KR101450485B1 - 위상 및 진폭 불균형의 자동 보상을 갖는 차동 광수용 광전자 디바이스 - Google Patents
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Abstract
광전자 디바이스(OD)는 제 1 및 제 2 상보형 광학 신호를 제 1 및 제 2 상보형 전류로 변환하기 위해 구성된 광검출 수단(PDM)과, 적어도 제 1 출력 전압(V1)을 출력하도록 이들 제 1 및 제 2 상보형 전류를 프로세싱하기 위해 구성된 프로세싱 수단(PM)을 포함한다. 이 프로세싱 수단(PM)은 i) 제 1 및 제 2 상보형 전류를 제 1 및 제 2 동작 전압으로 개별적으로 변환하기 위해 구성된 변환 수단(CM), ii) 제 1 및 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을 균형화하기 위해 구성된 균형화 수단(BM), 및 iii) 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 및 제 2 동작 전압에 차감 함수를 적용하여 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 및 제 2 동작 전압 사이의 차이에 비례하는 적어도 제 1 출력 전압(V1)을 생성하기 위해 구성된 차동 증폭 수단(DAM)을 포함한다.
Description
본 발명은 광전자, 특히 적어도 광수용 기능을 제공하거나 수광기(photoreceiver)를 구성하는 광전자 디바이스에 관한 것이다.
당업자에 의해 알려진 바와 같이, 광학 통신과 같은 몇몇 기술적 영역에서, 차동 신호화는 특정 수의 기생 신호에 더 양호한 내성(immunity)을 갖는 정보 데이터를 전달하는 효율적인 방식일 수 있다. 정보 데이터는 차감이 실현될 때까지 위상과 진폭에서 양호하게 균형화되어 유지될 필요가 있는 2개의 상보형 신호의 차감을 실현함으로써 복구된다.
광학 통신의 경우에, 이들 2개의 상보형 신호는 통상적으로 하나 또는 다수의 입력 광학 신호로부터 광학 성분에 의해 생성된다. 다음에, 통상적으로 제 1 및 제 2 상보형 광학 신호를 제 1 및 제 2 상보형 전류로 변환하기 위해 구성된 광검출 수단과, 제 1 및 제 2 상보형 전류 사이의 차이에 비례하는 전압을 출력하도록 제 1 및 제 2 상보형 전류를 프로세싱하기 위해 통상적으로 구성된 프로세싱 수단을 포함하는 광학 디바이스가 사용될 수 있다. 선택적으로, 단지 하나의 출력 전압 대신에, 출력에서의 차동 신호화가 더 요구되면, 2개의 상보형 출력 전압이 발생될 수 있다.
전술된 광전자 디바이스는 2개의 유형일 수 있다. 제 1 유형은 소위 균형화 수광기를 포함하는데, 이 균형화 수광기의 광검출 수단은 통상적으로 2개의 상보형 입력 광학 신호 사이의 차이에 비례하는 싱글-엔디드(single-ended) 전류를 출력하는 방식으로 접속된 2개의 포토다이오드로 구성된 균형화 광검출기를 포함하고, 균형화 수광기의 프로세싱 수단은 2개의 다이오드의 공통 출력에 접속된 입력을 갖고 싱글-엔디드 출력 전압 및 선택적으로는 출력에서의 차동 신호화가 더 요구되면 상보형 출력 전압을 제공하는 트랜스-임피던스(trans-impedance) 증폭기를 포함한다.
제 2 유형은 통상적으로 소위 차동 수광기를 포함하는데, 이 차동 수광기의 광검출 수단은 2개의 독립적인 동일한 포토다이오드를 포함하고, 차동 수광기의 프로세싱 수단은 포토다이오드들의 출력에 각각 접속된 제 1 및 제 2 출력을 갖고 2개의 상보형 입력 전류 사이의 차이에 비례하는 싱글-엔디드 출력 전압 및 선택적으로 출력에서의 차동 신호화가 더 요구되면 제 2 상보형 출력 전압을 제공하는 차동 트랜스-임피던스 증폭기를 포함한다.
