KR101878906B1 - Pallet set for probe pin packing and packing method of probe using the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a pallet set for packing probe pins and a probe pin packing method using the same. The pallet set includes: a plate-shaped alignment pallet which has multiple horizontal pin grooves formed to store probe pins; a pose conversion pallet which has multiple upright guide holes corresponding to the horizontal pin grooves and receives and supports the probe pins in the horizontal pin grooves being put in the upright guide holes by using the application of gravity when being turned upside down while having a surface in contact with the alignment pallet; and a packing pallet which has multiple pin storing holes corresponding to the upright guide holes and receives and stores the probe pins in the upright guide holes by using the application of gravity when being turned upside down while being positioned to overlap the pose conversion pallet. The pallet set can arrange the probe pins in an upright position as well as aligning the probe pins in a specific direction, thereby enabling the probe pins to be easily drawn in and out for use.

Description

프로브핀 패킹용 파레트 세트 및 이를 이용한 프로브핀 패킹방법{PALLET SET FOR PROBE PIN PACKING AND PACKING METHOD OF PROBE USING THE SAME}Technical Field [0001] The present invention relates to a pallet set for probe pin packing and a probe pin packing method using the same.

본 발명은 회로기판의 회로를 검사하기 위한 프로브핀의 패킹에 사용되는 파레트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 프로브핀을 정렬 및 직립시킨 상태로 패킹하여 사용자의 사용 편리성을 향상시킨 프로브핀 패킹용 파레트 세트 및 이를 이용한 프로브핀 패킹방법에 관한 것이다. The present invention relates to a pallet used for packing a probe pin for inspecting a circuit board circuit. More particularly, the present invention relates to a pallet for packing a probe pin in an aligned and upright position, Pallet set and probe pin packing method using the same.

인쇄회로기판이나 반도체 등의 생산공정에는, 미세 프로브핀(Probe pin)을 이용하여 회로의 전기적인 특성이나 회로 자체의 불량 여부를 판단하기 위한 검사단계가 포함된다.In the production process of a printed circuit board or a semiconductor, an inspection step for judging the electrical characteristics of the circuit or the failure of the circuit itself using a micro probe pin is included.

상기한 프로브핀은 미세 접점에 접촉할 수 있도록 매우 세밀하게 정밀 가공된 탐침으로서, 작업자에 의해 프로브 장치에 주의 깊게 끼워져 사용된다.The probe pin is a probe finely and precisely machined so as to be in contact with a fine contact, and is used by being carefully inserted into a probe apparatus by an operator.

한편, 일반적으로 프로브핀은 투명한 유리병에 담겨져 유통 및 보관된다. 이를테면, 제작된 프로브핀을 가령 100개나 200개 단위로 유리병에 넣어 보관하는 것이다. 그러나, 프로브핀을 단순히 유리병에 보관할 경우, 각 프로브핀이 유리병 내에서 무질서하게 접촉 및 마찰되어 쉽게 파손될 수 있고, 특히 수량의 파악이 불편하다는 단점이 있다. 또한 상기한 마찰에 따른 정전기에 의해 프로브핀에 자력이 발생하여 탐침성능이 저하할 수도 있다.On the other hand, in general, the probe pins are stored in a transparent glass bottle for distribution and storage. For example, the prepared probe pins are stored in glass bottles, for example, in units of 100 or 200 units. However, when the probe pins are simply stored in a glass bottle, the respective probe pins can be easily damaged by contact and rubbing disorderly in the glass bottle, and in particular, there is a disadvantage in that it is inconvenient to grasp the quantity. In addition, a magnetic force may be generated in the probe pin due to the static electricity due to the friction, and the probe performance may be deteriorated.

이러한 문제를 해결하기 위한 방법으로서, 국내등록특허공보 제10-1672985호를 통해 반도체용 프로브핀 케이스가 제안되기도 하였다. 상기 프로브핀 케이스는, 다수의 핀수용부가 형성되어 있는 트레이와, 상기 트레이에 씌워져 핀수용부를 커버하는 커버의 구성을 갖는다.As a method for solving such a problem, a probe pin case for a semiconductor has been proposed through Korean Patent Registration No. 10-1672985. The probe pin case includes a tray having a plurality of pin receiving portions and a cover covering the pin receiving portion.

그런데 상기한 종래의 프로브핀 케이스는, 프로브핀 간의 부딪힘이나 마찰은 없지만, 케이스로부터 프로브핀을 취출하는 것이 매우 불편하다는 문제를 갖는다. 그 이유는, 프로브핀이 핀수용부의 내부에 눕혀진 상태로 완전히 수용되기 때문이다. 핀수용부의 내부에 삽입되어 있는 프로브핀을 핀셋을 이용해 빼내는 것은 여간 불편한 일이 아닐 수 없다.However, in the above-mentioned conventional probe pin case, there is no collision or friction between the probe pins, but it is very inconvenient to take out the probe pins from the case. The reason for this is that the probe pin is completely received in the state of lying inside the pin receiving portion. It is inconvenient to remove the probe pin inserted into the pin receiving portion by using the tweezers.

각 핀수용부의 중간부분에 횡측홈이 마련되어 있긴 하지만, 핀셋의 단부를 횡측홈에 정확히 맞추지 않으면 프로브핀의 취출이 곤란한 것은 마찬가지이다.Although lateral grooves are provided in the middle of each pin receiving portion, it is also difficult to take out the probe pin unless the end portion of the pin set is properly aligned with the lateral groove.

특히, 상기 핀수용부가 단순한 일자형 구조를 가져, 프로브핀의 방향을 따지지 않고 무조건 받아들이므로, 핀수용부에 끼워진 프로브핀의 상하단부의 방향이 제각각이다. Particularly, since the pin receiving portion has a simple straight-type structure and is unconditionally received regardless of the direction of the probe pin, the directions of the upper and lower ends of the probe pin sandwiched by the pin receiving portion are different.

