TWI493901B - 用於多重輸入多重輸出系統之數位通訊測試系統 - Google Patents

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Description

用於多重輸入多重輸出系統之數位通訊測試系統 參考相關申請案
本案請求美國臨時專利申請案第61/116,510號，申請日2008年11月20日，名稱「用於多重輸入多重輸出(MIMO)系統之數位通訊測試系統」之優先權及權益，該前文係以引用方式併入此處。
發明領域
本發明係關於數位通訊測試系統，特別係關於用於測試多重輸入多重輸出(「MIMO」)系統之測試系統。
 發明背景
使用習知測試設備來測試有多個頻道之MIMO系統具有多種挑戰。一般而言，要求多個測試儀器且必須於頻率及時間上同步化來產生及分析待測元件(DUT)之MIMO信號。此種系統之一個實例為由加州珊尼維爾亮點公司(LitePoint Corporation)設計、製造與銷售的「IQnxn」測試系統。此種系統使用多個向量信號分析器(VSA)及向量信號產生器(VSG)。但此種系統之一項缺點為多個VSA及VSG之額外成本經常使得使用此種系統用於製造而其中要求多個此種系統之成本高得令人卻步。如此，為了減低製造測試期間的成本，已經發展出允許使用單一VSA及單一VSG測試MIMO DUT之解決辦法。此種解決辦法聚焦於使用單一VSA測試DUT發射器。其實例包括複合誤差向量幅度(EVM)分析或交換式EVM分析。複合EVM測試系統及方法之一個實例參考美國專利申請案第11/533,971號，申請日2006年9月21日，名稱「使用單一向量信號分析器同時測試多個正交分頻多工發射器之裝置及方法」(其揭示以引用方式併入此處)。
另外，可進行切換式EVM測試，其中經由於不同DUT發射器間藉切換輸入至VSA可個自捕捉各個發射器之輸出信號。所得捕捉得之資料經組合及分析彷彿所捕捉之資料係來自同一個封包。
此種測試技術確實允許測試DUT之MIMO功能，DUT根據由美國電機及電子工程師學會(IEEE)建立的規格或許仍不完整。但此種測試確實係經由發射多道資料流通過不同的DUT發射器而以挑戰的作業模式來操作DUT。兩項測試技術用於測試MIMO系統皆可能遭逢限制，換言之當測試採用空間分集擴充的DUT發射器時，切換式EVM測試可能成問題。同理，用於測量透過多個發射器發射的單一資料流操作以及發射器隔離時複合EVM測試可能成問題。進一步，兩項測試技術皆要求所發射的資料封包中之資料為已知。
也缺少一種可用於使用MIMO信號波形測試於MIMO DUT中之多個接收器之有效測試技術。存在有此項限制的原因在於使用單一VSG，只允許產生一道資料流，因此同一道資料流將呈現給全部DUT接收器。一個選項係經由使用單一資料流，藉由比較該信號係由單一接收器接收時之靈敏度與該信號係由全部DUT接收器接收時之靈敏度之差，證實DUT之最大比組合(MRC)能力來測試MIMO操作。(如技藝界眾所周知，MRC測試組合得自多個空間分集分支之信號，各個分支信號乘以與信號幅度成比例之一加權因數，亦即較強的信號被進一步放大，而較弱的信號被衰減)。如此，測試DUT處理並聯接收資料流的能力，以及由此改良DUT之靈敏度(理論值改良為10*log10N，此處N為DUT接收器數目)。但為了執行實際MRC測試，通常須比較多個接收器輸入信號間之靈敏度點來證實真正MIMO效能。
此種靈敏度點的測定通常係長串的處理，要求比單一封包誤差率(PER)測試更長的時間，但已經發展出某些改良式測試技術，諸如美國專利申請案第10/908,946號，申請日2005年6月1日，名稱「用於測量資料封包信號接收器之靈敏度之方法」(該項揭示係以引用方式併入此處)，及美國專利申請案第11/161,692號，申請日2005年8月12日，名稱「用於測量由信號產生器發射之信號之多個參數之方法」(該項揭示係以引用方式併入此處)。進一步，使用單一資料流之MRC測試可能無法測試DUT之真正MIMO能力，原因在於無法執行DUT之真正MIMO多串流處理，如此無法證實於最高資料率時的效能。此種MRC測試通常只能確保MRC信號處理可發揮功能，以及確保並無可能妨礙以多資料流進行MIMO操作之不同DUT接收器信號路徑間的耦合。如此，通常假設可於DUT內部進行信號處理(如同假設已經藉晶片製造商進行測試)。
常用的一項替代技術包括「黃金單元」，亦即所製造的晶圓已經經過完整且經常經過人工測試作為測試系統之一部分來確保於最大資料率的操作。但此項作為製造解決之道並不理想原因在於準確度、可信度及重複性經常有顯著變化。
直到晚近，此等製造測試上的限制已經或多或少變成可接受，原因在於典型使用上所需的資料率係遠低於MIMO系統可運算的資料率。例如，當典型使用者接取網際網路時，資料率典型係限於來自於網際網路服務提供業者(ISP)的10每秒百萬位元(mbps)或以下。如此，能力高於100mbps的MIMO系統無法完全發揮能力。如此，若系統無法完整發揮功能，例如系統於其最大資料率無法接收多道資料流，則使用者不可能發現10mbps之可用資料率容易透過單一資料流服務。
但新穎裝置及應用程式使用MIMO提供的更高頻寬。例如視訊流可產生大於100mbps之尖峰資料率，某些較新的無線資料儲存系統要求最高可能資料率俾便於最短可能時間執行系統資料的備份。
 發明概要
根據本案所請發明，提供一種用於測試多個待測元件(DUT)之數位通訊測試系統及方法，其中多組單一向量信號分析器(VSA)及單一向量信號產生器(VSG)可共同用來對並聯的一個或多個DUT進行誤差向量幅度(EVM)測量，包括複合切換式及多重輸入多重輸出(MIMO)EVM測量中之一者或多者。如此允許N對VSA及VSG可實質上同時測試有NxN個MIMO之N個DUT，原因在於單一VSA及VSG對可測試單一DUT，藉此允許比較只使用單一VSA與VSG集合可能達成的產出量，實質上增高測試產出量。
根據本案所請發明之一個實施例，一種用於測試多個待測元件(DUT)之數位通訊測試系統，包括：多個DUT電極來耦接至多個DUT，傳輸來自於該等多個DUT之多個DUT發射信號，及傳輸多個DUT接收信號至該等多個DUT；多個信號組合及分割電路來耦接至多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)，其中該等多個信號組合及分割電路各自係自適應於對多個VSA中之個別一者組合該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，以及分割來自於該等多個VSG中之個別一者之信號而提供該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者；及耦接於該等多個DUT電極與該等多個信號組合及分割電路間之多個信號傳輸控制電路，以及藉提供下述來回應於一個或多個傳輸控制信號將該等多個DUT發射信號中之一個或多個選定信號由該等多個DUT電極中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者，及將該等多個DUT接收信號中之一者或多者由該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者傳輸至該等多個DUT電極中之一者或多者。
