KR101762936B1 - Pad window insert - Google Patents
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Abstract
폴리싱 패드는 폴리싱 표면을 가진 폴리싱 층, 상기 폴리싱 층과 반대인 폴리싱 층의 측면에 있는 접착제 층, 및 상기 폴리싱 층을 관통하여 연장하고 몰딩된 고체 투광 윈도우를 포함한다. 상기 고체 투광 윈도우는 제 1 측방향 치수를 가진 상부와 상기 제 1 측방향 치수보다 더 작은 제 2 측방향 치수를 가진 하부를 갖는다. 상기 고체 투광 윈도우의 최상면은 상기 폴리싱 표면과 동일 평면상에 놓이고, 상기 고체 투광 윈도우의 바닥면은 상기 접착제 층의 하면과 동일 평면상에 놓인다. The polishing pad includes a polishing layer having a polishing surface, an adhesive layer on a side of the polishing layer opposite to the polishing layer, and a solid-state translucent window extending and molding through the polishing layer. The solid light-transmissive window has an upper portion with a first lateral dimension and a lower portion with a second lateral dimension that is smaller than the first lateral dimension. The top surface of the solid light transmissive window is coplanar with the polishing surface and the bottom surface of the solid light transmissive window is coplanar with the bottom surface of the adhesive layer.
Description
윈도우를 구비한 폴리싱 패드, 그러한 폴리싱 패드를 포함한 시스템, 및 그러한 폴리싱 패드를 제조하고 사용하기 위한 프로세스가 개시된다. A polishing pad with a window, a system including such a polishing pad, and a process for making and using such a polishing pad are disclosed.
현대 반도체 집적 회로들(IC)의 제조 프로세스에서, 기판의 외면을 평탄화할 필요가 흔히 있다. 예컨대, 기판 상의 박막 회로들 사이에 전도성 경로들을 제공하는 비어들, 플러그들 및 라인들을 형성하기 위해, 절연 층의 융기된 패턴 사이에 전도성 물질이 남도록, 하부 층의 최상면(top surface)이 노출될 때까지 전도성 필러 층을 폴리싱하기 위해 평탄화가 필요할 수 있다. 또한, 포토리소그래피에 적합한 평탄한 표면을 제공하기 위해 산화물 층을 평면화 및 박형화하기 위해 평탄화가 필요할 수 있다. In the manufacturing process of modern semiconductor integrated circuits (IC), it is often necessary to planarize the outer surface of the substrate. For example, to form vias, plugs, and lines that provide conductive paths between thin film circuits on a substrate, a top surface of the underlying layer is exposed such that a conductive material remains between raised patterns of the insulating layer Planarization may be required to polish the conductive filler layer until then. In addition, planarization may be required to planarize and thin the oxide layer to provide a planar surface suitable for photolithography.
반도체 기판의 평탄화 또는 토포그래피 제거를 달성하기 위한 한가지 방법은 화학적 기계적 폴리싱(CMP)이다. 종래의 화학적 기계적 폴리싱(CMP) 프로세스는 연마 슬러리가 있는 상태에서 회전하는 폴리싱 패드에 대해 기판을 압착하는 단계를 포함한다. One way to achieve planarization or topography removal of semiconductor substrates is chemical mechanical polishing (CMP). Conventional chemical mechanical polishing (CMP) processes include pressing a substrate against a rotating polishing pad in the presence of polishing slurry.
일반적으로, 폴리싱 중단 여부를 결정하기 위해, 원하는 표면 평탄도 또는 층 두께에 도달한 시기 또는 하부 층이 노출된 시기를 검출할 필요가 있다. CMP 프로세스 도중 종점들을 인-시츄 검출하기 위한 몇 가지 기술들이 개발되었다. 예컨대, 층을 폴리싱하는 동안 기판 상의 층의 균일도를 인-시츄 측정하기 위한 광학 모니터링 시스템이 채용되었었다. 광학 모니터링 시스템은 폴리싱 도중 기판을 향하여 광 빔을 지향시키는(direct) 광원, 기판으로부터 반사된 광을 측정하는 검출기, 및 검출기로부터의 신호를 분석하여 종점이 검출되었는지의 여부를 계산하는 컴퓨터를 포함할 수 있다. 몇몇 CMP 시스템들에서, 광 빔은 폴리싱 패드의 윈도우를 통해 기판을 향하여 지향된다. In general, it is necessary to detect when the desired surface flatness or layer thickness is reached, or when the lower layer is exposed, in order to determine whether to stop polishing. Several techniques have been developed for in-situ detection of endpoints during the CMP process. For example, an optical monitoring system has been employed for in-situ measurement of the uniformity of a layer on a substrate during polishing of the layer. The optical monitoring system includes a light source that directs the light beam toward the substrate during polishing, a detector that measures light reflected from the substrate, and a computer that analyzes the signal from the detector to calculate whether the endpoint has been detected . In some CMP systems, the light beam is directed through the window of the polishing pad towards the substrate.
윈도우는, 윈도우의 일부가 플래튼(platen)의 리세스에 안착되도록, 폴리싱 패드의 밑면(underside)에 부착될 수 있다. 이는 윈도우와 패드 사이에 넓은 표면적의 접촉을 허용함으로써, 윈도우와 폴리싱 패드 사이의 결합력을 증대시킨다. The window may be attached to the underside of the polishing pad so that a portion of the window is seated in the recess of the platen. This allows a large surface area contact between the window and the pad, thereby increasing the bonding force between the window and the polishing pad.
일 양태에서, 폴리싱 장치는, 평탄한 상면(upper surface), 상기 상면에 형성되고 바닥면(bottom surface)을 가진 리세스(recess), 및 상기 리세스의 하면(lower surface)에 연결된 통로를 가진 플래튼과 아울러, 폴리싱 층, 폴리싱 표면, 밑면, 그리고 이들을 관통하며 상기 리세스보다 더 작은 측방향 치수를 갖고 상기 통로와 정렬된 개구(aperture)를 포함하는 폴리싱 패드를 포함한다. 고체 투광 윈도우(solid light-transmitting window)는 상기 폴리싱 패드의 개구에 적어도 부분적으로 위치된 제 1 부분과 상기 플래튼의 리세스에 적어도 부분적으로 위치된 제 2 부분을 가지며, 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분보다 더 큰 측방향 치수를 갖고 상기 폴리싱 층 아래로 연장하며, 상기 윈도우의 제 2 부분은 상기 폴리싱 패드의 밑면에 접착식으로(adhesively) 부착된다. In one aspect, a polishing apparatus includes a plate having a flat upper surface, a recess formed in the upper surface and having a bottom surface, and a passage connected to a lower surface of the recess, And a polishing pad comprising a polishing layer, a polishing surface, a bottom surface, and an aperture therethrough and having a lateral dimension smaller than the recess and aligned with the passageway. A solid light-transmitting window has a first portion that is at least partially located in an opening of the polishing pad and a second portion that is at least partially located in the recess of the platen, The second portion of the window having a greater lateral dimension than the first portion and extending below the polishing layer, the second portion of the window being adhesively attached to the bottom surface of the polishing pad.
