KR101393053B1 - 다기능 온도 교정기 - Google Patents

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KR101393053B1
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백중호
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Abstract

본 발명은 다기능 온도 교정기에 관한 것으로, 특히 온도측정소자 테스트에 사용되는 온도 교정기(Dry Block Calibrator)의 온도측정 소자별 특성 시험값을 실시간으로 모니터링하고, 온도 측정소자의 특성시험을 할 수 있도록 하는 다기능 온도 교정기에 관한 것이다.
본 발명에 따른 다기능 온도 교정기는 내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입하여 수용하는 챔버(100)와, 상기 챔버(100)의 내부에 부착되고, 외부에 열전도를 차단하도록 하는 가열기(200)와, 상기 챔버(100)의 일측에 배치되고, 열전소자가 상기 챔버(100)에 탈부착하여 방열을 하는 냉동기(300)와, 상기 챔버의 센서 및 온도 스위치를 시험하는 시험기(400)와, 상기 가열기, 냉동기 및 시험기를 제어하여 각종 시험 및 시험 Data를 처리하는 MCU 컨트롤(500)을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

다기능 온도 교정기{Apparatus of Dry Block Calibrator that offers multi-functional}
본 발명은 다기능 온도 교정기에 관한 것으로, 특히 온도측정소자 테스트에 사용되는 온도 교정기(Dry Block Calibrator)의 온도측정 소자별 특성 시험값을 실시간으로 모니터링하고, 온도 측정소자의 특성시험을 할 수 있도록 하는 다기능 온도 교정기에 관한 것이다.
종래, 국내공개특허 제2001-0015266호 온도측정의 교정 및 전류측정을 위한 방법 및 장치가 제안되었다.
상기한 바와 같은 종래의 시스템은 입력, 기준전압 출력, 및 바이어스전압 출력을 구비한 바이어스 회로; 상기 바이어스전압 출력에 접속되어 출력전류를 생성하도록 구성된 출력 트랜지스터 전류원; 및 상기 기준전압 출력과 상기 바이어스회로 입력 사이에 피드백 루프로 접속되고, 상기 출력 트랜지스터 전류원에 인가된 바이어스전압을 제어하기 위하여 가변 오프셋 전압을 상기 기준전압 출력으로부터 생성하도록 구성된 오프셋회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.
종래에 의하면, 온도교정용 시험로로 사용되고 있는 교정기는 단순 온도 상승 및 냉각을 하는 기능을 하고, 고온 테스트 후 냉각시 팬(Fan)을 이용한 냉각으로 기종에 따라 냉각시간이 최대 120분 소요되며, 대기 온도 미만으로 내릴 수 없는 문제점이 있다.
또한 0도 이하의 저온부에서 700도의 고온부까지 시험을 한번에 수행할 수 있는 시험로가 없으며 온도대역별로 별도의 시험로가 필요한 문제점이 있다.
그리고 온도측정용 기기 특성을 모니터상에서 실시간으로 확인할 수 없으며, 기기특성 Data를 취득하기 위해서는 별도의 측정기구와 인터페이스 모듈을 필요로 하는 문제점이 있다.
이에, 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 저온부에서 고온부까지 시험을 한번에 수행할 수 있고, 열전소자를 활용한 시험로 형태로 온도 교정기 사용기법의 전환이 가능하며, 다양한 시험을 통한 기기 특성에 대한 이해 및 정보수집이 가능하고, 시험 Data 저장 및 보고서화 다기능 온도 교정기를 제공함에 목적이 있다.