根據本案所請發明之另一個實施例，一種用於測試多個待測元件(DUT)之數位通訊測試系統，包括：多個DUT連接器裝置用於傳輸來自於多個DUT之多個DUT發射信號，以及傳輸多個DUT接收信號至該等多個DUT；多個信號組合器及分割器裝置，其各自係用於對多個向量信號分析器(VSA)中之個別一者組合該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，以及分割來自於該等多個向量信號產生器(VSG)中之個別一者之信號而提供該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者；及多個信號傳輸控制裝置用於藉提供下述來回應於一個或多個傳輸控制信號將該等多個DUT發射信號中之一個或多個選定信號由該等多個DUT電極中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者，及將該等多個DUT接收信號中之一者或多者由該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者傳輸至該等多個DUT電極中之一者或多者。
根據本案所請發明之另一個實施例，一種以多個分開的向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)協助測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包括：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；及接收多個控制信號，且回應於此，控制多個可控制式信號路徑之個別一者，使得該等多個可控制式信號路徑之第一部分各自具有較低阻抗來協助該等多個RF信號中之一者或多者的傳輸，以及該等多個可控制式信號路徑之第二部分各自具有較高阻抗來實質上阻止該等多個RF信號中之另一者或另多者之傳輸，其中根據該等多個控制信號，該等多個可控制式信號路徑協助下列情況中之一者或多者將該等多個RF信號中之第一多者實質上同時由該等多個DUT中之一者傳輸至該等多個VSA中之另一者，將該等多個RF信號中之第二多者由該等多個DUT中之另一者交替傳輸至該等多個VSA中之另一者，將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者分別由該等多個VSG中之至少第一者及第二者實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者，將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者分別由該等多個VSG中之至少第一者及第二者交替傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者，及將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個DUT中之一者實質上同時傳輸至該等多個VSG中之至少第一者及第二者。
根據本案所請發明之另一個實施例，一種以多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包括：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；準備多個用於RF信號測試之DUT；透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以多個VSA中之一者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收第一多個RF信號，及使用該等多個VSA中之另一者由該等多個DUT中之另一者接收第二多個RF信號中之其它者；透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以該等多個DUT中之至少第一者及第二者各自由多個VSG中之至少第一者及第二者分別至少部分同時接收多個RF信號中之至少第一者及第二者，及以該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之另一者，分別由多個VSG中之至少第一者及第二者接收多個RF信號中之至少第一者及第二者。
根據本案所請發明之另一個實施例，一種以多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包括：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；準備多個用於RF信號測試之DUT；透過多個可控制式信號路徑之其它部分，以該等多個VSA接收下列中之一者或多者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第一者及第二者，及由該等多個DUT中之另一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第三者及第四者；及透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以該等多個DUT由該等多個VSG至少部分同時接收該等多個RF信號中之至少第五者及第六者，及以該等多個DUT中之其它者由該等多個VSG接收多個RF信號中之至少第五者及第六者。
圖式簡單說明
第1圖為根據本案所請發明之一個實施例，使用一測試介面進行2x2測試系統之概念操作之功能方塊圖。
第2圖為根據本案所請發明之一個實施例，一種用於3x3測試系統之測試介面之功能方塊圖。
第3圖為根據本案所請發明之另一個實施例，用於測試之2x2測試介面之功能方塊圖。
第4圖為根據本案所請發明之另一個實施例第4圖之用於測試之2x2介面之功能方塊圖。
第5圖為使用第3圖及第4圖之介面進行測試之流程圖。
第6圖為根據本案所請發明之另一個實施例，用於MIMO測試之2x2測試介面之功能方塊圖。
第7圖為使用第6圖之介面進行測試之流程圖。
第8圖為資料流程圖顯示根據本案所請發明之其它實施例切換式EVM及真正發射的EVM資料流之資料流程圖。
第9圖為第3圖及第4圖之2x2測試介面之一替代實施例之功能方塊圖。
第10圖為第3圖及第4圖之2x2測試介面之另一個替代實施例之功能方塊圖。
 較佳實施例之詳細說明
後文詳細說明部分為參考附圖說明本案所請發明之具體實施例。此等舉例說明意圖為說明性而非囿限本發明之範圍。若干實施例以充分細節說明來允許熟諳技藝人士實施本發明，但須瞭解可未悖離本發明之精髓及範圍以若干變化來實施其它實施例。
全文揭示中若不存在有與上下文相反的清晰指示，須瞭解所述個別電路元件之數目可為單數或多數。例如，「電路」及「環路」等詞包括單一組件或多個組件，該等組件為主動元件及/或被動元件且連結或以其它方式共同耦合(例如成為一個或多個積體電路晶片)來提供所述功能。此外，「信號」一詞係指一或多電流、一或多電壓、或資料信號。附圖中，類似元件或相關元件將具有相同的文字、數字或文數元件符號。此外，雖然已經使用離散電子電路(較佳係呈一個或多個積體電路晶片形式)討論實施例上下文，但此種電路之任何部分功能皆另外可使用一個或多個經適當規劃之處理器實施，取決於欲處理之信號頻率或資料率。
參考第1圖，根據本案所請發明之另一個實施例，用於概念上舉例說明一測試之操作之一測試系統10提供用於兩個DUT 12a、12b之測試，兩個DUT各自係藉個別電腦14a、14b透過一個或多個個別控制信號15a、15b控制。DUT 12a、12b係耦接至一測試系統16，該測試系統16包括兩個VSA 20aa、20ba，兩個信號組合電路18a、18b及兩個VSG 20ag、20bg。組合電路18a、18b較佳為可將任一輸入信號送至輸出端之組合電路，或可將二輸入信號組合且送至輸出端(例如用於複合EVM測試)之組合電路，諸如眾所周知之雙向信號功率組合器(可由其相關聯之VSA及VSG所共享)。另外，組合電路18a、18b可為可將一選定輸入信號送至輸出端(例如用於切換式EVM測試)之信號開關。此種測試系統16允許使用單一VSA測試MIMO發射器。VSA/VSG組合20aa/20ag、20ba/20bg較佳透過同步化介面21(例如共享的已觸發的局部振盪器來源)較佳於時間上及頻率上彼此同步化。電腦14a、14b透過信號介面22a、22b、22c及路由器22而彼此通訊及與測試系統16通訊。另外，一個單一電腦可用於控制兩個DUT 12a、12b。
