KR101818000B1

KR101818000B1 - 가치 문서를 이용하는 인증 장치

Info

Publication number: KR101818000B1
Application number: KR1020127016309A
Authority: KR
Inventors: 윌리암 로스 래포포트; 제임스 케인; 카스텐 라우
Original assignee: 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드
Priority date: 2009-11-23
Filing date: 2010-11-22
Publication date: 2018-01-12
Also published as: ES2592279T3; CN102754129B; US20110121203A1; WO2011063317A3; EP2504819A4; CN102754129A; JP5675837B2; EP2504819A2; EP2504819B1; JP2013511926A; KR20120105483A; US8263948B2; WO2011063317A2

Abstract

여기 입사광에 의해 여기될 때 사전 선택된 파장에서 광학 복사를 방출하는 활성 이온을 포함하는 균일하거나 불균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 갖는 이동하는 가치 문서를 인증하는데 사용되는 인증 장치가 개시된다. 광학 복사는 제1 및 제2 검출기 요소를 갖는 저어도 하나의 광 검출기 상으로 촬영된다. 촬영된 세기는 가치 문서의 속도에 관련되는 사전 결정된 시간에 캡쳐된다. 동일한 이미지 위치 또는 상이한 이미지 위치에서 측정된 제2 검출기 요소와 제1 검출기 요소 사이의 비는 사전 선택된 파장 방출의 특징적인 감쇠 시간 세기 데이터를 나타낸다. 가치 문서의 인증은 사전 선택된 파장 방출이 적어도 하나의 광 검출기에 의해 수신되지 않거나, 출력 전자 신호비가 예측된 값을 만족하지 않을 때 거부된다.

Description

가치 문서를 이용하는 인증 장치{AUTHENTICATION APPARATUS FOR MOVING VALUE DOCUMENTS}

[관련 출원에 대한 교차 참조]

본 출원은 현재 계류 중인 2009년 11월 23일 출원된 미국 가출원 제61/263,624호의 이익을 주장한다.

[기술분야]

본 기술은 일반적으로 가치 문서 내에 또는 가치 문서 상에 포함된 눈에 띄지 않는(covert) 조성물의 방출 세기의 감쇠 정수 및 방출 파장을 이용하여 이동하는 가치 문서를 인증하는 검증 장치에 관한 것이다.

간단한 것에서부터 복잡한 것까지 가치 문서를 검증하는 많은 방법이 있다. 일부 방법은 신용 카드 상의 홀로그램, 은행권(bank note) 상의 엠보싱된 이미지 또는 워터마크, 보안 포일(foil), 보안 리본, 은행권 내의 착색된 쓰레드(thread) 또는 착색된 섬유, 또는 여권 상의 떠다니거나(floating) 그리고/또는 가라 앉은(sinking) 이미지와 같은 문서 상의 또는 문서에 포함되는 눈에 보이는(즉, 명시적인) 특징부를 포함한다. 이러한 특징부가 육안으로 식별하기 용이하고 인증을 위한 장치를 필요로 하지 않을 수 있지만, 이러한 명시적인 특징부는 위조자 및/또는 모조자가 되려는 자에 의해 쉽게 식별된다. 따라서, 명시적인 특징부에 더하여, 숨겨진(즉, 눈에 띄지 않는) 특징부가 가치 문서에 포함될 수 있다. 눈에 띄지 않는 특징부는 가치 문서의 기재(substrate)로 포함될 수 있는 눈에 보이지 않는 형광 섬유, 회학적으로 민감한 착색제, 형광 안료 또는 염료를 포함한다. 또한, 눈에 띄지 않는 특징부는 가치 문서의 기재 상에 또는 박판의 가치 문서를 제조하는데 사용되는 필름을 만드는데 사용되는 수지(resin) 내에 인쇄되는 잉크에 포함될 수 있다. 눈에 띄지 않는 특징부가 인간의 눈에 의해 검출 가능하지 않기 때문에, 이러한 눈에 띄지 않는 특징부를 검출하도록 구성된 검출기가 가치 문서를 인증하는데 필요하다.

예를 들어 은행권을 인증하는데 사용되는 많은 검증 시스템(예를 들어, 눈에 띄지 않는 특징부 및 대응하는 검출기)이 있다. 예를 들어, Kaule 등에 허여된 미국 특허 제4,446,204호는, 한편으로는, 적절하다면 인쇄된 이미지에서도 보안 용지의 IR 전송 특성을 체크하는 것을 가능하게 하고, 다른 한편으로는 자기 특성(magnetic property)을 갖는 첨가되거나 인가된 착색제 형태의 인증 가능한 특징부를 갖는 보안 용지를 개시하며, IR 전송 및 자기 시험 모두는 서로에 의해 영향을 받지 않고, 보안 용지 상의 동일한 위치에서 수행될 수 있다. 그 다음, 알려진 검출 장치가 검증을 위하여 인증 가능한 특징부의 상이하게 놓이는 스펙트럼 영역에 대하여 검출기를 매칭시키는데 사용된다.

또한, Nagase에 허여된 미국 특허 제5,679,959호는 지폐의 표면 상으로 자극광(stimulating light)을 투사하는 광원과, 자극광의 조사(irradiation)에 반응하여 지폐의 표면으로부터 방출되는 광을 광전자적으로 검출하고 검출된 광의 양에 대응하는 검출 데이터를 생성하는 광전 증배관(photomultiplier)과, 참조 데이터를 기억하기 위한 ROM과, 광전 증배관에 의해 생성된 검출 데이터와 ROM에 기억된 참조 데이터를 비교하는 중앙 처리 유닛(CPU, central processing unit)을 포함하는 지폐 판별 장치를 개시한다. 그러나, 이러한 시스템은 위조품으로부터의 방출되고 검출된 복사(radiation)가 진품의 방출된 복사 파라미터와 유사한 경우에 위조 문서를 검출할 수 없다.

