KR101232618B1 - Array substrate, and liquid crystal display panel and liquid crystal display device having the same - Google Patents

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Abstract

픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선하기 위한 어레이 기판, 이를 갖는 액정표시패널 및 액정표시장치가 개시된다. 스위칭 소자는 서로 인접하는 게이트 배선들과 서로 인접하는 데이터 배선들에 의해 정의되는 단위 픽셀 영역에 형성된다. 메인 픽셀부는 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된다. 커플링 캐패시터는 스위칭 소자에 연결된다. 서브 픽셀부는 커플링 캐패시터에 연결되고, 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된다. 이에 따라, PVA 구조에서 게이트 배선과 픽셀 전극이 중첩되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터의 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시키므로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선할 수 있다.Disclosed are an array substrate, a liquid crystal display panel having the same, and a liquid crystal display device for improving an image quality defect caused by an RMS cause of a pixel. The switching element is formed in a unit pixel area defined by gate lines adjacent to each other and data lines adjacent to each other. The main pixel portion is formed in the center region of the unit pixel region. The coupling capacitor is connected to the switching element. The sub pixel portion is connected to the coupling capacitor and is formed in the remaining area of the unit pixel area. Accordingly, the area of the additional gate-source capacitor generated by overlapping the gate wiring and the pixel electrode in the PVA structure is transferred from the main pixel to the sub pixel, thereby reducing the kickback voltage of the main pixel, which is caused by the RMS cause of the pixel. The poor image quality can be improved.

액정, 수직 배향, VA, PVA, 킥백 전압, 메인 픽셀, 서브 픽셀 Liquid Crystal, Vertical Alignment, VA, PVA, Kickback Voltage, Main Pixel, Sub Pixel

Description

어레이 기판, 이를 갖는 액정표시패널 및 액정표시장치{ARRAY SUBSTRATE, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME}ARRAY SUBSTRATE, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.1 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 액정표시패널을 I-I'으로 절단한 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II ′ of the liquid crystal display panel shown in FIG. 1.

도 3은 도 2에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. 3 is a plan view of the array substrate illustrated in FIG. 2.

도 4 내지 도 8은 도 3에 도시된 어레이 기판의 제조 방법을 설명하는 평면도들이다. 4 to 8 are plan views illustrating a method of manufacturing the array substrate illustrated in FIG. 3.

도 9는 본 발명에 따른 게이트-소스간 캐패시터의 이전을 설명하는 평면도이다. 9 is a plan view illustrating the transfer of a gate-source capacitor according to the present invention.

도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.10 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 11은 도 10에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. FIG. 11 is a plan view of the array substrate illustrated in FIG. 10.

도 12는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.12 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 13은 도 12에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. FIG. 13 is a plan view of the array substrate illustrated in FIG. 12.

도 14는 본 발명의 제4 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.14 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.

도 15는 도 14에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. FIG. 15 is a plan view of the array substrate shown in FIG. 14.

도 16은 본 발명의 제5 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.16 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.

도 17은 도 16에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. 17 is a plan view of the array substrate shown in FIG. 16.

도 18은 본 발명의 제6 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.18 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a sixth embodiment of the present invention.

도 19는 도 18에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. 19 is a plan view of the array substrate shown in FIG. 18.

도 20은 본 발명의 제7 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.20 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a seventh exemplary embodiment of the present invention.

도 21은 도 20에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. FIG. 21 is a plan view of the array substrate illustrated in FIG. 20.

도 22는 본 발명의 제8 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다.22 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to an eighth embodiment of the present invention.

도 23은 도 22에 도시된 어레이 기판의 평면도이다. FIG. 23 is a plan view of the array substrate illustrated in FIG. 22.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100 : 어레이 기판 180 : 액정층100: array substrate 180: liquid crystal layer

190 : 컬러필터 기판 110 : 게이트 배선190: color filter substrate 110: gate wiring

STL1, STL2 : 하부 스토리지 패턴 CPL, 126 : 커플링 패턴STL1, STL2: Lower Storage Pattern CPL, 126: Coupling Pattern

120 : 소스 배선 124, 128 : 상부 스토리지 패턴120: source wiring 124, 128: upper storage pattern

125, 127 : 연장 패턴 142, 146 : 서브 전극125, 127: extension pattern 142, 146: sub electrode

144 : 메인 전극 GL : 게이트 라인144: main electrode GL: gate line

DL : 데이터 라인 MP : 메인 픽셀부DL: Data line MP: Main pixel part

Ccp1, Ccp2 : 커플링 캐패시터 SP1, SP2 : 서브 픽셀부Ccp1, Ccp2: coupling capacitors SP1, SP2: sub-pixel portion

본 발명은 어레이 기판, 이를 갖는 액정표시패널 및 액정표시장치에 관한 것 으로, 보다 상세하게는 픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선하기 위한 어레이 기판, 이를 갖는 액정표시패널 및 액정표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to an array substrate, a liquid crystal display panel and a liquid crystal display device having the same, and more particularly, to an array substrate for improving the image quality defect caused by the RMS cause of the pixel, a liquid crystal display panel and a liquid crystal display device having the same It is about.

일반적으로 액정표시장치(LCD)는 각 화소를 스위칭하는 박막 트랜지스터(TFT)가 형성된 어레이 기판(또는 TFT 기판)과, 공통 전극이 형성된 대향 기판(또는 컬러필터 기판)과, 두 기판 사이에 밀봉된 액정층으로 구성된다. 상기 액정표시장치는 상기 액정층에 전압을 인가하여 광의 투과율을 제어함으로써 화상을 표시한다.In general, a liquid crystal display (LCD) includes an array substrate (or TFT substrate) on which a thin film transistor (TFT) for switching each pixel is formed, an opposing substrate (or a color filter substrate) on which a common electrode is formed, and a seal between the two substrates. It consists of a liquid crystal layer. The liquid crystal display displays an image by applying a voltage to the liquid crystal layer to control light transmittance.

상기 액정표시장치는 상기 액정에 의하여 차폐되지 않은 방향으로만 광이 투과하여 영상을 구현하기 때문에, 상대적으로 다른 표시장치에 비해 시야각이 좁은 단점이 있다. 이에 따라 광시야각을 실현하기 위하여 수직 배향(Vertically Aligned) 모드의 액정표시장치가 개발되었다.Since the liquid crystal display implements an image by transmitting light only in a direction that is not shielded by the liquid crystal, a view angle is relatively narrower than that of other display devices. Accordingly, in order to realize a wide viewing angle, a liquid crystal display device having a vertically aligned mode has been developed.

상기 VA 모드의 액정표시장치는 대향하는 면에 수직 배향 처리된 2개의 기판과, 두 기판 사이에 밀봉된 네거티브 타입의 유전율 이방성(Negative type dielectric constant anisotropy)을 갖는 액정층으로 구성된다. 상기 액정층의 액정분자는 수직(homeotropic) 배향의 성질을 갖는다.The liquid crystal display of the VA mode is composed of two substrates vertically aligned on opposite surfaces and a liquid crystal layer having negative type dielectric constant anisotropy sealed between the two substrates. The liquid crystal molecules of the liquid crystal layer have a property of homeotropic alignment.

동작시, 두 기판 사이에 전압이 인가되지 않을 때에는 기판 표면에 대하여 대략 수직 방향으로 정렬되어 블랙(black)을 표시하고, 소정의 전압이 인가될 때에는 상기 기판 표면에 대략 수평 방향으로 정렬되어 화이트(white)를 표시하며, 상기 화이트 표시를 위한 전압보다 작은 전압이 인가되었을 때에는 상기 기판 표면에 대하여 비스듬하게 경사지도록 배향되어 그레이(gray)를 표시한다.In operation, when no voltage is applied between the two substrates, they are aligned vertically with respect to the substrate surface to display black, and when a predetermined voltage is applied, they are aligned in a substantially horizontal direction to the substrate surface and are white. white is displayed, and when a voltage smaller than the voltage for the white display is applied, it is oriented so as to be inclined obliquely with respect to the surface of the substrate to display gray.

한편, 액정표시장치, 특히 중소형 액정표시장치에서 협시야각이나 계조 반전은 해결되어야 할 문제점이다. 이를 해결하기 위해, 상대적으로 중소형 액정표시장치에서는 PVA(Patterned Vertically Alignment) 구조를 사용한다. 상기 PVA 모드를 채용하는 액정표시장치는 다중-도메인을 정의하기 위해 컬러필터 기판에 패터닝된 공통 전극층과 어레이 기판에 패터닝된 화소 전극층을 갖는다.On the other hand, in a liquid crystal display device, especially a small and medium sized liquid crystal display device, narrow viewing angle or gray level inversion is a problem to be solved. To solve this problem, relatively small and medium-sized liquid crystal displays use a patterned vertically alignment (PVA) structure. The liquid crystal display adopting the PVA mode has a common electrode layer patterned on a color filter substrate and a pixel electrode layer patterned on an array substrate to define a multi-domain.

이에 따라, 메인 픽셀에는 상대적으로 높은 킥백 전압이 인가되어 플리커와 같은 화질 불량이 발생되는 문제점이 있다.Accordingly, a relatively high kickback voltage is applied to the main pixel, thereby causing a poor image quality such as flicker.

이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에 착안한 것으로, 본 발명의 목적은 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선하기 위해 최적화된 PVA 픽셀 구조를 갖는 어레이 기판을 제공하는 것이다.Therefore, the technical problem of the present invention is focused on this point, an object of the present invention is to reduce the kickback voltage of the main pixel array substrate having an optimized PVA pixel structure to improve the poor image quality caused by the RMS cause of the pixel To provide.

본 발명의 다른 목적은 상기한 어레이 기판을 갖는 액정표시패널을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel having the above-described array substrate.

본 발명의 또 다른 목적은 상기한 어레이 기판을 갖는 액정표시장치를 제공하는 것이다.Still another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having the above-described array substrate.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위하여 일실시예에 따른 어레이 기판은 스위칭 소자, 메인 픽셀부, 커플링 캐패시터 및 서브 픽셀부를 포함한다. 상기 스위칭 소자는 서로 인접하는 게이트 배선들과 서로 인접하는 데이터 배선들에 의해 정의되는 단위 픽셀 영역에 형성된다. 예를 들어, 하나의 화소는 제1 및 제2 게이 트 배선들 및 제1 및 제2 데이터 배선들에 의해 정의될 수 있다. 상기 메인 픽셀부는 상기 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된다. 상기 커플링 캐패시터는 상기 스위칭 소자에 연결된다. 상기 서브 픽셀부는 상기 커플링 캐패시터에 연결되고, 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된다.In order to realize the above object of the present invention, an array substrate according to an embodiment includes a switching element, a main pixel portion, a coupling capacitor, and a sub pixel portion. The switching element is formed in a unit pixel area defined by gate lines adjacent to each other and data lines adjacent to each other. For example, one pixel may be defined by the first and second gate lines and the first and second data lines. The main pixel portion is formed in the central region of the unit pixel region. The coupling capacitor is connected to the switching element. The sub-pixel portion is connected to the coupling capacitor and is formed in the remaining area of the unit pixel area.

상기 메인 픽셀부에는 복수의 개구 패턴들이 형성된 것을 특징으로 한다.A plurality of opening patterns are formed in the main pixel portion.

상기 서브 픽셀부에는 복수의 개구 패턴들이 형성된 것을 특징으로 한다.A plurality of opening patterns are formed in the sub pixel portion.

상기 메인 픽셀부는 상기 게이트 배선과 평행하면서 상기 단위 픽셀 영역을 2 분할하는 영역에 형성된 것을 특징으로 한다.The main pixel unit may be formed in an area parallel to the gate line and divided into two unit pixel areas.

상기 메인 픽셀부는 상기 스위칭 소자에 연결된 것을 특징으로 한다. 상기 메인 픽셀부는 하부에 형성된 제2 커플링 패턴과, 상부에 형성되어 상기 제2 커플링 패턴과 콘택되는 메인 전극을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 서브 픽셀부는 하부에 형성된 제1 하부 스토리지 패턴과, 상기 제1 하부 스토리지 패턴과 콘택되는 제1 서브 전극과, 하부에 형성된 제2 하부 스토리지 패턴과, 상기 제1 서브 전극과 분리되면서 상기 제2 하부 스토리지 패턴과 콘택되는 제2 서브 전극을 포함하는 것이 바람직하다. The main pixel unit is connected to the switching element. Preferably, the main pixel portion includes a second coupling pattern formed at a lower portion thereof, and a main electrode formed at an upper portion thereof to contact the second coupling pattern. The sub-pixel portion may be separated from the first lower storage pattern formed at a lower portion, the first sub electrode contacting the first lower storage pattern, the second lower storage pattern formed at a lower portion, and the first sub electrode. It is preferable to include a second sub-electrode in contact with the lower storage pattern.

이때, 상기 메인 전극에는 단위 픽셀 영역의 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 한다.In this case, the main electrode is characterized in that the two Y-shaped opening pattern which is mirror-symmetrical about the horizontal axis of the unit pixel region is formed.

상기 제1 서브 전극에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 한다.The first sub-electrode may have two opening patterns formed in parallel with the Y-shaped branch.

상기 제2 서브 전극에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서 브 전극에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 한다.The second sub-electrode is formed with two opening patterns which are parallel to the Y-shaped branching part and are mirror-symmetrical with respect to the central axis in the horizontal direction and the opening pattern formed in the first sub-electrode.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위하여 다른 실시예에 따른 어레이 기판은 메인 스위칭 소자, 메인 픽셀부, 서브 게이트 라인, 서브 스위칭 소자 및 서브 픽셀부를 포함한다. 상기 메인 게이트 라인은 단위 픽셀 영역에 형성된다. 상기 메인 스위칭 소자는 상기 메인 게이트 라인에 연결된다. 상기 메인 픽셀부는 상기 메인 스위칭 소자에 연결되면서 상기 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된다. 상기 서브 게이트 라인은 상기 단위 픽셀 영역에 형성된다. 상기 서브 스위칭 소자는 상기 서브 게이트 라인에 연결된다. 상기 서브 픽셀부는 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된다.In order to realize the above object of the present invention, an array substrate according to another embodiment includes a main switching element, a main pixel portion, a sub gate line, a sub switching element, and a sub pixel portion. The main gate line is formed in a unit pixel area. The main switching element is connected to the main gate line. The main pixel portion is connected to the main switching element and is formed in a central region of the unit pixel region. The sub gate line is formed in the unit pixel area. The sub switching element is connected to the sub gate line. The sub-pixel portion is formed in the remaining area of the unit pixel area.