容後詳述，第一DUT 12a可提供其發射信號13ata、13atb二者至第一信號組合器18a，而第二DUT 12b提供其發射信號13bta、13btb至第二信號組合器18b。如此將允許使用用於以單一VSA測試MIMO發射器之已知方法來並聯測試DUT 12a、12b二者之發射器。此外，第一VSG 20ag可對各個DUT 12a、12b中之一個接收器提供DUT接收信號13ara、13bra，而第二VSG 20bg可對另一個DUT接收器提供DUT接收信號13arb、13brb。如前述，所示信號連結僅為概念上。但根據本案所請發明，此等信號連結可以多種方式實施，容後詳述。
參考第2圖，用於三個DUT 112a、112b、112c及三個應聯VSA/VSG總成110a、110b、110c間提供3x3介面之測試介面100可使用三個信號組合器102a、102b、102c及18個單極雙投信號開關104aa、104ab、104ac、104ba、104bb、104bc、104ca、104cb、104cc、106aa、106ab、106ac、106ba、106bb、106bc、106ca、106cb、106cc(如圖所示實質上互連)實施。此外，九個信號衰減器108aa、108ab、108ac、108ba、108bb、108bc、108ca、108cb、108cc可用來放大或控制例如平衡由DUT 112a、112b、112c發射的或將由DUT 112a、112b、112c接收的信號113aa、113ab、113ac、113ba、113bb、113bc、113ca、113cb、113cc之幅度。此外，此等衰減器108可透過一個或多個衰減控制信號109aa、109ab、109ac、109ba、109bb、109bc、109ca、109cb、109cc規劃。
根據眾所周知之原理，信號組合器102可為雙向，經由將於其單一信號埠提供之一信號分割(於幅度上)成於其多個信號埠之實質上相等信號，同時將於其多個信號埠之信號組合(於幅度上)成於其單一信號埠之一複合信號。例如，第一信號組合器102a將一輸入信號111ab分割成實質上相等的(幅度上)輸出信號103aa、103ab、103ac。相反地，信號組合器102a也將多個輸入信號103aa、103ab、103ac組合成一複合輸出信號111ab。
進一步，根據眾所周知之原理，信號開關104、106根據其個別開關控制信號105aa、105ab、105ac、105ba、105bb、105bc、105ca、105cb、105cc、107aa、107ab、107ac、107ba、107bb、107bc、107ca、107cb、107cc交替提供信號組合器102與DUT 112之個別信號埠間之閉合信號連結。舉例言之，第一組開關104aa、106aa可提供兩個閉合信號路徑116a、116b中之一者。同理，第二組信號開關104ab、106ab組合另一組信號開關104bb、106bb可交替提供第一及第二信號組合器102a、102b與第一及第二DUT 112a、112b之多個信號埠間之四個閉合信號路徑116c、116d、116i、116j。
信號開關104、106係耦接於信號組合器102與DUT 112之多個埠間，因此提供開放信號路徑與閉合信號路徑116之多個組合，使得各個DUT 112之各個個別射頻(RF)信號埠係與一單一VSA 110aa、110ba、110ca直接通訊。例如，各個個別信號113aa、113ab、113ac根據其相關聯開關104aa、106aa、104ab、106ab、104ac、106ac之妥當設定，透過閉合信號路徑116a、116c、116e通訊，且於信號組合器102a組合而提供一複合信號111ab，該信號透過信號路由器(例如開關)110ab而被導引至相同VSA 110aa作為輸入信號111aa。如此允許複合EVM測試。另外，經由將相關聯的開關中之二者切換至其另一個位置，藉此開放信號路徑，使 得只有一個發射器係連結至該功率組合器，經由一次閉合一個信號路徑可進行切換式EVM測試。同理，對DUT 112b使用其VSA 110ba經由其相關聯信號開關104ba、106ba、104bb、106bb、104bc、106bc之適當設定，以及對第三DUT 112c使用其VSA 110ca經由其相關聯信號開關104ca、106ca、104cb、106cb、104cc、106cc之適當設定，可進行複合的切換式EVM測試。
此外，信號開關104、106(以及測試系統開關110ab、110bb、110cb)的適當設定確保各個VSG 110ag、110bg、110cg可通訊一信號至各個DUT 112a、112b、112c之RF信號埠中之至少一者。例如，第一VSG 110ag可透過相關聯之信號開關104aa、106aa通訊其信號111ag至第一DUT 112a，透過相關聯信號開關104ab、106bb通訊至第二DUT 112b，及透過相關聯信號開關104ac、106cb通訊至第三DUT 112c。於其餘VSG 110bg、110cg與DUT 112a、112b、112c間也可提供類似的連結。
如熟諳技藝人士容易瞭解，具有二投交互連結之成對信號開關104aa、106aa、104ba、106ba、104ca、106ca係實施為單極雙投開關用以與其餘開關104、106符合一致，但也可以單極單投開關替換，或另外，作為可規劃信號衰減器，對其「開路」及「閉路」信號路徑分別係等於規劃較高信號衰減及較低信號衰減。此外進一步容易瞭解使用信號開關與具有相對應數目之信號組合埠之信號組合器的額外組合，可實施超出此處舉例說明之3x3實施例之額外實施 例，以及以2x2實施例實施(容後詳述)。
參考第3圖，根據本案所請發明之另一個實施例，可配置2x2測試介面來使用已知之單一VSA測量技術進行MIMO發射測試。如圖所示，當測試DUT 112a、112b時，兩個個別VSA 110aa、110ba係各自獨立操作。第一VSA 110aa使用透過閉合信號路徑116a、116c提供且藉信號組合器102a組合之第一DUT 112a之二發射信號113aa/115aa、113ab/115ab進行複合EVM測試。第二VSA 110ba係進行切換式EVM測試，所提供之來自第二DUT 112b之第一發射信號113ba/115ba透過閉合信號路徑116g提供至信號組合器102b，隨後相關聯之信號開關106ba、106bb經規劃來切換及連結，藉此開路第一信號路徑116g而閉合第二信號路徑116i用於測試第二發射信號113bb/115bb。(此等信號之元件符號例如113aa/115aa指示依據是否使用衰減器108而定，主旨信號可為DUT信號113aa或已衰減的信號115aa)。
參考第4圖，根據本案所請發明之另一個實施例，開關104、106、110ab、110bb(第2圖)可經規劃用於測試DUT 112a、112b之接收操作。如用於接收器測試容易瞭解，一個VSG信號可提供予多個DUT，原因在於VSG與DUT間通常需要有限的交互作用。例如，一個或多個資料封包發送至一DUT，回應於此，該DUT將回應發射一確認信號(ACK)。如此，事先單純檢測確認信號，功率組合器102可執行來記錄確認資料封包之個別計數。此類型測試之若干實例可參考美國專利申請案第11/279,778號，申請日2006 年4月14日，名稱「測試期間無線收發器與主機處理器間極少交互作用於用於測試埋設式無線收發器之方法」(其揭示係以引用方式併入此處)，及美國專利申請案第11/839,814號，申請日2007年8月16日，名稱「用於測試埋設式無線收發器之系統」(其揭示係以引用方式併入此處)。也查詢控制此種DUT之電腦(圖中未顯示)已經接收多少個資料封包，瞭解多少個資料封包有待發送，計算PER。