그러나, 이들 광전자 디바이스를 제조하기 위해 조합된 구성 요소와, 이들 구성 요소 및 광전자 디바이스의 제조 프로세스는 종종 2개의 상보형 신호가 차감되기 전에 이들 2개의 상보형 신호 사이에 불균형을 유발하는 불완전성을 도입하여, 따라서 수용 성능을 열화시킨다.
통상적으로 어떠한 불균형 보상도 이들 광전자 디바이스에 의해 실현될 수 없기 때문에, 차동 신호화가 사용되는(예를 들어, 수광기의 광검출 수단에 2개의 상보형 광학 신호를 제공하는 광학 복조기 출력으로부터) 구성 요소를 수반하는 구성 요소 및 제조 프로세스를 위해 특정의 요구적인 특성이 요구될 수 있다. 이는 고가의 구성 요소 및 제조 프로세스를 초래할 수도 있다. 더욱이, 구성 요소 및 제조 프로세스의 품질이 무엇이건간에, 광전자 디바이스는 이들의 수명 중에 잔류 불완전성 및 가능한 특성 시프트를 가질 수 있고, 따라서 차동 검출을 유도해야 하는 궁극적인 성능 이익이 성취되기가 어려워질 수도 있다.
본 발명의 몇몇 실시예는 제 1 및 제 2 상보형 광학 신호를 제 1 및 제 2 상보형 전류로 변환하기 위해 구성된 광검출 수단과, 적어도 제 1 출력 전압(및 선택적으로 출력에서의 차동 신호화가 더 요구되면 제 2 상보형 출력 전압)을 출력하도록 제 1 및 제 2 상보형 전류를 프로세싱하기 위해 구성된 프로세싱 수단을 포함하는 광전자 디바이스 내로의 진폭 및 위상 불균형의 자동 보상을 가능하게 하는 것을 목적으로 한다.
이 목적으로, 이러한 광전자 디바이스의 프로세싱 수단은
- 제 1 및 제 2 상보형 전류를 제 1 및 제 2 동작 전압으로 개별적으로 변환하기 위해 구성된 변환 수단,
- 제 1 및 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을 균형화하기 위해 구성된 균형화 수단,
- 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 및 제 2 동작 전압에 차감 함수를 적용하여 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 및 제 2 동작 전압 사이의 차이에 비례하는 적어도 제 1 출력 전압(및 선택적으로, 제 2 상보형 출력 전압)을 생성하기 위해 구성된 차동 증폭 수단을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 광전자 디바이스는 개별적으로 또는 조합하여 부가의 특징을 포함할 수 있고, 특히,
- 그 변환 수단은 제 1 및 제 2 상보형 전류를 제 1 및 제 2 상보형 동작 전압으로 각각 변환하기 위해 구성된 제 1 및 제 2 독립적인 트랜스-임피던스 증폭 수단을 포함하고,
- 그 균형화 수단은 i) 제어 신호(전류 또는 전압)의 함수로서 제 1 및 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을 각각 조정하기 위해 구성된 제 1 및 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단, 및 ii) 제 1 및 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을, 제 1 및 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단에 의해 출력된 균형화된 위상 및 진폭과 비교하여 위상 및 진폭 불균형을 결정하고, 결정된 위상 및 진폭 불균형을 보상하기 위해 제 1 및 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단에 의해 수행될 위상 및 진폭 조정을 표현하는 제어 신호(전류 또는 전압)를 생성하기 위해 구성된 위상 및 진폭 에러 검출기를 포함할 수 있고,
- 제 1 및 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단의 각각은 위상을 조정하기 위해 구성된 가변 지연 수단과, 진폭을 조정하기 위해 구성된 가변 이득 수단을 포함할 수 있고,
- 위상 및 진폭 에러 검출기는 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 및 제 2 동작 전압에 XOR 논리 함수를 적용하기 위해 구성된 XOR 수단을 포함하는 위상 비교기와, 피크 검출기 및 제 1 및 제 2 동작 전압의 진폭을 균형화된 위상 및 진폭과 비교하기 위해 구성된 차동 증폭기를 포함하는 진폭 비교기를 포함할 수 있고,
- 그 광검출 수단은 제 1 및 제 2 상보형 광학 신호를 제 1 및 제 2 상보형 전류로 각각 변환하기 위해 구성된 제 1 및 제 2 독립적인 포토다이오드를 포함할 수 있고,
- 광전자 디바이스는 차동 수광기를 구성할 수도 있다.
