KR101136786B1 - 전지 시험 장치 및 전지 시험 방법 - Google Patents
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Abstract
전지의 전압괴(全壓壞) 상태는, 휴대 전화 등의 휴대기기를 사용하고 있는 상황에서는 극히 드물게 밖에 생기지 않는 상태이고, 더욱이, 전지의 전압괴 상태는 내부 단락등에 기인하는 이상 판정에 있어서 최악 조건이 아니기 때문에, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증할 수 없었다. 그래서, 시험대(3)에 설치한 이차 전지(2)를 가압 부재로 부분 압괴하고, 이차 전지(2)의 온도를 측정하여 이차 전지(2)의 양부 판정을 함으로써, 이차 전지(2)가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
전지, 전압괴, 이차 전지, 가압 부재, 부분 압괴, 가압력
Description
본 발명은 휴대 전화 등의 휴대기기에 내장되어 있는 리튬 이온 전지 등의 전지의 성능이나 안전성 등의 시험 장치 및 시험 방법에 관한 것이다.
휴대 전화 등의 휴대기기에 내장되어 있는 충전 가능한 이차 전지, 예를 들면 리튬 이온 전지는, 양극에 코발트산 리튬 화합물, 음극에 그래파이트, 전해액에 리튬염을 포함한 유기 전해액으로 이루어져 있다. 이 이차 전지는, 얇은 박막으로 이루어지는 양극과 음극의 사이를 전기적으로 절연하는 세퍼레이터를 사이에 두고, 그 양극, 음극 및 세퍼레이터를 감은 구조로 되어 있다. 특히 각형(角型)의 리튬 이온 전지에 있어서는, 감은 것을 각형으로 변형시켜, 각형의 알루미늄관 등에 삽입하고, 전해액을 주입하여, 밀폐함으로써 형성되어 있다.
이 리튬 이온 전지는, 소형, 경량화 및 고에너지 밀도화가 특징인 전지이고, 그 목적을 위해서 화학적으로 활성도가 높은 코발트산 화합물이나 유기 전해액을 사용하여, 얇은 양극이나 음극의 박막을 사용하여 전지를 구성하고 있다. 또한 전지의 소형, 경량화를 목표로 하기 위해서 경량인 알루미늄 케이스에 상기의 전지 재료를 격납하고 있다.
이러한 종류의 구조의 리튬 이온 전지에서는, 외압에 의한 전지의 내부의 전극의 파손에 의해서, 양극이나 음극의 내부 단락 등이 발생하고, 전지의 이상 발열이나 발연(發煙) 등의 불량이 생길 우려가 있다. 그래서, 종래부터, 리튬 이온 전지를 의도적으로 파괴하고, 파괴한 상태에서의 안전성을 도모하는 안전성 시험이 행하여져 왔다(특허문헌 1 참조). 예를 들면, 이 종류의 안정성 시험에서는, 가득 충전한 리튬 이온 전지를 외부로부터 금속의 금속 막대(둥근 막대)를 가압하여 짓누르고(전압괴), 전압괴 후의 전지의 행동, 예를 들면, 약 160℃ 이상의 이상 발열이나 발연 등이 발생하는지 여부를 확인한다. 그리고, 이상 발열이나 발연 등의 이상한 상태가 되지 않는 전지만을 양품(良品) 전지(OK 전지)라고 판단함으로써, 전지의 안전성을 평가하고 있었다.
[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 2005-327616호
그러나, 휴대 전화 등에 들어가 있는 일반의 리튬 이온 전지가 조우(遭遇)하는 외부로부터의 힘으로서는, 상기와 같은 전지가 전압괴(全壓壞)하는 힘은 드물고, 전지가 부분적으로 파손(부분 압괴)되는 힘 쪽이 조우하기 쉽다. 따라서, 휴대 전화 등에서 일반적으로 사용되고 있는 범위 내에서 전지의 전압괴 시험은 극단적인 시험이라고 말할 수 있으며, 전지가 파손된 경우의 행동을 도모하는 시험으로서는 적절하지 않았다.
그래서, 본 발명은 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해지는 전지 시험 장치 및 전지 시험 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본원의 발명자는 전지의 안전성을 적절하게 평가하기 위한 검토를 거듭한 결과, 리튬 이온 전지 등의 전지에서는, 전압괴시키면 전지계를 전부 파괴하기 때문에, 내부 단락에 의한 내부 발열은 빠르게 수속(收束)할 가능성이 있고, 그 반면에, 리튬 이온 전지 등의 전지를 부분적으로 파손시키고, 내부 단락을 발생시킨 경우, 전지계는 파손된 부분 이외 동작하기 때문에, 내부 단락에 의한 내부 발열이 계속하기 쉽다는 지견을 얻었다. 그 결과로서, 발명자는 리튬 이온 전지 등의 전지에 외부로부터의 힘을 가하여 파손시키는 경우, 부분 압괴하는 쪽이 안전성의 불안정화(이상 발열이나 발연의 발생)를 초래하기 쉽다는 지견을 얻었다. 본 발명은, 이러한 지견에 기초하여 이루어진 것이다.
본 발명에 따른 전지 시험 장치는, 전지를 설치하는 시험대와, 전지를 압괴하는 가압 부재와, 가압 부재에 의한 전지로의 가압력을 제어하는 가압 수단과, 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 측정 수단을 구비하고, 가압 수단은, 전지가 불완전한 부분 압괴가 되도록 가압력을 제어하고, 측정 수단은, 부분 압괴된 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 것을 특징으로 한다.
전지의 전압괴 상태는, 휴대 전화 등의 휴대기기를 사용하고 있는 상황에서는 극히 드물게 밖에 발생하지 않는 상태이고, 또한, 전지의 전압괴 상태는 내부 단락 등에 기인하는 이상 판정에 있어서 최악 조건이 아니기 때문에, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증할 수 없었다. 그러나, 본 발명에 의하면, 전지를 부분 압괴시킨 상태에서 온도나 전압을 측정하기 때문에, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
더욱이, 가압 부재는, 시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 각각을 부분 압괴하고, 가압 수단은, 복수의 전지 각각의 부분 압괴의 깊이가 다르도록 가압력을 제어하고, 측정 수단은, 부분 압괴된 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하면 적합하다. 시험 대상이 되는 복수의 전지 각각의 부분 압괴의 깊이가 다르기 때문에, 각각의 부분 압괴 깊이로 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
또한, 가압 수단은, 복수의 전지 각각의 부분 압괴에 의한 깊이(D), 시험 대상 모든 개체수(NM), 복수의 전지 각각에 대응하는 1로부터 NM까지의 자연수(Na) 및 시험대에 설치된 상태에서의 전지의 상단으로부터 하단까지의 거리(L)가 하기 식 1이 되도록 가압력을 제어하면 적합하다.
