KR101846547B1 - 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템 및 방법 - Google Patents

유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 이물질에 의한 불량을 개선할 수 있는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템이 개시된다.
유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템은 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 공정 중이 삽입되는 이물질을 검출하는 이물질 검출부와, 이물질 검출부로부터의 이물질 검출 결과에 따라 레이저 조사부를 구동시키는 구동부 및 이물질 검출부 및 구동부를 제어하는 제어부를 포함하고, 레이저 조사부는 이물질이 검출된 화소가 정상 구동되도록 이물질의 주변영역을 따라 레이저를 조사한다.

Description

유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR REPAIRING ORGANIC ELECTRO-LUMINESCENT DEVICE}
본 발명은 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템에 관한 것으로, 이물질에 의한 불량을 개선할 수 있는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.
최근 표시장치는 음극선관(CRT)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 평판 표시장치로 유기 발광층의 발광량을 제어하여 영상을 표시하는 유기전계 발광표시장치(OLED)가 각광받고 있다.
상기 유기전계 발광표시장치는 전극 사이의 발광층을 이용한 자발광 소자로써, 액정표시장치와 같이 광을 제공하는 백라이트 유닛이 필요로 하지 않아 박형화가 가능한 장점을 가진다.
유기전계 발광표시장치는 3색(R,G,B) 서브 화소로 구성된 화소들이 매트릭스 형태로 배열되어 화상을 표시한다.
상기 각각의 서브 화소는 유기전계 발광 셀과, 상기 유기전계 발광 셀을 독립적으로 구동하는 셀 구동부를 구비한다.
상기 셀 구동부는 스캔 신호를 공급하는 게이트 라인과, 영상 데이터 신호를 공급하는 데이터 라인과, 공통전원 신호를 공급하는 공통전원 라인 사이에 적어도 2개 이상의 박막 트랜지스터와, 스토리지 캐패시터로 구성되어 유지전계 발광 셀의 화소 전극을 구동한다.
유기전계 발광 셀은 셀 구동부와 접속된 화소 전극과, 화소 전극 위에 유기층과, 유기층 위에 음극으로 구성된다. 여기서, 유기전계 발광표시패널은 박막 트랜지스터와 유기전계 발광 셀이 형성된 하부 기판과 상부 기판이 합착되어 형성된다.
이와 같은 구조의 유기전계 발광표시장치는 제조과정에서 이물질이 기판상에 안착될 수 있으며, 상기 이물질은 유기전계 발광표시장치의 제조가 완료된 이후에 발견될 수 있다.
일반적인 유기전계 발광표시장치는 상기 이물질에 의해 상기 화소전극과 음극이 서로 전기적으로 접속되어 해당 서브 화소의 불량을 야기하고, 이의 따른 불량 서브 화소에 의해 전체 수율이 저하되는 문제가 있었다.
여기서, 불량 서브 화소는 상기 이물질에 의해 상기 화소전극 및 음극이 전기적으로 연결되어 해당 서브 화소가 암점화되는 현상을 의미한다.
본 발명은 이물질에 의한 불량을 개선할 수 있는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템은,
후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 공정 중이 삽입되는 이물질을 검출하는 이물질 검출부; 상기 이물질 검출부로부터의 상기 이물질 검출 결과에 따라 레이저 조사부를 구동시키는 구동부; 및 상기 이물질 검출부 및 구동부를 제어하는 제어부를 포함하고, 상기 레이저 조사부는 상기 이물질이 검출된 화소가 정상 구동되도록 상기 이물질의 주변영역을 따라 레이저를 조사한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법은,
후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 공정 중이 삽입되는 이물질을 검출하는 단계; 상기 이물질 검출 결과에 따라 레이저 조사부를 구동시키는 단계; 및 상기 이물질 검출하는 이물질 검출부 및 상기 레이저 조사부를 구동시키는 구동부를 제어하는 단계를 포함하고, 상기 레이저 조사부는 상기 이물질이 검출된 화소가 정상 구동되도록 상기 이물질의 주변영역을 따라 레이저를 조사한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 리페어 시스템은 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 구조에 있어서, 화소의 이물질을 검출하고, 이물질 주변을 레이저로 리페어하는 것으로 이물질이 검출된 화소에 있어서, 이물질의 주변영역을 따라 레이저에 의한 리페어 공정을 수행하여 해당 화소의 암점화를 최소화할 수 있는 장점을 가진다.
