KR101332184B1 - 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법 - Google Patents

콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101332184B1
KR101332184B1 KR1020130060861A KR20130060861A KR101332184B1 KR 101332184 B1 KR101332184 B1 KR 101332184B1 KR 1020130060861 A KR1020130060861 A KR 1020130060861A KR 20130060861 A KR20130060861 A KR 20130060861A KR 101332184 B1 KR101332184 B1 KR 101332184B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
card
chip
press
fusion
applying
Prior art date
Application number
KR1020130060861A
Other languages
English (en)
Inventor
전제찬
조용준
Original Assignee
유비벨록스(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유비벨록스(주) filed Critical 유비벨록스(주)
Priority to KR1020130060861A priority Critical patent/KR101332184B1/ko
Priority to PCT/KR2013/004768 priority patent/WO2014193004A1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101332184B1 publication Critical patent/KR101332184B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/0775Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card arrangements for connecting the integrated circuit to the antenna

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Abstract

본 발명은 솔더액으로 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템에 관한 것으로, 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 솔더액으로서 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 프레스 융착부를 포함하여 구성되며, 상기 초음파 융착 프레스는 아이씨 칩 상부에서 프레스가 소정 압력으로 아이씨 칩과 아이씨 카드의 접착부위를 압착시킬 때 아이씨 카드 하부에서 초음파가 상기 접착부위에 방사되도록 한다.
본 발명은, 초음파 융합 프레스를 이용하여 아이씨 카드와 아이씨 칩을 접착하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템을 구현하였다. 본 발명은 아이씨 카드와 아이씨 칩의 접착부위에 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 아이씨 칩이 아이씨 카드에 견고하게 접착되도록 함으로써, 종래 콤비형 아이씨 카드를 제작하거나 사용하는 중에 상기 두 지점 간의 접착이 떨어지거나 전기적 단락이 빈번하게 발생하던 문제점을 해결하고 카드의 품질을 향상시키고 제조과정에서 불량률을 크게 낮추었다.

