KR101322865B1 - Evaporation type deposition apparatus and deposition method - Google Patents

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KR101322865B1
KR101322865B1 KR1020120043985A KR20120043985A KR101322865B1 KR 101322865 B1 KR101322865 B1 KR 101322865B1 KR 1020120043985 A KR1020120043985 A KR 1020120043985A KR 20120043985 A KR20120043985 A KR 20120043985A KR 101322865 B1 KR101322865 B1 KR 101322865B1
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장홍영
배인식
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한국과학기술원
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Abstract

PURPOSE: An evaporation type deposition apparatus and a deposition method are provided to easily deposit a conductive layer on a substrate by using a substrate holder and a transport device. CONSTITUTION: A substrate holder (112) is arranged in a vacuum chamber. The substrate holder mounts a substrate including an organic martial layer. At least one tungsten wire (122) is extended to the plane of the substrate holder. A power source (129) is connected to both ends of the tungsten wire. A transport device (140) attaches/detaches a metal bar to/from the tungsten wire. [Reference numerals] (AA) Direction of gravity

Description

증발형 증착 장치 및 증착 방법{Evaporation Type Deposition Apparatus and Deposition Method}Evaporation Type Deposition Apparatus and Deposition Method

본 발명은 유기 물질층이 표면에 증착되어 있는 기판 상에 도전층을 증착하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of depositing a conductive layer on a substrate on which an organic material layer is deposited on a surface.

많은 응용에 있어서, 유기 전자 장치 또는 유기 발광 다이오드(OLED)는 유기 물질층을 포함한다. 금속층 또는 보호층은 유기 물질층 상에 직접적으로 또는 간접적으로 증착된다.In many applications, an organic electronic device or organic light emitting diode (OLED) includes a layer of organic material. The metal layer or protective layer is deposited directly or indirectly on the organic material layer.

그러나, 통상의 스퍼터링 장치를 사용한 증착은 유기 물질층을 손상시킨다. 특히, 스퍼터링 장치는 플라즈마를 이용하고, 플라즈마는 이온, 산소 라디칼, 및 자외선을 발생시킨다. 플라즈마에 의하여 발생한 이온, 산소 라디칼, 및 자외선은 유기 물질층을 손상시킨다.However, deposition using conventional sputtering equipment damages the organic material layer. In particular, the sputtering apparatus uses a plasma, which generates ions, oxygen radicals, and ultraviolet rays. Ions, oxygen radicals, and ultraviolet rays generated by the plasma damage the organic material layer.

한편, 유기 물질층 상에 코팅층을 형성하기 위하여 열 증발 증착법을 사용할 수 있다. 그러나, 열 증발 증착법은 도가니(crucible)에 증착하고자 하는 물질을 가열하고 증발시켜 기판에 증착시킨다. 그러나, 도가니의 출구는 중력의 방향에 대하여 마주보도록 배치된다. 따라서, 열 증발 증착법을 이용하는 경우, 기판은 중력에 대하여 상부에 배치되고, 도가니는 중력의 방향에 대하여 마주보도록 하부에 배치된다. 따라서, 열 증발 증착법을 이용한 증착 장치는 기판을 상부에 배치하기 위하여 기구적인 곤란성을 가지고 있다. 특히, 기판의 크기가 수십 센티미터 이상인 경우 기판은 용기의 상부면에서 지지하기 어렵다.Meanwhile, thermal evaporation deposition may be used to form a coating layer on the organic material layer. However, the thermal evaporation deposition method deposits on a substrate by heating and evaporating the material to be deposited in the crucible. However, the outlet of the crucible is arranged to face with respect to the direction of gravity. Therefore, in the case of using the thermal evaporation deposition method, the substrate is disposed at the upper side with respect to gravity, and the crucible is disposed at the lower side facing the direction of gravity. Therefore, the vapor deposition apparatus using the thermal evaporation deposition method has a mechanical difficulty in order to arrange | position a board | substrate on top. In particular, when the size of the substrate is tens of centimeters or more, the substrate is difficult to support on the upper surface of the container.

본 발명의 해결하고자 하는 일 기술적 과제는 유기 물질층에 손상을 가하지 않고 중력 방향에 무관하게 기판에 도전층을 형성하는 장치에 관한 것이다.One technical problem to be solved of the present invention relates to an apparatus for forming a conductive layer on a substrate regardless of the direction of gravity without damaging the organic material layer.

