KR101350155B1 - Display panel testing socket - Google Patents

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KR101350155B1
KR101350155B1 KR1020120084235A KR20120084235A KR101350155B1 KR 101350155 B1 KR101350155 B1 KR 101350155B1 KR 1020120084235 A KR1020120084235 A KR 1020120084235A KR 20120084235 A KR20120084235 A KR 20120084235A KR 101350155 B1 KR101350155 B1 KR 101350155B1
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전진국
박성규
민성규
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주식회사 오킨스전자
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Abstract

A display panel testing socket comprises a flexible printed circuit board; a terminal part (lead) on one side of the flexible printed circuit board; and an elastic plate which is connected to one side of the terminal part and into which a plurality of conductive elastic bodies in touch with a plurality of electrode terminals on a display panel to be electrically connected to the electrode terminals are inserted.

Description

표시 패널 검사용 소켓 {Display Panel testing socket}Display Panel testing socket

본 발명은 표시 패널 검사용 소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 액정 표시 패널(Liquic Crystal Display panel)의 불량 여부를 검출할 수 있는 표시 패널 검사용 소켓에 관한 것이다.
The present invention relates to a display panel inspection socket, and more particularly, to a display panel inspection socket capable of detecting a defect of a liquid crystal display panel.

최근 들어 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 시대상에 부응하기 위해 평 판 표시 장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었다. 이에 따라 색 재현성이 우수하고 박형인 박막트랜지스터형 액정 표시 소자(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)가 개발되었다.Recently, the need for a flat panel display has emerged in order to meet the times of thinning, weight reduction, and low power consumption. Accordingly, a thin film transistor-liquid crystal display, which has excellent color reproducibility and has been developed.

통상적으로, 액정 표시 소자는 박막트랜지스터가 형성되어 있는 박막트랜지스터 기판과 컬러필터층이 형성되어 있는 컬러필터 기판, 그리고 이들 사이에 액정층이 위치하고 있는 액정 표시 패널을 포함한다. 액정 표시 소자에서는 액정 패널 상에 매트릭스 형태로 배열된 액정 셀들의 광투과율을 그에 공급되는 비디오 데이터 신호로 조절함으로써 데이터 신호에 해당하는 화상을 패널 상에 표시하게 된다.In general, the liquid crystal display device includes a thin film transistor substrate on which a thin film transistor is formed, a color filter substrate on which a color filter layer is formed, and a liquid crystal display panel on which a liquid crystal layer is positioned. In the liquid crystal display device, an image corresponding to the data signal is displayed on the panel by adjusting the light transmittance of the liquid crystal cells arranged in a matrix on the liquid crystal panel with a video data signal supplied thereto.

액정 표시 패널은 비발광소자이기 때문에 박막트랜지스터 기판의 후면에는 빛을 조사하기 위한 백라이트 유닛이 위치할 수 있다. 백라이트 유닛에서 조사된 빛은 액정층의 배열상태에 따라 투과량이 조절된다. 또한 액정 표시 패널의 각 화소를 구동하기 위해서, 구동회로와, 구동회로로부터 구동신호를 받아 표시영역 내의 데이터선과 게이트선 등의 신호선에 전압을 인가하는 데이터 드라이버와 게이트 드라이버가 마련되어 있다.Since the liquid crystal display panel is a non-light emitting device, a backlight unit for irradiating light may be disposed on the rear surface of the thin film transistor substrate. Light transmitted from the backlight unit is controlled according to the arrangement of the liquid crystal layer. In addition, in order to drive each pixel of the liquid crystal display panel, a driving circuit and a data driver and a gate driver for receiving a driving signal from the driving circuit and applying a voltage to signal lines such as data lines and gate lines in the display area are provided.

이러한 종래 액정 표시 패널을 제조하기 위한 제조 공정은 박막 트랜지스터 어레이 각각과 컬러필터 어레이 각각에 형성되는 패터닝 공정, 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판이 액정을 사이에 두고 합착 되는 합착 공정, 불량 액정 표시 패널을 검출하는 검사 공정 등으로 나누어진다.The manufacturing process for manufacturing the conventional liquid crystal display panel includes a patterning process formed on each of the thin film transistor array and the color filter array, a bonding process in which the thin film transistor substrate and the color filter substrate are bonded together with the liquid crystal interposed therebetween, and a bad liquid crystal display panel. It is divided into the inspection process to detect.

