KR101337515B1 - 레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자 - Google Patents

레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자 Download PDF

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Abstract

본 발명은 레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자에 관한 것으로, 본 발명에 따른 산화물 박막 소자의 제조방법은 성장 기판 상에 산화물 박막을 형성하는 단계; 상기 산화물 박막에 임시 기판을 접합하는 단계; 상기 성장 기판 상에 레이저를 조사하여 상기 성장 기판으로부터 상기 임시 기판이 접합된 산화물 박막을 분리하는 단계; 상기 분리된 임시 기판이 접합된 산화물 박막에 소자 기판을 접합하는 단계; 상기 임시 기판을 분리하는 단계; 및 상기 산화물 박막에 상부 전극막을 형성하는 단계를 포함하며, 이와 같은 방법은 레이저 리프트 오프시 폴리머 계열의 임시 기판에 전사한 산화물 박막을 소자 기판에 다시 전사시켜 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성되는 결함층이 형성된 계면을 사용하지 않아, 결함층의 문제를 해소할 수 있다.

Description

레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자 {Method of Manufacturing Oxide Thin Film Device by Laser Lift-Off and Oxide Thin Film Device Manufactured by the Same}
본 발명은 레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자에 관한 것으로, 보다 상세하게는 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성된 결함층이 형성된 계면을 사용하지 않고 폴리머 계열의 임시 기판에 전사한 산화물 박막을 소자 기판에 다시 전사하는 레이저 리프트 오프 방법을 이용한 산화물 박막 소자의 제조 방법 및 이로부터 제조된 산화물 박막 소자에 관한 것이다.
지난 10여 년 동안 전자 산업의 기술이 비약적으로 발전함에 따라 소자의 소형화와 더불어 소비 전력이 감소하게 됨에 따라 현재의 폐기 가능한 배터리를 대치할 수 있는 새로운 방법의 전원 개발에 대한 연구로 압력, 힘, 진동과 같은 기계 에너지를 전기 에너지로 전환 가능한 압전 재료에 대한 연구가 활발히 이루어지고 있다.
이러한 압전 하베스팅 기술은 USN, 휴대기기 등의 자체 소자 전원으로 발전 개발되어 질 수 있으며, 이들을 플렉서블 박막 소자화함으로써 그 사용처의 다변화 및 확장을 이룰 수 있을 것으로 전망되고 있어 플렉서블 압전 에너지 하베스팅 기술 개발에 대한 요구가 매우 크게 부각되고 있다.
이러한 플렉서블 소자는 유연성이 요구되므로 폴리머와 같은 유기물 기판을 사용하고, 그 상면에 기능부를 구성하는 박막을 유기박막으로 채용하고 있다. 그러나, 유기박막으로 구현된 기능부는 고성능을 보장하기 어려우므로, 무기물로서 플렉서블 소자의 기능부를 구현할 필요가 있다. 이 경우, 압전소재의 고온 성장 공정이 유기물인 플렉서블 기판에 직접 적용되기 어려우므로, 다른 성장기판 상에 산화물 박막과 같은 무기물로 형성된 박막을 성장시킨 후 이를 유기물 기판에 전사하는 박막 전사기술이 사용된다.
또한, 일반적으로 박막 전사기술은 적층 후 분리하는 공정이 요구된다. 보다 구체적으로, 피전사체인 박막을 도너 기판(donor substrate)으로부터 분리시키기 위해 억셉터 기판(acceptor substrate)에 적층시킨 후에 레이저 리프트 오프(LLO) 공정을 이용하여 도너 기판으로부터 분리한다. 그러나, 레이저 리프트 오프 공정의 경우 레이저에 의해 피전사체인 박막 소자의 표면에 결함층이 형성되는 문제가 있어 소자 특성 향상에 많은 문제점을 야기하고 있다.
한국 공개특허공보 제2007-0068530호(출원인: 삼성전자주식회사, 공개일: 2007. 7. 2)에서는 질화갈륨계 반도체로 구성된 질화갈륨계 반도체를 이용한 전자 및 광전자 소자용 기판 제조 방법이 제시되어 있으며, 구체적으로 최초 성장 기판인 사파이어 기판 상층부에 그룹 3족 질화물계로 구성된 제 1 에피택셜 적층구조를 형성하는 단계, 1000℃ 이상의 고온에서 열적 안정성을 지닌 30 마이크로미터 이상의 두께를 지닌 후막층을 형성하는 단계, 레이저 리프트 오프 기법을 통한 사파이어 기판을 분리하는 단계, 최종적으로 제 1 에피택셜 적층구조의 건식 에칭 공정을 이용하여 표면처리를 진행하는 공정을 진행하여 질화갈륨계 반도체를 이용한 전자 및 광전자 소자용 기판 제조 방법을 제시하고 있다.
