KR101204965B1 - 능동형 유기 발광 다이오드 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 원장검사장치 검사 스테이지에 있어서, 원장 기판상에 구비되는 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 고정 및 지지하는 프레임; 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 가로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 1 광제공수단; 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 세로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 2 광제공수단; 및 상기 제 1 광제공수단 및 제 2 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치를 제공한다.
Description
본 발명은 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치에 관한 것으로, ＡＭＯＬＥＤ 패널 검사시에 불량셀위 위치 지정과 이의 좌표값 산출이 동시에 이루어지도록 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시 장치는 상하 유리기판 사이에 액정이 주입된 액정 패널과, 이 액정 패널 양측에서 빛을 편광시키기 위한 편광판과, 액정 패널에 일정한 양의 빛을 공급하기 위한 광원 및 도광판을 구비하여 외부에서 입력되는 영상 신호를 표시하는 장치이다.
액정 패널과 달리 ＡＭＯＬＥＤ패널은 별도의 백라이트가 필요하지 않기 때문에 1mm 대의 얇은 두께가 가능하고 LCD의 단점인 시야각 문제가 발생하지 않는다. LCD에 비해 1,000배 이상 응답속도가 빠르기 때문에 잔상의 문제가 나타나지 않으며, 고선명ㆍ고화질의 화면 구성이 가능한 데다 전력 소모도 적다는 특징을 가지고 있어, 스마트폰과 같이 크기는 작고 고화질을 필요로 하는 제품에 주로 쓰인다.
액정 패널과 달리 ＡＭＯＬＥＤ패널은 별도의 백라이트가 필요하지 않기 때문에 1mm 대의 얇은 두께가 가능하고 LCD의 단점인 시야각 문제가 발생하지 않는다. LCD에 비해 1,000배 이상 응답속도가 빠르기 때문에 잔상의 문제가 나타나지 않으며, 고선명ㆍ고화질의 화면 구성이 가능한 데다 전력 소모도 적다는 특징을 가지고 있어, 스마트폰과 같이 크기는 작고 고화질을 필요로 하는 제품에 주로 쓰인다.
점차 대화면화되는 액정 표시 장치 제조에 있어서, 상하 유리기판이 합착된 이후에 불량을 검사하는 경우 자동검사 공정과 수동검사 공정으로 나뉘게 된다. 즉, 자동화된 검사기로써 불량을 검출하는 공정과 개별적으로 작업자의 목시 검사로써 수행되는 불량 검출 공정이 수행된다.
이러한 경우에, 작업자는 합착된 ＡＭＯＬＥＤ 패널의 화면을 육안 관찰하여 해당 화면의 불량지점을 판별하고 이 불량지점, 즉 불량 화소 등의 위치를 철필 표시하며, 이 철필 표시된 액정 표시 장치에 대하여 이후에 타 작업자에 의한 추가적인 불량지점 측정을 통하여 좌표값을 산출한 뒤, 불량이 검출된 좌표값에 해당하는 이전 공정에서의 작업을 개선한다.
그러나, 이러한 목시 검사에 있어서 작업자의 수작업으로 ＡＭＯＬＥＤ 패널의 화면 상에 철필 표시를 수행한 뒤에, 이 표시로 다시 좌표값을 산출하여야 하므로 타 작업자의 측정 및 좌표값 입력 작업이 추가적으로 요구되며, 좌표값을 이전 공정에 반영하기까지 장시간이 소요된다는 문제점이 있었다.
본 발명은, 종래와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단을 구비함으로써, 작업자의 목시 검사를 통해 터치된 작업으로 불량셀의 위치를 산출과 입력을 대신하므로 작업시간 및 작업인력을 절감하고, 불량셀의 위치를 신속하게 파악하여 제품 품질과 공정 수율을 향상시킬 수 있는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 프레임이 ＡＭＯＬＥＤ 패널이 안착되는 원장기판과 원장기판 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭으로 구성됨으로써, 높이 조절이 용이하고 접촉핀 결합 작업시 변형없이 홀 가공이 이루어져 작업성을 향상시킬 수 있는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은 원장검사장치 검사 스테이지의 불량셀 위치 산출장치에 있어서, 원장 기판상에 구비되는 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 고정 및 지지하는 프레임; 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 가로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 1 광제공수단; 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 세로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 2 광제공수단; 및 상기 제 1 광제공수단 및 제 2 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치를 제공한다.
