JP2010145712A - Matrix type display device and method of inspecting matrix-type display device - Google Patents

Matrix type display device and method of inspecting matrix-type display device Download PDF

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JP2010145712A JP2008322388A JP2008322388A JP2010145712A JP 2010145712 A JP2010145712 A JP 2010145712A JP 2008322388 A JP2008322388 A JP 2008322388A JP 2008322388 A JP2008322388 A JP 2008322388A JP 2010145712 A JP2010145712 A JP 2010145712A
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Hiroshi Sagawa
裕志 佐川
Takayuki Taneda
貴之 種田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid tracking back a mounting process for a wiring board by confirming whether a mounting miss is made in the mounting process. <P>SOLUTION: A matrix type display device includes a support substrate where a signal line 51 is formed; a video signal wiring board 50a disposed at a peripheral portion of the support substrate and having a signal connection line 53 formed corresponding to the signal line 51; and an electrical connection portion for electrically connecting the signal 51 and signal connection line 53 to each other, wherein the support substrate has a pair of free terminals 54a and 54b that does not correspond to the signal connection line 53, outside the signal line 51 at the electric connection portion, and the video signal wiring board 50a has a short-circuit interconnect 56a electrically connected to the free terminals 54a and 54b to short-circuit the free terminals 54a and 54b, when the electric connection portion electrically connects the signal line 51 and signal connection line 53 to each other. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各発光素子を発光させるための発光用配線と、発光用配線に対応する接続用配線とを有するマトリックス型表示装置及びマトリックス型表示装置の検査方法に係るものである。そして、詳しくは、発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無の確認を簡単に行えるようにした技術に関するものである。   The present invention relates to a matrix-type display device and a matrix-type display device having a plurality of light-emitting elements arranged in a matrix, light-emitting wirings for causing each light-emitting element to emit light, and connection wirings corresponding to the light-emitting wirings This relates to the inspection method. More specifically, the present invention relates to a technique that allows easy confirmation of the presence / absence of electrical connection between a light-emitting wiring and a connection wiring.

現在、マトリックス型表示装置であるフラットパネルディスプレイ(FPD)は、液晶表示装置(LCD)が主流を占めている。しかし、液晶表示装置は、自発光デバイスではなく、バックライトや偏光板等の部材を必要とする。そのため、液晶表示装置の厚みが増すだけでなく、輝度が不足する等の問題点を有している。   Currently, a liquid crystal display (LCD) dominates a flat panel display (FPD) which is a matrix display device. However, the liquid crystal display device is not a self-luminous device but requires a member such as a backlight or a polarizing plate. For this reason, not only the thickness of the liquid crystal display device is increased, but also the luminance is insufficient.

そこで、近年では、発光素子として有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、「有機EL素子」という)を使用した有機EL表示装置に対する関心が高まっている。この有機EL表示装置は、有機EL素子をマトリックス状に配列して各画素を構成するとともに、有機EL素子を駆動する駆動装置を設けた自発光デバイスである。そして、有機EL表示装置は、液晶表示装置と比較して、バックライト等の他の部材が原理的に不要であり、薄型化が可能で高輝度である等の利点を有している。特に、各画素に対応するスイッチング素子(駆動装置)を設けたアクティブマトリックス型有機EL表示装置は、各画素をホールド点灯させることで消費電流を低く抑えることができるという利点がある。また、大画面化や高精細化を比較的容易に達成できる。そのため、各社で開発が進められており、次世代のフラットパネルディスプレイの主流になると期待されている。   Therefore, in recent years, interest in an organic EL display device using an organic electroluminescence element (hereinafter referred to as “organic EL element”) as a light emitting element is increasing. This organic EL display device is a self-luminous device in which organic EL elements are arranged in a matrix to form each pixel, and a driving device for driving the organic EL elements is provided. In addition, the organic EL display device has advantages in that other members such as a backlight are not necessary in principle as compared with the liquid crystal display device, can be reduced in thickness, and has high luminance. In particular, an active matrix type organic EL display device provided with a switching element (drive device) corresponding to each pixel has an advantage that current consumption can be suppressed low by lighting each pixel. In addition, a large screen and high definition can be achieved relatively easily. For this reason, development is progressing by each company, and it is expected to become the mainstream of next-generation flat panel displays.

ここで、アクティブマトリックス型有機EL表示装置に使用される有機EL素子は、アノード電極とカソード電極との間に有機物の正孔輸送層や有機物の発光層(有機物層)を積層した電流発光素子である。そのため、有機EL素子の有機物層に電子と正孔とを注入すれば発光する。そして、有機EL素子に流れる電流値を駆動装置によってコントロールすることにより、所望の輝度を得ることができる。   Here, the organic EL element used for the active matrix organic EL display device is a current light emitting element in which an organic hole transport layer or an organic light emitting layer (organic substance layer) is laminated between an anode electrode and a cathode electrode. is there. Therefore, light is emitted when electrons and holes are injected into the organic layer of the organic EL element. And the desired brightness | luminance can be obtained by controlling the electric current value which flows into an organic EL element with a drive device.

このようなアクティブマトリックス型有機EL表示装置は、支持基板の上にTFT(薄膜トランジスタ)等の駆動装置が配置され、TFT等の上に絶縁膜が積層され、この絶縁膜の上に有機EL素子が配列されている。そして、有機EL素子を駆動するために、例えば、有機EL素子のアノード電極とTFTのソース電極とが電気的に接続されている。さらに、支持基板の上には、TFT等に接続される発光用配線(例えば、走査線、電源制御線、信号線等)が配線されている。   In such an active matrix organic EL display device, a driving device such as a TFT (thin film transistor) is disposed on a support substrate, an insulating film is laminated on the TFT or the like, and an organic EL element is formed on the insulating film. It is arranged. In order to drive the organic EL element, for example, the anode electrode of the organic EL element and the source electrode of the TFT are electrically connected. Further, light emitting wiring (for example, a scanning line, a power supply control line, a signal line, etc.) connected to the TFT or the like is wired on the support substrate.

