KR101104436B1 - Method For testing leakage current of organic light emitting device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 유기발광장치의 누설전류 검사 방법을 개시한다. 이에 의하면, 1장의 시트 글래스 상에 복수개 형성된 유기발광장치 각각의 해당 색상의 애노드전극 및 캐소드전극의 공통전극을 형성하고, 상기 공통전극에 해당하는 탐침을 인쇄회로기판에 형성하고, 상기 공통전극과 탐침을 일대일 접촉시킨 후 누설전류 측정기를 이용하여 전압을 소정 개수의 유기발광소자에 동시에 인가하여 상기 소정 개수의 유기발광소자의 누설전류를 동시에 형성한다. 따라서, 본 발명은 상기 시트 글래스 상의 유기발광장치를 몇 개씩 동시에 누설전류 검사할 수 있으므로 누설전류 검사시간을 단축할 수 있고, 상기 공통전극과 탐침을 일대일 대응하여 얼라인먼트시키므로 얼라인먼트의 용이성을 향상시킬 수가 있다. 또한, 본 발명은 시트 글래스를 각각의 유기발광장치의 크기로 절단하기 전에 누설전류를 측정하므로 누설전류 불량의 유기발광장치에 대해 신속한 대응을 하여 후속공정에서 불필요한 원자재의 낭비를 방지할 수 있다. 뿐만 아니라, 여러대의 누설전류 검사장치를 설치하는 것이 필요하지 않으므로 누설전류 검사장치의 구입에 대한 비용부담이 경감되고 아울러 넓은 설치공간이 불필요하다.The present invention discloses a leakage current inspection method of an organic light emitting device. Accordingly, a common electrode of the anode electrode and the cathode electrode of the corresponding color of each organic light emitting device formed on a plurality of sheet glass is formed, a probe corresponding to the common electrode is formed on the printed circuit board, and the common electrode and After contacting the probes one-to-one, a voltage is simultaneously applied to a predetermined number of organic light emitting diodes using a leakage current meter to simultaneously form leakage currents of the predetermined number of organic light emitting diodes. Therefore, the present invention can reduce the leakage current inspection time by several leakage current inspection of the organic light emitting device on the sheet glass at the same time, the alignment of the common electrode and the probe in one-to-one correspondence can improve the ease of alignment. have. In addition, since the present invention measures the leakage current before cutting the sheet glass to the size of each organic light emitting device, it is possible to quickly respond to the organic light emitting device of the leakage current failure to prevent unnecessary waste of raw materials in subsequent steps. In addition, since it is not necessary to install several leakage current inspection apparatuses, the cost burden of purchasing a leakage current inspection apparatus is reduced, and a large installation space is unnecessary.

유기발광장치, 시트 글래스, 공통전극, 인쇄회로기판, 탐침, 누설전류 검사.Organic light emitting device, sheet glass, common electrode, printed circuit board, probe, leakage current inspection.

Description

유기발광장치의 누설전류 검사 방법{Method For testing leakage current of organic light emitting device} Method for testing leakage current of organic light emitting device             

도 1은 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법을 설명하기 위한 예시도.1 is an exemplary view for explaining a leakage current inspection method of an organic light emitting device according to the present invention.

도 2는 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법에 적용된 시트 클래스 상의 각 유기발광장치의 공통전극을 나타낸 예시도.
Figure 2 is an exemplary view showing a common electrode of each organic light emitting device on the sheet class applied to the leakage current inspection method of the organic light emitting device according to the present invention.

본 발명은 유기발광장치(organic light emitting device: OLED)의 누설전류 검사 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시트 글래스 상의 유기발광장치의 공통단자에 인쇄회로기판의 탐침을 일대일로 대응하여 접촉함으로써 누설전류 검사 시간을 단축하도록 한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting leakage current of an organic light emitting device (OLED), and more particularly, to leaking by contacting a common terminal of an organic light emitting device on a sheet glass with one-to-one contact of a probe of a printed circuit board. The present invention relates to a leakage current inspection method of an organic light emitting device to shorten the current inspection time.

