KR101358742B1 - Apparatus for going up and coming down baffle, and manufacturing machine FPD having the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 웨이퍼(Wafer), 글라스(Glass) 등을 처리할 때에 제공되는 플라즈마의 밀도를 일정하게 유지시키는 배플(Baffle)을 상하로 이동시켜 높낮이를 변경시킬 수 있도록 한 배플 승강장치 및 이를 갖춘 평판표시소자 제조장치에 관한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a baffle elevating apparatus for changing a height by moving a baffle that maintains a constant density of a plasma provided when processing a semiconductor wafer, glass, or the like, up and down. A flat panel display device manufacturing apparatus.
여기에서 배플 승강장치는 스테이지(Stage)와 챔버의 벽체 사이에 챔버의 내부가 상하로 구획되도록 위치되는 한편 상하이동 가능하도록 설치된 배플, 상단은 이 배플에 장착되고 반대쪽은 챔버의 바닥에 상하이동 가능하게 관통된 형태로 설치된 다수 개의 조작로드(Operating Rod) 및 이 다수 개의 조작로드를 상하로 이동시키는 작동수단으로 구성된 것을 특징으로 한다.Here, the baffle elevating device is located between the stage and the wall of the chamber so that the inside of the chamber is partitioned up and down, while the baffle is installed to be movable. It is characterized by consisting of a plurality of operating rod (Operating Rod) installed in a penetrating form and the operating means for moving the plurality of operation rod up and down.
한편 이러한 배플 승강장치는 조작로드의 하단이 각각 장착된 로드 플레이트(Rod Plate)를 더 포함하여 구성될 수도 있는 바, 이 경우에 작동수단은 조작로드가 아닌 로드 플레이트를 상하로 이동시키도록 구성된다.Meanwhile, the baffle elevating device may further include a rod plate on which a lower end of the manipulation rod is mounted, in which case the operating means is configured to move the load plate up and down rather than the manipulation rod.
챔버, 래크, 모터, 배플, 스테이지, 캠, 편심륜, 평판표시소자, 피니언 Chamber, rack, motor, baffle, stage, cam, eccentric wheel, flat panel display element, pinion
Description
도 1은 일반적인 공정챔버가 도시된 구성도이다.1 is a schematic diagram showing a general process chamber.
도 2는 도 1에 도시된 배플의 평면도이다.FIG. 2 is a plan view of the baffle shown in FIG. 1.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 배플 승강장치가 적용된 공정챔버를 도시한 구성도로서, 배플이 하강된 상태를 나타낸다.3 is a block diagram illustrating a process chamber to which a baffle elevating apparatus according to a first embodiment of the present invention is applied, and shows a state in which a baffle is lowered.
도 4는 도 3의 A-A선 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG.
도 5는 도 3에 도시된 배플의 저면사시도이다.5 is a bottom perspective view of the baffle shown in FIG. 3.
도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 배플 승강장치의 주요 부분이 도시된 사시도로서, 배플이 상승되었을 때의 상태를 나타낸다.6 is a perspective view showing the main part of the baffle elevating apparatus according to the first embodiment of the present invention, showing a state when the baffle is raised.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 배플 승강장치의 주요 부분이 도시된 정면도이다.7 is a front view showing the main part of the baffle elevating apparatus according to the second embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 배플 승강장치의 주요 부분이 도시된 정면도이다.8 is a front view showing the main part of the baffle elevating apparatus according to the third embodiment of the present invention.
도 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 배플 승강장치가 적용된 공정챔버를 도시한 구성도이다.9 is a block diagram illustrating a process chamber to which a baffle elevating apparatus according to a fourth embodiment of the present invention is applied.