많은 공지의 검증 시스템은 눈에 띄지 않는 인증 가능한 특징부를 검출하는 것과, 그 방출 스펙트럼을 평가하는 것을 포함한다. 방출이 단독으로 검출된다면, 가치 문서는 진본인 것으로 간주되고, 아니면 위조품으로서 거부된다. 이러한 종류의 종래의 검증 시스템의 한 문제는, 마모 또는 소모 손실에 노출되기 때문에, 인증가능한 특징부가 기질 상에서 인쇄된 잉크 내에 완전히 포함될 때 발생한다. 그 결과, 인증 가능한 특징부의 방출 스펙트럼 진폭의 예기치 않은 악화가 있으며, 이에 따라 인증 장치는 진품 문서를 위조품으로 부정확하게 식별할 수 있다. 다른 문제는, 위조자들이 더욱 지능적이게 되고 가치 문서에서 이러한 특징부를 포함하는 것을 검출할 수 있는 과학적인 장치에 대한 더 많은 액세스를 가지기 때문에, 시간이 경과함에 따라 이 방법은 보안이 더 약화된다는 사실을 포함한다.

고정식 형태의 상황에서 가시 광선 광원 또는 자외선 광원에 의해 여기되는 인광체의 감쇠 시간(decay time)을 검출하는 것을 포함하는 종래의 검증 시스템이 있다. 예를 들어, Vasic 등에 허여된 미국 특허 제7,030,371호는, 방출 세기(emission intensity) 및 시정수와 같은 특성적인 발광(luminescent) 파라미터의 신속한 추출을 허용하는 방법 및 장치에 의해 인증되는 시간 지연된 방출 특성을 보이는 발광 마커 화합물을 운반하는 보안 문서 또는 물품을 개시한다. 또한, Allen 등의 미국 출원 공보 제20090152468호는 사용되고 있는 특정 타간트(taggant)의 복사의 감쇠 시간을 정확하게 측정함으로써 샘플의 여기를 뒤따르는 타간트 샘플로부터 방출된 적외선 복사를 검출하는 기술 및 장치를 개시한다. 그러나, 이러한 시스템들은 이동하는 가치 문서의 검출 및 인증을 포함하지 않는다.

Morgan에게 허여된 미국 특허 제5,459,323호는 발광 샘플의 감쇠 시간에 가중치가 붙은 정보(예를 들어, 감쇠 시간에 가중치가 붙은 이미지)를 생성하는 장치를 개시하며, 이는 샘플을 조명하도록 마련된 여기 광원, 사전 결정된 주기적인 방식으로 여기광의 세기를 변조하고 펄스화하는 수단, 발광의 결과로서 샘플에 의해 방출된 광자를 검출하는 검출기 수단, 검출된 광자를 나타내는 데이터를 저장하는 수단 및 저장된 데이터로부터 감쇠 시간에 가중치가 붙은 정보를 생성하는 수단을 포함하고, 저장된 데이터는 광자의 검출과 주기적으로 가변하는 변조 사이의 위상차의 함수로서 가중치가 붙는다. 그러나, 이 기술은, 샘플의 임의의 이동이 위상차 검출을 악화시키기 때문에, 발광 샘플이 고정적인 경우에만 기능한다.

가치 문서를 인증하기 위한 종래의 검증 시스템에도 불구하고, 예를 들어 은행권을 분류하고 검출하는 것과 관련된 시스템과 같이, 이동하는 가치 문서를 신뢰성있고 정밀하게 검출하는 시스템에 대한 요구가 존재한다. 검증 시스템은 복제하기 어려운 가치 문서 내에 그리고/또는 가치 문서 상에 보안 특징부를 포함하여야만 하며, 가치 문서의 위조 및 모조를 방지하는데 충분히 독특하고 복잡한 특징부 및 검출 식별 방법을 가져야만 한다. 또한, 은행권과 같은 이러한 가치 문서가 고속으로 인증될 수 있는 것도 중요하다.

일 양태에서, 균일한 속도로 이동하고, 여기 입사광(exciting incident light)을 흡수하여 사전 선택된 방출 파장을 갖는 광학 복사를 방출하는 사전 선택된 눈에 띄지 않는(covert) 조성물을 포함하는 가치 문서를 인증하는 장치가 제공된다. 본 장치는, 여기 광원을 포함하며, 여기 광원은, 여기 광원에 의해 조명되는 영역 내에서 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 여기하는데 충분한 세기의 조명을 생성한다. 선택적으로, 본 장치는, 조명되는 영역 내에서 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 방출된 사전 선택된 방출 파장을 필터링하는 광학 필터를 포함한다. 또한, 본 장치는, 적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제1 검출기 요소 및 제2 검출기 요소를 포함하며, 제1 검출기 요소는 제1 시간에 가치 문서의 영역의 제1 이미지를 수신하여 제1 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하고, 제2 검출기 요소는 제2 시간에 가치 문서의 실질적으로 동일한 영역의 제2 이미지를 수신하여 제2 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하고, 제1 및 제2 이미지는 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 방출된 사전 선택된 방출 파장의 감쇠 시간 세기에 대응한다. 본 장치는, 출력된 전자 신호 데이터를 수집 및 평가하고, 가치 문서에 대한 통과 또는 실패를 판단하는 처리 유닛을 더 포함한다.

다른 양태에서, 여기 입사광을 흡수하여 광학 복사를 방출하는 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 포함하는 가치 문서에 대하여 가치 문서를 인증하는 방법이 제공된다. 본 방법은, 균일한 속도로 가치 문서를 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 여기하는데 충분한 세기를 갖는 조명을 생성하는 여기 광원에 의해 생성된 조명되는 영역을 지나 이동시키는 단계를 포함한다. 본 방법은, 선택적으로, 가치 문서가 광학 필터를 갖는 검출 윈도우를 통과할 때 조명되는 영역 내에서 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 사전 선택된 방출 파장을 필터링할 수 있다. 또한, 본 방법은, 제1 시간에 가치 문서의 영역의 제1 이미지를 적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제1 검출기 요소에 제공하는 단계와, 제2 시간에 가치 문서의 실질적으로 동일한 영역의 제2 이미지를 적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제2 검출기 요소에 제공하는 단계를 포함한다. 본 방법은 광 검출기로부터 제1 및 제2 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다. 또한, 본 방법은 처리 유닛에서 출력된 전자 신호 데이터를 수집하는 단계와, 가치 문서에 대한 패스 또는 페일 상태를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.