이 중 검사 공정은 액정 표시 패널에 구동 집적회로를 부착하기 전의 상태에서 액정 표시 패널의 불량 유무를 검사하게 된다. 즉, 액정 표시장치의 TFT-LCD 어레이 완성 후 어레이 검사를 용이하게 하기 위하여 쇼팅바(shorting bar)가 필요하다.Among these inspection processes, the liquid crystal display panel is inspected for defects before the driving integrated circuit is attached to the liquid crystal display panel. That is, a shorting bar is required to facilitate the array inspection after the TFT-LCD array of the liquid crystal display is completed.

쇼팅바는 각 게이트 라인에 연결되는 하나의 쇼팅바와 각 데이터 라인에 연결되는 다른 하나의 쇼팅바로 구성되어, 어레이 검사시 게이트 라인의 단락 유무를 체크하기 위해 각 게이트 라인이 연결된 쇼팅바에 전원을 인가하고 각 게이트 라인의 반대쪽에서 체크하여 게이트 라인의 단락 유무를 체크하며, 데이터 라인도 마찬가지 방법으로 체크한다.The shorting bar is composed of one shorting bar connected to each gate line and the other shorting bar connected to each data line. Check on the opposite side of each gate line to check the short circuit of the gate line, and also check the data line in the same manner.

도 1은 종래의 쇼팅바가 설치된 종래의 액정 표시 패널의 예시도이다. 이에 도시된 바와 같이, 먼저, 쇼팅바가 설치된 종래의 액정 표시 패널은 기판상에 일정한 간격을 갖고 일 방향으로 복수 개의 게이트 라인(21)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(21)에 수직 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수 개의 데이터 라인(22)이 배열된다.1 is an exemplary view of a conventional liquid crystal display panel provided with a conventional shorting bar. As shown in the drawing, first, in a conventional liquid crystal display panel provided with a shorting bar, a plurality of gate lines 21 are arranged in one direction at regular intervals on a substrate, and are fixed in a direction perpendicular to each of the gate lines 21. A plurality of data lines 22 are arranged at intervals.

상기 각 게이트 라인(21)과 데이터 라인(22)의 일측 끝단에는 게이트 패드(23) 및 데이터 패드(24)가 형성되며, 상기 각 게이트 패드(23)에 마주보는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수 개의 게이트 입력 패드(27)가 형성되고, 상기 데이터 패드(24)에도 마주보는 부분에 일정 간격을 갖고 복수 개의 데이터 입력 패드(28)가 형성된다.Gate pads 23 and data pads 24 are formed at one end of each of the gate lines 21 and the data lines 22, and a plurality of gate pads 23 and data pads 24 are formed at predetermined intervals to face the gate pads 23. A gate input pad 27 is formed, and a plurality of data input pads 28 are formed at regular intervals on the data pad 24 facing each other.

여기서, 각 게이트 패드(23)에 마주보도록 게이트 입력 패드(27)가 형성된 부분이 게이트 구동 IC 실장 영역(29)이고, 각 데이터 패드(24)에 마주보도록 데이터 입력 패드(28)가 형성된 부분이 데이터 구동 IC 실장 영역(20)이다.Here, the portion where the gate input pad 27 is formed to face each gate pad 23 is the gate driving IC mounting region 29, and the portion where the data input pad 28 is formed to face each data pad 24 is shown. The data driver IC mounting area 20 is provided.

그리고, 상기 게이트 구동 IC 실장 영역(29) 및 데이터 구동 IC 실장 영역(20)에 제 1 쇼팅바(25) 및 제 2 쇼팅바(26)가 형성된다. 즉, 제 1 쇼팅바(25)는 각 게이트 패드(23)와 게이트 입력 패드(27) 사이에 형성되고, 각 게이트 패드(23)는 제 1쇼팅바(25)에 연결된다. 또한 제 2 쇼팅바(26)는 각 데이터 패드(24)와 데이터 입력 패드(28) 사이에 형성되고, 각 데이터 패드(24)는 제 2 쇼팅바(26)에 연결된다.In addition, a first shorting bar 25 and a second shorting bar 26 are formed in the gate driving IC mounting area 29 and the data driving IC mounting area 20. That is, the first shorting bar 25 is formed between each gate pad 23 and the gate input pad 27, and each gate pad 23 is connected to the first shorting bar 25. In addition, the second shorting bar 26 is formed between each data pad 24 and the data input pad 28, and each data pad 24 is connected to the second shorting bar 26.

