KR101891232B1

KR101891232B1 - 형광 검출을 위한 광학헤드

Info

Publication number: KR101891232B1
Application number: KR1020160174354A
Authority: KR
Inventors: 이계한; 김성민
Original assignee: 미라클스코프(주)
Priority date: 2016-12-20
Filing date: 2016-12-20
Publication date: 2018-10-02
Also published as: KR20180072009A

Abstract

형광을 검출하는 광학헤드에 있어서 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있는 광학헤드가 개시된다. 이는 시료에서 방출되는 형광을 대물렌즈로 집광할 수 있는 시료하우징를 별도로 구비하여 시료에서 대물렌즈로 집광되는 집광효율을 향상시킴으로써 형광검출기의 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 대물렌즈와 시료하우징에 형성된 초점조절홀 및 시료하우징에 별도의 마크를 형성하여 센서로 센싱함으로써 대물렌즈와 시료하우징간의 초점을 간편하게 조절할 수 있다.

Description

형광 검출을 위한 광학헤드{Optical Head for Fluorescence Detection}

본 발명은 형광 검출을 위한 광학헤드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시료에서 여기된 형광의 집광효율을 향상시켜 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있는 형광 검출을 위한 광학헤드에 관한 것이다.

일반적으로 형광(fluorescence)은 물질이 외부에서 에너지를 흡수하여 에너지가 낮은 바닥상태(ground state)에서 에너지가 높은 들뜬상태(excitation state)로 된 분자 또는 원자가 다시 바닥상태의 낮은 에너지 준위로 되돌아 갈 때 여기파장에 비해 장파장 영역의 빛을 재 방출하는 현상으로, 이러한 형광이 생성된 빛을 각종 광학 검출장치로 감지하여 시료에 포함된 특정 물질의 양을 측정하는 것을 형광분석이라 한다.

상술한 바와 같이, 형광분석법을 이용하여 시료의 각종 특성(용존산소의 농도, pH, 이산화탄소의 농도, 특정이온의 농도 및 각종 생화학 물질의 특성)을 측정하는 장치가 형광검출장치이다.

도 1은 종래의 형광 검출을 위한 광학헤드를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 1에 도시된 종래의 검출장치는 샘플에서 여기된 형광을 검출할 수 있는 광학헤드의 예이다.

도 1을 참조하면, 종래의 형광 검출을 위한 광학헤드(100)는 여기광을 방출하는 광원(110), 여기광 또는 형광을 집광하는 제1 렌즈(120) 및 제2 렌즈(130), 입사된 광을 투과 및 반사하는 광 분할기(140), 광 분할기(140)에서 반사된 광을 시료에 집광하는 대물렌즈(150), 시료를 포함하는 기판(160) 및 시료에서 여기된 형광을 검출하는 형광검출기(170)를 포함할 수 있다.

광원(110)에서 방출된 여기광은 제1 렌즈(120)에 의해 광 분할기(140)에 입사되고, 광 분할기(140)에 입사된 여기광은 반사되어 대물렌즈(150)를 통해 시료에 입사된다. 시료에 입사된 여기광에 의해 시료는 형광을 방출하고, 방출된 형광이 다시 대물렌즈(150)를 통해 광 분할기(140) 및 제2 렌즈(130)를 거쳐 형광검출기(170)로 입사되어 형광을 검출한다.

하지만, 이러한 종래의 형광 검출을 위한 광학헤드(100)는 시료에서 여기된 형광이 시료 주변의 모든 방향으로 진행하기 때문에 대물렌즈(150)에서 포획 가능한 부분은 좁은 각도에 지나지 않아 대물렌즈(150)의 집광효율이 떨어지는 문제가 있다.

한국등록특허 10-0483706

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 시료 상단에 별도의 커버렌즈를 구비하여 시료에서 여기된 형광이 대물렌즈로 입사되는 집광효율을 높일 수 있는 형광 검출을 위한 광학헤드를 제공하는데 있다.

상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 형광을 검출하기 위한 광학헤드는 여기광을 방출하는 광원부, 형광을 집광하는 대물렌즈, 여기광에 의해 시료가 여기되고, 시료에 의해 여기 된 형광을 방출하는 시료하우징 및 상기 시료하우징으로부터 방출된 형광을 검출하는 형광검출부를 포함하고, 상기 시료하우징은 상기 대물렌즈로 방출되는 형광을 집광하는 것을 특징으로 한다.

상기 광원부에서 방출된 여기광 또는 형광이 입사되고, 입사된 광을 투과 및 반사시키는 광 분할기를 더 포함할 수 있다.