구체적인 예가 예시 및 설명의 목적으로 선택되어 본 명세서의 일부를 형성하는 첨부된 도면에 도시된다.
도 1은 인증 장치의 일례에 대한 개략적인 도면을 도시하며, 가치 문서가 여기 광원 아래에서 이동하고, 가치 문서 상의 또는 가치 문서 내의 사전 선택된 논에 띄지 않는 조성물 내의 활성 이온(active ion)으로부터의 방출된 광학 복사 세기(optical radiation intensity)가 먼저 필터링되고, 이어 활성 이온의 시간 감쇠 특성을 측정하는 제1 검출기 요소와 제2 검출기 요소를 갖는 이중 셀(bi-cell) 광 검출기에 의해 수신된다.
도 2는, 도 2에 나타낸 일정한 속도에서 도 1의 인증 장치를 통해 가치 문서가 이동함에 따라, 사전 선택된 활성 이온의 상이한 감쇠 시간을 측정하는 제1 반원 검출기 요소 및 제2 반원 검출기 요소를 갖는 시뮬레이션된 4-mm 광 검출기를 이용하여 결정된 예측된 출력 전자 신호비를 도시한다.

본 기술은 광학 방출 파장 검출을 가치 문서 내의 또는 가치 문서 상의 방출하는 활성 이온의 감쇠 시간 특성 검출과 조합하여 검증 시스템의 보안 및 인증 정밀도를 증가시킨다. 더욱 구체적으로는, 본 기술은 일정한 속도로 이동하는 가치 문서 내에 있는 또는 그 상에 있는 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물 내의 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온을 검출함으로써 기능하는 가치 문서 검증 장치 및 방법에 관한 것이다. 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온은, 예를 들어, 적어도 하나의 적외선 방출 인광체(phosphor)일 수 있다. 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온은 광원에 의해 여기될 수 있고, 광원은 이동하는 가치 문서의 조명되는 영역 내의 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온을 조명한다. 여기(excitation)에 따라, 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온은 사전 선택된 파장을 갖는 복사(radiation)를 방출할 수 있다. 적어도 하나의 예에서, 적어도 하나의 사전 선택된 활성 이온으로부터의 방출의 사전 선택된 파장은 적외선 스펙트럼 내에 있다. 다중 방출 파장이 가능하기 때문에, 여기된 활성 이온 또는 활성 이온들로부터 방출된 복사의 방출 파장은 적어도 하나의 광 검출기로 사전 선택된 방출 파장만을 통과시키도록 필터링될 수 있고, 적어도 하나의 광 검출기는 감쇠 시간 세기 데이터(decay time intensity data)를 캡쳐한다. 그 다음, 감쇠 시간 세기 데이터는 중앙 처리 유닛(CPU)에서 평가될 수 있다. CPU는 가치 문서가 진본인지 여부를 나타낸다.

본 기술에 사용될 적합한 눈에 띄지 않는 조성물은 적어도 하나의 검출 가능한 방출 파장 및 측정 가능한 감쇠 시간 세기를 갖는다. 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물 내의 적어도 하나의 활성 이온은 일반적으로 0.1 ms 내지 10 ms보다 더 긴 감쇠 시간을 갖는다. 예를 들어, 짧은 감쇠 시간을 갖는 적합한 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물은 네오디뮴으로 도핑된 YAG(yttrium aluminum garnet)를 포함하며, 이는 대략 0.2 ms의 감쇠 정수를 갖는다. 긴 감쇠 시간을 갖는 적합한 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물의 예는 홀뮴(holmium)으로 도핑된 YAG를 포함하며, 이는 대략 6 ms의 감쇠 정수를 갖는다. 또한, 동일하거나 상이한 방출 활성 이온을 포함하는 다중 인광체를 갖는 것이 허용 가능하며, 여기에서, 양자의 활성 이온은 동일한 사전 선택된 방출 파장 대역 내에 방출하지만, 하나는 긴 감쇠 시간을 가지고 다른 하나가 짧은 감쇠 시간을 갖는다. 적어도 하나의 활성 이온으로부터의 방출의 세기 값은 시간 종속적이며, 짧은 감쇠 시간을 갖는 재료에 대하여 더 긴 것보다 더 신속하게 소멸한다. 따라서, 충분한 레벨의 검출 가능성을 달성하기 위하여, 제1 및 제2 검출기 사이의 적합한 거리 및 이에 따른 제1 및 제2 이미지 사이의 적합한 시간은 특별한 눈에 띄지 않는 조성물에 대하여 선택될 수 있다. 이 대신에, 가치 문서에서의 화합물의 양은 제2 이미지가 수신될 때 검출 가능성을 허용하도록 증가될 수 있다.

본 기술에서, 고에너지 광원, LED 광 또는 레이저와 같은 광원은 중첩 패턴으로 이동하는 가치 문서에 부수적인 조명되는 영역을 조명하며, 이에 의해 가치 문서 내에 또는 가치 문서 상에 포함된 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물 내의 적어도 하나의 활성 이온을 여기한다. 적어도 하나의 예에서, 광원은 적외선 조명을 제공할 수 있다. 활성 이온은 여기된 직후에 감쇠하기 시작한다. 광원은 변화하지 않거나 시간의 함수로서 점진적으로 변하는 조명 세기를 가질 수 있다; 그러나, 조명하는 빔에 걸친 세기 분포의 균일성은 요구되지 않는다. 광원의 폭은, 광원이 사전 선택된 활성 이온을 여기하는데 충분한 세기와 폭을 가지는 한, 검출 장치에 연결된 검출 윈도우의 폭에 비해 더 작거나, 동일하거나 또는 더 클 수 있다. 여기 광원으로부터의 조명 세기는, 조명되는 영역의 폭에 대응하는 사전 결정된 폭으로 이동하는 가치 문서 상으로 조명 세기를 투사하는 여기 광원 윈도우를 통과할 수 있다. 결국, 조명되는 영역의 폭은 여기 방출의 폭에 대응한다. 적어도 하나의 광 검출기의 제1 및 제2 검출기 요소로 촬영되는 가치 문서 영역의 폭에 대략 동일한 여기 방출 폭을 갖는 것이 바람직하다. 더 넓은 여기 방출을 갖는 것이 아무런 이점을 제공하지 않지만, 적어도 하나의 광 검출기가 검출기 요소의 표면 상에 이르는 광자를 단지 측정만 하고, 제1 검출기 요소 상에서 작용한 것이 나중에 제2 검출기 요소에 작용할 것이기 때문에, 더 좁은 여기 방출은 여전히 허용 가능할 수 있다.

