KR101921804B1 - 신발 바이트 라인의 분기 검출 - Google Patents

신발 바이트 라인의 분기 검출 Download PDF

Info

Publication number
KR101921804B1
KR101921804B1 KR1020167022885A KR20167022885A KR101921804B1 KR 101921804 B1 KR101921804 B1 KR 101921804B1 KR 1020167022885 A KR1020167022885 A KR 1020167022885A KR 20167022885 A KR20167022885 A KR 20167022885A KR 101921804 B1 KR101921804 B1 KR 101921804B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sole
dimensional data
matched
finished
byte line
Prior art date
Application number
KR1020167022885A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20160113536A (ko
Inventor
드라간 유르코비크
밍펑 진
치치 창
친이 린
Original Assignee
나이키 이노베이트 씨.브이.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 나이키 이노베이트 씨.브이. filed Critical 나이키 이노베이트 씨.브이.
Publication of KR20160113536A publication Critical patent/KR20160113536A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101921804B1 publication Critical patent/KR101921804B1/ko

Links

Images

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D1/00Foot or last measuring devices; Measuring devices for shoe parts
    • A43D1/08Measuring devices for shoe parts
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43BCHARACTERISTIC FEATURES OF FOOTWEAR; PARTS OF FOOTWEAR
    • A43B23/00Uppers; Boot legs; Stiffeners; Other single parts of footwear
    • A43B23/02Uppers; Boot legs
    • A43B23/0245Uppers; Boot legs characterised by the constructive form
    • A43B23/0255Uppers; Boot legs characterised by the constructive form assembled by gluing or thermo bonding
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D119/00Driving or controlling mechanisms of shoe machines; Frames for shoe machines
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D25/00Devices for gluing shoe parts
    • A43D25/06Devices for gluing soles on shoe bottoms
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D8/00Machines for cutting, ornamenting, marking or otherwise working up shoe part blanks
    • A43D8/32Working on edges or margins
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D2200/00Machines or methods characterised by special features
    • A43D2200/10Fully automated machines, i.e. machines working without human intervention
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A43FOOTWEAR
    • A43DMACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
    • A43D2200/00Machines or methods characterised by special features
    • A43D2200/60Computer aided manufacture of footwear, e.g. CAD or CAM

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Footwear And Its Accessory, Manufacturing Method And Apparatuses (AREA)

Abstract

라스팅된 갑피를 위해 구성되는 밑창과 정합되는 라스팅된 신발 갑피의 3차원 표면 데이터를 수집하는 시스템 및 방법이 제공된다. 정합된 3차원 데이터는 정합될 때에 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에 의해 획정되는 에지의 위치를 결정하도록 밑창과 정합 해제된 형태에서 라스팅된 신발 갑피의 3차원 데이터와 함께 사용된다. 바이트 라인은 갑피와 밑창 조립체가 완성된 신발에서 교차하는 에지를 식별하고, 이는 밑창을 갑피에 접합하도록 접착제를 라스팅된 갑피에 도포하기 위한 경계선을 나타낼 수 있다.