최근에 들어, 기존의 음극선관(cathode ray tube: CRT)의 단점인 무거운 무게와 큰 부피를 해결하기 위해 각종 평판 표시장치가 개발되고 있다. 이러한 평판 표시장치 중에는 액정표시장치(liquid crystal display: LCD), 전계방출표시장치(field emission display: FED), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel: PDP), 유기발광장치(organic light emitting device: OLED) 등이 있다. 특히, 유기발광장치는 정공수송층, 발광층, 전자수송층을 갖는 전계발광층의 양면에 전극을 형성한 형태로, 넓은 시야각, 고개구율, 고색도 등의 특징 때문에 차세대 평판 표시장치로서 주목받고 있다.Recently, various flat panel displays have been developed to solve heavy weight and large volume, which are disadvantages of conventional cathode ray tubes (CRTs). Among such flat panel displays, liquid crystal displays (LCDs), field emission displays (FEDs), plasma display panels (PDPs), and organic light emitting devices (OLEDs) Etc. In particular, the organic light emitting device is formed in the form of electrodes on both sides of the electroluminescent layer having a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, attracting attention as a next-generation flat panel display device because of the characteristics of a wide viewing angle, high aperture ratio, high color.

상기 유기발광장치는 봉지(encapsulation) 공정의 완료 후에 에이징 및 검사(aging and inspection) 공정을 거치게 된다. 상기 에이징 및 검사 공정 중의 한 단계로서 누설전류 검사를 위한 단계가 있다. 상기 누설전류 검사는 유기발광장치의 데이터 및 캐소드 공통단자에 인쇄회로기판의 해당 탐침(probe pin)을 접촉하는 방법에 따라 크게 2가지, 즉 피스 타입(piece type)과 시트 타입(sheet type)의 누설전류 검사 방식으로 구분된다. 상기 피스 타입의 누설전류 검사 방식은 복수개의 유기발광장치가 배열된 1장의 시트 글래스를 각각의 유기발광장치를 위한 크기로 절단, 분리한 후 상기 분리된 유기발광장치의 누설전류를 검사하는 방식이다. 상기 시트 타입의 누설전류 검사 방식은 복수개의 유기발광장치가 배열된 1장의 시트 글래스를 각각의 유기발광장치를 위한 크기로 절단하지 않은 상태에서 상기 유기발광장치의 누설전류를 검사하는 방식이다.The organic light emitting device is subjected to an aging and inspection process after completion of an encapsulation process. One step in the aging and inspection process is a step for leakage current inspection. The leakage current test can be performed in two ways, namely, a piece type and a sheet type, according to a method of contacting a corresponding probe pin of a printed circuit board with data of an organic light emitting device and a cathode common terminal. It is divided into leakage current test method. The piece type leakage current inspection method is a method of inspecting the leakage current of the separated organic light emitting device after cutting and separating one sheet glass in which a plurality of organic light emitting devices are arranged to a size for each organic light emitting device. . The leakage current inspection method of the sheet type is a method of inspecting the leakage current of the organic light emitting device without cutting one sheet glass having a plurality of organic light emitting devices arranged in a size for each organic light emitting device.

