KR101793100B1 - X선 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
X선 검사 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치는, X선 조사부; 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블; 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 피검체 테이블은 기 설정된 기준 지점이 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 테이블 위치에 배치되며, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블은 길이 방향을 따라 수평 이동되어 초기 테이블 위치에 대해 위치 차이를 가진 조정 테이블 위치에 배치된다.
Description
본 발명은 X선 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, X선 조사부로부터 피검사체를 향해 X선이 경사 방향으로 조사될 때 그로 인해 X선 영상의 질이 저하되는 것을 방지할 수 있는 X선 검사 장치에 관한 것이다.
X선 검사 장치는 피검사체에 대한 X선 영상을 얻기 위한 장치로서, 주로 의료 진단용으로 사용된다.
도 1 및 2에 도시된 X선 검사 장치는 종래 기술에 따른 X선 검사 장치의 일 예를 개략적으로 나타낸 것으로서, X선 조사부(1), 피검체 테이블(2), X선 디텍터(3) 및 그리드 부재(4)를 포함한다.
그리드 부재(4)는 복수의 X선 투과홀들(4a) 및 이들을 구획하는 복수의 그리드 격벽들(4b)을 포함하는 구조를 가짐으로써, 피검사체(S)를 산란 없이 통과한 유효 X선(effective X-rays)은 투과홀들(4a)을 통해 투과시키는 반면 피검사체(S)에 의해 산란된 X선(scattered X-rays)은 그리드 격벽들(4b)을 통해 차단하는 기능을 수행한다.
도 1에 도시된 바와 같이, 그리드 격벽들(4b)의 경사각은 그리드 부재(4)의 중앙부에서 가장자리로 갈수록 점차 커지며, 마찬가지로 X선 투과홀들(4a)의 X선 투과각도 그리드 부재(4)의 중앙부에서 가장자리로 갈수록 점차 커진다. 이러한 그리드 부재(4)의 구조로 인하여, 도 1에서처럼 X선 조사부(1)로부터 X선이 수직 조사 방식으로 조사되는 경우 그리드 부재(4)의 제 기능이 이상적으로 발휘될 수 있다. 여기서 X선의 수직 조사(vertical emitting)는 X선 빔의 중심 조사 방향(central emitting direction)이 피검체 테이블(2) 또는 X선 디텍터(3)에 대해 수직하게 X선을 조사하는 방식을 의미한다.
반면 도 2에 도시된 경사 조사(oblique emitting) 방식에 따른 X선 영상의 품질은 수직 조사 방식에 따른 X선 영상의 품질보다 상대적으로 저하될 수 있다. 도 2에 잘 나타나 있는 바와 같이, 이러한 품질 저하는 그리드 부재(4)의 유효 X선 투과 기능 저하 및 그리드 부재(4)의 산란 X선 차단 기능 저하에 기인한다.
촬영 부위나 촬영 목적에 따라 수직 조사 방식과 경사 조사 방식을 선택적으로 적용할 필요가 있는데, 경사 조식 방식을 적용하는 경우 상술한 바와 같은 영상 품질 저하의 문제점이 나타나고 있어 그에 대한 해결책이 필요한 실정이다.
본 발명은 피검사체를 향해 X선을 경사 방향으로 조사하는 경우 발생될 수 있는 X선 영상의 품질 저하 문제를 해결할 수 있는 X선 검사 장치를 제공하고자 한다.
이에 본 발명은, X선 검사 장치로서, X선 조사부; 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블; 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 피검체 테이블은 기 설정된 기준 지점이 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 테이블 위치에 배치되며, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블은 길이 방향을 따라 수평 이동되어 초기 테이블 위치에 대해 위치 차이를 가진 조정 테이블 위치에 배치되는, X선 검사 장치를 제공한다.
상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치로부터 좌측으로 이동된 조정 테이블 위치를 가지며, 상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치로부터 우측으로 이동된 조정 테이블 위치를 가질 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블과 상기 초기 조사부 위치에 배치된 상기 X선 조사부 사이의 거리가 d1 이고 상기 X선 조사부의 X선 조사각이 α이라고 가정하면 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치와 상기 조정 테이블 위치 사이의 위치 차이가 d1tanα가 되도록 이동될 수 있다.
상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블이 수평 이동됨과 동시에 상기 X선 조사부도 동일 방향으로 동일 거리 수평 이동될 수 있다.
본 발명은 또한, X선 검사 장치로서, X선 조사부; 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블; 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 그리드 부재는 상기 대칭축이 상기 X선 조사부에 정렬되는 초기 그리드 위치에 배치되고, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 그리드 부재는 수평 방향으로 이동되어 상기 초기 그리드 위치에 대해 위치 차이를 갖는 조정 그리드 위치에 배치되는, X선 검사 장치를 제공한다.