Description

신발 바이트 라인의 분기 검출{DIVERGENCE DETECTION OF A SHOE BITE LINE}
3차원 표면적의 다중 세트가 자동화 제조 프로세스를 위해 신발 상에 바이트 라인의 결정에 사용된다.
신발 등의 신발류 물품은 밑창 조립체를 신발 갑피에 접합시킴으로써 제조될 수 있다. 접착제 등의 접합제를 신발 갑피에 도포하는 프로세스는, 영구적으로 접합될 때에 밑창에 의해 덮이게 되는 갑피 부분을 노동자가 시각적으로 식별할 수 있도록 밑창과 갑피를 일시적으로 결합시키는 것을 포함할 수 있는 수동 프로세스이다. 그 다음에, 노동자는 밑창을 제거하고, 접합제의 도포가 밑창의 부착 후에 보이게 되는 갑피 부분으로 연장되지 않도록 보장하면서 갑피에 접합제를 면밀하게 도포할 수 있다. 접합제는, 접합제가 조립 후에 노출되면 완성된 신발을 얼룩지게 하거나 달리 완성된 신발에 심미적으로 해를 끼칠 수 있다. 하지만, 노동자는 또한 밑창의 에지에 대한 효과적인 접합을 보장하기 위해 충분한 갑피의 부분에 접합제가 도포되는 것을 보장해야 한다. 따라서, 갑피와 밑창의 접합은 실행 중에 주의를 요하는 수동 프로세스이다.
본 발명의 양태는 라스팅된 갑피를 위해 구성되는 밑창과 정합되는 라스팅된 갑피의 3차원 표면 데이터를 수집하는 시스템 및 방법을 제공한다. 정합된 3차원 데이터는 정합될 때에 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에 의해 획정되는 에지의 위치를 결정하도록 밑창과 정합 해제된 형태에서 라스팅된 갑피의 3차원 데이터와 합동하여 사용된다. 결정은, 예시적인 양태에서, 정합된 3차원 데이터의 점들이 정합 해제된 라스팅된 갑피의 점들로부터 분기될 때를 결정함으로써 이루어질 수 있다.
추가 양태는 바이트 라인 결정 시스템을 제공한다. 시스템은 라스팅된 갑피 또는 감지 조립체를 회전시키도록 구성되는 구동 모터 등의 회전 메카니즘을 포함한다. 시스템은 또한 밑창을 라스팅된 갑피와 정합시키고 정합 해제시키도록 구성되는 정합 메카니즘을 포함한다. 예컨대, 정합 메카니즘은 회전 메카니즘이 둘레에서 회전하는 축선과 평행한 방향에서 선형으로 이동하도록 구성될 수 있다. 시스템은 또한 구조적 광원(예컨대, 레이저)과 감지 장치(예컨대, 촬상 장치)를 구비하는 감지 조립체를 포함할 수 있다. 감지 조립체는, 예시적인 양태에서, 회전 메카니즘이 둘레에서 회전하는 축선과 직교하는 방향에서 선형으로 이동하도록 구성될 수 있다. 대안으로, 감지 메카니즘이 라스팅된 갑피 둘레에서, 예컨대 원형 또는 타원형 방식으로 이동할 수 있다는 것이 예상된다. 추가적으로, 시스템은 감지 조립체에 의해 수집되고 정합된 관계와 정합 해제된 관계의 라스팅된 갑피와 밑창을 위한 연산 장치에 의해 처리되는 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피의 바이트 라인을 결정하도록 된 프로세서와 메모리를 갖는 연산 장치를 포함한다.
본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에서 상세하게 설명된다.
도 1은 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피 밑창의 3차원 표면 정보를 캡쳐하는 데에 효과적인 예시적인 시스템을 도시하고;
도 2는 본 발명의 양태에 따른, 정합 해제된 구성에서 라스팅된 갑피의 제1의 3차원 데이터 세트와 밑창과 정합될 때에 라스팅된 갑피의 제2의 3차원 데이터 세트로부터 바이트 라인을 결정하는 분기 검출 프로세스의 간소화된 예시를 도시하며;
도 3은 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피가 밑창과 정합된 형태로 있는 도 1로부터의 시스템의 확대도를 도시하고;
도 4는 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피가 밑창과 정합 해제된 형태로 있는 도 1로부터의 시스템의 확대도를 도시하며;
도 5는 본 발명의 양태에 따른, 회전판과, 라스트 상에 라스팅된 갑피와 정합되는 밑창을 지지하는 유지부의 평면도를 도시하고;
도 6은 본 발명의 양태에 따른, 예시적인 스캐닝 시스템에 관한 회전판, 유지부, 및 밑창의 평면도를 도시하며;
도 7은 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 신발 갑피 상의 바이트 라인을 결정하는 방법을 나타내는 흐름도를 도시하고;
도 8은 본 발명의 양태를 실행하기 위한 프로그램 가능한 로직 제어기 및/또는 개인용 컴퓨터 등의 예시적인 연산 작동 환경을 도시하며;
도 9는 본 발명의 양태에 따른, 발가락 부분 프레스를 갖는 예시적인 라스트를 도시한다.
본 발명의 양태는 라스팅된 갑피를 위해 구성되는 밑창과 정합되는 라스팅된 신발 갑피의 3차원 표면 데이터를 수집하는 시스템 및 방법을 제공한다. 정합된 3차원 데이터는 정합될 때에 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에 의해 획정되는 에지의 위치를 결정하도록 밑창과 정합 해제된 형태에서 라스팅된 갑피의 3차원 데이터와 합동하여 사용된다. 밑창이 구성되고 최종적으로 라스팅된 갑피에 결합되는 밑창의 역할을 할 수 있기 때문에, 정합되는 경우에 라스팅된 갑피와 밑창은 라스팅된 갑피와 밑창 사이에 형성되는 표면 교차점에서 원하는 바이트 라인의 위치를 식별한다.
양태는 또한 라스팅된 신발 갑피 상의 바이트 라인을 결정하는 방법을 포함한다. 방법은 라스팅된 갑피를 라스팅된 갑피를 위해 구성된 밑창과 정합시키는 것을 포함한다. 라스팅된 갑피와 밑창을 정합한 후에, 정합된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집한다. 정합된 3차원 데이터는 라스팅된 갑피로부터 밑창으로의 천이에 의해 획정되는 에지를 적어도 포함하고, 에지는 라스팅된 갑피 상의 바이트 라인을 식별한다. 방법은 또한 정합 해제된 형태로 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 재배치하는 것을 포함한다. 재배치는, 다양한 양태에서, 라스팅된 갑피 및/또는 밑창을 이동시키는 것을 포함할 수 있다. 방법은 정합 해제된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 계속 수집한다. 또한, 방법은, 예컨대 정합 해제된 형태와 정합된 형태를 나타내는 3차원 데이터 사이의 점들의 분기 검출을 통해 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피에 대해 바이트 라인을 결정하는 것을 포함한다.
추가 양태는 바이트 라인 결정 시스템을 제공한다. 시스템은 라스팅된 갑피 및/또는 감지 조립체를 회전시키도록 구성되는 구동 모터 등의 회전 메카니즘을 포함한다. 시스템은 또한 밑창을 라스팅된 갑피와 정합시키고 정합 해제시키도록 구성되는 정합 메카니즘을 포함한다. 정합 메카니즈은, 예시적인 양태에서, 회전 메카니즘이 둘레에서 회전하는 축선과 평행한 방향에서 선형으로 이동하도록 구성된다. 예컨대, 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 상승 및 하강시키기에 효과적인, 본 명세서에 제공되는 수직 시스템이 예시적인 정합 메카니즘으로서 예상된다.
시스템은 또한 구조적 광원(예컨대, 레이저)과 감지 장치(예컨대, 촬상 장치)를 구비하는 감지 조립체를 포함한다. 감지 조립체(감지 시스템으로도 지칭됨)는 3차원 데이터의 효과적인 캡쳐를 가능하게 하는 방식으로 이동하도록 구성된다. 예컨대, 감지 조립체는, 예시적인 양태에서, 회전 메카니즘이 둘레에서 회전하는 축선과 직교하는 방향에서 선형으로 이동할 수 있도록 구성될 수 있다. 더욱이, 감지 조립체가 또한 또는 대안으로 회전(예컨대, 원형, 타원형) 방식으로 이동하여 3차원 데이터를 캡쳐할 수 있다는 것이 예상된다. 또한, 이동 메카니즘들의 조합은, 예시적인 양태에서, 감지 조립체 및 라스팅된 갑피로부터 비교적 일관된 심도(depth of field)를 달성하기 위하여 라스팅된 갑피의 회전 이동과 감지 조립체의 선형 이동 등의 3차원 데이터의 원하는 캡쳐를 달성하도록 합동하여 실행될 수 있다. 또한, 감지 조립체의 하나 이상의 부분이 수직 방향(예컨대, Z축 방향)으로 이동될 수 있다는 것이 예상된다. 예컨대, 감지 장치는 라스팅된 갑피의 둘레를 따라 상이한 위치에서 라스팅된 갑피와 밑창 간에 보다 양호한 교차 원근감을 달성하도록 위아래로 이동될 수 있다는 것이 예상된다. 이 에에서, 감지되는 특별한 라스팅된 갑피/밑창을 기초로 하여 감지 조립체의 하나 이상의 부분의 수직 이동을 제어하는 로직이 프로그램될 수 있다. 달리 말해서, 감지 조립체의 하나 이상의 부분은 임의의 소정 시간 및 소정 위치에서 모든 공간 방향으로 함께 또는 독립적으로 이동될 수 있다. 따라서, 감지 조립체의 하나 이상의 부분은 3차원 체적의 X, Y, 및/또는 Z 공간으로 이동될 수 있다.
추가적으로, 시스템은 감지 조립체에 의해 수집되고 정합된 관계와 정합 해제된 관계의 라스팅된 갑피와 밑창을 위한 연산 장치에 의해 처리되는 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피의 바이트 라인을 결정하도록 된 프로세서와 메모리를 갖는 연산 장치를 포함한다. 연산 장치는 도 8에서 이후에 설명되는 바와 같이 임의의 연산 장치일 수 있다. 예컨대, 연산 장치는 예시적인 양태에서 개인용 컴퓨터 스타일의 연산 장치일 수 있다.
신발 갑피와 신발 밑창의 예가 본 명세서에서의 예시적인 목적을 위해 단순한 형태로 묘사되어 있지만, 사실상 신발 갑피는 흔히 상이한 유형의 재료들로 형성되는 다수의 개별적인 부품들을 포함할 수 있다. 신발 갑피의 구성요소들은 다양한 접착제, 스티치, 및 다른 유형의 결합 구성요소를 이용하여 함께 결합될 수 있다. 신발 갑피는 다수의 구성요소들로 구성될 수 있다. 예컨대, 신발 밑창은 바닥, 지면, 또는 다른 표면과 접촉하는, 고무와 같이 비교적 경질 및 내구성의 재료로 제조되는 바깥창을 포함할 수 있다. 신발 밑창은 또한 일반적인 착용 및/또는 운동 훈련 또는 행위 중에 완충을 제공하고 힘을 흡수하는 재료로 형성되는 중창을 포함할 수 있다. 중창에 흔히 사용되는 재료의 예로는, 예컨대 에틸렌 비닐 아세테이트 폼, 폴리우레탄 폼 등이 있다. 신발 밑창은 또한 추가 구성요소들, 예컨대 추가 완충 구성요소(스프링, 에어백, 그 유사물 등), 기능적 구성요소(회내 또는 회외를 처리하는 움직임 제어 요소 등), 보호 요소(지면 또는 바닥 상의 위험으로부터 발에 대한 손상을 방지하는 탄성판 등), 그 유사물을 구비할 수 있다. 인지될 수 있는 바와 같이, 밑창이 바이트 라인 검출을 위해 라스팅된 갑피와 정합될 때에, 밑창은 바깥창, 중창, 및/또는 신발 밑창을 형성하는 임의의 추가 구성요소를 포함할 수 있다. 신발 갑피 및/또는 신발 밑창에 존재할 수 있는 이들 및 기타 구성요소는 본 명세서에 기재된 예에서 구체적으로 설명되지 않지만, 그러한 구성요소는 본 발명의 양태에 따른 시스템 및 방법을 이용하여 제조되는 신발류 물품에 존재할 수 있다.