또한, 논문[C. H. Lee et. al.“Use of laser lift-off for flexible device applications”, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 108, 102814 (2010)] 에서는 PLZT 박막을 이용한 플렉서블 소자 제조 방법이 제시되어 있으며, 구체적으로 성장 기판 상에 산화물 박막을 형성하는 단계; 상기 산화물 박막에 전극층을 형성하는 단계; 상기 전극층에 소자 기판을 접합하는 단계; 상기 성장 기판 상에 레이저를 조사하여 상기 소자 기판이 접합된 산화물 박막을 분리하는 단계; 상기 분리된 산화물 박막의 표면에 이온 밀링법을 이용하여 표면 처리하는 단계; 최종적으로 상기 산화물 박막 상에 전극층을 형성하여 박막 소자를 만드는 공정을 이용하여 플렉서블 박막 소자를 제조하는 방법을 제시하고 있고 있다.
이러한 이온 밀링과 건식 에칭을 이용한 표면 처리 방법은 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성된 결함층을 제거하기 위한 공정으로 결함층에 대한 식각만을 진행하여 소자 박막에 대한 물리적 데미지로 인한 또 다른 결함을 만드는 문제를 안고 있으며, 이로 인해 기존 물성을 잃게 되는 문제를 가지고 있으며, 그로 인해 우수한 물성을 가지는 박막 소자 제작이 매우 어려울 뿐만 아니라 공정이 복잡해지고 선택적인 식각이 어려워 실제 소자 제작에 많은 문제점을 가지고 있다.
이에 본 발명자들은 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성된 결함층이 형성된 계면을 사용하지 않고 폴리머 계열의 임시 기판에 전사한 산화물 박막을 소자 기판에 다시 전사하는 방법을 도입함으로써 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성된 결함층에 따른 문제를 해결할 수 있음을 발견하고 본 발명을 완성하였다.
대한민국 공개특허공보 제2007-0068530호
논문[C. H. Lee et. al."Use of laser lift-off for flexible device applications", JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 108, 102814 (2010)]
따라서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성되는 결함층이 형성된 계면을 사용하지 않고, 대신 레이저 리프트 오프시 폴리머 계열의 임시 기판에 전사한 산화물 박막을 소자 기판에 다시 전사하는 방법을 이용한 새로운 산화물 박막 소자의 제조 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 과제는 상기 새로운 산화물 박막 소자의 제조방법을 통해 제조된 산화물 박막 소자를 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은
성장 기판 상에 산화물 박막을 형성하는 단계;
상기 산화물 박막에 임시 기판을 접합하는 단계;
상기 성장 기판 상에 레이저를 조사하여 상기 성장 기판으로부터 상기 임시 기판이 접합된 산화물 박막을 분리하는 단계;
상기 분리된 임시 기판이 접합된 산화물 박막에 소자 기판을 접합하는 단계;
상기 임시 기판을 분리하는 단계;
상기 산화물 박막에 상부 전극막을 형성하는 단계를 포함하는 산화물 박막 소자의 제조 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 산화물 박막 소자의 제조방법에서, 상기 성장 기판은 상기 조사하는 레이저의 파장에 해당하는 에너지 보다 에너지 밴드갭이 큰 것이 바람직하다.
또한, 상기 산화물 박막은 상기 레이저 조사에 의하여 결정질이 비정질화되어 분해 가능하며, 그의 에너지 밴드갭이 상기 성장 기판의 에너지 밴드갭보다 낮은 것이 바람직하다.
상기 산화물 박막으로는 PZT, PLZT, SBT, SBTN, BIT, BLT, PMN-PT 및 PZN-PT의 페로브스카이트 물질 및 ZnO, MgO, CdO의 이원산화물로 이루어진 군에서 일종 이상 선택되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 임시 기판은 폴리디메틸실록산(PDMS, polydimethylsiloxane), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA, Polymethylmethacrylate), 폴리카보네이트(polycarbonate), 폴리시클릭 올레핀(polycyclic olefine), 폴리이미드(polyimide) 및 폴리우레탄 (polyurethane)으로 이루어진 군에서 선택되는 것이 바람직하다.