상기 피스 타입의 누설전류 검사 방식은 1대의 누설전류 검사장치에 상기 분리된 유기발광장치를 1개씩밖에 장착할 수 없기 때문에 누설전류 검사단계에서의 생산성이 매우 낮다. 이를 해결하기 위해, 여러대의 누설전류 검사장치를 추가로 설치하는 것이 필요하지만, 누설전류 검사장치의 추가 구입에 따른 비용 부담이 가중되고, 여러대의 누설전류 검사장치를 설치할 수 있는 넓은 설치공간이 확보되어야 한다. 뿐만 아니라 상기 누설전류 검사를 위해 일일이 상기 유기발광장치를 상기 누설전류 검사장치에 장착하여야 하고, 상기 유기발광장치의 애노드단자 및 캐소드단자의 미세한 피치(pitch)에 대응하여 상기 인쇄회로기판상에 탐침을 미세한 피치로 설치하여야 하고 상기 인쇄회로기판을 준비하는데 많은 비용이 소요되고, 상기 유기발광장치를 누설전류 검사장치에 장착할 때마다 상기 인쇄회로기판 상에 설치된 탐침들과, 상기 유기발광장치의 애노드단자 및 캐소드단자를 일대일 대응하여 얼라인먼트(alignment)하여야 하는 어려움이 있으므로 상기 시트 글래스에 형성되었던 모든 유기발광장치의 누설전류 검사에 많은 시간이 소요된다. 더욱이, 상기 피스 타입의 누설전류 검사 방식은 각각의 유기발광장치의 크기로 절단된 후에 누설전류를 검사하므로 누설전류 불량의 유기발광장치에 대한 대응이 늦어질 수밖에 없다. 그 결과, 누설전류 불량의 유기발광장치에 대해 원자재가 불필요하게 투입되는 것을 방지하지 못하므로 원자재의 낭비가 불가피하다.
In the piece type leakage current inspection method, since only one separated organic light emitting device is mounted on one leakage current inspection device, productivity in the leakage current inspection step is very low. In order to solve this problem, it is necessary to install additional leakage current inspection devices, but it adds cost to additional purchase of leakage current inspection devices, and secures a large installation space for installing several leakage current inspection devices. Should be. In addition, the organic light emitting device must be mounted on the leakage current test device for the leakage current test, and the probe on the printed circuit board corresponds to the minute pitch of the anode terminal and the cathode terminal of the organic light emitting device. Is required to be installed at a fine pitch, and it is expensive to prepare the printed circuit board. The probes installed on the printed circuit board and the organic light emitting device are installed every time the organic light emitting device is mounted on the leakage current inspection device. Since it is difficult to align the anode terminal and the cathode terminal in a one-to-one correspondence, it takes a long time to check the leakage current of all the organic light emitting devices formed on the sheet glass. In addition, the piece type leakage current inspection method checks the leakage current after cutting to the size of each organic light emitting device, so that the response to the organic light emitting device of the leakage current failure is inevitably delayed. As a result, raw materials are not prevented from being unnecessarily introduced into the organic light emitting device of poor leakage current, and waste of raw materials is inevitable.

따라서, 본 발명의 목적은 시트 글래스에서 각각의 유기발광장치의 크기로 절단하기 전에 각 유기발광장치의 누설전류 검사를 함으로써 검사장치의 추가 구입에 따른 비용부담을 경감하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to reduce the cost of additional purchase of an inspection apparatus by inspecting the leakage current of each organic light emitting apparatus before cutting to the size of each organic light emitting apparatus in the sheet glass.

본 발명의 다른 목적은 누설전류 검사의 시간을 단축함으로써 생산성을 향상 시키도록 하는데 있다.Another object of the present invention is to improve productivity by shortening the time of leakage current inspection.