도 2는 종래기술에 의한 쇼트바를 이용한 테스트를 설명하기 위한 도면이다. 여기에 도시된 바와 같이 전도체인 쇼트바(30)를 패널(31)상에 형성된 콘넥터 패턴(32)에 밀착시켜 전원을 공급하게 되는데, 도면에서 보는 바와 같이 전극단자(32)의 높이가 일정한 부분(A)에서는 전원이 균일하게 공급되지만 전극단자(32)의 높이가 서로 다를 경우 접촉되지 않는 전극단자(B)이 발생하게 될 뿐만 아니라 열공정에 의해 패널의 평면도가 변할 경우 전극단자의 높이가 동일하더라도 접촉되지 않는 부분(B)이 발생하게 되어 정확한 테스트가 이루어질 수 없는 문제점이 있다.2 is a view for explaining a test using a short bar according to the prior art. As shown here, the short bar 30, which is a conductor, is in close contact with the connector pattern 32 formed on the panel 31 to supply power, and as shown in the drawing, a portion having a constant height of the electrode terminal 32 is provided. In (A), the power is uniformly supplied, but when the heights of the electrode terminals 32 are different from each other, the electrode terminals B which are not in contact with each other are generated. Even if it is the same, there is a problem that a portion (B) that does not come into contact occurs so that an accurate test cannot be made.

또한, 기술의 발전에 따라 전극단자의 폭이 점차 얇아지고 있다. 즉, 동일한 공간 내에 더 많은 패턴을 수용하기 위해 그 폭이 점차 좁아지고 있어, 종래의 기술에 따른 표시 패널 검사용 테스트 소켓으로는 전극단자의 단락 여부에 대한 테스트를 수행할 수 없다는 문제점이 있다.
In addition, with the development of technology, the width of electrode terminals is gradually getting thinner. That is, since the width thereof is gradually narrowed to accommodate more patterns in the same space, there is a problem in that a test socket for display panel inspection according to the related art cannot test whether the electrode terminal is shorted.

본 발명은 표시 패널의 불량 유무를 한 번에 확인할 수 있는 표시 패널 검사용 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a display panel inspection socket capable of confirming whether or not a display panel is defective at a time.

본 발명의 다른 목적은 표시 패널의 전극단자의 높이 차에 의한 접촉 에러를 방지할 수 있는 표시 패널 검사용 소켓을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a display panel inspection socket capable of preventing a contact error caused by a difference in height between electrode terminals of a display panel.

본 발명의 또 다른 목적은 표시 패널의 불량 유무를 각 전극단자별로 확인할 수 있는 표시 패널 검사용 소켓을 제공하는 것이다.
Still another object of the present invention is to provide a display panel inspection socket capable of confirming whether a display panel is defective or not for each electrode terminal.

이러한 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓은 플렉시블 인쇄회로기판; 상기 플렉시블 인쇄회로기판의 밑면에) 연결된 단자부(lead); 상기 단자부의 하면에 연결되어, 표시 패널에 형성된 다수의 전극단자에 맞닿아 전기적으로 도통할 수 있는 다수의 도전성 탄성체들이 내삽된 탄성판(elastic plate)을 포함하여 이루어지는 점이다.Display panel inspection socket according to the present invention for achieving these objects is a flexible printed circuit board; A terminal connected to the bottom of the flexible printed circuit board; A plurality of conductive elastic bodies connected to the lower surface of the terminal unit and electrically connected to the plurality of electrode terminals formed on the display panel may be interleaved with an elastic plate.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들이 표시 패널의 다수의 전극단자 중 적어도 두 개 이상의 전극단자들과 전기적으로 도통할 수 있는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspecting socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers can be electrically connected to at least two or more electrode terminals of the plurality of electrode terminals of the display panel.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들이 일부 전극단자들에 중첩되어 도통하는 부분을 갖는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers have a portion that is conductively overlapped with some electrode terminals.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 도전성 탄성체가 표시 패널에 형성된 다수의 전극단자들과 일대일(1:1)로 매칭하도록 상기 탄성판(elastic plate)에 삽입되는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the conductive elastic body is inserted into the elastic plate so as to match one-to-one (1: 1) with a plurality of electrode terminals formed on the display panel. .

