KR101491206B1 - Method of manufacturing Emitter for Field Emission and Field Emission Device manufactured by using the same - Google Patents

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Abstract

전계방출용 에미터 제조방법을 제공한다. 전계방출용 에미터 제조방법은 기판을 준비하는 단계, 상기 기판 상에 금속 부착층을 형성하는 단계, 상기 금속 부착층 상에 탄소나노튜브 필름을 형성하는 단계 및 상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 기판을 열처리하여 상기 기판과 상기 탄소나노튜브 사이의 부착력을 증가시키는 단계를 포함한다. 따라서, 금속 부착층의 평균 입자 크기를 조절하여 탄소나노튜브 밀도를 조절하고, 상기 금속 부착층 상에 형성된 탄소나노튜브를 가열하여 기판과 탄소나노튜브 사이의 부착력을 향상시킬 수 있다.A method of manufacturing an emitter for field emission is provided. A method of manufacturing a field emission emitter includes the steps of preparing a substrate, forming a metal adhering layer on the substrate, forming a carbon nanotube film on the metal adhesion layer, And annealing the carbon nanotubes to increase the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes. Therefore, the carbon nanotube density can be controlled by controlling the average particle size of the metal adhesion layer, and the adhesion strength between the substrate and the carbon nanotubes can be improved by heating the carbon nanotubes formed on the metal adhesion layer.

Description

전계방출용 에미터 제조방법 및 이를 이용하여 제조된 전계방출장치{Method of manufacturing Emitter for Field Emission and Field Emission Device manufactured by using the same}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method of manufacturing an emitter for field emission and a field emission device using the field emission device,

본 발명은 전계방출용 에미터 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 탄소나노튜브를 이용한 전계방출용 에미터 제조방법 및 이를 이용하여 제조된 전계방출장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing an emitter for field emission, and more particularly, to a method for manufacturing a field emission emitter using carbon nanotubes and a field emission device manufactured using the method.

전계방출소자(Field Emission Device)는 진공에서의 전자 방출을 기반으로 한 광원으로서, 각종 조명분야 및 디스플레이 장치 분야에 있어서 차세대 광원으로 각광 받고 있다.Field Emission Device is a light source based on electron emission in a vacuum, and has been attracting attention as a next generation light source in various lighting fields and display devices.

일반적으로 전계방출소자는 강한 전계에 의해 전자를 방출하는 다수의 미세한 팁 또는 에미터가 형성된 전계방출 에미터 전극을 구비한다. 이러한 전계방출소자의 성능은 주로 전자를 방출할 수 있는 에미터 전극에 의해 결정된다.Generally, a field emission device includes a field emission emitter electrode having a plurality of fine tips or emitters for emitting electrons by a strong electric field. The performance of such a field emission device is mainly determined by the emitter electrode capable of emitting electrons.

최근에는 전계방출 특성을 향상시키기 위해 에미터로서 탄소나노튜브(Carbon Nanotube: CNT)가 사용되고 있다. 전자 전도성이 탁월한 탄소나노튜브를 포함한 카본계 물질은 전도성 및 전계 집중 효과가 우수하고, 일함수가 낮고 전계 방출 특성이 우수하여 저전압 구동이 용이하고, 대면적화가 가능하므로 전계방출소자(Field Emission Device)의 이상적인 전자 방출원으로 기대되고 있다.In recent years, carbon nanotubes (CNTs) have been used as emitters in order to improve the field emission characteristics. Carbon-based materials including carbon nanotubes having excellent electron conductivity are excellent in conductivity and field concentration effect, have low work function and excellent field emission characteristics, and can be easily driven at a low voltage and can be made large-sized. Therefore, a field emission device ) As an ideal electron emission source.

탄소나노튜브를 포함한 전자 방출원 제조 방법에는 캐소드 기판을 제작하는 방법으로 탄소나노튜브의 직접성장, 탄소나노튜브 페이스트, 용액기반의 스프레이법 또는 전기영동법 등을 사용하였다.In the method of manufacturing an electron emission source including carbon nanotubes, carbon nanotube direct growth, carbon nanotube paste, solution-based spraying, or electrophoresis are used as a method of manufacturing a cathode substrate.

종래에 탄소나노튜브 에미터를 형성할 때, 캐소드 기판과 탄소나노튜브와의 부착력이 강하지 못하여 탄소나노튜브의 밀도가 적고, 전기전도도가 떨어져 전자방출시 탄소나노튜브가 쉽게 기판에서 탈착되는 현상이 빈번히 발생하여 결국, 전기적인 아킹을 유발하게 되고 장시간 안정된 구동이 어렵게 되는 문제점이 있다. 또한, 탄소나노튜브가 사이의 거리가 너무 가까운 경우 전계간섭에 의한 상쇄효과가 발생하는 문제점이 있다.Conventionally, when the carbon nanotube emitter is formed, the adhesion force between the cathode substrate and the carbon nanotubes is not strong, so that the density of the carbon nanotubes is low and the electric conductivity is low, so that the carbon nanotubes are easily detached from the substrate upon electron emission So that electrical arcing is caused and eventually stable driving for a long time is difficult. Further, when the distance between the carbon nanotubes is too close, there is a problem that a canceling effect due to electric field interference occurs.

대한민국 공개특허 제10-2006-0024725호(2006.03.17.)는 탄소나노튜브가 부착된 표면에 전도성 폴리머를 도포하고, 상기 전도성 폴리머가 경화되도록 열처리하는 단계를 포함하는 전계방출 에미터 전극 제조방법을 제공하였다. 이 경우, 탄소나노튜브의 부착강도를 향상시킬 수 있으나, 탄소나노튜브의 밀도를 제어하지 못하는 문제점이 있다.Korean Patent Laid-Open No. 10-2006-0024725 (Mar. 17, 2006) discloses a method of manufacturing a field emission emitter electrode comprising a step of applying a conductive polymer on a surface to which carbon nanotubes are adhered and a heat treatment for curing the conductive polymer Lt; / RTI > In this case, the adhesion strength of the carbon nanotubes can be improved, but the density of the carbon nanotubes can not be controlled.

