KR101366037B1 - 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치 - Google Patents

Abstract

터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치가 개시되며, 상기 터치 스크린 패널의 검사방법은 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 양불 기준을 정하는 단계; 및 상기 양불 기준에 따라 상기 터치 스크린 패널의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하되, 상기 신호는 상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.
또한, 상기 터치 스크린 패널 검사장치는 상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1 신호인가부, 상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 제2 신호인가부 및 상기 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부를 포함하는 검사모듈이 포함된 검사부; 및 상기 검사부와 신호 및 정보를 주고받는 제어부를 포함하되, 상기 신호는 상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

Description

터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치{METHOD AND DEVICE FOR TESTING TOUCH SCREEN PANEL}

본원은 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치에 관한 것이다.

터치 스크린 패널(Touch Screen Panel)은 영상표시장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치로 최근 다양한 정보처리 장치에 적용되고 있다. 터치 스크린 패널은 조작이 간단하고, 오작동이 적으며, 다른 입력기기 없이 정보 입력이 가능하여 휴대폰, 각종 의료장비, 은행이나 관공서 등 여러 분야에서 널리 사용되고 있다.

터치 스크린 패널은 접촉된 부분을 감지하는 방식에 따라 저항막 방식, 정전용량 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등이 있다. 이 중 정전용량 방식은 얇은 전도성 물질이 코팅된 투명기판을 이용한다. 일정량의 전류를 투명기판의 표면에 흐르게 하고, 사용자가 코팅된 투명기판의 표면을 터치하면, 일정량의 전류가 사용자의 체내에 흡수되며 접촉면의 전류량이 변경된 부분을 인식함으로써 터치된 부분을 확인하게 된다. 정전용량 방식의 터치 스크린 패널은 접촉면에서의 접촉위치를 정확하게 판단하기 위해 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위한 두 종류의 감지전극을 갖는다.

또한, 터치 스크린 패널은 터치 패널의 구현 방식에 따라 부착형(add-on) 방식, 온셀(on-cell) 방식, 인셀(in-cell) 방식이 있다. 온셀 방식은 디스플레이 위에 터치 패널을 따로 부착하는 방식인 반면, 인셀 방식은 디스플레이 내부에 터치 패널을 부착하여 디스플레이 자체에 터치 기능을 구현하는 방식이다. 인셀 방식의 터치 스크린 패널은 온셀 방식의 터치 스크린 패널에 비해 두께가 얇고, 무게가 적게 나가며, 생산 원가가 절감되고, 터치에 보다 민감하게 반응한다는 장점이 있다.

이러한 터치 스크린 패널은 대량 생산이 되고, 최종적으로 검사 공정을 거치게 된다. 검사 공정은 불량품을 가려내기 위한 과정으로 생산된 모든 제품은 터치감지 기능 및 점등 기능에 대한 검사를 받게 된다.

종래의 터치 스크린 패널 검사장치를 살펴보면, 먼저 터치 스크린 패널의 검사 영역에 기준 신호를 인가한 후 이를 다시 인가받아 변화된 기준 신호를 해석한다. 다음으로 변화된 기준 신호의 해석을 통해 기준 신호가 인가된 검사 영역의 좌표를 해석하고, 미리 저장된 검사 좌표의 허용치와 비교하여 허용치를 벗어난 경우 해당 터치 스크린 패널을 불량으로 판정한다.

이러한 종래의 터치 스크린 패널 검사장치는 터치 스크린 패널 모델이 변경되면 원래 입력된 터치 스크린 패널의 검사 좌표를 바꾸어야 하므로, 검사장치 자체의 통신 관련 프로그램의 수정이 필요하다.

또한, 사용자가 양불 판단의 기준을 직접 입력하는 방식으로 되어 있어 번거로우며, 터치 스크린 패널의 검사 좌표 각각에 대한 양불 판단 기준을 미리 입력한 후, 검사 좌표에 개별적으로 기준 신호를 인가하고 검출되는 결과를 분석하여 각각의 검사 좌표마다 해당 좌표와의 양불 판단 기준을 비교하므로, 터치 스크린 패널의 검사에 긴 시간이 소요된다.

또한, 인셀 방식의 터치 스크린 패널은 디스플레이 내부에 터치 패널이 부착되므로, 터치 패널에서 발생되는 노이즈가 디스플레이의 액정 배향에 영향을 미칠 수 있고, 반대로 디스플레이의 액정 배향시 발생되는 자기장에 의해 터치 패널이 영향을 받을 수 있다. 따라서, 디스플레이와 터치 패널이 따로 구비되어 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 미미한 온셀 방식의 터치 스크린 패널에 비해, 인셀 방식의 터치 스크린 패널은 실사용시 불량 발생률이 다소 높아질 수 있으므로, 이를 검사하기 위한 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법이 필요하다.

본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 터치 스크린 패널 모델이 변경되더라도 기존에 사용하던 통신 관련 프로그램을 사용할 수 있는 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한, 본원은 사용자가 터치 스크린 패널의 양불 판단 시 사용자가 직접 기준을 입력하지 않아도 되고, 터치 스크린 패널의 검사 시간을 감소시키는 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한, 본원은 인셀 방식의 터치 스크린 패널의 검사시 터치 패널과 디스플레이 액정 배향이 상호간에 미치는 영향을 반영하여 터치 민감도 검사와 점등 검사를 수행할 수 있는 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본원의 제1 측면에 따른 터치 스크린 패널의 검사방법은, 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 터치 스크린 패널의 양불 기준을 정하는 단계 및 상기 양불 기준에 따라 터치 스크린 패널의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하되, 상기 신호는 상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

한편, 본원의 제 2 측면에 따른 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈은, 상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1 신호인가부, 상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 제2 신호인가부 및 상기 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부를 포함하되, 상기 신호는 상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

한편, 본원의 제 3 측면에 따른 터치 스크린 패널 검사장치는, 본원의 제 2 측면에 따른 검사 모듈을 포함하는 검사부, 및 상기 검사부와 신호 및 정보를 주고받는 제어부를 포함한다.

한편, 본원의 제 4 측면에 따른 비전 검사장비는, 전자부품을 공급하는 로딩부, 상기 전자부품의 불량을 검출하는 비전부, 및 상기 비전부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품이 공급되는 언로딩부를 포함하되, 상기 비전부에는 본원의 제 3 측면에 따른 터치 스크린 패널 검사장치가 포함된다.

한편, 본원의 제 5 측면에 따른 비전 검사장비는, 전자부품을 공급하는 로딩부, 상기 전자부품의 불량을 검출하는 비전부, 상기 비전부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품의 불량을 수동으로 검출하는 매뉴얼부, 및 상기 매뉴얼부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품이 공급되는 언로딩부를 포함하되, 상기 비전부 및 상기 매뉴얼부 중 하나 이상에는 본원의 제 3 측면에 따른 터치 스크린 패널 검사장치가 포함된다.

한편, 본원의 제 6 측면에 따른 오토 프로브 검사장비는, 전자부품을 공급하는 투입부, 상기 투입부를 통해 투입된 상기 전자부품의 불량을 검출하도록 본원의 제 3 측면에 따른 터치 스크린 패널 검사장치를 포함하는 판정부, 및 상기 판정부의 판정결과에 따라 상기 전자부품이 분류되어 배출되는 배출부를 포함한다.