Description

콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법 {SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING COMBI-TYPE IC Card}
본 발명은 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조 방법에 관한 것으로, 특히, 솔더액으로 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조 방법에 관한 것이다.
아이씨 카드는 특정 트랜잭션을 처리할 수 있는 능력을 가진 아이씨 칩(Intergrated Circuit Chip)을 내장한 카드로서, 마이크로 프로세서, 카드 운영체제, 보안 모듈, 메모리 등을 구비한다.
아이씨 카드는 일반적으로 카드 리더용 단말기와 전극이 접촉함으로써 정보의 입출이 이루어지는 접촉식 아이씨 카드(Contact IC Card)와, 내부에 안테나를 구비하고 있어 카드 리더용 단말기와 접촉하지 않고도 정보의 입출이 가능한 비접촉식 아이씨 카드(Contactless IC Card)와, 상기 접촉식 및 비접촉식 카드의 역할이 모두 가능한 콤비형 아이씨 카드(Combi-type IC Card)로 분류할 수 있다.
상기 콤비형 아이씨 카드에 안착되는 COB(Chip On Board)의 경우, 일반적으로 일 면은 접촉식 단말기에 접촉하여 정보의 입출력을 담당하는 접촉형 전극을 구비하고, 다른 일면에는 아이씨 칩을 보호하기 위한 몰딩부 및 비접촉식 정보의 입출을 위한 안테나 와인딩에 연결되는 안테나 전극을 구비한다.
도1과 도2는 종래 스마트 카드의 구조의 나타낸 도면으로서, 도1은 내장된 안테나 코일(or 루프코일)을 이용하여 무선으로 데이터를 송수신하는 일반적인 스마트 카드의 내부 구성도이고, 도2는 스마트 카드에 마이크로칩을 장착하는 과정을 나타낸 예시도이다.
도1 및 도2에 도시된 바와 같이, 인레이 시트에 내장된 안테나 코일을 이용하여 무선으로 데이터를 송수신하는 일반적인 콤비형 아이씨 카드의 구조는, 상부에서부터 순서대로 전면 오버레이 시트(11), 전면 인쇄시트(12), 인레이 시트(13), 후면 인쇄시트(14) 및 후면 오버레이 시트(15)가 적층된 형상이다.
마이크로 칩(31)이 탑재된 장방형의 칩베이스(30)가 카드 상부층(예: 전면 오버레이 시트(11)와 전면 인쇄시트(12))에 형성된 요홈부(12a)으로 삽입되고, 마이크로칩(31)은 상기 인레이 시트(13)에 형성된 요홈부(11a)로 삽입되면서 칩베이스(30)에 형성된 접점(32a, 32b)이 안테나 코일(20)의 접점(a1, a2)에 접촉되도록 구성된다. 상기 마이크로칩(31)의 접점(32a, 32b)은 안테나 코일(20)의 접점(a1, a2)과 접촉되어 통전이 가능하게 된다.
도1 및 도2에 도시된 콤비형 아이씨 카드 구조에 있어서, 종래 아이씨 칩과 아이씨 카드는 솔더액을 도포하여 열융착하는 방식의 압착으로, 안테나 코일(20)의 접점(a1, a2)과 칩베이스(30)의 접점(32a, 32b)을 접착하였다. 이러한 종래의 접착 방식은 그러나, 콤비형 아이씨 카드를 제작하거나 사용하는 중에 상기 두 지점((a1, a2) & (32a, 32b))간의 접착이 떨어지거나 전기적 단락이 빈번하게 발생하여 카드의 품질이 낮고 제조과정에서 불량률이 높다는 문제점이 있었다.
본 발명의 목적은, 이러한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해,
초음파 융합 프레스를 이용하여 아이씨 카드와 아이씨 칩을 접착하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템을 제공하는데 있다.
본 발명의 부가적인 특성 및 이점들은 아래의 설명에 기재될 것이며, 부분적으로는 상기 설명에 의해 명백해지거나 본 발명의 실행을 통해 숙지될 것이다. 본 발명의 목표 및 다른 이점들은 특히 아래 기재된 설명 및 부가된 도면뿐만 아니라 청구항에서 지적한 구조에 의해 구현될 것이다.
본 발명은, 초음파 융합 프레스를 이용하여 아이씨 카드와 아이씨 칩을 접착하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템을 구현하였다.
본 발명은 아이씨 카드와 아이씨 칩의 접착부위에 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 아이씨 칩이 아이씨 카드에 견고하게 접착되도록 함으로써, 종래 콤비형 아이씨 카드를 제작하거나 사용하는 중에 상기 두 지점((a1, a2) & (32a, 32b))간의 접착이 떨어지거나 전기적 단락이 빈번하게 발생하던 문제점을 해결하고 카드의 품질을 향상시키고 제조과정에서 불량률을 크게 낮추었다.
