KR101260341B1 - 멀티 터치 인식 장치 - Google Patents

멀티 터치 인식 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101260341B1
KR101260341B1 KR1020110088772A KR20110088772A KR101260341B1 KR 101260341 B1 KR101260341 B1 KR 101260341B1 KR 1020110088772 A KR1020110088772 A KR 1020110088772A KR 20110088772 A KR20110088772 A KR 20110088772A KR 101260341 B1 KR101260341 B1 KR 101260341B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch
measurement signal
touch measurement
receiver
transmitter
Prior art date
Application number
KR1020110088772A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20130004018A (ko
Inventor
안석민
한홍희
정구범
Original Assignee
주식회사 알엔디플러스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 알엔디플러스 filed Critical 주식회사 알엔디플러스
Priority to US14/130,454 priority Critical patent/US9292132B2/en
Priority to JP2014518810A priority patent/JP5757004B2/ja
Priority to CN201280032015.5A priority patent/CN103649877B/zh
Priority to PCT/KR2012/005172 priority patent/WO2013005949A2/ko
Publication of KR20130004018A publication Critical patent/KR20130004018A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101260341B1 publication Critical patent/KR101260341B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/042—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means
    • G06F3/0421—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means by interrupting or reflecting a light beam, e.g. optical touch-screen
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04166—Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04104—Multi-touch detection in digitiser, i.e. details about the simultaneous detection of a plurality of touching locations, e.g. multiple fingers or pen and finger
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04109—FTIR in optical digitiser, i.e. touch detection by frustrating the total internal reflection within an optical waveguide due to changes of optical properties or deformation at the touch location
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/042—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means
    • G06F3/0428—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means by sensing at the edges of the touch surface the interruption of optical paths, e.g. an illumination plane, parallel to the touch surface which may be virtual

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)

Abstract

본 발명은 멀티 터치 스크린 장치에서 다중 터치가 발생하는 경우에 실제로 터치되는 위치와 허상의 위치를 경사각 측정 방식을 이용하여 허상을 구별할 수 있으며, 터치 위치 측정을 위한 시간을 최소화하고 그 위치를 보다 정확하게 측정하는 멀티 터치 인식 장치을 제공하고자 한다.