도 10은 본 발명의 제1실시예 내지 제3실시예에 따른 배플 승강장치의 배플을 다르게 구성할 수 있음을 예시적으로 도시한 저면사시도이다.10 is a bottom perspective view exemplarily illustrating that the baffle of the baffle elevating apparatus according to the first to third embodiments of the present invention may be configured differently.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS
20 : 챔버 42 : 상부전극 조립품20: chamber 42: upper electrode assembly
44 : 하부전극 조립품 50 : 배플44: lower electrode assembly 50: baffle
62 : 조작로드 64 : 로드 작동수단62: operating rod 64: rod operating means
64C : 플레이트 작동수단 66, 66C : 캠64C: plate operating means 66, 66C: cam
66A : 편심륜 66B : 래크 앤 피니언66A:
68, 68C : 구동유닛 74 : 벨로우즈68, 68C: drive unit 74: bellows
80 : 로드 플레이트80: load plate
본 발명은 반도체 웨이퍼, 글라스 등을 처리(식각 등)할 때에 필요한 플라즈마의 밀도를 일정하게 유지시키는 역할을 하는 배플을 상하로 이동시켜 높낮이를 변경시킬 수 있도록 한 배플 승강장치 및 이를 갖춘 평판표시소자 제조장치에 관한 것이다.The present invention relates to a baffle elevating device and a flat panel display device having a height of which a height can be changed by moving a baffle that serves to maintain a constant plasma density required for processing (etching, etc.) a semiconductor wafer, glass, or the like. It relates to a manufacturing apparatus.
일반적으로, 반도체ㆍ평판표시소자(Flat Panel Display) 등을 제조하는 장치는 반도체 웨이퍼(Wafer), 글라스(Glass) 등(이하, 기판이라고 한다)의 처리공간을 제공하는 챔버를 포함하고, 이 챔버 안에는 처리할 기판이 놓이는 스테이지(Stage)가 구비되며, 이 스테이지의 둘레와 챔버의 벽체 사이에는 챔버에 제공되는 플라즈마의 밀도를 일정하게 유지시키기 위한 배플(Baffle)이 설치된다.In general, an apparatus for manufacturing a semiconductor / flat panel display device or the like includes a chamber that provides a processing space for a semiconductor wafer, glass, or the like (hereinafter referred to as a substrate). There is provided a stage in which a substrate to be processed is placed, and a baffle is provided between the periphery of the stage and the wall of the chamber to maintain a constant density of plasma provided to the chamber.
이러한 챔버, 스테이지, 배플은 반도체 제조장치, 평판표시소자 제조장치 등에 모두 유사하게 적용되는 것으로서, 이하에서는 언급한 챔버, 스테이지, 배플 및 이들과 관련한 사항에 대하여 평판표시소자 제조장치에 적용된 것을 중심으로 하여 살펴보기로 한다.Such chambers, stages, and baffles are similarly applied to semiconductor manufacturing apparatuses, flat panel display device manufacturing apparatuses, and the like. Let's take a look.
최근에 널리 보급되어 사용되고 있는 평판표시소자에는 액정표시소자(Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이소자(Plasma Display Panel), 유기발광소자(Organic Light Emitting Diodes) 등이 있다. 또한 이러한 평판표시소자를 제조하는 장치로는 주로 진공처리용 장치가 사용되는데, 이 장치에는 공정챔버(Process Chamber), 로드 록 챔버(Load Lock Chamber), 반송챔버(Transfer Chamber) 등이 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION Flat panel display devices that have been widely used in recent years include liquid crystal displays, plasma display panels, and organic light emitting diodes. In addition, as a device for manufacturing such a flat panel display device, a vacuum processing apparatus is mainly used. The apparatus includes a process chamber, a load lock chamber, a transfer chamber, and the like.
공정챔버는 진공분위기 하에서 플라즈마를 이용, 기판을 식각하는 등 기판을 처리하는 역할을 한다. 로드 록 챔버는 대기압과 진공 상태를 번갈아 가면서 외부로부터 처리할 기판을 받아 보관하거나 처리된 기판을 외부로 반출하는 역할을 한 다. 반송챔버는 기판을 각각의 챔버들 간에 반송하기 위한 반송로봇이 갖추어져 있어 처리할 기판을 로드 록 챔버로부터 공정챔버로 운반하거나 처리된 기판을 공정챔버로부터 로드 록 챔버로 운반하는 역할을 한다.The process chamber serves to process the substrate such as etching the substrate using plasma under a vacuum atmosphere. The load lock chamber alternates between atmospheric pressure and vacuum to receive a substrate to be processed from the outside and to carry out the processed substrate to the outside. The conveying chamber is equipped with a conveying robot for conveying the substrates between the respective chambers so as to convey the substrate to be processed from the load lock chamber to the process chamber or to convey the processed substrate from the process chamber to the load lock chamber.
