KR101448558B1 - Apparatus for testing of PCB - Google Patents

Apparatus for testing of PCB Download PDF

Info

Publication number
KR101448558B1
KR101448558B1 KR1020130096133A KR20130096133A KR101448558B1 KR 101448558 B1 KR101448558 B1 KR 101448558B1 KR 1020130096133 A KR1020130096133 A KR 1020130096133A KR 20130096133 A KR20130096133 A KR 20130096133A KR 101448558 B1 KR101448558 B1 KR 101448558B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit board
printed circuit
electrical characteristic
characteristic data
electrode pad
Prior art date
Application number
KR1020130096133A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140029185A (en
Inventor
윤여운
전태을
박수정
홍준석
Original Assignee
프롬써어티 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 프롬써어티 주식회사 filed Critical 프롬써어티 주식회사
Publication of KR20140029185A publication Critical patent/KR20140029185A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101448558B1 publication Critical patent/KR101448558B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/316—Testing of analog circuits
    • G01R31/3163—Functional testing
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
    • H05K1/0268—Marks, test patterns or identification means for electrical inspection or testing

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 불량 전극 패드뿐만 아니라 정상 전극 패드의 전기 특성 데이터를 모두 판단할 수 있으며, 인쇄회로기판의 로딩 시간을 이용하여 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 1번에 연속하여 테스트 컴퓨터로 제공하여 인쇄회로기판의 테스트에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 인쇄회로기판의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus for a printed circuit board, more specifically, it is possible to judge not only the defective electrode pad but also the electrical characteristic data of the normal electrode pad, And more particularly, to a test apparatus for a printed circuit board capable of reducing the time required for testing a printed circuit board by continuously providing data to a test computer at a time.

Description

인쇄회로기판의 테스트 장치{Apparatus for testing of PCB}[0001] Apparatus for testing of PCB [0002]

본 발명은 인쇄회로기판의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 불량 전극 패드뿐만 아니라 정상 전극 패드의 전기 특성 데이터를 모두 판단할 수 있으며, 인쇄회로기판의 로딩 시간을 이용하여 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 1번에 연속하여 테스트 컴퓨터로 제공하여 인쇄회로기판의 테스트에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 인쇄회로기판의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus for a printed circuit board, more specifically, it is possible to judge not only the defective electrode pad but also the electrical characteristic data of the normal electrode pad, And more particularly, to a test apparatus for a printed circuit board capable of reducing the time required for testing a printed circuit board by continuously providing data to a test computer at a time.

인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)은 반도체, 콘덴서 등 각종 반도체 부품을 고정하고 회로를 연결하는 기판으로, 도 1에 도시되어 있는 바와 같이 인쇄회로기판(1)에는 각종 전자 부품이 실장되는 다수의 전극 패드(10)가 상면에 배치되어 있다. 전자 부품은 전극 패드(10)에 실장되어 회로로 연결되는데, 실제 전자 부품을 전극패드(10)에 실장하기 전에 전극 패드(10)의 전기적 특성을 테스트하여 제조된 인쇄회로기판의 불량 여부를 검사한다.BACKGROUND ART [0002] A printed circuit board (PCB) is a substrate for fixing various semiconductor components such as semiconductors and capacitors and connecting circuits. As shown in FIG. 1, a printed circuit board (PCB) And the electrode pad 10 of the first embodiment is disposed on the upper surface. The electronic component is mounted on the electrode pad 10 and connected to the circuit. Before the actual electronic component is mounted on the electrode pad 10, the electrical characteristics of the electrode pad 10 are tested to check whether the printed circuit board is defective do.

도 2를 참고로 살펴보면, 인쇄회로기판의 불량 여부를 검사하는 인쇄회로기판의 테스트 장치는 통상적으로 인쇄회로기판의 전극 패드에 접촉하는 다수의 테스트 핀을 구비하는데, 테스트 핀(21)을 통해 입력 전극 패드(11)로 테스트 입력 신호를 인가하고 입력 전극 패드(11)와 출력 전극 패드(13) 사이의 전기 특성에 따라 테스트 결과 신호는 출력 전극 패드와 접촉된 테스트 핀(23)을 통해 출력한다. Referring to FIG. 2, a test apparatus of a printed circuit board for inspecting a defect of a printed circuit board typically includes a plurality of test pins contacting the electrode pads of a printed circuit board, A test input signal is applied to the electrode pad 11 and a test result signal is output through the test pin 23 in contact with the output electrode pad according to electrical characteristics between the input electrode pad 11 and the output electrode pad 13 .