공지의 사실과 같이, 핀수용부에 대한 프로브핀의 끼움 작업은, 트레이 상부에 프로브핀을 쏟은 후 트레이를 전후좌우로 흔들어 프로브핀이 핀수용부에 끼워지게 유도하는 방식으로 진행되는데, 상기한 바와 같이 핀수용부가 일자형 구조를 가지므로, 핀수용부에 끼워지는 프로브핀의 방향이 일정하지 않게 되는 것이다. 이는, 트레이로부터 취출한 프로브핀의 방향을 일일이 체크해야 한다는 불편을 야기한다.As is known in the art, the insertion of the probe pin into the pin receiving portion proceeds in such a manner that the probe pin is poured onto the upper portion of the tray, and then the tray is swung back and forth and left and right so that the probe pin is inserted into the pin receiving portion. The direction of the probe pin inserted into the pin receiving portion is not constant since the pin receiving portion has a straight structure. This inconveniences the user to check the direction of the probe pins taken out from the tray.

국내등록특허공보 제10-1672958 (반도체용 프로브핀 케이스)Korean Patent Registration No. 10-1672958 (probe pin case for semiconductor)

본 발명은 상기 문제점을 해소하고자 창출한 것으로서, 프로브핀을 일정한 방향으로 정렬함은 물론 수직으로 직립시켜, 사용시 프로브핀의 용이한 취출을 가능하게 하는 프로브핀 패킹용 파레트 세트 및 이를 이용한 프로브핀 패킹방법을 제공함에 목적이 있다.The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a pallet set for probe pin packing that aligns the probe pins in a predetermined direction as well as vertically upright, It is an object to provide a method.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀 패킹용 파레트 세트는, 다수의 프로브핀을 일정한 방향으로 직립시킨 상태로 패킹하기 위해 사용되는 것으로서, 상기 프로브핀을 수용하는 다수의 수평핀홈이 형성되어 있는 판상의 정렬파레트; 상기 수평핀홈과 대응하는 다수의 직립유도홀을 가지며, 상기 정렬파레트와 면접한 상태로 뒤집어질 때 중력의 작용에 의해 상기 수평핀홈 내부의 프로브핀을 직립유도홀 내부로 받아들여 지지하는 자세변환파레트; 및 상기 직립유도홀과 대응하는 다수의 핀수용구를 구비하고, 상기 자세변환파레트에 겹쳐진 상태로 뒤집어질 때 중력의 작용에 의해 상기 직립유도홀 내부의 프로브핀을 핀수용구 내부로 받아들여 수용하는 패킹파레트를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to accomplish the above object, the present invention provides a pallet set for packing a plurality of probe pins in a state in which they are upright in a predetermined direction, and has a plurality of horizontal pin grooves for receiving the probe pins A plate-like alignment pallet; A posture conversion pallet having a plurality of upright induction holes corresponding to the horizontal pin grooves and receiving the probe pins inside the horizontal pin grooves into the upright induction holes by the action of gravity when inverted while being in contact with the alignment pallet, ; And a plurality of pin-finishing tools corresponding to the upright induction holes, wherein when the probe pins are inverted in a state of being superposed on the posture conversion pallets, the probe pins in the upright induction holes are received in the pin- And a pallet.

또한, 상기 수평핀홈의 내부에는, 상기 수평핀홈에 대한 프로브핀의 오(誤)삽입을 방지하는 걸림부가 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the horizontal pin groove has an engaging portion formed therein for preventing erroneous insertion of the probe pin into the horizontal pin groove.

또한, 상기 직립유도홀의 내부에는, 상기 프로브핀을 수직으로 지지하는 직립유지부; 및 상기 직립유도홀 외부의 프로브핀을 직립유지부로 유도하는 유도부가 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, an upstanding holding portion for vertically supporting the probe pin is provided in the upright induction hole. And an inducing part for guiding a probe pin outside the upright induction hole to the upright holding part.

아울러, 상기 패킹파레트는 프로브핀의 길이보다 얇은 두께를 갖는 판상부재이며, 각각의 핀수용구의 내부에는 프로브핀을 지지하는 걸림턱이 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the packing pallet is a plate-shaped member having a thickness thinner than the length of the probe pins, and each of the pin-fittings has a latching protrusion for supporting the probe pin.

또한 본 발명에 따른 프로브핀 패킹방법은, 일정패턴으로 정렬되어 있는 다수의 수평핀홈을 갖는 정렬파레트의 수평핀홀에 프로브핀을 채우는 프로브핀 정렬단계; 상기 각 수평핀홈에 대응하는 직립유도홀을 구비한 자세변환파레트를 상기 정렬파레트에 겹친 후 뒤집어, 수평핀홈 내부의 프로브핀이 중력의 작용에 의해 직립유도홀로 이동하게 하여 직립유도홀내에 직립 상태로 수용되게 하는 자세변환단계; 상기 각 직립유도홀에 대응하는 핀수용구를 갖는 패킹파레트를 자세변환파레트에 겹친 후 뒤집어, 직입유도홀내에 수용되어 있는 프로브핀이 패킹파레트의 핀수용구로 이동하게 하는 프로브핀 이동단계; 및 상기 프로브핀이 채워진 패킹파레트를 패킹케이스에 수납하는 패킹단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a probe pin packing method comprising: arranging a probe pin in a horizontal pinhole of an alignment pallet having a plurality of horizontal pin grooves arranged in a predetermined pattern; A posture changing pallet having an upright induction hole corresponding to each of the horizontal pin grooves is superimposed on the aligning pallet and turned upside down so that the probe pin in the horizontal pin groove moves to the upright induction hole by the action of gravity, A posture conversion step for accepting the posture; A probe pin moving step of moving a probe pallet received in the direct lead-in hole to a pin receiving portion of a packing pallet after overlapping the packing pallet having the pin counting tool corresponding to each of the upright induction holes on the posture conversion pallet; And a packing step of storing the packing pallet filled with the probe pins into a packing case.