도 1은 설명한 챔버들 중 공정챔버가 개략적으로 도시된 구성도이다.1 is a configuration diagram schematically showing a process chamber among the described chambers.
공정챔버는 도 1에 도시된 바와 같이, 벽체 한쪽에 게이트 슬릿(Gate Slit)(11g)이 마련되어 게이트 밸브(Gate Valve)(V1)로 개폐되는 한편 바닥에 배기구(11e)가 마련된 챔버(11), 이 챔버(11)의 안에 구비되고 기판의 처리에 필요한 공정가스를 분사하는 샤워 헤드(Shower Head)를 갖춘 상부전극 조립품(Upper Electrode Assembly)(12), 이 상부전극 조립품(12)의 아래에 위치되도록 챔버(11)의 안에 구비된 하부전극 조립품(Lower Electrode Assembly)(13), 챔버(11)의 안이 상하로 구획되도록 이 하부전극 조립품(13)과 챔버(11)의 벽체 사이에 설치된 배플(Baffle)(14), 위 배기구(11e)에 설치되어 기판의 처리 중 또는 처리완료 후 공정가스(부산물을 포함한다)를 챔버(11)의 밖으로 배출시키는 배기펌프(P1) 등으로 이루어진다. 참고로, 챔버(11) 안의 구획된 상부공간은 기판의 처리가 이루어지는 공정영역이다.As shown in FIG. 1, the process chamber is provided with a
여기에서 하부전극 조립품(13)은 그 윗면에 로드 록 챔버로부터 반입된 기판이 놓이는 바, 때문에 이 하부전극 조립품(13)을 스테이지(Stage)라고도 한다. 배플(14)은 챔버(11)의 벽체와 하부전극 조립품(13)에 접하는 구조로 구성되고, 배기구(11e)를 통하여 공정영역의 공정가스를 용이하게 배출시키기 위한 복수의 슬 릿(Slit)(14s)이 일정한 간격을 두고 마련된다.(도 2 참조)The
설명한 바와 같은 공정챔버는 그 챔버(11)의 안에 공정가스가 분사됨과 아울러 상부전극 조립품(12)과 하부전극 조립품(13)에 전원이 공급되면, 공정가스는 플라즈마 상태가 되고, 이어서 기판은 이 플라즈마의 작용에 의하여 처리된다. 한편, 이렇게 기판을 처리하는 중에 배기펌프(P1)는 공정가스를 흡입, 챔버(11)의 밖으로 배출시키는데, 공정가스는 흐름이 배플(14)에 의하여 저지되어 일정량씩 슬릿(14s)을 통과, 배기구(11e)로 유동된다.As described above, when the process gas is injected into the
그러나 살펴본 바와 같은 공정챔버는 기판을 처리하는 중에 배플(14)을 상승시키면 플라즈마의 밀도를 높일 수 있고, 이와 반대로 배플(14)을 하강시키면 플라즈마의 밀도를 낮출 수 있으며, 더불어 이처럼 배플(14)을 승강시킴에 따라 공정가스의 기류를 변화시킬 수 있는 등 공정의 진행상황에 맞게 환경을 최적으로 세팅할 수 있겠으나, 그러할 수 없다는 문제점이 있었다. 즉 살펴본 공정챔버는 한번 배플(14)의 높낮이를 세팅하면, 기판을 처리하는 중에는 이를 수정할 수가 없는 구조이었던 것이다.However, the process chamber as described above can increase the density of the plasma by raising the
본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 배플을 상하이동 가능하도록 설치하고, 이 배플을 챔버의 밖에서 구동, 상하로 이동시킬 수 있는 구성의 장치를 갖춤으로써 기판을 처리하는 중 배플을 수시로 자유롭고 편리하게 승강시킬 수 있는 배플 승강장치 및 이를 갖춘 평판표시소자 제조장치를 제공하는 데 목적이 있다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, and the substrate is processed by installing a baffle so as to be movable, and having a device configured to drive and move the baffle up and down outside the chamber. The purpose of the present invention is to provide a baffle elevating apparatus and a flat panel display device manufacturing apparatus having the same, which can freely and conveniently elevate the baffle.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 배플 승강장치는, 스테이지와 챔버의 벽체 사이에 상기 챔버의 내부가 상하로 구획되도록 위치되는 한편 상하이동 가능하도록 설치된 배플과; 상단은 상기 배플에 장착되고 반대쪽은 상기 챔버의 바닥에 상하이동 가능하도록 관통된 형태로 설치된 다수 개의 조작로드와; 상기 다수 개의 조작로드를 상하로 이동시키는 로드 작동수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The baffle elevating apparatus according to the present invention for achieving the above technical problem, the baffle is located between the stage and the wall of the chamber so that the interior of the chamber is partitioned up and down while being movable; A plurality of operating rods mounted on the baffle and mounted on the opposite side thereof so as to be movable in the bottom of the chamber; It characterized in that it comprises a rod operating means for moving the plurality of operation rod up and down.