D=(Na/NM)×L …(1)
이 전지 시험 장치에 의하면, 식 1에 기초한 정량적인 검증이 가능하게 되고, 타종류의 전지 등과의 평가 판정을 하기 쉬워진다.
또한, 복수의 전지는, 자연수(Na)에 따른 순서로 부분 압괴되고, 가압 수단은, 깊이(D)가 단계적으로 커지도록 가압력을 제어하고, 측정 수단은, 부분 압괴된 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치를 초과하는 최초의 자연수(Na)를 구하면 적합하다. 구한 Na를 기준으로 하여 전지의 양부(良否) 판정을 하는 것이 가능해진다.
또한, 가압 부재는, 시험대에 설치된 전지에 대하여 소정의 높이로부터 낙하하여 전지를 부분 압괴하고, 가압 수단은, 소정의 높이를 조정하여 가압력을 제어하면 적합하다. 본 발명에 의하면, 낙하 충격에 의해서 부분 압괴한 경우의 전지의 행동을 검증할 수 있다.
또한, 전지는 각형이고, 시험대에 설치된 전지의 각진 부분에 기대어 세워지는 막대형의 간섭 부재를 더 구비하고, 가압 부재는, 간섭 부재에 충돌함으로써 간접적으로 전지의 각진 부분을 부분 압괴한다면 적합하다. 본 발명에 의하면, 주로 전지의 각진 부분을 부분 압괴할 수 있고, 가압 부재의 낙하 충격에 의해서 각진 부분이 부분 압괴한 전지의 행동을 검증할 수 있다.
또한, 가압 부재는, 시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 각각을 부분 압괴하고, 가압 수단은, 복수의 전지에 대한 소정의 높이가 다르도록 가압력을 제어하고, 측정 수단은, 부분 압괴된 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하면 적합하다. 소정의 높이를 변경함으로써, 가압 부재의 낙하 충격에 의한 가압력을, 용이하게 제어할 수 있다.
또한, 가압 수단은, 복수의 전지 각각에 대한 소정의 높이(H), 기준이 되는 높이(H0) 및 복수의 전지 각각에 대응하여 1로부터 차례로 붙여지는 자연수(Nb)가 하기 식 2가 되도록 가압력을 제어하면 적합하다.
H=H0×Nb …(2)
이 전지 시험 장치에 의하면, 식 2에 기초한 정량적인 검증이 가능하게 되고, 타종류의 전지 등과의 평가 판정을 하기 쉬워진다.
또한, 복수의 전지는, 자연수(Nb)에 따른 순서로 부분 압괴되고, 가압 수단은, 높이(H)가 단계적으로 높아지도록 가압력을 제어하고, 측정 수단은, 부분 압괴된 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치를 초과하는 최초의 자연수(Nb)를 구하면 적합하다. 구한 Nb를 기준으로 하여 전지의 양부 판정을 하는 것이 가능해진다.
또한, 측정 수단은, 부분 압괴된 복수의 전지 각각의 온도를 측정하고, 소정의 임계치는 150℃로부터 160℃의 범위에 포함되면 적합하다. 전지, 특히 이차 전지를 부분 압괴하여 내부 단락이 발생하면, 이차 전지의 온도가 단락 전류에 의한 줄열(Joule's heat)에 의해서 올라가고, 더욱이, 이차 전지의 온도가 임계 온도(이차 전지(2)의 재료의 열분해가 시작되는 온도: 150℃ 내지 160℃ 정도)에 달하면, 이차 전지(2)의 전극이나 전해액의 전지 재료 자체의 열분해가 시작되고, 그것에 의해서 열 폭주가 시작되어 버린다. 따라서, 불량 전지의 판단 기준으로서, 이차 전지의 온도가 임계 온도에 달하는지의 여부를 감시하는 것이 가장 바람직하기 때문에, 소정의 임계치는 150℃에서 160℃의 범위에 포함되는 소정의 온도로 하면 적합하다.
또한, 본 발명에 따른 전지 시험 방법은, 시험대에 설치된 전지가 불완전한 부분 압괴가 되도록 전지에 가압력을 가하는 부분 압괴 스텝과, 부분 압괴한 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 검출하는 검출 스텝과, 검출 스텝에서의 측정 결과가 소정의 임계치 이하인지의 여부를 판정하는 판정 스텝을 구비하면 적합하다.
본 발명에 의하면, 전지를 부분 압괴시킨 상태에서 온도나 전압을 측정하기 때문에, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
더욱이, 시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 중에서 전지를 차례로 추출하고, 추출한 전지에 대하여 부분 압괴 스텝, 검출 스텝 및 판정 스텝을 행하고, 부분 압괴 스텝에서, 전지에 가해지는 가압력을 순서에 따라서 단계적으로 크게 하고, 판정 스텝에서, 측정 결과가 소정의 임계치를 초과한다고 판정된 최초의 전지의 순서를 나타내는 값이 양부 판정의 기준치 이상인 경우에 전지가 양품이라고 판정하면 적합하다. 측정 결과가 소정의 임계치를 초과한다고 판정된 최초의 전지의 순서와 양부 판정의 기준치의 대비에 의해서 전지의 양부 판정을 간단하게 할 수 있다.
또한, 전지는 각형인 것과 함께, 전지의 주면에는 대향하는 한 쌍의 평면 부분과 평면 부분보다도 면적이 작은 측면 부분을 갖고, 복수의 전지 각각에 대하여 평면 부분에 가압력을 가하여 부분 압괴하는 경우에 있어서의 양부 판정의 기준치는, 복수의 전지 각각에 대하여 측면 부분에 가압력을 가하여 부분 압괴하는 경우와 비교하여 작으면 적합하다. 본 발명에 의하면, 전지가 얇은 측이 파손된 경우에 있어서의 평가가 엄격하게 되고, 보다 높은 안전성을 실현할 수 있다.
본 발명에 의하면, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 도모하는 것이 가능해진다.
이하, 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 전지 시험 장치의 적합한 실시형태에 관해서 설명한다.
도 1은 제 1 실시형태에 따른 전지 시험 장치의 개략을 도시하는 도면이다. 전지 시험 장치(1A)는, 리튬 이온 전지나 리튬 중합체 전지 등의 충전 가능한 이차 전지(2)가 파손된 경우의 행동을 측정하는 장치이다. 또, 전지 시험 장치(1A)에 의한 시험 대상은, 이차 전지에 한정되지 않고, 1차 전지 등이라도 좋다.