한편, 상기 제 1 광제공수단과 상기 제 2 광제공수단의 광신호는 직진성 신호를 갖으며 상호 발산되는 신호는 격자를 이루도록 할 수 있다.
또한, 상기 제 1 광제공수단은 광신호를 발산하는 다수개의 제 1 발광부와 상기 제 1 발광부와 대응 배치되어 상기 제 1 발광부로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 1 수광부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제 2 광제공수단은 광신호를 발산하는 다수개의 제 2 발광부와 상기 제 2 발광부와 대응 배치되어 상기 제 2 발광부로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 2 수광부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어수단은, 상기 제 1 광제공수단 및 제 2 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하는 감지부; 상기 감지부로부터 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 연산하여 산출하는 산출부; 상기 산출부로부터 산출된 격자점 위치정보의 좌표값을 제공하는 좌표값 제공부; 및 상기 좌표값 제공부로부터 제공된 위치정보의 좌표값을 외부의 디스플레이수단에 전송하는 전송부;를 포함할 수 있다.
그리고 상기 프레임은 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널이 안착되는 원장기판; 상기 원장기판 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭; 및 적층된 상기 원장기판과 핀블럭의 일측에 결합홀을 통해 고정 결합되며, 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널에 전원을 인가하는 접촉핀;을 포함할 수 있다.
또한, 상기 핀 블럭은 서로 다른 면적을 갖는 제 1 블럭과 제 2 블럭으로 구비되며, 상기 제 2 블럭은 상기 제 1 블럭 보다 작은 면적을 갖을 수 있다.
또한, 상기 다수개 적층된 제 1블럭 하부에 상기 제 2 블럭이 다수개 적층되어 상기 제 1 블럭과 상기 제 2 블럭 사이의 공간에는 보강재가 결합될 수 있다.
이상에서, 설명한 바와 같이 본 발명은 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단을 구비함으로써, 작업자의 목시 검사를 통해 터치된 작업으로 불량셀의 위치를 산출과 입력을 대신하므로 작업시간 및 작업인력을 절감하고, 불량셀의 위치를 신속하게 파악하여 제품 품질과 공정 수율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 프레임이 ＡＭＯＬＥＤ 패널이 안착되는 원장기판과 원장기판 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭으로 구성됨으로써, 높이 조절이 용이하고 접촉핀 결합 작업시 변형없이 홀 가공이 이루어져 작업성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치를 구비하는 원장검사장치를 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예예 따른 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치에 채용되는 프레임의 내부 구조 및 제어수단의 구성을 도시한 구조도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 도 1의 A-A' 부분을 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예예 따른 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치에 채용되는 프레임의 내부 구조 및 제어수단의 구성을 도시한 구조도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 도 1의 A-A' 부분을 도시한 사시도이다.
본 발명에 따른 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치에 대한 기술적 구성을 비롯한 작용효과에 관한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 도면을 참조하여 아래의 상세한 설명에 의해서 명확하게 이해될 것이다.
도 1 및 도 3을 참조하여 설명하면, 본 발명은 원장검사장치 검사 스테이지(100)에 있어서, 원장 기판상에 구비되는 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 고정 및 지지하는 프레임(120), 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 사이에 두고 가로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 1 광제공수단(130), 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 사이에 두고 세로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 2 광제공수단(140) 및 상기 제 1 광제공수단(130) 및 제 2 광제공수단(140)으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단(150)을 포함하여 이루어진다.
여기서, 원장검사장치는 원장 검사(대량의 패널을 하나의 기판 상에서 형성한 후 이를 개별적인 패널로 절단하는 이른바 '원장단위'로 검사하는 방법)에서 ＡＭＯＬＥＤ 패널에서 출력되는 신호(휘도, 감마 특성을 나타내는 정보 등이 될 수 있음)등이 사용자 설정한 데이터 범위 또는 제품 스펙을 만족하는 범위 내에 존재하는지 판단하는 장치이다.