여기서, 다른 실시예에 따른 어레이 기판은 상기 게이트 라인과 수직하도록 형성된 제1 하부 스토리지 패턴과, 단위 픽셀 영역을 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴을 더 포함하고, 상기 제1 커플링 패턴은 단위 픽셀의 우측 영역에서 상기 제1 하부 스토리지 패턴과 연결된 것을 특징으로 한다.Here, the array substrate according to another embodiment further includes a first lower storage pattern formed to be perpendicular to the gate line, and a first coupling pattern dividing the unit pixel region in the horizontal direction by two, the first coupling pattern Is connected to the first lower storage pattern in the right region of the unit pixel.

상기한 본 발명의 다른 목적을 실현하기 위하여 일실시예에 따른 액정표시패널은 상부 기판, 액정층 및 하부 기판을 포함한다. 상기 상부 기판은 공통전극층을 구비한다. 상기 하부 기판은 상기 상부 기판과의 합체를 통해 상기 액정층을 수용하되, 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된 메인 픽셀부와, 스위칭 소자에 연결된 커플링 캐패시터와, 상기 커플링 캐패시터에 연결되고, 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된 서브 픽셀부를 구비한다.In order to achieve the above object of the present invention, a liquid crystal display panel according to an embodiment includes an upper substrate, a liquid crystal layer, and a lower substrate. The upper substrate has a common electrode layer. The lower substrate receives the liquid crystal layer through coalescence with the upper substrate, the main pixel portion formed in the central region of the unit pixel region, a coupling capacitor connected to the switching element, and the coupling capacitor, And a sub pixel portion formed in the remaining area of the unit pixel area.

상기한 본 발명의 또 다른 목적을 실현하기 위하여 일실시예에 따른 액정표시장치는 게이트 라인, 데이터 라인, 스위칭 소자, 메인 픽셀부, 제1 커플링 캐패시터, 제1 서브 픽셀부, 제2 커플링 캐패시터 및 제2 서브 픽셀부를 포함한다. 상기 게이트 라인은 게이트 신호를 전달한다. 상기 데이터 라인은 데이터 신호를 전달한다. 상기 스위칭 소자는 상기 게이트 라인 및 데이터 라인에 연결된다. 상기 메인 픽셀부는 상기 스위칭 소자에 연결된다. 상기 제1 커플링 캐패시터는 일단이 상기 스위칭 소자에 연결된다. 상기 제1 서브 픽셀부는 상기 제1 커플링 캐패시터를 경유하여 상기 스위칭 소자에 연결된다. 상기 제2 커플링 캐패시터는 일단이 상기 스위칭 소자에 연결된다. 상기 제2 서브 픽셀부는 상기 제2 커플링 캐패시터를 경유하여 상기 스위칭 소자에 연결된다.In accordance with another aspect of the present invention, a liquid crystal display device includes a gate line, a data line, a switching element, a main pixel portion, a first coupling capacitor, a first sub pixel portion, and a second coupling. And a capacitor and a second sub pixel portion. The gate line carries a gate signal. The data line carries a data signal. The switching element is connected to the gate line and the data line. The main pixel portion is connected to the switching element. One end of the first coupling capacitor is connected to the switching element. The first sub pixel portion is connected to the switching element via the first coupling capacitor. One end of the second coupling capacitor is connected to the switching element. The second sub-pixel portion is connected to the switching element via the second coupling capacitor.

상기 메인 픽셀부는 일단이 상기 스위칭 소자에 연결되고, 타단이 공통전압에 연결된 메인 액정 캐패시터와, 일단이 상기 스위칭 소자에 연결되고, 타단이 스토리지전압에 연결된 메인 스토리지 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 한다.The main pixel unit includes a main liquid crystal capacitor having one end connected to the switching element, the other end connected to the common voltage, and one end connected to the switching element and the other end connected to the storage voltage.

상기 제1 서브 픽셀부는 일단이 상기 제1 커플링 캐패시터에 연결되고, 타단이 공통전압에 연결된 제1 액정 캐패시터와, 일단이 상기 제1 커플링 캐패시터에 연결되고, 타단이 스토리지전압에 연결된 제1 스토리지 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 한다.A first liquid crystal capacitor having one end connected to the first coupling capacitor, the other end connected to the common voltage, and one end connected to the first coupling capacitor and the other end connected to the storage voltage; It characterized in that it comprises a storage capacitor.

상기 제2 서브 픽셀부는 일단이 상기 제2 커플링 캐패시터에 연결되고, 타단이 상기 공통전압에 연결된 제2 액정 캐패시터와, 일단이 상기 제2 커플링 캐패시터에 연결되고, 타단이 상기 스토리지전압에 연결된 제2 스토리지 캐패시터를 포함 하는 것을 특징으로 한다.The second sub pixel portion is connected to the second coupling capacitor, one end of which is connected to the second coupling capacitor, the other end of which is connected to the second coupling capacitor, and the other end of which is connected to the storage voltage. It characterized in that it comprises a second storage capacitor.

이러한 어레이 기판, 이를 갖는 액정표시패널 및 액정표시장치에 의하면, PVA 구조에서 게이트 배선과 픽셀 전극이 중첩되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터의 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시키므로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 플리커와 같이 픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선할 수 있다.According to such an array substrate, a liquid crystal display panel and a liquid crystal display device having the same, a main pixel is transferred by transferring an area of an additional gate-source capacitor generated by overlapping gate wiring and pixel electrodes in a PVA structure from a main pixel to a sub pixel. By reducing the kickback voltage of, the poor image quality caused by the RMS cause of the pixel such as flicker can be improved.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 도면에서 여러 층(또는 막) 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 배선들의 폭이나 두께를 확대하여 나타내었다. 전체적으로 도면 설명시 관찰자 관점에서 설명하였고, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 위에 있다고 할 때, 이는 다른 부분 바로 위에 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 바로 위에 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 의미한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments disclosed herein are being provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the concept of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the width and thickness of wirings are enlarged in order to clearly express various layers (or films) and regions. As described in the overall description, it is described from an observer's point of view that, when a part such as a layer, a film, an area, or a plate is located above another part, this includes not only the part directly above the other part but also another part in the middle. . On the contrary, when a part is just above another part, it means that there is no other part in the middle.

<실시예-1>Example-1

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 액정표시패널을 I-I'으로 절단한 단면도이다. 특히, 투과형 어레이 기판을 갖는 액정표시패널을 도시한다.1 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II ′ of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 1. In particular, a liquid crystal display panel having a transmissive array substrate is shown.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시패널은 어레이 기판(100), 액정층(180) 및 상기 어레이 기판(100)과의 합체를 통해 상기 액정층(180)을 수용하는 컬러필터 기판(190)을 포함한다.1 and 2, the liquid crystal display panel according to the first exemplary embodiment of the present invention may be formed by combining the array substrate 100, the liquid crystal layer 180, and the array substrate 100. ) Includes a color filter substrate 190.

상기 어레이 기판(100)은 기판(105) 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(110)과, 상기 게이트 배선(110)에서 연장된 게이트 전극(112)과, 상기 게이트 배선(110)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(110)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.The array substrate 100 is spaced apart from the gate wiring 110 on the substrate 105 in a horizontal direction, the gate electrode 112 extending from the gate wiring 110, and the gate wiring 110. First and second lower storage patterns STL1 and STL2 formed to be parallel to the gate lines 110 in a pixel area, and a first coupling pattern CPL that divides in the horizontal direction of a unit pixel area. do.

상기 어레이 기판(100)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(110) 및 게이트 전극(112)을 커버하는 게이트 절연층(113)과, 상기 게이트 전극(112)을 커버하는 액티브층(114)을 포함한다. 상기 액티브층(114)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 100 is made of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer 113 covering the gate wiring 110 and the gate electrode 112, and an active layer covering the gate electrode 112. 114. The active layer 114 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(100)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(120)과, 상기 소스 배선(120)에서 연장된 소스 전극(122)과, 상기 소스 전극(122)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(123)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(112), 반도체층(114), 반도체 불순물층(115), 소스 전극(122) 및 드레인 전극(123)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다.The array substrate 100 includes a source wiring 120 extending in a vertical direction, a source electrode 122 extending from the source wiring 120, and a drain electrode 123 spaced apart from the source electrode 122 by a predetermined distance. ). The gate electrode 112, the semiconductor layer 114, the semiconductor impurity layer 115, the source electrode 122, and the drain electrode 123 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(100)은 상기 드레인 전극(123)에서 연장된 제1 상부 스토리지 패턴(124), 단위 픽셀 영역의 좌측에 형성되면서 상기 드레인 전극(123)에서 연장된 제1 연장 패턴(125), 상기 제1 연장 패턴(125)에 연결된 제2 커플링 패턴(126)과, 단위 픽셀 영역의 좌측에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(125)에 연결된 제2 연장 패턴(127) 및 상기 제2 연장 패턴(127)에 연결된 제2 상부 스토리지 패턴(128)을 포함한다. The array substrate 100 may include a first upper storage pattern 124 extending from the drain electrode 123, a first extension pattern 125 extending from the drain electrode 123 while being formed on the left side of a unit pixel area, The second coupling pattern 126 connected to the first extension pattern 125, the second extension pattern 127 and the second extension formed on the left side of the unit pixel area and connected to the first extension pattern 125. And a second upper storage pattern 128 connected to the pattern 127.

상기 게이트 배선(110)이나 소스 배선(120)은 단일층 또는 이중층 등으로 형성될 수 있다. 상기 단일층으로 형성되는 경우에는 알루미늄(Al)이나 알루미늄(Al)-네오디뮴(Nd) 합금으로 형성될 수 있고, 상기 이중층으로 형성되는 경우에는 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo) 또는 몰리브덴 합금막 등의 물리/화학적 특성이 우수한 물질을 하부층으로 형성하고, 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금 등의 비저항이 낮은 물질을 상부층으로 형성한다.The gate wiring 110 or the source wiring 120 may be formed as a single layer or a double layer. When formed as the single layer, it may be formed of aluminum (Al) or aluminum (Al) -neodymium (Nd) alloy, and when formed as the double layer, such as chromium (Cr), molybdenum (Mo), or molybdenum alloy film A material having excellent physical / chemical properties of is formed as a lower layer, and a material having low specific resistance such as aluminum (Al) or aluminum alloy is formed as an upper layer.

상기 어레이 기판(100)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전극(126)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(130)과 유기절연층(132)을 포함한다. 상기 패시베이션층(130)과 유기절연층(132)은 소스 전극(122)과 드레인 전극(123) 사이의 채널층(114)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(140)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(114)은 반도체층(114)과 상기 반도체층(114) 위에 형성된 반도체 불순물층(115)을 포함한다. The array substrate 100 includes a passivation layer 130 and an organic insulating layer 132 sequentially stacked to expose a portion of the drain electrode 126 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer 130 and the organic insulating layer 132 cover and protect the channel layer 114 between the source electrode 122 and the drain electrode 123, and the thin film transistor TFT and the pixel electrode part. It serves to insulate 140. The channel layer 114 includes a semiconductor layer 114 and a semiconductor impurity layer 115 formed on the semiconductor layer 114.

상기 유기절연층(132)의 높이 조절을 통해 상기 액정층(200)의 두께(액정층의 셀갭)를 조절할 수도 있다. 물론, 상기 패시베이션층(130)을 생략할 수도 있다. The thickness (cell gap of the liquid crystal layer) of the liquid crystal layer 200 may be adjusted by adjusting the height of the organic insulating layer 132. Of course, the passivation layer 130 may be omitted.

상기 어레이 기판(100)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인 전극(123)에 콘택홀(CNT)을 통해 전기적으로 연결되면서 개구된 패턴 형상을 갖는 픽셀 전극부(140)를 포함한다. The array substrate 100 includes a pixel electrode part 140 having a pattern shape which is electrically connected to the drain electrode 123 of the thin film transistor TFT through a contact hole CNT.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부(140)는 제2 커플링 패턴(126)과 콘택되는 메인 전극(144), 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 콘택되는 제1 서브 전극(142), 상기 제1 서브 전극(142)과 분리되면서 제2 하부 스토리지 패턴과 콘택되는 제2 서브 전극(146)을 포함한다. In detail, the pixel electrode unit 140 may include a main electrode 144 contacting the second coupling pattern 126, a first sub-electrode 142 contacting the first lower storage pattern STL1, and the first electrode. The second sub electrode 146 is separated from the sub electrode 142 and is in contact with the second lower storage pattern.

상기 메인 전극(144)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 제1 서브 전극(142)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 제2 서브 전극(146)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극(142)에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(144) 및 제1 및 제2 서브 전극(142, 146)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The main electrode 144 is formed with two Y-shaped opening patterns in which the unit pixel area is mirror symmetrically about the central axis in the horizontal direction. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. Two opening patterns are formed on the first sub-electrode 142 in parallel with the Y-shaped branches. The second sub-electrode 146 is formed with two opening patterns that are parallel to the Y-shaped branch and mirror-symmetric with respect to the central axis in the horizontal direction and the opening pattern formed in the first sub-electrode 142. . The plurality of opening patterns are formed in the main electrode 144 and the first and second sub-electrodes 142 and 146 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates in the future.

상기 메인 전극(144) 및 제1 및 제2 서브 전극(142, 146)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 144 and the first and second sub electrodes 142 and 146 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

한편, 상기 컬러필터 기판(190)은 단위 픽셀 영역에 대응하여 투명 기판 (192)상에 형성된 색화소층(194)과, 상기 색화소층(194)위에 형성되면서, 어레이 기판(100)에 형성된 픽셀 전극(140)의 개구 패턴을 커버하면서 일부 영역이 개구된 공통 전극부(196)를 포함하여, 상기 어레이 기판(100)과의 합체를 통해 상기 액정층(180)을 수용한다. 상기 액정층(180) 내의 액정분자들은 수직 배향(Vertical Alignment, VA) 모드로 배열된다. Meanwhile, the color filter substrate 190 is formed on the array substrate 100 while being formed on the color layer 194 formed on the transparent substrate 192 and the color layer 194 corresponding to the unit pixel region. The liquid crystal layer 180 is accommodated through the coalescence with the array substrate 100, including the common electrode part 196 covering a portion of the opening of the pixel electrode 140 and having an opening. The liquid crystal molecules in the liquid crystal layer 180 are arranged in a vertical alignment (VA) mode.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(144) 및 제1 및 제2 서브 전극(142, 146) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. In a plan view, a plurality of different domains are formed by the main electrode 144 and the first and second sub electrodes 142 and 146, respectively. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

도 3은 도 1에 도시된 액정표시장치의 단위 픽셀을 설명하는 등가 회로도이다.3 is an equivalent circuit diagram illustrating a unit pixel of the liquid crystal display illustrated in FIG. 1.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 게이트 라인(GL), 데이터 라인(DL), 스위칭 소자(TFT), 메인 픽셀부(MP), 제1 커플링 캐패시터(Ccp1), 제1 서브 픽셀부(SP1), 제2 커플링 캐패시터(Ccp2) 및 제2 서브 픽셀부(SP2)를 포함한다.Referring to FIG. 3, a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a gate line GL, a data line DL, a switching element TFT, a main pixel unit MP, and a first coupling capacitor Ccp1. The first sub pixel part SP1, the second coupling capacitor Ccp2, and the second sub pixel part SP2 are included.