본 발명의 일 실시예에 따른 증발형 증착 장치는 진공 용기; 상기 진공 용기 내부에 배치되고 유기 물질층을 포함하는 기판을 장착하는 기판 홀더; 상기 기판 홀더 상에 상기 기판 홀더와 수직으로 이격되어 상기 기판 홀더의 평면으로 연장되는 적어도 하나의 텅스텐 와이어; 상기 텅스텐 와이어의 양단에 연결되어 전력을 공급하는 전원; 상기 텅스텐 와이어와 접촉하여 증발하도록 삽입되는 금속 막대; 및 상기 금속 막대를 상기 텅스텐 와이어와 접촉 또는 탈착시키도록 이동시키는 이동 수단을 포함한다.Evaporation deposition apparatus according to an embodiment of the present invention comprises a vacuum container; A substrate holder disposed in the vacuum vessel and mounting a substrate including an organic material layer; At least one tungsten wire spaced perpendicular to the substrate holder and extending in a plane of the substrate holder on the substrate holder; A power supply connected to both ends of the tungsten wire to supply power; A metal rod inserted to contact and evaporate the tungsten wire; And moving means for moving the metal rod to contact or detach the tungsten wire.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 금속 막대가 통과하는 관통홀을 포함하는 블록킹판; 및 상기 텅스텐 와이어를 고정하는 절연 지지부 중에서 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the blocking plate including a through hole through which the metal bar passes; And it may further include at least one of the insulating support for fixing the tungsten wire.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 금속 막대는 알루미늄일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the metal rod may be aluminum.

본 발명의 일 실시예에 따른 증착 방법은 유기 물질층과 수직으로 이격된 평면으로 연장되는 고온의 텅스텐 와이어에 금속 막대의 일단을 접촉시켜 금속 막대의 일단을 가열하고 증발시켜 유기 물질층 상에 예비 도전막을 형성하는 단계; 및 상기 예비 도전막 상에 스퍼터링 방법으로 상기 예비 도전막과 동일한 물질의 도전막을 형성하는 단계를 포함한다.The deposition method according to the embodiment of the present invention contacts one end of the metal rod to a hot tungsten wire extending in a plane vertically spaced apart from the organic material layer, thereby heating and evaporating one end of the metal rod to preliminary on the organic material layer. Forming a conductive film; And forming a conductive film of the same material as the preliminary conductive film by a sputtering method on the preliminary conductive film.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 예비 도전막 및 상기 도전막은 알루미늄일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the preliminary conductive layer and the conductive layer may be aluminum.

본 발명의 일 실시예에 따른 증착 장치는 비교적 쉽고 간편하여 유기 물질층 상에 도전층을 형성할 수 있다. 또한 증착 장치는 중력 방향 또는 중력 반대방향으로 도전막을 증착할 수 있다.Deposition apparatus according to an embodiment of the present invention is relatively easy and simple to form a conductive layer on the organic material layer. In addition, the deposition apparatus may deposit the conductive film in the direction of gravity or in the direction opposite to gravity.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 증발형 증착 장치를 설명하는 단면도이다.
도 2는 도 1의 증발형 증착 장치의 평면도이다.
도 3은 도 1의 증발형 증착 장치의 이동부를 설명하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 증발형 증착 장치를 설명하는 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 방법을 설명하는 도면이다.
1 is a cross-sectional view illustrating an evaporation deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of the vapor deposition apparatus of FIG. 1.
3 is a view for explaining a moving part of the evaporation deposition apparatus of FIG. 1.
4 is a view for explaining an evaporation deposition apparatus according to another embodiment of the present invention.
5 is a view for explaining a deposition method according to an embodiment of the present invention.

증착 방법은 스퍼터링 방법과 열증착 방법을 포함할 수 있다. 열증착 방법은 항상 중력 반대 방향으로 증착시켜야 한다. 따라서, 스퍼터링 방식의 증착 방향이 열증착 방식의 증착 방향과 반대되게 설계했을 경우, 기판을 뒤집어야 하는 번거로움이 있다.The deposition method may include a sputtering method and a thermal deposition method. Thermal deposition methods should always be deposited in the opposite direction of gravity. Therefore, when the deposition direction of the sputtering method is designed to be opposite to the deposition direction of the thermal evaporation method, there is a trouble of inverting the substrate.

