CN107077257B - 使用全内反射的屏幕接触检测 - Google Patents

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Abstract

示例涉及使用全内反射来检测屏幕接触。一个示例涉及检测屏幕上的接触，屏幕包括光的全内反射；和经由至少一个处理器基于全内反射的特性确定屏幕上接触的位置，所述干扰由检测的接触所引起。

Description

使用全内反射的屏幕接触检测
背景
全内反射(TIR)是当传播着的波(例如，光波)以大于相对于介质的表面的法向的特定临界角的角度撞击介质(例如，玻璃，丙烯酸等)的边界时发生的现象。所述介质的表面的法线。对于要发生的TIR，如果折射率在所述波正从其撞击所述边界的所述边界的相对侧上较低并且入射角大于临界角，那么所述波就不能够穿过所述边界并且在所述介质内被整体地反射。
附图说明
图1示出可以根据本公开的一个方面实现的示例全内反射(TIR)触摸系统的示意图。
图2A示出了可以由图1和2的TIR触摸系统实现的示例光传感器。
图2B是可以被用于实现图1的TIR触摸系统的示例TIR触摸系统的等角(isometric)图示。
图3是可以由图1和/或2的TIR触摸系统实现的示例接触检测器的框图。
图4是可以根据本公开的一个方面实现的另一示例TIR触摸系统的示意图。
图5A是在可以根据本公开的一个方面实现的TIR显示器的背板上包括示例光传感器阵列的示例TIR显示器的层图。
图5B是可被使用来实现图5A的光传感器阵列的示例光传感器阵列的俯视图。
图6A-6B示出了可在图1，4和/或5A中的TIR触摸系统中实现的示例光遮(lightshelter)。
图7是表示可被执行以实现图3的接触检测器的示例机器可读指令的流程图。
图8是表示实现图3的接触检测器的图7的示例机器可读指令的示例部分的流程图。
图9是能够执行实现图3的接触检测器的图7和/或8的指令的示例处理器平台的框图。
附图不是成比例的。相反，为了澄清多个层和区域，层的厚度可以在附图中放大。在可能的任何地方，在整个附图和所附书面描述中将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部分。如在本专利中所使用的，说到任何部分(例如，层，膜，区域或板)以任何方式安置在(例如，安置在，位于，设置在或形成在)另一部分上意味着：所引用的部分或者与另一部分接触，或所引用的部分在另一个另一部分的上方，在它们之间定位有至少一个中间部分。说到任何部分或对象与另一部分或对象接触意味着在所述部分(多个)或对象(多个)之间没有中间部件或空间。
详细说明
本文公开的示例方法，装置和制品涉及使用全内反射(TIR)来检测与显示屏的接触。示例方法包括：检测包括光的TIR的屏幕上的接触，并且基于全内反射的干扰，确定接触在屏幕上的位置，所述干扰由检测到的接触引起。
在本文公开的示例中，方法，装置和制品提供了利用屏幕内的光的TIR的触摸显示器和/或触摸系统。本文公开的示例提供了高效的，成本效益高的方法和/或装置来实现使用光源和光传感器的触摸屏。所述光源和光传感器可以在显示器上被配置成测量和/或监视屏幕内的光的TIR。在许多情况下，用于实现大显示器(例如，超过15英寸的显示器)上的触摸屏的以前的技术的成本都能够比较高，高到让人望而却步。与在不顾虑尺寸是怎样的情况下给显示设备提供触摸技术的先前技术相比，本文公开的示例可以成本效益更好并且效率更高。
图.1示出了示例全内反射(TIR)系统100的示意图。图1的示例TIR系统包括屏幕110、光源(多个)120、光传感器(多个)130和接触检测器140。在图1所示出的示例中，光源120把光投射到屏幕中，在屏幕110之内引起光的TIR。光传感器130位于屏幕110的第一轴线132(例如，“x”轴)和第二轴134(例如，“Y”轴)上。光传感器130测量屏幕110之内的光并且接触检测器140基于所测量的来自光传感器130的光确定与屏幕110的接触是否发生(例如，用户是否触摸屏幕)。