Description

멀티 터치 인식 장치{Apparatus for sensing multi-touch on touch screen apparatus}
본 발명은 터치 측정 신호 일예로 적외선을 통해 터치면에서의 적외선의 경로 방해 유무를 판단하여 여러 물체의 위치를 측정하는 터치 스크린 장치에서 실제 터치되는 위치인 실상과 실제 터치되지 아니한 허상을 구분할 수 있을 뿐만 아니라 터치 측정 연산 속도를 개선하여 사용자가 터치 위치가 빠르게 변화되더라도 이를 정확하게 인식할 수 있도록 하는 멀티 터치 인식 장치에 관한 것이다.
적외선 터치는 배열된 적외선 터치 측정 신호 수신부들이 물체에 의하여 적외선이 가려지는 경우 적외선 수신 여부에 따라 물체의 위치를 측정한다.
이러한 방식에 사용되는 적외선 신호는 수십에서 수백 KHz의 교류 신호로 방사한 후 물체의 유무에 따라 수집된 교류 신호를 평균하여 신호의 크기를 측정한다.
이러한 방식은 수집된 교류 신호를 평균하기 위한 시간과 고주파 신호에 의한 적외선 터치 측정 신호 수신부들의 주파수 반응의 현저한 저하로 인해 감도 및 전체 반응 속도의 제약을 가져오며 발광부와 수광부에서 작동하는 다른 광원에 의해서 서로 간섭되어 수신부에서 정확한 신호의 수신을 기대할 수 없고 이로 인해 정확한 좌표를 산출해 낼 수 없을 뿐만 아니라 발광부와 수광부 사이에서 적외선 신호가 방사되는 경우 가려진 좌표에서 물체의 유무를 판단하지 못하는 부분 즉 허상 좌표가 생성되는 문제점이 있었다.
이러한 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로 등록특허 제10-1018397호는 허상을 제거하기 위한 장치 및 방법을 제안하고 있으며, 이에 따르면 허상제거를 위해 제1스캔 제어 모드를 수행한 후 멀티 터치가 감지는 되는 경우에는 제2스캔 제어모드를 별도로 수행하여야 한다.
도 14는 등록특허 제10-1018397호에 개시된 허상의 제거가 가능한 적외선 터치스크린 장치의 개략적인 구성도이다.
그러나 상기 등록특허 제10-1018397호에 개시된 방식에 따르면 제1스캔 제어모드에서 실제 멀티 터치가 발생하였음에도 이를 제대로 인식하지 못하는 경우가 발생하게 된다.
구체적으로 등록특허 제10-1018397호에 개시된 방식에 따르면 새로운 터치가 발생하는 경우 제1스캔 제어모드 수행 후 멀티 터치로 인식되는 경우에는 별도의 제2스캔 제어모드를 구동하여 멀티 터치 중 허상으로 판단되는 물체를 제거하는데, 만일 멀티 터치의 이동이 빈번하거나 빠른 경우, 제2스캔 제어모드가 수행되는 동안 새로운 멀티 터치가 발생되어도 제2스캔 제어모드가 수행중이므로 제1스캔 제어모드로 전환되지 않아 새로운 멀티 터치를 측정하지 못하는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 터치 스크린 장치에서 다중 터치가 발생하는 경우에 실제로 터치되는 위치와 허상의 위치를 구별할 수 있는 멀티 터치 인식 장치를 제공하고자 한다.
또한 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 경사각 측정 방식을 이용하여 허상을 구별할 수 있는 멀티 터치 인식 장치를 제공하고자 한다.
또한 본 발명은 터치 위치 측정을 위한 시간을 최소화하는 멀티 터치 인식 장치를 제공하고자 한다.
상기와 같은 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치는 수신모듈 그룹부를 향하여 방사상으로 연속된 터치 측정 신호를 발신하는 터치 측정 신호 발신부를 그룹화한 복수의 발신부 그룹부; 상기 발신부 그룹부에서 발신되는 측정신호를 직각, 예각 및 둔각의 위치에서 각각 수신모듈별로 직각, 예각 및 둔각으로 동시에 수신하도록 적어도 3개 이상인 다수의 수신 모듈을 구비한 복수의 수신모듈 그룹부; 상기 발신부 그룹부 각각에 포함된 동일한 인덱스의 터치 측정 신호 발신부가 동시에 구동되도록 구동 클럭을 제공하는 발신부 구동 클럭부; 상기 복수의 수신모듈 그룹부에서 수신된 터치 측정 신호로 터치 영역의 x, y 좌표 또는 지름의 크기를 연산하는 제어부; 및 사용자로부터 터치 입력을 입력받는 터치 패널을 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식장치를 특징으로 한다.
상기와 같은 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 또 다른 멀티 터치 인식 장치는 펄스를 포함하는 터치 측정 신호를 방사상으로 송출하는 발신소자를 하나 이상 포함하는 발신 모듈; 상기 발신 모듈에서 송출된 상기 터치 측정 신호를 수신하는 수신 소자를 하나 이상 포함하는 수신 모듈; 상기 수신 모듈에서 수신된 터치 측정 신호로부터 터치 영역의 좌표 또는 지름의 크기를 연산하는 제어부; 및 사용자로부터 터치 입력을 입력받는 터치 패널을 포함하며, 발신소자로부터 방사상으로 발신된 터치 측정 신호를 직각, 둔각 및 예각에 위치한 수신소자가 직각, 예각 또는 둔각의 터치 신호를 연속 수신하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식장치를 특징으로 한다.
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
삭제
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치는 멀티 터치 스크린 장치에서 멀티 터치가 발생하는 경우에 실제로 멀티 터치되는 위치와 허상의 위치를 효율적으로 구별할 수 있으며, 경사각 측정 방식의 멀티 터치 위치 측정 방법과 기준 좌표 산출 방법을 이용하여 허상을 효율적으로 구별할 수 있게 되며, 멀티 터치 위치를 측정하는 시간을 최소화하여 멀티 터치가 빠르게 이동하거나 변하더라도 이를 효과적으로 측정할 수 있게 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 터치 인식 장치의 개략적인 구성도이다.
도 2 내지 3은 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 터치 지점을 인식하는 원리를 설명하는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 특정 터치 수송출 모듈이 고장인 경우 터치 지점을 인식하는 원리를 설명하기 위한 다른 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 실제로 터치되는 지점과 허상의 터치 지점을 구분하는 과정을 나타내는 흐름도이다.
도 6은 본 발명에 따른 멀티 터치 입력 위치 인식 장치에서 터치 측정 신호 발신부의 송출각에 의하여 허상을 제거하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 7 내지 10은 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 터치 측정 신호 발신부의 송출각에 의하여 허상을 제거하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치의 다른 실시 예에 따른 모듈형으로 터치 측정 신호 수신부를 구성한 구성도이다.
도 12는 본 발명의 모듈형으로 터치 측정 신호 수신부를 구성한 멀티 터치 인식 장치 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 인접 수송출 모듈군에서 수신부 모듈이 서로 연동되는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 14는 종래기술에 따른 멀티 터치 스크린 장치의 개략적인 구성도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부, "…모듈", "…소자" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 멀티 터치 식 장치의 개략적인 구성도이다.
본 발명의 실시예에 따른 멀티 터치 인식 장치는 X축 터치 측정 신호 수신부(110), X축 터치 측정 신호 발신부(120), Y축 터치 측정 신호 수신부(130), Y축 터치 측정 신호 발신부(140), X축 수신부 드라이버(111), X축 발신부 드라이버(121), Y축 수신부 드라이버(131), Y축 발신부 드라이버(141) 및 제어부(230)를 포함한다.
X축 터치 측정 신호 수신부(110)는 적어도 둘 이상이 연속적으로 배열되어 전체 수신부를 구성하여 발신부에서 송출되는 적외선을 수신한다. X축 터치 측정 신호 발신부(120)는 적어도 둘 이상이 연속적으로 배열되어 X축 터치 측정 신호 수신부(110)측에 터치 측정 신호를 터치 평면에 송출한다.
Y축 터치 측정 신호 수신부(130)는 적어도 둘 이상이 연속적으로 배열되어 전체 수신부를 구성하여 발신부에서 송출되는 적외선을 수신한다. Y축 터치 측정 신호 발신부(140)는 적어도 둘 이상이 연속적으로 배열되어 Y축 터치 측정 신호 수신부(130)측에 터치 측정 신호를 터치 평면에 송출한다.