상기 레이저는 상기 성장 기판과 상기 산화물 박막의 밴드갭(Band gap) 사이의 에너지를 갖는 것이 바람직하다.
상기 소자 기판은 반도체 기판, 산화물 기판, 또는 플렉서블 기판이 바람직하다.
상기 상부 전극막은 Pt, Au, Al, Cu, Ti 및 이들의 합금으로 이루어진 군과 TiN, WN, In2O3:Sn(ITO), SnO2:F(FTO), SrTiO3, 및 LaNiO3으로 이루어진 군에서 일종 이상 선택되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 상부 전극막은 쐐기 모양의 IDE(interdigital electrode) 패턴을 갖는 것이 바람직하다.
또 다른 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 성장 기판 상에 산화물 박막을 형성하는 단계; 상기 박막에 임시 기판을 접합하는 단계; 상기 성장 기판 상에 레이저를 조사하여 상기 성장 기판으로부터 상기 임시 기판이 접합된 산화물 박막을 분리하는 단계; 상기 분리된 임시 기판이 접합된 산화물 박막에 소자 기판을 접합하는 단계; 상기 임시 기판을 분리하는 단계; 상기 산화물 박막 상부에 전극층을 형성하는 단계에 따라 제조된 산화물 박막 소자를 제공한다.
상기 산화물 박막 소자는 박막 트랜지스터, 압전 소자, 태양 전지 및 바이오 센서 중 어느 하나인 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 산화물 박막 소자의 제조방법은 레이저 리프트 오프시 폴리머 계열의 임시 기판에 전사한 산화물 박막을 소자 기판에 다시 전사시켜 레이저 리프트 오프시 산소 확산으로 인하여 형성되는 결함층이 형성된 계면을 사용하지 않아, 결함층의 문제를 해소할 수 있다.
또한, 상부 전극을 적용한 평면 구조(Planar type)를 갖는 산화물 박막 소자의 구조를 구현함으로써 다양한 소자 및 기판에 함께 적용할 수 있게 되었고, 기능성 플렉서블 박막 소자 개발에 기여할 것으로 사료된다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 박막소자를 형성하는 공정단면도이고, 구체적으로, (a)는 산화물 박막이 형성된 성장 기판의 단면도이고, (b)는 임시 기판을 접합한 단면도이고, (c)는 성장 기판에 레이저 빔을 조사하는 단면도이고, (d)는 성장 기판을 분리하는 단면도이고, (e)는 소자 기판을 접합하는 단면도이고, (f)는 임시 기판을 분리하는 단면도이고, (g)는 상부 전극막이 형성된 박막소자의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일구현예에 따라 제작된 플렉서블 압전 에너지 하베스팅 소자의 사진이다.
도 3은 본 발명의 일구현예에 따라 제작된 플렉서블 압전 에너지 하베스팅 소자의 출력 전압 및 전류 특성 그래프이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 산화물 박막소자의 제조방법을 개략적으로 나타내는 공정별 단면도이다.
도 1의 (a)에 도시된 바와 같이, 레이저의 투과가 가능한 성장 기판(11)을 마련한 후, 상기 성장 기판(11) 상에 산화물 박막(12)을 형성한 것이다.
상기 성장 기판(11)은 레이저의 투과가 가능한 것으로, 기판을 구성하는 물질의 밴드갭이 레이저의 파장에 해당하는 에너지보다 0.5 eV 이상 큰 것이 바람직하며, 보다 바람직하게는 1 eV 이상 크고 투명한 기판이 바람직하다.
또한, 상기 성장 기판(11)은 산화물 박막 형성에 적합한 기판일 수 있다. 구체적으로 상기 성장 기판(11)은 우수한 물성을 가지는 산화물 박막 형성 단계에서 요구되는 고온 성장 조건에 맞는 내열성를 갖는 것이 바람직하며, 보다 바람직하게는 산화물 박막과 격자 상수 및 결정구조가 동일 또는 유사한 것이다. 이는 산화물 박막 성장시 결정화 형성을 용이하게 하여 이후 산화물 박막 특성이 향상되는 장점을 갖는 다는 점에서 바람직하다. 이에 따라, 후술하는 플렉서블 산화물 박막 소자에서 우수한 산화물 박막을 형성할 수 있고, 상기 성장 기판(11)상에 형성되는 산화물 박막의 결정성을 향상시킬 수 있다.
