KR101441326B1 - Teaching data auto-generation apparatus of automated inspection machine and method for teaching data auto-generation the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 인쇄회로기판(PCB)에 장착된 부품에 대하여 솔더영역은 물론 패키지영역까지 모두 자동으로 생성할 수 있는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것으로, 이와 같은 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치는, 검사하고자 하는 인쇄회로기판(PCB)에 대응하는 거버파일 데이터를 입력하는 거버파일 입력부와; 상기 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드 데이터를 추출하는 패드 추출부와; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 마운터 파일의 마운터 데이터를 입력하는 마운터파일 입력부와; 상기 패드 데이터와 상기 마운터 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역 데이터를 생성하는 솔더영역 생성부와; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상 데이터를 입력하는 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부와; 상기 솔더영역 데이터와 상기 영상 데이터로부터 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 패키지영역 생성부; 및 상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 출력하는 티칭데이터 출력부로 구성된 것을 포함한다. The present invention provides an apparatus and method for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine capable of automatically generating not only a solder area but also a package area of a component mounted on a printed circuit board (PCB) An apparatus for automatically generating teaching data of an optical inspection machine includes a Gerber file input unit for inputting Gerber file data corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected; A pad extracting unit for separating data constituting the solder pad by processing the input Gerber file data and extracting pad data therefrom; A mounter file input unit for inputting mounter data of a mounter file of a component mounted corresponding to the printed circuit board (PCB); A solder region generating unit for combining the pad data and the mounter data to generate solder region data for each part necessary for solder site inspection; An integrated circuit printed circuit board (PCB) image input unit for acquiring an image of the printed circuit board (PCB) and inputting image data; A package area generation unit for automatically extracting solder area data and package area data necessary for part inspection from the image data; And a teaching data output unit for combining the solder area data and the package area data to output teaching data required for the automatic optical inspection unit (AOI).
Description
본 발명은 표면실장라인의 검사를 위한 티칭데이터 생성에 관한 것으로서, 좀 더 자세하게는 표면실장라인에서 부품조립의 불량여부를 판별하기 위한 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention relates to teaching data generation for inspection of surface mounting lines, and more particularly, to an apparatus and method for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine for determining whether or not a component assembly is defective on a surface mounting line.
일반적으로 표면실장(surface mount technology, SMT) 라인에서의 자동광학검사기(automated inspection machine, AOI)는 최종적으로 저항, 컨덴서, IC와 같은 전자부품이 인쇄회로기판(PCB)에 정상적으로 조립되었는지의 여부를 검사하는 장비이다. 조립이 완료된 PCB에 대한 영상을 획득하고 처리하여, 부품의 위치이탈 등의 오장착 여부와 과납, 미납, 단락과 같은 땜납상태의 불량여부를 검사한다. In general, an automated inspection machine (AOI) on a surface mount technology (SMT) line will ultimately determine whether electronic components such as resistors, capacitors, and ICs are properly assembled on a printed circuit board It is equipment to inspect. An image of the assembled PCB is acquired and processed to check whether the component is misplaced, such as positional deviation of the component, and whether the solder is defective, such as overcharge, shortage, or short circuit.
상기 자동광학검사기(AOI)의 검사작업을 위해서는 부품별로 검사를 수행할 영상영역의 위치와 크기를 미리 티칭하여야 한다. 이때, 검사를 수행할 영상영역은 땜납 상태를 검사하기 위한 ‘솔더영역’과 부품 상태를 점검하기 위한 ‘패키지영역’으로 구분된다. In order to inspect the automatic optical inspection unit (AOI), the position and size of the image region to be inspected for each component must be taught in advance. At this time, the image area to be inspected is divided into a 'solder area' for inspecting the solder state and a 'package area' for checking the parts state.
이때, 칩과 같은 부품에는 통상 부품별로 하나의 패키지영역과 두 개의 솔더영역이 필요하고, IC와 같은 부품에는 하나의 패키지영역과 수개 내지 수십개의 솔더영역이 필요하다. At this time, a part such as a chip usually requires one package area and two solder areas for each part, and one package area and several to several dozen solder areas are required for parts such as an IC.
도 1과 도 2는 일반적으로 칩 부품과 IC 부품에서 패키지 영역과 솔더영역이 정의된 도면을 나타낸 것이다. FIGS. 1 and 2 generally show a package and solder region defined in a chip component and an IC component.
먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 칩 부품은 PCB 상의 패드(101) 위에 부품이 장착되며, 부품은 부품 패키지(102) 부분과 부품 전극(103) 부분으로 구분된다. 이때, 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터는 땜납검사를 위한 솔더영역(104)과 부품검사를 위한 패키지영역(105)에 의해서 추출된다. First, as shown in FIG. 1, a chip component is mounted on a
그리고, 도 2에 도시된 바와 같이, IC 부품은 PCB 상의 패드(201) 위에 부품이 장착되며, 부품은 부품 패키지(202) 부분과 부품 리드(203) 부분으로 구분된다. 이때, 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터는 땜납검사를 위한 솔더영역(204)과 부품검사를 위한 패키지영역(205)에 의해서 추출된다. 2, the IC component is mounted on the
통상 하나의 PCB 에는 수백 내지 수천 개의 부품이 조립되므로, 모든 부품의 솔더영역과 패키지영역을 일일이 수동으로 티칭하기 위해서는 매우 많은 시간이 소요되어, 생산라인의 생산성을 크게 저하시킬 수 있다. 그러므로, 티칭데이터를 자동으로 생성하는 것은 자동광학검사기(AOI)의 작업준비시간을 획기적으로 단축시켜 궁극적으로 표면실장라인의 생산성을 증가시킬 수 있다. In general, since hundreds to thousands of parts are assembled on a single PCB, it takes a lot of time to individually teach the solder area and the package area of all the parts, which can greatly reduce the productivity of the production line. Therefore, automatically generating teaching data can dramatically shorten the task preparation time of the automatic optical tester (AOI) and ultimately increase the productivity of the surface mount line.
