KR101145915B1 - Paticle Measurement Apparatus with Cascade Impacter Module - Google Patents
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Abstract
본 발명은 다단 임팩터 모듈을 구비한 입자 측정 장치에 관한 것으로, 다단 임팩터 모듈에 의해 외부 공간의 입자를 강제 흡입하여 일정 흐름을 유도하고 흡입되어 유동하는 입자와 충돌하여 발생하는 산란광을 이용하여 입자의 분포 상태를 실시간으로 측정할 수 있고, 아울러 내부로 흡입된 입자를 다단 임팩터 모듈을 통해 크기에 따라 단계적으로 포집하여 입자에 대한 성분 분석을 종류별로 분리하여 수행할 수 있게 하는 입자 측정 장치를 제공한다.The present invention relates to a particle measuring device having a multi-stage impactor module, which induces a constant flow by forcibly sucking particles in an external space by the multi-stage impactor module and using the scattered light generated by collision with particles that are sucked and flow. Provides a particle measuring device that can measure the distribution state in real time, and collects the particles sucked into the inside step by step through the multi-stage impactor module to separate the component analysis of the particles by type. .
Description
본 발명은 다단 임팩터 모듈을 구비한 입자 측정 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 다단 임팩터 모듈에 의해 외부 공간의 입자를 강제 흡입하여 일정 흐름을 유도하고 흡입되어 유동하는 입자와 충돌하여 발생하는 산란광을 이용하여 입자의 분포 상태를 실시간으로 측정할 수 있고, 아울러 내부로 흡입된 입자를 다단 임팩터 모듈을 통해 크기에 따라 단계적으로 포집하여 입자에 대한 성분 분석을 종류별로 분리하여 수행할 수 있게 하는 입자 측정 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a particle measuring device having a multi-stage impactor module. More specifically, the multi-stage impactor module forcibly sucks particles in the outer space to induce a certain flow and measure the distribution state of the particles in real time using scattered light generated by collision with the particles which are sucked and flow. The present invention relates to a particle measuring apparatus that collects particles sucked into a step by step through a multi-stage impactor module and performs component analysis of particles by type.
일반적으로 반도체 공정이나 LCD 공정과 같은 나노 수준의 고도 정밀 공정은 작업 설비 내에 오염 입자가 발생하게 되면, 치명적인 제품 불량으로 이어질 수 있으므로, 고도의 청결 상태가 유지될 수 있도록 클린룸과 같은 청정 설비 내에서 공정이 진행되고 있으며 이러한 설비에서는 오염 입자에 대한 실시간 감시 또한 매우 엄격하게 이루어지고 있다.In general, nano-level high precision processes such as semiconductor processes and LCD processes can lead to fatal product defects if contaminants are generated in the work facility. Therefore, in a clean facility such as a clean room, a high level of cleanliness can be maintained. The process is underway and real-time monitoring of contaminated particles is also very strict at these facilities.
따라서, 이러한 설비에서는 설비 내의 오염 입자 측정을 위한 별도의 입자 측정 장치가 사용되고 있으며, 이러한 입자 측정 장치를 통해 실시간으로 설비 내의 특정 챔버에 대한 입자 분포 상태가 측정되고 있다.Therefore, in such a facility, a separate particle measuring device for measuring polluted particles in the facility is used, and the particle distribution state of a specific chamber in the facility is measured in real time through the particle measuring device.
이러한 입자 측정 장치는 임의의 측정 챔버 내의 입자의 분포 상태, 즉 입자의 크기 및 개수 등을 측정하는 것으로, 클린룸 설비 이외에도 대기 오염 입자의 분포 상태를 측정하거나 실험실 등에서 특정 입자의 분포 상태를 측정하기 위해 사용되는 등 매우 다양한 분야에 널리 사용되고 있다.Such a particle measuring device measures the distribution state of particles in an arbitrary measurement chamber, that is, the size and number of particles, and the like to measure the distribution state of air pollutant particles in addition to the clean room equipment or to measure the distribution state of specific particles in a laboratory or the like. It is widely used in a variety of fields, such as used for.
입자 측정 장치의 종류는 측정 가능한 입자의 크기 또는 측정 방식 등에 따라 다양하게 분류되는데, 통상 나노 수준의 입자를 측정하기 위한 입자 측정 장치로는 빛을 이용한 방식으로 광 산란 방식과 광 흡수 방식으로 크게 대별된다.The type of particle measuring device is classified into various types according to the size of the particle or the measuring method. The particle measuring device for measuring nano-level particles is generally classified into light scattering and light absorption by light. do.
광 산란 방식은 측정 챔버 내에 광을 입사한 후 측정 챔버 내부 공간에서 유동하는 입자와의 충돌에 의해 발생되는 산란광을 검출하여 입자의 크기 및 개수를 파악하는 방식이고, 광 흡수 방식은 측정 챔버 내에 광을 입사한 후 측정 챔버 내부 공간에서 유동하는 입자에 의해 흡수되는 광량을 검출하여 입자의 크기 및 개수를 파악하는 방식이며, 이 두가지 방식의 입자 측정 장치는 사용자의 필요에 따라 선택적으로 널리 사용되고 있다. The light scattering method detects scattered light generated by collision with particles flowing in the space inside the measuring chamber after incident light into the measuring chamber and determines the size and number of particles. It is a method of determining the size and number of particles by detecting the amount of light absorbed by the particles flowing in the measurement chamber after entering the light, the two types of particle measuring device is selectively used widely according to the needs of the user.
이 중 광 산란 방식의 입자 측정 장치의 원리를 좀 더 자세히 살펴보면, 측정 챔버 내에 하나의 초점을 형성하도록 입사광을 발생시키고, 이러한 입사광과 입사광의 초점 영역을 통과하는 입자와의 충돌에 의해 발생하는 산란광을 검출하여 입자의 크기 및 개수를 측정하게 된다. 일반적으로 입자의 크기가 0.05μm 내지 4μm 인 경우, 입자의 크기는 입자 크기와 빛의 세기와의 관계를 규명하는 Mie 이론을 적용하여 이론적으로 산출할 수 있는데, 일반적인 광 산란 방식 입자 측정 장치는 이와 같이 이론적으로 산출되는 산란광의 인텐서티와 실제 측정된 산란광의 인텐서티 값을 비교하여 입자의 크기 및 개수를 측정하도록 구성된다.Looking more closely at the principle of the light scattering particle measuring apparatus, the incident light is generated to form a focal point in the measurement chamber, and the scattered light generated by the collision of the incident light with particles passing through the focal region of the incident light By detecting the size and number of particles is measured. In general, when the particle size is 0.05μm to 4μm, the particle size can be theoretically calculated by applying the Mie theory to determine the relationship between the particle size and the light intensity. Likewise, the intensity and the number of particles are measured by comparing the intensity of the scattered light theoretically calculated with the intensity value of the scattered light actually measured.
그러나 이러한 입자 측정 장치는 그 구조상 일정한 방향의 공기 흐름이 발생하는 곳에 주로 적용되고 있으며, 공기 흐름이 정체된 특정 공간에서 입자의 분포 상태를 파악하는 것이 용이하지 않고, 특히 이러한 특정 공간에서 입자의 분포 상태를 영역별로 분리해서 측정하는 것은 더욱 용이하지 않다는 문제가 있었다. 따라서, 클린룸 설비의 내부에 각종 기계 장치 등에 의해 특정 영역에서 먼지 입자가 많이 발생될 수 있는데, 종래 기술에 의한 일반적인 입자 측정 장치는 입자의 분포 상태를 영역별로 분리 측정하기가 어렵기 때문에, 이러한 클린룸 설비 내에서 오염 입자 발생의 집중 영역을 찾아내는 것이 어렵다는 문제가 있었다. 또한, 이러한 입자 측정 장치를 이용하는 경우 입자의 분포 상태만을 측정할 수 있을 뿐 입자를 포집하여 성분 분석을 할 수 없으므로, 그 분석 활용 범위가 제한된다는 문제가 있었다.
However, such a particle measuring device is mainly applied where air flow in a constant direction occurs in its structure, and it is not easy to grasp the distribution state of particles in a specific space where the air flow is stagnant, and in particular, the distribution of particles in this specific space. There is a problem that it is not easy to measure the state separately by region. Therefore, a large number of dust particles may be generated in a specific area by various mechanical devices, etc. in the interior of the clean room facility. In the conventional particle measuring apparatus according to the prior art, it is difficult to separate and measure the distribution state of the particles for each area. There was a problem that it was difficult to find a concentrated area of contaminant generation in a clean room facility. In addition, in the case of using such a particle measuring device, only the distribution state of the particles can be measured, but since the particles cannot be collected and the component analysis is performed, there is a problem that the scope of the analysis is limited.
