KR101164539B1 - 탐침 시스템 측정용 착탈식 탐침 팁 시스템 - Google Patents

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짐 엘. 마틴
마크 에이. 게스포드
윌리엄 알. 풀리
윌리엄 큐. 로
아이라 지. 폴락
윌리엄 에이. 헤이거럽
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텍트로닉스 인코포레이티드
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Abstract

본 발명의 착탈식 탐침 팁 시스템은 탐침 팁 장착 부재 및 상기 탐침 팁 장착 부재로부터 연장되는 실질적으로 수직으로 서로 대향하는 어태치먼트 암을 포함하는 하우징을 갖는다. 어태치먼트 암은 탐침 팁 장착 부재의 내면을 형성하며, 상기 내면에는 하나 이상의 비압축성 제1 탄성 부재가 배치된다. 제1 및 제2 탐침 팁은 비압축성 탄성 부재에 걸쳐 배치되고, 래칭 수단에 의하여 하우징에 고정된다. 착탈식 탐침 팁 시스템은 측정 프로브를 부착시키지 않고 탐침 팁을 시험 중인 소자의 탐침 접점에 장착할 수 있다. 어태치먼트 암은 측정 프로브를 탐침 팁 시스템에 착탈시킬 수 있다.
탐침 팁 시스템, 탐침 팁 장착 부재, 측정 프로브, 어태치먼트 암, 하우징, 탄성 부재

Description

탐침 시스템 측정용 착탈식 탐침 팁 시스템 {ATTACHABLE/DETACHABLE PROBING TIP SYSTEM FOR A MEASUREMENT PROBING SYSTEM}
도 1은 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 제1 실시예의 분해사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 제1 실시예의 하우징의 사시도이다.
도 3a 내지 도 3f는 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 제1 실시예의 여러 가지 탐침 팁의 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 조립된 제1 실시예의 사시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 다른 실시예의 분해사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 다른 실시예의 하우징의 사시도이다.
도 7은 본 발명에 따른 착탈식 탐침 팁 시스템의 조립된 다른 실시예의 사시도이다.
본 발명은 일반적으로 프로브 측정용 탐침 팁, 보다 구체적으로는 탐침 시스템 측정용 착탈식 탐침 팁 시스템에 관한 것으로서, 탐침 팁 시스템의 탐침 팁은 탐침 시스템을 측정하는 다른 구성 소자와 별개로 시험 중인 소자에 장착가능하다.
전압 측정 탐침은 시험 중인 소자로부터 전기 신호를 얻고 상기 얻어진 신호를 전선을 거쳐 오실로스코프 등과 같은 측정 기기에 커플링시킨다. 일반적인 전압 탐침은, 기판이 내부에 배치된 전도성을 가진 중공 튜브를 구비한 프로브 헤드를 갖는다. 기판은, 얻어진 신호가 측정 기기에 커플링되기 전에 그 신호를 조절하는 수동 또는 능동 회로를 갖는다. 중공 튜브의 말단에는 절연 플러그가 배치되어 있으며, 동축으로 배치된 탐침 팁이 상기 플러그로부터 양쪽 방향으로 연장되어 있다. 중공 튜브 내로 연장되는 탐침 팁의 일부분은 기판에 전기적으로 연결된다. 일반적으로, 전압 측정 프로브는 시험 중인 소자를 손에 들고 다니면서 탐침하는데 사용되거나 또는 시험 중인 소자 상에 위치된 탐침 암에 장착된다. 측정 프로브에 과다한 힘이 가해지면 탐침 팁을 파손시킬 수 있어 교체해야 한다. 일반적으로, 이러한 경우 측정 프로브는 서비스 센터로 보내지게 되고, 여기에서 숙련된 기술자가 프로브를 빼내어 파손된 팁을 교체한다. 이로써, 수리하는 동안 프로브를 사용할 수 없고 수리 비용이 발생하게 된다.
미합중국 특허 제6,466,000호에는 파손된 프로브 팁을 서비스 센터로 보내지 않고 사용자가 이를 교체할 수 있는 교체가능한 프로브 팁 및 측정 프로브 헤드에 대하여 개시되어 있다. 교체가능한 프로브 팁 홀더는 캡, 및 프로브 헤드 하우징의 외측에 배치될 수 있는 캡의 후방 말단으로부터 연장되는 어태치먼트 암을 갖는다. 캡은 내부에 형성된 일련의 캐버티, 및 가장 내측 캐버티로부터 캡의 전방 말단으로 연장되는 보어를 갖는다. 탄성 압축 부재가 가장 내측 캐버티에 배치되고, 탐침 팁은 상기 탄성 압축 부재를 관통하여 탐침 포인트가 캡으로부터 외측으로 연장된 상태로 보어에 배치된다. 탐침 팁의 타단은 탄성 압축 부재를 캡과 탐침 팁 헤드 사이에 끼워 넣는 헤드를 형성하도록 벌어져 있다. 프로브 헤드 하우징에 배치된 기판의 일부분을 수용하는 제2 캐버티가 가장 내측 캐버티에 인접하여 형성된다. 기판의 말단면은 탐침 팁의 헤드와 일치되는 적어도 제1 전기 접점을 갖는다. 제3 캐버티가 프로브 헤드 하우징의 일부분을 수용한다. 탐침 팁은 교체가능한 탐침 팁 홀더의 캡에 견고하게 장착되지 않고, 탐침 팁은 단지, 홀더가 프로브 헤드 상에 위치되었을 때, 교체가능한 프로브 팁 홀더에 견고하게 장착된다는 점에 유의해야 한다.