在图1所示出的示例中，光传感器130位于屏幕110的第一和第二轴132，134上。示例的第一和第二轴132，134可以是屏幕110的平面(例如，平行于屏幕110的表面的平面)的X，Y轴，并且因此可以在屏幕110的中心点相遇。在其他示例中，光传感器130可以位于轴线132，134之外。此外，在图1所示出的示例中，单一光传感器130被示为沿着屏幕110的第一边缘和第二边缘，与光源120相对。每个单个光传感器130可以被单独使用和/或与检测接触和/或检测接触在屏幕110上的位置相结合地使用。在一些示例中，光传感器130可以与光源120位于相同边缘上。例如，光传感器130和/或光传感器可以在同一壳体内并置。
在图1所示出的示例中，屏幕110可以是供TIR使用的任何类型的介质。例如，屏幕110可以是玻璃，丙烯酸，塑料等等。图1的示例光源120可以是任何发光器件，诸如发光二极管，白炽灯，荧光灯等等。示例光源120可以将光引导到屏幕110的边缘，以使光被捕获在屏幕110之内，引起TIR。例如，光源120可以以指定的角度(例如，大于相对于屏幕110的表面的法线的临界角的角度)发射光。在一些示例中，光遮(参见图6A-6B)可以被实现为调整和/或引起所述光源120以指定的角度发射光到屏幕110的边缘中。在图1所示出的示例中的每个光源120可以包括多个发光器件(例如，光源阵列，一排光源等等)。因此，光源120被配置成在图1的屏幕110之内引起TIR。
示例光传感器130测量和/或监视屏幕110之内的光的TIR。在图1所示出的示例中，光传感器130定位成与光源120相对。因此，在图1中，光传感器130可以测量来自与对应的光传感器130相对的光源光120和/或当由于与屏幕110的接触对应的光被偏转、反射或者被阻挠之时在光传感器130的相邻测上的来自光源120的光。图1的示例光传感器130可以基于它们沿着屏幕110的相邻边缘的对应位置而被配置。光传感器130的配置可以引发光传感器如何测量来自光源120的光和/或如何检测与屏幕的接触。由于调整/包括传感器130的透镜、传感器130的透镜的介质、传感器130的透镜的结构(例如，形状，材料，大小，宽度等)、传感器130的滤光器、传感器130相对于屏幕110的边缘的角度等等，示例配置可以改变。如本文所公开的，示例配置可以被自动地和/或机械地调整。例如，机械装置可以被使用来调整透镜角度，透镜孔径，滤光器宽度，滤波器特性，和传感器130的角度，传感器130的位置等等。这样的调整和/或配置可以基于屏幕110的环境(例如，环境照明，位置等等)而做出。
在图2A中示出了示例光传感器130。图2A的示例光传感器130包括光滤波器220、透镜230和机构240。光滤波器220可以引发图2A的光传感器130去检测光(例如，至少一个光源120引起的光和/或来自光源120的光的至少一个反射)的特定波长(多个)。光滤波器220可以是任何类型材料(例如，玻璃，塑料，丙烯酸类等等)，以及滤波器220的特性可以被调节用以调整要由光传感器130检测的特定波长。示例机构240可以是可以被使用来调整配置(例如，光传感器130的结构、透镜230、滤波器220、光传感器130的位置、光传感器130的角度等)的电机或任何其他类型的设备。图1和/或者2A的光传感器130可以测量以下项中的至少一项：屏幕110之内所测量的电压、光传感器130在屏幕110之内接收光和/或光波(多个)所取的光的角度、在屏幕110之内的光和/或内光波(多个)的强度、屏幕110内光和/或光波(多个)的频率。
光传感器130可以检测由于与屏幕110的表面的(例如，从用户的)接触而引起的TIR的干扰。例如，参见图2B图示的示例，如果用户在触摸点200触摸屏幕110，那么一个现象引起屏幕110之内的光的TIR中的干扰210(例如，影子、光/光波阻断，光吸收等等)，用以偏离在触摸点200的接触所引起的干扰和/或绕着在触摸点200的接触所引起的干扰偏转。因此，在图2所示出的示例中，来自光源120的光束220可以被光传感器130检测到。图2B的示例光传感器130然后可以把这样的信息转发到接触检测器(例如，图1的接触检测器140)，用于对所述接触分析。