도1은 내장된 루프코일을 이용하여 무선으로 데이터를 송수신하는 일반적인 스마트 카드의 내부 구성도.
도2는 콤비형 아이씨 카드에 칩을 장착하는 과정을 나타낸 예시도.
도3은 본 발명에 따른 카드 제조 시스템의 장치적 구성을 나타낸 예시도.
도4는 안테나 검사부를 나타낸 예시도.
도5는 솔더액 도포부의 구성을 나타낸 예시도.
도6은 본 발명에 따른 도포상태 검출부의 비젼(vision)검사 모니터 화면을 나타낸 도면.
도7은 본 발명에 따른 프레스 융착부의 구성을 나타낸 예시도.
도8은 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조공정을 나타낸 흐름도.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템은,
아이씨 카드가 이송되어 들어오면, 안테나 코일의 접점에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사하는 안테나 검사부와, 상기 안테나 코일의 접점에 솔더액을 도포하는 솔더액 도포부와, 상기 솔더액 도포가 안테나 코일의 접점에 정상적으로 이루어졌는지 체크하는 도포상태 검출부와, 아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치에 안착시키는 칩 안착부와, 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 상기 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 프레스 융착부와, 상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출하는 불량품 검출부를 포함하여 구성된다.
바람직하게, 상기 프레스 융착부는 소정의 열과 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 제1열융착 프레스와, 소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 제2열융착 프레스와, 소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 제3열융착 프레스와, 소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 초음파 융착 프레스와, 소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 냉각 프레스를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조방법은,
카드제조 시스템 내로 이송된 아이씨 카드가 있는지 여부와 이송된 카드가 한장인지 여부를 체크하는 과정과, 안테나 코일의 접점에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사하는 과정과, 상기 안테나 코일의 접점에 솔더액을 도포하는 과정과, 상기 솔더액 도포가 안테나 코일의 접점에 정상적으로 이루어졌는지 체크하는 과정과, 아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치에 안착시키는 과정과, 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩이 솔더액에 의해 아이씨 카드에 압착되도록 하는 과정과, 상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출하는 과정을 포함하여 구성된다.
바람직하게, 상기 아이씨칩이 아이씨 카드에 압착되도록 하는 과정은,
소정의 열과 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 과정과, 소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 과정과, 소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 과정과, 소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 과정과, 소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도3은 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템의 장치적 구성을 나타낸 예시도이다.
도3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템(100)은 카드 확인부(200), 안테나 검사부(300), 솔더액 도포부(400), 도포상태 검출부(500), 칩 안착부(600), 프레스 융착부(700), 불량품 검출부 (800)를 포함하여 구성된다.