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들이 표시 패널의 다수의 전극단자 중 적어도 두 개 이상의 전극단자들과 전기적으로 도통할 수 있는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspecting socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers may be electrically connected to at least two or more electrode terminals of the plurality of electrode terminals of the display panel.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들은 상기 표시 패널의 다수의 전극단자들이 배열된 방향에 평행하게 동일한 방향으로 배열되되 일렬을 이루는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspecting socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers are arranged in a line in the same direction parallel to the direction in which the plurality of electrode terminals of the display panel are arranged.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들은 상기 표시 패널의 다수의 전극단자들이 배열된 방향에 평행하게 동일한 방향으로 배열되되 다수의 열을 이루는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspecting socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers are arranged in the same direction in parallel to the direction in which the plurality of electrode terminals of the display panel are arranged to form a plurality of rows.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 다수의 도전성 탄성체들은 원기둥의 형태로 상기 탄성판(elastic plate)에 삽입된 점이다. Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the plurality of conductive elastomers are inserted into the elastic plate in the form of a cylinder.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 표시 패널은 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)인 점이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the display panel is a liquid crystal display.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 전극단자는 20㎛ 이하의 폭을 갖는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the electrode terminal has a width of 20 μm or less.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 전극단자와 접촉하는 도전성 탄성체가 180㎛ 이상의 높이를 갖는 점이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the conductive elastic body in contact with the electrode terminal has a height of 180 μm or more.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 도전성 탄성체(conductive elastic body)가 실리콘에 도전성 금속입자를 혼합한 것이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the conductive elastic body mixes conductive metal particles with silicon.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 도전성 탄성체(conductive elastic body)가 표면에 도전성 금속을 도금한 것이다.Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the conductive elastic body is plated with a conductive metal on the surface thereof.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 단자부는 상기 도전성 탄성체(conductive elastic body)에 선택적으로 전원을 제공하는 점이다.본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 또 다른 세부적 특징은 상기 단자부는 상기 도전성 탄성체(conductive elastic body)를 그룹으로 구분하여 선택적으로 전원을 제공하는 점이다.
Another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention is that the terminal portion selectively supplies power to the conductive elastic body. Still another detailed feature of the display panel inspection socket according to the present invention. The terminal unit may selectively provide power by dividing the conductive elastic body into groups.

본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓에 의한 효과는 다음과 같다. Effects of the display panel inspection socket according to the present invention are as follows.

첫째, 단일 동작만으로 표시 패널 회로의 단락 여부를 확인할 수 있다.First, it is possible to check whether the display panel circuit is shorted by a single operation.

둘째, 표시 패널의 전극단자의 높이 차에 의한 접촉 에러로 인한 테스트 오류를 방지할 수 있다.Second, it is possible to prevent a test error due to a contact error due to a difference in height between electrode terminals of the display panel.

셋째, 표시 패널의 전극단자별로 단락 여부를 확인할 수 있다.
Third, it is possible to check whether a short circuit occurs for each electrode terminal of the display panel.

도 1은 종래의 쇼팅바가 설치된 종래의 액정 표시 패널의 예시도이다.
도 2는 종래기술에 의한 쇼트바를 이용한 테스트를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓을 적용하여 검사하기 위한 표시패널의 전극단자 부위를 나타낸 예시도이다.
도 4는 도 3의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 사시도이다.
도 6은 도 5의 A-A'선 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 접촉단자와 전극단자의 상태를 나타낸 예시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓 중 탄성판과 도전성 탄성체의 구성을 나타낸 예시도이다.
도 9는 도 8의 B-B'선 단면도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 접촉단자와 전극단자의 상태를 나타낸 예시도이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 표시 패널 검사용 소켓 중 탄성판과 도전성 탄성체의 구성을 나타낸 예시도이다.
도 12는 도 11의 C-C'선 단면도이다.1 is an exemplary view of a conventional liquid crystal display panel provided with a conventional shorting bar.
2 is a view for explaining a test using a short bar according to the prior art.
3 is an exemplary view showing an electrode terminal portion of a display panel for inspecting by applying the display panel inspection socket according to the present invention.
4 is a cross-sectional view of Fig.
5 is a perspective view of a socket for inspecting a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 5.
7 is an exemplary view illustrating a state of contact terminals and electrode terminals of a display panel inspection socket according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is an exemplary view illustrating a configuration of an elastic plate and a conductive elastic body in a socket for inspecting a display panel according to another embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 8.
10 is an exemplary view illustrating a state of contact terminals and electrode terminals of a display panel inspecting socket according to another exemplary embodiment of the present disclosure.
11 is an exemplary view illustrating a configuration of an elastic plate and a conductive elastic body of the socket for inspecting the display panel according to another exemplary embodiment of the present invention.
12 is a cross-sectional view taken along the line CC ′ of FIG. 11.

