KR101233382B1 - Positive type photosensitive resin composition - Google Patents

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Abstract

본 발명은 포지티브형 감광성 수지 조성물에 관한 것으로서, (A) 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위를 갖는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(Polyimide-Polybenzoxazole alternating co-polymer precursor); (B) 감광성 디아조퀴논 화합물; (C) 실란 화합물; (D) 페놀 화합물; 및 (E) 용매를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물에 관한 것이다. The present invention relates to a positive photosensitive resin composition, comprising: (A) a polyimide-polybenzoxazole alternating co-polymer precursor having a repeating unit represented by the following formula (1) or (2): ; (B) a photosensitive diazoquinone compound; (C) a silane compound; (D) a phenol compound; And (E) relates to a positive photosensitive resin composition comprising a solvent.

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112008079221452-pat00001
Figure 112008079221452-pat00001

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112008079221452-pat00002
Figure 112008079221452-pat00002

(상기 화학식 1, 및 2에서, X1, X2, Y1, Y2, Z1, 및 Z2의 정의는 명세서의 상세한 설명에 기재된 바와 같다.)(In the formulas (1) and ( 2) , the definitions of X 1 , X 2 , Y 1 , Y 2 , Z 1 , and Z 2 are as described in the detailed description of the specification.)

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 뛰어난 기계적 물성을 가지는 폴리이미드 구조와 광학적 특성이 우수한 폴리벤조옥사졸 구조를 모두 포함함으로써 고감도, 고해상도, 양호한 패턴 형상, 우수한 잔여물 제거성, 낮은 막감소율 등의 감광특성을 유지하면서, 뛰어난 기계적 물성과 내열성을 보이는 경화 후 막을 제공할 수 있다. The positive photosensitive resin composition of the present invention includes both a polyimide structure having excellent mechanical properties and a polybenzoxazole structure having excellent optical properties such as high sensitivity, high resolution, good pattern shape, excellent residue removal property, and low film reduction rate. It is possible to provide a post-curing film exhibiting excellent mechanical properties and heat resistance while maintaining photosensitivity.

폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체, 포지티브형 감광성 수지 조성물, 반도체 소자 Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor, Positive Photosensitive Resin Composition, Semiconductor Device

Description

포지티브형 감광성 수지 조성물{POSITIVE TYPE PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION} Positive type photosensitive resin composition {POSITIVE TYPE PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION}

본 발명은 포지티브형 감광성 수지 조성물에 관한 것으로서, 고감도, 고해상도, 양호한 패턴 형상, 우수한 잔여물 제거성, 낮은 막감소율 등을 가지며 최종 경화막이 우수한 기계적 물성과 좋은 내열성을 가지는 포지티브형 감광성 수지 조성물에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a positive photosensitive resin composition, and to a positive photosensitive resin composition having high sensitivity, high resolution, good pattern shape, excellent residue removal property, low film reduction rate, and the like, and a final cured film having excellent mechanical properties and good heat resistance. will be.

종래부터 반도체 장치의 표면 보호막 및 층간 절연막에는 우수한 내열성과 전기 특성, 기계 특성 등을 갖는 폴리이미드 수지가 사용되고 있다. 이러한 폴리이미드 수지는 최근 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 형태로 사용하여, 도포가 용이하며, 상기 폴리이미드 전구체 조성물을 반도체 장치 상에 도포한 후, 자외선에 의한 패터닝, 현상, 열 이미드화 처리을 실시하여 표면 보호막, 층간 절연막 등을 쉽게 형성시킬 수 있다. 따라서, 종래 비감광성 폴리이미드 전구체 조성물에 비하여 대폭적인 공정 단축이 가능해진다는 특징을 갖고 있다. Conventionally, polyimide resins having excellent heat resistance, electrical properties, mechanical properties, and the like have been used for surface protection films and interlayer insulating films of semiconductor devices. This polyimide resin is recently used in the form of a photosensitive polyimide precursor composition, and is easy to apply. After applying the polyimide precursor composition onto a semiconductor device, surface treatment is performed by patterning, developing, and thermal imidization with ultraviolet rays. A protective film, an interlayer insulating film, etc. can be formed easily. Therefore, it has a feature that a process can be significantly shortened compared with the conventional non-photosensitive polyimide precursor composition.

감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 노광된 부분이 현상에 의해 용해되는 포지티브형과 노광된 부분이 경화되어 남는 네가티브형이 있는데, 포지티브형의 경우 무독성인 알칼리 수용액을 현상액으로 사용할 수 있어 바람직하다. 포지티브형 감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 폴리이미드 전구체인 폴리아미드산, 감광성 물질인 디아조나프토퀴논 등을 포함한다. 그러나 포지티브형 감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 사용된 폴리아미드산의 카르본산이 알칼리에 대한 용해도가 너무 커서 원하는 패턴을 얻지 못하는 문제점이 있다. The photosensitive polyimide precursor composition has a positive type in which the exposed part is dissolved by development and a negative type in which the exposed part is cured. In the positive type, a non-toxic aqueous alkali solution can be used as a developer. The positive photosensitive polyimide precursor composition includes polyamic acid as a polyimide precursor, diazonaphthoquinone as a photosensitive material, and the like. However, the positive photosensitive polyimide precursor composition has a problem that a desired pattern can not be obtained because the solubility of the carboxylic acid of the polyamic acid used in the alkali is too high.

이를 해결하기 위하여 폴리아미드산에 에스테르 결합을 통해서 수산기 1개 이상을 갖는 알코올 화합물을 반응시키는 내용(일본특허공개 평10-307393호) 등 카르본산 대신에 페놀성 수산기를 도입한 물질이 제안되었으나, 이 물질은 현상성이 불충분하며 막감소나 기재로부터 수지가 박리되는 문제점이 있다. In order to solve this problem, a substance in which a phenolic hydroxyl group is introduced instead of carboxylic acid, such as a content of reacting an alcohol compound having one or more hydroxyl groups through an ester bond to polyamic acid (JP-A-10-307393), has been proposed. This material has insufficient developability and has a problem of reducing the film or peeling the resin from the substrate.

다른 방법으로 폴리벤조옥사졸 전구체에 디아조나프토퀴논 화합물을 혼합한 재료(일본특허공개 소63-096162호)은 최근 주목받고 있으나 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 실제로 사용하는 경우, 특히 현상시의 미노광부의 막감소량이 크기 때문에 현상 후의 원하는 패턴을 얻기 어렵다. 이를 개선하기 위해 폴리벤조옥사졸 전구체의 분자량을 크게 하면 미노광부의 막감소량은 작아지나 현상시 노광부에 현상 잔여물(스컴)이 발생하여 해상도가 불량해지며 노광부의 현상 시간이 길어지는 문제가 있었다. In another way, a material in which a diazonaptoquinone compound is mixed with a polybenzoxazole precursor (Japanese Patent Laid-Open No. 63-096162) has recently been attracting attention, but especially when a polybenzoxazole precursor composition is actually used, especially in developing. Since the film reduction amount of the miner is large, it is difficult to obtain a desired pattern after development. In order to improve this problem, if the molecular weight of the polybenzoxazole precursor is increased, the film reduction amount of the unexposed part becomes small, but developing residue (scum) occurs in the exposed part during development, resulting in poor resolution and longer developing time of the exposed part. there was.

이런 문제를 해결하기 위하여, 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물에 특정한 페놀 화합물을 첨가함으로써 현상시의 미노광부의 막 감소량이 억제되는 것이 보고되어 있다(일본특허공개 평9-302221호 및 일본특허공개 2000-292913호). 그러나 이 방법으로는 미노광부의 감소량을 억제하는 효과가 불충함에 따라, 현상 잔여물(스컴) 을 발생시키지 않으면서, 막감소 억제 효과를 크게 하기 위한 연구가 계속 요구되고 있었다. In order to solve this problem, it is reported that the amount of film reduction of unexposed portions during development is suppressed by adding a specific phenol compound to the polybenzoxazole precursor composition (Japanese Patent Laid-Open No. 9-302221 and Japanese Patent Laid-Open No. 2000-). 292913). However, in this method, the effect of suppressing the reduction amount of the unexposed portion is insufficient, and there has been a continuous demand for research to increase the film reduction suppression effect without generating development residues (scum).

하지만, 이런 폴리이미드 혹은 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 사용하여 형성된 열경화막은 반도체 장치에 지속적으로 잔류하여 표면보호막으로 작용하기 때문에, 인장강도, 신율, 영률 등의 막의 기계적 물성이 특히 중요한 요인이 된다. 특히 반도체 패키징 방법이 급속도로 발전함에 따라서 이들의 발전에 대응하기 위하여 표면보호막으로 사용되는 폴리이미드 혹은 폴리벤조옥사졸 막의 기계적 물성은 매우 중요하다. 일반적인 포지티브형 감광성 수지 조성물의 경우에는 이런 기계적 물성, 좀 더 구체적으로는 신율과 영률이 적정 수준이하가 되는 경우가 많다. 동시에 내열성 측면에 있어서도 좀 더 개선이 요구되고 있다. However, since the thermosetting film formed using such a polyimide or polybenzoxazole precursor composition continuously remains in the semiconductor device and acts as a surface protective film, mechanical properties such as tensile strength, elongation, and Young's modulus are particularly important factors. . In particular, with the rapid development of semiconductor packaging methods, the mechanical properties of polyimide or polybenzoxazole films used as surface protective films are very important in order to cope with their development. In the case of a general positive type photosensitive resin composition, such mechanical properties, more specifically, elongation and Young's modulus are often below an appropriate level. At the same time, further improvement is required in terms of heat resistance.

하지만, 이들 연구의 경우 신율로 대표되는 기계적 물성을 개선할 수는 있지만, 감도, 해상도 등의 광특성 면에서 실용적인 수준에 다다르지 못하여서, 이런 광특성의 개선과 동시에 우수한 기계적 물성 및 내열성을 달성할 수 있는 방법에 대한 연구가 시급히 요구되고 있는 상황이다. However, these studies can improve the mechanical properties represented by the elongation. However, they cannot reach practical levels in terms of optical properties such as sensitivity and resolution. Therefore, these mechanical properties can be improved and excellent mechanical properties and heat resistance can be achieved. There is an urgent need for research on how to do this.

본 발명의 일 구현예는 고감도, 고해상도, 양호한 패턴 형상 및 우수한 잔여물 제거성을 갖고, 경화 후에는 낮은 막감소율과 우수한 필름 특성을 발현하며, 경화 후의 필름의 기계적 물성 및 내열성이 뛰어난 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제공하는 것이다. One embodiment of the present invention has a high sensitivity, high resolution, good pattern shape and excellent residue removal properties, after curing, exhibits a low film reduction rate and excellent film properties, and the positive photosensitive property excellent in the mechanical properties and heat resistance of the film after curing It is to provide a resin composition.