본 발명은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 발명한 것으로서, 본 발명의 목적은 다단 임팩터 모듈에 의해 외부 공간의 입자를 강제 흡입하여 일정 흐름을 유도하고 흡입되어 유동하는 입자와 충돌하여 발생하는 산란광을 이용하여 입자의 분포 상태를 실시간으로 측정할 수 있고, 아울러 내부로 흡입된 입자를 다단 임팩터 모듈을 통해 크기에 따라 단계적으로 포집하여 입자에 대한 성분 분석을 종류별로 분리하여 수행할 수 있게 하는 입자 측정 장치를 제공하는 것이다.The present invention is invented to solve the problems of the prior art, an object of the present invention is to induce a certain flow by forcibly sucking particles in the outer space by the multi-stage impactor module and to scatter scattered light generated by collision with the particles that are sucked and flows Particle measurement can be used to measure the distribution state of particles in real time, and to collect the particles sucked into the interior step by step through the multi-stage impactor module to separate the component analysis of the particles by type. To provide a device.
본 발명의 다른 목적은 내부로 흡입된 입자를 포집하는 포집 블록을 내부 공간에 배치함으로써 포집 효율을 향상시키고 이에 따라 포집된 입자에 대한 성분 분석을 더욱 정확하게 수행할 수 있는 입자 측정 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a particle measuring apparatus capable of improving the collection efficiency and thus performing component analysis on the collected particles more accurately by placing a collecting block for collecting particles sucked into the interior space. .
본 발명의 또 다른 목적은 내부로 흡입된 입자를 포집하는 포집 블록을 박판 형태가 아닌 블록의 형태로 구성함으로써, 포집 블록을 임팩터 모듈로부터 용이하게 분리할 수 있고, 분리 과정에서 포집 블록에 대한 손상 및 포집 입자에 대한 손실이 방지되어 더욱 정확한 입자 성분 분석 결과를 제공할 수 있고 아울러 포집 블록의 반복 사용이 가능하여 측정 비용을 절감할 수 있는 입자 측정 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to configure the collecting block for trapping the particles sucked into the inside of the form of a block rather than a thin plate, it is possible to easily separate the collecting block from the impactor module, damage to the collecting block in the separation process And it is to provide a particle measuring device that can prevent the loss of the trapped particles to provide a more accurate particle component analysis results, and it is possible to repeat the use of the collecting block to reduce the measurement cost.
본 발명의 다른 목적은 공기의 흐름이 없는 공간에서도 입자를 강제 흡입하여 입자의 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 다양한 공간에서 실시간으로 해당 공간의 오염 입자 분포 상태를 파악할 수 있고, 특히, 클린룸 설비와 같은 경우 클린룸 설비 내부 공간의 다양한 지점에서 입자 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 클린룸 설비 내부 공간에서 특정 오염 발생원을 찾아내는데 유용하게 활용될 수 있는 입자 측정 장치를 제공하는 것이다.
Another object of the present invention is to determine the distribution state of particles in a real time in a variety of space, because the forced distribution of particles in the space without air flow can be measured, in particular, clean room In the case of a facility, since the particle distribution state can be measured at various points in the space inside the clean room facility, the present invention provides a particle measuring device that can be usefully used to find specific sources of contamination in the space inside the clean room facility.
본 발명은, 산란광을 이용하여 입자의 분포 상태를 측정하는 입자 측정 장치에 있어서, 내부 공간에 옵틱 챔버가 형성되고, 상기 옵틱 챔버에 연통되도록 입자 유동 유로가 관통 형성되는 케이스; 상기 케이스에 장착되어 외부 공간에 부유하는 입자가 상기 입자 유동 유로를 통과하여 상기 옵틱 챔버로 유입되도록 입자를 흡입하는 다단 임팩터 모듈; 상기 옵틱 챔버 내에 초점이 형성되도록 입사광을 발생시키는 광 발생부; 및 상기 입사광과 상기 입사광의 초점 영역을 통과하는 입자와의 충돌에 의해 발생되는 산란광을 수광 검출하는 광 검출부를 포함하고, 상기 다단 임팩터 모듈은 상기 옵틱 챔버에 유입된 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집할 수 있도록 형성되는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a particle measuring apparatus for measuring a distribution state of particles using scattered light, comprising: a case in which an optical chamber is formed in an inner space and a particle flow passage is formed to communicate with the optical chamber; A multi-stage impactor module mounted on the case to suck particles to flow into the optical chamber through the particle flow path; A light generator configured to generate incident light to form a focal point in the optical chamber; And a light detector configured to receive and detect scattered light generated by collision between the incident light and particles passing through the focal region of the incident light, wherein the multi-stage impactor module gradually collects particles introduced into the optical chamber according to size. It provides a particle measuring device characterized in that it is formed to be.
이때, 상기 다단 임팩터 모듈은 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입 선별하는 상부 모듈; 상기 옵틱 챔버와 연통되게 장착되어 상기 상부 모듈에 의해 선별된 입자가 상기 입자 유동 유로를 통해 상기 옵틱 챔버로 유입되도록 입자를 흡입함과 동시에 상기 옵틱 챔버로 유입된 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집하는 하부 모듈; 및 상기 상부 모듈 및 하부 모듈을 통해 입자가 흡입되도록 상기 상부 모듈 및 하부 모듈에 각각 결합되는 흡입 펌프를 포함하여 구성될 수 있다.In this case, the multi-stage impactor module includes an upper module for suction-selecting particles suspended in an external space; It is mounted in communication with the optical chamber and sucks the particles so that the particles selected by the upper module flows into the optical chamber through the particle flow flow path and at the same time to collect the particles introduced into the optical chamber in accordance with the size Lower module; And a suction pump respectively coupled to the upper module and the lower module such that particles are sucked through the upper module and the lower module.
또한, 상기 상부 모듈은 중공의 원통형으로 상기 케이스에 밀봉 결합되며 일측에는 상기 흡입 펌프와 연결되도록 상부 흡입 포트가 형성되는 상부 메인 파이프; 상기 상부 메인 파이프의 상단에 밀봉 결합되며 외부로부터 입자가 유입될 수 있도록 흡입 유로가 형성되는 인렛 블록; 및 상기 인렛 블록의 하부에 위치하도록 상기 상부 메인 파이프의 내부에 배치되며 상기 흡입 유로를 통해 유입된 입자가 관성력에 따라 선택적으로 통과할 수 있도록 노즐 유로 및 상부 유동홀이 각각 형성되는 노즐 블록을 포함하고, 상기 노즐 블록은 상기 노즐 유로가 상기 입자 유동 유로의 일단에 연통되도록 상기 케이스에 밀봉 결합될 수 있다.In addition, the upper module is a hollow cylindrical sealing coupling to the case and one side is the upper main pipe is formed in the upper suction port to be connected to the suction pump; An inlet block sealingly coupled to an upper end of the upper main pipe and having a suction passage formed to allow particles to be introduced from the outside; And a nozzle block disposed inside the upper main pipe to be positioned below the inlet block, and having a nozzle flow path and an upper flow hole formed therein to selectively pass particles introduced through the suction flow path according to the inertia force. The nozzle block may be sealingly coupled to the case such that the nozzle passage communicates with one end of the particle flow passage.
또한, 상기 하부 모듈은 상기 케이스에 밀봉 결합되며 상단 중심부에는 입자를 포집할 수 있는 포집 블록이 상기 옵틱 챔버 내부에 위치하도록 장착되고 중심부의 주변 둘레에는 입자가 통과할 수 있도록 상기 옵틱 챔버와 연통되는 입자 유동홀이 형성되는 하부 연결 홀더; 내부 공간이 상기 하부 연결 홀더의 내부 공간과 연통되도록 상기 하부 연결 홀더의 하단에 순차적으로 밀봉 결합되며 각각 입자를 크기에 따라 포집할 수 있도록 형성되는 적어도 하나 이상의 포집 모듈; 및 상기 포집 모듈과 연통되도록 상기 포집 모듈의 하단에 밀봉 결합되며 일측에는 상기 흡입 펌프와 연결되도록 하부 흡입 포트가 형성되는 하부 메인 블록을 포함하여 구성될 수 있다.In addition, the lower module is hermetically coupled to the case, the upper center portion is equipped with a collecting block capable of collecting particles located inside the optical chamber and in communication with the optical chamber to allow particles to pass around the periphery of the central portion. A lower connection holder having a particle flow hole formed therein; At least one collecting module sequentially sealed to a lower end of the lower connecting holder such that an inner space is in communication with an inner space of the lower connecting holder, and configured to collect particles according to size; And a lower main block sealingly coupled to a lower end of the collecting module so as to communicate with the collecting module and having a lower suction port formed at one side thereof to be connected to the suction pump.