그리고 온도측정용 기기 특성을 모니터상에서 실시간으로 확인할 수 있으며, 냉각시간 단축 및 동시 다중기기 점검으로 정비시간 단축을 할 수 있고, 기기별 Data 이력관리에 따른 설비 예측진단이 가능한 다기능 온도 교정기를 제공함에 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기에 있어서, 내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입하여 수용하는 챔버(100); 상기 챔버(100)의 내부에 부착되고, 외부에 열전도를 차단하도록 하는 가열기(200); 상기 챔버(100)의 일측에 배치되고, 열전소자가 상기 챔버(100)에 탈부착하여 방열을 하는 냉동기(300); 상기 챔버의 센서 및 온도 스위치를 시험하는 시험기(400); 및 상기 가열기, 냉동기 및 시험기를 제어하여 각종 시험 및 시험 Data를 처리하는 MCU 컨트롤(500);을 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 챔버를 수용하고, 이동이 가능한 이동식 정육면체 형상으로, 열전도 차단 처리된 케이스(600);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게, 상기 챔버(100)는 내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입할 수 있도록 하는 켈리브레이터 웰(Calibrator Well)(110)을 장착하고, 외곽에 핑거(Finger)를 구비하여 방열하도록 하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게, 상기 가열기(200)는, 상기 챔버(100)의 내부에 부착되어 고온에서 열 산화를 방지하는 히터부(210); 를 포함하며, 상기 히터부는, Kanthal 또는 슈퍼 Kanthal의 소재를 이용하여 고온에서 열 산화를 방지하는 밴드(Band) 또는 카트리지(Catridge)형태인 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게, 상기 냉동기(300)는, 상기 챔버(100)의 하단 일측에 배치되어 펠티어(Peltier) 열전소자(310)를 이용하여 고온 또는 저온의 설정온도에 따라 상기 챔버에 탈부착하도록 하며, 상기 펠티어 소자의 온도차 Δt 값을 유지하도록 온도를 낮추는 송풍기(320)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
더욱 바람직하게, 상기 냉동기(300)는, 고온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 탈착되고 상기 송풍기를 이용하여 온도를 낮추는 시간을 줄이고, 저온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 부착되어 온도를 영하로 낮추는 기능을 하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게, 상기 시험기(400)는, 상기 챔버의 설정온도 값에 따라 설정된 지점의 센서 값을 측정하여 기설정된 센서의 표준 값과 비교분석하는 센서 시험부(410); 및 상기 온도 스위치의 개폐, 접점의 접촉저항 및 접점의 접촉상태를 시험하는 온도 스위치 시험부(420);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
더욱 바람직하게, 상기 센서 시험부(410)는, 고정된 온도 값을 설정하여 일정하게 유지하고, 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 기설정된 표준 값과 비교하여 시료 센서의 측정값을 출력하는 정치모드 시험모듈(411); 및 다수의 온도 값을 스텝별로 설정하여, 각각의 스텝에 의하여 단계별로 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력하는 스텝모드 시험모듈(412);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게, 상기 온도 스위치 시험부(420)는, 설정된 온도 스위치의 개폐의 히스테릭스(Hysterics)를 설정하여 시험하고, 상기 히스테릭스에 따른 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력하는 개폐 시험모듈(421); 상기 온도 스위치의 개폐시 접촉저항을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력하는 접촉저항 시험모듈(422); 및 상기 온도 스위치의 접점에서 발생하는 채터링(Chattering)을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력하는 접촉상태 시험모듈(423);을 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고 바람직하게, 상기 MCU 컨트롤(500)은, 사용자로부터 요구사항을 입력받는 GUI부(510); 상기 GUI모듈을 통해 필요한 UI를 선택하며, 설정 값, 운용조건, 시험 정보 및 시험 Data를 실시간으로 모니터링하는 디스플레이부(520); 상기 시험 Data의 트렌드(Trend)를 관리할 수 있도록 저장하는 메모리부(530); 통신 포트를 이용하여 상기 시험 Data를 외부로 전송하는 통신부(540); 및 전압과 전류 방전시간 동안에 Log Data를 Text로 저장하는 기록부(550);을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기는 기술성 측면에서 온도관련 기술 전문지식 및 소자별 특성을 체계화할 수 있고, 펠티어 소자를 활용한 시험로 형태 개선으로 온도 교정기 사용기법의 전환이 가능하며, 다양한 시험을 통한 기기 특성에 대한 이해 및 정보수집이 가능하고, 시험 Data 저장 및 보고서화로 시험결과에 대한 신뢰성을 확보하는 효과가 있다.
그리고 경제적 측면에서는 냉각시간 단축 및 동시 다중기기 점검으로 정비시간 단축을 할 수 있고, 기기별 Data 이력관리에 따른 설비 예측진단이 가능하며, 별도 저온용 또는 고온용 기기, Interface 기구 및 측정기기 구매가 불필요한 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 실시예를 도시한 도면,
도 2는 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 구성 블록도.
도 3은 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 시험기의 구성 블록도.
도 4는 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 MCU컨트롤의 구성 블록도.
