KR101452332B1 - Apparatus for processing substreat - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 셀렌화 공정으로 CIGS층을 형성하기 위한 기판처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus for forming a CIGS layer by a selenization process.
오늘날, 고갈되어 가는 화석 연료에 대한 의존도를 줄이기 위해, 고갈될 염려가 없을 뿐만 아니라 친환경적인 태양에너지를 활용하는 태양전지(Solar Cell)에 관한 연구 개발이 활발히 진행 중이다.Today, in order to reduce dependence on depleted fossil fuels, research and development on solar cells utilizing environmentally friendly solar energy as well as exhaustion of concern are underway.
이러한 연구 개발의 일환으로, 태양광의 흡수율이 높고, 태양광 또는 방사선에 대한 열화 현상이 적으며, 박막화가 가능하고, 제작상 재료비를 절감할 수 있는 CIGS{Cu(In1-xGax)Se2}층이 형성된 박막형 태양전지가 개발되었다.As a part of this research and development, CIGS {Cu (In 1-x Ga x ) Se (Ce)), which has high absorption rate of sunlight, less deterioration of sunlight or radiation, 2 } layer formed on the surface of the substrate.
박막형 태양전지는 유리 등의 기판, 기판 상에 형성된 금속층으로 이루어진 (+)극인 전극층, 전극층 상에 형성되며 광을 흡수하는 p형의 CIGS층, CIGS층 상에 형성된 n형의 버퍼층 및 버퍼층 상에 형성된 (-)극인 투명 전극층을 포함하는 다층 적층 구조이다.The thin film solar cell includes a substrate such as a glass substrate, a (+) electrode layer formed of a metal layer formed on the substrate, a p-type CIGS layer formed on the electrode layer and absorbing light, an n-type buffer layer formed on the CIGS layer, Layered structure including a transparent electrode layer having a negative (-) polarity.
그리하여, 수광부인 투명 전극층을 통하여 태양광이 입사되면, p-n 접합 부근에서는 대략 1.04 eV 의 밴드갭 에너지를 갖는 여기된 한 쌍의 전자 및 정공이 생성된다. 그리고, 여기된 전자와 정공은 확산에 의해 p-n 접합부에 도달하고, 접합부의 내부 전계에 의해 전자가 n 영역에, 정공이 p 영역에 집합하여 분리된다.Thus, when sunlight is incident through the transparent electrode layer, which is a light receiving portion, a pair of excited electrons and holes having a band gap energy of about 1.04 eV are generated near the p-n junction. Then, the excited electrons and holes reach the p-n junction by diffusion, and electrons are collected in the n region and the holes are collected in the p region by the internal electric field of the junction.
그러면, n 영역은 마이너스로 대전되고, p 영역은 플러스로 대전되며, 각 영역에 형성된 전극 간에는 전위차가 생긴다. 그리고, 전위차를 기전력으로 하여 각 전극 사이를 도선으로 연결하면 광전류가 얻어진다.Then, the n region is negatively charged, the p region is positively charged, and a potential difference is generated between the electrodes formed in the respective regions. A photocurrent is obtained when the potential difference is used as an electromotive force and the respective electrodes are connected by a lead wire.
박막형 태양전지의 CIGS층을 형성하는 방법은, 기판에 형성된 전극층 상에 구리, 인듐, 갈륨의 원소를 적정 비율로 진공 스퍼터링하여 전구체막을 형성하는 전구체막 형성 공정과, 이와 같이 증착된 전구체막에 셀렌화 수소(H2Se) 기체를 흘려주면서 기판에 온도를 가하게 되는 셀렌화(selenization) 공정을 거친다. 이러한 일련의 공정에 따라, 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se) 원소가 적정 조성 비율을 갖는 CIGS{Cu(In1 - xGax)Se2}층을 형성할 수 있게 된다.A method for forming a CIGS layer of a thin film solar cell includes a precursor film forming step of forming a precursor film by vacuum sputtering an element of copper, indium and gallium at an appropriate ratio on an electrode layer formed on a substrate, And a selenization process is performed in which hydrogen (H 2 Se) gas is flowed and a temperature is applied to the substrate. Cu (Cu), indium (In), gallium (Ga) and selenium (Se) elements are formed in accordance with such a series of steps to form a CIGS {Cu (In 1 - x Ga x ) Se 2 } .