이하에서, 첨부된 도면을 참조로 본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the socket for inspecting the display panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 표시 패널 검사용 소켓을 적용하여 검사하기 위한 표시패널의 전극단자 부위를 나타낸 예시도이다. 도시된 바와 같이, 길이 방향으로 함몰되어 골을 형성하는 절연체(220)와, 상기 절연체(220)의 골 사이 함몰부의 하단에 전극단자(210)가 배치된다. 상기 전극단자(210)는 표시 패널의 단자 회로부에 연결되는 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 될 수 있다.3 is an exemplary view showing an electrode terminal portion of a display panel for inspecting by applying the display panel inspection socket according to the present invention. As illustrated, the insulator 220 is recessed in the longitudinal direction to form a valley, and the electrode terminal 210 is disposed at the lower end of the depression between the valleys of the insulator 220. The electrode terminal 210 may be a gate line and / or a data line connected to the terminal circuit of the display panel.

표시 패널은 다양한 형태가 될 수 있다. 예를 들어, 박막트랜지스터 액정 디스플레이 장치(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)가 될 수 있다.The display panel may be in various forms. For example, it may be a thin film transistor liquid crystal display.

도 4는 도 3의 단면도이다. 상기 골 사이의 함몰부의 높이는 10㎛이하이고 바람직하게는 5㎛의 높이(도 10의 "h")를 갖는다. 상기 전극단자(210)의 폭(도 10의 "g")은 20㎛이하의 값을 갖는데, 바람직하게는 17㎛의 폭을 갖는다.4 is a cross-sectional view of FIG. 3. The height of the depressions between the valleys is 10 mu m or less and preferably has a height of 5 mu m (" h " in FIG. 10). The width of the electrode terminal 210 ("g" in Figure 10) has a value of 20㎛ or less, preferably has a width of 17㎛.

도 5는 본 발명의 일 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 사시도이다.5 is a perspective view of a socket for inspecting a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓은 평판형의 플렉시블 인쇄회로기판(140)과, 상기 플렉시블 인쇄회로기판(140)의 밑면에 연결된 단자부(lead)(130), 상기 단자부(130)의 하면에 연결되어, 표시 패널의 절연체(220)에 일정 간격으로 형성된 다수의 전극단자(210)에 맞닿아 전기적으로 도통할 수 있는 다수의 장방형 도전성 탄성체(110)들이 내삽된 탄성판(elastic plate)(120)을 포함하여 이루어진다.As shown, the display panel inspection socket according to an embodiment of the present invention is a flat flexible printed circuit board 140, a terminal 130 connected to the bottom of the flexible printed circuit board 140, A plurality of rectangular conductive elastic bodies 110 connected to a lower surface of the terminal unit 130 and electrically contacting the plurality of electrode terminals 210 formed at predetermined intervals on the insulator 220 of the display panel are interpolated. It comprises an elastic plate (120).

상기 도전성 탄성체(conductive elastic body)(110)는 실리콘에 도전성 금속입자(동, 니켈, 그라파이트 등)을 혼합하거나, 또는 이의 표면에 도전성 금속(은, 동)을 도금한 것을 사용하는 것이 바람직하다. 다른 재질로는 탄소나노튜브, 그래핀 등 도전성을 가지는 비금속 도전성 입자나 물질중 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 것도 가능하다. 본 예시도에는 타원형으로 도시되었으나, 직사각형, 등의 형태를 가질 수도 있다.The conductive elastic body 110 may be formed by mixing conductive metal particles (copper, nickel, graphite, etc.) with silicon, or plating a conductive metal (silver, copper) on the surface thereof. Other materials may include any one or more selected from conductive non-metal conductive particles or materials such as carbon nanotubes and graphene. Although illustrated as an elliptical shape in this example, it may have a shape such as a rectangle.

도 6은 도 5의 A-A'선 단면도이다. 도시된 바와 같이, 전극단자와 접촉하는 도전성 탄성체(110)의 높이("a")는 탄성판의 높이("b")보다 높은 것을 알 수 있다. 따라서, 표시 패널의 전극단자와 맞닿는 도전성 탄성체(110)의 하면은 탄성판(120)의 하면으로부터 돌출된 형상을 가진다. 바람직하게는 상기 도전성 탄성체(110)는 180㎛ 이상의 높이를 가지고, 상기 탄성판(120)의 높이("b")는 150㎛ 이상의 높이를 갖는다. 단자부(130)의 높이("c")는 10㎛ 이상의 높이를 갖는다. 한편, 상기 도전성 탄성체(110)의 하면으로부터 플렉시블 인쇄회로기판(140)의 상면까지의 전체 높이("t")는 약 250㎛를 갖는다.FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 5. As shown, it can be seen that the height "a" of the conductive elastic body 110 in contact with the electrode terminal is higher than the height "b" of the elastic plate. Therefore, the lower surface of the conductive elastic body 110 which contacts the electrode terminal of the display panel has a shape protruding from the lower surface of the elastic plate 120. Preferably, the conductive elastic body 110 has a height of 180 μm or more, and the height “b” of the elastic plate 120 has a height of 150 μm or more. The height "c" of the terminal portion 130 has a height of 10 µm or more. On the other hand, the total height "t" from the lower surface of the conductive elastic body 110 to the upper surface of the flexible printed circuit board 140 is about 250㎛.