예를 들면, 알루미나(Al2O3), 산화마그네슘(MgO), 석영(quartz), 유리(glass), 지르코니아(ZrO2)등의 단단한(rigid) 기판을 사용할 수 있다.
상기 산화물 박막 (12)은 특별히 제한되지 않으나, 레이저 조사에 의하여 결정질이 비정질화되어 분해 가능한 것으로, 상기 성장 기판(11)의 에너지 밴드갭 보다 0.1 eV 이상 낮은 에너지 밴드갭을 가지는 산화물이면 특별히 제한되지 않는다.
예를 들면, PZT(Lead zirconium titanate: Pb(ZrxTi1 -x)O3, 0<x<1), PLZT(lanthanum-doped lead zirconate titanate: PbyLa1 -y(ZrxTi1 -x)O3, 0<x<1, 0<y<0.5), SBT(Strontium bismuth tantalite: SrBi2Ta2O9), SBTN(Strontium barium tantalate noibate), BIT(bismuth titanate Bi4Ti3O12), BLT(bismuth lanthanum titanate: Bi4 - xLaxTi3O12, 0<x<0.5), PMN-PT(Lead magnesium niobate-lead titanate) 및 PZN-PT(Lead zinc niobate-lead titanate) 등의 페로브스카이트 물질 또는 ZnO(Zinc oxide), MgO(Magnesium oxide), CdO(Cadmium oxide) 등의 이원산화물을 포함하는 산화물 박막으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 1종을 이용할 수 있으며, PZT, ZnO를 포함하는 것이 바람직하다.
상기 산화물 박막(12)의 증착 공정으로는 물리 기상 증착(physical vapor deposition; PVD), 화학 기상 증착(chemical vapor deposition; CVD), 스퍼터링(sputtering), 펄스 레이저 증착(pulsed laser deposition; PLD), 증발법(thermal evaporation), 전자빔 증발법(electron beam evaporation), 원자층 증착(atomic layer deposition; ALD) 및 분자선 에피택시 증착(molecular beam epitaxy; MBE), 졸겔(sol-gel)법 등을 이용할 수 있으며, 이 후 열처리를 통하여 보다 우수한 물성을 갖는 산화물 박막을 형성할 수 있다.
상기 산화물 박막(12)의 형성 조건은 성장 방법 및 물질에 따라 달라질 수 있으며, 이 분야에서 일반적으로 사용되는 조건하에서 형성되는 것이 바람직하며, 후열처리 또한 이 분야에서 일반적으로 사용되는 조건하에서 진행될 수 있으며, 산화물 박막의 두께는 박막 전사 공정 조건에 따라 달라질 수 있으며, 예를 들면 300 ㎚내지 200 ㎛의 두께로 형성될 수 있지만, 이것으로 제한되는 것은 아니다.
다음으로, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이, 상기 산화물 박막(12) 상에 폴리머 계열의 임시 기판(13)을 접합한다. 상기 폴리머 계열의 임시 기판(13)은 1 ㎜ 내지 3 ㎝의 두께로 형성되는 것이 바람직하며, 또한, 임시 기판(13)은 그 자체적으로 박막 접합이 가능한 정도의 점도를 가지고 있으므로, 이 분야에서 일반적으로 많이 사용되는 방법으로 접합될 수 있다.
상기 폴리머 계열의 임시 기판(13)은 폴리디메틸실록산(PDMS, polydimethylsiloxane), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA, Polymethylmethacrylate), 폴리카보네이트(polycarbonate), 폴리시클릭 올레핀(polycyclic olefine), 폴리이미드(polyimide) 및 폴리우레탄 (polyurethane)으로 이루어진 군에서 선택될 수 있으며, 폴리디메틸실록산(PDMS)을 선택하는 것이 바람직하다.