그리고 상기 원장 검사장치에서 출력되는 상기 출력 신호가 상기 제품 스펙 등의 범위를 벗어나서 존재하면, 해당 ＡＭＯＬＥＤ 패널은 불량으로 판정하여 폐기 처분하거나 또는 제품의 수리를 하게 된다. 이때, 상기 원장 검사장치에서 불량이 아닌 것으로 판정된 다수개의 ＡＭＯＬＥＤ 패널들은 스크라이빙(scribing)되어 개개의 ＡＭＯＬＥＤ 패널들로 분리된다. 그리고 상기 원장 검사장치에 의해 분리된 ＡＭＯＬＥＤ 패널 각각은 개별적으로 모듈출하장치에 의해 모듈 출하 검사를 받게 된다. 모듈 출하 검사란, ＡＭＯＬＥＤ 패널 각각에 대하여 에이징 특성, 감마 특성, 또는 입력 전압 대비 휘도 성능 등의 제품품질 및 구동 성능을 검사하는 것이다.
즉, 상기 원장 검사장치는 모듈 출하 검사를 수행하기 이전의 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)에 대하여 제품 스펙 검사를 실시하는 장치이다.
이러한 상기 원장 검사장치는 크게 검사 스테이지(100), 베이스 프레임(200)으로 구성된다. 그러나 본 발명에서는 상기 검사 스테이지(100)를 바탕으로 구비되는 불량셀 검출장치에 대해 자세하게 설명하기로 한다.
상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)은 박막 트랜지스터 기판과 컬러 필터 기판이 액정이 포함된 채로 합착된 상태의 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)로서, 요구되는 표시 장치의 크기에 맞추어 절단되기 이전 상태이다. 그러나 이에 한정되지 않고 절단된 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)에서 또한 적용가능하다.
상기 프레임(120)은 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 고정 및 지지한 상태로 작업자가 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)의 구동을 목시 검사하여 불량셀 위치를 판별할 수 있도록 구성된다. 요구되는 공정 특성에 따라 상기 프레임(120)은 지면에 대하여 수직 또는 수평으로 다양하게 배치될 수 있다. 상기 프레임(120)에 고정 및 지지된 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)은 상기 프레임(120)에 의하여 구동이 가능하며, 이를 위하여 상기 프레임(120)에는 접촉핀(126)이 구비되어 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)에 전력을 인가할 수 있도록 구성된다. 전력 인가가 가능하도록 구성되는 상기 프레임(120)에 의하여 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널의 신호라인, 박막 트랜지스터 및 캐패시터 등의 검사가 이루어진다.
보다 자세하게 도 3을 참조하여 상기 프레임(120)의 구성 즉, A-A' 구조를 살펴보면, 상기 프레임(120)은 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)이 중앙에 안착되는 원장기판(121), 상기 원장기판(121) 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭(124) 및 적층된 상기 원장기판(121)과 핀블럭(124)에 고정 결합되는 접촉핀(126)으로 이루어질 수 있다. 상기 원장기판(121)과 핀블럭(124)의 일측 즉, 상호 대응되는 위치에 다수개의 결합홀이 구비되며 상기 접촉핀(126)은 상기 결합홀을 통해 상기 원장기판(121)과 핀블럭(124)과 상호 결합될 수 있다. 종래에 상기 결합홀 가공시 종래는 상기 핀블럭(124)의 재질이 주로 강도가 좋은 베이크나 피크로 이루어졌는데, 이는 가공과정에서 절삭 공구가 쉽게 마모될 뿐만 아니라 공구의 열 변형으로 결합홀의 직경이 균일하지 않게 가공되는 경우가 많아 접촉핀(126) 조립작업에 어려움이 발생하였다.
따라서, 본 발명에서는 상기 핀블럭(124)의 재질을 온습도 변화에 강한 에폭시로 사용하였다. 그러나 이에 한정하지 않고 온습도 변화와 강도가 좋은 다른 재질 또한 적용가능하다. 그리고 상기 핀블럭(124)이 다단으로 적층조립되는 구조로 이루어짐으로써, 개별로 가공할 수 있어 가공 정밀도가 좋고 다수개 적층 하였을 때 생기는 치수오차가 발생하지 않는다. 그리고 상기 핀블럭(124)은 서로 다른 면적을 갖는 제 1 블럭(122)과 제 2 블럭(123)으로 구비될 수 있다. 이때, 상기 제 2 블럭(123)은 상기 제 1 블럭(122) 보다 작은 면적을 갖는 형태로 구성될 수 있다. 또한, 얇은 두께로 이루어진 다수개의 제 1 블럭 및 제 2 블럭(122,123)이 다수개 적층될 경우 상기 핀블럭(124)이 약해질 수 있는데 이를 위해 상기 제 1 블럭과 상기 제 2 블럭(122,123) 사이의 공간에는 알미늄과 같은 금속 재질로 이루어지는 보강재를 결합하여 상기 핀블럭(124)의 강도를 강화시킬 수도 있다.