즉, 본 발명은 화소내에 이물질이 형성된 영역만을 국부적으로 리페어하여 해당 화소 전체의 암점화를 방지함으로써, 암점화에 의한 불량으로 수율이 저하되는 문제를 개선할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치를 도시한 회로 블럭도이다.
도 2는 도 1의 단위 발광 영역을 도시한 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치의 리페어 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 이물질 주변의 리페어 모습을 도시한 단면도이다.
도 5는 도 4의 단위 발광 영역을 도시한 평면도이다.
첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하도록 한다.
본 발명의 일 실시예는 당업자에게 본 발명의 기술 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위함이다. 따라서, 이하에서 설명하는 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술 사상을 기초로 다른 실시예들은 얼마든지 추가될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치를 도시한 회로 블럭도이고, 도 2는 도 1의 단위 발광 영역을 도시한 회로도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 유기전계 발광표시장치는 화상을 표사하는 화상 표시부(100)와, 상기 화상 표시부(100)의 일측에 게이트 라인(GL1 내지 GLn)을 구동하는 게이트 구동부(230)가 구비된 발광표시패널(200)을 포함한다.
여기서, 유기전계 발광표시장치는 데이터 라인(DL1 내지 DLm)을 구동하는 데이터 구동부(미소시)를 더 포함한다.
상기 발광표시패널(200)은 서로 대면되어 실(seal, 170)에 의해 합착된 상부 기판 및 하부 기판을 구비하고, 상기 발광표시패널(200)의 화소 표시부(100)에는 상기 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 데이터 라인(DL1 내지 DLm)이 교차하여 정의되는 다수의 화소영역 각각에 발광영역(EL)이 형성된다. 상기 발광영역(EL)은 전원부(미도시)로부터 구동전압(VDD)과 기저전압(GND)을 공급받는다.
상기 구동전압(VDD)는 구동전압 공급라인(220)을 통해 각각의 발광영역(EL)으로 구동전압(VDD)를 공급한다.
상기 기저전압(GND)은 기저전압 공급라인(210)을 통해 각각의 발광역역(EL)으로 기저전압(GND)를 공급한다.
상기 발광영역(EL)은 도 2를 참조하면, 게이트 라인(GL), 데이터 라인(DL) 및 전원라인(PL)과 접속된 셀 구동부(240)와, 상기 셀 구동부(240)와 전원라인(PL)과 접속된 OEL 셀을 포함한다.
셀 구동부(240)는 상기 게이트 라인(GL) 및 상기 데이터 라인(DL)과 접속된 스위치 박막 트랜지스터(T1)과, 상기 스위치 박막 트랜지스터(T1) 및 전원라인(PL)과 OEL 셀의 양극 사이에 접속된 구동 박막 트랜지스터(T2)와, 전원라인(PL)과 스위치 박막 트랜지스터(T1)의 드레인 전극 사이에 접속된 스토리지 캐패시터(C)를 구비한다.
상기 스위치 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 게이트 라인(GL)과 접속되고, 소스 전극은 데이터 라인(DL)과 접속되며, 드레인 전극은 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극 및 스토리지 캐패시터(C)와 접속된다.
상기 구동 박막 트랜지스터(T2)의 소스 전극은 전원 라인(PL)과 접속되고, 드레인 전극은 OEL 셀의 양극 역할을 하는 화소 전극과 접속된다. 스토리지 캐패시터(C)는 전원 라인(PL)과 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극 사이에 접속된다.
상기 스위치 박막 트랜지스터(T1)는 상기 게이트 라인(GL)에 스캔 펄스가 공급되면 턴-온되어 상기 데이터 라인(DL)에 공급된 데이터 신호를 스토리지 캐패시터(C) 및 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극으로 공급한다. 구동 박막 트랜지스터(T2)는 게이트 전극으로 공급되는 데이터 신호에 응답하여 전원 라인(PL)으로부터 OEL 셀로 공급되는 전류를 제어함으로써 OEL 셀의 발광량을 조절하게 된다. 그리고, 상기 스위치 박막 트랜지스터(T1)가 턴-오프되더라도 스토리지 캐패시터D(C)에 충전된 전압에 의해 구동 박막 트랜지스터(T2)는 다음 프레임의 데이터 신호가 공급될 때까지 일정한 전류를 공급하여 OEL 셀이 발광을 유지하게 한다.