조명에 따라, 광학 복사가 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물에 의해 방출되고, 사전 선택된 방출 파장만이 적어도 하나의 광 검출기에 의해 검출되는 것을 보장하기 위하여 광학 필터에 의해 필터링될 수 있다. 광학 필터는, 예를 들어, 단일 필터 또는 장파 통과 스펙트럼 필터(long pass spectral filter), 단파 통과 스펙트럼 필터(short pass spectral filter), 대역 통과 필터, 착색된 유리, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 공지된 다른 광학 필터 및 본 발명이 속하는 기술 분야에서 공지된 다른 스펙트럼 밴드 리미터(limiter)의 조합일 수 있다. 소정의 경우에 선택 사항이지만, 광학 필터의 사용이 바람직하다. 필터링의 목적은 높은 정도의 확실성으로 인증할 수 있도록, 검출에서의 충분한 신호대 잡음비를 획득하는 것일 수 있다. 사전 선택된 방출 파장 대역을 가지지 않는 위조 문서의 경우, 감쇠 시간 세기 데이터를 수집하는 것을 필요하지 않으며, 문서는 위조품으로서 본 검증 시스템에 의해 거부될 수 있다. 광학 필터를 사용하는 예에서, 시간의 함수로서 지수적으로 감쇠하는 광학 복사가 사전 결정된 방출 파장 통과 대역과 관련된 광학 필터에 의해 필터링된 후에, 일련의 이미지로서 이동하는 가치 문서 상의 조명되는 영역으로부터의 거리의 함수로서 감쇠 시간 세기 데이터를 캡쳐하는 제1 및 제2 검출기에 의해 검출될 수 있다. 방출된 복사는, 이동하는 문서의 조명되는 영역으로부터의 사전 결정된 거리에 있는 사전 선택된 이미지 위치에서 이미지 내의 광자 플럭스(photon flux)에 비례하는 전자 신호로서, 제1 및 제2 검출기 요소에 의해 검출될 수 있다. 일반적으로, 이동하는 가치 문서 상의 조명되는 영역은, 입사하는 여기 광원으로부터의 어떠한 광도 선택적인 파장 필터를 통해 적어도 하나의 광 검출기에 들어가지 않도록 적어도 하나의 광 검출기의 적어도 하나의 검출 윈도우로부터 사전 결정된 거리에 있다. 첫 번째로 측정된 이미지 위치는, 가치 문서의 속도에 따라, 사전 선택된 활성 이온의 0.5 내지 2의 감쇠 시정수인 시간을 나타내는 거리만큼 분리될 수 있다. 이러한 시간의 양은 일반적으로 여기광이 가치 문서 표면으로 흩어질 때 여기광이 검출 윈도우에 들어가는 것을 방지하도록 선택된다. 적어도 하나의 예에서, 본 인증 장치는 1 내지 12 m/s 범위의 속도로 허용가능한 정확성을 가지면서 이동하는 가치 문서의 인증을 검증한다.

본 기술과 함께 사용하는데 적합한 한 종류의 광 검출기는 도 1에 도시된 이중 셀 광 검출기(bi-cell photodetector)(100)이다. 이중 셀 광 검출기(100)는 실리콘 또는 InGaAs와 같은 동일 검출 재료의 2개의 인접한 검출기 요소를 수용하고, 제1 검출기 요소와 제2 검출기 요소는, 제1 및 제2 검출기 요소(110A, 110B)와, 제1 및 제2 검출기 요소(112A, 112B)로 도시된 바와 같이, 분할선 또는 분리선을 형성하도록 조립된다. 상업적으로 입수가능한 이중 셀 광 검출기는 Advanced Photonix에 의해 제조된 검출기 모델 SD113-24-21-021이다. 분리선은 가치 문서의 이동 평면에 수직으로 배향된다. 가치 문서가 이중 셀 광 검출기 아래에서 예를 들어 롤러 또는 벨트를 통해 일정한 속도로 이동하기 때문에, 가치 문서 상의 제1 이미지 위치로부터의 이미지는 제1 검출기 요소로 중계되고, 가치 문서 상의 제2 이미지 위치로부터의 이미지는 이중 셀 광 검출기의 제2 검출기 요소로 중계된다. 또한, 이중 셀 광 검출기는 4중 셀 광 검출기로부터 고려될 수 있고, 2 쌍의 광 검출기는 이중 셀 광 검출기와 유사하게 기능하는 구성이다. 이러한 4중 셀 광 검출기는 표준 기술을 이용하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 수행될 수 있을 것이다. 허용가능한 이중 셀 광 검출기는 일반적으로 각각 1.22 mm의 치수를 갖는 제1 및 제2 광 검출기 요소를 구비한 2.54 mm 장치이다. 바람직하게는, 이중 셀 광 검출기의 폭은 0.5 내지 6 mm 범위에 있을 것이다. 이중 셀 광 검출기는 원형, 직사각형 또는 정사각형의 형상을 가질 수 있다. 원형의 이중 셀 광 검출기의 제1 및 제2 검출기 요소는 각각 반원 형상이고, 정사각형의 이중 셀 검출기에 대하여는 이들은 모두 직사각형 형상이다. 가치 문서 상의 조명되는 영역은 일반적으로 개별 요소의 양 반원의 지름인 이중 셀 검출기 개구(aperture)의 폭이다.

본 기술과 함께 사용될 이중 셀 광 검출기는 광학 확대 부품을 구비하는 광학 촬영 시스템을 포함한다. 촬영 시스템은 검출 윈도우 내부의 가치 문서의 조명되는 영역으로부터 방출하는 광학 복사를 수집하여 이중 셀 광 검출기로 중계하는데 사용된다. 이러한 촬영 시스템은 이중 셀 광 검출기로 광학 복사를 중계하기 위하여 광학 확대 부품을 이용할 수 있다.

제1 및 제2 광 검출기 요소는, 광학 복사 세기를 연속적으로 감소시키는 것에 따라, 방출 감쇠 시간 세기 데이터를 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 수신한다. 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물이 가치 문서 내에 또는 가치 문서 상에 균일하게 분포되고, 가치 문서 상에 어떠한 추가의 모호함(obscuration)도 없는 경우에, 이중 셀 광 검출기에 의해 수신된 세기 데이터는, 가치 문서의 촬영된 영역이 여기 소스에 가장 가까운 곳에서 가장 높고, 가치 문서의 촬영된 영역의 여기로부터 가장 멀리 있는 점에서 가장 약하다. 이러한 관계는 일반적으로 대부분의 인광체에 대하여 시간의 함수로서 방출 세기의 지수적 감쇠이다. 본 기술에서 이중 셀 광 검출기를 이용하는 경우에, 이동하는 가치 문서의 제1 이미지 위치 영역 및 인접한 제2 이미지 위치 영역은 제1 및 제2 검출기 요소 사이의 거리와 같을 수 있는 사전 선택된 거리만큼 각각으로부터 분리된다. 이 거리는 이중 셀 광 검출기에 포함될 수 있는 광학 촬영 시스템으로부터 임의의 광학 확대/축소 효과에 대하여 조정될 수 있다. 가치 문서의 고정된 속도 때문에, 고정된 거리와 제1 이미지 위치와 제2 이미지 위치 사이를 통과하는 고정된 양의 시간이 있다. 그 결과, 활성 이온으로부터의 사전 선택된 방출 파장은 그 재료 특성 때문에 예상대로 감쇠할 것이다.

