KR101949841B1 - A multi probe-pin for testing electrical connector - Google Patents

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KR101949841B1
KR101949841B1 KR1020170113243A KR20170113243A KR101949841B1 KR 101949841 B1 KR101949841 B1 KR 101949841B1 KR 1020170113243 A KR1020170113243 A KR 1020170113243A KR 20170113243 A KR20170113243 A KR 20170113243A KR 101949841 B1 KR101949841 B1 KR 101949841B1
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terminal
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bottom plunger
probe
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이병성
조정현
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주식회사 파인디앤씨
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Abstract

The present invention relates to a probe-pin for testing electrical connector that is used in an electronic device and is for testing electrical characteristics by coming in contact with a connector used for a USB terminal, a power source, and a communication terminal. To this end, the probe-pin for testing an electrical connector comprises: a bottom plunger (10) for detecting electrical characteristics by contacting a terminal for detection; a body (20) which is coupled to the bottom plunger (10) and serves as a top plunger; and an elastic body (30) which is inserted into the body (20) and provides elasticity to the bottom plunger (10).

Description

커넥터 테스트용 멀티 프로브핀{A MULTI PROBE-PIN FOR TESTING ELECTRICAL CONNECTOR}[0001] The present invention relates to a multi-probe pin for a connector test,

본 발명은 전자기기에 사용되는 커넥터의 전기적인 특성을 테스트하기 위한 프로브핀에 대한 것으로, USB단자 또는 전원 및 통신단자 등에 사용되는 커넥터에 접촉하여 전기적인 특성을 테스트하는 것이다.The present invention relates to a probe pin for testing electrical characteristics of a connector used in an electronic device, and is for testing electrical characteristics by contacting a connector used for a USB terminal, a power source, and a communication terminal.

일반적으로 프로브핀의 경우 반도체 또는 전자기기의 부품을 접촉하여 전기적인 특성을 측정하는데 사용되고 있다.In general, probe pins are used to measure electrical characteristics by contacting semiconductor or electronic parts.

이와 같은 프로브핀은 또한 반도체의 리드에 직접 접촉하여 탐침하는 경우도 있으나, 휴대폰 및 카메라 터미널 등의 전자기기의 단자인 USB커넥터 및 휴대폰과 같은 Micor USB 단자와 같은 미세한 부분에도 적용되고 있다.Such a probe pin may also be used to probe a semiconductor lead directly, but it is also applied to a minute portion such as a USB connector such as a cell phone and a camera terminal and a Micor USB terminal such as a mobile phone.

이때, 대부분의 USB 커넥터 또는 Micro USB 단자의 경우 내부에 적용되는 부품은 금속띠를 절곡한 클립단자가 적용되고, 이를 검침하기 위해, 클립단자의 일측에 검침을 위한 프로브핀의 일부분을 접촉하여 전기적인 특성을 측정하게 된다.At this time, in the case of most USB connectors or Micro USB terminals, a clip terminal bending a metal strip is applied to an internal part of the apparatus, and a part of the probe pin for the meter reading is contacted to one side of the clip terminal And the like.

그러나, 종래의 프로브핀의 경우 바텀플런저 또는 탑플런저의 끝부분인 팁(TIP)부분이 뾰족한 침형태로 형성되거나, 크라운 형태로 형성되어 클립단자에 미세한 점으로 접촉되거나, 크라운 형태의 경우 단자 내부로 삽입되기도 어려워 검침이 어려운 경우가 대부분이었다.However, in the case of the conventional probe pin, the tip portion (TIP) of the bottom plunger or the top plunger may be formed in a sharp needle shape or may be formed into a crown shape so as to contact the clip terminal with fine points, It is difficult to be inserted into the apparatus.

