KR101773097B1 - 커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법 - Google Patents

커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법 Download PDF

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Abstract

본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 구동 방법은: 노이즈 신호를 획득하는 단계와, 획득한 노이즈 신호의 크기와 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값을 비교하는 단계, 및 비교 결과에 따라 구동되는 커패시턴스 검출 장치에 제공되는 구동 신호를 조절하는 포함한다.

Description

커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법{CAPACITANCE DETECTION APPARATUS AND DRIVING METHOD OF CAPACITANCE DETECTION APPARATUS}
본 발명은 커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법에 관한 것이다.
커패시턴스 검출 장치에 사용되는 감지 방식들은 저항막 방식, 표면 초음파 방식및 정전 용량 방식이 주류를 이루고 있으며, 정전 용량 방식의 경우 다중 터치 감지가 가능하고 내구성, 시인성 등이 우수하기 때문에 휴대용 모바일 기기의 주 입력 수단으로 채택되고 있는 추세이다.
정전 용량 방식 커패시턴스 검출 장치는 사용자 간섭에 의해 터치 스크린 패널 상의 축전 센서 (capacitive sensor)들에 대전된 전하량이 변하는 것을 감지하여 사용자 입력을 인식하며, 전하 축전 방식에 따라 자기 정전 용량 방식 (self-capacitive)과 상호 정전 용량 방식 (mutual-capacitive)으로 나뉜다. 자기 정전 용량 방식이 하나의 축전 센서 (capacitive sensor) 당 하나의 도전체를 구성하여 터치 스크린 패널 외부의 기준 접지면 (reference ground)과 대전면을 형성하는 반면, 상호 정전 용량 방식은 터치 스크린 패널 상의 두 개의 도전체가 서로 대전면을 형성하여 하나의 축전 센서로 기능하도록 구성된다.
일반적인 자기 정전 용량 방식은 X/Y 직교 형태의 도전체 배치를 사용하며, 이 경우 각 축전 센서가 선센서 (line sensor)로 기능하기 때문에 매 터치 스크린 감지 시 X 센서군 (X-line sensor group)과 Y 센서군 (Y-line sensor group) 각각으로부터 하나씩의 X-감지 정보와 Y-감지 정보밖에 제공받지 못한다. 따라서 일반적인 자기 정전 용량 방식 터치 스크린에서는 단일 터치의 감지 및 추적은 가능하나 다중 터치는 지원할 수 없다. 상호 정전 용량 방식도 X/Y 직교 형태의 도전체 배치를 사용하나, 각 축전 센서가 도전체 직교 위치 마다 격자센서 (grid sensor) 형태로 구성되며 터치 스크린 상의 사용자 입력 탐지 시 모든 격자센서의 반응이 독립적으로 감지되는 점이 자기 정전 용량 방식과 다르다. 각 격자센서는 서로 다른 하나의 X/Y 좌표에 대응되고 서로 독립적인 반응 결과를 제공하기 때문에, 상호축전 방식 터치 스크린에서는 X/Y 격자센서 집합으로부터 제공받은 X/Y-감지 정보집합으로부터 사용자 입력 정보를 추출하여 사용자의 다중 터치를 감지하고 추적할 수 있다.