전술한 본원의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 각 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형을 통해 기준값을 산정함으로써, 사용자가 직접 기준을 입력하지 않아도 되고, 검출된 방전 파형으로 기준값을 산정함과 동시에 기준값을 산정하였던 방전 파형을 그대로 이용하여 터치 스크린 패널의 양불 여부를 판단함으로써, 터치 스크린 패널의 양불 여부를 판단하는데 걸리는 시간을 감소시킬 수 있다.

또한, 각 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형을 통해 기준값을 개별적으로 산정함으로써, 터치 스크린 패널의 모델이 변화되더라도 통신 관련 프로그램을 변화시키지 않고 종전에 사용하던 터치 스크린 패널 검사장치를 그대로 사용할 수 있다.

또한, 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사와 점등 검사에 사용되는 신호를 조합하여 검사함으로써, 터치 패널과 디스플레이 액정 배향이 상호간에 미치는 영향을 반영하여 터치 민감도 검사 및 점등 검사를 수행할 수 있어 인셀 방식의 터치 스크린 패널의 검사가 정확하게 수행될 수 있다.

도 1은 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 검사방법의 순서도이다.
도 2는 본원의 일 실시예에 따른 도1의 s10단계를 설명하기 위한 개념도이다.
도 3의 (a) 및 (b)는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 구성도이다.
도 4는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 개략적인 평면도 및 검사부의 개략적인 확대 평면도이다.
도 5는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 확장성을 설명하기 위한 구성도이다.
도 6은 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사모듈에 사용되는 신호가 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합되는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본원의 일 실시예에 따른 비전 검사장비를 설명하기 위한 구성도이다.
도 8은 본원의 다른 실시예에 따른 비전 검사장비를 설명하기 위한 구성도이다.
도 9는 비전 검사장비에 포함된 비전부와 매뉴얼부의 다양한 정렬 방식을 설명하기 위한 개념도이다.
도 10은 본원의 일 실시예에 따른 오토 프로브 검사장비를 설명하기 위한 구성도이다.

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 “상에” 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "약", "실질적으로" 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로 사용되고, 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "~(하는) 단계" 또는 "~의 단계"는 "~ 를 위한 단계"를 의미하지 않는다.

본원 명세서 전체에서, 마쿠시 형식의 표현에 포함된 “이들의 조합”의 용어는 마쿠시 형식의 표현에 기재된 구성 요소들로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 혼합 또는 조합을 의미하는 것으로서, 상기 구성 요소들로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상을 포함하는 것을 의미한다.

본원은 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치에 관한 것이다.

우선, 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법(이하 '본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법'이라 함)에 대해 설명한다.

이 때, 터치 스크린 패널(15)은 인셀(in-cell) 방식으로 터치 패널이 구현된 것일 수 있다.

온셀 방식의 터치 스크린 패널(15)은 디스플레이 외부에 별도로 터치 패널을 부착시키므로, 터치 패널과 디스플레이 내부의 액정 배향은 서로에게 크게 영향을 미치지 않는다.

반면, 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)은 디스플레이 내부에 터치 패널이 구비되므로, 터치 패널에서 발생한 노이즈가 디스플레이의 액정 배향을 틀어지게 하여 터치 스크린 패널(15)의 점등에 영향을 주고, 디스플레이 액정 배향을 원하는 대로 조절하는 과정에서 발생되는 자기장에 의해 터치 패널이 영향을 받아 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도에 변화가 생겨, 터치 민감도 검사 및 점등 검사를 따로 수행한 경우에는 양품인 것으로 판별되었더라도 실사용시에는 이러한 상호 영향으로 인하여 터치 스크린 패널(15)의 불량이 다소 발생될 수 있다.

따라서, 온셀 방식의 터치 스크린 패널(15)은 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행해도 문제가 없으나, 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)은 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하는 경우 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영되지 않아 실사용시의 불량 발생을 정확히 판별해내는 것이 어렵다. 따라서, 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 불량 발생 여부가 정확하게 판별될 수 있도록 이러한 영향을 반영한 터치 스크린 패널(15)의 검사방법이 필요하다.

도 1은 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법의 순서도이다.

본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법은 터치 스크린 패널(15)에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)를 포함한다. 이 때, 신호는 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

이 때, 신호는 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 시간흐름에 따라 교번하여 조합된 것일 수 있다.

신호는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이 'display'구간에는 점등 검사를 위한 주파수가 존재하고, 'blank'구간에는 'touch'구간이 삽입되어 터치 민감도 검사를 위한 주파수가 존재하도록 함으로써, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이 time 라인을 따라 점등 검사를 위한 주파수와 터치 민감도 검사를 위한 주파수가 서로 번갈아 가며 존재하도록 조합된 것일 수 있다.

여기서, 조합이라 함은, 도6에 도시된 바와 같이 점등 검사를 위한 주파수를 기본으로 하되, 기본이 되는 주파수의 전구간 중 일부 구간인 blank 구간에만 기본이 되는 주파수를 제거하고, blank 구간에 터치 검사를 위한 주파수를 삽입한 것을 의미할 수 있다. 또다른 예로서, 조합은 점등 검사를 위한 주파수를 복수개의 구간으로 분할하고, 분할된 구간들 사이에 터치 검사를 위한 주파수를 삽입한 것을 의미할 수도 있다.

터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수의 교번 조합시, 도 6에 도시된 바와 같이 터치 민감도 검사를 위한 주파수가 존재하는 각각의 구간('touch'구간)은 서로 시간 길이가 같도록 형성될 수 있다. 또한, 점등 검사를 위한 주파수가 존재하는 각각의 구간('display'구간)은 서로 시간 길이가 같도록 형성될 수 있다.

이 때, 도 6에 도시된 바와 같이, 점등 검사를 위한 주파수가 존재하는 구간의 시간 길이에 비해 터치 민감도 검사를 위한 주파수가 존재하는 구간의 시간 길이가 짧도록 신호가 조합되는 것이 바람직하다.

또한, 도 6에 도시된 바와 같이, 점등 검사를 위한 주파수는 각 구간마다 같은 형태를 가질 수 있다. 뿐만 아니라, 터치 민감도 검사를 위한 주파수도 각 구간마다 같은 형태를 가질 수 있다.

터치 스크린 패널(15)에 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 신호를 인가하여 방출된 파형을 통해 산정된 기준값을 토대로 양불 기준을 정하면, 양불 기준에는 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영된다. 따라서, 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법에 따르면, 실사용시 터치 패널과 디스플레이 액정 배향의 상호 영향으로 인해 생길 수 있는 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 불량 여부를 실사용 전 패널 검사 단계에서 사전에 판별해낼 수 있다.

예시적으로, 점등 검사를 위한 주파수는 60Hz 중 50Hz 정도에 할당되고, 나머지 10Hz 정도에는 터치 민감도 검사를 위한 주파수가 할당될 수 있다.

상기 S10 단계는 후술되는 S11 단계 내지 S17 단계에 대응될 수 있다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)에서, 방전 파형은 터치 스크린 패널(15)의 터치 및 점등이 동시에 활성화된 상태에 대하여 신호가 인가됨으로써 검출되는 파형인 것일 수 있다.

이러한 방전 파형을 통하여 산정된 기준값은, 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사를 위한 터치 민감도 기준값과 터치 스크린 패널(15)의 점등 검사를 위한 점등 기준값으로 구분될 수 있다. 그런데, 이러한 터치 민감도 기준값과 점등 기준값은 터치 및 점등 간의 상호 작용으로 인한 영향을 고려하여 산정된 기준값이기 때문에, 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사만을 위한 기준값 및 터치 스크린 패널(15)의 점등 검사만을 위한 기준값과는 상이한 값을 갖게 될 수 있다.