본 명세서에 제공되는 방법 및 시스템은 신발 갑피 상의 바이트 라인의 식별을 가능하게 한다. 바이트 라인은 신발 밑창 조립체와 신발 갑피 부분의 교차점을 따라 있는 위치이다. 전통적으로, 신발류를 제조할 대에, 바이트 라인은 신발 갑피와 결합될 신발 밑창 조립체를 라스팅된 신발 갑피의 바닥을 따라 배치하여 바이트 라인을 식별함으로써 식별된다. 바이트 라인의 결정은 갑피와 신발 밑창 조립체의 조립 후에 접합제를 노출시키지 않으면서 하나 이상의 접합제가 라스팅된 갑피에 대해 도포될 수 있는 위치를 결정하기 위해 요망된다. 그러나, 신발을 제조할 때에, 프로세스의 자동화는 특정한 신발 갑피에 대해 디지털 바이트 라인의 디지털 표현을 제공하는 것으로부터 이익을 얻을 수 있다. 따라서, 본 명세서에서 제공되는 양태는 정합된 형태에서 라스팅된 갑피와 밑창의 3차원 표면 정보의 제1 세트 및 밑창과 정합 해제된 라스팅된 갑피의 3차원 표면 정보의 제2 세트를 포함하는 분기 검출 프로세스를 통해 특정한 신발 갑피에 대해 바이트 라인을 디지털 방식으로 식별하는 수단을 제공한다. 예시적인 양태에서, 3차원 표면 정보의 제1 세트와 제2 세트는, 서로 비교될 때에, 정합된 경우에 라스팅된 갑피 상에 밑창의 교차점을 식별하고, 이는 라스팅된 갑피에 대한 바이트 라인을 적어도 부분적으로 나타낸다. 이러한 식별은 미리 정해진 임계값을 지나서 데이터 점들의 분기를 배치하도록 정합된 형태와 정합 해제된 형태의 3차원 표면들을 나타내는 데이터 점들을 중첩함으로써 달성될 수 있다. 예시적인 양태에 있어서, 이렇게 중첩된 데이터 점들의 분기에서, 정합된 형태로부터 정합 해제된 형태로의 표면 기하학적 형태의 변화가 결정될 수 있고, 이는 바이트 라인에서 발생할 수 있다. 예시적인 양태에서, 라스팅된 신발 갑피에 대해 바이트 라인이 결정되면, 바이트 라인을 한정하는 데이터가 다축 로봇 등의 기계에 의해 사용되어 결정된 바이트 라인에 의해 경계 설정된 바와 같이 라스팅된 갑피에 접착제 등의 제제를 도포할 수 있다. 제제의 도포에 추가하여, 제공된 기법 및 물품의 다른 용도가 물품의 제조 시에 실행될 수 있다.
이제, 도 1을 참조하면, 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 3차원 표면 정보를 캡쳐하기에 효과적인 예시적인 시스템이 도시되고 전체적으로 참조 번호 100에 의해 지정되어 있다. 본 명세서에서 더 상세하게 설명되는 바와 같이, 밑창(124)을 수용하기 위한 공동이 내부에 형성된 실리콘 패드와 같은 유지부(123)가 사용되어 정합된 그리고 정합 해제된 데이터 캡쳐를 위해 밑창(124)을 유지하고 고정시킬 수 있다. 시스템(100)은 상부면(103)을 갖는 베이스 지지부(102)를 포함한다. 베이스 지지부(102)는 시스템(100) 등의 시스템에서 사용하기 위한 이하에서 설명되는 하나 이상의 구성요소를 지지하기에 효과적인 형태일 수 있다.
시스템은 또한 밑창(124)을 정합된 형태로부터 정합 해제된 형태로 상승 및 하강시키는 데에 효과적인 수직 조립체를 포함한다. 수직 조립체는 안내 부재(106, 107)에 의해 베이스 지지부(102)의 상부면(103)과 슬라이드 가능하게 결합되는 지지판(104)을 포함한다. 안내 부재는 여전히 지지판(104)의 수직 이동을 용이하게 하면서 지지판(104) 및 이 지지판에 결합되는 구성요소에 안정성을 제공하도록 상부면(103)과 슬라이드 가능하게 상호 작용한다. 수직 이동은 수직 액츄에이터(108)에 의해 구동된다. 수직 액츄에이터(108)는 적어도 지지판(104)을 상승 및 하강시키고 이에 따라 베이스 유닛(124)과 라스팅된 갑피(122)의 정합 및 정합 해제를 가능하게 하도록 구성된다. 수직 액츄에이터(108)는 공압, 유압, 선형 모터 등과 같은 다수의 메카니즘을 이용하여 수직 이동을 유발할 수 있다. 도시된 바와 같이, 수직 액츄에이터(108)의 일부는 지지판(104)과 상호 작용하도록 상부면(103)을 통해 연장된다. 대안적인 양태에서, 수직 액츄에이터(108)는 정합된 형태로부터 정합 해제된 형태로 밑창(124)의 이동을 달성하도록 대안적인 방식으로 구성될 수 있다는 것이 예상된다.
도시된 바와 같이, 유지부(123)는 밑창(124)의 적어도 일부가 유지부(123)의 공동 내에 위치 설정되도록 구성될 수 있다. 그러나, 바이트 라인에서 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 3차원 데이터 캡쳐를 가능하게 하도록 밑창(124)의 상부 에지에 근접한 밑창(124)의 적어도 일부가 유지부(123) 위에서 연장된다는 것이 예상된다. 유지부(123)는 실리콘 등의 임의의 적절한 재료로 형성될 수 있다. 유지부(123)는 밑창(124)과 라스팅된 갑피(122) 사이의 교차점이 감지 조립체에 의해 효과적으로 캡쳐될 수 있도록 임의의 크기 및 형상으로 구성될 수 있다. 또한, 유지부(123)는 그 예시적인 양태에서 전체적으로 생략될 수 있다.
수직 조립체는 또한 지지판(104)을 회전판(112)과 회전 가능하게 결합시키는 회전 고리(110)를 포함한다. 회전 고리(110)는 회전판(112)이 지지판(104)과 관계없이 회전되게 한다. 이하에 설명되는 바와 같이, 밑창(124)은 라스팅된 갑피(122)가 회전할 때에 라스팅된 갑피(122)와 맞물릴 수 있다. 예시적인 양태에서, 밑창(124)이 유지부(123)와 접촉하고 유지부를 통해 회전판(112)에 의해 지지됨에 따라, 회전 고리(110)는 회전판(112)과 밑창(124)이 지지판(104)으로부터 자유롭게 회전되게 한다. 수직 조립체가 상이한 수직 위치에 위치 설정될 때에, 수직 조립체의 구성요소들은 밑창(124)과 라스팅된 갑피(122)의 정합 형태 및 정합 해제 형태를 달성하도록 일제히 이동한다.
도시된 시스템(100)에서, 신발 갑피(122)는 라스트(120) 상에 배치되어 있는데, 라스트는 역사적으로 신발 갑피의 소기의 형상의 체적 근사치를 제공한다. 밑창(124)을 수직 조립체에 의해 예정된 크기의 힘을 인가하여 라스팅된 갑피(122)를 대응하는 밑창(124)에 대해 유지할 수 있다. 압력의 인가 시에, 밑창(124)은 라스팅된 갑피(122)와 정합되고, 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124) 사이에 원하는 물리적 상호 작용을 유지한다. 원하는 압력으로 일단 정합되면, 라스팅된 갑피(122)의 표면과 밑창(124)의 표면 간의 교차점이 교차점(126)을 형성한다. 교차점(126)은 라스팅된 갑피(122)를 위한 바이트 라인의 위치를 나타낸다.
처리 시에, 밑창(124)은, 신발 갑피(122)와 정합되는 실제 밑창이 아니라면, 신발의 조립 시에 신발 갑피(122)에 부착될 신발 밑창 조립체의 실제 재료, 크기, 형상, 윤곽 등을 모방할 수 있다는 점을 유념해야 한다. 또한, 밑창(124)이 의도된 최종적인 밑창이 아닐 때에, 밑창(124)이 통상적으로 밑창 조립체에 사용되는 것과 상이한 재료로 형성될 수 있다는 것이 예상된다. 예컨대, 밑창(124)의 기능이 반복적인 제조 프로세스에서 바이트 라인을 식별하기 위한 가이드를 제공하는 것이기 때문에, 내구성이 더 높고 경질인 재료가 밑창(124)의 적어도 일부를 형성할 수 있다. 이는 일반적으로 특히 충격 완화, 지지, 및 정지 마찰을 위해 제공되는 실제 밑창 조립체의 기능적 목적과는 대조가 된다. 밑창(124)은 예시적인 양태에서 임의의 형상 또는 크기를 가질 수 있다.
라스팅된 갑피(122) 및/또는 대응하는 밑창(124)은 흔히 유연성 및/또는 압축성 재료로 형성될 수 있기 때문에, 라스팅된 갑피(122)의 표면 상에 식별되는 바이트 라인의 위치는 라스팅된 갑피(122)를 대응하는 밑창(124)과 정합시키는 데에 사용되는 힘 또는 압력의 크기를 기초로 하여 변경될 수 있다. 바이트 라인의 식별 중에 시스템(100)에 의해 인가되는 예정된 크기의 힘은 라스팅된 갑피(122)를 밑창(124)에 의해 대표되는 신발 밑창 조립체에 최종 접합할 때에 인가되는 힘과 동일할 수 있지만, 본 발명의 범위로부터 벗어남이 없이 접합 중에 인가되는 힘과 상이할 수 있다.
예시적인 라스트(120)가 예시 목적을 위해 도 1에 도시되어 있지만, 대안적인 라스트가 예시적인 양태에서 사용될 수 있다는 것이 예상된다. 예컨대, 도 9를 참조하면, 본 발명의 양태에 따라, 발가락 부분 프레스 부재(922)와 확산 부재(924)를 갖는 예시적인 라스트(920)가 도시되어 있다. 확산 부재(924)는, 회전력 및/또는 압축력이 확산 부재(924)에 인가될 때에, 이 힘이 라스트(920)와 발가락 부분 프레스 부재(922)에 각각 전달되도록 라스트(920)와 발가락 부분 프레스 부재에 결합된다. 예시적인 양태에서, 발가락 부분 프레스 부재(922)는 원하는 압축력을 라스트(920)의 발가락 부분에 제공하는 기능을 한다고 예상된다. 이 발가락 부분 프레스 부재(922)는, 예시적인 양태에서, 밑창(124) 및/또는 유지부(123)로 라스트(920)에 의해 인가되는 압력을 보다 균일하게 할 수 있다. 보다 동일한 압력의 이러한 도포는, 특히 압력의 보다 균일한 도포가 밑창과 발가락 부분의 전체에 걸쳐서 일어날 때에 보다 일관된 바이트 라인 검출을 초래할 수 있다. 발가락 부분 프레스 부재(922)는 선택적이고 예시적인 양태에서 전체적으로 생략될 수 있다는 것이 예상된다.