상기 카드 확인부(200)는 카드제조 시스템 내의 이송 플레이트(210) 상에 아이씨 카드가 있는지 여부와 이송된 카드가 한 장인지 여부를 체크한다.
일단, 카드공급 카트리지가 장착되고, 시스템(100)이 구동을 시작하면, 카드공급 카트리지에 적층된 아이씨 카드가 한 장씩 상기 카트리지에서 배출되어 이송 플레이트 위에 올려지고, 이송 플레이트를 따라 시스템(100)의 각 공정을 거치게 된다.
상기 카드 확인부(200)는 제조공정의 초기 단계에서, 카드공급 카트리지에서 아이씨 카드가 배출되어 이송 플레이트 위에 올바로 올려졌는지, 올바로 올려졌다면 1장의 카드가 맞는지 혹시 2장의 카드는 아닌지 등을 검사한다.
상기 카드공급 카트리지에 적층된 아이씨 카드는 밀링 처리된 것들로서, 밀링작업에 의해 아이씨 칩을 안착할 수 있도록 요홈부(11a, 12a)를 형성하고 있으며, 또한 정밀한 밀링절삭으로 안테나 코일의 접점(a1, a2)을 노출시키고 있다.
상기 안테나 검사부(300)는 도4에 도시된 바와 같이 상기 노출된 안테나 코일의 접점(a1, a2)에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사한다. 안테나 검사부(300)는 안테나 코일의 일 접점(예: a1)을 통해 소정의 전기적 신호(예: 24Volt)를 흘려보내고 안테나 코일의 다른 일 접점(예: a2)에서 상기 전기적 신호(예: 24Volt)가 검출되는지를 확인한다. 도4는 안테나 검사부를 나타낸 예시도이다.
상기 솔더액 도포부(400)는 도5에 도시된 바와 같이, 상기 노출된 안테나 코일 접점(a1, a2)에 솔더액을 도포한다. 솔더액 도포부(400)는 먼저, 안테나 코일의 우측 접점(a2)에 솔더액을 도포하는 제1솔더액 주입기(440)와 안테나 코일의 좌측 접점(a1)에 솔더액을 도포하는 제2솔더액 주입기(480)로 구성된다. 도5는 솔더액 도포부의 구성을 나타낸 예시도이다.
상기 도포상태 검출부(500)는, 솔더액이 안테나 코일 접점(a1, a2)의 노출부위에 정상적으로 도포되었는지 체크한다. 관리자는 도6에 도시된 바와 같이, 모니터를 통해, 육안으로 솔더액이 정상적으로 도포되었는지 확인할 수 있다. 본 발명은 접점(a1, a2)의 영역과 대비하여, 도포된 솔더액의 분포 영역이 최대 116%이하이고, 최소 63%이상일 때, 솔더액이 정상적으로 도포된 것으로 판정한다. 도6은 본 발명에 따른 도포상태 검출부의 비젼(vision)검사 모니터 화면을 나타낸 도면이다. 도6에 도시된 좌측 접점(a1)의 솔더액 분포는 80%이고, 우측 접점(a2)의 솔더액 분포는 100%이다.
상기 칩 안착부(600)는 안착 암(arm)을 이용하여 아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치(예: 요홈부(11a, 12a))에 안착시킨다. 상기 칩의 안착 시, 칩 안착부(600)는 대략 180℃의 열로 아이씨 칩에 살짝 프레스(예: 0.3~1.5초)를 가하여, 다음 공정(예: 프레스 융착공정)으로 아이씨 카드가 이송되는 과정에서, 카드에 안착된 아이씨 칩이 이송속도를 못이겨 움직이거나 사라지는 것(예: 바람 또는 충격으로 인해)을 방지한다. 칩 안착공정이 완료된 후 프레스 융착공정이 시작되기 전에, 아이씨 칩이 아이씨 카드의 요홈부(11a, 12a)에 올려져 있는지 체크한다.
상기 프레스 융착부(700)는 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 상기 요홈부에 안착된 아이씨 칩을 아이씨 카드에 압착시킨다.
프레스 융착부(700)는 도7에 도시된 바와 같이, 제1열융착 프레스(710), 제2열융착 프레스(720), 제3열융착 프레스(730), 초음파 융착 프레스(740), 냉각 프레스(750)를 포함하여 구성된다. 프레스 융착부(700)는 열융착 프레스(710 내지 730)를 통해, 0.5초 내지 1.0초의 시간동안 대략 180℃~220℃의 열(이하, '210℃'라 한다)과 2bar ~ 4bar의 압력(이하, '3.5bar'라 한다)을 가하여 솔더액이 접점(a1, a2)의 영역에 고루 도포되도록 하고 아이씨 칩과 아이씨 카드간에 열융착이 발생하도록 한다. 도7은 본 발명에 따른 프레스 융착부의 구성을 나타낸 예시도이다.
상기 제1열융착 프레스(710)는 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착되도록 한다.
상기 제2열융착 프레스(720)는 상기 1차 열융착이 완료된 아이씨 카드에 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 아이씨 카드에 2차 압착을 수행한다.
