KR101799584B1 - Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same - Google Patents
Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same Download PDFInfo
- Publication number
- KR101799584B1 KR101799584B1 KR1020140194563A KR20140194563A KR101799584B1 KR 101799584 B1 KR101799584 B1 KR 101799584B1 KR 1020140194563 A KR1020140194563 A KR 1020140194563A KR 20140194563 A KR20140194563 A KR 20140194563A KR 101799584 B1 KR101799584 B1 KR 101799584B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- support plate
- plate
- substrate
- tray
- heat treatment
- Prior art date
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 88
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 56
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 47
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 9
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 claims description 8
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 11
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 7
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001994 activation Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000006356 dehydrogenation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005056 compaction Methods 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 239000012050 conventional carrier Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 description 1
- 230000008570 general process Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67346—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders characterized by being specially adapted for supporting a single substrate or by comprising a stack of such individual supports
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/02227—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a process other than a deposition process
- H01L21/02255—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a process other than a deposition process formation by thermal treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
본 발명은 판상으로 형성되어 상부에 열처리되는 기판이 안착되며 상하 방향으로 서로 이격되는 적어도 2개의 지지판과, 상기 지지판의 상부에 위치하는 상부판 및 상기 지지판과 상부판의 양측부에 결합되어 상기 지지판과 상부판의 측면 공간을 차폐하는 차폐벽을 포함하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치를 개시한다. The present invention relates to a plasma display panel comprising at least two support plates which are formed in a plate shape and which are heat-treated on an upper surface thereof and spaced apart from each other in the vertical direction, an upper plate positioned on the upper side of the support plate, And a shielding wall that shields the side space of the top plate, and an inline heat treatment apparatus including the tray.
Description
본 발명은 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a tray capable of stacking a plurality of layers of a substrate and an inline heat treatment apparatus including the same.
LCD, OLED와 같은 평판 표시 장치 또는 태양전지에 사용되는 유리 기판의 프리컴팩션을 위한 열처리, 유리 기판의 상면에 형성되는 실리콘 박막의 결정화, 활성화, 수소화 또는 탈수소화를 위한 열처리, 유리 기판의 상면에 형성되는 ITO, IGZO 투명 전극의 소성 열처리와 같은 열처리공정은 연속 공정 수행이 가능한 인라인 열처리 장치에서 진행된다. 상기 인라인 열처리 장치는 기판 처리 공정에 적합하도록 복수 개의 공정 챔버가 연결되어 형성되므로, 설치에 많은 공간을 필요로 한다. 따라서, 상기 인라인 열처리 장치는 라인 수를 증가시키는데 한계가 있게 된다. Heat treatment for precompaction of a glass substrate used for a flat panel display device such as a liquid crystal display (LCD) or an organic electroluminescence (OLED) or a solar cell, heat treatment for crystallization, activation, hydrogenation or dehydrogenation of a silicon thin film formed on an upper surface of the glass substrate, Such as the sintering heat treatment of ITO and IGZO transparent electrodes formed on the substrate, is performed in an inline heat treatment apparatus capable of performing a continuous process. Since the inline thermal processing apparatus is formed by connecting a plurality of process chambers suitable for a substrate processing process, a large space is required for installation. Therefore, the inline thermal processing apparatus has a limitation in increasing the number of lines.
한편, 상기 인라인 열처리 장치는 평판 형상의 캐리어에 한 장의 유리 기판을 안착시켜 이송하면서 열처리를 진행하게 되므로 한번에 이송되는 유리 기판의 수를 증가시키기 어려운 문제가 있다.On the other hand, the inline heat treatment apparatus has a problem that it is difficult to increase the number of glass substrates to be transferred at one time because the heat treatment proceeds while the one glass substrate is placed on the flat carrier.
본 발명의 목적은 한번에 이송되는 기판의 수를 증가시킬 수 있는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치를 제공하는데 있다.It is an object of the present invention to provide a tray capable of stacking a plurality of layers of a substrate capable of increasing the number of substrates transferred at one time and an inline heat treatment apparatus including the same.
본 발명의 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 판상으로 형성되어 상부에 열처리되는 기판이 안착되며 상하 방향으로 서로 이격되는 적어도 2개의 지지판을 포함하는 것을 특징으로 한다. The tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate of the present invention includes at least two support plates which are formed in a plate shape and on which a substrate to be heat treated is placed and which are spaced apart from each other in the vertical direction.
또한, 상기 지지판은 하부에 위치하는 하부 지지판 및 상기 하부 지지판의 상부에 위치하는 상부 지지판을 포함하며, 상기 하부 지지판과 상부 지지판은 상하로 관통되는 복수 개의 이젝터 홀을 구비할 수 있다.In addition, the support plate includes a lower support plate positioned at a lower portion and an upper support plate positioned at an upper portion of the lower support plate, and the lower support plate and the upper support plate may have a plurality of ejector holes penetrating vertically.
또한, 상기 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 상기 지지판의 상부에 위치하는 상부판을 더 포함하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 상부판은 평판 형상 또는 곡면판 형상으로 형성되며, 평면을 기준으로 상기 지지판의 면적에 대응되는 면적을 가지도록 형성될 수 있다. The tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate may further include an upper plate positioned on the upper side of the support plate. At this time, the top plate may be formed in a flat plate shape or a curved plate shape, and may have an area corresponding to the area of the support plate with respect to a plane.
또한, 상기 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 상기 지지판과 상부판의 양측부에 결합되어 상기 지지판과 상부판의 측면 공간을 차폐하는 차폐벽을 더 포함하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 차폐벽은 상기 지지판의 길이에 대응되는 길이와 상기 지지판과 상부판의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성되며, 상기 하부 지지판과 상부 지지판 사이의 측면 공간 및 상기 상부 지지판과 상부판 사이의 측면 공간을 차폐하도록 형성될 수 있다.The tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate may further include a shielding wall coupled to both sides of the support plate and the top plate to shield the side spaces of the support plate and the top plate. At this time, the shielding wall is formed to have a length corresponding to the length of the support plate and a height corresponding to a total height of the support plate and the upper plate, and a side space between the lower support plate and the upper support plate, As shown in Fig.
