KR101672958B1 - A probe-pin case for semiconductor - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a probe pin case for a semiconductor device. The present invention relates to a case which can accommodate and manage an ultra-fine precision probe pin, to be mounted on a probe used in a semiconductor test process. For this, the probe pin case comprises a tray (1) for inserting and interpolating a plurality of probe pins individually, and a cover (2) coupled to one side of the tray (1) to prevent the interpolated probe pin from being lost to the outside.

Description

반도체용 프로브핀 케이스{A PROBE-PIN CASE FOR SEMICONDUCTOR}[PROBE-PIN CASE FOR SEMICONDUCTOR]

본 발명은 반도체용 프로브핀 케이스에 관한 것으로, 반도체 테스트시 사용되는 프로브에 장착하기 위해, 초정밀 미세가공한 프로브핀을 수용하고 관리할 수 있는 케이스에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin case for a semiconductor device, and more particularly, to a case that can accommodate and manage a probe pin that is highly precise and micro-machined to be mounted on a probe used in semiconductor testing.

일반적으로 반도체를 검사하기 위해서는 프로브를 이용하여 반도체의 패키징 작업전에 전기적인 특성 등에 대하여 검사를 시행하게 된다.Generally, in order to inspect a semiconductor, a probe is used to inspect electrical characteristics before semiconductor packaging.

상기와 같은 프로브에 적용되는 프로브핀은 정밀한 측정 및 미세한 접점에 접촉하기 위해 초정밀 미세가공을 하게 된다.The probe pins applied to the probes described above are subjected to precise measurement and ultrafine micromachining to contact fine contacts.

이와 같은 프로브핀의 특성에 의해 보관시 복수개의 프로브핀을 유리병 등에 담지하여 보관하게 되고, 프로브에 적용시 핀셋 등의 파지수단을 이용하여 파지한 후 프로브에 장착하게 된다.Due to the characteristics of such a probe pin, a plurality of probe pins are held by being held in a glass bottle or the like during storage. When the probe pin is applied to a probe, the probe pin is gripped using a holding means such as a tweezers and then mounted on the probe.

그러나, 복수개의 프로브핀을 단순히 유리병 등에 보관하게 때문에 각각의 프로브핀의 접촉 및 마찰 등에 의해 팁부분이 파손되거나, 미세한 크기로 인하여 작업 후 남아있는 수량의 파악도 어려워 재고 관리가 난해한 문제가 있었다.However, since a plurality of probe pins are simply stored in a glass bottle or the like, there is a problem that the tip portion is damaged due to contact or friction of each probe pin, or the quantity remaining after the operation is difficult to grasp due to the minute size, .

또한, 작업시 발생할 수 있는 정전기 등에 취약하여 복수개의 프로브핀에 자력이 발생하여 개개의 프로브핀을 적출하여 프로브에 적용하기에 난해한 문제가 있었다.In addition, since it is vulnerable to static electricity or the like which may occur during the operation, a magnetic force is generated in a plurality of probe pins, so that it is difficult to apply individual probe pins to a probe.

대한민국 공개특허 제10-2010-0117434호(전자 부품 수납용 트레이, 2010년 11월 03일 공개)Korean Patent Publication No. 10-2010-0117434 (tray for storing electronic components, published on November 03, 2010) 대한민국 공개특허 제10-2013-0127615호(전자부품용 포장케이스, 2013년 11월 25일 공개)Korean Patent Publication No. 10-2013-0127615 (packaging case for electronic parts, published on Nov. 25, 2013) 대한민국 등록실용신안20-0168383호(전자 부품 운반 상자, 2000년 03월 02일 공고)Korean Registered Utility Model No. 20-0168383 (Electronic Parts Carrying Box, Announcement on Mar. 02, 2000) 대한민국 등록실용신안2019990026090호(전자부품 보관 케이스, 2000년 05월 15일 공고)Korea registered utility model 2019990026090 (electronic case storage case, announcement on May 15, 2000)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 극복하기 위해, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 파손을 방지하고, 수량파악을 용이하게 할 수 있는 반도체용 프로브핀 케이스을 제공하는 것을 본 발명의 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a probe pin case for a semiconductor which can prevent breakage of a probe pin made by ultra-precision micro-machining and can easily grasp the quantity in order to overcome the above problems.