상기 그리드 부재의 위치가 조정될 때 상기 X선 디텍더는 상기 그리드 부재의 움직임과 동일한 움직임을 가질 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 기준 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 상기 초기 그리드 위치로부터 우측으로 이동된 조정 그리드 위치를 가지며, 상기 X선 조사부가 상기 기준 위치의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 상기 초기 테이블 위치로부터 좌측으로 이동된 조정 그리드 위치를 가질 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블과 상기 초기 조사부 위치에 배치된 X선 조사부와의 거리가 d2 이고 상기 X선 조사부의 X선 조사각이 α이고 가정하면 상기 그리드 부재는 상기 초기 그리드 위치와 상기 조정 그리드 위치 사이의 위치 차이가 d2tanα가 되도록 이동될 수 있다.
본 발명은 또한, X선 검사 장치로서, X선 조사부; 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블; 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되며 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 그리드 부재는 수평한 초기 자세를 가지며, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 그리드 부재는 상기 초기 자세에 대해 각도 차이를 갖는 조정 자세로 틸팅되는, X선 검사 장치를 제공한다.
상기 그리드 부재의 자세가 조정될 때 상기 X선 디텍더는 상기 그리드 부재의 움직임과 동일한 움직임을 가질 수 있다.
상기 X선 투과홀들은 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 것일 수 있고, 상기 X선 검사 장치가 상기 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 초기 조사부 위치에 배치되며 좌우 방향에서 상기 그리드 부재의 대칭축과 정렬되는 것일 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 우측 가장자리가 내려가도록 틸팅되며, 상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 좌측 가장자리가 내려가도록 틸팅되는 것일 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 상기 X선 조사부의 X선 조사각과 동일한 각도만큼 틸팅되는 것일 수 있다.
또한 본 발명은, X선 검사 장치로서, X선 조사부; 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블; 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 그리드 부재는 수평한 초기 자세를 가지며 상기 대칭축이 상기 X선 조사부에 정렬되는 초기 그리드 위치에 배치되고, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 그리드 부재는 상기 초기 자세에 대해 각도 차이를 갖는 조정 자세로 틸팅되는 한편, 길이 방향을 따라 이동되어 상기 초기 그리드 위치에 대해 위치 차이를 갖는 조정 그리드 위치에 배치되는, X선 검사 장치를 제공한다.
상기 그리드 부재의 자세 및 위치가 조정될 때 상기 X선 디텍더는 상기 그리드 부재의 움직임과 동일한 움직임을 가질 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 우측 가장자리가 내려가도록 틸팅되고 좌측 가장자리 쪽으로 이동되며, 상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 좌측 가장자리가 내려가도록 틸팅되고 우측 가장자리 쪽으로 이동되는 것일 수 있다.
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 그리드 부재와 상기 초기 그리드 위치에 배치된 X선 조사부 사이의 거리가 d2이고 상기 X선 조사부의 X선 조사각이 α라고 가정하면 상기 그리드 부재는 상기 초기 자세에 대해 α만큼의 각도 차이를 갖는 자세를 갖도록 틸팅되고 길이 방향을 따라 d2tanα 만큼 이동되는 것일 수 있다.
상기 그리드 부재의 위치 조정은 자세 보정 이전에 또는 이후에 수행될 수 있다.
도 1 및 2는 종래 기술에 따른 X선 검사 장치의 일 예를 도시한 것으로서, 도 1은 X선을 수직 조사 방식으로 조사하는 모습을 도시한 것이고 도 2는 X선을 경사 조사 방식으로 조사하는 모습을 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치를 개략적으로 도시한 정면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 X선 검사 장치의 동작 제어와 관련된 구성들을 도시한 블록도이다.
도 5는 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 구비되는 피검체 테이블의 평면도이다.
도 6은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제1 실시예를 나타낸다.
도 7 내지 10은 피검체 테이블의 위치 보정에 따른 X선 영상 품질 개선 효과를 설명하기 위한 X선 영상들로서, 각 도면에서 좌측 영상은 종래 기술이 적용된 것이고 우측 영상은 본 발명이 적용된 것이다.
도 11은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제2 실시예를 나타낸다.
도 12 및 13은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제3 실시예를 나타낸다.
도 14 및 15는 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제4 실시예를 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치를 개략적으로 도시한 정면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 X선 검사 장치의 동작 제어와 관련된 구성들을 도시한 블록도이다.
도 5는 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 구비되는 피검체 테이블의 평면도이다.
도 6은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제1 실시예를 나타낸다.