상기 게이트 라인(GL)은 상기 스위칭 소자(TFT)를 액티브시키는 게이트 신호를 상기 스위칭 소자(TFT)에 전달하고, 상기 데이터 라인(DL)은 상기 스위칭 소자(TFT)에 데이터 신호를 전달한다. The gate line GL transfers a gate signal for activating the switching element TFT to the switching element TFT, and the data line DL transfers a data signal to the switching element TFT.

상기 메인 픽셀부(MP)는 일단이 상기 스위칭 소자(TFT)에 연결되고, 타단이 공통전압(Vcom)에 연결된 메인 액정 캐패시터(Clcm) 및 일단이 상기 스위칭 소자(TFT)에 연결되고, 타단이 스토리지전압(Vst)에 연결된 메인 스토리지 캐패시터(Cstm)를 포함한다. One end of the main pixel unit MP is connected to the switching element TFT, the other end of which is connected to the main liquid crystal capacitor Clcm and one end of which is connected to the switching element TFT, and the other end thereof is connected to the switching element TFT. The main storage capacitor Cstm is connected to the storage voltage Vst.

상기 제1 커플링 캐패시터(Ccp1)는 일단이 상기 스위칭 소자(TFT)에 연결되고, 타단이 상기 제1 서브 픽셀부(SP1)에 연결된다.One end of the first coupling capacitor Ccp1 is connected to the switching element TFT, and the other end thereof is connected to the first sub pixel part SP1.

상기 제1 서브 픽셀부(SP1)는 일단이 상기 제1 커플링 캐패시터(Ccp1)에 연결되고, 타단이 공통전압(Vcom)에 연결된 제1 액정 캐패시터(Clcs1) 및 일단이 상기 제1 커플링 캐패시터(Ccp1) 연결되고, 타단이 스토리지전압(Vst)에 연결된 제1 스토리지 캐패시터(Csts1)를 포함한다. One end of the first sub pixel part SP1 is connected to the first coupling capacitor Ccp1, and the other end is connected to the first liquid crystal capacitor Clcs1 and one end of the first coupling capacitor Ccp1. The first storage capacitor Csts1 connected to the Ccp1 and the other end connected to the storage voltage Vst.

상기 제2 커플링 캐패시터(Ccp2)는 일단이 상기 스위칭 소자(TFT)에 연결되고, 타단이 상기 제2 서브 픽셀부(SP2)에 연결된다.One end of the second coupling capacitor Ccp2 is connected to the switching element TFT, and the other end thereof is connected to the second sub pixel part SP2.

상기 제2 서브 픽셀부(SP2)는 일단이 상기 제2 커플링 캐패시터(Ccp2)에 연결되고, 타단이 상기 공통전압(Vcom)에 연결된 제2 액정 캐패시터(Clcs2) 및 일단이 상기 제2 커플링 캐패시터(Ccp2)에 연결되고, 타단이 상기 스토리지전압(Vst)에 연결된 제2 스토리지 캐패시터(Csts2)를 포함한다.One end of the second sub pixel part SP2 is connected to the second coupling capacitor Ccp2, and the other end of the second sub pixel part SP2 is connected to the common voltage Vcom and one end thereof is the second coupling. A second storage capacitor Csts2 is connected to the capacitor Ccp2 and the other end thereof is connected to the storage voltage Vst.

도 4 내지 도 8은 도 1에 도시된 어레이 기판의 제조 방법을 설명하는 평면도들이다. 특히, TFT에 근접하는 드레인 배선과 원접하는 드레인 배선 각각에 형성된 콘택홀을 갖는 어레이 기판을 도시한다. 특히, 도 4는 게이트 배선의 형성을 설명하고, 도 5는 액티브 개구 패턴의 형성을 설명하고, 도 6은 소스-드레인 배선의 형성을 설명하고, 도 7은 콘택홀이 형성된 유기절연막을 설명하고, 도 8은 ITO와 같은 픽셀 전극을 설명한다.4 to 8 are plan views illustrating a method of manufacturing the array substrate illustrated in FIG. 1. In particular, an array substrate having contact holes formed in each of the drain wiring adjacent to the TFT and the drain wiring contacting the TFT is shown. In particular, FIG. 4 illustrates the formation of the gate wiring, FIG. 5 illustrates the formation of the active opening pattern, FIG. 6 illustrates the formation of the source-drain wiring, and FIG. 7 illustrates the organic insulating film in which the contact hole is formed. 8 illustrates a pixel electrode such as ITO.

도 4를 참조하면, 유리나 세라믹 등의 절연 물질로 이루어진 투명 기판(105) 위에 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 구리(Cu) 또는 텅스텐(W) 등과 같은 재질의 금속을 증착한다. Referring to FIG. 4, tantalum (Ta), titanium (Ti), molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), copper (Cu), or the like on a transparent substrate 105 made of an insulating material such as glass or ceramic. A metal of a material such as tungsten (W) is deposited.

이어, 증착된 금속을 패터닝하여 가로 방향으로 신장되고 세로 방향으로 배열되는 복수의 게이트 라인(110)들과, 박막 트랜지스터를 정의하기 위해 게이트 라인(110)으로부터 연장된 게이트 전극(112)과, 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(110)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 형성한다.Subsequently, the plurality of gate lines 110 extended in the horizontal direction and arranged in the vertical direction by patterning the deposited metal, the gate electrode 112 extending from the gate line 110 to define the thin film transistor, and the unit First and second lower storage patterns STL1 and STL2 are formed to be parallel to the gate lines 110 in the pixel area, and a first coupling pattern CPL is formed to be divided in the horizontal direction of the unit pixel area. do.

이어, 상기 게이트 라인(110), 게이트 전극(112), 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2) 및 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함하는 기판의 전면에 질화 실리콘 등을 플라즈마 화학 기상 증착법으로 적층하여 게이트 절연층(113)을 형성한다. 상기 게이트 절연층(113)은 상기 기판(105)의 전면에 형성될 수도 있고, 상기 게이트 라인(110), 게이트 전극(112), 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2) 및 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버하도록 패터닝될 수도 있다.Subsequently, silicon nitride or the like is deposited on the entire surface of the substrate including the gate line 110, the gate electrode 112, the first and second lower storage patterns STL1 and STL2, and the first coupling pattern CPL. The gate insulating layer 113 is formed by laminating by vapor deposition. The gate insulating layer 113 may be formed on the entire surface of the substrate 105, and may include the gate line 110, the gate electrode 112, the first and second lower storage patterns STL1 and STL2, and the first and second lower storage patterns STL1 and STL2. It may be patterned to cover the coupling pattern CPL.

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 절연층(113) 위에 아몰퍼스-실리콘(a-Si) 막 및 n+ 아몰퍼스 실리콘(a-Si) 막을 형성하고, 박막 트랜지스터를 정의하기 위해 일부 영역을 패터닝하여 상기 게이트 전극(112)이 위치한 영역에 액티브층(114)을 형성한다. As shown in FIG. 5, an amorphous-silicon (a-Si) film and an n + amorphous silicon (a-Si) film are formed on the gate insulating layer 113, and a portion of the region is patterned to define a thin film transistor. The active layer 114 is formed in the region where the gate electrode 112 is located.

이어, 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 구 리(Cu) 또는 텅스텐(W) 등과 같은 금속을 증착한다. Subsequently, metals such as tantalum (Ta), titanium (Ti), molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), copper (Cu), or tungsten (W) are deposited.

도 6에 도시된 바와 같이, 증착된 금속을 패터닝하여 복수의 데이터 라인(120)들, 상기 데이터 라인(120)에서 연장된 소스 전극(122), 상기 소스 전극(122)에서 일정 간격 이격된 드레인 전극(123), 상기 드레인 전극(123)에서 연장된 제1 상부 스토리지 패턴(124), 상기 드레인 전극(123)에서 연장된 제1 연장 패턴(125), 상기 제1 연장 패턴(125)에 연결된 제2 커플링 패턴(126)과, 상기 제1 연장 패턴(125)에 연결된 제2 연장 패턴(127) 및 상기 제2 연장 패턴(127)에 연결된 제2 상부 스토리지 패턴(128)을 형성한다. As illustrated in FIG. 6, the deposited metal is patterned to form a plurality of data lines 120, source electrodes 122 extending from the data lines 120, and drains spaced apart from the source electrodes 122 at regular intervals. The electrode 123 is connected to the first upper storage pattern 124 extending from the drain electrode 123, the first extension pattern 125 extending from the drain electrode 123, and the first extension pattern 125. A second coupling pattern 126, a second extension pattern 127 connected to the first extension pattern 125, and a second upper storage pattern 128 connected to the second extension pattern 127 are formed.

상기 제1 상부 스토리지 패턴(124)에는 제1 콘택홀(CNTST1)이 형성된다. 상기 제2 커플링 패턴(126)은 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하면서 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버한다. 상기 제2 상부 스토리지 패턴(128)에는 제2 콘택홀(CNTST2)이 형성된다.A first contact hole CNTST1 is formed in the first upper storage pattern 124. The second coupling pattern 126 covers the first coupling pattern CPL while being divided in two in the horizontal direction of the unit pixel area. A second contact hole CNTST2 is formed in the second upper storage pattern 128.

도 7에 도시한 바와 같이, 상기 도 6에 의한 결과물이 형성된 기판 위에 스핀 코팅 방법으로 레지스트를 적층하여 패시베이션층(130)과 유기절연층(132)을 형성한다. As shown in FIG. 7, the passivation layer 130 and the organic insulating layer 132 are formed by stacking resist on the substrate on which the resultant substrate of FIG. 6 is formed by spin coating.

이어, 서로 인접하는 게이트 라인(110)들과 서로 인접하는 데이터 라인(120)들에 의해 정의되는 단위 픽셀 영역에서 상기 패시베이션층(130)과 유기절연층(132)의 일부를 제거하여 상기 제1 콘택홀(CNTST1)에 대응하는 영역에 제3 콘택홀(CNTST3)을 형성한다. 또한, 상기 제2 콘택홀(CNTST2)에 대응하는 영역에 제4 콘택홀(CNTST4)을 형성하고, 상기 제2 커플링 패턴(126)에 대응하는 영역에 제5 콘택홀 (CNTCP)을 형성한다.Subsequently, a portion of the passivation layer 130 and the organic insulating layer 132 is removed in the unit pixel area defined by the gate lines 110 and the data lines 120 adjacent to each other. The third contact hole CNTST3 is formed in the region corresponding to the contact hole CNTST1. In addition, a fourth contact hole CNTST4 is formed in an area corresponding to the second contact hole CNTST2, and a fifth contact hole CNTCP is formed in an area corresponding to the second coupling pattern 126. .

도 8에 도시한 바와 같이, 단위 픽셀 영역내에서 상기 제3 콘택홀(CNTST3)과 제1 콘택홀(CNTST1)을 통해 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 연결되고, 제4 콘택홀(CNTST4)과 제2 콘택홀(CNTST2)을 통해 제2 하부 스토리지 패턴(STL2)과 연결되며, 제5 콘택홀(CNTCP)을 통해 제2 커플링 패턴(126)과 연결되는 픽셀 전극부(140)를 형성한다. As illustrated in FIG. 8, the first contact hole CNTST4 is connected to the first lower storage pattern STL1 through the third contact hole CNTST3 and the first contact hole CNTST1 in a unit pixel area. And a pixel electrode part 140 connected to the second lower storage pattern STL2 through the second contact hole CNTST2 and connected to the second coupling pattern 126 through the fifth contact hole CNTCP. do.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부(140)는 제2 커플링 패턴(126)과 콘택되는 메인 전극(144), 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 콘택되는 제1 서브 전극(142), 상기 제1 서브 전극(142)과 분리되면서 제2 하부 스토리지 패턴과 콘택되는 제2 서브 전극(146)을 포함한다. In detail, the pixel electrode unit 140 may include a main electrode 144 contacting the second coupling pattern 126, a first sub-electrode 142 contacting the first lower storage pattern STL1, and the first electrode. The second sub electrode 146 is separated from the sub electrode 142 and is in contact with the second lower storage pattern.

상기 메인 전극(144)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 제1 서브 전극(142)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 제2 서브 전극(146)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(144) 및 제1 및 제2 서브 전극(142, 146)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The main electrode 144 is formed with two Y-shaped opening patterns in which the unit pixel area is mirror symmetrically about the central axis in the horizontal direction. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. Two opening patterns are formed on the first sub-electrode 142 in parallel with the Y-shaped branches. The second sub-electrode 146 is formed with two opening patterns that are parallel to the Y-shaped branch and mirror-symmetric with respect to the central axis in the horizontal direction and the opening pattern formed in the first sub-electrode. The plurality of opening patterns are formed in the main electrode 144 and the first and second sub-electrodes 142 and 146 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates in the future.

상기 메인 전극(144), 제1 서브 전극(142) 및 제2 서브 전극(146)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. 상기 메인 전극(144), 제1 서브 전극(142) 및 제2 서브 전극(146)은 전면 도포된 후 패터닝될 수 있다. 상기 메인 전극(144), 제1 서브 전극(142) 및 제2 서브 전극(146)은 부분적으로 형성되도록 도포될 수도 있다. The main electrode 144, the first sub-electrode 142, and the second sub-electrode 146 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like. The main electrode 144, the first sub-electrode 142, and the second sub-electrode 146 may be front-coated and then patterned. The main electrode 144, the first sub-electrode 142, and the second sub-electrode 146 may be partially formed.

도면상에서는 관찰자 관점에서 상기 메인 전극(144), 제1 서브 전극(142) 및 제2 서브 전극(146)이 상기 게이트 라인(110)의 에지와 데이터 라인(120)의 에지에서 일정 간격만큼 각각 이격된 것을 도시하였으나, 최소의 폭을 갖고서 오버레이될 수도 있다. In the drawing, the main electrode 144, the first sub-electrode 142, and the second sub-electrode 146 are spaced apart from each other by an interval from the edge of the gate line 110 and the edge of the data line 120, respectively, from an observer's point of view. Although shown, it may be overlaid with a minimum width.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따르면, 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 스위칭 소자(TFT)와 직접적으로 연결되는 메인 픽셀부를 형성하고, 단위 픽셀 영역의 가장자리 영역에 커플링 캐패시터를 통해 상기 스위칭 소자(TFT)와 간접적으로 연결되는 서브 픽셀부를 형성하므로써, 상기 메인 픽셀부의 킥백 전압을 현저히 감소시킬 수 있다.As described above, according to the first embodiment of the present invention, a main pixel portion directly connected to the switching element TFT is formed in the central region of the unit pixel region, and a coupling capacitor is formed in the edge region of the unit pixel region. By forming a sub-pixel portion indirectly connected to the switching element TFT through, the kickback voltage of the main pixel portion may be significantly reduced.