이상에서와 같은 구조의 유기전계 발광표시장치는 상부기판이 불투명 물질로 이루어져 앤캡(encap) 형태로 구비된다. 따라서, 본 발명의 유기전계 발광표시장치는 하부기판의 하부방향으로 영상이 디스플레이되는 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 구조를 가진다.
본 발명은 이상에서와 같은 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 제조공정 중에 이물질에 의한 불량을 리페어하는 리페어 시스템을 제공한다. 상기 리페어 시스템의 구성은 도 3을 통해 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치의 리페어 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광표시장치의 리페어 시스템은 유기전계 발광표시장치의 화소에 이물질을 검출하는 이물질 검출부(11)와, 상기 이물질이 주변에 레이저를 조사하는 레이저 조사부(15)와, 상기 레이저 조사부(15)를 상기 이물질이 검출된 화소에 이동시키고 상기 레이저 조사부(15)를 구동시키는 구동부(13)와, 상기 이물질 검출부(11)와 상기 구동부(13)를 제어하는 제어부(8)를 포함한다.
상기 이물질 검출부(11)는 유기전계 발광표시장치의 화소에 이물질의 존재 여부를 판별하는 기능을 가진다.
상기 이물질 검출부(11)는 일예로 점등기(미도시)를 이용하여 이물질을 검출할 수 있다. 구체적으로 상기 이물질 검출부(11)는 점등기상에 유기전계 발광표시장치를 배치하고, 각각의 화소에 이물질 존재 여부를 판별한다.
상기 이물질 검출부(11)는 점등기를 이용하여 유기전계 발광표시장치의 화소마다 이물질 존재를 판별하고, 이물질이 발견시에 수직 및 수평 좌표를 측정하여 상기 제어부(8)에 전달한다.
상기 구동부(13)는 상기 레이저 조사부(15)를 구동하고, 이물질이 발견된 위치로 상기 레이저 조사부(15)를 이동시킨다. 따라서, 상기 구동부(13)는 상기 이물질 검출부(11)로부터의 이물질 위치 정보를 참조할 수 있다.
상기 레이저 조사부(15)는 상기 구동부(13)로부터 이물질이 검출된 화소에 레이저를 조사하는 기능을 가진다. 상기 레이저 조사부(15)는 상기 구동부(13)로부터 이물질이 검출된 화소로 이동되고, 상기 이물질의 주변을 따라 레이저를 조사한다.
상기 레이저 조사부(15)로부터 조사되는 레이저는 500㎚~1500㎚의 파장을 가진다.
여기서, 상기 레이저 조사부(15)는 컬러필터층을 포함하는 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 리페어시에 800㎚~1500㎚ 파장의 레이저를 사용할 수 있다.
본 발명의 리페어 시스템은 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 구조에 있어서, 화소의 이물질을 검출하고, 이물질 주변을 레이저로 리페어하는 것으로 이물질이 검출된 화소에 있어서, 이물질의 주변영역을 따라 레이저에 의한 리페어 공정을 수행하여 해당 화소의 암점화를 최소화할 수 있는 장점을 가진다. 즉, 본 발명은 화소내에 이물질이 형성된 영역만을 국부적으로 리페어하여 해당 화소 전체의 암점화를 방지함으로써, 암점화에 의한 불량으로 수율이 저하되는 문제를 개선할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 이물질 주변의 리페어 모습을 도시한 단면도이고, 도 5는 도 4의 단위 발광 영역을 도시한 평면도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 화소영역은 투명한 절연 기판(101) 상에 버퍼층(116)과 게이트 절연막(112)이 형성되고, 상에 게이트 라인으로부터 분기된 게이트 전극(106)과, 게이트 전극(106) 주변의 게이트 절연막(112) 및 층간 절연막(126) 상에 형성된 소스/드레인 전극(108, 110)과, 상기 게이트 절연막(112) 및 층간 절연막(126)에 형성되는 컨택홀을 통해 상기 소스/드레인 전극(108, 110) 사이의 채널을 형성하는 액티브층(114)을 포함한다.
상기 액티브층(114)은 버퍼막(116)을 사이에 두고 상기 절연 기판(101) 상에 형성된다.
상기 게이트 전극(106)은 상기 액티브층(114)의 채널 영역(114C)과 게이트 절연막(112)을 사이에 두고 중첩된다.
상기 소스/드레인 전극(108, 110) 각각은 컨택홀에 의해 상기 액티브층(114)의 불순물이 주입된 소스/드레인 영역(114S, 114D)과 각각 접촉된다.