본 발명은 다기능 온도 교정기에 관한 것으로, 온도측정소자 Test에 사용되는 온도 교정기(Dry Block Calibrator)의 단점을 개선하여 냉각시간 단축 동시 다중기기 점검 및 온도 대역별 Test 단계 일원화로 정비시간을 단축하고, 온도측정 소자별 특성시험값을 실시간(Real Time)으로 모니터링(Monitoring) 및 리포트(Report)화하여, 데이터(Data) 이력관리에 따른 설비 예측진단이 가능하도록 하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 첨부한 예시도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 실시예를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 구성 블록도이며, 도 3은 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 시험기의 구성 블록도이고, 도 4는 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기의 MCU컨트롤의 구성 블록도이다.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 다기능 온도 교정기는 챔버(100), 가열기(200), 냉동기(300), 시험기(400), MCU컨트롤(500) 및 케이스(600)를 포함한다.
우선, 챔버(100)는 내부에 센서와 온도 스위치를 수용한다.
이러한 챔버(Chamber)는 센서(Sensor)나 온도 스위치의 Tip을 넣어 시험하는 용기로, 운용되는 시료 센서를 여러 개 장착하고, 동시 시험할 때의 조건과 센서의 크기를 고려하여, 챔버의 형태를 깊은 타원형으로 하며, 외곽에는 방열이 잘될 수 있도록 하는 핑거(Finger)를 포함할 수도 있다.
이때 챔버에 가열기가 부착되어 고열이 발열되므로 외부에 열전도를 차단시켜 통풍, 제어 등의 운용이 편리하게 제작할 수도 있다.
또한 챔버 내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입할 수 있도록 하는 켈리브레이터 웰(Calibrator Well)(110)을 장착할 수도 있다. 여기서, 켈리브레이터 웰(110)은 시료 센서를 챔버에 삽입하여 시험하기 위한 기구물로 여러 종류의 센서와 온도스위치를 삽입할 수 있도록 여러 종류의 Well을 제작할 수 있다.
그리고 챔버는 열전달 계수가 높은 소재를 사용하여 온도 전달이 잘되는 알루미늄 합금이나 황동 계열의 소재를 사용하여 제작할 수도 있다.
본 실시예에 따른 다기능 온도 교정기의 입출력과 센서(Input Ouput & Sensor)는 AC Power connection cable, Communication Port, 기준 Sensor 신호선 (Sensor Signal Cable)을 포함할 수 있다.
또한, 가열기(200)는 챔버(100)의 내부에 부착되고, 외부에 열전도를 차단하도록 하는 기능을 수행한다.
이러한 가열기는 챔버(100)의 내부에 부착되어 고온에서 열 산화를 방지하는 히터부(210); 를 포함하며, 상기 히터부는, Kanthal 또는 슈퍼 Kanthal의 소재를 이용하여 고온에서 열 산화를 방지하는 밴드(Band) 또는 카트리지(Catridge)형태를 포함할 수 있다.
또한, 냉동기(300)는 챔버(100)의 일측에 배치되고, 열전소자가 상기 챔버(100)에 탈부착하여 방열을 하는 기능을 수행한다.
이러한 냉동기(300)는 상기 챔버(100)의 하단부에 배치되어 펠티어(Peltier) 열전소자(310)를 이용하여 고온 또는 저온의 설정온도에 따라 상기 챔버에 탈부착하도록 하며, 상기 펠티어 소자의 온도차 Δt 값을 유지하도록 온도를 낮추는 송풍기(320)를 포함할 수도 있다. 다시 말해, 상기 송풍기(Blower)는 온도를 낮춰 주는 기능에 있어서, Peltier 소자의 온도차 Δt 값을 유지하도록 한다.
이때 냉동기(300)는 고온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 탈착되고 상기 송풍기를 이용하여 온도를 낮추는 시간을 줄이고, 저온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 부착되어 온도를 영하로 낮추는 기능을 할 수도 있다.
이러한 냉동기(300)를 부연설명하면, 펠티어(Peltier) 소자를 이용하여 챔버의 아래쪽에 방열을 하는 공조장치를 제작하여 펠티어 소자모듈을 부착하고 고온 때와 저온 때에 자동으로 펠티어 소자모듈이 챔버에 탈 부착하여 온도 내리는 시간을 단축할 수 있다.
고온 : 냉동기의 차가운 바람을 챔버에 불어서 온도를 낮추는 시간을 줄인다. 저온 : 펠티어 소자모듈을 챔버에 부착하여 온도를 RT ~ 영하로 낮추는 기능을 한다.