이에 대해서는 하기하는 도 9를 참조하여 보다 상세히 설명한다. This will be described in more detail with reference to FIG. 9.

도 9는 본 발명에 따른 게이트-소스간 캐패시터의 이전을 설명하는 평면도이다.9 is a plan view illustrating the transfer of a gate-source capacitor according to the present invention.

도 9를 참조하면, 일반적인 게이트-소스간 캐패시턴스(Cgs1)는 채널층 위에서 게이트 배선과 드레인 배선이 오버레이되는 면적에 의해 정의된다. 본 발명에 따른 추가적인 게이트-소스간 캐패시턴스(Cgs2)는 게이트 배선(110)과 픽셀 전극(142)이 오버레이되는 면적에 의해 정의된다.Referring to FIG. 9, the general gate-source capacitance Cgs1 is defined by the area where the gate wiring and the drain wiring are overlaid on the channel layer. The additional gate-source capacitance Cgs2 according to the present invention is defined by the area where the gate wiring 110 and the pixel electrode 142 are overlaid.

이처럼, 추가적인 게이트-소스간 캐패시턴스(Cgs2)의 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시키므로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 현저히 감소시킨다. 즉, 일반적인 게이트-소스간 캐패시턴스(Cgs1)의 면적과 추가적인 게이트-소스간 캐패시턴스(Cgs2)의 면적 비는 대략 60 대 40이다.As such, by transferring the area of the additional gate-source capacitance Cgs2 from the main pixel to the sub pixel, the kickback voltage of the main pixel is significantly reduced. That is, the area ratio of the general gate-source capacitance Cgs1 and the additional gate-source capacitance Cgs2 is approximately 60 to 40.

상기 킥백 전압(Vk)은 하기하는 수학식 1에 의해 정의된다.The kickback voltage Vk is defined by Equation 1 below.

Figure 112005071088025-pat00001
Figure 112005071088025-pat00001

여기서, Cgs는 게이트-소스간 캐패시턴스이고, Cst는 스토리지 캐패시턴스이며, Clc는 액정 캐패시턴스이고, Von은 게이트 온 전압이고, Voff는 게이트 오프 전압이다.Where Cgs is a gate-to-source capacitance, Cst is a storage capacitance, Clc is a liquid crystal capacitance, Von is a gate-on voltage, and Voff is a gate-off voltage.

따라서, 플리커 특성 등의 픽셀의 RMS 원인에 의한 화질 불량에 유리하다.Therefore, it is advantageous for poor image quality due to RMS cause of pixels such as flicker characteristics.

또한, 본 발명에 따른 PVA 모드의 액정표시장치에서는 저계조 잔상 개선에 효과가 있다. 왜냐하면, 서브 픽셀의 감마 곡선이 중간 계조까지 블랙을 유지하기 때문이다. In addition, the liquid crystal display of the PVA mode according to the present invention is effective in improving low gray afterimage. This is because the gamma curve of the subpixels maintains black until the middle gray scale.

<실시예-2>Example-2

도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 11은 도 10에 도시된 어레이 기판(200)의 평면도이다. 특히, 스위칭 소자(TFT) 에 원접하는 드레인 배선에 형성된 콘택홀을 갖는 어레이 기판을 도시한다.10 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention. FIG. 11 is a plan view of the array substrate 200 shown in FIG. 10. In particular, an array substrate having contact holes formed in the drain wiring in direct contact with the switching element TFT is shown.

도 10 및 도 11을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 어레이 기판(200)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(210)과, 상기 게이트 배선(210)에서 연장된 게이트 전극(212)과, 상기 게이트 배선(210)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(210)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.10 and 11, the array substrate 200 according to the second embodiment of the present invention may include a gate wiring 210 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 210. 212, first and second lower storage patterns STL and STL2 formed to be parallel to the gate lines 210 in the unit pixel area while being spaced apart from the gate line 210, and a horizontal direction of the unit pixel area. The first coupling pattern CPL is divided into two parts.

상기 어레이 기판(200)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(210) 및 게이트 전극(212)을 커버하는 게이트 절연층(213)과, 상기 게이트 전극(212)을 커버하는 액티브층(214)을 포함한다. 상기 액티브층(214)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 200 is made of silicon nitride (SiNx) or the like, and includes a gate insulating layer 213 covering the gate wiring 210 and the gate electrode 212, and an active layer covering the gate electrode 212. 214. The active layer 214 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(200)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(220)과, 상기 소스 배선(220)에서 연장된 소스 전극(222)과, 상기 소스 전극(222)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(223)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(212), 반도체층(214), 반도체 불순물층(215), 소스 전극(222) 및 드레인 전극(223)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다.The array substrate 200 includes a source wiring 220 extending in a vertical direction, a source electrode 222 extending from the source wiring 220, and a drain electrode 223 spaced apart from the source electrode 222 by a predetermined distance. ). The gate electrode 212, the semiconductor layer 214, the semiconductor impurity layer 215, the source electrode 222, and the drain electrode 223 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(200)은 상기 드레인 전극(223)에서 연장된 제1 상부 스토리지 패턴(224), 단위 픽셀 영역의 우측에 형성되면서 상기 드레인 전극(223)에서 연장된 제1 연장 패턴(225), 상기 제1 연장 패턴(225)에 연결된 제2 커플링 패턴 (226)과, 단위 픽셀 영역의 우측에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(225)에 연결된 제2 연장 패턴(227) 및 상기 제2 연장 패턴(227)에 연결된 제2 상부 스토리지 패턴(228)을 포함한다. The array substrate 200 may include a first upper storage pattern 224 extending from the drain electrode 223, a first extension pattern 225 extending from the drain electrode 223 while being formed on the right side of a unit pixel area, The second coupling pattern 226 connected to the first extension pattern 225, the second extension pattern 227 and the second extension formed on the right side of the unit pixel area and connected to the first extension pattern 225. And a second upper storage pattern 228 connected to the pattern 227.

상기 어레이 기판(200)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전극(226)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(230)과 유기절연층(232)을 포함한다. 상기 패시베이션층(230)과 유기절연층(232)은 소스 전극(222)과 드레인 전극(223) 사이의 채널층(214)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(240)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(214)은 반도체층(214)과 상기 반도체층(214) 위에 형성된 반도체 불순물층(215)을 포함한다. The array substrate 200 includes a passivation layer 230 and an organic insulating layer 232 sequentially stacked to expose a portion of the drain electrode 226 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer 230 and the organic insulating layer 232 cover and protect the channel layer 214 between the source electrode 222 and the drain electrode 223, and the thin film transistor TFT and the pixel electrode part. Serves to insulate 240. The channel layer 214 includes a semiconductor layer 214 and a semiconductor impurity layer 215 formed on the semiconductor layer 214.

상기 유기절연층(232)의 높이 조절을 통해 상기 액정층(200)의 두께(액정층의 셀갭)를 조절할 수도 있다. 물론, 상기 패시베이션층(230)을 생략할 수도 있다. The thickness (cell gap of the liquid crystal layer) of the liquid crystal layer 200 may be adjusted by adjusting the height of the organic insulating layer 232. Of course, the passivation layer 230 may be omitted.

상기 어레이 기판(200)은 콘택홀(CNTST1)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(224)과 연결되면서 개구된 개구 패턴 형상을 갖는 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 200 includes a pixel electrode part having an opening pattern shape which is connected to the lower second coupling pattern 224 through the contact hole CNTST1.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 단위 픽셀 영역의 하측과 상측에 각각 형성되면서 단위 픽셀 영역의 우측을 통해 연결된 메인 전극(244) 및 서브 전극(242)을 포함한다. 상기 메인 전극(244)은 우측 방향으로 향하는 쐐기 형상을 정의하고, 상기 서브 전극(242)은 상기 메인 전극(244)이 미형성된 영역에 형성된다.In detail, the pixel electrode part includes a main electrode 244 and a sub electrode 242 which are respectively formed on the lower side and the upper side of the unit pixel area and connected through the right side of the unit pixel area. The main electrode 244 defines a wedge shape facing in the right direction, and the sub electrode 242 is formed in an area where the main electrode 244 is not formed.

상기 메인 전극(244)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 개구 패턴에 의해 형성된 서브 전극(242)의 폭은 균일한 것이 바람직하다.The main electrode 244 is formed with two Y-shaped opening patterns in which the unit pixel area is mirror symmetrically about the central axis in the horizontal direction. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. The width of the sub electrode 242 formed by the opening pattern is preferably uniform.

상기 서브 전극(242)의 하측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성되고, 상기 서브 전극(242)의 상측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 서브 전극(242)의 상측에 형성된 2개의 개구 패턴은 상기 서브 전극(242)의 하측에 형성된 2개의 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭된다.Two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed below the sub-electrode 242, and two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed above the sub-electrode 242. An opening pattern is formed. The two opening patterns formed on the upper side of the sub electrode 242 are mirror-symmetric with respect to the two opening patterns formed on the lower side of the sub electrode 242 and the central axis in the horizontal direction.

상기 메인 및 서브 전극(244, 242)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The plurality of opening patterns are formed in the main and sub electrodes 244 and 242 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates in the future.

상기 메인 전극(244) 및 서브 전극(242)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 244 and the sub electrode 242 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

이상에서 설명한 본 발명의 제1 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the first embodiment of the present invention described above, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Image quality can be improved.

이상에서 설명한 본 발명의 제2 실시예에 따르면, 유기막 콘택홀의 갯수를 2개로 감소시키므로써, 공정 및 유기막 재료의 불량에 대한 마진을 확보할 수 있다.According to the second embodiment of the present invention described above, by reducing the number of organic film contact holes to two, it is possible to secure a margin for defects in the process and the organic film material.

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 2 포인트로 형성되는 반면, 본 발명의 제2 실시예에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트로 형성되므로 게이트-소스간 쇼트 포인트를 감소시킬 수 있다. 상기 게이트-소스간 쇼트 포인트 불량은 삼층막 배선(MoAlMo)위에 유기막을 덮는 공정에서 메인 불량 중의 하나이다.In the general super-PVA structure, one point is formed at the overlay portion between the gate wiring and the source wiring, and two points are formed at the overlay portion between the common electrode layer of the lower substrate and the source wiring, whereas in the second embodiment of the present invention, the gate wiring and the source wiring are formed. Since one point is formed at the overlay portion between the common electrode layer and the source line of the lower substrate, the short point between the gate and the source can be reduced. The short point defect between the gate and the source is one of main defects in the process of covering the organic layer on the three-layered wiring (MoAlMo).

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 서브 픽셀이 두개로 형성되어 픽셀 결함(pixel defect)에 의한 검사에서 불리했으나, 본 발명의 제2 실시예에 따르면, 서브 픽셀을 하나로 형성하므로써, 픽셀 결합 검사에 유리하고, 어레이 검사의 소요 시간을 줄일 수 있다.In the general super-PVA structure, two subpixels are formed and disadvantageous in inspection due to pixel defects, but according to the second embodiment of the present invention, by forming the subpixels as one, it is advantageous for pixel combining inspection, The time required for array inspection can be reduced.

<실시예-3>Example-3

도 12는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 13은 도 12에 도시된 어레이 기판(300)의 평면도이다. 특히, 스위칭 소자(TFT)에 근접하는 스토리지 배선과 원접하는 스토리지 배선 각각에 콘택홀을 형성하고, 중앙 부위의 스토리지 배선의 폭을 증가시킨 어레이 기판을 도시한다.12 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a third exemplary embodiment of the present invention. FIG. 13 is a plan view of the array substrate 300 illustrated in FIG. 12. In particular, an array substrate is formed in which contact holes are formed in each of the storage wirings adjacent to the switching element TFT and the storage wirings in contact with each other and the width of the storage wiring in the central portion is increased.

도 12 및 도 13을 참조하면, 본 발명의 제3 실시예에 따른 어레이 기판(300)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(310)과, 상기 게이트 배선(310)에서 연장된 게이트 전극(312)과, 상기 게이트 배선(310)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(310)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리 지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.12 and 13, the array substrate 300 according to the third exemplary embodiment of the present invention may include a gate wiring 310 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 310. 312, the first and second lower storage patterns STL1 and STL2 formed to be parallel to the gate lines 310 in the unit pixel area while being spaced apart from the gate line 310, and the width of the unit pixel area. The first coupling pattern CPL is divided into two directions.

상기 어레이 기판(300)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(310) 및 게이트 전극(312)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 게이트 전극(312)을 커버하는 액티브층(314)을 포함한다. 상기 액티브층(314)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 300 is made of a material such as silicon nitride (SiNx), and a gate insulating layer (not shown) covering the gate wiring 310 and the gate electrode 312, and an active covering the gate electrode 312. Layer 314. The active layer 314 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(300)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(320)과, 상기 소스 배선(320)에서 연장된 소스 전극(322)과, 상기 소스 전극(322)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(323)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(312), 반도체층(314), 반도체 불순물층(315), 소스 전극(322) 및 드레인 전극(323)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다.The array substrate 300 may include a source wiring 320 extending in a vertical direction, a source electrode 322 extending from the source wiring 320, and a drain electrode 323 spaced apart from the source electrode 322 by a predetermined distance. ). The gate electrode 312, the semiconductor layer 314, the semiconductor impurity layer 315, the source electrode 322, and the drain electrode 323 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(300)은 상기 드레인 전극(323)에서 연장되면서 상기 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)을 노출시키는 제1 상부 스토리지 패턴(324), 단위 픽셀 영역의 좌측에 형성되면서 상기 제1 상부 스토리지 패턴(324)에서 연장된 제1 연장 패턴(325), 상기 제1 연장 패턴(325)에 연결된 제2 커플링 패턴(326)과, 단위 픽셀 영역의 좌측에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(325)에 연결된 제2 연장 패턴(327) 및 상기 제2 연장 패턴(327)에 연결되면서 상기 제2 하부 스토리지 패턴(STL2)을 노출시키는 제2 상부 스토리지 패턴(328)을 포함한다. The array substrate 300 extends from the drain electrode 323 and is formed on the left side of the first upper storage pattern 324 that exposes the first lower storage pattern STL1 and a unit pixel area, and thus the first upper storage. A first extension pattern 325 extending from the pattern 324, a second coupling pattern 326 connected to the first extension pattern 325, and a first extension pattern 325 formed on a left side of a unit pixel area; ) And a second upper storage pattern 328 connected to the second extension pattern 327 and the second extension pattern 327 to expose the second lower storage pattern STL2.