이때, 상기 포집 모듈은 내부 공간으로 유입된 입자가 중심부로 가이드되며 통과하도록 인렛홀이 형성되는 가이드 블록; 및 상기 가이드 블록의 하단에 결합되며 중심부에 입자를 포집할 수 있는 포집 블록이 장착되고 중심부의 주변 둘레에는 입자가 통과할 수 있는 입자 유동홀이 형성되는 임팩터 플레이트를 포함하고, 각각의 상기 포집 모듈은 상기 인렛홀 또는 입자 유동홀의 입자 흐름 방향에 대한 수직 단면적의 크기가 각각 다르게 형성될 수 있다.At this time, the collection module is a guide block in which the inlet hole is formed so that the particles introduced into the inner space is guided through the center; And an impactor plate coupled to a lower end of the guide block and equipped with a collecting block capable of collecting particles at a central portion thereof, and a particle flow hole formed at a peripheral circumference of the central portion, through which particles can pass, respectively. The size of the vertical cross-sectional area with respect to the particle flow direction of the inlet hole or the particle flow hole may be formed differently.
또한, 상기 하부 연결 홀더의 상단 중심부 및 상기 임팩터 플레이트의 상단 중심부에는 상향 돌출되는 결합 돌기가 형성되고, 상기 포집 블록의 하부면에는 상기 결합 돌기가 삽입될 수 있는 결합홈이 형성되어, 상기 결합 돌기 및 결합홈에 의해 상기 포집 블록이 상기 하부 연결 홀더 및 임팩터 플레이트에 탈착 가능하게 삽입 결합될 수 있다.
In addition, a coupling protrusion protruding upward is formed at an upper center portion of the lower connection holder and an upper center portion of the impactor plate, and a coupling groove into which the coupling protrusion is inserted is formed at a lower surface of the collection block. And the collection block may be detachably inserted into the lower connection holder and the impactor plate by a coupling groove.
본 발명에 의하면, 다단 임팩터 모듈에 의해 외부 공간의 입자를 강제 흡입하여 일정 흐름을 유도하고 흡입되어 유동하는 입자와 충돌하여 발생하는 산란광을 이용하여 입자의 분포 상태를 실시간으로 측정할 수 있고, 아울러 내부로 흡입된 입자를 다단 임팩터 모듈을 통해 크기에 따라 단계적으로 포집하여 입자에 대한 성분 분석을 종류별로 분리하여 수행할 수 있게 하는 효과가 있다.According to the present invention, the multi-stage impactor module forcibly sucks particles in the outer space to induce a certain flow and measure the distribution state of the particles in real time using scattered light generated by collision with the particles which are sucked and flow. Particles sucked into the interior are collected step by step through the multi-stage impactor module to effect component analysis on the particles.
또한, 내부로 흡입된 입자를 포집하는 포집 블록을 내부 공간에 배치함으로써 포집 효율을 향상시키고 이에 따라 포집된 입자에 대한 성분 분석을 더욱 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.In addition, by arranging the collecting block for collecting the particles sucked into the interior space, there is an effect that can improve the collection efficiency and thereby more accurately perform component analysis on the collected particles.
또한, 내부로 흡입된 입자를 포집하는 포집 블록을 박판 형태가 아닌 블록의 형태로 구성함으로써, 포집 블록을 임팩터 모듈로부터 용이하게 분리할 수 있고, 분리 과정에서 포집 블록에 대한 손상 및 포집 입자에 대한 손실이 방지되어 더욱 정확한 입자 성분 분석 결과를 제공할 수 있고 아울러 포집 블록의 반복 사용이 가능하여 측정 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.In addition, by configuring the collecting block for collecting the particles sucked into the inside of the form of a block rather than a thin plate, it is possible to easily separate the collecting block from the impactor module, and in the process of separation The loss is prevented, providing more accurate particle component analysis results and the repeated use of the capture block, which reduces the cost of measurement.
또한, 공기의 흐름이 없는 공간에서도 입자를 강제 흡입하여 입자의 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 다양한 공간에서 실시간으로 해당 공간의 오염 입자 분포 상태를 파악할 수 있고, 특히, 클린룸 설비와 같은 경우 클린룸 설비 내부 공간의 다양한 지점에서 입자 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 클린룸 설비 내부 공간에서 특정 오염 발생원을 찾아내는데 유용하게 활용될 수 있는 효과가 있다.
In addition, since the particle distribution state can be measured by forcibly inhaling the particle even in a space without air flow, it is possible to grasp the distribution state of contaminant particles in the space in real time in various spaces, especially in a clean room installation. Since the particle distribution state can be measured at various points in the space inside the clean room facility, there is an effect that can be usefully used to find a specific pollution source in the space inside the clean room facility.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 형상을 개략적으로 도시한 사시도,
도 2는 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 형상을 개략적으로 도시한 사시도,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 구조를 개략적으로 도시한 분해사시도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 내부 구조를 개략적으로 도시한 단면도,
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 산란광 진행 과정을 개념적으로 도시한 단면도,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 다단 임팩터 모듈에 의한 입자 흐름 과정을 개념적으로 도시한 단면도이다.1 is a perspective view schematically showing the shape of a particle measuring device according to an embodiment of the present invention;
Figure 2 is a perspective view schematically showing the shape of the particle measuring device according to another embodiment of the present invention,
3 is an exploded perspective view schematically showing the structure of a particle measuring device according to an embodiment of the present invention;
4 is a cross-sectional view schematically showing the internal structure of a particle measuring device according to an embodiment of the present invention;
5 is a cross-sectional view conceptually illustrating a process of scattered light of a particle measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention;
6 is a cross-sectional view conceptually illustrating a particle flow process by a multi-stage impactor module of a particle measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. First of all, in adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same reference numerals are used as much as possible even if displayed on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