펠티어 소자는 전자 냉각에 활용되는 열전반도체 열전소자는 열에너지-전기에너지, 전기에너지-열에너지로 직접 변환시킬 수 있는 고 기능성 전자부품이며, Peltier 소자라 한다. 열을 흡열 면에서 방열 면으로 이동시키는 열을 대책 부품이다. 열전방향의 역전에 의해 냉각, 가열의 변환이 가능하다. 전압과 전류의 제어에 의해서 ㅁ 0.05℃ 수준의 온도제어가 가능하다.
또한, 도 3에 도시된 바와 같이, 시험기(400)는 챔버의 센서 및 온도 스위치를 시험하는 기능을 수행한다. 이러한 기능을 수행하기 위한 시험기(400)는 센서 시험부(410)와 온도스위치 시험부(420)를 포함할 수 있다.
여기서, 센서 시험부(410)는 상기 챔버의 설정온도 값에 따라 설정된 지점의 센서 값을 측정하여 기설정된 센서의 표준 값과 비교분석하는 기능을 수행한다.
이때 센서 시험부(410)는 정치모드 시험모듈(411)과 스텝모드 시험모듈(412)을 포함하는데, 정치모드 시험모듈(411)은 고정된 온도 값을 설정하여 일정하게 유지하고, 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 기설정된 표준 값과 비교하여 시료 센서의 측정값을 출력할 수 있다.
정치 Mode 시험(Fixation mode Test)은 하나의 고정된 온도 값을 설정하여 일정하게 유지하여 시험하는 Mode로 설정된 지점의 값을 측정하여 Sensor의 표준 값과 비교하며 시료 센서의 측정값을 정수 값으로 표시하며 그래픽으로 디스플레이할 수 있다.
또한 스텝모드 시험모듈(412)은 다수의 온도 값을 스텝별로 설정하여, 각각의 스텝에 의하여 단계별로 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력할 수 있다.
스텝 Mode 시험(Step mode Test)은 여러 개의 시험 값을 설정하여 각각의 스텝에 의하여 단계별로 시험하는 Mode로 Sensor의 설정된 지점의 값을 측정하여 Sensor의 특성곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 그래픽과 측정 정수 값으로 표시할 수 있다.
그리고 온도 스위치 시험부(420)는 상기 온도 스위치의 개폐, 접점의 접촉저항 및 접점의 접촉상태를 시험하는 기능을 수행한다. 이러한 기능을 수행하기 위해 온도 스위치 시험부(420)는 개폐 시험모듈(421), 접촉저항 시험모듈(422), 접촉상태 시험모듈(423)을 포함할 수 있다.
이때 개폐 시험모듈(421)은 설정된 온도 스위치의 개폐의 히스테릭스(Hysterics)를 설정하여 시험하고, 상기 히스테릭스에 따른 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력할 수 있다.
온도 스위치 개폐 시험은 설정된 온도 스위치의 개폐를 시험하는 기능으로 켜지고 꺼지는 개폐의 Hysterics를 설정하여 자동으로 시험하고 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 그래픽과 측정 정수 값으로 표시할 수 있다.
또한 접촉저항 시험모듈(422)은 상기 온도 스위치의 개폐시 접촉저항을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력할 수 있다.
접점의 접촉저항 시험은 온도 스위치의 접점의 접촉 상태를 시험하는 기능으로 켜지고 꺼질 때 접촉저항과 접점의 상태를 측정하며 이에 따른 측정값을 정수 값으로 표시할 수 있다.
그리고 접촉상태 시험모듈(423)은 상기 온도 스위치의 접점에서 발생하는 채터링(Chattering)을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력할 수 있다.
접점의 Oscillograph 시험은 온도 스위치의 접점의 접촉 상태를 Graph로 확인 하는 기능으로 켜지고 꺼질 때 접점에서 발생하는 채터링(Chattering) 등을 그래픽으로 표시할 수 있다.
한편, 센서의 동시 시험은 여러 개의 센서를 동시에 시험하는 기능으로 최대 6개까지 병렬로 걸어서 측정할 수 있다.(동시 시험 : 6 포트 / Sensor 시험 : 6 포트 / 온도스위치 시험 : 12 포트)
또한, 도 4에 도시된 바와 같이, MCU 컨트롤(500)은 상기 가열기, 냉동기 및 시험기를 제어하여 각종 시험 및 시험 Data를 처리하는 기능을 수행할 수 있다.