이에 따라, 대한민국 등록특허 제10-1500609호(검사장치, 이하 '선행기술'이라 함, 2015년 03월 03일 등록) 검사 시 피검사접점에 접촉하는 제1 플런저, 검사회로의 검사접점에 접촉하는 제2플런저 및 상기 제1, 제2 플런저를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체를 포함하며, 상기 제1플런저는 피검사접점을 향해 연장하는 몸체, 상기 몸체에 결합되는 연결부 및 상기 연결부로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부를 포함하며, 상기 피검사체의 피검사접점은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 면접점을 포함하며, 상기 확장접촉부는 상기 2개의 면접점에 대응하는 2개의 면접촉부를 포함하는 기술을 개시하고 있다.Accordingly, the first plunger contacting the contact to be inspected at the time of the inspection of the Korean Patent No. 10-1500609 (inspection apparatus, hereinafter referred to as "prior art", registered March 03, 2015), contact with the inspection contact of the inspection circuit The first plunger includes a body extending toward an object to be inspected, a connecting portion coupled to the body, and a connecting portion coupled to the connecting portion in a radial direction from the connecting portion. The first plunger includes a first plunger and a second plunger, And an extended contact portion extending outwardly and converging toward the tip, wherein the inspected contact point of the test object includes two contact points spaced apart at a predetermined interval, and the extended contact portion corresponds to the two interview points And two surface-contacting portions for performing surface-contacting.

그러나, 상기와 같은 선행기술의 경우 한쌍의 접점을 형성하기 위해, 팁(tip)부분을 식각가공하게 되는데, 팁부분에 방향성이 존재하게 되어 작업자가 검사를 위한 지그 등에 프로브핀을 장착할 때, 팁부분의 방향을 정밀하게 위치하도록 해야 하는 불편함이 존재하게 된다.However, in the case of the prior art as described above, in order to form a pair of contacts, the tip portion is etched. When the operator places a probe pin on a jig or the like for inspection because the tip portion has directionality, There is an inconvenience that the direction of the tip portion must be precisely positioned.

이는 선행기술에서 제안하는 팁부분의 형상이 삼각형의 두께를 유지하는 평판형태로 이루어지고, 그 중 양측면을 내측으로 원호형상으로 식각하여, 두개의 접점을 만드는 형상을 취하게 되기 때문이고, 검사를 위한 클립단자의 접촉면에 정확하게 접촉시키기 위해 최적의 방향에 맞게 지그 장착해야만 하는 문제가 발생하게 된다.This is because the shape of the tip portion proposed in the prior art is in the form of a flat plate maintaining the thickness of the triangle, and both sides thereof are etched inward into an arc shape to form two contact points. There arises a problem that the jig must be mounted in an optimum direction in order to accurately contact the contact surface of the clip terminal.

하지만, 프로브핀의 경우 그 크기가 매우 작아 작업자가 정밀하게 적업하는데 어려움이 있을 뿐만 아니라, 제안되고 있는 선행기술을 이용하기 위해서는 더 많은 작업시간이 요구되는 불편함이 있다.However, since the probe pin is very small in size, it is difficult for the operator to precisely operate the probe pin, and further work time is required to use the proposed prior art.

또한, 선행기술의 경우 한쌍의 접점을 탐침해야 하는 클립단자에만 적용할 수 있어 다양한 단자 및 솔더링 부분에 호환하여 적용하기 난해한 문제도 있다.In addition, in the prior art, it is difficult to apply the present invention to a variety of terminals and soldering parts because it can be applied only to a clip terminal that requires a pair of contacts to be probed.

대한민국 등록특허 제10-1500609호(검사장치, 2015년 03월 03일 등록)Korean Registered Patent No. 10-1500609 (Inspection device, registered March 03, 2015)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 극복하기 위해, 다양한 형태의 단자 및 접점 등에 적용할 수 있는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to overcome the above-described problems, it is an object of the present invention to provide a multi-probe pin for testing a connector that can be applied to various types of terminals and contacts.