도 1을 참조하면, 라스트(120)는 클램핑 시스템(134)에 의해 착탈 가능하게 고정될 수 있다. 클램핑 시스템(134)은 제1 클램프 부분(128)과 제2 클램프 부분(130)을 포함한다. 클램핑 시스템(134)은 라스트를 원하는 위치에 고정하고 유지하도록 라스트(120)의 일부에 압축력을 인가한다. 예컨대, 클램핑 시스템(134)은 정합된 형태에 있을 때에 밑창(124)에 의해 상방으로 인가되는 압축력에 저항하는 데에 효과적일 수 있다. 따라서, 라스팅된 갑피(122)는, 예시적인 양태에서, 수직 조립체에 의해 인가되는 정합 작동의 결과로서 수직 방향에서 최소한으로 변화된다. 또한, 클램핑 시스템(134)은 본 명세서에서 제공되는 하나 이상의 구성요소에 의해 인가되는 측방향 힘에 저항하는 데에 효과적일 수 있다. 또한, 클램핑 시스템(134)은 라스트(120)에 회전 운동을 허용하고 심지어는 회전 운동을 제공하도록 구성된다. 회전은 클램핑 시스템(134)와 작동적으로 결합되는 회전 구동 장치(132)에 의해 제공될 수 있다. 회전 구동 장치(132)는, 예시적인 양태에서, 모터 또는 다른 회전 구동 메카니즘일 수 있다. 회전은 라스팅된 갑피(122) 및/또는 밑창(124) 둘레에서 효과적인 3차원 표면 정보 캡쳐를 용이하게 하도록 원하는 속도로 제공될 수 있다. 특정한 배열 및 구성의 클램핑 시스템(134)이 제공되어 있지만, 임의의 수단이 본 명세서에서 제공되는 양태를 달성하도록 실행될 수 있다는 것이 예상된다.
회전 구동 장치(132)와 클램핑 시스템(134)은 상부면(136)에 의해 시스템(100)에서 지지된다. 상부면은 베이스 지지부(102)와 고정식으로 결합되는데, 이는 밑창(124) 상의 수직 시스템에 의해 인가되어 라스팅된 갑피(122)로 전달되는 압축력에 저항하는 데에 효과적이다. 유사하게, 상부면(136)은 회전 운동이 회전 구동 장치(132)로부터 클램핑 시스템(134)을 통해 라스트(120)로 전달되게 하는 회전 변화에 저항하는 데에 효과적이다.
시스템(100)은 또한 스캐닝 시스템을 포함한다. 스캐닝 시스템은 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 3차원 표면 데이터를 수집한다. 스캐닝 시스템에 라스팅된 갑피(122)가 일시적으로 결합되고 밑창(124)이 라스팅된 갑피(122)와 정합되도록 스캐닝 시스템에 위치 설정된다. 3차원 표면 데이터 세트를 캡쳐할 수 있는 임의의 구성의 구성요소(예컨대, 입체 영상 구성의 구성요소)가 예상되지만, 아래에서는 연산 장치와 함께 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 3차원 표면 정보를 캡쳐하기에 효과적인 촬상 장치(144) 및 오프셋 구조적 광원(142)에 관하여 설명된다.
오프셋 구조적 광원(142)과 촬상 장치(144) 간에 거리는 캐리어 부재(140)에 의해 유지된다. 도시된 스캐닝 시스템은 라스팅된 갑피(122) 및/또는 밑창(124) 등의 스캐닝될 하나 이상의 표면 상에 오프셋 구조적 광원(142)에 의해 투사되는 구조적 광 패턴에 의존한다. 오프셋 구조적 광원(142)은 스캐닝될 표면으로부터 일정 거리에서 정해진 기하학적 묘사를 제공하는 임의의 적절한 광원일 수 있다. 예컨대, 달리 비구조적인 광원으로부터 집속 슬릿형 광선을 생성하는 슬릿 램프(slit lamp)가 라스팅된 갑피(122) 상에 구조적 광 반사를 형성하는 데에 요구되는 투사광을 생성할 수 있다. 다른 광원 선택으로는 구조적 레이저 광원을 포함한다. 구조적 레이저 광원은 라인 등의 구조적 광 패턴으로 레이저광을 투사하는 레이저이다. 광의 이러한 구조적 라인은 광 평면이 구조적 레이저 광원으로부터 방출되게 하도록 모든 다른 방향에서 광의 분산을 속박하면서 특정한 평면에서의 광이 광원으로부터 부채 모양으로 퍼지게 함으로써 형성될 수 있다. 광 평면이 표면과 접촉할 때에, 집속 물성과 광이 형성하는 평면에 직교하는 제어된 폭을 갖는 레이저 라인 묘사가 형성된다.
3차원 데이터는 스캐닝된 표면(들) 상의 상이한 특징부들에 의해 반사될 때에 구조적 광(예컨대, 라인)의 변형을 기초로 하여 결정된다. 공지된 구조적 상태로부터의 변형은 촬상 장치에 의해 일련의 캡쳐된 이미지로 캡쳐된다. 구조적 광의 변형을 포함하는 일련의 이미지로부터 3차원 데이터를 식별하는 방법을 수행하기 위한 명령어가 저장된 컴퓨터 판독 가능 매체를 갖는 연산 장치가 사용되어 스캐닝된 표면의 점 클라우드(point cloud) 또는 다른 3차원 묘사를 결정한다. 당업계에 공지된 바와 같이, 변형된 구조 광을 갖는 캡쳐된 이미지는 스캐닝된 표면(들)의 점 클라우드 또는 다른 3차원 표면 묘사를 형성하도록 연산될 수 있다.
밑창(124) 및/또는 라스팅된 갑피(122)의 치수 데이터를 캡쳐하기 위하여, 물품들의 조합체가 촬상 장치(144)의 시야에서 회전된다. 추가적으로 및/또는 대안으로, 스캐닝 시스템은 슬라이드 레일(138)을 따라 측방향으로 이동할 수 있다. 예컨대, 캐리어 부재(140)가 슬라이드 레일(138)의 길이의 적어도 일부를 따라 측방향으로 이동할 수 있다는 것이 예상된다. 그 결과, 예시적인 양태에서, 구조적 광은 비젼 시스템의 측방향 이동 및/또는 밑창(124) 및/또는 라스팅된 갑피(122)의 회전 이동에 의해 밑창(124) 및/또는 라스팅된 갑피(122)의 상이한 부분을 가로질러 투사할 수 있다. 또한, 감지 조립체는 원하는 3차원 데이터 캡쳐를 달성하기 위하여 임의의 방향으로 그리고 라스팅된 갑피(122)와 합동하여 또는 라스팅된 갑피와 독립적으로 이동될 수 있다는 것이 예상된다. 예컨대, 감지 조립체의 원하는 심도를 유지하기 위하여 라스팅된 갑피(122)와 감지 조립체 사이에 비교적 일정한 거리가 유지될 수 있다는 것이 예상된다. 이렇게 유지된 심도는 라스팅된 갑피(122)가 둘레에서 회전하는 회전 축성으로부터 연장되는 반경 방향 라인을 따라 감지 조립체를 선형으로 이동시키도록 시스템을 구성함으로써 달성될 수 있다. 대안으로, 감지 조립체는, 예시적인 양태에서, 라스팅된 갑피 둘레에서 타원형 패턴으로 이동하도록 구성된다는 것이 예상된다.
도시되어 있지 않지만, 예시적인 양태에서, 도 8에서 보다 상세하게 설명되는 연산 장치는 시스템의 하나 이상의 구성요소에 작동적으로 연결되어 본 명세서에서 제공되는 양태를 달성하도록 정보 및/또는 데이터를 제어하거나 달리 처리할 수 있다.
도 2는 본 발명의 양태에 따른, 정합 해제된 형태에서 라스팅된 갑피의 제1의 3차원 데이터 세트와 밑창과 정합될 때에 라스팅된 갑피의 제2의 3차원 데이터 세트로부터 바이트 라인을 결정하는 분기 검출 프로세스의 간소화된 예시를 도시한다. 라스팅된 갑피 표면의 부분(212)을 나타내는 제1의 3차원 데이터 세트(202)의 그래프 도해가 제공되는데, 이는 3차원 데이터에서 식별되는 표면을 나타내는 점들의 더 큰 점 클라우드로부터 추출될 수 있다. 각각의 부분(212)은 제1 서브세트(208)와 제2 서브세트(209)와 같이 갑피의 표면을 나타내는 데이터의 서브세트를 포함할 수 있다. 예시적인 양태에서, 제1 서브세트(208)는 바이트 라인 위에 있는 라스팅된 갑피 표면의 일부를 나타내는 데이터이다. 달리 말해서, 제1 서브세트(208)는 정합될 때에 밑창에 의해 차단되지 않는 라스팅된 갑피 표면의 일부이다. 부분(212)이 선형 세그먼트로서 도시되어 있지만, 제공된 도해는 오직 예시를 위한 것이고 사실상 전혀 도시되지 않을 수 있으며, 대신에 연산 시스템의 프로세서 및 메모리의 내부적으로 치수 좌표로서 점 클라우드가 유지된다.
라스팅된 갑피 표면의 점(210)을 나타내는 제2의 3차원 데이터 세트(204)가 제공된다. 각각의 부분(210)은 제1 서브세트(208)와 제2 서브세트(214)와 같이 표면을 나타내는 데이터의 서브세트를 포함할 수 있다. 제3 서브세트(214)는 스캐닝되는 유지부의 일부를 나타내는 데이터이다. 제4 서브세트(215)는 스캐닝되는 밑창의 일부를 나타내는 데이터이다. 제2 서브세트(209)는, 제2 서브세트(209)에 의해 나타내는 표면이 스캐닝 프로세스 중에 차단될 수 있기 때문에, 오직 제2의 3차원 데이터 세트(204)에서만 맥락 목적을 위해 점선으로 도시되어 있다. 예시적인 양태에서, 제2 서브세트(209)에 의해 나타내는 표면들이 스캐닝 시스템으로부터 차단될 수 있기 때문에, 제2의 3차원 데이터 세트(204)에서의 데이터는 제2 서브세트(209)를 획정할 수 없다는 것이 예상된다. 제1 서브세트(208)와 제4 서브세트(215) 사이의 교차점에서, 점(216)이 형성된다.
점(216)은 라스팅된 갑피 상에 바이트 라인을 획정하는 데에 이용 가능한 점을 나타낸다. 그러나, 점(216)이 라스팅된 갑피 상의 어디에 있는지를 결정하기 위하여, 제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트(204) 간에 비교가 수행되어, 제2의 3차원 데이터 세트(204)의 어느 부분이 정합된 밑창을 나타내고 어느 부분이 라스팅된 갑피를 나타내는지를 식별한다. 예컨대, 제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트(204)는, 함께 정렬되고 등록될 때에, 제1 서브세트(208)에 대한 제2 서브세트(209)와 제4 서브세트(215)의 수렴을 결정하도록 분석될 수 있다. 수렴점(또는 대안으로 분기점)에서, 점(216)에서와 같이 바이트 라인의 점이 결정될 수 있다. 수렴이 설명되고 있지만, 또한 분기 또는 다른 비교 기법이 밑창을 나타내는 3차원 데이터의 부분을 추론하도록 실행되고 이 부분은 라스팅된 갑피 부분을 나타낸다.
바이트 라인을 결정하는 예는, 제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트(204)가 예컨대 점(216)에서 서로 분기할 때에, 라스팅된 갑피 표면으로부터 밑창 표면으로의 천이를 나타내는 표면의 변화가 이 점에서 결정되도록 제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트(204)를 형성하는 데이터 점들을 비교하는 것을 포함할 수 있다. 이 천이는, 예시적인 실시예에서, 바이트 라인 위치를 획정한다. 중첩된 데이터 점들이 서로 분기할 때에만, 표면 분기가 나타내는 특정한 크기(예컨대, 0.01 mm - 0.5 mm)의 결정이 이루어지도록, 3차원 데이터 세트에서의 가변성을 허용하는 공차가 실행될 수 있다.