상기와 같은 문제를 해소하기 위한 반도체용 프로브핀 케이스에 있어서, 복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공하게 된다.A semiconductor probe pin case for solving the above problems is provided with a tray (1) for arranging a plurality of probe pins individually and interpolating them, a probe pin (1) coupled to one side of the tray (1) And a cover (2) capable of preventing loss to the outside of the probe pin case.

이때, 양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)을 형성하여 프로브핀을 수용할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 핀수용부(13)가 형성되는 일측면에 슬라이딩 되도록 결합되는 커버(2)로 구성되도록 한다.At this time, rail ends 11 are formed at both side ends of the tray 1 so as to be bent between the outer side and the inner side of the tray 1, and are positioned between the pair of rail jaws 11, A tray 1 for holding a probe pin by forming a plurality of pin receiving portions 13 on one side thereof and a cover 1 which is slidably engaged with a side surface of the pin receiving portion 13 of the tray 1, (2).

또한, 상기 트레이(1)의 일측면 중앙부에 횡측방향으로 프로브핀의 수를 파악하기 위한 게이지(14)가 더 형성되며, 상기 트레이(1)의 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(4)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성되어 작업자의 작업이 용이하도록 한다.A gauge 14 for recognizing the number of probe pins in the transverse direction is further formed at a central portion of one side of the tray 1 and a plurality of pin receiving portions 13 formed on one side of the tray 1 A transverse groove 15 is formed at the center of the probe pin 4 so that the tip of the tweezers and the gripping means can be positioned outside the probe pin 4, thereby facilitating the work of the operator.

또한, 상기 트레이(1)의 일측 단부에는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)와 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하지 않도록 하기 위한 걸림돌기(12)가 더 형성되고, 상기 커버(2)의 단부에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성되도록 하며, 상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성하여 내측에 구비되는 프로브핀(4)의 갯수파악 및 외관검사가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공함으로써, 본 발명의 목적을 보다 잘 달성할 수 있도록 한다.A locking protrusion 12 is formed at one end of the tray 1 to prevent the cover 2 from detaching from the tray 1 when the cover 2 is slidably coupled to the tray 1 And an engaging groove 21 corresponding to the engaging projection 12 is further formed at an end of the cover 2. The tray 1 and the cover 2 are formed of a transparent material, The number of the probe pins 4 and the appearance of the probe pins 4 can be checked.

본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 제공함으로써, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 파손을 방지하고, 수량파악을 용이하게 할 수 있는 효과가 있다.By providing the semiconductor probe pin case of the present invention, it is possible to prevent breakage of the ultra fine precision microfabricated probe pin and to make it easy to grasp the yield.

도 1은 본 발명의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 전개사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 트레이(1)의 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 트레이(1)의 측단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시를 도시한 예시도이다.1 is a perspective view of the present invention.
2 is an exploded perspective view of the present invention.
3 is a plan view of the tray 1 according to the present invention.
4 is a side cross-sectional view of the tray 1 according to the present invention.
5 is an exemplary diagram showing an embodiment of the present invention.

이하에서 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 당업자가 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, the semiconductor probe pin case of the present invention will be described in detail with reference to the drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention.

도 1은 본 발명의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 전개사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 트레이(1)의 평면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 트레이(1)의 측단면도이며, 도 5는 본 발명의 실시를 도시한 예시도이다.3 is a plan view of the tray 1 according to the present invention, FIG. 4 is a side sectional view of the tray 1 according to the present invention, and FIG. 5 is an exemplary diagram showing an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 5를 참조하여 상세하게 설명하면, 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스는 프로브핀(3)을 내삽하여 보관하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 상측 개방구에 결합되는 커버(2)로 구성된다.1 to 5, a probe pin case for a semiconductor according to the present invention includes a tray 1 for inserting and storing a probe pin 3, and a cover (not shown) coupled to an upper opening of the tray 1, (2).

보다 상세하게 설명하면, 복수개의 프로브핀(3)을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것이다.More particularly, the present invention relates to a method for preventing the loss of an interpolated probe pin to the outside of a tray 1 by inserting and inserting a plurality of probe pins 3 individually, And a cover 2 that can be attached to the cover 2.