다음으로, 도 1의 (c)에 도시된 바와 같이, 임시 기판(13)이 접합된 방향으로 성장 기판(11)에 레이저를 조사한다. 성장 기판(11)에 레이저를 조사하면, 성장기판(11)과 산화물 박막(12) 사이의 계면부분에 결정질이 비정질화되어 분해된다.
상기 레이저의 종류 및 그 조사하는 방법은 특별히 제한되지 않는다. 상기 레이저의 종류는 성장 기판(11)과 산화물 박막(12)의 밴드갭(Band gap) 사이의 에너지를 가지는 레이저를 이용할 수 있으며, 예를 들면, 엑시머 레이저 (excimer laser, 126 ㎚, 146 ㎚, 157 ㎚, 172 ㎚, 175 ㎚, 193 ㎚, 248 ㎚, 282㎚, 308 ㎚, 351 ㎚, 222 ㎚, 259 ㎚) 또는 Nd-YAG 레이저(266 ㎚, 355 ㎚)를 이용할 수 있다. 상기 산화물 박막(12)이 PZT로 형성된 경우에는 248 ㎚ 파장의 엑시머 레이저를 사용하는 것이 바람직하다. 한편, 레이저가 성장 기판(11)의 밴드갭 에너지 보다 크게 되면 레이저가 성장 기판을 통과하지 못하고 성장 기판(11)에 흡수되어 박막 전사가 불가능하며, 레이저가 산화물 박막(12)의 밴드갭 에너지 보다 작게 되면 레이저가 박막에 흡수되지 못하고 통과하여 박막 전사가 불가능할 수 있다.
다음으로, 도 1의 (d)에 도시된 바와 같이, 상기 레이저 조사에 의하여 상기 성장 기판(11)과 산화물 박막(12) 사이의 계면이 분해되면서 산화물 박막(12)으로부터 상기 성장 기판(11)이 분리된다.
다음으로, 도 1의 (e)에 도시된 바와 같이, 상기 분리된 산화물 박막(12) 상에 소자 기판(14)을 접합시킨다. 본 명세서에서 사용되는 “소자 기판”이라는 용어는 전사체로 제공되는 기판으로서 박막 소자를 구성하는 기판에 해당된다.
상기 소자 기판(14)은 반도체 기판, 산화물 기판 및 고분자 물질로 이루어진 플렉서블 기판을 모두 포함하며, 플렉서블 기판을 포함하는 것이 바람직하다. 여기서, 플렉서블 기판이란 종래의 딱딱한 기판과 달리 소정 각도로 휘어지는 특성을 갖는 기판, 예를 들면 플라스틱 기판 등을 총칭하는 용어로 이해될 수 있으며, 폴리이미드(PI, polyimide), 폴리에테르에테르케톤(PEEK, polyetheretherketone), 폴리에테르설폰(PES, polyethersulfone), 폴리에테르이미드(PEI, polyetherimide), 폴리카보네이트(PC, polycarbonate), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN, polyethylenenaphthalate) 및 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET, Polyethylene terephthalate)로 이루어진 군에서 선택된 물질로 형성된 기판이다.
상기 소자 기판(14)의 접합 방법은 모든 화학적, 열적, 물리적 접합 방법이 모두 적용 될 수 있으나, 보다 바람직하게는 유연성을 보장 할 수 있는 폴리머 계열의 에폭시를 사용하여 접합하는 것이 바람직하다.
다음으로, 도 1의 (f)에 도시된 바와 같이, 상기 산화물 박막(12)과 소자 기판(14)을 상기 임시 기판(13)으로부터 분리한다. 상기 임시 기판(13)을 분리하는 방법은 물리적 힘에 의한 방법과 화학적 반응에 의한 방법 등을 모두 포함하며 특별히 한정하지는 않는다.
다음으로, 도 1의 (g)에 도시된 바와 같이, 상기 산화물 박막(12) 상에 상부 전극막(15)을 형성한다. 상부 전극막(15)은 Pt, Au, Al, Cu, Ti 및 이들의 합금으로 이루어진 군과 TiN, WN 등을 포함하는 질화물 전극 물질, In2O3:Sn(ITO), SnO2:F(FTO), SrTiO3, LaNiO3 등을 포함하는 산화물 전극 물질에서 선택된 적어도 1종을 이용하여 형성한다.