본 발명의 다른 특징 및 장점은 이하의 상세한 설명 및 첨부 도면을 검토하여 명백해질 것이다. 첨부 도면은 요구된다면 본 발명을 완성할 뿐만 아니라 그 정의에 기여하는 역할을 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광전자 디바이스의 실시예의 예에 접속된 광학 복조기를 개략적으로 그리고 기능적으로 도시하는 도면.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광전자 디바이스의 실시예의 예에 접속된 광학 복조기를 개략적으로 그리고 기능적으로 도시하는 도면.
본 발명의 실시예는 진폭 및 위상 불균형을 자동으로 보상하는 것이 가능한 광전자 디바이스(OD)를 제공하는 것을 목적으로 한다.
이하의 설명에서, 예로서 광전자 디바이스(OD)는 차동 수광기인 것으로 고려될 것이다. 그러나, 광전자 디바이스(OD)는 또한 다수의 기능 및 특히 광수용을 제공하는 디바이스일 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 광전자 디바이스(OD)는 적어도 광검출 수단(PDM) 및 프로세싱 수단(PM)을 포함한다.
광검출 수단(PDM)은 광학 복조기(DM)의 제 1 및 제 2 출력에 각각 접속될 수 있는 제 1 및 제 2 입력을 포함한다. 광학 복조기(DM)는 이것이 그 입력에서 수신하는 각각의 입력 광학 신호를 복조하여 이것이 그 제 1 및 제 2 출력 상에 출력하는 제 1 상보형 광학 신호(DS1) 및 제 2 상보형 광학 신호(DS2)를 생성하기 위해 구성된다.
광검출 수단(PDM)은 제 1 상보형 광학 신호(DS1) 및 제 2 상보형 광학 신호(DS2)(각각 그 제 1 및 제 2 입력에 수신됨)를 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)로 변환하기 위해 구성될 수 있다.
예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 광검출 수단(PDM)은 제 1 및 제 2 독립적인 (바람직하게는) 동일한 포토다이오드(PD1, PD2)를 포함할 수 있다. 여기서, 용어 "독립적인"은 2개의 포토다이오드(PD1, PD2)가 함께 결합되지 않는 사실을 칭하는 것으로 이해되어야 한다.
이들 제 1 및 제 2 포토다이오드(PD1, PD2)는 제 1 상보형 광학 신호(SD1) 및 제 2 상보형 광학 신호(SD2)를 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)로 각각 변환하기 위해 구성된다.
광검출 수단(PDM)은 그 자체로 캐패시터 및 저항을 포함할 수 있는 바이어싱 및 디커플링 네트워크와 같은 추가의 통상의 보조 구성 요소를 추가로 포함할 수 있다.
프로세싱 수단(PM)은 전자 회로 또는 집적 구성 요소일 수 있다. 이 프로세싱 수단은 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)[광검출 수단(PDM)에 의해 출력됨]를 프로세싱하여 적어도 제 1 출력 전압(V1) 및 선택적으로 출력에서의 차동 신호화가 더 요구되면 제 2 상보형 출력 전압(V2)을 출력하기 위해 구성된다.
예를 들어, 제 1 출력 전압(V1)에 상보적인 제 2 출력 전압(V2)은 이 제 1 출력 전압(V1)의 반대와 동일하다(즉, V2 = -V1).
더 구체적으로는, 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 도 1에 도시된 바와 같이, 프로세싱 수단(PM)은 변환 수단(CM), 균형화 수단(BM) 및 차동 증폭 수단(DAM)을 포함할 수 있다.