측정 대역폭이 증가함에 따라, 이에 대응하여 대역폭 이상의 측정 탐침이 필요하게 된다. 5GHz 이상의 대역폭을 갖는 매우 넓은 대역폭 측정 탐침을 설계하는데 있어서 주로 어려운 점은 탐침 팁 또는 팁들의 용량 및 인덕턴스의 효과이다. 이러한 문제점을 해결하는 한 가지 방법은 탐침 팁을 측정 탐침의 탐침 헤드 내의 활성 회로로부터 분리시키는 것이다. 미합중국 특허 제6,704,670호에는 프로브의 탐침 팁 또는 팁들이 프로브 증폭기 유닛으로부터 분리가능한 대역폭 활성 탐침 시스템에 대하여 개시되어 있다. 하나 이상의 프로브 케이블이, 프로브 유닛에 의하 여 수신된 신호를 전송하도록 프로브 증폭기 유닛에 연결되어 있는 프로브 팁 유닛에 연결된다. 각종 유형의 프로브 팁 유닛이 프로브 증폭기 유닛에 연결될 수 있다. 프로브 팁 유닛은 도체 트레이스로부터 각종의 저항, 용량, 및/또는 전자 소자에 이르는 회로를 포함할 수 있다. 이러한 프로브 구조의 장점은 접점 상에 도달하는 것이 곤란한, 프로브 증폭기 회로를 포함하는 보다 큰 측정 프로브 대신에 실질적으로 더 작은 프로브 팁 유닛을 시험 중인 소자의 접점 상에 배치할 수 있다는 점이다.
프로브 팁 유닛은 싱글엔디드형 또는 차동형일 수 있고, 탐침 팁 유닛을 프로브 팁 유닛에 전기적으로 연결시키는 프로브 연결 포인트를 포함한다. 탐침 팁 유닛은 탐침 팁을 포함하며, 레지스터와 같은 임피던스 소자를 포함할 수 있다. 탐침 팁 유닛은 단말 연결부를 납땜 또는 압축시킴으로써 프로브 팁 유닛의 프로브 연결 포인트에 고정된다. 솔더-온, 플러그-온, SMT 그래버, 및 웨지 프로브 팁 유닛과 같은 각종 유형의 탐침 팁 유닛이 프로브 연결 포인트에 납땜될 수 있다. 각종의 탐침 팁 유닛은, 탐침 시스템의 전기적 특성을 변경시키거나 또는 현재의 탐침 팁 유닛의 납땜을 제거하고 교체용 탐침 팁 유닛을 프로브 연결 포인트에 납땜하여 손상된 탐침 팁 유닛을 교체할 수 있다. 상기 구조의 단점은 각각의 탐침 팁 유닛을 프로브 연결 포인트 중 하나에 납땜해야 한다는 점이다. 또한, 탐침 팁 유닛을 프로브 연결 포인트에 계속해서 납땜하거나 납땜을 제거하게 되면 탐침 접촉 포인트가 손상될 위험이 수반됨으로써 프로브 팁 유닛이 낭비된다. 또한, 소정의 차동 및 싱글 엔디드 탐침 애플리케이션에서, 프로브 팁 유닛은 시험 중인 소자의 탐침 포인트에 납땜해야 한다. 이것은 사용자로 하여금 시험 중인 소자를 다수개의 프로브 유닛으로 조밀하게 할 것을 요구하므로 탐침 해체 비용을 증가시킨다.
탐침 팁이 측정 탐침 시스템의 다른 구성 소자에 연결되지 않고 시험 중인 소자에 용이하게 장착되는, 측정 프로브 시스템용 착탈식 탐침 팁 시스템이 요구된다. 탐침 팁 시스템은 비싸지 않아야 하며, 납땜하지 않고 측정 탐침 시스템의 나머지 부분에 용이하게 부착가능해야 한다.
따라서, 본 발명은 시험 중인 소자에 장착가능하며 측정 프로브에 부착가능한, 착탈식 탐침 팁 시스템을 제공하는 것이다. 탐침 팁 시스템은, 탐침 팁 장착 부재 및 상기 탐침 팁 장착 부재로부터 실질적으로 직교하는 방향으로 연장되는 서로 대향하는 어태치먼트 암을 구비한 하우징을 갖는다. 어태치먼트 암은 탐침 팁 장착 부재의 내면을 형성하며, 상기 내면에는 하나 이상의 비압축성 제1 탄성 부재 세트가 배치된다. 제1 및 제2 탐침 팁은 압축성 탄성 부재에 걸쳐 배치되고 래칭 수단에 의하여 하우징에 고정된다.
본 발명의 제1 실시예에 있어서, 제1 및 제2 탐침 팁은 제1 및 제2 저항 소자로부터 연장되는 전도성을 가진 와이어이다. 저항 소자는 프로브 팁 장착 부재의 내면에 형성된 제1 및 제2 노치 세트를 갖는 래칭 수단에 의하여 하우징에 고정된다. 각 노치 세트의 노치들은 수직으로 정렬되고, 비압축성 탄성 부재 세트를 수용하는 프로브 팁 장착 부재의 내면에 형성된 리세스에 의하여 분리되는 것이 일반적이다. 각 노치 세트 중 하나의 노치는 내면으로부터 실질적으로 원형인 부분 으로 연장되는 채널부를 갖는다. 각 노치 세트 중 다른 하나의 노치는 탐침 팁 장착 부재의 정면으로 연장되는 보어를 내부에 갖는다. 제1 및 제2 저항 소자 각각으로부터 탐침 팁 와이어와 반대 방향으로 연장되는 전도성을 가진 와이어는 탐침 팁 장착 부재의 보어를 관통하고, 노치의 채널부를 관통함으로써 각각의 제1 및 제2 노치 세트의 원형부 내에 고정된다. 제1 및 제2 노치 세트 중 하나의 노치는 프로브 팁 장착 부재의 내면의 리세스 상면으로부터 프로브 팁 장착 부재의 상면으로 연장된다. 제1 및 제2 노치 세트 중 다른 하나의 노치는 리세스의 저면으로부터 베이스부로 연장된다.