또한, 상기 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 상기 지지판의 폭에 대응되는 폭과 상기 지지판과 상부판의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성되며, 상기 하부 지지판과 상부 지지판 사이의 전면 및 후면 공간 및 상기 상부 지지판과 상부판 사이의 전면 및 후면 공간을 차폐하는 차폐문을 더 포함하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 차폐문은 상기 차폐벽의 상부 또는 하부에 회동 가능하게 결합될 수 있다.In addition, the tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate is formed to have a width corresponding to the width of the support plate and a height corresponding to a total height of the support plate and the upper plate, and the front and rear spaces And a door closes the front and rear spaces between the upper support plate and the upper plate. At this time, the car closing door may be rotatably coupled to an upper portion or a lower portion of the shielding wall.
또한, 상기 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 바 형상으로 형성되며, 상기 상부 지지판의 하면과 상기 상부판의 하면에 상기 상부 지지판의 폭 방향을 기준으로 중간에서 길이 방향으로 연장되도록 결합되는 길이 지지바를 구비하는 지지바를 더 포함하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 지지바는 바 형상으로 형성되며, 상기 상부 지지판의 하면과 상기 상부판의 하면에 상기 상부 지지판의 폭 방향으로 연장되고, 상기 상부 지지판의 길이 방향으로 소정 간격으로 이격되도록 결합되는 복수의 폭 지지바를 더 포함하여 형성될 수 있다.In addition, a tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate is formed in a bar shape, and a bottom surface of the upper support plate and a bottom surface of the upper plate are coupled to each other so as to extend in the longitudinal direction And a support bar having a bar. At this time, the support bars are formed in a bar shape and extend in the width direction of the upper support plate on the lower surface of the upper support plate and the lower surface of the upper plate, And a width support bar.
또한, 상기 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이는 상기 기판보다 큰 면적을 가지며, 상면에 안착되는 상기 기판을 지지하면서 상기 지지판의 상면에 안착되는 캐리어를 더 포함하여 형성될 수 있다.In addition, the tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate may further include a carrier having a larger area than the substrate and being seated on the upper surface of the support plate while supporting the substrate mounted on the upper surface.
또한, 상기 지지판과 상부판과 차폐벽 및 차폐문은 쿼쯔(quautz), 퓨즈드 실리카 또는 네오 세라믹으로 형성될 수 있다.In addition, the support plate, the top plate, the shielding wall, and the car door can be formed of quartz, fused silica or neoceramic.
또한, 본 발명의 인라인 열처리 장치는 적어도 2개의 공정 챔버가 인접하여 형성되어 각 공정 챔버는 기판의 열처리 조건에 따라 제어 온도가 설정되는 공정 챔버 및 상기 공정 챔버의 내부로 이송되어 상기 기판을 열처리하며, 상기와 같은 트레이를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the inline thermal processing apparatus of the present invention is characterized in that at least two process chambers are formed adjacent to each other, and each process chamber has a process chamber in which a control temperature is set according to a heat treatment condition of the substrate, , And a tray as described above.
또한, 상기 공정 챔버는 외측 하우징과, 상기 외측 하우징의 내부에서 열처리 공간을 형성하는 내측 하우징과, 상기 외측 하우징과 내측 하우징 사이에 위치하는 가열 수단 및 상기 내측 하우징의 내부 하측에 형성되어 상기 트레이를 지지하여 이송하는 이송 수단을 포함하여 형성될 수 있다.The process chamber may include an outer housing, an inner housing forming a heat treatment space inside the outer housing, heating means located between the outer housing and the inner housing, and heating means formed between the outer housing and the inner housing, And conveying means for supporting and conveying the sheet.
본 발명의 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치는 기판을 복수 레이어로 적층하여 열처리를 진행하므로 한 번에 열처리되는 기판의 수를 증가시키는 효과가 있다. The tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate of the present invention and the inline heat treatment apparatus including the same can be advantageous in that the number of substrates to be heat treated at one time is increased because the substrate is laminated in a plurality of layers and heat treatment is performed.
또한, 본 발명의 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치는 트레이의 내부가 외부로부터 차폐된 상태에서 이송되면서 기판의 열처리를 진행하므로 열처리 과정에서 기판의 표면에 이물 입자가 부착되는 것을 최소화시킬 수 있는 효과가 있다. In addition, the tray capable of stacking a plurality of layers of the substrate of the present invention and the inline heat treatment apparatus including the same can prevent the foreign matter from adhering to the surface of the substrate during the heat treatment process because the inside of the tray is transferred while being shielded from the outside, There is an effect that it is possible to minimize the occurrence of the problem.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 열처리 장치의 개략적인 구성도이다.
도 2는 본 발명이 일 실시예에 따른 인라인 열처리 장치의 수직 단면도이다.
도 3은 도 2의 A에 대한 부분 확대도이다.
도 4는 도 2의 B-B에 대한 수평 단면도이다.
도 5는 도 3의 C-C에 대한 수직 단면도이다.
도 6은 도 3의 D-D에 대한 부분 수직단면도이다.
도 7은 도 2의 트레이에 기판을 로딩 또는 언로딩 하는데 사용되는 이젝터 핀의 일 실시예에 따른 수직 단면도이다.FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inline heat treatment apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a vertical cross-sectional view of an inline thermal processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a partially enlarged view of A in Fig.
4 is a horizontal cross-sectional view of BB of Fig.
5 is a vertical cross-sectional view of CC of Fig.