이러한 셀렌화 공정은 전구체막이 형성된 기판을 밀폐된 챔버에 로딩시키고, 챔버를 불활성가스로 치환한 다음, 챔버에 처리가스인 셀렌화 수소(H2Se)을 도입한 후, 챔버를 일정 온도로 승온시켜 일정 시간 유지함으로써 셀렌화된 CIGS층을 형성하는 공정이다.In this selenization process, the substrate on which the precursor film is formed is loaded into a closed chamber, the chamber is replaced with an inert gas, hydrogen selenide (H 2 Se) as a process gas is introduced into the chamber, For a predetermined time to form a selenized CIGS layer.
CIGS층을 형성하기 위한 종래의 기판처리장치는 내부에 기판이 처리되는 공간인 챔버가 형성된 본체와 상기 본체에 설치되어 기판의 처리에 필요한 열을 발생하는 히터를 포함한다.A conventional substrate processing apparatus for forming a CIGS layer includes a body having a chamber, which is a space in which a substrate is processed, and a heater installed in the body to generate heat required for processing the substrate.
이때, 상기 히터는 바 형상으로 형성되어 일단부측 또는 양단부측이 상기 본체에 지지되며, 상기 히터의 일단부 또는 양단부는 상기 본체의 외측으로 노출된다.At this time, the heater is formed in a bar shape and one side end or both end side sides of the heater are supported by the main body, and one end or both ends of the heater are exposed to the outside of the main body.
상기와 같은 종래의 기판처리장치는 상기 히터의 단부측이 상기 본체에 지지되어 상기 본체의 외측으로 노출되므로, 상기 히터가 파손되었을 때, 상기 히터와 상기 본체의 접촉 부위를 통하여 가스가 누설될 우려가 있다.In such a conventional substrate processing apparatus, the end of the heater is supported by the main body and exposed to the outside of the main body. Therefore, when the heater is broken, gas may leak through the contact portion between the heater and the main body .
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해소하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 히터의 전체 부위가 상기 본체의 내부에 위치되도록 설치하여, 히터의 파손시에도 가스가 누설되는 것을 방지할 수 있는 기판처리장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the problems of the prior art as described above, and it is an object of the present invention to provide a heat exchanger in which the entire portion of the heater is positioned inside the main body, And a substrate processing apparatus.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 기판처리장치는, 내부에 기판이 처리되는 공간인 챔버가 형성된 본체; 및 상기 본체에 설치된 히터를 포함하며, 상기 히터의 모든 부위는 상기 본체의 내부에 위치된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus comprising: a main body having a chamber formed therein for processing a substrate; And a heater installed in the main body, wherein all parts of the heater are located inside the main body.
본 발명에 따른 기판처리장치는, 히터의 모든 부위가 본체의 내부에 위치된다. 그러므로, 히터가 파손되어도 히터로 인하여 챔버의 가스가 본체의 외측으로 누설되지 않는 효과가 있다.In the substrate processing apparatus according to the present invention, all portions of the heater are located inside the main body. Therefore, even if the heater is broken, there is an effect that the gas in the chamber is not leaked to the outside of the main body due to the heater.
그리고, 히터의 유지보수가 필요할 경우, 지지바에 착탈가능하게 결합된 지지판을 분리한 후 히터를 수리하면 되므로, 유지보수가 대단히 편리한 효과가 있다.In addition, when maintenance of the heater is required, the heater can be repaired after removing the support plate detachably coupled to the support bar, so that the maintenance is very convenient.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리장치의 사시도.
도 2는 도 1에 도시된 기판처리장치의 본체와 도어의 확대 사시도.
도 3은 도 2에 도시된 내부본체의 확대 사시도.
도 4는 도 3에 도시된 히터의 설치구조를 보인 요부 확대 분리 사시도.