상기 어레이 기판(300)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전 극(326)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. 상기 패시베이션층과 유기절연층은 소스 전극(322)과 드레인 전극(323) 사이의 채널층(314)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(340)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(314)은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The array substrate 300 includes a passivation layer (not shown) and an organic insulating layer (not shown) that are sequentially stacked to cover a portion of the drain electrode 326 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer and the organic insulating layer cover and protect the channel layer 314 between the source electrode 322 and the drain electrode 323, and insulate the thin film transistor TFT from the pixel electrode part 340. Play a role. The channel layer 314 includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(300)은 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(326)과 연결되면서 개구된 개구 패턴 형상을 갖는 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 300 includes a pixel electrode part having an opening pattern shape connected to the lower second coupling pattern 326 through a contact hole CNTCP.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 제2 커플링 패턴(326)과 콘택되는 메인 전극(344), 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 콘택되는 제1 서브 전극(342), 상기 제1 서브 전극(342)과 분리되면서 제2 하부 스토리지 패턴(STL2)과 콘택되는 제2 서브 전극(346)을 포함한다. In detail, the pixel electrode part may include a main electrode 344 contacting the second coupling pattern 326, a first sub electrode 342 contacting the first lower storage pattern STL1, and the first sub electrode 342. And a second sub electrode 346 contacting the second lower storage pattern STL2.

상기 메인 전극(344)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 제1 서브 전극(342)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 제2 서브 전극(346)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극(342)에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(344) 및 제1 및 제2 서브 전극(342, 346)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The main electrode 344 is formed with two Y-shaped opening patterns in which the unit pixel area is mirror symmetrically about the horizontal axis in the central axis. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. Two opening patterns are formed in the first sub-electrode 342 in parallel with the Y-shaped branch. The second sub-electrode 346 is formed with two opening patterns, which are parallel to the Y-shaped branch and are mirror-symmetrical with respect to the central axis in the horizontal direction, formed in the first sub-electrode 342. . The plurality of opening patterns are formed in the main electrode 344 and the first and second sub-electrodes 342 and 346 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates.

상기 메인 전극(344) 및 제1 및 제2 서브 전극(342, 346)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 344 and the first and second sub electrodes 342 and 346 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(344) 및 제1 및 제2 서브 전극(342, 346) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. When viewed in plan view, a plurality of different domains are formed by the main electrode 344 and the first and second sub-electrodes 342 and 346, respectively. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

이상에서 설명한 본 발명의 제3 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the third embodiment of the present invention described above, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Image quality can be improved.

<실시예-4>Example-4

도 14는 본 발명의 제4 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 15는 도 14에 도시된 어레이 기판(400)의 평면도이다. 특히, 스위칭 소자(TFT)에 근접하는 드레인 배선과 원접하는 드레인 배선에 형성된 콘택홀과 중앙 부위의 스토리지 배선의 폭을 증가시킨 어레이 기판을 도시한다.14 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a fourth exemplary embodiment of the present invention. FIG. 15 is a plan view of the array substrate 400 shown in FIG. 14. In particular, an array substrate is shown in which the widths of the contact holes formed in the drain wiring adjacent to the switching element TFT and the drain wiring adjacent to the switching element and the storage wiring in the central portion are increased.

도 14 및 도 15를 참조하면, 본 발명의 제4 실시예에 따른 어레이 기판(400)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(410)과, 상기 게이트 배선(410)에 서 연장된 게이트 전극(412)과, 상기 게이트 배선(410)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(410)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.14 and 15, an array substrate 400 according to a fourth embodiment of the present invention includes a gate wiring 410 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 410. 412, the first and second lower storage patterns STL1 and STL2 formed to be parallel to the gate lines 410 in the unit pixel area while being spaced apart from the gate line 410, and the width of the unit pixel area. The first coupling pattern CPL is divided into two directions.

상기 어레이 기판(400)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(410) 및 게이트 전극(412)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 게이트 전극(412)을 커버하는 액티브층(414)을 포함한다. 상기 액티브층(414)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 400 is made of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer (not shown) covering the gate wiring 410 and the gate electrode 412, and an active covering the gate electrode 412. Layer 414. The active layer 414 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(400)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(420)과, 상기 소스 배선(420)에서 연장된 소스 전극(422)과, 상기 소스 전극(422)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(423)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(412), 반도체층(414), 반도체 불순물층(415), 소스 전극(422) 및 드레인 전극(423)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다. The array substrate 400 includes a source wiring 420 extending in a vertical direction, a source electrode 422 extending from the source wiring 420, and a drain electrode 423 spaced apart from the source electrode 422 by a predetermined distance. ). The gate electrode 412, the semiconductor layer 414, the semiconductor impurity layer 415, the source electrode 422, and the drain electrode 423 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(400)은 제1 상부 스토리지 패턴(424), 제1 연장 패턴(425), 제2 커플링 패턴(426), 제2 연장 패턴(427) 및 제2 상부 스토리지 패턴(428)을 포함한다. The array substrate 400 may include a first upper storage pattern 424, a first extension pattern 425, a second coupling pattern 426, a second extension pattern 427, and a second upper storage pattern 428. Include.

구체적으로, 상기 제1 상부 스토리지 패턴(424)은 상기 드레인 전극(423)에서 연장되면서 상기 제1 하부 스토리지 패턴(STL1) 위에 형성된다. 상기 제1 연장 패턴(425)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 상 부 스토리지 패턴(424)에서 연장된다. 상기 제2 커플링 패턴(426)은 상기 제1 연장 패턴(425)에 연결되면서 상기 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버한다. 상기 제2 연장 패턴(427)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(425)에 연결된다. 상기 제2 상부 스토리지 패턴(428)은 상기 제2 연장 패턴(427)에 연결되면서 상기 제2 하부 스토리지 패턴(STL2) 위에 형성된다.In detail, the first upper storage pattern 424 extends from the drain electrode 423 and is formed on the first lower storage pattern STL1. The first extension pattern 425 extends from the first upper storage pattern 424 while being formed in the center to vertically divide the unit pixel area. The second coupling pattern 426 is connected to the first extension pattern 425 and covers the first coupling pattern CPL. The second extension pattern 427 is formed at the center to vertically divide the unit pixel area and is connected to the first extension pattern 425. The second upper storage pattern 428 is formed on the second lower storage pattern STL2 while being connected to the second extension pattern 427.

상기 어레이 기판(400)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전극(426)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. 상기 패시베이션층과 유기절연층은 소스 전극(422)과 드레인 전극(423) 사이의 채널층(414)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(440)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(414)은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The array substrate 400 includes a passivation layer (not shown) and an organic insulating layer (not shown) that are sequentially stacked to expose a portion of the drain electrode 426 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer and the organic insulating layer cover and protect the channel layer 414 between the source electrode 422 and the drain electrode 423, and insulate the thin film transistor TFT from the pixel electrode part 440. Play a role. The channel layer 414 includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(400)은 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(426)과 연결되면서 개구된 개구 패턴 형상을 갖는 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 400 includes a pixel electrode part having an opening pattern shape that is connected to the lower second coupling pattern 426 through a contact hole CNTCP.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 제2 커플링 패턴(426)과 콘택되는 메인 전극(444), 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 콘택되는 제1 서브 전극(442), 상기 제1 서브 전극(442)과 분리되면서 제2 하부 스토리지 패턴(STL2)과 콘택되는 제2 서브 전극(446)을 포함한다. In detail, the pixel electrode part may include a main electrode 444 contacting the second coupling pattern 426, a first sub electrode 442 contacting the first lower storage pattern STL1, and the first sub electrode 442. And a second sub electrode 446 contacting the second lower storage pattern STL2.

상기 메인 전극(444)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. The main electrode 444 is formed with two Y-shaped opening patterns in which a unit pixel area is mirror symmetrically about a central axis in a horizontal direction. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees.

상기 제1 서브 전극(442)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. Two opening patterns are formed on the first sub-electrode 442 in parallel with the Y-shaped branch.

상기 제2 서브 전극(446)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극(442)에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(444) 및 제1 및 제2 서브 전극(442, 446)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The second sub-electrode 446 is formed with two opening patterns, which are parallel to the Y-shaped branch and are mirror-symmetric with respect to the central axis in the horizontal direction, formed in the first sub-electrode 442. . The plurality of opening patterns are formed in the main electrode 444 and the first and second sub-electrodes 442 and 446 in order to divide the domain of the liquid crystal layer accommodated through the coalescence between the color filter substrates into a plurality.

상기 메인 전극(444) 및 제1 및 제2 서브 전극(442, 446)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 444 and the first and second sub electrodes 442 and 446 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(444) 및 제1 및 제2 서브 전극(442, 446) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. When viewed in plan view, a plurality of different domains are formed by the main electrode 444 and the first and second sub-electrodes 442 and 446, respectively. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

이상에서 설명한 본 발명의 제4 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the fourth embodiment of the present invention described above, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Image quality can be improved.

<실시예-5>Example-5

도 16은 본 발명의 제5 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 17은 도 16에 도시된 어레이 기판(500)의 평면도이다. 특히, 스위칭 소자(TFT)에 근접하는 드레인 배선에 콘택홀을 형성하고, 중앙 부위의 스토리지 배선의 폭을 증가시킨 어레이 기판을 도시한다.16 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a fifth exemplary embodiment of the present invention. 17 is a plan view of the array substrate 500 shown in FIG. 16. In particular, an array substrate is shown in which contact holes are formed in drain wirings close to the switching elements TFT, and the width of the storage wirings in the central portion is increased.

도 16 및 도 17을 참조하면, 본 발명의 제5 실시예에 따른 어레이 기판(500)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(510)과, 상기 게이트 배선(510)에서 연장된 게이트 전극(512)과, 상기 게이트 배선(510)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(510)들과 평행하도록 형성된 제1 하부 스토리지 패턴(STL)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.16 and 17, the array substrate 500 according to the fifth embodiment of the present invention may include a gate wiring 510 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 510. 512, a first lower storage pattern STL formed to be parallel to the gate lines 510 in a unit pixel area while being spaced apart from the gate line 510, and a second division that is divided in the horizontal direction of the unit pixel area. One coupling pattern CPL is included.

상기 어레이 기판(500)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(510) 및 게이트 전극(512)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 게이트 전극(512)을 커버하는 액티브층(514)을 포함한다. 상기 액티브층(514)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 500 is made of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer (not shown) covering the gate wiring 510 and the gate electrode 512, and an active covering the gate electrode 512. Layer 514. The active layer 514 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(500)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(520)과, 상기 소스 배선(520)에서 연장된 소스 전극(522)과, 상기 소스 전극(522)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(523)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(512), 반도체층(514), 반도체 불순물층(515), 소스 전극(522) 및 드레인 전극(523)은 박막 트랜지 스터(TFT)를 정의한다. The array substrate 500 includes a source wiring 520 extending in a vertical direction, a source electrode 522 extending from the source wiring 520, and a drain electrode 523 spaced apart from the source electrode 522 by a predetermined distance. ). The gate electrode 512, the semiconductor layer 514, the semiconductor impurity layer 515, the source electrode 522, and the drain electrode 523 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(500)은 상기 드레인 전극(523)에서 연장되면서 제1 하부 스토리지 패턴(STL) 위에 형성된 제1 상부 스토리지 패턴(524), 단위 픽셀 영역의 좌측에 형성되면서 상기 제1 상부 스토리지 패턴(524)에서 연장된 제1 연장 패턴(525), 상기 제1 연장 패턴(525)에 연결되면서 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버하는 제2 커플링 패턴(526)을 포함한다. The array substrate 500 extends from the drain electrode 523 and is formed on the first lower storage pattern 524 formed on the first lower storage pattern STL, and is formed on the left side of the unit pixel area. A first extension pattern 525 extending from 524 and a second coupling pattern 526 connected to the first extension pattern 525 and covering the first coupling pattern CPL are included.

상기 어레이 기판(500)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전극(526)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. 상기 패시베이션층과 유기절연층은 소스 전극(522)과 드레인 전극(523) 사이의 채널층(514)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(540)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(514)은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The array substrate 500 includes a passivation layer (not shown) and an organic insulating layer (not shown) that are sequentially stacked to cover a portion of the drain electrode 526 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer and the organic insulating layer cover and protect the channel layer 514 between the source electrode 522 and the drain electrode 523, and insulate the thin film transistor TFT from the pixel electrode part 540. Play a role. The channel layer 514 includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(500)은 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(526)과 연결되면서 개구된 개구 패턴 형상을 갖는 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 500 includes a pixel electrode part having an opening pattern shape connected to the lower second coupling pattern 526 through a contact hole CNTCP.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 단위 픽셀 영역의 하측과 상측에 각각 형성되면서 단위 픽셀 영역의 우측을 통해 연결된 메인 전극(544) 및 서브 전극(542)을 포함한다. 상기 메인 전극(544)은 우측 방향을 향하는 쐐기 형상을 정의하고, 상기 서브 전극(542)은 상기 서브 전극(542)이 미형성된 영역에 형성된다.In detail, the pixel electrode part includes a main electrode 544 and a sub electrode 542 which are respectively formed on the lower side and the upper side of the unit pixel area and connected through the right side of the unit pixel area. The main electrode 544 defines a wedge shape facing in the right direction, and the sub electrode 542 is formed in a region where the sub electrode 542 is not formed.

상기 서브 전극(542)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 개구 패턴에 의해 형성된 서브 전극(542)의 폭은 균일한 것이 바람직하다.In the sub-electrode 542, two Y-shaped opening patterns in which a unit pixel area is mirror symmetrically about a horizontal axis in the horizontal direction are formed. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. The width of the sub electrode 542 formed by the opening pattern is preferably uniform.

상기 메인 전극(544)의 하측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성되고, 상기 메인 전극(544)의 상측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(544)의 상측에 형성된 2개의 개구 패턴은 상기 메인 전극(544)의 하측에 형성된 2개의 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭된다.Two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed below the main electrode 544, and two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed above the main electrode 544. An opening pattern is formed. The two opening patterns formed on the upper side of the main electrode 544 are mirror-symmetric with respect to the two opening patterns formed on the lower side of the main electrode 544 and the central axis in the horizontal direction.

상기 메인 및 서브 전극(544, 542)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The plurality of opening patterns are formed in the main and sub electrodes 544 and 542 to divide the domain of the liquid crystal layer accommodated through the coalescing between the color filter substrates into a plurality.

상기 메인 전극(544) 및 서브 전극(542)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 544 and the sub electrode 542 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(544) 및 서브 전극(542) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. When viewed in plan view, a plurality of different domains are formed by the main electrode 544 and the sub electrode 542, respectively. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

이상에서 설명한 본 발명의 제5 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽 셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the fifth embodiment of the present invention, the kickback voltage of the main pixel is transferred by transferring an additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Can be reduced to improve image quality defects.

이상에서 설명한 본 발명의 제5 실시예에 따르면, 유기막 콘택홀의 갯수를 2개로 감소시키므로써, 공정 및 유기막 재료의 불량에 대한 마진을 확보할 수 있다.According to the fifth embodiment of the present invention described above, by reducing the number of organic film contact holes to two, it is possible to secure a margin for defects in the process and the organic film material.