일반적인 상호 정전 용량 방식 터치스크린 패널의 도전체 구성과 감지 방식은 다음과 같다. 어느 한 방향으로 연장되는 도전체로 구성된 제1 전극들과 제1 전극들에 직교하는 방향으로 연장되는 도전체로 구성된 제2 전극들이 두 개의 전극 사이의 유전물질 (dielectric material)을 매개로 상호 정전 용량 센서(mutual-capacitive sensor)를 형성한다. 이 센서의 정전 용량 (capacitance) C는 두 전극 사이의 거리 (distance) d, 대전면의 면적 (area) a 및 대전면 사이에 존재하는 모든 유전물질의 등가 유전율 (dielectric)을 ε라고 할 때 C= ε*a/d로 정의되며, 이 센서에 축전된 전하량 (charge) Q 및 두 전극/대전면에 인가된 전위차 (voltage) V와 Q=CV의 관계를 가진다. 사용자가 센서에 접근하면 두 전극 사이에 형성된 전계 (electric field)에 대한 간섭이 발생하여 센서에 전하가 축전되는 것을 방해하게 되며, 센서에 축전되는 전하량이 줄어들어 결과적으로 정전 용량이 줄어든 것으로 나타나게 된다. 이것은 사용자 접근으로 인해 대전면 사이의 등가 유전율이 변하여 정전 용량이 변한 것으로도 이해할 수 있으나, 사용자 접근으로 인해 대전면 사이의 전계 일부가 차단 (shunt) 되므로써 전하 대전량/축전량이 감소 하게 되는 것이 실제적인 물리 현상이다. 제1 전극에 교류 전압원을 연결하여 센서의 한쪽 대전면에 교류 파형을 인가하면, 사용자의 접근 정도에 따라 가변되는 C에 대해 ΔQ=CΔV에 해당하는 대전량 변동(ΔQ) 이 발생하며, 이 변동량을 제2 전극에 연결된 리드-아웃 회로 (read-out 회로)가 전류 또는 전압으로 변환한다. 이렇게 변환된 정보는, 일반적으로 노이즈 필터링 (noise filtering), 복조(demodulation), 디지털변환(conversion), 누적 (accumulation) 등의 신호처리 단계를 거쳐 좌표 추적 알고리즘 및 제스쳐 인식 알고리즘에 사용된다. 이러한 커패시티브 터치 감응성 패널에 관한 선행 특허로는 미국 등록특허 제7,920,129호가 있다.
커패시턴스 검출 장치는 휴대 전화, 타블렛, 휴대용 PC 등의 여러 분야에서 활용된다. 커패시턴스 검출 장치는 사용자가 휴대하고 이동함에 따라 여러 환경에 노출되어 동작한다. 따라서 커패시턴스 검출 장치가 위치한 환경에서 유입되는 노이즈에 의한 영향을 받으며, 그에 따라 사용자가 제공한 입력의 검출에 영향을 미친다.
본 실시예는 사용자의 입력 검출에 영향을 미치는 노이즈에 의한 영향을 감소시킬 수 있는 커패시턴스 검출 장치 구동 방법 및 커패시턴스 검출 장치를 제공하는 것을 주된 목표 중 하나로 한다.
본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 구동 방법은: 노이즈 신호를 획득하는 단계와, 획득한 노이즈 신호의 크기와 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값을 비교하는 단계, 및 비교 결과에 따라 구동되는 커패시턴스 검출 장치에 제공되는 구동 신호를 조절하는 포함한다.
본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치는 구동 전극 및 감지 전극을 포함하는 커패시턴스 검출 패널과, 상기 구동 전극에 구동 신호를 제공하고, 상기 감지 전극으로부터 커패시턴스 검출 신호를 제공받는 구동 회로 및 노이즈를 검출하여 상기 구동 회로에 제공하는 노이즈 검출 프로브를 포함하며, 상기 구동 회로는 검출된 상기 노이즈의 크기에 따라 상기 구동 신호를 조절한다.
본 실시예에 의하면, 커패시턴스 검출 장치에 유입된 노이즈가 사용자 입력을 검출하는데 미치는 영향을 감소시켜 보다 높은 감도 및 정확도로 사용자의 입력을 검출할 수 있다는 장점이 제공된다.
도 1은 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치의 개요를 도시한 개요도이다.
도 2는 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 방법의 개요를 도시한 순서도이다.
