KR101360754B1 - 전자기 스위칭 장치의 콘택 부식을 결정하는 방법 및그러한 방법에 따라 동작하는 메커니즘을 포함하는 전자기스위칭 장치 - Google Patents

Abstract

전자기 스위칭 장치의 콘택 부식을 결정하기 위하여, 콘택들 간의 상대적 이동의 시간 진행을 특성화하는 기계적 파라미터(v)가 측정되는데, 상기 이동은 액츄에이터에 의해 야기된다. 콘택들(18)이 폐쇄되는 시점(t_k)은 상대적 이동의 시간 진행을 평가함으로써 결정되고, 상기 시점(t_k)까지 콘택(들)(18)에 의해 진행된 거리(s 또는 d) 또는 상기 시점(t_k)으로부터 액츄에이터의 최종 지점에 도달할 때까지 액츄에이터에 의해 진행된 거리(s 또는 d)가 검출되고 저장된 참조 값과 비교된다.

Description

전자기 스위칭 장치의 콘택 부식을 결정하는 방법 및 그러한 방법에 따라 동작하는 메커니즘을 포함하는 전자기 스위칭 장치{METHOD FOR DETERMINING CONTACT EROSION OF AN ELECTROMAGNETIC SWITCHING DEVICE, AND ELECTROMAGNETIC SWITCHING DEVICE COMPRISING A MECHANISM OPERATING ACCORDING TO SAID METHOD}

본 발명은 전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하는 방법에 관한 것이다. 부가하여, 본 발명은 전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하는 장치를 구비하는 전자기 스위칭 장치에 관한 것이다.

전자기 스위칭 장치의 스위치-온 및 스위치-오프 동작 동안에, 폐쇄 또는 개방 콘택들 간에 아크가 일어난다. 이러한 아크는 시간이 흐름에 따라 콘택들의 부식을 야기한다. 따라서 스위칭 장치의 잔여 수명을 결정하고 제때에 콘택들을 대체함으로써 동작 결함을 회피할 수 있도록 이러한 부식의 정도를 식별하는 것이 그러한 스위칭 장치의 동작 신뢰성을 위하여 중요하다.

EP 0 694 937 B1은 부식을 결정하여 스위칭 장치에서의 콘택들의 잔여 수명을 결정하는 방법을 개시하였고, 상기 방법에서 소위 콘택 복원성(contact resilience)이 콘택 부식에 대한 측정치로서 결정된다. 이러한 콘택 복원성은 스위치-오프 동작의 시작, 즉, 자석 요크 상의 단부 위치에 놓여 있던 자석 아마추어 가 자석 요크 상의 단부 위치로부터 분리되는 시점과 콘택들이 서로로부터 상승하여 떨어지는 시점 사이의 스위칭 이동의 액츄에이터로서 자석 아마추어에 의해 커버되는 거리이다. 자석 아마추어가 자석 요크로부터 상승하는 시점은 보조 회로에 의해 측정되고, 여기서, 자석 아마추어와 자석 요크는 스위치를 형성하며, 스위치는 자석 아마추어와 자석 요크가 서로 접촉하는 경우 폐쇄된다.

이에 대한 대안으로서, 자석 요크의 자석 코일에서의 전압을 측정함으로써 자석 아마추어가 자석 드라이브의 자석 요크로부터 분리되는 시점을 결정하는 것이 예컨대, EP 0 878 015 B1으로부터 공지된다.

양쪽 방법에서, 콘택들이 서로로부터 상승하는 시점을 검출하기 위한 추가 보조 회로가 요구되고, 예컨대, 옵토커플러(optocoupler)의 도움으로 주 회로로부터 DC-디커플링되고 콘택들이 서로로부터 상승되어 떨어질 때 아크 형성에 의해 생성된 아크 전압의 발생을 검출하는 복잡한 보조 회로가 요구된다.