전술한 바와 같이, 활성 이온에 의해 방출된 사전 선택되고 필터링된 방출 파장은 이중 셀 광 검출기의 제1 검출기 요소 및 제2 검출기 요소에서 촬영된다. 이중 셀 광 검출기가 2개의 검출기 요소를 포함하기 때문에, 각각의 개별 이미지는 2개의 검출기 요소 사이에서 공간적으로 분할된다. 따라서, 이중 셀 광 검출기 요소는 이미지를 동시에 수신하여 분리하고, 제1 및 제2 검출기 요소의 각각은 이미지의 절반을 수신하고, 그 다음 양자는 처리를 위하여 CPU로 전송되는 대응하는 전자 신호를 생성한다. 이미지의 제1 절반은, 여기 소스에 더 가깝기 때문에, 이미지의 제2 절반의 제2 이미지 위치로부터의 세기 데이터보다 더 큰 제1 이미지 위치로부터 나오는 세기 데이터를 가져다 준다. 다른 말로 하면, 활성 이온 방출 세기가 시간의 함수로서 지수적으로 감쇠하기 때문에, 여기 광원에 의한 여기 시간으로부터, 제2 검출기 요소에 의해 수신된 방출 세기 데이터 및 그에 대응하는 제2 검출기 전자 신호는 제1 검출기 요소에 의해 수신된 방출 세기 데이터 및 그에 대응하는 제1 검출기 전자 신호에 비하여 크기에서 더 작을 것이다. 제1 검출기 요소로부터 출력된 전자 신호 데이터(A)에 대한 제2 검출기 요소로부터 출력된 전자 신호 데이터(B)로부터의 신호의 비는 다음의 수학식에 의해 사전 선택된 활성 이온의 감쇠 정수에 관련된다:

Tau(τ) = -T/ln(B/A)

여기에서, Tau(τ)는 대략적인 재료 감쇠 정수이고, T는 1의 광학 배율을 가정하여 제1 검출기 요소의 중심으로부터 제2 검출기 요소로 이동하는데 걸리는 초 단위의 시간량이다. 제1 및 제2 검출기 요소의 각각으로부터 출력된 전자 신호 데이터는, 제1 검출기 요소로부터 출력된 전자 신호 데이터(A)에 대한 제2 검출기 요소로부터 출력된 전자 신호 데이터(B)로부터의 신호의 비인, 측정된 출력 전자 신호비를 계산할 수 있는 처리 유닛으로 전달된다. 또한, 처리 유닛은 측정된 출력 전자 신호비의 평균값을 생성하도록 일련의 연속하는 이미지로부터 측정된 출력 전자 신호비를 평균할 수 있다. 측정된 출력 전자 신호비의 평균값을 계산하는 것은, 가치 문서 상에서 측정된 눈에 띄지 않는 조성물의 감쇠 정수(Tau)를 결정하고 이를 진품의 눈에 띄지 않는 조성물의 알려진 감쇠 정수(Tau)에 비교하기 위한 더 큰 정확성과 일관성을 제공할 수 있다.

본 명세서에 사용된 바와 같이, "출력 전자 신호비(output electronic signal ratio)"는 제1 검출기 요소로부터의 전자 신호에 대한 제2 검출기 요소로부터의 전자 신호의 비를 말하고, 사전 선택된 활성 이온의 측정되거나 알려진 지수적인 감쇠 특성, 제1 및 제2 검출기 요소 사이의 거리, 이중 셀 광 검출기 치수 및 특성, 촬영 시스템의 배율 특성 및 인증 장치를 통해 이동함에 따른 가치 문서의 속도에 기초하여 계산될 수 있는 정밀한 값이다. 여러 개의 연속하는 이미지 동안에 획득된 제1 및 제2 검출기 요소로부터의 출력 전자 신호비를 평균하는 것은 비의 정확성을 높인다. 이러한 평균은 정확성을 증가시키고 상이한 비를 나타내는 스펙트럼적으로 유사한 활성 이온을 포함하는 위조 가치 문서를 거부하는데 필요한 계산된 비의 허용가능한 대역을 감소시킨다.

이중 셀 광 검출기에 의해 수집된 감쇠 시간 세기 데이터에 대응하는 출력 전자 신호비는, 활성 이온의 실제 감쇠 시간에 의해 영향을 받을 뿐만 아니라, 이중 셀 광 검출기의 제1 및 제2 검출기 요소 사이의 거리와 도 2에 도시된 바와 같은 인증 장치를 통해 이동함에 따른 가치 문서의 일정한 속도에 의해 영향을 받을 것이다. 전자 신호비가 1에 매우 가까운 경우에, 감쇠 시간을 식별하는 능력은 시스템이 다수의 연속하는 이미지로부터 제1 및 제2 검출기 요소로부터의 세기 데이터를 평균하지 않는다면 열악하게 된다. 평균을 위하여 사용되는 더 많은 연속하는 이미지는 식별을 위한 인증 시스템의 능력을 증가시킬 것이다. 평균하는 것에 의해, 본 시스템은 0.97 +/-0.01의 비와 같은 허용가능한 비를 획득할 것이다. 특히 여기 광원으로부터의 조명이 활성 이온으로부터의 방출의 검출과 간섭하지 않기 때문에, 인증 장치는 검출기의 감도 및 노이즈 거부에 따라 0.05 내지 0.98의 범위에서 출력 전자 신호비를 인증하도록 설계될 수 있다. 또한, 이중 셀 광 검출기가 원형의 기하 구조를 가질 수 있기 때문에, 제1 및 제2 검출기 요소의 각각에 의해 출력된 세기 데이터는 각각의 검출기 요소의 노출된 영역에 걸쳐 적분함으로써 수학적으로 계산될 수 있다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 이러한 계산을 수행할 수 있을 것이다. 기하학적 고려에 따라, 출력 전자 신호비는 원형의 이중 셀 광 검출기에 비하여 정사각형의 이중 셀 광 검출기에 대하여 상이하게 될 것으로 예측될 것이다.