向回参考图1，光传感器13把光测量(例如，角度，频率，强度等)转发到接触检测器140。示例接触检测器140分析接收到的光的信息来确定屏幕110是否被接触过(例如，触摸过，敲击过，接近过等等)，并且如果是这样，确定在屏幕110上的哪里(例如，位置和/或位置的坐标)发生过接触。在一些示例中，接触检测器140可以把对应于确定的接触(例如，从用户的触摸)的信息转发到控制装置(例如，处理器)，用于设备(例如，计算机，平板，智能手机等等)的控制。
图3是可用于实现图1的接触检测器140的示例接触检测器140的框图。图3的示例接触检测器140包括接触分析器310和位置计算器320。图3的示例接触分析器310分析从光传感器(例如，光传感器130)接收的信息，以确定与屏幕110(例如，与屏幕110的表面)的接触是否已经发生了。图3的示例接触分析器310将所述信息和/或所述的信息的分析转发到位置计算器320，以确定屏幕110上发生了接触的位置。
在图3所示出的示例中，接触分析器310从光传感器130接收光测量(例如，光角度，光频率，光强度等等)。示例接触分析器220可以基于所接收的光信息确定接触从屏幕110发生。例如，当(例如，由于屏幕的TIR中的干扰(诸如图2的干扰210)导致的)光信息有变化，接触分析器310可以确定与屏幕110的接触发生了。
在一些实施例中，接触分析器310实现滤波器，用以考虑“假触摸”或“假接触”，所述“假触摸”或“假接触”可能由屏幕110之内的光的TIR中的噪声或者干扰所引起。例如，所述滤光器可以使接触分析器310能够确定检测到的接触是用户触摸屏幕而不是另一种类型的接触(例如，无意地与屏幕110接触的对象)。因此，滤波器可以被使用来分析干扰(例如，图2的干扰210)的特性。例如，干扰的特性可以是干扰的时间长度、干扰类型、干扰大小、干扰形状等。在一些示例中，接触分析器310可以基于位于光传感器130上的和/或与光传感器130相关联的光滤波器(例如，玻璃，透镜等等)的存在或不存在分析光。因此，接触分析器310可以被使用来基于从光传感器130接收的光信息检测接触和/或确认用户的故意接触。
在一些示例中，接触分析器310可以指示光传感器130去调整配置以检测屏幕上的接触。例如，响应于接收(例如，由于围绕屏幕110的环境光的量而引起的)几个不确定的测量，接触分析器310可以指示光传感器调整滤波器的角度和/或特性(例如，光传感器130上的滤波器的宽度，滤波器130的色调等等)。在另一示例中，接触分析器310可以指示光传感器130去响应于检测到一种类型的接触而调整光传感器130的配置，以便把光传感器130的透镜和/或角度聚焦到检测到了接触的屏幕上的对应区域上。在这样的示例中，光传感器130可以对(例如，基于TIR中的干扰)检测到的接触类型提供更准确的光测量。
图3的示例位置计算器320确定在屏幕110上发生了接触(比如用户的触摸)的位置。位置计算器使用由接触检测器140从光传感器130接收的测量(多个)。基于测量(多个)，位置计算器320能够确定屏幕上发生了接触的位置(例如，坐标(诸如x-y坐标))。例如，向回参考图2，光传感器130可以确定所指定的测量的光束源自哪个特定光源120。在其它示例中，光传感器130基于屏幕110之内测量的光的量来分析TIR中的变化(例如，干扰)以确定接触的位置。根据本公开的教导任何合适的技术可被使用来计算接触的位置(例如，接触点200)。在一些示例中，位置计算器320将位置信息转发到控制器(例如，处理器)，以用于控制设备(例如，计算机，平板计算机，智能手机等等)。