전지 시험 장치(1A)는, 시험 대상이 되는 이차 전지(2)가 설치되는 시험대(3)와, 이차 전지(2)에 접촉하여 이차 전지(2)를 압괴하는 둥근 막대(가압 부재; 5)와, 둥근 막대(5)를 이차 전지(2)에 대하여 승강시키는 가동판(7)에 연결되고, 둥근 막대(5)에 의한 이차 전지(2)로의 가압력을 제어하는 가압 장치(가압 수단; 9)와, 시험대(3)상에 놓인 이차 전지(2)에 접하는 온도 센서(11)와, 온도 센서(11)에 접속된 측정 장치(13)를 구비하고 있다. 또, 본 실시형태에서는, 온도 센서(11)에서 검출된 온도에 기초하여, 압괴된 이차 전지(2)의 행동을 검증하지만, 온도 대신에 이차 전지(2)의 전압을 측정하거나, 온도와 전압의 양쪽을 측정하는 검출 수단을 설치하고, 그 측정 결과에 기초하여 압괴된 이차 전지(2)의 행동을 검증하도록 하여도 좋다.
시험대(3)에는, 이차 전지(2)가 설치되는 소정 부위를 끼우도록 하여 한 쌍의 가이드 바(3a)가 세워 설치되어 있고, 가동판(7)은 가이드 바(3a)에 안내되면서 소정의 궤도를 따라서 승강한다. 가동판(7)의 하면에는 둥근 막대 고정 막대(7a)가 돌출되어 있고, 둥근 막대 고정 막대(7a)의 하단에는, 둥근 막대(5)가 수평(둥근 막대 고정 막대(7a)에 대하여 수직)이 되도록 고정되어 있다.
가압 장치(9)는, CPU, RAM 및 ROM 등으로 이루어지는 제어 회로(9a), 가동판(7)을 승강시키는 구동 모터(9b) 및 시험 실시자의 조작 입력을 받아들이는 조작부(9c) 등을 구비하고 있다. 제어 회로(9a)는, 예를 들면, 조작부(9c)를 통하여 이차 전지(2)의 형식 등을 받아들이면, 이차 전지(2)에 적당한 단계적인 가압력의 부여가 가능해지도록 구동 모터(9b)를 제어하고, 둥근 막대(5)에 의해서 이차 전지(2)를 부분 압괴한다.
측정 장치(13)는, CPU, RAM 및 ROM 등으로 이루어지는 측정 회로(13a) 및 측정 결과 등을 출력하는 디스플레이 등의 출력부(13b)를 구비하고 있다. 측정 장 치(13)는, 온도 센서(11)에 유선 또는 무선에 의해서 접속되어 있고, 온도 센서(11)에 의한 측정 결과를 출력부(13b)로부터 출력한다. 더욱이, 측정 장치(13)는, 측정 결과가 소정의 임계치, 예를 들면 160℃ 이하인지의 여부를 판단한다.
또한, 측정 장치(13)와 가압 장치(9)는, 신호를 송수신 가능하게 접속되어 있다. 가압 장치(9)는, 이차 전지(2)를 부분 압괴시키는 규정의 가압력으로 가압하고, 그 가압력에 걸리는 데이터를 측정 장치(13)에 통지한다. 측정 장치(13)는, 가압력에 걸리는 데이터를 받아들이는 동시에, 이차 전지(2)의 양부 판정에 필요하게 되는 정보를 출력부(13b)로부터 출력한다.
다음에, 도 4를 참조하여, 전지 시험 방법에 관해서 설명한다. 도 4는 전지 시험 방법의 순서를 나타내는 플로차트이다.
전지 시험 방법을 개시할 때에, 시험 실시자는, 우선 시험 대상이 되는 리튬 이온 전지 등의 이차 전지(2)를 선택하고, 동일 형식의 복수(예를 들면 8개)의 이차 전지(2)를 가득 충전된 상태로 준비하고, 더욱이, 이차 전지(2)의 압괴 방향을 결정한다(스텝 S1).
도 2 및 도 3에 도시하는 바와 같이, 이차 전지(2)는 육면체로 이루어지는 각형이고, 이차 전지(2)의 주면은, 한 쌍의 평면 부분(2a)과, 평면 부분(2a) 이외의 측면 부분(2b)을 갖고 있다. 평면 부분(2a)은 각 면 중에서 면적이 최대가 되는 영역이고, 측면 부분(2b)은 평면 부분(2a)끼리를 연락하도록 둘러싸는 영역이고, 평면 부분(2a)에 비하여 극히 좁아져 있다. 또한, 이차 전지(2)의 평면 부분(2b)은 직사각형이고, 도 2 및 도 3에서는, 가로방향(장변측)의 치수는 "A", 세 로방향(단변측)의 치수는 "B"로 나타내고 있고, 또한 한 쌍의 평면 부분(2a)끼리의 사이의 거리(높이 치수)는 "C"로 나타낸다. 더욱이, 압괴하는 깊이는 "D"로 나타내고, 깊이(D)를 변화시켜서 압괴 시험을 실시함으로써, 이차 전지(2)를 부분적으로 파손(부분 압괴)시킨다. 또, 도 2에 도시하는 상태에서는, 깊이(D)가 전지높이(C)와 같아질 때에 전압괴가 되고, 도 3에 도시하는 상태에서는, 깊이(D)가 전지높이(A)와 같아질 때에 전압괴가 된다.
다음에, 압괴 방향의 결정에 관해서 설명한다. 도 2 및 도 3은 압괴하는 면이 상측이 되도록 시험대(3)에 이차 전지(2)를 장착한 경우를 도시한다. 압괴 방향의 결정이란, 둥근 막대(5)가 접촉하여 압괴하는 면을 결정하는 것을 의미하고, 압괴 방향을 평면 부분(2a)으로 결정한 경우(도 2 참조)에는, 평면 부분(2a)을 상측을 향하여 시험대(3)에 설치한다. 그 결과, 둥근 막대(5)는 평면 부분(2a)에 접촉하고, 주로 평면 부분(2a)을 짓누르게 된다. 또한, 측면 부분(2b)으로 결정한 경우(도 3 참조)에는, 측면 부분(2b)을 상측으로 향하여 시험대(3)에 설치한다. 그 결과, 둥근 막대(5)는 측면 부분(2b)에 접촉하고, 주로 측면 부분(2b)을 짓누르게 된다.
도 4에 도시하는 바와 같이, 이차 전지(2)의 선택이 끝나고, 압괴 방향이 결정되면, 시험 실시자는, 8개의 이차 전지(2)의 어느 하나를 임의로 추출하고, "Na=1"이 되도록 데이터 설정을 한다(스텝 S2). 이 최초에 추출한 이차 전지(2)는 "Na=1"에 대응한 이차 전지(2)가 된다. 더욱이, 시험 실시자는, 추출한 이차 전지(2)를 시험대(3)에 장착한다(스텝 S3). 또, 이차 전지(2)는 차례로 추출되어 이 하의 처리가 행하여지고, 그 때마다, "Na=2 내지 8"의 순서로 데이터 설정된다.