본 발명의 또 다른 목적은 시트 글래스의 절단 전에 각 유기발광장치의 누설전류를 검사함으로써 누설전류 불량의 유기발광장치에 대한 대응을 신속화하는데 있다.
Still another object of the present invention is to speed up the response of the leakage current failure to the organic light emitting device by inspecting the leakage current of each organic light emitting device before cutting the sheet glass.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법은, 1장의 시트 글래스 상에 복수개 배열된 모든 유기발광장치 각각의 해당 애노드전극 및 캐소드전극의 공통단자와, 인쇄회로기판 상에 설치된, 상기 모든 유기발광장치의 공통단자에 대응하는 복수개의 탐침을 일대일 접촉시키는 단계; 및 상기 탐침과 공통단자가 접촉된 상태에서, 상기 유기발광장치를 정해진 개수씩 동시에 누설전류 검사하기 위해, 누설전류 측정기를 이용하여 전원을 상기 정해진 개수의 유기발광장치에 동시에 인가하면서 상기 정해진 개수의 유기발광장치의 누설전류를 동시에 검사하는 단계를 포함하며, 상기 해당 애노드전극 및 캐소드전극의 공통단자는 상기 유기발광장치를 위한 영역 외측 부분에 배치되고, 상기 애노드전극의 공통단자를, 적색을 위한 애노드전극의 공통단자, 청색을 위한 애노드전극의 공통단자 및 녹색을 위한 애노드전극의 공통단자로 구성하고, 상기 캐소드전극의 공통단자를 상기 캐소드전극의 좌, 우측단에 각각 공통 연결된 공통단자로 구성하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of testing a leakage current of an organic light emitting device according to the present invention includes a common terminal of a corresponding anode electrode and a cathode of each organic light emitting device arranged on a plurality of sheet glasses, and a printed circuit board. One-to-one contact with a plurality of probes corresponding to the common terminals of all the organic light emitting devices installed on the substrate; And simultaneously applying power to the predetermined number of organic light emitting devices by using a leakage current meter to simultaneously check the leakage current of the organic light emitting devices by a predetermined number while the probe and the common terminal are in contact with each other. And simultaneously inspecting a leakage current of the organic light emitting device, wherein the common terminal of the corresponding anode and cathode electrodes is disposed outside the region for the organic light emitting device, and the common terminal of the anode electrode is formed for red. Consists of the common terminal of the anode electrode, the common terminal of the anode electrode for blue and the common terminal of the anode electrode for green, and the common terminal of the cathode electrode is composed of common terminals connected to the left and right ends of the cathode electrode, respectively Characterized in that.

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바람직하게는, 상기 정해진 개수가 1개 이상 복수개인 것이 가능하다.Preferably, the predetermined number may be one or more.

이하, 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of checking a leakage current of an organic light emitting device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법을 나타낸 예시도이다.1 is an exemplary view showing a leakage current inspection method of an organic light emitting device according to the present invention.

도 1을 참조하면, 복수개의 유기발광장치(미도시)가 배열된 1장의 투명한 시트 글래스(10)를 준비한다.Referring to FIG. 1, one sheet of transparent sheet glass 10 in which a plurality of organic light emitting devices (not shown) are arranged is prepared.

여기서, 상기 시트 글래스(10)의 각각의 액티브영역(11) 상에는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 유기발광장치를 위한 요소(미도시), 예를 들어 애노드전극, 캐소드전극, 유기발광층 등이 형성된다.Here, on each active region 11 of the sheet glass 10, an element (not shown) for the organic light emitting device, for example, an anode electrode, a cathode electrode, an organic light emitting layer, etc. Is formed.

또한, 5개의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)은 상기 액티브영역(11) 각각의 외측 부분에 형성된다. 상기 공통전극(C1),(C2)은 상기 액티브영역(11) 각각의 캐소드전극의 좌, 우측단에 각각 전기적으로 공통 연결되고, 상기 공통전극(C3)은 상기 액티브영역(11)의 적색(R)을 위한 애노드전극의 일측단에 전기적으로 공통 연결되고, 상기 공통전극(C4)은 상기 액티브영역(11)의 청색(B)을 위한 애노드전극에 전기적으로 공통 연결되고, 상기 공통전극(C5)은 상기 액티브영역(11)의 녹색(G)을 위한 애노드전극에 전기적으로 공통 연결된다.In addition, five common electrodes C1, C2, C3, C4, and C5 are formed in the outer portion of each of the active regions 11. The common electrodes C1 and C2 are electrically connected to the left and right ends of the cathode electrodes of the active regions 11, respectively, and the common electrode C3 is a red color of the active region 11. The common electrode is electrically connected to one end of the anode electrode for R), the common electrode C4 is electrically connected to the anode electrode for the blue color B of the active region 11, and the common electrode C5. ) Is electrically connected to the anode electrode for the green color G of the active region 11 in common.