본 발명의 다른 일 구현예는 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물을 사용한 제조된 감광성 수지막을 제공하는 것이다. Another embodiment of the present invention is to provide a photosensitive resin film prepared using the positive photosensitive resin composition.

본 발명은 또 다른 일 구현예는 상기 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자를 제공하는 것이다. Another embodiment of the present invention is to provide a semiconductor device including the photosensitive resin film.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 평균적인 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The technical problems to be achieved by the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by the average technician from the following description.

본 발명의 일 구현예에 따르면, (A) 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위를 갖는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(Polyimide-Polybenzoxazole alternating co-polymer precursor); (B) 감광성 디아조퀴논 화합물; (C) 실란 화합물; (D) 페놀 화합물; 및 (E) 용매를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제공한다. According to one embodiment of the present invention, (A) a polyimide-polybenzoxazole alternating co-polymer precursor having a repeating unit represented by the following formula (1) or (2); (B) a photosensitive diazoquinone compound; (C) a silane compound; (D) a phenol compound; And (E) provides a positive photosensitive resin composition comprising a solvent.

[화학식 1] [Formula 1]

Figure 112008079221452-pat00003
Figure 112008079221452-pat00003

(상기 화학식 1에서, X1은 방향족 유기기이고, Y1은 방향족 유기기 또는 2 내지 6가의 지방족 유기기이고, Z1은 방향족 유기기이다.)(In Formula 1, X 1 is an aromatic organic group, Y 1 is an aromatic organic group or a 2 to 6-valent aliphatic organic group, and Z 1 is an aromatic organic group.)

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112008079221452-pat00004
Figure 112008079221452-pat00004

(상기 화학식 2에서, X2는 방향족 유기기이고, Y2는 방향족 유기기이며, Z2는 방향족 유기기, 2 내지 6가의 지방족 유기기 및 2 내지 6가의 지환족 유기기로 이루어진 군에서 선택되는 유기기이다.)(In Chemical Formula 2, X 2 is an aromatic organic group, Y 2 is an aromatic organic group, and Z 2 is an organic group selected from the group consisting of an aromatic organic group, a 2-6 valent aliphatic organic group, and a 2-6 hexavalent alicyclic organic group.)

본 발명의 다른 일 구현예에 따르면, 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 감광성 수지막을 제공하는 것이다. According to another embodiment of the present invention, to provide a photosensitive resin film prepared using the positive photosensitive resin composition.

본 발명의 또 다른 일 구현예는 상기 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자를 제공하는 것이다. Another embodiment of the present invention to provide a semiconductor device comprising the photosensitive resin film.

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 뛰어난 기계적 물성을 가지는 폴리이미드 구조와 광학적 특성이 우수한 폴리벤조옥사졸 구조를 모두 포함함으로써 고감도화, 고해상도, 양호한 패턴 형상, 우수한 잔여물 제거성 등의 감광특성을 유지하면서, 뛰어난 기계적 물성과 내열성을 보이는 경화 후 막을 제공할 수 있다. The positive photosensitive resin composition of the present invention includes both a polyimide structure having excellent mechanical properties and a polybenzoxazole structure having excellent optical properties, thereby providing photosensitivity such as high sensitivity, high resolution, good pattern shape, and excellent residue removal property. While maintaining, it is possible to provide a post-curing film exhibiting excellent mechanical properties and heat resistance.

이하에서 본 발명의 구현예를 보다 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 이는 예시로서 제시되는 것으로, 이에 의해 본 발명이 제한되지는 않으며 본 발명은 후술할 청구범위의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. However, it should be understood that the present invention is not limited thereto, and the present invention is only defined by the scope of the following claims.

본 명세서에서 특별한 언급이 없는 한 “알킬기”란 탄소수 1 내지 20의 알킬기를 의미하고, "알콕시기"란 탄소수 1 내지 8의 알콕시기를 의미하며, "아릴기”란 탄소수 6 내지 30의 아릴기를 의미하며, 할로겐 원자는 F, Cl, Br, 또는 I를 의미한다. Unless otherwise specified in the present specification, "alkyl group" means an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, "alkoxy group" means an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, and "aryl group" means an aryl group having 6 to 30 carbon atoms. And a halogen atom means F, Cl, Br, or I.

또한 본 명세서에서 “치환된”이란, 본 발명의 작용기 중의 하나 이상의 수소 원자가 할로겐 원자(F, Cl, Br, 또는 I), 히드록시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기(-NH2, -NH(R), -N(R"')(R""), R"'과 R""은 서로 독립적으로 탄소수 1 내지 10의 알킬기임), 아미디노기, 히드라진 또는 히드라존기, 카르복실기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 치환 또는 비치환된 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 헤테로아릴기, 및 치환 또는 비치환 헤테로사이클로알킬기로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 치환기로 치환된 것을 의미한다. In addition, in this specification, "substituted" means that one or more hydrogen atoms of the functional group of the present invention is halogen atom (F, Cl, Br, or I), hydroxy group, nitro group, cyano group, amino group (-NH 2 , -NH (R ), -N (R "') (R""),R"' and R "" are independently of each other an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms), amidino group, hydrazine or hydrazone group, carboxyl group, substituted or unsubstituted Substituted with one or more substituents selected from the group consisting of an alkyl group, a substituted or unsubstituted aryl group, a substituted or unsubstituted cycloalkyl group, a substituted or unsubstituted heteroaryl group, and a substituted or unsubstituted heterocycloalkyl group. it means.

본 발명에서 알킬기의 구체적인 예로는 직쇄형 또는 가지형으로서 메틸, 에틸, 프로필, 이소부틸, sec-부틸, tert-부틸, 펜틸, iso-아밀, 헥실 등을 들 수 있다. Specific examples of the alkyl group in the present invention include methyl, ethyl, propyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, pentyl, iso-amyl, hexyl and the like as the linear or branched.

또한, 본 명세서에서 헤테로란, 특별한 정의가 없는 한 탄소 원자가 N, O, S, 및 P로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나의 원자로 치환된 것을 의미한다. In addition, in the present specification, hetero means that the carbon atom is substituted with any one atom selected from the group consisting of N, O, S, and P unless otherwise specified.

상기 치환되지 않은 알킬기의 예로는 메틸, 에틸, 프로필, 부틸, 펜틸, 헥실, 헵틸 또는 옥틸을 들 수 있다. 또한, 치환된 알킬기의 예로는 히드록시메틸, 메톡시메틸, 에톡시메틸, 히드록시에틸, 메톡시에틸 또는 에톡시에틸을 들 수 있다. Examples of the unsubstituted alkyl group include methyl, ethyl, propyl, butyl, pentyl, hexyl, heptyl or octyl. In addition, examples of the substituted alkyl group include hydroxymethyl, methoxymethyl, ethoxymethyl, hydroxyethyl, methoxyethyl or ethoxyethyl.

본 발명의 일 구현예에 따른 포지티브형 감광성 수지 조성물은 (A) 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위를 갖는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체; (B) 감광성 디아조퀴논 화합물; (C) 실란 화합물; (D) 페놀 화합물; 및 (E) 용매를 포함한다. Positive type photosensitive resin composition according to an embodiment of the present invention (A) a polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor having a repeating unit represented by the following formula (1) or (2); (B) a photosensitive diazoquinone compound; (C) a silane compound; (D) a phenol compound; And (E) a solvent.

또한 본 발명의 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물은 이외 (F) 기타 첨가제를 더욱 포함할 수도 있다. Moreover, the said positive photosensitive resin composition of this invention may further contain other (F) other additives.

[화학식 1] [Formula 1]

Figure 112008079221452-pat00005
Figure 112008079221452-pat00005

(상기 화학식 1에서, (In the formula 1,

X1은 방향족 유기기이고, X 1 is an aromatic organic group,

Y1은 방향족 유기기 또는 2 내지 6가의 지방족 유기기이고, Y 1 is an aromatic organic group or a 2 to 6-valent aliphatic organic group,

Z1은 방향족 유기기이다.)Z 1 is an aromatic organic group.)

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112008079221452-pat00006
Figure 112008079221452-pat00006

(상기 화학식 2에서, (In Formula 2,

X2는 방향족 유기기이고, X 2 is an aromatic organic group,

Y2는 방향족 유기기이며, Y 2 is an aromatic organic group,

Z2는 방향족 유기기, 2 내지 6가의 지방족 유기기 및 2 내지 6가의 지환족 유기기로 이루어진 군에서 선택되는 유기기이다.)Z 2 is an organic group selected from the group consisting of an aromatic organic group, a 2-6 valent aliphatic organic group, and a 2-6 hexavalent alicyclic organic group.)

이하 각 구성 성분에 대하여 자세하게 설명하도록 한다. Hereinafter, each component will be described in detail.

(A) 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(A) polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor

본 발명의 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체는 상기 화학식 1 또는 화학식 2의 반복 단위를 갖고, 적어도 한쪽의 말단 부분에 열중합성 관능기를 갖는다. The polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor of this invention has the repeating unit of the said Formula (1) or (2), and has a thermopolymerizable functional group in at least one terminal part.

상기 화학식 1 또는 화학식 2에서, X1 및 X2는 방향족 유기기로서, 그 예를 들면, 3,3'-디아미노-4,4'-디히드록시비페닐, 4,4'-디아미노-3,3'-디히드록시비페닐, 비스(3-아미노-4-히드록시페닐)프로판, 비스(4-아미노-3-히드록시페닐)프로판, 비스(3-아미노-4-히드록시페닐)설폰, 비스(4-아미노-3-히드록시페닐)설폰, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-아미노-3-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 화합물을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. In Formula 1 or Formula 2, X 1 and X 2 are aromatic organic groups, for example, 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl, 4,4'-diamino -3,3'-dihydroxybiphenyl, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) propane, bis (3-amino-4-hydroxy Phenyl) sulfone, bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) sulfone, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoro Compounds selected from the group consisting of propane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane and combinations thereof It is not limited to this.

또한, 상기 X1 및 X2는 바람직하게 하기 화학식 3 또는 4로 표현되는 화합물일 수 있다. In addition, X 1 and X 2 may preferably be a compound represented by the following formula (3) or (4).