인쇄회로기판의 테스트 장치는 입력 전극 패드로 테스트 입력 신호를 인가하는 테스트 핀과 입력 전극 패드를 제외한 인쇄회로기판의 모든 전극 패드로부터 테스트 결과 신호를 출력하는 다수의 테스트 핀을 구비하고 있는데, 종래 인쇄회로기판의 테스트 장치는 불량 전극 패드에 대한 전기 특성 데이터만을 취득하는 방식을 취하고 있다. The test apparatus for a printed circuit board includes a test pin for applying a test input signal to an input electrode pad and a plurality of test pins for outputting a test result signal from all the electrode pads of the printed circuit board except the input electrode pad. The test apparatus of the circuit board takes a method of acquiring only electrical characteristic data for the defective electrode pad.

종래 인쇄회로기판 테스트 장치의 회로도를 개략적으로 도시하고 있는 도 3을 참고로 보다 구체적으로 살펴보면, 테스트 신호 발생부(31)에서 생성된 테스트 입력 신호는 입력 테스트 핀으로 인가되는데, 입력 테스트 핀과 각 출력 테스트 핀 사이에는 일정한 크기의 이격 저항(Ri)이 존재하며 이격 저항(Ri)의 크기에 따라 각 출력 테스트 핀에서는 서로 다른 크기의 아날로그 전기 특성 신호가 출력된다. 멀티플렉서(35)는 선택적으로 전압 형태의 테스트 입력 신호에 따른 테스트 출력 신호를 불량 검출부(37)로 출력하거나 전류 형태의 테스트 입력 신호에 따른 테스트 출력 신호를 불량 검출부(37)로 출력한다. 전압 형태의 테스트 입력 신호가 입력 테스트 핀으로 인가되는 경우 전압계(32)를 통해 테스트 출력 신호의 크기를 측정하며 전류 형태의 테스트 입력 신호가 입력 테스트 핀으로 인가되는 경우 전류계(33)를 통해 테스트 출력 신호의 크기를 측정한다.Referring to FIG. 3, which schematically shows a circuit diagram of a conventional printed circuit board test apparatus, a test input signal generated in the test signal generating unit 31 is applied to an input test pin. There is a constant-sized separation resistor (R i ) between the output test pins, and analog output signals of different sizes are output at each output test pin according to the size of the separation resistance (R i ). The multiplexer 35 selectively outputs a test output signal corresponding to the test input signal in the form of a voltage to the defect detector 37 or a test output signal according to the test input signal in the form of a current to the defect detector 37. When the test input signal in the form of a voltage is applied to the input test pin, the magnitude of the test output signal is measured via the voltmeter 32. When the test input signal in the form of a current is applied to the input test pin, Measure the size of the signal.

불량 검출부(37)는 테스트 결과 신호와 기준 신호를 비교하여 인쇄회로기판에 형성된 전극 패드의 불량 여부를 검출한다. 바람직하게 불량 검출부(37)는 비교기로 테스트 결과 신호와 기준 신호의 크기를 비교하여 전극 패드의 불량 여부를 검출한다.The defect detector 37 compares the test result signal with the reference signal and detects whether or not the electrode pad formed on the printed circuit board is defective. Preferably, the defect detector 37 compares the test result signal with the reference signal with a comparator to detect whether the electrode pad is defective or not.

불량인 전극 패드가 검출되는 경우, 아날로그-디지털 변환부(39)는 불량으로 판단된 전극 패드에 한해 아날로그의 전기 특성 데이터를 디지털 데이터로 변환하고 변환한 데이터 버스를 통해 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 전송한다.When a defective electrode pad is detected, the analog-to-digital conversion unit 39 converts the analog electrical characteristic data into digital data only for the electrode pads determined to be defective, converts the electrical characteristic data to an external test computer Lt; / RTI >

통상적으로 외부 테스트 컴퓨터와 인쇄회로기판 테스트 장치는 서로 직렬 데이터 버스를 통해 연결되어 있는데, 데이터 버스를 통해 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 전송하기 위해서는 오래 시간이 소요된다. 따라서 불량인 전극 패드가 검출되는 경우에 한해 인쇄회로기판 테스트 장치의 테스트 동작을 중단하고 불량 전극 패드에 대한 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 전송한다. Typically, the external test computer and the printed circuit board test apparatus are connected to each other via a serial data bus. It takes a long time to transfer the electrical characteristic data of all the electrode pads to the external test computer through the data bus. Therefore, only when a defective electrode pad is detected, the test operation of the printed circuit board test apparatus is stopped and the electrical characteristic data for the defective electrode pad is transmitted to the external test computer.