상기 제3열융착 프레스(730)는 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 다시 3차 압착을 수행한다.
상기 초음파 융착 프레스(740)는 상기 3차 열융착 프레스가 완료된 아이씨 카드에 3.5bar의 압력과 초음파를 가하여, 아이씨 칩과 카드에 초음파 융착이 이루어지도록 한다. 초음파 융착 프레스(740) 공정을 통해, 3차례의 열융착 프레스를 거친 아이씨칩과 카드는 더욱 견고하게 접착된다.
본 발명에 따른 카드 제조 시스템(100)은 도8에 도시된 바와 같이 초음파 융착 프레스(740)의 아래 쪽에, 아이씨 칩과 카드의 접착부위에 초음파를 방사할 수 있는 초음파 발생기(760)를 구비한다. 초음파 융착 프레스(740)가 위쪽에서 3.5bar 압력의 프레스를 가할 때, 동시에 초음파 발생기(760)는 아이씨 카드의 하부에서 초음파를 방사하여 아이씨 칩과 카드의 접착부위를 융착시킨다.
아이씨 카드의 상부에서 초음파를 방사하는 경우, 아이씨 칩과 접착되는 아이씨 카드 측의 플라스틱 층이 녹아 내리고 그로 인해 불량품이 양산되는 문제점을 일으킨다. 본 발명에 따른 카드 제조 시스템(100)은 초음파 발생기(760)를 초음파 융착 프레스(740)의 아래 쪽에 구비하여 초음파 융착 프레스(740) 공정을 수행함으로써, 이러한 문제점을 해결하였다.
상기 냉각 프레스(750)는 상기 초음파 융착 프레스가 완료된 아이씨 카드에 대략 10℃~15℃의 냉기와 3.5bar의 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 카드 간의 융착이 견고해지도록 한다.
상기 불량품 검출부(800)는 상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출한다.
상기 불량품 검출부(800)는 RF테스트부(820), 아이씨 칩 테스트부(840), 분리 배출부(860)를 포함하여 구성된다. 상기 RF테스트부(820)는 아이씨 칩과 안테나 코일이 정상적으로 접속되었는지 테스트하는 장치로서, 10MHz ~20MHz (이하, '13.56MHz'라 한다)의 테스트 신호를 아이씨 카드에 송출하고, 아이씨 칩이 상기 테스트 신호를 정상적으로 검출하는지 여부를 확인한다.
상기 아이씨 칩 테스트부(840)는 도3에 도시된 바와 같이 8개의 바늘로 이루어진 다리를 IC칩의 8개 단자(예: 전원공급단자, 초기화 입력단자, 클럭단자, 예비단자, 접지단자, 프로그램 전압단자, 직렬 데이터 입출력단자, 예비단자)에 각각 접촉하여, 8개의 단자가 모두 정상인지 여부를 테스트 한다.
상기 분리 배출부(860)는 상기 제조공정의 오류나 불량판정된 아이씨 카드를 정상품과 분리하여 배출하는 장치이다. 분리 배출부(860)는 정상품 카트리지와 불량품 카트리지를 구비하여, 정상 아이씨 카드와 불량 아이씨 카드를 각기 다른 카트리지로 배출되도록 한다.
도8은 본 발명에 따른 콤비형 아이씨 카드 제조공정을 나타낸 흐름도이다.
도8에 도시된 바와 같이, 본 발명은 카드공급 카트리지가 장착되고 시스템(100)이 구동을 시작하면 먼저, 카드공급 카트리지에서 아이씨 카드가 배출되어 이송 플레이트 위에 올바로 올려졌는지, 올바로 올려졌다면 1장의 카드가 맞는지 혹시 두장의 카드는 아닌지 등을 검사한다.
이후, 아이씨 카드는 안테나 검사부(300)로 전달되고, 안테나 검사부(300)는 도4에 도시된 바와 같이 상기 노출된 안테나 코일의 접점(a1, a2)에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사한다. (S100) 안테나 검사부(300)는 안테나 코일의 일 접점(예: a1)에 전기적 신호(예: 24Volt)를 흘려보내고 다른 일 접점(예: a2)을 통해 상기 전기적 신호(예: 24Volt)가 검출되는지 확인한다.
그리고, 상기 안테나 코일의 배선에 단락이 없는 것으로 확인되면, 시스템(100)은 도5에 도시된 바와 같이 상기 노출된 안테나 코일의 좌,우 접점(a1, a2)에 솔더액을 도포한다. (S200) 시스템(100)은 먼저, 안테나 코일의 우측 접점(a2)에 솔더액을 도포하고, 그 다음 안테나 코일의 좌측 접점(a1)에 솔더액을 도포한다.
상기 솔더액 도포가 완료되면, 솔더액이 안테나 코일 접점(a1, a2)의 노출부위에 정상적으로 도포되었는지 체크한다.