본 발명의 다른 실시예에 있어서, 제1 및 제2 탐침 팁은 가요성 기판 소재에 형성된 노치, 및 전도성을 가진 하나 이상의 제1 및 제2 트레이스에 의하여 형성된 각각의 제1 및 제2 탐침 팁 암을 갖는 가요성 기판 소재의 일부로서 형성된다. 전도성을 가진 하나의 트레이스는 탐침 팁 암 중 하나를 따라 연장되고, 전도성을 가진 다른 하나의 트레이스는 제1 및 제2 탐침 팁을 형성하는 다른 하나의 탐침 팁 암을 따라 연장된다. 전도성을 가진 제1 및 제2 트레이스의 근단부(proximal end)는 가요성 기판 소재 상에, 비압축성 탄성 부재 세트에 근접했다 떨어졌다하도록 배치된 각각의 접촉 패드를 형성한다. 전도성을 가진 제1 및 제2 트레이스의 원단부(distal end)는 각각의 제1 및 제2 탐침 팀 암 상에 접촉 패드를 형성한다. 전도성을 가진 대향하는 와이어를 갖는 각각의 제1 및 제2 저항 소자는 제1 및 제2 탐침 팁 암 상의 접촉 패드에 전기적으로 결합된 전도성을 가진 와이어 하나를 가질 수 있다. 각각의 제1 및 제2 저항 소자의 다른 하나의 전도성을 가진 와이어는 각각의 제1 및 제2 탐침 팁을 형성한다. 제1 및 제2 탐침 팁 암 상의 접촉 패드 각각에는 제1 및 제2 저항 소자의 전도성을 가진 와이어 중 하나를 수용하는 전도성을 가진 애퍼춰가 형성될 수 있다.
또한, 저항 소자 및 다른 무급전(passive) 전기 소자는 가요성 기판 소재 상에 배치되어 전도성을 가진 제1 및 제2 트레이스와 각각 전기적으로 결합될 수 있다. 저항 및 무급전 전기 소자는 분리된 구성 소자, 인쇄 레지스터, 커패시터 등의 형태를 가질 수 있다.
가요성 기판 소재는 내부에 형성된 애퍼춰, 및 가요성 기판 소재의 측면 상에 각각 하측방향으로 대면하는 쇼율더를 형성하는 횡방향 연장부를 갖는다. 애퍼춰는 탐침 팁 장착 부재의 내면 상의 외측방향으로 연장되는 돌출부에 걸쳐 위치된다. 탐침 팁 장착 부재에 인접하는 어태치먼트 암 내에 쇼울더 면을 형성하도록, 상면으로부터 하측방향으로 연장되는 대향하는 어태치먼트 암 내에 리세스가 형성된다. 리세스는 가요성 기판 부재의 횡방향 연장부를 수용하며, 상기 횡방향 연장부의 하측방향으로 대면하는 쇼울더는 리세스의 쇼울더 면과 결합된다. 탐칩 팁 장착 부재의 내면 상의 돌출부와 결합되는 가요성 기판 소재 애퍼춰와 연장 암 내의 리세스와 결합되는 가요성 기판 소재의 횡방향 연장부를 결합시켜 제1 및 제2 탐침 팁을 하우징에 래치한다.
본 발명의 목적, 장점 및 신규성은 특허청구범위 및 첨부 도면을 참조하여 개시된 후술하는 상세한 설명으로부터 명백하게 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 착탈식 탐침 팁 시스템(10)의 제1 실시예를 예시하는 분해사시도이다. 탐침 팁 시스템(10)은, 도 2에서 잘 알 수 있는 바와 같이, 탐침 팁 장착 부재(14) 및 상기 탐침 팁 장착 부재(14)로부터 연장되는 실질적으로 직교하는 어태치먼트 암(16, 18)을 갖는 하우징(12)을 포함한다. 하우징(12)은 ABS 플라스틱, 폴리-카보네이트, ABS-폴리-카보네이트 혼합물, 등과 같은 비전도성의 사출 성형가능한 소재로 형성되는 것이 바람직하다. 어태치먼트 암(16, 18)의 원단부에는 내측방향으로 배치된 베벨(bevel)(20)이 형성된다. 어태치먼트 암(16, 18) 각각의 내면(24)은 세그먼트 리브(segmented rib)(26)를 가지며, 각각의 세그먼트(28, 30)는 후측방향으로 경사진 면(32)을 갖는다. 세그먼트 리브(26)는 탐침 팁 부재(38)의 하우징(36) 양쪽에 위치한 채널(34)과 결합된다. 각각의 채널(34)은 탐침 팁 시스템(10)을 탐침 팁 부재(38)에 고정시키기 위하여 세그먼트 리브(26)의 세그먼트(28, 30) 사이에 캡처되는 채널 내에 형성된 보스(boss)(40)를 갖는다. 탐침 팁 부재(38)는 시험 중인 소자로부터 하우징(12)에 고정된 제1 및 제2 탐침 팁(42, 44)을 거쳐 탐침 팁 부재(38)에 커플링된 전기 신호를 조절하는 회로가 상측에 장착되어 있는, 하우징(36) 내에 배치된 기판을 포함한다. 전기 접촉 핀이 탐침 팁 시스템(10)의 탐침 팁(42, 44)과 접촉되는 탐침 팁 부재(38)의 정면으로부터 연장된다. 조절된 신호는, 얻어진 신호를 더 조절하는 추가의 회로를 갖는 프로브 몸체에 동축 케이블(46, 48)을 거쳐 커플링된다. 프로브 헤드 내의 조절된 전기 신호는 동축 케이블을 거쳐 오실로스코프 등과 같은 측정 기기에 커플링된다. 또한, 탐침 팁 시스템(10)은 측정 프로브의 프로브 몸체에 직접 고정될 수 있다. 프로브 몸체는 측면에 형성된 채널(34)을 가질 수 있으며, 상기 채널은 어태치먼트 암(16, 18)의 세그먼트 리브(26)의 세그먼트(28, 30) 사이에 캡처된 채널 보스(40)를 갖는다.
