KR101660080B1 - 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법 및 시스템 - Google Patents

미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법 및 시스템 Download PDF

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Abstract

미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법 및 시스템이 제공된다. 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스가 생성되고, 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배되며; 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 다수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답한다. 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분은 조합되어, 적어도 하나의 신호 파라미터가 측정되는 시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공한다.

Description

미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법 및 시스템{METHOD AND SYSTEM FOR TESTING MULTIPLE DATA PACKET TRANSCEIVERS TOGETHER DURING A PREDETERMINED TIME INTERVAL}
본 발명은 무선 장치들을 시험하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것으로, 특히, 개별 데이터 패킷들의 부분들을 분석용 합성 패킷으로 인터리브(interleave)하는 것에 의해 전체 시험 시간을 감소시키도록 무선 장치들을 동시에 시험하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다.
많은 현재의 핸드헬드 장치들은 전화 통신, 디지털 데이터 전송, 지리학적 위치 확인(geographical positioning) 등을 위해 무선 "연결"을 이용한다. 주파수 스펙트럼, 변조 방법, 및 스펙트럼 전력 밀도의 차이에도 불구하고, 무선 연결 표준은 데이터를 송신 및 수신하기 위해 동기화된 데이터 패킷들을 이용한다.
일반적으로, 이들 무선 연결 능력(예를 들어, 와이파이(WiFi), 와이맥스(WiMAX), 블루투스 등)은 그들 연결 능력을 갖는 장치들이 고수해야 하는 파라미터 및 제한을 특정하는 업계 승인된 표준(예를 들어, IEEE 802.11 및 IEEE 802.16)에 의해 정의된다.
장치 개발 연속과정을 따른 임의의 시점에서, 장치가 그의 표준의 사양 내에서 동작하고 있는 것을 시험 및 검증하는 것이 필요할 수 있다. 시험은 시간이 걸리고, 전문화된 기기 사용을 필요로 하고 그러한 장치들을 생산하는 비용을 증가시킨다. 따라서, 요구되는 완전함을 손상시키는 일 없이 전체 시험 시간을 감소시키기 위한 기법들을 갖는 것이 바람직할 것이다.
장치들이 동시에 시험될 때, 유닛당 시험 시간은 장치들의 수만큼 감소된다. 예를 들어, 단일의 장치를 시험하는 데 100초가 걸리고, 그들 중 4개를 동시에 시험하는 것이 100초 내에 행하여 질 수 있다면, 장치당 시험 시간은 25초가 된다. 또한, 하나 초과의 시험-시퀀스 캡처(test-sequence capture)에 대하여 각각의 동시의 패킷이 사용될 수 있다면, 전체 시험 시간은 더욱 더 감소될 수 있다.
본 청구된 발명에 따르면, 다양한 데이터 패킷 부분들을 시간-인터리브하는 것에 의해 다수의 시험 대상 장치(device under test, DUT)들의 동시 시험이 수행될 수 있다. 기초가 되는 표준에 의해 기술된 바와 같이 단일 패킷의 최소 지속 기간(minimal duration) 동안 하나 이상의 시험 시퀀스들을 캡처하기 위해 다수의 DUT들로부터의 동시의 동기화된 데이터 패킷들이 멀티플렉싱되고 인터리브될 수 있다. 결과로서, 전체 시험 시간이 실질적으로 감소된다.
본 청구된 발명에 따르면, 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법 및 시스템이 제공된다. 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스가 생성되고, 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배되며; 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 다수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답한다. 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분은 조합되어, 적어도 하나의 신호 파라미터가 측정되는 시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공한다.
본 청구된 발명의 일 실시예에 따르면, 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 방법은,
다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 생성하는 단계;
다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배하는 단계;
미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들 중 각자의 데이터 패킷 트랜스시버에 의해, 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각을 수신하고, 이에 응답하여 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신하는 단계;
시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 조합하는 단계; 및
시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정하는 단계를 포함한다.