[화학식 3](3)

Figure 112008079221452-pat00007
Figure 112008079221452-pat00007

[화학식 4][Formula 4]

Figure 112008079221452-pat00008
Figure 112008079221452-pat00008

(상기 화학식 3 및 4에서, (In Chemical Formulas 3 and 4,

A1은 O, CO, CR8R9(여기서, R8, 및 R9는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 및 치환 또는 비치환된 알킬기로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있으며, 바람직하게는 플루오로알킬기이다.), SO2, S, 및 단일결합으로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있고, A 1 is O, CO, CR 8 R 9 (wherein R 8 , and R 9 are the same or different from each other, and each independently may be selected from the group consisting of hydrogen, and a substituted or unsubstituted alkyl group, preferably Preferably a fluoroalkyl group), SO 2 , S, and a single bond.

R1 내지 R2은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 알킬기, 히드록시기, 카르복실산기, 및 티올기로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있고, R 1 to R 2 are the same or different from each other, and each independently hydrogen, a substituted or unsubstituted alkyl group, It may be selected from the group consisting of a hydroxyl group, a carboxylic acid group, and a thiol group,

n1은 1 내지 2의 정수일 수 있고, n 1 may be an integer from 1 to 2,

n2 및 n3는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 3의 정수일 수 있다.)n 2 and n 3 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 3.)

더욱 구체적으로 상기 X1 및 X2의 예를 들자면 하기 화학식 5 내지 10과 같다. More specifically, the examples of X 1 and X 2 are the same as the following Chemical Formulas 5 to 10.

[화학식 5][Chemical Formula 5]

Figure 112008079221452-pat00009
Figure 112008079221452-pat00009

[화학식 6][Formula 6]

Figure 112008079221452-pat00010
Figure 112008079221452-pat00010

[화학식 7][Formula 7]

Figure 112008079221452-pat00011
Figure 112008079221452-pat00011

[화학식 8][Formula 8]

Figure 112008079221452-pat00012
Figure 112008079221452-pat00012

[화학식 9][Chemical Formula 9]

Figure 112008079221452-pat00013
Figure 112008079221452-pat00013

[화학식 10][Formula 10]

Figure 112008079221452-pat00014
Figure 112008079221452-pat00014

상기 화학식 1에서 Y1은 방향족 유기기 또는 2 내지 6가의 지방족 유기기로서, 아민기와 카르복시산을 동시에 갖는 화합물로부터 유도된다. 이 화합물들의 구체적인 예로는 4-아미노 벤조익산, 3-아미노 벤조익산, 2-아미노 벤조익산, 글리신, 베타글리신과 같은 아미노산 등을 들 수 있다. 이들의 구체적인 구조는 하기 화학식 11 내지 14로 표현될 수 있지만, 이것들로 한정되는 것은 아니다. In Formula 1, Y 1 is an aromatic organic group or a divalent hexavalent aliphatic organic group, and is derived from a compound having both an amine group and a carboxylic acid. Specific examples of these compounds include 4-amino benzoic acid, 3-amino benzoic acid, 2-amino benzoic acid, amino acids such as glycine, betaglycine, and the like. Specific structures thereof may be represented by the following Chemical Formulas 11 to 14, but are not limited thereto.

[화학식 11][Formula 11]

Figure 112008079221452-pat00015
Figure 112008079221452-pat00015

[화학식 12][Chemical Formula 12]

Figure 112008079221452-pat00016
Figure 112008079221452-pat00016

[화학식 13][Chemical Formula 13]

Figure 112008079221452-pat00017
Figure 112008079221452-pat00017

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112008079221452-pat00018
Figure 112008079221452-pat00018

(상기 화학식 14에서, n4는 1 부터 12사이의 정수이다.) (In Formula 14, n 4 is an integer between 1 and 12.)

본 발명의 상기 화학식 1에서 Z1은 방향족 유기기로서 테트라카르복시산 이무수물로부터 유도되는 잔기이다. 구체적으로는 Z1은 벤젠, 나프탈렌, 비페닐, 디메틸비페닐, 디페닐에테르, 디페닐티오에테르, 디페닐술폰, 디페닐프로판, 디페닐-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 벤조페논 등을 포함한다. 이 잔기를 형성할 수 있는 구체적인 테트라카르복시산 이무수물의 예는 다음 화학식 15 내지 19로 나타낼 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. In Formula 1 of the present invention, Z 1 is a residue derived from tetracarboxylic dianhydride as an aromatic organic group. Specifically, Z 1 is benzene, naphthalene, biphenyl, dimethylbiphenyl, diphenyl ether, diphenylthioether, diphenylsulfone, diphenylpropane, diphenyl-1,1,1,3,3,3-hexa Fluoropropane, benzophenone and the like. Examples of the specific tetracarboxylic dianhydride which may form this residue may be represented by the following Chemical Formulas 15 to 19, but are not limited thereto.

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112008079221452-pat00019
Figure 112008079221452-pat00019

[화학식 16][Chemical Formula 16]

Figure 112008079221452-pat00020
Figure 112008079221452-pat00020

[화학식 17][Chemical Formula 17]

Figure 112008079221452-pat00021
Figure 112008079221452-pat00021

[화학식 18][Chemical Formula 18]

Figure 112008079221452-pat00022
Figure 112008079221452-pat00022

[화학식 19][Formula 19]

Figure 112008079221452-pat00023
Figure 112008079221452-pat00023

본 발명의 상기 화학식 2에서 Y2는 방향족 유기기로서 대표적인 것으로는 하기 화학식 20의 트리멜리트산으로부터 유도되는 것을 들 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니며, 고리형 디카르복시산 무수물과 이와 독립적으로 존재하는 카르복시산 관능기를 가지는 어떠한 화합물로부터도 유도될 수 있다. In the general formula (2) of the present invention, Y 2 is an aromatic organic group, and examples thereof include those derived from trimellitic acid represented by the following Chemical Formula 20, but are not limited thereto, and cyclic dicarboxylic anhydrides and carboxylic acids present independently of them. It can be derived from any compound having a functional group.

[화학식 20][Chemical Formula 20]

Figure 112008079221452-pat00024
Figure 112008079221452-pat00024

상기 화학식 2에서의 Z2는 방향족 유기기, 2 내지 6가의 지방족 유기기 및 2 내지 6가의 지환족 유기기로 이루어진 군에서 선택되는 유기기로서 디아민으로부터 유도되는 잔기이다. 이 Z2를 구성할 수 있는 디아민의 종류에는 제한은 없으나 예를 들면, 벤젠, 나프탈렌, 비페닐, 디메틸비페닐, 디페닐에테르, 디페닐티오에테르, 디페닐술폰, 디페닐프로판, 디페닐-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 벤조페논 등을 포함하는 방향족 디아민과 프로필, 부틸, 펜틸, 헥실 등의 구조를 가지는 지방족 디아민 또는 시클로헥실, 아다만틸 등의 구조를 가지는 지환족 디아민을 들 수 있다. 가장 바람직한 예로는 다음 화학식 21 내지 24의 구조를 들 수 있으나 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. Z 2 in the general formula (2) is the residue derived from the diamine, as an organic group selected from the group of aromatic organic group, divalent aliphatic organic group of 2 to 6 and 2 to 6-valent aliphatic organic group consisting of a. Although there is no restriction | limiting in the kind of diamine which can comprise this Z <2> , For example, benzene, naphthalene, biphenyl, dimethyl biphenyl, diphenyl ether, diphenylthio ether, diphenyl sulfone, diphenyl propane, diphenyl- Aromatic diamines including 1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, benzophenone, etc., and aliphatic diamines having a structure such as propyl, butyl, pentyl, hexyl, or cyclohexyl, adamantyl, etc. Alicyclic diamine which has a is mentioned. Most preferred examples include the structures of the following Chemical Formulas 21 to 24, but the present invention is not limited thereto.

[화학식 21][Chemical Formula 21]

Figure 112008079221452-pat00025
Figure 112008079221452-pat00025

[화학식 22][Formula 22]

Figure 112008079221452-pat00026
Figure 112008079221452-pat00026

[화학식 23](23)

Figure 112008079221452-pat00027
Figure 112008079221452-pat00027

[화학식 24]&Lt; EMI ID =

Figure 112008079221452-pat00028
Figure 112008079221452-pat00028

본 발명에서 상기 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체의 중량평균 분자량(Mw)은 3,000 내지 300,000의 범위를 갖는 것으로, 중량평균 분자량이 3,000 미만인 경우는 충분한 물성이 얻어지지 않아 바람직하지 않으며, 300,000을 초과하면 유기 용매에 대한 용해성이 낮아져 취급이 매우 곤란해지기 때문에 바람 직하지 않다. In the present invention, the weight average molecular weight (Mw) of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor is in the range of 3,000 to 300,000, and when the weight average molecular weight is less than 3,000, sufficient physical properties are not obtained, which is not preferable. If it exceeds 300,000, the solubility in organic solvents becomes low and handling becomes very difficult, which is not preferable.

(B) 감광성 디아조퀴논 화합물(B) photosensitive diazoquinone compound

본 발명에서 이용하는 감광성 디아조퀴논 화합물은 1,2-벤조퀴논디아지드 또는 1,2-나프토퀴논디아지드 구조를 갖는 화합물을 바람직하게 사용할 수 있고, 이는 미국특허 제2,772,975호, 제2,797,213호 및 제3,669,658호에 의해 공지된 물질이며, 상기 특허는 본 발명에 참조로 언급되어 있다. As the photosensitive diazoquinone compound used in the present invention, a compound having a 1,2-benzoquinonediazide or 1,2-naphthoquinonediazide structure can be preferably used, which is described in US Patent Nos. 2,772,975, 2,797,213 and A material known from US Pat. No. 3,669,658, which patent is incorporated herein by reference.

감광성 디아조퀴논 화합물의 예를 들면, 하기 화학식 23 내지 28로 표현되는 화합물을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. Examples of the photosensitive diazoquinone compound include, but are not limited to, compounds represented by the following Chemical Formulas 23 to 28.

[화학식 25](25)

Figure 112008079221452-pat00029
Figure 112008079221452-pat00029

(상기 화학식 25에서, (In the formula (25)

R4 내지 R6은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환 된 알킬기일 수 있으며, 바람직하게는 CH3일 수 있고, R 4 to R 6 may be the same or different from each other, and may each independently be a substituted or unsubstituted alkyl group, preferably CH 3 ,

D1 내지 D3는 각각 독립적으로 OQ일 수 있고, 상기 Q는 수소, 하기 화학식 25-1 또는 25-2일 수 있으며, 이때 Q는 동시에 수소일 수는 없고,D 1 to D 3 may be each independently OQ, wherein Q may be hydrogen, and the following Chemical Formula 25-1 or 25-2, wherein Q may not be hydrogen at the same time,

n5 내지 n7은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 3의 정수이다.)n 5 to n 7 are the same or different from each other, and each independently an integer of 1 to 3.)