다음에, 시험 실시자는, 가압 장치(9)의 개시 조작을 한다. 가압 장치(9)의 제어 회로(9a)는 구동 모터(9b)를 제어하고, 둥근 막대(5)를 하강시켜 이차 전지(2)를 가압하고, 부분 압괴를 실시한다. 이 경우에, 가압 장치(9)는, 부분 압괴의 깊이(D)가 이하의 식(1)이 되도록 둥근 막대(5)에 의한 이차 전지(2)로의 가압력을 제어한다(스텝 S4).
D=(Na/NM)×L ???(1)
식 1중의 "L"은 시험대(3)에 설치된 상태에서의 이차 전지(2)의 상단으로부터 하단까지의 길이이고, "D"는 둥근 막대(5)에 의한 이차 전지(2)의 부분 압괴에 의한 깊이이다. 또한, "NM"은 시험 대상 모든 개체수를 의미하고, 본 실시 형태에서는 "8"이 된다. 또, "L"은 평면 방향과 측면 방향에서는 다르고, 평면 방향의 경우에는 치수 "C"(도 2 참조)가 되고, 측면 방향의 경우에는 치수 "A"(도 3 참조)또는 치수 "B"가 된다.
가압 장치(9)는, 시험 실시자의 조작 입력에 의해서 "Na=1"에 설정되어 있기 때문에, 깊이(D)가 "(1/8)×L"이 되는 가압력으로 이차 전지(2)를 부분 압괴한다.
다음에, 측정 장치(13)의 측정 회로(13a)는, 부분 압괴된 이차 전지(2)의 전지 온도(T)를 온도 센서(11)에서의 검출치에 기초하여 측정한다. 더욱이, 측정 회로(13a)는, 측정 결과가 소정의 임계치, 예를 들면, 160℃를 넘고 있는지 여부를 판단한다(스텝 S5). 측정 회로(13a)는, 측정 결과가 160℃를 넘지 않는다고 판단 하는 경우에는, 160℃ 미달을 나타내는 데이터를 가압 장치(9)에 통지하고, 가압 장치(9)는 둥근 막대(5)를 상승시켜 이차 전지(2)로의 가압을 푼다. 시험 실시자는 둥근 막대(5)에 의한 가압이 풀리면 시험대(3)에 설치된 이차 전지(2)를 분리한다(스텝 S6).
다음에, 시험 실시자는, 새로운 이차 전지(2)를 추출하고, 가압 장치(9)의 조작부(9c)를 조작하여 "Na=Na+1", 즉 Na=2를 설정하고(스텝 S7), 스텝 S3 내지 스텝 S5까지의 처리를 재차 실행한다. 시험 실시자는, 시험 대상으로서 준비한 복수의 이차 전지(2)를 차례로 추출하면서 상기 스텝 S3 내지 스텝 S5를 반복하여 실행한다. 상기 식(1)에 따르면, Na의 값이 커질수록, 부분 압괴의 깊이(D)는 깊어지기 때문에, 각 이차 전지(2)에 대하여 스텝 S4에서 가해지는 가압력은, Na가 커짐에 따라서 단계적으로 커진다. 그 결과로서, 부분 압괴의 깊이(D)가 다른 수단계의 압괴 시험을 실시한 것으로 된다.
전지 시험 장치(1A)의 측정 회로(13a)는, Na=1의 이차 전지(2)로부터 차례로 전지 온도(T)를 측정하고, 그 때마다, 측정 결과가 소정의 임계치(160℃)를 초과하는지의 여부의 판정을 하지만(스텝 S5), 160℃를 초과하는 최초의 이차 전지(2)를 발견한 경우에는, 전지 온도(T)가 160℃를 초과한 최초의 이차 전지(2)의 Na의 값을 구하여 출력부(13b)로부터 출력시키고, 후속 처리를 중지한다. 예를 들면, 3번째의 이차 전지(2)의 전지 온도(T)가 160℃를 초과한 경우에는, Na=3을 출력부(13b)로부터 출력시켜, 최후에 추출한 이차 전지(2)의 전지 온도(T)가 160℃를 초과한 경우에는, Na=8을 출력부로부터 출력시킨다. 또한, 8개 모든 이차 전지(2) 의 전지 온도(T)가 160℃를 초과하지 않은 경우에는, 이상 없음을 나타내는 종료 메시지를 출력부(13b)로부터 출력시킨다. 또, Na=1로 측정 결과가 160℃를 넘어버린 경우에는, 후술하는 양부 판정을 하지 않고, Na=2가 되도록 새로운 이차 전지(2)를 시험대(3)에 설치하여 반복하여 압괴 시험을 실시한다. 또한, Na=8의 경우에는, "D=(8/8)×L"이 되고, 전압괴가 된다.
출력부(13b)로부터 Na의 값 또는 종료 메시지가 출력시키면, 시험 실시자는, 출력된 내용에 기초하여 전지의 양부 판정을 한다(스텝 S8). 예를 들면, 압괴 방향이 평면 부분(2a)일 때의 양부 판정의 기준치를 "2"로서 규정하고 있는 경우에는, 종료 메시지 또는 Na≤2가 되는 값, 예를 들면 Na=1이나 2가 출력된 경우에는 불량 전지라고 판정하고(스텝 S9), Na>2가 되는 값, 예를 들면 3이 출력된 경우에는 양품 전지라고 판정한다(스텝 S10). 또한, 압괴 방향이 측면 부분(2b)일 때의 양부 판정의 기준치를 "1"로서 규정하고 있는 경우에는, 종료 메시지 또는 Na≤1이 되는 값이 출력된 경우에는 불량 전지라고 판정하고, Na>1이 되는 값, 예를 들면 2가 출력된 경우에는 양품 전지라고 판정한다.
여기에서, 양부 판정의 기준치의 결정에 관해서 설명한다. 도 5는 이차 전지(2)의 압괴 시의 인가 가압력(kgf)과 압괴 시의 변형량(깊이)을 나타내고 있다. 휴대 전화 등의 모바일 기기를 일상 사용하고 있는 범위내에서, 조우하는 압력으로서는, 인체의 체중, 가방, 다리미, 노트 PC 등의 일용품이 상정되고, 대략 100(kg) 이하로 규정할 수 있다. 이 때문에 100(kg)의 정가중(靜加重)으로 누른 경우의 가압력 100(kgf)으로 이차 전지(2)를 파손한 경우의 변형량에 기초하여 양부 판정의 기준치를 결정하고 있다. 예를 들면, 본 실시형태에 따른 이차 전지(2)에서는, 평면 부분(2a)에 100(kgf)의 가압력을 가하면, 깊이 방향의 전체두께에 대하여 1/8 정도 변형한다. 따라서, 압괴 방향으로 평면 부분(2a)을 선택하는 경우에는, Na=1(상술한 식 1로부터)이 양품 전지의 판정기준의 Na가 된다. 한편, 압괴 방향으로 측면 부분(2b)을 선택하는 경우에는, 100kgf의 압력을 가한 경우, 깊이 방향의 전체 두께에 대하여 2/8 정도 변형한다. 따라서, 압괴 방향에 측면 부분(2b)을 선택하는 경우에는, Na=2(상술한 식 2로부터)가 양품 전지의 판정 기준의 Na가 된다.