제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트의 분석을 기초로 하여, 디지털 바이트 라인 데이터 세트(206)가 라인(218, 220)에 의해 도시된 바와 같이 결정될 수 있다. 제1 서브세트(208)와 제2 서브세트(209)는, 이 예시적인 양태에서, 디지털 바이트 라인(218, 220)을 예시하기 위한 목적으로 단순히 맥락 정보를 제공하도록 점선으로 도시되어 있다. 바이트 라인(218, 220)은 표현된 부분(212, 210)에서의 일련의 점들(216) 사이의 연결로부터 인터폴레이팅될 수 있다. 달리 말해서, 바이트 라인은 제1의 3차원 데이터 세트(202)와 제2의 3차원 데이터 세트(204) 사이의 차이점을 판별하는 것을 기초로 하여 결정될 수 있고, 이어서 이들 결정된 차이점은 데이터에 의해 캡쳐된 라스팅된 갑피에 대한 바이트 라인의 위치를 식별하도록 인터폴레이션(interpolation) 기법을 이용하여 사용될 수 있다. 전술한 바와 같이, 점(216)에서 제1 서브세트(208)로부터 제2 서브세트(209)와 제4 서브세트(215)로의 분기는 분석에 의해 점(216) 및 관련된 바이트 라인 부분의 위치를 식별한다.
도 3은 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피가 유지부(123)에 의해 지지되는 밑창과 정합된 형태로 있는 도 1로부터의 시스템(100)의 확대도를 도시한다. 전술한 바와 같이, 라스팅된 갑피(122)는 수직 액츄에이터(108)에 의해 구동되는 수직 시스템의 수직 이동을 통해 밑창(124)과 정합된 또는 결합된 형태로 배치될 수 있다. 이 수직 위치 결정의 결과로서, 지지판(104)은 상부면(103) 위의 높이(310)로 연장된다. 이후에 도 4에서 설명되는 바와 같이, 예시적인 양태에서, 지지판 또는 대안적인 구성요소[예컨대, 밑창(124)] 사이의 높이는 라스팅된 갑피(122)와 밑창이 정합 해제된 형태에 있을 때에 감소된다.
라스팅된 갑피(122) 및 밑창(124)과 교차하여 구조적 광 반사(304)를 형성하는 광선(302)을 투사하는 광원(142)이 도시되어 있다. 구조적 광 반사는, 예시적인 양태에서, 라스팅된 갑피(122)로부터 반사되는 구조적 광을 나타내는 제1 서브세트(308), 밑창(124)으로부터 반사되는 광을 나타내는 제2 서브세트(306), 및 유지부(123)로부터 반사되는 광을 나타내는 제3 서브세트(307) 등의 다수의 서브세트들을 포함할 수 있다. 설명 목적 및 예시 목적을 위해, 제1 서브세트(308), 제2 서브세트(306), 및 제3 서브세트(307)는 도 2의 제1 서브세트(208), 제3 서브세트(214), 및 제4 서브세트(215)로서 각각 식별되는 데이터를 초래할 수 있다고 제시된다.
촬상 장치(144)는 구조적 광이 반사되는 표면을 나타내는 3차원 데이터 세트를 결정하는 데에 사용하기 위한 구조적 광 반사(304)를 캡쳐하도록 구성된다는 것이 예상된다. 게다가, 전술한 바와 같이, 라스팅된 갑피(122) 및 정합된 밑창(124)이 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 상이한 점들을 가로질러 구조적 광 반사(304)의 이미지를 캡쳐하도록 촬상 장치(144)의 시야 내에서 회전되어 스캐닝된 요소들의 결합을 나타내는 체적 표현을 형성한다는 것이 예상된다. 또한, 스캐닝 시스템은 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124) 표면들 중 하나 이상의 부분을 캡쳐하도록 측방향으로 이동할 수 있다는 것이 예상된다.
도 4는 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 갑피(122)가 밑창(124)과 예시적인 정합 해제된 형태로 있는 도 1로부터의 시스템(100)의 확대도를 도시한다. 도시된 바와 같이, 유지부(123)에 의해 유지되는 밑창(124)은 라스팅된 갑피(122)에 대해 하강되어, 상부면(103)과 지지판(104) 사이의 높이(311)가 전술한 도 3의 높이(310)로부터 감소된다. 바이트 라인은 높이(310)보다 작은 높이(311)를 갖는 제2 데이터 세트를 이용히여 결정될 수 있다는 것이 예상된다. 도 4의 특정한 예에서, 밑창(124)은 라스팅된 갑피(122)의 바닥부(404)를 완전히 노출시키도록 하강된다. 그러나, 위에서 제시된 바와 같이, 시스템은 또한 바닥부(404)의 일부가 밑창(124)으로부터 노출되지 않을 때에도 바이트 라인을 결정할 수 있다. 바닥부(404)는 정합된 형태에 있을 때에 밑창(124)에 의해 차단되는 임의의 부분으로서 정의될 수 있다. 따라서, 바닥부(404)가 라스팅된 갑피(122)와 밑창(124)의 정합된 형태의 교차점 아래에서 연장되는 부분이기 때문에 바이트 라인(406)이 예시 목적을 위해 도 4에 도시되어 있고, 이 바이트 라인은 의도적으로 바이트 라인 위치와 일치한다.
스캐닝 시스템이 광선(302)을 투사하는 구조적 광원(142)으로서 도시되어 있는데, 광선은 라스팅된 갑피(122)로부터 반사하는 광 반사 라인(309)을 발생시킨다. 전술한 바와 같이, 촬상 장치(144)는 광 반사 라인(309)이 라스팅된 갑피(122)의 표면(들)으로부터 반사될 때에 광 반사 라인(309)을 캡쳐하도록 구성된다. 라스팅된 갑피(122)는 광 반사 라인(309)을 라스팅된 갑피(122) 상의 상이한 위치에서 캡쳐하는 것을 용이하게 하도록 촬상 장치(144)의 시야 내에서 회전될 수 있다. 이 예에서, 높이(311)가 라스팅된 갑피를 수용하도록 구성된 공동(402)으로부터 라스팅된 갑피를 완전히 떨어져 있게 하는 값일 때에, 라스팅된 갑피(122)의 회전은 또한 밑창 또는 수직 시스템의 다른 구성요소의 회전을 야기하지 않는다. 또한 이미 제공된 바와 같이, 스캐닝 시스템은, 예시적인 양태에서, 라스팅된 갑피(122) 상에 다양한 부분의 스캐닝을 용이하게 하도록 측방향으로 이동될 수 있다.
도 5는 본 발명의 양태에 따른, 라스트(502) 상에 라스팅된 갑피(504)와 정합되는 밑창(506)을 유지하는 유지부(507)를 지지하는 회전판(508)의 평면도를 도시한다. 유지부(507)의 특정한 형상 및 크기가 도 5에 도시되어 있지만, 정합된 형태에 있을 때에 라스팅된 갑피(504)와 밑창(506) 사이의 교차점이 원하는 바이트 라인의 위치에서 발생하도록 임의의 크기 및 형상의 유지부(507)가 실행될 수 있다는 것이 예상된다. 따라서, 임의의 크기 또는 형상의 유지부(507)가 사용되거나 본 발명의 양태에서 완전히 생략될 수 있다는 것이 예상된다.
도 6은 본 발명의 양태에 따른, 예시적인 스캐닝 시스템(600)에 관한 회전판(508), 유지부(507), 및 밑창(506)의 평면도를 도시한다. 전술한 바와 같이, 스캐닝 시스템은 커플링 부재(604)에 의해 상대 위치에 유지되는 촬상 장치(606)와 구조적 광원(608)을 포함할 수 있다. 커플링 부재는 밑창(506) 및/또는 라스팅된 유닛의 다양한 관점이 스캐닝 시스템(600)에 의해 캡쳐될 수 있도록 슬라이드 레일(602) 상에서 측방향 이동을 가능하게 할 수 있다. 잠재적인 이동 방향을 나타내는 측방향 화살표가 슬라이드 레일(602) 상에 도시되어 있다. 또한, 회전판이 회전되어 다표면 스캔을 제공하거나 가능하게 할 수 있다는 것이 예상된다. 도 6의 곡선형 화살표에 의해 대략적인 회전 방향이 도시되어 있다.
전하 결합 소자(CCD; charge-coupled device) 또는 다른 카메라와 같은 촬상 장치가 하나 이상의 표면으로부터, 예컨대 밑창 및/또는 라스팅된 갑피로부터 반사된 구조적 광을 캡쳐하는 데에 효과적이다. 촬상 장치는 촬상 장치에 의해 캡쳐될 수 있는 필드를 획정하는 시야(612)와 같은 시야를 갖는다. 구조적 광원은 또한 밑창 및/또는 라스팅된 갑피 등의 하나 이상의 표면 상의 반사로서 수직선을 형성하는 데에 효과적인 광선(610) 등의 구조적 광선을 출력하도록 구성된다.
도 7은 본 발명의 양태에 따른, 라스팅된 신발 갑피 상의 바이트 라인을 결정하는 방법(700)을 나타내는 흐름도를 도시한다. 특정한 순서의 단계들이 제시되고 설명되어 있지만, 대안적인 순서가 본 명세서에 제공되는 양태들의 범위로부터 벗어남이 없이 실행될 수 있다. 제1 블럭(710)에서, 단계는 라스팅된 갑피를 밑창과 정합시키는 것은 제시한다. 전술한 바와 같이, 라스팅된 갑피와 밑창의 정합은 밑창과 라스팅된 갑피 사이에 생성되는 에지가 원하는 바이트 라인을 회정하도록 라스팅된 갑피 또는 밑창 중 적어도 하나를 원하는 관계로 이동시키는 것을 포함할 수 있다. 예시적인 양태에서, 밑창에는 라스팅된 갑피의 일부를 수용하도록 구성되는 수용 공동이 형성된다. 예시적인 양태에서, 밑창이 수용하도록 구성되는 라스팅된 갑피의 부분은 결과적인 신발의 형성 시에 밑창 조립체에 의해 덮이게 되는 라스팅된 갑피의 부분이다. 달리 말해서, 밑창은 신발 구성의 완료 시에 신발 밑창 조립체에 의해 덮이도록 된 라스팅된 갑피의 부분을 수용하도록 구성되는 수용부를 갖게 구성된다.
블럭(712)에서, 정합된 라스팅된 갑피와 적어도 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 것을 포함하는 단계가 도시되어 있다. 또한, 전술한 도 3에 도시된 바와 같이, 예시적인 양태에서, 정합된 라스팅된 갑피와 적어도 밑창을 나타내는 3차원 데이터는 라스팅된 갑피, 밑창, 및 유지부를 나타내는 데이터를 포함할 수 있다. 3차원 데이터의 수집은 다중 카메라 입체 영상 장치 등의 다양한 수단에 의해 달성될 수 있다. 게다가, 그리고 전술한 바와 같이, 구조적 광 반사를 캡쳐하는 촬상 장치(예컨대, 감지 장치)에 의해 스캐닝될 표면으로부터 반사되는 구조적 광의 사용을 통해 캡쳐될 수 있다는 것이 예상된다. 예상되는 추가의 감지 장치는, 제한하지 않지만, CCD, 카메라, 초음파 검사법(sonography), 광도계, 전파 시간(time-of-flight), 및 기타 공지된 3차원 스캐닝 기법을 포함한다. 데이턴은 정합된 라스팅된 갑피와 밑창을 고정된 스캐닝 시스템의 시야 내에서 회전시킴으로써 수집될 수 있다. 대안으로, 스캐닝 시스템은 고정식의 정합된 라스팅된 갑피와 밑창 둘레에서 회전하거나 이동할 수 있다는 것이 예상된다. 또한, 정합된 라스팅된 갑피와 밑창은 특정한 표면 부분을 노출시키도록 원하는 정도 회전될 수 있고, 이어서 스캐닝 시스템이 노출된 표면 부분을 캡쳐하도록 선형 경로 등으로 이동될 수 있다는 것이 예상된다. 요소들의 결합체 주변 둘레에서 바이트 라인이 결정될 수 있도록 정합된 라스팅된 갑피와 밑창의 다면 스캔을 캡쳐하기 위해 다른 조합들 또는 기법들이 예상된다.