X,Y축 발신부 드라이버(121, 141)는 X,Y축 터치 측정 신호 발신부(120, 140)를 일정한 시간 간격으로 구동하여 터치 측정신호, 일 예로 적외선 신호를 멀티 터치 스크린의 터치 평면으로 방사하도록 하며, X,Y축 수신부 드라이버(121, 141)는 X,Y축 터치 측정 신호 수신부(110, 130)를 일정한 시간 간격으로 구동하여 터치 측정 신호 일 예로, 적외선 신호와 외부 잡음 신호인 일 예로, 태양광, 저주파 잡음 등을 수신하도록 한다.
상기에서 터치 측정 신호로 적외선 신호가 예시되어 있으나 RF 신호 및 엘이디 발광 신호 역시 터치 측정 신호로 사용될 수 있음에 유의하여야 한다.
도 1에서는 발신부와 수신부가 대향하여 배치되는 구조 즉, 일측에는 송출 모듈만 배열하고 다른 일측에는 수신 모듈만 배열하는 구조가 예시되어 있으나, 필요에 따라 송출 모듈과 수신 모듈을 교대로 양측에 배열하는 것도 가능함에 유의하여야 한다.
제어부(150)는 X축 터치 측정 신호 수신부(110) 및 Y축 터치 측정 신호 수신부(130)에 의하여 수신된 터치 측정 신호를 처리하여 사용자에 의해 터치 패널 상의 터치되는 지점의 특성을 계산한다.
상기에서 터치되는 지점에 대한 특성으로는 X축 과 Y축의 좌표뿐만 아니라 터치되는 지점의 크기 일 예로, 지름이 계산될 수 있다.
본 발명에 따른 전체 X축 터치 측정 신호 수신부(110)와 X축 터치 측정 신호 발신부(130)는 가로축에 N개의 송출소자와 수신부를 그리고 Y축 터치 측정 신호 수신부(120)와 Y축 터치 측정 신호 발신부(140)는 세로축에 M개의 송출소자와 수신부가 배열된다.
다른 예로서 X축 터치 측정 신호 수신부(110)와 X축 터치 측정 신호 발신부(130)가 교대로 배치되는 경우에는 X축 터치 측정 신호 수신부(110)와 X축 터치 측정 신호 발신부(130)의 개수의 합은 총 2N개로서 N개는 가로축의 일측에 다른 N개는 가로축의 다른 일측에 배치되며, Y축 터치 측정 신호 수신부(120)와 Y축 터치 측정 신호 발신부(140)의 개수의 합은 총 2M개로서 M개는 세로축의 일측에 다른 M개는 세로축의 다른 일측에 배치된다.
상기와 같은 구조를 가지는 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 터치 지점의 특성 즉, 좌표와 터치 영역의 크기를 계산하는 방법을 설명하도록 한다.
먼저, 서로 마주보는 수평축(X축) 터치 측정 신호 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 X(0), 두 번째 터치 측정 신호 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 X(1)로, 세 번째 터치 측정 신호 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 X(2)으로, k번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 X(k-1)로, N번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 X(N-1)로 정의한다.
수직축(Y축) 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 Y(0), 두 번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 Y(1)로, 세 번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 Y(2)으로, k번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 Y(k-1)로, M번째 수신모듈의 수신부에서 수신된 적외선 광의 크기를 Y(M)로 정의한다.
터치 입력을 인식하기 위해 발신부에서 송출된 터치 측정 신호가 물체에 의해 간섭되었는지 여부를 확인하기 위해 각 X축 터치 측정 신호 수신부는 0에서 N-1번째 값까지 그리고 Y(k)를 0에서 M-1번째 값까지를 순차적으로 측정하는 스캔을 수행한다.
k번째 스캔을 통해 터치 측정 신호 수신부에서 수신된 터치 측정 신호의 수신값을 X(k-1)와 Y(k-1)를 할 때, k를 1에서 X축에 대해서는 1 에서 N까지 Y축에 대해서는 1에서 M까지 변화시켜가면서 전체 터치 측정 신호 수신부에서 각 스캔에 따른 터치 측정 신호의 수신값을 얻고 이 값을 이용하여 터치 측정 신호 발신부 송출되는 터치 측정 신호의 이동을 방해하는 물체들의 다중좌표와 이 물체들의 지름을 구할 수 있다.
먼저 수학식 1 내지 2를 통하여 터치 측정 신호의 수신값을 정규화한다.
Figure 112011068642181-pat00001
여기서 n은 1 또는 2 등의 자연수로, 신호의 노이즈 성분의 반응 정도를 선형으로 할지 비선형으로 할지를 결정하는 것으로, n=1인 경우는 기저(Background) 노이즈 성분이 적은 신호를 계산하는데 유리하고, n > 1인 경우는 기저 노이즈 신호가 많은 경우 유리한 측정방식이다.
G는 스케일링 값으로 일반적으로 1 또는 100으로 설정하며 수학식 1에 구하여진 측정값은 X축에 대한 측정값의 정규화된 값이다. Y축 역시 X축과 동일한 방식으로 좌표를 구할 수 있다.
Figure 112011068642181-pat00002
수학식 2에 구하여진 측정값은 Y축에 대한 측정값의 정규화된 값이다.
상기에서 Xmax와 Ymax는 각각 X축과 Y축에서 측정된 터치 신호 중 가장 큰 값으로 정의한다.
상기 정규화된 측정값을 이용하여 터치 영역의 좌표를 구한다.
일반적으로 알려진 바와 같이 터치영역의 좌표는 적외선 경로를 방해하는 터치물체들로 인해 해상도가 낮게 측정되는 X축 또는 Y축 수신소자의 위치로서 계산된다.
삭제
한편 상기 정규화된 측정값을 이용하여 터치 영역의 지름을 구하는 공식은 하기의 수학식 5와 6과 같다.
삭제
삭제
즉, n번째에 해당하는 X좌표의 지름은 하기의 수학식 5에 의해서 구해지고, Y좌표의 지름은 하기의 수학식 6에 의해 구해진다.
Figure 112011068642181-pat00005
Figure 112011068642181-pat00006
상기에서 i는 0에서 N까지의 자연수이며, j는 0에서 M까지의 자연수이며, w: X축 터치영역 수신부 개수, h: Y축 터치영역 수신부 개수이다.
한편 본 발명의 멀티 터치 입력 위치 인식 장치에서는 터치 영역을 인식하기 위하여 터치 측정 신호 수신부에서 측정된 측정값을 정규화한 Nx(k)와 Ny(k)를 계산하여, 이 값이 제1기준값 Tlower보다 큰 경우를 측정하고, 이 값들 중 최소 1개 이상 값들이 제2기준값 Thigher > Nx(k), Ny(k)의 조건에 부합하는 연속적으로 얻어진 값으로부터 상기 수학식 3 내지 6을 통해 좌표와 지름을 구한다.
상기의 수학식에서 W=S/N이고 H=S/M으로, S는 화면의 최대 해상도 N과 M은 각각 X와 Y축의 터치 측정 신호 수발신부의 개수이다.
다른 실시예로서, 터치된 영역에서의 확률밀도 값을 측정하여 터치 좌표의 유효성을 결정할 수 있다.
구체적으로 터치 영역의 확률밀도 측정값을 수학식 7과 8과 같이 정의하도록 한다.
Figure 112011068642181-pat00007
Figure 112011068642181-pat00008
상기 수학식 7과 8에 의하여 특정한 확률 밀도 함수에 의해 결정되는 값을 수학식 3 내지 6에 사용되는 제1기준값 Tlower 및 제2기준값 Thigher으로 설정할 수 있다.
도 2 내지 3은 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 터치 지점을 인식하는 원리를 설명하는 도면이며, 도 5는 본 발명의 제1실시예에 따라 실제로 터치되는 지점과 허상의 터치 지점을 구분하는 과정을 나타내는 흐름도이다.
이하에서는 도 2 내지 3을 참조하여 본 발명에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 실제로 터치되는 지점과 허상의 터치 지점을 구분하는 과정을 대해서 설명한다.
먼저 터치 측정 신호 수신부는 터치 측정 신호 발신부에서 송출된 터치 측정 신호 중 최대값 즉, Xmax(k)와 Ymax(k)에 해당하는 값을 측정한다(S501 단계).
Xmax(k)와 Ymax(k) 대한 측정이 완료되었는지 판단하고, 완료되었으면(S502 단계), S503 단계로 이동한다. S502 단계에서 측정값은 적외선을 방해하는 물체가 터치면에 존재하지 않는 것으로 간주한다.
S503 단계에서는 터치 측정 신호가 터치 측정 신호 수신부에서 수신되는 지를 측정한다. 즉, 각 터치 측정 신호 수신부에서 X(k)와 Y(k)를 측정한다.
S504단계에서 측정이 완료되었는지 판단하여 완료되었으면, S505 단계로 이동한다.