Figure 6 is a partial vertical section view of DD of Figure 3;
7 is a vertical cross-sectional view of one embodiment of an ejector pin used to load or unload a substrate into the tray of FIG. 2;
이하에서 실시예와 첨부된 도면을 통하여 본 발명의 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이 및 이를 포함하는 인라인 열처리 장치에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a tray capable of stacking a plurality of layers of a substrate of the present invention and an inline heat treatment apparatus including the same will be described in more detail with reference to embodiments and accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 열처리 장치의 개략적인 구성도이다. 도 2는 본 발명이 일 실시예에 따른 인라인 열처리 장치의 수직 단면도이다. 도 3은 도 2의 A에 대한 부분 확대도이다. 도 4는 도 2의 B-B에 대한 수평 단면도이다. 도 5는 도 3의 C-C에 대한 수직 단면도이다. 도 6은 도 3의 D-D에 대한 부분 수직단면도이다. 도 7은 도 2의 트레이에 기판을 로딩 또는 언로딩 하는데 사용되는 이젝터 핀의 일 실시예에 따른 수직 단면도이다.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inline heat treatment apparatus according to an embodiment of the present invention. 2 is a vertical cross-sectional view of an inline thermal processing apparatus according to an embodiment of the present invention. 3 is a partially enlarged view of A in Fig. 4 is a horizontal cross-sectional view of BB of Fig. 5 is a vertical cross-sectional view of CC of Fig. Figure 6 is a partial vertical section view of DD of Figure 3; 7 is a vertical cross-sectional view of one embodiment of an ejector pin used to load or unload a substrate into the tray of FIG. 2;
상기 인라인 열처리 장치는, 도 1 내지 도 7을 참조하면, 공정 챔버(100) 및 트레이(200)를 포함하여 형성된다. 또한, 상기 인라인 열처리 장치는 이젝터 핀(300)을 더 포함하여 형성될 수 있다.1 to 7, the inline thermal processing apparatus includes a
상기 인라인 열처리 장치는 적어도 2개의 공정 챔버(100)가 인접하여 형성되며, 각 공정 챔버(100)는 유리 기판(10)의 열처리 조건에 따라 제어 온도가 설정된다. 상기 인라인 열처리 장치는 적어도 1 개의 트레이(200)가 적어도 2 장의 기판(10)을 안착시킨 상태에서 각 공정 챔버(100)를 순차적으로 통과한다. 즉, 상기 인라인 열처리 장치는 기판(10)을 복수 레이어로 적층하여 이송하면서 열처리하므로, 한 번에 열처리하는 기판(10)의 수량을 증가시킨다. 여기서, 상기 기판(10)은 평판디스플레이 장치에 사용되는 유리 기판이거나, 표면에 비정질 실리콘 박막이 형성된 유리 기판, 표면에 ITO, IGZO와 같은 투명 전극이 형성된 유리 기판일 수 있다. The inline thermal processing apparatus includes at least two
상기 인라인 열처리 장치는 유리 기판의 프리컴팩션(pre-compaction)을 위한 열처리, 유리 기판의 상면에 형성되는 실리콘 박막의 결정화, 활성화, 수소화 또는 탈수소화를 위한 열처리, 유리 기판의 상면에 형성되는 ITO, IGZO 투명 전극의 소성 열처리와 같은 열처리 공정을 진행하는데 사용될 수 있다.The inline thermal processing apparatus includes a heat treatment for pre-compaction of a glass substrate, a heat treatment for crystallization, activation, hydrogenation or dehydrogenation of a silicon thin film formed on the upper surface of the glass substrate, an ITO , IGZO transparent electrode, and the like.
상기 공정 챔버(100)는 하우징(110)과 단열재(120)와 가열 수단(130) 및 이송 롤러(140)를 포함하여 형성된다. The
상기 공정 챔버(100)는 일측에 트레이(200)가 장입되는 유입구(100a)와 타측에 트레이(200)가 배출되는 유출구(100b)가 소정 높이와 폭으로 형성된다. 또한, 상기 공정 챔버(100)는 내부에 트레이(200)가 이송되어 정지되는 위치를 감지하는 위치센서(도면에 표시하지 않음)를 포함하여 형성될 수 있다. 또한, 상기 공정 챔버(100)는 내부에 질소 가스와 같은 불활성 가스를 일정하게 공급하는 가스 공급수단(도면에 표시하지 않음)을 구비할 수 있다. 상기 공정 챔버(100)는 공급되는 가스에 의하여 내부가 일정한 분위기의 양압으로 유지될 수 있으며, 외부의 공기가 유입되는 것이 방지되어 내부 온도가 보다 균일하게 유지될 수 있다. 상기 가스 공급수단은 바람직하게는 가스가 공정 챔버(100)의 상부에서 내부로 공급되고 공정 챔버(100)의 하부로 배출되도록 형성될 수 있다. The
한편, 상기 공정 챔버(100)는 유리 기판의 열처리에 사용되는 일반적인 공정 챔버로 형성될 수 있다.