도 4는 종래 인쇄회로기판 테스트 장치에서 불량 전극 패드의 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 송신하는데 소요되는 시간을 나타내는 그래프이다. 도 2에 도시되어 있는 바와 같이, 테스트 신호 발생부에서 입력 테스트 핀으로 인가되는 테스트 입력 신호를 생성하는데 소요되는 시간(TS), 불량 검출부에서 테스트 출력 신호에 기초하여 전극 패드의 불량 여부를 검사하는데 소요되는 시간(TF), 불량으로 판단된 아날로그의 전극 패드의 전기 특성 데이터를 디지털로 변환하는데 소요되는 시간(TA) 및 변환한 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송하는데 소요되는 시간이 소요된다. FIG. 4 is a graph showing a time required for transmitting electrical characteristic data of a defective electrode pad to an external test computer in a conventional printed circuit board test apparatus. As shown in FIG. 2, it is necessary to check the time (T S ) required to generate the test input signal applied to the input test pin in the test signal generating unit, whether the electrode pad is defective based on the test output signal in the defect detecting unit time required to (T F), the time (T a) and convert the electrical characteristic data required to convert the electrical characteristic data of the analog electrode pads of determining as defective digitally via a data bus to transfer to an external test computer It takes time.

그러나 현재의 인쇄회로기판의 테스트 경향은 전극 패드의 정상/불량 여부를 판단하는데 그치지 않고 정상 전극 패드 또는 불량 전극 패드에 대해서도 등급을 나누고 있다. 즉, 정상으로 판단된 전극 패드의 경우에도 정상 등급을 나누어 제품의 품질을 관리한다. 정상 전극 패드와 불량 전극 패드의 품질을 모두 관리하기 위해서는 모든 전극 패드에 대한 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 전송할 필요가 있다.However, the test trend of the present printed circuit board not only determines whether the electrode pad is normal or bad, but also classifies the normal electrode pad or the defective electrode pad. That is, even in the case of the electrode pad judged to be normal, the quality of the product is managed by dividing the normal grade. In order to manage both the quality of the normal electrode pad and the quality of the defective electrode pad, it is necessary to transmit the electrical characteristic data for all electrode pads to the external test computer.

종래 인쇄회로기판 테스트 장치를 통해 인쇄회로기판의 모든 전극 패드를 테스트하기 위해서는 전극 패드 수의 배수에 해당하는 테스트 시간이 소요된다는 문제점을 가진다.There is a problem that a test time corresponding to a multiple of the number of electrode pads is required to test all the electrode pads of the printed circuit board through the conventional printed circuit board testing apparatus.

본 발명이 이루고자 하는 목적은 인쇄회로기판의 테스트 시간을 줄이면서 모든 전극 패드에 대한 전기 특성 데이터로부터 인쇄회로기판 전체에 대한 품질 관리가 가능한 인쇄회로기판 테스트 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a printed circuit board test apparatus capable of managing the quality of an entire printed circuit board from electrical characteristic data of all electrode pads while reducing the test time of the printed circuit board.

본 발명이 이루고자 하는 목적은 인쇄회로기판의 테스트 완료 후 새로운 인쇄회로기판을 로딩하는데 시간이 소요된다는 점에 착안하여 인쇄회로기판의 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부에 저장 후, 로딩 시간에 전기 특성 데이터를 1번에 모두 외부 테스트 컴퓨터로 전송하여 인쇄회로기판의 모든 전극 패드를 테스트하는데 소용되는 시간을 줄인 인쇄회로기판 테스트 장치를 제공하는 것이다. The present invention has been made in view of the fact that it takes a long time to load a new printed circuit board after completing a test of a printed circuit board and stores electrical characteristic data of all the electrode pads of the printed circuit board in a storage unit, The present invention provides a printed circuit board test apparatus that reduces the time spent in testing all the electrode pads of a printed circuit board by transferring electrical characteristic data to an external test computer all at once.