S505 단계에서는 터치 영역의 값 즉, 좌표와 지름 등을 측정하기 위해 사용되는 변수를 초기화한다. 즉, n=0, m=0, w=0, h=0, i=0, j=0으로 각 변수를 설정한다.
상기에서 n은 X축에서 얻어지는 터치 점의 좌표 및 지름의 개수이고, m은 Y축에서 얻어지는 터치 점의 좌표 및 지름의 개수이며, i는 X축의 센서부 값 X(k)의 인덱스로 0부터 N까지이며, j는 Y축의 센서부 값 Y(k)의 인덱스로 0부터 M까지이며, W=S/N이고 H=S/M이며, 이때 S는 화면의 최대 해상도이다.
S506 단계에서는 상기 수학식 1과 수학식 2를 계산한다.
S507 단계에서는 정규화한 Nx(k)와 Ny(k)를 계산하여, 이값이 제1기준값 Tlower보다 큰 경우를 계산하는 부합하는 값에 대해서는 S511 단계로 이동한다. 제1기준값 Tlower보다 크지 않는 경우, S508 단계로 이동한다.
S508 단계에서는 W와 H값이 영인지를 판단하여 영이 아닌 경우는 터치에 눌림이 존재한 것으로 판단하여 최종 좌표 계산을 위하여 S514 단계로 이동한다. 만일 영인 경우 S509단계로 이동한다.
S509 단계에서는 W와 H를 초기화하고, 좌표 x(n)과 y(m)을 계산한다.
S510 단계에서는 W와 H를 초기화하고, 수학식 5과 수학식 6를 이용하여 dx(n)과 dy(m)을 계산한다.
S511 단계에서는 S507 단계에서 측정된 Nx(k)와 Ny(k)값 중 제1기준값 Tlower보다 큰 경우, 터치 측정 신호에 대한 방해가 있는 것으로 판단하여 w와 h의 값을 하나씩 증가한다.
S512 단계에서는 계산된 좌표 및 지름이 제한적인 조건, 예를 들어 특정지름의 하나 이상의 제한의 의해서 터치로 인정하지 않는 조건 등을 판단하여, 판단 결과 조건에 부합하면, 단계 S513으로 이동하고, 그렇지 않으면 좌표 정보를 삭제하고 S514 단계로 이동한다. 여기서 조건 측정은 상기의 수학식 7과 수학식 8과 같이 판단 조건일 수 있다.
S513 단계에서는: n과 m의 인덱스 값을 하나씩 증가시키고, S514 단계에서는 i와 j의 인덱스 값을 하나씩 증가한다.
S515 단계에서는 n×m의 좌표에서 터치 측정 신호에 대한 측정이 완료되고 이 좌표 중에서 물체의 존재 유무를 측정할 수 없는 허상을 제거하여 실제 터치점의 좌표만을 구분한다.
S519 단계에서는 n=0, m=0인 경우, 최소한 1점의 터치조차 없는 터치업 상태이면 S517 단계로 이동하고, n>0, m>0인 경우 즉, 터치다운 상태이면 S518 단계로 이동한다.
터치 다운 상태가 되면 좌표를 정보기기로 전송하고 새로운 좌표를 측정하기 위해 S503 단계로 이동한다.
S520 단계에서는 i=(N-1)가 j=(M-1)의 조건을 만족하는지 판단하여 만족하는 경우는 모든 터치 측정신호에 대한 측정값의 계산이 완료된 경우로 S515 단계로 이동하고, 그렇지 않으면 S506 단계로 이동하여 다음 번째 Nx(k)와 Ny(k)를 측정한다.
터치 업이 일정시간 동안 계속되면, S501 단계로 이동하여, Xmax(k)와 Ymax(k)를 재측정하고, 그렇지 않으면 S503 단계로 이동한다.
도 5의 S507단계에서는 하기의 수학식 9와 10을 만족하는 터치 영역만을 대상으로 실행될 수 있다.
Figure 112011068642181-pat00009
Figure 112011068642181-pat00010
여기서 Sx(i)와 Sy(i)는 미리 정의된 매칭 터치 패턴의 매칭 필터이며, l은 매칭 필터의 샘플링 개수이다.
상기와 같이 매칭 필터를 적용하는 이유는 측정된 터치 영역값 중 특정한 터치 패턴만을 터치로 인식하도록 함으로써 터치 영역의 인식율에 대한 향상을 기대할 수 있게 한다.
도 4는 본 발명에 따른 멀티 터치 입력 위치 인식 장치에서 특정 터치 수송출 모듈이 고장인 경우 터치 지점을 인식하는 원리를 설명하기 위한 다른 도면이다.
일반적으로 적외선 수터치 측정 신호 발신부가 불량이 발생하면 터치 유무를 판단할 수 없다. 그럼으로 이 같은 소자 고장에 의한 신호 측정이 불가능을 해결하기 위해서 도 5의 S506에서 도면 4에서와 같이 k번째 수터치 측정 신호 발신부가 고장인 경우, 즉 Xmax(k)=0와 Ymax(k)=0인 경우, Nx(k)=Nx(k-1)와 같이 Nx(k), Ny(k)를 각각 Nx(k-1), Ny(k-1)값으로 대체하여 좌표를 계산함으로써, 고장에 의한 터치 스크린의 오동작을 방지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 멀티 터치 인식 장치에서 터치 측정 신호 발신부의 송출각에 의하여 허상을 제거하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 7 내지 10은 본 발명의 제1실시예에 멀티 터치 인식 장치에서 송출 측정 신호 발신부의 송출각에 의하여 허상을 제거하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
매트릭스 형식으로 배치된 터치 스크린에서 멀티 좌표의 허상들을 제거하기 위해 도 6과 같이 터치 측정 신호 발신부의 송출각에 경로에서 물체 유무를 판단하고 제3의 좌표를 측정하여 허상을 제거하는 방법을 기술한다. 허상 제거 방법은 도 7의 S515 단계에서 처리한다.
도 7에서 k+d 번째 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 송출되면, 송출된 터치 측정신호를 수신하는 터치 측정 신호 수신부는 k번째가 되도록 빗각으로 스캔하여 X(k)를 측정한다.
마찬가지로 k번째 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 송출되면, 이 방사 적외선이 수신되는 터치 측정 신호 수신부는 k+d 번째가 되도록 빗각으로 스캔하여 X(k+d)를 측정한다.
이 경우, 도 7을 참고하여 실제로 터치되는 영역의 터치 측정 신호 수신부로부터의 거리를 각각 매트릭스 형식으로 배치된 터치면에서 허상들을 제거하기 위해 터치 측정 신호 발신부에서 송출된 터치 측정 신호의 이동 경로에서 물체에 의한 이동 유무의 방해 여부를 판단하고 하기에서 설명하는 제3의 좌표를 측정하여 허상을 제거하는 방법을 기술한다. 허상 제거 방법은 도 7의 S715 단계에서 처리한다.
도 9에서 k+d 번째 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 송출되면, 송출된 터치 측정신호를 수신하는 수신부는 k번째가 되도록 빗각으로 스캔하여 를 측정한다.
도 8에서는 k번째 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 송출되면, 수신부는 k+d 번째가 되도록 빗각으로 스캔하여 터치 위치를 측정한다.
삭제
삭제
삭제
삭제
허상(Ghost Image)를 제거하기 위해서는 다음과 같은 단계를 통해 실현된다.
먼저, 도 8에서와 같이 직각 방향으로 터치 측정신호를 송출하여 터치 영역의 좌표를 측정한다. 이 경우 다점을 형성하는 물체 A, C, D가 터치 면에 놓여있다면, 허상 B를 구분하지 못하는 상태로 A, B, C와 D의 직교 좌표를 측정하게 된다.그러나 도 9, 10은 실제 빗각 신호로 다점 스캔하면 터치물체인 A, C, D만 측정되고 허상 B는 측정되지 않음을 보여주고 있다.
다음으로, 도 9에서와 같이 왼쪽 방향으로 빗각을 가지도록 즉, 터치 측정 신호가 수신부에서 하부면에 대하여 둔각을 가지도록 터치 측정 신호 발신부에서 송출되도록 하고 터치 측정 신호 발신부에서 송출된 터치 측정 신호를 스캐닝하여 터치 영역의 좌표를 측정한다.
직교 좌표를 통해 측정된 허상을 포함하는 좌표에 대응하는 기울기 좌표는 하기의 수학식 13 및 14에 의하여 계산된다.
즉, 상기 직교좌표는 도 8과 같이 터치 물체를 수신소자가 직각으로 실제 스캔한 때 측정된 직교좌표(x0, y0)이다. 상기 허상을 포함하는 좌표에 대응하는 기울기 좌표(XTC, YTC)란 직교좌표(x0,y0)를 도 9, 도 10과 같이 기울기 스캔을 가상한 때 터치 물체가 존재할 것으로 예상되는 기울기 좌표(XTC, YTC)로 수학식을 통해 계산한 것이다.
Figure 112012108605861-pat00057
Figure 112012108605861-pat00058
상기에서 수학식 13 및 14에 의하여 계산된 직교좌표에 대응한 기울기 좌표값(XTC, YTC)과 도 8과 같이 실제 빗각으로 송출된 터치 측정 신호에 의한 스캐닝을 통해 얻어진 좌표와의 거리 차이(Dx, Dy)를 계산한다.
삭제
삭제
상기에서 xo, yo는 직교 스캐닝을 통해 얻어진 허상을 포함하는 좌표이고, Xc와 Yc는 사용된 터치 측정 신호 수신부의 개수를 의미한다.
만일 Dx, Dy가 특정한 한계값보다 크면, 좌표는 허상에 해당하는 것으로 판단한다. 상기에서 특정한 한계값은 사용한 적외선 수신부 센서의 밀도에 따라 미리 결정된다.