부식 또는 잔여 수명을 결정하기 위하여 스위치-오프 동작이 사용되는 EP 0 694 937 B1 및 EP 0 878 015 B1으로부터 공지된 방법들에 대한 대안으로서, WO 2004/057634 A1은 스위칭 장치의 잔여 수명을 결정하는 방법 및 장치를 개시하였고, 이러한 방법에서는 콘택 복원성의 변화가 스위치-온 동작 동안, 즉, 스위칭 콘택들이 자석 드라이브에 의해 폐쇄되는 때에 측정된다. 이러한 공지된 장치를 사용하여, 위치 인코더(position encoder)는 적어도 3개의 위치에서 예컨대, 측정 콘택들의 형태로 마킹들을 포함하고, 상기 마킹을 사용하여 자석 아마추어 이동의 시간 프로파일이 검출될 수 있다. 콘택들이 폐쇄될 때 자석 아마추어의 위치 결정은 이러한 위치 마커들의 도움으로 검출된 자석 아마추어의 이동 시퀀스로부터의 계산을 사용하여 결정된다. 이러한 목적을 위하여, 아마추어 가속도가 콘택들의 폐쇄 이전의 시간과, 콘택들의 폐쇄 시점과 자석 아마추어가 자석 요크 상에 배치되는 시점 간의 시간 사이에서 일정하다고 가정하여, 단순한 알고리즘이 적은 개수의 위치 마커들의 결과로서 사용된다. 그러나 실제로 그러한 접근법을 사용하여 콘택들이 폐쇄되는 시간이 낮은 정확도로만 결정될 수 있다는 것이 확인되었다.

본 발명은 이제 전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하는 방법을 특정하고자 하는 목적에 기초하고, 본 발명의 방법을 사용하여 콘택들이 폐쇄되는 시간을 정확히 결정할 수 있고, 그리하여 콘택 부식을 정확히 결정할 수 있다. 부가하여, 본 발명은 상기 방법에 기초하여 동작하는 장치를 구비하는 전자기 스위칭 장치를 특정하고자 하는 목적에 기초한다.

상기 방법과 관련하여, 전술한 본 발명에 따른 목적은 청구범위 제1항의 특징을 갖는 방법에 의해 달성된다. 이러한 방법을 사용하여, 스위치-온 동작 동안에 액츄에이터에 의해 야기된 상대적 이동의 시간 프로파일을 특성화하는 기계적 변수가 측정되고, 콘택들이 폐쇄되는 시점이 상대적 이동의 시간 프로파일을 평가함으로써 결정되며, 콘택들에 의해 이러한 시점까지 커버되는 거리 또는 액츄에이터에 의해 이러한 시점으로부터 종료 위치까지 커버되는 거리가 검출되고 저장된 참조 값과 비교된다.

이러한 경우, 본 발명은 콘택들이 폐쇄되는 시점에서의 상대적 이동의 시간 프로파일이 이 시점에서 시작되어 액츄에이터의 이동을 브레이크하는 콘택 스프링의 스프링력(spring force)의 결과로서 현저히 변화된다는 고려에 기초하고, 그 결과, 이동의 시간 프로파일을 분석함으로써, 도입부에서 언급된 문서 WO 2004/057634 A1에서의 경우와 마찬가지로 콘택들이 서로 만나는 시점이 직접 신뢰성있게 결정될 수 있고, 이동 시퀀스의 근사화 모델이 이러한 목적을 위해 요구되지 않는다.

이동 시퀀스를 특성화하는 변수는 콘택들 중 하나 또는 양쪽 콘택들의 속도 또는 가속도를 측정함으로써 직접 측정될 수 있다. 이에 대한 대안으로서, 이러한 상대적 이동을 야기하고 콘택들 중 적어도 하나에 기계적으로 커플링되며 전자기 드라이브에 의해 구동되는 액츄에이터의 속도가 또한 측정될 수 있다.

이동의 시간 프로파일이 액츄에이터에 기계적으로 커플링된 센서에 의해 측정되면, 측정은 측정 회로를 사용하여 일어날 수 있고, 상기 측정 회로는 스위칭된 회로로부터 또는 자기 드라이브의 회로로부터 DC-디커플링된다.

적합한 센서는 변위 센서(displacement sensor), 속도 센서 또는 가속도 센서일 수 있다.