본 기술의 가치 문서 인증 장치는 통과 데이터를 결정하고, 따라서, 제1 및 제2 검출기 요소로부터 수신된 측정된 출력 전자 신호비를 계산하고 측정된 출력 전자 신호비가 알려진 진품의 눈에 띄지 않는 조성물의 적어도 하나의 활성 이온에 대한 사전 결정된 허용 범위 내에 있다고 판단하는 경우, 가치 문서를 승인한다. 사전 결정된 허용 범위는 가치 문서의 인증을 수행하는데 유입될 수 있는 적절한 양의 실험적인 오차에 기초하여 선택될 수 있다. 예를 들어, 사전 결정된 허용 범위는 신호비의 대략 2%까지의 1 시그마 표준 편차(one sigma standard deviation)일 수 있다. 상이한 호스트 격자 내의 동일한 활성 이온 또는 상이한 활성 이온 이 사전 결정된 방출 파장에 유사한 방출 파장을 갖는 위조품에 의해 사용된다면, 위조 문서는 특정 방출 파장에 기초하여 단지 검출하고 검증하는 종래의 검증 시스템에 의해 인증될 것이다. 그러나, 본 기술의 장치는, 인광체가 호스트 격자, 형성 온도, 도핑 레벨 등의 함수로서 조성물의 특성 감쇠 시간을 갖기 때문에, 사전 선택된 활성 이온의 감쇠 특성을 갖지 않는 것으로 위조 문서를 거부할 것이다. 또한, 출력 전자 신호비가 사전 결정된 허용 범위 내에 있지 않으면, 가치 문서는 위조품으로서 거부될 것이다.

본 기술의 일례에서, 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물은 가치 문서의 기재(substrate) 내로 또는 가치 문서의 기재 상으로 균일하게 포함된다. 이는 기재 종이 펄프 내로 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 균일하게 혼합함으로써 또는 가치 문서의 기재 상으로 잉크 베이스에 균일하게 혼합된 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물의 균일한 하층을 인쇄함으로써 획득될 수 있다. 균일한 분포 때문에, 이중 셀 광 검출기의 제2 검출기 요소 전자 신호 및 제1 검출기 요소 전자 신호 사이에 측정된 출력 전자 신호비는 일정하게 유지되고, 가치 문서의 프린트되지 않은/더럽혀지지 않은 위치가 촬영될 때의 사전 선택된 활성 이온의 감쇠 특성을 반영한다. 출력 전자 신호비가 사전 결정된 허용 범위 내에 있을 때, 가치 문서는 인증될 것이다. 다수의 연속하는 이미지는 제1 및 제2 검출기 요소의 각각에서 얻어질 수 있다. 대응하는 연속하는 출력 전자 신호비는 시스템의 정확성을 개선하기 위하여 평균될 수 있다.

이중 셀 광 검출기의 제1 검출기 요소 및 제2 검출기 요소는 이미지가 캡쳐될 때 이동하는 가치 문서의 인접하지만 상이한 부분으로부터 전자 신호의 형태로 감쇠 시간 세기 데이터를 수집한다. 가치 문서의 이러한 부분이 상이한 농도의 활성 이온을 가지고, 상이한 레벨로 희석하는 인쇄에 의해 덮인다면, 또는 방출하는 활성 이온이 인쇄 잉크에 포함되고 가치 문서 기재에 포함되지 않는다면, 출력 전자 신호비는 아래에서 더욱 상세히 설명되는 바와 같이, 인광체 감쇠와 여기된 인광체의 양을 모두 설명할 것이다.

본 기술의 다른 예에서, 눈에 띄지 않는 조성물이 가변하는 인쇄 밀도로 인쇄 잉크에 첨가되지 않는 경우와 같이, 가치 문서는 균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 가지지 않는다. 이 대신에, 균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 가지는 가치 문서 기재는 흡수 잉크와 같이 모호한 것(obscurant)으로 인쇄될 수 있어, 이에 의해 불균일한 분포의 인광체 방출을 생성한다. 이것은 제1 검출기 요소가 제2 검출기 요소에 비하여 상이한 양의 사용 가능한 인광체로부터 방출 세기를 검출할 수 있다. 어떠한 경우에도, 가치 문서 상의 인쇄 패턴은 변동되고 그리고/또는 사용 가능한 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물의 양은 가치 문서에서 위치별로 상이할 때, 문서는 불균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 가지는 것으로 취급될 것이다. 이러한 경우에, 측정된 출력 전자 신호비는, 각 위치에서의 인쇄에 기인하는 방출 신호의 임의의 감쇠를 고려하는, 존재하는 인광체의 양 뿐만 아니라 인광체의 감쇠 습성 모두의 조합일 것이다. 정확한 인증을 위하여, 제1 검출기 요소 및 제2 검출기 요소 모두는 시간이 경과함에 따라 이동하는 가치 문서의 동일한 영역 또는 적어도 실질적으로 동일한 영역을 촬영할 것이다. 따라서, 제1 검출기 요소는 제1 시간에 가치 문서의 영역으로부터 이미지를 수신할 수 있고, 제2 검출기 요소는 제2 시간에 가치 문서의 동일한 영역 또는 실질적으로 동일한 영역으로부터 이미지를 수신할 수 있다. 이는 제1 및 제2 이미지 위치를 이어지는 이미지 판독 동안 제1 검출기 요소 이미지가 제2 검출기 요소와 일치하게 하는 시간 양만큼 분리함으로써 달성될 수 있다. 여기에서 사용된 바와 같이, "일치하는 시간 구간(coincidence time period)"이라는 문구는 제1 검출기 요소 이미지가 나중에 제2 검출기 요소에서 검출된 대략 동일한 공간 이미지 위치가 되는데 필요한 시간 양으로 정의된다. 일치하는 시간 구간은 바로 다음의 이미지가 되도록 선택될 수 있으며, 이에 의해 제1 검출기 요소의 제1 이미지 위치는 제2 검출기 요소의 제1 이미지 위치와 일치할 것이다. 인증 시스템은 제1 검출기 요소에 의해 측정된 문서의 각각의 촬영된 부분이 제2 검출기 요소에 의해 대략 측정된다면 충분히 정확할 것이다. 인증 장치 내의 소프트웨어는 불균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 갖는 가치 문서에 대하여 유효한 결과를 생성하기 위하여 평균 출력 전자 신호비를 계산하기 위한 적절한 일치 이미지를 선택하도록 설계될 수 있다. 따라서, 가치 문서로부터 취해진 다수의 연속하는 이미지에 대하여 평균되었다면, 측정된 출력 전자 신호비에 영향을 미치지 않기 때문에, 본 인증 장치의 처리 유닛은, 가치 문서 상에 존재하는 인쇄된 물질에 의한 방출 세기의 변동하는 임의의 흡수에도 불구하고, 불균일한 분포의 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 갖는 가치 문서를 인증하거나 거부할 수 있다. 대응하는 계산된 비는 시스템의 정확성을 개선하기 위하여 평균될 수 있다.