尽管图1的实现接触检测器140的示例方式在图3中被示出，但是图3中所示的元件、过程和/或设备中的至少一个可被组合、划分、重新设置、省略、消除和/或以任何其他方式来实现。此外，图3的接触分析器310、位置分析器320、和/或更一般地示例接触检测器140可以由硬件、软件、固件和/或硬件、软件和/或固件的任何组合来实现。因此，例如，接触分析器310、位置分析器320和/或更一般地示例接触检测器140中的任何一个可以由以下项中的至少一个来实现：模拟或数字电路、逻辑电路、可编程处理器、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑器件(PLD)和/或现场可编程逻辑器件(FPLD)。当阅读覆盖完全软件和/或固件实现方式的本专利的装置或系统权利要求的任何一个以时，接触分析器310和/或位置分析器320中的至少一个特此被明确地限定成包括存储软件和/或固件的有形计算机可读存储装置或存储盘，诸如存储器，数字多功能盘(DVD)、压缩盘(CD)、蓝光盘等等。更进一步地，图3的示例接触检测器140可以包括至少一个元件、过程和/或设备，作为对图3所示的那些的附加或者替代，和/或可以包括多于所示的元件、过程及设备中的任何项或全部中的一个。
图4是可以根据本公开的一个方面实现的另一示例TIR触摸系统400的示意图。示例TIR触摸系统400可以被使用来实现图1的示例TIR触摸系统100。在图4所示出的示例中，除了光传感器130之外，光传感器430也被包括。因此，光传感器430和光传感器130这二者都可以被使用来测量图4的屏幕110内的光的TIR。在一些示例中，图4的TIR触摸系统400可以比图1的TIR触摸系统100提供更加精确的屏幕110内的光和/或光的TIR的测量。在其它示例中，除了光传感器130、430之外的光传感器也可以被实现来测量屏幕110内的光和/或光的TIR。
图5A是在可以根据本公开的一个方面实现的TIR显示器510的背板上包括示例光传感器阵列530的又另一个示例TIR显示器的层图。示例TIR显示器510可以被使用来实现图1和/或4的屏幕110。图5的示例TIR触摸系统500包括显示元件层520、背光层540和反射器550。示例显示元件520(例如，LCD、LED、OLED等等)可在TIR显示器510上呈现图像。
根据本公开的教导，示例TIR触摸系统500可以由任何类型的显示设备实现。因此，背光层540可以以一定角度将光(例如，直接地)发射到TIR显示器510中和/或把(例如从反射器550反射的)光发射到TIR显示器510中，使得来自背光的光导致在TIR显示器510中的TIR。
根据本公开的教导，图5A的示例光传感器阵列530可以监视在TIR显示510中的光和/或光的TIR。图5B是可以被使用来实现图5A的光传感器阵列的示例光传感器阵列530的俯视图。图5A和/或图5B的示出的示例中的光传感器阵列530可以对图1和/或图4的光传感器130和/或光传感器430附加地或者替换地被使用。因此，光传感器阵列530可以向接触检测器(例如，接触检测器140)提供测量信息，以确定TIR显示器510是否被用户接触或触摸。
图5A的示例TIR触摸系统500使得用户能够触摸和/或选择由显示元件520所呈现在TIR显示器510上的对象。因此，光传感器阵列530可以被使用来确定由显示元件所呈现的哪些对象被触摸了和/或被选择了。
图6A-6B示出了可以在图1，4和/或5A的TIR触摸系统100、400、500中实现的示例光遮601和602。在图6所示出的示例中，示例光遮601，602被使用来调整和/或聚焦由光传感器120所发射的光。在图6A中，光遮601使得光源620向上以指定的角度650把光630引导进入屏幕610。在图6B中，光遮602使光源622以角度652把光632向下引导到屏幕612。
图6A和图6B的示例光遮601，602可以包括用于控制由光源620，622发射的光的方向的光学装置(例如，反射镜，透镜等等)和/或机械装置(例如，马达，致动器等等)。在一些示例中，光遮601，602可以基于屏幕610，620的特性被(例如，自动地和/或手动)调整。在图6A和6B所示的示例中的光遮601，602可以在1，4和/或5A的TIR触摸系统100，400，500中并排地实现。例如，成对的光源620，622可以沿着图1和/或4的屏幕110的一侧或者两侧排列成行或者沿着图5A的背光中的一行排列成行。因此，在这样的示例中，光在屏幕110内被以交替的方向投射以引起TIR。