이때, 상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성되어, 내측에 구비되는 프로브핀의 적재량을 파악할 수 있으며, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 외관검사를 시행할 수 있도록 한다.At this time, the tray 1 and the cover 2 are made of a transparent material so that the loading amount of the probe pin provided in the inside can be grasped, and the inspection of the ultra fine precision processed probe pin can be performed.

이와 같은 프로브핀의 외관검사는 별도의 확대장치 등을 이용하여 시행할 수 있는데, 기존의 유리병 등을 이용한 보틀링 보관법에 의해 하나의 보틀에 복수개의 프로브핀이 담겨질 때 개개의 프로브핀의 외관검사를 시행하기 어려운 점을 극복하기 위한 것이며, 복수개의 프로브핀에 의한 마찰 등으로 팁부분이 파손되는 것을 방지할 수 있도록 하기 위한 것이다.Such inspection of the probe pin can be carried out by using a separate enlarging device or the like. When a plurality of probe pins are contained in one bottle by the conventional bottle holding method using a glass bottle or the like, the appearance of each probe pin This is to prevent breakage of the tip portion due to friction caused by a plurality of probe pins.

상기와 같은 트레이(1)는 양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)을 형성하며, 중앙부에 횡측방향으로 게이지(14)를 형성하게 된다.The tray 1 has a pair of rail jaws 11 formed at both side ends thereof and formed with the rail jaws 11 forming a bent portion bent from the outside to the inside in the direction of the inside, A plurality of pin receiving portions 13 are formed on one side of the tray 1 and a gage 14 is formed in the middle portion in the lateral direction.

또한, 상기 트레이(1)의 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(3)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성된다.A plurality of pin receiving portions 13 formed on one side of the tray 1 are provided with transverse grooves 15 for positioning the tips of the pin sets and the gripping means on the outside of the probe pins 3 Lt; / RTI >

상기와 같은 횡측홈(15)은 복수개의 핀수용부(13)를 횡측방향으로 식각하여 형성되도록 한다.The lateral grooves 15 are formed by etching a plurality of the pin receiving portions 13 in the lateral direction.

이때, 상기 레일턱(11)은 트레이(1)의 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 구비하도록 하되, 양측면에 각각 배치되고, 절곡부가 마주보도록 형성하여 트레이(1)에 결합되는 커버(2)의 측면이 각각의 레일턱(11)에 내삽되도록 하는 것이다.At this time, the rail jaws 11 are provided on both sides of the tray 1 so as to have bent portions bent inward from the outer side of the tray 1, and the cover 2, which is formed to face the bent portions and is opposed to the tray 1, So that the side surfaces of the rail 11 are inserted into the respective rail jaws 11.

또한, 상기 트레이(1)의 일측단부에는 걸림돌기(12)가 더 형성되어, 트레이(1)에 결합되는 커버(2)가 밀려나가는 것을 방지하도록 한다.A locking protrusion 12 is further formed at one end of the tray 1 to prevent the cover 2 coupled to the tray 1 from being pushed out.

보다 상세하게 설명하면, 트레이(1)의 측면에 형성되는 레일턱(11)에 커버(2)가 내삽된 후 트레이(1)의 일측면에 형성되는 핀수용부(13)의 개방된 부분을 밀폐시키게 되는 것이다.More specifically, the open portion of the pin receiving portion 13 formed on one side of the tray 1 after the cover 2 is inserted into the rail jaw 11 formed on the side surface of the tray 1 It is sealed.

이때, 상기 핀수용부(13)는 트레이(1)의 종측방향으로 프로브핀이 내삽될 수 있도록 표면에서 내측으로 식각되어 형성되며, 상기와 같이 형성된 핀수용부(13) 복수개가 트레이(1)의 횡측방향으로 배치되어 형성된다.The pin receiving portion 13 is formed by etching inward from the surface so that a probe pin can be inserted in the longitudinal direction of the tray 1. A plurality of pin receiving portions 13 formed as described above are inserted into the tray 1, As shown in Fig.

상기와 같이 형성된 복수개의 핀수용부(13)는 트레이(1)의 중앙에 형성되는 게이지(14)를 중심으로 양측에 대응되도록 배치되어 형성된다.The plurality of pin receiving portions 13 formed as described above are formed so as to correspond to both sides of the gauge 14 formed at the center of the tray 1 as a center.