본 청구된 발명의 다른 실시예에 따르면, 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 시스템을 포함하는 장치는,
다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하는 신호 생성기 회로기구(circuitry);
신호 생성기 회로기구에 결합되고, 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들을 제공함으로써 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스 및 하나 이상의 분배 제어 신호들에 응답하는 신호 분배 회로기구 - 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답함 - ;
시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공함으로써, 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분 및 하나 이상의 조합 제어 신호들에 응답하는 신호 조합 회로기구; 및
신호 조합 회로기구에 결합되고, 시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정함으로써 시험 데이터 패킷들의 시퀀스 및 하나 이상의 측정 제어 신호들에 응답하는 신호 측정 회로기구를 포함한다.
본 청구된 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 시스템을 포함하는 장치는,
다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 생성하기 위한 신호 생성기 수단;
다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배함으로써 하나 이상의 분배 제어 신호들에 응답하는 신호 분배기 수단 - 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답함 - ;
시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위하여 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 조합함으로써 하나 이상의 조합 제어 신호들에 응답하는 신호 조합기 수단; 및
시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정함으로써 하나 이상의 측정 제어 신호들에 응답하는 신호 측정 수단을 포함한다.
<도 1>
도 1은 무선 표준, 예를 들어, 와이맥스를 채용하는 DUT의 송신(TX) 기능을 시험하기 위한 종래의 방법을 도시하는 것으로, 여기서 다운링크 패킷이 업링크 패킷의 송신을 트리거한다.
<도 2>
도 2는 예를 들어 벡터 신호 생성기(vector signal generator, VSG)로 다운링크 패킷들의 순차적인 시리즈를 생성하고 이를 다수의 DUT들에 송신하며, 이어서 생성된 순차적인 업링크 패킷들을 캡처하고 이들을 예를 들어 한번에 하나씩, 분석을 위해 예를 들어 벡터 신호 분석기(vector signal analyzer, VSA)로 스위칭하는 방법을 도시한다.
<도 3>
도 3은 4개의 DUT들에 동시에 다운링크 패킷을 송신하고 각각의 DUT가 대응하는 업링크 패킷을 시작하게 하는 방법을 도시한다.
<도 3a, 도 3b 및 도 3c>
도 3a, 도 3b 및 도 3c는 도 3의 프로세스의 가능한 초기 상태들을 도시하는 것으로, 상이한 초기화 및 동기화 지연시간(latency)으로 인해, 다수의 DUT들로부터 동시의 업링크 패킷들을 도출하도록 하나 초과의 다운링크 패킷을 취할 수 있다.
<도 4>
도 4는 분석을 위해 VSA에 전송되는 4개의 개별 업링크 패킷들 각각으로부터 패킷 구성요소들을 포함하는 단일의 업링크 패킷을 생성하도록 시간-인터리브되는 4개의 병렬 업링크 패킷들을 도시한다.
<도 5>
도 5는 분석(예를 들어, 표준 전력 스펙트럼 마스크에 따라 전력 스펙트럼 밀도를 결정하도록 이용되는 패킷 부분들의 캡처 및 인터리브)을 위해 VSA에 전송되는 4개의 개별 업링크 패킷들 각각으로부터 상이한 시퀀스들을 포함하는 업링크 패킷들의 시퀀스를 생성하도록 시간-인터리브되는 4개의 병렬 업링크 패킷들을 도시한다.
<도 6 및 도 7>
도 6 및 도 7은 VSA 및 VSG의 더 높은 활용을 위한 시간 인터리브에의 "파이프라인형(pipelined)" 접근법을 도시한다.
하기의 상세한 설명은 첨부 도면들을 참조한 본 청구된 발명의 실시예들의 예이다. 그러한 설명은 예시적인 것이고 본 발명의 범주에 대하여 제한하지 않는 것으로 의도된다. 그러한 실시예들은 당업자가 본 발명을 실시할 수 있게 하기 위해 충분히 상세히 설명되고, 본 발명의 사상 또는 범주로부터 벗어남이 없이 일부 변화들을 가지고서 다른 실시예들이 실시될 수 있음이 이해될 것이다.