[화학식 25-1][Formula 25-1]

Figure 112008079221452-pat00030
Figure 112008079221452-pat00030

[화학식 25-2][Formula 25-2]

Figure 112008079221452-pat00031
Figure 112008079221452-pat00031

[화학식 26](26)

Figure 112008079221452-pat00032
Figure 112008079221452-pat00032

(상기 화학식 26에서, (In the above formula (26)

R7은 수소 또는 치환 또는 비치환된 알킬이고, R 7 is hydrogen or substituted or unsubstituted alkyl,

D4 내지 D6는 각각 독립적으로 OQ일 수 있고, 상기 Q는 상기 화학식 25에 정의된 것과 동일하고, D 4 to D 6 may be each independently OQ, wherein Q is the same as defined in Formula 25,

n8 내지 n10은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 3의 정수이다.)n 8 to n 10 are the same or different from each other, and each independently an integer of 1 to 3.)

[화학식 27](27)

Figure 112008079221452-pat00033
Figure 112008079221452-pat00033

(상기 화학식 27에서, (In the above formula (27)

A2는 CO 또는 CRR'일 수 있고, A 2 may be CO or CRR ′,

R 및 R'는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, R and R 'are the same or different from each other, and each independently may be a substituted or unsubstituted alkyl group,

D7 내지 D13은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 알킬기, OQ, 또는 NHQ일 수 있고, 상기 Q는 화학식 25에 정의된 것과 동일하고, D 7 to D 13 are the same or different from each other, and each independently may be hydrogen, a substituted or unsubstituted alkyl group, OQ, or NHQ, wherein Q is the same as defined in Formula 25,

n10 내지 n17은 동일하거나 서로 상이하며, n 10 to n 17 are the same or different from each other,

n10+n10+n10+n10 및 n10+n10+n10은 각각 독립적으로 5 이하의 정수일 수 있다. n 10 + n 10 + n 10 + n 10 and n 10 + n 10 + n 10 may each independently be an integer of 5 or less.

단, 상기 D11 내지 D13 중 적어도 하나는 OQ이며, 하나의 방향족 환에는 OQ가 1 내지 3개 포함될 수 있고, 다른 방향족 환에는 OQ가 1 내지 4개로 포함될 수 있다.)However, at least one of D 11 to D 13 may be OQ, one aromatic ring may include 1 to 3 OQs, and the other aromatic ring may include 1 to 4 OQs.)

[화학식 28](28)

Figure 112008079221452-pat00034
Figure 112008079221452-pat00034

(상기 화학식 28에서, (In Chemical Formula 28,

R8 내지 R15는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, 상기 Q는 상기 화학식 25에서 정의된 것과 동일하고, R 8 to R 15 are the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group, Q is the same as defined in Formula 25,

n18 내지 n19는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수일 수 있고, 보다 바람직하게는 2 내지 4의 정수일 수 있다.)n 18 to n 19 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 5, more preferably an integer of 2 to 4).

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물에서 상기 감광성 디아조퀴논 화합물의 함량은 상기 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 100중량부에 대하여 5 내지 100중량부로 포함되는 것이 바람직하다. 상기 감광성 디아조퀴논 화합물의 함량이 5 내지 100중량부에 포함될 때 노광에 의한 잔사(scum)가 적어 패턴 형태가 우수하며, 현상시 막 두께의 손실이 없는 양호한 패턴을 얻을 수 있다. In the positive photosensitive resin composition of the present invention, the content of the photosensitive diazoquinone compound is preferably included in an amount of 5 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor. When the content of the photosensitive diazoquinone compound is included in the amount of 5 to 100 parts by weight, there is little residue (scum) due to exposure to excellent pattern shape, it is possible to obtain a good pattern without loss of film thickness during development.

(C) 실란 화합물(C) silane compound

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 실란 화합물을 포함하며, 이로 인하여 기판과의 밀착력이 향상될 수 있다. The positive photosensitive resin composition of the present invention contains a silane compound, whereby the adhesion to the substrate can be improved.

상기 실란 화합물로는 하기 화학식 31로 표현되는 것을 사용할 수 있다. The silane compound represented by the following formula (31) can be used.

[화학식 29][Formula 29]

Figure 112008079221452-pat00035
Figure 112008079221452-pat00035

(상기 화학식 29에서, (In Chemical Formula 29,

R16은 비닐기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 및 치환 또는 비치환된 아릴기로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있고, 바람직하게는 3-(메타)크릴옥시프로필, p-스티릴, 또는 3-(페닐아미노)프로필일 수 있으며, R 16 may be selected from the group consisting of a vinyl group, a substituted or unsubstituted alkyl group, and a substituted or unsubstituted aryl group, and preferably 3- (meth) acryloxypropyl, p-styryl, or 3- (Phenylamino) propyl,

R17 내지 R19는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 및 할로겐으로 이루어진 군에서 선택되는 것이며, 이때 R17 내지 R19 중 적어도 하나는 알콕시기 또는 할로겐이고, 바람직하게는 상기 알콕시기는 탄소수 1 내지 8의 알콕시기이고, 상기 알킬기는 탄소수 1 내지 20의 알킬기일 수 있다.)R 17 to R 19 are the same or different from each other, and each independently selected from the group consisting of a substituted or unsubstituted alkoxy group, a substituted or unsubstituted alkyl group, and halogen, wherein at least one of R 17 to R 19 is An alkoxy group or a halogen, preferably the alkoxy group is an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, and the alkyl group may be an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms.)

상기 실란 화합물의 대표적인 예로는 하기 화학식 30 및 31로 표현되는 화합물; 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐 트리클로로실란, 비닐트리스(β-메톡시에톡시)실란; 또는 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-아크릴옥시프로필트리메톡시실란, p-스티릴 트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디에톡시실란; 트리메톡시[3-(페닐아미노)프로필]실란 등의 탄소-탄소 불포화 결합을 함유하는 실란 화합물을 들 수 있으며, 가장 바람직하게는 비닐트리메톡시실란 또는 비닐트리에톡시실란을 들 수 있다. Representative examples of the silane compound include compounds represented by the following Chemical Formulas 30 and 31; Vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyl trichlorosilane, vinyltris (β-methoxyethoxy) silane; Or 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, p-styryl trimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldie Oxysilane; Silane compounds containing carbon-carbon unsaturated bonds, such as trimethoxy [3- (phenylamino) propyl] silane, are mentioned, Most preferably, vinyl trimethoxysilane or vinyl triethoxysilane is mentioned.

[화학식 30](30)

Figure 112008079221452-pat00036
Figure 112008079221452-pat00036

(상기 화학식 30에서, (In Chemical Formula 30,

R20은 NH2 또는 CH3CONH이고, R 20 is NH 2 or CH 3 CONH,

R21 내지 R23은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치 환된 알콕시기이고, 바람직하게는 상기 알콕시기는 OCH3 또는 OCH2CH3일 수 있고, R 21 to R 23 are the same or different from each other, each independently represent a substituted or unsubstituted alkoxy group, preferably the alkoxy group may be OCH 3 or OCH 2 CH 3 ,

n20은 1 내지 5의 정수일 수 있다.)n 20 may be an integer from 1 to 5.

[화학식 31](31)

Figure 112008079221452-pat00037
Figure 112008079221452-pat00037

(상기 화학식 31에서, (In Chemical Formula 31,

R24 내지 R27은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 알킬기 및 치환 또는 비치환된 알콕시기로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있고, 바람직하게는 CH3 또는 OCH3일 수 있고, R 24 to R 27 are the same or different from each other, and each independently may be selected from the group consisting of a substituted or unsubstituted alkyl group and a substituted or unsubstituted alkoxy group, preferably CH 3 or OCH 3 ,

R28 및 R29는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 아미노기이고, 바람직하게는 NH2 또는 CH3CONH일 수 있고, R 28 and R 29 are the same or different from each other, each independently represent a substituted or unsubstituted amino group, preferably NH 2 or CH 3 CONH,

n21 및 n22은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수일 수 있다.)n 21 and n 22 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 5.)

상기 실란 화합물은 상기 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 100중량부에 대하여 0.1 내지 30중량부로 사용될 수 있다. 실란 화합물의 함량이 상기 범위인 경우 상하부 막 층과의 접착력이 우수하며, 현상 후 잔사가 남지 않고, 투과율 등의 광특성, 인장강도, 연신률, 영률 등의 막의 기계적 물성을 향상시 킬 수 있어 바람직하다. The silane compound may be used in an amount of 0.1 to 30 parts by weight based on 100 parts by weight of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor. When the content of the silane compound is in the above range, the adhesion to the upper and lower membrane layers is excellent, and no residue is left after development, and the optical properties such as transmittance, tensile strength, elongation, and Young's modulus can be improved. Do.

(D) 페놀 화합물(D) Phenol compound

본 발명의 포지티브형 감광성 수지에 포함되는 상기 페놀 화합물은 알칼리 수용액으로 현상시 노광부의 용해 속도 및 감도를 증가시킬 수 있고, 또한 현상시 잔사가 적어 고해상도로 패터닝을 할 수 있게 한다. The phenolic compound included in the positive photosensitive resin of the present invention can increase the dissolution rate and sensitivity of the exposed portion during development with an aqueous alkali solution, and also allows for patterning at high resolution due to less residue during development.

또한 상기 페놀 화합물은 열중합이 가능한 관능기를 가지고 있어, 열경화 시에 상기 (A) 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체와 가교 형성이 가능하다. Moreover, the said phenolic compound has a functional group which can be thermally polymerized, and can crosslink with the said (A) polyimide polybenzoxazole alternating-polymer precursor at the time of thermosetting.

상기 페놀 화합물의 구체적인 예로는 하기 화학식 32 내지 37로 표현되는 것 등을 들 수 있으나, 이들에 한정되지 않는다. Specific examples of the phenolic compound include those represented by the following Chemical Formulas 32 to 37, but are not limited thereto.

[화학식 32](32)

Figure 112008079221452-pat00038
Figure 112008079221452-pat00038

(상기 화학식 32에서, (In Chemical Formula 32,

R30 내지 R32은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소 또는,치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, R 30 to R 32 are the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group,

R33 내지 R37는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 H, OH, 및 치환 또는 비치환된 알킬기로 이루어진 군에서 선택될 수 있고, 바람직하게는 상기 알킬기는 CH3일 수 있고, R 33 to R 37 are the same or different from each other, and each independently may be selected from the group consisting of H, OH, and a substituted or unsubstituted alkyl group, preferably the alkyl group may be CH 3 ,

n23은 1 내지 5의 정수일 수 있다.)n 23 may be an integer from 1 to 5.