그리고 상기 프레임(120)에는 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)의 표시 영역면에 대한 외주에 인접하여 제 1 광제공수단(130) 및 제 2 광제공수단(140)이 구비된다. 상기 제 1 광제공수단(130)은 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 사이에 두고 가로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하며, 상기 제 2 광제공수단(140)은 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)을 사이에 두고 세로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴한다. 이때, 상기 제 1 광제공수단(130)과 상기 제 2 광제공수단(140)의 광원은 적외선 발광 LED가 바랍직하나, 이에 한정되지 않고 레이저 등과 같이 방사형 신호를 사용하는 광원도 적용가능한다. 상기 제 1 광제공수단(130)과 상기 제 2 광제공수단(140)의 광신호는 직진성 신호를 갖으며 상호 발산되는 신호는 격자를 이룬다.
상기 제 1 광제공수단(130)은 광신호를 발산하는 다수개의 제 1 발광부(131)와 상기 제 1 발광부(131)와 대응 배치되어 상기 제 1 발광부(131)로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 1 수광부(132)를 포함하며, 상기 제 1 발광부(131)와 상기 제 1 수광부(132)의 개수는 상호 동수로 구성된다.
상기 제 2 광제공수단(140)은 광신호를 발산하는 다수개의 제 2 발광부(141)와 상기 제 2 발광부(141)와 대응 배치되어 상기 제 2 발광부(141)로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 2 수광부(142)를 포함하며, 상기 제 1 광제공수단(130)과 마찬가지로 상기 제 2 발광부(141)와 상기 제 2 수광부(142)의 개수는 상호 동수로 구성된다.
상기 제 1 광제공수단(130) 및 제 2 광제공수단(140)은 별도로 구비되는 제어수단(150)과 연결되어, 상기 제 1 수광부(132) 및 제 2 수광부(142)로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출한다. 상기 제어수단(150)은 상기 프레임(120)에 부착구성될 수도 있고 상기 프레임(120)과 일체형으로 구성될 수도 있으며 프레임(120)의 외부에 별도로 구비되는 것 또한 가능하고, 도면에 도시된 바와 같이 상기 제 1 광제공수단(130)과 제 2 광제공수단(140)과 유선연결되거나 혹은 무선연결될 수도 있다.
상기 제어수단(150)에는 상기 제 1 광제공수단(130)과 제 2 광제공수단(140)이 이루는 면적 및 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)의 크기, 즉 평면상의 면접에 대한 좌표값이 입력될 수 있으며, 이의 기준 좌표를 포함하고 있을 수도 있다. 따라서, 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)의 크기에 관계없이 사용할 수 있도록 한다.
그리고 상기 제어수단(150)은 감지부(151), 산출부(152), 좌표값 제공부(153), 전송부(154)를 포함한다.
상기 감지부(151)는 상기 제 1 광제공수단(130) 및 제 2 광제공수단(140)으로부터 수광되는 광신호를 감지한다. 작업자가 광신호를 발산하는 상기 제 1 광제공수단(130)과 제 2 광제공수단(140)이 구비된 프레임(120)의 표면에 목시 검사를 통해 불량셀의 위치 즉, 격자점을 선택하여 수동 또는 지시봉으로 점지하게 되면 전지된 격자점에는 광신호의 발산이 차단되고 차단된 격자점에 대한 두개의 수광부(132,142)는 광신호가 감지되지 않게 되는데 이를 상기 감지부(151)가 감지한다.
그리고 상기 산출부(152)는 상기 감지부(151)로부터 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 연산하여 산출하고, 상기 좌표값 제공부(153)는 상기 산출부(152)로부터 산출된 격자점 위치정보의 좌표값을 제공하며, 상기 전송부(154)는 상기 좌표값 제공부(153)로부터 제공된 위치정보의 좌표값을 외부의 디스플레이수단(도면미도시)에 전송하여 외부에서도 확인될 수 있도록 한다.