이러한 기준값을 통해 정해진 양불 기준에는, 앞서 설명한 바와 같이 터치, 및 점등 간의 상호 작용으로 인한 영향, 즉, 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영되어 있다.

또한, 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10) 이전에, 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수를 조합한 신호를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다. 이를 통해, 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 검사시, 터치 패널과 디스플레이의 액정 배향 상호간에 미치는 영향을 반영할 수 있다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)는 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하는 단계(S11)를 포함할 수 있다.

도 2를 참조하면, 터치 스크린 패널(15)에 배치된 센서의 불량 여부를 효과적으로 검사하기 위하여 터치 스크린 패널(15)은 다수의 검사영역으로 구획되어 있으며, 구획된 검사 영역들에 대한 좌표가 후술되는 제어부(13)의 메모리(1337)에 검사 좌표로 미리 저장되어 있다.

즉, 검사 좌표는 터치 스크린 패널(15)의 표시 영역을 구획하여 정의한 검사 영역의 위치에 대응하는 행과 열의 좌표로써 메모리(1337)에 저장된다. 이러한 검사 좌표의 구체적인 값은 터치 스크린 패널(15)의 화면 크기 및 센서 밀도 등에 따라 달라지며, 반복 실험을 통하여 최적의 값이 선택된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 전술한 메모리(1337)에 미리 저장된 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하여 검사 좌표의 한 열을 검사 결과가 검출될 수 있는 상태로 활성화시킨다. 여기서, 신호란 전기적 신호를 의미할 수 있다.

검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하는 역할은 후술하는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 신호발생기(1333)에 의한다. 도 2를 참조하면, 예시적으로, 신호발생기(1333)에서 발생된 신호는 디멀티플렉서를 통해 검사 좌표 중 어느 한 열에 인가될 수 있다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)는 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하여 어느 한열의 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계(S13)를 포함할 수 있다.

도 2에 도시된 바와 같이, 전술한 메모리(1337)에 미리 저장된 모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하여 검사 좌표의 모든 행을 검사 결과가 검출될 수 있는 상태로 활성화 시킨다. 여기서, 신호란 전기적 신호를 의미할 수 있다.

모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 역할 또한 후술하는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 신호발생기(1333)에 의한다. 도 2를 참조하면, 예시적으로, 신호발생기(1333)에서 발생된 신호는 멀티플렉서를 통해 모든 검사 좌표의 각 행마다 인가될 수 있다.

모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 경우, (S11) 단계에서 활성화된 검사 좌표의 한 열에 인가된 신호와 만나게 되고, 그 결과 신호에 변화량이 생기면서 방전 파형이 검출된다. 이러한 방전 파형을 토대로 양불 기준을 정하고 방전 파형이 검출된 해당 검사 좌표의 양불 여부를 판단하게 된다. 보다 자세한 내용은 후술하기로 한다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)는 S11 단계 및 S13 단계를 터치 스크린 패널(15)의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계(S15)를 포함할 수 있다.

검사 좌표의 한 열에 신호를 인가하여 활성화 시킨 다음, 검사 좌표의 모든 행에 신호를 인가하여 해당 열의 모든 행에 대한 검사 좌표의 방전 파형을 검출한다. 다음으로, 또 다른 한 열을 활성화 시킨 다음, 검사 좌표의 모든 행에 신호를 인가하여 해당 열에 대한 모든 행의 방전 파형을 검출한다. 이 과정을 모든 열에 대해 반복하면 모든 검사 좌표에 대한 방전 파형을 검출할 수 있다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)는 검출된 모든 검사 좌표의 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여, 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 결정하는 단계(S17)를 포함한다.

이와 같이 검출된 방전 파형의 기준값을 산정하는 것은, 검사가 이루어지는 터치 스크린 패널(15)마다 그 상태가 다를 수 있기 때문이다. 즉, S10 단계를 통하여 각각의 터치 스크린 패널(15)마다 그 상태에 맞게 산정되는 기준값을 통해 양불 기준을 최적화하여 정함으로써, 검사가 이루어지는 터치 스크린 패널(15)마다 일률적인 기준값을 기준으로 양불 여부를 판단하는 것보다 훨씬 정확한 양불 판단이 이루어질 수 있다.

이를테면, 온셀 방식의 터치 스크린 패널(15)과 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)은 그 구조가 상이하므로, 양불 판단을 위한 기준값 또한 각각의 터치 스크린 패널(15)의 구조에 맞춰 산정하는 것이 정확한 양불 판단을 위해 바람직하다. 그런데 S10 단계는 앞서 살핀 바와 같이 해당 터치 스크린 패널(15)에 대하여 최적화된 기준값을 산정한다. 따라서 본원에 의하면, 온셀 방식의 터치 스크린 패널(15)인지 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)인지 여부에 관계없이 그 패널의 방식 및 상태에 최적화된 기준값이 산정될 수 있으며, 이를 통해 정확한 양불 기준이 설정될 수 있다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준은 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균에 따라 결정될 수 있다. 양불 기준은 방전 파형의 평균에 따라 결정됨이 바람직하나, 반드시 이에만 한정되는 것은 아니고, 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단할 수 있는 합리적인 기준이라면 방전 파형을 산정하여 양불 기준으로 할 수 있다.

검출된 방전 파형의 평균값을 산정하는 방법은 각 검사 좌표마다 검출된 방전 파형을 누적 적분 연산해서 정할 수 있다. 다만 이는 예시에 불과하며, 평균값을 산정하는 방법이 이에만 한정되는 것은 아니다.

양불 기준은 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다.

양불 기준으로부터 미리 정해진 범위는 예시적으로, 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균의 표준 편차의 배수, 사용자의 입력 및 양품률 중 어느 하나가 될 수 있다.

또한, 미리 정해진 범위는 필요에 따라 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일의 상태에 다르게 정해질 수 있다. 예를 들면, 미리 정해진 범위는 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일에 터치 스크린 패널 검사장치(10)를 가동시켜보고, 도출되는 결과에 따라 달라질 수 있다.

또한, 인셀 방식의 터치 스크린 패널이 온셀 방식의 터치 스크린 패널에 비해 터치패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향으로 인해 불량 발생 확률이 다소 높아질 수 있으므로, 터치 패널의 구현 방식에 따라 미리 정해진 범위가 달라질 수 있다.

여기서, 기준값을 산정하여 정해지는 양불 기준은 각 터치 스크린 패널(15)마다 다르게 된다. 이는 전술한 바와 같이, 각 터치 스크린 패널(15)의 상태가 제조 공정 등에 따라 달라질 수 있고, 터치 패널의 구현방식에 따라 불량 발생 확률이 달라지기 때문에 사용자가 양불 판단 기준값을 입력하는 것보다 양불 판단을 정확하게 할 수 있기 때문이다.

또한, 터치 스크린 패널(15)의 모델이 달라지는 경우, 사용자가 해당 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표마다 기준값을 다시 입력해주어야 하나, 각 터치 스크린 패널(15)의 검사 과정에서 검출되는 방전 파형을 이용하여 기준값을 산정하면 사용자가 기준값을 다시 입력해주어야 하는 번거로움을 줄일 수 있고, 기준값이 자동으로 계산되므로 사용자가 직접 입력할 필요없이 양불 기준 결정이 자동화된다.

본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법은 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)에서 정해진 양불 기준에 따라 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 단계(S30)를 포함한다.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하는 단계(S10)에서 정해진 양불 기준은 후술되는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 메모리(1337)에 저장된다.