유기 물질층 상에 증착되는 금속 코팅층의 증착은 속도면에서 스퍼터링 방법이 우수하나, 플라즈마 중에서 이온, 산소 라디칼은 유기 물질층을 손상시킬 수 있다. 따라서, 유기 물질층의 손상에 기인하여, 유기 물질층 상에 금속 코팅층은 스퍼터링 방식에 의하여 수행될 수 없다. Although the deposition of the metal coating layer deposited on the organic material layer is excellent in the sputtering method in terms of speed, ions, oxygen radicals in the plasma may damage the organic material layer. Therefore, due to the damage of the organic material layer, the metal coating layer on the organic material layer cannot be performed by the sputtering method.

따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 증발형 증착 장치는 텅스텐 필라멘트 또는 텅스텐 와이어를 이용하여 금속 막대를 가열한다. 이에 따라, 금속 막대는 증발하여 중력 방향에 대향하여 마주보는 기판의 유기 물질층 상에 예비 도전막을 형성할 수 있다. 증발형 증착 장치는 중력 방향 또는 중력 반대 방향에 도전층을 증착하도록 설계될 수 있다.Therefore, the evaporation deposition apparatus according to an embodiment of the present invention heats the metal rod using tungsten filament or tungsten wire. Accordingly, the metal rod may evaporate to form a preliminary conductive layer on the organic material layer of the substrate facing the direction of gravity. The vapor deposition apparatus may be designed to deposit a conductive layer in the direction of gravity or in the direction opposite to gravity.

상기 증발형 증착 장치는 유기 물질층에 손상을 가할 수 있는 플라즈마 또는 자외선을 생성하지 않고 예비 도전막을 형성할 수 있다. 예비 도전막은 Al층, ITO(인듐 주석 산화물)와 같은 TCO(투명 도전 산화물)층 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 유기 물질층은 전자 주입층, 전자 수송층, 정공 저지층, 발광층, 정공 수송층, 및 정공 주입층 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.The evaporation deposition apparatus may form a preliminary conductive layer without generating plasma or ultraviolet rays, which may damage the organic material layer. The preliminary conductive film may include at least one of an Al layer and a transparent conductive oxide (TCO) layer such as indium tin oxide (ITO). The organic material layer may include at least one of an electron injection layer, an electron transport layer, a hole blocking layer, a light emitting layer, a hole transport layer, and a hole injection layer.

한편, 증발형 증착 장치는 공정 속도가 떨어지는 단점이 있으나, 본 발명의 일 실시예에 따른 증발형 증착 장치는 유기 물질층 상에 소정의 두께의 예비 도전층을 증착한다. 이어서, 추가적인 도전층의 증착은 통상적인 스퍼터링 장치를 통하여 수행될 수 있다. 이 경우, 스퍼터링 장치를 이용한 추가적인 도전층의 증착 과정에서, 기판의 표면은 플라즈마 및 자외선에 노출되나, 이미 하부에 예비 도전층은 자외선이 유기 물질층에 도달하는 것을 방지하며, 플라즈마 또는 산소 라디칼이 직접적으로 유기 물질층에 도달하는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 종래의 스퍼터링 장치만을 이용하여 도전층을 형성하는 것에 비하여, 유기 물질층의 손상은 감소되고, 고속의 증착 공정이 진행될 수 있다.On the other hand, the evaporation deposition apparatus has a disadvantage in that the process speed is low, the evaporation deposition apparatus according to an embodiment of the present invention deposits a preliminary conductive layer of a predetermined thickness on the organic material layer. Subsequently, the deposition of the additional conductive layer may be performed through a conventional sputtering apparatus. In this case, in the process of depositing an additional conductive layer using a sputtering apparatus, the surface of the substrate is exposed to plasma and ultraviolet rays, but the preliminary conductive layer already below prevents ultraviolet rays from reaching the organic material layer, It is possible to prevent reaching the organic material layer directly. Accordingly, as compared with forming the conductive layer using only the conventional sputtering apparatus, damage to the organic material layer is reduced, and a high speed deposition process can be performed.