이 중에 상기 로드 작동수단은, 상기 조작로드의 하단에 각각 접촉되도록 설치되어 회전하면서 상기 조작로드를 상하로 이동시키는 구성을 갖는 캠, 또는 상기 조작로드의 하단에 각각 둘레가 접촉되도록 설치된 편심륜과; 상기 캠 또는 편심륜을 각각 회전시키는 구동유닛으로 구성될 수 있다. 또는 상기 로드 작동수단은, 상기 조작로드의 하단 부분에 각각 상하방향으로 구비된 래크와; 상기 래크와 각각 이가 서로 맞물린 피니언과; 상기 피니언을 각각 정/역회전시키는 구동유닛으로 구성될 수 있다.The rod operating means may include a cam having a configuration for moving the operating rod up and down while being installed to be in contact with a lower end of the operation rod, or an eccentric wheel installed to have a circumferential contact with the lower end of the operation rod, respectively. ; It may be configured as a drive unit for rotating the cam or the eccentric wheel, respectively. Or the rod operating means, the rack provided in the vertical direction in the lower portion of the operation rod; Pinions each of which is engaged with the rack; It may be configured as a drive unit for rotating the pinion forward / reverse respectively.
본 발명에 따른 배플 승강장치는, 또는 스테이지와 챔버의 벽체 사이에 상기 챔버의 내부가 상하로 구획되도록 위치되는 한편 상하이동 가능하도록 설치된 배플과; 상단은 상기 배플에 장착되고 반대쪽은 상기 챔버의 바닥에 상하이동 가능하도록 관통된 형태로 설치된 다수의 조작로드와; 상기 조작로드의 하단이 각각 장착된 로드 플레이트와; 상기 로드 플레이트를 상하로 이동시키는 플레이트 작동수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The baffle elevating apparatus according to the present invention includes: a baffle disposed between the stage and the wall of the chamber so that the inside of the chamber is partitioned up and down while being movable; A plurality of operation rods mounted on the baffle and mounted on the opposite side thereof so as to be movable in the bottom of the chamber; Load plates each having a lower end of the operation rod mounted thereon; It characterized in that it comprises a plate operating means for moving the load plate up and down.
여기서 상기 플레이트 작동수단은, 상기 로드 플레이트의 저면에 접촉되도록 설치되어 회전하면서 상기 조작로드를 상하로 이동시키는 구성을 갖는 적어도 하나의 캠, 또는 상기 로드 플레이트의 저면에 둘레가 접촉되도록 설치된 적어도 하나의 편심륜과; 상기 캠 또는 편심륜을 회전시키는 구동유닛으로 구성될 수 있다. 또는 상기 플레이트 작동수단은, 상기 로드 플레이트에 상하방향으로 구비된 적어도 하나의 래크와; 상기 래크와 각각 이가 서로 맞물린 피니언과; 상기 피니언을 각각 정/역회전시키는 구동유닛으로 구성될 수 있다.Here, the plate operating means, at least one cam having a configuration for moving the operation rod up and down while being installed to contact the bottom surface of the load plate, or at least one installed so as to contact the circumference of the bottom surface of the load plate Eccentric ring; It may be configured as a drive unit for rotating the cam or eccentric wheel. Or the plate actuating means, at least one rack provided in the load plate in a vertical direction; Pinions each of which is engaged with the rack; It may be configured as a drive unit for rotating the pinion forward / reverse respectively.