구현예들은 이하의 특징들 중 하나 또는 그 초과의 특징들을 포함할 수 있다. 상기 윈도우의 제 1 부분은 상기 폴리싱 패드의 개구를 막을(plug) 수 있다. 상기 윈도우의 제 1 부분의 최상면은 상기 플래튼의 상면과 동일 평면상에 있을 수 있다. 상기 리세스의 바닥면은 상기 플래튼의 상면과 평행할 수 있다. 상기 윈도우의 제 2 부분의 하면은 상기 리세스의 하면에 접촉할 수 있다. 상기 윈도우의 제 2 부분의 하면은 상기 리세스의 하면에 접착되지 않을 수 있다. 상기 폴리싱 장치는 상기 폴리싱 층에 걸쳐 있는(spanning) 접착제 층을 또한 포함할 수 있다. 상기 접착제 층은 양면 접착 테이프를 포함할 수 있다. 상기 접착제 층은 상기 폴리싱 층과 당접(abut)할 수 있다. 상기 폴리싱 패드의 밑면은 상기 접착제 층에 의해 상기 플래튼의 상면에 접착식으로 부착될 수 있다. 상기 윈도우의 제 2 부분의 최상면은 상기 접착제 층에 의해 상기 폴리싱 패드의 밑면에 접착식으로 부착될 수 있다. 상기 윈도우의 제 2 부분의 최상면은 상기 폴리싱 패드의 밑면에 접착식으로 부착될 수 있다. 상기 폴리싱 패드는 상기 폴리싱 층을 포함할 수 있다. 상기 폴리싱 패드는 상기 폴리싱 층과, 상기 폴리싱 층보다 압축성이 더 작은 하층을 포함할 수 있다. 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분보다 2 내지 10배 더 큰, 예컨대, 약 8배 더 큰 측방향 치수를 가질 수 있다. 상기 윈도우의 제 2 부분은 상기 플래튼의 리세스를 측방향으로 채울 수 있다. 상기 폴리싱 패드는 1㎜ 미만의 두께를 가질 수 있다. 상기 폴리싱 장치는 상기 윈도우의 제 1 부분을 통해 광을 지향시키거나 수광하기 위해 상기 통로 내에 배치된 광섬유를 또한 포함할 수 있다. 상기 광섬유는 상기 윈도우의 제 1 부분보다 더 넓을 수 있다. 상기 리세스의 측면들은 경사질 수 있으며, 상기 윈도우의 제 2 부분의 측면들은 경사질 수 있다. Implementations may include one or more of the following features. A first portion of the window may plug the opening of the polishing pad. The top surface of the first portion of the window may be flush with the top surface of the platen. The bottom surface of the recess may be parallel to the top surface of the platen. The lower surface of the second portion of the window can contact the lower surface of the recess. The lower surface of the second portion of the window may not be adhered to the lower surface of the recess. The polishing apparatus may also include an adhesive layer spanning the polishing layer. The adhesive layer may comprise a double-sided adhesive tape. The adhesive layer may abut the polishing layer. The bottom surface of the polishing pad may be adhesively attached to the top surface of the platen by the adhesive layer. The top surface of the second portion of the window may be adhesively attached to the bottom surface of the polishing pad by the adhesive layer. The top surface of the second portion of the window may be adhesively attached to the bottom surface of the polishing pad. The polishing pad may include the polishing layer. The polishing pad may include the polishing layer and a lower layer that is less compressible than the polishing layer. The second portion may have a lateral dimension that is 2 to 10 times greater, such as about 8 times greater than the first portion. A second portion of the window can laterally fill the recess of the platen. The polishing pad may have a thickness of less than 1 mm. The polishing apparatus may also include an optical fiber disposed in the passageway for directing or receiving light through the first portion of the window. The optical fiber may be wider than the first portion of the window. The sides of the recess may be slanted and the sides of the second portion of the window may be slanted.
다른 양태에서, 폴리싱 장치를 위한 윈도우 조립 방법은, 폴리싱 표면과 밑면을 가진 폴리싱 층을 포함하는 폴리싱 패드를 관통하여 개구를 형성하는 단계, 제 1 부분과 상기 제 1 부분보다 더 큰 측방향 치수를 가진 제 2 부분을 가진 고체 투광 윈도우를 형성하는 단계, 상기 패드의 개구 속에 상기 윈도우의 제 1 부분을 삽입하는 단계, 상기 폴리싱 패드의 밑면에 상기 윈도우의 제 2 부분의 최상면을 접착하는 단계, 및 상기 윈도우의 제 2 부분이 플래튼의 평탄한 상면의 리세스 속에 피팅(fit)되고, 상기 폴리싱 패드의 밑면이 상기 플래튼의 평탄한 상면에 접착되도록, 상기 폴리싱 패드와 윈도우를 상기 플래튼 상에 위치시키는 단계를 포함한다. In another aspect, a method of assembling a window for a polishing apparatus includes forming an opening through a polishing pad including a polishing layer having a polishing surface and a bottom surface, forming a first portion and a lateral dimension greater than the first portion Inserting a first portion of the window into the opening of the pad, gluing the top surface of the second portion of the window to the bottom surface of the polishing pad, and A second portion of the window is fitted into a recess in a flat upper surface of the platen and the polishing pad and the window are positioned on the platen so that the bottom surface of the polishing pad is adhered to the flat upper surface of the platen. .
구현예들은 이하의 특징들 중 하나 또는 그 초과의 특징들을 포함할 수 있다. 상기 폴리싱 층의 바닥 상에 접착제의 층이 형성될 수 있으며, 상기 접착제를 라이너가 덮고, 상기 라이너의 부분이 상기 개구 주위에서 제거될 수 있으며, 상기 윈도우의 제 2 부분의 최상면이 상기 라이너의 제거된 부분에서 상기 접착제와 접촉할 수 있다. Implementations may include one or more of the following features. A layer of adhesive may be formed on the bottom of the polishing layer and the adhesive may be covered by the liner and a portion of the liner may be removed around the opening and an uppermost surface of the second portion of the window may be removed The adhesive may be in contact with the adhesive.
구현예들은 이하의 잠재적 장점들을 포함할 수 있다. 윈도우와 얇은 폴리싱 패드 사이에 강한 결합이 형성될 수 있고, 이는 슬러리 누설 가능성을 줄이고, 폴리싱되고 있는 기판으로부터의 전단력으로 인해 패드로부터 윈도우가 빠질 가능성을 줄인다. 또한, 상기 폴리싱 패드는, 특히, 단파장들에서, 기판으로부터 반사되는 웨이퍼 간(wafer-to-wafer) 스펙트럼 균일성을 향상시킬 수 있다. Implementations may include the following potential advantages. A strong bond may be formed between the window and the thin polishing pad, which reduces the possibility of slurry leakage and reduces the possibility of the window leaving the pad due to the shear force from the substrate being polished. In addition, the polishing pad can improve wafer-to-wafer spectral uniformity, especially at short wavelengths, reflected from the substrate.
하나 또는 그 초과의 실시예들의 세부사항들이 이하의 설명과 첨부도면들에 개시되어 있다. 다른 양태들, 특징들 및 장점들은 그 설명과 도면들, 그리고 특허청구범위로부터 명백할 것이다.The details of one or more embodiments are set forth in the following description and the annexed drawings. Other aspects, features, and advantages will be apparent from the description and drawings, and from the claims.
도 1은 폴리싱 패드를 포함한 CMP 장치의 단면도이다.
도 2는 윈도우를 구비한 폴리싱 패드의 실시예의 평면도이다.
도 3a는 플래튼 상에 설치된 도 2의 폴리싱 패드의 단면도이다.
도 3b는 도 2의 폴리싱 패드의 단면도이다.
도 4 내지 도 7은 폴리싱 패드의 형성 방법을 도시하고 있다.
도 8은 플래튼 상에 설치된 폴리싱 패드의 다른 구현예의 단면도이다.
여러 도면들에서 유사한 참조부호들은 유사한 요소들을 나타낸다. 1 is a sectional view of a CMP apparatus including a polishing pad.
2 is a plan view of an embodiment of a polishing pad with a window.
Fig. 3A is a cross-sectional view of the polishing pad of Fig. 2 installed on the platen.
3B is a cross-sectional view of the polishing pad of Fig.
4 to 7 show a method of forming a polishing pad.
8 is a cross-sectional view of another embodiment of a polishing pad installed on a platen.
Like numbers refer to like elements throughout the several views.
윈도우는, 윈도우의 일부가 플래튼의 리세스에 안착되도록, 폴리싱 패드의 밑면에 부착될 수 있다. 이는 윈도우와 패드 사이에 넓은 표면적의 접촉을 허용함으로써, 윈도우와 폴리싱 패드 사이의 결합력을 증대시킨다. The window may be attached to the bottom surface of the polishing pad such that a portion of the window is seated in the recess of the platen. This allows a large surface area contact between the window and the pad, thereby increasing the bonding force between the window and the polishing pad.
도 1에 도시된 바와 같이, CMP 장치(10)는 플래튼(16) 상의 폴리싱 패드(18)에 대해 반도체 기판(14)을 유지하기 위한 폴리싱 헤드(12)를 포함한다. 상기 CMP 장치는, 그 전체 개시 내용이 인용에 의해 본 명세서에 통합된 미국 특허 번호 제 5,738,574 호에 개시된 바와 같이 구성될 수 있다. 1, the
기판은, 예컨대, (예컨대, 다수의 메모리 또는 프로세서 다이들을 포함하는) 제품 기판, 테스트 기판, 베어(bare) 기판 및 게이트(gating) 기판일 수 있다. 기판은 다양한 집적 회로 제조 단계들에 있을 수 있으며, 예컨대, 기판은 베어 웨이퍼일 수 있거나 또는 상기 기판은 하나 또는 그 초과의 증착된 및/또는 패터닝된 층들을 포함할 수 있다. 용어 "기판"은 원형 디스크들과 직사각형 시트들을 포함할 수 있다. The substrate may be, for example, an article substrate, a test substrate, a bare substrate, and a gating substrate (e.g., comprising a plurality of memory or processor dies). The substrate may be in various integrated circuit fabrication steps, for example the substrate may be a bare wafer or the substrate may comprise one or more deposited and / or patterned layers. The term "substrate" may include circular disks and rectangular sheets.
폴리싱 패드(18)의 유효부는 기판에 접촉하는 폴리싱 표면(24)과, 접착제 층(28)에 의해, 예컨대 접착 테이프에 의해 플래튼(16)에 고정된 바닥면(22)을 구비한 폴리싱 층(20)을 포함할 수 있다. 접착제(28)는 압력-감지(pressure-sensitive) 접착제일 수 있다. 접착 테이프와 임의의 라이너 이외에, 상기 폴리싱 패드는, 폴리싱 층(20)이 화학적 기계적 폴리싱 프로세스에 적합한 얇은 내구성 물질로 형성된, 예컨대, 단층 패드로 구성될 수 있다. 따라서, 폴리싱 패드의 층들은 단층 폴리싱 층(20)과 접착제 층(28)(그리고, 선택적으로, 폴리싱 플래튼 상에 패드가 설치될 때 제거될 라이너)으로 구성될 수 있다. The effective portion of the
폴리싱 층(20)은, 예컨대, 폴리싱 표면(24)에 적어도 약간의 열린 기공(pore)들을 구비한, 발포 폴리우레탄으로 구성될 수 있다. 접착제 층(28)은 양면 접착 테이프, 예컨대, 양면에 접착제, 예컨대, 압력-감지 접착제를 가진, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET), 예컨대, Mylar®의 얇은 층일 수 있다. 그러한 폴리싱 패드는 일본 도쿄에 소재한 후지보로부터 상표명 "H7000HN"으로 입수가능하다. The
도 2를 참조하면, 몇몇 구현예들에서, 폴리싱 패드(18)는 15.0(381.00㎜) 내지 15.5인치(393.70㎜)의 반경(R)과 그에 대응하는 30 내지 31인치의 직경을 갖는다. 몇몇 구현예들에서, 폴리싱 패드(18)는 21.0(533.4㎜) 내지 21.5인치(546.1㎜)의 반경과 그에 대응하는 42 내지 43인치의 직경을 가질 수 있다. Referring to Figure 2, in some embodiments, the
도 3a를 참조하면, 몇몇 구현예들에서, 폴리싱 표면(24)에 그루브들(26)이 형성될 수 있다. 그루브들은 "와플(waffle)" 패턴일 수 있으며, 예컨대, 폴리싱 표면을 직사각형, 예컨대, 정사각형 영역들로 분할하는 경사진 측벽들을 구비한 수직 그루브들로 이루어진 교차-해칭(cross-hatched) 패턴일 수 있다. Referring to FIG. 3A, in some embodiments,
다시 도 1을 참조하면, 전형적으로, 폴리싱 패드 물질은 연마 입자들을 포함할 수 있는 화학적 폴리싱 용액(30)으로 습윤화된다. 예컨대, 슬러리는 KOH(수산화칼륨)와 건식-실리카(fumed-silica) 입자들을 포함할 수 있다. 그러나, 몇몇 폴리싱 프로세스들은 "연마-프리"이다. Referring again to FIG. 1, typically, the polishing pad material is wetted with a
폴리싱 헤드(12)는, 플래튼이 그 중심축을 중심으로 회전할 때, 폴리싱 패드(18)에 대하여 기판(14)에 압력을 가한다. 또한, 폴리싱 헤드(12)는 일반적으로 그 중심축을 중심으로 회전하며, 구동 샤프트 또는 이송(translation) 아암(32)에 의해 플래튼(16)의 표면을 가로질러 이송된다. 기판과 폴리싱 표면 사이의 압력과 상대 운동은, 폴리싱 용액과 함께, 기판의 폴리싱을 초래한다. The polishing
플래튼(16)의 최상면에 광학 개구(34)가 형성된다. 레이저와 같은 광원(36)과 광검출기와 같은 검출기(38)를 포함하는 광학 모니터링 시스템이 플래튼(16)의 최상면 아래에 위치될 수 있다. 예컨대, 광학 모니터링 시스템은 상기 광학 개구(34)와 광학적으로 소통하는 플래튼(16) 내부의 챔버에 위치될 수 있으며, 플래튼과 함께 회전할 수 있다. 하나 또는 그 초과의 광섬유들(50)이 광원(36)으로부터 기판으로, 그리고 기판으로부터 검출기(38)로 광을 운반할 수 있다. 예컨대, 광섬유(50)는, 폴리싱 패드의 윈도우(40)에 인접한, 예컨대, 당접한 본선(52), 광원(36)에 연결된 제 1 지선(54) 및 검출기(38)에 연결된 제 2 지선(56)을 구비한 분기된 광섬유일 수 있다. An
광학 개구(34)는 석영 블록과 같은 투명한 고체편(solid piece)으로 채워지거나(이 경우, 광섬유는 윈도우(40)에 당접하지 않고 광학 개구 내의 고체편에 당접할 것이다), 또는 상기 광학 개구(34)는 빈 홀일 수 있다. 일 구현예에서, 광학 모니터링 시스템과 광학 개구는 플래튼의 대응하는 리세스 속에 피팅되는 모듈의 일부로 형성된다. 대안적으로, 광학 모니터링 시스템은 플래튼 아래에 위치된 정지식 시스템일 수 있으며, 광학 개구가 플래튼을 관통해 연장할 수 있다. 광대역 스펙트럼, 예컨대, 백색광이 사용될 수도 있으나, 광원(36)은 적색광과 같이 원적외선에서 자외선까지 어느 파장이든 채용할 수 있으며, 검출기(38)는 분광계일 수 있다. The
고체 윈도우(40)는 상부의 폴리싱 패드(18)에 형성되며, 플래튼의 광학 개구(34)와 정렬된다. 윈도우(40)와 개구(34)는, 헤드(12)의 병진 위치와 관계없이, 플래튼이 회전하는 동안 적어도 일부에서 폴리싱 헤드(12)에 의해 유지된 기판(14)이 이들에게 보이도록, 위치될 수 있다.A
광원(36)은, 적어도 윈도우(40)가 기판(14)에 인접하는 시간 동안, 상부의 기판(14)의 표면에 충돌하도록 개구(34)와 윈도우(40)를 통해 광 빔을 투사한다. 기판으로부터 반사된 광은 검출기(38)에 의해 검출되는 산출빔(resultant beam)을 형성한다. 광원과 검출기는 도시되지 않은 컴퓨터에 커플링되고, 상기 컴퓨터는 측정된 광 강도를 검출기로부터 입수하며, 예컨대, 새로운 층의 노출을 나타내는 기판의 급격한 반사도 변화를 검출함으로써, 간섭측정의 원리들을 이용하여 (투명한 산화물 층과 같은) 외층으로부터 제거된 두께를 계산함으로써, 반사된 광의 스펙트럼을 모니터링하여 목표 스펙트럼을 검출함으로써, 측정된 스펙트럼들의 시퀀스를 라이브러리로부터의 기준 스펙트럼들과 매칭하여 상기 기준 스펙트럼의 인덱스 값들에 맞는 선형 함수가 어디서 목표값에 도달하였는지를 결정함으로써, 또는 다른 방식으로는 미리 결정된 종점 기준들에 대한 신호를 모니터링함으로써, 폴리싱 종점을 결정하기 위해 상기 측정된 광 강도를 이용한다. The
매우 얇은 폴리싱 층 속에 일반적으로 큰 직사각형 윈도우(예컨대, 2.25×0.75인치 윈도우)를 배치하는데 따른 하나의 문제점은 폴리싱 도중의 딜라미네이션(delamination)이다. 특히, 폴리싱 동안의 기판으로부터의 측방향 마찰력은 패드의 측벽에 대한 윈도우의 몰딩의 접착력보다 더 커질 수 있다. One problem with placing a generally large rectangular window (e.g., a 2.25 x 0.75 inch window) in a very thin polishing layer is delamination during polishing. In particular, the lateral frictional force from the substrate during polishing may be greater than the adhesion of the molding of the window to the side wall of the pad.
다시 도 2를 참조하면, 윈도우(40)는, 예컨대, 폴리싱 동안 기판에 의해 가해지는 마찰력을 줄이기 위해, 예컨대, 직경이 약 3㎜ 미만으로, 작을 수 있다. 예컨대, 윈도우(40)의 상부는 30 내지 31인치 직경의 폴리싱 패드(18)의 중심으로부터 약 7.5인치(190.50㎜)의 거리(D)에 중심을 두거나, 42 내지 43인치 직경의 폴리싱 패드(18)의 중심으로부터 약 9 내지 11인치의 거리(D)에 중심을 둔 폭이 약 3㎜인 원형 영역일 수 있다. Referring again to Fig. 2, the
윈도우(40)는 대략 원형상을 가질 수 있다(직사각형과 같은 다른 형상도 가능하다). 윈도우가 세장형(細長型)이면, 상기 윈도우의 보다 긴 치수는 윈도우의 중심을 통과하는 폴리싱 패드의 반경에 대해 실질적으로 평행할 수 있다. 윈도우(40)는 들쑥날쑥한 주연부(42)를 가질 수 있으며, 예컨대, 상기 주연부는 유사하게 형성된 원 또는 직사각형의 주연부보다 더 길 수 있으며, 예컨대, (위에서 봤을 때) 지그재그 또는 다른 구불구불한 패턴일 수 있다. 이는 폴리싱 패드의 측벽에 대한 윈도우의 접촉 표면적을 증대시키며, 따라서, 폴리싱 패드에 대한 윈도우의 접착력을 향상시킬 수 있다. The
도 3a를 참조하면, 윈도우(40)는 상부(40a)와 하부(40b)를 포함한다. 상부(40a)와 하부(40b)를 포함하는 윈도우(40)는 동종의 물질로 이루어진 일체의 단체형 본체일 수 있다. 상부(40a)는 하부(40b)와 수직으로 정렬되지만, 하부(40b)보다 측방향으로(즉, 폴리싱 표면에 대해 평행한 일 방향 또는 양 방향으로) 더 작다. 따라서, 폴리싱 층(20)의 일부가 하부(40b) 위에서 돌출하게 되고, 이에 의해, 상부(40a)를 지나 돌출하는 하부(40b)의 림(rim)이 레지(ledge)(49)를 형성하게 된다. 하부(40b)는 윈도우(40)의 모든 측면들에서 상부(40a)를 지나 측방향으로 돌출할 수 있거나, 또는 선택적으로 상기 하부(40b)는 윈도우(40)의 2개의 대향하는 측면들에서는 상부(40a)를 지나 측방향으로 돌출하지만 윈도우(40)의 다른 측면들을 따라서는 정렬될 수 있다. 상부(40a)를 지나 돌출하는 하부(40b)의 상면은 실질적으로 평면일 수 있다. 상부(40a)는 하부(40b)의 중심에 위치될 수 있으며, 예컨대, 상기 하부와 동심일 수 있다. 하부(40b)는 상부(40a)의 측방향 치수의 2 내지 10배, 예컨대, 약 8배 큰 측방향 치수를 가질 수 있다. 예컨대, 윈도우(40)가 원형이면, 상부(40a)는 3㎜의 직경을 가질 수 있고, 하부(40b)는 25㎜의 직경을 가질 수 있다. Referring to FIG. 3A, the
상부(40a)는 하부(40b)와 거의 동일한 두께일 수 있다. 대안적으로, 상부(40a)는 하부(40b)보다 더 두껍거나, 더 얇을 수 있다. The
윈도우(40)의 상부(40a)는 접착제 층(28)의 개구 속으로 돌출할 수 있다. 접착제 층(28), 예컨대, 접착 테이프의 에지는 윈도우(40)의 상부(40a)의 측면들에 당접할 수 있다. 윈도우의 하부(40b)는 플래튼(16)의 최상면(76)의 리세스(78) 속으로 돌출할 수 있다. The
윈도우의 상부(40a)는 폴리싱 층(20)과 접착제 층(28)을 조합한 정도로 두꺼울 수 있다. 윈도우(40)의 상부(40a)의 최상면(44)은 폴리싱 표면(24)과 동일 평면상에 있다. 윈도우(40)의 상부(40a)의 바닥은 접착제 층(28)의 바닥면과 동일 평면상에 있을 수 있다. The
하부(40b)의 상면은 접착제 층(28)의 일부에 의해 폴리싱 층(20)의 밑면에 고정된다. 선택적으로, 윈도우(40)의 상부(40a)의 주연부는, 예컨대, 추가적인 접착제에 의해, 폴리싱 층(20)의 내부 측벽 에지들(48)에 고정될 수 있다. The upper surface of the
레지(49)에서의 연결에 의해 제공되는 윈도우(40)와 폴리싱 층(20) 사이의 증대된 연결 표면적은 강한 결합을 제공할 수 있으며, 이는 슬러리 누설 가능성을 줄이고, 폴리싱되고 있는 기판으로부터의 전단력으로 인해 폴리싱 패드(18)로부터 윈도우(40)가 빠질 가능성을 줄인다. 하부(40b)에 광섬유의 본선(52)이 당접하거나, 거의 당접한다. 몇몇 구현예들에서, 본선(52)이 윈도우(40)의 상부(40a)보다 더 넓을 수 있다. The increased connection surface area between the
윈도우의 하부(40b)의 바닥면은 플래튼(16)의 상면(76)의 리세스(78)의 바닥에 당접하거나, 예컨대, 접착제 없이 안착되거나, 다른 방식으로 고정될 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 윈도우의 하부(40b)가 리세스(78)를 채운다. The bottom surface of the
도 3b를 참조하면, 플래튼(16) 상에 설치하기 전에, 폴리싱 패드(18)는, 윈도우(40)의 하부(40b)에 의해 덮인 접착제 영역을 제외하고, 폴리싱 패드(18)의 바닥면(22) 상의 접착제 층(28)에 걸쳐 있는 라이너(70)를 또한 포함할 수 있다. 라이너(70)는 접착제(28)로부터 박리될 수 있도록 릴리즈 코팅(release coating)을 구비한 얇은 가요성 물질, 예컨대, 종이일 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 라이너는 비압축성이며 대체로 유체-불침투성 층, 예컨대, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET), 예컨대, Mylar®일 수 있다. 사용시, 라이너(70)는 접착제 층(28)으로부터 수공으로(manually) 박리될 수 있으며, 폴리싱 층(20)이 접착제 층(28)과 함께 플래튼(16)에 도포된다. 그러나, 라이너(70)는 윈도우(40)에 걸쳐 있지 않고, 윈도우(40)의 하부(40b)가 속에 피팅되는 홀(72)을 형성하도록, 윈도우(40)의 하부(40b)의 영역과 바로 그 주위에서, 예컨대, 가로로 약 25㎝의 영역에서 제거된다. 3B, before being placed on the
폴리싱 패드(18)는, 예컨대, 2㎜ 미만, 예컨대, 1㎜ 미만으로 매우 얇다. 예컨대, 폴리싱 층(20), 접착제(28) 및 라이너(70)의 전체 두께가 약 0.8 또는 0.9㎜일 수 있다. 폴리싱 층(20)의 두께가 약 0.7 또는 0.8㎜일 수 있으며, 접착제(28)와 라이너(70)가 다른 약 0.1㎜를 차지할 수 있다. 그루브들(26)은 폴리싱 패드의 깊이의 거의 절반일 수 있으며, 예컨대, 대략 0.5㎜일 수 있다. The
폴리싱 패드를 제조하기 위해, 먼저 폴리싱 층(20)이 형성되고, 폴리싱 층(20)의 바닥면이 도 4에 도시된 바와 같이 압력 감지 접착제(28)와 라이너(70)로 덮인다. 압력 감지 접착제(28)를 부착하기 전에, 패드 몰딩 프로세스의 일부로서 폴리싱 층(20)에 그루브들(26)이 형성될 수 있거나, 또는 상기 패드를 형성한 후, 폴리싱 층(20)을 절개하여 형성될 수 있다. 라이너(70)를 부착하기 전에 또는 그 후에, 그루브들(26)이 형성될 수 있다. A
이제, 도 5를 참조하면, 몇몇 구현예들에서, 윈도우(40)의 형상으로 폴리머를 주조하고 경화함으로써 윈도우(40)가 형성될 수 있다. 일 구현예에서, 상기 폴리머는 (캘리포니아주 롱 비치에 소재한 칼 폴리머 인코포레이티드로부터 입수할 수 있는) 2 parts Calthane A 2300과 3 parts Calthane B 2300의 혼합물이다. 상기 액체 폴리머 혼합물은 개구 속에 배치되기 전에, 예컨대, 15 내지 30분 동안 탈기(degas)될 수 있다. 폴리머는 약 24시간 동안 실온에서 경화될 수 있거나, 또는 경화 시간을 단축하기 위해 열 램프 또는 오븐이 사용될 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 윈도우(40)를 그 최종 형상으로 형성하도록, 폴리머가 주형 속에 부어져 경화될 수 있거나, 또는 다른 방식으로 고화될 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 윈도우(40)는, 대형 고체 블록으로 경화된 다음, 그 고체 폴리머 블록을 윈도우(40)의 최종 형상이 되도록 기계 가공하여, 형성될 수 있다. Referring now to FIG. 5, in some embodiments, the
몇몇 구현예들에서, 하부(40b)의 측벽(84)은 윈도우(40)의 바닥면(46)에 대해 실질적으로 수직할 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 측벽(84)은 도 7에 대한 설명에서 더 논의되는 바와 같이 상기 바닥면(46)에 대해 비스듬히 형성될 수 있다. In some embodiments, the
폴리싱 층(20), 접착제(28) 및 라이너(70)를 포함하여 전체 폴리싱 패드(18)를 관통하는 홀(82)이 천공된다. 홀(82)은 윈도우(40)의 상부(40a)를 수용하는 크기이다. 몇몇 구현예들에서, 상부(40a)는 폴리싱 패드(18)의 홀(82)을 실질적으로 막는다. 홀(82)은, 예컨대, 머신 프레스에 의해, 상기 패드의 최상부(즉, 폴리싱 표면이 있는 측면)로부터 천공될 수 있다. 이는 홀(82)의 크기와 위치가 고도의 정확성과 반복가능성으로 결정될 수 있도록 한다. A
접착제 층(28)으로부터 라이너(70)의 일부분(72)이 박리되거나 다른 방식으로 제거된다. 이때, 라이너(70)는 폴리싱 패드(18)로부터 완전히 박리될 필요가 없다. 박리되는 라이너(70)의 일부분(72)은 홀(82) 주위에서 접착제 층(28)의 바닥면(22)의 일부를 노출시킨다. 또한, 박리된 부분(72)은, 예컨대, 윈도우(40)의 하부(40b)의 레지(49)를 수용하는 크기의 영역에서, 절단될 수 있으나, 이 단계는 이후에 실시될 수도 있다. A
도 5 및 도 6을 참조하면, 상부(40a)가 홀(82) 속으로 연장하고 하부(40b)의 상면(예컨대, 레지(49))이 접착제 층(28)과 접촉하도록, 윈도우(40)가 폴리싱 패드(18)에 고정된다. 몇몇 구현예들에서, 레지(49)가 접착제 층(28)에 접착될 때, 상면(44)이 폴리싱 층(20)의 폴리싱 표면(24)과 동일 평면상에 있도록, 상부(40a)는 홀(82)을 실질적으로 관통하여 실질적으로 채우는 크기이다. 5 and 6, a
라이너(70)에 추가하여, 선택적인 윈도우 지지편(74)이 윈도우(40)에 걸쳐 있도록 배치될 수 있다. 예컨대, 윈도우 지지편(74)은 윈도우(40) 바로 주위의 접착제 층(28)의 일부에 고정될 수 있다. 지지편(74)은 라이너(70)와 동일한 두께이거나, 라이너(70)보다 더 얇을 수 있다. 지지편(74)은 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE), 예컨대, Teflon®, 또는 다른 비점착(non-stick) 물질일 수 있다. 그리고, 결합된 폴리싱 패드(18)와 윈도우(40)는, 예컨대, 밀봉된 플라스틱 백에 담겨서, 소비자에게 배송되도록 준비될 수 있다. In addition to the
이제, 도 7을 참조하면, 소비자가 결합된 폴리싱 패드(18)와 윈도우(40)를 받으면, 소비자는 라이너(70)(그리고, 만약 있다면, 윈도우 지지편(74))를 제거한 다음, 접착제 층(28)을 사용하여 플래튼(16) 상에 폴리싱 패드(18)를 부착할 수 있다. 윈도우(40)의 하부(40b)가 플래튼(16)의 상면(76)의 리세스(78) 속에 삽입된다. 몇몇 방법들에서, 라이너(70)가 윈도우(40)의 주변 영역에서 부분적으로 박리될 수 있으며, 윈도우(40)의 하부(40b)가 리세스 속으로 삽입된 다음, 나머지 라이너가 박리되고 폴리싱 패드의 나머지가 플래튼(16)에 고정된다. 7, when the customer receives the combined
하부(40b)는 리세스(78)를 실질적으로 채우는 형상 및 크기일 수 있으며, 예컨대, 플래튼(16)의 상면(76)이 접착제 층(28)에 접촉할 때, 상기 하부(40b)의 측벽(84)이 실질적으로 리세스(78)의 모든 측벽(86)에 접촉할 수 있고, 윈도우(40)의 바닥면(46)이 리세스(78)의 플로어(88)에 실질적으로 접촉한다. The
몇몇 구현예들에서, 리세스(78)의 플로어(88)는 플래튼(16)의 상면(76)과 실질적으로 평행할 수 있다. 몇몇 구현예들에서, 하부(40b)의 측벽(84)은 바닥면(46)에 대해 수직하며, 리세스(78)의 측벽(86)은 폴리싱 표면(75)에 대해 수직하다. 도 8을 참조하면, 몇몇 구현예들에서, 하부(40b)가 리세스(78) 속으로 삽입될 때, 측벽(84)과 측벽(86)이 실질적으로 서로 접촉하도록, 하부(40b)의 측벽(84)은 바닥면(46)에 대해, 예컨대, 20°내지 80°, 예컨대 45°의 비(非)-수직 각도로 형성될 수 있으며, 리세스(78)의 측벽(86)은 실질적으로 그와 유사한 각도로 형성될 수 있다. 예컨대, 하부(40b)가 원뿔형 섹션을 형성하도록, 측벽(84)이 레지(49)로부터 바닥면(46)까지 내측으로 경사질 수 있다. 마찬가지로, 측벽(86)이 상기 원뿔형 섹션과 일치하도록 형성될 수 있다. 이와 같이 경사진 측벽(84)으로 인하여, 윈도우(40)와 폴리싱 패드(18)는, 윈도우(40)가 경사진 측벽(86) 내부의 리세스(78) 속으로 삽입될 때, 셀프-센터링 특성을 나타내게 된다. The
이와 같이, 폴리싱 패드(18)가 접착제 층(28)에 의해 플래튼(16)에 접착됨으로써, 윈도우(40)를 플래튼(16)의 리세스(78) 내부에 유지하게 된다. 윈도우(40)는 리세스(78)의 플로어(88)에 의해 수직으로 지지될 수 있으며, 리세스(78)의 측벽들(86)에 의해 측방향으로 유지될 수 있다. 윈도우(40)는, 플래튼(16)에 대해 폴리싱 패드의 밑면을 고정하는 동일한 접착제 층에 레지(49)의 최상면을 접촉함으로써, 폴리싱 패드에 접착될 수 있다. The
특정 실시예들에 대해 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예컨대, 단순한 원형상의 윈도우를 설명하였으나, 윈도우는 직사각형, 타원형 또는 성형(星形)과 같이 더 복잡할 수 있다. 윈도우의 최상부는 바닥부의 하나 또는 그 초과의 측면들을 지나 돌출할 수 있다. 본 발명의 사상과 범위를 벗어나지 않고 다양한 다른 변형들이 이루어질 수 있음을 이해할 것이다. 따라서, 다른 실시예들은 하기된 특허청구범위 내에 속한다.Although specific embodiments have been described, the invention is not so limited. For example, while a simple circular window has been described, a window can be more complex, such as a rectangle, an ellipse, or a star. The top of the window may protrude past one or more sides of the bottom. It will be understood that various other modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, other embodiments are within the scope of the following claims.
Claims (15)
평탄한 상면, 상기 상면에 형성되고 하면을 가진 리세스, 및 상기 리세스의 하면에 연결된 통로를 가진 플래튼;
폴리싱 층, 폴리싱 표면, 밑면(underside), 및 이들을 관통하며 상기 리세스보다 더 작은 측방향 치수를 갖고 상기 통로와 정렬된 개구(aperture)를 포함하는 폴리싱 패드;
상기 폴리싱 층에 걸쳐 있는(spanning) 접착제 층으로서, 상기 접착제 층은 개구를 가지며, 상기 폴리싱 패드의 밑면은 상기 접착제 층에 의해 상기 플래튼의 상면에 접착식으로 부착되는, 접착제 층; 및
상부와 하부를 포함하며 동종의 물질(homogeneous material)로 이루어진 일체의 단체형 본체인 고체 투광 윈도우(solid light-transmitting window);를 포함하며,
상기 윈도우의 상부는 상기 접착제 층의 개구 내로 돌출하고 상기 폴리싱 패드의 개구 내에 적어도 부분적으로 위치되며, 상기 하부는 상기 플래튼 내의 리세스 내에 적어도 부분적으로 위치되고,
상기 하부는 상기 상부보다 더 큰 측방향 치수를 가지고 상기 폴리싱 층 아래에서 연장하며,
상기 윈도우의 하부의 최상면은 상기 접착제 층에 의해 상기 폴리싱 패드의 밑면에 접착식으로 부착되고, 이로써 상기 윈도우는, 상기 폴리싱 패드의 밑면을 상기 플래튼에 고정하는 동일한 접착제 층에 상기 윈도우의 레지(ledge)의 최상면을 접촉시킴으로써, 상기 폴리싱 패드에 접착되는,
폴리싱 장치. As a polishing apparatus,
A platen having a flat top surface, a recess formed in the top surface and having a bottom surface, and a passage connected to a bottom surface of the recess;
A polishing pad including a polishing layer, a polishing surface, an underside, and an aperture therethrough and having a lateral dimension smaller than the recess and aligned with the passageway;
An adhesive layer spanning the polishing layer, the adhesive layer having an opening, the bottom surface of the polishing pad being adhesively adhered to the top surface of the platen by the adhesive layer; And
And a solid light-transmitting window, which is a unitary body of any one of homogeneous material including upper and lower portions,
Wherein an upper portion of the window projects into an opening of the adhesive layer and is at least partially positioned within an opening of the polishing pad, the lower portion being at least partially located within a recess in the platen,
The lower portion having a greater lateral dimension than the upper portion and extending below the polishing layer,
The top surface of the lower portion of the window is adhesively attached to the bottom surface of the polishing pad by the adhesive layer so that the window is exposed to the same level of adhesive on the platen, ), Which is adhered to the polishing pad,
Polishing apparatus.
상기 윈도우의 상부는 상기 폴리싱 패드에서의 개구를 막는(plug),
폴리싱 장치. The method according to claim 1,
The top of the window is plugged in the polishing pad,
Polishing apparatus.
상기 윈도우의 상부의 최상면은 상기 폴리싱 표면과 동일 평면상에 있는,
폴리싱 장치. 3. The method of claim 2,
Wherein an uppermost surface of the upper portion of the window is coplanar with the polishing surface,
Polishing apparatus.
상기 윈도우의 하부의 하면은 상기 리세스의 하면에 접촉하는,
폴리싱 장치. The method according to claim 1,
Wherein a lower surface of the window contacts a lower surface of the recess,
Polishing apparatus.
상기 윈도우의 하부의 하면은 상기 리세스의 하면에 접착(adhere)되지 않는,
폴리싱 장치. 5. The method of claim 4,
The lower surface of the window is not adhered to the lower surface of the recess,
Polishing apparatus.
상기 하부는 상기 상부보다 2 내지 10배 더 큰 측방향 치수를 가진,
폴리싱 장치. The method according to claim 1,
The lower portion having a lateral dimension that is 2 to 10 times greater than the top portion,
Polishing apparatus.
상기 폴리싱 패드는 1㎜ 미만의 두께를 가진,
폴리싱 장치. The method according to claim 1,
The polishing pad has a thickness of less than 1 mm,
Polishing apparatus.
상기 윈도우의 상부를 통해 광을 지향(direct)시키거나 수광하기 위해 상기 통로 내에 배치된 광섬유를 더 포함하는,
폴리싱 장치. The method according to claim 1,
Further comprising an optical fiber disposed in the passageway for directing or receiving light through the top of the window,
Polishing apparatus.
상기 광섬유는 상기 윈도우의 상부보다 더 넓은,
폴리싱 장치. 9. The method of claim 8,
Wherein the optical fiber is wider than an upper portion of the window,
Polishing apparatus.
폴리싱 표면과 밑면을 갖는 폴리싱 층, 접착제 층, 및 라이너를 포함하는 전체 폴리싱 패드를 관통하는 홀을 천공하는(punching) 단계;
상부 및 상기 상부보다 더 큰 측방향 치수를 가진 하부를 갖는, 고체 투광 윈도우를 형성하는 단계;
상기 홀 주위의 상기 접착제 층의 바닥면의 일부분을 노출하도록, 상기 접착제 층으로부터 상기 라이너의 일부분을 제거하는 단계;
상기 윈도우의 상부를 상기 폴리싱 패드의 홀 내로 삽입하되, 상기 윈도우의 상부가 상기 접착제 층의 홀 내로 돌출되는 단계;
상기 폴리싱 층의 밑면에 상기 윈도우의 하부의 최상면을 부착시키되, 상기 윈도우의 하부의 최상면이 상기 접착제 층에 의해 상기 폴리싱 층의 밑면에 접착식으로 부착되는 단계;
상기 라이너의 나머지 부분을 제거하는 단계;
상기 폴리싱 패드와 상기 윈도우를 플래튼 상에 위치시키고 상기 접착제 층을 이용하여 상기 폴리싱 패드를 상기 플래튼 상에 부착시킴으로써, 상기 윈도우의 하부가 상기 플래튼의 평탄한 상면의 리세스 내로 피팅(fit)되고, 상기 폴리싱 층의 밑면이 상기 플래튼의 평탄한 상면에 접착되며, 상기 폴리싱 층의 밑면을 상기 플래튼에 고정하는 동일한 접착제 층에 상기 윈도우의 레지의 최상면을 접촉시켜 상기 폴리싱 패드에 상기 윈도우가 접착되는 단계;를 포함하는,
폴리싱 장치를 위한 윈도우 조립 방법.
A method of assembling a window for a polishing apparatus,
Punching a hole through the entire polishing pad including a polishing layer having a polishing surface and a bottom surface, an adhesive layer, and a liner;
Forming a solid translucent window having an upper portion and a lower portion having a larger lateral dimension than the upper portion;
Removing a portion of the liner from the adhesive layer to expose a portion of the bottom surface of the adhesive layer about the hole;
Inserting an upper portion of the window into the hole of the polishing pad, the upper portion of the window protruding into the hole of the adhesive layer;
Attaching a top surface of the bottom of the window to the bottom surface of the polishing layer, wherein the top surface of the bottom of the window is adhesively adhered to the bottom surface of the polishing layer by the adhesive layer;
Removing the remaining portion of the liner;
Placing the polishing pad and the window on a platen and using the adhesive layer to attach the polishing pad onto the platen so that the bottom of the window fits into the recess in the flat top surface of the platen, Wherein a bottom surface of the polishing layer is adhered to a flat upper surface of the platen and an upper surface of the window ledge is brought into contact with the same adhesive layer that fixes the bottom surface of the polishing layer to the platen, And a step of bonding,
Method for assembling windows for a polishing apparatus.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/778,760 US20110281510A1 (en) | 2010-05-12 | 2010-05-12 | Pad Window Insert |
US12/778,760 | 2010-05-12 | ||
PCT/US2011/034215 WO2011142975A2 (en) | 2010-05-12 | 2011-04-27 | Pad window insert |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177020536A Division KR101956848B1 (en) | 2010-05-12 | 2011-04-27 | Polishing pad assembly |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130103674A KR20130103674A (en) | 2013-09-24 |
KR101762936B1 true KR101762936B1 (en) | 2017-07-28 |
Family
ID=44912183
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177020536A KR101956848B1 (en) | 2010-05-12 | 2011-04-27 | Polishing pad assembly |
KR1020127032411A KR101762936B1 (en) | 2010-05-12 | 2011-04-27 | Pad window insert |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177020536A KR101956848B1 (en) | 2010-05-12 | 2011-04-27 | Polishing pad assembly |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110281510A1 (en) |
JP (1) | JP2013526420A (en) |
KR (2) | KR101956848B1 (en) |
CN (1) | CN102893377B (en) |
TW (3) | TWI663020B (en) |
WO (1) | WO2011142975A2 (en) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8535115B2 (en) * | 2011-01-28 | 2013-09-17 | Applied Materials, Inc. | Gathering spectra from multiple optical heads |
US8961266B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-02-24 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad with secondary window seal |
US9308620B2 (en) * | 2013-09-18 | 2016-04-12 | Texas Instruments Incorporated | Permeated grooving in CMP polishing pads |
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CN106376234B (en) | 2014-05-02 | 2019-11-05 | 3M创新有限公司 | Intermittent structured abrasive article and the method for polishing workpiece |
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2010
- 2010-05-12 US US12/778,760 patent/US20110281510A1/en not_active Abandoned
-
2011
- 2011-04-27 WO PCT/US2011/034215 patent/WO2011142975A2/en active Application Filing
- 2011-04-27 CN CN201180023970.8A patent/CN102893377B/en active Active
- 2011-04-27 JP JP2013510125A patent/JP2013526420A/en not_active Withdrawn
- 2011-04-27 KR KR1020177020536A patent/KR101956848B1/en active IP Right Grant
- 2011-04-27 KR KR1020127032411A patent/KR101762936B1/en active IP Right Grant
- 2011-04-28 TW TW106129437A patent/TWI663020B/en active
- 2011-04-28 TW TW106137496A patent/TWI663021B/en active
- 2011-04-28 TW TW100114926A patent/TWI611866B/en active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2011142975A2 (en) | 2011-11-17 |
KR101956848B1 (en) | 2019-03-11 |
TWI611866B (en) | 2018-01-21 |
CN102893377A (en) | 2013-01-23 |
TW201817541A (en) | 2018-05-16 |
KR20130103674A (en) | 2013-09-24 |
CN102893377B (en) | 2016-08-10 |
US20110281510A1 (en) | 2011-11-17 |
WO2011142975A3 (en) | 2012-03-01 |
JP2013526420A (en) | 2013-06-24 |
TW201742705A (en) | 2017-12-16 |
TWI663021B (en) | 2019-06-21 |
KR20170088444A (en) | 2017-08-01 |
TW201217104A (en) | 2012-05-01 |
TWI663020B (en) | 2019-06-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
A107 | Divisional application of patent | ||
GRNT | Written decision to grant |