KR101351000B1 - In-line camera inspection apparatus having plural mode - Google Patents

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KR101351000B1
KR101351000B1 KR1020130039371A KR20130039371A KR101351000B1 KR 101351000 B1 KR101351000 B1 KR 101351000B1 KR 1020130039371 A KR1020130039371 A KR 1020130039371A KR 20130039371 A KR20130039371 A KR 20130039371A KR 101351000 B1 KR101351000 B1 KR 101351000B1
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민성준
윤재호
박재영
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Abstract

An in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes is disclosed. The in-line camera inspection apparatus photographs an object to be inspected which is transferred in one direction by a transfer unit and inspects whether an abnormality of the object to be inspected occurs. According to an embodiment of the present invention, an in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes comprises: a plurality of camera arrays provided to move vertically over the transfer unit and disposed to be adjacent to each other along the transfer direction of an object to be inspected to create captured images of the object to be inspected, each of the camera arrays including a plurality of cameras which are arranged in a row along the direction intersecting the transfer direction of the object to be inspected to create the captured images of the object to be inspected; and an image processing unit configured to integrate, into a single image, a plurality of captured images created by one camera array or the cameras constituting the camera arrays according to predetermined inspection modes.

Description

복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치{In-line Camera Inspection Apparatus Having Plural Mode}In-line Camera Inspection Apparatus Having Plural Mode

본 발명은 카메라 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 검사 대상물을 촬영하여 결함을 검출할 수 있는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a camera inspection apparatus, and more particularly, to an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes capable of detecting a defect by photographing an inspection object.

반도체 웨이퍼나 LCD, PDP, EL 등의 대형 기판을 생산할 때 기판에 남아 있는 이물질이나 각종 얼룩 및 스크래치 등의 결함 또는 기판에 형성된 패턴의 결함 여부를 확인하기 위하여 검사를 실시한다. 검사장치로는, 검사자의 육안을 통한 마크로 검사장치(Macro Inspection)와, 광학렌즈와 CCD(charged coupled device) 카메라를 사용하는 인라인 자동광학검사장치(In-Line Automatic Optical Inspection)가 있다.When producing large-size substrates such as semiconductor wafers, LCDs, PDPs, and ELs, inspections are performed to check for defects such as foreign substances remaining on the substrate, defects such as various types of stains, scratches, or defects formed on the substrate. As the inspection apparatus, there is a macro inspection apparatus through the naked eye of an inspector, and an in-line automatic optical inspection apparatus using an optical lens and a CCD (charged coupled device) camera.

특히 인라인 자동광학검사장치는 광학렌즈와 CCD 카메라를 사용하여 검사 대상물의 이미지를 캡처(Capture)한 후 비전(Vision) 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 사용자가 찾아내고자 하는 각종 결함을 검출해 내는 장치이다.In particular, the inline automatic optical inspection apparatus captures an image of an object to be inspected using an optical lens and a CCD camera, and then detects various defects to be detected by applying a vision image processing algorithm.

이러한 자동광학검사장치는 검사 대상물을 이동시키며, 광학장비를 이용해 기판의 결함을 검출한다.Such an automatic optical inspection apparatus moves the object to be inspected, and detects defects of the substrate using optical equipment.

그러나, 광학장비가 검사 대상물과 항상 일정한 거리 이격되어 일정한 해상도로 검사 대상물을 촬영한다. 즉, 검사 대상물의 보다 정밀한 검사가 필요한 경우 또는 빠른 검사가 필요한 경우 등의 구별 없이 상기 한가지 모드로만 검사 대상물을 촬영한다.However, the optical equipment always takes a certain distance from the inspection object to photograph the inspection object at a constant resolution. That is, the inspection object is photographed only in one of the above modes without discriminating whether a more precise inspection of the inspection object is required or a need for a quick inspection.

본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 다음과 같다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to overcome the above-mentioned problems, and an object of the present invention is as follows.

본 발명은 필요에 따라 여러 가지 검사 모드 중 하나를 선택하여 검사 대상물을 촬영할 수 있는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치를 제공하고자 한다.An object of the present invention is to provide an in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes capable of photographing an inspection object by selecting one of various inspection modes as necessary.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 이송부에 의해 일 방향으로 이송되는 검사대상물을 촬영하여 상기 검사대상물의 이상 여부를 검사하는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에 있어서, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 복수 개의 카메라 어레이 및 이미지 처리부를 포함할 수 있다.In order to achieve the above object, in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes for inspecting whether the inspection object is abnormal by photographing the inspection object conveyed in one direction by a transfer unit, in one embodiment of the present invention The inline camera inspection apparatus having the plurality of inspection modes may include a plurality of camera arrays and an image processor.