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 2 포인트로 형성되는 반면, 본 발명의 제5 실시예에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트로 형성되므로 게이트-소스간 쇼트 포인트를 감소시킬 수 있다. 상기 게이트-소스간 쇼트 포인트 불량은 삼층막 배선(MoAlMo)위에 유기막을 덮는 공정에서 메인 불량 중의 하나이다.In the general super-PVA structure, one point is formed at the overlay portion between the gate wiring and the source wiring, and two points are formed at the overlay portion between the common electrode layer of the lower substrate and the source wiring, whereas in the fifth embodiment of the present invention, the gate wiring and the source wiring are formed. Since one point is formed at the overlay portion between the common electrode layer and the source line of the lower substrate, the short point between the gate and the source can be reduced. The short point defect between the gate and the source is one of main defects in the process of covering the organic layer on the three-layered wiring (MoAlMo).

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 서브 픽셀이 두개로 형성되어 픽셀 결함(pixel defect)에 의한 검사에서 불리했으나, 본 발명의 제5 실시예에 따르면, 서브 픽셀을 하나로 형성하므로써, 픽셀 결합 검사에 유리하고, 어레이 검사의 소요 시간을 줄일 수 있다.In a general super-PVA structure, two subpixels are formed and disadvantageous in inspection due to pixel defects, but according to the fifth embodiment of the present invention, by forming subpixels in one, it is advantageous for pixel combining inspection, The time required for array inspection can be reduced.

<실시예-6><Example-6>

도 18은 본 발명의 제6 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 19는 도 18에 도시된 어레이 기판(600)의 평면도이다. 특히, 도 1과 비교할 때 스위칭 소자(TFT)에 근접하는 드레인 배선과 원접하는 드레인 배선 각각에 콘택홀을 형성하고, 상기 근접하는 드레인 배선과 원접하는 드레인 배선을 연결하는 배선 을 픽셀의 중앙부위로 이동시킨 어레이 기판을 도시한다.18 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a sixth embodiment of the present invention. 19 is a plan view of the array substrate 600 shown in FIG. 18. In particular, as compared with FIG. 1, a contact hole is formed in each of the drain wiring adjacent to the switching element TFT and the drain wiring adjacent to the switching element TFT. The array substrate is shown.

도 18 및 도 19를 참조하면, 본 발명의 제6 실시예에 따른 어레이 기판(600)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(610)과, 상기 게이트 배선(610)에서 연장된 게이트 전극(612)과, 상기 게이트 배선(610)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(610)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.18 and 19, the array substrate 600 according to the sixth embodiment of the present invention may include a gate wiring 610 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 610. 612, first and second lower storage patterns STL1 and STL2 formed to be parallel to the gate lines 610 in a unit pixel area while being spaced apart from the gate line 610, and in a horizontal direction of the unit pixel area. The first coupling pattern CPL is divided into two parts.

상기 어레이 기판(600)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(610) 및 게이트 전극(612)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 게이트 전극(612)을 커버하는 액티브층(614)을 포함한다. 상기 액티브층(614)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 600 is formed of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer (not shown) covering the gate wiring 610 and the gate electrode 612, and an active covering the gate electrode 612. Layer 614. The active layer 614 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(600)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(620)과, 상기 소스 배선(620)에서 연장된 소스 전극(622)과, 상기 소스 전극(622)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(623)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(612), 반도체층(614), 반도체 불순물층(615), 소스 전극(622) 및 드레인 전극(623)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다. The array substrate 600 includes a source wiring 620 extending in a vertical direction, a source electrode 622 extending from the source wiring 620, and a drain electrode 623 spaced apart from the source electrode 622 by a predetermined distance. ). The gate electrode 612, the semiconductor layer 614, the semiconductor impurity layer 615, the source electrode 622, and the drain electrode 623 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(600)은 제1 상부 스토리지 패턴(624), 제1 연장 패턴(625), 제2 커플링 패턴(626), 제2 연장 패턴(627) 및 제2 상부 스토리지 패턴(628)을 포함한다. The array substrate 600 may include a first upper storage pattern 624, a first extension pattern 625, a second coupling pattern 626, a second extension pattern 627, and a second upper storage pattern 628. Include.

구체적으로, 상기 제1 상부 스토리지 패턴(624)은 상기 드레인 전극(623)에서 연장되면서 상기 제1 하부 스토리지 패턴(STL1) 위에 형성된다. 상기 제1 연장 패턴(625)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 상부 스토리지 패턴(624)에서 연장된다. 상기 제2 커플링 패턴(626)은 상기 제1 연장 패턴(625)에 연결되면서 상기 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버한다. 상기 제2 연장 패턴(627)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(625)에 연결된다. 상기 제2 상부 스토리지 패턴(628)은 상기 제2 연장 패턴(627)에 연결되면서 상기 제2 하부 스토리지 패턴(STL2) 위에 형성된다.In detail, the first upper storage pattern 624 is formed on the first lower storage pattern STL1 while extending from the drain electrode 623. The first extension pattern 625 extends from the first upper storage pattern 624 while being formed in the center to vertically divide the unit pixel area. The second coupling pattern 626 is connected to the first extension pattern 625 and covers the first coupling pattern CPL. The second extension pattern 627 is formed in the center to vertically divide the unit pixel area and is connected to the first extension pattern 625. The second upper storage pattern 628 is connected to the second extension pattern 627 and is formed on the second lower storage pattern STL2.

상기 어레이 기판(600)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전극(626)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. 상기 패시베이션층과 유기절연층은 소스 전극(622)과 드레인 전극(623) 사이의 채널층(614)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(640)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(614)은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The array substrate 600 includes a passivation layer (not shown) and an organic insulating layer (not shown) that are sequentially stacked to cover a portion of the drain electrode 626 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer and the organic insulating layer cover and protect the channel layer 614 between the source electrode 622 and the drain electrode 623, and insulate the thin film transistor TFT from the pixel electrode part 640. Play a role. The channel layer 614 includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(600)은 개구된 개구 패턴 형상을 갖고서, 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(626)과 연결된 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 600 has a shape of an opening pattern that is opened, and includes a pixel electrode part connected to the second coupling pattern 626 under the contact hole CNTCP.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 제2 커플링 패턴(626)과 콘택되는 메인 전극(644), 제1 하부 스토리지 패턴(STL1)과 콘택되는 제1 서브 전극(642), 상기 제1 서브 전극(642)과 분리되면서 제2 하부 스토리지 패턴(STL2)과 콘택되는 제2 서브 전극(646)을 포함한다. In detail, the pixel electrode part may include a main electrode 644 in contact with the second coupling pattern 626, a first sub-electrode 642 in contact with the first lower storage pattern STL1, and the first sub-electrode 642. ) And a second sub-electrode 646 contacting the second lower storage pattern STL2.

상기 메인 전극(644)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. In the main electrode 644, two Y-shaped opening patterns are formed in which a unit pixel area is mirror symmetrically about a horizontal axis in a central axis. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees.

상기 제1 서브 전극(642)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. Two opening patterns are formed in the first sub-electrode 642 in parallel with the Y-shaped branch.

상기 제2 서브 전극(646)에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극(642)에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(644) 및 제1 및 제2 서브 전극(642, 446)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The second sub-electrode 646 is formed with two opening patterns that are parallel to the Y-shaped branch and mirror-symmetric with respect to the central axis in the horizontal direction and the opening pattern formed in the first sub-electrode 642. . The plurality of opening patterns are formed in the main electrode 644 and the first and second sub-electrodes 642 and 446 in order to divide the domain of the liquid crystal layer accommodated through the coalescence between the color filter substrates into a plurality.

상기 메인 전극(644) 및 제1 및 제2 서브 전극(642, 446)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 644 and the first and second sub electrodes 642 and 446 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(644) 및 제1 및 제2 서브 전극(642, 446) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. In a plan view, a plurality of different domains are formed by the main electrode 644 and the first and second sub-electrodes 642 and 446, respectively. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

이상에서 설명한 본 발명의 제6 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극 이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the sixth embodiment of the present invention described above, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Image quality can be improved.

이상에서 설명한 본 발명의 제6 실시예에 따르면, 드레인 배선을 단위 픽셀의 중앙에 배치하므로써, 소스 배선과 드레인 배선간에 발생하는 쇼트를 방지할 수 있다.According to the sixth embodiment of the present invention described above, the short wiring between the source wiring and the drain wiring can be prevented by arranging the drain wiring in the center of the unit pixel.

<실시예-7><Example-7>

도 20은 본 발명의 제7 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 21은 도 20에 도시된 어레이 기판(700)의 평면도이다. 특히, 도 2와 비교할 때 스위칭 소자(TFT)에 원접하는 드레인 배선에 콘택홀을 형성하고, 상기 근접하는 드레인 배선과 원접하는 드레인 배선을 연결하는 배선을 픽셀의 중앙부위로 이동시킨 어레이 기판을 도시한다.20 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to a seventh exemplary embodiment of the present invention. FIG. 21 is a plan view of the array substrate 700 shown in FIG. 20. In particular, an array substrate is formed in which contact holes are formed in the drain wirings in direct contact with the switching element TFT and the wirings connecting the adjacent drain wirings and the drain wirings in contact with each other are moved to the center of the pixel, as compared with FIG. 2. .

도 20 및 도 21을 참조하면, 본 발명의 제7 실시예에 따른 어레이 기판(700)은 기판 위에 가로 방향으로 신장된 게이트 배선(710)과, 상기 게이트 배선(710)에서 연장된 게이트 전극(712)과, 상기 게이트 배선(710)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 게이트 라인(710)들과 평행하도록 형성된 제1 및 제2 하부 스토리지 패턴(STL1, STL2)과, 단위 픽셀 영역의 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다.20 and 21, the array substrate 700 according to the seventh embodiment of the present invention may include a gate wiring 710 extending in a horizontal direction on the substrate, and a gate electrode extending from the gate wiring 710. 712, the first and second lower storage patterns STL1 and STL2 formed to be parallel to the gate lines 710 in a unit pixel area while being spaced apart from the gate line 710, and a horizontal direction of the unit pixel area. The first coupling pattern CPL is divided into two parts.

상기 어레이 기판(700)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 게이트 배선(710) 및 게이트 전극(712)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 게이트 전극(712)을 커버하는 액티브층(714)을 포함한다. 상기 액티브층(714)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 700 is made of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer (not shown) covering the gate wiring 710 and the gate electrode 712, and an active covering the gate electrode 712. Layer 714. The active layer 714 includes a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(700)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(720)과, 상기 소스 배선(720)에서 연장된 소스 전극(722)과, 상기 소스 전극(722)과 일정 간격 이격된 드레인 전극(723)을 포함한다. 여기서, 상기 게이트 전극(712), 반도체층(714), 반도체 불순물층(715), 소스 전극(722) 및 드레인 전극(723)은 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다. The array substrate 700 may include a source wiring 720 extending in a vertical direction, a source electrode 722 extending from the source wiring 720, and a drain electrode 723 spaced apart from the source electrode 722 by a predetermined distance. ). The gate electrode 712, the semiconductor layer 714, the semiconductor impurity layer 715, the source electrode 722, and the drain electrode 723 define a thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(700)은 제1 상부 스토리지 패턴(724), 제1 연장 패턴(725), 제2 커플링 패턴(726), 제2 연장 패턴(727) 및 제2 상부 스토리지 패턴(728)을 포함한다. The array substrate 700 may include a first upper storage pattern 724, a first extension pattern 725, a second coupling pattern 726, a second extension pattern 727, and a second upper storage pattern 728. Include.

구체적으로, 상기 제1 상부 스토리지 패턴(724)은 상기 드레인 전극(723)에서 연장되면서 상기 제1 하부 스토리지 패턴(STL1) 위에 형성된다. 상기 제1 연장 패턴(725)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 상부 스토리지 패턴(724)에서 연장된다. 상기 제2 커플링 패턴(726)은 상기 제1 연장 패턴(725)에 연결되면서 상기 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버한다. 상기 제2 연장 패턴(727)은 단위 픽셀 영역을 세로로 분할하도록 센터에 형성되면서 상기 제1 연장 패턴(725)에 연결된다. 상기 제2 상부 스토리지 패턴(728)은 상기 제2 연장 패턴(727)에 연결되면서 상기 제2 하부 스토리지 패턴(STL2) 위에 형성된다.In detail, the first upper storage pattern 724 extends from the drain electrode 723 and is formed on the first lower storage pattern STL1. The first extension pattern 725 extends from the first upper storage pattern 724 while being formed in the center to vertically divide the unit pixel area. The second coupling pattern 726 is connected to the first extension pattern 725 and covers the first coupling pattern CPL. The second extension pattern 727 is formed in the center to vertically divide the unit pixel area and is connected to the first extension pattern 725. The second upper storage pattern 728 is formed on the second lower storage pattern STL2 while being connected to the second extension pattern 727.

상기 어레이 기판(700)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)를 덮으면서 드레인 전 극(726)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. 상기 패시베이션층과 유기절연층은 소스 전극(722)과 드레인 전극(723) 사이의 채널층(714)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 박막 트랜지스터(TFT)와 픽셀 전극부(740)를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 채널층(714)은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The array substrate 700 includes a passivation layer (not shown) and an organic insulating layer (not shown) that are sequentially stacked to expose a portion of the drain electrode 726 while covering the thin film transistor TFT. The passivation layer and the organic insulating layer cover and protect the channel layer 714 between the source electrode 722 and the drain electrode 723, and insulate the thin film transistor TFT from the pixel electrode part 740. Play a role. The channel layer 714 includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(700)은 개구된 개구 패턴 형상을 갖고서, 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(726)과 연결된 픽셀 전극부를 포함한다. The array substrate 700 has a shape of an opening pattern that is opened, and includes a pixel electrode part connected to the second coupling pattern 726 below through a contact hole CNTCP.

구체적으로, 상기 픽셀 전극부는 단위 픽셀 영역의 하측과 상측에 각각 형성되면서 단위 픽셀 영역의 우측을 통해 연결된 메인 전극(742) 및 서브 전극(744)을 포함한다. 상기 서브 전극(744)은 우측 방향으로 향하는 쐐기 형상을 정의하고, 상기 메인 전극(742)은 상기 서브 전극(744)이 미형성된 영역에 형성된다.In detail, the pixel electrode part includes a main electrode 742 and a sub electrode 744 which are respectively formed on the lower side and the upper side of the unit pixel area and connected through the right side of the unit pixel area. The sub-electrode 744 defines a wedge shape facing in the right direction, and the main electrode 742 is formed in a region where the sub-electrode 744 is not formed.

상기 서브 전극(744)에는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된다. 상기 거울 대칭되는 Y-자 형상의 분기부는 90도의 각도를 갖는다. 상기 개구 패턴에 의해 형성된 서브 전극(744)의 폭은 균일한 것이 바람직하다.The sub-electrode 744 is formed with two Y-shaped opening patterns in which the unit pixel area is mirror symmetrically about the central axis in the horizontal direction. The mirror symmetric Y-shaped branch has an angle of 90 degrees. The width of the sub-electrode 744 formed by the opening pattern is preferably uniform.