본 발명의 또다른 목적은 미세한 크기의 프로브핀을 작업자가 보다 용이하게 검사용 지그나 장치에 장착할 수 있도록 하며, 작업시간 또한 많이 소요되지 않도록 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하는 것이다.It is still another object of the present invention to provide a multi-probe pin for connector testing that enables a worker to more easily mount a probe pin of a small size on a jig or apparatus for inspection, and does not require much work time.

본 발명의 목적을 달상하기 위한, 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀에 있어서,In order to achieve the object of the present invention, in a multi-probe pin for connector testing,

탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하기 위해, 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 형성되는 링(14)으로 구성되는 바텀플런저(10) 와 상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하기 위해 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되며, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(22)이 형성되는 바디(20) 및 상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성되는 것을 특지으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하게 된다.(11) formed in a spherical shape and in contact with a ground terminal, a lower beam (12) coupled to and supported by one side of the head (11), and a lower beam A bottom plunger 10 composed of an upper beam 13 formed on the beam 12 and a ring 14 formed on one side of the upper beam 13 and the bottom plunger 10 are coupled, The upper beam inlet 21 is formed at one side to receive the upper beam 13 and the body tip 22 having a diameter smaller than the diameter of the body 20 is formed at the other side. And a elastic body (30) inserted in the body (20) and providing elasticity to the bottom plunger (10).

또한, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되고 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위해 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 하는 단자링(15)이 더 구비되며, 상기 헤드(11)의 상측면에는 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 가이드라인(11a)이 더 형성된다.The outer surface of the lower beam 12 is spaced apart from the head 11 and protrudes from the outer surface of the lower beam 12. When the inner surface of the lower beam 12 is inserted into the inner surface of the lower beam 12, And a guide line 11a is formed on the top surface of the head 11 so as to set a position according to the size of a terminal to be inspected.

또한, 상기 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성되고, 상기 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바텀플런저(10)가 바디(20)로 부터 이탈되어 분리되거나 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하는 돌기(23) 바디(20)의 일측에 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공함으로써 본 발명의 목적을 보다 잘 달성할 수 있는 것이다.The upper beam 13 is formed to be smaller in diameter than the lower beam 12 and is recessed inward. When the lower plunger 10 is coupled to the body 20, And a protrusion 23 for allowing the bottom plunger 10 to be inserted into the portion of the upper beam 13 such that the bottom plunger 10 is separated from the body 20 and separated from the body 20 or inserted beyond a predetermined depth, Probe pin for a connector test according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공함으로써, 다양한 형태의 단자 및 점점 등에 적용할 수 있도록 호환성을 높이는 효과가 있으며, 작업자의 작업능률을 향상시켜 작업공정 시간을 단축할 수 있는 효과가 있다.Provision of the multi-probe pin for testing a connector according to the present invention has the effect of increasing the compatibility so that it can be applied to various types of terminals and the like, and it is possible to improve the work efficiency of the operator and shorten the work process time.

도 1은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 전개사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 단면도이다.
도 4와 도 5는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 실시를 도시한 사시도와 단면도이다.
도 6은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 또다른 실시형태를 도시한 단면도이다.1 is a perspective view of a multi-probe pin for testing a connector according to the present invention.
2 is an exploded perspective view of a multi-probe pin for testing a connector according to the present invention.
3 is a cross-sectional view of a multi-probe pin for testing a connector according to the present invention.
4 and 5 are a perspective view and a cross-sectional view showing an embodiment of a multi-probe pin for connector testing according to the present invention.
6 is a cross-sectional view showing another embodiment of the multi-probe pin for testing a connector according to the present invention.

이하에서 당업자가 본 발명의 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, those skilled in the art will be described in detail with reference to the drawings so that the connector test multi-probe pin of the present invention can be easily implemented.

도 1은 본 발명에 따른 컨게터 테스트용 멀티 프로브핀의 사시도이고, 도 2는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 전개사시도이며, 도 3은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 단면도이다.FIG. 1 is a perspective view of a multi-probe pin for a connector test according to the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of a multi-probe pin for testing a connector according to the present invention, Sectional view.