만약 속도 센서 또는 가속도 센서가 센서로서 사용된다면, 이러한 측정 신호로부터 콘택들이 폐쇄되는 시점을 결정하는 것이 특히 용이하다. 이러한 경우에 커버되는 거리에 대한 정보를 얻기 위하여, 그것의 측정 신호들은 여전히 한 번 또는 이중으로 적분(integrate)되어야 한다.

상기 센서의 사용에 대한 대안으로서, 스위치-온 동작 동안에 측정되는 전자기 드라이브의 전기적 또는 자기적 변수를 평가함으로써 기계적 변수를 측정하는 것이 또한 가능하다.

전자기 스위칭 장치에 관련한 목적은 청구범위 제7항의 특징들에 의해 본 발명에 따라 달성되고, 청구범위 제7항의 이점들은 제7항을 인용하는 종속항들에 특정된 특징들의 이점들과 마찬가지로 의미 면에서 각각의 연관된 방법 청구항들의 특징들과 관련하여 특정된 이점들에 대응한다.

본 발명의 부가 설명을 위하여, 도면을 참조한다.

도 1 내지 도 3은 각각 부식되지 않은 콘택들을 갖는 스위치-온 동작의 여러 시점에서의 전자기 스위칭 장치를 기본 예시로 보여준다.

도 4 내지 도 5는 다수 회의 스위칭 사이클 이후, 콘택들이 심각하게 부식되었을 때 스위치-온 동작의 상이한 시점에서의 전자기 스위칭 장치를 보여준다.

도 6 내지 도 9는 각각의 경우에 자기 코일 양단의 전압 및 자기 코일을 통해 흐르는 전류, 자기력과 스프링력, 자석 아마추어와 요크 사이의 간격 및 자석 아마추어의 속도 또는 가속도가 시간에 대해 그려진 그래프를 각각 보여준다.

도 10은 콘택들의 부식의 개선된 결정을 위한 장치를 구비하는 스위칭 장치의 개략적 도면을 보여준다.

도 1에 도시된 바와 같이, 예컨대, 콘택터(contactor)로 예시된 전자기 스위칭 장치는 자석 요크(2)를 포함하고, 자석 요크(2) 상에 2개의 자기 코일들(4)이 자기 여기 목적들을 위하여 배열된다. 자석 요크(2)와 연관된 자석 아마추어(6)는 압축 스프링들(8)을 사용하여 스위칭 장치의 하우징(10)(단지 상징적으로 도시됨)에 스프링 방식으로 설치된다. 자석 요크(2), 자석 코일(4) 및 자석 아마추어(6)는 스위칭 장치의 전자기 드라이브를 형성한다. 자석 아마추어(6)는 압입 방식(force-fitting manner)으로 콘택 스프링(12)을 경유하여 이동가능한 콘택 링크(14)에 연결된다. 2개의 정지 콘택 캐리어들(16)이 이동가능한 콘택 링크(14)와 연관된다. 자석 아마추어(6)는 콘택 링크(14)와 콘택 캐리어(16) 사이의 상대적 이동을 위한 자기 드라이브의 액츄에이터를 형성한다.

콘택 링크(14)와 정지 콘택 캐리어(16)에는 각각 콘택 피스들 또는 콘택들(18)이 제공되고, 콘택 피스들 또는 콘택들(18)은 새로운 것일 때 두께 D₀를 갖는다. 이동가능한 콘택 링크(14)와 정지 콘택 캐리어(16)에 의해 형성된 스위칭 콘택은 개방 위치에 배치된다. 이러한 스위치-오프 상태에서, 콘택들(18)은 간격 s₀를 갖고, 자석 요크 또는 자석 아마추어(6)의 자극면들(pole face)(20 및 60)은 간격 H를 두고 배치된다.

자석 코일들(4)이 스위치 온될 때, 자석 아마추어(6)는 도면에서 화살표에 의해 표시된 것과 같이 자석 요크(2) 쪽 방향으로 압축 스프링들(8)의 작용에 반하여 운동을 시작한다.