프로브 팁 장착 부재(14)는 외면(50) 및 내면(52)을 가지며, 상기 내면(52)은 어태치먼트 암(16, 18)을 프로브 팁 장착 부재(14)에 대하여 상대적으로 배치함으로써 형성된다. 내면(52)에는 비압축성 탄성 부재(56) 세트를 수용하는 애퍼춰(54)가 내부에 형성되어 있다. 바람직하기로는, 비압축성 탄성 부재(56) 세트는 실리콘 소재와 같은 엘라스토머 소재로 제조된다. 각각의 애퍼춰(54)에는 비압축성 탄성 부재(56) 세트 각각의 후면에 형성된 리세스 내에 수용되는 중앙에 배치된 돌출부(58)가 형성되는 것이 바람직하다. 돌출부(58) 및 리세스는 비압축성 탄성 부재(56) 세트가 애퍼춰(54) 내에 지지되도록 보조한다.
탐침 팁 장착 부재의 내면은 애퍼춰(54) 사이에 배치된 외측방향으로 연장되는 돌출부(60)를 또한 갖는다. 돌출부(60)는 경사진 정면(62) 및 쇼울더 면을 형성하는 저면(64)을 갖는다. 어태치먼트 암(16, 18)은, 상기 암(16, 18)과 탐침 팁 장착 부재(14) 사이의 접합부 내부에 형성된 리세스(66)를 갖는다. 리세스(66)는 어태치먼트 암(16, 18)의 상면으로부터 하측방향으로 연장되어 암의 어느 정도 하측에 쇼울더 면(68)을 형성한다.
제1 및 제2 탐침 팀(42, 44)의 제1 실시예에서, 탐침 팁의 일부분은 가요성 기판 소재(70) 상에 형성된다. 바람직한 실시예에 있어서, 가요성 기판 소재(70)는 델라웨어주 윌밍턴 소재 E.I. DePont De Nemours and Company에서 제조 및 판매 하고 있는 상표명 KAPTON®와 같은 폴리아미드 소재이다. 가요성 도전 소재(70)는 탐침 팁 암 사이의 노치(76)에 의하여 형성된 제1 및 제2 탐침 팁 암(72, 74)을 갖는다. 전도성을 가진 제1 및 제2 트레이스(78, 80)는 가요성 기판 소재(70) 상에 형성되며, 전도성을 가진 하나의 트레이스(78)는 하나의 탐침 팁 암(72)을 따라 연장되고 전도성을 가진 다른 하나의 트레이스(80)는 다른 하나의 탐침 팁 암(74)을 따라 연장된다. 전기 접촉 패드(82, 84)가 전도성을 가진 트레이스(78, 80) 각각의 근단부(86) 및 원단부(88) 상에 각각 형성된다. 바람직한 실시예에 있어서, 트레이스가 시험 중인 소자 상의 회로로부터 쇼트되지 않도록 비전도성 소재가 전기 접촉 패드(82, 84)를 제외하고 전도성을 가진 트레이스(78, 80)에 걸쳐 배치된다. 전도성을 가진 트레이스(78, 80)의 원단부(86) 상의 전기 접촉 패드(82) 각각은 전도성을 가진 대향하는 와이어(92, 94)를 갖는 저항 소자(90)를 수용한다. 저항 소자(90) 각각의 하나의 와이어(92)는 전도성을 가진 제1 및 제2 트레이스(78, 80)의 전기 접촉 패드(84)에 각각 전기적으로 결합되고, 저항 소자(90)의 다른 하나의 와이어(94)는 탐침 팁(42, 44)으로 사용된다.
가요성 기판 소재(70)에는 하측방향으로 대면하는 쇼울더 면(98)으로부터 횡방향으로 연장되는 돌출부(96)가 또한 형성된다. 가요성 기판 소재(70)에는 전도성을 가진 트레이스(78, 80)의 근단부의 전기 접촉 패드(82) 사이에 애퍼춰(100)가 형성된다. 애퍼춰(100)의 치수 및 형상은 탐침 팁 장착 부재(14)의 내면(52) 상에 위치한 외측방향으로 연장되는 돌출부(60)의 치수 및 형상과 일치한다. 제1 및 제2 탐침 팁(42, 44)을 포함하는 가요성 기판 소재(70)는, 가요성 기판 소재(70)의 횡방향으로 연장되는 돌출부(96)를 어태치먼트 암(16, 18)의 리세스(66) 내에 삽입하고 탐침 팁 장착 부재(14)의 내면(52) 상에 위치한 외측방향으로 연장되는 돌출부(60)를 가요성 기판 소재(70)의 애퍼춰(100) 내에 삽입함으로써 하우징(12) 내에 래치 및 고정된다. 횡방향으로 연장되는 돌출부(96)의 하측방향으로 대면하는 쇼울더 면(98)은 리세스(66)의 쇼울더 면(68)과 결합되고, 애퍼춰(100)는 외측방향으로 연장되는 돌출부(60)의 쇼울더 면(64)과 결합된다. 가요성 기판 소재(70)를 하우징(12) 내에 래칭함으로써 가요성 기판 소재(70)가 비압축성 탄성 부재(56) 세트에 걸쳐 배치되고, 전도성을 가진 트레이스(78, 80)의 근단부의 전기 접촉 패드(82)는 비압축성 탄성 부재(56) 세트로부터 떨어져서 대면한다.