상기 상부 전극막(15)은 다양한 증착 공정을 이용하여 형성할 수 있는데, 증착 공정으로는 물리 기상 증착(physical vapor deposition; PVD), 화학 기상 증착(chemical vapor deposition; CVD), 스퍼터링(sputtering), 펄스 레이저 증착(pulsed laser deposition; PLD), 증발법(thermal evaporation), 전자빔 증발법(electron beam evaporation), 원자층 증착(atomic layer deposition; ALD) 및 분자선 에피택시 증착(molecular beam epitaxy; MBE) 등을 이용할 수 있다. 상기 상부 전극막(15)은 이 분야에서 일반적으로 사용되는 두께 범위로 형성될 수 있으며, 예를 들면 50 내지 200 ㎚의 두께로 형성되는 것이지만, 이것으로 제한되는 것은 아니다.
그리고, 상부 전극막(15)을 쉐도우 마스크 또는 드라이 에칭 공정을 통해 패터닝한다. 상부 전극막(15)은 다양한 패턴을 이용할 수 있는데, 바람직하게는 쐐기 모양의 IDE (interdigital electrode) 패턴을 이용하는 것이 바람직하다.
상기와 같은 방법으로 제조된 본 발명에 따른 산화물 박막 소자는 상부 전극 쌍을 적용한 평면 구조(Planar type)를 갖는 산화물 박막 평면 소자일 수 있다. 또한 산화물 박막 소자는 산화물 박막의 종류에 따라 다양한 형태의 소자일 수 있으며, 바람직하게는 플렉서블 소자일 수 있다. 이에 한정되지 않으나, 예를 들면, 박막 트랜지스터(TFT), 압전 소자, 태양 전지 및 광 센서 등의 광전 변환 소자일 수도 있다.
이하, 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세히 설명하지만, 본 발명이 하기 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다.
실시예 1
성장 기판인 알루미나 기판 상에 400 ℃에서 PVD법을 이용하여 2 ㎛의 두께로 PZT 박막을 형성시켰다. 이후 650 ℃에서 10분 동안 산소 분위기에서 후 열처리하였다. 이어서, PZT 박막 상부에 폴리디메틸실록산을 이용하여 임시기판을 2 ㎝의 두께로 접합시켰다. 이어서, 알루미나 기판 상에 298㎚ 파장의 엑시머 레이저를 조사하여 알루미나 기판과 PZT 박막 사이의 계면부분에서 결정질이 비정질화되게 하여, PZT 박막으로부터 알루미나 기판을 분리하였다. 이어서, PZT 박막에 소자 기판으로 플렉서블 기판을 접합하였다. 이어서, 물리적 방법을 통해 임시기판을 분리하였다. 이어서, 산화물 박막 상에 Pt를 사용하여 100 ㎚의 상부 전극막을 형성하고, 쐐기 모양으로 패터닝하여, 플렉서블한 도 2와 같은 압전 에너지 하베스팅 소자를 제작하였고, 상기 제작된 소자에 일정한 압력을 인가하였을 때 소자로부터 생성되는 출력 전압 및 전류 특성을 조사하여 그 결과를 도 3에 나타내었다.
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이며, 이 또한 첨부된 청구범위에 기재된 기술적 사상에 속한다 할 것이다.