在图7和/或图8中示出了表示用于实现图3的接触检测器140的示例机器可读指令的流程图。在这个示例中，机器可读指令包括供处理器执行的程序(多个)/过程(多个)，所述处理器诸如下面关于图9所论述的示例处理器平台900中示出的处理器912。程序(多个)/过程(多个)可以被包括在存储在有形的计算机可读存储介质上的软件中或被包括在与处理器912相关联的存储器中，所述有形计算机可读存储介质诸如CD-ROM、软盘、硬盘驱动器、数字通用盘(DVD)、蓝光盘，但所有的程序(多个)/过程(多个)和/或其部分都可替代地由不同于处理器912的设备来执行和/或被包括在固件或者专用硬件中。此外，虽然示例程序(多个)/过程(多个)参照图7和/或8中示出的流程图加以描述，但是实现示例接触检测器140的许多其他方法也可以被替代地使用。例如，可以改变块的执行顺序，和/或可以改变，去掉或组合所描述的块中的一些。
图7是表示可以被执行以实现图3的接触检测器的示例过程700的流程图。图7的过程700开始于接触检测器140的启动(例如，在图1，图4和/或图5A的TIR触摸系统100，400，500启动时，在从与图1，4和/或5A的TIR触摸系统100、400、500相关联的处理器接收到指令时，等等)。在图7的块710处，图3的接触分析器310确定是否检测到了与屏幕(例如，屏幕110)的接触。例如，接触分析器310分析从光传感器(例如，图1，4，5A和/或5B的光传感器130，430，530)接收的光测量(例如，角度，频率，强度等等)。示例接触分析器310可以基于屏幕110内的光的TIR中的检测到的干扰和/或光测量中的变化来确定与屏幕110的接触已经发生了。如果在块710处，接触分析器310确定与屏幕110的接触没有发生过，接触分析器310继续监视光测量(控制权返回到块710)。
如果在图7的块710处，接触分析器310确实确定与屏幕110的接触已经发生了，位置计算器320确定在屏幕上接触的位置(参见图8)。在图7中，在块720之后，过程700结束。在一些示例中，过程700是迭代的，并且控制权在块720之后返回到块710。在一些示例中，在块720之后，位置计算器320将位置信息转发到控制装置，用于控制TIR显示系统100，400，500和/或与TIR显示系统100，400，500相关联的计算设备。
图8是表示可以被执行来实现图7的块720以实现图3的接触检测器140的示例过程720的流程图。图8的过程720开始于图3的接触检测器140的启动。在块810，图3的接触分析器310分析接收到的光测量，以滤除噪声(如，意外接触，“假触摸”、“假接触”等等)。基于块810的分析，接触分析器310可以确定接触是由用户做出的有意触摸或触摸。例如，与可以指示比对用户的手/手指的轻微触摸和/或对象的触摸的其他测量，某些测量可以指示在屏幕的一部分上的持续时间更长的触摸和/或特定的触摸。因此，在块820，接触分析器310确定是否从块810中的分析确认了触摸。如果没有触摸被确认(例如，测量/确定轻微和/或无意的接触)，则过程720结束。
如果在图8的块820处，接触分析器确实确认发生了触摸，那么位置计算器320基于光测量计算触摸的位置(块830)。例如，在块830，位置计算器可以使用来自光传感器和/或接触分析器310的光测量来确定触摸发生在的位置处的屏幕110的坐标(例如，x-y坐标)。在块840，位置计算器320可以将计算出的(确定的)位置发送到控制设备以促进对计算设备和/或TIR显示系统的控制。在块840之后，过程720结束。在一些示例中，过程720是迭代的，并且在块840之后，控制权返回到块810。
如上所提及的，图7和/或图8的示例过程可以使用编码的指令(例如，计算机和/或机器可读指令)来实现，所述编码的指令被存储在有形计算机可读存储介质上，所述有形计算机可读存储介质诸如硬盘驱动器、闪速存储器、只读存储器(ROM)、光盘(CD)、数字通用盘(DVD)、高速缓存、随机存取存储器(RAM)和/或其中信息被存储达任何持续时间之久(被存储达延长的时间段之久、被持久地存储、举个简短的示例-例如被存储以用于临时缓冲和/或被存储以用于高速缓存信息)的任何其它存储设备或存储盘。如本文所使用的，术语有形计算机可读存储介质被明确定义为包括任何类型的计算机可读存储设备和/或存储盘，并且排除传播信号并排除传输介质。