도 1 및 도 2는 본 발명의 서로 다른 실시예에 따른 입자 측정 장치의 형상을 개략적으로 도시한 사시도이고, 도 3 및 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 구조를 개략적으로 도시한 분해사시도 및 단면도이고, 도 5 및 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치의 산란광 진행 과정 및 다단 임팩터 모듈에 의한 입자 흐름 과정을 개념적으로 도시한 단면도이다.1 and 2 are perspective views schematically showing the shape of the particle measuring apparatus according to different embodiments of the present invention, Figures 3 and 4 schematically show the structure of the particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention 5 and 6 are cross-sectional views schematically illustrating a scattering light process and a particle flow process by a multi-stage impactor module of the particle measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 특정 공간에 부유하는 입자를 흡입하여 흡입된 입자와 입사광(I)과의 충돌에 의해 발생하는 산란광(S)을 검출하는 방식으로 특정 공간 내의 영역별로 존재하는 입자의 분포 상태, 즉 입자의 크기 및 개수를 측정하는 장치로서, 케이스(100)와, 케이스(100) 내부로 유입되도록 입자를 흡입하는 다단 임팩터 모듈(200)과, 케이스(100)의 내부 공간에 연통되게 장착되는 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 포함하여 구성된다.The particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention sucks particles suspended in a specific space and detects scattered light S generated by collision between the sucked particles and the incident light I. An apparatus for measuring the distribution state of the existing particles, that is, the size and number of particles, the
이때, 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)는 도 1에 도시된 바와 같이 일직선상에 배치되는 형태로 케이스(100)의 양단부에 장착될 수 있으나, 도 2에 도시된 바와 같이 서로 직각 배치되는 형태로 케이스(100)에 장착될 수도 있으며, 서로 특정 각도를 이루도록 배치될 수도 있다. 이러한 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)는 입자와의 충돌에 의해 발생하는 산란광(S)이 사방으로 발생하기 때문에 상호 다양한 배치 상태가 가능한데, 이하에서는 설명의 편의를 위해 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)가 서로 일직선 상에 배치되는 도 1에 도시된 구조를 중심으로 설명한다.In this case, the
케이스(100)는 내부 공간에 옵틱 챕버(C)가 형성되며, 이러한 옵틱 챕버(C)의 양측단에 광 발생부(300)와 광 검출부(400)가 각각 연통되게 장착된다. 또한, 케이스(100)에는 옵틱 챕버(C)에 연통되도록 입자 유동 유로(101)가 관통 형성되며, 이때, 입자 유동 유로(101)는 옵틱 챔버(C)의 중심 또는 중심축을 향하는 방향으로 형성되는 것이 바람직하다.In the
다단 임팩터 모듈(200)은 케이스(100)에 장착되어 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입하는데, 이때 흡입되는 입자가 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)를 통과하여 옵틱 챔버(C)로 유입되도록 구성된다. 이러한 다단 임팩터 모듈(200)은 공기 중에 부유하는 입자를 흡입 포집하기 위한 장치로 일반적으로 내부에 입자를 흡입할 수 있는 유로가 형성되고 이러한 유로의 일단에 흡입 펌프가 장착되며 별도의 포집판이 구비되어 입자를 포집하는 방식으로 구성되는데, 본 발명의 일 실시예에 따른 다단 임팩터 모듈(200)은 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입하여 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)를 통해 옵틱 챔버(C) 내부로 유입시키고, 옵틱 챔버(C) 내부로 유입된 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집할 수 있도록 형성된다. 즉, 다단 임팩터 모듈(200)은 본 발명의 일 실시예에 따라 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입하여 옵틱 챔버(C)로 유입시키는 상부 모듈(U)과, 옵틱 챔버(C)로 유입된 입자를 흡입하여 크기에 따라 단계적으로 포집하는 하부 모듈(L)로 분리 형성될 수 있는데, 이러한 다단 임팩터 모듈의 구성에 대한 상세한 설명은 후술한다.The
광 발생부(300)는 옵틱 챔버(C)의 내부 공간에 초점(F)이 형성되도록 입사광(I)을 발생시키는 장치로, 옵틱 챔버(C)에 연통되게 장착되는데, 입사광(I)으로 레이저 광이 적용될 수 있도록 레이저 다이오드(320)와, 레이저 다이오드(320)로부터 발생된 레이저 광을 포커싱하는 포커싱 렌즈(330)를 포함하여 구성될 수 있다. 레이저 다이오드(320)로부터 발생된 레이저 광은 일정 크기의 방출 각도를 가지며, 이러한 레이저 광은 포커싱 렌즈(330)를 통해 포커싱되며 옵틱 챕버(C) 내부 공간의 특정 지점에 초점(F)을 형성한다. 이때, 포커싱 렌즈(330)는 다수개 장착될 수 있으며, 옵틱 챔버(C)의 형상 및 포커싱 거리 등 측정 조건에 따라 포커싱 렌즈(330)의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 입사광(I)의 초점(F) 위치는 옵틱 챕버(C) 내부 공간에 형성되도록 구성되는데, 이때 옵틱 챕버(C)를 관통하는 입자 유동 유로(101)의 연장된 경로 상에 형성되도록 구성된다. The
한편, 광 발생부(300)는 이러한 레이저 다이오드(320)와 포커싱 렌즈(330)를 수용 장착할 수 있도록 옵틱 챕버(C)에 연통되게 케이스(100)에 장착되는 광 발생부 경통(310)을 더 포함할 수 있으며, 이러한 광 발생부 경통(310) 내부 공간이 옵틱 챕버(C)와 분리 구획될 수 있도록 별도의 진공 윈도우(340)가 더 구비될 수 있다. 즉, 광 발생부(300)는 옵틱 챕버(C)와 연통되는 광 발생부 경통(310)의 내부 공간에 레이저 다이오드(320)와 포커싱 렌즈(330)가 배치되고, 이러한 광 발생부 경통(310)의 내부 공간이 진공 윈도우(340)에 의해 분리 구획됨으로써, 옵틱 챕버(C) 내부 유동 입자에 의한 광 발생부(300) 내부 공간의 오염이 방지되어 더욱 정확한 측정값을 얻을 수 있다.On the other hand, the
광 검출부(400)는 광 발생부(300)에 의해 발생된 입사광(I)과 입사광(I)의 초점(F) 영역을 통과하는 입자와의 충돌에 의해 발생되는 산란광(S)을 수광하여 검출한다. 산란광(S)은 입자로부터 모든 방향으로 발생되기 때문에, 광 검출부(400)는 이러한 산란광(S)의 일부를 집광하여 검출할 수 있도록 산란광(S)을 집광하는 집광 렌즈(430)와, 집광 렌즈(430)에 의해 집광된 산란광(S)을 검출하는 검출 센서(420)를 포함하여 구성된다. 따라서, 입사광(I)이 입자와 충돌하여 산란광(S)이 발생하면, 산란광(S) 중 일부는 집광 렌즈(430)에 의해 집광되어 검출 센서(420)로 전송되며, 검출 센서(420)에 의해 산란광(S)의 인텐서티가 측정된다. 이와 같이 측정된 산란광(S)의 인텐서티는 별도의 연산부(미도시)를 통해 Mie 이론 등을 적용한 이론적인 값과 비교하여 입자의 크기를 연산 측정한다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 입자가 입자 유동 유로(101)의 경로를 따라 옵틱 챔버(C) 내부에서 일정한 방향으로 유동하는 경우, 입자가 입사광(I)의 초점(F) 영역을 통과할 때마다 산란광(S)이 발생하게 되므로, 연산부는 이러한 산란광(S) 발생 횟수를 통해 입자의 개수를 연산 측정한다.The
한편, 광 검출부(400) 또한 광 발생부(300)와 마찬가지 방식으로 집광 렌즈(430)와 검출 센서(420)를 내부에 수용 장착하는 광 검출부 경통(410)을 더 포함하며, 이러한 광 검출부 경통(410) 내부 공간이 옵틱 챕버(C)와 분리 구획될 수 있도록 별도의 진공 윈도우(450)가 더 구비될 수 있다. 이러한 구조를 통해 광 검출부 경통(410)의 내부 공간은 옵틱 챕버(C)의 내부 유동 입자에 의한 오염이 방지되어 더욱 정확한 측정값을 얻을 수 있다.Meanwhile, the
이상에서 설명한 구조에 따라 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 외부 공간의 입자를 흡입하고, 흡입되어 유동하는 입자에 대해 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 통해 입자의 분포 상태를 측정할 수 있는 구조이다. 즉, 공기의 흐름이 없는 공간에서도 입자를 강제 흡입하여 입자의 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 다양한 공간에서 실시간으로 해당 공간의 오염 입자 분포 상태를 파악할 수 있고, 특히, 클린룸 설비와 같은 경우 클린룸 설비 내부 공간의 다양한 지점에서 입자 분포 상태를 측정할 수 있기 때문에, 클린룸 설비 내부 공간에서 특정 오염 발생원을 찾아내는데 유용하게 활용될 수 있을 것이다.According to the structure described above, the particle measuring apparatus according to the exemplary embodiment of the present invention sucks particles in an external space by the
다시 말하면, 일반적인 입자 측정 장치는 클린룸 설비의 전체 공간에 대한 평균적인 입자 분포 상태만을 파악할 수밖에 없는데 반해, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 클린룸 설비 내부 공간의 다양한 영역에서 각각 실시간으로 입자의 분포 상태를 파악할 수 있는 구조이다. In other words, the general particle measuring device can only grasp the average particle distribution state of the entire space of the clean room equipment, whereas the particle measuring device according to an embodiment of the present invention is a real time in various areas of the interior space of the clean room equipment. It is a structure that can grasp the distribution state of particles.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 옵틱 챔버(C) 내부로 유입되어 일정한 방향으로 유동하는 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집할 수 있다. 즉, 외부에 부유하는 입자는 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 흡입되어 입자 유동 유로(101) 방향으로 옵틱 챔버(C)를 관통하도록 유동하게 되는데, 이러한 과정에서 전술한 바와 같이 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 통해 입자의 분포 상태를 측정할 수 있고, 이와는 별개로 이와 같이 유동하는 입자가 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 크기에 따라 단계적으로 포집될 수 있도록 구성된다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 통해 특정 공간에서의 입자 분포 상태를 측정하는 기능 이외에도 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 포집된 입자를 이용하여 특정 공간에서 발생하는 입자에 대한 성분 분석 등 입자에 대한 정성적 분석이 가능하며, 아울러 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 통해 측정된 입자 분포 상태에 대한 검증 작업도 가능하다.