[화학식 33](33)

Figure 112008079221452-pat00039
Figure 112008079221452-pat00039

(상기 화학식 33에서, (In Chemical Formula 33,

R38 내지 R43는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 H, OH, 및 치환 또는 비치환된 알킬기로 이루어진 군에서 선택될 수 있고, R 38 to R 43 are the same or different from each other, and each independently may be selected from the group consisting of H, OH, and a substituted or unsubstituted alkyl group,

A3는 CR'R'' 또는 단일결합일 수 있고, 상기 R' 및 R''은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고,A 3 may be CR′R ″ or a single bond, and R ′ and R ″ may be the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group,

바람직하게는 상기 알킬기는 CH3일 수 있고, Preferably the alkyl group may be CH 3 ,

n24+n25+n26 및 n27+n28+n29은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 5 이하의 정수일 수 있다.)n 24 + n 25 + n 26 and n 27 + n 28 + n 29 may be the same or different from each other and may each independently be an integer of 5 or less.)

[화학식 34][Formula 34]

Figure 112008079221452-pat00040
Figure 112008079221452-pat00040

(상기 화학식 34에서, (In Chemical Formula 34,

R44 내지 R46은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, R 44 to R 46 may be the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group,

n30, n31, 및 n34은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수일 수 있고, n 30 , n 31 , and n 34 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 5,

n32 및 n33는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수일 수 있다.)n 32 and n 33 are the same or different from each other, and may each independently be an integer of 0 to 4).

[화학식 35](35)

Figure 112008079221452-pat00041
Figure 112008079221452-pat00041

(상기 화학식 35에서,(In Chemical Formula 35,

R47 내지 R52은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, OH, 및 치환 또는 비치환된 알킬기로 이루어진 군에서 선택되는 것일 수 있고, R 47 to R 52 are the same or different from each other, and each independently may be selected from the group consisting of hydrogen, OH, and a substituted or unsubstituted alkyl group,

n35 내지 n38은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 4의 정수일 수 있고, n 35 to n 38 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 4,

단 n35+n37 및 n36+n38은 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.)Provided that n 35 + n 37 and n 36 + n 38 are each independently an integer of 5 or less)

[화학식 36](36)

Figure 112008079221452-pat00042
Figure 112008079221452-pat00042

(상기 화학식 36에서,(In Formula 36,

R53는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있으며, 바람직하게는 CH3일 수 있고, R 53 may be a substituted or unsubstituted alkyl group, preferably CH 3 ,

R54 내지 R56은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, R 54 to R 56 are the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group,

n39, n41, 및 n43는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수일 수 있고, n 39 , n 41 , and n 43 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 5,

n40, n42, 및 n44는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수일 수 있고, n 40 , n 42 , and n 44 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 0 to 4,

단, n39+n40, n41+n428, 및 n43+n44는 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.)Provided that n 39 + n 40 , n 41 + n 428 , and n 43 + n 44 are each independently an integer of 5 or less.)

[화학식 37][Formula 37]

Figure 112008079221452-pat00043
Figure 112008079221452-pat00043

(상기 화학식 37에서,(In Chemical Formula 37,

R61, R62, 및 R63은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, 바람직하게는 CH3일 수 있고, R 61 , R 62 , and R 63 are the same or different from each other, and may each independently be a substituted or unsubstituted alkyl group, preferably CH 3 ,

R57 내지 R60는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 치환 또는 비치환된 알킬기일 수 있고, R 57 to R 60 are the same or different from each other, and each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group,

n45, n47, 및 n51는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수일 수 있고, n 45, n 47 , and n 51 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 1 to 5,

n46, n48, n49, 및 n50은 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 0 내지 4 의 정수일 수 있고, n 46 , n 48 , n 49 , and n 50 are the same or different from each other, and each independently may be an integer of 0 to 4,

단, n45+n46, n47+n48, 및 n50+n51은 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.)Provided that n 45 + n 46 , n 47 + n 48 , and n 50 + n 51 are each independently an integer of 5 or less.)

상기 페놀 화합물은 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 100중량부에 대하여 1 내지 30중량부로 사용되는 것이 바람직하다. 상기 페놀 화합물의 함량이 상기범위일 때는 현상시 감도 저하를 유발하지 않고, 비노광부의 용해 속도를 적당하게 증가시켜 양호한 패턴을 얻을 수 있으며, 또한 냉동 보관시 석출이 일어나지 않아 우수한 보관안정성을 나타낼 수 있어 바람직하다. The phenolic compound is preferably used in an amount of 1 to 30 parts by weight based on 100 parts by weight of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor. When the content of the phenolic compound is in the above range, a satisfactory pattern can be obtained by appropriately increasing the dissolution rate of the non-exposed part without causing sensitivity deterioration during development. Precipitation does not occur during storage, and thus may exhibit excellent storage stability.

(E) 용매(E) Solvent

본 발명에 사용되는 상기 용매는 유기용매를 사용하며, 바람직하게는 N-메틸-2-피롤리돈, γ-부티로락톤, N,N-디메틸아세트아미드, 디메틸설폭사이드, 디에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌글리콜디에틸에테르, 디에틸렌글리콜디부틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산부틸, 메틸-1,3-부틸렌글리콜아세테이트, 1,3-부틸렌글리콜-3-모노메틸에테르, 피루브산메틸, 피루브산에틸, 메틸-3-메톡시프로피오네이트 등을 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 용매는 단독 또는 2종 이상으로 혼합하여 사용할 수 있다. The solvent used in the present invention uses an organic solvent, preferably N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, N, N-dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether , Diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl-1,3- Butylene glycol acetate, 1, 3- butylene glycol-3-monomethyl ether, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl-3- methoxy propionate Or the like may be used, but the present invention is not limited thereto. The said solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물에 있어서, 상기 용매는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 100중량부에 대하여, 200 내지 900중량부로 사용되는 것이 바람직하다. 용매의 함량이 상기 범위일 때는 충분한 두께의 막 을 도포할 수 있으며, 용해도 및 도포성이 우수하여 바람직하다. In the positive photosensitive resin composition of the present invention, the solvent is preferably used in an amount of 200 to 900 parts by weight based on 100 parts by weight of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor. When the content of the solvent is within the above range, a film of sufficient thickness can be applied, and it is preferable because of excellent solubility and applicability.

(F) 기타 첨가제(F) Other additives

본 발명의 감광성 수지 조성물은 열잠재 산발생제 등을 첨가제로 더욱 포함할 수 있다. The photosensitive resin composition of the present invention may further include a heat latent acid generator and the like as an additive.

상기 열잠재 산발생제로는 p-톨루엔 술폰산 및 벤젠술폰산과 같은 아릴술폰산; 트리플루오로메탄술폰산 및 플루오로부탄술폰산과 같은 퍼플루오로알킬술폰산; 메탄술폰산, 에탄술폰산 및 부탄술폰산과 같은 알킬술폰산; 및 이들의 혼합물을 바람직하게 사용할 수 있다. Examples of the heat latent acid generator include aryl sulfonic acids such as p-toluene sulfonic acid and benzene sulfonic acid; Perfluoroalkylsulfonic acids such as trifluoromethanesulfonic acid and fluorobutanesulfonic acid; Alkylsulfonic acids such as methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid and butanesulfonic acid; And mixtures thereof.

상기 열잠재 산발생제는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체의 페놀성 수산기 함유 폴리아미드의 구조의 탈수화 반응 및 고리화 반응을 위한 촉매로서 경화온도를 낮추어도 반응을 원활히 진행할 수 있다. The heat latent acid generator is a catalyst for the dehydration reaction and the cyclization reaction of the structure of the phenolic hydroxyl group-containing polyamide of the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor, and the reaction can proceed smoothly even if the curing temperature is lowered. .

또한 본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 막두께의 얼룩을 막거나, 현상성을 향상하기 위한 첨가제로서 계면활성제 또는 레벨링제를 더욱 포함할 수도 있다. In addition, the positive photosensitive resin composition of the present invention may further include a surfactant or a leveling agent as an additive for preventing staining of the film thickness or improving developability.

본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 패턴을 형성하는 공정은, The process of forming a pattern using the positive photosensitive resin composition of this invention,

포지티브형 감광성 수지 조성물을 지지 기판상에 도포하는 공정; Applying a positive photosensitive resin composition on a supporting substrate;

상기 도포된 조성물을 건조하여 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 막을 형성하는 공정; Drying the applied composition to form a photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor film;

상기 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 막을 노광하는 공정; Exposing the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor film;

상기 노광된 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 막을 알칼리 수용액으로 현상하여 감광성 수지막을 제조하는 공정; 및 Developing the exposed polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor film with an aqueous alkali solution to produce a photosensitive resin film; And

상기 감광성 수지막을 가열처리하는 공정을 포함한다. And heat-treating the photosensitive resin film.

상기 패턴을 형성하는 공정상의 조건 등에 대하여는 당해 분야에 널리 알려진 사항이므로 본 명세서에서 자세한 설명은 생략하기로 한다. Process conditions for forming the pattern, etc. are well known in the art, so detailed description thereof will be omitted.

본 발명의 다른 일 구현예에 따르면, 본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 감광성 수지막이 제공된다. 상기 감광성 수지막의 바람직한 예로는 감광성 절연막 또는 감광성 보호막을 들 수 있다. According to another embodiment of the present invention, there is provided a photosensitive resin film prepared using the positive photosensitive resin composition of the present invention. Preferable examples of the photosensitive resin film include a photosensitive insulating film or a photosensitive protective film.

또한 본 발명의 또 다른 일 구현예에 따르면, 본 발명의 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자가 제공된다. In addition, according to another embodiment of the present invention, a semiconductor device including the photosensitive resin film of the present invention is provided.

본 발명의 조성물은 반도체 소자에서 절연막, 페시베이셔층 또는 버퍼 도포층에 유용하게 사용될 수 있다. 즉 본 발명의 조성물은 반도체 장치의 표면 보호막 및 층간 절연막으로 유용하게 사용될 수 있다. The composition of the present invention can be usefully used for an insulating film, a passivation layer or a buffer coating layer in a semiconductor device. That is, the composition of the present invention can be usefully used as a surface protective film and an interlayer insulating film of a semiconductor device.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예, 및 비교예를 기재한다. 그러나, 하기의 실시예 및 비교예는 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. Hereinafter, preferred examples and comparative examples of the present invention are described. However, the following examples and comparative examples are for illustrative purposes and are not intended to limit the invention.

[합성예 1] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-1)의 합성Synthesis Example 1 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-1)

교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치, 및 냉각기가 장착된 4구 플라스 크에 질소를 통과시키면서 4-아미노벤조익산 27.43g과 비스-(3,4-디카르복시산무수물페닐)에테르 31.02g을 넣고 1500ml의 아세트산을 가했다. 이 혼합물을 1시간 동안 실온에서 교반한 후에 용매가 환류될 때까지 승온한 후, 12시간을 더 교반하였다. 이 용액의 온도를 다시 실온으로 낮추고 석출된 백색 고체를 여과한 후에 차가운 에탄올로 3회 세척하였다. 27.43 g of 4-aminobenzoic acid and bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydride phenyl) ethers while passing nitrogen through a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermostat, a nitrogen gas injector, and a cooler 31.02 g was added and 1500 ml of acetic acid was added. The mixture was stirred for 1 hour at room temperature and then heated up to reflux of the solvent, followed by further stirring for 12 hours. The temperature of this solution was lowered back to room temperature, and the precipitated white solid was filtered and washed three times with cold ethanol.

얻어진 고체를 진공 하에서 100℃로 가열하면서 12시간 동안 건조하였다. 얻어진 고체를 교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 넣고, 질소를 통과시키면서 염화 티오닐 500g을 가했다. 염화티오닐이 환류될 때까지 이 용액을 승온한 후에 12시간을 더 교반하였다. 이 용액의 온도를 다시 실온으로 낮춘 다음에 진공 하에서 염화 티오닐을 모두 제거하였다. 얻어진 백색 고체를 톨루엔으로 5회 세척한 후에 진공 하에서 50℃로 가열하면서 12시간 동안 건조하였다. The solid obtained was dried for 12 h while heating to 100 ° C. under vacuum. The obtained solid was put into the four neck flask equipped with the stirrer, the thermostat, the nitrogen gas injection device, and the cooler, and 500 g of thionyl chloride was added while passing nitrogen. The solution was heated to reflux until thionyl chloride was refluxed, followed by further stirring for 12 hours. The temperature of this solution was lowered back to room temperature and then all thionyl chloride was removed under vacuum. The white solid obtained was washed five times with toluene and then dried for 12 hours while heating to 50 ° C. under vacuum.

별도로, 교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g을 넣고, N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 240g을 넣어 용해시켰다. 이때 얻어진 용액 중에서 고형분 함량은 9중량%였다. Separately, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3, while passing nitrogen through a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermostat, a nitrogen gas injection device and a cooler, 18.3 g of 3,3-hexafluoropropane was added, and 240 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) was added to dissolve it. Solid content was 9 weight% in the solution obtained at this time.

고체가 완전 용해되면 피리딘을 5.6g 투입하고, 온도를 0 내지 5℃로 유지하면서 위의 실험 과정에서 얻어진 고체 20.5g을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 142g을 넣어 용해시킨 용액을 30분간 천천히 적하시켰다. 적하 후 1시간 동안 온도 0 내지 5℃에서 반응을 수행하고, 상온으로 온도를 올려 1시간 동안 교반하여 반응을 종료 하였다. 반응혼합물을 물/메탄올 = 10/1(용적비)의 용액에 투입하여 침전물을 생성하고, 침전물을 여과하여 물로 충분히 세척한 후, 온도 80℃의 진공 하에서 24시간 이상 건조하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-1)를 제조하였다. 제조된 PI-PBO-1의 1H-NMR을 측정하여 그 결과를 도 1에 나타내었다. When the solid was completely dissolved, 5.6 g of pyridine was added, and 20.5 g of the solid obtained in the above experiment was added with 142 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) while maintaining the temperature at 0 to 5 ° C. It was dripped slowly for 30 minutes. After dropping, the reaction was carried out at a temperature of 0 to 5 ° C. for 1 hour, and the reaction was terminated by raising the temperature to room temperature and stirring for 1 hour. The reaction mixture was poured into a solution of water / methanol = 10/1 (volume ratio) to form a precipitate. The precipitate was filtered and washed sufficiently with water, and dried under vacuum at a temperature of 80 ° C. for at least 24 hours to obtain polyimide-polybenzooxa. Sol Sol Copolymer Precursor (PI-PBO-1) was prepared. 1 H-NMR of the prepared PI-PBO-1 was measured and the results are shown in FIG. 1.

[합성예 2] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-2)의 합성Synthesis Example 2 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-2)

비스-(3,4-디카르복시산무수물)에테르 31.02g을 대신하여 비스-(3,4-디카르복시산무수물페닐)술폰 35.83g을 사용하고, 이를 사용하여 얻어진 고체 22.17g 이용하여 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g과 반응시킨 것을 제외하고는 상기 합성예 1과 동일한 방법을 사용하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-2)를 제조하였다. Instead of 31.02 g of bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydride) ether, 35.83 g of bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydride phenyl) sulfone was used, and 2,2-bis was used using 22.17 g of the solid obtained using the same. Polyimide- Using the same method as in Synthesis Example 1, except that 18.3 g of (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane was reacted Polybenzoxazole alternating copolymer precursor (PI-PBO-2) was prepared.

[합성예 3] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-3)의 합성Synthesis Example 3 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-3)

비스-(3,4-디카르복시산무수물)에테르 31.02g을 대신하여 2,2-비스-(3,4-디카르복시산무수물페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 33.63g을 사용하고, 이를 사용하여 얻어진 고체 22.17g 이용하여 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 21.4g과 반응시킨 것을 제외하고는 합성예 1과 동 일한 방법을 사용하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-3)를 제조하였다. 2,2-bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydridephenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane in place of 31.02 g of bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydride) ether 21.4 g of 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane using 33.63 g and 22.17 g of the solid obtained using the same A polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor (PI-PBO-3) was prepared in the same manner as in Synthesis Example 1, except that the reaction was conducted with.

[합성예 4] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-4)의 합성Synthesis Example 4 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-4)

교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 4,4-디아미노페닐메탄 19.83g과 트리멜리트산 38.43g을 넣고 1500ml의 아세트산을 가했다. 이 혼합물을 1시간 동안 실온에서 교반한 후에 용매가 환류될 때까지 승온한 후 12시간을 더 교반하였다. 이 용액의 온도를 다시 실온으로 낮추고 석출된 백색 고체를 여과한 후에 차가운 에탄올로 3회 세척하였다. 얻어진 고체를 진공 하에서 100℃로 가열하면서 12시간 동안 건조하였다. 19.83 g of 4,4-diaminophenylmethane and 38.43 g of trimellitic acid were added to a four-necked flask equipped with a stirrer, a temperature controller, a nitrogen gas injection device, and a cooler, and 1500 ml of acetic acid was added thereto. The mixture was stirred at room temperature for 1 hour, then heated up to reflux of the solvent, followed by further stirring for 12 hours. The temperature of this solution was lowered back to room temperature, and the precipitated white solid was filtered and washed three times with cold ethanol. The solid obtained was dried for 12 h while heating to 100 ° C. under vacuum.

얻어진 고체를 교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 넣고, 질소를 통과시키면서 염화 티오닐 500g을 가했다. 염화 티오닐이 환류될 때까지 이 용액을 승온한 후에 12시간을 더 교반하였다. 이 용액의 온도를 다시 실온으로 낮춘 다음에 진공 하에서 염화 티오닐을 모두 제거하였다. 얻어진 백색 고체를 톨루엔으로 5회 세척한 후에 진공 하에서 50℃로 가열하면서 12시간 동안 건조하였다. The obtained solid was put into the four neck flask equipped with the stirrer, the thermostat, the nitrogen gas injection device, and the cooler, and 500 g of thionyl chloride was added while passing nitrogen. The solution was heated to reflux until thionyl chloride was refluxed, followed by further stirring for 12 hours. The temperature of this solution was lowered back to room temperature and then all thionyl chloride was removed under vacuum. The white solid obtained was washed five times with toluene and then dried for 12 hours while heating to 50 ° C. under vacuum.

별도로, 교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g을 넣고, N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 240g을 넣어 용해시켰 다. 이때 얻어진 용액 중에서, 고형분 함량은 9중량%였다. Separately, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3, while passing nitrogen through a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermostat, a nitrogen gas injection device and a cooler, 18.3 g of 3,3-hexafluoropropane was added, and 240 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) was added to dissolve it. In the solution obtained at this time, solid content was 9 weight%.

고체가 완전 용해되면 피리딘을 5.6g 투입하고, 온도를 0 내지 5℃로 유지하면서 위의 실험 과정에서 얻어진 고체 20.42g를 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 142g을 넣어 용해시킨 용액을 30분간 천천히 적하시켰다. 적하 후 1시간 동안 온도 0 내지 5℃에서 반응을 수행하고, 상온으로 온도를 올려 1시간 동안 교반하여 반응을 종료하였다. 반응혼합물을 물/메탄올 = 10/1(용적비)의 용액에 투입하여 침전물을 생성하고, 침전물을 여과하여 물로 충분히 세정한 후. 온도 80℃의 진공 하에서24시간 이상 건조하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-4)를 제조하였다. 제조된 PI-PBO-4의 1H-NMR을 측정하여 그 결과를 도 2에 나타내었다. When the solid was completely dissolved, 5.6 g of pyridine was added, and 20.42 g of the solid obtained in the above experiment was added with 142 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) while maintaining the temperature at 0 to 5 ° C. It was dripped slowly for 30 minutes. After dropping, the reaction was performed at a temperature of 0 to 5 ° C. for 1 hour, and the reaction was terminated by raising the temperature to room temperature and stirring for 1 hour. The reaction mixture was poured into a solution of water / methanol = 10/1 (volume ratio) to form a precipitate, and the precipitate was filtered and sufficiently washed with water. It dried at the temperature of 80 degreeC over 24 hours, and prepared the polyimide polybenzoxazole alternating copolymer precursor (PI-PBO-4). 1 H-NMR of the prepared PI-PBO-4 was measured and the results are shown in FIG. 2.

[합성예 5] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-5)의 합성Synthesis Example 5 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-5)

4,4-디아미노페닐메탄 19.83g을 대신하여 4,4-디아미노페닐에테르 20.03g을 사용하고, 이를 사용하여 얻어진 고체를 20.49g 이용하여 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g과 반응시킨 것을 제외하고는 합성예 4와 동일한 방법을 사용하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-5)를 제조하였다. Instead of 19.83 g of 4,4-diaminophenylmethane, 20.03 g of 4,4-diaminophenyl ether was used, and 20.49 g of the solid obtained therefrom was used. The polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor was prepared in the same manner as in Synthesis Example 4 except that it was reacted with 18.3 g of oxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane. PI-PBO-5) was prepared.