다음에, 부분 압괴된 이차 전지(2)의 이상의 유무를 판단하는 기준이 되는 소정의 임계치(160℃)의 결정에 관해서 설명한다. 도 6은 압괴 후의 이차 전지(2)의 온도 변화를 도시한다. 도 6에 도시하는 바와 같이, 이차 전지(2)를 압괴한 경우에는, 패턴 1 내지 3까지의 3형태의 온도 변화(행동)가 있는 것이 확인되었다.
패턴 1은, 이차 전지(2)를 압괴한 경우라도, 이차 전지(2)의 내부의 양극, 음극간의 단락이 발생되지 않고, 온도 변화가 없는 패턴이다. 또한, 패턴 2는, 이차 전지(2)의 내부의 양극, 음극간의 단락이 발생하고, 이차 전지(2)의 전지 온도(T)가 단락 전류에 의한 줄열에 의해서 올라가지만, 임계 온도(이차 전지(2)의 재료의 열분해가 시작되는 온도: 150℃ 내지 160℃ 정도)에 달하지 않고서, 또한 단락 전류 자체가 수속함으로써, 전지 온도(T)가 피크에 달한 후에 저하되는 패턴이다. 또한, 패턴 3은, 이차 전지(2)의 내부의 양극, 음극간의 단락이 발생하고, 이차 전지(2)의 온도가 단락 전류에 의한 줄열에 의해서 올라가지만, 더욱이, 이차 전지(2)의 온도가 임계 온도(이차 전지(2)의 재료의 열분해가 시작되는 온도: 150℃ 내지 160℃ 정도)에 달하고, 이차 전지(2)의 전극이나 전해액의 전지 재료 자체의 열분해가 시작되고, 그것에 의해서 열 폭주가 시작되는 패턴이다.
패턴 3의 열 폭주에 의해, 이차 전지(2) 자체가 500℃ 전후의 이상 발열이나 발연 등을 일으키게 된다. 본 실시형태에서는, 이차 전지(2)를 부분 압괴하여 패턴 1 또는 패턴 2의 행동을 하는 경우에는, 양품 전지의 범주라고 판단하기로 하고, 패턴 3의 행동을 하는 경우에는, 불량 전지라고 정의하기로 하였다. 그 결과, 불량 전지의 판단 기준으로서, 이차 전지(2)의 전지 온도(T)가 임계 온도에 달하는지의 여부를 감시하는 것이 가장 바람직하기 때문에, 이상의 유무를 판단하는 기준이 되는 전지 온도(T)는 150℃ 내지 160℃인 것이 바람직하고, 특히, 그 상한치인 160℃로 결정함으로써 열 폭주의 발생을 보다 확실하게 확인할 수 있다.
또, 본 실시형태에서는, 시험 실시자가 출력부(13b)로부터 출력된 Na의 값에 기초하여 전지의 양부 판정을 하고 있었지만, 안전 기준을 만족시키는 Na의 값을 측정 장치(13)에 미리 설정해 두고, 측정 회로(13a)가 스텝 5에서 구한 Na의 값과 안전기준을 만족시키는 Na의 값을 대비하여 전지의 양부 판정을 하고, 양품 전지라고 판정하는 경우에는 「양품」을 나타내는 메시지를 출력부(13b)로부터 출력시키고, 불량 전지라고 판정하는 경우에는 「불량」을 나타내는 메시지를 출력부(13b)로부터 출력시키도록 하여도 좋다. 또한, 본 실시형태에서는, 시험 실시자가 이차 전지(2)의 설치 및 이차 전지(2)의 교환을 하고 있었지만, 이들을 자동화하여 행할 수 있도록 하여도 좋다. 예를 들면, 이차 전지(2)의 투입 호퍼나 저류부를 가압 장치에 설치하고, 시험 실시자가 시험 대상이 되는 동일 형식의 복수의 이차 전지를 투입 호퍼로부터 투입하면, 임의로 이차 전지가 순서로 추출되고, 부분 압괴하는 동시에 적당하게 교환되도록 하여도 좋다.
본 실시형태에 따른 전지 시험 장치(1A) 및 전지 시험 방법에서는, 이차 전지(2)를 일 방향으로부터 완전히 압괴(전압괴)하여 온도나 전압을 측정하는 것은 아니고, 불완전한 부분 압괴의 상태에서 온도나 전압을 측정한다. 이차 전지(2)의 압괴에 관해서 말하면, 휴대 전화 등의 사용중에 조우하는 힘에 가까운 상황(휴대 전화의 사용자가 낙하나 파손 등으로 조우하기 쉬운 상황)에서는, 전압괴보다도 부분 압괴 쪽이 생기기 쉽다. 더욱이, 주로 리튬 이온 전지 등에서는, 전지의 전압괴 상태는 내부 단락 등에 기인하는 이상 판정에 있어서 최악 조건이 아니라, 전지가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증할 수 없었다. 즉, 전압괴 시험보다도 부분 압괴 시험 쪽이 이차 전지(2)를 엄격하게 시험을 하여 안전성을 확인하는 방법으로서 유리하다. 그리고, 전지 시험 장치(1A) 및 전지 시험 방법에서는, 부분 압괴 시험에 의해서 이차 전지(2)를 평가하기 때문에 이차 전지(2)가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
또한, 가압 장치(9)는, 복수의 이차 전지(2) 각각의 부분 압괴의 깊이(D)가 다르도록 둥근 막대(5)에 의한 가압력을 제어하고, 측정 장치(13)는, 부분 압괴된 복수의 이차 전지(2) 각각의 온도를 측정하고 있다. 그리고, 시험 대상이 되는 복수의 이차 전지(2) 각각의 부분 압괴의 깊이가 다르기 때문에, 각각의 부분 압괴 깊이(D)로 이차 전지(2)가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진 다.
더욱이, 가압 장치(9)는, 상술한 식 1이 되도록 가압력을 제어하기 때문에, 식 1에 기초를 둔 정량적인 검증이 가능하게 되고, 타종류의 전지 등과의 평가 판정을 한다.