상기 복수 개의 카메라 어레이는 상기 이송부에 대하여 상하 방향으로 이동 가능하게 구비되고, 상기 검사 대상물의 이송 방향을 따라 서로 인접하게 배치되어 상기 검사대상물의 촬영 이미지를 생성할 수 있다. 그리고, 각각의 상기 카메라 어레이는 상기 검사대상물의 이송 방향과 교차하는 방향을 따라 일렬로 배치되어 상기 검사대상물의 촬영 이미지를 생성하는 복수 개의 카메라를 포함할 수 있다.The plurality of camera arrays may be provided to be movable in the vertical direction with respect to the transfer unit, and may be disposed adjacent to each other along a transfer direction of the inspection object to generate a photographed image of the inspection object. Each of the camera arrays may include a plurality of cameras arranged in a line along a direction crossing the transport direction of the inspection object to generate a photographed image of the inspection object.

상기 이미지 처리부는 기 설정된 검사 모드에 따라 하나의 상기 카메라 어레이 또는 복수 개의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 촬영 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합할 수 있다.The image processor may integrate a plurality of captured images generated by a plurality of cameras constituting the camera array or the plurality of camera arrays into a single image according to a preset inspection mode.

본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 기 설정된 모드에 따라 상기 복수 개의 카메라 어레이를 상하 방향으로 이동시키는 구동부를 더 포함할 수 있다.Inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection mode according to an embodiment of the present invention may further include a driving unit for moving the plurality of camera array in the vertical direction according to a preset mode.

상호 인접한 상기 카메라 어레이의 카메라들은 서로 지그재그로 배치될 수 있다.Cameras of the camera array adjacent to each other may be arranged in a zigzag.

상기 카메라 어레이가 하강한 상태에서 상호 인접한 상기 카메라 어레이의 상기 카메라들은 촬영 영역이 서로 중첩되도록 배치될 수 있다.The cameras of the camera arrays which are adjacent to each other in a state where the camera array is lowered may be arranged such that the photographing regions overlap each other.

그리고, 상기 카메라 어레이가 상승한 상태에서 하나의 상기 카메라 어레이를 구성하는 상호 인접한 상기 카메라들은 촬영 영역이 서로 중첩되도록 배치될 수 있다.In addition, when the camera array is raised, the adjacent cameras constituting the camera array may be disposed such that photographing regions overlap each other.

또한, 상기 복수 개의 카메라 어레이는 서로 평행하게 배치될 수 있다.In addition, the plurality of camera arrays may be arranged in parallel with each other.

한편, 상기 검사모드는 상기 검사 대상물을 고정밀로 촬영하는 고정밀모드 및 상기 검사 대상물을 저정밀로 촬영하는 저정밀모드를 포함할 수 있다.The inspection mode may include a high precision mode of photographing the inspection object with high precision and a low precision mode of photographing the inspection object with low precision.

상기 고정밀 모드가 설정되면 상기 이미지 처리부는 복수 개의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합할 수 있다.When the high precision mode is set, the image processor may integrate a plurality of images generated by a plurality of cameras constituting the plurality of camera arrays into one single image.

그리고, 상기 저정밀 모드가 설정되면 상기 이미지처리부는 각각의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 각각의 단일 이미지로 통합할 수 있다.When the low precision mode is set, the image processing unit may integrate a plurality of images generated by a plurality of cameras constituting each camera array into each single image.

또한, 상기 고정밀 모드가 설정되면 상기 구동부는 상기 카메라 어레이를 하강시킬 수 있다.In addition, when the high precision mode is set, the driving unit may lower the camera array.

그리고, 상기 저정밀 모드가 설정되면 상기 구동부는 상기 카메라 어레이를 상승시킬 수 있다.When the low precision mode is set, the driving unit may raise the camera array.

상기와 같이 구성된 본 발명의 효과에 대하여 설명하면 다음과 같다.The effects of the present invention will be described below.