한편, 설명의 편의상, 상기 공통전극(C3),(C4),(C5)의 전기적 절연을 위해 상기 공통전극(C3),(C4),(C5) 사이에 절연막(미도시)이 형성되어야 함은 당연하다.Meanwhile, for convenience of description, an insulating film (not shown) must be formed between the common electrodes C3, C4, and C5 to electrically insulate the common electrodes C3, C4, and C5. Of course.

이와 별도로, 상기 액티브영역(11) 각각의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)에 일대일 대응하는 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)이 장착된 인쇄회로기판(20)을 준비한다. 상기 인쇄회로기판(20) 상에는 상기 유기발광장치 각각의 (C1),(C2),(C3),(C4),(C5)에 동시에 누설전류 검사를 위한 전압을 인가할 수 있는 공지의 스위칭 회로부(미도시)가 설치되어 있다. 상기 스위칭 회로부는 상기 유기발광장치 중 소정의 개수, 예를 들어 1개 또는 2개 이상 복수개의 유기발광장치에 상기 전원을 동시에 인가할 수 있다. Separately, the probes P1, P2, P3, and P1 corresponding to one-to-one correspondence of the common electrodes C1, C2, C3, C4, and C5 of the active region 11, respectively. P4) and P5 are prepared. On the printed circuit board 20, a known switching circuit unit capable of simultaneously applying a voltage for leakage current inspection to the (C1), (C2), (C3), (C4) and (C5) of each of the organic light emitting devices. (Not shown) is installed. The switching circuit unit may simultaneously apply the power to a predetermined number of organic light emitting devices, for example, one, two or more organic light emitting devices.

이어서, 유기발광장치의 누설전류 검사 장비의 정해진 부분에 각각 상기 인쇄회로기판(20) 및 시트 글래스(10)를 배치시킨다. 이때, 상기 액티브영역(11)이 형성된 시트 글래스(10)의 면과, 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)이 설치된 인쇄회로기판(20)의 면을 대향시킨다.Subsequently, the printed circuit board 20 and the sheet glass 10 are disposed at predetermined portions of the leakage current inspection equipment of the organic light emitting device. At this time, the surface of the sheet glass 10 on which the active region 11 is formed and the surface of the printed circuit board 20 on which the probes P1, P2, P3, P4, and P5 are provided are disposed. To face.

이후, 상기 인쇄회로기판(20)을 수직 승강장치(미도시)에 의해 상기 시트 글래스(10)에 근접시키고, 상기 인쇄회로기판(20)의 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)을 상기 시트 글래스(10)의 유기발광장치 각각의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)에 일대일 대응하도록 얼라인먼트시킨다. 그런 다음, 상기 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)과 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)을 최종적으로 접촉시킨다. 따라서, 상기 시트 글래스(10)의 모든 유기발광장치 각각의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)에 일대일 대응하여 상기 인쇄회로기판(20)의 상기 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)이 통전 가능한 상태로 접촉된다. Thereafter, the printed circuit board 20 is brought close to the sheet glass 10 by a vertical elevating device (not shown), and the probes P1, P2, P3 of the printed circuit board 20, P4 and P5 are aligned in a one-to-one correspondence with the common electrodes C1, C2, C3, C4, and C5 of the organic light emitting apparatus of the sheet glass 10, respectively. Then, the probes P1, P2, P3, P4, and P5 finally contact the common electrodes C1, C2, C3, C4, and C5. Let's do it. Therefore, the probe of the printed circuit board 20 corresponds to one-to-one correspondence of the common electrodes C1, C2, C3, C4, and C5 of each organic light emitting device of the sheet glass 10. (P1), (P2), (P3), (P4), and (P5) are in contact with each other in an energizable state.                     