도 5의 (a) 및 (b)는 도 2의 "A"부 및 "B"부 확대도.1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is an enlarged perspective view of the main body of the substrate processing apparatus and the door shown in FIG. 1; FIG.
3 is an enlarged perspective view of the inner body shown in Fig.
FIG. 4 is a perspective view showing the installation structure of the heater shown in FIG. 3; FIG.
5A and 5B are enlarged views of the "A" portion and the "B" portion of FIG.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시하여 도시한 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세하게 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 상호 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 특정 구조 및 특성은 일 실시예와 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미가 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에 도시된 실시예들의 길이, 면적, 두께 및 형태는, 편의상, 과장되어 표현될 수도 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The following detailed description of the invention refers to the accompanying drawings that illustrate specific embodiments in which the invention may be practiced. These embodiments are described in sufficient detail to enable those skilled in the art to practice the invention. It should be understood that the various embodiments of the present invention are mutually exclusive, but need not be mutually exclusive. For example, certain features, specific structures, and features described herein may be implemented in other embodiments without departing from the spirit and scope of the invention in connection with one embodiment. It is also to be understood that the position or arrangement of the individual components within each disclosed embodiment may be varied without departing from the spirit and scope of the invention. The following detailed description is, therefore, not to be taken in a limiting sense, and the scope of the present invention is to be limited only by the appended claims, along with the full scope of equivalents to which such claims are entitled. The length, area, thickness, and shape of the embodiments shown in the drawings may be exaggerated for convenience.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리장치를 설명함에 있어서, CIGS{Cu(In1-xGax)Se2}층 형성장치를 예로 들어 설명한다.In the following description, the substrate processing apparatus in accordance with one embodiment of the present invention will be described, for CIGS {Cu (In1-xGax) Se 2} layer forming apparatus as an example.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리장치의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 기판처리장치의 본체와 도어의 확대 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 내부본체의 확대 사시도이다.FIG. 1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main body and a door of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1, It is a perspective view.