이러한 MCU 컨트롤(500)은 GUI부(510), 디스플레이부(520), 메모리부(530), 통신부(540), 기록부(550)를 포함할 수 있다.
GUI부(510)는 그래픽 유저 인터페이스를 통해 사용자로부터 요구사항을 입력받는 기능을 수행할 수 있다.
디스플레이부(520)는 상기 GUI부를 통해 필요한 UI를 선택하며, 설정 값, 운용조건, 시험 정보 및 시험 Data를 실시간으로 모니터링할 수 있다.
메모리부(530)는 상기 시험 Data의 트렌드(Trend)를 관리할 수 있도록 저장하는 기능을 수행할 수 있다.
통신부(540)는 통신 포트를 이용하여 시험 Data를 외부로 전송하는 기능을 수행할 수 있다.
기록부(550)는 전압과 전류 방전시간 동안에 Log Data를 Text로 저장할 수 있다.
본 실시예에 따른 MCU 컨트롤은 Microprocessor Control Unit의 Control Board로 온도 Sensor Calibrator의 시험과 제어를 하는 핵심부분으로 ARM 1179JZF-667㎒의 고성능 MCU를 탑재한 Digital Control Board이며 각종 시험과 생성 Data의 생성, 처리, 보관, USB, Ethernet 통신 등을 원활히 처리하는 고급 Graphic UI를 구현할 수 있다.
본 실시예에서 MCU 컨트롤은, 7/8Inch Touch Screen Panel에서 Booting 후에 System 운용 UI가 나타나고 Monitor Panel에서 Icon을 Touch하여 시험에 필요한 UI을 선택하며, 설정 값과 운용 조건, 시험 정보 등을 정수 값으로 표시하고 시험 Data의 Graphic을 Display할 수 있다.
또한 저장(Mempry)은 SD Card와 USB 메모리를 이용하여 시험한 Data 값을 저장하고, 통신 기능(Communication Port)은 System의 Hardware에서 지원하는 기능으로 RS-232, RS-485, USB, Ethernet, I2C, SPI, 등 다양한 통신 Port를 지원하며 주로 사용하는 기능은 PC와 통신하는 기능은 Ethernet과 USB를 사용하여 Data 전송할 수 있다.
기록(Date)은 전압과 전류 방전시간 동안에 Log Data를 Text로 기록하고 저장하며 자료를 검증하고 보관할 수 있다. 그리고 도 1에 도시된 바와 같이, MCU는 켈리브레이터 웰의 센서와 연결되어 A/D 컨버터를 통해 측정값을 얻고, 히터 컨트롤제어를 통해 히터를 제어할 수도 있다.
케이스(600)는 상기 챔버를 수용하고, 이동이 가능한 이동식 정육면체 형상으로, 열전도 차단 처리된 것을 특징으로 한다. 이러한 케이스(600)는 이동식으로 견고하게하고, 고열이 발열되므로 열전도 차단에 대한 처리가 필요하며, 온도의 제어에서 반응 속도를 빠르게 하기위하여 통풍 등을 원활하게 하기위한 공조장치를 구성하여 운용이 편리하도록 제작한다.
본 발명에 따른 다기능 온도 교정기는 기술성 측면에서 온도관련 기술 전문지식 및 소자별 특성을 체계화할 수 있고, 펠티어 소자를 활용한 시험로 형태 개선으로 온도 교정기 사용기법의 전환이 가능하며, 다양한 시험을 통한 기기 특성에 대한 이해 및 정보수집이 가능하고, 시험 Data 저장 및 보고서화로 시험결과에 대한 신뢰성을 확보하는 효과가 있다.
그리고 경제적 측면에서는 냉각시간 단축 및 동시 다중기기 점검으로 정비시간 단축을 할 수 있고, 기기별 Data 이력관리에 따른 설비 예측진단이 가능하며, 별도 저온용 또는 고온용 기기, Interface 기구 및 측정기기 구매가 불필요한 효과가 있다.