도 3a 내지 도 3e는 가요성 기판 소재(70)를 사용하는 탐침 팁(42, 44)의 여러 가지 실시예를 예시하는 도면이다. 도 3a에는 납땜 등에 의하여 전도성을 가진 트레이스(78, 80)의 원단부의 전기 접촉 패드(84)에 고정된 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(92) 중 하나를 갖는 매우 짧은 탐침 팁 암(72, 74)이 도시되어 있다. 전기 접촉 패드(84)에 연결된, 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(92)는 저항 소자(90)가 전기 접촉 패드(84)에 가능한 근접하여 위치하도록 조정된다. 저항 소자(90)의 전도성을 가진 대향하는 와이어(94)는 탐침 팁(42, 44)으로서 작용하며 사용자에 의하여 원하는 길이로 조정될 수 있다. 탐침 팁 암(72, 74)을 암 사이의 슬롯(76)에 의하여 형성된 대로 분리시키는 것은 사용자의 특정 요구에 부합되도록 변경시킬 수 있다. 또한, 탐침 팁 암(72, 74)의 길이는 사용자의 요구에 부합되도록 변경될 수 있다. 본 발명의 상용 실시예에 있어서, 탐침 팁 암(72, 74)의 길이는 0.080, 0.2 및 1인치이다. 본 발명에 사용된 바람직한 저항 소자(90)는 직경이 0.008 및 0.020인치인 전도성을 가진 와이어(92, 94)를 갖는다. 도 3b 및 도 3c에는 전도성을 가진 트레이스(78, 80)의 원단부의 전기 접촉 패드(84) 내에 형성된 전도성을 가진 애퍼춰(102, 104)를 가진 탐침 팁(42, 44)이 도시되어 있다. 전도성을 가진 애퍼춰(102, 104)는, 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(92)가 삽입되어 전기 접촉 패드(84)에 납땜될 수 있는 개구를 제공한다. 도 3d에는 원단부의 전기 접촉 패드(84)가 탐침 팁(42, 44)인 경우의 탐침 팁(42, 44)이 예시되어 있다. 전기 접촉 패드(84)는 납땜에 의하여 시험 중인 소자의 탐침 포인트에 전기적으로 연결된다. 도 3e는 탐침 팀(42, 44)의 다른 실시예의 도면으로서, 저항 소자 및 용량 소자(91, 93)와 같은 수동 전기 소자는 탐침 팁 암(72, 74) 상에 장착되어 전도성을 가진 트레이스(78, 80)에 의하여 연결되어 있다. 저항 소자 및 용량 소자(91, 93)는 보상형 RC 감쇠기 회로의 일부를 형성할 수 있다. 저항 소자 및 용량 소자(91, 93)는 공지된 후막 가공 방법을 사용하여 분리된 구성 요소 또는 인쇄회로 소자의 형태를 가질 수 있다. 저항 소자 및 용량 소자(91, 93)는 탐침 팁 암 상의 전기 접촉 패드(84)에 납땜된 저항 소자(90)와 함께 탐침 팁 암(78, 80)에 또한 장착될 수 있다.
도 3f는 탐침 팁(42, 44)의 다른 실시예의 도면이다. 전도성을 가진 트레이스(78, 80)가 제어 임피던스 전송선으로서 구현된다. 도 3f에 있어서, 제어 임피던스 전송선은 신호 컨덕터 트레이스(95) 및 상기 신호 컨덕터 트레이스(95)의 양쪽에 인접하여 배치된 접지 트레이스(97)를 가진 코플라나 도파관(coplanar waveguide)으로서 구현된다. 신호 트레이스(95) 및 접지 트레이스(97) 각각의 근단부(86)에는 전기 접촉 패드(82)가 형성되며, 신호 트레이스(95)의 원단부(88)에는 전기 접촉 패드(84)를 갖는다. 도 3e를 참조하여 기재한 바와 같이, 저항 소자 및 용량 소자와 같은 수동 전기 소자는 보상 RC 어테뉴에이터 회로의 일부를 형성하도록 신호 트레이스(95) 및 접지 트레이스(97)와 전기적으로 접속된 상태로 탐침 팁 암 상에 장착될 수 있다. 제어 임피던스 전송선은, 접지 트레이스가 신호 트레이스 하측에 위치하는 경우, 마이크로스트립 전송선(microstrip transmission line)으로서 또한 형성될 수 있다.
도 4는 조립된 착탈식 탐침 팁 시스템(10)의 예를 도시한 도면이다. 가요성 기판 소재(70)는 하우징(12) 내에 장착되며, 상기 하우징(12)으로부터 하측방향으로 탐침 팁 암(78, 80)이 연장된다. 저항 소자(90)는 탐침 팁 암(78, 80) 상의 전기 접촉 패드(84)에 납땜되며, 저항 소자 와이어(94)가 탐침 팁으로서 작용한다.
도 5는 본 발명의 착탈식 탐침 팁 시스템(10)의 다른 실시예의 도면이다. 동일한 부재에는 동일한 도면부호로 표기하였다. 도 5의 실시예에서, 탐침 팁 장착 부재의 내면에 형성된 애퍼춰는 상면(112), 저면(114) 및 측면(116)을 갖는 실질적으로 직사각형인 리세스(110)로 교체되어 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 일반적으로 수직으로 배치된 제1 및 제2 노치(122, 124)를 각각 갖는 2세트의 노치(118, 120)가 탐침 팁 장착 부재(14)의 내면(52)에 형성된다. 노치(118, 120) 세트 각각의 제1 노치(122)는 탐침 팁 장착 부재(14)의 상면(126)과 리세스(110)의 상면(112) 사이에 배치된다. 노치는 내면으로부터 실질적으로 원형인 부분(130)까지 연장되는 채널부(128)를 갖는다. 탐침 팁 장착 부재(14)의 상면으로부터 연장되는 노치 부분은 노치(122)의 채널부(128) 및 원형인 부분(130)의 외주를 지나 연장되는 U자 형상부(132)를 가질 수 있다. 제2 노치(124)는 베이스면(134)을 형성하도록 리세스(110)의 저면(114)으로부터 탐침 팁 장착 부재(14)로부터 하측방향으로 어느 정도 떨어진 위치로 연장된다. 제2 노치(124)는 일반적으로 U자 형상의 형태를 갖는다. 도 7에 도시된 바와 같이, 탐침 팁 장착 부재(14)에는 제2 노치(124)로부터 탐침 팁 장착 부재(14)의 정면(50)까지 연장되는 보어(136)가 형성된다.