터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 방법은, 전술한 S15단계에 의해 검출된 방전 파형을 그대로 이용하여 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하는 것이다. 즉, 검출된 방전 파형은 기준값을 산정하는 것에서만 이용되는 것이 아니라, 산정된 기준값과 대조되는 과정에도 이용된다. 이 경우, 검출된 방전 파형은 기준값이 산정됨과 동시에 산정된 기준값과 대조되는 과정을 거치게 되므로, 기준값을 일일이 입력하고 각 검사 좌표마다 방전 파형을 검출해 대조과정을 거치는 기존의 검사방법에 비해 검사시간이 단축된다.

또한, 전술한 바와 같이 터치 스크린 패널(15)의 모델이 변경되더라도 이러한 검사방법 하에서는 변경된 터치 스크린 패널(15)의 기준값이 다시 자동으로 산정되므로, 통신 관련 프로그램 등을 바꿀 필요가 없다.

또한, 터치 스크린 패널(15) 각각의 기준값이 자동으로 산정되므로, 온셀 방식뿐만 아니라 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 검사도 가능하다. 이와 더불어, 쇼팅바(shorting-bar) 타입과 풀컨텍(full-contact) 타입의 터치 스크린 패널(15)도 모두 검사할 수 있다.

한편, 이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(이하 '본 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈'이라 함)(111)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

앞서 설명한 바와 같이, 터치 스크린 패널(15)은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널(15)인 것일 수 있다.

검사모듈(111)은 터치 스크린 패널(15)을 검사하여 제어부(13)와 신호 및 정보를 주고받는 역할을 한다.

보다 구체적으로, 검사모듈(111)은 제어부(13)에 포함된 컨트롤러(131)와 신호 및 정보를 주고 받는다. 상기 신호는 전기 신호이고 정보는 원하는 검사 영역의 검사 좌표에 대한 정보임이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다. 컨트롤러(131)가 검사모듈(111)에 원하는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 대한 정보를 제공하고 신호를 인가하면, 검사모듈(111)은 정보를 받아 해당 검사 좌표에 신호를 인가한다.

도 4를 참조하면, 검사모듈(111)은 후술되는 검사용 핀(113)을 이동시키는 이동장치(115)의 상단에 위치할 수 있으나, 컨트롤러(131)로부터 신호 및 정보를 받아 검사용 핀(113)에 신호 및 정보를 전달할 수 있는 곳에 위치하면 되고, 이에만 한정되는 것은 아니다.

그 다음, 검사모듈(111)은 판단된 결과를 테스터(133)에 전달하여 후술하는 입출력기(1331)를 통해 출력하여 사용자가 볼 수 있도록 한다.

본 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(111)은 제1 신호인가부(1111)를 포함한다. 제1 신호인가부(1111)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가한다. 이 때, 신호는 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

도 2를 참조하면, 제1 신호인가부(1111)는 컨트롤러(131)로부터 받은 검사 좌표에 대한 정보 및 신호 중 검사 좌표의 각 열에 대한 신호 및 정보를 검사용 핀(113)에 전달 및 인가하는 역할을 한다.

본 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(111)은 제2 신호인가부(1113)를 포함한다. 제2 신호인가부(1113)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가한다. 이 때, 신호는 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것이다.

도 2를 참조하면, 제2 신호인가부(1113)는 컨트롤러(131)로부터 받은 검사 좌표에 대한 정보 및 신호 중 검사 좌표의 각 행에 대한 신호 및 정보를 검사용 핀(113)에 전달 및 인가하는 역할을 한다.

제1 신호인가부(1111) 및 제2 신호인가부(1113)가 터치 스크린 패널(15)에 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수를 조합한 신호를 검사용 핀(113)에 전달 및 인가함으로써, 양불 기준에 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영되도록 할 수 있다. 이러한 양불 기준을 토대로 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 경우, 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하는 경우에는 가려낼 수 없는, 실사용시 위와 같은 상호 작용에 의해 생길 수 있는 인셀 방식 터치 스크린 패널(15)의 불량 여부를 실사용 전 패널 검사 단계에서 사전에 가려낼 수 있다.

본 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(111)은 수신부(1115)를 포함한다. 수신부(1115)는 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신한다.

이 때, 방전 파형은 앞서 설명한 바와 같이 터치 스크린 패널(15)의 터치 및 점등이 동시에 활성화된 상태에 대하여 신호가 인가됨으로써 검출되는 파형일 수 있다.

도 3을 참조하면, 수신부(1115)는 검사용 핀(113)에 의해 각 검사 좌표마다 신호를 인가하여 검사 좌표의 행과 열에 인가된 신호가 만나 신호의 변화량이 방출되어 생기는 방전 파형을 수신하고, 수신된 방전 파형을 다시 컨트롤러(131)로 전달하는 역할을 한다. 수신부(1115)는 방전 파형을 수신하고 컨트롤러(131)로 전달하는 역할과 더불어 후술하는 역할을 더 수행할 수 있다.

한편, 도 3의 (b)를 참조하면, 수신부(1115)는 수신부(1115)가 수신한 방전 파형을 통해 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 결정하는 연산부를 포함할 수 있다. 다시 말해, 수신부(1115)는 연산부를 통해 수신부(1115) 자체에서 양불 기준을 산정할 수 있다. 예시적으로, 연산부는 방전 파형의 평균을 산정하여 이를 양불 기준으로 정할 수 있다. 또한, 연산부는 방전 파형을 산정하여 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하고, 수신부(1115)는 이를 컨트롤러(131)로 전달하여 후술하는 테스터(133)의 메모리(1337)에 저장하게 할 수 있다.

전술한 방전 파형을 통하여 산정된 기준값은 터치 민감도 기준값과 점등 기준값으로 구분되는데, 이들은 터치 및 점등 간의 상호 작용으로 인한 영향을 고려하여 산정된 기준값이다. 따라서, 이러한 기준값은 터치 스크린 패널(15)의 터치 민감도 검사만을 개별적으로 수행하는 경우의 기준값 및 터치 스크린 패널(15)의 점등 검사만을 개별적으로 수행하는 경우의 기준값을 단순 결합한 기준값과는 상이한, 터치 패널과 디스플레이 액정 배향의 상호 작용으로 인한 영향이 반영되어 조절된 값으로 산정되게 된다. 또한, 이러한 기준값을 통해 정해지는 양불 기준도 터치 민감도 검사만을 개별적으로 수행하는 경우의 양불 기준 및 점등 검사만을 개별적으로 수행하는 경우의 양불 기준의 단순 결합과는 다르게 설정된다.

또 다른 예로서, 수신부(1115)는 수신한 방전 파형을 통해 산정한 양불 기준을 컨트롤러(131)에 전달하여 테스터(133)의 메모리(1337)에 저장하는 대신 자체적으로 저장할 수 있다. 예시적으로, 연산부에 양불 기준이 저장될 수 있다. 도면에서는 도시되지 않았으나, 연산부는 양불 기준의 저장을 위한 저장영역, 이를테면 메모리를 포함할 수 있다.

또 다른 예로서, 수신부(1115)는 방전 파형 값을 갖는 검사좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다. 즉, 수신부(1115)는 수신한 방전 파형을 컨트롤러(131)에 전달하여 테스터(133)에서 양불 기준을 정하여 저장하게 하는 대신, 자체적으로 양불 기준을 산정하고 자체적으로 양품 판정을 내리도록 구현될 수 있다. 예시적으로 도 3의 (b)를 참조하면, 수신부(1115)의 연산부는 메모리 등에 저장된 양불 기준을 토대로, 양불 기준을 정하는데 사용된 방전 파형을 그대로 이용하여 양품 판정까지 내리는 기능을 수행할 수 있다.