따라서, 탄소나노튜브의 밀도를 조절하고, 기판과 탄소나노튜브와의 부착력을 향상시킨 전계방출용 에미터를 제조할 필요성이 있다.Therefore, there is a need to manufacture a field emission emitter in which the density of carbon nanotubes is controlled and adhesion between the substrate and the carbon nanotubes is improved.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 탄소나노튜브의 밀도를 조절하고, 기판과 탄소나노튜브와의 부착력을 향상시킨 전계방출용 에미터를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a field emission emitter in which the density of carbon nanotubes is controlled and adhesion between a substrate and carbon nanotubes is improved.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 일 측면은 기판을 준비하는 단계; 상기 기판 상에 금속 부착층을 형성하는 단계; 상기 금속 부착층 상에 탄소나노튜브 필름을 형성하는 단계; 및 상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 기판을 열처리하여 상기 기판과 상기 탄소나노튜브 사이의 부착력을 증가시키는 단계를 포함하는 전계방출용 에미터 제조방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a semiconductor device, Forming a metal adhesion layer on the substrate; Forming a carbon nanotube film on the metal adhesion layer; And annealing the substrate on which the carbon nanotube film is formed to increase the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes.

상기 금속 부착층 상에 탄소나노튜브 필름을 형성하는 단계 이전에, 상기 금속 부착층을 열처리하여 상기 금속 부착층의 표면 자유에너지를 감소시키는 것을 특징으로 한다.The surface free energy of the metal adhesion layer is reduced by heat treating the metal adhesion layer before the step of forming the carbon nanotube film on the metal adhesion layer.

상기 금속 부착층을 열처리하는 것은 상기 금속 부착층의 평균 입자를 0.5㎛ 내지 50㎛의 크기로 성장시키는 것을 특징으로 한다.The heat treatment of the metal adhesion layer is characterized in that the average grain of the metal adhesion layer is grown to a size of 0.5 탆 to 50 탆.

상기 기판 상에 금속 부착층을 형성하는 단계는 상기 금속 부착층의 평균 입자 크기가 1nm 내지 10nm일 수 있다.The step of forming the metal adhesion layer on the substrate may have an average particle size of the metal adhesion layer of 1 nm to 10 nm.

상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 기판을 가열하는 단계는 진공 분위기 또는 환원 분위기에서 수행되는 것을 특징으로 한다.The step of heating the substrate on which the carbon nanotube film is formed is performed in a vacuum atmosphere or a reducing atmosphere.

상기 금속 부착층은 Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo 및 이들의 합금으로 구성된 군에서 선택된 어느 하나를 포함할 수 있다.The metal adhesion layer is formed from a group consisting of Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo, And may include any one selected.

상기 탄소나노튜브 필름은 탄소나노튜브 용액을 고분자 멤브레인에 진공 여과하여 제조된 것을 특징으로 한다.The carbon nanotube film is produced by vacuum-filtering a carbon nanotube solution onto a polymer membrane.

상기 기판과 상기 탄소나노튜브의 부착력을 증가시키는 단계 이후에, 상기 탄소나노튜브를 활성화하여 상기 탄소나노튜브를 상기 기판에 대하여 수직 정렬시키는 단계를 더 포함할 수 있다.And activating the carbon nanotubes to vertically align the carbon nanotubes with the substrate after the step of increasing the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes.

상기 기판과 상기 탄소나노튜브의 부착력을 증가시키는 단계 이후에, 상기 탄소나노튜브에 금속 산화물을 코팅하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include the step of coating the carbon nanotubes with a metal oxide after the step of increasing the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes.

상기 금속 산화물은 Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al 및 이들의 혼합물로 구성된 군에서 선택된 어느 하나의 산화물일 수 있다.The metal oxide may be one selected from the group consisting of Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al, May be any one selected from oxides.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 다른 측면은 기판 상에 금속 부착층을 형성한 후 열처리하여 입자 성장된 금속 부착층을 형성하고, 상기 입자 성장된 금속 부착층 상에 탄소나노튜브 필름을 형성한 후, 상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 기판을 열처리하고, 상기 탄소나노튜브를 활성화하여 수직 정렬시켜 제조된 에미터; 상기 에미터 하부에 형성된 베이스 기재; 상기 에미터 상부에 이격되어 형성된 타겟층; 및 상기 타겟층 상에 형성된 상부 기재를 포함하는 전계방출장치를 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of fabricating a carbon nanotube film, comprising: forming a metal adhesion layer on a substrate and then heat treating the metal adhesion layer to form a metal adhesion layer; An emitter formed by heat-treating the substrate on which the carbon nanotube film is formed, and vertically aligning the carbon nanotube by activating the carbon nanotube; A base substrate formed under the emitter; A target layer formed on the upper portion of the emitter; And an upper substrate formed on the target layer.

상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 금속 부착층을 기판과 탄소나노튜브 사이에 형성한 후 일정 온도에서 열처리함으로써, 에미터의 전기전도도 향상과 부착력을 증가시킬 수 있다.As described above, according to the present invention, the metal adhesion layer is formed between the substrate and the carbon nanotubes and then heat-treated at a certain temperature, thereby improving electrical conductivity and adhesion of the emitter.

또한, 금속 부착층의 평균 입자 크기(grain size)를 조절하여 탄소나노튜브 사이의 거리를 최적화시켜 탄소나노튜브들간의 전계간섭에 의한 전계방출효과의 감소를 최소화시키고 전계보강인자를 크게 향상시킬 수 있다.In addition, by adjusting the average grain size of the metal adhesion layer, the distance between the carbon nanotubes is optimized to minimize the decrease of the field emission effect due to the electric field interference between the carbon nanotubes, and the electric field enhancement factor can be greatly improved have.