도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 기판처리장치는 외관을 형성하는 본체(110)를 포함하며, 본체(110)는 내부본체(111)와 내부본체(111)를 감싸는 외부본체(115)를 포함할 수 있다.As shown in the figure, the substrate processing apparatus according to the present embodiment includes a
본체(110)의 내부본체(111)의 내부에는 유리 등의 기판(50)이 로딩되어 처리되는 공간인 챔버(110a)가 형성되고, 본체(110)의 전면에는 기판(50)이 출입하는 출입구(110b)가 형성된다. 출입구(110b)는 내부본체(111)의 전면에 형성된 내부출입구(110ba)와 내부출입구(110ba)와 대향되게 외부본체(115)의 전면에 형성된 외부출입구(110bb)를 포함할 수 있다.A
외부본체(115)의 전면 외측에는 출입구(110b)를 개폐하는 도어(120)가 설치된다. 도어(120)는 지지프레임(130)에 지지되어 본체(110)의 좌우방향 및 전후방향으로 슬라이딩가능하게 설치된다.A
즉, 도어(120)는 본체(110)의 좌우방향으로 슬라이딩되면서 출입구(110b)와 대향하거나 출입구(110b)의 외측에 위치된다. 그리고, 도어(120)가 출입구(110b)와 대향하면, 도어(120)는 본체(110)의 전후방향으로 슬라이딩되면서 출입구(110b)를 개폐한다. 도어(120)에 의하여 출입구(110b)가 폐쇄되면 챔버(110a)가 밀폐되고, 개방되면 챔버(110a)가 개방됨은 당연하다.That is, the
기판(50)의 처리시 챔버(110a)에 유입되는 가스에는 인체에 유해한 가스가 있으므로, 챔버(110a)에 투입된 가스가 본체(110)의 외부로 누설되면 안전사고가 발생할 수 있다. 이를 방지하기 위하여, 도어(120)의 후면에는 출입구(110b) 외측의 본체(110)의 전면과 접촉하여 본체(110)와 도어(120) 사이를 실링하는 실링부재(미도시)가 설치될 수 있다.Since the gas flowing into the
본체(110)의 내부본체(111)의 내부 측면, 전후면 및 상하면에는 기판(50)을 가열하는 히터(140)가 설치된다. 히터(140)에 대해서는 후술한다.A
내부본체(111)의 외면에도 히터(미도시)가 설치될 수 있으며, 상기 히터는 내부본체(111)를 가열하여 내부본체(111)가 소정 이하의 온도로 하강하는 것을 방지한다. 내부본체(111)가 소정 이하의 온도로 하강하면, 내부본체(111)의 내면에 공정 가스가 응착될 수 있으므로, 이를 방지하기 위하여, 상기 히터를 설치한다.A heater (not shown) may also be provided on the outer surface of the
내부본체(111)의 외면에는 냉각관(미도시)이 설치될 수 있다. 상기 냉각관은 내부본체(111)를 냉각시켜, 내부본체(111)가 고온에서 가스에 의하여 부식되는 것을 방지한다.A cooling pipe (not shown) may be installed on the outer surface of the
기판(50)은 복수개가 보트(60)에 적재 보관되며, 복수의 보트(60)가 챔버(110a)에 로딩된다. 즉, 기판(50)은 보트(60)에 적재 보관된 상태로 챔버(110a)에 로딩되어 처리된다.A plurality of
내부본체(111)의 내면에는 팬(미도시)이 설치될 수 있다. 상기 팬은 각 기판(50)으로 균일한 기류가 공급되게 한다.A fan (not shown) may be installed on the inner surface of the
전극층과 적정 원소 비율로 형성된 구리, 인듐, 갈륨으로 이루어진 전구체막이 형성된 기판(50)을 보트(60)에 지지시킨 다음, 보트(60)를 챔버(110a)에 로딩한 다음 챔버(110a)를 밀폐시킨다. 이러한 상태에서, 챔버(110a)에 질소 가스를 유입한 다음, 셀렌화 가스(H2Se)를 주입하여 소정 온도에서 CIGS층을 형성하고, CIGS층 형성한 다음에는 또 다른 소정 온도에서 황화 가스(H2S)를 주입하여 기판(50)에 형성된 CIGS층을 처리한다.The
본 실시예에 따른 기판처리장치는, 히터(140)가 손상되어도 챔버(110a)에 유입된 가스가 본체(110)의 외부로 누설되지 않도록, 히터(140)의 전체 부위가 내부본체(111)의 내부에 위치되게 설치된다.The substrate processing apparatus according to the present embodiment can prevent the gas introduced into the
히터(140)의 설치구조에 대하여 도 3 및 도 4를 참조하여 설명한다. 도 4는 도 3에 도시된 히터의 설치구조를 보인 요부 확대 분리 사시도이다.The mounting structure of the
도시된 바와 같이, 히터(140)는 일정한 패턴을 가지며, 전체적인 외형은 판 형상을 이룬다. 이때, 히터(140)의 패턴은 직선이 연속적으로 반복되는 형상, 곡선이 연속적으로 반복되는 형상, "ㄷ" 형상이 연속적으로 반복되는 형상 또는 "ㄹ" 형상이 연속적으로 반복되는 형상과 같이 다양하게 형성될 수 있다.As shown, the
그리고, 챔버(110a)의 각 구획별로 균일한 온도를 유지하기 위하여, 히터(140)는 복수의 구역으로 구획되어 각각 독립적으로 제어되는 것이 바람직하다.In order to maintain a uniform temperature for each compartment of the