[합성예 6] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-6)의 합 성Synthesis Example 6 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-6)

4,4-디아미노페닐메탄 19.83g을 대신하여 4,4-디아미노페닐술폰 24.83g을 사용하고, 이를 사용하여 얻어진 고체를 22.17g 이용하여 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g과 반응시킨 것을 제외하고는 합성예 4와 동일한 방법을 사용하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-6)를 제조하였다. Instead of 19.83 g of 4,4-diaminophenylmethane, 24.83 g of 4,4-diaminophenylsulfone was used, and 2,2-bis (3-amino-4-hydride was used using 22.17 g of the solid obtained using the same. The polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor was prepared in the same manner as in Synthesis Example 4 except that it was reacted with 18.3 g of oxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane. PI-PBO-6) was prepared.

[합성예 7] 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-7)의 합성Synthesis Example 7 Synthesis of Polyimide-Polybenzooxazole Alternating Copolymer Precursor (PI-PBO-7)

4,4-디아미노페닐메탄 19.83g을 대신하여 4,4-디아미노-2,2-디메틸비페닐 21.23g을 사용하고, 이를 사용하여 얻어진 고체를 20.91g 이용하여 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 18.3g과 반응시킨 것을 제외하고는 합성예 4와 동일한 방법을 사용하여 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-7)를 제조하였다. Instead of 19.83 g of 4,4-diaminophenylmethane, 21.23 g of 4,4-diamino-2,2-dimethylbiphenyl was used, and 20.91 g of the solid obtained using the 2,2-bis (3 Polyimide-polybenzooxa using the same method as in Synthesis Example 4 except for reacting with 18.3 g of -amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane A sol shift copolymer precursor (PI-PBO-7) was prepared.

[합성예 8] 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-1)의 합성Synthesis Example 8 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (PA-1)

교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플로 오로프로판 17.4g, 1,3-비스(아미노프로필)테트라메틸디실록산 0.86g을 넣고, N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 280g을 넣어 용해시켰다. 이때, 얻어진 용액 중에서 고형분의 함량은 9중량%였다. 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3, while passing nitrogen through a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermostat, a nitrogen gas injection device and a cooler 17.4 g of 3-hexaflouropropane and 0.86 g of 1,3-bis (aminopropyl) tetramethyldisiloxane were added, and 280 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) was added to dissolve it. At this time, the content of solids in the obtained solution was 9% by weight.

고체가 완전 용해되면 피리딘을 9.9g 투입하고, 온도를 0 내지 5℃로 유지하면서 4,4'-옥시디벤조닐클로라이드 14.8g를 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 142g을 넣어 용해시킨 용액을 30분간 천천히 적하시켰다. 적하 후 1시간 동안 온도 0 내지 5℃에서 반응을 수행하고, 상온으로 온도를 올려 1시간 동안 교반하여 반응을 종료하였다. 반응혼합물을 물/메탄올 = 10/1(용적비)의 용액에 투입하여 침전물을 생성하고, 침전물을 여과하여 물로 충분히 세정한 후 온도 80℃의 진공 하에서 24시간 이상 건조하여 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-1)를 제조하였다. When the solid is completely dissolved, 9.9 g of pyridine is added, and 14.8 g of 4,4'-oxydibenzoyl chloride is added to 142 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) while maintaining the temperature at 0 to 5 ° C. The solution was slowly added dropwise for 30 minutes. After dropping, the reaction was performed at a temperature of 0 to 5 ° C. for 1 hour, and the reaction was terminated by raising the temperature to room temperature and stirring for 1 hour. The reaction mixture was poured into a solution of water / methanol = 10/1 (volume ratio) to form a precipitate, and the precipitate was filtered and washed sufficiently with water and dried under vacuum at a temperature of 80 ° C. for at least 24 hours to obtain a polybenzoxazole precursor (PA -1) was prepared.

[합성예 9] 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-2)의 합성Synthesis Example 9 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (PA-2)

교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플로 오로프로판 17.4g, 1,3-비스(아미노프로필)테트라메틸디실록산 0.86g을 넣고, N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 280g을 넣어 용해시켰다. 이때, 얻어진 용액 중에서 고형분의 함량은 9중량%였다. 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3, while passing nitrogen through a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermostat, a nitrogen gas injection device and a cooler 17.4 g of 3-hexaflouropropane and 0.86 g of 1,3-bis (aminopropyl) tetramethyldisiloxane were added, and 280 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) was added to dissolve it. At this time, the content of solids in the obtained solution was 9% by weight.

고체가 완전 용해되면 피리딘을 9.9g 투입하고, 온도를 0 내지 5℃로 유지하면서 4,4'-옥시디벤조닐클로라이드 14.8g를 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 142g을 넣어 용해시킨 용액을 30분간 천천히 적하시켰다. 적하 후 1시간 동안 온도 0 내지 5℃에서 반응을 수행하고, 상온으로 온도를 올려 1시간 동안 교반한 후에, 4-나디미도 벤조일클로라이드 2.94g을 말단봉지제로서 가하고, 다시 1시간 동안 교반하여 반응 을 종료하였다. 반응혼합물을 물/메탄올 = 10/1(용적비)의 용액에 투입하여 침전물을 생성하고, 침전물을 여과하여 물로 충분히 세정한 후 온도 80℃의 진공 하에서 24시간 이상 건조하여 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-2)를 제조하였다. 제조된 PA-2의 1H-NMR을 측정하였고, 그 결과를 도 3에 나타내었다. When the solid is completely dissolved, 9.9 g of pyridine is added, and 14.8 g of 4,4'-oxydibenzoyl chloride is added to 142 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) while maintaining the temperature at 0 to 5 ° C. The solution was slowly added dropwise for 30 minutes. After dropping, the reaction was carried out at a temperature of 0 to 5 ° C. for 1 hour, and the temperature was raised to room temperature, followed by stirring for 1 hour. Then, 2.94 g of 4-namidido benzoyl chloride was added as an end-blocking agent, followed by stirring for 1 hour. Terminated. The reaction mixture was poured into a solution of water / methanol = 10/1 (volume ratio) to form a precipitate, and the precipitate was filtered and washed sufficiently with water and dried under vacuum at a temperature of 80 ° C. for at least 24 hours to obtain a polybenzoxazole precursor (PA -2) was prepared. 1 H-NMR of the prepared PA-2 was measured and the results are shown in FIG. 3.

[합성예 10] 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-3)의 합성Synthesis Example 10 Synthesis of Polybenzoxazole Precursor (PA-3)

말단봉지제로서 4-나디미도벤조일클로라이드 대신에 5-노보넨-2,3-디카르복시산무수물을 사용한 것을 제외하고는 합성예 9와 동일한 방법으로 중합하여 폴리벤조옥사졸 전구체(PA-3)를 제조하였다. Polybenzoxazole precursor (PA-3) was polymerized in the same manner as in Synthesis Example 9 except that 5-norbornene-2,3-dicarboxylic acid anhydride was used instead of 4-namididobenzoyl chloride as an end-sealing agent. Prepared.

[실시예 1] Example 1

상기 합성예 1에서 합성한 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(PI-PBO-1) 15g을 γ-부티로락톤(GBL) 35.0g에 녹인 후, 하기 화학식 38의 구조를 가지는 감광성 디아조퀴논 3g을 감광성 디아조퀴논 화합물로, 하기 화학식 39의 트리메톡시[3-(페닐아미노)프로필]실란 0.75g을 실란 화합물로, 하기 화학식 40의 에틸레소시놀 0.75g을 페놀 화합물로 넣고 용해한 후 0.45㎛의 플루오로 수지제 필터로 여과하여 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. After dissolving 15 g of the polyimide-polybenzoxazole alternate copolymer precursor (PI-PBO-1) synthesized in Synthesis Example 1 in 35.0 g of γ-butyrolactone (GBL), a photosensitive dia having a structure of Formula 38 3 g of quinquinone was used as a photosensitive diazoquinone compound, 0.75 g of trimethoxy [3- (phenylamino) propyl] silane represented by the following Chemical Formula 39 was used as a silane compound, and 0.75 g of ethylresosocinol represented by the following Chemical Formula 40 was used as a phenol compound. After melt | dissolution, it filtered with the fluororesin filter of 0.45 micrometer, and obtained the positive photosensitive polyimide polybenzoxazole alternating-copolymer precursor composition.

[화학식 38](38)

Figure 112008079221452-pat00044
Figure 112008079221452-pat00044

(상기 화학식 38에서, (In Formula 38,

세 개의 Q 중 두 개는

Figure 112008079221452-pat00045
로 치환되어 있다.)Two of the three Q's
Figure 112008079221452-pat00045
Is replaced by.)

[화학식 39][Chemical Formula 39]

Figure 112008079221452-pat00046
Figure 112008079221452-pat00046

[화학식 40][Formula 40]

Figure 112008079221452-pat00047
Figure 112008079221452-pat00047

[실시예 2] [Example 2]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-2를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternate copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PI-PBO-2 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[실시예 3] [Example 3]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-3를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that PI-PBO-3 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[실시예 4] Example 4

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-4를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternate copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PI-PBO-4 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[실시예 5] [Example 5]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-5를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternate copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PI-PBO-5 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[실시예 6] [Example 6]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-6를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PI-PBO-6 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[실시예 7] [Example 7]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PI-PBO-7를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternate copolymer precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PI-PBO-7 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[비교예 1] Comparative Example 1

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PA-1를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polybenzoxazole precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PA-1 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[비교예 2] Comparative Example 2

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PA-2를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polybenzoxazole precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PA-2 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[비교예 3] [Comparative Example 3]

PI-PBO-1 15g를 대신하여 PA-3를 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 포지티브형 감광성 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 얻었다. A positive photosensitive polybenzoxazole precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that PA-3 was used instead of 15 g of PI-PBO-1.

[물성 평가][Property evaluation]

상기 실시예 1 내지 7에 따라 제조된 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 조성물 및 비교예 1 내지 3에 따라 제조된 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 8인치 웨이퍼에 미카사제(1H-DX2) 스핀코터를 이용해 도포한 후, 120℃의 핫플레이트에서 4분간 가열하여 감광성 폴리이미드 전구체 필름을 형성하였다. The polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor composition prepared according to Examples 1 to 7 and the polybenzoxazole precursor composition prepared according to Comparative Examples 1 to 3 were prepared by Mikasa (1H-DX2) on an 8-inch wafer. After coating using a spin coater, the film was heated for 4 minutes on a 120 ° C. hot plate to form a photosensitive polyimide precursor film.