이러한 상태에서, 누설전류 검사를 위한 소정의 전압을, 누설전류 측정기(30)의 전원공급부(31)로부터 연결배선(40)을 거쳐 상기 인쇄회로기판(20) 상의 스위칭 회로부(미도시)에 인가하면, 상기 스위칭 회로부는 상기 시트 글래스(10)의 모든 유기발광장치 중 소정의 개수, 예를 들어 1개 또는 2개 이상 복수개, 바람직하게는, 4개의 유기발광장치 각각의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)에 일대일 대응하는 상기 인쇄회로기판(20)의 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)으로 상기 전압을 동시에 인가한다. 이에 따라, 상기 전압은 상기 탐침(P1),(P2),(P3),(P4),(P5)을 거쳐 상기 시트 글래스(10)의 4개의 유기발광장치 각각의 공통전극(C1),(C2),(C3),(C4),(C5)으로 동시에 인가된다. 그러므로, 상기 누설전류 측정기(30)의 누설전류 표시부(33)에는 상기 전압에 대한 누설전류의 값이 표시된다. 따라서, 상기 누설전류의 값을 보고 나서 상기 검사된 4개의 유기발광장치의 불량 여부를 동시에 검사할 수가 있다. 그러므로, 본 발명은 상기 시트 글래스의 유기발광장치를 1개씩 누설전류 검사하는 것에 비하여 누설전류 검사 시간을 1/4로 단축할 수가 있다. 따라서, 동시에 검사하는 개수를 증가시킬수록 누설전류 검사시간을 더욱 단축할 수가 있다.In this state, a predetermined voltage for the leakage current test is applied to the switching circuit unit (not shown) on the printed circuit board 20 from the power supply unit 31 of the leakage current meter 30 via the connection wiring 40. The switching circuit unit may include a predetermined number of all organic light emitting devices of the sheet glass 10, for example, one or two or more, preferably, common electrodes C1 of each of the four organic light emitting devices. The voltages of the probes P1, P2, P3, P4, and P5 of the printed circuit board 20 corresponding to C2, C3, C4, and C5 in one-to-one correspondence. Apply simultaneously. Accordingly, the voltage is passed through the probes P1, P2, P3, P4, and P5 to common electrodes C1 and 4 of the organic light emitting diodes of the sheet glass 10. C2), (C3), (C4) and (C5) are simultaneously applied. Therefore, the leakage current display unit 33 of the leakage current meter 30 displays the value of the leakage current with respect to the voltage. Therefore, after viewing the value of the leakage current, it is possible to simultaneously check whether the four organic light emitting devices inspected are defective. Therefore, the present invention can shorten the leakage current inspection time by 1/4 as compared with the leakage current inspection of the organic light emitting devices of the sheet glass one by one. Therefore, the leakage current inspection time can be further shortened as the number of simultaneous inspections is increased.

한편, 상기 누설전류 검사를 위해 상기 공통전극(C1),(C2)에는 예를 들어 0~-20.5V의 직류 전압을 0.5V의 전압 단위로 조정하면서 인가되고, 상기 공통전극(C3),(C4),(C5)는 접지상태로 유지하는 것이 일반적이다.On the other hand, for checking the leakage current is applied to the common electrodes (C1), (C2), for example, while adjusting a DC voltage of 0 ~ -20.5V in a voltage unit of 0.5V, the common electrodes (C3), ( It is common to keep C4) and C5 in the ground state.

이후, 상기 4개의 유기발광장치에 대한 누설전류 검사가 완료되면, 상기 인쇄회로기판(20)을 전혀 이동시키지 않은 상태에서 상기한 방식과 동일하게 상기 시 트 글래스(10) 상의 누설전류 검사되지 않은 유기발광장치를 4개씩 누설전류 검사한다.Subsequently, when the leakage current inspection of the four organic light emitting devices is completed, the leakage current on the sheet glass 10 is not inspected in the same manner as described above without moving the printed circuit board 20 at all. Inspect the four organic light emitting devices for leakage current.