도 7은 본 발명의 일 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 접촉단자와 전극단자의 상태를 나타낸 예시도이다.7 is an exemplary view illustrating a state of contact terminals and electrode terminals of a display panel inspection socket according to an exemplary embodiment of the present invention.

도전성 탄성체(110)들은 표시 패널의 다수의 전극단자(210) 중 적어도 두 개 이상의 전극단자들과 전기적으로 도통하는 것을 볼 수 있다. 한편, 도시되지 않았으나, 도 5에서 보는 바와 같이, 도전성 탄성체들(110a, 110b)이 일정 간격을 두고 있으며, 두 도전성 탄성체의 사이에는 그 측면에 중첩되게 배치된 다른 도전성 탄성체(110c)가 있어서, 도전성 탄성체들은 일부 전극단자들에 중첩되어 도통하는 부분을 갖게 된다.The conductive elastomers 110 may be electrically connected to at least two electrode terminals of the plurality of electrode terminals 210 of the display panel. Meanwhile, although not shown, as shown in FIG. 5, the conductive elastomers 110a and 110b are spaced apart from each other, and there are other conductive elastic bodies 110c disposed between the two conductive elastic bodies so as to overlap each other. The conductive elastomers have a portion that overlaps with some electrode terminals to conduct.

도 8은 본 발명의 다른 실시에 따른 표시 패널 검사용 소켓 중 탄성판과 도전성 탄성체의 구성을 나타낸 예시도이다. 도 9는 도 8의 B-B'선 단면도이다.8 is an exemplary view illustrating a configuration of an elastic plate and a conductive elastic body in a socket for inspecting a display panel according to another embodiment of the present invention. FIG. 9 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 8.

도전성 탄성체(310)는 표시 패널에 형성된 다수의 전극단자들과 일대일(1:1)로 매칭하도록 탄성판(elastic plate)(320)에 형성될 수 있다. 각 도전성 탄성체(310)는 원기둥의 형상을 가질 수 있다.The conductive elastic body 310 may be formed on the elastic plate 320 to match one-to-one (1: 1) with a plurality of electrode terminals formed on the display panel. Each conductive elastic body 310 may have a cylindrical shape.

도 10은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시 패널 검사용 소켓의 접촉단자와 전극단자의 상태를 나타낸 예시도이다. 각 도전성 탄성체(310)의 하단이 각각 표시 패널의 전극단자(210)에 맞닿는 것을 나타내고 있다. 10 is an exemplary view illustrating a state of contact terminals and electrode terminals of a display panel inspecting socket according to another exemplary embodiment of the present disclosure. The lower end of each conductive elastic body 310 is in contact with the electrode terminal 210 of the display panel.

전극단자(210)와 각각 접촉하여 전기적으로 도통하는 도전성 탄성체(310)의 상단부에 형성된 단자부(330) 및 그 상부에 구비된 플렉시블 인쇄회로기판(340)을 통해 표시 패널 전극단자(210)의 불량 여부를 검사할 수 있다.Defect of the display panel electrode terminal 210 through the terminal portion 330 formed at the upper end portion of the conductive elastic body 310 that is in electrical contact with the electrode terminal 210 and the flexible printed circuit board 340 provided thereon. You can check whether it is.

이때, 상기 단자부는 전극단자에 개별적으로 전원을 공급하거나, 다수의 도전성 탄성체를 그룹으로 구분하여 전원을 공급할 수 있다. 즉, 개별 전극단자의 불량 여부 및 소정 부위를 그룹으로 구분하여 해당 그룹의 불량 여부도 판별할 수 있다.In this case, the terminal unit may separately supply power to the electrode terminal, or a plurality of conductive elastic bodies may be divided into groups to supply power. That is, it is possible to determine whether the individual electrode terminal is defective or whether the corresponding group is defective by dividing the predetermined region into groups.