상기 층간 절연막(126) 상에는 컬러를 표시하기 위한 컬러필터층(140)이 형성되고, 상기 컬러필터층(140) 상에는 보호막(118)이 형성된다.
상기 보호층(118) 상에는 투명한 도전 물질의 화소전극(122)이 형성된다.
상기 화소전극(122)은 상기 컬러필터층(140) 및 상기 보호층(118)을 관통하는 컨택홀을 통해 드레인 전극(110)과 전기적으로 접속된다.
상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치는 상기 화소전극(122) 및 보호층(118) 상에는 화소영역의 상기 화소전극(122)을 노출시키는 뱅크 절연막(130)과, 노출된 화소전극(122) 상에 발광층을 포함하는 유기 발광층(134)과, 상기 유기 발광층(134) 및 상기 뱅크 절연막(130) 상에 형성되는 음극층(136)을 포함한다.
상기 유기 발광층(134)은 상기 화소전극(122)으로부터 적층된 정공 주입층, 정공 수송층, 발광층, 전자 수송층 및 전자 주입층으로 구성될 수 있다.
상기 유기 발광층(134)에 포함된 발광층은 상기 화소전극(122)에 공급된 전류랑에 따라 발광하여 화소전극(122)을 경유하여 절연 기판(101) 쪽으로 빛을 방출하게 된다.
여기서, 상부기판(160)은 불투명한 물질로 이루어지며, 빛을 반사하는 기능을 가져 유기 발광층(134)으로부터 출사되는 빛을 절연 기판(101) 하부방향으로 가이드 한다.
상기 유기 발광층(134)으로부터 발광된 빛은 상기 컬러필터층(140)을 경유하여 컬러를 표시하게 된다.
이상에서와 같은, 상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치는 제조공정 중에 이물질(400)이 삽입될 수 있다.
도 4에서와 같이, 상기 이물질(400)이 도전성 물질일 경우, 화소전극(122) 및 음극층(136)과 접속되어 해당 화소의 화소전극(122) 및 음극층(136)이 전기적으로 접속되어 해당 화소 전체가 암점화될 수 있다.
본 발명의 리페어 시스템은 상기 이물질(400)의 위치를 검출하여 이물질(400)의 주변영역을 레이저(ℓ)로 리페어하여 해당 화소의 이물질(400) 주변을 제외한 영역을 정상 구동킴으로써, 화소의 암점화에 의한 불량으로 수율이 저하되는 문제를 개선할 수 있다. 여기서, 상기 이물질(400)의 주변영역을 제1 영역(P1)으로 정의한다.
상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치는 화소전극(122) 하부에 컬러필터층(140)이 포함된 구조를 가진다.
상기 컬러필터층(140)은 800㎚ 파장대에서 투과율이 급격히 높아지는 특성을 가진다.
본 발명의 리페어 시스템은 레이저 조사부로부터 조사되는 레이저가 500㎚~1500㎚의 파장을 가진다.
여기서, 본 발명의 리페어 시스템은 상기 절연 기판(101)의 후면 방향에서 레이저를 조사하여 리페어함으로써, 상기 컬러필터층(140)의 손상을 최소화하기 위해 800㎚~1500㎚ 파장의 레이저가 사용될 수 있다.
본 발명의 리페어 시스템의 레이저(ℓ)는 이물질(400)이 위치한 제1 영역(P1)의 상기 절연 기판(101), 컬러필터층(140) 및 보호층(118)을 경유하여 적어도 화소전극(122)을 절연시킨다.
여기서, 본 발명의 레이저(ℓ)는 상기 화소전극(122) 뿐만 아니라 유기 발광층(134) 및 음극층(136)도 절연시킬 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 리페어 시스템은 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)이 교차하여 정의되는 화소영역(P)에 있어서, 레이저를 이용하여 이물질의 주변영역으로 정의되는 제1 영역(P1)을 리페어함으로써, 제1 영역(P1)을 제외한 제2 영역(P2)을 정상적으로 구동시킬 수 있다.
따라서, 본 발명은 화소를 기준으로 암점화의 불량률을 최소화할 수 있다
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 리페어 시스템은 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 구조에 있어서, 화소의 이물질을 검출하고, 이물질 주변을 레이저로 리페어하는 것으로 이물질이 검출된 화소에 있어서, 이물질의 주변영역을 따라 레이저에 의한 리페어 공정을 수행하여 해당 화소의 암점화를 최소화할 수 있는 장점을 가진다.