상기 메인 전극(742)의 하측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성되고, 상기 메인 전극(742)의 상측에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 메인 전극(742)의 상측에 형성된 2개의 개구 패턴은 상기 메인 전극(742)의 하측에 형성된 2개의 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭된다.Two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed below the main electrode 742, and two opening patterns parallel to the Y-shaped branch are formed above the main electrode 742. An opening pattern is formed. The two opening patterns formed on the upper side of the main electrode 742 are mirror symmetrically based on the two opening patterns formed on the lower side of the main electrode 742 and the central axis in the horizontal direction.

상기 메인 및 서브 전극(742, 744)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The plurality of opening patterns are formed in the main and sub electrodes 742 and 744 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates in the future.

상기 메인 전극(742) 및 서브 전극(744)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 742 and the sub electrode 744 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

이상에서 설명한 본 발명의 제7 실시예에 따르면, 게이트 배선과 픽셀 전극이 오버레이되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터(Cgs) 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시킴으로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 화질 불량을 개선할 수 있다.According to the seventh embodiment of the present invention described above, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the additional gate-source capacitor Cgs area generated by overlaying the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. Image quality can be improved.

이상에서 설명한 본 발명의 제7 실시예에 따르면, 유기막 콘택홀의 갯수를 2개로 감소시키므로써, 공정 및 유기막 재료의 불량에 대한 마진을 확보할 수 있다.According to the seventh embodiment of the present invention described above, by reducing the number of organic film contact holes to two, it is possible to secure a margin for defects in the process and the organic film material.

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 2 포인트로 형성되는 반면, 본 발명의 제7 실시예에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트로 형성되므로 게이트-소스간 쇼트 포인트를 감소시킬 수 있다. 상기 게이트-소스간 쇼트 포인트 불량은 삼층막 배선(MoAlMo)위에 유기막을 덮는 공정에서 메인 불량 중의 하나이다.In the general super-PVA structure, one point is formed at the overlay portion between the gate wiring and the source wiring, and two points are formed at the overlay portion between the common electrode layer of the lower substrate and the source wiring, whereas in the seventh embodiment of the present invention, the gate wiring and the source wiring are formed. Since one point is formed at the overlay portion between the common electrode layer and the source line of the lower substrate, the short point between the gate and the source can be reduced. The short point defect between the gate and the source is one of main defects in the process of covering the organic layer on the three-layered wiring (MoAlMo).

일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 서브 픽셀이 두개로 형성되어 픽셀 결함(pixel defect)에 의한 검사에서 불리했으나, 본 발명의 제7 실시예에 따르면, 서브 픽셀을 하나로 형성하므로써, 픽셀 결합 검사에 유리하고, 어레이 검사의 소요 시간을 줄일 수 있다.In a general super-PVA structure, two subpixels are formed and disadvantageous in inspection due to pixel defects, but according to the seventh embodiment of the present invention, by forming the subpixels as one, it is advantageous for pixel combining inspection, The time required for array inspection can be reduced.

이상에서 설명한 본 발명의 제7 실시예에 따르면, 드레인 배선을 단위 픽셀의 중앙에 배치하므로써, 소스 배선과 드레인 배선간에 발생하는 쇼트를 방지할 수 있다.According to the seventh embodiment of the present invention described above, by disposing the drain wiring in the center of the unit pixel, it is possible to prevent the short circuit occurring between the source wiring and the drain wiring.

상술한 본 발명의 제1 내지 제7 실시예에서는 메인 픽셀과 서브 픽셀의 변환이 하나의 스위칭 소자가 단위 픽셀 영역에 형성된 구조에서 이루어지는 것을 설명하였으나, 하기하는 본 발명의 제8 실시예와 같이 두 개의 스위칭 소자가 단위 픽셀 영역에 형성된 구조를 통해서도 이루어질 수 있다.In the first to seventh embodiments of the present invention described above, the conversion of the main pixel and the sub pixel is performed in a structure in which one switching element is formed in the unit pixel region. Switching elements may also be formed through a structure formed in the unit pixel region.

<실시예-8><Example-8>

도 22는 본 발명의 제8 실시예에 따른 액정표시패널을 설명하는 평면도이다. 도 23은 도 22에 도시된 어레이 기판(800)의 평면도이다. 특히, 단위 픽셀 영역에 2개의 스위칭 소자(TFT)를 형성하되, 중앙 부위의 스토리지 배선과 연결된 드레인 전극을 갖는 스위칭 소자(TFT)가 형성된 영역을 메인 픽셀로 정의하고, 가장자리의 스토리지 배선과 연결된 드레인 전극을 갖는 스위칭 소자(TFT)가 형성된 영역을 서브 픽셀로 정의한 것을 도시한다.22 is a plan view illustrating a liquid crystal display panel according to an eighth embodiment of the present invention. FIG. 23 is a plan view of the array substrate 800 shown in FIG. 22. In particular, two switching elements TFTs are formed in a unit pixel area, and a region in which a switching element TFT having a drain electrode connected to a storage line of a central portion is formed is defined as a main pixel, and a drain connected to a storage line of an edge. The area in which the switching element TFT which has an electrode is formed is defined as the sub pixel.

도 22 및 도 23을 참조하면, 본 발명의 제8 실시예에 따른 어레이 기판(800)은 단위 픽셀 영역에서 가로 방향으로 신장된 제1 및 제2 게이트 배선(810M, 810S) 과, 상기 제1 및 제2 게이트 배선(810M, 810S) 각각에서 연장된 제1 및 제2 게이트 전극(812M, 812S)과, 상기 제1 및 제2 게이트 배선(810M, 810S)에서 이격되면서 단위 픽셀 영역내에서 상기 제1 게이트 라인(810M)과 수직하도록 형성된 제1 하부 스토리지 패턴(STL)과, 단위 픽셀 영역을 가로 방향으로 2분할하는 제1 커플링 패턴(CPL)을 포함한다. 상기 제1 커플링 패턴(CPL)은 단위 픽셀의 우측 영역에서 제1 하부 스토리지 패턴(STL)과 연결된다.22 and 23, an array substrate 800 according to an eighth embodiment of the present invention may include first and second gate wirings 810M and 810S extending in a horizontal direction in a unit pixel area, and the first substrate may be formed in the array substrate 800. And the first and second gate electrodes 812M and 812S extending from the second gate lines 810M and 810S, respectively, and spaced apart from the first and second gate lines 810M and 810S, respectively, in the unit pixel region. The first lower storage pattern STL is formed to be perpendicular to the first gate line 810M, and the first coupling pattern CPL divides the unit pixel region in two directions in the horizontal direction. The first coupling pattern CPL is connected to the first lower storage pattern STL in the right region of the unit pixel.

상기 어레이 기판(800)은 질화규소(SiNx) 등의 재질로 이루어져 상기 제1 및 제2 게이트 배선(810M, 810S)과, 제1 및 제2 게이트 전극(812M, 812S)을 커버하는 게이트 절연층(미도시)과, 상기 제1 및 제2 게이트 전극(812M, 812S) 각각을 커버하는 제1 및 제2 액티브층(814M, 814S)을 포함한다. 상기 제1 및 제2 액티브층(814M, 814S)은 a-Si과 같은 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성된 n+ a-Si과 같은 반도체 불순물층을 포함한다.The array substrate 800 is formed of a material such as silicon nitride (SiNx), and includes a gate insulating layer covering the first and second gate wires 810M and 810S and the first and second gate electrodes 812M and 812S. Not shown) and first and second active layers 814M and 814S respectively covering the first and second gate electrodes 812M and 812S. The first and second active layers 814M and 814S include a semiconductor layer such as a-Si and a semiconductor impurity layer such as n + a-Si formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(800)은 세로 방향으로 신장된 소스 배선(820)과, 상기 소스 배선(820)에서 연장된 제1 및 제2 소스 전극(822M, 822S)과, 상기 제1 및 제2 소스 전극(822M, 822S)과 일정 간격 각각 이격된 제1 및 제2 드레인 전극(823M, 823S)을 포함한다. 여기서, 상기 제1 게이트 전극(812M), 제1 액티브층(814M), 제1 소스 전극(822M) 및 제1 드레인 전극(823M)은 메인 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다. 또한, 상기 제2 게이트 전극(812S), 제2 액티브층(814S), 제2 소스 전극(822S) 및 제2 드레인 전극(823S)은 서브 박막 트랜지스터(TFT)를 정의한다. The array substrate 800 includes a source wiring 820 extending in a vertical direction, first and second source electrodes 822M and 822S extending from the source wiring 820, and the first and second source electrodes. And first and second drain electrodes 823M and 823S spaced apart from each other by 822M and 822S. The first gate electrode 812M, the first active layer 814M, the first source electrode 822M, and the first drain electrode 823M define a main thin film transistor TFT. In addition, the second gate electrode 812S, the second active layer 814S, the second source electrode 822S, and the second drain electrode 823S define a sub thin film transistor TFT.

상기 어레이 기판(800)은 상기 제2 드레인 전극(823S)에서 연장되면서 제1 하부 스토리지 패턴(STL) 위에 형성된 상부 스토리지 패턴(824S), 단위 픽셀 영역의 우측에 형성되면서 상기 상부 스토리지 패턴(824S)에서 연장된 제1 연장 패턴(825S)을 포함한다.The array substrate 800 extends from the second drain electrode 823S and is formed on the right side of the upper storage pattern 824S formed on the first lower storage pattern STL and the unit pixel area, and the upper storage pattern 824S. And a first extension pattern 825S extending in.

상기 어레이 기판(800)은 상기 제1 드레인 전극(823M)에서 연장되면서 제1 커플링 패턴(CPL)을 커버하는 제2 커플링 패턴(826)을 포함한다. The array substrate 800 includes a second coupling pattern 826 extending from the first drain electrode 823M and covering the first coupling pattern CPL.

상기 어레이 기판(800)은 상기 메인 및 서브 박막 트랜지스터를 덮으면서 상부 스토리지 패턴(824S)의 일부와 제2 커플링 패턴(826)의 일부를 노출시키도록 순차적으로 적층된 패시베이션층(미도시)과 유기절연층(미도시)을 포함한다. The array substrate 800 may include a passivation layer (not shown) that is sequentially stacked to cover a portion of the upper storage pattern 824S and a portion of the second coupling pattern 826 while covering the main and sub thin film transistors. An organic insulating layer (not shown) is included.

상기 패시베이션층과 유기절연층은 제1 소스 전극(822M)과 제1 드레인 전극(823M) 사이의 제1 채널층(814M)과, 제2 소스 전극(822S)과 제2 드레인 전극(823S) 사이의 제2 채널층(814S)을 커버하여 보호하는 역할과, 상기 메인 및 서브 박막 트랜지스터와 픽셀 전극부를 절연시키는 역할을 수행한다. 상기 제1 및 제2 채널층(814M, 814S) 각각은 반도체층과 상기 반도체층 위에 형성된 반도체 불순물층을 포함한다. The passivation layer and the organic insulating layer are formed between the first channel layer 814M between the first source electrode 822M and the first drain electrode 823M, and between the second source electrode 822S and the second drain electrode 823S. It covers and protects the second channel layer 814S, and insulates the main and sub thin film transistors from the pixel electrode part. Each of the first and second channel layers 814M and 814S includes a semiconductor layer and a semiconductor impurity layer formed on the semiconductor layer.

상기 어레이 기판(800)은 콘택홀(CNTCP)을 통해 하부의 제2 커플링 패턴(826)과 전기적으로 연결되면서 개구된 개구 패턴 형상을 갖는 메인 전극부(844)와, 콘택홀(CNTST1)을 통해 하부의 상부 스토리지 패턴(824S)과 전기적으로 연결되면서 개구된 형상을 갖는 서브 전극부(842)를 포함한다. The array substrate 800 connects the main electrode portion 844 and the contact hole CNTST1 having an opening pattern shape which is electrically connected to the lower second coupling pattern 826 through a contact hole CNTCP. The sub electrode part 842 has an open shape while being electrically connected to the upper upper storage pattern 824S.

상기 메인 전극부(844)는 우측 방향을 향하는 쐐기 형상을 정의하고, 상기 서브 전극(842)은 상기 서브 전극(842)이 미형성된 영역, 즉 단위 픽셀 영역의 하 측 및 상측에 형성된다.The main electrode part 844 defines a wedge shape facing in the right direction, and the sub electrode 842 is formed at an area where the sub electrode 842 is not formed, that is, under and above the unit pixel area.

상기 메인 전극부(844)는 단위 픽셀 영역을 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되면서 서로 연결된 3개의 V-자 형상의 개구 패턴을 포함한다. 상기 개구 패턴들중 큰 사이즈의 개구 패턴과 중간 사이즈의 개구 패턴은 양 에지에서 연결되고, 상기 중간 사이즈의 개구 패턴과 작은 사이즈의 개구 패턴은 중앙부에서 연결된다. 상기 V-자 형상의 내각은 90도이다. 상기 V-자 형상의 개구 패턴의 폭은 균일한 것이 바람직하다.The main electrode part 844 includes three V-shaped opening patterns connected to each other while being mirror-symmetrical about a unit pixel area about a central axis in a horizontal direction. Among the opening patterns, a large opening pattern and a medium opening pattern are connected at both edges, and the medium opening pattern and the small opening pattern are connected at the center portion. The V-shaped interior angle is 90 degrees. It is preferable that the width | variety of the said V-shaped opening pattern is uniform.

상기 서브 전극(842)의 하측에는 상기 V-자 형상의 개구 패턴과 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성되고, 상기 서브 전극(842)의 상측에는 상기 V-자 형상의 개구 패턴과 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된다. 상기 서브 전극(842)의 상측에 형성된 2개의 개구 패턴은 상기 서브 전극(842)의 하측에 형성된 2개의 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭된다.Two opening patterns parallel to the V-shaped opening pattern are formed below the sub-electrode 842, and two opening patterns parallel to the V-shaped opening pattern are formed above the sub-electrode 842. An opening pattern is formed. The two opening patterns formed on the upper side of the sub electrode 842 are mirror-symmetric with respect to the two opening patterns formed on the lower side of the sub electrode 842 and the central axis in the horizontal direction.

상기 메인 및 서브 전극(844, 842)에 복수의 개구 패턴들을 형성하는 것은 향후 컬러필터 기판간의 합체를 통해 수용되는 액정층의 도메인을 복수 개로 분할하기 위함이다. The plurality of opening patterns are formed in the main and sub electrodes 844 and 842 in order to divide a plurality of domains of the liquid crystal layer accommodated through coalescence between the color filter substrates.