따라서, 본 발명은 상기 시트 글래스(10)의 각각의 유기발광장치에 공통단자를 5개씩 형성하고, 상기 5개 공통단자에 일대일 대응하여 인쇄회로기판 상의 탐침을 5개씩 설치하므로 상기 유기발광장치의 공통단자와 상기 인쇄회로기판의 탐침을 종래에 비하여 훨씬 용이하게 얼라인먼트시킬 수가 있다.Accordingly, the present invention forms five common terminals in each organic light emitting device of the sheet glass 10, and installs five probes on a printed circuit board in one-to-one correspondence with the five common terminals. The common terminal and the probe of the printed circuit board can be aligned more easily than in the prior art.

또한, 본 발명은 상기 시트 글래스 상의 모든 유기발광장치를 각각의 크기로 절단하기 전에 상기 유기발광장치의 누설전류를 검사하므로 누설전류 불량의 유기발광장치에 대해 신속하게 대응할 수가 있을 뿐만 아니라 누설전류 불량의 유기발광장치에 대해 후속 공정의 원자재를 투입하지 않을 수가 있고 나아가 불필요한 원자재의 낭비를 방지할 수 있다.In addition, the present invention inspects the leakage current of the organic light emitting device before cutting all organic light emitting devices on the sheet glass to their respective sizes, so that the organic light emitting device of the leakage current failure can be quickly responded to, and the leakage current failure can be solved. In the organic light emitting device of the present invention, raw materials of subsequent processes may not be added and further waste of unnecessary raw materials may be prevented.

또한, 본 발명은 1대의 누설전류 검사장치를 이용하여 상기 시트 글래스에 형성된 모든 유기발광장치를 소정의 개수씩 동시에 누설전류 검사할 수 있으므로 누설전류 검사의 시간을 단축할 수 있다. 뿐만 아니라, 여러대의 누설전류 검사장치를 설치하는 것이 필요하지 않으므로 누설전류 검사장치의 구입에 대한 비용부담이 경감되고 아울러 넓은 설치공간이 불필요하다.
In addition, the present invention can reduce the time of leakage current inspection because all of the organic light emitting devices formed on the sheet glass can be tested at the same time by a predetermined number using one leak current inspection apparatus. In addition, since it is not necessary to install several leakage current inspection apparatuses, the cost burden of purchasing a leakage current inspection apparatus is reduced, and a large installation space is unnecessary.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 유기발광장치의 누설전류 검사 방법은 1장의 시트 글래스 상에 복수개 형성된 유기발광장치 각각의 해당 색상의 애노드전극 및 캐소드전극의 공통전극을 형성하고, 상기 공통전극에 해당하는 탐침을 인쇄회로기판에 형성하고, 상기 공통전극과 탐침을 일대일 접촉시킨 후 누설전류 측정기를 이용하여 전압을 소정 개수의 유기발광소자에 동시에 인가하여 상기 소정 개수의 유기발광소자의 누설전류를 동시에 형성한다.As described above, the leakage current inspection method of the organic light emitting device according to the present invention forms a common electrode of the anode electrode and the cathode electrode of each color of the organic light emitting device formed on a plurality of sheet glass, the common electrode A probe corresponding to the printed circuit board, contacting the common electrode with the probe in one-to-one contact, and then applying a voltage to a predetermined number of organic light emitting diodes simultaneously using a leakage current meter to prevent leakage of the predetermined number of organic light emitting diodes. Form simultaneously.