본 명세서의 전체에 걸쳐서, 문맥으로부터 반대로 명백한 표시가 없을 때는, 설명된 개별 회로 요소들이 개수에 있어서 단수 또는 복수일 수 있음이 이해될 것이다. 예를 들어, "회로(circuit)" 및 "회로기구"라는 용어는 단일 구성요소 또는 복수의 구성요소들을 포함할 수 있고, 이들은 능동형 및/또는 수동형이고 설명된 기능을 제공하기 위해 (예를 들어, 하나 이상의 집적 회로 칩으로서) 함께 연결되거나 달리 결합된다. 또한, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압, 또는 데이터 신호를 지칭할 수 있다. 도면들 내에서, 동일하거나 관련된 요소들은 동일하거나 관련된 문자, 숫자, 또는 문자-숫자 지정부호들을 가질 것이다. 또한, 본 발명은 (바람직하게는 하나 이상의 집적 회로 칩들의 형태의) 개별 전자 회로기구를 이용한 구현예들과 관련하여 논의되었지만, 그러한 회로기구의 임의의 부분의 기능들은 대안적으로 처리될 신호 주파수 또는 데이터 레이트(data rate)에 따라서, 하나 이상의 적절히 프로그래밍된 프로세서들을 이용하여 구현될 수 있다. 또한, 도면들이 다양한 실시예들의 기능 블록들의 다이어그램을 예시하는 경우, 그 기능 블록들은 반드시 하드웨어 회로기구 사이의 구분을 나타내는 것은 아니다. 따라서, 예를 들어, 기능 블록(예를 들어, 프로세서, 메모리 등)들 중 하나 이상이 단일편의 하드웨어(예를 들어, 범용 신호 프로세서, 랜덤 액세스 메모리, 하드 디스크 드라이브 등)으로 구현될 수 있다. 유사하게, 설명된 임의의 프로그램은 독립 실행(standalone) 프로그램들일 수 있고, 운영 체제 내에 서브루틴들로서 통합될 수 있으며, 설치된 소프트웨어 패키지 내의 함수들일 수 있는 등등이다.
도 1을 참조하면, IEEE 802.16e(와이맥스)와 같은 무선 표준을 시험하기 위한 종래의 시험 시스템(10)은 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(11a)에 따라 VSG(12)로부터의 다운링크 패킷 DL(13)을 DUT(14)로 송신할 수 있고, DUT는 이어서 업링크 패킷 UL(15)을 송신할 것이다. 이는 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(11b)에 따라 VSA(16)에 의해 (예를 들어, 신호 전력 측정 등을 통해) 캡처되고 평가될 것이다. 와이맥스의 경우에, DL 패킷(13)과 뒤이은 UL 패킷(15)에 대한 지속 기간은 최소 5 밀리초(5 ms)이다. 따라서, 이러한 시험 접근법을 이용하여 하나의 DL 패킷(13)과 뒤이은 시작된 UL 패킷(15)을 시험하는 데 요구되는 최소 시험 시간은 5 ms 이상일 것이다.
도 2를 참조하면, 본 청구된 발명의 일 실시예에 따라, 단일 VSG(12) 및 VSA(16)를 갖는 시험 시스템(100a)은, 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(111a)에 따라 스위칭 회로기구(112a)를 이용하여, 선행하는 응답 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)에 이어서 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 그들 각자의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들에 분배함으로써 다수의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들을 순차적으로 시험할 수 있다. (예를 들어, 스위칭 회로기구(112a)에 의한 다음의 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)의 분배는 미리 정해진 시간 간격에 이어서 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(111a) 에 의해 시작될 수 있다. 대안적으로, 각각의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)는 스위칭 회로기구(112a)에 의한 다음의 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)의 분배를 시작하기 위해 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(111a)을 활성화하도록 상태 또는 확인(acknowledgement) 신호를 송신할 수 있다.)