자동광학검사기(AOI)의 운영소프트웨어는 자동티칭을 지원하기 위하여, 부품종류별로 솔더영역과 패키지영역에 해당하는 기하학적 데이터와 각종 검사파라메터를 데이터베이스화하여 부품라이브러리로 관리한다. In order to support automatic teaching, the operating software of the automatic optical inspection machine (AOI) manages the geometry data corresponding to the solder area and the package area for each part type and various inspection parameters into a database and manages them as a parts library.
또한, 표면실장(SMT) 라인의 마운터 장비에서 사용되는 마운터데이터 또는 CAD X-Y 데이터에는 인쇄회로기판(PCB)에 장착되는 부품의 중심 위치값(XY 좌표값)과 부품의 코드(자재코드, BOM 코드 등으로 칭함)가 포함되어 있다. Mounter data or CAD XY data used in the mount equipment of the surface mount (SMT) line includes the center position value (XY coordinate value) of the component mounted on the printed circuit board (PCB) And the like).
상기 자동광학검사기(AOI)의 운영소프트웨어는 마운터 파일을 읽어 각 부품의 위치값을 추출하고, 마운터파일에 포함된 부품코드로부터 부품라이브러리의 데이터를 연결하여 티칭데이터를 생성한다. The operating software of the automatic optical inspection unit (AOI) reads the mount file, extracts the position value of each component, and connects the component library data from the component code included in the mount file to generate teaching data.
이와 같이 부품라이브러리에 이미 등록된 부품에 대하여는 자동티칭이 편리하게 수행될 수 있다. 그러나 부품라이브러리에 등록되어 있지 않은 부품에 대하여는 수동티칭의 과정이 추가되어야 한다. 즉 자동광학검사기(AOI)의 카메라로 조립 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하고, 영상화면 위에 사람이 직접 솔더영역과 패키지영역을 표시하여 티칭을 수행하고 부품라이브러리에 추가시켜야한다. 부품전자소자기술의 발달에 따라 인쇄회로기판(PCB)에 조립되는 부품의 종류는 계속 증가하는 추세이다. 또한, 부품소자 메이커 별로 부품 형상에 편차가 발생될 수 있다. 따라서, 자동광학검사기(AOI)의 부품라이브러리가 모든 부품 종류를 포함하는 것은 거의 불가능하다. 특히 자동광학검사기(AOI) 구입 후 초기에는 부품라이브러리에 등록된 부품이 적으므로, 수동티칭에 소요되는 시간이 크다. Automatic teaching can be conveniently performed for parts already registered in the parts library. However, for parts not registered in the parts library, the manual teaching process should be added. That is, the camera of the automatic optical inspection machine (AOI) acquires an image of an assembled printed circuit board (PCB), and a soldering area and a package area are directly displayed on an image screen to perform teaching and add to a parts library. Component As the development of electronic device technology, the kinds of parts assembled on printed circuit board (PCB) are continuously increasing. In addition, there may be a variation in the shape of the parts for each component element maker. Therefore, it is almost impossible for the component library of the automatic optical inspection machine (AOI) to include all kinds of parts. In particular, since the parts registered in the parts library are few in the initial stage after purchasing the automatic optical inspection machine (AOI), the time required for manual teaching is large.
부품라이브러리에 등록되어 있지 않은 신규 부품에 대하여 티칭데이터를 자동으로 추출하기 위하여, 인쇄회로기판(PCB)에 장착된 부품의 솔더영역 및 패키지영역이 자동으로 추출되어야 한다. 솔더영역의 경우 인쇄회로기판(PCB) 거버파일과 마운터파일을 결합하여 자동으로 추출할 수 있다. 거버파일은 인쇄회로기판(PCB)의 제조에 사용되는 국제규격의 파일로서 대부분의 표면실장(SMT) 라인에서 확보가 용이하다. 거버파일 중 패드를 포함하는 레이어로부터 패드의 위치 및 크기 데이터를 추출하고, 마운터파일의 부품중심위치와 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 솔더영역 데이터를 추출할 수 있다. 그리고, 인쇄회로기판(PCB) 거버파일 이외에도 각종 CAD 파일로부터 솔더영역을 추출할 수 있으나, CAD 파일은 CAD 기종별로 형식이 다르므로 접속이 용이하지 않고 전자회로 설계에 대한 자료가 포함되어 있어 기술 보안상 일반적인 표면실장(SMT) 라인에서 확보하는 것이 용이하지 않다.The solder region and the package region of the component mounted on the printed circuit board (PCB) must be automatically extracted in order to automatically extract the teaching data for the new component not registered in the component library. For the solder area, the printed circuit board (PCB) Gerber file and the mounter file can be combined and extracted automatically. Gerber files are international standard files used in the manufacture of printed circuit boards (PCBs) and are readily available in most surface mount (SMT) lines. The position and size data of the pad from the layer containing the pads in the Gerber file can be extracted and combined with the part center position of the mounter file to extract the solder area data required for the automatic optical inspection machine (AOI). In addition to the printed circuit board (PCB) Gerber file, it is possible to extract the solder area from various CAD files. However, the CAD file is not easy to connect because of different CAD models, It is not easy to secure in a general surface mount (SMT) line.