다만, 본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the effects of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출 에미터 제조방법을 공정단계에 따라 나타낸 단면도들이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출용 에미터 제조방법에 의해 제조된 에미터의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출용 에미터 제조방법에 의해 제조된 에미터를 포함하는 전계방출장치의 단면도이다.
도 8은 제조예 1 및 비교예 1의 전계방출용 에미터의 SEM 이미지이다.
도 9는 제조예 1 및 비교예 1의 전계방출용 에미터의 전계 방출 J-E 커브를 나타낸 그래프이다.
도 10은 제조예 1의 전계방출용 에미터의 시간에 따른 전류밀도를 나타낸 그래프이다.
도 11 내지 도 13은 제조예들 1 내지 3에 따른 전계방출용 에미터의 제조방법 중 얻어진 SEM 이미지이다.
FIGS. 1 to 5 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.
6 is a schematic view of an emitter manufactured by a method for manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view of a field emission device including an emitter manufactured by the method for manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.
8 is an SEM image of the field emission emitters of Production Example 1 and Comparative Example 1. Fig.
9 is a graph showing the field emission JE curves of the field emission emitters of Production Example 1 and Comparative Example 1. Fig.
10 is a graph showing the current density of the emitter for field emission according to Production Example 1 with time.
11 to 13 are SEM images obtained in the manufacturing method of the field emission emitters according to Production Examples 1 to 3.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다. 도면들에 있어서, 층 및 영역들의 두께는 명확성을 기하기 위하여 과장된 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다. 또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments disclosed herein are provided so that the disclosure can be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the thicknesses of layers and regions are exaggerated for clarity. Like reference numerals designate like elements throughout the specification. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

실시예Example 1 One

도 1 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출 에미터 제조방법을 공정단계에 따라 나타낸 단면도들이다.FIGS. 1 to 5 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 먼저, 기판(100)을 준비한다. 상기 기판(100)은 에미터의 타입(type)에 따라 다양한 형태일 수 있다. 예를 들어, 포인트 타입의 에미터인 경우, 상기 기판(100)은 막대 또는 와이어 형태일 수 있다. 상기 기판(100)은 Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo 및 이들의 합금으로 구성된 군에서 선택된 어느 하나를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, first, a substrate 100 is prepared. The substrate 100 may have various shapes depending on the type of the emitter. For example, in the case of a point type emitter, the substrate 100 may be in the form of a rod or wire. The substrate 100 may be formed of a material selected from the group consisting of Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo, As shown in FIG.

도 2를 참조하면, 상기 기판(100) 상에 금속 부착층(200)을 형성한다. 상기 형성 직후(as deposition)의 금속 부착층(200)의 평균 입자 크기(grain size)는 나노미터 크기, 예컨대, 수 내지 수십 나노미터 크기일 수 있다. 예를 들어, 금속 부착층(200)의 평균 입자 크기(grain size)는 1nm 내지 10nm일 수 있다. 상기 금속 부착층(200)은 스퍼터링(sputtering), 열증착법(thermal evaporation), 전기영동법(electrophoresis), 페이스트 프린팅법(paste printing) 또는 전기도금법(electroplating)을 이용하여 형성할 수 있다. 상기 금속 부착층(200)은 Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo 및 이들의 합금으로 구성된 군에서 선택된 어느 하나를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, a metal adhesion layer 200 is formed on the substrate 100. The average grain size of the metal deposition layer 200 as deposited can be nanometer size, for example, several to several tens nanometers in size. For example, the average grain size of the metal adhesion layer 200 may be between 1 nm and 10 nm. The metal adhesion layer 200 may be formed using sputtering, thermal evaporation, electrophoresis, paste printing, or electroplating. The metal adhesion layer 200 may be formed of any one of Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo, And may include any one selected from the group consisting of.

도 3을 참조하면, 상기 금속 부착층(200)을 열처리하여 상기 금속 부착층(200)의 표면 자유에너지를 감소시킨다. 상기 금속 부착층(200)의 표면 자유에너지는 후술하는 공정단계에서 설명되는 상기 금속 부착층(200)에 형성되는 탄소나노튜브의 밀도에 영향을 미친다. Referring to FIG. 3, the metal adhesion layer 200 is heat-treated to reduce the surface free energy of the metal adhesion layer 200. The surface free energy of the metal adhesion layer 200 affects the density of the carbon nanotubes formed in the metal adhesion layer 200, which will be described later in the process steps.

상기 금속 부착층(200)의 평균 입자 크기가 작을수록 열역학적으로 매우 불안정한 바, 표면 자유에너지가 매우 크다. 따라서, 상기 열처리에 의해 상기 금속 부착층(200)의 입자를 성장시키면, 표면 자유에너지를 감소시킬 수 있다.The smaller the average particle size of the metal adhesion layer 200 is, the more thermodynamically unstable the surface free energy is. Therefore, when the particles of the metal deposition layer 200 are grown by the heat treatment, the surface free energy can be reduced.