생성된 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)은 이어서 VSA(16)에 의해 분석용 UL 패킷 시퀀스(117)로 조합되도록, 하나 이상의 사용자 또는 프로그래밍된 제어 입력(111b)에 따라, 추가적인 스위칭 회로기구(116a)에 의해 스위칭될 것이다. 각각의 DL+UL 패킷 지속 기간이 5 ms 이상인 상태에서, 4개의 DUT 각각으로부터의 하나의 DL+UL 패킷 시퀀스를 시험하기 위한 최소 총 시험 시간은 4*5ms, 즉 20 ms일 것이다. (그러나, 당업자에 의해 쉽게 인식되는 바와 같이, 실제 실시에서는, 신호 지연시간으로 인해, 예상되는 총 시험 시간은 20 ms보다 다소 더 클 가능성이 있을 것이다.)
도 3을 참조하면, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, 단일 VSG(12) 및 VSA(16)(도시되지 않음)를 갖는 시험 시스템(100b)은 신호 스플리터(112b)(예를 들어, 저항성 전력 분할기)를 이용하여 각각의 단일 DL 패킷(13)을 캡처하여 4개의 유사한 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 생성하도록 설계될 수 있다. 이들 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)은 다수의(예를 들어, 4개의) 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들을 시작하기 위해 다수의(예를 들어, 4개의) DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들에 동시에 송신될 것이다. 따라서, 동시의 DL 데이터 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 각각의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)에 제공함으로써 동시의 UL 데이터 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들을 시작하는 것이 가능할 수 있다.
그러나, 도 3a, 도 3b 및 도 3c를 참조하면, DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들은 상이한 초기화 및 동기화 특성들을 가질 수 있다. 따라서, 도 3a에 도시된 바와 같이, DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들에 송신된 병렬의 유사한 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들의 제1 세트는 UL 패킷(115a, 115c)들의 서브세트만을 시작할 수 있다. 도 3b에 도시된 바와 같이, 병렬의 유사한 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들의 제2 세트는 여전히 UL 패킷(115a, 115c, 115c)들의 서브세트만을 시작할 수 있다. 그러나, 도 3c에 도시된 바와 같이, 일단 모든 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들이 초기화되고 동기화되면, 모든 후속의 병렬의 유사한 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들이 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 전체 세트를 시작할 것이다. 따라서, 초기화 및 동기화에 이어, 도 3에 도시된 바와 같이, 단일 VSG(12)에 의해 제공되어 신호 스플리터(112b)에 의해 유사한 동시의 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들로서 분배되는 단일 DL 패킷(13)이, 다수의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들에 의해 수신될 때, 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 대응하는 세트를 시작할 것이다.
이러한 방식으로 분할된 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 송신하는 것은 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들이 어떻게 시작될 수 있는지에 대한 일례일 뿐이라는 것이 당업자에 의해 쉽게 인식될 것이다. 본 청구된 발명의 목적을 위해 더 중요한 것은 동시의 응답 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 시작이다.
도 4를 참조하면, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, 단일 VSA(16)를 갖는 시험 시스템(100c)을 이용하여, 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들은 단일 데이터 패킷의 총 지속 기간의 시간 내에, 각각의 데이터 패킷의 일부분만이 순차적으로 실제로 스위칭되도록 스위칭 회로(116a)에 의해 멀티플렉싱될 수 있다. 따라서, 예로서, 1 ms의 스위칭 샘플링 간격으로, 각각의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)의 샘플링된 1-ms 부분(115aa, 115ba, 115ca, 115da)들이 스위치(116a)에 의해 순차적으로 전송될 것이고, 이에 의해 최초의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 샘플링된 1-ms 부분(115aa, 115ba, 115ca, 115da)들의 시퀀스를 포함하는 인터리브된 패킷(117)을 생성한다.