또한, 패키지영역은 부품소자 고유의 데이터로서 거버파일이나 CAD 파일에 포함되어 있지 않아 수동티칭이 불가피하다. 거버파일 중 실크면 레이어가 IC 등 일부 부품에 대한 패키지 외곽선을 포함하므로, 이를 활용하여 IC 등 일부 부품에 대한 패키지영역을 자동으로 추출할 수 있으나, 칩 등 일반 부품에 대하여는 패키지영역 추출이 어렵다. 부품의 패드형상으로부터 부품소자 관련 국제적 데이터베이스를 검색하여 데이터베이스에 포함된 패키지영역을 추출하는 방법도 있으나, 부품소자의 규격이 계속 업데이트되고 있고 신규부품이 자주 출현하는 현실에서 실제 적용이 어렵다.In addition, since the package area is not included in the Gerber file or the CAD file as data specific to the component element, passive teaching is inevitable. Since the silk surface layer of the gerber file contains the package outline for some parts such as IC, it can extract the package area for some parts such as IC by utilizing it, but it is difficult to extract the package area for general parts such as chips. There is a method of extracting the package area included in the database by retrieving an international database related to the component element from the pad shape of the component. However, the specification of the component element is continuously updated and it is difficult to actually apply it in the reality that new parts appear frequently.
결론적으로, 종래의 기술은 자동광학검사기(AOI)의 티칭데이터를 완전히 자동으로 생성하는 것은 어려우며, 솔더영역은 자동생성이 가능하나 패키지영역은 수동 내지 반자동으로 생성하여, 자동광학검사기(AOI)의 신규프로그램 작성에 상당한 시간이 소요된다는 문제가 있다.As a result, it is difficult to completely generate teaching data of the automatic optical inspection unit (AOI), and the solder region can be automatically generated. However, the package region is generated manually or semi-automatically, There is a problem that it takes a considerable time to create a new program.
본 발명은 상기한 종래기술에 따른 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 인쇄회로기판(PCB)에 장착된 부품에 대하여 솔더영역은 물론 패키지영역까지 모두 자동으로 생성할 수 있는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problem of the related art, and it is an object of the present invention to provide an automatic optical inspection machine teaching data which can automatically generate not only a solder area but also a package area to a component mounted on a printed circuit board And an object thereof is to provide an automatic generation apparatus and a method thereof.
또한, 본 발명의 다른 목적은 자동광학검사기(AOI) 내부 또는 외부의 부품데이터베이스를 사용하지 않고도 자동으로 티칭데이터를 생성하고 등록시켜서, 자동광학검사기(AOI)의 신규 프로그램작성 과정 및 소요시간을 단축시키는데 있다. It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for automatically generating and registering teaching data without using a component database inside or outside an automatic optical inspection unit (AOI) There is.
또한, 본 발명의 또 다른 목적은 사실상 표면실장(SMT) 라인 현장에서 확보하기 어려운 데이터들의 사용을 배제하고, 거버파일, 마운터파일 및 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상파일과 같이 모든 표면실장(SMT) 라인에서 쉽게 확보할 수 있는 데이터들을 사용하여 티칭데이터를 자동 생성하는데 있다. It is also a further object of the present invention to eliminate the use of data that is difficult to obtain in the field of surface mount (SMT) lines and to provide a variety of surface mount (SMT) devices, such as Gerber files, mounter files and assembled printed circuit board ) Line to automatically generate teaching data using data.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치는 검사하고자 하는 인쇄회로기판(PCB)에 대응하는 거버파일 데이터를 입력하는 거버파일 입력부와; 상기 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드 데이터를 추출하는 패드 추출부와; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 마운터 파일의 마운터 데이터를 입력하는 마운터파일 입력부와; 상기 패드 데이터와 상기 마운터 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역 데이터를 생성하는 솔더영역 생성부와; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상 데이터를 입력하는 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부와; 상기 솔더영역 데이터와 상기 영상 데이터로부터 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 패키지영역 생성부; 및 상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 출력하는 티칭데이터 출력부로 구성된 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine, comprising: a Gerber file input unit for inputting Gerber file data corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected; A pad extracting unit for separating data constituting the solder pad by processing the input Gerber file data and extracting pad data therefrom; A mounter file input unit for inputting mounter data of a mounter file of a component mounted corresponding to the printed circuit board (PCB); A solder region generating unit for combining the pad data and the mounter data to generate solder region data for each part necessary for solder site inspection; An integrated circuit printed circuit board (PCB) image input unit for acquiring an image of the printed circuit board (PCB) and inputting image data; A package area generation unit for automatically extracting solder area data and package area data necessary for part inspection from the image data; And a teaching data output unit for combining the solder area data and the package area data to output teaching data required for an automatic optical inspection unit (AOI).
또한, 상기 구성을 갖는 본 발명의 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법은, 검사하고자 하는 인쇄회로기판(PCB)에 대응하는 거버파일 데이터를 입력하는 단계; 상기 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드 데이터를 추출하는 단계; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 마운터파일 데이터를 입력하는 단계; 상기 패드 데이터와 상기 마운터파일 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역 데이터를 생성하는 단계; 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상 데이터를 입력하는 단계; 상기 솔더영역 데이터와 상기 영상 데이터로부터 상기 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 단계; 및 상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 출력하는 단계를 포함함을 특징으로 한다. The method of automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine according to the present invention having the above configuration may further include: inputting gerber file data corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected; Processing the input Gerber file data to separate data constituting the solder pad and extract pad data therefrom; Inputting mount file data of a component mounted corresponding to the printed circuit board (PCB); Combining the pad data and the mount file data to generate solder area data for each part necessary for solder site inspection; Acquiring an image of the printed circuit board (PCB) and inputting image data; Automatically extracting the package area data necessary for the parts part inspection from the solder area data and the image data; And combining the solder area data and the package area data to output teaching data required for the automatic optical inspection unit (AOI).