따라서, 본 발명은 상기 시트 글래스 상의 유기발광장치를 몇 개씩 동시에 누설전류 검사할 수 있으므로 누설전류 검사시간을 단축할 수 있고, 상기 공통전극과 탐침을 일대일 대응하여 얼라인먼트시키므로 얼라인먼트의 용이성을 향상시킬 수가 있다. 또한, 본 발명은 시트 글래스를 각각의 유기발광장치의 크기로 절단하기 전에 누설전류를 측정하므로 누설전류 불량의 유기발광장치에 대해 신속한 대응을 하여 후속공정에서 불필요한 원자재의 낭비를 방지할 수 있다. 뿐만 아니라, 여러대의 누설전류 검사장치를 설치하는 것이 필요하지 않으므로 누설전류 검사장치의 구입에 대한 비용부담이 경감되고 아울러 넓은 설치공간이 불필요하다.Therefore, the present invention can reduce the leakage current inspection time by several leakage current inspection of the organic light emitting device on the sheet glass at the same time, the alignment of the common electrode and the probe in one-to-one correspondence can improve the ease of alignment. have. In addition, since the present invention measures the leakage current before cutting the sheet glass to the size of each organic light emitting device, it is possible to quickly respond to the organic light emitting device of the leakage current failure to prevent unnecessary waste of raw materials in subsequent steps. In addition, since it is not necessary to install several leakage current inspection apparatuses, the cost burden of purchasing a leakage current inspection apparatus is reduced, and a large installation space is unnecessary.

한편, 본 발명은 도시된 도면과 상세한 설명에 기술된 내용에 한정하지 않으며 본 발명의 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 변형도 가능함은 이 분야에 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 사실이다.On the other hand, the present invention is not limited to the contents described in the drawings and detailed description, it is obvious to those skilled in the art that various modifications can be made without departing from the spirit of the invention. .

Claims (3)

1장의 시트 글래스 상에 복수개 배열된 모든 유기발광장치 각각의 해당 애노드전극 및 캐소드전극의 공통단자와, 인쇄회로기판 상에 설치된, 상기 모든 유기발광장치의 공통단자에 대응하는 복수개의 탐침을 일대일 접촉시키는 단계; 및One-to-one contact between the common terminals of the respective anode and cathode electrodes of each organic light emitting device arranged in plural sheets on one sheet glass, and the plurality of probes corresponding to the common terminals of all the organic light emitting devices installed on the printed circuit board. Making a step; And 상기 탐침과 공통단자가 접촉된 상태에서, 상기 유기발광장치를 정해진 개수씩 동시에 누설전류 검사하기 위해, 누설전류 측정기를 이용하여 전원을 상기 정해진 개수의 유기발광장치에 동시에 인가하면서 상기 정해진 개수의 유기발광장치의 누설전류를 동시에 검사하는 단계를 포함하며,In the state where the probe and the common terminal are in contact with each other, in order to simultaneously check leakage current of the organic light emitting device by a predetermined number, the predetermined number of organic light emitting devices are simultaneously applied to the predetermined number of organic light emitting devices by using a leakage current meter. Simultaneously inspecting the leakage current of the light emitting device; 상기 해당 애노드전극 및 캐소드전극의 공통단자는 상기 유기발광장치를 위한 영역 외측 부분에 배치되고, 상기 애노드전극의 공통단자를, 적색을 위한 애노드전극의 공통단자, 청색을 위한 애노드전극의 공통단자 및 녹색을 위한 애노드전극의 공통단자로 구성하고, 상기 캐소드전극의 공통단자를 상기 캐소드전극의 좌, 우측단에 각각 공통 연결된 공통단자로 구성하는 것을 특징으로 하는 유기발광장치의 누설전류 검사 방법.The common terminal of the corresponding anode electrode and the cathode electrode is disposed outside the region for the organic light emitting device, the common terminal of the anode electrode, the common terminal of the anode electrode for red, the common terminal of the anode electrode for blue and And a common terminal of the anode electrode for green, and a common terminal of the cathode electrode as a common terminal connected to the left and right ends of the cathode electrode, respectively. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 정해진 개수가 1개 이상 복수개인 것을 특징으로 하는 유기발광장치의 누설전류 검사 방법.The method of claim 1, wherein the predetermined number is one or more.
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