상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판표시소자 제조장치는, 챔버와; 상기 챔버의 내부에 구비되고 위에 기판이 놓이는 스테이지와; 상기 스테이지와 챔버의 벽체 사이에 상기 챔버의 내부가 상하로 구획되도록 위치되는 한편 상하이동 가능하도록 설치된 배플을 상하로 이동시키는 것으로, 위에 언급한 바와 같은 배플 승강장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a flat panel display device manufacturing apparatus comprising: a chamber; A stage provided in the chamber and on which the substrate is placed; The interior of the chamber is partitioned up and down between the stage and the wall of the chamber while moving the baffle installed to be movable up and down, characterized in that it comprises a baffle elevating device as mentioned above.
이 중에서 상기 챔버의 내부에는 기판의 처리에 필요한 공정가스를 분사하는 상부전극 조립품이 구비될 수 있고, 상기 스테이지는 상기 상부전극 조립품의 아래 에 대향되도록 구비되는 하부전극 조림품일 수 있다. 또한 상기 챔버의 바닥과 배플 사이에는 상기 스테이지를 감싸는 구조를 가지도록 상단 부분이 상기 배플에 장착되고 하단 부분이 상기 챔버의 바닥에 장착된 벨로우즈가 구비될 수 있다.The upper electrode assembly may be provided inside the chamber to inject a process gas required for processing the substrate, and the stage may be a lower electrode stewed product provided to face the upper electrode assembly. In addition, a bellows may be provided between a bottom of the chamber and a baffle having a top portion mounted to the baffle and a bottom portion mounted to the bottom of the chamber to have a structure surrounding the stage.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다. 참고로, 본 발명의 실시예는 평판표시소자를 제조하는 장치 중 하나인 공정챔버(Process Chamber)에 적용된 것을 예로 들어 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. For reference, an embodiment of the present invention will be described with an example applied to a process chamber which is one of devices for manufacturing a flat panel display device.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 배플 승강장치가 적용된 공정챔버를 도시한 구성도이고, 도 4는 도 3의 A-A선 단면도이다.3 is a configuration diagram showing a process chamber to which a baffle elevating apparatus according to a first embodiment of the present invention is applied, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG.