이 때, 수신부(1115)는 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다. 즉, 연산부는 방전 파형이 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위에 있으면 해당 방전 파형이 검출된 검사 좌표는 양질로, 그 방전 파형이 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 밖에 있으면 불량으로 판단할 수 있다.

앞서 설명한 바와 같이, 수신부(1115)에서 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위는 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균의 표준 편차의 배수, 사용자의 입력 및 양품률 중 어느 하나가 될 수 있다.

다만, 미리 정해진 범위는 필요에 따라 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일의 상태에 다르게 정해질 수도 있고, 터치 스크린 패널(15)의 종류, 즉, 온셀 방식 또는 인셀 방식, 쇼팅바 타입 또는 풀컨텍 타입 등에 의해 정해질 수도 있다.

또한, 수신부(1115)는 제1 신호인가부(1111)가 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가한 상태에서 제2 신호인가부(1113)가 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가함으로써 검출되는 어느 한 열의 검사 좌표의 방전 파형을 수신할 수 있다.

이에 대해 보다 구체적으로 설명하면, 먼저, 제1 신호인가부(1111)가 검사 좌표의 한 열에 대한 정보를 컨트롤러(131)로부터 받아, 해당 열에 대한 신호를 검사용 핀(113)에 인가하여 검사 좌표의 한 열을 활성화 시킨다. 그 다음, 제2 신호인가부(1113)가 검사 좌표의 모든 행에 대한 정보를 컨트롤러(131)로부터 받아, 모든 행에 대한 신호를 검사용 핀(113)에 인가하여 검사 좌표의 모든 행을 활성화 시킨다.

한 열에 인가된 신호와 모든 행에 인가된 신호가 만나 신호의 변화량이 방전 파형의 형태로 검출되고, 이 과정을 모든 열에 대하여 반복함으로써 모든 검사 좌표에 대한 방전 파형이 검출되어 수신부(1115)가 이를 수신할 수 있게 된다. 모든 검사 좌표에 대해 검출된 방전 파형에는 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영되어 있으므로, 이를 토대로 정해진 양불 기준은 실사용시 발생되는 인셀 방식 터치 스크린 패널(15)의 불량품을 정확하게 가려낼 수 있는 기준이 된다.

수신부(1115)는 전술한 수신부(1115)의 역할에 따라 수신된 방전 파형으로평균값을 산정하여 양불 기준을 정할 수 있고, 정해진 양불 기준을 저장할 수도 있으며, 저장된 양불 기준을 토대로 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단할 수도 있다.

한편, 이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치(이하 '본 터치 스크린 패널 검사장치'라 함)(10)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(111) 에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

앞서 설명한 바와 같이, 터치 스크린 패널(15)은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널(15)인 것일 수 있다.

본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 검사부(11)를 포함한다. 검사부(11)는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈(111)을 포함한다.

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 접촉되는 검사용 핀(113)을 포함할 수 있다.

검사용 핀(113)은 제1 신호인가부(1111) 및 제2 신호인가부(1113)로부터 신호를 전달받아 검사 좌표에 인가할 수 있다. 즉, 검사모듈(111)이 검사를 원하는 검사 좌표에 대한 정보를 분석하면, 제1 신호인가부(1111) 및 제2 신호인가부(1113) 중 해당 검사 좌표에 해당 되는 부분에 신호가 인가되고, 검사용 핀(113)이 후술하는 이동장치(115)에 의해 해당 검사 좌표의 위치로 이동되어 제1 신호인가부(1111) 및 제2 신호인가부(1113)로부터 받은 신호를 터치 스크린 패널(15)에 직접 접촉하여 신호를 인가한다. 이 때, 검사용 핀(113)으로부터 터치 스크린 패널(15)에 인가되는 신호는 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 신호이다.

검사용 핀(113)은 전기적 신호를 터치 스크린 패널(15)의 해당 검사 좌표에 전달하기 위해 전도성 재질로 이루어질 수 있다.

또한, 도 4를 참조하면, 검사용 핀(113)은, 터치 스크린 패널(15)과의 접촉시 터치 스크린 패널(15)의 손상을 막기 위해 단부가 뭉뚝한 형상을 가질 수 있다.

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 접촉시키기 위해 검사용 핀(113)을 이동시키는 이동장치(115)를 포함할 수 있다.

도 4에 도시된 바와 같이, 이동장치(115)는 검사모듈(111)이 분석한 결과에 해당하는 검사 좌표에 신호를 정확하게 인가하기 위해 검사용 핀(113)과 연결되어 검사용 핀(113)을 상하좌우로 이동시킬 수 있다.

본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 제어부(13)를 포함한다. 제어부(13)는 검사부(11)와 신호 및 정보를 주고받는다.

도 3을 참조하면, 제어부(13)는 터치 스크린 패널(15)의 원하는 검사영역에 인가될 신호를 발생시켜 검사부(11)로 전달하고, 다시 검사부(11)로부터 검출된 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준을 정하여 저장할 수 있다. 그 다음, 제어부(13)는 검출된 방전 파형을 양불 기준과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 출력하여 사용자가 볼 수 있도록 할 수 있다.

여기서, 방전 파형은 터치 스크린 패널(15)의 터치 및 점등이 동시에 활성화된 상태에 대하여 신호가 인가됨으로써 검출되는 파형이고, 기준값은 터치 민감도 기준값과 점등 기준값으로 구분되며, 양불 기준은 터치 및 점등 간의 상호 작용으로 인한 영향이 고려되어 정해진 것이다.

제어부(13)는 검사부(11)에 신호를 전달하고 이에 따라 검사부(11)에서 검출되는 방전 파형을 전달받는 컨트롤러(131)를 포함할 수 있다.

컨트롤러(131)는 검사부에 신호를 전달하는 인쇄회로기판을 포함할 수 있다.

도 3을 참조하면, 컨트롤러(131)는 후술되는 테스터(133)로부터 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 인가될 신호 및 신호가 인가될 검사 좌표의 정보를 받아 검사부(11)에 전달한다. 또한, 컨트롤러(131)는 검사부(11)로부터 검출되는 방전 파형을 받아 테스터(133)에 전달한다.

상기 신호는 전기적 신호임이 바람직하며, 전기적 신호를 전달할 수 있도록 컨트롤러(131)는 인쇄회로기판을 포함할 수 있다.

터치 스크린 패널 검사장치(10)에는 컨트롤러(131)가 하나 이상 포함될 수 있다.

도 3에서 도시된 바와 같이, 컨트롤러(131)는 후술하는 테스터(133)와 연결된다. 이 때, 도 5에 도시된 바와 같이, 하나의 테스터(133)에 대하여 하나 이상의 컨트롤러(131)가 연결될 수 있다. 예시적으로, 허브를 이용하여 하나 이상의 컨트롤러(131)를 테스터(133)와 연결할 수 있다.

예시적으로, 하나의 컨트롤러(131)에 8개의 검사부(11)가 연결될 수 있다고 하면, 두 개의 컨트롤러(131)가 테스터(133)에 연결되는 경우에는 하나의 컨트롤러(131)당 4개의 검사부(11)가 연결될 수 있다. 이 때, 하나의 컨트롤러(131)는 4개의 검사부(11)에만 신호 및 정보를 주고 받으면 되므로, 하나의 컨트롤러(131)에 8개의 검사부(11)가 연결되는 경우보다 신호 및 정보를 주고 받는데 걸리는 시간이 단축될 수 있다.