11 - 성장 기판
12 - 산화물 박막
13 - 임시 기판
14 - 소자 기판
15 - 상부 전극막

Claims (11)

  1. 성장 기판 상에 산화물 박막을 형성하는 단계;
    상기 산화물 박막에 임시 기판을 접합하는 단계;
    상기 성장 기판 상에 레이저를 조사하여 상기 성장 기판으로부터 상기 임시 기판이 접합된 산화물 박막을 분리하는 단계;
    상기 분리된 임시 기판이 접합된 산화물 박막에 소자 기판을 접합하는 단계;
    상기 임시 기판을 분리하는 단계; 및
    상기 산화물 박막에 상부 전극막을 형성하는 단계를 포함하는 산화물 박막 소자의 제조 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 성장 기판은 상기 조사하는 레이저의 파장에 해당하는 에너지 보다 에너지 밴드갭이 큰 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 산화물 박막은 상기 레이저 조사에 의하여 결정질이 비정질화되어 분해 가능하며, 그의 에너지 밴드갭은 상기 성장 기판의 에너지 밴드갭보다 낮은 것인 산화물 박막 소자의 제조 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 산화물 박막은 PZT, PLZT, SBT, SBTN, BIT, BLT, PMN-PT 및 PZN-PT의 페로브스카이트 물질 및 ZnO, MgO, CdO의 이원산화물로 이루어진 군에서 일종 이상 선택되는 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 임시 기판은 폴리디메틸실록산(PDMS, polydimethylsiloxane), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA, Polymethylmethacrylate), 폴리카보네이트(polycarbonate), 폴리시클릭 올레핀(polycyclic olefine), 폴리이미드(polyimide) 및 폴리우레탄 (polyurethane)으로 이루어진 군에서 선택되는 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 레이저는 상기 성장 기판과 상기 산화물 박막의 밴드갭(Band gap) 사이의 에너지를 갖는 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 소자 기판은 반도체 기판, 산화물 기판 또는 플렉서블 기판인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 상부 전극막은 Pt, Au, Al, Cu, Ti 및 이들의 합금으로 이루어진 군과 TiN, WN, In2O3:Sn(ITO), SnO2:F(FTO), SrTiO3, 및 LaNiO3으로 이루어진 군에서 일종 이상 선택되는 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 상부 전극막은 쐐기 모양의 IDE(interdigital electrode) 패턴을 갖는 것인 산화물 박막 소자의 제조방법.
  10. 삭제
  11. 삭제
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015122727A1 (ko) * 2014-02-13 2015-08-20 한국과학기술원 플렉서블 나노 제너레이터 및 제조 방법
KR20150095399A (ko) * 2014-02-13 2015-08-21 한국과학기술원 플렉서블 나노제너레이터 제조방법 및 이에 의하여 제조된 플렉서블 나노제너레이터

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2469433C1 (ru) * 2011-07-13 2012-12-10 Юрий Георгиевич Шретер Способ лазерного отделения эпитаксиальной пленки или слоя эпитаксиальной пленки от ростовой подложки эпитаксиальной полупроводниковой структуры (варианты)
KR102259259B1 (ko) 2014-10-14 2021-06-02 삼성전자주식회사 가변 저항 메모리 장치의 제조 방법
TWI606599B (zh) * 2015-09-25 2017-11-21 國立清華大學 轉移薄膜的方法
LU93084B1 (en) * 2016-05-24 2017-12-22 Luxembourg Inst Science & Tech List Transparent piezoelectric device and method for manufacturing the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070059794A (ko) * 2005-12-07 2007-06-12 삼성전자주식회사 플렉서블 반도체 전극의 제조방법 및 그에 의해 제조된반도체 전극, 이를 이용한 태양전지
KR20100027526A (ko) * 2008-09-02 2010-03-11 삼성전기주식회사 박막 소자 제조방법
KR101043663B1 (ko) * 2002-07-16 2011-06-22 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 제조방법
KR20110111209A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 경희대학교 산학협력단 레이저 리프트 오프를 이용한 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100784383B1 (ko) 2005-12-27 2007-12-11 삼성전자주식회사 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR100856326B1 (ko) * 2006-07-19 2008-09-03 삼성전기주식회사 레이저 리프트 오프를 이용한 유전체 박막을 갖는 박막 커패시터 내장된 인쇄회로기판 제조방법, 및 이로부터 제조된 박막 커패시터 내장된 인쇄회로기판

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101043663B1 (ko) * 2002-07-16 2011-06-22 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 제조방법
KR20070059794A (ko) * 2005-12-07 2007-06-12 삼성전자주식회사 플렉서블 반도체 전극의 제조방법 및 그에 의해 제조된반도체 전극, 이를 이용한 태양전지
KR20100027526A (ko) * 2008-09-02 2010-03-11 삼성전기주식회사 박막 소자 제조방법
KR20110111209A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 경희대학교 산학협력단 레이저 리프트 오프를 이용한 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015122727A1 (ko) * 2014-02-13 2015-08-20 한국과학기술원 플렉서블 나노 제너레이터 및 제조 방법
KR20150095399A (ko) * 2014-02-13 2015-08-21 한국과학기술원 플렉서블 나노제너레이터 제조방법 및 이에 의하여 제조된 플렉서블 나노제너레이터
KR101629472B1 (ko) 2014-02-13 2016-06-10 한국과학기술원 플렉서블 나노제너레이터 제조방법 및 이에 의하여 제조된 플렉서블 나노제너레이터

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