In addition, the particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention may collect the particles flowing into the optical chamber C by the
다음으로, 외부 공간에 부유하는 입자를 옵틱 챔버(C)로 흡입하여 포집할 수 있는 다단 임팩터 모듈(200)의 구조에 대해 좀 더 자세히 살펴본다.Next, the structure of the
본 발명의 일 실시예에 따른 다단 임팩터 모듈(200)은 케이스(100)의 양측에 각각 장착되는 상부 모듈(U) 및 하부 모듈(L)과, 흡입 펌프(미도시)를 포함하여 구성될 수 있는데, 상부 모듈(U)은 입자 유동 유로(101)의 일단에 연통되게 장착되어 일정 크기 이상의 입자만 입자 유동 유로(101)를 통과하도록 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입 선별할 수 있도록 구성되고, 하부 모듈(L)은 옵틱 챔버(C)와 연통되게 장착되어 상부 모듈(U)에 의해 선별된 입자가 입자 유동 유로(101)를 통해 옵틱 챔버(C)로 유입되도록 입자를 흡입함과 동시에 옵틱 챔버(C)로 유입된 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집할 수 있도록 구성된다. 흡입 펌프는 이러한 상부 모듈(U) 및 하부 모듈(L)에 각각 결합되어 상부 모듈(U) 및 하부 모듈(L)을 통해 각각 입자가 흡입될 수 있도록 구성되며, 팬의 회전에 의해 부압을 형성하여 입자를 흡입하는 방식 등 다양한 방식으로 구성될 수 있다. The
상부 모듈(U)은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 상부 메인 파이프(220), 인렛 블록(210) 및 노즐 블록(230)을 포함하여 구성될 수 있다. 상부 메인 파이프(220)는 중공의 원통형으로 케이스(100)에 밀봉 결합되며 일측에는 흡입 펌프와 연결되도록 상부 흡입 포트(221)가 형성된다. 인렛 블록(210)은 상부 메인 파이프(220)의 상단에 밀봉 결합되며, 외부로부터 입자가 유입될 수 있도록 흡입 유로(211)가 관통 형성된다. 이때, 흡입 유로(211)는 도 4에 도시된 바와 같이 입자 흡입이 용이하도록 상부가 넓고 하부가 좁은 형태로 형성되는 것이 바람직하다. 노즐 블록(230)은 인렛 블록(210)의 하부에 위치하도록 상부 메인 파이프(220)의 내부에 배치되며, 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)의 일단에 밀봉 결합된다. 이때, 각 구성요소의 밀봉 결합 부위에는 밀봉 결합이 가능하도록 별도의 실링 부재(R)가 개재되거나 또는 각 구성요소에 실링 부재(R)가 일체형으로 형성되는 방식으로 구성될 수 있다.The upper module U may include an upper
한편, 노즐 블록(230)에는 중앙부에 상하 관통 방향으로 노즐 유로(231)가 형성되며, 노즐 유로(231)의 외측에는 상부 유동홀(232)이 관통 형성된다. 상부 유동홀(232)은 상부 흡입 포트(221)와 연통되도록 형성되며, 노즐 유로(231)는 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)에 연통되도록 밀봉 결합된다. 이러한 구조에 따라 인렛 블록(210)의 흡입 유로(211)를 통과한 입자는 유동 관성력에 따라 노즐 유로(231) 또는 상부 유동홀(232)을 선택적으로 통과하게 된다.On the other hand, the
즉, 도 6에 도시된 바와 같이 흡입 펌프가 가동하여 상부 메인 파이프(220)의 상부 흡입 포트(221)를 통해 흡입 압력이 발생하면, 이러한 흡입압력은 노즐 블록(230)의 상부 유동홀(232)을 통해 인렛 블록(210)의 흡입 유로(211)까지 전달되어 외부 공기 및 입자가 흡입 유로(211)를 통해 내부로 유입된다. 유입된 입자는 그 크기 및 중량이 달라 각각 서로 다른 관성력을 갖게 되는데, 이러한 관성력의 차이에 따라 상대적으로 관성력이 큰 입자는 관성력이 유지되어 노즐 블록(230)의 중앙부에 형성된 노즐 유로(231)로 유입되고 상대적으로 관성력이 작은 입자는 노즐 유로(231)의 외측에 형성된 상부 유동홀(232)을 통과하며 상부 흡입 포트(221) 측으로 흡입된다.That is, as shown in FIG. 6, when the suction pump is operated to generate the suction pressure through the
이러한 구조에 따라 외부 공간에 부유하는 입자는 상부 모듈(U)에 의해 흡입됨과 동시에 일정 크기 또는 중량 등을 기준으로 선별되어 노즐 블록(230)의 노즐 유로(231)로 유입되며, 이후 노즐 유로(231)로 유입된 입자는 하부 모듈(L)에 의해 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)로 유입된다.According to this structure, the particles suspended in the external space are sucked by the upper module U and are sorted based on a predetermined size or weight and flow into the
하부 모듈(L)은 하부 연결 홀더(250)와, 적어도 하나 이상의 포집 모듈(260)과, 하부 메인 블록(270)을 포함하여 구성될 수 있다. 하부 연결 홀더(250)는 케이스(100)에 밀봉 결합되며 상단 중심부에는 입자를 포집할 수 있는 포집 블록(240)이 옵틱 챔버(C) 내부에 위치하도록 장착되고 중심부의 주변 둘레에는 입자가 통과할 수 있도록 옵틱 챔버(C)와 연통되는 입자 유동홀(E)이 형성된다. 포집 모듈(260)은 적어도 하나 이상 구비되며, 내부 공간이 하부 연결 홀더(250)의 내부 공간과 연통되도록 하부 연결 홀더(250)의 하단에 순차적으로 밀봉 결합되어 각각의 포집 모듈(260)이 입자를 크기에 따라 포집할 수 있도록 형성된다. 하부 메인 블록(270)은 내부 공간이 포집 모듈(260)과 연통되도록 포집 모듈(260)의 하단에 밀봉 결합되며 일측에는 흡입 펌프와 연결되도록 하부 흡입 포트(271)가 형성된다.The lower module L may include a
좀 더 자세히 살펴보면, 하부 연결 홀더(250)는 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 상층으로 갈수록 외경이 작아지도록 단턱지게 형성되는 원통 형상으로 형성될 수 있으며, 외측면에 형성된 단턱부(251)가 케이스(100)에 맞물림되는 방식으로 케이스(100)에 삽입되어 밀봉 결합된다. 이때, 하부 연결 홀더(250)는 상단면이 케이스(100)의 옵틱 챔버(C) 내부에 노출될 수 있도록 케이스(100)에 삽입되며, 입자 유동홀(E)은 입자 및 공기가 통과할 수 있도록 옵틱 챔버(C)에 노출되는 상단면으로부터 하부 연결 홀더(250)의 내부 공간까지 관통되게 형성된다. 따라서, 하부 연결 홀더(250)의 내부 공간과 옵틱 챔버(C)는 입자 유동홀(E)을 통해 상호 연통된다. 또한, 하부 연결 홀더(250)와 케이스(100)는 공기 흐름이 입자 유동홀(E)을 통해서만 발생할 수 있도록 상호 결합 부위가 밀봉되게 결합되는데, 이를 위해 하부 연결 홀더(250)와 케이스(100)의 결합 부위에는 다수개의 실링 부재(R)가 삽입 개재되는 것이 바람직하다. 이때, 하부 연결 홀더(250)의 상단면 중심부에는 별도의 포집 블록(240)이 장착되고, 이를 통해 옵틱 챔버(C)로 유입된 입자가 일부 포집된다.Looking in more detail, the
포집 모듈(260)은 다수개 구비되어 하부 연결 홀더(250)의 하단에 순차적으로 연통되게 결합되는데, 각각의 포집 모듈(260)은 가이드 블록(261)과 가이드 블록(261)의 하단에 결합되는 임팩터 플레이트(262)로 구성될 수 있다. 가이드 블록(261)에는 내부 공간으로 유입된 입자가 중심부로 가이드되며 통과하도록 중심부를 향해 경사진 면을 이루는 형태의 인렛홀(263)이 형성된다. 임팩터 플레이트(262)에는 가이드 블록(261)의 인렛홀(263)과 동일 직선상에 위치하도록 입자를 포집할 수 있는 포집 블록(240)이 중심부에 장착되고, 중심부의 주변 둘레에는 입자 및 공기가 통과할 수 있는 입자 유동홀(E)이 형성된다.A plurality of collecting
하부 메인 블록(270)은 이러한 포집 모듈(260)의 하부에 밀봉 결합되며, 내부 공간이 포집 모듈(260)의 내부 공간과 연통되게 결합된다. 또한, 하부 메인 블록(270)의 일측에는 하부 메인 블록(270)의 내부 공간과 연통되는 하부 흡입 포트(271)가 형성되고, 하부 흡입 포트(271)는 입자 흡입을 위한 흡입 펌프와 연결된다.The lower