본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에 의하면 검사 모드에 따라 복수 개의 카메라 어레이가 상하로 이동 가능하며 필요에 따라 정밀도를 달리 하여 검사 대상물을 검사할 수 있다.According to the inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention, a plurality of camera arrays can be moved up and down according to the inspection mode, and inspection objects can be inspected with different precisions as necessary.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

아래에서 설명하는 본 출원의 바람직한 실시예의 상세한 설명뿐만 아니라 위에서 설명한 요약은 첨부된 도면과 관련해서 읽을 때에 더 잘 이해될 수 있을 것이다. 본 발명을 예시하기 위한 목적으로 도면에는 바람직한 실시예들이 도시되어 있다. 그러나, 본 출원은 도시된 정확한 배치와 수단에 한정되는 것이 아님을 이해해야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 사시도;
도 2는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 측면도;
도 3은 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 정면도;
도 4는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 및 제 2 카메라들의 촬영 영역을 나타내는 도면;
도 5는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 이미지 처리부에서 단일 이미지를 생성하는 것을 나타내는 도면;
도 6은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동되는 모습을 나타내는 측면도;
도 7은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동되는 모습을 나타내는 정면도;
도 8은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동될 때 제 1 카메라 및 제 2 카메라의 촬영 영역을 나타내는 도면이다.The foregoing summary, as well as the detailed description of the preferred embodiments of the present application set forth below, may be better understood when read in conjunction with the appended drawings. For the purpose of illustrating the invention, there are shown preferred embodiments in the figures. It should be understood, however, that this application is not limited to the precise arrangements and instrumentalities shown.
1 is a perspective view of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention;
2 is a side view of the inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when the high precision mode is set;
3 is a front view of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when the high precision mode is set;
4 is a diagram illustrating a photographing area of a first camera and a second camera of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when the high precision mode is set;
5 is a diagram illustrating generating a single image in an image processing unit of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when a high precision mode is set;
6 is a side view illustrating a state in which a first camera array and a second camera array of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention operate when a low precision mode is set;
7 is a front view showing a state in which the first camera array and the second camera array of the in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when the low precision mode is set;
FIG. 8 is a photographing of the first camera and the second camera when the first camera array and the second camera array of the inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention are operated when the low precision mode is set. It is a figure which shows an area | region.

이하 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 첨부된 도면은 본 발명의 내용을 보다 쉽게 개시하기 위하여 설명되는 것일 뿐, 본 발명의 범위가 첨부된 도면의 범위로 한정되는 것이 아님은 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 알 수 있을 것이다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It is to be understood, however, that the appended drawings illustrate the present invention in order to more easily explain the present invention, and the scope of the present invention is not limited thereto. You will know.

그리고, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어서, 동일 기능을 갖는 구성요소에 대해서는 동일 명칭 및 동일부호를 사용할 뿐 실질적으론 종래기술의 구성요소와 완전히 동일하지 않음을 미리 밝힌다.In describing the embodiments of the present invention, it is to be noted that elements having the same function are denoted by the same names and numerals, but are substantially not identical to elements of the prior art.

또한, 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Also, the terms used in the present application are used only to describe certain embodiments and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, components, or a combination thereof.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 사시도이다.1 is a perspective view of an in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention.

이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.

도 1에 도시된 바와 같이, 이송부(100)에 의해 일 방향으로 이송되는 검사 대상물(10)을 촬영하여 검사 대상물(10)의 이상 여부를 검사하는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에 있어서, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 복수 개의 카메라 어레이(210, 220) 및 이미지 처리부(300)를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 1, in the in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes for inspecting whether the inspection object 10 is abnormal by photographing the inspection object 10 transported in one direction by the transfer unit 100. Inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an exemplary embodiment of the present invention may include a plurality of camera arrays 210 and 220 and an image processor 300.

복수 개의 카메라 어레이(210, 220)는 이송부(100)에 대하여 상하 방향으로 이동 가능하게 구비될 수 있다. 이를 위하여, 본 실시예의 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 기 설정된 모드에 따라 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)를 상하 방향으로 이동시키는 구동부를 포함할 수 있다.The plurality of camera arrays 210 and 220 may be provided to be movable in the vertical direction with respect to the transfer part 100. To this end, the in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes of the present embodiment may include a driving unit for moving the plurality of camera arrays 210 and 220 in the vertical direction according to a preset mode.

그리고, 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)는 검사 대상물(10)의 이송 방향을 따라 서로 인접하게 배치되어 검사 대상물(10)의 촬영 이미지를 생성할 수 있다. In addition, the plurality of camera arrays 210 and 220 may be disposed adjacent to each other along the transport direction of the inspection object 10 to generate a photographed image of the inspection object 10.

이를 위하여, 각각의 카메라 어레이(210, 220)는 검사 대상물(10)의 이송 방향과 교차하는 방향을 따라 일렬로 배치되어 검사 대상물(10)의 촬영 이미지를 생성하는 복수 개의 카메라(212, 222)를 포함할 수 있다. 여기서, 복수 개의 카메라(212, 222)는 초점 조절이 가능한 카메라일 수 있다. 그리고, 복수 개의 카메라(212, 222)는 모두 동일한 카메라일 수 있다,To this end, each of the camera arrays 210 and 220 is arranged in a line along a direction crossing the transport direction of the inspection object 10 to generate a plurality of cameras 212 and 222 to generate a photographed image of the inspection object 10. It may include. Here, the plurality of cameras 212 and 222 may be cameras capable of adjusting focus. The plurality of cameras 212 and 222 may be the same camera.