Meanwhile, the
상기 하우징(110)은 공정 챔버(100)의 외관을 이루게 되는 외측 하우징(112)과 공정 챔버(100)의 내부에서 열처리 공간을 형성하는 내측 하우징(114)을 포함하여 형성된다. The
상기 외측 하우징(112)은 열처리되는 트레이(200)의 크기와 단열재(120)와 내측 하우징(114)의 크기에 따라 적정한 체적을 가지도록 형성된다. 상기 외측 하우징(112)은 내구성을 위하여 스테인레스 스틸과 같은 내부식성 재질로 형성될 수 있다. The
상기 내측 하우징(114)은 열처리되는 트레이(200)의 크기에 따라 적정한 체적을 가지도록 형성된다. 상기 내측 하우징(114)은 바람직하게는 쿼쯔로 형성되어 내부의 열처리 공간이 오염되는 것을 방지한다. 상기 내측 하우징(114)은 상부의 위치하는 상부 내측 하우징(115)과 하부에 위치하는 하부 내측 하우징(116)을 포함하여 형성될 수 있다. 상기 상부 내측 하우징(115)은 상부로 돌출되는 상부 홈(115a)을 형성하여 트레이(200)가 정지하는 위치에서 상부에 공간을 형성함으로써 공정 챔버(100)의 내부 공간을 최소화하면서 복사열의 전달 효율을 증가시키게 된다. 또한, 상기 하부 내측 하우징(116)은 하부로 돌출되는 하부 홈(116a)을 포함하여 형성될 수 있다. 상기 하부 홈(116a)은 내부에 설치되는 이송 롤러(140)를 수용하여 공정 챔버(100)의 내부 공간의 체적이 최소화되도록 한다.The
상기 단열재(120)은 외측 하우징(112)과 내측 하우징(114) 사이에 위치하며, 열전도성이 낮은 세라믹 단열재와 같은 재질로 형성될 수 있다.The
상기 가열 수단(130)은 복수 개의 발열체(132)를 포함하여 형성되며,내측 하우징(114)의 외측면과 단열재(120)사이에 위치한다. 상기 발열체는 상부 내측 하우징(115)과 단열재(120) 사이 및 하부 내측 하우징(116)과 단열재(120) 사이에 각각 위치하도록 형성될 수 있다. 상기 가열 수단(130)은 공정 챔버(100)의 설정 온도에 따라 적정한 위치에 설치되도록 적정한 수량으로 형성될 수 있다. 상기 가열 수단(130)은 전체적으로 하나의 발열체(132)로 형성되기보다는 독립적으로 제어되는 소정 개수로 형성되며, 공정 챔버(100)의 수평면을 기준으로 구분되는 소정 영역에 각각 설치되어 제어되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 상기 공정 챔버(100)를 9개의 영역으로 구분하여 각각의 영역에 독립적으로 제어되는 발열체(132)를 설치하여 공정 챔버(100)의 내부 온도를 제어할 수 있다. 상기 가열 수단(130)의 발열체는 바 형상, 와이어 형상 또는 스프링 형상의 저항히터 또는 램프히터가 사용될 수 있으며, 여기서 그 종류를 한정하는 것은 아니다.The heating means 130 includes a plurality of
상기 이송 롤러(140)는 대략 원기둥 형상으로 형성되며, 바람직하게는 내측 하우징(114)과 동일한 재질인 쿼쯔(quartz) 또는 퓨즈드 실리카(fused silica)로 형성되어 트레이(200)의 이송 과정에서 마찰에 따른 오염 물질의 발생이 최소화되도록 한다. 한편, 상기 이송 롤러(140)는 공정 챔버(100)의 구조와 트레이(200)의 형상에 따라 이송 체인, 이송 컨베이어 벨트, 이송 로봇과 같은 이송 수단으로 대체될 수 있다. The conveying
상기 이송 롤러(140)는 공정 챔버(100)의 하부 내측 하우징(116)의 내측에 소정 간격으로 다수 개가 설치된다. 상기 이송 롤러(140)는 내측 하부하우징의 내측에서 소정 높이로 형성되며, 바람직하게는 공정 챔버(100)의 입구(100a)와 출구(100b)의 바닥면보다 높은 위치로 형성되어 이송되는 트레이(200)의 하면이 입구(100a)와 출구(100b)의 바닥면에 접촉되지 않도록 한다. 상기 이송 롤러(140)는 공정 챔버(100)의 크기와 이송되는 트레이(200)의 길이에 따라 소정 간격으로 형성된다. 상기 이송 롤러(140)는 트레이(200)의 이송방향, 즉, 입구(100a)와 출구(100b)의 방향에 수직한 방향으로 설치되며 외측 하우징(112)의 외부로 연장되어 별도의 회전수단(도면에 표시하지 않음)에 의하여 회전된다.
The
상기 트레이(200)는 지지판(210)과 상부판(220) 및 차폐벽(230)을 포함하여 형성된다. 또한, 상기 트레이(200)는 차폐문(240) 및 지지바(250)를 더 포함하여 형성될 수 있다. The
상기 트레이(200)는 적어도 2 개의 지지판(210)이 수직 방향으로 서로 이격되어 배치되며, 상면에 기판(10) 또는 캐리어(20)을 안착시켜 이송한다. 따라서, 상기 지지판(210)은 기존의 캐리어(20)만으로 기판(10)을 안착시켜 이송하는 방식에 비하여 적어도 2 배수의 기판(10)을 이송하여 열처리를 수행할 수 있다. The
또한, 상기 트레이(200)는 상부판(220)과 차폐벽(230) 및 차폐문(240)에 의하여 기판(10)이 안착되는 공간을 차폐함으로써 공정 챔버(100)의 내부에서 이송되는 과정에서 기판(10)이 안착되는 공간으로 이물 입자가 유입되어 기판(10)의 상면에 안착되는 것을 차단한다. The
한편, 상기 트레이(200)는 별도의 캐리어(20)에 기판(10)을 안착시킨 상태에서 이송할 수 있다.