상기 열처리에 의해 입자 성장된 금속 부착층(210)의 평균 입자는 마이크로 크기 일 예로서, 수 ㎛ 내지 수십 ㎛, 바람직하게는 0.5㎛ 내지 50㎛의 크기일 수 있다. 만일, 상기 입자 성장된 금속 부착층(210)의 평균 입자를 0.5㎛ 미만의 크기로 성장시킬 경우, 상기 금속 부착층의 표면 자유에너지가 여전히 커서, 후술하는 공정단계에서 설명되는 상기 금속 부착층에 형성되는 탄소나노튜브의 밀도가 높아져, 탄소나노튜브들간 전계간섭으로 인해 전계방출 효과가 저감될 수 있다. 또한, 만일, 상기 입자 성장된 금속 부착층(210)의 평균 입자를 50㎛ 초과한 크기로 성장시킬 경우, 금속 부착층의 표면 자유에너지가 너무 낮아, 상기 금속 부착층에 형성되는 탄소나노튜브의 밀도를 높이는 데 한계가 있을 수 있다.The average grain size of the metal deposition layer 210 grown by the heat treatment may be in the range of several micrometers to several tens micrometers, preferably 0.5 micrometers to 50 micrometers, for example. If the mean grain size of the grain growth metal adhesion layer 210 is grown to a size of less than 0.5 탆, the surface free energy of the metal adhesion layer is still high, The density of the carbon nanotubes formed increases, and the field emission effect can be reduced due to the electric field interference between the carbon nanotubes. If the average grain size of the grain-grown metal adhesion layer 210 is increased to a size exceeding 50 m, the surface free energy of the metal adhesion layer is too low to cause the carbon nanotubes There may be a limit to increasing the density.

상기 금속 부착층(200)의 열처리는 상기 금속 부착층(200)의 입자 성장(grain growth)이 일어나는 온도 이상으로 가열할 수 있다. 예를 들어, Ni 부착층을 300℃ 이상의 온도에서 열처리하면, 상기 Ni 부착층의 입자 성장을 일으킬 수 있다.The heat treatment of the metal adhesion layer 200 may be performed at a temperature higher than a temperature at which grain growth of the metal adhesion layer 200 occurs. For example, if the Ni adherent layer is heat-treated at a temperature of 300 ° C or higher, grain growth of the Ni adherent layer can be caused.

다만, 실시의 형태에 따라, 탄소나노튜브의 밀도를 조절할 필요가 없는 경우, 상기 금속 부착층(200)의 열처리 단계를 생략할 수 있다.However, according to the embodiment, if it is not necessary to control the density of the carbon nanotubes, the heat treatment step of the metal deposition layer 200 may be omitted.

도 4를 참조하면, 상기 입자 성장된 금속 부착층(210) 상에 탄소나노튜브 필름(300)을 형성한다. 그 다음에, 상기 탄소나노튜브 필름(300)이 형성된 기판(100)을 가열하여 상기 기판(100)과 상기 탄소나노튜브(310)의 부착력을 증가시킨다.Referring to FIG. 4, a carbon nanotube film 300 is formed on the grain-grown metal deposition layer 210. Next, the adhesion of the substrate 100 and the carbon nanotubes 310 is increased by heating the substrate 100 on which the carbon nanotube film 300 is formed.

일 예로서, 상기 탄소나노튜브 필름(300)은 탄소나노튜브 용액을 고분자 멤브레인에 진공 여과하여 제조될 수 있다. 구체적으로 설명하면, 고분자 멤브레인(membrane)을 준비한다. 상기 고분자 멤브레인은 다수의 기공(pore)을 포함할 수 있다. 상기 고분자 멤브레인은 MCE(mixed cellulose ester) 멤브레인 또는 PVDF(polyvinyl difluoride) 멤브레인일 수 있다. 그 다음에, 고분자 멤브레인 상에 탄소나노튜브 용액을 진공 여과시킨다. 상기 탄소나노튜브 용액은 탄소나노튜브 및 계면활성제를 포함할 수 있다. 상기 계면활성제는 소듐 도데실 설페이트(Sodium dodecyl sulfate, SDS)를 포함할 수 있다. 진공 여과된 탄소나노튜브에 잔류하는 SDS를 증류수 등을 이용하여 제거하거나 열처리를 통해 제거한다. 그 다음에, 상기 기판(100)으로부터 상기 고분자 멤브레인을 제거한다. 예를 들어, 아세톤 등을 이용하여 상기 고분자 멤브레인을 용해시켜 탄소나노튜브 필름(300)만 잔류시킬 수 있다.For example, the carbon nanotube film 300 may be prepared by vacuum-filtering a carbon nanotube solution onto a polymer membrane. Specifically, a polymer membrane is prepared. The polymer membrane may include a plurality of pores. The polymer membrane may be a mixed cellulose ester (MCE) membrane or a polyvinyl difluoride (PVDF) membrane. Next, the carbon nanotube solution is vacuum filtered on the polymer membrane. The carbon nanotube solution may include carbon nanotubes and a surfactant. The surfactant may comprise sodium dodecyl sulfate (SDS). The SDS remaining in the vacuum-filtered carbon nanotubes is removed by using distilled water or the like or removed by heat treatment. Then, the polymer membrane is removed from the substrate 100. For example, the polymer membrane may be dissolved using acetone or the like to leave only the carbon nanotube film 300.

상기 탄소나노튜브 필름(300)이 형성된 기판(100)을 열처리하는 단계는 공기 분위기, 진공 분위기 또는 수소 등의 환원 분위기에서 수행될 수 있다.The step of heat-treating the substrate 100 on which the carbon nanotube film 300 is formed may be performed in an air atmosphere, a vacuum atmosphere, or a reducing atmosphere such as hydrogen.

상기 탄소나노튜브 필름(300)이 형성된 기판(100)의 열처리는 상기 금속 부착층(200) 물질의 융점까지 가열할 수 있다. 다만, 공기 중에서는 일정 온도 이상으로 가열시 탄소나노튜브(310)가 손상될 수 있으므로, 약 650℃까지 제한될 수 있다. 한편, 진공 분위기 또는 환원 분위기에서는 탄소나노튜브(310)가 손상될 가능성이 작으므로 금속 부착층 물질의 융점 온도까지 가열할 수 있다. 따라서, 진공 분위기 또는 환원 분위기에서 열처리하는 경우, 공기 중에서 열처리하는 경우보다 더 높은 온도에서 가열할 수 있어서, 부착력을 보다 강화시킬 수 있는 장점이 있다.The heat treatment of the substrate 100 on which the carbon nanotube film 300 is formed may be heated to the melting point of the metal adhesion layer 200 material. However, since the carbon nanotubes 310 may be damaged when heated to a temperature higher than a certain temperature in the air, the temperature may be limited to about 650 ° C. On the other hand, since the possibility of damaging the carbon nanotubes 310 is small in a vacuum atmosphere or a reducing atmosphere, the metal adhesion layer material can be heated to the melting point temperature. Therefore, when the heat treatment is performed in a vacuum atmosphere or a reducing atmosphere, it is possible to heat at a higher temperature than in the case of heat treatment in air, which has the advantage that the adhesion force can be further strengthened.