도 10에서와 같이 왼쪽 방향으로 빗갓을 가지도록 즉, 터치 측정 신호가 수신부에서 하부면에 대하여 예각을 가지도록 터치 측정 신호 발신부에서 송출되도록 하고 터치 측정 신호 수신부는 수신된 터치 측정 신호를 스캐닝하여 터치 영역의 좌표를 측정할 수 있다.
여기서 직교 좌표(xo, yo)를 통해 측정된 허상을 포함하는 좌표에 대응하는 기울기 좌표(XTC, YTC)는 하기의 수학식 17 및 18에 의하여 계산된다.
Figure 112012108605861-pat00059
Figure 112012108605861-pat00060
계산된 값(XTC, YTC)과 빗각으로 송출된 터치 측정 신호에 의한 스캐닝을 통해 얻어진 좌표와의 거리 차이(Dx, Dy)를 계산한다.
삭제
삭제
만일 Dx, Dy가 특정한 한계값보다 크면, 좌표는 허상에 해당하는 것으로 판단한다. 상기에서 특정한 한계값은 사용한 적외선 수신부 센서의 밀도에 의존한다.
상기에서 xo, yo는 직교 스캐닝을 통해 얻어진 허상을 포함하는 좌표이고, Xc와 Yc는 사용된 터치 측정 신호 수신부의 개수를 의미한다.
도 9, 도 10와 같이 빗각으로 스캔하는 경우에, 터치 측정 신호 발신부에서 송출되는 터치 측정 신호는 하나의 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호 수신부와 수신부에 연결되어 있는 면에 대하여 직각의 송출 신호와 빗각(둔각 또는 예각)의 터치 측정 신호를 연속적으로 송출함에 주의하여야 한다.
즉, 종래에는 모든 터치 측정 신호 발신부에서 직각의 터치 측정 신호를 연속적으로 송출한 다음 빗각의 터치 측정 신호를 다시 모든 터치 측정 신호 발신부에서 연속적으로 송출하도록 하였으나, 본 발명에서는 하나의 터치 측정 신호 발신부에서 직각의 터치 측정 신호와 빗각의 터치 측정 신호를 동시에 방사상으로 송출하고 해당 발신부에 대해 소정의 각도 즉, 둔각, 직각, 예각에 있는 수신부에서 수신되는 터치 측정 신호로 터치의 좌표 또는 지름을 연산한다는 것에 차이가 있다.
도 11은 본 발명의 제2실시예인 모듈형으로 터치 측정 신호 수신부를 구성한 멀티 터치 입력 위치 인식 장치 구성도이고, 도 12는 본 발명의 제2실시예인 모듈형으로 터치 측정 신호 수신부를 구성한 멀티 터치 입력 위치 인식 장치 동작을 설명하기 위한 도면이다.
본 발명의 제2실시예에 따른 멀티 터치 입력 위치 인식 장치는 터치 측정 신호 발신부(1160)에서 송출되는 터치 위치 측정 신호는 터치 측정 신호 발신부(1160)에서 소정의 각도로 방사상으로 송출되고 미리 정의된 예각, 직각, 둔각에 위치한 3개의 터치 측정 신호 수신부(1140)에서 상기 터치 위치 측정 신호를 동시에 측정하도록 하되 소정의 개수 단위로 터치 측정 신호 수신부(1140)를 모듈화한 후 상기 수신부 모듈(A, B, C)을 소정 개수 단위로 묶어 수신부 모듈 그룹부(1110)가 되도록 한다.
한편 터치 측정 신호 발신부(1160) 역시 소정 개수의 터치 측정 신호 발신부(1160)를 묶어 발신부 그룹부(1120)를 구성한다.
수신부 모듈 A, B, C는 하나의 각각 하나의 수신부 모듈 신호 변환부(1131, 1132, 1133)에 의해 각 수신부 모듈에 포한된 터치 측정 신호 수신부(1140)에서 수신된 터치 측정 신호를 전압 신호로 변환한다.
상기 수신부 모듈 A, B, C에는 각각 아날로그 신호인 전압 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D변환부(1150)가 각각 연결되어 제어부에 디지털값으로 변환된 터치 위치 측정 신호의 수신값을 출력한다.
한편 도면에는 미도시되어 있으나 발신 구동 클럭부는 상기 발신부 그룹부(1120)에 포함된 동일한 인덱스의 터치 측정 신호 발신부(1160)가 동시에 구동되도록 발신부 구동 클럭(1180)을 출력한다.
상기 발신 구동 클럭부의 구동 클럭(1180)은 발신부 드라이버(1170)에 공급되어 터치 측정 신호 발신부(1160)를 구동하여 터치 측정 신호가 소정의 각도로 방사상으로 송출되도록 한다.
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 제2실시예에 따른 멀티 터치 인식장치의 동작을 도 12를 참고하여 설명한다.
터치 측정 신호 수신부 전체를 소정 개수로 묶어 수신부 모듈 A, B, C로 나누고 상기 A, B, C 묶인 수신부 모듈을 다시 하나의 수신부 모듈 그룹부 N과 N+1로 구성되고, 터치 측정 신호 발신부 역시 소정 개수로 묶어 발신부 그룹부 RN과 RN +1로 구성됨은 상기에서 설명한 바와 같다.
발신 구동 클럭부의 구동 클럭, CLK가 발신부 드라이버에 공급되면 발신부 드라이버는 구동 클럭에 의해 지정된 각각의 발신부 그룹부(RN과 RN+1)의 동일 인덱스의 발신부 즉, RN(n)과 RN +1(n)에서 예각의 터치 측정 신호(R2), 직각의 터치 측정 신호(R1) 및 둔각의 터치 측정 신호(R3)가 포함된 터치측정 신호가 방사상으로 동시에 송출된다.
이때 하나의 발신부 그룹부의 터치 측정 신호 발신부에서 방사상으로 송출되는 터치 측정신호는 상기 수신부 모듈(A, B, C)을 구성하는 터치 측정 신호 수신부에 수신되는데 제어부는 하나의 발신부에서 방사되는 터치 측정 신호 중 미리 정해진 소정의 각도 즉, 둔각, 직각, 예각에 위치에 있는 수신부에서 수신되는 터치 측정 신호로 터치의 좌표 또는 지름을 연산한다.
즉, 발신부 RN(n)에서 송출되는 터치 측정 신호 중 상기 발신부 RN(n)에 대해 예각의 위치에 있는 A모듈의 터치 측정 신호 수신부에서 수신되는 터치 측정 신호와 직각의 위치에 있는 B모듈의 터치 측정 신호 수신부에서 수신되는 터치 측정 신호와 둔각의 위치에 있는 C모듈의 터치 측정 신호 수신부에서 수신되는 터치 측정 신호만을 가지고 제어부는 터치 측정 신호로 터치의 좌표 또는 지름을 연산한다.
상기의 방식에 의해 각 수신부에 의해 수신된 터치 측정 신호는 상기 제1실시예에서 설명한 것과 같이 수학식 1 내지 수학식 20에 의하여 터치 위치를 측정한다.
상기와 같은 방식에 따라 본 발명의 제2실시예는 발신부 그룹부별(RN, RN +1) 동일 인덱스를 가지는 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 동시에 송출되고 터치 측정 신호 수신부 역시 수신부 모듈(A, B, C)별로 적어도 하나의 터치 측정 신호가 수신되므로 제1실시예보다 더 빠르게 터치 위치를 측정할 수 있을 뿐만 아니라 터치 위치를 더 정확하게 측정할 수 있게 되어 터치 위치가 빠르게 변화되더라고 이를 빠르고 정확하게 측정할 수 있게 된다.
도 13은 본 발명의 제2실시예인 인접 수송출 모듈군에서 수신부 모듈이 서로 연동되는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 13에서 보는 바와 같이 본 발명의 제2실시예에서 인접한 발신부 그룹부(1330, 1340)의 터치 측정 신호 발신부에서 송출되는 터치 측정신호 중 예각의 터치 측정 신호는 인접한 수신부 모듈 그룹부(1310, 1320)의 수신부 모듈(1311~1313, 1321~1323) 내의 터치 측정 신호 수신부에서 수신될 수 있으므로 어떠한 발신부 그룹부(1330, 1340)의 터치 측정 신호 발신부에서 터치 측정 신호가 송출되는지에 무관하게 수신부 모듈 그룹부(1310, 1320)의 일부의 수신부 모듈은 적어도 터치 측정 신호를 수신할 수 있도록 구성될 수 있다.
상기의 예에서 수신부를 그룹화한 예를 A, B, C의 세개의 예에 대해서 설명하였으나, 전체 수신부를 소정 개수로 단위로 그룹화하는 경우 하나의 수신부 모듈 그룹부 내에 N개의 수신부 모듈이 포함되도록 할 수 있다.
또한 상기의 예에서 수신부 모듈 그룹부는 2개를 예시하였으나, 구성에 따라 2 이상의 수신부 모듈 그룹부가 되도록 할 수 있다.
구체적으로 전체 수신부를 M개의 수신부 모듈 그룹부로 분할하고 하나의 수신부 모듈 그룹부를 N개의 수신부 모듈로 분할하며 하나의 수신부 모듈에는 C개의 수신부가 포함되도록 할 수 있다. 이에 따라 X축의 전체 수신부의 개수를 X라 하면 X = N × M × C가 성립한다.
110: X축 터치 측정 신호 수신부 111: X축 수신부 드라이버부
120: X축 터치 측정 신호 발신부 121: Y축 발신부 드라이버부
130: Y축 터치 측정 신호 수신부 131: Y축 수신부 드라이버부
140: Y축 터치 측정 신호 발신부 141: Y축 발신부 드라이버부
150: 제어부
1110: 수신부 모듈 그룹부 1120: 발신부 그룹부
1131, 1132, 1133: 수신부 모듈 신호 변환부
1140: 터치 측정 신호 수신부 1150: A/D변환부
1160: 터치 측정 신호 발신부 1170: 발신부 드라이버부
1180: 발신부 구동 클럭
1310, 1320: 수신부 모듈 그룹부
1311~1313, 1321~1323: 수신부 모듈 신호 변환부
1331, 1332: 발신부 그룹부 1341, 1342: 발신부 드라이버부
1350: 발신부 구동 클럭