또한, 상기 이동단계와 패킹단계의 사이에 행해지는 과정으로서, 상기 패킹파레트의 상부로 노출된 프로브핀의 상단부를 검사하는 1차검사단계; 상기 1차검사가 완료된 후 패킹파레트의 상부에 패킹파레트와 일정간격을 갖는 받침판을 고정한 상태로 패킹파체트를 뒤집어 프로브핀의 하단부를 검사하는 2차검사단계; 및 상기 2차검사단계의 완료 후 패킹파레트로부터 받침판을 분리하는 받침판분리단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, a process performed between the moving step and the packing step may include: a first inspection step of inspecting an upper end of the probe pin exposed above the packing pallet; A second inspection step of inspecting a lower end of the probe pin by reversing the packing pad in a state in which a support plate having a certain distance from the packing pallet is fixed on the packing pallet after the first inspection is completed; And a base plate separating step of separating the base plate from the packing pallet after completion of the secondary inspection step.

또한, 상기 수평핀홈의 내부에는, 상기 수평핀홈에 대한 프로브핀의 오(誤)삽입을 방지하는 걸림부가 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the horizontal pin groove has an engaging portion formed therein for preventing erroneous insertion of the probe pin into the horizontal pin groove.

아울러, 상기 직립유도홀의 내부에는, 상기 프로브핀을 수직으로 지지하는 직립유지부; 및 상기 직립유도홀 외부의 프로브핀을 직립유지부로 유도하는 유도부가 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, an upstanding holding part for vertically supporting the probe pin is provided in the upright induction hole. And an inducing part for guiding a probe pin outside the upright induction hole to the upright holding part.

상기와 같이 이루어지는 본 발명은, 프로브핀을 일정한 방향으로 정렬함은 물론 수직으로 직립시켜, 사용시 프로브핀의 용이한 취출을 가능하게 한다.According to the present invention as described above, not only the probe pins are aligned in a certain direction, but also they are vertically uprighted, thereby enabling the probe pins to be taken out easily during use.

도 1은 일반적인 프로브핀의 일 예를 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀 패킹용 파레트 세트를 도시한 도면이다.
도 3은 상기 도 2b의 Ⅲ-Ⅲ선 단면도이다.
도 4는 상기 도 2c에 도시한 패킹파레트의 내부 구조 및 프로브핀의 안착 구조를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 상기 도 2c에 도시한 패킹파레트가 수납되는 패킹케이스의 분해 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 파레트 세트를 이용한 프로브핀 패킹방법을 도식적으로 나타내 보인 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀 패킹방법의 순서도이다.1 is a perspective view showing an example of a general probe pin.
2 is a view showing a pallet set for packing a probe pin according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view taken along line III-III of FIG. 2B.
FIG. 4 is a view for explaining the internal structure of the packing pallet and the seating structure of the probe pin shown in FIG. 2C.
5 is an exploded perspective view of a packing case in which the packing pallet shown in FIG.
6 is a diagram schematically illustrating a probe pin packing method using a pallet set according to an embodiment of the present invention.
7 is a flowchart of a probe pin packing method according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 따른 하나의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, one embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀 패킹용 파레트 세트의 본격적인 설명에 앞서, 일반적인 프로브핀의 구조를 먼저 설명하기 위한 프로브핀(11)의 사시도이다. 프로브핀의 세부 구성은 모델에 따라 제각기 다르지만, 미세 회로 등의 이상 유무를 검사하는 것이니 만큼, 매우 가늘고 길게 형성된 기본 구조를 가진다. 특히 거의 대부분의 프로브핀은 상하단부의 모양이 상이하다.1 is a perspective view of a probe pin 11 for explaining the structure of a general probe pin in advance of a full description of a pallet set for probe pin packing according to an embodiment of the present invention. The detailed configuration of the probe pins differs depending on the model, but since the probe pins are inspected for the presence or absence of a microcircuit, the probe pin has a very long and basic structure. In particular, almost all of the probe pins have different shapes at the upper and lower ends.

도 1에 도시한 바와 같이, 프로브핀(11)은, 스프링 등을 내장하는 중공형 바디(11a)와, 상기 바디(11a)의 상단부에 위치하는 탑플런저(11b)와, 하단부에 위치하는 보텀플런저(11c)로 구성된다. 특히 상기 바디(11a)에 대한 탑플런저(11b)의 길이와 보텀플런저(11c)의 길이가 상이함을 볼 수 있다.1, the probe pin 11 includes a hollow body 11a having a spring or the like built therein, a top plunger 11b positioned at an upper end of the body 11a, And a plunger 11c. Particularly, the length of the top plunger 11b is different from the length of the bottom plunger 11c with respect to the body 11a.

이와 같이 탑플런저(11b)와 보텀플런저(11c)의 길이를 다르게 한 것은 여러 가지 이유가 있지만, 그 중 하나는 프로브핀(11)의 상하단부를 구분하기 위한 것도 있다.There are various reasons why the lengths of the top plunger 11b and the bottom plunger 11c are different from each other. One of them is for distinguishing the upper and lower end portions of the probe pin 11.

후술할 본 실시예에 따른 패킹 파레트 세트는, 상기한 일반적인 구조를 갖는 프로브핀을 패킹하되, 직립된 상태로 패킹하여, 작업자가 프로브핀을 용이하게 뽑아 사용할 수 있게 한다.The packing pallet set according to this embodiment to be described later packs the probe pins having the general structure described above and packs them in an upright state so that the operator can easily pull out the probe pins.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀 패킹용 파레트 세트(13)를 나타내 보인 도면이다.2 is a view showing a pallet set 13 for a probe pin packing according to an embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 파레트 세트(13)는, 정렬파레트(15)와 자세변환파레트(17)와 패킹파레트(19)를 포함한다. 상기 정렬파레트(15), 자세변환파레트(17), 패킹파레트(19)는 함께 조립되어 어떤 구조물을 이루는 것이 아니라, 후술할 프로브핀 패킹 과정을 진행하는 동안 선택적 결합과 분리를 반복하는 것이다.As shown, the pallet set 13 according to the present embodiment includes an alignment pallet 15, a posture conversion pallet 17, and a packing pallet 19. The alignment pallet 15, the posture conversion pallet 17, and the packing pallet 19 are assembled together to form a structure, and selective binding and separation are repeated during a probe pin packing process to be described later.