이때, 상기 게이지(14)는 핀수용부(13)의 갯수를 확인할 수 있도록 하는 것이며, 핀수용부(13)에 내삽되어 구비되는 프로브핀(3)의 갯수를 파악할 수 있도록 한다.At this time, the gauge 14 allows the number of the pin receiving portions 13 to be confirmed, and the number of the probe pins 3 inserted in the pin receiving portion 13 can be grasped.

상기와 같은 트레이(1)의 일측면에 결합되는 커버(2)는 평판형상으로 형성되어 레일턱(11)에 양측 단부가 각각 내삽되어 레일턱(11)을 따라 슬라이딩 될 수 있도록 형성된다.The cover 2 coupled to one side of the tray 1 is formed in a flat plate shape and is formed so that both side ends thereof are inserted into the rail jaws 11 and can slide along the rail jaws 11.

이는 작업공정간 작업자에 의해 트레이(1)의 핀수용부(13)에 내삽되는 프로브핀(3)을 적재 또는 추출하여 사용하기 용이하도록 하며, 트레이(1)의 이동 또는 보관시 내측에 구비되는 프로브핀(3)이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있도록 하는 것이다.This makes it easy for the operator to load or extract the probe pins 3 to be inserted into the pin receiving portion 13 of the tray 1 by the operator during the work processes, So that the probe pin 3 can be prevented from being lost to the outside.

보다 상세하게 설명하면, 상기와 같이 커버(2)를 슬라이딩 되도록 형성하여 상측방향으로 개방할 경우 발생될 수 있는 프로브핀(3)의 쏟아짐을 방지하게 되는 것이다.More specifically, as described above, the cover 2 is formed to slide so as to prevent the probe pin 3 from being poured when the cover 2 is opened upward.

이때, 상기 커버(2)의 일측에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성된다.At this time, a latching groove 21 corresponding to the latching protrusion 12 is further formed on one side of the cover 2.

이는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)에 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하는 것을 방지하기 위한 것이다.This is for preventing the cover 2 from separating from the tray 1 when the cover 2 is slid to be coupled to the tray 1. [

상기와 같은 방법에 의해 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 완성할 수 있는 것이다.The semiconductor probe pin case of the present invention can be completed by the above-described method.

1 : 트레이 2 : 커버
11 : 레일턱 12 : 걸림돌기
13 : 핀수용부 14 : 게이지
15 : 횡측홈 21 : 걸림홈1: Tray 2: Cover
11: rail chin 12:
13: pin accommodating portion 14: gauge
15: transverse side groove 21:

Claims (6)

복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 반도체용 프로브핀 케이스에 있어서, 양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)를 형성하여 프로브핀을 수용할 수 있도록 하고, 일측면 중앙부에 횡측방향으로 프로브핀의 수를 파악하기 위한 게이지(14)가 더 형성되며, 상기 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(4)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성되는 트레이(1);와
상기 트레이(1)의 핀수용부(13)가 형성되는 일측면에 슬라이딩 되도록 결합되는 커버(2)로 구성되되, 상기 트레이(1)의 일측 단부에는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)와 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하지 않도록 하기 위한 걸림돌기(12)가 더 형성되고, 상기 커버(2)의 단부에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성되도록 하고, 상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성하여 내측에 구비되는 프로브핀(4)의 갯수파악 및 외관검사가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.A tray 1 for inserting and interpolating a plurality of probe pins individually and a cover 2 coupled to one side of the tray 1 and capable of preventing the interpolated probe pins from being leaked to the outside A pair of rail jaws 11 formed as described above and arranged so as to face each other are formed between the pair of rail jaws 11 so as to be opposed to each other, A plurality of pin receiving portions 13 are formed on one side of the tray 1 so as to accommodate the probe pins and a gauge 14 for recognizing the number of the probe pins in the transverse direction And a transverse side groove 15 is formed at a central portion of the plurality of pin receiving portions 13 formed on the one side so that the tip of the pin set and the holding means can be located outside the probe pin 4 A tray (1); Wow
And a cover 2 slidably coupled to one side of the tray 1 where the pin receiving portion 13 is formed. The cover 1 is slidably mounted on one side of the tray 1, A locking protrusion 12 for preventing the cover 2 from separating from the tray 1 is formed at the end of the cover 2 and a locking groove 12 And the tray (1) and the cover (2) are made of a transparent material so that the number of the probe pins (4) provided on the inside of the tray (1) Pin case. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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