도 7 내지 10은 피검체 테이블의 위치 보정에 따른 X선 영상 품질 개선 효과를 설명하기 위한 X선 영상들로서, 각 도면에서 좌측 영상은 종래 기술이 적용된 것이고 우측 영상은 본 발명이 적용된 것이다.
도 11은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제2 실시예를 나타낸다.
도 12 및 13은 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제3 실시예를 나타낸다.
도 14 및 15는 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 적용된 동작 제어 방식의 제4 실시예를 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치를 개략적으로 도시한 정면도이고, 도 4는 도 3에 도시된 X선 검사 장치의 동작 제어와 관련된 구성들을 도시한 블록도이며, 도 5는 도 3에 도시된 X선 검사 장치에 구비되는 피검체 테이블의 평면도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치(100)는 X선 조사부(110), 조사부 지지 유닛(101), 피검체 테이블(120), X선 디텍터(130), 그리드 부재(140) 및 테이블 지지 프레임(121)을 포함한다.
X선 조사부(110)는 X선을 발생시켜 피검사체를 향해 X선을 조사한다. 예로써, X선 조사부(110)는 X선을 발생시키는 X선관(103)과, X선관(103)에 결합된 콜리메이터(105)를 포함할 수 있다.
X선 조사부(110)는 조사부 지지 유닛(101)에 장착되며, 좌우 방향(X축 방향), 전후 방향(Y축 방향) 및 상하 방향(Z축 방향)을 따라 이동될 수 있고, 또한 전후 방향(Y축 방향)을 중심으로 시계 방향 및 반시계 방향으로 회전될 수도 있다.
피검체 테이블(120)은 피검사체를 지지하는 구성으로서, 적어도 좌우 방향(X축 방향)을 따라 이동 가능하게 테이블 지지 프레임(121)에 장착된다. 피검체 테이블(120)의 상면은 피검사체의 포지셔닝을 안내하는 표시들을 포함할 수 있다. 예로써, 도 5에 도시된 바와 같이 피검체 테이블(120)의 상면에 X축 방향 가이드라인(121), Y축 방향 가이드라인(122) 및 교차점(123)이 구비될 수 있다. 그리고, 도 3에 도시된 초기 설정 모드에서 피검체 테이블(120)은 그 상면 상의 교차점(123)이 X선 조사부(110)와 정렬되도록 배치될 수 있다.
X선 디텍터(130)는 피검체 테이블(120) 아래에 배치되어 피검사체를 통과한 X선을 검출한다. X선 디텍터(130)에 의해 검출된 신호들이 영상화됨으로써 X선 영상이 구현될 수 있다.
그리드 부재(140)는 복수의 X선 투과홀들(141)(도 6 참조) 및 이들을 구획하는 복수의 그리드 격벽들(142)(도 6 참조)을 포함하는 구조를 가짐으로써, 피검사체를 산란 없이 통과한 유효 X선(effective X-rays)은 투과홀들(141)을 통해 투과시키고 피검사체에 의해 산란된 X선(scattered X-rays)은 그리드 격벽들(142)에 의해 차단하는 기능을 수행한다.
후술하는 도 6에 도시된 바와 같이, X선 투과홀들(141)은 그리드 부재(140)의 폭 방향(Y 방향)에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭 형태로 배열될 수 있다.
일 예에 따르면, 도 3에 도시된 바와 같이 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, X선 조사부(110)는 수직 조사 자세를 갖는 한편 그리드 부재(140)의 대칭축에 정렬되는 위치(초기 조사부 위치)에 배치될 수 있고, 피검체 테이블(120)은 수평한 초기 자세를 갖는 한편 기 설정된 그것의 기준 지점(예로써, 전술한 교차점 123)이 그리드 부재(140)의 대칭축에 정렬되는 위치(초기 테이블 위치)에 배치될 수 있으며, 그리드 부재(140)는 수평한 초기 자세를 갖는 한편 그것의 대칭축이 X선 조사부(110)에 정렬되는 위치(초기 그리드 위치)에 배치될 수 있으며, X선 디텍터(130)는 수평한 초기 자세를 갖는 한편 그것의 중심부가 그리드 부재(140)의 대칭축에 정렬되는 배치를 가질 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, X선 검사 장치(100)는 그것의 동작 제어와 관련된 구성들로서 제어부(150), 메모리부(151), 사용자 입력부(152), 조사각 측정부(153), 제1 구동부(155), 제2 구동부(156) 및 제3 구동부(157)를 포함할 수 있다.