舉例言之，來自第一VSG 110ag之信號111ag/111ab透過其信號組合器102a、信號路徑116a、116d及相關聯之信號開關104aa、106aa、104ab、106bb提供予各個DUT 112a、112b之一個接收器。同理，由第二VSG 110bg所提供之信號111bg/111bb可透過其信號組合器102b、信號路徑116h、116j及相關聯之信號開關104ba、106ba、104bb、106ab而提供予DUT 112a、112b之其它接收器埠。如此允許各個VSG 110ag、110bg並列提供多個資料封包流中之一者，其可於時間上同步化，使得二資料封包流同時被發送為真正MIMO資料封包。經由發射來自VSG 110ag、110bg之不同資料封包流，可達成真正MIMO接收器功能之測試。此外，經由適當規劃VSG 110ag、110bg來產生表示不同相位之基頻信號，可產生VSG信號來仿真一真正MIMO信號頻道，使得產生的MIMO信號仿真普通DUT將看到的信號，亦即於不同相位到達該二DUT接收器埠之二資料封包流之組合。
另外，透過組合器102、信號路徑116及信號開關104、106可利用的此種延伸互連，來自VSG 110ag、110bg之信號 111ag/111ab、111bg/111bb可以交替方式傳輸至DUT 112a、112b。舉例言之，於第一時間間隔，來自於第一VSG 110ag之信號111ag/111ab可透過其信號組合器102a、信號路徑116a及相關聯之信號開關104aa、106aa提供予第一DUT 112a之一個接收器，而來自於第二VSG 110bg之信號111bg/111bb可透過其信號組合器102b、信號路徑116j及相關聯之信號開關104bb、106ab提供予第一DUT 112a之另一個接收器埠。隨後，於第二時間間隔，來自於第一VSG 110ag之信號111ag/111ab可透過其信號組合器102a、信號路徑116d及相關聯之信號開關104ab、106bb提供予第二DUT 112b之一個接收器，而來自於第二VSG 110bg之信號111bg/111bb可透過其信號組合器102b、信號路徑116h及相關聯之信號開關104ba、106ba提供予第二DUT 112b之另一個接收器埠。但須瞭解比較實質上同時傳輸二信號111ag/111ab、111bg/111bb由VSG 110ag、110bg至二DUT 112a、112b，如此將須較長時間來測試兩個DUT 112a、112b。
參考第5圖，根據本案所請發明之另一個實施例，如圖所示呈現前文對第3圖及第4圖討論之測試流程。於第一步驟202，準備DUT。於下一步驟204，各系統110分開執行發射測試。發射測試持續至於判定步驟206中判定全部測試皆已經完成。隨後，系統進入等候狀態208，其中已經完成其個別發射測試之全部系統等候直到全部其它系統準備進行接收器測試。於次一步驟210，執行接收器測試。此等接收 測試持續至判定步驟212判定全部測試皆已經完成。於大部分情況下，兩個DUT將於相同頻率且使用實質上類似之資料封包流操作之時被測試。如此，二DUT之測試時間實質上類似，藉此形成實質上並列之測試操作。
若干MIMO系統包括非對稱性配置，例如二發射器及三接收器，該種情況下前述系統將支援較少數資料封包流，各個接收器需要一個VSG。舉例言之，若系統為非對稱性，可發射二資料封包流而接收三資料封包流，則將需要三個VSG。另外，若三個接收器係並列操作，但只能處理至多二資料封包流，則只需兩個VSG，該種情況下，若使用三個VSG發射二資料封包流，則可能一個錯誤接收器未被檢測。換言之，若系統透過三個接收器只能處理二資料封包流，則各個接收器須隔離且分開測試來確保其完全可發揮功能，原因在於若二資料封包流供給二有功能的接收器，則DUT可通過該測試合格，但由於有一個無功能的接收器故並非完全有功能。可一次測試兩個接收器，任何未使用的接收器其輸入埠皆被適當中止，但需要較複雜的切換矩陣。至於另一個替代之道，個別接收器可測試RSSI(接收信號強度指示)，或一個接收器可接收一個資料封包流，同時其它接收器各自接收第二資料封包流。總而言之，根據本案所請發明，只要測試介面包括信號組合器及相關聯之信號開關的數目係等於發射器及接收器數目中之較高者，則對對稱性及非對稱性兩種MIMO系統實質上皆可進行任一種測試組合。
參考第6圖，根據本案所請發明之另一個實施例，真正MIMO發射EVM測試可經由並列使用全部VSA執行來捕捉由一個DUT所發射的資料封包。例如於2x2系統中，第一VSA 110aa透過其信號組合器102a、信號路徑116a及相關聯之信號開關104aa、106aa而由第一DUT 112a接收含資料封包流113aa/115aa之一信號111aa/111ab。同理，第二VSA 110ba透過其信號組合器102b、信號路徑116j及相關聯之信號開關104bb、106ab而由第一DUT 112a接收含資料封包流113ab/115ab之一信號111ba/111bb。於第一DUT 112a測試完成後，經由變更信號開關連結，使得第一VSA 110aa係透過其信號組合器102a、信號路徑116d及相關聯之信號開關104ab、106bb接收資料封包流113bb/115bb，及第二VSA 110ba係透過其信號組合器102b、信號路徑116g及相關聯之信號開關104ba、106ba接收相同資料封包流113ba/115ba可測試第二DUT 112b。如此允許循序測試真正MIMO EVM。
參考第7圖，本測試流程係如圖顯示呈現。用於發射測試，DUT可並列操作但共享接取至測試系統。如此，於第一步驟302，兩個DUT準備測試。於次一步驟304，兩個DUT請求接取測試系統，隨後一個獲得接取及開始測試，而另一個維持於等候狀態直到測試系統變成再度可資利用。於次一步驟306，帶有接取的DUT進行其發射測試，隨後釋放出測試系統308。於次一步驟310，若要求更多發射測試，則DUT進入等候狀態304，暫停測試系統的可資利用。於兩個DUT皆已經完成其個別發測測試後，系統進入等候狀態 312，暫停接收測試的就緒。於次一步驟314，當就緒時，執行接收測試，若有所需執行額外接收測試316。另外，具有夠快速的信號開關104、106，可等候兩個系統變成就緒，隨後開始資料的捕捉，首先捕捉一個DUT 112a之資料，復置適當開關，然後捕捉另一個DUT 112b之資料(確認有用的資料捕捉有效作為信號交換，指示準備就緒切換至接收另一個DUT輸出信號)。
切換式EVM測試典型係經由使用同一個測試系統110捕捉多個連續的資料封包，但對各個資料封包選擇一不同DUT發射器進行。於資料封包捕捉後，資料封包經組合及分析。例如，於支援二發射器之系統中，捕捉兩個連續資料封包(得自各個DUT發射器各一個封包)。同理於支援三個發射器之系統中，將捕捉三個資料封包。比較此點與只捕捉一個資料封包測量真正MIMO EVM將獲得相似的結果。如前文討論，使用切換式EVM測試，允許於一系統中使用VSA及VSG之並列集合，並列測試多個DUT。對同時測試三個3x3 DUT之系統，三個VSA各自需捕捉三個資料封包(各個DUT發射器各一個封包)。由於系統可快速信號切換，對各個DUT可執行真正發射MIMO資料捕捉。若DUT係並列操作，亦即於相同頻率發射相同資料封包，但非必然於時間上同步化，則捕捉MIMO資料將實質上耗用如同進行切換式EVM的相同時間，且將傳輸等量資料。