변환 수단(CM)은 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)가 각각 공급될 광검출 수단(PDM)의 출력에 각각 접속된 제 1 및 제 2 입력을 포함할 수 있다. 이 변환 수단은 수용된 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)를, 이것이 제 1 및 제 2 출력에서 각각 출력하는 제 1 동작 전압(SV1) 및 제 2 동작 전압(SV2)으로 개별적으로 변환하기 위해 구성된다. 여기서, 용어 "동작 전압"은 그 각각의 출력(들)에서 이러한 전압을 수용하는 수단의 정상 동작을 위해 적용된 간격으로 구성된 값들을 갖는 전압을 칭하는 것으로 이해되어야 한다.
예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 변환 수단(CM)은 제 1 상보형 전류(C1) 및 제 2 상보형 전류(C2)를 각각 제 1 동작 전압(SV1) 및 제 2 동작 전압(SV2)으로 변환하기 위해 구성된 제 1 독립적인 바람직하게는 동일한 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA1) 및 제 2 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA2)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 각각의 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA1, TA2)은 싱글-엔디드 트랜스-임피던스 증폭기이다.
변환 수단(CM)은 신호를 더 최적화하기 위해 2개의 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA1, TA2)의 하류측의 부가의 프로세싱 수단과, 특히 균형화 수단(BM)을 포함할 수 있다.
이 균형화 수단(BM)은 제 1 동작 전압(SV1) 및 제 2 동작 전압(SV2)이 각각 공급될 변환 수단(CM)의 제 1 및 제 2 출력에 각각 접속된 제 1 및 제 2 출력을 포함한다. 균형화 수단은 이들 제 1 동작 전압(SV1) 및 제 2 동작 전압(SV2)의 위상 및 진폭을 균형화하기 위해 구성된다.
예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 균형화 수단(BM)은 제 1 독립적인 바람직하게는 동일한 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)과, 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)를 포함할 수 있다.
제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1)은 제 1 동작 전압(SV1)이 공급될 변환 수단(CM)의 제 1 출력에 접속된 제 1 입력과, 제 1 제어 신호(전류 또는 전압)(CC1)가 공급될 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)의 제 1 출력에 접속된 제 2 입력을 갖는다. 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)은 제 2 동작 전압(SV2)이 공급될 변환 수단(CM)의 제 2 출력에 접속된 제 1 입력과, 제 2 제어 신호(전류 또는 전압)(CC2)가 공급될 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)의 제 2 출력에 접속된 제 2 입력을 갖는다.
이들 제 1 위상 및 증폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 증폭 조정 수단(PAA2)은 제 1 제어 신호(CC1) 및 제 2 제어 신호(CC2)(전류 또는 전압)의 함수로서 제 1 동작 전압(SV1) 및 제 2 동작 전압(SV2)의 위상 및 진폭을 각각 조정하기 위해 구성되고, 조정된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')을 출력하기 위한 출력을 각각 포함한다.
예를 들어, 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 각각은 제 1 동작 전압(SV1) 또는 제 2 동작 전압(SV2)의 위상을 조정하기 위해 구성된 가변 지연 수단과, 제 1 동작 전압(SV1) 또는 제 2 동작 전압(SV2)의 진폭을 조정하기 위해 구성된 가변 이득 수단을 포함할 수 있다.
여기서, 용어 "가변 지연 수단"은 제어 신호(전류 또는 전압)의 함수로서 신호 상에 도입하는 지연을 수정하는 것이 가능한 전자 구성 요소를 칭하는 것으로 이해되어야 한다. 이러한 가변 지연 수단은 예를 들어 제어 신호(전류 또는 전압)에 의존하여 입력 신호의 다수의 지연된 버전 중에서 선택하는 것을 담당하는 소위 "선택기"에 의해 구현될 수 있다. 더욱이, 여기서 용어 "가변 이득 수단"은 제어 신호(전류 또는 전압)의 함수로서 그 이득을 수정하는 것이 가능한 전자 구성 요소를 칭하는 것으로 이해되어야 한다. 이러한 가변 이득 수단은 예를 들어 공지의 길버트 셀(Gilbert cell)에 의해 구현될 수 있다.