이러한 구조에 따라 하부 연결 홀더(250), 포집 모듈(260), 하부 메인 블록(270)의 내부 공간은 인렛홀(263) 및 입자 유동홀(E)을 통해 모두 상호 연통되므로, 흡입 펌프가 가동하여 하부 흡입 포트(271)를 통해 흡입 압력이 발생하면, 이러한 흡입 압력은 하부 메인 블록(270), 포집 모듈(260) 및 하부 연결 홀더(250)의 내부 공간을 통해 케이스(100)의 옵틱 챔버(C)에 전달됨과 동시에 옵틱 챔버(C)와 연통되는 입자 유동 유로(101)에까지 전달된다. 이에 따라 상부 모듈(U)에 의해 유입된 입자는 입자 유동 유로(101)를 통과하여 옵틱 챔버(C) 내부로 유입되며, 옵틱 챔버(C)로부터 하부 연결 홀더(250)의 입자 유동홀(E)을 통과하여 포집 모듈(260)의 인렛홀(263) 및 입자 유동홀(E)을 순차적으로 통과하고, 이후 하부 메인 블록(270)의 하부 흡입 포트(271) 측으로 유입된다.According to this structure, the inner spaces of the
즉, 상부 모듈(U)의 노즐 블록(230)에 형성된 노즐 유로(231)는 케이스(100)의 입자 유동 유로(101)와 연통되게 밀봉 결합되기 때문에, 하부 흡입 포트(261)를 통해 형성된 흡입 압력은 케이스(100)의 옵틱 챔버(C) 및 입자 유동 유로(101)를 통해 노즐 블록(230)의 노즐 유로(231) 및 인렛 블록(210)의 흡입 유로(211)에까지 미치게 되고, 이에 따라 관성력이 큰 입자들은 노즐 유로(231) 및 입자 유동 유로(101)를 통과하며 옵틱 챔버(C) 내부로 유입된다. 이때, 옵틱 챔버(C) 내부로 유입된 입자는 도 6에 도시된 바와 같이 하부 연결 홀더(250)의 입자 유동홀(252)을 통해 계속적으로 전달되는 흡입 압력에 의한 공기 흐름을 따라 옵틱 챔버(C) 내에서 일정한 방향으로 유동하게 되며, 이와 같이 유동하는 입자에 대해 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)를 통해 입자의 분포 상태를 파악하게 된다.That is, since the
따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 상부 모듈(U) 및 하부 모듈(L)을 포함하는 이러한 다단 임팩터 모듈(200)을 통해 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입하여 일정한 방향을 흐름을 유도하고, 이와 같이 유동하는 입자와의 충돌에 의해 발생하는 산란광(S)을 검출하여 입자의 분포 상태를 측정하게 된다.Therefore, the particle measuring device according to an embodiment of the present invention sucks particles floating in the external space through the
즉, 도 5에 도시된 바와 같이 광 발생부(300)에서는 초점(F)이 입자 유동 유로(101)의 연장된 경로 상에 위치하도록 옵틱 챕버(C) 내에 입사광(I)을 발생시키고, 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 이러한 초점(F) 영역을 연속적으로 통과하는 입자와 입사광(I)의 충돌에 의해 발생하는 산란광(S)을 수광 검출하여 입자의 분포 상태를 파악한다. 이때, 광 발생부(300)와 광 검출부(400)는 도 5에 도시된 바와 같이 케이스(100)의 옵틱 챕버(C)의 양단부에 위치하도록 일렬 배치될 수 있으나, 전술한 바와 같이 직각 방향이나 특정 각도를 이루도록 배치될 수도 있으며, 이는 입자와의 충돌에 의해 발생되는 산란광(S)이 사방으로 발생하기 때문에 가능한 구조이다.That is, as shown in FIG. 5, in the
만약, 광 발생부(300)와 광 검출부(400)가 도 5에 도시된 바와 같이 상호 대향하는 방향으로 일렬 배치되는 경우에는, 광 검출부(400)에 광 발생부(300)의 입사광(I)이 직접 수광되지 않도록 입사광(I)을 차단하는 별도의 빔스토퍼(440)가 광 검출부 경통(410) 내부에 장착되는 것이 바람직하다. 즉, 광 발생부(300)로부터 발생된 입사광(I)이 입자와 충돌하지 않는 경우, 입사광(I)은 초점(F)을 통과하여 계속 전진 진행하게 되는데, 이러한 입사광(I)이 검출 센서(420)에 수광되면 이는 검출 센서(420)에서 노이즈로 작용하게 되므로, 이러한 입사광(I)이 검출 센서(420)에 수광되지 않도록 별도의 빔스토퍼(440)가 장착되는 것이 바람직하다. 따라서, 도 5에 도시된 바와 같이 입자와의 충돌에 의해 발생된 산란광(S) 중 빔스토퍼(440) 영역을 벗어난 산란광(S) 만이 검출 센서(420)에 수광되며, 이러한 전방 산란 검출 방식은 다른 방식에 비해 더욱 정확한 측정 결과를 제공할 수 있을 것이다.If the
특히, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 도 6에 도시된 바와 같이 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 옵틱 챕버(C) 내부에서 입자의 흐름이 작은 직경의 유동 경로를 따라 일정한 방향으로 형성되기 때문에, 대부분의 유동 입자가 입사광(I)의 초점(F)을 통과하도록 구성되어 입자의 분포 상태를 측정하는데 있어 더욱 정확한 측정 결과를 제공할 수 있다.
In particular, the particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention in the constant direction along the flow path of the small diameter of the particles flow in the optical chapter (C) by the
한편, 전술한 바와 같은 입자의 흐름 과정에서, 입자들은 하부 연결 홀더(250)에 장착된 포집 블록(240) 및 복수개의 포집 모듈(260)에 각각 장착된 포집 블록(240)에 순차적으로 포집된다. 이때, 각 포집 모듈(260)의 임팩터 플레이트(262)에 형성된 각 입자 유동홀(E)의 입자 흐름 방향에 대한 수직 단면적의 크기를 각각 다르게 형성하거나 또는 가이드 블록(261)에 형성된 인렛홀(263)의 입자 흐름 방향에 대한 수직 단면적의 크기를 각각 다르게 형성함으로써, 순차적으로 결합된 각 포집 모듈(260)의 임팩터 플레이트(262)에 장착된 각 포집 블록(240)에서 서로 다른 크기의 입자를 포집할 수 있다. 마찬가지로, 하부 연결 홀더(250)에 형성된 입자 유동홀(E)의 입자 흐름 방향에 대한 수직 단면적의 크기를 임팩터 플레이트(262)의 입자 유동홀(E)과 다르게 형성함으로써, 하부 연결 홀더(250)에 장착된 포집 블록(240)에서 또 다른 크기의 입자를 포집할 수 있다.Meanwhile, in the flow of particles as described above, the particles are sequentially collected in the collecting
즉, 전술한 바와 같이 입자의 흐름은 입자 유동홀(E) 및 인렛홀(263)을 통해 연속적으로 이루어지게 되는데, 입자가 입자 유동홀(E)을 통과하는 과정에서 관성력의 차이에 따라 상대적으로 관성력이 큰 입자는 관성력이 유지되어 포집 블록(240) 측으로 유동하며 포집 블록(240)의 상단면에 포집되고, 상대적으로 관성력이 작은 입자는 외측의 입자 유동홀(E) 측으로 유동하게 된다. 이때, 하부 연결 홀더(250) 및 각 임팩터 플레이트(262)의 입자 유동홀(E)의 크기 및 형상을 다르게 함으로써, 해당 입자 유동홀(E)을 통과하는 흡입 압력 및 속도가 변화되어 입자의 관성력이 변화하게 되고, 이에 따라 각 포집 블록(240)에 서로 다른 크기 또는 중량의 입자들이 포집되게 된다. 이러한 원리는 널리 사용되고 있는 일반적인 다단 임팩터의 원리와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.That is, as described above, the flow of particles is continuously made through the particle flow hole E and the
이와 같은 구조에 따라 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 입자 유동홀(E) 또는 인렛홀(263)의 크기를 적절하게 조절함으로써, 입자의 흐름 경로에 따라 각 포집 블록(240)에 입자의 크기별로 순차적으로 입자를 포집할 수 있다. 이와 같이 포집된 입자들은 이후 별도의 성분 분석을 통해 중량, 크기, 성분 등을 파악할 수 있으며, 이와 같이 파악된 입자에 대한 측정값은 광 검출부(400)에 의해 측정된 입자의 분포 상태에 대한 검증 작업으로서 기능할 수 있다. 아울러, 이러한 입자 흐름 구조를 통해 2차적으로 입자를 선별하는 기능을 수행할 수 있다. 즉, 전술한 바와 같이 상부 모듈(U)의 노즐 블록(230)을 통해 1차적으로 입자가 선별되며, 입자 유동 유로(101)를 통과하여 옵틱 챔버(C) 내부에 유입된 입자는 다시 하부 모듈(L)의 다수개의 포집 블록(240)을 통해 입자가 단계적으로 2차 선별될 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 측정 장치는 이러한 다단 임팩터 모듈(200)의 형상 변경과 흡입 압력의 조절을 통해 선별하는 입자의 크기를 다양하게 조절하여 입자 분포 상태 측정 및 성분 분석을 수행할 수 있다.According to such a structure, the particle measuring device according to an embodiment of the present invention appropriately adjusts the size of the particle flow hole E or the
