KR101504502B1 - 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 하부가 사각기둥형인 몸체의 하단에 결합된 캡의 앞쪽에 형성된 개구부 앞에 셔터를 설치하여 셔터를 개폐함에 따라 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드와 전기적으로 접속되는 접속판을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 해서 접속판을 새 접속판으로 용이하게 교환하도록 하기 위한 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치에 관한 것으로,
하부가 사각기둥형인 몸체(100);
상기 몸체(100)의 앞면 양단 하부에 내측이 개구되도록 설치된 가이드(110);
양측 단부가 상기 가이드(110)의 개구된 부분에 끼워져 오르내리는 셔터(150);
사각형이고 일 측면이 부분적으로 돌출되며, 돌출된 부분을 제외한 상면이 상기 몸체(100)의 하면에 결합되는 단자판(120); 및
사각형이고 상기 단자판(120)의 하면에 결합되되, 앞쪽이 상하로 개구되고 앞면에 개구부가 형성되어 상기 셔터(150)를 오르내림에 따라 접속판(130)을 상기 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 하는 캡(140);
을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치{Apparatus for flexible printed circuit board test}

본 발명은 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치에 관한 것으로, 특히, 하부가 사각기둥형인 몸체의 하단에 결합된 캡의 앞쪽에 형성된 개구부 앞에 셔터를 설치하여 셔터를 개폐함에 따라 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드(Outer Lead Bonding pad)와 전기적으로 접속되는 접속판을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 해서 접속판을 새 접속판으로 용이하게 교환하도록 하기 위한 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치에 관한 것이다.

공개특허공보 제10-2008-0034560호(공개일자 2008년04월22일) 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치는,

휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서,

검사FPCB의 FPCB커넥터와 결합하는 소켓이 부착된 FPCB검사지그;

상기 소켓과 결합하는 검사FPCB가 놓이는 FPCB거치대:

상기 FPCB거치대가 놓이며, 시계 또는 반시계 방향으로 회전하는 인덱스테이블;

상기 검사가 끝난 검사FPCB를 상기 FPCB거치대로부터 인출하는 인출기;

를 포함하여 이루어진다.

그러나 이와 같은 종래의 기술에 따른 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치에 있어서는 FPCB검사지그에 부착된 소켓은 매번 새로운 검사FPCB를 검사할 때마다 해당 검사FPCB의 FPCB커넥터와 결합하기 때문에 장기간 사용 시 FPCB커넥터와 결합되는 부분이 마모되어 사용못하게 되는 경우가 발생한다.

따라서 이와 같이 FPCB검사지그에 부착된 소켓이 마모되어 사용못하게 되는 경우 FPCB검사지그에 부착된 소켓을 새 소켓으로 용이하게 교환할 수 있도록 하는 것이 좋다.

본 발명은 전술한 과제를 해결하기 위하여 안출한 것으로, 하부가 사각기둥형인 몸체의 하단에 결합된 캡의 앞쪽에 형성된 개구부 앞에 셔터를 설치하여 셔터를 개폐함에 따라 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드와 전기적으로 접속되는 접속판을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 해서 접속판을 새 접속판으로 용이하게 교환하도록 하기 위한 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여,

본 발명의 일 형태에 따르면,

하부가 사각기둥형인 몸체(100);

상기 몸체(100)의 앞면 양단 하부에 내측이 개구되도록 설치된 가이드(110);

양측 단부가 상기 가이드(110)의 개구된 부분에 끼워져 오르내리는 셔터(150);

사각형이고 일 측면이 부분적으로 돌출되며, 돌출된 부분을 제외한 상면이 상기 몸체(100)의 하면에 결합되는 단자판(120); 및

사각형이고 상기 단자판(120)의 하면에 결합되되, 앞쪽이 상하로 개구되고 앞면에 개구부가 형성되어 상기 셔터(150)를 오르내림에 따라 접속판(130)을 상기 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 하는 캡(140);

을 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 셔터(150)의 양측 단부는 계단 모양으로 단차를 두고 형성된 것을 특징으로 한다.

상기 단자판(120)은 인쇄회로기판으로 이루어진 것을 특징으로 한다.

본 발명은, 하부가 사각기둥형인 몸체(100)의 하단에 결합된 캡(140)의 앞쪽에 형성된 개구부 앞에 셔터(150)를 설치하여 셔터(150)를 개폐함에 따라 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드와 전기적으로 접속되는 접속판(130)을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 하기 때문에 접속판(130)을 새 접속판으로 용이하게 교환할 수 있게 되는 효과가 있다.