또한, 복수 개의 카메라(212, 222)의 촬영 주기는 복수 개의 카메라(212, 222)의 촬영 영역(214, 224)의 넓이와 검사 대상물(10)의 이동 속도를 고려하여 결정될 수 있다.In addition, the photographing period of the plurality of cameras 212 and 222 may be determined in consideration of the width of the photographing areas 214 and 224 of the plurality of cameras 212 and 222 and the moving speed of the inspection object 10.

그리고, 도면에 도시되지는 않았지만, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치에는 센서(미도시)가 구비되고 검사 대상물(10)에 특정한 마크를 부착하여 센서에 마크가 인식되면 복수 개의 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)들이 검사 대상물(10)을 촬영하도록 이루어질 수도 있다.Although not shown in the drawings, an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention includes a sensor (not shown) and attaches a specific mark to the inspection object 10 to mark the sensor. If is recognized, the plurality of first cameras 212 and the second cameras 222 may be configured to photograph the inspection object 10.

이미지 처리부(300)는 기 설정된 검사 모드에 따라 하나의 카메라 어레이(210, 220) 또는 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)를 구성하는 복수 개의 카메라(212, 222)에 의해 생성된 복수 개의 촬영 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합할 수 있다.The image processing unit 300 includes a plurality of photographed images generated by a plurality of cameras 212 and 222 constituting one camera array 210 or 220 or a plurality of camera arrays 210 and 220 according to a preset inspection mode. Can be combined into a single image.

기 설정된 검사 모드에 따른 이미지 처리부(300)의 작동에 대해서는 후술하기로 한다.The operation of the image processor 300 according to the preset inspection mode will be described later.

이하, 본 실시예에서는 카메라 어레이(210, 220)가 두 개인 것을 예로 들어 설명한다, 설명의 편의를 위하여 두 개의 카메라 어레이는 각각 제 1 카메라 어레이(210), 제 2 카메라 어레이(220)라고 부르기로 한다. 또한, 제 1 카메라 어레이(210)를 구성하는 카메라는 제 1 카메라(212), 제 2 카메라 어레이(220)를 구성하는 카메라는 제 2 카메라(222) 라고 칭하기로 한다.Hereinafter, the present embodiment will be described with two camera arrays 210 and 220 as an example. For convenience of description, the two camera arrays are referred to as a first camera array 210 and a second camera array 220, respectively. Shall be. In addition, a camera constituting the first camera array 210 will be referred to as a first camera 212 and a camera constituting the second camera array 220 will be referred to as a second camera 222.

상호 인접한 카메라 어레이(210, 220)의 카메라(212, 222)들은 서로 지그재그로 배치될 수 있다. 또한, 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)는 서로 평행하게 배치될 수 있다.Cameras 212 and 222 of the adjacent camera arrays 210 and 220 may be arranged in a zigzag pattern. In addition, the plurality of camera arrays 210 and 220 may be arranged in parallel with each other.

즉, 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)를 구성하는 제 1 카메라(212)와 제 2 카메라(222)들은 서로 지그재그로 배치되고, 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)는 서로 평행하게 배치될 수 있다.That is, the first camera 212 and the second camera 222 constituting the first camera array 210 and the second camera array 220 are zigzag arranged with each other, and the first camera array 210 and the second camera 222 are zigzag. The camera array 220 may be arranged in parallel with each other.

복수 개의 제 1 카메라(212)들은 검사 대상물(10)의 이송 방향과 수직한 방향으로 일렬로 배치되며, 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)들은 서로 일정 간격 이격될 수 있다.The plurality of first cameras 212 are arranged in a line in a direction perpendicular to the transport direction of the inspection object 10, and the first camera 212 and the second cameras 222 may be spaced apart from each other by a predetermined interval.

한편, 본 실시예의 검사모드는 고정밀 모드와 저정밀 모드로 나누어질 수 있다.On the other hand, the inspection mode of the present embodiment can be divided into high precision mode and low precision mode.

도 2는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 측면도이고, 도 3은 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 정면도이다.2 is a side view of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when a high precision mode is set, and FIG. 3 is a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when a high precision mode is set. A front view of an inline camera inspection apparatus having a.