상기 메인 전극(844) 및 서브 전극(842)은 투명한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 투명한 도전성 물질의 예로서는 산화 주석 인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화 아연 인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 산화 아연(Zinc Oxide, ZO) 등을 들 수 있다. The main electrode 844 and the sub electrode 842 may be formed of a transparent conductive material. Examples of such a transparent conductive material include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide (ZO), and the like.

평면상에서 관찰할 때, 상기 메인 전극(844) 및 서브 전극(842) 각각에 의해 서로 다른 복수의 도메인들이 형성된다. 따라서, 상기한 어레이 기판이나 컬러필터 기판에 형성되어 액정을 배향하는 배향막의 표면을 일정한 방향으로 러빙(rubbing)하는 공정의 생략도 가능하고, 상기 배향막을 형성하지 않아도 무방하다. When viewed in a plane, a plurality of different domains are formed by each of the main electrode 844 and the sub electrode 842. Accordingly, the step of rubbing the surface of the alignment film formed on the array substrate and the color filter substrate to align the liquid crystal in a predetermined direction may be omitted, and the alignment film may not be formed.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 PVA 구조에서, 게이트 배선과 픽셀 전극이 중첩되어 발생하는 추가적인 게이트-소스간 캐패시터의 면적을 메인 픽셀에서 서브 픽셀로 이전시키므로써, 메인 픽셀의 킥백 전압을 감소시켜 플리커와 같이 픽셀의 RMS 원인에 의해 발생되는 화질 불량을 개선할 수 있다.As described above, according to the present invention, in the PVA structure, the kickback voltage of the main pixel is reduced by transferring the area of the additional gate-source capacitor generated by overlapping the gate wiring and the pixel electrode from the main pixel to the sub pixel. As a result, poor image quality caused by the RMS cause of the pixel, such as flicker, can be improved.

또한, 서브 픽셀의 감마 곡선이 중간 계조까지 블랙을 유지하기 때문에 PVA의 저계조 잔상 개선에 효과가 있다.In addition, since the gamma curve of the subpixel maintains black until the middle gray scale, it is effective in improving the low gray afterimage of the PVA.

또한, 유기막 콘택홀의 갯수를 2개로 감소시키므로써, 공정 및 유기막 재료의 불량에 대한 마진을 확보할 수 있다.In addition, by reducing the number of organic film contact holes to two, it is possible to secure a margin for defects in the process and the organic film material.

또한, 일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 2 포인트로 형성되는 반면, 본 발명에서는 게이트 배선과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트, 하부 기판의 공통전극층과 소스 배선간의 오버레이 부분에 1 포인트로 형성되므로 게이트-소스간 쇼트 포인트를 감소시킬 수 있다. In addition, in the general super-PVA structure, one point is formed at the overlay portion between the gate wiring and the source wiring, and two points are formed at the overlay portion between the common electrode layer and the source wiring of the lower substrate. In the present invention, the overlay portion between the gate wiring and the source wiring is formed. Since one point is formed in the overlay portion between the common electrode layer and the source wiring of the lower substrate, the short point between the gate and the source can be reduced.

또한, 일반적인 수퍼-PVA 구조에서는 서브 픽셀이 두개로 형성되어 픽셀 결함(pixel defect)에 의한 검사에서 불리했으나, 본 발명에 따르면, 서브 픽셀을 하나로 형성하므로써, 픽셀 결합 검사에 유리하고, 어레이 검사의 소요 시간을 줄일 수 있다.In addition, in the general super-PVA structure, two sub-pixels are formed and disadvantageous in inspection due to pixel defects, but according to the present invention, by forming the sub-pixels in one, it is advantageous for pixel combining inspection, The time required can be reduced.

또한, 이상에서 설명한 본 발명에 따르면, 드레인 배선을 단위 픽셀의 중앙에 배치하므로써, 소스 배선과 드레인 배선간에 발생하는 쇼트를 방지할 수 있다.Further, according to the present invention described above, by disposing the drain wiring in the center of the unit pixel, it is possible to prevent the short circuit occurring between the source wiring and the drain wiring.

이상에서는 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to the embodiments, those skilled in the art can be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below. I can understand.

Claims (23)

서로 인접하는 게이트 배선들과 서로 인접하는 데이터 배선들에 의해 정의되는 단위 픽셀 영역에 형성된 스위칭 소자; A switching element formed in a unit pixel region defined by gate lines adjacent to each other and data lines adjacent to each other; 상기 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된 메인 픽셀부; A main pixel portion formed in a central region of the unit pixel region; 상기 스위칭 소자에 연결된 제1단을 갖는 커플링 캐패시터; 및 A coupling capacitor having a first end coupled to the switching element; And 상기 커플링 캐패시터의 제2단에 연결되고, 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된 서브 픽셀부를 포함하고,A subpixel portion connected to a second end of the coupling capacitor and formed in a remaining region of the unit pixel region; 상기 메인 픽셀부는The main pixel portion 게이트 절연층 하에 형성된 제1 커플링 패턴;A first coupling pattern formed under the gate insulating layer; 상기 게이트 절연층을 사이에 두고 상기 제1 커플링 패턴과 상기 커플링 캐패시터를 형성하도록, 상기 게이트 절연층 상에 형성된 제2 커플링 패턴; 및A second coupling pattern formed on the gate insulating layer to form the first coupling pattern and the coupling capacitor with the gate insulating layer interposed therebetween; And 상기 제2 커플링 패턴 상에 접촉 형성되는 메인 전극을 포함하고,A main electrode contacted on the second coupling pattern; 상기 서브 픽셀부는The sub pixel unit 상기 게이트 절연층 하에 형성된 제1 하부 스토리지 패턴;A first lower storage pattern formed under the gate insulating layer; 제1 콘택홀을 가지며 상기 제1 하부 스토리지 패턴에 대응되도록 상기 게이트 절연층 상에 형성된 제1 상부 스토리지 패턴;A first upper storage pattern having a first contact hole and formed on the gate insulating layer to correspond to the first lower storage pattern; 상기 제1 상부 스토리지 패턴의 상기 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 하부 스토리지 패턴의 노출 부분에 접촉 형성되는 제1 서브 전극;A first sub-electrode contacting an exposed portion of the first lower storage pattern through the first contact hole of the first upper storage pattern; 상기 게이트 절연층 하에 형성된 제2 하부 스토리지 패턴;A second lower storage pattern formed under the gate insulating layer; 제2 콘택홀을 가지며 상기 제2 하부 스토리지 패턴에 대응되도록 상기 게이트 절연층 상에 형성된 제2 상부 스토리지 패턴; 및A second upper storage pattern having a second contact hole and formed on the gate insulating layer to correspond to the second lower storage pattern; And 상기 제2 상부 스토리지 패턴의 상기 제2 콘택홀을 통해 상기 제2 하부 스토리지 패턴의 노출 부분에 접촉 형성되는 제2 서브 전극을 포함하는 어레이 기판.And a second sub-electrode contacting an exposed portion of the second lower storage pattern through the second contact hole of the second upper storage pattern. 제1항에 있어서, 상기 메인 전극에는 복수의 개구 패턴들이 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein a plurality of opening patterns are formed in the main electrode. 제1항에 있어서, 상기 제1 서브 전극 및 상기 제2 서브 전극에는 복수의 개구 패턴들이 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein a plurality of opening patterns are formed in the first sub electrode and the second sub electrode. 제1항에 있어서, 상기 메인 픽셀부는 상기 게이트 배선과 평행하면서 상기 단위 픽셀 영역을 2 분할하는 영역에 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the main pixel portion is formed in an area in which the unit pixel area is divided in two while being parallel to the gate line. 제1항에 있어서, 상기 메인 픽셀부는 상기 스위칭 소자에 연결된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the main pixel unit is connected to the switching device. 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 메인 전극에는 단위 픽셀 영역의 가로 방향을 중심축으로 거울 대칭되는 2개의 Y-자 형상의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the main electrode is formed with two Y-shaped opening patterns that are mirror symmetrically about a horizontal axis of the unit pixel area. 제8항에 있어서, 상기 제1 서브 전극에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하는 2개의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 8, wherein the first sub-electrode is formed with two opening patterns parallel to the Y-shaped branch. 제9항에 있어서, 상기 제2 서브 전극에는 상기 Y-자 형상의 분기부와 평행하면서 상기 제1 서브 전극에 형성된 개구 패턴과 가로 방향의 중심축을 기준으로 거울 대칭되는 2개의 개구 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.10. The method of claim 9, wherein the second sub-electrode is formed in the opening pattern formed in the first sub-electrode parallel to the branch of the Y-shaped and two opening patterns are mirror-symmetric with respect to the central axis in the horizontal direction An array substrate. 제1항에 있어서, 상기 메인 픽셀부는 메인 액정 캐패시터를 갖는 메인 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the main pixel unit includes a main capacitor having a main liquid crystal capacitor. 제11항에 있어서, 상기 메인 캐패시터는 메인 스토리지 캐패시터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 11, wherein the main capacitor further comprises a main storage capacitor. 제1항에 있어서, 상기 서브 픽셀부는 상기 커플링 캐패시터의 상기 제2단에 연결된 액정 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 1, wherein the sub pixel unit comprises a liquid crystal capacitor connected to the second end of the coupling capacitor. 삭제delete 삭제delete 단위 픽셀 영역에 형성된 메인 게이트 라인;A main gate line formed in the unit pixel area; 상기 메인 게이트 라인에 연결된 메인 스위칭 소자;A main switching element connected to the main gate line; 상기 메인 스위칭 소자에 연결되면서 상기 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된 메인 픽셀부; A main pixel part connected to the main switching element and formed in a central area of the unit pixel area; 상기 단위 픽셀 영역에 형성된 서브 게이트 라인;A sub gate line formed in the unit pixel area; 상기 서브 게이트 라인에 연결된 서브 스위칭 소자; 및 A sub switching element connected to the sub gate line; And 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된 서브 픽셀부를 포함하고,A sub pixel unit formed in the remaining area of the unit pixel area; 상기 메인 픽셀부는The main pixel portion 게이트 절연층 하에 형성된 제1 커플링 패턴;A first coupling pattern formed under the gate insulating layer; 상기 게이트 절연층을 사이에 두고 상기 제1 커플링 패턴과 커플링 캐패시터를 형성하도록, 상기 게이트 절연층 상에 형성된 제2 커플링 패턴; 및A second coupling pattern formed on the gate insulating layer to form a coupling capacitor and the first coupling pattern with the gate insulating layer interposed therebetween; And 상기 제2 커플링 패턴을 커버하며 제1 콘택홀을 갖는 유기절연층 상에 형성되어, 상기 제1 콘택홀을 통해 상기 제2 커플링 패턴의 노출 부분에 접촉 형성되는 메인 전극부를 포함하고,A main electrode part covering the second coupling pattern and formed on an organic insulating layer having a first contact hole, the main electrode part being in contact with an exposed portion of the second coupling pattern through the first contact hole, 상기 서브 픽셀부는The sub pixel unit 상기 메인 게이트 라인 및 상기 서브 게이트 라인에 각각 수직하도록 상기 게이트 절연층 하에 형성된 하부 스토리지 패턴;A lower storage pattern formed under the gate insulating layer to be perpendicular to the main gate line and the sub gate line, respectively; 상기 하부 스토리지 패턴에 대응되도록 상기 게이트 절연층 상에 형성된 상부 스토리지 패턴; 및An upper storage pattern formed on the gate insulating layer to correspond to the lower storage pattern; And 상기 상부 스토리지 패턴을 커버하며 제2 콘택홀을 갖는 상기 유기절연층 상에 형성되어, 상기 제2 콘택홀을 통해 상기 상부 스토리지 패턴의 노출 부분에 접촉 형성되는 서브 전극부를 포함하는 어레이 기판.And a sub electrode part formed on the organic insulating layer covering the upper storage pattern and having a second contact hole, the sub electrode part being in contact with an exposed portion of the upper storage pattern through the second contact hole. 제16항에 있어서, 상기 제1 커플링 패턴은 단위 픽셀의 우측 영역에서 상기 하부 스토리지 패턴과 연결되는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.The array substrate of claim 16, wherein the first coupling pattern is connected to the lower storage pattern in a right region of a unit pixel. 공통전극층을 구비하는 상부 기판;An upper substrate having a common electrode layer; 액정층; 및 Liquid crystal layer; And 상기 상부 기판과의 합체를 통해 상기 액정층을 수용하되, 단위 픽셀 영역의 중앙 영역에 형성된 메인 픽셀부와, 스위칭 소자에 연결된 커플링 캐패시터와, 상기 커플링 캐패시터에 연결되고, 상기 단위 픽셀 영역의 잔여 영역에 형성된 서브 픽셀부를 구비하는 하부 기판을 포함하고,The liquid crystal layer is accommodated through the coalescing with the upper substrate, the main pixel portion formed in the central region of the unit pixel region, the coupling capacitor connected to the switching element, the coupling capacitor, and connected to the unit pixel region. A lower substrate having a sub-pixel portion formed in the remaining region, 상기 메인 픽셀부는The main pixel portion 게이트 절연층 하에 형성된 제1 커플링 패턴;A first coupling pattern formed under the gate insulating layer; 상기 게이트 절연층을 사이에 두고 상기 제1 커플링 패턴과 상기 커플링 캐패시터를 형성하도록, 상기 게이트 절연층 상에 형성된 제2 커플링 패턴; 및A second coupling pattern formed on the gate insulating layer to form the first coupling pattern and the coupling capacitor with the gate insulating layer interposed therebetween; And 상기 제2 커플링 패턴 상에 접촉 형성되는 메인 전극을 포함하고,A main electrode contacted on the second coupling pattern; 상기 서브 픽셀부는The sub pixel unit 상기 게이트 절연층 하에 형성된 하부 스토리지 패턴;A lower storage pattern formed under the gate insulating layer; 콘택홀을 가지며 상기 하부 스토리지 패턴에 대응되도록 상기 게이트 절연층 상에 형성된 상부 스토리지 패턴; 및An upper storage pattern having a contact hole and formed on the gate insulating layer to correspond to the lower storage pattern; And 상기 상부 스토리지 패턴의 상기 콘택홀을 통해 상기 하부 스토리지 패턴의 노출 부분에 접촉 형성되는 서브 전극을 포함하는 액정표시패널.And a sub electrode formed in contact with an exposed portion of the lower storage pattern through the contact hole of the upper storage pattern. 제18항에 있어서, 상기 메인 전극, 상기 서브 전극 및 상기 공통전극층에는 각각 복수의 개구 패턴들이 형성되고, The method of claim 18, wherein a plurality of opening patterns are formed in the main electrode, the sub electrode, and the common electrode layer, respectively. 상기 공통전극층에 형성된 상기 개구 패턴들은 상기 액정층을 상기 단위 픽셀 영역에서 복수의 도메인 영역으로 분할하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.The opening patterns formed in the common electrode layer divide the liquid crystal layer into a plurality of domain regions in the unit pixel region. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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