도 11은 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 표시 패널 검사용 소켓 중 탄성판과 도전성 탄성체의 구성을 나타낸 예시도이다. 도 8의 구성에서 다수의 도전성 탄성체(310)가 표시 패널의 전극단자가 배열된 방향에 나란히 일렬을 이루며 구성된 것과 달리, 본 실시 예에서는 각 도전성 탄성체(320)이 표시 패널의 전극단자가 배열된 방향에 평행하게 동일한 방향으로 배열되되 서로 예각을 이루며 빗겨서 위치하여, 다수의 열을 이룰 수도 있다. 11 is an exemplary view illustrating a configuration of an elastic plate and a conductive elastic body of the socket for inspecting the display panel according to another exemplary embodiment of the present invention. Unlike the plurality of conductive elastic bodies 310 arranged in line in the direction in which the electrode terminals of the display panel are arranged in the configuration of FIG. 8, in the present exemplary embodiment, each of the conductive elastic bodies 320 includes the electrode terminals of the display panel. Arranged in the same direction parallel to the direction but at an acute angle and combing each other, may form a plurality of rows.

도 12는 도 11의 C-C'선 단면도이다. 도시된 바와 같이, 각 도전성 탄성체(320)가 연이어 형성되지는 않지만 각 도전성 탄성체 각각은 표시 패널의 전극단자에 맞닿는 구조를 이룰 수도 있다.12 is a cross-sectional view taken along the line CC ′ of FIG. 11. As illustrated, although each conductive elastic body 320 is not formed in succession, each of the conductive elastic bodies may have a structure in contact with the electrode terminal of the display panel.

이상에서는 표시 패널의 일측에 대해서만 설명하고 있지만, 이러한 테스트 소켓이 표시 패널의 상ㆍ하ㆍ좌ㆍ우의 변에 각각 놓여 어느 두 테스트 소켓에 전원을 인가하여 도통여부를 확인하므로써 일시에 전체적인 표시패널의 단락 여부를 확인할 수 있다.Although only one side of the display panel has been described above, these test sockets are placed on the upper, lower, left, and right sides of the display panel, respectively, and power is supplied to either of the test sockets to check whether or not the test panel is connected. You can check whether there is a short circuit.

다수의 전극단자(210)의 폭("g") 보다는 도전성 탄성체(310)의 폭("f")이 좁은 것을 알 수 있다. 한편, 절연체(220)의 함몰 부위 하단부에 형성되는 전극단자(210)의 표면과 절연체(220)의 상면과의 높이 차("h")는 약 5㎛의 범위를 가진다.It can be seen that the width "f" of the conductive elastic body 310 is smaller than the width "g" of the plurality of electrode terminals 210. On the other hand, the height difference "h" between the surface of the electrode terminal 210 and the upper surface of the insulator 220 formed at the lower end of the recessed portion of the insulator 220 has a range of about 5㎛.

도전성 탄성체들 사이의 간격("e")은 각 전극단자(210)들 사이의 간격("d") 보다는 큰 값을 가진다. 왜냐하면, 위에서 말한 바와 같이, 도전성 탄성체(310)의 폭이 전극단자(210)의 폭보다는 작은 값을 가지기 때문이다.The spacing "e" between the conductive elastomers has a larger value than the spacing "d" between the electrode terminals 210. This is because, as mentioned above, the width of the conductive elastic body 310 has a smaller value than the width of the electrode terminal 210.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas falling within the scope of the same shall be construed as falling within the scope of the present invention.

110,310 : 도전성 탄성체 120, 320 : 탄성판
130,330 : 단자부 140,340 : 플렉시블 인쇄회로기판
210 : 전극단자 220 : 절연체110,310: conductive elastomer 120, 320: elastic plate
130,330: Terminal 140,340: Flexible printed circuit board
210: electrode terminal 220: insulator

Claims (12)