본 발명의 제1실시예에 따른 배플 승강장치가 적용된 공정챔버는 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 사각박스형으로 형성되고 바람직하게는 바닥의 모서리 측에 배기구(22)가 각각 마련된 챔버(20), 이 챔버(20) 안의 상부와 하부에 각각 구비되고 서로가 정면으로 마주하여 대향되도록 위치된 상부전극 조립품(Upper Electrode Assembly)(42) 및 하부전극 조립품(Lower Electrode Assembly)(44), 이 상부전극 조립품(42)과 하부전극 조립품(44) 중에서 하부전극 조립품(44)과 챔버(20)의 벽체 사이에 끼여 있는 배플(Baffle)(50), 이 배플(50)을 상하로 이동시켜 높낮이를 변경시키기 위한 배플 승강장치(60)를 포함한다. 이때 배기구(22)에는 배기펌프(34)가 각각 설치된다.As shown in FIGS. 3 and 4, the process chamber to which the baffle elevating apparatus according to the first embodiment of the present invention is formed has a rectangular box shape, and preferably, the
챔버(20)는 한쪽 측벽에 기판을 안으로 반입하거나 반대로 반입된 기판을 밖으로 반출하기 위한 게이트 슬릿(Gate Slit)(24)이 좌우로 기다랗게 마련된다. 이때 이 게이트 슬릿(24)은 게이트 밸브(Gate Valve)(32)에 의하여 개폐된다.The
상부전극 조립품(42)과 하부전극 조립품(44) 중 상부전극 조립품(42)은 하부전극 조립품(44)과의 사이로 공정가스를 분사하는 샤워 헤드(Shower Head)가 구비된다. 하부전극 조립품(44)은 챔버(20)의 안에 반입된 기판이 그 윗면에 놓이는 탑재대로, 이에 이 하부전극 조립품(44)을 스테이지(Stage)라고도 한다.The
도 5는 도 3에 도시된 배플(50)을 아래에서 본 상태를 나타낸 사시도이다.FIG. 5 is a perspective view illustrating a state in which the
배플(50)은 챔버(20) 안의 공간 중에서 기판의 처리가 이루어지는 공간인 공정영역을 하부전극 조립품(44)과 함께 한정, 공정영역의 플라즈마 밀도를 일정하게 유지시키는 것으로서, 챔버(20) 내부의 공간이 상부와 하부로 구획되도록 하부전극 조립품(44)과 챔버(20)의 벽체 사이에 위치된다. 이때 구획된 상부공간은 공정영역이다.The
이러한 배플(50)은 도 5에 도시된 바와 같이, 하부전극 조립품(44)과 접하도록 이 하부전극 조립품(44)의 둘레를 감싸는 구성의 수직벽체(52)와, 한쪽은 이 수직벽체(52)의 상단에 바람직하게는 일체로 연결되고 다른 쪽은 챔버(20)의 벽체에 접하는 구성의 수평판체(54) 등으로 이루어진다. 이때 수평판체(54)는 앞서 설명한 바와 같이 챔버(51) 안의 공간을 구획하는 역할을 하는 것으로서, 공정가스를 용이 하게 배출시키기 위한 다수 개의 슬릿(Slit)(54s)이 일정한 간격으로 마련된다.As shown in FIG. 5, the
한편 배플(50)은 배플 승강장치(60)에 의하여 상하이동이 가능하도록 설치되는 바, 이는 하부전극 조립품(44)의 둘레에 상하방향으로 길게 마련된 적어도 하나의 안내홈부(44g)와, 이 안내홈부(44g)에 삽입되도록 수직벽체(52)에 마련된 안내돌기(52p)에 의하여 실현된다.Meanwhile, the
도 6은 도 3에 도시된 배플 승강장치(60)를 도시한 사시도이다.FIG. 6 is a perspective view illustrating the
배플 승강장치(60)는 도 6에 도시된 바와 같이, 배플(50)을 상하로 이동시키기 위한 조작에 사용되는 다수 개의 조작로드(Operating Rod)(62)와, 배플(50)의 상하이동에 필요한 동력을 이 조작로드(62)에 가하여 작동시키는 로드 작동수단(64)으로 구성된다.As illustrated in FIG. 6, the
조작로드(62)는 그 상단이 배플(50)의 수평판체(54)에 각각 장착되고 반대쪽이 챔버(20)의 바닥에 상하이동 가능하도록 관통되어 일부분이 돌출된 형태로 설치된다. 이때 조작로드(62)는 6개가 구비되어 도 4와 같이 수평판체(54)의 가로 부분에는 각각 2개, 세로 부분에는 각각 1개가 장착되는 형태로 배치될 수 있겠다. 물론 조작로드(62)의 개수 및 배치는 변경이 가능하다.The
참고로, 챔버(20)의 바닥에는 조작로드(62)의 관통을 위한 구멍(26)이 조작로드(62)와 동일한 개수로 마련된다.For reference, holes 26 for penetrating the
로드 작동수단(64)은 조작로드(62)의 하단에 각각 접촉되도록 설치된 캠(Cam)(66)과, 이 캠(66)을 각각 회전시키는 구동유닛(68)으로 구성된다.The rod operating means 64 is composed of a