參考第8圖，根據本案所請發明之另一個實施例，將可更明白瞭解切換式EVM測試技術與真正MIMO測試技術之比較。本圖上部指示切換式EVM測試辦法，而下部顯示真正MIMO測試辦法。於二實例中，各個DUT 112a、112b、112c於三個資料封包時間間隔P1、P2、P3期間發射其個別的資料封包113a、113b、113c。第一VSA 110aa分別於資料封包間隔P1、P2及P3期間捕捉第一發射器輸出信號113aa、第二發射器輸出信號113ab及第三發射器輸出信號113ac。如前文討論，係經由於資料封包113a、113b、113c間切換信號開關104、106達成。同時，並列地，第二VSA 110ba分別於資料封包間隔P1、P2及P3期間捕捉第一發射器輸出信號113ba、第二發射器輸出信號113bb及第三發射器輸出信號113bc。同理，也並列地，第三VSA 110ca分別於資料封包間隔P1、P2及P3期間捕捉第一發射器輸出信號113ca、第二發射器輸出信號113cb及第三發射器輸出信號113cc。於捕捉全部此等資料封包後，所捕捉的資料封包被傳輸至分析軟體用於處理。
於MIMO測試期間，於資料封包間隔P1、P2及P3期間，DUT 112a、112b、112c也發射其個別的資料封包113a、113b、113c。如前文討論，以適當控制信號開關104、106，第一VSA 110aa於三個資料封包P1、P2及P3期間捕捉三個DUT 112a、112b、112c之第一發射器輸出信號113aa、113ba、113ca。同理，第二110ba及第三110ca VSA於資料封包間隔P1、P2、P3期間分別捕捉DUT 112a、112b、112c之第二113ab、113bb、113cb及第三113ac、113bc、113cc發射器輸出信號。換言之，於第一資料封包間隔P1期間，第一VSA 110aa、第二VSA 110ba及第三VSA 110ca分別捕捉第一DUT 112a之第一發射器輸出信號113aa、第二發射器輸出信號113ba及第三發射器輸出信號113ac。同理，於第二資料封包間隔P2期間，第一VSA 110aa、第二VSA 110ba及第三VSA 110ca分別捕捉第二DUT 112b之第一113ba、第二113bb及第三113bc。進一步同理，於第三資料封包間隔P3期間，第一VSA 110aa、第二VSA 110ba及第三VSA 110ca分別捕捉第三DUT 112c之第一113ca、第二113cb及第三113cc。
然後於三個VSA 110aa、110ba、110ca所捕捉的資料封包可組合使得控制第一DUT 112a之分析軟體接收與第一DUT 112a相關聯之三個所捕捉的資料封包。同理，控制第二112b及第三112c DUT之分析軟體將分別接收與第二112b及第三112c DUT相關聯之資料封包。
參考第9圖，根據本案所請發明之另一個實施例，若只期望真正MIMO發射EVM測試，則可簡化信號開關之配置。例如，兩組104、106單極雙投開關可由單一組120單極單投開關置換，原因在於只需要交替開路及閉路單一路徑。用於接收器測試，全部開關120皆閉路，由於各個DUT 12a、12b接收來自於各個VSG 110ag、110bg之一信號，藉此允許真正並列接收器測試。用於發射器測試，上開關120aa、120ab為閉路及下開關120ba、120bb為開路用於測試第一DUT 12a，而用於測試第二DUT 12b，上開關120aa、120ab為開路及下開關120ba、120bb為閉路。方便瞭解此種配置可就信號組合器102a上的開關120及信號埠數目擴充來支援多於此種2x2系統。進一步須瞭解，替代開關，經由分別使用具有可規劃之較高及較低信號衰減之信號衰減器，信號路徑可被有效開路及閉路。
參考第10圖，根據本案所請發明之另一個實施例，對2x2系統，對最接近信號組合器102之信號路徑的控制可使用可規劃信號衰減器122及信號檢測器124實作。使用本實作，由於信號檢測器124(例如功率耦合電路)可檢測由DUT 12a、12b發射信號的存在，故可達成某種程度之自動控制。例如當檢測得作用狀態的發射信號的存在時，各個信號檢測器124aa、124ab、124ba、124bb可啟動例如宣告一檢測信號125aa、125ab、125ba、125bb指示此種發射信號的存在。控制器126也可透過一個或多個控制信號129，於電腦控制之下，監視此等檢測信號125aa、125ab、125ba、125bb，提供用於信號衰減器122之適當衰減器控制信號127。舉例言之，若第一信號檢測器124aa指示存在有發射信號，而其餘信號檢測器124ab、124ba、124bb未能檢測得任何發射信號，且期望隨後透過與該檢測得之信號相同路徑接收的資料封包係被傳輸至第一VSA 110aa用於測試，則控制器可透過其控制信號122aa規劃第一信號衰減器122aa用於低的或最小信號衰減，同時透過其控制信號127ab、127ba、127bb規劃其餘信號衰減器122ab、122ba、122bb用於較高的或最大的信號衰減。
根據本案所請發明之另一個實施例，前文討論之測試介面可用於支援同時於二頻帶操作之Wi-Fi MIMO裝置之測試，例如於2x2 MIMO配置於2.4十億赫茲(GHz)或更高及於2x2或更高的MIMO配置於5GHz同時操作。此等元件可循序測試，但此種測試並未確保元件可同時於兩個頻帶操作(例如由於串擾效應或由於頻道間耦合效應)。使用根據本案所請發明之一測試介面，允許此等元件以虛擬並列方式接受測試。
回頭參考第3圖，兩個DUT 112a、112b可視為單一DUT，第一DUT部分112a為2.4GHz頻道，及第二DUT部分112b為5GHz頻道。於VSA 110aa、110ba無法於間隔超過2GHz的兩個頻率同時操作之情況下，真正發射EVM測試可於2.4GHz頻帶進行，接著於5GHz頻帶進行類似測試。總而言之，可並列執行切換式複合EVM測試。同理，可執行接收器之單一資料流測試。此外，可使用虛擬鏈路測試(此處當接收一良好封包時，DUT送返一確認信號)可測試靈敏度，亦即非PER，藉此可對同時發射及接收操作測試靈敏度。當然若VSA 110aa、110ba及VSG 110ag、110bg可同時於間隔大於2GHz之頻率操作，則可避開此種限制。
可未悖離本發明之範圍及精髓，於本發明之操作結構及方法上之多種其它修改及變化對熟諳技藝人士顯然易明。雖然已經就特定較佳實施例說明本發明，但須瞭解所請求專利之發明不應不當地囿限於特定實施例。意圖如下申請專利範圍界定本發明之範圍及藉此涵蓋於此等申請專利範圍內之結構及方法及其相當物。
10．．．測試系統
12．．．待測元件、DUT
12a．．．發射器/接收器待測元件1發射器/接收器
12b．．．發射器/接收器待測元件2發射器/接收器
12a、12b．．．待測元件1-2、DUT1-2
13ata、13ara、13atb、13arb、13bra、13bta、13brb、13btb．．．發射信號
14a、14b．．．個人電腦、PC
15a、15b．．．控制信號
16．．．測試系統
18a、18b．．．信號組合電路
20aa、20ba．．．向量信號分析器、VSA
20ag、20bg．．．向量信號產生器、VSG
21．．．同步化介面
22．．．路由器
22a-c．．．信號介面
100．．．測試介面
102．．．信號組合器
102a、102b．．．信號組合電路
102c．．．信號組合電路
103aa、103ab、103ac、103ba．．．輸出信號
103bb、103bc、103ca、103cb、103cc．．．輸出信號
104、104aa、104ab、104ac、104ba．．．單極雙投信號開關
104bb、104bc、104ca、104cb、104cc．．．單極雙投信號開關
105、105aa、105ab、105ac、105ba．．．開關控制信號
105bb、105bc、105ca、105cb、105cc．．．開關控制信號
106、106aa、106ab、106ac、106ba．．．單極雙投信號開關
106bb、106bc、106ca、106cb、106cc．．．單極雙投信號開關
107aa、107ab、107ac、107ba．．．開關控制信號
107bb、107bc、107ca、107cb、107cc．．．開關控制信號
108、108aa、108ab、108ac、108ba．．．信號衰減器