도 2는 이제 콘택들(18)이 처음 서로 접촉하게 되는 상황, 즉, 자석 아마추어(6)가 거리 s₀를 커버하는 상황을 보여준다. 이러한 시점에, 자극면들(20, 60)은 간격 d₀ = H - s₀을 두고 배치된다. 이러한 간격 d₀는 콘택들(18)이 부식되지 않은 스위칭 장치의 콘택 복원성에 대응한다. 자석 아마추어(6)의 부가적인 폐쇄 이동은 이제 콘택 스프링(12) 및 압축 스프링(8)의 작용에 반하여 일어나고, 압축 스프링(8)은 거기에 병렬로 연결된다. 콘택 스프링(12)에 의해 인가된 스프링력이 압축 스프링(8)에 의해 인가된 스프링력에 비해 훨씬 더 크기 때문에, 자석 아마추어(6) 상에 작용하는 스프링력은 갑자기 증가하고 폐쇄 이동의 진행에 현저한 변화를 초래한다.

일이 진행됨에 따라, 자석 아마추어(6)에 작용하는 자기력은 압축 스프링(8) 및 콘택 스프링(12)에 의해 인가된 스프링력보다 더 크고, 자석 아마추어(6)는 도 3에 도시된 바와 같이 자석 아마추어(6)가 마침내 그것의 자극면(60)이 자석 요크(2)의 자극면(20) 상에 있는 종료 위치 또는 안정 위치에 놓일 때까지 자석 요크(2) 쪽 방향으로 더 이동할 수 있다.

도 4는 이제 콘택들(18)이 다수 회의 스위칭 사이클 이후에 이미 상당히 부식되어 단지 D₁ < D₀의 두께만을 갖는 상황을 예시한다.

대응하여, 스위치-오프 상태에 있는 콘택 피스들(18)은 간격 s1을 두고 배치되고, 간격 s₁은 새로운 상태에서 간격 s₀에 비해 현저히 더 크다. 만약 자기 코일들(4)이 이제 여기되면, 즉, 스위치-온 동작이 도입되면, 자석 아마추어(6)는 이러한 간격 s1에 대응하는 도 5에 도시된 바와 같은 거리 이후에, 콘택들(18)이 처음으로 서로 접촉하게 될 때까지 자석 요크(2) 쪽 방향으로 증가하는 속도로 이동한 다. 이것은 자극면들(20, 60)의 간격 d₁이 주어진 경우이고, 이에 대하여 d₁ = H-s₁이 마찬가지로 적용된다. 도면은 이제 이러한 간격 d₁, 즉, 콘택들(18)의 낮은 두께 D₁의 결과로서 콘택 복원성이 새로운 상태의 콘택 복원성에 비해 현저히 감소됨을 보여준다.

도 6에 도시된 그래프에서, 자석 코일들을 통해 흐르는 전류 I(커브 a) 및 자석 코일들에 존재하는 시간 측정된(clocked) DC 전압 U(커브 b)은 시간 t에 대해 도시된다. 도시된 예시는 한편으로는 콘택들, 다른 한편으로는 자극들이 자석 아마추어의 가속도를 조정함으로써 서로 만나는 폐쇄 속도를 설정하기 위하여 공지된 방법을 사용하여, 예컨대, WO 2005/017933 A1로부터 구동된 스위칭 장치에 관한 것이다. 이러한 도면은 이제 전류 I가 콘택들이 폐쇄되는 시점 t_k까지 연속적으로 감소하고, 이러한 시점 t_k 이후에 다시 일시적으로 상승한다. 이러한 상승은 대응하여 더 높아진 자기력의 결과로서 자석 아마추어 상에 시간 t_k부터 작용하는 갑자기 증가된 스프링력을 보상하기 위하여 필수적이다.

이것은 도 7의 그래프에서 명확히 관찰될 수 있다. 이러한 그래프에서, 자기력 F_M(커브 c) 및 스프링력 F_S(커브 d)은 시간 t에 대해 도시된다. 콘택들이 폐쇄되는 시점 t_k에서, 스프링력 F_S는 갑자기 상승한다. 짧은 주기 동안, 이러한 상승은 자기력에 의해 보상될 수 없다. 단지 부가의 진행에서 자기력이 스프링력을 다시 초과할 수 있다.