이처럼, 본 발명은 상기 제 1,2 광제공수단(130,140)으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 상기 제어수단(150)을 구비함으로써, 작업자의 목시 검사를 통해 터치된 작업으로 불량셀의 위치를 산출과 입력을 대신하므로 작업시간 및 작업인력을 절감하고, 불량셀의 위치를 신속하게 파악하여 제품 품질과 공정 수율을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 프레임(120)이 ＡＭＯＬＥＤ 패널(110)이 안착되는 원장기판(121)과 원장기판(121) 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭(124)으로 구성됨으로써, 높이 조절이 용이하고 접촉핀(126) 결합 작업시 변형없이 홀 가공이 이루어져 작업성을 향상시킬 수 있다.
이상에서, 설명한 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 권리 범위는 개시된 실시예에 한정되는 것을 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명이 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변경 및 개량 형태 또는 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
100 : 검사 스테이지
110 : ＡＭＯＬＥＤ 패널 120 : 프레임
130 : 제 1 광제공수단 140 : 제 2 광제공수단
150 : 제어수단
110 : ＡＭＯＬＥＤ 패널 120 : 프레임
130 : 제 1 광제공수단 140 : 제 2 광제공수단
150 : 제어수단
Claims (8)
- 원장검사장치 검사 스테이지의 불량셀 위치 산출장치에 있어서,
원장 기판상에 구비되는 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 고정 및 지지하는 프레임;
상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 가로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 1 광제공수단;
상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널을 사이에 두고 세로방향으로 광신호를 발산 또는 수렴하는 제 2 광제공수단; 및
상기 제 1 광제공수단 및 제 2 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하여 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 산출하여 불량셀의 위치를 검출하는 제어수단을 포함하여 구성되며,
상기 프레임은, 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널이 안착되는 원장기판과, 상기 원장기판 하부에 다단으로 적층되어 조립되는 핀블럭과, 적층된 상기 원장기판과 핀블럭의 일측에 결합홀을 통해 고정 결합되며, 상기 ＡＭＯＬＥＤ 패널에 전원을 인가하는 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 제 1 광제공수단과 상기 제 2 광제공수단의 광신호는 직진성 신호를 갖으며 상호 발산되는 신호는 격자를 이루도록 하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 제 1 광제공수단은 광신호를 발산하는 다수개의 제 1 발광부와 상기 제 1 발광부와 대응 배치되어 상기 제 1 발광부로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 1 수광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 제 2 광제공수단은 광신호를 발산하는 다수개의 제 2 발광부와 상기 제 2 발광부와 대응 배치되어 상기 제 2 발광부로부터 발산된 신호를 수렴하는 다수개의 제 2 수광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 제어수단은,
상기 제 1 광제공수단 및 제 2 광제공수단으로부터 수광되는 광신호를 감지하는 감지부;
상기 감지부로부터 감지된 광신호의 위치와 감지되지 않은 광신호 위치를 연산하여 산출하는 산출부;
상기 산출부로부터 산출된 격자점 위치정보의 좌표값을 제공하는 좌표값 제공부; 및
상기 좌표값 제공부로부터 제공된 위치정보의 좌표값을 외부의 디스플레이수단에 전송하는 전송부;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 삭제
- 제 1항에 있어서,
상기 핀 블럭은 서로 다른 면적을 갖는 제 1 블럭과 제 2 블럭으로 구비되며, 상기 제 2 블럭은 상기 제 1 블럭 보다 작은 면적을 갖는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
- 제 7항에 있어서,
상기 다수개 적층된 제 1블럭 하부에 상기 제 2 블럭이 다수개 적층되어 상기 제 1 블럭과 상기 제 2 블럭 사이의 공간에는 보강재가 결합되는 것을 특징으로 하는 ＡＭＯＬＥＤ 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110037463A KR101204965B1 (ko) | 2011-04-21 | 2011-04-21 | 능동형 유기 발광 다이오드 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110037463A KR101204965B1 (ko) | 2011-04-21 | 2011-04-21 | 능동형 유기 발광 다이오드 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| KR20120119500A KR20120119500A (ko) | 2012-10-31 |
| KR101204965B1 true KR101204965B1 (ko) | 2012-11-26 |
Family
ID=47286735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR1020110037463A KR101204965B1 (ko) | 2011-04-21 | 2011-04-21 | 능동형 유기 발광 다이오드 원장검사를 위한 불량셀 위치 산출장치 |
Country Status (1)
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| KR (1) | KR101204965B1 (ko) |
-
2011
- 2011-04-21 KR KR1020110037463A patent/KR101204965B1/ko not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20120119500A (ko) | 2012-10-31 |
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