Claims (15)

  1. 수신모듈 그룹부를 향하여 방사상으로 연속된 터치 측정 신호를 발신하는 터치 측정 신호 발신부를 그룹화한 복수의 발신부 그룹부;
    상기 발신부 그룹부에서 발신되는 측정신호를 직각, 예각 및 둔각의 위치에서 각각 수신모듈별로 직각, 예각 및 둔각으로 동시에 수신하도록 적어도 3개 이상인 다수의 수신 모듈을 구비한 복수의 수신모듈 그룹부;
    상기 발신부 그룹부 각각에 포함된 동일한 인덱스의 터치 측정 신호 발신부가 동시에 구동되도록 구동 클럭을 제공하는 발신부 구동 클럭부;
    상기 복수의 수신모듈 그룹부에서 수신된 터치 측정 신호로 터치 영역의 x, y 좌표 또는 지름의 크기를 연산하는 제어부; 및
    사용자로부터 터치 입력을 입력받는 터치 패널을 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  2. 펄스를 포함하는 터치 측정 신호를 방사상으로 송출하는 발신소자를 하나 이상 포함하는 발신 모듈;
    상기 발신 모듈에서 송출된 상기 터치 측정 신호를 수신하는 수신 소자를 하나 이상 포함하는 수신 모듈;
    상기 수신 모듈에서 수신된 터치 측정 신호로부터 터치 영역의 좌표 또는 지름의 크기를 연산하는 제어부; 및
    사용자로부터 터치 입력을 입력받는 터치 패널을 포함하며,
    발신소자로부터 방사상으로 발신된 터치 측정 신호를 직각, 둔각 및 예각에 위치한 수신소자가 직각, 예각 또는 둔각의 터치신호를 연속 수신하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제어부는 터치 좌표 중 직각으로 수신된 터치 신호로부터 얻은 직교좌표를 계산하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.,
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 직교 좌표를 그에 대응하는 예각 또는 둔각인 기울기 좌표로 계산한 것에 기초하여 허상 여부를 판단하는 멀티 터치 인식 장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제4항에 있어서,
    상기 기울기 좌표로부터 실제 터치영역을 예각 또는 둔각인 측정신호로 측정한 좌표와의 거리 차이에 기초하여 터치영역의 허상여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  8. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    터치영역으로부터 측정된 좌표값은 정규화된 터치측정 값(Nx(k), Ny(k))으로 계산하여 사용하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  9. 삭제
  10. 제8항에 있어서,
    상기 측정된 터치 신호의 정규화된 값(Nx,Ny) 중에서 소정의 제1기준값(Tlower)보다 크고, 소정의 제2기준값(Thigher)보다 작은 값을 사용하여 터치 영역 좌표의 지름의 크기를 계산하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제1기준값(Tlower) 및 제2기준값(Thigher)은 확률밀도 함수에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  12. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제어부는 터치 측정신호로부터 터치 영역의 지름을 계산하여 터치로 인정하는 조건에 부합하는지를 판단하는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  13. 제2항에 있어서,
    상기 발신 소자와 상기 수신 소자는 같은 선상에 서로 교대로 배치되는 것을 특징으로 하는 멀티 터치 인식 장치.
  14. 삭제
  15. 삭제
KR1020110088772A 2011-07-01 2011-09-02 멀티 터치 인식 장치 KR101260341B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/130,454 US9292132B2 (en) 2011-07-01 2012-06-29 Multitouch recognizing device
JP2014518810A JP5757004B2 (ja) 2011-07-01 2012-06-29 マルチタッチ認識装置
CN201280032015.5A CN103649877B (zh) 2011-07-01 2012-06-29 多点触摸识别装置
PCT/KR2012/005172 WO2013005949A2 (ko) 2011-07-01 2012-06-29 멀티 터치 인식 장치