그리고, 솔더액 도포가 정상적인 것으로 확인되면, 칩 안착부(600)의 안착 암(arm)을 이용하여 아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치(예: 요홈부(11a, 12a))에 안착시킨다. (S300) 그리고, 안착된 아이씨 칩에 대략 180℃의 열로 살짝 프레스(예: 0.3~0.5초)를 가하여, 카드에 안착된 아이씨 칩이 이송과정에서 속도를 못이겨 움직이거나 사라지는 것을 방지한다. 시스템(100)은 이후, 프레스 융착공정이 시작되기 전에, 아이씨 칩이 아이씨 카드의 요홈부(11a, 12a)에 올려져 있는지 여부를 체크한다. 이 과정은 단순히 아이씨 카드의 요홈부(11a, 12a) 상에 아이씨 칩이 있는지 없는지를 확인하기 위한 것이다.
프레스 융착공정이 시작되기 전에, 아이씨 칩이 아이씨 카드의 요홈부 (11a, 12a)에 정상적으로 올려져 있는 것으로 확인되면, 시스템은 아이씨 카드에 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 아이씨 칩과 카드가 견고하게 접착되도록 한다. (S400)
시스템(100)은 도7에 도시된 바와 같이, 3차례의 열융착 프레스(710 내지 730)와 한차례의 초음파 융착 프레스(740), 그리고 한차례의 냉각 프레스(750)를 이용하여, 아이씨 칩과 카드를 견고하게 접착시킨다.
시스템(100)은 먼저, 제1열융착 프레스(710)를 통해, 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착되도록 한다.
그리고, 제2열융착 프레스(720)를 통해, 상기 1차 열융착이 완료된 아이씨 카드에 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 아이씨 카드에 2차 압착을 수행한다.
그리고, 제3열융착 프레스(730)를 통해, 아이씨 카드에 210℃의 열과 3.5bar의 압력을 가하여, 다시 3차 압착을 수행한다.
그리고, 초음파 융착 프레스(740)를 통해, 상기 3차 열융착 프레스가 완료된 아이씨 카드에 3.5bar의 압력과 초음파를 가하여, 아이씨 칩과 카드에 초음파 융착이 이루어지도록 한다.
그리고, 냉각 프레스(750)를 통해, 상기 초음파 융착 프레스가 완료된 아이씨 카드에 대략 12℃~13℃의 냉기와 3.5bar의 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 카드 간의 융착이 견고해지도록 한다.
이후, 시스템(100)은 상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출한다. (S500) 시스템(100)은 먼저, 아이씨 칩과 안테나 코일이 정상적으로 접속되었는지 테스트하기 위해, 13.56MHz의 테스트 신호를 아이씨 카드에 송출하고, 아이씨 칩이 상기 테스트 신호를 정상적으로 검출하는지 여부를 확인한다.
또한, 8개의 바늘로 이루어진 아아씨 칩 테스트부(840)를 아이씨 칩의 8개 단자(예: 전원공급단자, 초기화 입력단자, 클럭단자, 예비단자, 접지단자, 프로그램 전압단자, 직렬 데이터 입출력단자, 예비단자)에 각각 접촉하여, 8개의 아이씨 칩 단자가 모두 정상인지 여부를 테스트 한다.
시스템(100)은 이상의 제조공정(S100 ~ S500)에서, 오류나 불량판정된 아이씨 카드를 정상품과 분리하여 불량품 카트리지로 배출시킨다.
본 발명은 도면에 도시된 실시 예(들)를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형이 이루어질 수 있으며, 상기 설명된 실시예(들)의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
이상 기술된 바와 같이, 본 발명은, 초음파 융합 프레스를 이용하여 아이씨 카드와 아이씨 칩을 접착하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템을 구현하였다.
본 발명은 아이씨 카드와 아이씨 칩의 접착부위에 열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 아이씨 칩이 아이씨 카드에 견고하게 접착되도록 함으로써, 종래 콤비형 아이씨 카드를 제작하거나 사용하는 중에 상기 두 지점((a1, a2) & (32a, 32b))간의 접착이 떨어지거나 전기적 단락이 빈번하게 발생하던 문제점을 해결하고 카드의 품질을 향상시키고 제조과정에서 불량률을 크게 낮추었다.
100 : 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 200 : 카드 확인부
300 : 안테나 검사부 400 : 솔더액 도포부
500 : 도포상태 검출부 600 : 칩 안착부
700 : 프레스 융착부 710 : 제1열융착 프레스
720 : 제2열융착 프레스 730 : 제3열융착 프레스
740 : 초음파 융착 프레 750 : 냉각 프레스
760 : 초음파 발생기 800 : 불량품 검출부
820 : RF테스트부 840 : 아이씨 칩 테스트부
860 : 분리 배출부

