 위한 개방 구멍들이 형성되어 있으며, 상기 개방 구멍들 중 적어도 하나의 특정 개방 구멍은, 반도체소자의 단자의 반경보다 더 큰 곡률 반경을 가지는 확장 부분; 및 상기 확장 부분의 곡률 반경과는 다른 크기의 곡률 반경을 가짐으로써 반도체소자의 단자를 안내하는 안내 부분; 을 가진다.
상기 안내 부분의 곡률 반경은 상기 확장 부분의 곡률 반경보다 작은 것이 바람직하다.
상기 적어도 하나의 특정 개방 구멍은 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되는 것이 바람직하다.
상기 안내 부분의 곡률 반경은 반도체소자의 단자의 반경과 동일한 것이 바람직하다.
상기 특정 개방 구멍은 상기 확장 부분과 상기 안내 부분을 잇는 이음 부분을 더 가지며, 상기 이음 부분은 테스트트레이가 수직으로 세워진 상태에서 하측으로 갈수록 폭이 좁아지는 형태이다.
또한, 위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제2 형태에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체; 및 상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고, 상기 몸체는 상기 삽입 구멍의 하면을 이루는 사각 개방면에 상기 삽입 공간에 삽입된 반도체소자의 하방 이탈을 방지하기 위해 수평 방향의 맞은편 측으로 돌출된 이탈방지턱에 형성된 안내홈들을 가지며, 상기 안내홈들 중 적어도 하나의 특정 안내홈은, 반도체소자의 단자를 안내하는 안내 부분; 및 상기 안내 부분의 최대 폭보다 더 넓은 폭으로 확장된 확장 부분; 을 가진다.
상기 적어도 하나의 특정 안내홈은 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되는 것이 바람직하다.
상기 안내 부분의 반경은 반도체소자의 단자의 반경과 동일한 것이 바람직하다.
또한, 위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제3 형태에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체; 상기 삽입 구멍의 일 측에서 상기 삽입 구멍에 삽입된 반도체소자를 지지하는 지지부재; 상기 지지부재를 상기 몸체에 고정시키는 고정부재; 및 상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고, 상기 지지부재에 의해 지지된 반도체소자의 단자가 테스터 측에 전기적으로 연결될 수 있도록 상기 지지부재에는 반도체소자의 단자를 테스터 측으로 개방시키기 위한 개방 구멍들이 형성되어 있으며, 상기 개방 구멍들 중 적어도 하나의 특정 개방 구멍의 하단은 수직 상태에서 수평 방향으로 나란히 위치한 다른 일반 개방 구멍의 하단보다 높은 위치에 있다. 또한, 위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제4 형태에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체; 및 상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고, 상기 몸체는 상기 삽입 구멍의 하면을 이루는 사각 개방면에 상기 삽입 공간에 삽입된 반도체소자의 하방 이탈을 방지하기 위해 수평 방향의 맞은편 측으로 돌출된 이탈방지턱에 형성된 안내홈들을 가지며, 상기 안내홈들 중 적어도 하나의 특정 안내홈의 하단은 수직 상태에서 수평 방향으로 나란히 위치한 다른 일반 개방 구멍의 하단보다 높은 위치에 있다.
본 발명에 따르면 특정 개방 구멍이나 안내홈에 의해 반도체소자의 단자 위치가 설정될 수 있기 때문에 반도체소자의 단자가 최대한 이상적인 위치에 가깝게 위치될 수 있어서 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도1은 선행기술1에 따른 인서트에서의 개방구멍의 형상을 도시하고 있다.
도2는 선행기술2에 따른 인서트에서의 안내홈의 형상을 도시하고 있다.
도3 및 도4는 배경기술에 대한 설명에 참조하기 위한 참조도이다.
도5는 본 발명의 실시예에 따른 테스트핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도6a는 본 발명의 제1 예에 따른 인서트에 대한 개략적인 평면도이다.
도6b는 도6a의 인서트를 저면이 보이도록 도시한 사시도이다.
도7 및 도8은 도6에 따른 인서트에서 특정 개방 구멍의 역할을 설명하기 위한 참조도이다.
도9는 본 발명의 제2 예에 따른 인서트에 대한 개략적인 평면도이다.
도10은 본 발명의 다른 예들에 따른 인서트를 설명하기 위한 참조도이다.
이하 상기한 바와 같은 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 이미 주지되어 있는 기술이나 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.
<테스트핸들러>
도5는 본 발명의 실시예에 따른 테스트핸들러(500)에 대한 개략적인 평면 구성도이다.