如本文所使用的，“有形计算机可读存储介质”和“有形机器可读存储介质”可互换使用。另外或替代地，图7和/或8的示例过程可以使用编码的指令(例如，计算机和/或机器可读指令)来实现，所述编码的指令被存储在非暂时性计算机和/或机器可读介质上，所述非暂时性计算机和/或机器可读介质诸如硬盘驱动器、闪速存储器、只读存储器(ROM)、光盘(CD)、数字通用盘(DVD)、高速缓存、随机存取存储器(RAM)和/或其中信息被存储达任何持续时间之久(被存储达延长的时间段之久、被持久地存储、举个简短的示例-被存储例如以用于临时缓冲和/或被存储例如以用于高速缓存信息)的任何其它存储设备或存储盘。如本文所使用的，术语非暂时性计算机可读介质被明确定义为包括任何类型的计算机可读存储设备和/或存储盘，并且排除传播信号并排除传输介质。如本文所使用的，当词语“至少”被用作权利要求的前序中的过渡术语时，它以与术语“包括”是开放式相同的方式是开放式的。如本文所用的，术语“一”或“一个”意思可以是“至少一个”，因此，“一”或“一个”当被使用来描述元件时未必是要把特定元件限定为单个元件。
图9是能够执行实现图3的接触检测器140的图7和/或8的指令的示例处理器平台900的框图。示例处理器平台900可以或者可以不被包括在任何类型的装置中，所述任何类型的装置诸如服务器、个人计算机、移动设备(例如，蜂窝电话、智能电话、平板电脑等等)、个人数字助理(PDA)、游戏控制台、个人视频记录器或任何其他类型的计算设备。
图9的示出的示例的处理器平台900包括处理器912。示出的示例的处理器912是硬件。例如，处理器912能够由自任何期望的系列或制造商的至少一个集成电路、逻辑电路、微处理器或控制器实现。
图示的示例的处理器912包括本地存储器913(例如，高速缓存)。图示的示例的处理器912经由总线918与主存储器(包括易失性存储器914和非易失性存储器916)通信。易失性存储器914可以用同步动态随机存取存储器(SDRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、RAMBUS动态随机存取存储器(RDRAM)和/或任何其它类型随机存取存储器设备来实现。非易失性存储器916可以用闪速存储器和/或任何其他期望类型的存储器设备来实现。对主存储器914、916访问由存储器控制器控制。
图示的示例的处理器平台900还包括接口电路920。接口电路920可以用任何类型的接口标准(诸如以太网接口、通用串行总线(USB)和/或PCI快速接口)来实现。
在图示的示例中，至少一个输入装置922被连接到接口电路920。输入装置(多个)922允许用户把数据和命令输入到处理器912中。输入装置(多个)能够用例如音频传感器、麦克风、相机(静止或视频)、键盘、按钮、鼠标、触摸屏、轨迹板、轨迹球、等位点(isopoint)和/或语音识别系统来实现。
至少一个输出装置924也被连接到图示的示例的接口电路920。输出设备(多个)924能够被例如用显示装置(诸如图1、2、4和/或5A的显示屏110)来实现，所述显示装置例如，发光二极管(LED)、有机发光二极管(OLED)、液晶显示器、阴极射线管显示器(CRT)、触摸屏、触觉输出装置、发光二极管(LED)、打印机和/或扬声器。所示的示例的接口电路920因此典型地包括图形驱动器卡、图形驱动器芯片或图形驱动器处理器。
所图示的示例的接口电路920还包括通信设备(诸如发射器、接收器、收发器、调制解调器和/或网络接口卡)，用于经由网络926(例如，以太网连接、数字订户线(DSL)、电话线、同轴电缆、蜂窝电话系统等)促进与外部机器(例如，任何种类的计算设备)的数据交换。
所图示的示例的处理器平台900还包括至少一个大容量存储装置928，用于存储软件和/或数据。这种大容量存储设备(多个)928的示例包括软盘驱动器、硬盘驱动器、光盘驱动器、蓝光盘驱动器、RAID系统和数字通用盘(DVD)驱动器。
图7和/或8的编码指令932可以被存储在大容量存储装置928、本地存储器913、易失性存储器914、非易失性存储器916中和/或可移动有形计算机可读存储介质(诸如CD或DVD)上。