여기에서 캠(66)은 구동유닛(68)에 의하여 회전되면서 조작로드(62)를 상하로 이동시키는 것으로서, 이것이 가능한 구성이라면 어떠한 타입이든지 적용 가능하다. 즉 여기에서는 정면에서 보았을 때 계란형으로 된 판캠을 적용하였는데, 이것 이외에 경사판캠 등도 적용이 가능한 것이다.Here, the
한편 구동유닛(68)은 모터로 구성된다. 이 모터는 브래킷(Bracket) 등에 의하여 챔버(20)의 저면에 견고하게 장착된다.On the other hand, the
설명한 바와 같은 배플 승강장치(60)는 각 구동유닛(68)을 동시에 작동시키면 캠(66)이 회전되고, 이에 따라 조작로드(62)가 상하로 이동되어 배플(50)이 승강된다.In the
이상 도 3 내지 도 6에서 설명되지 않은 도면부호 62e는 캠(66)과의 접촉면적을 확보하기 위하여 조작로드(62)의 하단에 마련된 구형, 반구형, 판형 등의 확장부이다. 74는 챔버(20) 안의 구획된 공간 중 하부에서 공정가스가 확산되는 것을 방지하는 벨로우즈(Bellows)로서, 이는 하부전극 조립품(44)의 둘레를 감싸는 구조를 갖도록 상단부가 수직벽체(52)의 하단에 장착되고 하단부가 챔버(20)의 바닥에 장착된다. 76은 챔버(51) 안을 진공으로 유지하기 위한 벨로우즈로서, 이는 조작로드(62)를 각각 감싸는 구조를 갖도록 상단가 챔버(20)의 저면에 장착되고 하단부가 해당 조작로드(62)의 일정한 부분에 장착된다.
다음에서는 본 발명의 제1실시예와 유사한 구성을 갖는 다른 실시예에 관하여 살펴보기로 한다. 이때 다른 실시예는 제1실시예와 비교하였을 때 상이한 부분을 중심으로 설명하기로 하고, 도면 또한 경우에 따라 해당 부분만을 도시하기로 한다.Next will be described with respect to another embodiment having a configuration similar to the first embodiment of the present invention. In this case, another embodiment will be described based on different parts as compared with the first embodiment, and the drawings will also show only the corresponding parts in some cases.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 배플 승강장치의 주요 부분이 도시된 정면도이다.7 is a front view showing the main part of the baffle elevating apparatus according to the second embodiment of the present invention.
제2실시예는 도 7에 도시된 바와 같이, 제1실시예와 비교하여 볼 때 기타 구성 및 그 작용은 모두 동일한 것에 대하여, 캠(66) 대신에 편심륜(Eccentric Wheel)(66A)을 적용하였다는 사항만이 상이하다. 이때 편심륜(66A)은 그 둘레가 조작로드(62)의 하단에 각각 접촉된다. 한편 도면부호 L은 편심륜(66A)의 중심점과 회전중심 간의 거리, 즉 편심거리를 나타낸다.The second embodiment applies an
도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 배플 승강장치의 주요 부분이 도시된 정면도이다.8 is a front view showing the main part of the baffle elevating apparatus according to the third embodiment of the present invention.
제3실시예는 도 8에 도시된 바와 같이, 제1실시예와 비교하여 볼 때 기타 구성 및 그 작용은 모두 동일한 것에 대하여, 기본적으로 캠(66) 대신에 래크 앤 피니언(Rack And Pinion)(66B)을 적용하였다는 점 등이 상이하다.As shown in FIG. 8, the third embodiment is basically a rack and pinion (rather than a cam 66), with respect to all other configurations and their functions as compared with the first embodiment. 66B) is different.