도 1은 인증 장치(100)의 개략적인 도면을 도시하고, 가치 문서(101)가 여기 광원 윈도우(102) 및 검출 윈도우(103) 아래에 이동된다. 여기광은 인광체 여기 광원(104)으로부터 나와 여기 광원 윈도우(102)를 통과하여 가치 문서 상의 조명되는 영역 내에서 가치 문서(101) 내에 또는 가치 문서(101) 상에 포함된 활성 이온을 여기한다. 활성 이온으로부터의 광학 복사는 렌즈(105)에 의해 대략 시준되고, 광학 필터(106)를 통과하여 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물 내에 포함된 활성 이온의 사전 선택된 방출 파장을 분리한다. 그 다음, 사전 선택된 방출 파장은 렌즈(107)에 의해 이중 셀 광 검출기(108) 상으로 집광된다. 도 1에서 상세한 도면으로 도시된 바와 같이, 이중 셀 광 검출기(108)는 제1 검출기 요소(110A) 및 제2 검출기 요소(110B)를 갖는 원형이거나 또는 제1 검출기 요소(112A) 및 제2 검출기 요소(112B)를 갖는 정사각형일 수 있다. 출력 전자 신호비는 활성 이온의 감쇠 특성과 관련된다. 중앙 처리 유닛(CPU)(109)은 가치 문서 상의 조명되는 영역으로부터 사전 선택된 거리에 관련되는 사전 설정된 간격으로 있는 제1 및 제2 검출기 요소(110A, 110B 또는 112A, 112B)로부터 출력 전자 신호를 수집하고, 측정된 출력 전자 신호비를 계산하고, 가치 문서에 대하여 통과 또는 실패 데이터를 판단하고, 가치 문서가 진품인지 여부를 운영자에게 표시하기 위하여 통과 또는 실패 데이터를 출력한다. CPU(109)가 가치 문서에 대한 통과 또는 실패 데이터를 판단할 수 있는 하나의 방법은, 측정된 출력 전자 신호비를 알려진 진품의 눈에 띄지 않는 조성물에 대응하는 저장된 데이터에 비교하는 것이다. 또한, CPU는 검증 시스템의 측정에 대한 정확성을 증가시키기 위하여 연속하는 이미지로부터 측정된 출력 전자 신호비를 평균할 수 있다.

도 2는 분리선이 가치 문서의 이동 평면에 수직이 되도록 함께 조립된 2개의 반원형 제1 및 제2 검출기 요소를 갖는 시뮬레이션된 4 mm 이중 셀 광 검출기를 이용하여 측정되는, 표시된 속도로 인증 장치를 통해 이동하는 상이한 특징적인 감쇠 시간을 갖는 방출 인광체의 예상되는 출력 전자 신호비를 도시한다. 특히 가치 문서의 빠른 속도에서, 짧은 수명비(life time ratio)는 0.05만큼 낮은 출력 전자 신호비를 제공하며, 긴 수명 시간의 인광체는 0.97만큼 높은 비를 제공한다. 이중 셀 광 검출기는 매우 정확한 검증 시스템을 생성하며, 이는 가치 문서 내의 또는 가치 문서 상의 사전 선택된 활성 이온을 식별하기 위하여 출력 전자 신호비를 계산하는데 사용되는 세기 데이터를 검출한다.

따라서, 본 발명을 상당히 상세하게 설명하지만, 이러한 상세는 엄격하게 고수될 필요는 없으며, 추가의 변경 및 수정이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 제안될 수 있고, 그 모두는 첨부된 특허청구범위에 의해 정의되는 바와 같은 본 발명의 범위 내에 있다.

또한, 다른 종류의 광 검출기가 본 기술의 일부 예에서 사용될 수 있다. 따라서, 이중 셀 광 검출기의 특정 예가 전술되었지만, 이것은 하나의 예이며, 본 기술은 이중 셀 광 검출기에 한정되지 않는다는 것이 이해되어야 한다. 예를 들어, 제1 및 제2 검출기 요소는 분리될 수 있고, 개별적으로 수용될 수 있으며, 이는 정확성을 개선할 수 있다. 이러한 방법에서, 이중 셀 센서 요소는 물리적으로 2개의 개별 센서로 분리될 수 있거나, 동일한 종류의 2개의 개별 센서가 제공될 수 있어, 각 광 검출기 요소 사이에 훨씬 더 큰 분리를 제공할 수 있다. 이 예에서, 개별 광학 시스템은 증가된 분리를 해결하도록 제공될 수 있지만, 신호 샘플링 방법은 동일한 것을 유지할 것이다. 데이터 획득에 대하여, 데이터 샘플링 레이트는 이중 셀 애플리케이션에 대하여 설명된 것과 동일하게 제1 검출기 요소의 아래에서 샘플링된 영역이 나중에 제2 검출기 요소 아래에서 완전히 샘플링되도록 동기화될 수 있다. 센서 요소 및 광학 시스템에 대한 요건은 이중 셀 광 검출기에 관하여 전술된 것과 동일하다. 또한, 계산도 동일하고, 개별 신호값은 제1 센서 요소로부터 값을 취하고 이를 제1 센서 요소로부터의 값으로 나눔으로써 정보가 얻어지는 은행권의 동일한 공간 영역에 대하여 분할된다. 또한, 통계적 방법을 통해 정확성을 증가시키기 위하여, 가치 문서의 길이에 대하여, 제2 센서의 신호의 합은 제1 센서로부터의 신호의 합으로 나누어질 수 있다. 본 예에서, 감쇠 시정수(Tau)가 가치 문서의 이송 속도와 조합된 제1 및 제2 검출기 요소의 분리에 비하여 긴 경우에 감쇠 시간 측정의 정확성을 최대화하는 것이 가능하다. 더 높은 정도의 정확성은, 신호 레벨이 제2 검출기 요소에서 측정된 바와 같이 ~ 1/e 값으로 감쇠되었고, 그 값을 제1 검출기 요소로부터 측정된 동일한 공간 영역에 비교할 때 획득될 수 있다. 가치 문서 속도가 알려져 있다면, 검출기 요소 분리는 사전 선택된 타간트에 대하여 계산될 수 있다. 바람직하게는, 데이터 샘플링은 동일한 영역이 상이한 시간에 각각의 검출기 요소에 의해 판독되도록 선택된 거리의 정수배(integral multiple)이다.