상술한 본 발명은 자동광학검사기(AOI) 티칭 과정 중 가장 많은 시간과 노력이 필요한 패키지영역 등록과정을, 인쇄회로기판(PCB) 영상 및 거버파일, 마운터파일을 사용하여 자동화시켜, 작업 프로그램 작성 소요시간 및 편이성을 개선시킬 수 있다. The present invention described above automates the package area registration process, which requires the most time and effort during the automatic optical inspection (AOI) teaching process, by using a printed circuit board (PCB) image, a Gerber file, and a mounter file, Time and convenience can be improved.
또한, 자동광학검사기(AOI) 내부 또는 외부의 부품데이터베이스를 사용하지 않고도 자동으로 티칭데이터를 생성하고 등록시킬 수 있으므로, 표면실장(SMT) 라인의 핵심 검사장비인 자동광학검사기(AOI)의 작업 프로그램 생성 시간을 단축시킬 수 있으며, 궁극적으로 전자제품 제조 표면실장(SMT) 라인의 생산성을 향상시킬 수 있다. In addition, since the teaching data can be automatically generated and registered without using the internal or external parts database of the automatic optical inspection unit (AOI), the operation program of the automatic optical inspection unit (AOI), which is the core inspection equipment of the surface mount (SMT) It is possible to shorten the production time and ultimately improve the productivity of the electronic product manufacturing surface mount (SMT) line.
도 1은 일반적인 칩형 부품을 나타낸 평면도이다.
도 2는 일반적인 IC형 부품을 나타낸 평면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 자동광학검사기의 티칭데이터 자동생성 장치를 나타낸 구성도이다.
도 4는 도 3의 거버데이터 입력부를 통한 거버데이터를 입력한 예시도면이다.
도 5는 도 3의 패드 추출부를 통한 패드데이터를 화면에 표시한 예시도면이다.
도 6은 도 3의 솔더영역 생성부를 통하여 솔더영역을 화면에 표시한 예시도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법을 나타낸 플로우챠트이다.
도 8은 도 3의 패키지영역 생성부의 구동을 나타낸 플로우챠트이다.
도 9는 도 3의 패키지영역 생성부의 각 부품별 원 영상과 클러스터링 결과와 패키지영역 식별을 나타낸 도면이다. 1 is a plan view showing a general chip-type component.
2 is a plan view showing a general IC type part.
3 is a block diagram showing an apparatus for automatically generating teaching data of an automatic optical tester according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an exemplary view illustrating input of gerber data through the gerber data input unit of FIG. 3. FIG.
5 is an exemplary diagram showing pad data displayed on the screen through the pad extracting unit of FIG.
FIG. 6 is an exemplary view showing a solder region on the screen through the solder region generating unit of FIG. 3;
7 is a flowchart showing a method of automatically generating teaching data of an automatic optical tester according to an embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a flowchart showing the driving of the package area generation unit of FIG. 3;
FIG. 9 is a diagram showing an original image, clustering results, and package area identification for each part of the package area creation unit of FIG. 3. FIG.
본 발명은 인쇄회로기판(PCB)의 거버데이터와 마운터 데이터로부터 솔더영역을 생성하고, 여기에 조립 인쇄회로기판(PCB)의 영상데이터로부터 패키지영역을 생성하여, 최종적으로 자동광학검사기(AOI)의 티칭데이터를 자동으로 생성하는 장치 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention generates a solder region from the gerber data and mounter data of a printed circuit board (PCB), creates a package area from the image data of the printed circuit board (PCB) The present invention relates to an apparatus and method for automatically generating teaching data.
이하, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다. Best Mode for Carrying Out the Invention The most preferred embodiments of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings.
먼저, 본 발명의 실시예에 따른 자동광학검사기의 티칭데이터 자동생성 장치는, 도 3에 도시한 바와 같이, 거버파일 입력부(301)와 패드 추출부(302)와 마운터파일 입력부(303)와 솔더영역 생성부(304)와 조립 PCB 영상 입력부(305)와 패키지영역 생성부(306) 및 티칭데이터 출력부(307)로 구성된다.3, the apparatus for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine according to an embodiment of the present invention includes a gerber
상기 본 발명의 구성 요소 중, 거버파일 입력부(301)는 검사하고자 하는 인쇄회로기판(PCB) 패드가 포함된 레이어의 거버파일을 읽고 화면에 표시하는 기능을 담당한다. Among the constituent elements of the present invention, the Gerber
이때, 상기 거버파일은 국제표준규격(RS-274X, RS-274D)의 텍스트파일이며, 인쇄회로기판(PCB)에 그려지는 다양한 패턴을 벡터형의 데이터로 표시한 파일이다. 도 4는 거버파일을 읽어서 거버데이터를 화면에 표시한 예를 보인 것이다. The Gerber file is a text file of an international standard (RS-274X, RS-274D) and is a file in which various patterns drawn on a printed circuit board (PCB) are represented by vector type data. FIG. 4 shows an example of displaying Gerber data on the screen by reading the Gerber file.