도 1 내지 도 3을 참조하여 상세하게 설명하면, 탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하는 바텀플런저(10)와 상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하는 바디(20) 및 상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성된다.1 to 3, a bottom plunger 10 for detecting electrical characteristics in contact with a terminal for detection, a body (not shown) which is coupled to the bottom plunger 10 and serves as a top plunger And an elastic body 30 that is inserted into the body 20 and provides elasticity to the bottom plunger 10.

상기 바텀플런저(10)는 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 형성되는 링(14)으로 구성된다.The bottom plunger 10 is formed in a spherical shape and includes a head 11 contacting the ground terminal, a lower beam 12 coupled to and supporting one side of the head 11, And a ring (14) formed on one side of the upper beam (13).

또한, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되어 형성되는 단자링(15)이 더 구비된다.Further, a terminal ring 15 is formed on the outer circumferential surface of the lower beam 12 so as to be spaced apart from the head 11.

상기 단자링(15)은 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위한 프로브핀 등이 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 한다.The terminal ring 15 is formed to protrude from the outer circumferential surface of the lower beam 12 so that the terminal ring 15 is brought into contact with the clip terminal when a probe pin or the like for inspecting the probe is inserted therein as in a clip terminal.

이때, 상기 헤드(11)와 단자링(15)의 사이에 이격된 공간에 내측으로 함몰된 형태로 형성되어, 곡선형태로 절곡되어 있는 클립단자의 절곡면에 보다 잘 접촉될 수 있도록 한다.At this time, the space formed between the head 11 and the terminal ring 15 is formed inwardly recessed to be in contact with the bent surface of the clip terminal bent in a curved shape.

이는 종래의 점침을 위한 프로브핀이 통상 날카로운 팁부분이 접촉되고, 이로 인해, 하나의 점형태로 검침이 이루어져 그 정확성이 낮아지는 문제가 있었기 때문이다.This is because a probe pin for a conventional probe is normally in contact with a sharp tip portion, thereby causing a problem in that the accuracy of the probe is lowered because the probe is formed in a single point shape.

또한, 검침도중 기계 작동과 같은 진동요인에 의해, 검침 부분이 이탈되는 문제점도 극복하기 위한 것이다.It is also intended to overcome the problem of deviation of the meter reading portion due to vibration factors such as machine operation during meter reading.

이와 같은 단자링(15)은 일개 또는 그 이상이 배치되어 형성되되, 1개 내지 3개가 형성되는 것이 바람직하다.One or more of such terminal rings 15 may be disposed, and one to three terminal rings 15 are preferably formed.

이는 클립단자의 경우 절곡되어 접촉되는 부분이 다수 존재하게 되고, 일개 이상의 단자링(15)이 배치됨으로써, 상측 또는 하측에 배치되는 단자링(15)의 사이에 형성되는 공간에 접점 또는 복수개의 단자링에 접점 되어 검침을 보다 용이하게 하기 위한 것이다.In the case of a clip terminal, there are a plurality of portions that are bent and contacted. By arranging one or more terminal rings 15, a space formed between the terminal rings 15 arranged on the upper side or the lower side, So as to facilitate the meter reading.

또한, 상기와 같은 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성된다.The upper beam 13 is formed to be smaller in diameter than the lower beam 12, and is recessed inward.

이는 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바디(20)의 일측에 형성되는 돌기(23)가 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하여, 바텀플런저(10)가 바디(20)부터 이탈되어 분리되거나, 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 하는 것이다.This allows the portion of the upper beam 13 to be inserted into a portion of the body 20 when the bottom plunger 10 is coupled to the body 20 and allows the projection 23 formed on one side of the body 20 to be inserted into the upper beam & So that the bottom plunger 10 is separated from the body 20 and prevented from being inserted beyond a predetermined depth.