상기 시료하우징은, 시료를 지지하는 기판 및 시료 상부에 배치되어, 시료에서 여기된 형광을 집광하는 커버렌즈를 포함할 수 있다.

상기 커버렌즈의 주변부는 평평한 형상을 갖고, 중앙부는 볼록한 볼록부를 갖을 수 있다.

시료에서 여기된 형광은 상기 볼록부의 내부면에서 굴절되어 상기 대물렌즈 방향으로 집광될 수 있다.

상기 기판은 표면에 미러코팅(Mirror Coating)될 수 있다.

상기 광원부는, 여기광을 방출하는 광원 및 상기 광원으로부터 방출된 여기광을 집광하는 콜리메이터 렌즈를 포함할 수 있다.

형광검출부는, 시료에서 여기된 형광을 검출하기 위한 형광검출기, 상기 형광검출기에 형광이외의 성분이 도달하지 않도록 차단하는 제2 필터 및 상기 형광검출기로 형광을 포커싱하는 집광렌즈를 포함할 수 있다.

상기 대물렌즈 및 상기 시료하우징은 광의 초점을 맞추기 위한 초점조절홀을 포함할 수 있다.

상기 초점조절홀은 적어도 두 개 이상을 포함할 수 있다.

상기 시료하우징에 형성된 마크 및 상기 마크를 센싱하기 위해 상기 대물렌즈에 형성된 센서를 포함할 수 있다.

상술한 본 발명에 따르면, 시료에서 방출되는 형광을 대물렌즈로 집광할 수 있는 시료하우징을 별도로 구비하여 시료에서 대물렌즈로 집광되는 집광효율을 향상시킬 수 있다. 따라서, 형광검출기의 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있다.

또한, 대물렌즈와 시료하우징에 형성된 초점조절홀에 의해 시료하우징에서 대물렌즈로 방출되는 형광의 초점을 간편하게 조절할 수 있다.

본 발명의 기술적 효과들은 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 종래의 형광 검출을 위한 광학헤드를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 광학헤드를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 시료하우징를 도시한 도면이다.
도 4(a), (b)는 본 발명의 초점조절을 위한 실시예를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 초점조절을 위한 다른 실시예를 나타내는 도면이다.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.

실시예

도 2는 본 발명의 광학헤드를 도시한 도면이다.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 형광 검출을 위한 광학헤드(200)는 광원부(210), 광 분할기(Beam Splitter)(220), 대물렌즈(230), 시료하우징(240) 및 형광검출부(250)를 포함한다.

광원부(210)는 여기광을 방출하는 광원(211) 및 광원(211)으로부터 방출된 여기광을 집광하는 콜리메이터 렌즈(212)를 포함할 수 있다.

광원(211)은 형광을 여기시키는 여기광을 방출하며, 예를 들어, 특정 파장을 갖는 광을 방출하는 발광다이오드(LED)나 레이저 다이오드(LD), 또는 백색광을 방출하는 할로겐 램프나 백색 LED일 수 있다. 본 발명에 따른 바람직한 실시예에서의 광원(211)은 발광다이오드일 수 있다.

콜리메이터 렌즈(212)는 상기 광원(211)의 전방에 배치되어 광원(211)으로부터 소정 각도로 방출된 여기광을 실질적으로 평행광으로 집광하는 역할을 한다.

광 분할기(220)는 콜리메이터 렌즈(212)의 전방에 배치되어 콜리메이터 렌즈(212)에서 집광된 평행광이 입사된다. 광 분할기(220)는 콜리메이터 렌즈(212)를 통과한 여기광을 직각으로 반사시켜 검사 시료(201)가 위치한 곳으로 입사시키는 동시에, 상기 검사 시료(201)로부터 여기되어 형성된 형광을 투과시켜 형광검출기(253)가 위치한 방향으로 입사시켜 주는 역할을 한다.

즉, 광 분할기(220)는 입사되는 여기광의 일부를 반사시키거나, 나머지 일부의 여기광을 투과시킬 수 있다. 예를 들어, 광 분할기(220)는 광축에 45도로 경사지게 배치되며 파장 선택성을 갖는 다이크로익 미러(dicroic mirror)일 수 있다. 또는, 광 분할기(220)는 입사광의 50%를 투과시키고 나머지 50%를 반사하도록 설계된 반투과 미러(half mirror)를 사용할 수 있다.