여기에서 래크 앤 피니언(66B)은 조작로드(62)의 하단 부분에 각각 상하방향으로 구비된 래크(Rack)(R)와, 이 래크(R)와 각각 이[齒]가 서로 맞물린 피니언(Pinion)(P)으로 구성된다. 물론 구동유닛(68)은 이 중에서 피니언(P)을 회전시키는 바, 이때의 구동유닛(68)은 정/역회전이 가능한 모터로 구성된다. 한편 이 경우에 확장부(62e)는 제거하여도 무방하다.Here, the rack and
도 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 배플 승강장치가 적용된 공정챔버를 도시한 구성도이다. 이에 도시된 바와 같이, 제4실시예가 적용된 공정챔버는 챔버(20), 상부전극 조립품(42), 하부전극 조립품(44), 배플(50), 조작로드(62), 로드 플레이트(Rod Plate)(80) 및 플레이트 작동수단(64C)으로 구성되는 바, 제1실시예가 적용된 공정챔버와 비교하여 볼 때 로드 플레이트(80)와 플레이트 작동수단(64C) 이외는 기능이 동일하므로 이에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.9 is a block diagram illustrating a process chamber to which a baffle elevating apparatus according to a fourth embodiment of the present invention is applied. As shown in the drawing, the process chamber to which the fourth embodiment is applied includes the
로드 플레이트(80)는 조작로드(62)의 하단이 각각 장착된다. 플레이트 작동수단(64C)은 이 로드 플레이트(80)를 상하로 이동시키는 것으로서, 로드 플레이트(80)의 저면에 접촉되도록 설치된 적어도 하나의 캠(66C)과, 이 캠(66C)을 회전시키는 구동유닛(68C)으로 구성된다. 이때 구동유닛(68C)은 모터로 구성된다.The lower end of the
여기에서 캠(66C)은 제1실시예의 그것과 구성은 거의 동일한 것으로, 제1실시예에서는 조작로드(62)에 직접 접촉되었으나, 여기서는 로드 플레이트(80)에 접촉된다는 점만이 상이하다.Here, the cam 66C has almost the same configuration as that of the first embodiment. In the first embodiment, the cam 66C is in direct contact with the
한편 이러한 제4실시예가 적용된 공정챔버의 경우에도 확장부(62e)는 제거하 여도 무방하다. 다른 한편 제4실시예가 적용된 공정챔버는 캠(66C) 대신에 제2실시예의 편심륜(66A)이 적용될 수도 있고, 또 제3실시예의 래크 앤 피니언(66B)이 적용될 수도 있다.On the other hand, in the case of the process chamber to which the fourth embodiment is applied, the
도 10은 본 발명의 제1실시예 내지 제3실시예에 따른 배플 승강장치의 배플을 다르게 구성할 수 있음을 예시적으로 도시한 저면사시도이다.10 is a bottom perspective view exemplarily illustrating that the baffle of the baffle elevating apparatus according to the first to third embodiments of the present invention may be configured differently.
이에 따르면, 배플(50)은 좌우로 양분되도록 구성될 수 있는데, 이렇게 구성하면 좌측과 우측의 높낮이가 상이하도록 배플(50)을 승강시킬 수 있다. 물론 이와 달리 2개가 아닌 3개 이상으로 분할하는 것도 가능한 바, 중요한 것은 각각의 단편에 적어도 하나의 조작로드(62)가 장착되어야 한다는 것이다. 참고로, 좌측과 우측의 높낮이가 상이하도록 배플(50)을 승강시키면 그 사이의 틈새가 슬릿(54s)의 역할을 대신할 수 있으므로 극단적으로는 이 슬릿(54s)이 모두 제거된 형태로 구성하는 것도 가능하겠다.According to this, the
이상, 본 발명을 설명하였으나, 본 발명은 본 명세서에 개시된 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되지 않는 바, 본 발명의 기술사상 범위 내에서 당업자(본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자)에 의하여 다양한 변형이 이루어질 수 있다.The present invention has been described above, but the present invention is not limited to the embodiments disclosed in the present specification and the accompanying drawings, and those skilled in the art within the technical scope of the present invention have ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs. I) Various modifications may be made.
이상에서 살펴본 바와 같이 구성되는 본 발명은 상하이동이 가능하도록 설치된 배플, 이 배플에 상단이 장착된 조작로드 및 이 조작로드를 상하로 이동시키기 위한 로드 작동수단을 포함하기 때문에, 기판을 처리하는 중 배플을 승강시켜 높낮이를 변경시킬 수 있고, 나아가 플라즈마 밀도, 공정가스 기류 등을 공정의 진행상황에 맞게 최적화되도록 편리하게 세팅할 수 있다는 이점이 있다.The present invention constituted as described above includes a baffle installed so as to be capable of shangdong, an operation rod having an upper end mounted on the baffle, and a rod operating means for moving the operation rod up and down. It is possible to change the height by raising and lowering, and furthermore, there is an advantage in that the plasma density, the process gas air flow, and the like can be conveniently set to be optimized according to the progress of the process.
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