보다 상세하게 설명하면, 하부빔(12)의 직경이 상부빔(13)의 직경보다 크게 형성되어, 바텀플런저(10)가 바디(20)에 내삽될 때, 하부빔(12)에 걸리도록 하여 일정깊이 이상 내삽되는 것을 방지하게 되고, 상부빔(13)의 일측에 상부빔(13)의 직경보다 크게 형성되는 링(14)에 의해 바텀플런저(10)가 바디(20)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있도록 하는 것이다.More specifically, the diameter of the lower beam 12 is formed to be larger than the diameter of the upper beam 13 so that the lower plunger 10 is caught by the lower beam 12 when the lower plunger 10 is inserted into the body 20 It is possible to prevent the bottom plunger 10 from being separated from the body 20 by the ring 14 formed on one side of the upper beam 13 larger than the diameter of the upper beam 13 To be able to do so.

상기와 같은 바텀플런저(10)의 헤드(11)는 구형상으로 형성되어, 검침을 위한 솔더링 부분의 파손을 최소화 할 수 있도록 한다.The head 11 of the bottom plunger 10 as described above is formed in a spherical shape so as to minimize breakage of the soldering portion for inspection.

또한, 상기 헤드(11)의 상측면에는 가이드라인(11a)이 더 형성되는데, 상기 가이드라인(11a)은 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 것이다.A guide line 11a is further formed on the top surface of the head 11 so that the guide line 11a can set a position according to the size of a terminal to be inspected.

보다 상세하게 설명하면, 상기 가이드라인(11a)은 헤드(11)의 상부면에 복수개의 동심원 형태로 적용될 수 있으며, 검사대상이 되는 단자의 크기 및 간격에 따라 접촉위치를 미리 예측하고 검사장치의 위치를 조정할 수 있도록 하기 위한 것이다.More specifically, the guide line 11a can be applied to the upper surface of the head 11 in a plurality of concentric circles. The guide line 11a predicts the contact position in advance according to the size and the interval of the terminal to be inspected, So that the position can be adjusted.

상기 바텀플런저(10)가 결합되는 바디(20)의 경우 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되고, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(TIP : 22)이 형성된다.The body 20 to which the bottom plunger 10 is coupled is formed in a tubular shape and an upper beam inlet 21 through which the upper beam 13 is inserted is formed at one side, A smaller body tip (TIP) 22 is formed.

여기서, 상기 바디팁(22)은 상부빔인입구(21) 보다 그 직경이 작게 형성되어, 내부에 인입되는 탄성체(30)가 바디(20)로부터 이탈되지 않도록 지지해주는 역할을 하게 된다.The body tip 22 has a diameter smaller than that of the upper beam inlet 21 to support the elastic body 30 which is drawn into the body 20 from the body 20.

또한, 바디팁(22)은 전기적인 특성을 측정하기 위한 측정장치 등의 지그와 같은 결합부재에 삽입되어 체결될 수 있도록 하는 것이다.In addition, the body tip 22 can be inserted and fastened to a coupling member such as a jig such as a measuring device for measuring electrical characteristics.

이와 같은 바디(20)의 일측 외주면에는 바텀플런저(10)가 바디(20)로부터 이탈되는 것을 방지하는 돌기(23)가 더 형성되는데, 상기 돌기는 상부빔인입구(21)로부터 이격되어 형성되게 된다.A protrusion 23 for preventing the bottom plunger 10 from being detached from the body 20 is further formed on one outer circumferential surface of the body 20 such that the protrusion is spaced apart from the upper beam inlet 21 .

이때, 상기 돌기(23)는 바디(20)의 내주면 방향으로 돌출되어 형성되는데, 보다 구체적으로 설명하면, 외주면에서 내주면 방향으로 오목하게 함몰되는 형상으로 형성되도록 하여, 내주면 방향으로 돌출되는 형태로 형성되도록 한다.The protrusions 23 protrude in the direction of the inner circumferential surface of the body 20. More specifically, the protrusions 23 may be recessed from the outer circumferential surface toward the inner circumferential surface, .