본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 인쇄회로기판에 형성되어 있는 제1 전극 패드로 테스트 입력 신호를 인가하고 제2 전극 패드로부터 출력되는 테스트 결과 신호로부터 인쇄회로기판의 아날로그 전기 특성을 측정하는 측정부와, 측정한 아날로그 전기 특성 데이터를 디지털로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와, 변환한 전기 특성 데이터를 저장하는 저장부와, 인쇄회로기판에 형성되어 있는 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부에 저장 제어하며 전극 패드의 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어하는 제어부를 포함하는 특징으로 한다.In order to accomplish the object of the present invention, a test apparatus for testing a printed circuit board according to the present invention applies a test input signal to a first electrode pad formed on a printed circuit board, An analog-to-digital conversion section for converting the measured analog electrical characteristic data into a digital signal; a storage section for storing the converted electrical characteristic data; And controlling the electric characteristic data of the pad to be stored in the storage unit and controlling the electric characteristic data of the electrode pad to be transmitted to the external test computer through the data bus.

여기서 저장부에는 인쇄회로기판을 구성하는 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터가 저장되는 것을 특징으로 한다.Wherein the electrical characteristic data of all the electrode pads constituting the printed circuit board are stored in the storage unit.

본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 변환한 전기 특성 데이터로부터 불량 전극 패드를 검출하는 불량 검출부를 더 포함하며, 저장부에는 불량으로 판단된 전극 패드의 전기 특성 데이터와 정상으로 판단된 전극 패드의 전기 특성 데이터가 모두 저장되는 것을 특징으로 한다.The apparatus for testing a printed circuit board according to the present invention further comprises a defect detector for detecting a defective electrode pad from the converted electrical characteristic data, And the electric characteristic data are all stored.

바람직하게, 제어부는 변환한 전극 패드의 전기 특성 데이터를 전극 패드에 매핑된 저장부의 저장주소에 저장 제어하는 저장 제어부와, 저장부의 각 저장주소에 전기 특성 데이터가 저장되었는지 판단하여 인쇄회로기판의 모든 전극 패드에 대한 전기 특성 테스트가 종료되었는지 판단하는 종료 판단부와, 모든 전극 패드의 전기 특성 테스트가 종료되는 경우 저장부에 저장되어 있는 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어하는 전송 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the control unit controls the storage unit to store the electrical characteristic data of the converted electrode pad at a storage address of the storage unit mapped to the electrode pad. The control unit determines whether the electrical characteristic data is stored at each storage address of the storage unit, An end judgment unit for judging whether or not the electric characteristic test for the electrode pads is completed; and a control unit for controlling the transfer of the electric characteristic data stored in the storage unit to the external test computer via the data bus, And a control unit.

본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 인쇄회로기판에 형성된 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부에 저장한 후, 인쇄회로기판의 테스트가 완료되면 새로운 인쇄회로기판을 인쇄회로기판 테스트 장치에 로딩하는 시간 동안 저장부에 저장된 전기 특성 데이터를 테스트 컴퓨터로 일체로 전송함으로써, 인쇄회로기판의 모든 테스트 핀의 전기특성 데이터를 테스트하는데 소요되는 시간을 줄일 수 있다.The apparatus for testing printed circuit boards according to the present invention stores electrical characteristic data of all electrode pads formed on a printed circuit board in a storage unit and then loads a new printed circuit board into a printed circuit board test apparatus The time required to test the electrical characteristic data of all the test pins of the printed circuit board can be reduced by transmitting the electrical characteristic data stored in the storage unit to the test computer as one unit.

또한 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 각 전극 패드별로 불량/정상 여부를 판단하지 않기 때문에 인쇄회로기판의 테스트 도중 불량인 전극 패드가 검출되는 경우에도 테스트 동작이 중단되지 않으며, 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 일체로 테스트 컴퓨터로 전송함으로써 테스트 컴퓨터에서 인쇄회로기판 테스트 장치 사이로부터 전기 특성 데이터를 판독하는데 소요되는 시간을 줄일 수 있다.Also, since the PCB test apparatus according to the present invention does not determine whether the electrode pad is defective or not for each electrode pad, the test operation is not interrupted even when a defective electrode pad is detected during testing of the printed circuit board. It is possible to reduce the time required to read the electrical characteristic data from among the printed circuit board test apparatuses in the test computer by transferring the electrical characteristic data to the test computer as one unit.