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 포집 블록(240)은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 상단면이 평면을 이루는 원형 기둥의 형태로 형성될 수 있는데, 이외에도 사각형 기둥, 오각형 기둥과 같은 다각형 기둥의 형태로 형성될 수도 있다. 이때, 포집 블록(240)은 상단면이 흡입 펌프에 의한 흡입 압력의 방향과 수직 교차하는 평면을 이루도록 배치되는 것이 바람직하며, 이에 따라 포집 블록(240)의 상단면이 입자의 유동 방향에 대해 수직한 면을 이루게 되어 유동하는 입자에 대한 포집 효율이 더욱 향상된다. 즉, 포집 블록(240)에 입자가 포집되는 원리는 다단 임팩터 모듈(200)에 의해 관성력을 가지며 일정한 흐름 방향으로 이동하는 입자가 포집 블록(240)의 상단면에 부딪히며 가압되는 방식으로 진행되기 때문에, 포집 블록(240)의 상단면이 전술한 바와 같이 입자의 흐름 방향에 대해 수직면을 이루도록 배치되는 것이 포집 효율 측면에서 더욱 유리하다.On the other hand, the collecting
이와 같이 입자가 포집된 포집 블록(240)은 입자에 대한 성분 분석 등 다양한 분석을 위해 다단 임팩터 모듈(200)로부터 분리 제거되어 별도의 시험 장치에 의해 분석된다. 이러한 분석은 광 발생부(300) 및 광 검출부(400)에 의한 입자 분포 상태 분석 결과와 비교하여 특정 공간에서의 입자의 특성에 대해 다양한 결과를 제공하는데, 이러한 분석 과정 중 특히 입자의 성분 분석과 관련하여 포집 블록(240)의 재질에 따라 입자의 성분 분석 결과가 영향을 받을 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 포집 블록(240)은 포집된 입자에 대한 분석 과정에서 포집 블록(240) 자체 변수를 최소화할 수 있도록 단일 금속 재질로 형성되는 것이 바람직하며, 예를 들면, 금, 은 등의 재질로 일체로 형성될 수 있다. As such, the collecting
또한, 포집 블록(240)이 하부 연결 홀더(250) 및 임팩터 플레이트(262)의 상단에 결합되는 방식은 끼워맞춤 방식이나 또는 볼트 결합 방식 등 다양한 방식으로 구성될 수 있으며, 탈착 가능하게 결합되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 하부 연결 홀더(250) 및 임팩터 플레이트(262)의 상단 중심부에는 상향 돌출되는 결합 돌기(S2)가 형성되고, 포집 블록(240)의 하부면에는 이러한 결합 돌기(S2)가 삽입될 수 있는 결합홈(S1)이 형성되어, 결합 돌기(S2) 및 결합홈(S1)에 의해 포집 블록(240)이 하부 연결 홀더(250) 및 임팩터 플레이트(262)에 끼워맞춤 결합되는 방식으로 탈착 가능하게 결합될 수 있다. In addition, the method in which the
이와 같이 포집 블록(240)이 하부 모듈에 탈착 가능하게 결합되면, 포집 블록(240)의 상면에 포집된 입자의 성분 분석을 위해 포집 블록(240)을 다단 임팩터 모듈(200)로부터 분리 제거해야 하는 경우, 포집 블록(240)의 분리가 용이하여 포집 블록(240)에 포집된 입자를 안정된 상태로 성분 분석할 수 있다.When the
좀 더 자세히 살펴보면, 일반적인 임팩터 모듈의 경우 별도의 포집판이 얇은 필름이나 박판의 형태로 구성되어 임팩터 모듈의 포집 플레이트에 부착되는 방식으로 장착된다. 따라서, 포집판에 포집된 입자의 성분 분석을 위해 임팩터 모듈로부터 포집판을 분리할 때, 핀셋 등을 이용하여 매우 조심스럽게 포집판을 포집 플레이트로부터 떼어내는 방식으로 작업하였으며, 이 과정에서 포집판이 손상되거나 포집된 입자가 일부 손실되어 입자에 대한 정확한 성분 분석이 어려워 정확한 분석 결과를 얻을 수 없었다. 그러나 본 발명의 일 실시예에 따른 포집 블록(240)은 원형 기둥, 사각형 기둥과 같이 다각형 기둥의 형태로 형성되어 다단 임팩터 모듈(200)의 하부 모듈(L)에 탈착 가능하게 결합되기 때문에, 포집 블록(240)의 분리가 용이하여 포집된 입자에 대한 손실이나 포집 블록(240)에 대한 손상이 발생하지 않고, 이에 따라 입자에 대한 성분 분석을 더욱 정확하게 수행할 수 있다. 또한, 일반적인 임팩터 모듈의 포집판의 경우 전술한 바와 같이 1회 사용후 손상되기 때문에 매번 새로운 포집판을 교체해야 하므로 그 작업이 번거로울 뿐만 아니라 비용 또한 증가하게 되는데, 본 발명에 따른 포집 블록(240)은 입자에 대한 분석 후에도 반복적으로 사용할 수 있고, 그 탈착이 용이하여 분석 작업 과정이 단순하게 진행되고 비용 또한 절감할 수 있다.
In more detail, in the case of a general impactor module, a separate collecting plate is formed in a thin film or thin plate form and attached to the collecting plate of the impactor module. Therefore, when separating the collecting plate from the impactor module for the component analysis of the particles collected on the collecting plate, a very carefully using a tweezers, etc. to remove the collecting plate from the collecting plate in the process of damage Some of the lost or collected particles were lost, making it difficult to accurately analyze the particles. However, the
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains may make various modifications and changes without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention but to describe the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas falling within the scope of the same shall be construed as falling within the scope of the present invention.
100: 케이스 200: 임팩터 모듈
240: 포집 블록 250: 하부 연결 홀더
260: 포집 모듈 261: 가이드 블록
262: 임팩터 플레이트 263: 인렛홀
300: 광 발생부 400: 광 검출부100: case 200: impactor module
240: collection block 250: lower connection holder
260: collection module 261: guide block
262: impactor plate 263: inlet hole
300: light generator 400: light detector
Claims (6)
내부 공간에 옵틱 챔버가 형성되고, 상기 옵틱 챔버에 연통되도록 입자 유동 유로가 관통 형성되는 케이스;
상기 케이스에 장착되어 외부 공간에 부유하는 입자가 상기 입자 유동 유로를 통과하여 상기 옵틱 챔버로 유입되도록 입자를 흡입하는 다단 임팩터 모듈;
상기 옵틱 챔버 내에 초점이 형성되도록 입사광을 발생시키는 광 발생부; 및
상기 입사광과 상기 입사광의 초점 영역을 통과하는 입자와의 충돌에 의해 발생되는 산란광을 수광 검출하는 광 검출부
를 포함하고, 상기 다단 임팩터 모듈은 상기 옵틱 챔버에 유입된 입자를 크기에 따라 단계적으로 포집할 수 있도록 형성되며,
상기 다단 임팩터 모듈은
상기 입자 유동 유로의 일단에 연통되게 장착되어 일정 크기 이상의 입자만 상기 입자 유동 유로를 통과할 수 있도록 외부 공간에 부유하는 입자를 흡입 선별하는 상부 모듈;
상기 옵틱 챔버와 연통되게 장착되어 상기 상부 모듈에 의해 선별된 입자가 상기 입자 유동 유로를 통해 상기 옵틱 챔버로 유입되도록 입자를 흡입함과 동시에 상기 옵틱 챔버로 유입된 입자를 흡입하여 관성력 차이에 의해 크기별로 입자 흐름 방향을 따라 단계적으로 포집하는 하부 모듈; 및
상기 상부 모듈 및 하부 모듈을 통해 입자가 흡입되도록 상기 상부 모듈 및 하부 모듈에 각각 결합되는 흡입 펌프
를 포함하는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치.