또한, 상기 탄소나노튜브 필름(300)이 형성된 기판(100)의 열처리 온도를 높일수록 많은 탄소나노튜브(310)가 상기 금속 부착층에 결합되므로 최종적으로 기판 상에 남아있는 탄소나노튜브(310)의 수를 증가시킬 수 있다.As the temperature of the substrate 100 on which the carbon nanotube film 300 is formed is increased, the carbon nanotubes 310 are bonded to the metal deposition layer. As a result, Can be increased.

도 5를 참조하면, 상기 기판(100)과 상기 탄소나노튜브(310)의 부착력을 증가시키는 단계 이후에, 탄소나노튜브(310)를 활성화(activating)하여 상기 탄소나노튜브(310)를 수직 정렬시킨다. 예를 들어, 엘라스토머(elastomer)를 이용하여 탄소나노튜브(310)를 활성화하여 탄소나노튜브(310)를 수직 정렬시킬 수 있다.5, after the step of increasing the adhesion between the substrate 100 and the carbon nanotubes 310, the carbon nanotubes 310 are activated by activating the carbon nanotubes 310, . For example, the carbon nanotubes 310 may be vertically aligned by activating the carbon nanotubes 310 using an elastomer.

한편, 상기 탄소나노튜브(310)에 금속산화물 코팅하는 단계(미도시)를 더 수행할 수 있다. 상기 코팅 방법은 종래의 다양한 방법으로 수행될 수 있다. 상기 금속산화물은 Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al 및 이들의 혼합물로 구성된 군에서 선택된 어느 하나의 산화물일 수 있다. 상기 탄소나노튜브(310)에 금속산화물 코팅을 수행함으로써 탄소나노튜브(310)를 산화성 분위기에서 저항력을 갖게 한다. 또한, 견고한 구조를 가져 탄소나노튜브들(310)이 전계방출 중에 쉽게 풀어지지 않게 하여 수명을 증가시킬 수 있다. Meanwhile, a step (not shown) of coating a metal oxide on the carbon nanotubes 310 may be further performed. The coating method can be carried out by various conventional methods. The metal oxide may be one selected from the group consisting of Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al, May be any one selected from oxides. The carbon nanotubes 310 are coated with a metal oxide to provide the carbon nanotubes 310 with resistance in an oxidizing atmosphere. In addition, since the carbon nanotubes 310 have a solid structure, the carbon nanotubes 310 can not be easily released during the field emission, and the lifetime can be increased.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출용 에미터 제조방법에 의해 제조된 에미터의 개략도이다. 금속 부착층이 코팅된 금속 와이어(110)의 상부에 탄소나노튜브(310)가 형성되어 있다.6 is a schematic view of an emitter manufactured by a method for manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention. The carbon nanotube 310 is formed on the metal wire 110 coated with the metal adhesion layer.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출용 에미터 제조방법에 의해 제조된 에미터를 포함하는 전계방출장치의 단면도이다.7 is a cross-sectional view of a field emission device including an emitter manufactured by the method for manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 에미터(400)는 기판(100) 상에 금속 부착층을 형성한 후 열처리하여 입자 성장된 금속 부착층(210)을 형성하고, 상기 입자 성장된 금속 부착층(210) 상에 탄소나노튜브 필름을 형성한 후, 상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 기판을 열처리하고, 상기 탄소나노튜브(310)를 활성화하여 수직 정렬시켜 제조된 것일 수 있다.Referring to FIG. 7, the emitter 400 is formed by forming a metal adhesion layer on a substrate 100 and then heat-treating the metal adhesion layer 210 to form a grain-grown metal adhesion layer 210, The carbon nanotube film 310 may be formed by vertically aligning the carbon nanotube film 310 by activating the substrate.

베이스 기재(500)는 상기 에미터(400) 하부에 형성되어 있다. 상기 베이스 기재(500)는 캐소드 기판의 역할을 하기 위해 전도성 물질을 포함할 수 있다.The base substrate 500 is formed under the emitter 400. The base substrate 500 may include a conductive material to serve as a cathode substrate.

타겟층(600)은 상기 에미터(400) 상부에 이격되어 형성되어 있다. 상기 타겟층(600)은 가시광선을 방출시키기 위하여 형광물질을 포함하거나, X선을 방출시키기 위하여 금속물질을 포함할 수 있다. 상기 금속물질은 W, Cu, Mo, Co, Cr, Te, Ag 및 이들의 합금으로 구성된 군에서 선택된 어느 하나일 수 있다.The target layer 600 is formed on the upper portion of the emitter 400. The target layer 600 may include a fluorescent material to emit visible light or may include a metallic material to emit X-rays. The metal material may be any one selected from the group consisting of W, Cu, Mo, Co, Cr, Te, Ag, and alloys thereof.

상부 기재(700)는 상기 타겟층(600) 상에 형성되어 있다. 상기 상부 기재(700)는 애노드 기판의 역할을 하기 위해 전도성 물질을 포함할 수 있다.The upper substrate 700 is formed on the target layer 600. The upper substrate 700 may include a conductive material to serve as an anode substrate.

또한, 상기 에미터(400) 및 상기 타겟층(600) 사이에 지지대 역할을 하는 스페이서(미도시)가 더 형성될 수 있다.
Further, a spacer (not shown) may be further formed between the emitter 400 and the target layer 600 to serve as a support.