상기 정렬파레트(15)는, 전체적으로 사각판의 형태를 취하며 정렬평면(15a)과 지지턱(15b)을 갖는다. 상기 정렬평면(15a)은 그 상면에 다수의 수평핀홈(15d)을 갖는 평판부이며, 지지턱(15b)은 정렬평면(15a)의 양측부에 돌출된 부분이다. 상기 정렬평면(15a)은 도 6b 및 도 6c에 도시한 바와 같이, 정렬파레트(15)에 자세변환파레트(17)를 겹칠 때, 자세변환파레트(17)의 양측부를 가이드하는 부분이다.The alignment pallet 15 takes the form of a rectangular plate as a whole, and has an alignment plane 15a and a support jaw 15b. The alignment plane 15a is a flat plate portion having a plurality of horizontal pin grooves 15d on the upper surface thereof and the supporting jaw 15b is a portion protruding from both sides of the alignment plane 15a. The alignment plane 15a is a portion for guiding both side portions of the attitude conversion pallet 17 when the attitude conversion pallet 17 is overlapped on the alignment pallet 15 as shown in Figs. 6B and 6C.

상기 수평핀홈(15d)은 취급할 프로브핀(11)을 수용하는 홈으로서, 본 실시예에서는 탑플런저홈부(15f)와 메인홈부(15g)를 갖는다. 상기 탑플런저홈부(15f)는 프로브핀(11)의 탑플런저(11b)를 수용하는 홈이고, 메인홈부(15g)은 바디(11a) 및 보텀플런저(11c)를 동시 수용하는 홈이다.The horizontal pin groove 15d is a groove for receiving the probe pin 11 to be handled. In this embodiment, the horizontal pin groove 15d has a top plunger groove portion 15f and a main groove portion 15g. The top plunger groove 15f is a groove for receiving the top plunger 11b of the probe pin 11 and the main groove 15g is a groove for accommodating the body 11a and the bottom plunger 11c at the same time.

아울러 상기 탑플런저홈부(15f)와 메인홈부(15g)의 사이에는 걸림부(15e)가 마련되어 있다. 상기 걸림부(15e)는 탑플런저홈부(15f)와 메인홈부(15g) 경계의 단차 진 부분으로서, 수평핀홈(15d)에 대한 프로브핀(11)의 오(誤)삽입을 방지한다. 즉 프로브핀(11)이 수평핀홈(15d)에 거꾸로 삽입되는 것을 차단한다.In addition, a locking portion 15e is provided between the top plunger groove portion 15f and the main groove portion 15g. The latching portion 15e is a stepped portion between the top plunger groove portion 15f and the main groove portion 15g and prevents erroneous insertion of the probe pin 11 into the horizontal pin groove 15d. That is, the probe pin 11 is prevented from being inverted into the horizontal pin groove 15d.

말하자면, 상기 수평핀홈(15d)에 대한 프로브핀(11)의 방향이 반대가 되어, 탑플런저(11b)가 메인홈부(15g)를 향하게 되면, 수평핀홈(15d)에 대한 프로브핀(11)의 삽입이 차단되는 것이다. 바디(11a)가 걸림부(15e)에 걸리기 때문이다. 이러한 원리는 프로브핀(11)의 상하단부의 형상이 상이하기 때문에 가능한 것이다.The direction of the probe pin 11 with respect to the horizontal pin groove 15d is reversed and the top plunger 11b faces the main groove 15g so that the position of the probe pin 11 relative to the horizontal pin groove 15d Insertion is blocked. This is because the body 11a is caught by the engaging portion 15e. This principle is possible because the shapes of the upper and lower ends of the probe pin 11 are different.

수평핀홈(15d)에 대한 프로브핀(11)의 정상적으로 삽입이 이루어지면, 프로브핀(11)은 수평핀홈(15d)에 완전히 삽입되어 측면에서 보이지 않게 된다.When the probe pin 11 is normally inserted into the horizontal pin groove 15d, the probe pin 11 is completely inserted into the horizontal pin groove 15d and is not seen from the side.

상기한 수평핀홈(15d)은 다수 개, 가령 100개씩 밀집 형성될 수 있으며, 특히 일정한 방향으로 정렬되어 있다. 이를테면, 임의의 수평핀홈(15d)과 이웃 수평핀홈(15d)은 상호 평행한 것이다.The horizontal pinholes 15d may be formed in a plurality of, for example, 100, and are arranged in a predetermined direction. For example, the horizontal pin groove 15d and the adjacent horizontal pin groove 15d are parallel to each other.

상기 구성을 갖는 몇 백 개의 수평핀홈(15d)에 프로브핀(11)을 채우기 위해서는, 후술하겠지만, 정렬평면(15a)에 프로브핀(11)을 쏟아 부은 후, 정렬파레트(15)에 진동을 주는 방식을 취한다. 정렬파레트(15)에 진동을 주면 프로브핀(11)은 전후좌우로 움직이며 주변의 수평핀홈(15d)에 빠져 삽입된다.In order to fill the probe pin 11 with several hundred horizontal pin groove 15d having the above configuration, the probe pin 11 is poured into the alignment plane 15a, . When the alignment pallet 15 is vibrated, the probe pin 11 moves forward, backward, leftward, and rightward, and is inserted into the horizontal pin groove 15d in the periphery.