도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 고정밀 모드가 설정되면 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)와 검사 대상물(10) 사이의 거리가 가까워지도록 구동부는 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)를 하강시킬 수 있다.As shown in FIG. 2 and FIG. 3, when the high precision mode is set, the driving unit includes the first camera array 210 and the second camera such that the distance between the plurality of camera arrays 210 and 220 and the inspection object 10 is closer. The array 220 may be lowered.

그리고, 이미지 처리부(300)는 제 1 카메라 어레이(210) 및 제 2 카메라 어레이(220)를 구성하는 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합할 수 있다.In addition, the image processor 300 may generate a single image of a plurality of images generated by the first camera 212 and the second camera 222 constituting the first camera array 210 and the second camera array 220. Can be integrated into the image.

도 2에 도시된 바와 같이, 복수 개의 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합했을 때 모든 영역을 커버할 수 있도록 제 1 카메라 어레이(210) 및 제 2 카메라 어레이(220)가 하강한 상태에서 상호 인접한 카메라 어레이(210, 220)의 카메라(212, 222)들은 촬영 영역(214, 224)이 서로 중첩되도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 2, the cameras adjacent to each other in a state where the first camera array 210 and the second camera array 220 are lowered to cover all areas when a plurality of images are combined into one single image are shown. The cameras 212 and 222 of the arrays 210 and 220 may be arranged such that the photographing areas 214 and 224 overlap each other.

즉, 검사 대상물(10)이 이동하는 방향에서 카메라 어레이(210, 220)를 바라보는 경우, 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)과 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)은 서로 교차하며 중첩될 수 있다.That is, when looking at the camera array (210, 220) in the direction in which the inspection object 10 moves, the photographing area 214 of the first camera 212 and the photographing area 224 of the second camera 222 They can intersect and overlap each other.

도 3에 도시된 바와 같이, 검사 대상물(10)의 이동 방향과 수직한 방향에서 카메라 어레이(210, 220)를 바라보는 경우, 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)과 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)은 서로 중첩될 수 있다.As shown in FIG. 3, when looking at the camera arrays 210 and 220 in a direction perpendicular to the moving direction of the inspection object 10, the photographing area 214 and the second camera of the first camera 212 ( The photographing areas 224 of 222 may overlap each other.

도 4는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 및 제 2 카메라들의 촬영 영역을 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating a photographing area of a first camera and a second camera of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an exemplary embodiment when the high precision mode is set.

도 4에 도시된 바와 같이, 고정밀 모드가 설정되어 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)가 하부로 이동하여 이송부(100)와의 거리가 상대적으로 가까워진 상태에서 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)의 직경이 상호 인접한 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)의 중심 사이의 거리의 절반 이상이 되도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 4, the high-precision mode is set so that the first camera array 212 and the second camera array 220 move downward so that the distance between the transfer unit 100 and the first camera 212 is relatively close. ) May be disposed so that the diameter of the photographing area 214 is equal to or greater than half the distance between the centers of the photographing areas 214 of the first cameras 212 adjacent to each other.

또한, 고정밀 모드가 설정되어 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)가 하부로 이동하여 이송부(100)와의 거리가 상대적으로 가까워진 상태에서 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)의 직경이 상호 인접한 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)의 중심 사이의 거리의 절반 이상이 되도록 배치될 수 있다.In addition, the high-precision mode is set so that the first camera array 210 and the second camera array 220 move downward, so that the distance between the transfer unit 100 is relatively close, the photographing area 224 of the second camera 222. ) May be disposed to be at least half the distance between the centers of the capturing regions 224 of the second camera 222 adjacent to each other.

따라서, 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)가 하부로 이동한 상태에서 검사 대상물(10)이 이동하는 방향에서 제 1 카메라 어레이(210) 및 제 2 카메라 어레이(220)를 바라보는 경우, 복수 개의 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)과 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)은 서로 중첩될 수 있다.Therefore, the first camera array 210 and the second camera array 220 in the direction in which the inspection object 10 moves while the first camera array 210 and the second camera array 220 are moved downward. In the case of looking at, the photographing area 214 of the first camera 212 and the photographing area 224 of the second camera 222 may overlap each other.

도 5는 고정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 이미지 처리부에서 단일 이미지를 생성하는 것을 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating generating a single image in an image processing unit of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an exemplary embodiment when the high precision mode is set.

도 5에서 실선으로 표시된 영역은 제 1 카메라(212)에서 촬영된 이미지이고, 점선으로 표시된 영역은 제 2 카메라(222)에서 촬영된 이미지이다.In FIG. 5, an area indicated by a solid line is an image captured by the first camera 212, and an area indicated by a dotted line is an image captured by the second camera 222.