본 발명의 일 실시예에 따른 증착 장치는 기존의 열증착 장치와 달리 중력 방향으로의 증착이 가능하며 그 구조가 단순하다. 증착 장치는 기존에 사용하고 있던 장비들에 큰 개조 없이 설치될 수 있으며, 공정에 따라 중력 방향 혹은 중력 반대 방향으로 증착을 수행하도록 설계될 수 있다. 본 발명의 증착 장치와 종래의 스퍼터링 장치가 연속적으로 사용되는 경우, 공정 속도를 향상시키고 유기 물질층의 손상을 억제할 수 있다.The deposition apparatus according to an embodiment of the present invention is capable of depositing in the direction of gravity unlike the conventional thermal deposition apparatus, and its structure is simple. The deposition apparatus may be installed in the existing equipment without major modifications, and may be designed to perform deposition in the direction of gravity or in the direction opposite to gravity, depending on the process. When the vapor deposition apparatus of the present invention and the conventional sputtering apparatus are used continuously, it is possible to improve the process speed and suppress the damage of the organic material layer.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 도면들에 있어서, 구성요소는 명확성을 기하기 위하여 과장되어진 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호로 표시된 부분들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments disclosed herein are being provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the concept of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the components have been exaggerated for clarity. Portions denoted by like reference numerals denote like elements throughout the specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 증발형 증착 장치를 설명하는 단면도이다. 도 2는 도 1의 증발형 증착 장치의 평면도이다. 도 3은 도 1의 증발형 증착 장치의 이동부를 설명하는 도면이다.      1 is a cross-sectional view illustrating an evaporation deposition apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a plan view of the vapor deposition apparatus of FIG. 1. 3 is a view for explaining a moving part of the evaporation deposition apparatus of FIG. 1.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 증발형 증착 장치는 진공 용기(102), 상기 진공 용기(102) 내부에 배치되고 유기 물질층을 포함하는 기판(114)을 장착하는 기판 홀더(112), 상기 기판 홀더(112) 상에 상기 기판 홀더(112)와 수직으로 이격되어 상기 기판 홀더(112)의 평면으로 연장되는 적어도 하나의 텅스텐 와이어(122), 상기 텅스텐 와이어(122)의 양단에 연결되어 전력을 공급하는 전원(129), 상기 텅스텐 와이어(122)와 접촉하여 증발하도록 삽입되는 금속 막대(132), 및 상기 금속 막대(132)를 상기 텅스텐 와이어(122)와 접촉 또는 탈착시키도록 이동시키는 이동 수단(140)을 포함한다.1 to 3, an evaporation deposition apparatus includes a vacuum container 102, a substrate holder 112 for mounting a substrate 114 disposed inside the vacuum container 102 and including an organic material layer. At least one tungsten wire 122, which is vertically spaced apart from the substrate holder 112 and extends in a plane of the substrate holder 112, connected to both ends of the tungsten wire 122 to be electrically connected to the substrate holder 112. A power supply 129 for supplying the metal, a metal rod 132 inserted into the tungsten wire 122 to evaporate, and a movement to move the metal rod 132 to contact or detach the tungsten wire 122. The means 140 is included.

진공 용기(102)는 금속 용기 또는 유전체로 형성될 수 있다. 상기 진공 용기(102)는 배기부(미도시) 및 상기 진공 용기(102)에 불활성 가스를 공급하는 가스 공급부(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 진공 용기(102)의 내부는 0.01 밀리 토르(mTorr) 이하로 배기되어, 증착 공정이 진행될 수 있다. 또한, 상기 진공 용기(102)의 내부는 미량의 아르곤과 같은 불활성 가스로 채워질 수 있다.The vacuum vessel 102 may be formed of a metal vessel or a dielectric. The vacuum container 102 may include an exhaust part (not shown) and a gas supply part (not shown) for supplying an inert gas to the vacuum container 102. The interior of the vacuum vessel 102 may be exhausted to less than 0.01 milliTorr (mTorr), the deposition process may proceed. In addition, the interior of the vacuum vessel 102 may be filled with an inert gas, such as trace amounts of argon.