제조예Manufacturing example 1 One

본 발명의 일 실시예에 따른 전계방출용 에미터를 제조하였다.Thereby manufacturing a field emission emitter according to an embodiment of the present invention.

먼저, 직경이 1.24mm인 Cu 와이어에 Ni을 전기도금하여 Ni 코팅된 Cu 와이어를 형성하였다.First, Ni was electroplated on a Cu wire having a diameter of 1.24 mm to form a Ni-coated Cu wire.

한편, 5nm 내지 9nm의 직경을 가진 다중벽 탄소나노튜브(MWCNT)를 준비하였다. 상기 MWCNT 30mg을 1wt%의 소듐 도데실 설페이트(sodium dodecyl sulfate, SDS)와 함께 100mL의 증류수에 넣어 탄소나노튜브 용액을 제조하였다. 상기 탄소나노튜브 용액을 3시간 동안 저 에너지 볼 밀링(low energy ball milling)을 수행 후, 30분 동안 300W에서 초음파처리(ultrasonication)하였다. 상기 탄소나노튜브 용액을 47mm 직경의 혼합된 셀룰로스 에스터(MCE) 멤브레인에 진공 여과(vacuum-filtration)하여 탄소나노튜브 필름을 형성하였다. 그 다음에, 상기 MCE 멤브레인을 아세톤에 녹여 제거하였다. 그리고, 상기 탄소나노튜브 필름을 순수 아세톤에 3번 담가서 상기 탄소나노튜브 필름에 남아있는 MCE 잔류물을 제거하였다.On the other hand, a multi-walled carbon nanotube (MWCNT) having a diameter of 5 nm to 9 nm was prepared. 30 mg of MWCNT was added to 100 mL of distilled water together with 1 wt% of sodium dodecyl sulfate (SDS) to prepare a carbon nanotube solution. The carbon nanotube solution was subjected to low energy ball milling for 3 hours and then ultrasonicated at 300 W for 30 minutes. The carbon nanotube solution was vacuum-filtered through a mixed cellulose ester (MCE) membrane having a diameter of 47 mm to form a carbon nanotube film. The MCE membrane was then dissolved in acetone to remove. Then, the carbon nanotube film was soaked in pure acetone three times to remove residual MCE from the carbon nanotube film.

상기 형성된 탄소나노튜브 필름을 Ni이 코팅된 Cu 와이어의 상부로 이동시키고, 상온에서 건조시킨 후에 상기 탄소나노튜브 필름이 형성된 와이어를 공기 중에서 30분 동안 약 400℃에서 열처리하였다.The formed carbon nanotube film was moved to the top of Ni-coated Cu wire, dried at room temperature, and then the wire formed with the carbon nanotube film was heat-treated at about 400 ° C for 30 minutes in air.

그 결과, 모든 탄소나노튜브들은 와이어의 상부 표면에 부착되는데 상기 탄소나노튜브는 상기 와이어의 표면에 누워있는 형태가 된다. 따라서, 폴리디메틸실록산(polydimethylsiloxane, PDMS) 엘라스토머(elastomer)를 이용하여 상기 탄소나노튜브를 활성화시켜 상기 탄소나노튜브를 수직 정렬시켰다.
As a result, all of the carbon nanotubes are attached to the upper surface of the wire, and the carbon nanotubes are laid on the surface of the wire. Therefore, the carbon nanotubes were vertically aligned by activating the carbon nanotubes by using a polydimethylsiloxane (PDMS) elastomer.

제조예Manufacturing example 2 2

상기 형성된 탄소나노튜브 필름을 Ni이 코팅된 Cu 와이어의 상부로 이동시키는 단계 이전에, 상기 Ni이 코팅된 Cu 와이어를 400℃로 가열한 것을 제외하고, 상기 제조예 1과 동일하게 수행하여 전계방출용 에미터를 제조하였다.
Before the step of moving the formed carbon nanotube film to the upper portion of the Ni-coated Cu wire, the same procedure as in Production Example 1 was performed except that the Ni-coated Cu wire was heated to 400 ° C, Was prepared.

제조예Manufacturing example 3 3

상기 형성된 탄소나노튜브 필름을 Ni이 코팅된 Cu 와이어의 상부로 이동시키는 단계 이전에, 상기 Ni이 코팅된 Cu 와이어를 800℃로 가열한 것을 제외하고, 상기 제조예 1과 동일하게 수행하여 전계방출용 에미터를 제조하였다.
Before the step of moving the formed carbon nanotube film to the upper portion of the Ni-coated Cu wire, the same procedure as in Production Example 1 was performed except that the Ni-coated Cu wire was heated to 800 ° C, Was prepared.

비교예Comparative Example 1 One

Ni이 코팅된 Cu 와이어 대신 pristine Cu 와이어를 사용하는 것을 제외하고, 상기 제조예 1과 동일하게 수행하여 전계방출용 에미터를 제조하였다.
A field emission emitter was manufactured in the same manner as in Production Example 1 except that pristine Cu wire was used instead of Ni coated Cu wire.

이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실험예(example)를 제시한다. 다만, 하기의 실험예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 것일 뿐, 본 발명이 하기의 실험예에 의해 한정되는 것은 아니다.
Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in order to facilitate understanding of the present invention. It should be understood, however, that the following examples are intended to aid in the understanding of the present invention and are not intended to limit the scope of the present invention.

실험예Experimental Example

도 8은 비교예 1 및 제조예 1의 전계방출용 에미터의 SEM 이미지이다. 비교예 1의 전계방출용 에미터의 상부 표면((a) 내지 (c))과 제조예 1의 전계방출용 에미터의 상부 표면((d) 내지 (f))을 SEM 이미지로 측정하였다.8 is an SEM image of the field emission emitters of Comparative Example 1 and Production Example 1. Fig. The top surfaces (a) to (c) of the field emission emitter of Comparative Example 1 and the top surfaces (d) to (f) of the field emission emitter of Production Example 1 were measured with an SEM image.