더욱이, 복수의 이차 전지(2)는, Na에 따른 순서로 부분 압괴되고, 가압 장치(9)는, 식 1의 D가 단계적으로 커지도록 가압력을 제어하고, 측정 장치(13)는, 부분 압괴된 복수의 이차 전지(2) 각각의 온도를 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치(160℃)를 초과하는 최초의 값(Na)을 구하기 때문에, 구한 Na를 기준으로 하여 전지의 양부 판정을 하는 것이 가능하다.
더욱이, 이차 전지(2)는 각형인 것과 함께, 한 쌍의 평면 부분(2a)과 측면 부분(2b)을 갖고, 복수의 이차 전지(2) 각각에 대하여 평면 부분(2a)에 가압력을 가하여 부분 압괴하는 경우에 있어서의 양부 판정의 기준치 "1"은, 복수의 이차 전지(2) 각각에 대하여 측면 부분(2b)에 가압력을 가하여 부분 압괴하는 경우의 기준치 "2"에 비하여 작기 때문에, 전지가 얇은 측이 파손된 경우에 있어서의 평가가 엄격해지고, 보다 높은 안전성을 실현할 수 있다.
(제 2 실시형태)
다음에, 도 7 내지 도 11을 참조하여, 본 발명의 제 2 실시형태에 관해서 설명한다. 또, 제 2 실시형태에 따른 전지 시험 장치(1B)에 관해서, 제 1 실시형태에 따른 전지 시험 장치(1A)와 동일하거나 또는 동등한 요소에는 도면 중에서 같은 부호를 붙이고, 그 설명을 생략한다.
도 7은, 제 2 실시형태에 따른 전지 시험 장치(1B)의 개략을 도시하는 도면이다. 전지 시험 장치(1B)는, 시험대(3)와, 시험대(3)에 세워 설치된 가이드 로드(3b)와, 가이드 로드(3b)에 안내되어 승강하는 낙하대(20)와, 낙하대(20)에 연결되고, 낙하대(20)를 소정의 높이로 유지하는 동시에, 낙하대(20)를 승강시켜 낙하대(20)의 높이를 제어하는 낙하대 제어 장치(가압 수단; 21)와, 시험대(3)에 설치된 이차 전지(2)의 각진 부분(2c)에 비스듬하게 기대어 세워지는 둥근 막대(간섭 부재; 23)와, 가동판(7)으로부터 낙하하여 둥근 막대(23)에 충돌하고, 충격력으로 간접적으로 이차 전지(2)를 가압하는 부분 압괴하는 구형(球狀)의 추(25)와, 시험대(3)상에 놓여진 이차 전지(2)에 접하는 온도 센서(11)와, 온도 센서(11)에 접속된 측정 장치(13)를 구비하고 있다. 또, 본 실시형태에서는, 온도 센서(11)에서 검출된 온도에 기초하여, 압괴된 이차 전지(2)의 행동을 검증하지만, 온도 대신에 이차 전지(2)의 전압을 측정하거나, 온도와 전압의 양쪽을 측정하는 검출 수단을 설치하고, 그 측정 결과에 기초하여 압괴된 이차 전지(2)의 행동을 검증하도록 하여도 좋다.
낙하대 제어 장치(21)는, CPU, RAM 및 ROM 등으로 이루어지는 제어 회로(21a), 낙하대(20)를 승강시키는 구동 모터(21b) 및 시험 실시자의 조작 입력을 받아들이는 조작부(21c) 등을 구비하고 있다. 제어 회로(21a)는, 예를 들면, 조작부(21c)를 통하여 이차 전지(2)의 형식 등을 받아들이면, 이차 전지(2)에 적당한 단계적인 가압력, 즉 추(25)의 충격력으로 이차 전지(2)를 부분 압괴하도록, 구동 모터(21b)를 제어하고, 낙하대(20)의 높이를 조절한다. 또, 낙하대 제어 장치(21)와 측정 장치(13)는, 신호를 송수신 가능하게 접속되어 있다. 낙하대 제어 장치(21)는, 이차 전지(2)를 부분 압괴시키는 규정의 가압력(충격력)으로 가압하고, 그 가압력에 걸리는 데이터를 측정 장치(13)에 통지한다. 측정 장치(13)는, 가압력에 걸리는 데이터를 받아들이는 동시에, 이차 전지(2)의 양부 판정에 필요하게 되는 정보를 출력부(13b)로부터 출력한다.
다음에, 도 9를 참조하여, 제 2 실시형태에 따른 전지 시험 방법에 관해서 설명한다. 도 9는, 제 2 실시형태에 전지 시험 방법의 순서를 나타내는 플로차트이다.
전지 시험 방법을 개시할 때에, 시험 실시자는, 우선 시험 대상이 되는 리튬 이온 전지 등의 이차 전지(2)를 선택하고, 동일 형식의 복수(예를 들면 6개)의 이차 전지(2)를 가득 충전된 상태로 준비하고, 더욱이, 추(25)의 무게(M)를 선정한다(스텝 S11). 본 실시형태에서는, M=2(kg)을 선정하고 있다.
다음에, 시험 실시자는, 낙하대 제어 장치(21)의 조작부(21c)를 조작하고, 낙하대(20)의 높이를 정하기 위한 이하의 식 2를 설정한다.
H=H0×Nb …(2)
식 2중의 "H"는, 낙하대(20)의 높이이고, H0은 기준이 되는 높이, Nb는 복수의 이차 전지(2) 각각에 대응하여 1로부터 차례로 붙여지는 자연수이다. 또, 본 실시형태에서는, H0=5(cm)로 하였다.
다음에, 시험 실시자는, 6개의 이차 전지(2)의 어느 하나를 임의로 추출하는 동시에, 조작부(21c)를 조작하고, "Nb=1"이 되도록 데이터 설정을 한다. 이 최초에 추출한 이차 전지(2)는 Nb=1에 대응한 이차 전지(2)가 된다. 더욱이, 시험 실시자는, 추출한 이차 전지(2)를 시험대(3)에 장착하고(도 7 참조), 이차 전지(2)를 충격 압괴하는 각진 부분에 비스듬하게 둥근 막대(23)를 기대어 세워 둔다(스텝 S14).
다음에, 시험 실시자는, 낙하대 제어 장치(21)의 개시 조작을 한다. 낙하대 제어 장치(21)는, 식 2에서 도출되는 소정의 높이(H)가 되도록, 낙하대(20)를 상승시키고, 그 상태에서 낙하대(20)에 설치된 추 스토퍼 등을 해제하는 등으로 추(25)를 둥근 막대(23)에 낙하시켜, 충격력으로 이차 전지(2)를 간접적으로 부분 압괴시킨다(스텝 S15). 이차 전지(2; 도 8 참조)는, 추(25)의 낙하 충격을 받고, 각진 부분(둥근 막대(23)가 기대어 세워진 측면 부분(2b)의 상단 부분)은 깊이(G; 도 8 참조)만큼 짓눌린다. 즉, 추(25)를 소정의 높이(H)로부터 낙하시킴으로써, 깊이(G)분을 변화시키는 부분 압괴가 실시된다.