기판 홀더(112)는 상기 기판(114)을 장착할 수 있다. 상기 기판(114)은 플렉서블 기판 또는 유리 기판 일 수 있다. 상기 기판(114)은 투명한 유리기판이 바람직할 수 있다. 상기 기판(114) 상에는 평판 디스플레이 소자가 형성될 수 있다. 상기 디스플레이 소자는 OLED 소자일 수 있다. 상기 디스플레이 소자는 상기 기판(114) 상에 차례로 적층된 양극용 투명 전극, 발광 유기 물질층, 및 음극용 금속층을 포함할 수 있다. 상기 증착 장치는 발광 유기 물질층이 증착된 기판 상에 음극용 금속층을 형성할 수 있다.The substrate holder 112 may mount the substrate 114. The substrate 114 may be a flexible substrate or a glass substrate. The substrate 114 may be a transparent glass substrate. A flat panel display device may be formed on the substrate 114. The display device may be an OLED device. The display device may include a transparent electrode for an anode, a light emitting organic material layer, and a metal layer for a cathode that are sequentially stacked on the substrate 114. The deposition apparatus may form a metal layer for the cathode on the substrate on which the light emitting organic material layer is deposited.

텅스텐 와이어(122)는 섭씨 1500 이상일 수 있다. 이에 따라, 금속 막대(132)는 가열되어 저압의 진공 상태에서 증발할 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)는 산소에 의하여 산화될 수 있으므로, 고진공(0.01mTorr 이하)에서 가열될 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)는 서로 분리된 2 내지 5가닥을 가지는 것이 바람직할 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)는 DC 전원을 통하여 전력을 공급받을 수 있다. 상기 텅스텐 와이의 직경(122)은 0.1 밀리미터 내지 1 밀리미터일 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)의 길이는 상기 기판(114)의 크기에 따라 변경될 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)는 DC 전원에 의하여 섭씨 1500 도 이상으로 가열될 수 있다. 텅스텐 와이어(122)와 닿은 알루미늄 재질의 금속 막대는 순간적으로 기화하면서 사방으로 퍼지고, 사방으로 퍼지는 증발된 알루미늄은 상기 기판(112)에 증착되어 예비 도전층을 형성할 수 있다.Tungsten wire 122 may be at least 1500 degrees Celsius. Accordingly, the metal rod 132 may be heated to evaporate in a low pressure vacuum state. Since the tungsten wire 122 may be oxidized by oxygen, it may be heated at a high vacuum (0.01 mTorr or less). The tungsten wire 122 may have 2 to 5 strands separated from each other. The tungsten wire 122 may be supplied with power through a DC power source. The tungsten wire's diameter 122 may range from 0.1 millimeters to 1 millimeter. The length of the tungsten wire 122 may be changed according to the size of the substrate 114. The tungsten wire 122 may be heated to 1500 degrees Celsius or more by a DC power source. The metal rod made of aluminum in contact with the tungsten wire 122 may be instantaneously vaporized and spread in all directions, and vaporized aluminum that is spread in all directions may be deposited on the substrate 112 to form a preliminary conductive layer.

복수의 텅스텐 와이어(122)가 가열되는 경우, 텅스텐 와이어(122)는 열팽창하여 늘어날 수 있다. 따라서, 텅스텐 와이어들(122)을 서로 고정시키기 위하여 절연 지지체(126)는 텅스텐 와이어들을 고정시킬 수 있다. 상기 텅스텐 와이어(122)의 양단은 고정 수단(124)에 의하여 고정될 수 있다. 상기 고정 수단(124)은 상기 텅스텐 와이어(122)를 팽팽하게 고정할 수 있다. 상기 고정 수단(124)은 상기 텅스턴 와이어(122)와 상기 진공 용기(102)의 외부에 배치된 전원(129)을 전기적으로 연결할 수 있다. 또한, 상기 고정 수단(124)은 진공 실링을 수행할 수 있다. 또한, 상기 고정 수단(124)은 복수의 텅스텐 와이어들(122)에게 전력을 분배하기 위한 전력 분배회로(미도시)를 포함할 수 있다. When the plurality of tungsten wires 122 is heated, the tungsten wires 122 may thermally expand and stretch. Accordingly, the insulating support 126 may fix the tungsten wires to fix the tungsten wires 122 to each other. Both ends of the tungsten wire 122 may be fixed by the fixing means 124. The fixing means 124 may firmly fix the tungsten wire 122. The fixing means 124 may electrically connect the tungsten wire 122 and the power source 129 disposed outside the vacuum vessel 102. In addition, the fixing means 124 may perform a vacuum sealing. In addition, the fixing means 124 may include a power distribution circuit (not shown) for distributing power to the plurality of tungsten wires 122.