도 8(a) 내지 도 8(c)를 참조하면, 에미터의 상부 표면에 CuO 나노와이어와 탄소나노튜브가 존재함을 알 수 있다.8 (a) to 8 (c), CuO nanowires and carbon nanotubes are present on the upper surface of the emitter.

도 8(d) 내지 도 8(f)를 참조하면, 에미터의 상부 표면에 탄소나노튜브가 존재함을 알 수 있다.8 (d) to 8 (f), carbon nanotubes are present on the upper surface of the emitter.

따라서, 단위면적당 탄소나노튜브의 개수는 Ni 부착층이 존재하는 경우가 Ni 부착층이 존재하지 않는 경우보다 많아, 탄소나노튜브의 밀도가 높음을 알 수 있다.Therefore, the number of carbon nanotubes per unit area is higher than that in the case where the Ni-adherent layer is present, and the density of the carbon nanotubes is high.

도 9는 비교예 1 및 제조예 1의 전계방출용 에미터의 전계 방출 J-E 커브를 나타낸 그래프이다.9 is a graph showing the field emission J-E curves of the field emission emitters of Comparative Example 1 and Production Example 1. Fig.

도 9(a)를 참조하면, 비교예 1에서, pristine Cu 와이어의 상부에 부착된 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우와 가열하지 않은 경우의 전계방출용 에미터의 J-E 커브를 측정하였다. 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우와 가열하지 않은 경우의 턴온 전계(turn-on field)는 각각 1.39 V/㎛ 및 3.67 V/㎛이다. 이는 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우, 턴온 전계값이 오히려 증가함을 알 수 있다. 이는 pristine Cu 와이어의 상부에 부착된 탄소나노튜브 필름을 가열할 경우 Cu의 촉매 산화(catalytic oxidation)에 의해 탄소나노튜브가 타버리고, CuO 나노와이어와 약간의 탄소나노튜브가 남기 때문이다. 따라서, 탄소나노튜브의 밀도가 낮아져 턴온 전계값이 증가한 것이다.9 (a), in Comparative Example 1, the J-E curve of the emitter for field emission in the case of heating the carbon nanotube film attached on the top of the pristine Cu wire and in the case of not heating was measured. The turn-on fields of the carbon nanotube film when heated and not heated are 1.39 V / 탆 and 3.67 V / 탆, respectively. It can be seen that when the carbon nanotube film is heated, the turn-on electric field value is rather increased. This is because, when the carbon nanotube film attached to the top of the pristine Cu wire is heated, the carbon nanotubes are burned by the catalytic oxidation of Cu, and the CuO nanowires and some carbon nanotubes remain. Therefore, the density of the carbon nanotubes is lowered and the turn-on electric field value is increased.

도 9(b)를 참조하면, Ni 코팅된 Cu 와이어의 상부에 부착된 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우와 가열하지 않은 경우의 전계방출용 에미터의 J-E 커브를 측정하였다. 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우와 가열하지 않은 경우의 턴온 전계(turn-on field)는 각각 1.73 V/㎛ 및 0.81 V/㎛이다. 이는 탄소나노튜브 필름을 가열한 경우, 턴온 전계값이 감소함을 알 수 있다. 따라서, 열처리 공정에 의해 Ni 부착층에 강하게 부착된 탄소나노튜브의 수가 증가함을 알 수 있다.Referring to FIG. 9 (b), the J-E curves of the field emission emitters when the carbon nanotube films adhered on the Ni coated Cu wires were heated and when they were not heated were measured. The turn-on field of the carbon nanotube film when heated and not heated is 1.73 V / m and 0.81 V / m, respectively. It can be seen that when the carbon nanotube film is heated, the turn-on electric field value decreases. Therefore, it can be seen that the number of carbon nanotubes strongly adhered to the Ni adhesion layer is increased by the heat treatment process.

도 10은 제조예 1의 전계방출용 에미터의 시간에 따른 전류밀도를 나타낸 그래프이다.10 is a graph showing the current density of the emitter for field emission according to Production Example 1 with time.

도 10을 참조하면, 6.7 V/㎛의 전계하에서, 2mA(167mA/cm2)의 전류가 흐를 때, 초반에 급격히 전류가 감소되고, 그 이후 25시간까지 초기 값의 반으로 천천히 감소되었다. 6.7 V/㎛의 전계하에서, 0.72mA(60mA/cm2)의 전류가 흐를 때, 40시간까지 전류가 유지되었다. 따라서, Ni 부착층에 의하여 탄소나노튜브 에미터의 수명이 향상됨을 알 수 있다.Referring to FIG. 10, when a current of 2 mA (167 mA / cm 2 ) flows under an electric field of 6.7 V / 탆, the current abruptly decreases in the early stage and then slowly decreased to half of the initial value by 25 hours thereafter. The current was maintained for 40 hours when a current of 0.72 mA (60 mA / cm < 2 >) was applied under an electric field of 6.7 V / Therefore, it can be seen that the lifetime of the carbon nanotube emitter is improved by the Ni adhesion layer.

도 11 내지 도 13은 제조예들 1 내지 3에 따른 전계방출용 에미터의 제조방법 중 얻어진 SEM 이미지이다.11 to 13 are SEM images obtained in the manufacturing method of the field emission emitters according to Production Examples 1 to 3.

도 11(a), 도 12(a) 및 도 13(a)는 탄소나노튜브 필름을 적층하기 전의 Ni이 코팅된 Cu 와이어의 상부 이미지들이다.Figs. 11 (a), 12 (a) and 13 (a) are top images of a Ni-coated Cu wire before lamination of carbon nanotube films.