도5에서 참조되는 바와 같이 테스트핸들러(500)는 테스트트레이(510), 로딩장치(520), 제1 로테이터(530), 테스트챔버(540), 제2 로테이터(550) 및 언로딩장치(560)를 포함한다.
테스트트레이(510)에는 반도체소자가 안착될 수 있는 다수의 인서트들을 구비하고 있다. 여기서 인서트에 대해서는 별도의 목차로 나누어 후술한다.
로딩장치(520)는 로딩위치(LP)에 위치된 테스트트레이(510)로 반도체소자를 로딩(loading)한다.
제1 로테이터(530)는 반도체소자의 로딩이 완료된 테스트트레이(510)를 수직 상태로 회전시킨다.
테스트챔버(540)는 테스트위치(TP)에 있는 수직 상태의 테스트트레이(510)에 적재된 반도체소자의 테스트를 위해 마련된다. 이를 위해 테스트챔버(540)의 내부는 반도체소자의 테스트 온도 조건에 따른 환경 상태로 유지된다.
제2 로테이터(550)는 테스트챔버(540)로부터 온 수직 상태의 테스트트레이(510)를 수평 상태로 회전시킨다.
언로딩장치(560)는 수평 상태로 언로딩위치(UP)로 온 테스트트레이(510)로부터 반도체소자를 언로딩(unloading)시킨다.
계속하여 상기한 바와 같은 테스트핸들러(500)에서 테스트트레이(510)에 구비되는 인서트의 예에 대하여 설명한다.
<인서트에 대한 제1 예>
도6a의 평면도와 도6b의 저면 사시도를 참조하면, 제1 예에 따른 인서트(IS1)는 몸체(61), 지지부재(62), 고정부재(63) 및 래치장치(64)를 포함한다.
몸체(61)에는 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍(61a)이 형성되어 있다.
지지부재(62)는 삽입 구멍(61a)의 하 측에서 삽입 구멍(61a)에 삽입된 반도체소자를 지지한다. 이러한 지지부재(62)에는 반도체소자의 단자를 테스터의 소켓 측으로 개방시키기 위한 다수의 개방 구멍(H)들이 반도체소자의 단자의 위치와 대응되는 위치에 형성되어 있다.
한편, 개방 구멍(H)들 중 특정 개방 구멍(H1)은 나머지 일반 개방 구멍(H0, 개방 구멍 테두리의 모든 지점에서 동일 곡률 반경의 원 형상을 가지는 개방 구멍)과 같은 동일 반경의 원형 형태가 아니고 반도체소자가 테스트트레이(510)에 로딩될 때나 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 반도체소자의 단자의 위치가 개방 구멍에 의해 안내될 수 있는 형태로 형성된다. 이에 따라 특정 개방 구멍(H1)은 확장 부분(E), 안내 부분(G) 및 이음 부분(J)을 가진다.
이하 각 부분에 대한 설명은 테스트트레이(510)가 수직 상태로 세워짐으로써 인서트(IS1) 및 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때를 설정하여 설명한다.
확장 부분(E)은 상측 반원 영역으로서 배경 기술에서 언급한 모든 공차를 반영함으로써 반도체소자의 단자의 반경보다 더 큰 크기의 곡률 반경(예를 들어 0.32mm/2)을 가진다.
안내 부분(G)은 특정 개방 구멍(H1)의 하측 영역으로서 모든 공차가 0.00mm 인 조건으로써 반도체소자의 단자의 반경과 동일한 곡률 반경(예를 들어 0.23mm/2)을 가진다.
이음 부분(J)은 확장 부분(E)과 안내 부분(G)을 잇는 영역이다. 여기서 이음 부분(F)은 수직 상태로 있는 반도체소자의 단자를 안내 부분(G)으로 유도할 수 있게 하측으로 갈수록 폭이 좁아지는 형태의 경사를 가진다.
고정부재(63)는 지지부재(62)를 몸체(61) 측에 고정시킨다.
래치장치(64)는 삽입 구멍(61a) 내에 반도체소자를 유지시킨다.