이러한 신호 스위칭 방법이 배타적이기보다는 예시적인 것임이 당업자에 의해 쉽게 이해될 것이다. 예를 들어, 위에서 논의된 바와 같이, 1x4 스위치가 사용될 수 있거나, 한 쌍의 1x2 스위치가 사용될 수 있거나, 프로그래밍가능한 감쇠기가 사용될 수 있는데, 여기서 원하는 신호 경로는 낮은 감쇠(예를 들어, 실질적으로 0의 임피던스)를 갖도록 프로그래밍되는 반면에 원하지 않는 신호 경로들은 높은 감쇠(즉, 원하는 신호 경로의 감쇠보다 실질적으로 더 큼)를 갖도록 프로그래밍되며, 이들 모두는 본 청구된 발명의 목적을 위해 유사한 결과들을 달성할 것이다.
VSA(16)는 시간-인터리브된 패킷(117)을 수신하고, 동기화를 통해(예를 들어, 하나 이상의 제어 입력(11b)을 통해) 수신된 패킷(117)의 어느 부분(115aa, 115ba, 115ca, 115da)이 어느 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)에 의해 기여된 것인지를 분별할 수 있다. 예를 들어, 전력의 측정은 일반적으로 패킷의 작은 부분(119a, 119b, 119c, 119d)들만이 측정될 것을 요구한다. UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 작은 부분(115aa, 115ba, 115ca, 115da)들을 인터리브함으로써, VSA(16)는 단일 5-ms 간격 내에 모든 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들의 전력 출력을 시험할 수 있을 것이다. 결과로서, 와이맥스의 경우에, 예를 들어, 최소 20 ms의 순차적 시험 시간은 이제는 5 ms로 4배만큼 감소될 수 있다. 전력 측정은 DUT 교정(calibration)의 주요 구성요소이고, 종종 더 긴 시험 절차들 중 하나이다. 따라서, 교정 시험의 그러한 주요 구성요소를 시간-인터리브된 캡처와 조합된 병렬 시험을 통해 75%만큼 삭감하는 것은 시험-시간 효율에 상당한 영향을 끼칠 수 있다. 전력에 더하여 또는 그 대신에, 다른 신호 파라미터들 또는 특성들이 본 청구된 발명에 따라 측정될 수 있다는 것이 당업자에 의해 쉽게 인식될 것이다. 바꾸어 말하면, 반드시 패킷 헤더에 관한 지식을 필요로 함이 없이 패킷의 일부분을 샘플링함으로써 다른 신호 파라미터들 또는 특성들, 예를 들어, 패킷 헤더에 관한 지식 없이 오류 벡터 크기(error vector magnitude, EVM)의 측정을 허용하는 IEEE 802.16e 표준에 따른 신호들과 같은 신호 스펙트럼 특성들 또는 신호 품질이 정량화될 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, 또한 단일 VSA(16)를 갖는 시험 시스템(100d)을 이용하여, 출력 전력이 일정하게 유지되는 동시의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들의 전력을 측정하는 것에 더하여, 패킷 지속 기간의 시간 간격 T1+T2 내에 전력이 변할 때에 전력이 또한 측정될 수 있다. 스위치(116a)는 8개의 부분(115aa, 115ab, 115ba, 115bb, 115ca, 115cb, 115da, 115db)들을 캡처하기 위해 (예를 들어, 하나 이상의 제어 입력(111b)을 통하여) 동기화될 수 있다. 시간 간격(T1, T2)들 동안, 8개의 스위칭된 캡처 간격(각각, t1 -4 및 t5 -8)들이 있다. T1의 캡처 간격(t1 -4)들 동안, 각각의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)이 한 번 샘플링되어, VSA(16)용 제1 데이터 패킷(117a)으로 조합, 예를 들어, 멀티플렉싱하기 위한 제1의 각자의 패킷 샘플(115aa, 115ba, 115ca, 115da)을 생성한다. T2의 캡처 간격(t5-8)들 동안, 각각의 UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)이 다시 한 번 샘플링되어, VSA(16)용 제2 데이터 패킷(117b)으로 조합, 예를 들어, 멀티플렉싱하기 위한 제2의 각자의 패킷 샘플(115ab, 115bb, 115cb, 115db)을 생성한다. 따라서, VSA(16)는 도 4의 시스템(100c)을 이용하여 4개의 샘플들과 동일한 시간 간격 내에 분석을 위한 8개의 샘플들을 수신한다.