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110065415 2011-07-01
KR20110065415 2011-07-01

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130004018A KR20130004018A (ko) 2013-01-09
KR101260341B1 true KR101260341B1 (ko) 2013-05-06

Family

ID=47836050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110088772A KR101260341B1 (ko) 2011-07-01 2011-09-02 멀티 터치 인식 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9292132B2 (ko)
JP (1) JP5757004B2 (ko)
KR (1) KR101260341B1 (ko)
CN (1) CN103649877B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022065563A1 (ko) 2020-09-22 2022-03-31 주식회사 알엔디플러스 비접촉식 엘리베이터 터치장치 및 그 설정방법

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9063614B2 (en) 2009-02-15 2015-06-23 Neonode Inc. Optical touch screens
KR101372423B1 (ko) * 2012-03-26 2014-03-10 주식회사 알엔디플러스 멀티 터치스크린 장치
KR102092665B1 (ko) * 2013-02-21 2020-03-24 주식회사 실리콘웍스 차동 터치 센싱 시스템의 좌표 계산 장치 및 방법
CN107077257B (zh) * 2014-08-27 2020-11-03 惠普发展公司，有限责任合伙企业 使用全内反射的屏幕接触检测
CN107077259B (zh) * 2014-11-24 2021-04-30 惠普发展公司，有限责任合伙企业 触摸屏
TWI529583B (zh) * 2014-12-02 2016-04-11 友達光電股份有限公司 觸控系統與觸控偵測方法
CN105843450B (zh) * 2016-04-13 2018-07-20 京东方科技集团股份有限公司 实现多点触控检测的方法及装置、触控模组、显示装置
PL3667475T3 (pl) * 2016-12-07 2022-11-21 Flatfrog Laboratories Ab Zakrzywione urządzenie dotykowe
CN107291306A (zh) * 2017-06-23 2017-10-24 努比亚技术有限公司 一种触摸检测方法及终端
WO2020201831A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 Rapt Ip Limited Unwanted touch management in touch-sensitive devices
JP2023512682A (ja) 2020-02-10 2023-03-28 フラットフロッグ ラボラトリーズ アーベー 改良型タッチ検知装置
KR20230074269A (ko) 2020-09-30 2023-05-26 네오노드, 인크. 광학 터치 센서
US11733112B2 (en) * 2021-03-31 2023-08-22 Cirrus Logic Inc. Characterization of force-sensor equipped devices