위와 같은 구성의 인서트(IS1)에서, 테스트트레이(510)가 수직 상태로 세워짐으로써 인서트(IS1) 및 반도체소자가 수직으로 세워지면, 도7에서 참조되는 바와 같이 반도체소자의 단자(T)가 특정 개방 구멍(H1)의 안내 부분(G)에 의해 위치가 설정되기 때문에 테스트트레이(510)의 흔들림이나 이동 중에 충격이 발생하더라도 테스트 시에는 반도체소자의 위치가 정교하게 설정될 수 있게 된다. 즉, 위와 같은 특정 개방 구멍(H1)의 구조로 인하여 테스트레이(510)가 수직으로 세워진 상태에서 특정 개방 구멍(H1)의 하단의 위치는 수평 방향으로 나란하게 위치하는 일반 개방 구멍(H0)의 하단의 위치보다 일정 높이(d)만큼 높기 때문에, 특정 개방 구멍(H1)을 제외한 일반 개방 구멍(H0)들에서 반도체소자의 단자(T)의 하단이 일반 개방 구멍(H0)의 하단에 접촉하지 않는 대신 반도체소자의 단자(T)의 중심(C)이 일반 개방 구멍(H0)의 중심(C')과 일치하도록 반도체소자의 단자(T)의 위치가 설정되는 것이다. 따라서 이러한 관점에서 안내 부분(G)은 반도체소자의 단자들의 위치를 결정하기 위한 위치 설정 부분으로서 기능하며, 이로 인해 반도체소자의 단자(T)와 테스터의 소켓 간의 정교한 접촉을 담보할 수 있게 한다.
물론, 특정 개방 구멍(H1)은 복수 개일 수 있으나 만일 모든 개방 구멍(H)들을 특정 개방 구멍(H1)으로 형성하면 안내 부분(G)에 반도체소자의 단자가 끼일 수 있으므로 개방 구멍(H)들 중 일부만 특정 개방 구멍(H1)으로 형성하는 것이 바람직하다.
또한, 특정 개방 구멍(H1)은 어느 위치에 있어도 관계없지만, 인서트(IS1) 및 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 삽입 구멍(61a)의 하단(또는 반도체소자의 하단)이 기준선이 되므로 반도체소자의 단자들 중 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되는 것이 바람직하다.
만일, 반도체소자의 단자가 이상적인 설정 크기(0.23mm의 지름)보다 큰 경우(예를 들어 단자의 지름이 0.27mm인 경우)에는 반도체소자의 단자가 특정 개방 구멍(H1) 내에서 상측으로 약간 치우질 수 있지만, 이러한 경우에도 도8에서 참조되는 바와 같이 모든 공차를 감안한 지름을 가지는 확장 부분(E)에 의해 반도체소자의 단자(T)는 특정 개방 구멍(H1)에 수용될 수 있다.
<인서트에 대한 제2 예>
도9의 평면도를 참조하면, 제2 예에 따른 인서트(IS2)는 몸체(91) 및 래치장치(94)를 포함한다.
몸체(91)에는 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍(91a)이 형성되어 있다. 또한 몸체(91)는 삽입 구멍(91a)의 하면을 이루는 사각 개방면에 삽입 구멍(91a)에 삽입된 반도체소자의 하방 이탈을 방지하기 위해 수평 방향의 맞은편 측으로 돌출된 이탈방지턱(91b)을 가진다. 그리고 이탈방지턱(91b)에는 반도체소자의 단자를 안내하기 위한 안내홈(S)들이 형성되어 있다.
안내홈(S)들 중 특정 안내홈(S1)은, 나머지 일반 안내홈(S0)들과는 다르게, 안내 부분(G)과 확장 부분(E)을 가진다.
안내 부분(G)은 이상적인 크기의 단자와 동일한 곡률 반경(예를 들면 약 0.23mm/2의 반경)을 가지며, 로딩작업 시나 또는 테스트트레이(310)가 수직으로 세워졌을 시에 반도체소자의 단자를 안내한다.
확장 부분(E)은 안내 부분(G)의 최대 폭(W)보다 더 넓은 폭으로 확장됨으로써 반도체소자의 단자가 이상적인 크기보다 크게 형성된 경우에도 해당 특정 안내홈(S1)에 반도체소자의 단자가 수용될 수 있도록 설계된다. 여기서 확장 부분(E)은 수직 상태로 있는 반도체소자의 단자를 안내 부분(G)으로 유도할 수 있게 하측으로 갈수록 폭이 좁아지는 형태의 경사를 가진다.
본 예에서도 특정 안내홈(S1)은 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되는 것이 바람직하며, 반도체소자의 단자의 상하 방향으로의 위치가 적절히 설정되도록 특정 안내홈(S1)의 하단은 수평 방향으로 나란한 일반 안내홈(S0)의 하단보다 일정 높이(d)만큼 높게 위치하게 된다.
래치장치(74)는 삽입 구멍(71a) 내에 반도체소자를 유지시킨다.