도 1은 본 발명에 따른 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치의 일 실시예를 나타낸 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 사시도의 분해 사시도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 따른 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치의 일 실시예를 나타낸 사시도로, 몸체(100), 가이드(110), 단자판(120), 접속판(130), 캡(140) 및 셔터(150)로 구성된다.

이와 같이 구성된 본 발명을 도 2를 참조하여 상세히 보면 다음과 같다.

도 1 및 도 2에 있어서, 먼저 몸체(100)는 하부가 사각기둥형으로 이루어지고 상부가 상하 이송부(도면 중에 도시되지 않음)의 하부에 결합된다. 즉, 몸체(100)는 아래에 놓여 있는 연성회로기판(도면 중에 도시되지 않음)을 테스트하기 위해 상하 이송부의 구동에 따라 아래로 이송된다.

이와 같은 연성회로기판 테스트 과정에 대하여 좀 더 상세히 보면 다음과 같다.

먼저 몸체(100)가 상하 이송부의 구동에 의해 아래로 이송됨에 따라 도체인 접속판(130)에 테스트 대상인 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드가 전기적으로 접속된다.

다음 OLB패드로부터 연성회로기판의 패터닝된 회로를 시험함에 따라 출력되는 신호가 접속판(130) 및 단자판(120)을 통해 별도의 시험장치(도면 중에 도시되지 않음)로 제공된다.

이어 시험장치는 OLB패드로부터 출력되는 신호를 기초로 연성회로기판의 테스트 결과를 도출하여 문자, 광, 소리 등으로 나타내어 사용자가 알 수 있도록 한다.

가이드(110)는 몸체(100)의 앞면 양단 하부에 내측이 개구되도록 설치된다.

셔터(150)는 양측 단부가 가이드(110)의 개구된 부분에 끼워져 사용자의 조작에 따라 오르내린다. 이때 셔터(150)의 양측 단부는 계단 모양으로 단차를 두고 형성된 것이 바람직하다.

단자판(120)은 사각형이고 일 측면이 부분적으로 돌출되며, 돌출된 부분을 제외한 상면이 몸체(100)의 하면에 결합된다. 이때 단자판(120)은 인쇄회로기판으로 형성할 수 있다.

캡(140)은 사각형이고 단자판(120)의 하면에 결합되되, 앞쪽이 상하로 개구되고 앞면에 개구부가 형성되어 셔터(150)를 오르내림에 따라 사용자가 접속판(130)을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 한다.

이와 같은 본 발명은 하부가 사각기둥형인 몸체(100)의 하단에 결합된 캡(140)의 앞쪽에 형성된 개구부 앞에 셔터(150)를 설치하여 셔터(150)를 개폐함에 따라 연성회로기판의 말단에 구비된 OLB패드와 전기적으로 접속되는 접속판(130)을 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 하기 때문에 접속판(130)을 새 접속판으로 용이하게 교환할 수 있게 되는 장점이 있다.

이상에서 본 발명에 대한 기술사상을 첨부도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.

100: 몸체
110: 가이드
120: 단자판
130: 접속판
140: 캡
150: 셔터

Claims (3)

1. 하부가 사각기둥형인 몸체(100);
   상기 몸체(100)의 앞면 양단 하부에 내측이 개구되도록 설치된 가이드(110);
   양측 단부가 상기 가이드(110)의 개구된 부분에 끼워져 오르내리는 셔터(150);
   사각형이고 일 측면이 부분적으로 돌출되며, 돌출된 부분을 제외한 상면이 상기 몸체(100)의 하면에 결합되는 단자판(120); 및
   사각형이고 상기 단자판(120)의 하면에 결합되되, 앞쪽이 상하로 개구되고 앞면에 개구부가 형성되어 상기 셔터(150)를 오르내림에 따라 접속판(130)을 상기 개구부를 통해 밀어 넣거나 빼내도록 하는 캡(140);
   을 포함하는 것을 특징으로 하는 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치.
   
2. 청구항 1에 있어서,
   상기 셔터(150)의 양측 단부는 계단 모양으로 단차를 두고 형성된 것을 특징으로 하는 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치.
   
3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
   상기 단자판(120)은 인쇄회로기판으로 이루어진 것을 특징으로 하는 접속판 교환이 가능한 연성회로기판 테스트 장치.

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