도 2에서는 광원(211)과 시료(201) 사이의 광경로가 광 분할기(220)에 의해 절곡되어 있고, 시료(201)와 형광검출기(253) 사이의 광경로가 일직선인 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 광 분할기(220)의 선택에 따라, 광원(211)과 시료(201) 사이의 광경로가 일직선이 되고, 시료(201)와 형광검출기(253) 사이의 광경로가 절곡될 수도 있다. 이를 위해, 예컨대 광 분할기(220)가 반투과 미러인 경우, 경사 방향을 90도만큼 회전시킬 수 있다.

다른 실시예로써, 광원부(210)가 대물렌즈(230) 반대편에 위치하는 투과형 광학헤드도 사용될 수 있으며, 투과형 광학헤드에서는 상기한 광 분할기(220)가 생략될 수도 있다.

또한, 본 발명에 있어서, 입사각도가 45도에 가까운 광이 광 분할기(220)를 가능한 한 많이 통과하도록 할 필요가 있다. 따라서, 광원(211)으로부터 방사된 여기광이 콜리메이터 렌즈(212)에 의해 최대한 평행광에 가깝게 집광될 수 있도록, 광원(211)과 콜리메이터 렌즈(212) 사이의 거리를 설계하는 것이 바람직하다.

콜리메이터 렌즈(212)와 광 분할기(220) 사이에는 제1 필터(213)가 더 포함될 수 있다. 제1 필터(213)는 여기광 중에 형광 파장과 유사한 장파장 성분은 반사시키되 단파장 성분은 투과시키는 단파장 투과필터가 사용될 수 있다.

광 분할기(220)를 통해 반사된 여기광은 대물렌즈(230)에 의해 집광되어 시료하우징(240) 내의 시료(201)에 조사된다. 시료(201)에 여기광이 조사되면 시료(201)를 통해 방출되는 형광은 다시 대물렌즈(230)를 통해 광 분할기(220)로 형광을 방출한다. 이때, 본 발명에 따른 광학헤드(200)는 시료(201)를 통해 방출되는 형광이 대물렌즈(230)로 집광될 때 보다 넓은 각도로 방사되는 형광을 대물렌즈로 집광시켜 집광효율을 향상시키기 위해 시료하우징(240)을 포함할 수 있다.

도 3은 본 발명의 시료하우징를 도시한 도면이다.

도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 시료하우징(240)은 시료(201)를 지지하는 기판(241) 및 커버렌즈(242)를 포함할 수 있다.

기판(241)은 시료(201) 하부에 배치되어 시료(201)를 지지하며, 유리, 반도체, 유전체 물질 또는 포토레지스트와 같은 폴리머로 형성될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 기판(241)은 시료(201)에서 방출되는 형광이 대물렌즈(230)로 반사되도록 미러코팅(Mirror Coating)될 수 있다.

커버렌즈(242)는 시료(201) 상부에 배치될 수 있다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 커버렌즈(242)는 주변부가 평평한 형상을 갖는 동시에 중앙부는 반구 또는 비구면 형상으로 된 볼록부(243)를 갖는다. 상기한 볼록부(243)는 시료(201)에서 상부방향으로 바라봤을 때는 오목한 형상일 수 있다. 또한, 커버렌즈(242)는 기판(241)과 같이 유리, 반도체, 유전체 물질 또는 포토레지스트와 같은 폴리머로 형성될 수 있으며, 형광이 투과할 수 있는 투과형일 수 있다. 즉, 시료(201)가 안착되는 면의 이면 쪽으로 시료(201)에서 방출되는 형광을 검출할 수 있도록, 투명한 물질로 형성될 수 있다.

일반적으로, 시료(201)에서 여기된 형광은 시료(201) 주변의 모든 방향으로 진행하기 때문에 대물렌즈(230)에서 포획되는 부분은 좁은 각도에 한정되어 대물렌즈(230)의 집광효율이 떨어지게 된다. 따라서, 대물렌즈(230)를 통해 형광이 입사되는 형광검출기(253)의 형광 검출 효율이 낮아진다.

하지만, 본 발명에 따른 광학헤드는 상기한 바와 같이, 시료(201) 상부에 중앙부가 볼록한 볼록부(243)를 포함하는 커버렌즈(242)를 장착함으로써, 시료(201)에서 방출되는 보다 넓은 각도의 형광을 대물렌즈(230)에서 효과적으로 포획할 수 있다. 더욱 상세하게는, 시료(201)에서 방출되는 광중에서 시료(201)의 하부방향으로 방출되는 광은 미러코팅 된 기판(241)을 통해 상부방향으로 반사되고, 상부 또는 대각방향으로 방출되는 형광은 볼록부(243)의 내부면에서 굴절되어 대물렌즈(230) 방향으로 집광하게 된다. 즉, 커버렌즈(242)는 시료(201)에서 방출되는 형광을 집광시키는 굴절력을 갖는다. 따라서, 종래에 비해 커버렌즈(242)를 통해 시료(201)에서 대물렌즈(230)로 방출되는 보다 넓은 각도의 형광을 집광시킬 수 있기 때문에 집광효율을 향상시킬 수 있고, 이에 따라 형광검출기(253)의 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있다.