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08147091A (ja) * 1994-11-22 1996-06-07 Fujitsu Ltd 複数点入力タッチパネルとその座標演算方法
US6429857B1 (en) * 1999-12-02 2002-08-06 Elo Touchsystems, Inc. Apparatus and method to improve resolution of infrared touch systems
US7254775B2 (en) * 2001-10-03 2007-08-07 3M Innovative Properties Company Touch panel system and method for distinguishing multiple touch inputs
JP2006092227A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Tietech Co Ltd タッチパネル装置
KR100782431B1 (ko) * 2006-09-29 2007-12-05 주식회사 넥시오 적외선 터치스크린의 다점 좌표인식방법 및 접점면적인식방법
CN100593772C (zh) * 2007-02-02 2010-03-10 贺伟 红外线发射接收电路板单元及应用该电路板单元的红外线触摸屏
EP2116920A1 (en) * 2007-02-02 2009-11-11 Wai Ho Infrared transmitting or receiving circuit board and infrared touch screen applying thereof
CN100485595C (zh) * 2007-07-25 2009-05-06 广东威创视讯科技股份有限公司 一种触摸屏装置与多点触摸定位方法
TW201005606A (en) * 2008-06-23 2010-02-01 Flatfrog Lab Ab Detecting the locations of a plurality of objects on a touch surface
CN102171637B (zh) * 2008-08-07 2015-08-12 拉普特知识产权公司 用于检测光学触摸敏感装置中的多触摸事件的方法和设备
KR101009278B1 (ko) 2008-10-02 2011-01-18 한국과학기술연구원 광 인식 사용자 입력 장치 및 사용자 입력 인식 방법
KR101076871B1 (ko) 2008-11-24 2011-10-25 주식회사 알엔디플러스 적외선 터치 입력 장치
SE533704C2 (sv) * 2008-12-05 2010-12-07 Flatfrog Lab Ab Pekkänslig apparat och förfarande för drivning av densamma
TWI524238B (zh) * 2009-03-31 2016-03-01 萬國商業機器公司 多觸點光學接觸面板
US20110025646A1 (en) * 2009-07-31 2011-02-03 Wu xin-min Extended infrared-sourced multi-touch screen
US8373679B2 (en) * 2009-10-12 2013-02-12 Garmin International, Inc. Infrared touchscreen electronics
KR20120094929A (ko) * 2009-10-16 2012-08-27 알피오 피티와이 리미티드 터치 오브젝트를 감지하고 추적하는 방법
CN102053757B (zh) 2009-11-05 2012-12-19 上海精研电子科技有限公司 一种红外触摸屏装置及其多点定位方法
KR101627715B1 (ko) * 2009-11-18 2016-06-14 엘지전자 주식회사 터치 패널, 터치 패널의 구동방법 및 터치 패널을 포함하는 디스플레이 장치
KR101070864B1 (ko) * 2009-12-11 2011-10-10 김성한 광학식 터치스크린
KR101704695B1 (ko) * 2010-03-09 2017-02-09 삼성디스플레이 주식회사 터치 위치 검출 방법, 이를 수행하기 위한 터치 위치 검출 장치 및 터치 위치 검출 장치를 포함하는 표시 장치
KR101018397B1 (ko) 2010-09-27 2011-02-28 김길선 멀티 터치에서 발생하는 허상의 제거가 가능한 적외선 터치스크린 장치
WO2012050510A1 (en) * 2010-10-11 2012-04-19 Flatfrog Laboratories Ab Touch determination by tomographic reconstruction
US8786577B2 (en) * 2010-11-03 2014-07-22 Toshiba Tec Kabushiki Kaisha Apparatus and method for recognizing coordinates
CN102479000A (zh) * 2010-11-26 2012-05-30 北京汇冠新技术股份有限公司 一种红外触摸屏多点识别方法及一种红外触摸屏
US9671566B2 (en) * 2012-06-11 2017-06-06 Magic Leap, Inc. Planar waveguide apparatus with diffraction element(s) and system employing same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022065563A1 (ko) 2020-09-22 2022-03-31 주식회사 알엔디플러스 비접촉식 엘리베이터 터치장치 및 그 설정방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN103649877A (zh) 2014-03-19
JP5757004B2 (ja) 2015-07-29
JP2014523029A (ja) 2014-09-08
US20140146020A1 (en) 2014-05-29
US9292132B2 (en) 2016-03-22
KR20130004018A (ko) 2013-01-09
CN103649877B (zh) 2017-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101260341B1 (ko) 멀티 터치 인식 장치
KR101372423B1 (ko) 멀티 터치스크린 장치
US9158415B2 (en) Touch panel, method for driving touch panel, and display apparatus having touch panel
KR100901971B1 (ko) 적외선 터치 스캐닝 모듈
CN102169394B (zh) 多点触控面板及其手势识别方法
CN102141867B (zh) 电磁感应装置及其触控定位方法
KR101107791B1 (ko) 복합형 터치스크린 장치 및 그의 스캔 방법
EP2237136A1 (en) Optical detection apparatus and method
JP2011070625A (ja) 光学式タッチ制御システム及びその方法
KR101076871B1 (ko) 적외선 터치 입력 장치
US20110267292A1 (en) Method for simultaneously operating multiple pointers on electromagnetic position detection apparatus
TWI499760B (zh) 照度量測系統
CN102184062A (zh) 一种红外线触摸系统及其控制方法
KR101323196B1 (ko) 멀티 터치 스크린 장치
CN101825970B (zh) 触控点的追踪方法及追踪系统
TWI472988B (zh) 光學觸控系統及方法
KR101503622B1 (ko) 대상 검출 방법 및 장치
CN102253778A (zh) 一种电容传感器的定位方法
KR20140104734A (ko) 차동 터치 센싱 시스템의 좌표 선택 회로 및 방법
CN102243297A (zh) 一种具有多个接收器的定位系统
CN102063228A (zh) 光学侦测系统及应用该光学侦测系统的触摸屏
JP2016136360A (ja) ジェスチャ検出装置
JP2015032156A (ja) タッチパネルユニット及び表示装置
US8653808B2 (en) Method for frequency detection and detecting variation of frequency
JP7371370B2 (ja) 埋設物検出装置および埋設物検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160226

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170425

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180425

Year of fee payment: 6

R401 Registration of restoration
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200107

Year of fee payment: 8