스펙트럼 전력 밀도 마스크들은 분석을 하고, 일부 경우에 하나 초과의 패킷에 걸쳐 평균 전력을 측정하기 위해 완전한 패킷 샘플을 필요로 할 수 있다. 필요한 샘플들의 개수가 완전한 캡처 및 멀티플렉싱을 위해 최소의 간격보다 더 큰 것을 요구할 경우, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, 동시의 UL 패킷들의 제1 세트로부터 샘플들의 서브세트가 캡처될 수 있고, 이때 동시의 UL 패킷들의 후속의 세트들로부터 추가적인 샘플들의 서브세트들이 캡처될 수 있다. 병렬 동기화 및 인터리브의 조합은 여전히 상당한 시간 절감을 제공할 것이다.
도 6을 참조하면, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, UL 패킷들이 동시에 송신되고, 이에 의해 패킷들의 타이밍이 알려지므로, 상이한 DUT들에 의해 시작된 UL 패킷들은 시간에 있어서 서로 오프셋될 수 있다. 오프셋된 패킷들 사이의 상대적인 타이밍이 알려지는 한, 위에 논의된 바와 같이 병렬 인터리브된 시험이 행해질 수 있다. 예를 들어, 와이맥스의 경우, 전체 5 ms 시간 슬롯(DL 및 UL 패킷들에 대하여 각각 2.5 ms를 가정함)이 UL 패킷 송신을 위해 이용되어, 이에 의해 2.5*5ms=7.5ms (즉, 2.5 시간 슬롯)에 4개의 전체 패킷들을 캡처할 기회를 가능하게 할 수 있다.
이는, 예를 들어, 시간 슬롯의 절반만큼 4개의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들 중 2개에 대해 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 오프셋시켜서, 예를 들어 2개의 DUT(14a, 14b)들은 5-ms 시간 슬롯의 제1의 2.5 ms에 그들의 DL 패킷(113a, 113b)들을 수신하고, 다른 2개의 DUT(14c, 14d)들은 5-ms 시간 슬롯의 제2의 2.5 ms에 그들의 DL 패킷(113c, 113d)들을 수신하도록 하는 것에 의해 달성될 수 있다. 따라서, 제1의 대응하는 UL 패킷(115a, 115b)들은 5-ms 시간 슬롯의 제2의 2.5 ms에 시작되고, 제2의 대응하는 UL 패킷(115c, 115d)들은 후속의 5-ms 시간 슬롯의 제1의 2.5 ms에 시작된다.
VSA(16)(도시되지 않음)는 제1 DUT(14a)로부터 UL 패킷(115a)을 캡처한다. 제1 UL 패킷(115a, 115b)들과 동시에, 제2 DL 패킷(113c, 113d)들이 송신되고, 이에 의해 제2 UL 패킷(115c, 115d)들을 시작한다. 그리고 나서, 제3 DUT(14c)로부터의 제3 UL 패킷(115c)이 VSA(16)에 의해 캡처된다. 결과로서, VSA(16)는 공전(idle) 시간 없이 UL 패킷들을 처리할 것이다. 제2 DUT(14b) 및 제4 DUT(14d)로부터 UL 패킷(115b, 115d)들을 캡처함으로써 프로세스가 반복되면, 모든 4개의 DUT(14a, 14b, 14c, 14d)들로부터 모든 4개의 2.5-ms UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들을 측정하기 위해 단지 2.5 시간 슬롯만이 요구된다. 유사하게, VSG(12)(도시되지 않음)는 공전 시간 없이 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d)들을 발행할 것이다. 따라서, VSG(12) 및 VSA(16) 둘 모두의 최대 활용이 달성되어, 이에 의해 각각의 5-ms 시간 간격 동안 더 많은 데이터가 수집되게 할 수 있는데, 예를 들어, 5-ms 시간 간격마다 2-패킷 스펙트럼 마스크 측정을 허용할 수 있다.