제어부(150)는 X선 검사 장치(100)에 대한 동작 제어를 담당하는 구성이고, 메모리부(151)는 그 동작 제어에 필요한 데이터들이 저장되는 구성이며, 사용자 입력부(152)는 X선 검사 장치(100)의 동작 제어에 필요한 사용자 입력들을 받는 구성이다. 조사각 측정부(153)는 X선 조사부(110)의 X선 조사각을 측정하는 구성으로서 X선 조사부(110)의 회전 각도를 감지하여 X선 조사각을 측정할 수 있다. 제1 구동부(155)는 제어부(150)의 제어 명령에 따라 피검체 테이블(120)을 구동하는 구성이고, 제2 구동부(156)는 제어부(150)의 제어 명령에 따라 X선 디텍터(130) 및 그리드 부재(140)를 구동하는 구성이며, 제3 구동부(157)는 제어부(150)의 제어 명령에 따라 X선 조사부(110)를 구동하는 구성이다.
X선 조사부(110)가 피검사체에 대해 X선을 경사지게 조사하는 경사 조사 자세를 가질 때, 제어부(150)는 그리드 성능 저하로 인한 X선 영상 품질 저하가 발생되지 않도록 제1 구동부(155)를 통해 피검체 테이블(120)을 제어하거나 제2 구동부(156)를 통해 X선 디텍터(130) 및 그리드 부재(140)를 제어할 수 있다.
이하에서는 X선 조사부(110)의 경사 조사에 따른 그리드 성능 저하 문제를 해결하기 위해 적용될 수 있는 본 발명에 따른 동작 제어의 여러 실시예들에 대해 구체적으로 설명한다.
제1 실시예 : 피검체 테이블 수평 이동
먼저, 도 6을 참조하여 제1 실시예를 설명한다.
X선 검사 장치(100)가 초기 설정 모드에 있을 때, X선 조사부(110)는 초기 조사부 위치(P0)에서 수직 조사 자세를 가지며, 이때 X선 조사부(110)는 초기 조사부 위치에 배치된 그리드 부재(140)의 대칭축과 좌우 방향(X 방향)에서 정렬되는 좌표를 가질 수 있다. 또한 이때, 피검체 테이블(120)의 상면에 마련된 Y 방향 가이드라인(122)(도 5 참조)은 그리드 부재(140)의 대칭축과 정렬될 수 있고 피검체 테이블(120)의 상면에 마련된 교차점(123)은 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)에 정렬될 수 있다.
도 6에 도시된 바와 같이 사용 위치(P1)에서 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 제어부(150)가 제1 구동부(155)를 작동시킴으로써 피검체 테이블(120)은 그것의 길이 방향(X 방향)을 따라 초기 테이블 위치로부터 조정 테이블 위치로 이동된다.
도 6에서 사용 위치(P1)는 기준 위치(P0)의 우측에 위치하는 것으로 예시되지만, 사용 위치(P1)는 초기 조사부 위치(P0)의 좌측에 위치할 수도 있고 초기 조사부 위치(P0)와 X 좌표가 같은 곳에 위치할 수도 있다.
도 6에 도시된 바와 같이, X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 우측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 피검체 테이블(120)은 좌측 방향으로 수평 이동되며, 이와 반대로 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 좌측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 피검체 테이블(120)은 우측 방향으로 수평 이동된다.
만약 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)와 X 좌표가 같은 위치에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 피검체 테이블(120)의 이동 방향은 X선 조사부(110)의 회전 방향에 의해 결정될 수 있다. 구체적으로, X선 조사부(110)가 시계 방향으로 회전된 경우 피검체 테이블(120)의 이동 방향은 좌측 방향으로 결정될 수 있고, X선 조사부(110)가 반시계 방향으로 회전된 경우 피검체 테이블(120)의 이동 방향은 우측 방향으로 결정될 수 있다.
한편, 피검체 테이블(120)의 초기 테이블 위치와 조정 테이블 위치 사이의 거리(X)는 tanα에 비례하는 값으로 결정될 수 있으며, 여기서 α는 X선 조사부(110)의 X선 조사각이다. 이때, 비례상수로는 예로써 피검체 테이블(120)과 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d1)가 사용될 수 있으며, 이 경우 피검체 테이블(120)의 초기 테이블 위치와 조정 테이블 위치 사이의 거리(X)는 결과적으로 d1tanα로 결정될 수 있다.
X선 조사각(α) 데이타는 전술한 조사각 측정부(153)에 의해 측정되어 제어부(150)에 실시간으로 제공될 수 있고, 피검체 테이블(120)과 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d1)는 일정한 값으로서 제조 시에 측정되어 전술한 메모리(151)에 저장되어 사용될 수 있다. 그리하여 제어부(150)는 실시간으로 측정되는 X선 조사각(α) 데이터와 기 측정된 거리(d1) 데이터를 가지고 피검체 테이블(120)의 초기 테이블 위치와 조정 테이블 위치 사이의 거리 (X)를 산출할 수 있다.