도 1은 통상의 인쇄회로기판의 일 예를 도시하고 있다.
도 2는 인쇄회로기판의 불량 여부를 검사하는 테스트 핀과 전극 패드의 접촉 상태를 도시하고 있다.
도 3은 종래 인쇄회로기판 테스트 장치의 회로도를 개략적으로 도시하고 있다.
도 4는 종래 인쇄회로기판 테스트 장치에서 전극 패드의 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 송신하는데 소요되는 시간을 나타내는 그래프이다.
도 5는 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치를 설명하는 기능 블록도이다.
도 6은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치에서 전극 패드의 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 송신하는데 소요되는 시간을 나타내는 그래프이다. Fig. 1 shows an example of a typical printed circuit board.
2 shows a contact state between a test pin and an electrode pad for checking whether a printed circuit board is defective.
3 schematically shows a circuit diagram of a conventional printed circuit board test apparatus.
4 is a graph showing a time required for transmitting electrical characteristic data of an electrode pad to an external test computer in a conventional printed circuit board test apparatus.
5 is a functional block diagram illustrating a test apparatus for a printed circuit board according to the present invention.
6 is a graph showing a time required for transmitting electrical characteristic data of an electrode pad to an external test computer in a printed circuit board testing apparatus according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치를 설명하는 기능 블록도이다.5 is a functional block diagram illustrating a test apparatus for a printed circuit board according to the present invention.

도 5를 참고로 보다 구체적으로 살펴보면, 측정부(210)는 출력 테스트 핀으로 인가되는 테스트 출력 신호에 기초하여 출력 전극 패드의 전기 특성 데이터를 측정한다. 여기서 전기 특성 데이터는 테스트 입력 신호와 측정부의 종류에 따라 전압 또는 전류 크기인 것을 특징으로 한다. 테스트 입력 신호가 입력 테스트 핀으로 인가되는 경우 입력 테스트 핀이 접촉되는 입력 전극 패드와 출력 전극 패드 사이의 저항 크기에 따라 출력 전극 패드를 통해 출력 테스트 핀으로 테스트 출력 신호가 출력된다.5, the measuring unit 210 measures electrical characteristic data of the output electrode pad based on a test output signal applied to the output test pin. Here, the electrical characteristic data is characterized by a voltage or a current magnitude depending on the type of the test input signal and the measurement unit. When the test input signal is applied to the input test pin, the test output signal is output to the output test pin through the output electrode pad according to the magnitude of the resistance between the input electrode pad and the output electrode pad to which the input test pin is contacted.

아날로그-디지털 변환부(220)는 측정부(210)로부터 측정한 아날로그의 전기 특성 데이터를 디지털로 변환하고, 변환한 전기 특성 데이터를 저장부(230)에 저장한다. The analog-to-digital converter 220 converts the analog electrical characteristic data measured by the measuring unit 210 into digital data, and stores the converted electrical characteristic data in the storage unit 230.

제어부(240)는 인쇄회로기판에 형성되어 있는 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부(230)에 저장 제어하며, 전극 패드의 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어한다. 여기서 제어부(240)는 인쇄회로기판에 형성되어 있는 전극 패드에 매핑되어 있는 저장 주소로 해당 전극 패드의 전기 특성 데이터를 순차적으로 저장 제어하며, 인쇄회로기판의 테스트가 종료된 경우 저장부(230)에 저장되어 있는 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 테스트 컴퓨터로 전송한다. The control unit 240 controls the storage unit 230 to store the electrical characteristic data of the electrode pad formed on the printed circuit board and controls the electric characteristic data of the electrode pad to be transmitted to the external test computer through the data bus. The control unit 240 sequentially stores and controls the electrical characteristic data of the corresponding electrode pad at a storage address mapped to the electrode pad formed on the printed circuit board. When the test of the printed circuit board is completed, The electric characteristic data of all the electrode pads stored in the memory cell array is transmitted to the test computer.