도면부호 15c는 정렬파레트(15)에 대한 자세변환파레트(17)의 결합시, 자세변환파레트(17)의 결합돌기(17b)를 수용하는 결합구이다. Reference numeral 15c denotes a coupling hole for receiving the coupling protrusion 17b of the attitude conversion pallet 17 when the attitude conversion pallet 17 is coupled to the alignment pallet 15. [

상기 자세변환파레트(17)도 사각판의 형태를 취하는 부재로서 다수의 직립유도홀(17c)을 갖는다. 상기 직립유도홀(17c)은, 정렬파레트(15)에 자세변환파레트(17)를 대향하여 겹쳤을 때, 정렬파레트(15)의 수평핀홈(15d)에 일대일 대응하는 구멍으로서 특이한 내부 구성을 갖는다. 상기 직립유도홀(17c)의 형상은 도 3에 따로 도시하였다.The attitude conversion pallet 17 also has a plurality of upright induction holes 17c in the form of a rectangular plate. The upright induction hole 17c has a peculiar internal structure as a hole corresponding one-to-one to the horizontal pin groove 15d of the alignment pallet 15 when the posture conversion pallet 17 is overlaid on the alignment pallet 15 . The shape of the upright induction hole 17c is shown in FIG.

도 3은 상기 도 2b의 Ⅲ-Ⅲ선 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along line III-III of FIG. 2B.

도 3을 참조하면, 상기 직립유도홀(17c)은, 자세변환파레트(17)의 두께방향으로 연장되는 직립유지부(17f)와, 프로브핀(11)을 직립유지부(17f)로 유도하는 유도부(17e)를 갖는다. 3, the upright induction hole 17c includes an upright holding portion 17f extending in the thickness direction of the attitude changing pallet 17 and an upright holding portion 17f extending in the thickness direction of the attitude changing pallet 17 to guide the probe pin 11 to the upright holding portion 17f And an induction portion 17e.

상기 유도부(17e)는 직립유지부(17f)측으로 하향 경사진 부분으로서, 프로브핀(11)이 기울어지며 하부로 미끄러져 직립유지부(17f)에 끼워지도록 한다. 이러한 유도부(17e)의 형상은 프로브핀(11)의 형상에 따라 달라진다.The guiding portion 17e is inclined downward toward the upstanding holding portion 17f side so that the probe pin 11 is inclined and slid down to be fitted into the upstanding holding portion 17f. The shape of the guide portion 17e depends on the shape of the probe pin 11.

상기 직립유도홀(17c)은 프로브핀(11)의 직경에 대응하는 내경을 가져, 수용한 프로브핀(11)이 흔들이지 않도록 안정적으로 지지한다. The upright induction hole 17c has an inner diameter corresponding to the diameter of the probe pin 11, and stably supports the received probe pin 11 so as not to swing.

아울러 상기 직립유도홀(17c)의 내주면에는 걸림턱부(17d)가 형성되어 있다. 상기 걸림턱부(17d)은 바디(11a)의 하단부를 걸어, 프로브핀(11)이 자세변환파레트(17)의 하부로 빠지지 않도록 한다.In addition, an engagement protrusion 17d is formed on the inner peripheral surface of the upright induction hole 17c. The latching jaw 17d is engaged with the lower end of the body 11a so that the probe pin 11 does not fall into the lower portion of the posture changing pallet 17.

한편, 상기 패킹파레트(도 2의 19)는 다수의 핀수용구(19a)를 갖는 판상 부재이다. 상기 패킹파레트(19)는 핀수용구(19a)에 프로브핀(11)을 수용한 상태로 별도의 패킹케이스(23)에 수납되어 수요자 또는 작업자에게 전달된다.On the other hand, the packing pallet (19 in Fig. 2) is a plate-like member having a plurality of pin-finishing tools 19a. The packing pallet 19 is accommodated in a separate packing case 23 in a state in which the probe pin 11 is accommodated in the finishing tool 19a and is delivered to a consumer or an operator.

후술하는 바와 같이, 작업자는 패킹케이스(23)에 수납되어 있는 패킹파레트(19)를 작업대에 꺼내어 놓은 상태로, 패킹파레트(19)에 직립되어 있는 프로브핀(11)을 하나씩 뽑아서 사용한다.As described later, the operator pulls out the probe pins 11, which are upright on the packing pallet 19, one by one, in a state in which the packing pallet 19 housed in the packing case 23 is taken out to the workbench.

도 2에서는 상기 패킹파레트(19)가 네 개로 분할된 경우를 도시하였으나 두 개로 분할 할 수도 있고, 분할하지 않을 수도 있다.In FIG. 2, the packing pallet 19 is divided into four parts, but the packing pallet 19 may be divided into two parts or not.

도 4는 상기 패킹파레트(19)의 내부 구조 및 프로브핀의 안착 구조를 설명하기 위한 도면이다.4 is a view for explaining the internal structure of the packing pallet 19 and the seating structure of the probe pins.

도시한 바와 같이, 상기 핀수용구(19a)에 프로브핀(11)이 수직으로 끼워짐을 알 수 있다. 특히 패킹파레트(19)의 두께는 프로브핀(11)의 길이보다 얇아, 핀수용구(19a)에 끼워진 프로브핀(11)의 탑플런저(11b) 및 보텀플런저(11c)가 상하로 노출되어 있다.As shown in the figure, it can be seen that the probe pin 11 is inserted vertically into the pinning tool 19a. The thickness of the packing pallet 19 is thinner than the length of the probe pin 11 and the top plunger 11b and the bottom plunger 11c of the probe pin 11 sandwiched by the pinion tool 19a are exposed upward and downward.

아울러 각 핀수용구(19a)의 내부에는 걸림턱(19b)이 형성되어 있다. 상기 걸림턱(19b)은 바디(11a)의 하단부를 지지하여 프로브핀(11)이 패킹파레트(19)의 하부로 빠지지 않도록 한다.In addition, a locking step 19b is formed inside each of the pin-fitting tools 19a. The latching jaw 19b supports the lower end of the body 11a so that the probe pin 11 does not fall into the lower part of the packing pallet 19.

도 5는 상기 도 2c에 도시한 패킹파레트(19)가 수납되는 패킹케이스(23)를 나타내 보인 분해 사시도이다. 5 is an exploded perspective view showing the packing case 23 in which the packing pallet 19 shown in Fig. 2C is housed.