상기 고정 수단(124)은 지지봉(128)에 의하여 서로 연결될 수 있다. 상기 지지봉(128)에 상기 절연 지지체(126)는 고정 결합할 수 있다. 상기 절연 지지체는 상기 텡스텐 와이어(122)의 연장 방향으로 형성된 관통홀을 포함할 수 있다. 상기 관통홀에 상기 텡스텐 와이어(122)는 삽입되어 고정될 수 있다. 상기 절연 지지체(126)는 전열체이고 열전도도가 낮은 물질일 수 있다. 예를 들어, 상기 절연 지지체는 세라믹 또는 알루미나로 형성될 수 있다. 이에 따라, 서로 나란히 연장되는 텅스텐 와이어들(122) 사이의 간격은 일정하게 유지될 수 있다. The fixing means 124 may be connected to each other by the support rod (128). The insulating support 126 may be fixedly coupled to the support rod 128. The insulating support may include a through hole formed in an extension direction of the tungsten wire 122. The tungsten wire 122 may be inserted into and fixed to the through hole. The insulating support 126 may be a heat transfer material and a material having low thermal conductivity. For example, the insulating support may be formed of ceramic or alumina. Accordingly, the spacing between the tungsten wires 122 extending in parallel with each other may be kept constant.

금속 막대(132)는 이동 수단(140)에 의하여 상기 텅스텐 와이어(122)에 탈부착한다. 이에 따라, 상기 금속 막대(132)의 접촉한 지점은 상기 텅스텐 와이어(122)에 의하여 가열되어 증발한다. 증발된 금속은 기판 방향으로 날아가 상기 기판(114)에 증착될 수 있다. 증발된 금속은 방향성을 가지지 않을 수 있으므로, 오염을 방지하기 위하여, 블로킹 판(150)이 배치될 수 있다. 상기 블로킹 판(150)은 복수의 관통홀(152)을 포함하고, 상기 관통홀(152)을 관통하여 상기 금속 막대(132)는 배치될 수 있다. 상기 관통홀들(152)은 상기 금속 막대(132)와 정렬될 수 있다. 상기 관통홀(152)은 상기 텅스텐 와이어가 연장되는 방향으로 복수 개가 배치될 수 있다. 따라서, 복수 개의 금속 막대(132)는 넓은 면적에 증착을 수행할 수 있다. The metal rod 132 is attached to and detached from the tungsten wire 122 by the moving means 140. Accordingly, the contact point of the metal rod 132 is heated by the tungsten wire 122 to evaporate. The evaporated metal may fly toward the substrate and be deposited on the substrate 114. Since the evaporated metal may not have a directionality, a blocking plate 150 may be disposed to prevent contamination. The blocking plate 150 may include a plurality of through holes 152, and the metal bars 132 may be disposed through the through holes 152. The through holes 152 may be aligned with the metal rod 132. The through holes 152 may be provided in plural in the direction in which the tungsten wire extends. Therefore, the plurality of metal bars 132 may be deposited in a large area.

또한, 대면적 증착을 위하여, 텅스텐 와이어(122)는 상기 텅스텐 와이어(122)가 연장되는 방향에 수직한 방향으로 일정한 간격으로 이격되어 상기 기판(114)의 배치 평면과 나란히 배치될 수 있다.In addition, for large area deposition, the tungsten wires 122 may be spaced apart at regular intervals in a direction perpendicular to the direction in which the tungsten wires 122 extend and may be disposed in parallel with the placement plane of the substrate 114.

이동 수단(140)은 상기 금속 막대(132)를 중력 방향 또는 중력 반대 방향으로 이동시키기 위한 수단일 수 있다. 증착 공정이 진행되는 동안, 상기 이동 수단(140)은 상기 금속 막대(132)를 상기 텅스텐 와이어(122)에 일정한 속도로 접촉시킬 수 있다. 상기 금속 막대(132)의 이동 속도는 상기 텅스텐 와이어(122)의 온도 및 직경에 의존하여 변경될 수 있다. 또한, 증착 공정이 완료되면, 상기 이동 수단(140)은 상기 금속 막대(132)와 상기 텅스텐 와이어(122)를 서로 분리시킬 수 있다.The moving means 140 may be a means for moving the metal rod 132 in a direction of gravity or in a direction opposite to gravity. During the deposition process, the moving unit 140 may contact the metal rod 132 with the tungsten wire 122 at a constant speed. The moving speed of the metal rod 132 may be changed depending on the temperature and diameter of the tungsten wire 122. In addition, when the deposition process is completed, the moving means 140 may separate the metal rod 132 and the tungsten wire 122 from each other.