즉, 컨트롤러(131)를 허브 등의 장치와 연결하여 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 경우, 터치 스크린 패널(15)의 검사시간이 단축될 수 있다.

또한, 하나 이상의 컨트롤러(131)가 포함되는 경우, 한꺼번에 많은 신호 및 정보를 전달할 수 있으므로 확장성이 좋아진다.

하나의 컨트롤러(131)는 하나 이상의 검사부(11)와 연결되어 검사부(11)와 신호 및 정보를 주고받을 수 있다.

도 4에 도시된 바와 같이, 하나의 컨트롤러(131)가 하나 이상의 검사부(11)와 연결되는 경우 복수개의 터치 스크린 패널(15)을 동시에 검사할 수 있다.

또한, 도 5를 참조하면, 복수개의 컨트롤러(131)를 연결하고, 하나의 컨트롤러(131)당 복수개의 검사부(11)를 연결하는 경우, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 복수개의 터치 스크린 패널(15)을 동시에 검사할 수 있고, 터치 스크린 패널(15)의 검사시간을 단축시킬 수 있다.

제어부(13)는 컨트롤러(131)에 전달되는 신호를 발생시키고, 발생된 신호를 컨트롤러(131)에 전달하며, 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준으로 저장하고, 방전 파형을 저장된 양불 기준과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불을 판단하여 결과를 출력하는 테스터(133)를 포함할 수 있다.

예시적으로, 도 3을 참조하면, 테스터(133)는 입출력기(1331), 신호발생기(1333), 연산기(1335) 및 메모리(1337)를 포함할 수 있다.

도 3에 도시된 바와 같이, 테스터(133)는 컨트롤러(131)에 전달되는 신호를 발생시키는 신호발생기(1333)를 포함할 수 있다.

신호발생기(1333)는 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 신호를 발생시키는 패턴 제너레이터(pattern generator)를 포함할 수 있다. 이를 통해, 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향을 반영한 양불 기준이 각각 정해질 수 있으므로, 보다 정확한 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 검사가 가능하다.

도 3에 도시된 바와 같이, 신호발생기(1333)는 최종적으로 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 도달되는 신호를 발생시킨다. 신호발생기(1333)는 전기적 신호를 발생시킬 수 있다.

신호발생기(1333)는 입출력기(1331)로부터 명령을 받아 신호를 발생시킨다. 사용자가 입출력기(1331)에 터치 스크린 패널(15)의 검사를 시작하도록 입력하면, 입출력기(1331)가 신호발생기(1333)에 신호를 발생하도록 명령을 내리게 된다.

도 3을 참조하면, 테스터(133)는 신호발생기(1333)로부터 발생된 신호를 컨트롤러(131)에 전달한 후, 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하고, 전술한 방전 파형을 후술하는 메모리(1337)에 저장된 기준값과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불을 판단하는 연산기(1335)를 포함할 수 있다.

도 3에 도시된 바와 같이, 연산기(1335)는 전술한 신호발생기(1333)에 의해 발생된 신호가 최종적으로 검사부(11)에 인가되고, 이에 따라 검출된 방전 파형을 컨트롤러(131)를 통해 전달받는다.

연산기(1335)는 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 대해 검출된 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정한다. 여기서 기준값은 방전 파형의 평균값일 수 있으나 이에만 한정되는 것은 아니다. 연산기(1335)는 산정한 기준값을 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준으로 저장될 수 있도록 후술되는 메모리(1337)에 저장한다.

또한, 도 3을 참조하면, 연산기(1335)는 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표마다 검출된 방전 파형을 산정하고, 이를 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하여 양불 여부를 판단한다. 이 때, 양불 기준은 연산기(1335)에서 산정된 기준값에 대하여 미리 정해진 범위 이내에 있는 경우는 양질을, 미리 정해진 범위 밖에 있는 경우는 불량으로 판단하는 기준을 의미할 수 있다.

테스터(133)는 메모리(1337)를 포함할 수 있다. 메모리(1337)는 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 연산기(1335)가 산정한 기준값을 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준으로 저장할 수 있다.

메모리(1337)에 저장된 양불 기준에는 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향이 반영되어 있으므로, 이러한 영향이 반영된 양불 기준을 토대로 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 경우, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향에 의해 생기는 인셀 방식 터치 스크린 패널(15)의 불량품을 보다 정확하게 가려낼 수 있다.

테스터(133)는 입출력기(1331)를 포함할 수 있다. 입출력기(1331)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 영역에 대한 정보를 입력할 수 있고 이에 따라 신호발생기(1331)에 컨트롤러(131)에 전달될 신호를 발생시키고, 연산기(1335)가 판단한 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부에 대한 결과를 출력할 수 있다.

입출력기(1331)는 신호발생기(1333)와 컨트롤러(131)를 통해 검사부(11)에 전달되는 터치 스크린 패널(15)의 검사 영역에 대한 정보를 사용자가 입력할 수 있다.

또한, 도 3에 도시된 바와 같이 입출력기(1331)는, 사용자가 터치 스크린 패널(15)의 검사를 시작하도록 입력하는 경우 신호발생기(1333)에 신호를 발생시키도록 명령한다.

또한, 도 3에 도시된 바와 같이 입출력기(1331)는 연산기(1335)에서 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표의 방전 파형을 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하여 해당 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단한 결과를 사용자가 볼 수 있도록 출력한다.

또한, 입출력기(1331)는 도 5에 도시된 바와 같이, 복수 개의 컨트롤러(131) 또는 복수 개의 검사부(11)가 연결된 경우, 복수 개의 신호 및 정보를 발생시킬 수 있다.

한편, 이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 비전 검사장비(이하 '본 비전 검사장비'라 함)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치(10)에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

본 비전 검사장비는 로딩부(1)를 포함한다.

도 7을 참조하면, 로딩부(1)는 검사 대상물인 전자부품을 비전부(2)로 공급한다.

이 때, 전자부품은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널일 수 있다. 다만, 이에만 한정되는 것은 아니고, 전자부품은 반도체 패키지, 온셀 방식의 터치 스크린 패널, LED 등 일 수 있다.

본 비전 검사장비는 비전부(2)를 포함한다.

도 7을 참조하면, 비전부(2)는 로딩부(1)로부터 공급된 전자부품의 불량을 검출한다.

예를 들어, 비전부(2)는 패턴 정합 방법을 이용하여 전자부품의 불량을 검출할 수 있다. 즉, 비전부(2)는 검사 대상물인 전자부품을 카메라로 촬영하여 전자부품에 대한 영상을 획득한 후, 획득된 영상에서 특정 패턴을 검출하여 전자부품의 불량을 검출할 수 있다. 이 때, 검출된 불량의 전자부품은 도 9에 도시된 반송부(8)로 보내진다.

비전부(2)에는 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)가 포함된다.

다만, 비전부(2)에 검사용 핀과 같이 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성 중 일부 구성이 기존에 구비되어 있는 경우, 기존의 구성은 그대로 활용하고, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성 중 기존에 구비되어 있지 않은 구성(예시적으로, 터치 민감도 검사를 위한 주파수 및 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 신호를 발생시키는 신호발생기(1333) 또는 이러한 신호를 인가하는 검사모듈(111))만이 추가적으로 비전부(2)에 포함될 수 있다.

이를 통해, 비전부(2)는 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 직접 입력하지 않아도 되고, 터치 스크린 패널(15)마다 다른 양불 기준을 산정함으로써 보다 정확한 검사가 가능하며, 검사 시간이 단축되고, 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하던 종래의 검사장치에서는 발견할 수 없었던 실사용시 발생하는 불량품을 가려낼 수 있다.