Claims (12)

  1. 아이씨 카드가 이송되어 들어오면, 안테나 코일의 접점에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사하는 안테나 검사부(300)와;
    상기 안테나 코일의 접점에 솔더액을 도포하는 솔더액 도포부(400)와;
    상기 솔더액 도포가 안테나 코일의 접점에 정상적으로 이루어졌는지 체크하는 도포상태 검출부(500)와;
    아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치에 안착시키는 칩 안착부(600)와;
    열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 상기 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 프레스 융착부(700)와;
    상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출하는 불량품 검출부(800)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 프레스 융착부(700)는
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 제1열융착 프레스(710)와;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 제2열융착 프레스(720)와;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 제3열융착 프레스(730)와;
    소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 초음파 융착 프레스(740)와;
    소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 냉각 프레스(750)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 프레스 융착부(700)는
    상기 초음파 융착 프레스(740)의 아래 쪽에, 아이씨 칩과 카드의 접착부위에 초음파를 방사할 수 있는 초음파 발생기(760)를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 상기 초음파 융착 프레스(740)는
    아이씨 칩의 상부에서 프레스가 소정 압력으로 아이씨 칩과 아이씨 카드의 접착부위를 압착시킬 때 아이씨 카드 하부에서 초음파가 상기 접착부위에 방사되도록 하는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  5. 솔더액으로 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템에 있어서,
    열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 솔더액으로서 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 프레스 융착부(700)를 포함하여 구성되며,
    상기 초음파 융착 프레스(740)는 아이씨 칩 상부에서 프레스가 소정 압력으로 아이씨 칩과 아이씨 카드의 접착부위를 압착시킬 때 아이씨 카드 하부에서 초음파가 상기 접착부위에 방사되도록 하는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  6. 제5항에 있어서, 상기 프레스 융착부(700)는
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 제1열융착 프레스(710)와;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 제2열융착 프레스(720)와;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 제3열융착 프레스(730)와;
    소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 초음파 융착 프레스(740)와
    소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 냉각 프레스(750)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  7. 제6항에 있어서, 상기 프레스 융착부(700)는
    상기 초음파 융착 프레스(740)의 아래 쪽에, 아이씨 칩과 카드의 접착부위에 초음파를 방사할 수 있는 초음파 발생기(760)를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템.
  8. 카드제조 시스템 내로 이송된 아이씨 카드가 있는지 여부와 이송된 카드가 한장인지 여부를 체크하는 과정과;
    안테나 코일의 접점에 전류를 흘려보내어, 안테나 코일의 배선에 단락이 있는지 여부를 검사하는 과정과;
    상기 안테나 코일의 접점에 솔더액을 도포하는 과정과;
    상기 솔더액 도포가 안테나 코일의 접점에 정상적으로 이루어졌는지 체크하는 과정과;
    아이씨 칩을 아이씨 카드의 지정 위치에 안착시키는 과정과;
    열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩이 솔더액에 의해 아이씨 카드에 압착되도록 하는 과정과;
    상기 아이씨 칩과 안테나 코일의 접속상태가 정상인지 여부를 테스트하고 정상품과 불량품을 분리 배출하는 과정을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 아이씨칩이 아이씨 카드에 압착되도록 하는 과정은
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 안착된 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 과정과;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 과정과;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 과정과;
    소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 과정과;
    소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조방법.
  10. 제8항에 있어서, 상기 초음파 융착 프레스는
    아이씨 칩의 상부에서 프레스가 소정 압력으로 아이씨 칩과 아이씨 카드의 접착부위를 압착시킬 때 아이씨 카드 하부에서 초음파가 상기 접착부위에 방사되도록 하는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조방법.
  11. 솔더액으로 아이씨 칩을 아이씨 카드에 접착시키는 콤비형 아이씨 카드 제조방법에 있어서,
    열융착 프레스, 초음파 융착 프레스, 냉각 프레스를 차례로 가하여, 솔더액으로서 아이씨 칩을 아이씨 카드에 압착시키는 융착 프레스 공정을 포함하여 구성되며,
    상기 초음파 융착 프레스는 아이씨 칩 상부에서 프레스가 소정 압력으로 아이씨 칩과 아이씨 카드의 접착부위를 압착시킬 때 아이씨 카드 하부에서 초음파가 상기 접착부위에 방사되도록 하는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 융착 프레스 공정은
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩을 솔더액이 도포된 아이씨 카드에 압착시키는 과정과;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 2차 압착시키는 과정과;
    소정의 열과 압력을 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드를 3차 압착시키는 과정과;
    소정의 압력과 초음파를 가하여, 상기 아이씨 칩과 아이씨 카드가 초음파 융착을 이루도록 하는 과정과;
    소정 온도의 냉기와 압력을 가하여, 상기 압착된 아이씨 칩과 아이씨 카드의 융착 열을 식히는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 콤비형 아이씨 카드 제조방법.
KR1020130060861A 2013-05-29 2013-05-29 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법 KR101332184B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130060861A KR101332184B1 (ko) 2013-05-29 2013-05-29 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법
PCT/KR2013/004768 WO2014193004A1 (ko) 2013-05-29 2013-05-30 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130060861A KR101332184B1 (ko) 2013-05-29 2013-05-29 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101332184B1 true KR101332184B1 (ko) 2013-11-22