상기 이동 수단(140)은 상기 진공 용기(102)에 형성된 관통홀(103) 주위에 장착된 제1 플랜지(142), 상기 제1 플랜지(142)와 연결된 신축성 있는 주름관(143), 상기 주름관(143)에 연결된 제2 플랜지(144), 상기 제2 플랜지(144)가 장착되는 이동판(145), 상기 이동판(145)에 형성된 관통홀을 관통하여 배치된 금속 막대(132)를 지지하는 진공 실링부(146)를 포함할 수 있다. 상기 진공 실링부(146)은 상기 금속 막대(132)의 진공 실링을 수행하면서 상기 금속 막대(132)를 고정할 수 있다The moving means 140 may include a first flange 142 mounted around the through hole 103 formed in the vacuum container 102, an elastic corrugated pipe 143 connected to the first flange 142, and the corrugated pipe ( The second flange 144 connected to the 143, the moving plate 145 on which the second flange 144 is mounted, and supports the metal rod 132 disposed through the through hole formed in the moving plate 145 The vacuum sealing part 146 may be included. The vacuum sealing part 146 may fix the metal bar 132 while performing the vacuum sealing of the metal bar 132.

상기 제1 플랜지(142) 및 상기 제2 플랜지(144)는 상기 주름관(143)의 양단에 연결될 수 있다. 상기 진공 용기(102)와 상기 이동판(145)을 서로 연결하는 스쿠루 형태의 이동막대(148)가 배치될 수 있다. 상기 이동막대의 일단은 상기 진공 용기의 표면에 고정될 수 있다. 상기 이동 막대(148)는 상기 이동판(145)을 관통하여 배치될 수 있다. 상기 이동막대(148)가 회전함에 따라, 상기 이동판(145)의 배치 평면은 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 주름관(143)은 신축성을 가지고 상기 이동판(145)과 상기 진공 용기(102) 사이의 거리를 조절할 수 있다. 상기 이동 수단(140)은 다양하게 변형될 수 있다.The first flange 142 and the second flange 144 may be connected to both ends of the corrugated pipe 143. A moving rod 148 in the form of a scoop that connects the vacuum container 102 and the moving plate 145 to each other may be disposed. One end of the moving rod may be fixed to the surface of the vacuum vessel. The moving bar 148 may be disposed through the moving plate 145. As the movable bar 148 rotates, the placement plane of the movable plate 145 may move. Accordingly, the corrugated pipe 143 may have elasticity and adjust a distance between the movable plate 145 and the vacuum container 102. The movement means 140 may be variously modified.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 증발형 증착 장치를 설명하는 도면이다.4 is a view for explaining an evaporation deposition apparatus according to another embodiment of the present invention.

도 4는 도 1과 동일하나, 도 1의 증착 장치가 뒤집힌 구조를 가진다. 따라서, 금속 막대(132)에서 증발된 도전성 금속은 진공용기(102)의 상부면에 장착된 기판(112)에 증착될 수 있다.4 is the same as FIG. 1, but the deposition apparatus of FIG. 1 is inverted. Accordingly, the conductive metal evaporated from the metal rod 132 may be deposited on the substrate 112 mounted on the upper surface of the vacuum vessel 102.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 방법을 설명하는 도면이다.5 is a view for explaining a deposition method according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 증착 방법은 유기 물질층과 수직으로 이격된 평면으로 연장되는 고온의 텅스텐 와이어에 금속 막대의 일단을 접촉시켜 금속 막대의 일단을 가열하고 증발시켜 유기 물질층 상에 예비 도전막을 형성하는 단계, 및 상기 예비 도전막 상에 스퍼터링 방법으로 상기 예비 도전막과 동일한 물질의 도전막을 형성하는 단계를 포함한다. 상기 예비 도전막 및 상기 도전막은 알루미늄일 수 있다.Referring to FIG. 5, the deposition method contacts one end of a metal rod to a hot tungsten wire extending in a plane vertically spaced apart from the organic material layer, thereby heating and evaporating one end of the metal rod to form a preliminary conductive film on the organic material layer. And forming a conductive film of the same material as the preliminary conductive film by a sputtering method on the preliminary conductive film. The preliminary conductive layer and the conductive layer may be aluminum.