Meanwhile, the
상기 지지판(210)은 판상으로 형성되며, 기판(10)보다 큰 면적을 가지도록 형성된다. The
상기 지지판(210)은 적어도 2 개로 형성되며, 상하 방향으로 서로 이격되어 배치된다. 예를 들면, 상기 지지판(210)은 가장 하부에 위치하는 하부 지지판(212)과 상부에 위치하는 상부 지지판(214)를 포함하여 형성될 수 있다. 또한, 상기 지지판은 3 개 이상으로 형성되는 경우에 하부 지지판(212)와 상부 지지판(214)의 사이에 다수의 중간 지지판(미도시)를 더 구비하여 형성될 수 있다. 한편, 이하에서 상기 지지판(210)의 설명과 관련하여 하부 지지판(212)과 상부 지지판(214)으로 구분할 필요가 없는 경우에 지지판(210)으로 칭하고 설명한다. The supporting
상기 지지판(210)은 상부에 안착되는 기판(10) 또는 캐리어(20)의 하면을 지지한다. 상기 지지판(210)은 기판(10)이 캐리어(20)에 안착되어 이송되는 경우에 캐리어(20)를 지지한다. The
상기 지지판(210)은 이젝터 홀(210a)을 더 포함하여 형성된다. 상기 이젝터 홀(210a)은 상면에서 하면으로 관통되어 형성된다. 상기 이젝터 홀(210a)은 기판(10)을 지지판(210)에 로딩 또는 언로딩하는 과정에서 기판(10)을 상승 및 하강시키는 이젝터 핀(300)이 상하 이동하는 경로를 제공한다. 상기 이젝터 홀(210a)은 기판(10)의 크기에 따라 적정한 개수로 형성되며, 지지판(210)에 전체적으로 배치되어 형성된다. The
상기 지지판(210)은 쿼쯔(quartz), 퓨즈드 실리카(fused silica) 또는 네오 세라믹(Neo Ceramic)과 같은 세라믹 재질로 형성될 수 있다. 상기 네오 세라믹은 SiO2-Al2O3 계 세라믹으로 열적 안정성이 좋은 세라믹 재질이다.
The
상기 상부판(220)은 평판 형상 또는 곡면판 형상으로 형성되며, 바람직하게는 지지판(210)에 대응되는 형상으로 형성된다. 상기 상부판(220)은 평면을 기준으로 지지판(210)의 면적에 대응되는 면적을 가지도록 형성될 수 있다. 상기 상부판(220)은 지지판(210)중에서 가장 상부에 위치하는 상부 지지판(214)의 상부에 이격되어 위치한다. 상기 상부판(220)은 상부 지지판(214)의 상면에 안착되는 기판(10)의 상부를 차폐하여, 기판(10)의 상면에 이물 입자가 부착되는 것을 차단한다. 상기 상부판(220)은 지지판(210)과 달리 이물 입자가 통과할 가능성이 있는 홀이 형성되지 않는다. The
상기 상부판(220)은 지지판(210)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 상부판(220)은 쿼쯔(quartz), 퓨즈드 실리카(fused silica) 또는 네오 세라믹(Neo Ceramic)과 같은 세라믹 재질로 형성될 수 있다.
The
상기 차폐벽(230)은 평판 형상 또는 곡면판 형상으로 형성되며, 지지판(210)의 길이에 대응되는 길이와 지지판(210)과 상부판(220)의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성된다. 여기서, 상기 길이는 차폐벽(230) 사이의 방향에 수직인 방향의 거리를 의미하며, 폭은 동일 평면 상에서 길이에 수직인 방향의 거리를 의미하며, 높이는 길이와 폭에 수직인 방향의 거리를 의미한다.The shielding
상기 차폐벽(230)은 지지판(210)과 상부판(220)의 양측부에 각각 결합되며, 하부 지지판(212)과 상부 지지판(214) 사이의 측면 공간 및 상부 지지판(214)과 상부판(220) 사이의 측면 공간을 차폐한다. 상기 차폐벽(230)은 트레이(200)의 양측부를 차폐하여 트레이(200)의 양측부로부터 기판(10)의 상부로 이물 입자가 유입되는 것을 차단한다. 여기서, 상기 양측부는 지지판(210)의 4면 중에서 차폐문(240)이 형성되지 않는 면에 대응되는 측을 의미한다. 또한, 전측부와 후측부는 차폐문(240)이 형성되는 면에 대응되는 측을 의미한다. The shielding
상기 차폐벽(230)은 지지판(210)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 차폐벽(230)은 쿼쯔(quartz), 퓨즈드 실리카(fused silica) 또는 네오 세라믹(Neo Ceramic)과 같은 세라믹 재질로 형성될 수 있다.
The shielding
상기 차폐문(240)은 평판 형상 또는 곡면판 형상으로 형성되며, 지지판(210)의 폭에 대응되는 폭과 지지판(210)과 상부판(220)의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성된다. 상기 차폐문(240)은 차폐벽(230)의 상부 또는 하부에 회동 가능하게 결합되어 하측 또는 상측으로 열어질 수 있다. 예를 들면, 도 6에서 보는 바와 같이, 상기 차폐문(240)은 별도의 회전핀(242)에 의하여 차폐벽(230)의 상부에 회동 가능하게 결합되어 상부로 열어지도록 결합될 수 있다. The
상기 차폐문(240)은 하부 지지판(212)과 상부 지지판(214) 사이의 전면 및 후면 공간 및 상부 지지판(214)과 상부판(220) 사이의 전면 및 후면 공간을 차폐한다. 상기 차폐문(240)은 트레이(200)의 전후부를 차폐하여 트레이(200)의 전후 공간으로부터 기판(10)의 상부로 이물 입자가 유입되는 것을 차단한다.The
상기 차폐문(240)은 지지판(210)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 차폐문(240)은 쿼쯔(quartz), 퓨즈드 실리카(fused silica) 또는 네오 세라믹(Neo Ceramic)과 같은 세라믹 재질로 형성될 수 있다.