도 8에 도시된 그래프에서, 자석 아마추어의 거리 s(커브 e) 및 그것의 속도(커브 f)는 마찬가지로 시간 t에 대해 도시된다. 스위치-온 동작의 시작에서, 자석 아마추어(액츄에이터)는 그것의 자극면들을 자석 요크의 자극면들로부터 간격 H를 두고 배치된다. 자석 아마추어가 자석 요크 쪽으로 이동하는 속도 v는 특정 시간 지연 이후에 대략 일정한 가속도로 연속적으로 증가한다. 이에 대한 이유는 아마추어 이동의 전술한 제어이고, 이것은 자석 아마추어의 속도가 너무 크지 않음을 보장한다. 폐쇄 시점 t_k에서, 즉, 일단 아마추어가 거리 s를 커버하고 또한 콘택들이 거리 s를 커버한다면, 속도 v는 최소값으로 급속히 감소하고, 다시 증가하는 자기력 F_M의 결과로서, 대략 0.5 m/s의 목적하는 값으로 상승한다. 이러한 속도 v의 감소는 갑자기 증가하는 스프링력 F_s의 결과로서 일어나고, 콘택들의 폐쇄 시점 t_k을 나타내는 현저한 표시이다. 그 다음 이러한 폐쇄 시점 t_k는 v(t+δt) < v(t)가 적용되는 시간 t이다. 폐쇄 시점 t_k에서, 자석 아마추어는 자석 요크로부터의 간격 d에 배치된다. 이러한 간격 d는 존재하는 콘택 복원성에 대응한다. 자석 아마추어(액츄에이터)는 종료 위치에 도달할 때까지 여전히 이러한 간격 d에 대응하는 거리를 커버한다.

도 9에서, 자석 아마추어의 가속도 b는 시간에 대해 로그 스케일로 표시된다. 커브 g는 가속도 b가 대략 일정한 값으로 급속히 상승하고 콘택들이 속도 감소의 결과로서 폐쇄되는 시점에서 수학적 부호 변화를 경험한다. 이러한 수학적 부호의 변화는 가속도 b의 시간 프로파일의 평가의 경우에 특히 용이하게 식별될 수 있고 폐쇄 시점 t_k를 결정하도록 사용될 수 있다.

도 6 내지 도 9에 도시된 그래프들은 예컨대, 전자기 스위칭 장치가 스위치 온될 때 존재하는 물리적 조건들을 설명하기 위하여 사용된다. 도 8 및 도 9에 도시된 속도의 감소 또는 가속도의 수학적 부호의 변화는 또한 전자기 스위칭 장치가 조정되지 않은 방식으로 동작할 때 또는 또다른 조정 방법에 기초하여 동작할 때 야기된다. 만약 속도 v 또는 가속도가 이제 적절한 센서의 도움으로, 속도 센서 또는 가속도 센서를 사용하여 직접적으로 검출된다면, 폐쇄 시점 t_k은 특히 그것의 프로파일로부터 특히 용이하게 결정될 수 있다. 원칙적으로, 폐쇄 시점 t_k은 또한 변위 센서에 의해 측정된 신호로부터 상기 신호를 한 번 또는 두 번 미분함으로써 도출될 수 있다.

도 10에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 스위칭 장치의 경우에, 센서(22)는 자석 아마추어(6)에 직접 커플링되고, 상기 센서(22)는 속도 센서, 가속도 센서 또는 변위 센서의 형태로 이루어질 수 있다. 이러한 센서(22)는 콘택들(18)의 상대적 이동을 간접적으로 검출하기 위하여 그리고 평가 장치(25)에서 상대적 이동을 평가하기 위하여 사용된다. 평가에서, 시간 t_k는 가속도 b의 변화 또는 속도 v의 감소로부터 결정된다. 남아있는 거리 d(콘택 복원성) 또는 이러한 시점 t_k까지 커버되는 거리 s는 액츄에이터(자석 아마추어(6))의 시간에 따른 거리 프로파일 w(t)로부터 직접 도출될 수 있다. 이러한 경우, 평가 장치(25)는 또한 센서(22)에 의해 생성된 이동 신호의 미분 또는 적분의 함수를 채택할 수 있다.