상기 패킹케이스(23)는 패킹파레트(19)에 수직으로 지지되어 있는 프로브핀(11)을 수납하는 포장용 사각 케이스로서, 하부케이스(25)와 뚜껑(27)을 갖는다.The packing case 23 has a lower case 25 and a lid 27 for packing a probe pin 11 vertically supported by a packing pallet 19.

상기 하부케이스(25)의 수용공간(25a) 바닥면에는 미끄럼방지돌기(25b)가 형성되어 있다. 상기 미끄럼방지돌기(25b)는 꺽쇠와 같이 절곡된 형태를 취하는 돌출부로서, 상기 패킹파레트(19)의 네 귀퉁이부를 지지하여 패킹파레트(19)의 움직임을 방지한다.A slip prevention projection 25b is formed on the bottom surface of the accommodation space 25a of the lower case 25. [ The non-slip protuberance 25b is a protruding part bent like a bracket and supports the four corners of the packing pallet 19 to prevent the packing pallet 19 from moving.

또한 뚜껑(27)은 하부케이스(25)에 결합하는 프레임(27a)과 상기 프레임(27a)의 중앙부를 커버하는 투명커버(27b)로 이루어진다. 상기 프레임(27a)은 반투명으로 제작할 수 있다.The lid 27 is also made up of a frame 27a which is engaged with the lower case 25 and a transparent cover 27b which covers the central part of the frame 27a. The frame 27a can be made semi-transparent.

상기와 같이 투명커버(27b)를 적용함으로써, 뚜껑(27)을 개방하지 않고도, 수용공간(25a) 내부의 상태를 확인할 수 있다.By applying the transparent cover 27b as described above, the inside of the accommodation space 25a can be confirmed without opening the lid 27. [

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 파레트 세트(13)를 이용한 프로브핀 패킹방법을 도식적으로 나타내 보인 도면이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀 패킹방법의 순서도이다.FIG. 6 is a diagram illustrating a probe pin packing method using a pallet set 13 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a flowchart of a probe pin packing method according to an embodiment of the present invention.

도 6 및 도 7에 도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 프로브핀 패킹방법은, 프로브핀 정렬단계(102), 자세변환단계(104), 프로브핀 이동단계(106), 1차검사단계(108), 반침판 장착단계(110), 반전단계(112), 2차검사단계(114), 재반전단계(116), 받침판분리단계(118), 패킹단계(120)를 포함한다.6 and 7, the probe pin packing method according to the present embodiment includes a probe pin alignment step 102, a posture conversion step 104, a probe pin transfer step 106, a first inspection step 108, an adhesive plate mounting step 110, an inversion step 112, a secondary inspection step 114, a re-inversion step 116, a base plate separation step 118 and a packing step 120.

상기 프로브핀 정렬단계(102)는, 도 6a에 도시한 바와 같이, 프로브핀(11)을 정렬파레트(15)에 쏟아 놓은 후 진동을 가하여, 프로브핀(11)이 다수의 수평핀홈(15d)내에 찾아 들어가게 하는 단계이다. 상기 프로브핀 정렬단계(102)를 마친 후 남는 잉여 프로브핀(11)은 수거되어 다음 회차의 프로브핀 정렬단계에 투입된다.6A, the probe pin 11 is poured into the alignment pallet 15 and then the probe pin 11 is vibrated so that the probe pin 11 is separated from the plurality of horizontal pin recesses 15d. . The remaining probe pins 11 remaining after completing the probe pin aligning step 102 are collected and put into the probe pin aligning step of the next turn.

이어지는 자세변환단계(104)는, 프로브핀(11)이 채워진 정렬파레트(15)의 정렬평면(15a) 상에 자세변환파레트(17)를 밀착 면접 시킨 후, 뒤집어, 상기 수평핀홈(15d) 내부의 프로브핀(11)을 직립유도홀(17c)로 이동시키는 과정이다.(도 6b 내지 도 6e 참조)The posture changing step 104 is a step of turning the posture changing pallet 17 on the alignment plane 15a of the alignment pallet 15 filled with the probe pins 11, And the probe pin 11 of the probe pin 11 is moved to the upright induction hole 17c (see FIGS. 6B to 6E).

상기한 바와 같이, 정렬파레트(15)에 자세변환파레트(17)를 밀착한 상태로 뒤집으면, 중력의 작용에 의해, 수평핀홈(15d) 내부의 프로브핀(11)이 직립유도홀(17c)로 이동하게 된다.The probe pin 11 in the horizontal pin groove 15d is moved upright into the upright induction hole 17c by the action of the gravity when the posture changing pallet 17 is reversely attached to the alignment pallet 15 as described above, .

상기 자세변환단계(104)를 통해 각 프로브핀(11)은 자세변환파레트(17)에 거의 직립된 상태로 대기한다. 이 때 도 6e에 도시한 바와 같이 프로브핀(11)의 일부가 자세변한파레트(17)의 상부로 돌출된다.Each of the probe pins 11 stays in a state in which the probe pins 11 are almost upright in the posture changing pallet 17 through the posture changing step 104. At this time, as shown in FIG. 6E, a part of the probe pin 11 protrudes to the upper portion of the pallet 17 in which the posture changes.

이어지는 프로브핀 이동단계(106)는, 도 6f에 도시한 바와 같이, 자세변환파레트(17)의 상부에 패킹파레트(19)를 맞춘 후 뒤집어, 프로브핀(11)이, 중력의 작용에 의해, 패킹파레트(19)의 핀수용구(19a)로 떨어지도록 유도하는 과정이다.The subsequent probe pin moving step 106 is a step in which the packing pallet 19 is aligned on the upper part of the posture changing pallet 17 and then turned up so that the probe pin 11 is moved in the vertical direction by the action of gravity, And is guided to fall to the pin-fitting tool 19a of the packing pallet 19.