도 11(b), 도 12(b) 및 도 13(b)는 제조예들 1 내지 3에 따른 전계방출용 에미터의 상부 이미지들이다.Figs. 11 (b), 12 (b) and 13 (b) are top views of the emitter for field emission according to Production Examples 1 to 3.

도 11(a), 도 12(a) 및 도 13(a)을 참조하면, Ni 부착층의 평균 입자 크기는, Ni 부착층을 열처리하지 않은 경우 약 10nm, 400℃에서 열처리 한 경우 약 1.5㎛ 및 800℃에서 열처리 한 경우 약 100㎛임을 알 수 있다. 따라서, 도 11(b), 도 12(b) 및 도 13(b)을 참조하면, 상기 부착층의 평균 입자 크기가 커질수록, 즉, Ni 부착층의 열처리 온도가 높을수록 탄소나노튜브의 밀도가 작아짐을 알 수 있다.
Referring to Figs. 11 (a), 12 (a) and 13 (a), the average particle size of the Ni-adhered layer is about 10 nm when the Ni-adherent layer is not heat- And about 100 m when heat-treated at 800 [deg.] C. 11 (b), 12 (b) and 13 (b), the larger the average particle size of the adhesion layer, that is, the higher the heat treatment temperature of the Ni adhesion layer, As shown in Fig.

이상, 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상 및 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형 및 변경이 가능하다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the present invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope and spirit of the invention. Change is possible.

100: 기판 110: 금속 부착층이 코팅된 와이어
200: 금속 부착층 210: 입자 성장된 금속 부착층
300: 탄소나노튜브 필름 310: 탄소나노튜브
400: 에미터 500: 베이스 기재
600: 타겟층 700: 상부 기재
100: substrate 110: wire coated with a metal adhesion layer
200: metal deposition layer 210: particle deposition metal deposition layer
300: Carbon nanotube film 310: Carbon nanotube
400: Emitter 500: base substrate
600: target layer 700: upper substrate

Claims (11)

기판을 준비하는 단계;
상기 기판 상에 금속 부착층을 형성하는 단계;
상기 금속 부착층을 열처리하여 상기 금속 부착층의 표면 자유에너지를 감소시키는 단계;
상기 금속 부착층 상에 탄소나노튜브 필름을 부착하는 단계; 및
상기 탄소나노튜브 필름이 부착된 기판을 열처리하여 상기 기판과 상기 탄소나노튜브 사이의 부착력을 증가시키는 단계를 포함하고,
상기 기판 상에 금속 부착층을 형성하는 단계는 상기 금속 부착층의 평균 입자 크기가 1nm 내지 10nm이고,
상기 금속 부착층을 열처리하는 것은 상기 금속 부착층의 평균 입자를 0.5㎛ 내지 50㎛의 크기로 성장시키는 것을 특징으로 하고,
상기 탄소나노튜브 필름은 탄소나노튜브 용액을 고분자 멤브레인에 진공 여과하여 제조된 것을 특징으로 하는 전계방출용 에미터 제조방법.
Preparing a substrate;
Forming a metal adhesion layer on the substrate;
Annealing the metal adhering layer to reduce the surface free energy of the metal adhering layer;
Attaching a carbon nanotube film on the metal adhesion layer; And
And annealing the substrate having the carbon nanotube film attached thereto to increase the adhesion between the substrate and the carbon nanotube,
Wherein the step of forming the metal adhesion layer on the substrate comprises the steps of:
The heat treatment of the metal adhesion layer is characterized in that the average particle of the metal adhesion layer is grown to a size of 0.5 to 50 탆,
Wherein the carbon nanotube film is manufactured by vacuum-filtering a carbon nanotube solution onto a polymer membrane.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 탄소나노튜브 필름이 부착된 기판을 가열하는 단계는 진공 분위기 또는 환원 분위기에서 수행되는 것을 특징으로 하는 전계방출용 에미터 제조방법.
The method according to claim 1,
Wherein the step of heating the substrate to which the carbon nanotube film is attached is performed in a vacuum atmosphere or a reducing atmosphere.
제1항에 있어서,
상기 금속 부착층은 Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo 및 이들의 합금으로 구성된 군에서 선택된 어느 하나를 포함하는 전계방출용 에미터 제조방법.
The method according to claim 1,
The metal adhesion layer is formed from a group consisting of Ni, Fe, Co, Cu, Ag, Au, Pd, Pt, Zn, Sn, Pb, Cr, Ti, Ta, Al, In, W, Si, Mo, Wherein the emitter layer is formed on the surface of the substrate.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 기판과 상기 탄소나노튜브의 부착력을 증가시키는 단계 이후에,
상기 탄소나노튜브를 활성화하여 상기 탄소나노튜브를 상기 기판에 대하여 수직 정렬시키는 단계를 더 포함하는 전계방출용 에미터 제조방법.
The method according to claim 1,
After the step of increasing the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes,
And activating the carbon nanotubes to vertically align the carbon nanotubes with respect to the substrate.
제1항에 있어서,
상기 기판과 상기 탄소나노튜브의 부착력을 증가시키는 단계 이후에,
상기 탄소나노튜브에 금속산화물을 코팅하는 단계를 더 포함하는 전계방출용 에미터 제조방법.
The method according to claim 1,
After the step of increasing the adhesion between the substrate and the carbon nanotubes,
And coating a metal oxide on the carbon nanotubes.
제9항에 있어서,
상기 금속산화물은 Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al 및 이들의 혼합물로 구성된 군에서 선택된 어느 하나의 산화물인 전계방출용 에미터 제조방법.
10. The method of claim 9,
The metal oxide may be one selected from the group consisting of Ni, Fe, Cu, Co, Ag, Ti, Zn, Rh, Sn, Cd, Cr, Be, Pd, In, Pt, Au, Si, W, Mo, Al, Wherein the oxide is one selected from the group consisting of oxides, nitrides, nitrides, nitrides, nitrides, and nitrides.
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