100 : 챔버 110 : 켈리브레이터 웰
200 : 가열기 210 : 히터부
300 : 냉동기 310 : 열전소자
320 : 송풍기 400 : 시험기
410 : 센서 시험부 411 : 정치모드 시험모듈
412 : 스텝모드 시험모듈 420 : 온도 스위치 시험부
421 : 개폐 시험모듈 422 : 접촉저항 시험모듈
423 : 접촉상태 시험모듈 500 : MCU컨트롤
510 : GUI부 520 : 디스플레이부
530 : 메모리부 540 : 통신부
550 : 기록부

Claims (10)

  1. 다기능 온도 교정기에 있어서,
    내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입하여 수용하는 챔버(100);
    상기 챔버(100)의 내부에 부착되고, 외부에 열전도를 차단하도록 하는 가열기(200);
    상기 챔버(100)의 일측에 배치되고, 열전소자가 상기 챔버(100)에 탈부착하여 방열을 하는 냉동기(300);
    상기 챔버의 센서 및 온도 스위치를 시험하는 시험기(400); 및
    상기 가열기, 냉동기 및 시험기를 제어하여 각종 시험 및 시험 Data를 처리하는 MCU 컨트롤(500);을 포함하며,
    상기 시험기(400)는 상기 챔버의 설정온도 값에 따라 설정된 지점의 센서 값을 측정하여 기설정된 센서의 표준 값과 비교분석하는 센서 시험부(410); 및 상기 온도 스위치의 개폐, 접점의 접촉저항 및 접점의 접촉상태를 시험하는 온도 스위치 시험부(420);를 포함하며,
    상기 센서 시험부(410)는 고정된 온도 값을 설정하여 일정하게 유지하고, 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 기설정된 표준 값과 비교하여 시료 센서의 측정값을 출력하는 정치모드 시험모듈(411); 및
    다수의 온도 값을 스텝별로 설정하여, 각각의 스텝에 의하여 단계별로 설정된 지점의 값을 측정하여 센서의 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력하는 스텝모드 시험모듈(412);를 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 챔버를 수용하고, 이동이 가능한 이동식 정육면체 형상으로, 열전도 차단 처리된 케이스(600);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 챔버(100)는,
    내부에 센서 및 온도 스위치를 삽입할 수 있도록 하는 켈리브레이터 웰(Calibrator Well)(110)을 장착하고, 외곽에 핑거(Finger)를 구비하여 방열하도록 하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 가열기(200)는,
    상기 챔버(100)의 내부에 부착되어 고온에서 열 산화를 방지하는 히터부(210); 를 포함하며,
    상기 히터부는, Kanthal 또는 슈퍼 Kanthal의 소재를 이용하여 고온에서 열 산화를 방지하는 밴드(Band) 또는 카트리지(Catridge)형태인 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 냉동기(300)는,
    상기 챔버(100)의 하단 일측에 배치되어 펠티어(Peltier) 열전소자(310)를 이용하여 고온 또는 저온의 설정온도에 따라 상기 챔버에 탈부착하도록 하며, 상기 펠티어 소자의 온도차 Δt 값을 유지하도록 온도를 낮추는 송풍기(320)를 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 냉동기(300)는,
    고온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 탈착되고 상기 송풍기를 이용하여 온도를 낮추는 시간을 줄이고, 저온일 경우, 상기 열전소자가 챔버에 부착되어 온도를 영하로 낮추는 기능을 하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 스위치 시험부(420)는,
    설정된 온도 스위치의 개폐의 히스테릭스(Hysterics)를 설정하여 시험하고, 상기 히스테릭스에 따른 특성 곡선을 분석하며 이에 따른 측정값을 출력하는 개폐 시험모듈(421);
    상기 온도 스위치의 개폐시 접촉저항을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력하는 접촉저항 시험모듈(422); 및
    상기 온도 스위치의 접점에서 발생하는 채터링(Chattering)을 측정하며 이에 따른 측정값을 출력하는 접촉상태 시험모듈(423);을 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 MCU 컨트롤(500)은,
    사용자로부터 요구사항을 입력받는 GUI부(510);
    상기 GUI모듈을 통해 필요한 UI를 선택하며, 설정 값, 운용조건, 시험 정보 및 시험 Data를 실시간으로 모니터링하는 디스플레이부(520);
    상기 시험 Data의 트렌드(Trend)를 관리할 수 있도록 저장하는 메모리부(530);
    통신 포트를 이용하여 상기 시험 Data를 외부로 전송하는 통신부(540); 및
    전압과 전류 방전시간 동안에 Log Data를 Text로 저장하는 기록부(550);을 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 온도 교정기.
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