상기 프로브핀 이동단계(106)를 통해, 프로브핀(11)이 패킹파레트(19)로 옮겨졌다면, 1차검사단계(108)를 수행한다. 1차검사단계(108)는 패킹파레트(19)에 수직으로 정렬되어 있는 프로브핀(11)의 탑플런저의 이상유무를 파악하는 과정이다. 1차검사단계(108)시 행해지는 검사항목은 필요에 따라 달라질 수 있다.If the probe pin 11 has been transferred to the packing pallet 19 through the probe pin moving step 106, a first checking step 108 is performed. The primary inspection step 108 is a process of determining whether or not the top plunger of the probe pin 11 vertically aligned with the packing pallet 19 is abnormal. The items to be inspected during the primary inspection step 108 may vary as needed.

1차검사단계(108)의 완료 후 받침판장착단계(110)가 이어진다. 상기 받침판장착단계(110)는 패킹파레트(19)의 상부에 받침판(21)을 결합하는 과정이다. 상기 받침판(21)은 패킹파레트(19)의 상면에 대해 일정간격을 가지며, 패킹파레트(19)에 대해 착탈 가능한 별도의 평판 부재이다.After the completion of the primary inspection step 108, the mounting plate mounting step 110 is followed. The base plate mounting step 110 is a process of attaching the base plate 21 to the upper part of the packing pallet 19. The receiving plate 21 is a separate flat plate member having a predetermined gap with respect to the upper surface of the packing pallet 19 and detachable from the packing pallet 19.

패킹파레트(19)의 상면이라 함은, 상기 탑플런저(11b)가 돌출된 방향의 평면을 의미한다.The upper surface of the packing pallet 19 means a plane in the direction in which the top plunger 11b is projected.

상기 받침판(21)의 장착이 완료되었다면 반전단계(112)를 수행한다. 상기 반전단계(112)는, 받침판(21)이 하부에, 패킹파레트(19)이 상부에 위치하도록 뒤집는 과정이다. (도 6h 참조) 상기 반전단계(112)를 수행함으로써, 보텀플런저(11c)가 패킹파레트(19)의 외부로 노출된다. 아울러 프로브핀(11)은 받침판(21)에 받쳐져 하부로 빠지지 않는다.If the mounting of the support plate 21 is completed, the inversion step 112 is performed. The inversion step 112 is a process of reversing the support plate 21 to the lower part and the packing pallet 19 to be positioned at the upper part. 6H). By performing the inversion step 112, the bottom plunger 11c is exposed to the outside of the packing pallet 19 (see Fig. Further, the probe pin (11) is supported on the base plate (21) and does not fall downward.

이어지는 2차검사단계(114)는 보텀플런저(11c)를 검사하는 과정이다. 보텀플런저(11c)의 검사항목은 1차검사단계(108)의 검사항목과 같을 수 있다.The subsequent secondary inspection step 114 is a process of inspecting the bottom plunger 11c. The inspection item of the bottom plunger 11c may be the same as the inspection item of the first inspection step 108. [

상기 2차검사단계의 완료 후, 패킹파레트(19) 및 받침판(21) 조립체를 재(再)반전시키는 재반전단계(116)를 수행한 후 받침판분리단계(118)를 이어간다. 재반전단계(116)는 받침판분리단계(118)를 수행하기 위한 전단계이다. 상기 재반전단계(116) 없이 받침판(21)을 분리하면 프로브핀(11)이 패킹파레트(19)로부터 빠져나간다.After the completion of the secondary inspection step, a re-inversion step 116 is performed to re-invert the assembly of the packing pallet 19 and the receiving plate 21, and then the receiving plate separating step 118 is continued. Re-inversion step 116 is a pre-stage for performing the base plate separating step 118. When the support plate 21 is detached without the re-inversion step 116, the probe pin 11 escapes from the packing pallet 19.

상기 받침판분리단계(118)는 패킹파레트(19)로부터 받침판(21)을 분리하는 과정이다. 받침판분리단계(118)를 마친 패킹파레트(19)에는 도 6i 에 도시한 바와 같이 다수의 프로브핀(11)이 직립 상태로 정렬되어 있다. 이 상태로 프로브핀(11)을 뽑아 사용할 수 있는 것이다.The receiving plate separating step 118 is a process of separating the receiving plate 21 from the packing pallet 19. As shown in FIG. 6I, a plurality of probe pins 11 are aligned in an upright state on the packing pallet 19 after the base plate separating step 118 is completed. In this state, the probe pin 11 can be pulled out and used.

상기 받침판분리단계(118)를 통해 받침판(21)을 제거했다면 패킹단계(120)를 이어간다. 패킹단계(120)는, 프로브핀(11)이 채워져 있는 패킹파레트(19)를 상기한 패킹케이스(23)에 수납하는 과정이다. 상기 패킹단계(120)를 통해 모든 과정을 마친다.If the base plate 21 is removed through the base plate separating step 118, the packing step 120 is continued. The packing step 120 is a process of storing the packing pallet 19 filled with the probe pins 11 into the packing case 23 described above. The packing step 120 completes the entire process.

이상, 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정하지 않고, 본 발명의 기술적 사상의 범위내에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims.