108bb、108bc、108ca、108cb、108cc．．．信號衰減器
109aa、109ab、109ac、109ba．．．衰減控制信號
109bb、109bc、109ca、109cb、109cc．．．衰減控制信號
110、110a．．．並列VSA/VSG總成
110a、110ag．．．向量信號產生器、VSG
110aa、110ba．．．向量信號分析器、VSA
110ab．．．測試系統開關
110b、110c．．．並列VSA/VSG總成
110bb、110cb．．．測試系統開關
110bg、110cg．．．向量信號產生器、VSG
110ca．．．向量信號分析器、VSA
111aa、111ab、111ag、111ba．．．複合輸出信號
111bb、111bg、111ca、111cb、111cg．．．複合輸出信號
112．．．待測元件、DUT
112a．．．待測元件1、DUT1
112b．．．待測元件2、DUT2
112c．．．待測元件3、DUT3
113/115．．．資料封包流
113a、113b、113c．．．資料封包
113aa、113ab、113ac、113ba．．．資料封包流
113bb、113bc、113ca、113cb、113cc．．．資料封包流
115aa、115ab、115ac、115ba．．．資料封包流
115bb、115bc、115ca、115cb、115cc．．．資料封包流
116、116a-j．．．閉路信號路徑
116i-r．．．閉路信號路徑
120、120aa、120ab、120ba、120bb．．．開關
122、122aa、122ab、122ba、122bb．．．可規劃信號衰減器
124、124、124aa、124ab、124ba、124bb．．．信號檢測器
125aa、125ab、125ba、125bb．．．檢測信號
126．．．控制器
127aa、ab、ba、bb．．．衰減器控制信號
129．．．控制信號
202-212．．．步驟
202a．．．準備DUT1
202b．．．準備DUT2
204a．．．執行發射器測試項目
204b．．．執行發射器測試項目
206a．．．更多發射器測試
206b．．．更多發射器測試
208．．．接收器測試待機
210．．．執行接收器測試項目
212．．．更多接收器測試
300．．．流程圖
302-316．．．步驟
302a．．．準備DUT1
302b．．．準備DUT2
304a、304b．．．測試器自由狀態
306a、306b．．．執行發射器測試項目
308a、308b．．．釋放測試器
310a、310b．．．更多發射器測試
312．．．接收器測試待機
314．．．執行接收器測試項目
316．．．更多接收器測試
P1、P2、P3．．．資料封包間隔
第1圖為根據本案所請發明之一個實施例，使用一測試介面進行2x2測試系統之概念操作之功能方塊圖。
第2圖為根據本案所請發明之一個實施例，一種用於3x3測試系統之測試介面之功能方塊圖。
第3圖為根據本案所請發明之另一個實施例，用於測試之2x2測試介面之功能方塊圖。
第4圖為根據本案所請發明之另一個實施例第4圖之用於測試之2x2介面之功能方塊圖。
第5圖為使用第3圖及第4圖之介面進行測試之流程圖。
第6圖為根據本案所請發明之另一個實施例，用於MIMO測試之2x2測試介面之功能方塊圖。
第7圖為使用第6圖之介面進行測試之流程圖。
第8圖為資料流程圖顯示根據本案所請發明之其它實施例切換式EVM及真正發射的EVM資料流之資料流程圖。
第9圖為第3圖及第4圖之2x2測試介面之一替代實施例之功能方塊圖。
第10圖為第3圖及第4圖之2x2測試介面之另一個替代實施例之功能方塊圖。
10 ．．．測試系統
12a ．．．發射器/接收器待測元件1 發射器/接收器
12b ．．．發射器/接收器待測元件2 發射器/接收器
13ata、13ara、13atb、13arb、13bra、13bta、13brb、13btb ．．．發射信號
14a-b ．．．個人電腦、PC
15a-b ．．．控制信號
16 ．．．測試系統
18a-b ．．．信號組合電路
20aa、20ba ．．．向量信號分析器、VSA
20ag、20bg ．．．向量信號產生器、VSG
21 ．．．同步化介面
22 ．．．路由器
22a-c ．．．信號介面

Claims (23)

  1. 一種包括用於測試多個待測元件(DUT)之數位通訊測試系統之裝置，包含：多個DUT電極來耦接至多個DUT，傳輸來自於該等多個DUT之多個DUT發射信號，及傳輸多個DUT接收信號至該等多個DUT；多個信號組合及分割電路來耦接至多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)，其中該等多個信號組合及分割電路各自係自適應於對多個VSA中之個別一者組合該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，以及分割來自於該等多個VSG中之個別一者之信號而提供該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者；及耦接於該等多個DUT電極與該等多個信號組合及分割電路間之多個信號傳輸控制電路，以及藉提供下述來回應於一個或多個傳輸控制信號將該等多個DUT發射信號中之一個或多個選定信號由該等多個DUT電極中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者，及將該等多個DUT接收信號中之一者或多者由該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者傳輸至該等多個DUT電極中之一者或多者。
  2. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該等多個信號傳輸控制電路係回應於該一個或多個傳輸控制信號而藉由將該等多個DUT發射信號中之一個或多個選定信號由該等多個DUT電極中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者來協助由該等多個VSA中之一者或多者對該等多個DUT中之一者或多者進行一項或多項誤差向量幅度(EVM)測量，包括複合、切換式、及多重輸入多重輸出(MIMO)EVM測量中之一者或多者。
  3. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該等多個信號傳輸控制電路包含多個信號切換電路，其係回應於該一個或多個傳輸控制信號藉由於該等多個DUT電極中之一個或多個選定者與該等多個信號組合及分割電路中之一個或多個選定者間提供一個或多個閉路信號連結來傳輸該等多個DUT發射信號及多個DUT接收信號中之一個或多個選定者。
  4. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該等多個信號傳輸控制電路包含多個信號衰減電路，其係回應於該一個或多個傳輸控制信號藉由對該等多個DUT電路中之個別者與該等多個信號組合及分割電路中之個別者間之多個信號路徑，提供以該等多個信號路徑中之一者或多者具有個別較高的信號衰減而該等多個信號路徑中之其餘者具有個別較低的信號衰減來傳輸該等多個DUT發射信號及多個DUT接收信號中之一個或多個選定者。
  5. 如申請專利範圍第1項之裝置，進一步包含耦接至該等多個DUT電極及該等多個信號傳輸控制電路之信號檢測及控制電路，及其係藉由將檢測得之該等多個DUT發射信號中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者來回應於該等多個DUT發射信號中之一者或多者的檢測。
  6. 如申請專利範圍第5項之裝置，其中該信號檢測及控制電路包含：多個信號檢測器，其係藉由提供一個或多個信號檢測信號來回應於該等多個DUT發射信號中之一者或多者的檢測；及耦接至該等多個信號檢測器之控制電路，及其係藉由提供該一個或多個傳輸控制信號來回應於該一個或多個信號檢測信號。