In the particle measuring device for measuring the distribution state of the particles using the scattered light,
An case in which an optical chamber is formed in an inner space and a particle flow passage is formed to communicate with the optical chamber;
A multi-stage impactor module mounted on the case to suck particles to flow into the optical chamber through the particle flow path;
A light generator configured to generate incident light to form a focal point in the optical chamber; And
A light detector for receiving and detecting scattered light generated by collision between the incident light and particles passing through a focal region of the incident light
It includes, The multi-stage impactor module is formed to collect the particles introduced into the optical chamber in stages according to the size,
The multi-stage impactor module
An upper module mounted in communication with one end of the particle flow channel and suction-selecting particles floating in an external space such that only particles having a predetermined size or more may pass through the particle flow channel;
It is mounted in communication with the optical chamber and sucks the particles so that the particles selected by the upper module flows into the optical chamber through the particle flow passage and at the same time sucks the particles introduced into the optical chamber by the inertia force difference. A lower module that collects step by step along the particle flow direction; And
Suction pumps coupled to the upper and lower modules, respectively, so that particles are sucked through the upper and lower modules
Particle measurement apparatus comprising a.
상기 상부 모듈은
중공의 원통형으로 상기 케이스에 밀봉 결합되며 일측에는 상기 흡입 펌프와 연결되도록 상부 흡입 포트가 형성되는 상부 메인 파이프;
상기 상부 메인 파이프의 상단에 밀봉 결합되며 외부로부터 입자가 유입될 수 있도록 흡입 유로가 형성되는 인렛 블록; 및
상기 인렛 블록의 하부에 위치하도록 상기 상부 메인 파이프의 내부에 배치되며 상기 흡입 유로를 통해 유입된 입자가 관성력에 따라 선택적으로 통과할 수 있도록 노즐 유로 및 상부 유동홀이 각각 형성되는 노즐 블록
을 포함하고, 상기 노즐 블록은 상기 노즐 유로가 상기 입자 유동 유로의 일단에 연통되도록 상기 케이스에 밀봉 결합되는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치.
The method of claim 2,
The upper module
An upper main pipe sealingly coupled to the case in a hollow cylindrical shape and having an upper suction port formed at one side thereof to be connected to the suction pump;
An inlet block sealingly coupled to an upper end of the upper main pipe and having a suction passage formed to allow particles to be introduced from the outside; And
A nozzle block disposed in the upper main pipe to be positioned below the inlet block, and having a nozzle flow path and an upper flow hole formed therein to selectively pass particles introduced through the suction flow path according to an inertia force;
And the nozzle block is sealingly coupled to the case such that the nozzle passage is in communication with one end of the particle flow passage.
상기 하부 모듈은
상기 케이스에 밀봉 결합되며 상단 중심부에는 입자를 포집할 수 있는 포집 블록이 상기 옵틱 챔버 내부에 위치하도록 장착되고 중심부의 주변 둘레에는 입자가 통과할 수 있도록 상기 옵틱 챔버와 연통되는 입자 유동홀이 형성되는 하부 연결 홀더;
내부 공간이 상기 하부 연결 홀더의 내부 공간과 연통되도록 상기 하부 연결 홀더의 하단에 순차적으로 밀봉 결합되며 상기 하부 연결 홀더로부터 유입된 입자가 통과하며 크기에 따라 각각 포집되도록 형성되는 적어도 하나 이상의 포집 모듈; 및
상기 포집 모듈과 연통되도록 상기 포집 모듈의 하단에 밀봉 결합되며 일측에는 상기 흡입 펌프와 연결되도록 하부 흡입 포트가 형성되는 하부 메인 블록
을 포함하고, 상기 옵틱 챔버를 통과한 입자는 상기 하부 연결 홀더 및 적어도 하나 이상의 포집 모듈을 순차적으로 통과하며 관성력 차이에 의해 상기 하부 연결 홀더 및 포집 모듈에 크기별로 단계적으로 포집되는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치.
The method of claim 3, wherein
The lower module
A collecting block capable of sealing particles to the case and capturing particles is mounted at the top center so as to be located inside the optical chamber, and a particle flow hole communicating with the optical chamber is formed around the periphery of the center to allow particles to pass therethrough. Lower connection holder;
At least one collecting module which is sequentially sealed to a lower end of the lower connection holder such that an inner space is in communication with an inner space of the lower connection holder, and is formed such that particles introduced from the lower connection holder pass and are collected according to size; And
A lower main block sealingly coupled to a lower end of the collecting module so as to communicate with the collecting module and having a lower suction port formed at one side thereof to be connected to the suction pump
Particles passing through the optical chamber is sequentially passed through the lower connection holder and at least one collecting module and particles are collected step by step in size in the lower connection holder and the collecting module by the difference in inertia force Measuring device.
상기 포집 모듈은
내부 공간으로 유입된 입자가 중심부로 가이드되며 통과하도록 인렛홀이 형성되는 가이드 블록; 및
상기 가이드 블록의 하단에 결합되며 중심부에 입자를 포집할 수 있는 포집 블록이 장착되고 중심부의 주변 둘레에는 입자가 통과할 수 있는 입자 유동홀이 형성되는 임팩터 플레이트
를 포함하고, 각각의 상기 포집 모듈은 상기 인렛홀 또는 입자 유동홀의 입자 흐름 방향에 대한 수직 단면적의 크기가 각각 다르게 형성되는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치.
The method of claim 4, wherein
The collection module
A guide block in which an inlet hole is formed so that particles introduced into the internal space are guided to the central portion and pass through the core; And
The impactor plate is coupled to the lower end of the guide block and is equipped with a collecting block capable of collecting particles in the center and a particle flow hole through which particles can pass around the periphery of the center.
Each of the collection module is a particle measuring device, characterized in that the size of the vertical cross-sectional area with respect to the particle flow direction of the inlet hole or the particle flow hole is formed differently.
상기 하부 연결 홀더의 상단 중심부 및 상기 임팩터 플레이트의 상단 중심부에는 상향 돌출되는 결합 돌기가 형성되고, 상기 포집 블록의 하부면에는 상기 결합 돌기가 삽입될 수 있는 결합홈이 형성되어, 상기 결합 돌기 및 결합홈에 의해 상기 포집 블록이 상기 하부 연결 홀더 및 임팩터 플레이트에 탈착 가능하게 삽입 결합되는 것을 특징으로 하는 입자 측정 장치.
The method of claim 5, wherein
A coupling protrusion protruding upward is formed in an upper center portion of the lower connection holder and an upper center portion of the impactor plate, and a coupling groove in which the coupling protrusion is inserted is formed in a lower surface of the collection block, so that the coupling protrusion and coupling are formed. And the collecting block is detachably inserted and coupled to the lower connection holder and the impactor plate by a groove.
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Cited By (1)
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Citations (4)
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---|---|---|---|---|
JPH06300677A (en) * | 1993-03-29 | 1994-10-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Particle detection device |
KR950014880A (en) * | 1993-11-04 | 1995-06-16 | 하시모도 레이죠 | Particle Analysis Device |
KR200249033Y1 (en) * | 1999-03-04 | 2001-11-16 | 이완근 | Particle senser |
KR200367121Y1 (en) * | 2004-07-28 | 2004-11-10 | 주식회사 라이다텍 | Optical particle counter for sub-micron particles |
-
2010
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-
2011
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300677A (en) * | 1993-03-29 | 1994-10-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Particle detection device |
KR950014880A (en) * | 1993-11-04 | 1995-06-16 | 하시모도 레이죠 | Particle Analysis Device |
KR200249033Y1 (en) * | 1999-03-04 | 2001-11-16 | 이완근 | Particle senser |
KR200367121Y1 (en) * | 2004-07-28 | 2004-11-10 | 주식회사 라이다텍 | Optical particle counter for sub-micron particles |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102220213B1 (en) * | 2019-10-21 | 2021-02-24 | 연세대학교 산학협력단 | Real-time TSP Measuring System |
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