이와 같은 돌기(23)는 2개 이상이 내주면에 등간격으로 형성되는데, 구체적으로 2개 ~ 6개로 형성되는 것이 바람직하다.Two or more such protrusions 23 are formed at regular intervals on the inner circumferential surface, and specifically, it is preferable that the protrusions 23 are formed by two to six protrusions.

이는 바텀플런저(10)와 바디(20)의 크기에 따라 달라지게 적용되도록 하기 위한 것이다.This is for application to be varied depending on the sizes of the bottom plunger 10 and the body 20. [

또한, 상기 바디(20)의 내부에 위치하고, 바텀플런저(10)의 일부분을 지지하며 탄성력을 부여하는 탄성체(30)는 통상의 코일스프링의 형태가 적용될 수 있으며, 탄성력을 유지하는 라바재질 또는 합성수지로 형성되는 링형상의 코일 등이 적용될 수 있다.The elastic body 30, which is located inside the body 20 and supports a part of the bottom plunger 10 and applies an elastic force, may be a conventional coil spring, and may be made of rubber material or synthetic resin A ring-shaped coil formed by a ring-shaped coil or the like can be applied.

10 : 바텀플런저 11 : 헤드
11a : 가이드라인 12 : 하부빔
13 : 상부빔 14 : 링
15 : 단자링 20 : 바디
21 : 상부빔인입부 22 : 바디팁
23 : 돌기 30 : 탄성체10: bottom plunger 11: head
11a: Guideline 12: Lower beam
13: upper beam 14: ring
15: Terminal ring 20: Body
21: upper beam entrance part 22: body tip
23: projection 30: elastic body

Claims (5)

커넥터 테스트용 멀티 프로브핀에 있어서,
탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하기 위해, 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 링(14)이 형성되고, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되고 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위해 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 하는 단자링(15)이 구비되는 바텀플런저(10); 와
상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하기 위해 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되며, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(22)이 형성되는 바디(20); 및
상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성되는 것을 특지으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
In a multi-probe pin for connector testing,
(11) formed in a spherical shape and in contact with a ground terminal, a lower beam (12) coupled to and supported by one side of the head (11), and a lower beam A ring 14 is formed on one side of the upper beam 13 and an upper beam 13 formed on the beam 12 and a ring 14 is formed on an outer circumferential surface of the lower beam 12, A bottom plunger 10 formed in a shape protruding from the outer circumferential surface of the bottom plate 12 and having a terminal ring 15 to be brought into contact with a clip terminal when inserting the probe for inspection, such as a clip terminal; Wow
An upper beam inlet 21 is formed at one side of the lower plunger 10 to receive the upper beam 13 and a body 20 is formed at the other side of the lower plunger 10, A body 20 having a body tip 22 smaller than the diameter of the body 20; And
And an elastic body (30) inserted in the body (20) and providing elasticity to the bottom plunger (10).
삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 헤드(11)의 상측면에는 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 가이드라인(11a)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
The method according to claim 1,
Wherein a guide line (11a) is formed on an upper surface of the head (11) to set a position according to the size of a terminal to be inspected.
제 1항에 있어서,
상기 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
The method according to claim 1,
Wherein the upper beam (13) is formed to be smaller in diameter than the lower beam (12) and is recessed inward.
제 1항에 있어서,
상기 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바텀플런저(10)가 바디(20)로 부터 이탈되어 분리되거나 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하는 돌기(23) 바디(20)의 일측에 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.The method according to claim 1,
When the bottom plunger 10 is engaged with the body 20, the upper beam 13 is inserted into a part of the body 20, and the bottom plunger 10 is separated from the body 20 (23) is formed on one side of the body (20) so as to be inserted into the upper beam (13) portion so as not to be interpolated beyond a predetermined depth.
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