탐침 팁 장착 부재의 리세스(110) 내에는 비압축성 탄성 부재(56) 세트가 배치된다. 비압축성 탄성 부재(56)는 탐침 팁 장착 부재(14)의 리세스(110)에 일치되는 실질적으로 직사각형 형상을 갖는다. 비압축성 탄성 부재(56) 세트의 노출면(138)은 탐침 팁 장착 부재(14)의 내면(52)에 형성된 노치(122, 124)와 정렬된 노치(140)가 내부에 형성되어 있다. 각각의 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(94) 중 하나는 탐침 팁 장착 부재(14)의 각각의 보어(136) 중 하나를 관통한다. 탐침 팁 장착 부재(14)의 내면(52)에 위치한 노출된 전도성을 가진 와이어(92)는 상측으로 만곡되어 제1 노치(122) 쌍의 채널부(128)를 관통하여, 전도성을 가진 와이어(92)가 비압축성 탄성 부재(56)와 접촉된 상태로 하여 원형인 부분(130) 내에 래치된다. 전도성을 가진 와이어(92)의 임의의 여분의 길이는 탐침 팁 장착 부재(14)의 상면(126)에서 트림된다. 노치(122, 124)는 탐침 헤드 부재(38)의 접촉 핀을 가진 각각의 전도성을 가진 와이어(92)와 정렬된다. 탐침 팁 장착 부재(14) 내에 보어(136) 및 노치(122, 124)가 결합됨으로써 저항 소자(90)가 탐침 팁 시스템 내에 고정된다. 저항 소자(90)의 다른 하나의 전도성을 가진 와이어(94)는 탐침 팁(42, 44)을 형성한다.
본 발명의 착탈식 탐침 팁 시스템(10)은 시험 중인 소자에 상이한 구조를 가진 복수의 탐침 팁(42, 44)을 배치시키는 저비용 해결 방법을 제공한다. 복수의 어댑터(10)의 탐침 팁(42, 44)은 시험 중인 소자의 여러 개의 탐침 포인트에 납땜된다. 각각의 탐침 팁 시스템(10)은, 채널 보스(40)가 어태치먼트 암 리브(26)의 세그먼트(28, 30) 사이에 캡처될 때까지 어태치먼트 암(16, 18)을 탐침 헤드 부재(38) 또는 탐침 몸체 내의 채널(34)을 따라 슬라이딩시킴으로써 측정 프로브에 순차적으로 부착될 수 있다. 탐침 팁 시스템(10)은 어태치먼트 암 리브(26)를 어태치먼트 암(16, 18)의 경사진 말단면(20)을 사용하여 채널 보스(40)를 지나도록 지레 작용을 함으로써 측정 프로브로부터 탈착된다. 탐침 팁 시스템(10)의 탐침 팁(42, 44)이 손상된 경우, 서비스를 받기 위하여 측정 프로브를 보내지 않고 다른 탐침 팁 시스템(10)으로 용이하게 교체될 수 있다.
탐침 팁(42, 44)이 내부에 고정되어 있는 하우징(12)을 갖는 착탈식 탐침 팁 시스템(10)에 관하여 기재되어 있다. 하우징(12)은 탐침 팁 시스템(10)을 측정 프로브에 연결시키는 어태치먼트 암(16, 18)을 갖는다. 또한, 하우징(12)은 비압축성 탄성 부재(56)를 수용하는 탐침 팁 장착 부재(14)를 갖는다. 상이한 유형의 탐침 팁(42, 44)이 래칭 수단을 거쳐 하우징(12)에 고정된다. 탐침 팁(42, 44)은 전도성을 가진 트레이스(72, 74)가 탐침 팁(42, 44)으로서 상측에 형성되어 있는 가 요성 기판 소재(70)를 포함할 수 있다. 저항 소자(90)는 전도성을 가진 트레이스(72, 74)에 전기적으로 또한 결합될 수 있고, 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(94)는 탐침 팁(42, 44)이다. 탐침 팁(42, 44)은 또한 저항 소자(90)의 전도성을 가진 와이어(94)일 수 있다.
본 발명의 전술한 실시예의 상세한 내용은 본 발명의 요지를 벗어나지 않고 여러 가지로 변경될 수 있다는 점을 당업자는 명백하게 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 범위는 다음의 특허청구범위에 정의된다.

Claims (21)

  1. 시험 중인 소자에 장착가능한 측정 프로브용 착탈식 탐침 팁 시스템에 있어서,
    탐침 팁 장착 부재와, 상기 탐침 팁 장착 부재로부터 수직으로 서로 대향하여 연장되며 상기 탐침 팁 장착 부재의 내면을 형성하는 어태치먼트 암을 갖는 하우징,
    상기 탐침 팁 장착 부재의 내면에 배치된 하나 이상의 비압축성 제1 탄성 부재 세트,
    상기 비압축성 제1 탄성 부재 세트에 걸쳐 배치된 제1 및 제2 탐침 팁, 및
    상기 제1 및 제2 탐침 팁을 상기 하우징에 고정시키는 래칭 수단(latching means)
    을 포함하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 비압축성 제1 탄성 부재 세트는 비전도성 엘라스토머를 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 비전도성 엘라스토머는 실리콘을 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 탐침 팁은 저항 소자로부터 서로 반대방향으로 연장되는 전도성을 가진 와이어를 갖는 제1 및 제2 저항 소자를 각각 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 래칭 수단은 상기 프로브 탐침 장착 부재의 내면에 형성된 제1 노치 세트 및 제2 노치 세트를 포함하고,
    상기 제1 노치 세트의 노치들은 수직으로 정렬되고, 상기 제2 노치 세트의 노치들도 수직으로 정렬되며, 상기 제1 및 제2 노치 세트의 노치들은 비압축성 제1 탄성 부재를 수용하는 리세스에 의하여 분리되고,
    상기 제1 노치 세트의 노치들 중 하나의 노치와 상기 제2 노치 세트의 노치들 중 하나의 노치는 상기 내면으로부터 원형인 부분(circular portion)까지 연장되는 채널부를 가지며, 상기 제1 노치 세트의 노치들 중 다른 하나의 노치와 상기 제2 노치 세트의 노치들 중 다른 하나의 노치는 그 내부에 상기 탐침 팁 장착 부재의 정면까지 연장되는 보어를 갖고,
    이로써, 상기 제1 및 제2 저항 소자 각각의 상기 전도성을 가진 와이어 중 하나는 상기 탐침 팁 장착 부재의 보어를 관통하여, 상기 노치들의 상기 채널부를 관통하게 함으로써 상기 제1 및 제2 노치 세트의 각각의 상기 원형인 부분 내에 고정되는
    것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 프로브 팁 장착 부재는 상면, 저면 및 정면을 갖고, 상기 리세스는 상면 및 저면을 가지며,
    상기 제1 및 제2 노치 세트의 노치들 중 하나는 상기 프로브 팁 장착 부재의 내면의 리세스 상면으로부터 상기 프로브 팁 장착 부재의 상면으로 연장되고,
    상기 제1 및 제2 노치 세트의 노치들 중 다른 하나는 상기 리세스의 저면으로부터 베이스부로 연장되는
    것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 탐침 팁은, 가요성 기판 소재와 제1 및 제2 전도성 트레이스를 포함하며,
    상기 가요성 기판 소재는, 상기 가요성 기판 소재에 형성된 노치에 의하여 형성된 제1 및 제2 탐침 팁 암을 각각 가지며,
    상기 제1 전도성 트레이스가 상기 제1 탐침 팁 암을 따라 연장되고 상기 제2 전도성 트레이스가 상기 제2 탐침 팁 암을 따라 연장되어 상기 제1 및 제2 탐침 팁을 형성하고,
    상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 근단부(proximal end)는 각각 상기 가요성 기판 소재 상에 상기 비압축성 제1 탄성 부재 세트에 대하여 근접했다 떨어졌다 하도록 배치된 전기 접촉 패드를 형성하며,
    상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 원단부(distal end)는 각각 상기 제1 및 제2 탐침 팁 암 상에 전기 접촉 패드를 형성하는
    것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 각각은, 상기 가요성 기판 소재 상에 배치되고 상기 제1 및 제2 전도성 트레이스와 각각 전기적으로 커플링된 수동 전기 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 수동 전기 소자는, 분리된 구성 요소로서 표면에 장착된 저항 소자(discrete surface mounted resistive element)를 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 수동 전기 소자는, 상기 가요성 기판 소재 상에 인쇄된 저항 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 수동 전기 소자는, 분리된 구성 요소로서 표면에 장착된 저항 소자 및 용량 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 수동 전기 소자는, 상기 가요성 기판 소재 상에 인쇄된 저항 소자 및 용량 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 탐침 팁은 각각 전도성의 대향하는 와이어를 가진 제1 및 제2 저항 소자를 더 포함하고,
    상기 제1 및 제2 저항 소자 각각의 전도성의 와이어 중 하나는 상기 제 1 및 제2 전도성 트레이스의 원단부 상에 형성된 각각의 전기 접촉 패드에 전기적으로 커플링되며,
    상기 제1 및 제2 저항 소자 각각의 전도성의 와이어 중 다른 하나는 상기 제1 및 제2 탐침 팁을 각각 형성하는
    것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 저항 소자로부터 연장되는 상기 전도성의 와이어 중 하나를 수용하도록 상기 제1 및 제2 탐침 암 각각의 상기 전기 접촉 패드에 형성된 전도성의 애퍼춰를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  15. 제7항에 있어서,
    상기 가요성 기판 소재의 상기 제1 및 제2 탐침 팁 암 상의 상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 각각은 제어 임피던스 전송선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제어 임피던스 전송선은, 신호 컨덕터 트레이스 및 상기 신호 컨덕터 트레이스의 양쪽에 배치된 인접하는 접지 트레이스를 갖는 코플라나 도파관(coplanar waveguide)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 코플라나 도파관의 상기 신호 컨덕터 트레이스 및 접지 트레이스는 각각 상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 근단부(proximal end)의 전기 접촉 패드 중 대응하는 전기 접촉 패드에 커플링되는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 제어 임피던스 전송선은, 상기 가요성 기판 소재의 일 면 상에 제공된 신호 컨덕터 트레이스 및 상기 가요성 기판 소재의 반대면 상의 상기 신호 컨덕터 트레이스 하측에 제공된 접지 트레이스를 갖는 마이크로스트립 도파관을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 마이크로스트립 도파관의 상기 신호 컨덕터 트레이스 및 접지 트레이스 각각은 상기 제1 및 제2 전도성 트레이스의 근단부(proximal end)의 전기 접촉 패드 중 대응하는 전기 접촉 패드에 커플링되는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  20. 제8항에 있어서,
    상기 탐침 팁 장착 부재의 내면에 비압축성의 제1 및 제2 탄성 부재 세트를 수용하도록 형성된 제1 및 제2 리세스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
  21. 제8항에 있어서,
    상기 어태치먼트 암은 상면을 갖고,
    상기 래칭 수단은,
    상기 가요성 기판 소재에 형성된 애퍼춰, 및 상기 가요성 기판 소재 상에 하측방향으로 대면하는 쇼울더를 각각 형성하는 횡방향 연장부, 및
    쇼울더 면, 및 상기 탐침 팁 장착 부재에 인접하는 상기 어태치먼트 암에 쇼울더 면을 형성하도록 상기 상면으로부터 하측방향으로 연장된 서로 대향하는 어태치먼트 암에 형성된 리세스를 갖는, 상기 탐침 팁 장착 부재의 내면 상에서 외측방향으로 연장되는 돌출부
    를 포함하며,
    상기 외측방향으로 연장되는 돌출부는 상기 가요성 기판 소재의 애퍼춰를 수용하고, 상기 리세스는 상기 가요성 기판 소재의 상기 횡방향 연장부를 수용하며, 상기 횡방향 연장부의 상기 하측방향으로 대면하는 쇼울더는 상기 리세스의 상기 쇼울더 면과 결합되는
    것을 특징으로 하는 착탈식 탐침 팁 시스템.