위상 및 진폭 에러 검출기(ED)는 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2) 및 진폭 조정 수단에 각각 접속된 제 1 및 제 2 입력과, 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 제 2 입력에 각각 접속된 제 1 및 제 2 출력을 포함한다. 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)는 특히 그 사이의 가능한 위상 및 진폭 불균형을 결정하기 위해, 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')의 위상 및 진폭을 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 제 1 및 제 2 출력에 의해 각각 출력된 균형화된 위상 및 진폭과 비교하기 위해 구성된다. 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)는 또한 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 동작을 제어하도록 각각 의도되고 이들이 각각 출력하는 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2') 사이의 결정된 위상 및 진폭 불균형을 보상하기 위해 이들 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)에 의해 수행될 위상 및 진폭 조정을 표현하는 제 1 제어 신호(CC1) 및 제 2 제어 신호(CC2)(전류 또는 전압)를 생성하기 위해 구성된다.
예를 들어, 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)는 위상 비교기 및 진폭 비교기를 포함할 수 있다. 상기 위상 비교기는 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')에 XOR 논리 함수를 적용하기 위해 구성된 XOR(배타적 OR) 수단을 포함할 수 있다. 여기서, 용어 "XOR 수단"은 2개의 입력 신호에 적용된 XOR 논리 함수의 결과를 표현하는 신호를 출력하는 것이 가능한 전자 구성 요소를 칭하는 것으로 이해되어야 한다. 위상 비교기는 제 1 동작 전압(SV1')과 제 2 동작 전압(SV2') 사이의 위상차에 비례하거나 또는 이들을 소정 방식으로 표현하는 적합한 신호(전압 또는 전류)를 최종적으로 생성하기 위해 XOR 수단 다음에 몇몇 일반적인 프로세싱 수단을 갖는 몇몇 저역 통과 필터(들)를 추가로 포함할 수 있다.
진폭 비교기는 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')의 각각의 진폭을 비교하기 위해 구성된 피크 검출기 및 차동 증폭기를 포함할 수 있다. 진폭 비교기는 각각의 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')의 진폭에 비례하거나 또는 이들을 소정 방식으로 표현하는 신호를 생성하기 위한 캐패시터(들) 및 다이오드(들)와, 상기 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')을 비교하기 위한 차동 증폭기와, 가능하게는 적합한 진폭 에러 신호를 생성하기 위한 다른 공지의 프로세싱 수단을 포함할 수 있다.
따라서, 균형화 수단(BM)은 제 1 동작 전압(SV1)과 제 2 동작 전압(SV2) 사이의 진폭 및 위상 불균형을 보상하는 것이 가능한 자동 피드백 루프로서 작용한다.
차동 증폭 수단(DAM)은 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')이 각각 공급될 균형화 수단(BM)의 제 1 및 제 2 출력[즉, 제 1 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 것들]에 각각 접속된 제 1 및 제 2 입력을 포함한다.
이 차동 증폭 수단(DAM)은 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1')과 제 2 동작 전압(SV2') 사이의 차이에 비례하는 제 1 출력 전압(V1) 및 선택적으로 그 출력에서 차동 신호화가 더 요구되면 제 2 상보형 출력 전압(V2)을 생성하기 위해 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 제 1 동작 전압(SV1') 및 제 2 동작 전압(SV2')에 차감 기능을 적용하기 위해 구성된다.
본 발명은 무엇보다도 특히 이하에 언급할 가치가 있는 다수의 장점을 제공한다.
- 차동 검출의 간단화 및 비용 절감,
- 균형화 광검출기를 필요로 하지 않고 차동 검출을 효율적으로 구현하기 위한 강력한 해결책,
- 구성 요소 및 제조 공차의 향상 및 따라서 비용 절감.