  7. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中：該等多個DUT電極中之至少第一者及第二者之個別組群係自適應於耦接至該等多個DUT中之一個別者，由該等多個DUT中之該個別者傳輸該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者之個別組群，及將該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者之個別組群傳輸至該等多個DUT中之該個別者；及該等多個信號傳輸控制電路係藉由提供下列一者或多者來回應於一個或多個傳輸控制信號將該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者之個別組群中之至少一者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者，伴以同時傳輸該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，將該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者之個別組群中之至少一者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者，伴以互斥傳輸該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，將該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者之個別組群中之至少一者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之至少第一者及第二者，伴以同時將該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者各自傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之至少第一者及第二者之個別者，及將該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者由該等多個信號組合及分割電路之個別者傳輸至該等多個DUT電極中之至少第一者及第二者之個別組群中之一者或多者，伴以實質上同時傳輸該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者。
  8. 一種包括用於測試多個待測元件(DUT)之數位通訊測試系統之裝置，包含：多個DUT連接器裝置用於傳輸來自於多個DUT之多個DUT發射信號，以及傳輸多個DUT接收信號至該等多個DUT；多個信號組合器及分割器裝置，其各自係用於對多個向量信號分析器(VSA)中之個別一者組合該等多個DUT發射信號中之至少第一者及第二者，以及分割來自於該等多個向量信號產生器(VSG)中之個別一者之信號而提供該等多個DUT接收信號中之至少第一者及第二者；及多個信號傳輸控制裝置用於藉提供下述來回應於一個或多個傳輸控制信號將該等多個DUT發射信號中之一個或多個選定信號由該等多個DUT電極中之一者或多者傳輸至該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者，及將該等多個DUT接收信號中之一者或多者由該等多個信號組合及分割電路中之一者或多者傳輸至該等多個DUT電極中之一者或多者。
  9. 一種以多個分開的向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)協助測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包含：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；及接收多個控制信號，且回應於此，控制多個可控制式信號路徑之個別一者，使得該等多個可控制式信號路徑之第一部分各自具有較低阻抗來協助該等多個RF信號中之一者或多者的傳輸，以及該等多個可控制式信號路徑之第二部分各自具有較高阻抗來實質上阻止該等多個RF信號中之另一者或另多者之傳輸，其中根據該等多個控制信號，該等多個可控制式信號路徑協助下列情 況中之一者或多者將該等多個RF信號中之第一多者實質上同時由該等多個DUT中之一者傳輸至該等多個VSA中之另一者，將該等多個RF信號中之第二多者由該等多個DUT中之另一者交替傳輸至該等多個VSA中之另一者，將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者分別由該等多個VSG中之至少第一者及第二者實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者，將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者分別由該等多個VSG中之至少第一者及第二者交替傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者，及將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個DUT中之一者實質上同時傳輸至該等多個VSA中之至少第一者及第二者。
  10. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸，包含：提供多個雙向信號組合及分割電路用於耦接至該等多個VSA及VSG；及提供多個雙向信號傳導控制電路用於耦接於該等多個DUT與該等多個雙向信號組合及分割電路間。
  11. 如申請專利範圍第10項之方法，其中：該提供多個雙向信號傳導控制電路包含提供多個信號切換電路；及該提供多個控制信號且回應於此而控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者包含開路及閉路該等多個信號切換電路中之個別者。
  12. 如申請專利範圍第10項之方法，其中：該提供多個雙向信號傳導控制電路包含提供多個信號衰減電路，其各自提供選擇性較高及較低信號衰減；及該提供多個控制信號且回應於此而控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者包含將該等多個信號衰減電路中之個別者設定於該等較高及較低信號衰減中之一者。
  13. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該接收多個控制信號且回應於此控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者包含：接收該等多個控制信號之至少一第一態且回應於此控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助下列中之一者或多者將該等多個RF信號中之第一多者實質上同時由該等多個DUT中之一者傳輸至該等多個VSA中之一者，及將該等多個RF信號中之第二多者由該等多個DUT中之另一者交替傳輸至該等多個VSA中之另一者；接收該等多個控制信號之至少一第二態且回應於此控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助下列中之一者或多者將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個VSG中之至少第一者及第二者分別實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者，及將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個VSG中之至少第一者及第二者分別交替傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者；及接收該等多個控制信號之一第三態且回應於此，控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者俾協助將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者實質上同時由該等多個DUT中之一者傳輸至該等多個VSA中之至少第一者及第二者。