본체(110)의 내부본체(111)의 내면에는 복수의 지지바(151)가 설치된다. 그리고, 지지바(151)에는 지지판(153)이 지지 결합된다. 지지판(153)은 히터(140)의 전체적인 외형과 대응하는 형상으로 형성되어 지지바(151)에 지지 결합될 수 있고, 구획된 히터(140)와 대응되는 형상으로 형성되어 지지바(151)에 지지 결합될 수 있다.A plurality of support bars 151 are provided on the inner surface of the
지지판(153)을 지지바(151)에 결합할 수 있도록, 지지바(151)의 외주면에는 링형상의 걸림홈(151a)이 함몰 형성되고, 지지판(153)에는 걸림홈(151a)에 삽입되어 걸리는 걸림공(153a)이 형성된다. 따라서, 지지판(153)은 지지바(151)에 착탈가능하게 지지 결합된다.A ring-shaped
히터(140)는 와셔와 볼트를 구비하는 체결부재(155)에 의하여 지지판(153)측에 결합된다. 이때, 체결부재(155)의 상기 볼트는 히터(140)에 존재하는 간격을 관통하여 지지판(153)에 결합되고, 체결부재(155)의 상기 와셔는 히터(140)를 지지판(153)측으로 압착 지지한다. 따라서, 히터(140)가 지지판(153)측에 지지 결합된다.The
기판(50)이 처리되는 챔버(110a)의 분위기는 진공에 가깝고, 히터(140)는 고온이다. 이로 인해, 히터(140)와 지지판(153)이 접촉하면, 진공 방전이 발생할 수 있다. 이를 방지하기 위하여, 지지판(153)에는 히터(140)를 지지판(153)으로부터 이격시키기 위한 세라믹재의 스페이서(157)가 설치될 수 있다. 체결부재(155)의 상기 볼트는 스페이서(157)에 체결되며, 히터(140)는 스페이서(157)와 접촉한다.The atmosphere of the
본체(110)의 내부본체(111)의 내면과 지지판(153) 사이에는 단열판(미도시)이 설치될 수 있다. 상기 단열판은 지지바(151)와 지지판(153)의 결합 구조와 동일하게 지지바(151)에 지지 결합될 수 있다.A heat insulating plate (not shown) may be provided between the inner surface of the
본 실시예에 따른 기판처리장치는 히터(140)의 모든 부위가 본체(110)의 내부본체(111)의 내부에 위치된다. 그러므로, 히터(140)가 파손되어도 히터(140)로 인하여 챔버(110a)의 가스가 본체(110)의 외측으로 누설되지 않는다.In the substrate processing apparatus according to the present embodiment, all portions of the
그리고, 히터(140)의 유지보수가 필요할 경우, 지지바(151)에 착탈가능하게 결합된 지지판(153)을 분리한 후 히터(140)를 수리하면 되므로, 유지보수가 대단히 편리하다.When the maintenance of the
본 실시예에 따른 기판처리장치에는 도어(120)와 본체(110) 사이를 통하여 가스가 누설되지 않도록, 도어(120)를 본체(110)측으로 밀착시키는 밀착유닛이 복수개 설치되는데, 이를 도 2 및 도 5를 참조하여 설명한다. 도 5의 (a) 및 (b)는 도 2의 "A"부 및 "B"부 확대도이다.The substrate processing apparatus according to the present embodiment is provided with a plurality of contact units for closely contacting the
도시된 바와 같이, 상기 밀착유닛은 출입구(110b) 외측의 본체(110)의 외부본체(115)의 전면 부위에 설치된 실린더(161), 실린더(161)의 피스톤(161a)의 단부측에 결합되며 피스톤(161a)에 의하여 직선운동하면서 도어(120)의 전면 테두리부측을 본체(110)의 전면측으로 눌러서 지지하는 지지롤러(163)를 포함한다.As shown in the figure, the tight fitting unit is coupled to the
이때, 도어(120)의 전면 테두리부측에는 지지롤러(163)가 접촉하는 눌림판(165)이 설치될 수 있고, 지지롤러(163)가 접촉하는 눌림판(165)의 부위는 도어(120)의 중심측에서 외측으로 갈수록 두께가 점점 얇아지는 형태로 경사지게 형성된다.At this time, a
그러면, 피스톤(161a)에 의하여, 지지롤러(163)가 도어(120)의 외측에서 중심측으로 이동하면서, 눌림판(165)의 얇은 부위를 거쳐 두꺼운 부위와 접촉하게 되고, 이로 인해, 눌림판(165)이 본체(110)의 전면측으로 눌리게 되므로, 도어(120)가 본체(120)의 전면에 밀착되는 것이다.Then, the
본 발명은 상술한 바와 같이 바람직한 실시예를 예로 들어 도시하여 설명하였으나, 상기 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형과 변경이 가능하다. 그러한 변형예 및 변경예는 본 발명과 첨부된 특허청구범위의 범위 내에 속하는 것으로 보아야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation, Various variations and modifications are possible. Such variations and modifications are to be considered as falling within the scope of the invention and the appended claims.