도 5에 도시된 바와 같이, 이미지 처리부(300)는 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)로부터 촬영된 복수 개의 이미지를 일렬로 나열하여 하나의 이미지로 통합할 수 있다.As illustrated in FIG. 5, the image processing unit 300 may arrange a plurality of images photographed from the first camera 212 and the second camera 222 in a row and integrate them into one image.

이로써, 실제로 상호 인접한 제 1 카메라(212)들은 촬영 영역(214)이 서로 중첩되지 않고, 상호 인접한 제 2 카메라(222)들 또한 촬영 영역(224)이 서로 중첩되지 않지만, 이미지 처리부(300)가 복수 개의 제 1 카메라(212)에서 촬영된 이미지와 제 2 카메라(222)에서 촬영된 이미지를 일렬로 나열하여 하나의 단일 이미지로 통합하기 때문에 빈 부분 없이 모든 영역의 이미지를 얻을 수 있다.As a result, the first cameras 212 that are adjacent to each other do not overlap each other, and the second cameras 222 that are adjacent to each other do not overlap each other. Since the images photographed by the plurality of first cameras 212 and the images photographed by the second camera 222 are arranged in a line and integrated into one single image, images of all regions may be obtained without a blank portion.

따라서, 복수 개의 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)가 가까운 거리에서 검사 대상물(10)을 촬영함으로써 한번에 촬영할 수 있는 영역은 좁지만 검사 대상물(10)을 확대해서 촬영할 수 있으므로 검사 대상물(10)의 정밀한 검사가 가능하다.Therefore, the area where the plurality of first cameras 212 and the second cameras 222 can be photographed at a time by photographing the inspection object 10 at a close distance is narrow, but the inspection object 10 can be enlarged and photographed so that the inspection object can be photographed. Precise inspection of (10) is possible.

도 6은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동되는 모습을 나타내는 측면도이고, 도 7은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동되는 모습을 나타내는 정면도이다.FIG. 6 is a side view illustrating an operation of a first camera array and a second camera array of an inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention when the low precision mode is set, and FIG. When the precision mode is set, it is a front view showing how the first camera array and the second camera array of the in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention is operated.

도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 저정밀 모드가 설정되면 복수 개의 카메라 어레이(210, 220)와 검사 대상물(10) 사이의 거리가 멀어지도록 구동부는 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)를 상승시킬 수 있다.As shown in FIG. 6 and FIG. 7, when the low precision mode is set, the driving unit may move the first camera array 210 and the second camera so that the distance between the plurality of camera arrays 210 and 220 and the inspection target 10 increases. The camera array 220 may be raised.

도 8은 저정밀 모드가 설정된 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치의 제 1 카메라 어레이 및 제 2 카메라 어레이가 작동될 때 제 1 카메라 및 제 2 카메라의 촬영 영역을 나타내는 도면이다.FIG. 8 is a photographing of the first camera and the second camera when the first camera array and the second camera array of the inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes according to an embodiment of the present invention are operated when the low precision mode is set. It is a figure which shows an area | region.

여기서, 도 8에 도시된 바와 같이, 저정밀 모드가 설정되어 제 1 카메라 어레이(210)와 제 2 카메라 어레이(220)가 상승한 상태에서 하나의 카메라 어레이(210, 220)를 구성하는 상호 인접한 카메라(212, 222)들은 촬영 영역(214, 224)이 서로 중첩되도록 배치될 수 있다.Here, as shown in FIG. 8, a low-precision mode is set so that adjacent cameras constituting one camera array 210 or 220 with the first camera array 210 and the second camera array 220 raised. The 212 and 222 may be arranged such that the photographing regions 214 and 224 overlap each other.

즉, 상호 인접한 제 1 카메라(212)들은 서로 촬영 영역(214)이 중첩되도록 배치되고, 상호 인접한 제 2 카메라(222)들은 서로 촬영 영역(224)이 중첩되도록 배치될 수 있다.That is, the first cameras 212 that are adjacent to each other may be disposed to overlap each other, and the second cameras 222 that are adjacent to each other may be disposed to overlap each other.

그리고, 본 실시예에서는 저정밀 모드가 선택된 상태에서 검사 대상물(10)의 이동 방향과 수직한 방향에서 제 1 카메라 어레이(210) 및 제 2 카메라 어레이(220)를 바라보는 경우, 제 1 카메라(212)와 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(214, 224)은 서로 중첩될 수 있다.In the present embodiment, when looking at the first camera array 210 and the second camera array 220 in a direction perpendicular to the moving direction of the inspection object 10 in a state where the low precision mode is selected, the first camera ( The photographing areas 214 and 224 of the 212 and the second camera 222 may overlap each other.