KR1020050045049A 2004-05-27 2005-05-27 탐침 시스템 측정용 착탈식 탐침 팁 시스템 KR101164539B1 (ko)

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Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7371129B2 (en) * 2005-04-27 2008-05-13 Samtec, Inc. Elevated height electrical connector
DE102005053146A1 (de) * 2005-11-04 2007-05-10 Suss Microtec Test Systems Gmbh Messspitze zur Hochfrequenzmessung
US7532492B2 (en) * 2005-12-20 2009-05-12 Tektronix, Inc. Host controlled voltage input system for an accessory device
US9404940B1 (en) 2006-01-06 2016-08-02 Teledyne Lecroy, Inc. Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes
US9140724B1 (en) * 2006-01-06 2015-09-22 Lecroy Corporation Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes
US20070222468A1 (en) * 2006-03-22 2007-09-27 Mctigue Michael T High bandwidth probe system
US8109883B2 (en) 2006-09-28 2012-02-07 Tyco Healthcare Group Lp Cable monitoring apparatus
US8668651B2 (en) 2006-12-05 2014-03-11 Covidien Lp ECG lead set and ECG adapter system
US20090085591A1 (en) * 2007-10-01 2009-04-02 Samtec Inc. Probe tip including a flexible circuit board
US8038484B2 (en) 2007-12-11 2011-10-18 Tyco Healthcare Group Lp ECG electrode connector
US7592822B2 (en) * 2007-12-17 2009-09-22 Tektronix, Inc. Probing adapter for a signal acquisition probe having pivoting, compliant, variable spacing probing tips
KR200448808Y1 (ko) * 2007-12-18 2010-05-24 파인텍 씨오., 엘티디. 변환기용 보호 케이싱
US20100073018A1 (en) * 2008-09-23 2010-03-25 Tektronix, Inc. Adjustable probe head
USD737979S1 (en) 2008-12-09 2015-09-01 Covidien Lp ECG electrode connector
US8694080B2 (en) 2009-10-21 2014-04-08 Covidien Lp ECG lead system
US8963568B2 (en) 2010-03-31 2015-02-24 Tektronix, Inc. Resistive probing tip system for logic analyzer probing system
CA2746944C (en) 2010-07-29 2018-09-25 Tyco Healthcare Group Lp Ecg adapter system and method
US8643396B2 (en) 2011-05-31 2014-02-04 Tektronix, Inc. Probing tip for a signal acquisition probe
EP2734106B1 (en) 2011-07-22 2019-09-18 Kpr U.S., Llc Ecg electrode connector
US8634901B2 (en) 2011-09-30 2014-01-21 Covidien Lp ECG leadwire system with noise suppression and related methods
CN103163338B (zh) * 2011-12-14 2016-04-06 北京普源精电科技有限公司 一种具有屏蔽罩的探头
EP2687858B1 (en) 2012-07-19 2019-01-23 Tektronix, Inc. Probing tip for a signal acquisition probe
CN103575943B (zh) * 2012-07-31 2018-08-03 特克特朗尼克公司 信号获取探针的探查端头
US9255654B2 (en) 2012-09-14 2016-02-09 United Technologies Corporation Hard lead egress adapter for an instrumentation component
JP2014106019A (ja) * 2012-11-26 2014-06-09 Stack Electronics Co Ltd プローブ
US9261535B2 (en) * 2013-03-13 2016-02-16 SanDisk Technologies, Inc. Active probe adaptor
US9408546B2 (en) 2013-03-15 2016-08-09 Covidien Lp Radiolucent ECG electrode system
CN105120742B (zh) 2013-03-15 2017-07-28 柯惠有限合伙公司 具有导电部件的电极连接器
USD771818S1 (en) 2013-03-15 2016-11-15 Covidien Lp ECG electrode connector
US9188606B2 (en) 2013-04-29 2015-11-17 Keysight Technologies, Inc. Oscilloscope current probe with interchangeable range and sensitivity setting modules
CN107623219A (zh) * 2016-07-14 2018-01-23 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器组件、电子装置组合及外部设备
US10663486B2 (en) * 2017-02-06 2020-05-26 International Business Machines Corporation Portable electrical noise probe structure
US10886588B2 (en) 2018-09-26 2021-01-05 Keysight Technologies, Inc. High dynamic range probe using pole-zero cancellation
US20220011361A1 (en) * 2020-07-08 2022-01-13 Tektronix, Inc. Securing a probe to a device under test
WO2023009077A1 (en) * 2021-07-26 2023-02-02 Minkon Tekstil Sanayi Ve Dis Ticaret Limited Sirketi Twin-probe electrical tester used in high-voltage transmission lines

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5334931A (en) * 1991-11-12 1994-08-02 International Business Machines Corporation Molded test probe assembly
US20040008046A1 (en) * 2000-07-31 2004-01-15 Lecroy Corporation Cartridge system for a probing head for an electrical test probe

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH075201A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Yokogawa Electric Corp プローブ
US6466000B1 (en) * 2000-05-31 2002-10-15 Tektronix, Inc. Replaceable probe tip holder and measurement probe head
US6603297B1 (en) * 2000-08-21 2003-08-05 Tektronix, Inc. Probe tip adapter for a measurement probe
US6400167B1 (en) * 2000-08-21 2002-06-04 Tektronix, Inc. Probe tip adapter for a measurement probe
US6704670B2 (en) * 2002-04-16 2004-03-09 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods for wideband active probing of devices and circuits in operation

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5334931A (en) * 1991-11-12 1994-08-02 International Business Machines Corporation Molded test probe assembly
US20040008046A1 (en) * 2000-07-31 2004-01-15 Lecroy Corporation Cartridge system for a probing head for an electrical test probe

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JP4575838B2 (ja) 2010-11-04
US7056134B2 (en) 2006-06-06

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