이에 대한 대안으로서, 센서(24)는 이동가능한 콘택 링크(14) 상에 배치될 수 있다. 변위 센서의 경우에, 거리 s₀ 및 s₁이 직접 측정될 수 있다. 속도 센서의 경우에, 속도 v는 시간 함수로서 직접 결정될 수 있다. 이러한 경우, 폐쇄 시점 t_k는 이동이 종료하고 이동가능한 콘택(18)의 속도 v가 제로로 되는 시점이다.

예시적인 실시예에서, 센서들(22, 24)은 이동하는 부분들, 자석 아마추어(6) 또는 이동가능한 콘택(18)에 기계적으로 커플링된다. 그러나 원칙적으로 무접촉 방식으로 기능하는 센서들 또한 사용될 수 있고, 상기 센서들은 관련된 이동 부분과 정지하는 하우징 부분 사이의 간격을 측정한다.

이에 대한 대안으로서, 자석 코일들(4)을 통해 흐르는 전류 I 및 유도 코일(26)과의 자속 Φ를 측정하는 것 또한 가능하고, 이것으로부터 공지된 방법을 사용하여, 예컨대, DE 195 44 207 C2로부터, 자석 아마추어(6) 상에 작용하는 가속도를 결정한다.

콘택들이 폐쇄되는 시점 t_k가 알려진다면, 이것은 사용된 센서에 따라, 자석 아마추어(6)에 의해, 그리하여 콘택들(18)에 의해 이 시점까지 커버되는 거리 s를 직접적으로 또는 간접적으로 결정하기 위하여 사용될 수 있다.

거리 s₁이 예컨대 도 4에서 알려진다면, 직접 부식 D₀-D₁에 대한 결론을 내리는 것이 가능하고, 따라서 저장된 참조 값 s₀와의 비교를 사용하여 콘택들의 잔여 수명에 대한 결론을 내리는 것이 가능하다. 부식 D₀-D₁이 서로 대향하여 배치된 콘택들 상에 균일하게 분포된다는 전제 하에 이하의 관계가 부식 D₀-D₁에 대하여 도출된다.

D₀-D₁ = (s₁-s₀)/2

이에 대한 수학적 등가물로서, 자석 요크 및 자석 아마추어로부터 자극면들의 간격 d₁은 또한 거리 s₁으로부터 계산될 수 있다. 그 다음 이것은 개방 상태에 있는 자극면들의 간격에 대한 저장된 값 H와 커버되는 거리의 차이로부터 야기된다. 여기서,

d₁ = H - s₁

이러한 경우, 이하의 식이 부식 D₀-D₁에 대하여 적용된다.

D₀-D₁ = (d₀-d₁)/2

만약 간격 d₁이 시간 t_k로부터 종료 위치까지 액츄에이터(자석 아마추어)에 의해 커버되는 거리로서 직접 측정된다면, 부식 D₀-D₁은 사용되지 않은 콘택들의 경우의 간격 d₀이 참조 값으로서 저장되면 상기 식을 사용하여 직접 계산될 수 있다.

Claims (12)

1. 전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하기 위한 방법으로서,

   상기 콘택들 사이의 상대적 이동의 시간 프로파일을 특성화하는 기계적 변수를 측정하는 단계 ― 상기 콘택들 사이의 상기 상대적 이동은 액츄에이터의 이동에 의해서 야기되고, 상기 기계적 변수는 상기 콘택들이 폐쇄되는 스위치-온 동작 동안에 측정됨 ―;

   상기 상대적 이동의 상기 시간 프로파일을 평가함으로써 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간을 결정하는 단계;

   상기 스위치-온 동작의 시작으로부터 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간까지 상기 콘택들에 의해서 커버되는 거리를 결정하거나, 또는