다음에, 측정 장치(13)의 측정 회로(13a)는, 부분 압괴된 이차 전지(2)의 전지 온도(T)를 온도 센서(11)에서의 검출치에 기초하여 측정한다. 더욱이, 측정 회로(13a)는, 측정 결과가 소정의 임계치(160℃)를 넘는지 여부를 판단한다(스텝 S16). 측정 회로(13a)는, 측정 결과가 160℃를 넘지 않는다고 판단하는 경우에는, 160℃ 미달을 나타내는 데이터를 낙하대 제어 장치(21)에 통지하고, 출력부(13b)로부터 이상 없음이라는 메시지를 출력한다.
시험 실시자는, 출력부(13b)로부터 출력된 이상 없음이라는 메시지를 확인하면, 새로운 이차 전지(2)를 추출하고, 낙하대 제어 장치(21)의 조작부(21c)를 조작하여 "Nb=Nb+1", 즉 N=2를 설정하고(스텝 S17), 스텝 S13 내지 스텝 S15까지의 처리를 재차 실행한다. 시험 실시자는, 시험 대상으로서 준비한 복수의 이차 전지(2)를 차례로 추출하면서 상기 스텝 S13 내지 스텝 S15를 반복하여 실행한다. 상기 식 2에 의하면, Nb의 값이 커질수록, 낙하대(20)의 높이(H)는 높아지기 때문에, 각 이차 전지(2)에 대하여 스텝 S14에서 가해지는 가압력(충격력)은, Nb가 커짐에 따라서 단계적으로 커진다. 그 결과로서, 충격력이 다른 수 단계의 압괴 시험을 실시한 것으로 된다.
전지 시험 장치(1B)의 측정 회로(13a)는, Nb=1의 이차 전지(2)로부터 차례로 전지 온도(T)를 측정하고, 그 때마다, 측정 결과가 160℃를 초과하는지 여부의 판정을 하지만(스텝 S16), 160℃를 초과하는 최초의 이차 전지(2)를 발견한 경우에는, 전지 온도(T)가 160℃를 초과한 최초의 이차 전지(2)의 Nb의 값을 구하여 출력부(13b)로부터 출력시켜, 후속의 처리를 중지한다. 또한, 6개 모든 이차 전지(2)의 전지온도(T)가 160℃를 초과하지 않은 경우에는, 이상 없음을 나타내는 종료 메시지를 출력부(13b)로부터 출력시킨다. 또, Nb=1에서 측정 결과가 160℃를 넘어 버린 경우에는, 양부 판정을 하지 않고, Nb=2가 되도록 새로운 이차 전지(2)를 시험대(3)에 설치하여 반복하여 압괴 시험을 실시한다.
출력부(13b)로부터 Nb의 값 또는 종료 메시지가 출력되면, 시험 실시자는, 출력된 내용에 기초하여 전지의 양부 판정을 한다(스텝 S18). 본 실시형태에서는, 양부 판정의 기준치를 "1"로서 규정하고, 종료 메시지 또는 Nb≤1이 되는 경우에는 불량 전지라고 판정하고(스텝 S19), Nb>1이 되는 경우에는 양품 전지라고 판정한다(스텝 S20).
여기에서, 양부 판정의 기준치의 결정에 관해서 설명한다. 도 10은 추(25)를 낙하시키는 높이(cm), 즉 낙하량과 낙하 충격에 의한 이차 전지(2)의 충격 변형량을 나타내고 있다. 기본적으로 이차 전지(2)를 깊이 방향에서 반분 정도 압괴하는 케이스가 일상 발생할 수 있는 일반적으로 생길 수 있는 케이스라고 판단할 수 있다. 그래서, 2kg의 추를 낙하시킨 경우, 이차 전지(2)의 각진 부분이 반분까지 손상되는 낙하 거리, 즉 5cm일 때의 Nb의 값(Nb=1)을 양품 전지의 판정기준의 Nb로 하였다.
본 실시형태에 따른 전지 시험 장치(1B) 및 전지 시험 방법에서는, 이차 전지(2)를 일방향으로부터 완전히 압괴(전압괴)하여 온도나 전압을 측정하는 것은 아니고, 불완전한 부분 압괴의 상태에서 온도나 전압을 측정하기 때문에, 이차 전지(2)가 파손된 경우의 행동을 적절하게 검증하는 것이 가능해진다.
또한, 낙하대 제어 장치(21)는, 복수의 이차 전지(2)에 대한 소정의 높이(H)가 다르도록 가압력(충격력)을 제어하고, 측정 장치(13)는, 부분 압괴된 복수의 이차 전지(2) 각각의 온도를 측정하기 때문에, 소정의 높이(H)를 변경함으로써, 가압 부재의 낙하 충격에 의한 가압력을, 용이하게 제어할 수 있다.
더욱이, 낙하대 제어 장치(21)는, 소정의 높이(H)가 상술한 식 2가 되도록 가압력을 제어하기 때문에, 식 2에 기초한 정량적인 검증이 가능하게 되고, 타종류의 전지 등과의 평가 판정을 하기 쉬워진다.
또한, 복수의 이차 전지(2)는, Nb에 따른 순서로 부분 압괴되고, 낙하대 제어 장치(21)는, H가 단계적으로 높아지도록 가압력을 제어하고, 측정 장치(13)는, 부분 압괴된 복수의 이차 전지(2) 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치 "160℃"를 초과하는 최초의 값 Nb를 구하기 때문에, 구한 Nb를 기준으로 하여 전지의 양부 판정을 하는 것이 가능해진다.
또, 본 발명은, 상기 실시형태에만 한정되지 않는다. 예를 들면, 상기 실시형태에서는, 복수의 전지에 대하여, 추출한 순서로 단계적으로 가압력(제 2 실시형태에 따른 충격력을 포함함)이 커지는 실험을 실시하였지만, 반대로, 작아지는 실험을 하는 것도 가능하다. 더욱이, 부분 압괴된 전지의 행동을 검증하는 데, 전지 온도를 측정하였지만 전압, 전류값 및 이들의 조합을 측정하도록 하여도 좋다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 따른 전지 시험 장치의 개략을 도시하는 도면.
도 2는 이차 전지의 평면부를 부분 압괴한 상태를 도시하는 사시도.
도 3은 이차 전지의 측면부를 부분 압괴한 상태를 도시하는 사시도.
도 4는 제 1 실시형태에 따른 전지 시험 방법의 순서를 나타내는 플로차트.
도 5는 시험 가압력과 압괴 변형량의 관계를 나타내는 그래프.