바람직하게, 인쇄회로기판의 테스트가 종료된 후, 테스트 완료한 인쇄회로기판을 인쇄회로기판 테스트 장치에서 언로딩(unloading)하고 테스트하고자 하는 새로운 인쇄회로기판을 인쇄회로기판 테스트 장치로 로딩(loading)하는데 일정한 시간이 소요된다. 인쇄회로기판의 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부(230)에 저장한 후, 인쇄회로기판의 테스트가 완료되어 인쇄회로기판을 언로딩하고 새로운 인쇄회로기판을 로딩하는 시간에 데이터 버스를 통해 전기 특성 데이터를 전송함으로써, 인쇄회로기판의 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 판독하면서도 종래 인쇄회로기판의 테스트 장치보다 빠른 시간에 인쇄회로기판을 테스트할 수 있다.Preferably, after the test of the printed circuit board is completed, the tested printed circuit board is unloaded from the printed circuit board testing apparatus and a new printed circuit board to be tested is loaded into the printed circuit board testing apparatus, It takes a certain amount of time. After the electric characteristic data of all the electrode pads of the printed circuit board are stored in the storage unit 230, the test of the printed circuit board is completed and the unloading of the printed circuit board and the loading of the new printed circuit board are performed By transmitting the electrical characteristic data, it is possible to test the printed circuit board faster than the test apparatus of the conventional printed circuit board while reading the electrical characteristic data of all the electrode pads of the printed circuit board.

본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치의 제어부(240)를 보다 구체적으로 살펴보면, 저장 제어부(241)는 변환한 전극 패드의 전기 특성 데이터를 전극 패드에 매핑된 저장부(230)의 저장주소에 저장 제어하며, 종료 판단부(243)는 저장부(230)의 각 저장주소에 전기 특성 데이터가 저장되었는지 판단하여 인쇄회로기판의 모든 전극 패드에 대한 전기 특성 테스트가 종료되었는지 판단한다.The storage controller 241 may store the electrical characteristic data of the converted electrode pad in a storage address of the storage unit 230 mapped to the electrode pad of the controller 240 of the printed circuit board testing apparatus according to the present invention. The termination determination unit 243 determines whether the electrical characteristic data is stored in each storage address of the storage unit 230 and determines whether the electrical characteristics test for all the electrode pads of the PCB is completed.

전송 제어부(245)는 모든 전극 패드의 전기 특성 테스트가 종료되는 경우, 저장부(230)에 저장되어 있는 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어한다.The transfer control unit 245 transfers the electrical characteristic data stored in the storage unit 230 to the external test computer through the data bus when the electrical characteristics test of all the electrode pads is completed.

바람직하게, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 불량 검출부(250)를 구비하는데, 아날로그-디지털 변환부(220)에서 변환한 전기 특성 데이터와 기준 전기 특성 데이터를 비교하여 불량인 전극 패드를 검출하고, 전극 패드의 전기 특성 데이터를 저장부(230)에 저장시 불량 여부에 대한 정보를 저장부에 함께 저장할 수 있다. 사용자가 테스트 컴퓨터를 통해 인쇄회로기판의 불량 여부를 판단할 때, 불량 여부에 대한 정보를 이용하여 용이하게 불량인 전극 패드를 판단할 수 있다. Preferably, the apparatus for testing a printed circuit board according to the present invention includes a defect detector 250. The defect detector 250 compares the electrical characteristic data converted by the analog-to-digital converter 220 with the reference electrical characteristic data, And information on whether or not the electrical characteristic data of the electrode pads is stored in the storage unit 230 may be stored together in the storage unit. When the user judges whether or not the printed circuit board is defective through the test computer, it is possible to easily judge the defective electrode pad by using information on the defective state.

도 6은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치에서 전극 패드의 전기 특성 데이터를 외부 테스트 컴퓨터로 송신하는데 소요되는 시간을 나타내는 그래프이다. 6 is a graph showing a time required for transmitting electrical characteristic data of an electrode pad to an external test computer in a printed circuit board testing apparatus according to the present invention.