The
상기 지지바(250)는 바 형상으로 형성되며, 폭 지지바(252)와 길이 지지바(254)를 포함하여 형성될 수 있다. 상기 지지바(250)는 높이가 폭보다 큰 단면 형상을 가지도록 형성될 수 있다. 또한, 상기 지지바(250)는 단면 형상이 "I" 형상을 가지도록 형성될 수 있다. 또한, 상기 폭 지지바(252)는 지지판(210)의 폭에 대응되는 길이로 형성된다. 또한, 상기 길이 지지바(254)는 지지판(210)의 길이에 대응되는 길이로 형성된다.The
상기 지지바(250)는 지지판(210)중에서 가장 하부에 위치하는 하부 지지판(212)을 제외한 상부 지지판(214)의 하면에 결합된다. 보다 구체적으로는, 상기 폭 지지바(252)는 복수 개가 상부 지지판(214)의 폭 방향으로 연장되도록 결합되며, 길이 방향으로 소정 간격으로 이격되도록 결합된다. 예를 들면, 상기 폭 지지바(252)는 상부 지지판(214)의 전단과 후단 및 중간에 각각 결합될 수 있다. 또한, 상기 길이 지지바(254)는 상부 지지판(214)의 길이 방향으로 연장되며 상부 지지판(214)의 폭 방향을 기준으로 중간에 위치하도록 결합될 수 있다. 또한, 상기 폭 지지바(252)와 길이 지지바(254)는 상부판(220)에 동일하게 결합될 수 있다. The
상기 지지바(250)는 열처리 과정에서 자중 또는 기판(10)과 캐리어(20)의 무게에 의하여 상부 지지판(252)이 하부로 변형되는 것을 최소화시킨다. 또한, 상기 지지바(250)는 열처리 과정에서 자중에 의하여 상부판(220)이 하부로 변형되는 것을 최소화시킨다.The
상기 지지바(250)는 지지판(210)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 지지바(250)는 쿼쯔(quartz), 퓨즈드 실리카(fused silica) 또는 네오 세라믹(Neo Ceramic)과 같은 세라믹 재질로 형성될 수 있다.
The
상기 이젝터 핀(300)은 이젝터 바(310)와 회전축(320) 및 회전롤(330)을 포함하여 형성된다. 상기 이젝터 핀(300)은 기판(10) 또는 캐리어(20)를 트레이(200)에 로딩 또는 언로딩하는 별도의 로딩 챔버(미도시)에 장착된다. 상기 이젝터 핀(300)은 지지판(210)의 이젝터 홀(210a)을 통하여 지지판(210)의 상면에서 돌출되도록 위치하며, 기판(10) 또는 캐리어(20)가 지지판(210)의 상면에 안착되도록 한다.
The ejector pin 300 includes an
상기 이젝터 바(310)는 수평 단면 형상이 이젝터 홀(210a)과 대응되며, 상대적으로 작은 면적을 가지도록 형성된다. 상기 이젝터 바(310)는 바람직하게는 하부에 단턱(312)을 구비하여 형성될 수 있다. 상기 단턱(312)은 이젝터 핀(300)의 상단으로부터 하부로 소정의 단턱 높이에 위치한다. 상기 단턱 높이는 상부판(220)의 하면과 하부 지지판(212)의 하면 사이의 높이보다 작은 높이로 형성된다. 따라서, 상기 단턱(312)은 이젝터 핀(300)이 상승할 때 회전 롤(330)이 상부판(220)의 하면과 접촉되지 않도록 한다. The
상기 이젝터 바(310)은 상면에 상면 홈(310a)을 더 포함하여 형성될 수 있다. 상기 상면 홈(310a)은 상면에서 하부 방향으로 소정 깊이로 형성된다. 상기 상면 홈(310a)에는 회전축(320)과 회전롤(330)이 삽입되어 결합된다. The
상기 회전축(320)은 원기둥 형상으로 형성되며, 상면 홈에 걸쳐지도록 수평 방향으로 결합된다. 상기 회전축(320)은 이젝터 바(310)에 회전 가능하도록 또는 고정되도록 결합된다. The
상기 회전롤(330)은 원기둥 형상으로 형성되며, 이젝터 바(310)에 회전 가능하게 결합된다. 이때, 상기 회전축(320)이 회전 가능하게 결합되는 경우에, 회전롤(330)은 회전축(320)에 고정되도록 결합될 수 있다. 또한, 상기 회전축(320)이 고정되어 결합되는 경우에, 회전롤(330)은 회전축(320)에 회전 가능하도록 결합된다. 상기 회전롤(330)은 기판(10)이 트레이(200)에 로딩 또는 언로딩되는 과정에서 상부에 안착되는 기판(10) 또는 캐리어(20)가 원활하게 수평 방향으로 이송될 수 있도록 한다. The
한편, 상기 이젝터 핀은 상부에 안착되는 기판(10) 또는 캐리어(20)가 손상없이 이송되도록 하는 다양한 구조의 회전롤을 포함하여 형성될 수 있다.
The ejector pins may include a rotating roll having various structures for allowing the
다음은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이와 이를 포함하는 인라인 열처리 장치의 작용에 대하여 설명한다.Hereinafter, an operation of a tray capable of stacking a plurality of layers of a substrate according to an embodiment of the present invention and an inline heat treatment apparatus including the same will be described.