본 발명은 상기에 단지 예로서 설명된 광전자 디바이스의 실시예에 한정되는 것은 아니고, 이하의 청구범위의 범주 내에서 당업자들에 의해 고려될 수 있는 모든 대안적인 실시예를 포함한다.
Claims (8)
- 광전자 디바이스(optoelectronic device;OD)에 있어서,
제 1 상보형 광학 신호 및 제 2 상보형 광학 신호를 제 1 상보형 전류 및 제 2 상보형 전류로 변환하도록 구성된 광검출 수단(PDM)과,
적어도 제 1 출력 전압(V1)을 출력하도록 상기 제 1 상보형 전류 및 상기 제 2 상보형 전류를 프로세싱하도록 구성된 프로세싱 수단(PM)을 포함하고,
상기 프로세싱 수단(PM)은
상기 제 1 상보형 전류 및 상기 제 2 상보형 전류를 제 1 동작 전압 및 제 2 동작 전압으로 개별적으로 변환하도록 구성된 변환 수단(CM)과,
상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을 균형화하도록 구성된 균형화 수단(a balancing means;BM)과,
균형화된 위상 및 진폭을 갖는 상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압에 차감 함수를 적용하여 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압 사이의 차이에 비례하는 적어도 상기 제 1 출력 전압(V1)을 생성하도록 구성된 차동 증폭 수단(DAM)을 포함하되,
동작 전압의 위상 및 진폭을 균형화하는 단계는 각각의 제어 신호의 함수로 상기 전압의 위상 및 진폭을 각각 조정하는 단계를 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 1 항에 있어서,
상기 변환 수단(CM)은 상기 제 1 상보형 전류 및 상기 제 2 상보형 전류를 상기 제 1 상보형 동작 전압 및 상기 제 2 상보형 동작 전압으로 각각 변환하도록 구성된 제 1 독립적인 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA1) 및 제 2 독립적인 트랜스-임피던스 증폭 수단(TA2)을 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 균형화 수단(BM)은
제어 신호의 함수로서 상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을 각각 조정하도록 구성된 제 1 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)과,
상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압의 위상 및 진폭을, 상기 제 1 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 상기 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)에 의해 출력된 균형화된 위상 및 진폭과 비교하여 위상 및 진폭 불균형을 결정하고, 상기 결정된 위상 및 진폭 불균형을 보상하기 위해 상기 제 1 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 상기 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)에 의해 수행될 위상 및 진폭 조정을 나타내는 상기 제어 신호를 생성하도록 구성된 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)를 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 3 항에 있어서,
상기 제 1 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA1) 및 상기 제 2 독립적인 위상 및 진폭 조정 수단(PAA2)의 각각은 상기 위상을 조정하도록 구성된 가변 지연 수단(a variable delay means)과, 상기 진폭을 조정하도록 구성된 가변 이득 수단(a variable gain means)을 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 3 항에 있어서,
상기 위상 및 진폭 에러 검출기(ED)는 균형화된 위상 및 진폭을 갖는 상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압에 XOR 논리 함수를 적용하도록 구성된 XOR 수단을 포함하는 위상 비교기와,
피크 검출기 및 상기 제 1 동작 전압 및 상기 제 2 동작 전압의 진폭을 균형화된 위상 및 진폭과 비교하도록 구성된 차동 증폭기를 포함하는 진폭 비교기를 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 광검출 수단(PDM)은 상기 제 1 상보형 광학 신호 및 상기 제 2 상보형 광학 신호를 상기 제 1 전류 및 상기 제 2 전류로 각각 변환하도록 구성된 제 1 독립적인 포토다이오드(PD1) 및 제 2 독립적인 포토다이오드(PD2)를 포함하는
광전자 디바이스.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 차동 증폭 수단(DAM)은 상기 제 1 출력 전압(V1)에 상보적인 제 2 출력 전압(V2)을 출력하도록 구성되는
광전자 디바이스.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
차동 수광기(a differential photoreceiver)를 구성하는
광전자 디바이스.
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