블럭(714)에서, 정합 해제된 형태로 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 재배치하는 단계가 도시되어 있다. 재배치는 밑창을 라스팅된 갑피로부터 멀리 이동시키는 것, 라스팅된 갑피를 밑창으로부터 멀리 이동시키는 것, 또는 라스팅된 갑피와 밑창 모두를 정합된 형태로부터 멀리 이동시키는 것을 포함할 수 있다. 정합 해제된 형태는 스캐닝 시스템의 시야로부터 라스팅된 갑피의 더 작은 부분(있다면)이 차단되도록 된 밑창과 라스팅된 갑피의 배열이다. 예컨대, 밑창이 라스팅된 갑피로부터 멀리 하강되는 동안에 라스팅된 갑피가 일관된 수직 위치에서 유지되면, 정합 해제된 형태에서의 3차원 데이터가 정합된 형태에서의 3차원 데이터과 상이한 표면 정의를 제공하도록 라스팅된 갑피의 더 큰 부분이 스캐닝 시스템에 대해 노출된다. 예시적인 양태에서, 데이터에 의해 제공되는 표면 정의들에서의 이러한 차이는 라스팅된 갑피와 밑창의 상부 에지의 교차점에 의해 제공되는 바이트 라인의 위치를 추론하도록 이용될 수 있다.
블럭(716)에서, 정합 해제된 라스팅된 갑피를 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 단계가 제공된다. 블럭(712)과 관련하여 설명된 바와 같이, 다양한 스캐닝 시스템이 예상된다. 예컨대, 예시적인 양태에서, CCD 등의 감지 장치와 합동하여 구조적 광원이 스캐닝되는 물품에 대해 정적 위치에 유지될 수 있고 및/또는 스캐닝 시스템이, 예컨대 선형으로, 원형으로, 또는 타원형으로 이동될 수 있다.
블럭(718)에서, 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피에 대해 바이트 라인을 결정하는 단계가 제공된다. 본 명세서에 제공된 바와 같이, 2개의 데이터 세트를 기초로 하여 바이트 라인 위치를 결정하기 위해 다수의 기법들이 사용될 수 있다. 예컨대, 정합된 3차원 데이터는, 정합 해제된 3차원 데이터, 예컨대 양쪽 데이터 세트에 공통인 라스팅된 갑피의 일부를 정렬시키는 것과 함께 등록될 수 있다. 데이터의 등록 후에, 2개의 데이터 세트들에서의 분기가 라스팅된 갑피에 대한 밑창의 재배치에 의해 야기되는 차이를 식별할 수 있다. 연산 시스템은, 정합 해제된 3차원 데이터 세트에서 상이한, 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에서 정합된 3차원 데이터 세트에 형성된 에지가 바이트 라인 위치를 나타내는 추가 정보를 이용하여 데이터 세트를 분석할 수 있다. 달리 말해서, 연산 장치는 정합될 때에 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에 의해 형성된 에지가 바이트 라인을 나타내는 곳을 결정할 수 있다. 이미 제공된 바와 같이, 대안적인 순서가 방법(700)에서 제공된 하나 이상의 단계와 달리 발생할 수 있다. 예컨대, 예시적인 양태에서, 블럭(716, 718)에 의해 나타낸 단계는 블럭(710, 712)에 의해 나타낸 단계 전에 발생할 수 있다.
도 8에는 본 발명의 양태를 실행하기 위한 예시적인 연산 작동 환경이 도시되고 전체적으로 연산 장치(800)로서 지정되어 있다. 예컨대, 본 명세서에 제공된 양태는 바이트 라인 위치를 결정하기 위하여 3차원 표면 데이터를 저장하고 분석하도록 연산 장치를 이용하는 것이 예상된다. 연산 장치(800)는 적절한 연산 시스템의 일례이고, 본 발명의 사용 범위 또는 기능에 관한 임의의 제한을 제시하려는 의도는 없다. 연산 장치(800)는 도시된 구성요소들의 임의의 하나 또는 조합에 관한 임의의 종속 또는 요건을 갖는 것으로 해석되어서는 안된다.
본 발명은 컴퓨터나 다른 기계, 예컨대 프로그램 가능 로직 제어기("PLC")(programmable logic controller)에 의해 실행되는 프로그램 컴포넌트 등의 컴퓨터 실행 가능 명령어를 비롯한 기계 이용 가능 명령어 또는 컴퓨터 코드의 일반적인 맥락에 설명될 수 있다. 일반적으로, 루틴, 프로그램, 대상, 컴포넌트, 데이터 구조 등을 비롯한 프로그램 컴포넌트는 특별한 작업을 수행하거나 특별한 관념적인 데이터 타입을 실행하는 코드를 지칭한다. 본 발명의 실시예는, 휴대용 디바이스, 소비자 전자기기, 범용 컴퓨터, 개인용 컴퓨터, 전문 연산 장치, PLC 등을 비롯한 다양한 시스템 구성에서 실시될 수 있다. 본 발명의 실시예는 또한 작업이 통신 네트워크를 통해 연결되는 원격 처리 디바이스에 의해 수행되는 분산 연산 환경에서 실시될 수 있다.
도 8을 계속 참조하면, 연산 장치(800)는 직접적으로 또는 간접적으로 아래의 디바이스들, 즉 메모리(812), 하나 이상의 프로세서(814), 하나 이상의 프리젠테이션 컴포넌트(816; presentation component), 입력/출력(I/O) 포트(818), I/O 컴포넌트(820), 및 예시적인 전력 공급원(822)을 연결하는 버스(810)를 포함한다. 버스(110)는 하나 이상의 버스들(어드레이스 버스, 데이터 버스, 또는 이들의 조합 등)이 있을 수 있다는 것을 나타낸다. 도 8의 다양한 블럭들은 명확화를 위해 선으로 도시되어 있지만, 실제로는, 다양한 구성요소를 묘사하는 것이 그렇게 명확하지 않고, 은유적으로 선은 보다 정확하게는 애매하고 불분명할 것이다. 예컨대, 디스플레이 장치 등의 프리젠테이션 컴포너트가 I/O 컴포넌트(820)인 것으로 고려할 수 있다. 또는 프로세서가 메모리를 갖는다. 본 발명의 발명자는 그러한 것이 당업계의 본질이고, 도 8의 다이어그램이 본 발명의 하나 이상의 실시예와 관련하여 사용될 수 있는 예시적인 연산 장치를 단순히 예시한다는 점을 인식하였다. "워크스테이션", "서버", "랩탑", "휴대용 장치", "태블릿", "전화기", "노드", "PLC" 등과 같은 카테고리들 간에 차이점은 없고, 모두 도 8의 범위 내에서 예상되며 "컴퓨터" 또는 "연산 장치"를 지칭한다. 특히, 본 발명의 양태는 전체적으로 또는 부분적으로 분산 연산 시스템의 하나 이상의 컴포넌트에서 수행되는 것으로 예상된다. 분산 연산 시스템은 한번에 원하는 레벨의 연산 프로세스를 처리하도록 조정되는 프로세서, 네트워크, 및 메모리를 포함할 수 있다는 것이 예상된다. 따라서, 연산 장치는 또한 시간 및/또는 요구에 의해 동역학적으로 변화하는 분산 연산 시스템의 연산 환경을 지칭할 수 있다.
연산 장치(800)는 통상적으로 다양한 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함한다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 연산 장치(800)에 의해 엑세스될 수 있고 휘발성 및 비휘발성 매체와, 착탈형 및 비착탈형 매체를 포함하는 임의의 이용 가능한 매체일 수 있다. 일례로서, 그리고 비제한적으로, 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터 저장 매체 및 연산 매체를 포함할 수 있다. 컴퓨터 저장 매체는 컴퓨터 판독 가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 다른 데이터 등의 정보의 저장을 위한 임의의 방법 또는 기술에서 실시되는 휘발성 및 비휘발성 매체와, 착탈형 및 비착탈형 매체를 모두 포함한다.
컴퓨터 저장 매체는 RAM, ROM, EEPROM, 플래시 메모리 또는 다른 메모리 기술, CD-ROM, 디지털 다기능 디스크(DVD; digital versatile disk) 또는 다른 광 디스크 스토리지, 자기 카세트, 자기 테이프, 자기 디스크 스토리지 또는 다른 자기 저장 장치를 포함한다. 컴퓨터 저장 매체는 전파되는 데이터 신호를 포함하지 않는다.
통신 매체는 통상적으로 컴퓨터 판독 가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈, 또는 반송파(carrier wave)나 다른 전송 메카니즘 등의 변조 데이터 신호의 다른 데이터를 구현하고 임의의 정보 전달 매체를 포함한다. "변조 데이터 신호"라는 용어는 특징 세트들 중 하나 이상을 갖거나 신호 내의 정보를 인코딩하는 방식으로 변화되는 신호를 의미한다. 일례로서, 그리고 비제한적으로, 통신 매체는 유선 네트워크 또는 직접 유선 연결부 등의 유선 매체와, 음향, RF, 적외선 및 다른 무선 매체 등의 무선 매체를 포함한다. 전술한 것들 중 임의의 조합이 또한 컴퓨터 판독 가능 매체의 범위 내에 포함되어야 한다.
메모리(812)는 휘발성 및/또는 비휘발성 메모리 형태의 컴퓨터 저장 매체를 포함한다. 메모리(812)는 착탈형, 비착탈형, 또는 이들의 조합일 수 있다. 예시적인 메모리는 비일시적, 솔리드 상태 메모리, 하드 드라이브, 광디스크 드라이브 등을 포함한다. 연산 장치(800)는 버스(810), 메모리(812) 또는 I/O 컴포넌트(820) 등의 다양한 엔터티로부터의 데이터를 판독하는 하나 이상의 프로세서(814)를 포함한다. 프리젠테이션 컴포넌트(들)(816)는 사용자 또는 다른 디바이스에게 데이터 표시를 제공한다. 예시적인 프리젠테이션 컴포넌트(816)는 디스플레이 디바이스, 스피커, 인쇄 컴포넌트, 진동 컴포넌트 등을 포함한다. I/O 포트(818)는 연산 장치(800)가 일부는 내장될 수 있는 I/O 컴포넌트(820)를 비롯한 다른 디바이스들에 논리적으로 연결되게 한다. 예시적인 I/O 컴포넌트(820)는 마이크로폰, 조이스틱, 게임 패드, 위성 접시, 스캐너, 프린터, 무선 장치 등을 포함한다.
전술로부터, 본 발명은 명백하고 구조 고유인 다른 이점과 함께 전술한 모든 목표 및 목적을 잘 달성하도록 된 것이라는 점이 확인된다.
특정한 특징 및 하위 조합이 유용하고 다른 특징 및 하위 조합을 참조하는 일 없이 채용될 수 있다는 점이 이해될 것이다. 이는 청구범위에 의해 예상되고 그 범주 내에 있다.
많은 가능한 실시예가 본 발명의 범위로부터 벗어남이 없이 본 발명으로 이루어질 수 있으므로, 본 명세서에 기재된 또는 첨부 도면에 도시된 모든 주제는 제한의 관점이 아니라 예시적으로 해석되어야 한다는 점이 이해될 것이다.