이하에서는 기판(10)이 캐리어(20)에 안착되지 않은 상태로 트레이(200)에 로딩되어 열처리되는 경우를 중심으로 설명한다. Hereinafter, the case where the
상기 트레이(200)는 공정 챔버(100)의 외부에서 내부에 기판(10)이 로딩된다. 먼저, 상기 트레이(200)는 별도의 로딩 챔버(미도시)에 위치하며, 로딩 챔버에 장착된 이젝터 핀(300)이 이젝터 홀(210a)을 통하여 상부 지지판(214)의 상면위로 돌출된다. 상기 트레이(200)는 기판(10)이 로딩되는 방향에 위치하는 차폐문(240)이 상부로 회동하여 개방된다. 상기 기판(10)은 별도의 이송 로봇(미도시)에 의하여 이송되며, 전측부가 이젝터 핀(300)의 회전롤(330)과 접촉되도록 이송된다. 상기 기판(10)은 별도의 이송 수단(미도시)에 의하여 후측부의 후측단이 밀어지면서 전측부 방향으로 이송되어 상부 지지판(214)의 상부에 로딩된다. 이때, 상기 이젝터 핀(300)은 회전롤(330)이 회전하므로 이송되는 기판(10)의 하면이 손상되지 않도록 한다. 또한, 상기 트레이(200)는 동일한 과정이 반복되어 하부 지지판(212)의 상부에 기판(10)이 추가로 로딩된다. 상기 차폐문(240)은 하부로 회동하여 트레이(200)의 전측부를 차폐한다. 상기 트레이(200)는 열처리가 진행되는 공정 챔버(100)로 장입되고 순차적으로 인접한 공정 챔버(100)로 이송되면서 내부의 기판(10)이 열처리되도록 한다. 상기 기판(10)에 대한 열처리가 종료되면, 트레이(200)는 다시 언로딩 챔버(미도시)로 이송된다. 상기 트레이(200)는 기판이 언로딩되는 방향의 차폐문(240)이 상부로 개방되며, 이젝터 핀(300)이 상승하여 하부 지지판(212)에 안착된 기판(10)이 외부로 이송되어 언로딩되도록 한다. 이때, 상기 트레이(200)는 언로딩되는 방향과 반대 방향에 위치하는 차폐문(240)이 개방되고 별도의 이송 수단(미도시)이 기판(10)의 후측단을 밀어서 트레이(200)의 외부로 이송되도록 할 수 있다. 또한, 상기 트레이(200)는 동일한 과정이 반복되어 상부 지지판(214)의 상부에 안착된 기판(10)이 외부로 언로딩되도록 한다.The
따라서, 상기 인라인 열처리 장치는 트레이의 내부에 복수 개의 기판을 복수 레이어로 적층하여 열처리를 진행하므로 한 번에 이송되어 열처리되는 기판의 수를 증가시키는 효과가 있다. Accordingly, the inline thermal processing apparatus increases the number of substrates to be transferred at one time to be heat-treated because a plurality of substrates are stacked in a plurality of layers in the tray and heat treatment is performed.
또한, 상기 인라인 열처리 장치는 기판이 안착되는 트레이의 내부가 외부로부터 차폐된 상태에서 이송되면서 기판의 열처리를 진행하므로 열처리 과정에서 기판의 표면에 이물 입자가 부착되는 것을 최소화시킬 수 있다.In addition, since the inside of the tray on which the substrate is placed is shielded from the outside and the substrate is heated, the inline heat treatment apparatus minimizes adherence of foreign particles to the surface of the substrate during the heat treatment process.
100: 공정챔버
110: 하우징 120: 단열재
130: 가열수단 140: 이송롤러
200: 트레이
210: 지지판 220: 상부판
230: 차폐벽 240: 차폐문
250: 지지바100: Process chamber
110: housing 120: insulation
130: Heating means 140: Feed roller
200: Tray
210: support plate 220: upper plate
230: Shielding wall 240: Car door
250: Support bar
Claims (14)
상기 지지판은
하부에 위치하는 하부 지지판 및
상기 하부 지지판의 상부에 위치하는 상부 지지판을 포함하며,
상기 기판보다 큰 면적을 가지며, 상면에 안착되는 상기 기판을 지지하면서 상기 지지판의 상면에 안착되는 캐리어와
상기 지지판의 상부에 위치하는 상부판 및
바 형상으로 형성되며, 상기 상부 지지판의 하면과 상기 상부판의 하면에 상기 상부 지지판의 폭 방향을 기준으로 중간에서 길이 방향으로 연장되도록 결합되는 길이 지지바를 구비하는 지지바를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.And at least two support plates spaced apart from each other in the vertical direction,
The support plate
A lower support plate positioned at a lower portion thereof,
And an upper support plate positioned above the lower support plate,
A carrier having a larger area than the substrate and seated on the upper surface of the support plate while supporting the substrate mounted on the upper surface;
An upper plate positioned above the support plate,
And a support bar provided on the lower surface of the upper support plate and the lower surface of the upper plate so as to extend in the longitudinal direction at a middle point of the width direction of the upper support plate. A tray capable of stacking a plurality of layers of a substrate.
상기 하부 지지판과 상부 지지판은 상하로 관통되는 복수 개의 이젝터 홀을 구비하는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.The method according to claim 1,
Wherein the lower support plate and the upper support plate have a plurality of ejector holes vertically penetrating the substrate.
상기 상부판은 평판 형상 또는 곡면판 형상으로 형성되며, 평면을 기준으로 상기 지지판의 면적에 대응되는 면적을 가지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.The method according to claim 1,
Wherein the upper plate is formed in a flat plate shape or a curved plate shape and has an area corresponding to an area of the support plate with respect to a plane.
상기 지지판과 상부판의 양측부에 결합되어 상기 지지판과 상부판의 측면 공간을 차폐하는 차폐벽을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.The method according to claim 1,
Further comprising a shielding wall coupled to both sides of the support plate and the top plate to shield the side space of the support plate and the top plate.
상기 차폐벽은 상기 지지판의 길이에 대응되는 길이와 상기 지지판과 상부판의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성되며,
상기 하부 지지판과 상부 지지판 사이의 측면 공간 및 상기 상부 지지판과 상부판 사이의 측면 공간을 차폐하는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.6. The method of claim 5,
Wherein the shielding wall is formed to have a length corresponding to the length of the support plate and a height corresponding to a total height of the support plate and the top plate,
And a side space between the lower support plate and the upper support plate and a side space between the upper support plate and the upper plate.
상기 지지판의 폭에 대응되는 폭과 상기 지지판과 상부판의 전체 이격 높이에 대응되는 높이로 형성되며,
상기 하부 지지판과 상부 지지판 사이의 전면 및 후면 공간 및 상기 상부 지지판과 상부판 사이의 전면 및 후면 공간을 차폐하는 차폐문을 더 포함하여 형성되는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.6. The method of claim 5,
A width corresponding to the width of the support plate, and a height corresponding to a total spacing height of the support plate and the top plate,
Further comprising a front and rear space between the lower support plate and the upper support plate, and a front and rear space between the upper support plate and the upper plate.
상기 차폐문은 상기 차폐벽의 상부 또는 하부에 회동 가능하게 결합되는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.8. The method of claim 7,
Wherein the shielding door is pivotally coupled to an upper portion or a lower portion of the shielding wall.
상기 지지바는 바 형상으로 형성되며, 상기 상부 지지판의 하면과 상기 상부판의 하면에 상기 상부 지지판의 폭 방향으로 연장되고, 상기 상부 지지판의 길이 방향으로 소정 간격으로 이격되도록 결합되는 복수의 폭 지지바를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.The method according to claim 1,
The support bar is formed in a bar shape and extends in the width direction of the upper support plate on the lower surface of the upper support plate and the lower surface of the upper plate and has a plurality of width supports And a plurality of layers of a plurality of layers of the substrate are stacked.
상기 지지판과 상부판과 차폐벽 및 차폐문은 쿼쯔(quautz), 퓨즈드 실리카 또는 네오 세라믹으로 형성되는 것을 특징으로 하는 기판의 복수 레이어 적층이 가능한 트레이.8. The method of claim 7,
Wherein the support plate, the top plate, the shielding wall, and the shutoff door are formed of quartz, fused silica, or neoceramics.
상기 공정 챔버의 내부로 이송되어 상기 기판을 열처리하며, 제 1 항, 제 2 항, 제 4 항 내지 제 8 항, 제 10 항 및 제 12 항 중 어느 하나의 항에 따라 형성되는 트레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 인라인 열처리 장치.At least two process chambers are formed adjacent to each other, and each process chamber has a process chamber in which a control temperature is set according to a heat treatment condition of the substrate,
And a tray formed in accordance with any one of claims 1, 2, 4, 8, 10, and 12 to be transferred into the process chamber to heat treat the substrate Wherein the heat treatment apparatus comprises:
상기 공정 챔버는
외측 하우징과,
상기 외측 하우징의 내부에서 열처리 공간을 형성하는 내측 하우징과,
상기 외측 하우징과 내측 하우징 사이에 위치하는 가열 수단 및
상기 내측 하우징의 내부 하측에 형성되어 상기 트레이를 지지하여 이송하는 이송 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 인라인 열처리 장치.The method of claim 13, wherein
The process chamber
An outer housing,
An inner housing forming a heat treatment space inside the outer housing,
Heating means located between the outer housing and the inner housing,
And a conveying unit formed on an inner lower side of the inner housing to support and convey the tray.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140194563A KR101799584B1 (en) | 2014-12-31 | 2014-12-31 | Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140194563A KR101799584B1 (en) | 2014-12-31 | 2014-12-31 | Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160083404A KR20160083404A (en) | 2016-07-12 |
KR101799584B1 true KR101799584B1 (en) | 2017-11-21 |
Family
ID=56504955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140194563A KR101799584B1 (en) | 2014-12-31 | 2014-12-31 | Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101799584B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107083476A (en) * | 2017-05-11 | 2017-08-22 | 湖北大帆金属制品有限公司 | A kind of strong convection annealing furnace pallet assembly |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101464662B1 (en) | 2013-07-24 | 2014-11-25 | 주식회사 나래나노텍 | Improved Boat, and Heat Treatment Chamber and Apparatus of Substrate Having the Same |
-
2014
- 2014-12-31 KR KR1020140194563A patent/KR101799584B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101464662B1 (en) | 2013-07-24 | 2014-11-25 | 주식회사 나래나노텍 | Improved Boat, and Heat Treatment Chamber and Apparatus of Substrate Having the Same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160083404A (en) | 2016-07-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101507557B1 (en) | The horizontal type apparatus for depositing a atomic layer on the large substrate | |
WO2021218760A1 (en) | Conveying carrier plate, vacuum coating device, and vacuum coating method | |
KR101478151B1 (en) | Atommic layer deposition apparatus | |
KR101799584B1 (en) | Tray Capable of Stacking of Substrate in Multiple Layers and Inline Heat Treatment Apparatus having the Same | |
KR101713196B1 (en) | In-line type heat treatment apparatus | |
JP5600885B2 (en) | Organic EL drying equipment | |
JP2010159463A (en) | In-line type plasma cvd method, and apparatus thereof | |
JP3667270B2 (en) | Substrate heat treatment method and furnace equipment therefor | |
KR101499467B1 (en) | The horizontal type apparatus for depositing a atomic layer on the large substrate | |
KR101152598B1 (en) | Substrate treating apparatus | |
TWI471966B (en) | Substrate processing system and substrate processing method | |
KR101507556B1 (en) | The horizontal type apparatus for depositing a atomic layer on the large substrate | |
KR101753079B1 (en) | Tray, substrate processing apparatus using the same | |
TW201246291A (en) | Vacuum processing device | |
JP2015137415A (en) | Large-area atomic layer deposition apparatus | |
KR20100071658A (en) | Apparatus for depositing thin film | |
JP2003077398A (en) | Manufacturing method of plasma display panel and furnace equipment for same | |
TWI793235B (en) | Heat treatment furnace and manufacturing method thereof | |
KR102177210B1 (en) | Method for testing susceptor of chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light emitting display apparatus by using the same | |
KR101199939B1 (en) | Apparatus For Processing A Substrate | |
KR101720272B1 (en) | Batch Type Inline Heat Treatment Apparatus | |
KR102166492B1 (en) | Apparatus for heat processing | |
TWI806948B (en) | Heat treatment furnace and manufacturing method thereof | |
KR100811235B1 (en) | Rapid drying device for fpd | |
KR20110121407A (en) | Appartus for processing a substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right |