11:프로브핀 11a:바디 11b:탑플런저
11c:보텀플런저 13:파레트 세트 15:정렬파레트
15a:정렬평면 15b:지지턱 15c:결합구
15d:수평핀홈 15e:걸림부 15f:탑플런저홈부
15g:메인홈부 17:자세변환파레트 17b:결합돌기
17c:직립유도홀 17d:걸림턱부 17e:유도부
17f:직립유지부 19:패킹파레트 19a:핀수용구
19b:걸림턱 21:받침판 23:패킹케이스
25:하부케이스 25a:수용공간 25b:미끄럼방지돌기
27:뚜껑 27a:프레임 27b:투명커버11: probe pin 11a: body 11b: top plunger
11c: bottom plunger 13: pallet set 15: alignment pallet
15a: alignment plane 15b: support jaw 15c:
15d: Horizontal pin groove 15e: Engaging portion 15f: Top plunger groove portion
15g: main groove portion 17: attitude conversion pallet 17b: engaging projection
17c: upright induction hole 17d: engaging jaw 17e: guide portion
17f: Upright holding part 19: Packing pallet 19a: Finishing tool
19b: engaging jaw 21: receiving plate 23: packing case
25: lower case 25a: accommodation space 25b: non-slip projection
27: lid 27a: frame 27b: transparent cover

Claims (6)

다수의 프로브핀을 일정한 방향으로 직립시킨 상태로 패킹하기 위해 사용되는 것으로서,
상기 프로브핀을 수용하는 다수의 수평핀홈이 형성되어 있는 판상의 정렬파레트;
상기 수평핀홈과 대응하는 다수의 직립유도홀을 가지며, 상기 정렬파레트와 면접한 상태로 뒤집어질 때 중력의 작용에 의해 상기 수평핀홈 내부의 프로브핀을 직립유도홀 내부로 받아들여 지지하는 자세변환파레트; 및
상기 직립유도홀과 대응하는 다수의 핀수용구를 구비하고, 상기 자세변환파레트에 겹쳐진 상태로 뒤집어질 때 중력의 작용에 의해 상기 직립유도홀 내부의 프로브핀을 핀수용구 내부로 받아들여 수용하는 패킹파레트를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹용 파레트 세트.And is used for packing a plurality of probe pins in a state in which they are upright in a certain direction,
A plate-like alignment pallet having a plurality of horizontal pin grooves for receiving the probe pins;
A posture conversion pallet having a plurality of upright induction holes corresponding to the horizontal pin grooves and receiving the probe pins inside the horizontal pin grooves into the upright induction holes by the action of gravity when inverted while being in contact with the alignment pallet, ; And
And a plurality of finishing tools corresponding to the upright induction holes. The packing palette receives the probe pins inside the upright induction holes inside the finishing tool by the action of gravity when inverted in the state of being superimposed on the attitude conversion pallet, Wherein the pallet set includes a plurality of probe pins. 제1항에 있어서,
상기 수평핀홈의 내부에는, 상기 수평핀홈에 대한 프로브핀의 오(誤)삽입을 방지하는 걸림부가 형성된 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹용 파레트 세트.The method according to claim 1,
Wherein a latching portion is formed in the horizontal pin groove to prevent erroneous insertion of the probe pin into the horizontal pin groove. 제1항에 있어서,
상기 직립유도홀의 내부에는,
상기 프로브핀을 수직으로 지지하는 직립유지부; 및
상기 직립유도홀 외부의 프로브핀을 직립유지부로 유도하는 유도부가 형성된 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹용 파레트 세트.The method according to claim 1,
Inside the upright induction hole,
An upstanding holding part for vertically supporting the probe pin; And
And an induction part for guiding a probe pin outside the upright induction hole to an upright holding part is formed. 제1항에 있어서,
상기 패킹파레트는 프로브핀의 길이보다 얇은 두께를 갖는 판상부재이며, 각각의 핀수용구의 내부에는 프로브핀을 지지하는 걸림턱이 형성된 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹용 파레트 세트.The method according to claim 1,
Wherein the packing pallet is a plate-shaped member having a thickness thinner than the length of the probe pins, and a latching jaw for supporting the probe pins is formed in each of the pinning tools. 일정패턴으로 정렬되어 있는 다수의 수평핀홈을 갖는 정렬파레트의 수평핀홀에 프로브핀을 채우는 프로브핀 정렬단계;
상기 각 수평핀홈에 대응하는 직립유도홀을 구비한 자세변환파레트를 상기 정렬파레트에 겹친 후 뒤집어, 수평핀홈 내부의 프로브핀이 중력의 작용에 의해 직립유도홀로 이동하게 하여 직립유도홀내에 직립 상태로 수용되게 하는 자세변환단계;
상기 각 직립유도홀에 대응하는 핀수용구를 갖는 패킹파레트를 자세변환파레트에 겹친 후 뒤집어, 직입유도홀내에 수용되어 있는 프로브핀이 패킹파레트의 핀수용구로 이동하게 하는 프로브핀 이동단계; 및
상기 프로브핀이 채워진 패킹파레트를 패킹케이스에 수납하는 패킹단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹방법.A probe pin alignment step of filling a probe pin in a horizontal pinhole of an alignment pallet having a plurality of horizontal pin grooves arranged in a predetermined pattern;
A posture changing pallet having an upright induction hole corresponding to each of the horizontal pin grooves is superimposed on the aligning pallet and turned upside down so that the probe pin in the horizontal pin groove moves to the upright induction hole by the action of gravity, A posture conversion step for accepting the posture;
A probe pin moving step of moving a probe pallet received in the direct lead-in hole to a pin receiving portion of a packing pallet after overlapping the packing pallet having the pin counting tool corresponding to each of the upright induction holes on the posture conversion pallet; And
And a packing step of storing the packing pallet filled with the probe pins into a packing case. 제5항에 있어서,
상기 이동단계와 패킹단계의 사이에 행해지는 과정으로서,
상기 패킹파레트의 상부로 노출된 프로브핀의 상단부를 검사하는 1차검사단계;
상기 1차검사가 완료된 후 패킹파레트의 상부에 패킹파레트와 일정간격을 갖는 받침판을 고정한 상태로 패킹파체트를 뒤집어 프로브핀의 하단부를 검사하는 2차검사단계; 및
상기 2차검사단계의 완료 후 패킹파레트로부터 받침판을 분리하는 받침판분리단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀 패킹방법.


6. The method of claim 5,
The method according to claim 1, further comprising:
A first inspection step of inspecting an upper end of the probe pin exposed above the packing pallet;
A second inspection step of inspecting a lower end of the probe pin by reversing the packing pad in a state in which a support plate having a certain distance from the packing pallet is fixed on the packing pallet after the first inspection is completed; And
Further comprising a support plate separating step of separating the support plate from the packing pallet after completion of the secondary inspection step.


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