Claims (20)

  1. 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법으로서, 라스팅된 갑피를 라스팅 갑피를 위해 구성된 밑창과 정합시키는 단계; 정합된 3차원 데이터로서 정합된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 단계로서, 상기 정합된 3차원 데이터는 라스팅된 갑피로부터 밑창으로의 천이에 의해 획정되는 에지를 적어도 포함하고, 상기 에지는 라스팅된 갑피 상에 바이트 라인을 식별하는 것인 단계; 정합 해제된 형태로 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 재배치하는 단계; 정합 해제된 3차원 데이터로서 정합 해제된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 단계; 및 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피에 대해 바이트 라인을 결정하는 단계를 포함하고,
    상기 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터를 기초로 하여 라스팅된 갑피에 대해 바이트 라인을 결정하는 단계는 상기 정합된 3차원 데이터와 상기 정합 해제된 3차원 데이터를 비교하는 것에 의해 상기 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터 사이의 분기를 식별하는 것을 포함하는 것인, 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 정합 해제된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하기 위한 스캐닝 시스템에 라스팅된 갑피를 일시적으로 결합시키고 밑창을 라스팅된 갑피와 정합되도록 스캐닝 시스템에 위치 설정하는 단계
    를 더 포함하는 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 라스팅된 갑피와 밑창의 정합은 라스팅된 갑피와 밑창 사이에 인가된 압력을 이용하여 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 이동시켜 라스팅된 갑피와 밑창 사이에 원하는 물리적 상호 작용을 유지하는 단계를 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터를 수집하는 단계는, 정합된 라스팅된 갑피와 밑창에 구조적 광을 투사하는 단계와, 정합된 라스팅된 갑피와 밑창으로부터 반사된 구조적 광 부분을 감지 장치를 이용하여 캡쳐하는 단계를 더 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터를 수집하는 단계는 구조적 광과 감지 장치를 정합된 라스팅된 갑피와 밑창에 대해 이동시키는 단계를 더 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터를 수집하는 단계는 정합된 라스팅된 갑피와 밑창을 회전시켜 상이한 표면 부분을 구조적 광과 감지 장치에 대해 노출시키는 단계를 더 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  7. 제4항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터를 수집하는 단계는 정합된 라스팅된 갑피와 밑창이 고정되어 있는 동안 구조적 광과 감지 장치를 이동시키는 단계를 더 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  8. 제4항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터를 수집하는 단계는 구조적 광과 감지 장치를 정합된 라스팅된 갑피와 밑창 둘레에서 회전시키는 단계를 더 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 재배치하는 단계는 라스팅된 갑피를 재배치하지 않고 밑창을 라스팅된 갑피로부터 멀리 이동시키는 단계를 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 재배치하는 단계는 밑창을 재배치하지 않고 라스팅된 갑피를 밑창으로부터 멀리 이동시키는 단계를 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  11. 제1항에 있어서, 상기 정합 해제된 3차원 데이터의 수집은 구조적 광원과 감지 장치를 라스팅된 갑피를 따라 타원형 관계로 이동시키는 단계를 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  12. 제1항에 있어서, 상기 바이트 라인을 결정하는 단계는, 라스팅된 갑피의 바이트 라인 위치를 식별하도록 상기 정합된 3차원 데이터가 정합 해제된 3차원 데이터로부터 분기하는 점을 식별하는 단계를 포함하는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 정합된 3차원 데이터는 정합된 경우에 상기 라스팅된 갑피와 밑창 사이의 에지에서 상기 정합 해제된 3차원 데이터로부터 분기되는 것인 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법.
  14. 바이트 라인 결정 시스템으로서, 라스팅된 갑피를 회전시키도록 구성된 회전 메카니즘; 밑창을 라스팅된 갑피에 대해 정합하고 밑창을 라스팅된 갑피로부터 정합 해제하도록 구성된 정합 메카니즘으로서, 정합 메카니즘은 회전 메카니즘이 둘레에서 회전하는 축선과 평행한 방향에서 선형으로 이동하도록 구성되는 것인 정합 메카니즘; 구조적 광원과 감지 장치를 포함하는 감지 조립체; 및 감지 조립체에 의해 수집되고 연산 장치에 의해 정합된 관계에서는 라스팅된 갑피와 밑창에 대해 그리고 정합 해제된 관계에서는 라스팅된 갑피에 대해 처리되는 3차원 데이터들 사이의 분기를 기초로 하여 라스팅된 갑피의 바이트 라인을 결정하도록 된 프로세서와 메모리를 포함하는 연산 장치를 포함하고, 상기 분기는 상기 3차원 데이터들의 비교에 의해 식별되는 것인 바이트 라인 결정 시스템.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 회전 메카니즘의 회전 또는 상기 감지 조립체의 이동을 제어하도록 된 제어기
    를 더 포함하는 바이트 라인 결정 시스템.
  16. 제15항에 있어서, 상기 제어기는 제어기가 감지 조립체에게 명령하여 선형 거리를 이동시킨 후에 회전 메카니즘에게 명령하여 라스팅된 갑피를 정해진 회전 정도만큼 회전시키는 것인 바이트 라인 결정 시스템.
  17. 제14항에 있어서, 상기 회전 메카니즘은 해제 가능한 라스트 유지부를 포함하고, 상기 라스트 유지부는 회전 메카니즘과 정합 메카니즘의 이동 중에 정해진 상대 위치에 라스팅된 갑피를 유지하도록 구성되는 것인 바이트 라인 결정 시스템.
  18. 제14항에 있어서, 상기 구조적 광원은 레이저이고 감지 장치는 전하 결합 소자인 것인 바이트 라인 결정 시스템.
  19. 제14항에 있어서, 상기 프로세서와 메모리에 의해 수행될 때에 상기 연산 장치가 방법을 수행하게 하는 명령어가 포함된 컴퓨터 판독 가능 메모리를 더 포함하고, 상기 방법은, 정합된 관계에서 라스팅된 갑피와 밑창의 정합된 3차원 데이터 표현을 캡쳐하는 단계; 밑창과 정합 해제된 관계에서 라스팅된 갑피의 정합 해제된 3차원 데이터 표현을 캡쳐하는 단계; 및 상기 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터의 분기를 기초로 하여 라스팅된 갑피의 바이트 라인을 결정하는 단계를 포함하고, 상기 분기는 정합된 관계에서 라스팅된 갑피와 밑창의 교차점에서 발생하는 것인 바이트 라인 결정 시스템.
  20. 프로세서와 메모리를 갖는 연산 장치에 의해 실행될 때에, 라스팅된 신발 갑피 상에 바이트 라인을 결정하는 방법을 연산 장치가 수행하게 하는 명령어가 포함된 컴퓨터 판독 가능 매체로서, 상기 방법은, 정합된 3차원 데이터로서 정합된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 단계로서, 상기 정합된 3차원 데이터는 라스팅된 갑피로부터 밑창으로의 천이에 의해 획정되는 에지를 적어도 포함하고, 상기 에지는 라스팅된 갑피 상에 바이트 라인을 식별하는 것인 단계; 정합 해제된 3차원 데이터로서 정합 해제된 라스팅된 갑피와 밑창을 나타내는 3차원 데이터를 수집하는 단계; 및 상기 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터를 비교하는 것에 의해 상기 정합된 3차원 데이터와 정합 해제된 3차원 데이터 사이의 분기를 식별하는 것을 기초로 하여 라스팅된 갑피에 대해 바이트 라인을 결정하는 단계를 포함하는 것인 컴퓨터 판독 가능 매체.
KR1020167022885A 2014-01-22 2015-01-22 신발 바이트 라인의 분기 검출 KR101921804B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/161,283 US10524544B2 (en) 2014-01-22 2014-01-22 Divergence detection of a shoe bite line
US14/161,283 2014-01-22
PCT/US2015/012483 WO2015112732A1 (en) 2014-01-22 2015-01-22 Method, system and computer-readable media for determination of a shoe bite line by divergence detection