   상기 콘택들이 폐쇄되는 시간으로부터 상기 액츄에이터의 종료 위치까지 상기 액츄에이터에 의해서 커버되는 거리를 결정함으로써

   상기 스위치-온 동작 동안에 커버되는 거리를 모니터링하기 위해서 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간 및 상기 시간 프로파일을 이용하는 단계; 및

   상기 커버되는 거리를 저장된 참조 값과 비교하는 단계

   를 포함하고,

   상기 기계적 변수는 상기 액츄에이터에 기계적으로 커플링되는 센서에 의해서 측정되고,

   상기 센서는 속도 센서, 가속도 센서 및 변위 센서로 구성되는 그룹으로부터 선택되는,

   전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하기 위한 방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 액츄에이터는 전자기 드라이브에 의해서 이동되고,

   상기 기계적 변수는, 상기 스위치-온 동작 동안에 측정되는, 상기 전자기 드라이브의 전기적 또는 자기적 특성을 평가함으로써 측정되는,

   전자기 스위칭 장치의 콘택들의 부식을 결정하기 위한 방법.
3. 부식을 평가(assess)하기 위한 전자기 스위칭 장치로서,

   서로에 대해서 이동가능하고 그리고 스위치-온 동작 이후에 서로 접촉하게 되는 한 쌍의 콘택들;

   상기 콘택들 사이의 상대적 이동을 야기하도록 이동하는 액츄에이터;

   기계적 변수를 측정하고 그리고 상기 기계적 변수에 기초하여 상기 콘택들 사이의 상대적 이동의 시간 프로파일을 결정하기 위해서 상기 액츄에이터에 기계적으로 커플링되는 센서; 및

   평가 장치

   를 포함하고,

   상기 평가 장치는:

   상기 상대적 이동의 상기 시간 프로파일을 평가함으로써 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간을 결정하고;

   상기 스위치-온 동작의 시작으로부터 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간까지 상기 콘택들에 의해서 커버되는 거리를 결정하거나, 또는

   상기 콘택들이 폐쇄되는 시간으로부터 상기 액츄에이터의 종료 위치까지 상기 액츄에이터에 의해서 커버되는 거리를 결정함으로써

   상기 스위치-온 동작 동안에 커버되는 거리를 모니터링하기 위해서 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간 및 상기 시간 프로파일을 이용하며; 그리고

   상기 커버되는 거리를 저장된 참조 값과 비교하고,

   상기 센서는 속도 센서, 가속도 센서 및 변위 센서로 구성되는 그룹으로부터 선택되는,

   부식을 평가하기 위한 전자기 스위칭 장치.
4. 제3항에 있어서,

   상기 장치는, 상기 액츄에이터를 이동시키기 위한 전자기 드라이브를 더 포함하고,

   상기 센서는, 상기 전자기 드라이브의 전기적 또는 자기적 특성을 측정하고, 상기 특성을 평가함으로써 상기 기계적 변수를 결정하는,

   부식을 평가하기 위한 전자기 스위칭 장치.
5. 부식을 평가하기 위한 전자기 스위칭 장치로서,

   서로에 대해서 이동가능하고 그리고 스위치-온 동작 이후에 서로 접촉하게 되는 한 쌍의 콘택들;

   상기 콘택들 사이의 상대적 이동을 야기하도록 이동하는 액츄에이터;

   기계적 변수를 측정하고 그리고 상기 기계적 변수에 기초하여 상기 콘택들 사이의 상대적 이동의 시간 프로파일을 결정하기 위해서 상기 액츄에이터에 기계적으로 커플링되는 센서; 및

   평가 장치

   를 포함하고,

   상기 평가 장치는:

   상기 상대적 이동의 상기 시간 프로파일을 평가함으로써 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간을 결정하고;

   상기 스위치-온 동작 동안에 커버되는 거리를 모니터링하기 위해서 상기 콘택들이 폐쇄되는 시간 및 상기 시간 프로파일을 이용하며; 그리고

   상기 커버되는 거리를 저장된 참조 값과 비교하고,

   상기 센서는 속도 센서, 가속도 센서 및 변위 센서로 구성되는 그룹으로부터 선택되는,

   부식을 평가하기 위한 전자기 스위칭 장치.
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