당업자에 의해 쉽게 인식되는 바와 같이, 일부 DUT 들이 UL 패킷들을 송신할 것인 반면에 다른 DUT들이 DL 패킷들을 수신하고 있으므로 DUT들 사이에 어떤 최소 신호 격리가 요구될 것이다. 그러나, 당업자에 의해 또한 인식되는 바와 같이, VSG의 전력이 비교적 높은 한, 전통적인 차폐 박스(shield box) 등을 이용하여 충분한 격리(예를 들어, 60 db 초과)가 달성될 수 있다. 이는 송신되는 VSG 신호 레벨이 일반적으로 DUT들에 의해 송신되고 있는 UL 패킷들에 의해 야기된 임의의 결합된 신호들의 신호 레벨보다 실질적으로 더 클 것이므로 문제가 되지 않을 것이다. 또한, 그러한 결합된 신호들은 그러한 시스템들이 보상하도록 설계되어 있는 대역내 간섭(in-band interference)으로서 나타날 것이다. 대안적으로, VGA 송신 주파수는 거짓 패킷 검출을 방지하기 위해 2개의 데이터 세트들 사이에 약간 시프트될 수 있다. 이러한 후자의 접근법은 둘 이상의 차폐 박스들을 요구할 수 있지만, 완전히 동기화된 접근법은 하나의 차폐 박스만을 요구할 것이고, 이때 동일한 차폐 박스 내에 4개의 DUT들이 배치된다. 패킷 오류율(packet-error-rate, PER)을 시험하는 것은 DUT들을 시간 오프셋이라기보다는 동시에 동작시키도록 DUT들의 재동기화를 요구할 것이지만, 그러한 재동기화를 위한 임의의 추가적인 시간은 위에 논의된 바와 같이 패킷 캡처 시간을 효과적으로 2등분하는 것과 비교하여 최소일 것이다.
당업자에 의해 쉽게 인식되는 바와 같이, 위에 논의된 바와 같은 시험 방법은 4개의 DUT들의 2개의 세트의 시험으로 확장될 수 있다. 이는 분석 속도가 충분히 높다면 처리량을 효과적으로 더 배가할 것이다.
도 7을 참조하면, 본 청구된 발명의 다른 실시예에 따라, DUT(14a, 14b, 14c, 14d)의 드라이버들은 시작 신호(예를 들어, 들어오는 DL 패킷(113a, 113b, 113c, 113d) 또는 프로그래밍된 시작 시간)에 관하여 시간에 있어서의 지정된 오프셋을 이용하여 송신하도록 프로그래밍될 수 있다. 결과로서, UL 패킷(115a, 115b, 115c, 115d)들이 설명된 바와 같이 시간에 있어서 오프셋되어 쌍으로 나타나므로, VSA(16)는 다시 충분히 이용될 것이다. 예를 들어, VSA(16)는 그들의 DL 패킷(113a, 113b)들을 뒤따르도록 프로그래밍된 UL 패킷(115a, 115b)들의 제1 쌍을 수신할 것이며, 2개의 다른 DUT(14c, 14d)들은 프로그래밍된 지연을 가지고서, 예를 들어, 그들의 대응하는 DL 패킷(113c, 113d)들의 끝 후에 2.5 ms만큼의 지연을 가지고서 UL 패킷(115c, 115d)들을 생성할 것이다. 당업자에게는 다른 조합들이 쉽게 명백해질 것이다.
본 발명의 구조 및 동작 방법에서의 다양한 다른 수정들 및 변경들이 본 발명의 범주 및 사상에서 벗어남이 없이 당업자에게 명백할 것이다. 특정의 바람직한 실시예들과 관련하여 발명이 설명되었지만, 청구된 발명이 그러한 특정한 실시예들로 부당하게 제한되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다. 이하의 특허청구범위가 본 발명의 범주를 한정하고 이 특허청구범위 및 그의 균등물들의 범주 내의 구조들 및 방법들이 특허청구범위에 의해 커버되는 것이 의도된다.