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160113536A KR20160113536A (ko) 2016-09-29
KR101921804B1 true KR101921804B1 (ko) 2018-11-23

Family

ID=52469316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167022885A KR101921804B1 (ko) 2014-01-22 2015-01-22 신발 바이트 라인의 분기 검출

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10524544B2 (ko)
EP (1) EP3096640B1 (ko)
KR (1) KR101921804B1 (ko)
CN (2) CN104783411B (ko)
DE (1) DE202015009221U1 (ko)
MX (1) MX2016009521A (ko)
TW (1) TWI589243B (ko)
WO (1) WO2015112732A1 (ko)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8958901B2 (en) 2011-11-18 2015-02-17 Nike, Inc. Automated manufacturing of shoe parts
US10552551B2 (en) * 2011-11-18 2020-02-04 Nike, Inc. Generation of tool paths for shore assembly
US9451810B2 (en) 2011-11-18 2016-09-27 Nike, Inc. Automated identification of shoe parts
US8755925B2 (en) 2011-11-18 2014-06-17 Nike, Inc. Automated identification and assembly of shoe parts
US8849620B2 (en) 2011-11-18 2014-09-30 Nike, Inc. Automated 3-D modeling of shoe parts
US10524544B2 (en) * 2014-01-22 2020-01-07 Nike, Inc. Divergence detection of a shoe bite line
DE102016221676B4 (de) * 2016-11-04 2023-05-25 Adidas Ag Verfahren und Vorrichtung zum Verbinden eines Sohlenelements mit einem Schuhoberteilelement
TWI705772B (zh) * 2017-07-13 2020-10-01 達明機器人股份有限公司 鞋子貼合線的自動定位方法
CN108308791A (zh) * 2018-03-22 2018-07-24 泉州市索菲尼亚智能科技有限公司 一种用于制鞋的增压压合机及鞋帮鞋底压合方法
TWI801808B (zh) 2018-05-31 2023-05-11 荷蘭商耐克創新有限合夥公司 組裝鞋幫與鞋底單元的方法與在鞋幫上自動拋光的方法
US11172734B2 (en) * 2018-11-28 2021-11-16 Electronics And Telecommunications Research Institute Gaging apparatus and method for automation of shoemaking process
IT201900000157A1 (it) * 2019-01-08 2020-07-08 Vibram Spa Metodo relativo all'applicazione di una suola ottenuta ripiegando i bordi di una suola non rifilata piatta su una tomaia per la realizzazione di una calzatura e calzatura così ottenuta
TWI712988B (zh) * 2019-01-23 2020-12-11 愛柏威股份有限公司 產生接合線資料的方法及接合線資料產生系統
WO2021106059A1 (ja) * 2019-11-26 2021-06-03 株式会社アシックス 靴用加工システム、および靴用加工システムの制御方法
CN111567989B (zh) * 2020-05-25 2022-03-04 泉州华中科技大学智能制造研究院 一种用于测量鞋子刷胶边缘胶线的装置及其测量方法
CN112378848B (zh) * 2020-11-05 2022-10-28 温州市质量技术检测科学研究院 一种鞋帮底剥离系统
CN114454051B (zh) * 2020-11-06 2023-05-30 江苏安保来防护科技有限公司 一种安全鞋鞋底打磨装置
CN113197395B (zh) * 2021-04-30 2022-03-11 泉州华中科技大学智能制造研究院 一种鞋面自动成型生产方法及生产线
CN113446961A (zh) * 2021-07-03 2021-09-28 詹镇远 一种视觉扫描三维粘合面确定加工轨迹的方法和设备
US11896089B2 (en) * 2022-01-12 2024-02-13 Teng-Jen Yang Test fixture for soles
CN114788602B (zh) * 2022-05-07 2023-10-20 东华大学 一种调整鞋帮涂胶轨迹的方法、存储设备和鞋底涂胶机器人

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10343620A1 (de) * 2003-09-20 2005-04-28 Leibrock Maschinenfabrik Im Un Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen der zum Rauen bestimmten Seitenbereiche von auf Leisten aufgebrachten Schuhschäften
US20130132038A1 (en) * 2011-11-18 2013-05-23 Nike, Inc. Automated 3-D Modeling Of Shoe Parts

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1034362B (de) * 1955-10-26 1958-07-17 Hoechst Ag Verfahren zur Herstellung von niedermolekularem Polytrifluorchloraethylen
FR2435220A1 (fr) 1978-09-06 1980-04-04 Bonnet Pierre Installation pour la production de chaussures
DE3341118C1 (de) 1983-11-12 1984-08-16 Internationale Schuh-Maschinen Co Gmbh, 6780 Pirmasens Verfahren und Vorrichtung zum Auftragen von fließfähigem Klebstoff, insbesondere auf die Brandsohle und/oder den über die Brandsohle vorstehenden Zwickrand einer Schuheinheit
DE3815013A1 (de) 1988-05-04 1989-11-16 Kloeckner Ferromatik Desma Verfahren und vorrichtung zum anformen von gegebenenfalls mehrschichtigen sohlen an schuhschaefte
DE19721543A1 (de) 1997-05-23 1998-11-26 Trl Automatisierungstechnik Un Vorrichtung zum Aufrauhen der Seitenkante an Schuhen
KR20010090191A (ko) * 2000-03-23 2001-10-18 이건우 인터넷을 이용한 주문형 신발 제작 시스템 및 방법
CN101061897B (zh) 2006-04-27 2011-06-29 翁清铿 鞋模用三维测量机
US10552551B2 (en) 2011-11-18 2020-02-04 Nike, Inc. Generation of tool paths for shore assembly
CN103284407B (zh) 2012-02-23 2014-12-24 欧利速精密工业股份有限公司 鞋底黏着剂自动化喷洒系统及其喷洒方法
CN102742977B (zh) 2012-07-02 2015-06-03 东莞职业技术学院 基于图像处理的涂胶路径控制方法
CN202907979U (zh) 2012-10-29 2013-05-01 东莞市意利自动化科技有限公司 用于鞋大底的视觉扫描系统
TWI619443B (zh) 2013-11-19 2018-04-01 耐克創新有限合夥公司 用於處理鞋類物品之部分組裝之零件的系統、用於生成用於處理部分組裝之鞋類物品的工具路徑之系統及方法
US10524544B2 (en) * 2014-01-22 2020-01-07 Nike, Inc. Divergence detection of a shoe bite line

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10343620A1 (de) * 2003-09-20 2005-04-28 Leibrock Maschinenfabrik Im Un Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen der zum Rauen bestimmten Seitenbereiche von auf Leisten aufgebrachten Schuhschäften
US20130132038A1 (en) * 2011-11-18 2013-05-23 Nike, Inc. Automated 3-D Modeling Of Shoe Parts

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015112732A1 (en) 2015-07-30
DE202015009221U1 (de) 2016-12-09
TWI589243B (zh) 2017-07-01
EP3096640A1 (en) 2016-11-30
EP3096640B1 (en) 2019-06-26
CN104783411B (zh) 2019-11-19
US20150201709A1 (en) 2015-07-23
KR20160113536A (ko) 2016-09-29
CN104783411A (zh) 2015-07-22
TW201528982A (zh) 2015-08-01
CN204499653U (zh) 2015-07-29
MX2016009521A (es) 2016-10-17
US10524544B2 (en) 2020-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101921804B1 (ko) 신발 바이트 라인의 분기 검출
TWI629948B (zh) 用於掃描鞋子部件以進行自動化製造的方法及其系統
US20230036669A1 (en) Automated Shoe Assembly
US9668545B2 (en) Conditionally visible bite lines for footwear
TWI705772B (zh) 鞋子貼合線的自動定位方法
TWI565429B (zh) The positioning method of the front machine

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant