KR101742188B1 - 집적된 냉접점 보상 및 선형화를 구비한 열전쌍 기전력 전압-온도 변환기 - Google Patents

집적된 냉접점 보상 및 선형화를 구비한 열전쌍 기전력 전압-온도 변환기 Download PDF

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Abstract

혼합 신호 집적 회로는 1) 적어도 하나의 열전쌍에 직접 연결하기 위해 채용된 차동 입력단들을 구비한 아날로그 프런트와, 2) 상기 열전쌍의 전압값들을 디지털 표현값들로 변환하기 위한 아날로그-디지털 변환기(ADC)와, 3) NIST(National Institute of Standards and Technology)에 기초한 계수 테이블로부터 각 타입의 열전쌍에 대한 고유의 계수들을 사용함으로써, 다차 다항식들을 실행하여 상기 열전쌍 기전 전압들(상기 디지털 표현값들)을 선형 온도 측정 단위들로 변환하기 위한 선형화 로직과, 4) 냉접점 온도를 측정하기 위한 집적 온도 센서와, 5) 선택적으로, 복수의 열전쌍들의 온도를 측정하기 위해 복수의 열전쌍들의 각각을 선택하기 위한 입력 멀티플렉서와, 6) 선택적으로, 측정 온도 값들, 고저 설정 포인트들, 경고 제한 값들 등을 저장하기 위한 레지스터들, 및 7) 파라미터들을 설정하고 온도 정보를 수신하기 위한 통신용 인터페이스를 포함한다.

Description

집적된 냉접점 보상 및 선형화를 구비한 열전쌍 기전력 전압-온도 변환기{THERMOCOUPLE ELECTROMOTIVE FORCE VOLTAGE TO TEMPERATURE CONVERTER WITH INTEGRATED COLD-JUNCTION COMPENSATION AND LINEARIZATION}
본 발명은 혼합 신호 집적 회로들에 관한 것으로, 특히 열전쌍 센서들과 관련하여 사용되는 혼합 신호 집적 회로들로서, 프로그램가능한 아날로그 증폭기, NIST(National Institute of Standards and Technology)에 기초한 열전쌍 선형화 테이블들, 냉접점(cold-junction) 보상을 위한 등온 블록 온도 센서, 및 선택적으로, 입력 멀티플렉서 및/또는 측정 온도 값들, 고저 설정 포인트들, 및/또는 경고 제한 값들을 저장하기 위한 레지스터들을 구비한 혼합 신호 집적 회로들에 관한 것이다.
종래의 열전쌍 온도 센서 계측 인터페이스들은 복잡하고, 전력이 소모되고, 그리고 비용이 많이 드는 아날로그 계측과 선형화 회로들을 포함한다. 냉접점 보상은 일반적으로 서미스터 또는 RTD와 같은 개별의 독립형 센서를 이용하여 구현된다.
그러므로, 넓은 측정 온도 범위에 걸쳐 우수한 측정 정확도 및 분해능을 갖도록, 적어도 하나의 열전쌍으로의 직접 계측 인터페이스와 적어도 하나의 열전쌍으로부터의 전압들의 선형화와, 냉접점 온도 보상과 이들 선형화된 냉접점 온도 보상 전압들의 예를 들면, 섭씨, 화씨, 켈빈 등의 온도 측정 단위들로의 변환을 함께 포함하는, 상업용 및 산업용 계측 열 관리를 위한 저전력 집적 회로 해결책의 제공이 요구된다. 예를 들면, 한정하는 것은 아니지만, 측정 온도 범위는 섭씨 약 -270도로부터 섭씨 약 1300도이며, 섭씨 0.5도보다 더 좋은 온도 측정 분해능을 갖는다.
본 발명의 개시에 의하면, 혼합 신호 집적 회로는 1) 적어도 하나의 열전쌍에 직접 연결하기 위해 채용된 차동 입력단들을 구비한 아날로그 프런트 엔드와, 2) 상기 열전쌍의 전압값들을 디지털 표현값들로 변환하기 위한 아날로그-디지털 변환기(ADC)와, 3) NIST(National Institute of Standards and Technology)에 기초한 계수 테이블로부터 각 타입의 열전쌍에 대한 고유의 계수들을 사용함으로써, 다차 다항식들을 실행하여 상기 열전쌍 기전 전압들(상기 디지털 표현값들)을 선형 온도 측정 단위들로 변환하기 위한 선형화 로직과 4) 냉접점 온도를 측정하기 위한 집적된 냉접점 온도 센서와, 5) 파라미터들을 설정하고 온도 정보를 수신하기 위한 통신용 인터페이스를 포함한다. 추가적인 선택 특징들은, 예를 들면, 한정하는 것은 아니지만, 6) 복수의 열전쌍들의 온도를 측정하기 위해 복수의 열전쌍들의 각각을 선택하기 위한 입력 멀티플렉서와, 6) 아날로그 프로그램가능한 이득 증폭기(PGA), 및 8) 측정 온도 값들, 고저 설정 포인트들, 경고 제한값들 등을 저장하기 위한 레지스터들이다. 선형화 회로는 메모리를 구비한 디지털 프로세서, 예를 들면 마이크로컨트롤러, 마이크로프로세서, 디지털 신호 처리기, ASIC(application specific integrated circuit), PLA(programmable logic array) 등의 일부일 수 있다. 디지털 프로세서는 또한, 입력 멀티플렉서와 PGA를 제어하고, 메모리에 레지스터 값들을 저장하고, 직렬 인터페이스를 통해 통신할 수 있다.
ADC는 LSb(least significant bit) 당 약 2μV의 전형적인 측정 분해능으로, 열전쌍 열접점에서 생성된 열전쌍(들) 기전력 (EMF) 전압(들)을 측정한다. 냉접점 온도 센서는 열전쌍 냉접점의 주위 온도를 측정한다. 디지털 프로세서, 예를 들면 마이크로컨트롤러는 ADC 출력 데이터와 집적된 온도 센서 데이터를 읽는다. 디지털 ADC 출력 데이터와 집적된 온도 센서 데이터는 가산되고, 그 다음 사용될 열전쌍의 타입에 기초하여 9차의 다항식을 이용하여 선형화된다. 다항식에 사용된 계수들은 열전상의 각 타입에 대해 적절한 값들을 갖는 룩-업 테이블로부터 제공되는데, 이들 값들은 NIST((National Institute of Standards and Technology)에 의해 제공된 표준 값들이다. 선형화 후에, 디지털 데이터는 우수한 측정 정확도 및 분해능을 가지고 넓은 측정 온도 범위에 걸쳐, 원하는 온도 측정 단위들, 예를 들면 섭씨, 화씨, 켈빈 등으로 변환될 수 있다.
보정, 선형화 그리고 변환된 온도 측정 단위들은 직렬 인터페이스(예를 들면, I2C, SPI 등)를 통해 이용가능할 수 있고 및/또는 메모리의 레지스터들에 저장될 수 있다.
첨부한 도면과 관련된 다음의 설명을 참조하면, 본 발명을 보다 완전하게 이해할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 열전쌍 인터페이스와 선형화 집적 회로 디바이스의 아날로그 프런드 엔드의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 열전쌍 인터페이스와 선형화 집적 회로 디바이스의 디지털 처리 백 엔드의 블록도이다.
본 발명은 다양한 수정물 및 대체 형태가 가능하지만, 바람직한 실시예들이 도면에 도시되고 여기에 상세히 설명되었다. 하지만, 바람직한 실시예들의 설명은 본 발명을 여기에 개시된 바람직한 형태로 한정하려는 것이 아니며, 오히려 반대로, 본 발명은 첨부한 청구범위에 의해 한정된 모든 수정물 및 등가물을 포함하려 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도면에서 동일한 구성요소는 동일한 번호로 나타내고, 유사한 구성요소는 소문자를 달리하여 동일한 번호로 나타낸다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 열전쌍 인터페이스와 선형화 집적 회로 디바이스의 아날로그 프런드 엔드(front end)의 블록도이다. 열전쌍 인터페이스와 선형화 집적 회로 디바이스의 아날로그 프런트 엔드(100)는, 아날로그 멀티플렉서(106), 프로그램가능한 이득 증폭기(PGA)(104), 아날로그-디지털 변환기(ADC)(102), 및 냉접점 온도 센서(112)를 포함한다. 집적 회로 디바이스의 외부에는 적어도 하나의 열전쌍(110)의 냉접점들에의 연결을 위해 사용되는 등온(isothermal) 블록(108)이 있다. 냉접점 온도 센서(112)는 등온 블록(108)에 열에 의해 연결된다. 냉접점 온도 센서(112)로부터의 냉접점 온도는 적어도 하나의 열전쌍(110)의 선형화된 온도값들의 온도 정정에 사용된다.
아날로그 멀티플렉서(106)는 (등온 블록(108)을 통해) 복수의 열전쌍들(110a-110n)로 인터페이싱을 할 수 있다. PGA(104)는 ADC(102)의 아날로그 입력 감도를 증가시키기 위해 사용될 수 있다. 아날로그 멀티플렉서(106), PGA(104) 및 ADC(102)는 데이터 획득 및 제어 로직(226)(도 2 참조)에 의해 제어될 수 있다. ADC(102)는 한정하는 것은 아니지만 예를 들면, 델타-시그마 ADC일 수 있다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 열전쌍 인터페이스와 선형화 집적 회로 디바이스의 디지털 처리 백 엔드(back end)의 블록도이다. 열전쌍 인터페이스 및 선형화 집적 회로 디바이스의 디지털 처리 백 엔드(200)는 선형화 프로세서(218), NIST 계수들의 테이블(220), 디지털 가산기(222), 냉접점 온도 인터페이스(224), 데이터 획득 및 제어 로직(226), 메모리 및/또는 레지스터들(228), 및 예를 들면 직렬 I2C, SPI, SMBus 등의 통신용 인터페이스(230)를 포함할 수 있다.
열전쌍(110)으로부터의 비보상 전압이 ADC(102)에서 디지털화되면, 선형화 로직(218)은 열전쌍 타입, 예를 들면, J, K, B, E, N, R, S, T 등에 따라 NIST 계수들의 테이블에 저장된 NIST 상수들을 이용하여 다차 방정식을 해결한다. NIST 개수들의 테이블(220)은 비휘발성 메모리, 예를 들면 EEPROM(electrically erasable and programmable read only memory)에 저장될 수 있다.
열전쌍(110)으로부터의 디지털 전압 표현 값들이 선형화되면, 냉접점 온도 조절이 디지털 가산기(222)에서 이루어진다. 냉접점 온도 조절의 목적은 열전쌍 열접점 값들을 0도 섭씨 기준 온도로 정규화하는 것이다. 냉접점 온도 센서(112)는 한정하는 것은 아니지만, 예를 들면, 서미스터, RTD 등일 수 있으며, 냉접점 온도 센서(112)의 아날로그 출력은 디지털 가산기(222)에 제공되기 전에 냉접점 온도 인터페이스(223)에서 디지털 값들로 변환될 수 있다.
데이터 획득 및 제어 로직(226)은 디지털 가산기(222)의 선형화되고 정규화된 디지털 온도 값들을 원하는 온도 측정 단위들, 예를 들면 섭씨, 화씨, 켈빈 등으로 변환하기 위해 사용될 수 있다. 데이터 획득 및 제어 로직(226)은 또한 메모리/레지스터들(228)에 가변적인 측정 온도 값들을 저장하고 및/또는 비교할 수 있다. 고저 제한 온도 값들은 경고 및 제어 기능들을 위해 메모리/레지스터들(228)에 저장될 수 있다.
통신용 인터페이스(230)는 온도 값들을 읽고, 예를 들면, 메모리/레지스터들(228)에 설정 포인트들 및 경고 제한 값을 입력하는 처리 제어 등의 온도 관련 활동을 제어하기 위해 사용될 수 있다.
열전쌍 인터페이스 및 선형화 집적 회로 디바이스를 위한 집적 회로 패키지들은, 한정하는 것은 아니지만, 예를 들면, MSOP(Mini small Outline Package), SOIC(Small Outline Integrated Circuit), DFN(Dual Flat No-lead) 등일 수 있다. 집적 회로 패키지들이 등온 블록(108)에 열에 의해 가깝게 연결된다면, DFN 패키지가 냉접점 열전도의 우수성 때문에 바람직하다.
마이크로컨트롤러와 같은 혼합 신호 집적 회로는 등온 블록(108) 및 열전쌍들(110)을 제외하고 여기에 개시된 모든 요소들을 포함할 수 있을 것으로 예상할 수 있다. 등온 블록(108)은 적어도 하나의 열전쌍(110)의 냉측 와이어들로 연결을 용이하게 하기 위해, 예를 들면, 열전쌍(110)의 와이어들로의 연결을 용이하게 하는 스크류 단자들을 채용할 수 있다. 이 발명의 목적은 상업용 및 산업용 온도 감시 및 제어 시스템들 내부로의 열전쌍들의 집적 및 이용을 용이하게 하기 위해, 간단하고, 저가격으로 그리고 구현이 용이하고, 강력한 집적 회로 디바이스를 제공하는 것이다.
본 발명이 바람직한 실시예를 참조하여 특별히 도시되고 설명되었지만, 이러한 참조는 본 발명의 한정을 내포하지 않고 이러한 한정을 의미하지도 않는다. 개시된 본 발명은 이 기술분야의 당업자에 의해 형태와 기능에 있어서 수정물, 대체물, 및 등가물이 고려될 수 있다. 본 발명의 도시되고 설명된 실시예들은 단지 예로서, 본 발명의 범위를 한정하지 않는다.

Claims (29)

  1. 열전쌍 기전력 전압들을 온도 값들로 변환하고 그리고 집적된 냉접점 보상 및 선형화를 갖기 위한 혼합-신호 집적 회로로서,
    열전쌍에 결합되도록 동작 가능한 아날로그 입력부를 구비한 아날로그-디지털 변환기;
    상기 아날로그-디지털 변환기의 디지털 출력부에 결합되는 선형화 로직;
    상기 열전쌍을 위해 NIST 계수들의 테이블을 저장하는 비휘발성 메모리, - 상기 열전쌍 기전력 전압들의 선형화와 연관된 다항식을 풀 때에는, 상기 선형화 로직이 상기 비휘발성 메모리에 결합되어 상기 NIST 계수 테이블의 계수들을 사용함 -;
    집적된 냉접점 온도 센서;
    상기 냉접점 온도 센서의 온도를 디지털 냉접점 온도 값들로 변환하기 위한 냉접점 온도 센서 인터페이스;
    온도 베이스로 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들을 제공하기 위해, 상기 선형화 로직의 상기 선형화된 디지털 온도 값들에 상기 디지털 냉접점 온도 값들을 더하는 디지털 가산기;
    상기 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들을 수신하고, 이들 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들을 외부 시스템에 이용가능하게 하기 위해, 상기 디지털 가산기의 출력부에 결합되는 데이터 획득 및 제어 로직; 및
    상기 열전쌍의 등온 연결 블록에 열에 의해 결합되도록 설계된 상기 혼합-신호 집적 회로를 위한 집적 회로 패키지를 포함하는 혼합-신호 집적 회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 온도 베이스는 섭씨 0도인, 혼합-신호 집적 회로.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 열전쌍 및 상기 아날로그-디지털 변환기 사이에 결합되는 프로그램 가능한 이득 증폭기를 더 포함하고,
    상기 프로그램 가능한 이득 증폭기는 상기 데이터 획득 및 제어 로직에 의해 제어되는, 혼합-신호 집적 회로.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 프로그램 가능한 이득 증폭기의 입력부에 결합되는 출력부, 및 복수의 열전쌍들의 각 열전쌍을 상기 프로그램 가능한 이득 증폭기에 선택적으로 결합하기 위해 사용된 복수의 입력부를 구비한 아날로그 멀티플렉서를 더 포함하고,
    상기 아날로그 멀티플렉서는 상기 데이터 획득 및 제어 로직에 의해 제어되는, 혼합-신호 집적 회로.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 획득 및 제어 로직에 결합되고, 설정 포인트들, 경고 제한 값들 및 상기 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들 중 선택된 값들로 이루어진 그룹으로부터 선택된 디지털 값들을 저장하고 검색하기 위해 구성된 메모리 레지스터들을 더 포함하는, 혼합-신호 집적 회로.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 외부 시스템으로 상기 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들을 전달하기 위해 상기 데이터 획득 및 제어 로직에 결합되는 직렬 통신 인터페이스를 더 포함하는, 혼합-신호 집적 회로.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 직렬 통신 인터페이스는 I2C, SPI 및 SMBus로 이루어진 그룹으로부터 선택되는, 혼합-신호 집적 회로.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 획득 및 제어 로직은 상기 정규화된 냉접점 온도 보상 디지털 온도 값들을 섭씨, 화씨 및 켈빈으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 온도 표현값들로 변환하는, 혼합-신호 집적 회로.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 비휘발성 메모리에 저장된 상기 NIST 계수들의 테이블은, J, K, B, E, N, R, S 및 T 타입 열전쌍들로 이루어진 그룹으로부터 선택된 열전쌍들을 위한 것인, 혼합-신호 집적 회로.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 집적 회로 패키지는 듀얼 플랫 노-리드(Dual Flat No-Lead) 집적 회로 패키지인, 혼합-신호 집적 회로.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 집적 회로 패키지는 소형의 작은 외형 패키지(Mini Small Outline Package) 및 소형의 외형 집적 회로(Small Outline Integrated Circuit)로 이루어진 그룹으로부터 선택되는, 혼합-신호 집적 회로.
  12. 제3항에 따른 혼합-신호 집적 회로를 포함하는 시스템으로서,
    상기 열전쌍을 상기 아날로그 멀티플렉서 또는 상기 프로그램 가능한 이득 증폭기에 전기적으로 결합시키기 위해 상기 혼합-신호 집적 회로에 아주 근접한 등온선 블록과 결합되는 적어도 하나의 열전쌍을 포함하고,
    상기 근접은 상기 열전쌍의 온도 측정을 위해 상기 집적된 냉접점 온도 센서와 상기 등온선 블록 사이의 열에 의한 결합을 제공하는, 시스템.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 열전쌍은 J, K, B, E, N, R, S 및 T 타입 열전쌍들로 이루어진 그룹으로부터 선택되는, 시스템.
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
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