도 3(a)는 일 실시예에 의한 커패시턴스 검출 패널 구성의 개요를 도시한 도면이고, 도 3(b)는 해당 실시예의 구동 전극에 구동 신호를 제공한 것을 개요적으로 도시한 도면이다. 도 3(c)는 다른 실시예에 의한 커패시턴스 검출 패널 구성의 개요를 도시한 도면이고, 도 3(d)는 해당 실시예의 구동 전극에 구동 신호를 제공한 것을 개요적으로 도시한 도면이다.
도 4는 구동 회로의 개요를 도시한 블록도이다.
도 5는 노이즈 프로브의 일 예를 도시한 개요도이다.
도 6은 복수의 문턱값들과 대비하여 시간이 경과함에 따라 노이즈 프로브로 검출된 노이즈 신호의 크기가 변화하는 것을 예시한 도면이다.
도 7은 각 구간 별로 커패시턴스 검출 패널에 제공되는 구동 신호의 변화 예를 도시한 도면이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법을 설명한다. 도 1은 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치(10)의 개요를 도시한 개요도이다. 도 1을 참조하면, 커패시턴스 검출 장치(10)는 구동 전극(Tx1, Tx2, ..., Txn) 및 감지 전극(Rx1, Rx2, ..., Rxn, 도 3 참조)을 포함하는 커패시턴스 검출 패널(100)과, 상기 구동 전극에 구동 신호를 제공하고, 상기 감지 전극으로부터 커패시턴스 검출 신호를 제공받는 구동 회로(200) 및 노이즈를 검출하여 상기 구동 회로에 제공하는 노이즈 검출 프로브(300)를 포함하며, 상기 구동 회로(200)는 검출된 상기 노이즈의 크기에 따라 상기 구동 신호를 조절한다.
도 1로 예시된 실시예에서, 노이즈 프로브(300)는 LCD로부터 커패시턴스 검출 장치(10)로 유입되는 노이즈(VnoiseLCD), 커패시턴스 검출 장치(10)가 위치한 환경으로부터 유입되는 노이즈(VnoiseENV) 및 전원 등으로부터 유입되는 저주파 노이즈(VnoiseLow Freq .) 를 검출하여, 노이즈에 상응하는 신호를 구동 회로(200)에 제공한다.
도 2는 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 방법의 개요를 도시한 순서도이다. 도 2를 참조하면, 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 구동 방법은: 노이즈 신호를 획득하는 단계(S100)와, 획득한 노이즈 신호의 크기와 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값을 비교하는 단계(S200), 및 비교 결과에 따라 구동되는 커패시턴스 검출 장치에 제공되는 구동 신호를 조절하는 단계(S300)를 포함한다.
도 3(a)는 일 실시예에 의한 커패시턴스 검출 패널(100) 구성의 개요를 도시한 도면이고, 도 3(b)는 해당 실시예의 구동 전극에 구동 신호를 제공한 것을 개요적으로 도시한 도면이다. 도 3(c)는 다른 실시예에 의한 커패시턴스 검출 패널(100) 구성의 개요를 도시한 도면이고, 도 3(d)는 해당 실시예의 구동 전극에 구동 신호를 제공한 것을 개요적으로 도시한 도면이다. 도 3(a)를 참조하면, 커패시턴스 검출 패널은 기판(Sub)의 일면에 배치된 복수의 구동 전극(driving electrode, Tx1, Tx2, ..., Txn)과, 기판(Sub)의 타면에 배치된 복수의 감지 전극(sensing electrode, Rx1, Rx2, ..., Rxn) 및 기판(Sub)을 포함한다.
도 3(a)로 도시된 실시예에서, 커패시턴스 검출 패널(100)은 노이즈 프로브(300)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예로, 노이즈 프로브(300)는 커패시턴스 검출 패널에 형성된 구동 전극 및 감지 전극 중 어느 하나일 수 있으며, 노이즈 프로브(300)는 노이즈를 검출하고, 검출된 노이즈에 상응하는 노이즈 신호를 형성하여 구동 회로(200)에 제공한다.
도 3(b)를 참조하면, 기판의 일면에 형성된 각각의 구동 전극(Tx1, Tx2, ..., Txn)은 감지 전극(Rx1, Rx2, ..., Rxn)과 교차점에서 커패시터를 형성하며, 이를 상호 커패시턴스(Cm, mutual capacitance)라고 한다. 즉, 구동 전극이 커패시터의 일 전극이 되고, 감지 전극이 커패시터의 타 전극이 된다. 구동 전극에 구동신호가 제공되어 구동 전극과 감지 전극 사이에는 전기장(E)이 형성되며, 전기장이 형성되는 공간이 커패시턴스의 유전체(dielectric material)에 해당한다. 도 3(b)는 Tx2에 구동신호가 제공되어 Tx2와 교차하는 감지전극(Rx1, Rx2, ..., Rxn)들 사이에서 전기장이 형성되고, 상호 커패시터(CM)를 형성하는 것을 개요적으로 도시하였다.
도 3(c)는 구동 전극들(Tx1, Tx2, ..., Txn)과 감지 전극들(Rx1, Rx2, ..., Rxn)이 기판(Sub)의 동일한 면에 위치한 패널의 실시예를 개요적으로 도시한다. 각각의 구동 전극은 다이아몬드 형태의 패턴과 각각의 다이아몬드 패턴을 연결하는 연결선을 포함하여 이루어지며, 각각의 감지 전극은 다이아몬드 형태의 패턴과 각각의 다이아몬드 패턴을 연결하는 연결선을 포함하여 이루어진다. 구동 전극의 다이아몬드 패턴과 감지 전극의 다이아몬트 패턴은 서로 접촉하지 않으며, 구동 전극과 감지 전극의 연결선은 서로 전기적으로 단락(short)회로를 형성하지 않도록 연결선과 연결선 사이에 절연물질이 개재된다.
도 3(c)로 도시된 실시예에서, 커패시턴스 검출 패널(100)은 노이즈 프로브(300)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예로, 노이즈 프로브(300)는 커패시턴스 검출 패널에 형성된 구동 전극 및 감지 전극 중 어느 하나일 수 있으며, 노이즈 프로브(300)는 노이즈를 검출하고, 검출된 노이즈에 상응하는 노이즈 신호를 형성하여 구동 회로(200)에 제공한다.
도 3(c)의 패널을 B-B' 절단선을 따라 절단한 단면도인 도 3(d)를 참조하면, 구동 전극 Txn에 구동신호가 인가되면 구동 전극의 각 다이아몬드는 인접한 감지 전극의 다이아몬드와 전기장을 형성하는 바, 그에 따라 상호 커패시턴스(CM)를 형성한다. 도 3(d)에는 Txn이 감지 전극 Rx1 및 Rx2과 상호 커패시턴스를 형성하는 것을 도시하였다.
도 4는 구동 회로(200)의 개요를 도시한 블록도이다. 도 4를 참조하면, 구동 회로(200)는 커패시턴스 검출 패널(100)에 구동 신호를 제공하는 신호원(Vsig)을 포함하는 구동 신호 제공부(210)와, 노이즈 프로브(300)가 수집한 노이즈 신호를 제공받고, 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값과 비교하고, 비교 결과에 따라 구동 신호(VTX) 및 구동 신호(VTX)가 제공되는 구동 전극을 결정하는 구동 제어부(220)를 포함한다.
일 실시예로, 구동 신호 제공부(210)는 구동 신호(VTX)를 형성하는 신호원(Vsig)과, 제공된 구동 신호를 다중화(multiplexing)하여 커패시턴스 검출 패널(100, 도 1 참조)의 구동 전극에 제공하는 다중화기(MUX, 212)를 포함한다.
일 실시예로, 구동 제어부(220)는 노이즈 프로브(300)로부터 제공된 노이즈 신호를 제공받아 증폭하는 전하 증폭기(222)와, 전하 증폭기가 제공한 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환기(ADC, 224) 및 디지털로 변환된 노이즈 신호를 제공받고, 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값과 비교하여 커패시턴스 검출 패널에 제공되는 구동 신호를 제어하는 제어부(226)를 포함한다.
도 5는 노이즈 프로브(300)의 일 예를 도시한 개요도이다. 도 5를 참조하면, 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치(10)는 집적 회로 형태로 구현될 수 있으며, 노이즈 프로브(300)는 집적 회로(10')의 핀(pin)일 수 있다.
일 예로, 노이즈 프로브(300)로 기능하는 핀은 전기적으로 플로팅(floating) 상태에 있으며, 노이즈를 수집하는 안테나로 기능한다. 다른 예로, 노이즈 프로브(300)로 기능하는 핀에는 집적 회로(10')에 제공되는 기준 전압(reference voltage)이 제공되어 기준 전압을 통하여 유입되는 노이즈를 검출할 수 있다. 다른 예로, 노이즈 프로브(300)는 상술한 바와 같이 커패시턴스 검출 패널의 구동 전극 및 감지 전극 중 어느 하나(300, 도 3 참조)일 수 있다.
이하에서는 도 6 내지 도 7을 참조하여 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 구동 방법 및 커패시턴스 검출 장치의 동작을 설명한다. 도 6은 복수의 문턱값들과 대비하여 시간이 경과함에 따라 노이즈 프로브(300)로 검출된 노이즈(N) 신호의 크기가 변화하는 것을 예시한 도면이다. 도 7은 도 6의 각 구간 별로 커패시턴스 검출 패널(100)에 제공되는 구동 신호의 변화 예를 도시한 도면이다. 도 6 및 도 7은 8개의 구동 전극을 포함하는 커패시턴스 검출 패널을 구동하는 경우를 가정하며, 통상의 기술자는 본 실시예를 이용하여 용이하게 그 이상 또는 그 이하의 구동 전극을 포함하는 커패시턴스 검출 패널을 구동하는 방법을 변형할 수 있다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 제어부(226)는 아날로그 디지털 변환기(224)로부터 디지털로 변환된 노이즈 신호(N)를 제공받고, 복수의 문턱값들과 비교한다. ① 구간에서, 노이즈 신호(N)의 크기는 제1 문턱값(Th. 1) 미만이다. 제1 문턱값(Th. 1) 미만의 노이즈 신호(N)는 각각의 구동 전극을 순차적으로 구동하여도 사용자 입력을 구별하는데 필요한 신호 대 잡음비(SNR, Signal to Noise Ratio)를 얻을 수 있으므로, 각각의 구동 전극을 순차적으로 구동한다.
그러나, ② 구간과 같이 노이즈 신호(N)의 크기가 증가하여 제2 문턱값(Th. 2) 미만이나 제1 문턱값(Th. 1)을 초과하는 경우에는 ① 구간과 같이 각각의 구동 전극을 순차적으로 구동하면 사용자의 입력을 구별하기에 충분한 신호대 잡음비를 획득할 수 없다.
제어부(226)는 ② 구간에서의 센싱 시간(tsense2)을 ① 구간에서의 센싱 시간(tsense1)에 비하여 증가시킨다. 터치에 의하여 형성된 터치 신호는 센싱 시간이 증가함에 따라 누적되어 신호의 크기가 증가한다. 그러나, 노이즈는 이론상 평균 진폭값이 0 이므로 센싱 시간을 증가시켜도 신호의 크기가 증가하지 않는다. 따라서, 센싱 시간을 증가시킴에 따라 사용자의 입력을 구별하기에 충분한 신호대 잡음비(SNR)를 확보할 수 있다. 다만, 제어부(226)는 전체 구동 전극들을 구동하는 시간은 일정하게 유지하여 커패시턴스 검출 패널의 동작 속도를 일정하게 유지한다. 일 구현예로, 제어부(226)는 ② 구간에서의 센싱 시간(tsense2)을 ① 구간에서의 센싱 시간(tsense1)의 두 배로 증가시키되, 제1 구동 전극(Tx1), 제2 구동 전극(Tx2)에 동시에 구동 신호를 제공할 수 있다.
노이즈 신호(N)의 크기가 더욱 증가하여 제2 문턱값(Th. 2)을 초과하는 경우에는 ② 구간에서의 센싱 시간(tsense2) 동안 사용자 입력을 검출하면 충분한 신호대 잡음비를 확보할 수 없을 수 있다. 따라서, 제어부(226)는 ③ 구간에서의 센싱 시간(tsense3)을 ② 구간에서의 센싱 시간(tsense2)에 비하여 증가시킬 수 있다. 또한, 제어부(226)는 전체 구동 전극들을 구동하는 시간은 일정하게 유지하여 커패시턴스 검출 패널의 동작 속도를 일정하게 유지한다.
일 구현예로, 제어부(226)는 ③ 구간에서의 센싱 시간(tsense3)을 ② 구간에서의 센싱 시간(tsense2)의 두 배로 증가시키되, 제1 구동 전극(Tx1), 제2 구동 전극(Tx2), 제3 구동 전극(Tx3), 제4 구동 전극(Tx4)를 동시에 구동하고, 이어서 제5 구동 전극(Tx5), 제6 구동 전극(Tx6), 제7 구동 전극(Tx7), 제8 구동 전극(Tx8)을 동시에 구동할 수 있다.
도 6 및 도 7로 도시된 실시예는 두 개의 서로 다른 값을 가지는 문턱값을 이용하여 구동 전극들을 각각 순차적으로 구동하거나, 두 개의 구동 전극 그룹, 네 개의 구동 전극 그룹으로 분할하고, 각 그룹별로 순차적 구동하였다.
그러나, 도시되지 않은 실시예에 의하면 더욱 많은 문턱값을 이용하여 구동 전극들을 각각 순차적으로 구동하거나, 두 개의 구동 전극을 포함하는 그룹, 세 개의 구동 전극을 포함하는 그룹, ..., 7개의 구동 전극을 포함하는 그룹으로 분할하고, 각 그룹별로 순차적으로 구동한다.
모의 실험예
도 8은 본 실시예에 의한 커패시턴스 검출 장치 및 커패시턴스 검출 장치 구동 방법에 의하여 검출한 노이즈 레벨을 도시한 도면이다. 도 8을 참조하면, 청색 실선은 하나의 구동 전극에 순차적으로 구동 신호를 제공하면서 검출한 노이즈 레벨이고, 적색 실선은 네 개의 구동 전극에 순차적으로 구동 신호를 제공하면서 검출한 노이즈 레벨이고, 녹색 실선은 열여섯 개의 구동 전극에 순차적으로 구동 신호를 제공하면서 검출한 노이즈 레벨이다.
네 개의 구동 전극에 동시에 구동 신호를 제공하면서 단일한 구동 전극을 네 개 구동하는 시간동안 센싱을 수행하는 경우에는 노이즈 신호가 평균화되어 상호 소거(average-out)되어 노이즈 레벨이 감소하는 것을 확인할 수 있다. 또한, 열여섯 개의 구동 전극에 동시에 구동 신호를 제공하면서 단일한 구동 전극을 열여섯 개 구동하는 시간동안 센싱을 수행하는 경우에는 노이즈 신호가 상호 소거되어 노이즈 레벨이 더욱 감소하는 것을 확인할 수 있다.
따라서, 본 실시예에 의하면 노이즈 프로브로 획득한 노이즈 신호의 크기에 따라 센싱 시간을 동적으로 변화시켜 사용자의 입력을 검출할 수 있으므로, 노이즈의 유입에도 불구하고 신호대 잡음비가 감소하는 것을 방지할 수 있다는 장점이 제공됨을 알 수 있다.
본 발명에 대한 이해를 돕기 위하여 도면에 도시된 실시 예를 참고로 설명되었으나, 이는 실시를 위한 실시예로, 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.
10: 커패시턴스 검출 장치 10': 집적 회로
100: 커패시턴스 검출 패널 200: 구동 회로
210: 구동 신호 제공부구동 212: 다중화기
220: 구동 제어부 222: 차지 앰프
224: 아날로그 디지털 변환기 226: 제어부
300: 노이즈 프로브
S100~S300: 일 실시예에 의한 커패시턴스 검출 방법의 각 단계

Claims (14)

  1. (a) 노이즈 신호를 획득하는 단계와,
    (b) 획득한 노이즈 신호의 크기와 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값을 비교하는 단계, 및
    (c) 상기 (b) 단계의 비교 결과에 따라 구동되는 커패시턴스 검출 장치에 제공되는 구동 신호를 조절하는 단계를 포함하며,
    상기 (c) 단계는 상기 노이즈 신호의 크기가 증가함에 따라 상기 커패시턴스 검출 장치의 검출 시간을 증가시키되, 상기 구동 신호의 주파수는 일정하게 유지하고, 동시에 구동되는 상기 커패시턴스 검출 장치의 구동 전극의 개수를 증가시키도록 구동하는 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 (a) 단계는,
    노이즈 검출 프로브를 이용하여 수행하는 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 노이즈 검출 프로브는
    커패시턴스 검출 패널의 일 전극,
    커패시턴스 검출 회로에 연결된 핀 중 어느 하나인 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 (a) 단계는,
    (a1) 검출된 노이즈에 상응하는 노이즈 신호를 형성하는 과정 및,
    (a2) 상기 노이즈 신호를 디지털 신호로 변환하는 과정을 포함하는 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 (b) 단계에서,
    상기 커패시턴스 검출 장치 구동 문턱값은 서로 다른 복수의 값을 가지는 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 제1항에 있어서,
    상기 커패시턴스 검출 장치 구동 방법은,
    커패시턴스 검출 장치의 구동 속도는 상기 노이즈 신호의 크기와 무관한 커패시턴스 검출 장치 구동 방법.
  9. 구동 전극 및 감지 전극을 포함하는 커패시턴스 검출 패널;
    상기 구동 전극에 구동 신호를 제공하고, 상기 감지 전극으로부터 커패시턴스 검출 신호를 제공받는 구동 회로 및
    노이즈를 검출하여 상기 구동 회로에 제공하는 노이즈 검출 프로브를 포함하며,
    상기 구동 회로는 검출된 상기 노이즈의 크기에 따라 상기 구동 신호를 조절하며,
    상기 구동 회로는 상기 노이즈의 크기가 증가할수록 커패시턴스 검출 장치의 검출 시간을 증가시키되, 상기 구동 신호의 주파수는 일정하게 유지하고, 동시에 구동되는 상기 커패시턴스 검출 장치의 상기 구동 전극의 개수를 증가시켜 구동하는 커패시턴스 검출 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 노이즈 검출 프로브는,
    상기 구동 전극 및 감지 전극 중 어느 하나의 전극 및
    상기 구동 회로와 연결된 핀 중 어느 하나를 포함하는 커패시턴스 검출 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 구동 회로는,
    상기 노이즈 검출 프로브가 제공한 상기 노이즈에 상응하는 노이즈 신호를 형성하는 증폭기와,
    상기 노이즈 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그 디지털 변환기를 포함하는 커패시턴스 검출 장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 구동 회로는,
    노이즈 신호의 크기가 증가함에 따라 동시에 구동되는 커패시턴스 검출 장치의 구동 전극의 개수를 증가시키도록 구동하는 커패시턴스 검출 장치.
  13. 삭제
  14. 삭제
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