형광검출부(250)는 시료하우징(240)으로부터 방출된 형광을 검출하며, 집광렌즈(251), 제2 필터(252) 및 형광검출기(253)를 포함할 수 있다.

집광렌즈(251)는 광 분할기(220)를 통해 입사되는 형광을 형광검출기(253)로 집광하는 역할을 한다.

제2 필터(252)는 집광렌즈(251)를 통해 입사된 광중 형광검출기(253)에 형광 이외의 광성분이 도달하지 않도록 차단하는 역할을 한다.

형광검출기(253)는 예를 들어, 포토다이오드(photodiode: PD), 포토다이오드 어레이, 광전자 증배관(photo multiplier tube: PMT), CCD 이미지 센서, CMOS 이미지 센서, 애벌런치 포토다이오드(avalanche PD: APD)등을 사용할 수 있다.

이하, 도 2에 도시된 본 발명의 실시예에 따른 형광검출을 위한 광학헤드(200)의 동작에 대해 상세하게 설명한다.

먼저, 광원(211)이 온 되면 여기광을 방출한다. 방출된 여기광은 콜리메이터 렌즈(212)로 입사되어 평행광으로 집광되고, 제1 필터(213)를 통해 광 분할기(220)로 입사된다. 광 분할기(220)를 통해 반사된 여기광은 대물렌즈(230)에 의해 시료하우징(240)으로 집광된다.

시료하우징(240)에 집광된 여기광은 커버렌즈(242)와 기판(241) 사이에 위치한 시료(201)에 집광되며, 시료(201)는 집광된 여기광에 의해 형광을 여기시킨다. 시료(201)에서 여기된 형광은 커버렌즈(242)를 통해 대물렌즈(230)로 형광을 집광시키고, 대물렌즈(230)는 시료(201)에서 여기된 형광을 다시 평행광으로 집광하여 광 분할기(220)로 방출시킨다. 이때, 본 발명에 따른 광학헤드는 시료하우징(240) 내에 구비된 커버렌즈(242)를 통해 시료(201)에서 여기된 형광을 대물렌즈(230)로 집광하는 집광효율을 향상시킬 수 있다.

광 분할기(220)에서 방출되는 형광은 집광렌즈(251)로 입사되며, 집광렌즈(251)로 입사된 형광은 제2 필터(252)를 통해 형광검출기(253)로 집광된다.

상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 광학헤드는 시료(201)에서 여기되는 형광이 대물렌즈(230)에 집광되는 집광효율을 높이기 위해 시료(201) 상부에 커버렌즈(242)를 사용하였다. 따라서, 본 발명에서는 상기 커버렌즈(242)와 대물렌즈(230)간에 초점조절을 위한 과정이 수행될 수 있다.

도 4(a), (b)는 본 발명의 초점조절을 위한 실시예를 나타내는 도면이다.

도 5는 본 발명의 초점조절을 위한 다른 실시예를 나타내는 도면이다.

도 4(a), (b) 및 도 5를 참조하면, 실시예에 따른 본 발명의 광학헤드는 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)의 초점조절을 위한 실시예로써 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)에 초점조절홀(231)이 형성될 수 있다.

초점조절홀(231)은 도 4(a)에 도시한 바와 같이, 대물렌즈(230)에서 대각방향으로 양 모서리 내측에 각각 형성될 수 있다. 또한, 가로방향 또는 세로방향으로 양 모서리 내측에 각각 형성될 수 있으며, 모든 모서리에 형성될 수도 있다. 초점조절홀(231)은 대물렌즈(230)에 형성된 초점조절홀(231)과 대응되도록 커버렌즈(242)에 동일하게 형성될 수 있다. 즉, 커버렌즈(242)에 형성된 초점조절홀(231)은 대물렌즈(230)에 형성된 초점조절홀(231)과 위치 및 개수가 동일하도록 형성될 수 있다. 따라서, 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)의 초점을 맞추기 위해 도 4(b)에서와 같이 초점조절부재(232)를 이용하여 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)에 형성된 초점조절홀(231)에 동시에 삽입하여 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)간에 초점을 맞출 수 있다. 여기서, 초점조절부재(232)는 일반적으로 사용하는 샤프트(shaft)일 수 있으며, 이를 한정하지는 않는다.

도 5는 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)의 초점을 맞추기 위한 다른 실시예를 나타낸다.

도 5에 도시한 바와 같이, 커버렌즈(242)의 상부 소정부분에 위치를 판별할 수 있는 마크(233)가 마킹되고, 대물렌즈(230) 하부면에 커버렌즈(242)의 마크(233)와 대응되도록 센서(234)가 구비될 수 있다. 마크(233)는 커버렌즈(242)의 주변부에 적어도 두 개 이상으로 형성될 수 있으며 형광마크 또는 포토마크일 수 있다. 대물렌즈(230)에 구비된 센서는 커버렌즈(242)의 마크(233)를 인식할 수 있는 센서(234)로써, 센서(234)의 종류를 한정하지는 않는다. 대물렌즈(230)에 구비된 센서(234)는 커버렌즈(242)에 마킹된 마크(233)를 센싱함으로써 대물렌즈(230)와 커버렌즈(242)간에 초점을 맞출 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 형광 검출을 위한 광학헤드(200)는 시료(201)에서 방출되는 형광을 대물렌즈(230)로 집광할 수 있는 시료하우징(240)를 별도로 구비하여 시료(201)에서 대물렌즈(230)로 집광되는 집광효율을 향상시킬 수 있다. 따라서, 형광검출기(253)의 형광 검출 효율을 향상시킬 수 있다.

또한, 대물렌즈(230)와 시료하우징(240)에 형성된 초점조절홀(231) 및 시료하우징(240)에 별도의 마크(233)를 형성하고 센서(234)로 센싱함으로써 대물렌즈(230)와 시료하우징(240)간의 초점을 간편하게 조절할 수 있다.

한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시 예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.

210 : 광원부 211 : 광원
212 : 콜리메이터 렌즈 213 : 제1 필터
220 : 광 분할기 230 : 대물렌즈
231 : 초점조절홀 232 : 초점조절부재
233 : 마크 234 : 센서
240 : 시료하우징 241 : 기판
242 : 커버렌즈 250 : 형광검출부
251 : 집광렌즈 252 : 제2 필터
253 : 형광검출기

Claims

여기광을 방출하는 광원부;
형광을 집광하는 대물렌즈;
여기광에 의해 시료가 여기되고, 시료에 의해 여기 된 형광을 상기 대물렌즈로 집광하여 방출하는 시료하우징; 및
상기 시료하우징으로부터 방출된 형광을 검출하는 형광검출부를 포함하고,
상기 시료하우징은,
시료를 지지하고, 시료에서 방출되는 형광이 상기 대물렌즈로 반사되도록 표면이 미러코팅(Mirror Coating)된 기판; 및
시료 상부에 배치되어, 시료에서 여기된 형광을 집광하는 커버렌즈를 포함하며,
상기 커버렌즈는 평평한 형상을 갖는 주변부와 볼록한 볼록부를 갖는 중앙부가 일체로 구성되고, 상기 커버렌즈는 상기 시료에 접하도록 배치되는 것이며,
상기 시료하우징의 주변부에 적어도 두 개 이상으로 형성된 마크; 및
상기 마크를 센싱하기 위해 상기 대물렌즈에 형성된 센서를 포함하는 형광 검출을 위한 광학헤드.
제1항에 있어서,
상기 광원부에서 방출된 여기광 또는 형광이 입사되고, 입사된 광을 투과 및 반사시키는 광 분할기를 더 포함하는 형광 검출을 위한 광학헤드.
삭제
삭제
제1항에 있어서,
시료에서 여기된 형광은 상기 볼록부의 내부면에서 굴절되어 상기 대물렌즈 방향으로 집광되는 것인 형광 검출을 위한 광학헤드.
삭제
제1항에 있어서, 상기 광원부는,
여기광을 방출하는 광원; 및
상기 광원으로부터 방출된 여기광을 집광하는 콜리메이터 렌즈를 포함하는 형광 검출을 위한 광학헤드.
제1항에 있어서, 형광검출부는,
시료에서 여기된 형광을 검출하기 위한 형광검출기;
상기 형광검출기에 형광이외의 성분이 도달하지 않도록 차단하는 제2 필터; 및
상기 형광검출기로 형광을 포커싱하는 집광렌즈를 포함하는 형광 검출을 위한 광학헤드.
제1항에 있어서,
상기 대물렌즈 및 상기 시료하우징은 광의 초점을 맞추기 위한 초점조절홀을 포함하는 것인 형광 검출을 위한 광학헤드.
제9항에 있어서,
상기 초점조절홀은 적어도 두 개 이상을 포함하는 것인 형광 검출을 위한 광학헤드.
삭제