그러나, 이는 일 실시예에 불과하며 저정밀 모드가 선택된 상태에서 제 1 카메라(212)의 촬영 영역(214)과 제 2 카메라(222)의 촬영 영역(224)은 항상 서로 중첩될 필요는 없다.However, this is only an example and the photographing area 214 of the first camera 212 and the photographing area 224 of the second camera 222 do not always need to overlap each other when the low precision mode is selected.

저정밀 모드가 설정된 상태에서 이미지 처리부(300)는 이미지 처리부(300)는 제 1 카메라 어레이(210)를 구성하는 제 1 카메라(212)에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 하나로 통합하고, 제 2 카메라 어레이(220)를 구성하는 제 2 카메라(222)에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 단일 이미지로 통합할 수 있다.In the state in which the low precision mode is set, the image processor 300 integrates a plurality of images generated by the first camera 212 constituting the first camera array 210 into one, and the second camera. The plurality of images generated by the second camera 222 constituting the array 220 may be integrated into a single image.

즉, 저정밀 모드가 설정된 경우에는 이미지 처리부(300)가 카메라 어레이(210, 220)의 개수만큼의 단일 이미지를 생성할 수 있다. 이 때, 이미지 처리부(300)는 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)에서 촬영된 이미지의 위치 이동 없이 촬영된 상태 그대로 하나의 이미지를 생성할 수 있다.That is, when the low precision mode is set, the image processor 300 may generate as many single images as the number of camera arrays 210 and 220. In this case, the image processing unit 300 may generate one image as it is, without moving the position of the images captured by the first camera 212 and the second camera 222.

도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이 제 1 카메라 어레이(210) 및 데 2 카메라 어레이(220)을 모두 작동시켜 검사 대상물(10)을 촬영하는 경우, 복수 개의 제 1 카메라(212) 및 제 2 카메라(222)가 비교적 먼 거리에서 검사 대상물(10)을 촬영함으로써 정밀도는 떨어지지만 한번에 촬영할 수 있는 영역이 넓어질 수 있다.6 and 7, when both the first camera array 210 and the second camera array 220 are operated to photograph the test object 10, the plurality of first cameras 212 and the second cameras are photographed. When the camera 222 photographs the inspection object 10 at a relatively long distance, the accuracy of the camera 222 may be reduced, but the area to be photographed at one time may be widened.

본 실시예에서는 검사 모드가 고정밀 모드와 저정밀 모드 두 개로 구성되는 것을 예로 들어 설명하였으나, 검사 모드는 이에 한정되는 것이 아니며, 필요에 따라 다양하게 구성될 수 있다.In this embodiment, the test mode has been described as an example consisting of two high-precision mode and a low-precision mode, but the test mode is not limited thereto, and may be variously configured as necessary.

한편, 도면에 도시되지는 않았지만, 본 실시예의 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 이미지 처리부(300)에서 생성된 영상을 출력하는 디스플레이부(미도시)를 포함할 수 있다.Although not shown in the drawings, the inline camera inspection apparatus having the plurality of inspection modes of the present exemplary embodiment may include a display unit (not shown) for outputting an image generated by the image processor 300.

또한, 도면에 도시되지는 않았지만, 본 실시예의 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치는 검사 대상물(10)에 빛을 조사하는 조명부(미도시)가 더 구비될 수 있다.In addition, although not shown in the drawings, the in-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes of the present embodiment may be further provided with an illumination unit (not shown) for irradiating light to the inspection object (10).

이상과 같이 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명된 실시예 이외에도 본 발명이 그 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 특정 형태로 구체화 될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 그러므로, 상술된 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.It will be apparent to those skilled in the art that the present invention can be embodied in other specific forms without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is obvious to them. Therefore, the above-described embodiments are to be considered as illustrative rather than restrictive, and the present invention is not limited to the above description, but may be modified within the scope of the appended claims and equivalents thereof.

10: 검사 대상물 100: 이송부
210: 제 1 카메라 어레이 212: 제 1 카메라
214: 제 1 카메라의 촬영 영역 220: 제 2 카메라 어레이
222: 제 2 카메라 224: 제 2 카메라의 촬영 영역
300: 이미지 처리부10: inspection object 100: transfer unit
210: first camera array 212: first camera
214: Shooting area of the first camera 220: Second camera array
222: second camera 224: shooting area of second camera
300: image processing unit

Claims (9)