  14. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該接收多個控制信號且回應於此，控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助將該等多個RF信號中之第一多者由該等多個DUT中之一者實質上同時傳輸至該等多個VSA中之一者包含藉該等多個VSA中之該者複合EVM測試該等多個DUT中之該者。
  15. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該接收多個控制信號且回應於此，控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助將該等多個RF信號中之第二多者由該等多個DUT中之另一者交替傳輸至該等多個VSA中之另一者包含藉該等多個VSA中之該另一者切換式EVM測試該等多個DUT中之該另一者。
  16. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該接收多個控制信號且回應於此，控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個VSG中之至少第一者及第二者分別實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者包含經由協助實質上同時傳輸至少下列來仿真一真正MIMO頻道：將該等多個RF信號中之第一者由該等多個VSG中之該第一者實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者；及將該等多個RF信號中之第二者由該等多個VSG中之該第二者實質上同時傳輸至該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者。
  17. 如申請專利範圍第9項之方法，其中該接收多個控制信號且回應於此，控制該等多個可控制式信號路徑中之個別者來協助將該等多個RF信號中之至少第一者及第二者由該等多個DUT中之一者實質上同時傳輸至該等多個VSA中之至少第一者及第二者包含藉由實質上同時傳輸至少下列來協助真正MIMO發射EVM測試：由該等多個DUT中之該者將該等多個RF信號中之第一者實質上同時傳輸至該等多個VSA中之第一者；及由該等多個DUT中之該者將該等多個RF信號中之第二者實質上同時傳輸至該等多個VSA中之第二者。
  18. 一種以多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包含：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；準備多個用於RF信號測試之DUT；透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以多個VSA中之一者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收第一多個RF信號，及使用該等多個VSA中之另一者由該等多個DUT中之另一者接收第二多個RF信號中之其它者；透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以該等多個DUT中之至少第一者及第二者各自由多個VSG中之至少第一者及第二者分別至少部分同時接收多個RF信號中之至少第一者及第二者，及以該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之另一者，分別由多個VSG中之至少第一者及第二者接收多個RF信號中之至少第一者及第二者。
  19. 如申請專利範圍第18項之方法，其中使用多個VSA中之一者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收第一多個RF信號包含藉該等多個VSA中之一者協助該等多個DUT中之該者之複合EVM測試。
  20. 如申請專利範圍第18項之方法，其中使用該等多個VSA中之另一者由該等多個DUT中之另一者交替接收第二多個RF信號中之一者包含藉該等多個VSA中之另一者協助該等多個DUT中之另一者之切換式EVM測試。
  21. 如申請專利範圍第18項之方法，其中使用該等多個DUT中之至少第一者及第二者各自分別由多個VSG中之至少第一者及第二者至少部分同時接收多個RF信號中之至少第一者及第二者，包含藉由實質上同時至少進行下列動作來仿真一真正MIMO頻道：使用該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者由該等多個VSG中之該第一者接收該等多個RF信號中之該第一者；及使用該等多個DUT中之至少第一者及第二者中之各者由該等多個VSG中之該第二者接收該等多個RF信號中之該第二者。
  22. 一種以多個向量信號分析器(VSA)及多個向量信號產生器(VSG)測試具有多重輸入多重輸出(MIMO)射頻(RF)信號發射與接收能力之多個待測元件(DUT)之方法，包含：提供多個可控制式信號路徑用於控制於多個DUT、多個VSA及多個VSG間之多個RF信號的傳輸；準備多個用於RF信號測試之DUT；透過多個可控制式信號路徑之其它部分，以該等多個VSA接收下列中之一者或多者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第一者及第二者，及由該等多個DUT中之另一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第三者及第四者；及透過該等多個可控制式信號路徑，接收下列中之一者或多者以該等多個DUT由該等多個VSG至少部分同時接收該等多個RF信號中之至少第五者及第六者，及以該等多個DUT中之其它者由該等多個VSG接收多個RF信號中之至少第五者及第六者。
  23. 如申請專利範圍第22項之方法，其中透過該等多個可控制式信號路徑之交替部分，使用該等多個VSA接收下列中之一者或多者由該等多個DUT中之一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第一者及第二者，及由該等多個DUT中之另一者實質上同時接收該等多個RF信號中之至少第三者及第四者，包含藉協助至少下列動作來協助真正MIMO發射EVM測試：透過該等多個可控制式信號路徑中之交替部分中之一者，實質上同時傳輸該等多個RF信號中之第一者由該等多個DUT中之該者至該等多個VSA中之第一者，及該等多個RF信號中之第二者由該等多個DUT中之該者至該等多個VSA中之第二者；及透過該等多個可控制式信號路徑中之交替部分中之另一者，實質上同時傳輸該等多個RF信號中之第三者由該等多個DUT中之另一者至該等多個VSA中之第一者，及該等多個RF信號中之第四者由該等多個DUT中之另一者至該等多個VSA中之第二者。
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