Claims (20)

  1. 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버(data packet transceiver)를 함께 시험하기 위한 방법으로서,
    다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 생성하는 단계;
    상기 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배하는 단계;
    미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들 중 각자의 데이터 패킷 트랜스시버에 의해, 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각을 수신하고, 이에 응답하여 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신하는 단계;
    시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 조합하는 단계; 및
    상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정하는 단계를 포함하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 분배하는 단계는 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 스위칭하는 단계를 포함하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 분배하는 단계는 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 디멀티플레싱(demultiplexing)하는 단계를 포함하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 분배하는 단계는 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 선택된 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 감쇠시키는 단계를 포함하는 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 분배하는 단계는 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들을 동시에 제공하는 단계를 포함하는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 조합하는 단계는 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 스위칭하는 단계를 포함하는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 조합하는 단계는 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 멀티플렉싱하는 단계를 포함하는 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 조합하는 단계는 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위해 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 선택적으로 감쇠시키는 단계를 포함하는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 측정하는 단계는 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 일부분의 전력 레벨을 측정하는 단계를 포함하는 방법.
  10. 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 시스템을 포함하는 장치로서,
    다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하는 신호 생성기 회로기구(circuitry);
    상기 신호 생성기 회로기구에 결합되고, 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들을 제공함으로써 상기 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스 및 하나 이상의 분배 제어 신호들에 응답하는 신호 분배 회로기구 - 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답함 - ;
    시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공함으로써, 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분 및 하나 이상의 조합 제어 신호들에 응답하는 신호 조합 회로기구; 및
    상기 신호 조합 회로기구에 결합되고, 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정함으로써 상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스 및 하나 이상의 측정 제어 신호들에 응답하는 신호 측정 회로기구를 포함하는 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 신호 생성기 회로기구는 벡터 신호 생성기를 포함하는 장치.
  12. 제10항에 있어서, 상기 신호 분배 회로기구는 신호 스위칭 회로기구를 포함하는 장치.
  13. 제10항에 있어서, 상기 신호 분배 회로기구는 신호 디멀티플렉싱 회로기구를 포함하는 장치.
  14. 제10항에 있어서, 상기 신호 분배 회로기구는 신호 감쇠 회로기구를 포함하는 장치.
  15. 제10항에 있어서, 상기 신호 분배 회로기구는 신호 분할 회로기구를 포함하는 장치.
  16. 제10항에 있어서, 상기 신호 조합 회로기구는 신호 스위칭 회로기구를 포함하는 장치.
  17. 제10항에 있어서, 상기 신호 조합 회로기구는 신호 멀티플렉싱 회로기구를 포함하는 장치.
  18. 제10항에 있어서, 상기 신호 조합 회로기구는 신호 감쇠 회로기구를 포함하는 장치.
  19. 제10항에 있어서, 상기 신호 측정 회로기구는 벡터 신호 분석기를 포함하는 장치.
  20. 미리 정해진 시간 간격 동안 다수의 데이터 패킷 트랜스시버들을 함께 시험하기 위한 시스템을 포함하는 장치로서,
    다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 생성하기 위한 신호 생성기 수단;
    상기 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 복수의 데이터 패킷 트랜스시버들에 의해 수신되는 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들로서 분배함으로써 하나 이상의 분배 제어 신호들에 응답하는 신호 분배기 수단 - 데이터 패킷 트랜스시버들 각각은 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스를 송신함으로써, 미리 정해진 시간 간격의 적어도 각자의 부분 동안, 상기 복수의 대응하는 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 중 각자의 다운링크 데이터 패킷들의 시퀀스에 응답함 - ;
    시험 데이터 패킷들의 시퀀스를 제공하기 위하여 상기 복수의 대응하는 업링크 데이터 패킷들의 시퀀스들 각각의 적어도 일부분을 조합함으로써 하나 이상의 조합 제어 신호들에 응답하는 신호 조합기 수단; 및
    상기 시험 데이터 패킷들의 시퀀스의 적어도 하나의 신호 파라미터를 측정함으로써 하나 이상의 측정 제어 신호들에 응답하는 신호 측정 수단을 포함하는 장치.
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