이송부에 의해 일 방향으로 이송되는 검사대상물을 촬영하여 상기 검사대상물의 이상 여부를 검사하는 인라인 카메라 검사 장치에 있어서,
상기 이송부에 대하여 상하 방향으로 이동 가능하게 구비되고, 상기 검사 대상물의 이송 방향을 따라 서로 인접하게 배치되어 상기 검사대상물의 촬영 이미지를 생성하며, 각각은 상기 검사대상물의 이송 방향과 교차하는 방향을 따라 일렬로 배치되어 상기 검사대상물의 촬영 이미지를 생성하는 복수 개의 카메라를 포함하는 복수 개의 카메라 어레이; 및
기 설정된 검사 모드에 따라 하나의 상기 카메라 어레이 또는 복수 개의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 촬영 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합하는 이미지처리부;를 포함하고,
상기 검사모드는,
상기 검사 대상물을 고정밀로 촬영하는 고정밀모드 및 상기 검사 대상물을 저정밀로 촬영하는 저정밀모드를 포함하며,
상기 고정밀 모드가 설정되면 상기 카메라 어레이가 하강하여 상기 검사 대상물을 고정밀로 촬영하고 상기 이미지 처리부는 복수 개의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 하나의 단일 이미지로 통합하며,
상기 저정밀 모드가 설정되면 상기 카메라 어레이가 상승하여 상기 검사 대상물을 저정밀로 촬영하고 상기 이미지처리부는 각각의 상기 카메라 어레이를 구성하는 복수 개의 카메라에 의해 생성된 복수 개의 이미지를 각각의 단일 이미지로 통합하는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.In the in-line camera inspection apparatus for inspecting whether the inspection object is abnormal by photographing the inspection object conveyed in one direction by a transfer unit,
It is provided to be movable in the up and down direction with respect to the transfer unit, and are disposed adjacent to each other along the conveying direction of the inspection object to generate a photographed image of the inspection object, each along a direction crossing the conveying direction of the inspection object A plurality of camera arrays arranged in a line and including a plurality of cameras generating a photographed image of the inspection object; And
And an image processor for integrating a plurality of captured images generated by a plurality of cameras constituting the camera array or the plurality of camera arrays into a single image according to a preset inspection mode.
The inspection mode is,
A high precision mode for photographing the inspection object with high precision and a low precision mode for photographing the inspection object with low precision,
When the high precision mode is set, the camera array is lowered to accurately photograph the inspection object, and the image processor integrates a plurality of images generated by a plurality of cameras constituting the plurality of camera arrays into a single image. ,
When the low precision mode is set, the camera array is raised to photograph the inspection object with low precision, and the image processing unit converts the plurality of images generated by the plurality of cameras constituting the camera array into a single image. Inline camera inspection device having a plurality of inspection modes to integrate. 제 1항에 있어서,
기 설정된 모드에 따라 상기 복수 개의 카메라 어레이를 상하 방향으로 이동시키는 구동부를 더 포함하는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.The method of claim 1,
Inline camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes further comprising a driving unit for moving the plurality of camera array in the vertical direction according to a preset mode. 제 1항에 있어서,
상호 인접한 상기 카메라 어레이의 카메라들은 서로 지그재그로 배치되는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.The method of claim 1,
In-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes are arranged in a zigzag with each other the camera of the adjacent camera array. 제 1항에 있어서,
상기 카메라 어레이가 하강한 상태에서 상호 인접한 상기 카메라 어레이의 상기 카메라들은 촬영 영역이 서로 중첩되도록 배치되는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.The method of claim 1,
And the cameras of the camera arrays adjacent to each other in a state where the camera array is lowered have a plurality of inspection modes in which photographing regions overlap each other. 제 1항에 있어서,
상기 카메라 어레이가 상승한 상태에서 하나의 상기 카메라 어레이를 구성하는 상호 인접한 상기 카메라들은 촬영 영역이 서로 중첩되도록 배치되는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.The method of claim 1,
In-line camera inspection apparatus having a plurality of inspection modes in which the adjacent cameras constituting one of the camera array in the state in which the camera array is raised has a plurality of inspection modes are arranged to overlap each other. 제 1항에 있어서,
상기 복수 개의 카메라 어레이는 서로 평행하게 배치되는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.The method of claim 1,
And the plurality of camera arrays have a plurality of inspection modes arranged in parallel to each other. 삭제delete 삭제delete 제 2항에 있어서,
상기 고정밀 모드가 설정되면 상기 구동부는 상기 카메라 어레이를 하강시키고,
상기 저정밀 모드가 설정되면 상기 구동부는 상기 카메라 어레이를 상승시키는 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치.3. The method of claim 2,
When the high precision mode is set, the driving unit lowers the camera array,
And the driving unit has a plurality of inspection modes for raising the camera array when the low precision mode is set.
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