도 6에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 테스트 신호 발생부에서 입력 테스트 핀으로 인가되는 테스트 입력 신호를 생성하는데 소요되는 시간(TS)과 아날로그의 전극 패드의 전기 특성 데이터를 디지털로 변환하는데 소요되는 시간(TA)만이 소요된다. 즉, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 저장부에 저장되어 있는 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 1번에 테스트 컴퓨터로 전송하기 때문에 1번의 데이터 전송 준비 단계를 거쳐 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 테스트 컴퓨터로 전송한다. 그러나 종래 인쇄회로기판 테스트 장치의 경우 불량 전극 패드가 검출될 때마다 테스트 동작을 중단하고 해당하는 불량 전극 패드의 전기 특성 데이터를 테스트 컴퓨터로 전송하기 위한 전송 준비 단계를 거쳐야 하기 때문에 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치보다 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터를 전송하는데 오랜 시간이 소요된다. 또한, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 인쇄회로기판의 로딩 또는 언로딩 시간 동안에 전기 특성 데이터를 전송하기 때문에, 테스트 중 불량 전극 패드가 검출될 때마다 테스트 동작을 중단하고 전기 특성 데이터를 전송하는 종래 인쇄회로기판 테스트 장치에 비해 인쇄회로기판의 테스트 시간을 줄일 수 있다.
As shown in Figure 6, a printed circuit board testing device according to the invention the electrical of the electrode pads of the time (T S) and the analog required to produce a test input signal applied to the input test pin in the unit test signal generating Only the time (T A ) required to convert the characteristic data to digital is required. That is, since the electrical characteristic data of all the electrode pads stored in the storage unit is transmitted to the test computer at one time, the electrical characteristics data of all the electrode pads To the test computer. However, in the conventional printed circuit board test apparatus, every time a defective electrode pad is detected, the test operation is interrupted, and the electrical characteristic data of the corresponding defective electrode pad is required to be transferred to the test computer. It takes a long time to transmit the electric characteristic data of all the electrode pads rather than the circuit board test apparatus. Also, since the printed circuit board testing apparatus according to the present invention transmits the electrical characteristic data during the loading or unloading time of the printed circuit board, the testing operation is interrupted every time the defective electrode pad is detected during the test, The test time of the printed circuit board can be reduced as compared with the conventional printed circuit board test apparatus.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is evident that many alternatives, modifications and variations will be apparent to those skilled in the art. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

210: 측정부 220: 아날로그-디지털 변환부
230: 저장부 240: 제어부
241: 저장 제어부 243: 종료 판단부
245: 전송 제어부 250: 불량 검출부210: measuring unit 220: analog-to-digital conversion unit
230: storage unit 240: control unit
241: storage control unit 243:
245: Transmission control unit 250:

Claims (4)

삭제delete 인쇄회로기판에 형성되어 있는 제1 전극 패드로 테스트 입력 신호를 인가하고 제2 전극 패드로부터 출력되는 테스트 결과 신호로부터 상기 인쇄회로 기판의 아날로그 전기 특성을 측정하는 측정부;
상기 측정한 아날로그 전기 특성 데이터를 디지털로 변환하는 아날로그-디지털 변환부;
상기 변환한 전기 특성 데이터를 저장하는 저장부; 및
상기 인쇄회로기판에 형성되어 있는 전극 패드의 전기 특성 데이터를 상기 저장부에 저장 제어하며, 상기 전극 패드의 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 저장부에는 상기 인쇄회로기판을 구성하는 모든 전극 패드의 전기 특성 데이터가 저장되며,
상기 제어부는
상기 변환한 전극 패드의 전기 특성 데이터를 상기 전극 패드에 매핑된 저장부의 저장주소에 저장 제어하는 저장 제어부;
상기 저장부의 각 저장주소에 전기 특성 데이터가 저장되었는지 판단하여 상기 인쇄회로기판의 모든 전극 패드에 대한 전기 특성 테스트가 종료되었는지 판단하는 종료 판단부; 및
상기 모든 전극 패드의 전기 특성 테스트가 종료되는 경우, 상기 저장부에 저장되어 있는 전기 특성 데이터를 데이터 버스를 통해 외부 테스트 컴퓨터로 전송 제어하는 전송 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 테스트 장치.A measuring unit for applying a test input signal to a first electrode pad formed on a printed circuit board and measuring an analog electrical characteristic of the printed circuit board from a test result signal output from the second electrode pad;
An analog-to-digital converter for converting the measured analog electrical characteristic data into digital data;
A storage unit for storing the converted electrical characteristic data; And
And a control unit for storing and controlling the electrical characteristic data of the electrode pad formed on the printed circuit board in the storage unit and controlling the electrical characteristic data of the electrode pad to an external test computer via a data bus,
The electrical characteristic data of all electrode pads constituting the printed circuit board are stored in the storage unit,
The control unit
A storage controller for storing electrical characteristics data of the converted electrode pad at a storage address of a storage unit mapped to the electrode pad;
An end determination unit for determining whether electrical characteristic data of all the electrode pads of the printed circuit board is completed by determining whether electrical characteristic data is stored in each storage address of the storage unit; And
And a transfer control unit for transferring electrical characteristic data stored in the storage unit to an external test computer via a data bus when the electric characteristic test of all the electrode pads is completed. 제 2 항에 있어서, 상기 인쇄회로기판 테스트 장치는
상기 변환한 전기 특성 데이터로부터 불량 전극 패드를 검출하는 불량 검출부를 더 포함하며,
상기 저장부에는 불량으로 판단된 전극 패드의 전기 특성 데이터와 정상으로 판단된 전극 패드의 전기 특성 데이터가 모두 저장되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 테스트 장치. The apparatus according to claim 2, wherein the printed circuit board testing apparatus
Further comprising a defect detector for detecting a defective electrode pad from the converted electrical characteristic data,
Wherein the electrical characteristic data of the electrode pad determined to be defective and the electrical characteristic data of the electrode pad determined to be normal are all stored in the storage unit. 삭제delete
KR1020130096133A 2012-08-28 2013-08-13 Apparatus for testing of PCB KR101448558B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120094184 2012-08-28
KR20120094184 2012-08-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140029185A KR20140029185A (en) 2014-03-10
KR101448558B1 true KR101448558B1 (en) 2014-10-13

Family

ID=50642384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130096133A KR101448558B1 (en) 2012-08-28 2013-08-13 Apparatus for testing of PCB

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101448558B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000014797A (en) * 1998-08-25 2000-03-15 윤종용 Automatic instruction device and a method thereof using printing circuit board image management
KR20000067032A (en) * 1999-04-22 2000-11-15 신원철 Printed Circuit Board Test Apparatus and Method
KR20040024352A (en) * 2002-09-14 2004-03-20 (주)킵스 PCB Tester

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000014797A (en) * 1998-08-25 2000-03-15 윤종용 Automatic instruction device and a method thereof using printing circuit board image management
KR20000067032A (en) * 1999-04-22 2000-11-15 신원철 Printed Circuit Board Test Apparatus and Method
KR20040024352A (en) * 2002-09-14 2004-03-20 (주)킵스 PCB Tester

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140029185A (en) 2014-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7855567B2 (en) Electronic device testing system and method
US6717415B2 (en) Circuit and method for determining the location of defect in a circuit
US9207278B2 (en) Testing integrated circuit packaging for shorts
WO2016017292A1 (en) Device inspection method, probe card, interposer, and inspection apparatus
US6856154B2 (en) Test board for testing IC package and tester calibration method using the same
JP2002156399A (en) Device and method for inspecting circuit board
KR101448558B1 (en) Apparatus for testing of PCB
US7847571B2 (en) Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel for Pogo tower
JP2009002857A (en) Circuit element measuring apparatus
JP5191805B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
JP5032892B2 (en) Circuit board inspection method and apparatus
JP4259692B2 (en) Circuit board inspection equipment
KR20150072263A (en) Driver integrated circuit chip and display device having the same
JP3784479B2 (en) Circuit board inspection method
US9103877B2 (en) Apparatus and method for IDDQ tests
KR20090043356A (en) Mounted testing device for usb flash memory
KR20140009027A (en) Apparatus and method for inspecting board
JP2021052122A (en) Semiconductor integrated circuit device
KR200448732Y1 (en) Mounted Testing Device For USB Flash Memory
JP3592647B2 (en) Semiconductor inspection device, semiconductor integrated circuit, and semiconductor inspection method
US11513090B2 (en) Apparatus and method for evaluating the quality of at least one solder joint between a printed circuit board and a current sensor
JP6733199B2 (en) Inspection device, inspection method, and inspection program
JP2012083262A (en) Testing device and testing method
KR100994669B1 (en) Apparatus for controlling measurement wait-time of test parameter
JP2011002411A (en) Test device of semiconductor integrated circuit, test method, and semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171110

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180829

Year of fee payment: 5