본 비전 검사장비는 언로딩부(4)를 포함한다.

도 7을 참조하면, 언로딩부(4)에는 비전부(2)에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품이 공급된다.

한편, 이하에서는 본원의 다른 실시예에 따른 비전 검사장비에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 비전 검사장비에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

본원의 다른 실시예에 따른 비전 검사장비는 매뉴얼부(3)를 포함한다.

매뉴얼부(3)는 비전부(2)에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품의 불량을 수동으로 검출한다.

매뉴얼부(3)에서는 남은 전자부품의 외관불량 등을 작업자가 수동으로 검출할 수 있다. 이 때, 검출된 불량의 전자부품은 도 9에 도시된 반송부(8)로 보내진다.

도 9를 참조하면, 비전부(2)와 매뉴얼부(3)는 복수개일 수 있으며, 여러 형태로 배치될 수 있다.

예를 들어, 도 9의 (a)에 도시된 바와 같이 비전부(2)와 매뉴얼부(3)는 직렬 형태로 배치될 수도 있고, 도 9의 (c)에 도시된 바와 같이 비전부(2)와 매뉴얼부(3)가 모두 병렬 형태로 배치될 수 있다. 또한, 필요에 따라 도 9의 (b)에 도시된 바와 같이 비전부(2) 및 매뉴얼부(3) 중 어느 하나는 직렬 형태로, 다른 하나는 병렬 형태로 배치될 수도 있다.

여기서, 비전부(2) 및 매뉴얼부(3) 중 하나 이상에는 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)가 포함된다.

앞서 설명한 비전부(2)와 마찬가지로, 예를 들어 본 비전 검사장비에 포함된 매뉴얼부(3)에는 기존에 구비되어 있지 않은 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성만이 추가적으로 포함될 수 있다. 또다른 예로서, 기존의 매뉴얼부에 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성이 전혀 없는 경우, 매뉴얼부(3)에는 본 터치 스크린 패널 검사장치(10) 자체가 포함될 수 있다.

이를 통해, 터치 스크린 패널 검사장치(10)가 포함된 비전부(2) 또는 매뉴얼부(3)는 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 직접 입력하지 않아도 되고, 터치 스크린 패널(15)마다 다른 양불 기준을 산정함으로써 보다 정확한 검사가 가능하며, 검사 시간이 단축되고, 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하던 종래의 검사장치에서는 발견할 수 없었던 실사용시 발생하는 불량품을 가려낼 수 있다.

한편, 이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 오토 프로브 검사장비(이하 '본 오토 프로브 검사장비'라 함)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치(10) 에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

일반적으로 오토 프로브 검사장비는 터치 스크린 패널에 소정의 신호를 인가하여 구동시킨 후, 터치 스크린 패널의 배면에 광을 공급하여 검사 패턴을 구현한 상태에서 패턴을 관찰하여 화소의 정상 구동 및 불량 유무를 판별할 수 있는 장비이다. 본 오토 프로브 검사장비는 이러한 기존의 장비에 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)가 더 포함된 장비이다.

본 오토 프로브 검사장비는 투입부(5)를 포함한다.

도 10을 참조하면, 투입부(5)에는 검사 대상물인 전자부품이 투입된다.

앞서 설명한 바와 같이, 전자부품은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널일 수 있다. 다만, 이에만 한정되는 것은 아니고, 전자부품에는 반도체 패키지, 온셀 방식의 터치 스크린 패널, LED 등이 포함될 수 있다.

본 오토 프로브 검사장비는 판정부(6)를 포함한다.

예를 들어, 판정부(6)는 터치 스크린 패널에 검사 신호를 인가하는 검사 핀과 검사 핀에 검사 신호를 공급하는 패턴 제너레이터를 포함할 수 있다. 따라서, 판정부(6)는 터치 스크린 패널에 검사 신호를 인가하여 터치, 점등 검사 등을 수행할 수 있다.

도 10을 참조하면, 판정부(6)에는 투입부(5)로부터 전자부품을 공급받을 수 있고, 공급받은 전자부품의 불량을 검출하도록 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)가 포함된다.

다만, 판정부(6)에 검사용 핀과 같이 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성 중 일부 구성이 기존에 구비되어 있는 경우, 기존의 구성은 그대로 활용하고, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)의 구성 중 기존에 구비되어 있지 않은 구성(예시적으로, 터치 민감도 검사를 위한 주파수 및 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 신호를 발생시키는 신호발생기(1333) 또는 이러한 신호를 인가하는 검사모듈(111))만이 추가적으로 판정부(6)에 포함될 수 있다.

이를 통해, 판정부(6)는 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 직접 입력하지 않아도 되고, 터치 스크린 패널(15)마다 다른 양불 기준을 산정함으로써 보다 정확한 검사가 가능하며, 검사 시간이 단축되고, 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하던 종래의 검사장치에서는 발견할 수 없었던 실사용시 발생하는 불량품을 가려낼 수 있다.

본 오토 프로브 검사장비는 배출부(7)를 포함한다.

도 10을 참조하면, 배출부(7)는 판정부(6)의 판정결과에 따라 전자부품이 분류되어 배출된다.

전술한 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법 및 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)에 따르면, 사용자가 각 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 직접 입력하던 종래의 기술과는 달리, 터치 스크린 패널(15)에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형으로 양불 기준을 산정하므로 번거롭지 않다.

또한, 각 터치 스크린 패널(15)은 제조 공정 등의 차이가 있으므로 터치 스크린 패널(15)마다 양불 기준을 달리함이 바람직한데, 각 터치 스크린 패널(15)마다 양불 기준을 다르게 하지 않고 일괄적인 기준으로 양불 여부를 판단하던 종래의 기술과는 달리, 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법 및 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 각 터치 스크린 패널(15)마다 신호를 인가하여 검출되는 방전 파형으로 양불 기준을 산정하므로, 양불 기준이 해당 터치 스크린 패널(15)에 맞도록 산정되므로 터치 스크린 패널(15)의 양불 판단에 대한 정확도를 높일 수 있다.

또한, 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법 및 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 한번 검출된 방전 파형으로 양불 기준 산정과 양불 여부 판단을 수행하므로, 터치 스크린 패널(15)의 검사시간을 단축시킬 수 있다.

또한, 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법 및 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 터치 패널과 디스플레이 액정 배향 상호간에 미치는 영향을 반영할 수 있도록 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수를 조합한 신호를 사용함으로써 터치 민감도 검사와 점등 검사의 양불 기준을 상호 연계하여 설정하므로, 터치 민감도 검사와 점등 검사를 따로 수행하던 종래의 검사장치를 통해서는 가려낼 수 없는 실사용시 발생될 수 있는 불량품을 가려낼 수 있어, 인셀 방식의 터치 스크린 패널(15)의 양품 판단을 정확히 할 수 있다.

전술한 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)에 따르면, 터치 스크린 패널(15)에서 검출되는 방전 파형으로 양불 기준을 산정할 수 있는 구성요소를 포함하고 있으므로, 터치 스크린 패널(15)의 모델이 바뀌면 통신 관련 프로그램의 수정이 필요하던 종래의 터치 스크린 패널 검사장치와는 달리, 모델이 바뀌더라도 검출된 방전 파형에 따라 양불 기준을 다시 산정하면 되므로 종전의 장치 그대로 사용할 수 있다.