상술한 바와 같이 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 피검사체(S)가 놓여진 피검체 테이블(120)을 초기 테이블 위치로부터 X 만큼 떨어진 조정 테이블 위치에 배치시킴으로써, 경사 조사로 인해 발생될 수 있는 X선 영상의 품질 저하 문제가 해결될 수 있다.
X선 촬영이 완료되면 사용자 입력부(152)를 통해 리셋 명령이 입력될 수 있으며, 이때 제어부(150)는 제1 구동부(155)를 작동시켜 조정 위치에 배치된 피검체 테이블(120)을 초기 테이블 위치로 복귀시키는 한편 제3 구동부(157)를 작동시켜 X선 조사부(110)를 초기 조사부 위치 및 초기 자세(수직 조사 자세)로 복귀시킬 수 있다.
이상 설명한 실시예에서는 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 단지 피검체 테이블(120)이 수평 이동하여 조정 테이블 위치에 배치되는 것으로 설명하였지만, 대안적으로 X선 조사부(110)도 피검체 테이블(120)과 동일한 이동 방향 및 거리를 가지고 수평 이동하여 조정 조사부 위치에 배치될 수 있다.
도 7 내지 10은 상술한 피검체 테이블의 위치 보정에 따른 X선 영상 품질 개선 효과를 보이는 X선 영상들로서, 이들 각 도면에서 좌측 영상은 종래 기술을 적용하여 아무런 보정 없이 경사 조사 촬영한 영상이고 우측 영상은 본 발명에 따른 상술한 피검체 테이블 위치 보정을 적용하여 경사 조사 촬영한 영상이다. 도 7 내지 10으로부터 X선 영상의 품질은 종래 기술을 적용한 경우와 비교하여 본 발명을 적용한 경우에 현저히 개선됨을 확인할 수 있다.
제2 실시예 : 그리드 부재 및 X선 디텍터의 수평 이동
다음으로, 도 11을 참조하여 제2 실시예를 설명한다.
X선 검사 장치(100)가 초기 설정 모드에 있을 때, X선 조사부(110)는 초기 조사부 위치(P0)에서 수직 조사 자세를 갖는다. 이때, 그리드 부재(140)는 그것의 대칭축이 좌우 방향(X 방향)에서 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 그리드 위치를 유지한다. 그리고, 피검체 테이블(120)은 그것의 Y방향 가이드라인(122)(도 5 참조)이 그리드 부재(140)의 대칭축 및 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 테이블 위치를 유지한다.
도 11에 도시된 바와 같이, 사용 위치(P1)에서 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 제어부(150)에 의해 제2 구동부(156)가 작동하여 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)가 초기 위치로부터 조정 위치로 이동된다.
도 11에 도시된 바와 같이, X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 우측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 우측 방향으로 수평 이동된다. 도시된 바와 달리 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 좌측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 좌측 방향으로 수평 이동된다.
만약 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)와 X 좌표가 같은 위치에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 방향은 X선 조사부(110)의 회전 방향에 의해 결정될 수 있다. 구체적으로, X선 조사부(110)가 시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 방향은 우측 방향으로 결정될 수 있고, X선 조사부(110)가 반시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 방향은 좌측 방향으로 결정될 수 있다.
한편, 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130) 각각의 초기 위치와 조정 위치 사이의 거리(X)는 tanα에 비례하는 값으로 결정될 수 있으며, 여기서 α는 X선 조사부(110)의 X선 조사각이다. 그리고, 비례상수로는 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)가 적용될 수 있으며, 이 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130) 각각의 초기 위치와 조정 위치 사이의 거리(X)는 결과적으로 d2tanα로 결정될 수 있다.
이전 실시예에서 설명한 바와 같이, X선 조사각(α) 데이타는 전술한 조사각 측정부(153)에 의해 측정되어 제어부(150)에 실시간으로 제공될 수 있고, 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)는 일정한 값으로서 제조 시에 측정되어 전술한 메모리(151)에 저장되어 사용될 수 있다.
상술한 바와 같이 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 위치를 초기 위치로부터 X 만큼 이격된 조정 위치로 설정함으로써, X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가짐으로 인해 X선 영상의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 이처럼 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 위치 조정에 의해 X선 영상 품질이 개선될 수 있는 것은, 그리드 부재(140)의 다수의 X선 투과홀들(141) 중에서 X선 조사부(110)의 경사 조사 자세에 적합한 X선 투과홀들(141)(도 11에서는 그리드 부재의 좌측 영역에 위치한 X선 투과홀들)이 X선 조사 방향에 정렬됨으로써 X선 경사 조사 시의 그리드 부재(140)의 유효 X선 투과 성능 및 산란 X선 차단 성능이 개선되기 때문이다.