Family

ID=49858285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130060861A KR101332184B1 (ko) 2013-05-29 2013-05-29 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101332184B1 (ko)
WO (1) WO2014193004A1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110929831A (zh) * 2019-11-05 2020-03-27 四川华大恒芯科技有限公司 一种芯片防转移方法
KR102107795B1 (ko) * 2018-11-22 2020-05-28 주식회사 엔에이블 플렉시블 기판을 이용한 스마트 카드 제조방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102020122065B4 (de) * 2020-08-24 2022-12-01 Te Connectivity Germany Gmbh Kontaktanordnung mit einer Messvorrichtung zum Erfassen eines Kontaktierungszustands der Kontaktanordnung mittels eines akustischen Signals

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020081333A (ko) * 2000-02-22 2002-10-26 도레이엔지니어링가부시키가이샤 비접촉 아이디 카드류 및 그의 제조방법
KR20090017606A (ko) * 2006-05-17 2009-02-18 랜드쿼트 집적 회로를 구비한 유연층 구조

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100846546B1 (ko) * 2006-12-29 2008-07-15 임인호 콤비카드의 ic단자 접속방법 및 그 접속장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020081333A (ko) * 2000-02-22 2002-10-26 도레이엔지니어링가부시키가이샤 비접촉 아이디 카드류 및 그의 제조방법
EP1258370A1 (en) 2000-02-22 2002-11-20 Toray Engineering Co., Ltd. Noncontact id card or the like and method of manufacturing the same
JP3729491B2 (ja) * 2000-02-22 2005-12-21 東レエンジニアリング株式会社 非接触idカード類及びその製造方法
KR20090017606A (ko) * 2006-05-17 2009-02-18 랜드쿼트 집적 회로를 구비한 유연층 구조

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102107795B1 (ko) * 2018-11-22 2020-05-28 주식회사 엔에이블 플렉시블 기판을 이용한 스마트 카드 제조방법
CN110929831A (zh) * 2019-11-05 2020-03-27 四川华大恒芯科技有限公司 一种芯片防转移方法
CN110929831B (zh) * 2019-11-05 2023-05-30 华大恒芯科技有限公司 一种芯片防转移方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014193004A1 (ko) 2014-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6359561B2 (en) Method of manufacturing and testing an electronic device, and an electronic device
KR101332184B1 (ko) 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템 및 제조방법
CN103400181A (zh) 指纹读取传感器ic卡及其封装方法
KR100681772B1 (ko) 반도체 시험 방법 및 반도체 시험 장치
US20150161501A1 (en) Chip card with contacting that is pasty or liquid at room temperature
JP4043601B2 (ja) 非接触型icカードとその製造方法、非接触型icカード用基体
JPH08230367A (ja) 非接触型icカードならびにその製造方法および装置
CN101243457B (zh) 包含数据传送步骤的电子产品的制作方法及所制得的成品
KR101368721B1 (ko) 콤비형 아이씨 카드 제조 시스템의 솔더링 장치 및 방법
KR20080083327A (ko) 회로 및 데이터 캐리어
US20110189824A1 (en) Method for manufacturing an electronic device
KR101151025B1 (ko) 접촉 및 비접촉 겸용 카드의 제조방법
US20140103096A1 (en) Wire bonding machine and method for testing wire bond connections
KR102107795B1 (ko) 플렉시블 기판을 이용한 스마트 카드 제조방법
JP4417964B2 (ja) テープ状icモジュール及びicモジュール製造方法
JP3958078B2 (ja) テープ状icモジュールと、icモジュール製造方法
WO2022243432A1 (en) Manufacturing a smartcard
JP4792877B2 (ja) 非接触icタグ製造方法とその装置
JP4972983B2 (ja) 非接触icタグと非接触icタグのicチップ装着検査方法
EP1604331B1 (en) Dual interface micro-module testable on reel
CN107507549B (zh) 显示面板的测试方法及测试系统
US20060017176A1 (en) Bump ball device and placing method thereof
KR100846546B1 (ko) 콤비카드의 ic단자 접속방법 및 그 접속장치
JP2005011141A (ja) 非接触icカードの製造方法と多面付け非接触icカード、多面付けアンテナシート
JPH06232204A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161017

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181001

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190902

Year of fee payment: 7