110: 본체
120: 도어
140: 히터
151: 지지바
153: 지지판
157: 스페이서110:
120: Door
140: heater
151: Support bar
153: Support plate
157: Spacer
Claims (9)
상기 본체에 설치된 히터를 포함하며,
상기 히터의 모든 부위는 상기 본체의 내부에 위치되며,
상기 본체의 내면에는 복수의 지지바가 설치되고,
상기 지지바에는 지지판이 착탈가능하게 지지 결합되며,
상기 히터는 상기 지지판측에 결합된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.A main body having a chamber in which a substrate is processed; And
And a heater installed in the main body,
All parts of the heater are located inside the body,
A plurality of support bars are provided on the inner surface of the main body,
A support plate detachably supported on the support bar,
Wherein the heater is coupled to the support plate side.
상기 히터는 패턴을 가지면서 전체적인 외형이 판 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The method according to claim 1,
Wherein the heater has a pattern and an overall outer shape is formed in a plate shape.
상기 히터는 복수의 구역으로 구획되어, 각각 독립적으로 제어되는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.3. The method of claim 2,
Wherein the heater is divided into a plurality of zones and controlled independently of each other.
상기 지지바의 외주면에는 링 형상의 걸림홈이 함몰 형성되고,
상기 지지판에는 상기 걸림홈에 삽입되어 걸리는 걸림공이 형성된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The method according to claim 1,
A ring-shaped engagement groove is formed in the outer peripheral surface of the support bar,
Wherein the supporting plate is formed with a latching hole inserted and retained in the latching groove.
상기 본체의 내면과 상기 지지판 사이에는 단열판이 설치된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.6. The method of claim 5,
Wherein a heat insulating plate is provided between an inner surface of the main body and the support plate.
상기 지지판에는 상기 지지판과 상기 히터를 이격시키는 스페이서가 설치되고,
상기 히터는 상기 스페이서에 접촉 결합된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.6. The method of claim 5,
Wherein the support plate is provided with a spacer for separating the support plate from the heater,
Wherein the heater is in contact with the spacer.
상기 도어의 테두리부측에는 눌림판이 설치되고,
상기 눌림판과 대응되는 상기 본체의 전면 부위에는 실린더가 설치되며,
상기 실린더의 피스톤의 단부측에는 상기 피스톤에 의하여 직선운동하면서 상기 도어의 전면 테두리부측을 상기 본체측으로 눌러서 지지하는 지지롤러가 설치된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The method according to claim 1,
A pressing plate is provided on the edge side of the door,
A cylinder is provided on a front surface portion of the body corresponding to the pressing plate,
Wherein a support roller is provided on an end side of the piston of the cylinder to linearly move by the piston and to press the front edge of the door toward the body.
상기 지지롤러가 접촉하는 상기 눌림판의 부위는 상기 도어의 중심측에서 외측으로 갈수록 두께가 점점 얇아지는 형태로 경사진 것을 특징으로 하는 기판처리장치.9. The method of claim 8,
Wherein a portion of the pressing plate, on which the supporting roller contacts, is inclined in such a manner that its thickness becomes gradually thinner toward the outer side from the center side of the door.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130060344A KR101452332B1 (en) | 2013-05-28 | 2013-05-28 | Apparatus for processing substreat |
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Citations (2)
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---|---|---|---|---|
KR20110095014A (en) * | 2010-02-18 | 2011-08-24 | 세메스 주식회사 | Door apparatus of vacuum chamber and apparatus for processing substrate having the apparatus |
KR20110121443A (en) * | 2010-04-30 | 2011-11-07 | 주식회사 테라세미콘 | Apparatus for forming a cigs layer |
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- 2013-05-28 KR KR1020130060344A patent/KR101452332B1/en active IP Right Grant
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