본 실시예에서는 X선 조사부(110)가 경사 조사 배치를 가질 때 그리드 부재(140)와 함께 X선 검출부(130)가 수평 이동하여 상술한 조정 위치에 배치되는 것으로 설명하였으나, 대안적으로 그리드 부재(140)는 수평 이동하여 조정 위치에 배치되는 한편 X선 디텍터(130)는 초기 디텍터 위치에 유지될 수도 있다. 이러한 대안 예에서도 그리드 부재(140)의 위치 조정에 의해 X선 경사 조사 시의 그리드 부재(140)의 유효 X선 투과 성능 및 산란 X선 차단 성능이 개선될 수 있으므로 X선 경사 조사에 기인하는 X선 영상의 품질 저하가 방지될 수 있다.
X선 촬영이 완료되면 사용자 입력부(152)를 통해 리셋 명령이 입력될 수 있으며, 이때 제어부(150)는 제2 구동부(156)를 작동시켜 조정 위치에 배치된 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)를 초기 위치로 복귀시키는 한편 제3 구동부(157)를 작동시켜 X선 조사부(110)를 초기 조사부 위치 및 초기 자세(수직 조사 자세)로 복귀시킬 수 있다.
제3 실시예 : 그리드 부재 및 X선 디텍터의 틸팅 후 길이방향 이동
다음으로, 도 12 및 13을 참조하여 제3 실시예를 설명한다.
X선 검사 장치(100)가 초기 설정 모드에 있을 때, X선 조사부(110)는 초기 조사부 위치(P0)에서 수직 조사 자세를 갖는다. 이때, 그리드 부재(140)는 그것의 대칭축이 좌우 방향(X 방향)에서 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 그리드 위치를 유지한다. 그리고, 피검체 테이블(120)은 그것의 Y방향 가이드라인(122)(도 5 참조)이 그리드 부재(140)의 대칭축 및 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 테이블 위치를 유지한다.
도 12 및 13에 도시된 바와 같이, 사용 위치(P1)에서 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 제어부(150)에 의해 제2 구동부(156)가 작동하여 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 자세 및 위치가 조정된다. 본 실시예에서 이러한 조정은 두 단계로 수행된다. 구체적으로, 제1 단계에서는 도 12에 도시된 바와 같이 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)가 특정 방향으로 틸팅되며, 제2 단계에서는 도 13에 도시된 바와 같이 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)가 그것들의 길이 방향을 따라 이동된다.
도 12 및 13에 도시된 바와 같이 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 우측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 시계 방향으로 틸팅된 후 길이 방향을 따라 좌측 가장자리 쪽으로 이동된다. 도시된 바와 달리 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 좌측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우, 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 반시계 방향으로 틸팅된 후 길이 방향을 따라 우측 가장자리 쪽으로 이동된다.
만약 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)와 X 좌표가 같은 위치에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 방향 및 이동 방향은 X선 조사부(110)의 회전 방향에 의해 결정될 수 있다. 구체적으로, X선 조사부(110)가 시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 방향은 시계 방향으로 결정되고 이동 방향은 좌측 방향으로 결정될 수 있으며, X선 조사부(110)가 반시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 방향은 반시계 방향으로 결정되고 이동 방향은 우측 방향으로 결정될 수 있다.
한편, 제1 단계에서 수행되는 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 각도는 X선 조사부(110)의 X선 조사각에 비례하는 값으로 결정될 수 있다. 일 예로써, 선 조사부(110)의 X선 조사각이 α라고 하면 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 각도는 그와 동일하게 α로 결정될 수 있다(비례상수 = 1).
그리고, 제2 단계에서 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130) 각각의 길이방향 이동 거리(X)는 X선 조사각이 α라고 하면 tanα에 비례하는 값으로 결정될 수 있다. 비례상수로는 예로써 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)가 사용될 수 있으며, 이 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 거리(X)는 결과적으로 d2tanα로 결정될 수 있다.
이전 실시예들에서 설명한 바와 같이, X선 조사각(α) 데이타는 전술한 조사각 측정부(153)에 의해 측정되어 제어부(150)에 실시간으로 제공될 수 있고, 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)는 일정한 값으로서 제조 시에 측정되어 전술한 메모리(151)에 저장되어 사용될 수 있다.
X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)를 틸팅 및 이동시킴으로써, X선 조사부(110)의 경사 조사 자세를 가짐으로 인해 X선 영상의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 이처럼 X선 영상 품질 저하가 방지될 수 있는 것은 그리드 부재(140)의 틸팅 및 이동에 의해 X선 투과홀들(141)의 투과 방향 및 위치가 X선 조사 방향에 적합하게 조정되기 때문이다.
본 실시예에서는 X선 조사부(110)가 경사 조사 배치를 가질 때 그리드 부재(140)와 X선 검출부(130)가 동일한 움직임을 갖는 것으로 설명하였으나, 대안적으로 그리드 부재(140)만의 자세 및 위치가 조정되고 X선 검출부(130)의 자세 및 위치는 조정되지 않을 수 있다. 이러한 대안 예에 의하더라도 그리드 부재(140)의 자세 및 위치 조정에 의해 X선 경사 조사 시의 그리드 부재(140)의 유효 X선 투과 성능 및 산란 X선 차단 성능이 개선될 수 있으므로 X선 경사 조사에 기인하는 X선 영상의 품질 저하가 방지될 수 있다.
X선 촬영이 완료되면 사용자 입력부(152)를 통해 리셋 명령이 입력될 수 있으며, 이때 제어부(150)는 제2 구동부(156)를 작동시켜 조정 위치에 배치된 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)를 초기 설정 위치로 복귀시키는 한편 제3 구동부(157)를 작동시켜 X선 조사부(110)를 초기 설정 위치 및 초기 자세(수직 조사 자세)로 복귀시킬 수 있다.
제4 실시예 : 그리드 부재 및 X선 디텍터의 길이방향 이동 후 틸팅
다음으로, 도 14 및 15를 참조하여 제4 실시예를 설명한다.
X선 검사 장치(100)가 초기 설정 모드에 있을 때, X선 조사부(110)는 초기 조사부 위치(P0)에서 수직 조사 자세를 갖는다. 이때, 그리드 부재(140)는 그것의 대칭축이 좌우 방향(X 방향)에서 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 그리드 위치를 유지한다. 그리고, 피검체 테이블(120)은 그것의 Y방향 가이드라인(122)(도 5 참조)이 그리드 부재(140)의 대칭축 및 X선 조사부(110)의 초기 조사부 위치(P0)와 정렬되는 초기 테이블 위치를 유지한다.
도 14 및 15에 도시된 바와 같이, 사용 위치(P1)에서 X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 제어부(150)에 의해 제2 구동부(156)가 작동하여 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 위치 및 자세가 조정된다. 본 실시예에서 이러한 조정은 두 단계로 수행된다. 구체적으로, 제1 단계에서는 도 14에 도시된 바와 같이 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)가 그것들이 길이 방향으로 이동되며, 제2 단계에서는 도 15에 도시된 바와 같이 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)가 특정 방향으로 틸팅된다.
도 14 및 15에 도시된 바와 같이 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 우측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 길이 방향을 따라 좌측 가장자리 쪽으로 이동된 후 시계 방향으로 틸팅된다. 도시된 바와 달리 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)의 좌측에서 경사 조사 자세를 갖는 경우, 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)는 길이 방향을 따라 우측 가장자리 쪽으로 이동된 후 반시계 방향으로 틸팅된다.
만약 X선 조사부(110)가 초기 조사부 위치(P0)와 X 좌표가 같은 위치에서 경사 조사 자세를 갖는 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 방향 및 이동 방향은 X선 조사부(110)의 회전 방향에 의해 결정될 수 있다. 구체적으로, X선 조사부(110)가 시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 방향은 좌측 방향으로 결정되고 틸팅 방향은 시계 방향으로 결정될 수 있으며, X선 조사부(110)가 반시계 방향으로 회전된 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 방향은 우측 방향으로 결정되고 틸팅 방향은 반시계 방향으로 결정될 수 있다.
한편, 제1 단계에서 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 길이방향 이동 거리(X)는 X선 조사각이 α라고 하면 tanα에 비례하는 값으로 결정될 수 있다. 비례상수로는 예로써 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)가 사용될 수 있으며, 이 경우 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 이동 거리(X)는 결과적으로 d2tanα로 결정될 수 있다.
그리고, 제2 단계에서 수행되는 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 각도는 X선 조사부(110)의 X선 조사각에 비례하는 값으로 결정될 수 있다. 일 예로써, 선 조사부(110)의 X선 조사각이 α라고 하면 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)의 틸팅 각도는 그와 동일하게 α로 결정될 수 있다(비례상수 = 1).
이전 실시예들에서 설명한 바와 같이, X선 조사각(α) 데이타는 전술한 조사각 측정부(153)에 의해 측정되어 제어부(150)에 실시간으로 제공될 수 있고, 그리드 부재(140)와 초기 조사부 위치(P0)에 배치된 X선 조사부(120) 사이의 거리(d2)는 일정한 값으로서 제조 시에 측정되어 전술한 메모리(151)에 저장되어 사용될 수 있다.
X선 조사부(110)가 경사 조사 자세를 가질 때 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)를 이동 및 틸팅시킴으로써, X선 조사부(110)의 경사 조사 자세를 가짐으로 인해 X선 영상의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 이처럼 X선 영상 품질 저하가 방지될 수 있는 것은 그리드 부재(140)의 이동 및 틸팅에 의해 X선 투과홀들(141)의 위치 및 투과 방향이 X선 조사 방향에 적합하게 조정되기 때문이다.
본 실시예에서는 X선 조사부(110)가 경사 조사 배치를 가질 때 그리드 부재(140)와 X선 검출부(130)가 동일한 움직임을 갖는 것으로 설명하였으나, 대안적으로 그리드 부재(140)만의 위치 및 자세가 조정되고 X선 검출부(130)의 위치 및 자세는 조정되지 않을 수 있다. 이러한 대안 예에 의하더라도 그리드 부재(140)의 위치 및 자세 조정에 의해 X선 경사 조사 시의 그리드 부재(140)의 유효 X선 투과 성능 및 산란 X선 차단 성능이 개선될 수 있으므로 X선 경사 조사에 기인하는 X선 영상의 품질 저하가 방지될 수 있다.
X선 촬영이 완료되면 사용자 입력부(152)를 통해 리셋 명령이 입력될 수 있으며, 이때 제어부(150)는 제2 구동부(156)를 작동시켜 조정 위치에 배치된 그리드 부재(140) 및 X선 검출부(130)를 초기 위치로 복귀시키는 한편 제3 구동부(157)를 작동시켜 X선 조사부(110)를 초기 위치 및 초기 자세(수직 조사 자세)로 복귀시킬 수 있다.
이상 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 당업계에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : X선 검사 장치
101 : 조사부 지지 유닛
110 : X선 조사부
120 : 피검체 테이블
130 : X선 디텍터
140 : 그리드 부재
141 : X선 투과홀
142 : 그리드 격벽
101 : 조사부 지지 유닛
110 : X선 조사부
120 : 피검체 테이블
130 : X선 디텍터
140 : 그리드 부재
141 : X선 투과홀
142 : 그리드 격벽
Claims (18)
- X선 검사 장치로서,
X선 조사부;
피검사체가 놓여지는 피검체 테이블;
상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및
상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며,
상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 피검체 테이블은 기 설정된 기준 지점이 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 테이블 위치에 배치되며,
상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블은 길이 방향을 따라 수평 이동되어 초기 테이블 위치에 대해 위치 차이를 가진 조정 테이블 위치에 배치되며,
상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블이 수평 이동됨과 동시에 상기 X선 조사부도 동일 방향으로 동일 거리 수평 이동되는,
X선 검사 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치로부터 좌측으로 이동된 조정 테이블 위치를 가지며, 상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치로부터 우측으로 이동된 조정 테이블 위치를 갖는,
X선 검사 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블과 상기 초기 조사부 위치에 배치된 상기 X선 조사부 사이의 거리가 d1 이고 상기 X선 조사부의 X선 조사각이 α이라고 가정하면 상기 피검체 테이블은 상기 초기 테이블 위치와 상기 조정 테이블 위치 사이의 위치 차이가 d1tanα가 되도록 이동되는,
X선 검사 장치.
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- X선 검사 장치로서,
X선 조사부;
피검사체가 놓여지는 피검체 테이블;
상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터; 및
상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재;를 포함하며,
상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 그리드 부재는 상기 대칭축이 상기 X선 조사부에 정렬되는 초기 그리드 위치에 배치되고,
상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 그리드 부재는 수평 방향을 따르는 선형 이동(linear movement)을 통해 상기 초기 그리드 위치에 대해 위치 차이를 갖는 조정 그리드 위치에 배치되며,
상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 우측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 상기 초기 그리드 위치로부터 우측으로 이동된 조정 그리드 위치를 가지며, 상기 X선 조사부가 상기 초기 조사부 위치의 좌측에서 상기 경사 조사 자세를 가질 때 상기 그리드 부재는 상기 초기 그리드 위치로부터 좌측으로 이동된 조정 그리드 위치를 갖는,
X선 검사 장치.
- 제5항에 있어서,
상기 그리드 부재의 위치가 조정될 때 상기 X선 디텍더는 상기 그리드 부재의 움직임과 동일한 움직임을 갖는,
X선 검사 장치.
- 삭제
- 제5항에 있어서,
상기 X선 조사부가 상기 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블과 상기 초기 조사부 위치에 배치된 X선 조사부와의 거리가 d2 이고 상기 X선 조사부의 X선 조사각이 α이고 가정하면 상기 그리드 부재는 상기 초기 그리드 위치와 상기 조정 그리드 위치 사이의 위치 차이가 d2tanα가 되도록 이동되는,
X선 검사 장치. - 삭제
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