그리고, 패드 추출부(302)는 상기 거버파일 입력부(301)를 통해 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드의 위치 및 영역 데이터를 추출하는 기능을 담당한다. 이와 같은 패드 추출부(302)는 거버파일 내에 패드만 존재하는 레이어에 대하여 완전 자동으로 패드추출이 가능하다. The
도 5는 패드 추출부(302)를 이용하여 패드 데이터를 자동으로 추출하여 화면에 표시한 예를 보인 것으로, 도면 부호 '501'은 패드 데이터를 나타낸 것이다. 5 shows an example in which pad data is automatically extracted using the
그리고, 상기 마운터파일 입력부(303)는 상기 인쇄회로기판(PCB)에 장착되는 부품의 장착명, 중심위치와 각도, 부품자재코드, 패드 수를 포함한 마운터파일(또는 CAD XY 파일)을 읽어드리고, 화면에 표시하는 기능을 담당한다. The mount
또한, 상기 마운터파일 입력부(303)는 상기 마운터파일과 거버파일의 기준 원점이 다른 경우, 전체 위치를 변경하여 일치시키는 기능도 담당한다. If the reference origin of the Gerber file is different from that of the mount file, the mount
그리고, 상기 솔더영역 생성부(304)는 패드 추출부(302)에서 출력한 패드데이터와 마운터파일 입력부(303)에서 출력한 마운터 데이터를 결합하여, 부품별 땜납 부위 검사에 필요한 솔더영역을 생성시킨다. 이때, 부품의 중심위치와 패드의 중심위치, 부품별 패드 수를 고려하여 부품의 중심위치 주변의 패드를 연결시킨다. 이때, 부품 장착명이 부여된 패드는 해당 부품의 솔더영역으로 생성된다. The solder
도 6은 솔더영역 생성부(304)를 통하여 생성된 솔더영역을 화면에 표시한 예시도로써, 도면부호 '601'은 솔더영역이고, '602'은 마운터 데이터를 나타낸 것이다. FIG. 6 is an example of a solder region generated through the solder
그리고, 상기 조립 PCB 영상 입력부(305)는 자동광학검사기(AOI)에 부착되어 있는 카메라를 사용하여, 검사를 수행할 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하는 기능을 담당한다. 이때, 부품 조립이 양호하게 수행되어 있는 PCB(Gold PCB)를 사용한다. The assembled PCB
그리고, 상기 패키지영역 생성부(306)는 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부(305)에서 획득한 영상을 처리하여 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 기능을 담당한다. 이때, 패키지영역 데이터를 용이하게 추출하기 위하여 솔더영역 생성부(304)에서 출력한 부품별 솔더영역 데이터를 사용하여 진행한다. The package
그리고, 상기 티칭데이터 출력부(307)는 솔더영역 생성부(304)에서 생성한 부품별 솔더영역 데이터와 패키지영역 생성부(306)에서 생성한 부품별 패키지영역 데이터를 결합하여 최종적으로 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 생성하고 출력한다. The teaching
상기 구성을 갖는 솔더영역 생성부(304) 및 패키지영역 생성부(306)는 인쇄회로기판(PCB) 내의 모든 개별 부품에 대하여 수행될 필요는 없으며, 부품자재코드가 같은 부품들은 데이터를 복사하여 사용할 수 있다. The solder
이하에서는, 상술한 구성을 갖는 표면실장라인에서의 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법에 대하여 설명하기로 한다. Hereinafter, a method of automatically generating teaching data of the automatic optical tester in the surface mounting line having the above-described configuration will be described.
먼저, 도 7에 도시한 바와 같이, 거버파일 입력부(301)를 통하여 검사하고자 하는 인쇄회로기판(PCB)에 대응하는 거버파일을 읽고 입력하여 화면에 표시한다.(S71)7, a gerber file corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected is read and input through a gerber
이후에, 패드 추출부(302)를 통해서, 상기 거버파일 입력부(301)를 통해 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드의 위치 및 영역 데이터 즉, 패드데이터를 추출한다.(S72)Thereafter, the Gerber file data input through the Gerber
이후에, 마운터파일 입력부(303)를 통해서, 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 장착명, 중심위치와 각도, 부품자재코드, 패드 수를 포함한 마운터 파일(또는 CAD XY 파일)을 읽고 입력하여 화면에 표시한다.(S73)Then, a mounter file (or a CAD XY file) including a mounting name, a center position and an angle, a part material code, and the number of pads of the parts mounted corresponding to the printed circuit board (PCB) through the mounter
이후에, 솔더영역 생성부(304)를 통해서, 상기 패드 추출부(302)에서 출력한 패드데이터와 마운터파일 입력부(303)에서 출력한 마운터 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역을 생성시킨다.(S74) Thereafter, the pad data output from the
상기 솔더영역을 생성시킬 때, 부품의 중심위치와 패드의 중심위치, 부품별 패드 수를 고려하여 부품의 중심위치 주변의 패드를 연결시킨다. 이때, 부품 장착명이 부여된 패드는 해당 부품의 솔더영역으로 생성된다. When creating the solder region, the pads around the center position of the component are connected in consideration of the center position of the component, the center position of the pad, and the number of pads per component. At this time, the pad to which the component mounting name is assigned is generated as the solder region of the component.
이후에, 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부(305)를 통해서, 자동광학검사기(AOI)에 부착되어 있는 카메라를 사용하여, 검사를 수행할 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상데이터를 입력한다.(S75) 이때, 부품 조립이 양호하게 수행되어 있는 PCB(Gold PCB)를 사용한다. Thereafter, an image of a printed circuit board (PCB) to be inspected is obtained through a camera attached to an automatic optical inspection unit (AOI) through an assembled printed circuit board (PCB)
이후에, 패키지영역 생성부(306)를 통해서, 상기 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부(305)에서 획득한 영상 데이터를 처리하여 부품의 패키지영역을 자동으로 추출한다.(S76) 이때, 패키지영역을 용이하게 추출하기 위하여 솔더영역 생성부(304)에서 출력한 부품별 솔더영역 데이터를 사용한다. Thereafter, the package area of the part is automatically extracted by processing the image data acquired by the assembled printed circuit board (PCB)
즉, 패키지영역 생성부(306)를 통하여 솔더영역 데이터와 영상 데이터로 부터 부품부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 추출한다. That is, the package area data necessary for part parts inspection is extracted from the solder area data and the image data through the package
이후에, 티칭데이터 출력부(307)를 통해서, 상기 솔더영역 생성부(304)에서 생성한 부품별 솔더영역 데이터와 패키지영역 생성부(306)에서 생성한 부품별 패키지영역 데이터를 결합하여 최종적으로 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 생성하여 출력한다.(S77) Thereafter, the solder area data for each part generated by the solder
이때, 상기 솔더영역 생성부(304) 및 패키지영역 생성부(306)를 통한 솔더영역 생성과 패키지영역 생성은 인쇄회로기판(PCB) 내의 모든 개별 부품에 대하여 수행할 필요는 없으며, 부품자재코드가 같은 부품들은 데이터를 복사하여 사용할 수 있다. At this time, the solder region creation and the package region creation through the solder
상기 동작 단계 중, 패키지영역을 자동으로 추출하기 위한 단계(S76)를 좀 더 자세히 설명하면 다음과 같다. In operation S76, a step S76 for automatically extracting the package area will be described in more detail.
먼저, 도 8에 도시한 바와 같이, 조립 PCB 영상 입력부를 통하여 획득된 PCB 영상데이터를 읽는다.(S81)First, as shown in FIG. 8, the PCB image data obtained through the assembled PCB image input unit is read (S81)
이후에, 상기 인쇄회로기판(PCB) 내 모든 부품에 대한 솔더영역 데이터를 읽는다(S82). Then, the solder area data for all the components in the printed circuit board (PCB) is read (S82).
이후에, PCB 영상을 부품별 영상으로 분할하는 단계를 거친다.(S83) 이 단계는 인쇄회로기판(PCB) 영상을 각 부품별 영상으로 분할시키는 단계이다. Subsequently, a step of dividing the PCB image into parts-specific images is performed (S83). This step is a step of dividing the printed circuit board (PCB) image into images of respective parts.
상기 솔더영역 데이터는 각 부품의 패드가 존재하는 영역이므로, 패드가 여러 개인 부품의 경우 각 패드영역을 합하면 부품이 존재하는 영역을 구할 수 있다. 이로부터 PCB 영상을 부품별 영상으로 분할시킬 수 있다. Since the solder area data is a region in which pads of each component exist, in the case of a component having a plurality of pads, it is possible to obtain a region in which the component exists by adding the respective pad regions. From this, the PCB image can be divided into parts-by-part images.
이때, 부품별로 분할된 영상은 부품 패키지, 전극 또는 리드, 기판, 실크선, 땜납과 같은 다양한 이미지를 포함한다. At this time, an image divided into parts includes various images such as a component package, an electrode or a lead, a substrate, a silk wire, and a solder.
이후에, PCB 영상을 클러스터링하는 단계를 거친다.(S84) Thereafter, the PCB image is clustered (S84)
이때, PCB 영상을 클러스터링하는 단계는 부품별 영상을 몇 개의 그룹으로 나누는 단계이다. 예를 들어, 부품 패키지, 전극, 리드, 기판은 각 속성별로 다른 색상정보(RGB, HSI 등)를 갖고 있으므로, 색상정보를 기준으로 영상의 각 픽셀을 몇 개의 그룹으로 나눌 수 있다. 이때, 케이-민즈(k-means) 알고리즘, 이엠(EM) 알고리즘과 같은 다양한 클러스터링 기법이 적용될 수도 있으나, 2-3개 정도의 그룹이면 충분하므로 빠른 처리가 가능하다. At this time, the step of clustering the PCB image is a step of dividing the image of each part into several groups. For example, since the component package, electrode, lead, and substrate have different color information (RGB, HSI, etc.) for each property, each pixel of the image can be divided into several groups based on color information. At this time, various clustering techniques such as a k-means algorithm and an EM algorithm may be applied, but a group of about two or more is sufficient, and therefore, a fast processing is possible.
최종적으로 패키지영역을 식별하는 단계를 거친다.(S85)Finally, a step of identifying the package area is performed (S85)
이때, 패키지영역을 식별하는 단계에서는 색상정보를 기준으로 분할된 영상그룹 중 패키지에 해당하는 그룹을 찾고, 이 그룹의 영상데이터를 처리하여 영역정보를 추출하는 것이다. 이때, 패키지영역은 부품별 영상 내에서 중심부에 존재하므로, 위치 값과 색상정보를 사용하여 해당하는 그룹을 식별할 수 있다. 식별된 그룹만을 남기기 위하여 영상 이진화를 수행하며, 이진화된 영상에 대한 처리를 통하여 영역정보를 추출할 수 있다. At this time, in the step of identifying the package area, a group corresponding to the package among the image groups divided on the basis of the color information is searched and the image data of the group is processed to extract the area information. At this time, since the package area exists in the central part in the image of each part, the corresponding group can be identified using the position value and color information. Image binarization is performed to leave only the identified group, and region information can be extracted through processing on the binarized image.
도 9는 칩 부품 및 IC 부품에 대한 패키지영역을 생성하는 사례를 보여주는 도면으로써, 칩과 IC 부품별로 분할된 원 영상, 클러스터링 수행 후 이진화된 영상 및 최종 식별된 패키지영역을 보여준다. FIG. 9 is a diagram showing an example of creating a package area for a chip part and an IC part, which shows an original image divided by a chip and an IC part, a binarized image after clustering, and a finally identified package area.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아니다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 범위는 설명된 예에 의해서가 아니라 청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.The technical idea of the present invention has been specifically described according to the above preferred embodiments, but the above-mentioned embodiments are intended to be illustrative and not restrictive. In addition, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention. Accordingly, the scope of the present invention should be determined by the claims rather than the examples described.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
301 : 거버파일 입력부 302 : 패드 추출부
303 : 마운터파일 입력부 304 : 솔더영역 생성부
305 : 조립 PCB 영상 입력부 306 : 패키지영역 생성부
307 : 티칭데이터 출력부 501 : 패드데이터
601 : 솔더영역 602 : 마운터 데이터 DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS
301: Gerber file input unit 302: Pad extraction unit
303: Mounter file input unit 304: Solder area creation unit
305: Assembled PCB image input unit 306: Package area creation unit
307: Teaching data output unit 501: Pad data
601: Solder area 602: Mounter data
Claims (16)
상기 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드 데이터를 추출하는 패드 추출부와;
상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 마운터 파일의 마운터 데이터를 입력하는 마운터파일 입력부와;
상기 패드 데이터와 상기 마운터 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역 데이터를 생성하는 솔더영역 생성부와;
상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상 데이터를 입력하는 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부와;
상기 솔더영역 데이터와 상기 영상 데이터로부터 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 패키지영역 생성부; 및
상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 출력하는 티칭데이터 출력부를 포함하며,
상기 패키지영역 생성부는, 각 부품의 패드 정보를 갖는 상기 솔더영역 데이터로부터 부품이 존재하는 영역을 구하고, 상기 영상 데이터로부터 상기 부품이 존재하는 영역을 부품별 영상으로 분할시키며, 상기 부품별 영상 내에서의 중심부를 패키지영역으로 추출하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치. A Gerber file input unit for inputting gerber file data corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected;
A pad extracting unit for separating data constituting the solder pad by processing the input Gerber file data and extracting pad data therefrom;
A mounter file input unit for inputting mounter data of a mounter file of a component mounted corresponding to the printed circuit board (PCB);
A solder region generating unit for combining the pad data and the mounter data to generate solder region data for each part necessary for solder site inspection;
An integrated circuit printed circuit board (PCB) image input unit for acquiring an image of the printed circuit board (PCB) and inputting image data;
A package area generation unit for automatically extracting solder area data and package area data necessary for part inspection from the image data; And
And a teaching data output unit for combining the solder area data and the package area data to output teaching data necessary for an automatic optical inspection unit (AOI)
Wherein the package area creation unit obtains a region in which the component exists from the solder region data having pad information of each component and divides the region in which the component exists in the image data into a component-specific image, And the center portion of the automatic optical inspection machine is extracted as a package area.
상기 거버파일은 국제표준규격(RS-274X, RS-274D)의 텍스트파일이며, 상기 인쇄회로기판(PCB)에 그려지는 다양한 패턴을 벡터형의 데이터로 표시한 파일인 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치. The method according to claim 1,
Wherein the Gerber file is a text file of an international standard (RS-274X, RS-274D) and is a file in which various patterns drawn on the printed circuit board (PCB) are expressed as vector type data. Of teaching data.
상기 마운터 파일에는 상기 인쇄회로기판(PCB)에 장착되는 부품의 장착명, 중심위치와 각도, 부품자재코드, 패드 수와 같은 것이 포함된 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치. The method according to claim 1,
Wherein the mount file includes a name of a component mounted on the printed circuit board (PCB), a center position and an angle, a component material code, and a number of pads.
상기 마운터파일 입력부는 상기 마운터 파일과 상기 거버파일의 기준 원점이 다른 경우, 전체 위치를 변경하여 일치시키는 기능을 갖음을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치. The method according to claim 1,
Wherein the mount file input unit has a function of changing the overall position and matching the reference position of the Gerber file when the reference origin of the Gerber file is different from the reference origin of the Gerber file.
상기 조립 인쇄회로기판(PCB) 영상 입력부는 상기 자동광학검사기(AOI)에 부착되어 있는 카메라를 사용하여, 검사를 수행할 상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상 데이터를 획득하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치. The method according to claim 1,
Wherein the assembled printed circuit board (PCB) image input unit acquires image data for the PCB to be inspected using a camera attached to the automatic optical inspection unit (AOI) Automatic generation of teaching data of optic tester.
상기 입력된 거버파일 데이터를 처리하여 땜납 패드를 구성하는 데이터를 분리하고 이로부터 패드 데이터를 추출하는 단계;
상기 인쇄회로기판(PCB)에 대응하여 장착된 부품의 마운터파일 데이터를 입력하는 단계;
상기 패드 데이터와 상기 마운터파일 데이터를 결합하여, 땜납 부위 검사에 필요한 부품별 솔더영역 데이터를 생성하는 단계;
상기 인쇄회로기판(PCB)에 대한 영상을 획득하여 영상 데이터를 입력하는 단계;
상기 솔더영역 데이터와 상기 영상 데이터로부터 상기 부품 부위 검사에 필요한 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 단계; 및
상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 결합하여 자동광학검사기(AOI)에 필요한 티칭데이터를 출력하는 단계를 포함하며,
상기 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 단계에서, 각 부품의 패드 정보를 갖는 상기 솔더영역 데이터로부터 부품이 존재하는 영역을 구하고, 상기 영상 데이터로부터 상기 부품이 존재하는 영역을 부품별 영상으로 분할시키며, 상기 부품별 영상 내에서의 중심부를 패키지영역으로 추출하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. Inputting gerber file data corresponding to a printed circuit board (PCB) to be inspected;
Processing the input Gerber file data to separate data constituting the solder pad and extract pad data therefrom;
Inputting mount file data of a component mounted corresponding to the printed circuit board (PCB);
Combining the pad data and the mount file data to generate solder area data for each part necessary for solder site inspection;
Acquiring an image of the printed circuit board (PCB) and inputting image data;
Automatically extracting the package area data necessary for the parts part inspection from the solder area data and the image data; And
And combining the solder area data and the package area data to output teaching data necessary for the automatic optical inspection unit (AOI)
Wherein the step of automatically extracting the package area data includes the steps of: obtaining an area where the part exists from the solder area data having pad information of each part; dividing the area in which the part exists, And automatically extracting the central portion in the image for each part as a package area.
상기 마운터파일 데이터에는 상기 부품의 장착명, 중심위치와 각도, 부품자재코드와 패드 수가 포함된 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법.The method according to claim 6,
Wherein the mount file data includes a mount name of the part, a center position and an angle, a part material code, and a pad number.
상기 솔더영역 데이터를 생성시킬 때, 상기 부품의 중심위치와 패드의 중심위치, 부품별 패드 수를 고려하여 상기 부품의 중심위치 주변의 패드를 연결시키고, 상기 부품 장착명이 부여된 패드가 해당 부품의 솔더영역으로 생성됨을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 8. The method according to claim 6 or 7,
The solder region data is generated by connecting the pads around the center position of the component in consideration of the center position of the component, the center position of the pad, and the number of pads for each component, And the solder region is generated as a solder region.
상기 영상데이터의 입력은 상기 자동광학검사기(AOI)에 부착되어 있는 카메라를 사용하며, 상기 부품 조립이 양호하게 수행되어 있는 인쇄회로기판(PCB(Gold PCB))를 사용하여 진행함을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. The method according to claim 6,
The input of the image data is carried out using a camera attached to the automatic optical inspection unit (AOI) and using a printed circuit board (PCB (Gold PCB) on which the component assembly is well performed) A method for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine.
상기 인쇄회로기판 내의 상기 부품자재코드가 같은 부품들은 상기 솔더영역 데이터와 상기 패키지영역 데이터를 복사하여 사용하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 8. The method of claim 7,
Wherein the solder area data and the package area data are copied and used in the parts having the same component code in the printed circuit board.
상기 패키지영역 데이터를 자동으로 추출하는 단계는,
상기 인쇄회로기판(PCB)의 영상 데이터를 읽는 단계;
상기 인쇄회로기판(PCB) 내 모든 부품에 대한 솔더영역 데이터를 읽는 단계;
상기 인쇄회로기판(PCB)의 영상 데이터를 각 부품별 영상으로 분할하는 단계;
상기 인쇄회로기판(PCB)의 상기 영상을 클러스터링하는 단계; 및
상기 패키지영역을 식별하는 단계로 진행됨을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. The method according to claim 6,
Wherein the step of automatically extracting the package area data comprises:
Reading image data of the printed circuit board (PCB);
Reading solder area data for all components in the printed circuit board (PCB);
Dividing the image data of the printed circuit board (PCB) into images of respective parts;
Clustering the image of the printed circuit board (PCB); And
Wherein the step of recognizing the package area comprises the step of identifying the package area.
상기 부품별로 분할된 영상은 부품 패키지, 전극, 리드, 기판, 실크선 또는 땜납과 같은 다양한 이미지를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 12. The method of claim 11,
Wherein the image segmented by the component includes various images such as a component package, an electrode, a lead, a substrate, a silk line, or solder.
상기 인쇄회로기판의 영상을 클러스터링하는 단계는,
상기 부품별 영상으로 분할된 것을 몇 개의 그룹으로 나누는 단계로써, 상기 부품 패키지, 전극, 리드, 기판이 각 속성별로 다른 색상정보를 갖고 있으므로, 색상정보를 기준으로 몇 개의 영상 그룹으로 나누는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 12. The method of claim 11,
Wherein clustering the images of the printed circuit board comprises:
Dividing the divided parts into a plurality of groups, wherein the component package, the electrode, the lead, and the substrate have different color information for each property, A method of automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine.
상기 인쇄회로기판의 영상을 클러스터링할 때, 케이-민즈(k-means) 알고리즘 또는 이엠(EM) 알고리즘과 같은 다양한 클러스터링 기법을 적용하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 14. The method of claim 13,
Wherein a plurality of clustering techniques such as a k-means algorithm or an EM algorithm are applied when clustering the images of the printed circuit board.
상기 패키지영역을 식별하는 단계에서,
상기 색상정보를 기준으로 상기 분할된 영상 그룹 중 패키지에 해당하는 그룹을 찾고, 상기 패키지에 해당하는 그룹의 영상데이터를 처리하여 영역정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 14. The method of claim 13,
Identifying the package area,
And automatically extracts area information by searching for a group corresponding to a package among the divided image groups on the basis of the color information and processing image data of a group corresponding to the package, .
상기 패키지에 해당하는 그룹의 영상데이터를 처리하여 영역정보를 추출할 때, 위치 값과 색상정보를 사용하여 상기 해당하는 그룹을 식별하고, 상기 식별된 그룹만을 남기기 위하여 영상 이진화를 수행하여 처리하는 것을 특징으로 하는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법. 16. The method of claim 15,
When the image data of the group corresponding to the package is processed to extract the area information, the corresponding group is identified using the position value and the color information, and image binarization is performed to leave only the identified group A method for automatically generating teaching data of an automatic optical inspection machine.
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