양극용 투명 전극(213), 발광 유기 물질층(214), 예비 도전막(215), 및 도전막(216)상기 기판(114) 상에 차례로 적층될 수 있다. 상기 예비 도전막(215)은 도 1에 의한 텅스텐 와이어를 이용한 증착 장치에 의하여 형성될 수 있다. 상기 예비 도전막(215)은 알루미늄일 수 있다. 이어서, 상기 예비 도전층이 증착된 기판은 스퍼터링 장치로 이동될 수 있다. 이어서, 상기 스퍼터링 장치는 도전층을 소정의 두께로 형성할 수 있다. 상기 예비 도전층의 두께는 상기 도전층의 두께보다 작다.The transparent electrode 213 for the anode, the light emitting organic material layer 214, the preliminary conductive film 215, and the conductive film 216 may be sequentially stacked on the substrate 114. The preliminary conductive layer 215 may be formed by a deposition apparatus using tungsten wires as shown in FIG. 1. The preliminary conductive layer 215 may be aluminum. Subsequently, the substrate on which the preliminary conductive layer is deposited may be moved to a sputtering apparatus. Subsequently, the sputtering apparatus may form a conductive layer to a predetermined thickness. The thickness of the preliminary conductive layer is smaller than the thickness of the conductive layer.

이상에서는 본 발명을 특정의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되지 않으며, 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 실시할 수 있는 다양한 형태의 실시예들을 모두 포함한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, And all of the various forms of embodiments that can be practiced without departing from the technical spirit.

102: 진공용기
114: 기판
122: 텅스텐 와이어
132: 금속 막대
140: 이동부
102: vacuum container
114: substrate
122: tungsten wire
132: metal rod
140:

Claims (5)

진공 용기;
상기 진공 용기 내부에 배치되고 유기 물질층을 포함하는 기판을 장착하는 기판 홀더;
상기 기판 홀더 상에 상기 기판 홀더와 수직으로 이격되어 상기 기판 홀더의 평면으로 연장되는 적어도 하나의 텅스텐 와이어;
상기 텅스텐 와이어의 양단에 연결되어 전력을 공급하는 전원;
상기 텅스텐 와이어와 접촉하여 증발하도록 삽입되는 금속 막대; 및
상기 금속 막대를 상기 텅스텐 와이어와 접촉 또는 탈착시키도록 이동시키는 이동 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 증발형 증착 장치.
A vacuum container;
A substrate holder disposed in the vacuum vessel and mounting a substrate including an organic material layer;
At least one tungsten wire spaced perpendicular to the substrate holder and extending in a plane of the substrate holder on the substrate holder;
A power supply connected to both ends of the tungsten wire to supply power;
A metal rod inserted to contact and evaporate the tungsten wire; And
And moving means for moving said metal rod to contact or desorb said tungsten wire.
제1 항에 있어서,
상기 금속 막대가 통과하는 관통홀을 포함하는 블록킹판; 및
상기 텅스텐 와이어를 고정하는 절연 지지부 중에서 적어도 하나를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 증발형 증착 장치.
The method according to claim 1,
A blocking plate including a through hole through which the metal bar passes; And
Evaporation deposition apparatus further comprises at least one of the insulating support for fixing the tungsten wire.
제1 항에 있어서,
상기 금속 막대는 알루미늄인 것을 특징으로 하는 증발형 증착 장치.
The method according to claim 1,
Evaporation deposition apparatus, characterized in that the metal bar is aluminum.
유기 물질층과 수직으로 이격된 평면으로 연장되는 고온의 텅스텐 와이어에 금속 막대의 일단을 접촉시켜 금속 막대의 일단을 가열하고 증발시켜 유기 물질층 상에 예비 도전막을 형성하는 단계; 및
상기 예비 도전막 상에 스퍼터링 방법으로 상기 예비 도전막과 동일한 물질의 도전막을 형성하는 단계를 포함하는 증착 방법.
Contacting one end of the metal rod with a hot tungsten wire extending in a plane vertically spaced apart from the organic material layer to heat and evaporate one end of the metal rod to form a preliminary conductive film on the organic material layer; And
Forming a conductive film of the same material as the preliminary conductive film by a sputtering method on the preliminary conductive film.
제 4 항에 있어서,
상기 예비 도전막 및 상기 도전막은 알루미늄인 것을 특징으로 하는 증착 방법.
5. The method of claim 4,
And the preliminary conductive film and the conductive film are aluminum.
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