플렉시블 인쇄회로기판;
상기 플렉시블 인쇄회로기판의 일면에 형성된 단자부(lead);
상기 단자부의 일면에 연결되어, 표시 패널에 형성된 다수의 전극단자에 맞닿아 전기적으로 도통할 수 있는 다수의 도전성 탄성체(conductive elastic body)들이 내삽된 탄성판(elastic plate)을 포함하여 이루어지는 표시 패널 검사용 소켓.
Flexible printed circuit boards;
A terminal portion formed on one surface of the flexible printed circuit board;
Display panel inspection, comprising an elastic plate interposed between a plurality of conductive elastic bodies connected to one surface of the terminal portion and electrically conductive to a plurality of electrode terminals formed on the display panel. Socket.
제 1 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 표시 패널의 다수의 전극단자 중 적어도 두 개 이상의 전극단자들과 전기적으로 도통할 수 있는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket of claim 1, wherein the plurality of conductive elastomers are electrically connected to at least two electrode terminals of the plurality of electrode terminals of the display panel.
제 2 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 일부 전극단자들에 중첩되어 도통하는 부분을 갖는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The display panel inspection socket of claim 2, wherein the plurality of conductive elastomers have a portion overlapping with some electrode terminals to conduct.
제 1 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 상기 표시 패널의 다수의 전극단자들에 일대일(1:1)로 매칭하도록 상기 탄성판에 삽입된 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The display panel inspection socket of claim 1, wherein the plurality of conductive elastomers are inserted into the elastic plate to match one-to-one (1: 1) of the plurality of electrode terminals of the display panel.
제 4 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 상기 표시 패널의 다수의 전극단자들이 배열된 방향에 평행하게 동일한 방향으로 배열되되 일렬을 이루는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel of claim 4, wherein the plurality of conductive elastomers are arranged in the same direction in parallel with a direction in which the plurality of electrode terminals of the display panel are arranged.
제 4 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 상기 표시 패널의 다수의 전극단자들이 배열된 방향에 평행하게 동일한 방향으로 배열되되 다수의 열을 이루는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel of claim 4, wherein the plurality of conductive elastomers are arranged in the same direction in parallel to the direction in which the plurality of electrode terminals of the display panel are arranged.
제 4 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 다수의 도전성 탄성체들은 장방형의 형태로 상기 탄성판에 삽입된 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel according to any one of claims 4 to 6, wherein the plurality of conductive elastomers are inserted into the elastic plate in a rectangular shape.
제 1 항에 있어서, 상기 표시 패널은 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)인 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel according to claim 1, wherein the display panel is a liquid crystal display.
제 1 항에 있어서, 상기 도전성 탄성체는 실리콘, 절연성고무, 우레탄, 스펀지, 발포제, 젤라틴, 복합재료 탄성체 중 어느 하나에 도전성 입자를 혼합한 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel according to claim 1, wherein the conductive elastomer is a mixture of conductive particles in any one of silicone, insulating rubber, urethane, sponge, foaming agent, gelatin, and composite elastomer.
제 1 항에 있어서, 상기 도전성 탄성체는 탄소나노튜브 또는 그래핀의 비금속 도전성 입자 중 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The display panel inspection socket of claim 1, wherein the conductive elastomer comprises at least one selected from non-metal conductive particles of carbon nanotubes or graphene.
제 1 항에 있어서, 상기 단자부는 상기 도전성 탄성체에 선택적으로 전원 또는 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel of claim 1, wherein the terminal unit selectively supplies a power or a signal to the conductive elastic body.
제 11 항에 있어서, 상기 단자부는 상기 도전성 탄성체를 그룹으로 구분하여 선택적으로 전원 또는 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사용 소켓.
The socket for inspecting a display panel of claim 11, wherein the terminal unit selectively provides a power or a signal by dividing the conductive elastic body into groups.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101571631B1 (en) 2014-07-08 2015-11-25 희성전자 주식회사 Method for inspecting sensor electrode of touch pannel
WO2020177316A1 (en) * 2019-03-01 2020-09-10 云谷（固安）科技有限公司 Test system and signal transmission circuit board thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0719812B2 (en) * 1987-04-09 1995-03-06 東京エレクトロン株式会社 Inspection equipment
KR20080000999A (en) * 2006-06-28 2008-01-03 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Testing apparatus of flat display panel
KR100928881B1 (en) 2005-01-11 2009-11-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Inspection Contact and Probe Card

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0719812B2 (en) * 1987-04-09 1995-03-06 東京エレクトロン株式会社 Inspection equipment
KR100928881B1 (en) 2005-01-11 2009-11-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Inspection Contact and Probe Card
KR20080000999A (en) * 2006-06-28 2008-01-03 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Testing apparatus of flat display panel

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101571631B1 (en) 2014-07-08 2015-11-25 희성전자 주식회사 Method for inspecting sensor electrode of touch pannel
WO2020177316A1 (en) * 2019-03-01 2020-09-10 云谷（固安）科技有限公司 Test system and signal transmission circuit board thereof
US11650245B2 (en) 2019-03-01 2023-05-16 Yungu (Gu'an) Technology Co., Ltd. Test system and signal transmission circuit board thereof

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