도 6은 둥근 막대를 가압하여 부분 압괴한 후의 시간(시험 시간)의 경과와 전지 온도의 관계를 나타내는 그래프.
도 7은 본 발명의 제 2 실시형태에 따른 전지 시험 장치의 개략을 도시하는 도면.
도 8은 이차 전지의 각진 부분을 부분 압괴한 상태를 도시하는 사시도.
도 9는 제 2 실시형태에 따른 전지 시험 방법의 순서를 나타내는 플로차트.
도 10은 낙하량과 충격 변형량의 관계를 나타내는 그래프.
도 11은 추를 낙하시켜 부분 압괴한 후의 시간(시험 시간)의 경과와 전지 온도의 관계를 나타내는 그래프.
〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉
1A, 1B: 전지 시험 장치 2: 이차 전지
2a: 평면 부분 2b: 측면 부분
2c: 각진 부분 3: 시험대
5: 둥근 막대(가압 부재) 9: 가압 장치(가압 수단)
13: 측정 장치 21: 낙하대 제어 장치(가압 수단)
23: 둥근 막대(간섭 부재)
Claims (13)
- 전지를 설치하는 시험대와,상기 전지를 압괴(壓壞)하는 가압 부재와,상기 가압 부재에 의한 상기 전지로의 가압력을 제어하는 가압 수단과,상기 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 측정 수단을 구비하고,상기 가압 수단은, 상기 전지가 불완전한 부분 압괴가 되도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하고,상기 가압 부재는, 시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 각각을 부분 압괴하고,상기 가압 수단은, 상기 복수의 전지 각각의 부분 압괴의 깊이가 다르도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하고,상기 가압 수단은, 상기 복수의 전지 각각의 부분 압괴에 의한 깊이(D), 상기 시험 대상 모든 개체수(NM), 상기 복수의 전지 각각에 대응하는 1로부터 NM까지의 자연수(Na) 및 상기 시험대에 설치된 상태에서의 상기 전지의 상단으로부터 하단까지의 거리(L)가 하기 식 1이 되도록 상기 가압력을 제어하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.D=(Na/NM)×L …(1)
- 전지를 설치하는 시험대와,상기 전지를 압괴(壓壞)하는 가압 부재와,상기 가압 부재에 의한 상기 전지로의 가압력을 제어하는 가압 수단과,상기 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 측정 수단을 구비하고,상기 가압 수단은, 상기 전지가 불완전한 부분 압괴가 되도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하고,상기 가압 부재는, 상기 시험대에 설치된 상기 전지에 대하여 소정의 높이로부터 낙하하여 상기 전지를 부분 압괴하고,상기 가압 수단은, 상기 소정의 높이를 조정하여 상기 가압력을 제어하고,상기 전지는 각형이고,상기 시험대에 설치된 상기 전지의 각진 부분에 기대어 세워지는 막대형의 간섭 부재를 더 구비하고,상기 가압 부재는, 상기 간섭 부재에 충돌함으로써 간접적으로 상기 전지의 각진 부분을 부분 압괴하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 복수의 전지는, 상기 자연수(Na)에 따른 순서로 부분 압괴되고,상기 가압 수단은,상기 깊이(D)가 단계적으로 커지도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치를 초과하는 최초의 자연수(Na)를 구하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도를 측정하고,상기 소정의 임계치는 150℃로부터 160℃의 범위에 포함되는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 삭제
- 제 2 항에 있어서,상기 가압 부재는, 시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 각각을 부분 압괴하고,상기 가압 수단은, 상기 복수의 전지에 대한 상기 소정의 높이가 다르도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 가압 수단은, 상기 복수의 전지 각각에 대한 상기 소정의 높이(H), 기준이 되는 높이(H0) 및 상기 복수의 전지 각각에 대응하여 1로부터 차례로 붙여지는 자연수(Nb)가 하기 식 2가 되도록 상기 가압력을 제어하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.H=H0×Nb …(2)
- 제 8 항에 있어서,상기 복수의 전지는, 상기 자연수(Nb)에 따른 순서로 부분 압괴되고,상기 가압 수단은, 상기 높이(H)가 단계적으로 높아지도록 상기 가압력을 제어하고,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 측정하는 동시에, 측정 결과가 소정의 임계치를 초과하는 최초의 자연수(Nb)를 구하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 측정 수단은, 부분 압괴된 상기 복수의 전지 각각의 온도를 측정하고,상기 소정의 임계치는 150℃로부터 160℃의 범위에 포함되는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 장치.
- 시험대에 설치된 전지가 불완전한 부분 압괴가 되도록 상기 전지에 가압력을 가하는 부분 압괴 스텝과,부분 압괴한 상기 전지의 온도 및 전압의 적어도 한쪽을 검출하는 검출 스텝과,상기 검출 스텝에서의 측정 결과가 소정의 임계치 이상인지의 여부를 판정하는 판정 스텝을 구비하고,가압 부재가, 상기 시험대에 설치된 상기 전지에 대하여 소정의 높이로부터 낙하하여 상기 전지를 부분 압괴하고,상기 가압력은 상기 소정의 높이를 조정하여 제어하고,상기 전지는 각형이고,상기 시험대에 설치된 상기 전지의 각진 부분에 기대어 세워지는 막대형의 간섭 부재를 더 구비하고,상기 가압 부재는, 상기 간섭 부재에 충돌함으로써 간접적으로 상기 전지의 각진 부분을 부분 압괴하는 것을 특징으로 하는, 전지 시험 방법.
- 제 11 항에 있어서,시험 대상이 되는 동일한 복수의 전지 중에서 전지를 차례로 추출하고,추출한 전지에 대하여 상기 부분 압괴 스텝, 상기 검출 스텝 및 상기 판정 스텝을 행하고,상기 부분 압괴 스텝에서, 상기 전지에 가해지는 가압력을 순서에 따라서 단계적으로 크게 하고,상기 판정 스텝에서, 상기 측정 결과가 소정의 임계치를 초과한다고 판정된 최초의 상기 전지의 순서를 나타내는 값이 양부 판정의 기준치 이상인 경우에 상기 전지가 양품(良品)이라고 판정하는, 전지 시험 방법.
- 제 12 항에 있어서,상기 전지는 각형인 것과 함께, 상기 전지의 주면에는 대향하는 한 쌍의 평면 부분과 상기 평면 부분보다도 면적의 작은 측면 부분을 갖고,상기 복수의 전지 각각에 대하여 상기 평면 부분에 가압력을 가하여 부분 압 괴하는 경우에 있어서의 상기 양부 판정의 기준치는, 상기 복수의 전지 각각에 대하여 상기 측면 부분에 가압력을 가하여 부분 압괴하는 경우에 비하여 작은 것을 특징으로 하는, 전지 시험 방법.
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