즉, 본 발명은 화소내에 이물질이 형성된 영역만을 국부적으로 리페어하여 해당 화소 전체의 암점화를 방지함으로써, 암점화에 의한 불량으로 수율이 저하되는 문제를 개선할 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
8: 제어부 11: 이물질 검출부
13: 구동부 15: 레이저 조사부
122: 화소전극 140: 컬러필터층
400: 이물질 ℓ: 레이저
P1: 제1 영역 P2: 제2 영역
P: 화소영역

Claims (14)

  1. 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 제조공정 중에 삽입되는 도전성 물질인 이물질을 검출하는 이물질 검출부;
    상기 이물질 검출부로부터의 상기 이물질 검출 결과에 따라 레이저 조사부를 구동시키는 구동부; 및
    상기 이물질 검출부 및 상기 구동부를 제어하는 제어부를 포함하고,
    상기 레이저 조사부는, 상기 이물질이 검출된 화소 내의 상기 이물질의 주변영역을 따라 레이저를 조사하여, 상기 이물질의 주변영역에 대응하는 화소전극의 부분과 상기 이물질의 주변영역을 제외한 영역에 대응하는 상기 화소전극의 부분을 절연시켜 상기 이물질의 주변영역을 제외한 영역의 상기 화소가 암점화되지 않고 정상 구동되는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 레이저 조사부는 500㎚~1500㎚의 파장을 가지는 레이저로 리페어하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치는 게이트 라인 및 데이터 라인이 교차되어 정의되는 화소영역에 컬러필터층, 보호층, 상기 화소전극, 유기 발광층 및 음극층이 순차적으로 적층된 구조의 하부기판과, 상기 하부기판 상에 불투명 물질로 이루어진 상부기판을 포함하고, 상기 레이저 조사부는 상기 하부기판 방향에서 상기 레이저를 조사하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  4. 삭제
  5. 제3 항에 있어서,
    상기 레이저 조사부는 800㎚~1500㎚의 파장을 가지는 레이저로 리페어하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 이물질 검출부는 점등기 상에 상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치를 배치하고, 다수의 화소에 상기 이물질 유무를 검출하고, 상기 이물질 검출시에 수직 및 수평 좌표를 측정하여 상기 제어부에 공급하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 구동부는 상기 이물질의 수직 및 수평 좌표를 상기 제어부와 공유하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 시스템.
  8. 이물질 검출부를 통해, 후면 발광형 유기전계 발광표시장치의 제조공정 중에 삽입되는 도전성 물질인 이물질을 검출하는 단계;
    구동부를 통해, 상기 이물질 검출 결과에 따라 레이저 조사부를 구동시키는 단계; 및
    제어부를 통해, 상기 이물질 검출부 및 상기 구동부를 제어하는 단계를 포함하고,
    상기 레이저 조사부는, 상기 이물질이 검출된 화소 내의 상기 이물질의 주변영역을 따라 레이저를 조사하여, 상기 이물질의 주변영역에 대응하는 화소전극의 부분과 상기 이물질의 주변영역을 제외한 영역에 대응하는 상기 화소전극의 부분을 절연시켜 상기 이물질의 주변영역을 제외한 영역의 상기 화소가 암점화되지 않고 정상 구동하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 레이저 조사부는 500㎚~1500㎚의 파장을 가지는 레이저로 리페어하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치는 게이트 라인 및 데이터 라인이 교차되어 정의되는 화소영역에 컬러필터층, 보호층, 상기 화소전극, 유기 발광층 및 음극층이 순차적으로 적층된 구조의 하부기판과, 상기 하부기판 상에 불투명 물질로 이루어진 상부기판을 포함하고, 상기 레이저 조사부는 상기 하부기판 방향에서 상기 레이저를 조사하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
  11. 삭제
  12. 제10 항에 있어서,
    상기 레이저 조사부는 800㎚~1500㎚의 파장을 가지는 레이저로 리페어하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
  13. 제8 항에 있어서,
    상기 이물질 검출부는 점등기 상에 상기 후면 발광형 유기전계 발광표시장치를 배치하고, 다수의 화소에 상기 이물질 유무를 검출하고, 상기 이물질 검출시에 수직 및 수평 좌표를 측정하여 상기 제어부에 공급하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 구동부는 상기 이물질의 수직 및 수평 좌표를 상기 제어부와 공유하는 유기전계 발광표시장치의 수리를 위한 방법.
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