또한, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 하나의 테스터(133)에 하나 이상의 컨트롤러(131)를 포함할 수 있어 확장성이 간편하고, 하나의 컨트롤러(131)에 하나 이상의 검사부(11)를 포함할 수 있어 한꺼번에 많은 터치 스크린 패널(15)을 검사할 수 있다.

전술한 본원의 설명은 예시를 위한 것이며, 본원이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본원의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.

본원의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

10: 터치 스크린 패널 검사장치
11: 검사부 13: 제어부
15: 터치 스크린 패널 111: 검사모듈
113: 검사용 핀 115: 이동장치
131: 컨트롤러 133: 테스터
1111: 제1 신호인가부 1113: 제2 신호인가부
1115: 수신부 1331: 입출력기
1333: 신호발생기 1335: 연산기
1337: 메모리 1: 로딩부
2: 비전부 3: 매뉴얼부
4: 언로딩부 5: 투입부
6: 판정부 7: 배출부
8: 반송부

Claims (26)

1. 터치 스크린 패널 검사장치에 의한 터치 스크린 패널의 검사방법에 있어서,
   (a) 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 양불 기준을 정하는 단계; 및
   (b) 상기 양불 기준에 따라 상기 터치 스크린 패널의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하되,
   상기 신호는,
   상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 신호는,
   상기 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 상기 점등 검사를 위한 주파수가 시간흐름에 따라 교번하여 조합된 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 (a) 단계 이전에,
   상기 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 상기 점등 검사를 위한 주파수를 조합한 상기 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 (a) 단계에서,
   상기 방전 파형은 상기 터치 스크린 패널의 터치 및 점등이 동시에 활성화된 상태에 대하여 상기 신호가 인가됨으로써 검출되는 파형인 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
5. 제 1 항에 있어서,
   상기 (a) 단계는,
   (a1) 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하는 단계;
   (a2) 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하여 상기 어느 한 열의 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계;
   (a3) 상기 (a1) 및 (a2) 단계를 상기 터치 스크린 패널의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계; 및
   (a4) 검출된 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형을 통해 상기 기준값을 산정하여 상기 양불 기준을 결정하는 단계를 포함하는 터치 스크린 패널의 검사방법.
6. 제 5 항에 있어서,
   상기 양불 기준은 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균에 따라 결정되는 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 양불 기준은 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내리는 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 터치 스크린 패널은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.
9. 터치 스크린 패널을 검사하는 검사모듈을 포함하는 검사부 및 상기 검사부와 신호 및 정보를 주고받는 제어부를 포함하는 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈에 있어서,
   상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1 신호인가부;
   상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 제2 신호인가부; 및
   상기 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부를 포함하되,
   상기 신호는,
   상기 터치 스크린 패널의 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 점등 검사를 위한 주파수가 조합된 것인 검사모듈.
10. 제 9 항에 있어서,
    상기 신호는,
    상기 터치 민감도 검사를 위한 주파수와 상기 점등 검사를 위한 주파수가 시간흐름에 따라 교번하여 조합된 것인 검사모듈.
11. 제 9 항에 있어서,
    상기 방전 파형은 상기 터치 스크린 패널의 터치 및 점등이 동시에 활성화된 상태에 대하여 상기 신호가 인가됨으로써 검출되는 파형인 것인 검사모듈.
12. 제 9 항에 있어서,
    상기 수신부는,
    상기 방전 파형의 평균을 산정하여 상기 터치 스크린 패널의 양불 기준을 각각 결정하는 것인 검사모듈.
13. 제 12항에 있어서,
    상기 수신부는,
    상기 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내리는 것인 검사모듈.
14. 제 9 항에 있어서,
    상기 수신부는 상기 제1 신호인가부가 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하고, 상기 제2 신호인가부가 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하는 과정을 상기 터치 스크린 패널의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출하여 상기 제어부로 전달하는 것인 검사모듈.
15. 제 9 항에 있어서,
    상기 터치 스크린 패널은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 검사모듈.
16. 터치 스크린 패널의 불량 유무를 판단하는 터치 스크린 패널 검사장치에 있어서,
    제 9 항에 따른 검사모듈을 포함하는 검사부; 및
    제어부를 포함하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.
17. 제 16 항에 있어서,
    상기 제어부는,
    신호를 상기 검사부에 전달하고 이에 따라 상기 검사부에서 검출되는 방전 파형을 전달받는 컨트롤러; 및
    상기 컨트롤러에 전달되는 신호를 발생시키고, 발생된 상기 신호를 상기 컨트롤러에 전달하며, 상기 컨트롤러로부터 상기 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준으로 저장하고, 상기 방전 파형을 저장된 상기 양불 기준과 비교하여 상기 터치 스크린 패널의 양불을 판단하여 결과를 출력하는 테스터를 포함하는 터치 스크린 패널 검사장치.
18. 제 16 항에 있어서,
    상기 검사부는,
    상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표에 접촉되는 검사용 핀; 및
    상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표에 접촉시키기 위해 상기 검사용 핀을 이동시키는 이동장치를 포함하되,
    상기 검사용 핀은 상기 제1 신호인가부 및 제2 신호인가부로부터 신호를 전달받아 상기 검사 좌표에 인가하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.
19. 제 17 항에 있어서,
    상기 컨트롤러는,
    상기 검사부에 신호를 전달하는 인쇄회로기판을 포함하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.
20. 제 17 항에 있어서,
    상기 검사부는 하나 이상 구비되고,
    상기 컨트롤러는 상기 하나 이상의 검사부와 연결되어 신호 및 정보를 주고받는 것인, 하나 이상의 컨트롤러가 포함되는 터치 스크린 패널 검사장치.
21. 제 20 항에 있어서,
    상기 컨트롤러는 복수개 구비되고,
    상기 복수개의 컨트롤러 각각은 상기 하나 이상의 검사부와 연결되어 신호 및 정보를 주고받는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.
22. 전자부품의 검사공정에서 사용되는 비전 검사장비에 있어서,
    상기 전자부품을 공급하는 로딩부;
    상기 전자부품의 불량을 검출하는 비전부; 및
    상기 비전부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품이 공급되는 언로딩부를 포함하되,
    상기 비전부에는,
    제 16 항에 따른 터치 스크린 패널 검사장치가 포함되는 것인 비전 검사장비.
23. 전자부품의 검사공정에서 사용되는 비전 검사장비에 있어서,
    상기 전자부품을 공급하는 로딩부;
    상기 전자부품의 불량을 검출하는 비전부;
    상기 비전부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품의 불량을 수동으로 검출하는 매뉴얼부; 및
    상기 매뉴얼부에서 불량이 검출된 후 남은 전자부품이 공급되는 언로딩부를 포함하되,
    상기 비전부 및 상기 매뉴얼부 중 하나 이상에는,
    제 16 항에 따른 터치 스크린 패널 검사장치가 포함되는 것인 비전 검사장비.
24. 제 22 항 또는 제 23 항에 있어서,
    상기 전자부품은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 비전 검사장비.
25. 전자부품의 검사공정에서 사용되는 오토 프로브 검사장비에 있어서,
    상기 전자부품을 투입하는 투입부;
    상기 투입부를 통해 투입된 상기 전자부품의 불량을 검출하도록 제 16 항에 따른 터치 스크린 패널 검사장치를 포함하는 판정부; 및
    상기 판정부의 판정결과에 따라 상기 전자부품이 분류되어 배출되는 배출부를 포함하는 것인 오토 프로브 검사장비.
26. 제 25 항에 있어서,
    상기 전자부품은 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 오토 프로브 검사장비.

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