한편, 도6a 및 도9를 참조하여 설명한 인서트(IS1, IS2)는 안내 부분(G, 또는 위치 설정 부분)의 곡률 반경이 상대적으로 작은 경우를 고려하였지만, 반도체소자의 단자의 상하 높이를 위주로 고려하였을 때는 실시하기에 따라서 도10의 (a)와 (b)에서 참조되는 바와 같이 특정 개방 구멍(H2)나 특정 안내홈(S2)의 곡률 반경을 일반 개방 구멍(H0)나 일반 안내홈(S0)의 곡률 반경보다 더 크게 하면서도 특정 개방 구멍(H2)나 특정 안내홈(S2)의 하단이 수평 방향(테스트트레이에 수직으로 세워진 상태에서의 수평 방향)으로 나란히 위치하는 일반 개방 구멍(H0)나 일반 안내홈(S0)의 하단보다 일정 간격(d)만큼 높이 위치되게 구현될 수 있다.
물론, 도6a 및 도9의 인서트(IS1, IS2)에 의하면 반도체소자의 단자의 위치를 상하 방향뿐만 아니라 좌우 방향까지 정교하게 설정할 수 있기 때문에, 도6a및 도9의 예가 도10의 예보다 더욱 바람직할 수는 있다.
위에서 설명된 실시예는 수직식 테스트핸들러를 예로 들어 설명하고 있지만, 대한민국 공개 특허 10-2008-0062984호(발명의 명칭 : 테스트핸들러용 테스트트레이의 인서트모듈 및 테스트핸들러) 등에서와 같이 인서트에 안착된 반도체소자를 일 측으로 가압함으로써 반도체소자를 정렬시키고자 하는 기술이나 그 외의 반도체소자 정렬 기술 등이 적용된다면, 본 발명은 수평식 테스트핸들러에서도 얼마든지 적용될 수 있을 것이다. 그리고 이러한 경우 반도체소자가 가압되는 방향에 따라 안내 부분의 위치가 달라질 수 있을 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.
IS1, IS2 : 인서트
61, 91 : 몸체
61a, 91a : 삽입 구멍
91b : 이탈방지턱
S : 안내홈
S0 : 일반 안내홈
S1 : 특정 안내홈
G : 안내 부분
E : 확장 부분
62 : 지지부재
H : 개방 구멍
H0 : 일반 개방 구멍
H1 : 특정 개방 구멍
E : 확장 부분
G : 안내 부분
J : 이음 부분
63 : 고정부재
64, 94 : 래치장치

Claims (2)

  1. 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체;
    상기 삽입 구멍의 일 측에서 상기 삽입 구멍에 삽입된 반도체소자를 지지하는 지지부재;
    상기 지지부재를 상기 몸체에 고정시키는 고정부재; 및
    상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고,
    상기 지지부재에 의해 지지된 반도체소자의 단자가 테스터 측에 전기적으로 연결될 수 있도록 상기 지지부재에는 반도체소자의 단자를 테스터 측으로 개방시키기 위한 개방 구멍들이 형성되어 있으며,
    상기 개방 구멍들 중 적어도 하나의 특정 개방 구멍은 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되어서 반도체소자의 단자의 위치를 안내 및 설정함으로써 반도체소자의 위치가 정교하게 설정될 수 있게 하고,
    반도체소자가 수직으로 세워졌을 때 상기 특정 개방 구멍을 제외한 일반 개방 구멍들에서 반도체소자의 단자의 하단이 일반 개방 구멍의 하단에 접촉하지 않는 대신 반도체소자의 단자의 중심이 상기 일반 개방 구멍의 중심과 일치하도록 반도체소자의 단자의 위치가 설정되는 것을 특징으로 하는 테스트핸들러용 인서트.
  2. 반도체소자가 삽입될 수 있는 삽입 구멍이 형성된 몸체; 및
    상기 삽입 구멍 내에 반도체소자를 유지시키기 위한 래치장치; 를 포함하고,
    상기 몸체는 상기 삽입 구멍의 하면을 이루는 사각 개방면에 상기 삽입 구멍에 삽입된 반도체소자의 하방 이탈을 방지하기 위해 수평 방향의 맞은편 측으로 돌출된 이탈방지턱에 형성된 안내홈들을 가지며,
    상기 안내홈들 중 적어도 하나의 특정 안내홈은 반도체소자가 수직 상태로 세워졌을 때 가장 하측에 있는 단자가 삽입될 수 있는 위치에 형성되어서 반도체소자의 단자의 위치를 안내 및 설정함으로써 반도체소자의 위치가 정교하게 설정될 수 있게 하고,
    반도체소자가 수직으로 세워졌을 때 상기 특정 안내홈을 제외한 일반 안내홈들에서 반도체소자의 단자의 하단이 상기 일반 안내홈의 하단에 접촉하지 않는 것을 특징으로 하는 테스트핸들러용 인서트.
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