전술한 바로부터, 특정 예가 본 명세서에서 예시의 목적으로 설명되었지만 다양한 변형이 본 개시 내용의 기술적 사상 또는 범위를 벗어나지 않으면서 이루어질 수 있다는 것이 이해될 것이다. 따라서, 전술한 상세한 설명은 한정하는 것이 아니라 예시적인 것으로 간주되어야 하는 것이고, 청구되는 내용을 특별히 지정하고 명확하게 청구하도록 의도된 것은 모든 균등물을 포함하는 하기의 특허청구범위라는 것이 이해되어야 하는 것으로 의도된다.

Claims

균일한 속도로 이동하고, 여기 입사광을 흡수하여 사전 선택된 방출 파장을 갖는 광학 복사를 방출하는 사전 선택된 눈에 띄지 않는(covert) 조성물을 포함하는 가치 문서를 인증하는 장치에 있어서,
여기 광원으로서, 상기 여기 광원에 의해 조명되는 영역 내에서 상기 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 여기하는데 충분한 세기의 조명을 생성하는 상기 여기 광원;
상기 조명되는 영역 내에서 상기 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 방출된 상기 사전 선택된 방출 파장을 필터링하는 선택적인 광학 필터;
적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제1 검출기 요소 및 제2 검출기 요소로서, 상기 제1 검출기 요소는 제1 시간에 상기 가치 문서의 영역의 제1 이미지를 수신하여 상기 제1 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하고, 상기 제2 검출기 요소는 제2 시간에 상기 가치 문서의 실질적으로 동일한 영역의 제2 이미지를 수신하여 상기 제2 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하고, 상기 제1 및 제2 이미지는 상기 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터 방출된 상기 사전 선택된 방출 파장의 감쇠 시간 세기에 대응하는, 상기 제1 검출기 요소 및 상기 제2 검출기 요소; 및
출력된 상기 전자 신호 데이터를 수집 및 평가하고, 상기 가치 문서에 대한 통과 또는 실패 데이터를 판단하는 처리 유닛
을 포함하는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 광학 복사는 0.1 ms 내지 10 ms 범위의 감쇠 시정수를 갖는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 광 검출기는 상기 제1 검출기 요소 및 상기 제2 검출기 요소를 모두 수용하는 이중 셀 검출기이고, 상기 이중 셀 검출기의 폭은 0.5 mm 내지 6 mm인,
인증 장치.
제3항에 있어서,
상기 이중 셀 검출기는, 제1 반원형 검출기 요소와 제2 반원형 검출기 요소를 포함하는,
인증 장치.
제3항에 있어서,
상기 이중 셀 검출기는, 제1 직사각형 검출기 요소와 제2 직사각형 검출기 요소를 포함하는,
인증 장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지는, 상기 가치 문서가 상기 균일한 속도로 이동될 때, 상기 광학 복사의 방출에 대한 0.5 내지 2 사이의 감쇠 시정수인 시간을 나타내는 거리만큼 오프셋되는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
이동하는 상기 가치 문서의 상기 균일한 속도는 1 내지 12 m/s 범위에 있는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 처리 유닛은, 측정된 출력 전자 신호비를 알려진 진품의 눈에 띄지 않는 조성물에 대응하는 저장된 데이터에 비교하여 상기 가치 문서의 통과 또는 실패 데이터를 판단하는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 가치 문서는 은행권인,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 여기 광원은 적외선 조명을 제공하는,
인증 장치.
제1항에 있어서,
상기 사전 선택된 방출 파장은 적외선 스펙트럼 내에 있는,
인증 장치.
여기 입사광을 흡수하여 광학 복사를 방출하는 사전 선택된 눈에 띄지 않는(covert) 조성물을 포함하는 가치 문서를 인증하는 방법에 있어서,
상기 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물을 여기하는데 충분한 세기를 갖는 조명을 생성하는 여기 광원에 의해 생성된 조명 영역을 지나 균일한 속도로 상기 가치 문서를 이동시키는 단계;
선택적으로, 상기 가치 문서가 검출 윈도우를 통과할 때 상기 조명 영역 내에서 상기 사전 선택된 눈에 띄지 않는 조성물로부터의 사전 선택된 방출 파장을 광학 필터로 필터링하는 단계;
제1 시간에 상기 가치 문서의 영역의 제1 이미지를 적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제1 검출기 요소에 제공하는 단계;
제2 시간에 상기 가치 문서의 실질적으로 동일한 영역의 제2 이미지를 상기 적어도 하나의 광 검출기 내에 수용된 제2 검출기 요소에 제공하는 단계;
상기 적어도 하나의 광 검출기로부터 상기 제1 및 제2 이미지에 대한 전자 신호 데이터를 출력하는 단계;
출력된 상기 전자 신호 데이터를 처리 유닛에서 수집하는 단계; 및
상기 가치 문서에 대한 통과 또는 실패 데이터를 판단하는 단계
를 포함하는,
인증 방법.
제13항에 있어서,
상기 처리 유닛은, 측정된 출력 전자 신호비를 알려진 진품의 눈에 띄지 않는 조성물에 대응하는 저장된 데이터에 비교하여 상기 가치 문서의 통과 또는 실패 데이터를 판단하는,
인증 방법.
제13항에 있어서,
상기 가치 문서는 은행권인,
인증 방법.
제13항에 있어서,
상기 여기 광원은 적외선 조명을 제공하는,
인증 방법.
제13항에 있어서,
상기 사전 선택된 방출 파장은 적외선 스펙트럼 내에 있는,
인증 방법.