从前述内容，将理解的是：以上所公开的方法、装置和制品涉及使用在屏幕内的全内反射(TIR)检测屏幕上的接触(例如，触摸)。本文所公开的示例涉及将光引导到屏幕中以引起TIR，并经由光传感器测量/监视光以确定与屏幕的接触是否发生了。基于TIR的干扰和/或光的测量，本文所公开的示例确定在屏幕上接触的位置。
虽然某些示例的方法、装置和制品本文已经公开了，但是本专利的覆盖范围并不限于此。相反，本专利涵盖完全落入本专利的权利要求书的范围内的所有方法、装置和制品。

Claims (15)

1.一种方法，包括：
检测在包括光的全内反射的屏幕上的接触，所述接触经由第一光传感器和第二光传感器检测，所述第一光传感器和所述第二光传感器分别位于所述屏幕的平面的第一轴和第二轴上，并且所述接触基于所述第一光传感器的第一透镜和所述第二光传感器的第二透镜的配置被检测，其中所述第一轴不同于第二轴;和
经由至少一个处理器基于全内反射的干扰确定屏幕上接触的位置，所述干扰由所检测到的接触引起;
其中所述第一光传感器的第一透镜和所述第二光传感器的第二透镜的配置能被调整。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，第一透镜和第二透镜的配置包括透镜的结构、透镜的介质、透镜的滤波器或透镜的位置中的至少一个。
3.根据权利要求1所述的方法，所述全内反射的干扰包括引起全内反射的光波的阻挡。
4.根据权利要求1所述的方法，还包括：
分析所述干扰的特性;和
基于所述干扰的特性确定所述接触包括用户的触摸。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述干扰的特性包括干扰的时间长度、干扰的类型、干扰的大小、或干扰的形状中的至少一个。
6.根据权利要求1所述的方法，还包括：
通过发送光波到屏幕中而引起光的全内反射。
7.根据权利要求6所述的方法，还包括：
基于所述屏幕的特性调整所述光波被送入所述屏幕中所取的角度。
8.一种装置，包括：
接触分析器，用于分析来自显示屏幕的第一轴上的第一光传感器和显示屏幕的第二轴上的第二光传感器的光测量，以检测与显示屏幕的接触，其中，第一轴不同于第二轴，并且所述光测量从引起显示屏幕内的全内反射的光而做出;和
位置计算器，用于基于分析的光测量确定屏幕上接触的位置，所述分析的光测量基于第一光传感器的第一透镜和第二光传感器的第二透镜的配置；
其中所述第一光传感器的第一透镜和所述第二光传感器的第二透镜的配置能被调整。
9.根据权利要求8所述的装置，其中所述接触分析器基于所述光测量检测全内反射中的干扰。
10.根据权利要求8所述的装置，其中所述位置计算器把接触点的位置提供到控制器，用于控制设备。
11.根据权利要求8所述的装置，其中所述接触分析器包括滤波器，用于确定所述接触是否是用户的触摸。
12.一种非临时性计算机可读存储介质，包括指令，当所述指令被执行时，所述指令使机器至少去：
分析屏幕内的光的全内反射来基于第一光传感器的第一透镜和第二光传感器的第二透镜的配置检测所述屏幕之内的接触，所述第一光传感器位于所述屏幕的第一轴上并且所述第二光传感器位于所述屏幕的第二轴上用以检测接触，其中第一轴不同于第二轴；和
当光的全内反射被接触破坏时，确定接触的位置；
其中所述第一光传感器的第一透镜和所述第二光传感器的第二透镜的配置能被自动调整。
13.根据权利要求12所述的非临时性计算机可读存储介质，其中所述指令在被执行时，还使所述机器去：
分析从光传感器接收的光测量，其中光测量表明当在光测量被改变时光的全内反射被破坏的时间。
14.根据权利要求13所述的非临时性计算机可读存储介质，其中所述指令在被执行时，还使所述机器去：
基于屏幕的特性、屏幕的环境、或来自光传感器的光测量中的至少一个调整第一透镜和第二透镜的配置。
15.根据权利要求12所述的非临时性计算机可读存储介质，其中所述指令在被执行时，还使所述机器去：
基于屏幕的特性调整将光发射到屏幕中的光源，以引起光的全内反射。
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