상기 폴리이미드 전구체 필름에 다양한 크기의 패턴이 새겨진 마스크를 사용하여 일본 Nikon사제 I-line stepper(NSR i10C)로 250ms에서 노광한 후 상온에서 2.38%의 테트라메틸암모늄 하이드록사이드 수용액에 60초(2퍼들)을 통해 노광부를 용해 제거한 후, 순수로 30초간 세척하였다. 이어서, 얻어진 패턴을 전기로를 이용하여 산소 농도 1000ppm 이하에서, 150℃에서 30분간 건조하고, 추가로 320℃에서 30분간 경화를 실시하여 패턴이 형성된 필름을 제조하였다. After exposing at 250ms with a Nikon I-line stepper (NSR i10C) using a mask engraved with patterns of various sizes on the polyimide precursor film, 60 seconds (2 seconds) in a 2.38% aqueous tetramethylammonium hydroxide solution at room temperature After exposing and removing the exposed portion through a puddle), it was washed with pure water for 30 seconds. Subsequently, the obtained pattern was dried at 150 ° C for 30 minutes at an oxygen concentration of 1000 ppm or less using an electric furnace, and further cured at 320 ° C for 30 minutes to prepare a film with a pattern.

완성된 필름의 패턴은 광학현미경을 통해서 해상도을 확인할 수 있었고, 예비 소성, 현상, 경화 후의 막두께는 KMAC사제(ST4000-DLX)장비를 이용해 측정하였 다. The pattern of the finished film was confirmed by the optical microscope, the film thickness after preliminary firing, development, and curing was measured using a KMAC (ST4000-DLX) equipment.

또한 현상 후의 막두께에 대한 감소율이 현상성과 최종 막두께에도 영향을 가져오며 이는 현상 시에도 막두께 감소가 작아야 하는데 이를 측정하기 위해 예비소성을 한 필름을 2.38% 테트라메틸암모늄하이드록사이드(TMAH) 수용액에 시간별로 침지하고 물로 씻어내는 방법을 실시하고, 시간에 따른 막두께 변화를 측정하여 잔막율(현상 후 두께/현상전 두께, 단위 %)을 계산하였다. 실시예를 통하여 얻어진 모든 막의 두께는 11.1 내지 11.6um의 영역에 있었으며, 각 예에 대하여 잔막율을 계산하여 하기 표 2에 기재하였다. In addition, the reduction rate of the film thickness after development has an effect on the developability and the final film thickness, which also requires a small decrease in the film thickness during development, which is 2.38% tetramethylammonium hydroxide (TMAH) It was immersed in the aqueous solution by time and washed with water, and the residual film ratio (thickness after development / thickness before development, unit%) was calculated by measuring the film thickness change with time. The thicknesses of all the films obtained through the examples were in the range of 11.1 to 11.6 um, and the residual film rates were calculated for each example and are shown in Table 2 below.

감도는 노광 및 현상 후 10um L/S 패턴이 1 대 1의 선폭으로 형성되는 노광 시간을 구하여 이를 최적 노광 시간으로 하였다. 해상도는 상기 최적 노광 시간에 있어서, 1 대 1의 선폭이 형성되는 최소의 패턴 치수를 해상도로 하였다. The sensitivity was obtained by determining the exposure time in which a 10 um L / S pattern was formed with a line width of 1 to 1 after exposure and development, and was used as the optimum exposure time. The resolution set the minimum pattern size at which the line width of one to one is formed in the optimum exposure time as the resolution.

패턴을 형성한 후 질소 분위기 하에서 120℃에서 30분 가열 후 320℃까지 1시간 동안 승온하여 320℃에서 1시간 가열하여 경화막을 제작하였다. After the pattern was formed, the mixture was heated at 120 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere, and then heated up to 320 ° C. for 1 hour, and heated at 320 ° C. for 1 hour to produce a cured film.

경화 후 필름의 기계적 물성을 측정하기 위하여 경화 후의 필름이 덮여 있는 실리콘 웨이퍼를 2% HF 용액에 30분간 담가서 필름을 분리해낸 뒤에 6.0cm * 1.0cm의 리본 모양 조각으로 잘라 내어서 기계적 물성을 측정하기 위한 시편을 제조하였다. 이 시편을 instrom series IX 만능재료시험기로 인장강도, 신율, 영률 등의 기계적 물성을 측정하였다. 그 결과를 하기의 표 1에 기재하였다. In order to measure the mechanical properties of the film after curing, the film-covered silicon wafer was soaked in 2% HF solution for 30 minutes to separate the film, and then cut into 6.0 cm * 1.0 cm ribbon pieces to measure mechanical properties. A specimen was prepared for. The specimens were measured for mechanical properties such as tensile strength, elongation, and Young's modulus by the instrom series IX Universal Testing Machine. The results are shown in Table 1 below.

[표 1][Table 1]

Figure 112008079221452-pat00048
Figure 112008079221452-pat00048

상기 표 1에 나타낸 바와 같이, 상기 실시예 1 내지 7의 감광성 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 조성물을 사용한 경우에는 비교예 1 내지 3에 비하여 감도, 해상도 및 기계적 물성이 우수하고, 뛰어난 신율과 영률값을 보인다. 특히 열가교성 말단 봉지제를 함유하고 있지 않은 비교예 1의 경우와 비교하면 월등한 기계적 물성을 보이는 것을 확인할 수 있으며, 이중 결합으로 인한 열가교성을 갖는 4-나디미도벤조일클로라이드 또는 5-노보넨-2,3-디카르복시산 무수물을 말단 봉지제로 사용한 비교예 2 및 3의 경우와 비교하여도 상대적으로 우수한 기계적 물성을 보이는 것을 알 수 있다. As shown in Table 1, in the case of using the photosensitive polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer composition of Examples 1 to 7 compared to Comparative Examples 1 to 3, the sensitivity, resolution and mechanical properties are superior, and the elongation is excellent. Young's modulus is shown. In particular, compared with the case of Comparative Example 1, which does not contain a thermal crosslinkable terminal encapsulant, it can be seen that it shows superior mechanical properties, and 4-namididobenzoyl chloride or 5-norbornene- having thermal crosslinkability due to double bonds. It can be seen that the mechanical properties are relatively superior to those of Comparative Examples 2 and 3 using 2,3-dicarboxylic anhydride as the terminal sealing agent.

이상의 결과를 통하여 볼 때, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 조성물을 사용하는 경우, 기존 보다 현저하게 뛰어난 광특성 및 기계적 물성을 가지는 두꺼운 막을 만들 수 있다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시예는 비교예의 방법들과 비교하여 동등한 광특성을 보이기 때문에, 본 발명을 통하여 좋은 패턴성을 가지며, 동시에 우수한 기계적 성질을 가지는 반도체 층간 절연막 내지 표면 보호막을 쉽게 형성할 수 있다. Based on the above results, when the polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer composition according to the preferred embodiment of the present invention is used, a thick film having optical properties and mechanical properties significantly superior to the existing ones can be made. In addition, since the preferred embodiment of the present invention exhibits the same optical characteristics as compared with the methods of the comparative example, it is possible to easily form a semiconductor interlayer insulating film or surface protective film having good patternability and at the same time excellent mechanical properties through the present invention. have.

이상을 통해 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, And it goes without saying that the invention belongs to the scope of the invention.

Claims (6)

(A) 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위를 갖는 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체(Polyimide-Polybenzoxazole alternating co-polymer precursor); (A) Polyimide-Polybenzoxazole alternating co-polymer precursor having a repeating unit represented by the following formula (1) or (2); (B) 감광성 디아조퀴논 화합물; (B) a photosensitive diazoquinone compound; (C) 실란 화합물; (C) a silane compound; (D) 페놀 화합물; 및 (D) a phenol compound; And (E) 용매(E) Solvent 를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물. Positive photosensitive resin composition comprising a. [화학식 1] [Formula 1]
Figure 112008079221452-pat00049
Figure 112008079221452-pat00049
(상기 화학식 1에서, (In the formula 1, X1은 방향족 유기기이고, X 1 is an aromatic organic group, Y1은 방향족 유기기 또는 2 내지 6가의 지방족 유기기이고, Y 1 is an aromatic organic group or a 2 to 6-valent aliphatic organic group, Z1은 방향족 유기기이다.)Z 1 is an aromatic organic group.) [화학식 2][Formula 2]
Figure 112008079221452-pat00050
Figure 112008079221452-pat00050
(상기 화학식 2에서, (In Formula 2, X2는 방향족 유기기이고, X 2 is an aromatic organic group, Y2는 방향족 유기기이며, Y 2 is an aromatic organic group, Z2는 방향족 유기기, 2 내지 6가의 지방족 유기기 및 2 내지 6가의 지환족 유기기로 이루어진 군에서 선택되는 유기기이다.) Z 2 is an organic group selected from the group consisting of an aromatic organic group, a 2-6 valent aliphatic organic group, and a 2-6 hexavalent alicyclic organic group.)
제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체는 3,000 내지 300,000의 중량평균분자량(Mw)을 갖는 것인 포지티브형 감광성 수지 조성물. The polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor has a weight average molecular weight (Mw) of 3,000 to 300,000. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 용매는 N-메틸-2-피롤리돈, γ-부티로락톤, N,N-디메틸아세트아미드, 디메틸설폭사이드, 디에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌글리콜디에틸에테르, 디에틸렌글리콜디부틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산부틸, 메틸-1,3-부틸렌글리콜아세테이트, 1,3-부틸렌글리콜-3-모노메틸에테르, 피루브산메틸, 피루브산에틸, 메틸-3-메톡시프로피오네이트, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것인 포지티브형 감광성 수지 조성물. The solvent is N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, N, N-dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether , Propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl-1,3-butylene glycol acetate, 1,3-butylene glycol-3 A positive photosensitive resin composition selected from the group consisting of monomethyl ether, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl-3-methoxypropionate, and combinations thereof. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 수지 조성물은 The resin composition is 상기 (A) 폴리이미드-폴리벤조옥사졸 교대공중합체 전구체 100중량부에 대하여, To 100 parts by weight of the (A) polyimide-polybenzoxazole alternating copolymer precursor, 상기 (B) 감광성 다이조퀴논 화합물 5 내지 100중량부; 5 to 100 parts by weight of the (B) photosensitive dizoquinone compound; 상기 (C) 실란 화합물 0.1 내지 30중량부; 0.1 to 30 parts by weight of the (C) silane compound; 상기 (D) 페놀 화합물 1 내지 30중량부; 및 1 to 30 parts by weight of the (D) phenol compound; And 상기 (E) 용매 200 내지 900중량부200 to 900 parts by weight of the solvent (E) 를 포함하는 것인 포지티브형 감광성 수지 조성물. Positive photosensitive resin composition comprising a. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항의 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 감광성 수지막. The photosensitive resin film manufactured using the positive photosensitive resin composition of any one of Claims 1-4. 제 5 항의 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자.A semiconductor device comprising the photosensitive resin film of claim 5.
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