また、支持基板の周辺部には、発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板が配置されている。具体的には、支持基板の外側に、フレキシブルプリント基板である走査信号・電源制御信号配線基板、映像信号配線基板、及び電源供給配線基板がそれぞれ別々に接続されており、有機EL素子を発光させるようになっている。そして、走査信号・電源制御信号配線基板及び映像信号配線基板には、ドライバIC(Integrated Circuit)が接続されており、TCP(Tape Carrier Package)となっている。一方、電源供給配線基板は、TAB(Tape Automated Bonding)によって外部回路と接続されている。   In addition, a wiring board on which connection wiring corresponding to the light emission wiring is formed is disposed around the support substrate. Specifically, a scanning signal / power control signal wiring board, a video signal wiring board, and a power supply wiring board, which are flexible printed boards, are separately connected to the outside of the support board, and the organic EL element emits light. It is like that. Then, a driver IC (Integrated Circuit) is connected to the scanning signal / power control signal wiring board and the video signal wiring board to form a TCP (Tape Carrier Package). On the other hand, the power supply wiring board is connected to an external circuit by TAB (Tape Automated Bonding).

しかし、製造工程で異物が混入等すると、その異物によって発光用配線でショートが発生し、点欠陥や、有機EL素子の横一列又は縦一列のすべてが線欠陥となる。また、製造工程において、フレキシブルプリント基板の実装ミスにより、発光用配線と接続用配線との電気的な接続がなされていない場合にも、点欠陥や線欠陥が発生する。そのため、歩留りが低下してしまう。   However, when a foreign substance is mixed in the manufacturing process, a short circuit occurs in the light emitting wiring due to the foreign substance, and a point defect or a horizontal line or a vertical line of the organic EL element becomes a line defect. Further, in the manufacturing process, a point defect or a line defect also occurs when the light emitting wiring and the connection wiring are not electrically connected due to a mounting error of the flexible printed circuit board. As a result, the yield decreases.

そこで、ショートが発生した場合に、その修復作業を行うことができるようにしたマトリックス型配線基板が知られている。具体的には、ゲートライン上で交差するドレインラインを覆う層間絶縁膜に対し、両ラインの交点を挟むように予め一対の開口部を形成し、この開口部において、ドレインラインを露出させておく。そして、層間絶縁膜の欠陥により、両ラインの交点でショートが発生し、それを検査工程において検知した場合は、そのショート部分を挟む一対の開口部のそれぞれ内側(ショート側)の層間絶縁膜を破壊し、その下のドレインラインを切断する。その後、一対の開口部を介して、ショート部分を迂回するようにバイパスラインを形成し、切断したドレインラインを再び接続するようにした技術である(例えば、特許文献1参照)。
特開2000−241833号公報
Therefore, there is known a matrix type wiring board that can perform repair work when a short circuit occurs. Specifically, a pair of openings are formed in advance in the interlayer insulating film covering the drain lines intersecting on the gate lines so as to sandwich the intersection of both lines, and the drain lines are exposed in the openings. . When a short circuit occurs at the intersection of both lines due to a defect in the interlayer insulating film, and this is detected in the inspection process, the interlayer insulating film on the inner side (short side) of the pair of openings sandwiching the shorted portion is Destroy and cut the drain line below it. Thereafter, a bypass line is formed so as to bypass the short portion through a pair of openings, and the disconnected drain line is connected again (for example, refer to Patent Document 1).
JP 2000-241833 A

しかし、上記の特許文献1の技術は、ショート部分に対し、バイパスラインを形成して修復するものである。そのため、フレキシブルプリント基板の実装ミスによる有機EL素子の点灯不良には対応できない。そして、有機EL素子の点灯確認は、フレキシブルプリント基板を実装した後の検査工程で行っているので、実装ミスによる点灯不良があった場合には、すでに終了したはずの実装工程にもう一度戻してやり直さなければならない。その結果、フレキシブルプリント基板の実装を再度行うこととなり、そのための余分な工数が発生してしまう。   However, the technique of Patent Document 1 described above is to repair a short portion by forming a bypass line. Therefore, it cannot cope with lighting failure of the organic EL element due to a mounting error of the flexible printed circuit board. And, since the lighting check of the organic EL element is performed in the inspection process after mounting the flexible printed circuit board, if there is a lighting failure due to a mounting error, return to the mounting process that should have been completed and try again. There must be. As a result, the flexible printed circuit board is mounted again, and extra man-hours for that are generated.

したがって、本発明が解決しようとする課題は、検査工程に行く前の配線基板(フレキシブルプリント基板)の実装工程において、実装ミスの有無(発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無)を確認できるようにし、工程の後戻りを回避できるようにすることである。   Therefore, the problem to be solved by the present invention is that there is a mounting error in the mounting process of the wiring board (flexible printed circuit board) before going to the inspection process (whether there is an electrical connection between the light emitting wiring and the connecting wiring). ) Can be confirmed, and backtracking of the process can be avoided.

本発明は、以下の解決手段によって、上述の課題を解決する。
本発明の請求項1に記載の発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部とを備え、前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有するマトリックス型表示装置である。
The present invention solves the above-described problems by the following means.
According to the first aspect of the present invention, there is provided a support substrate on which a plurality of light emitting elements arranged in a matrix, light emitting wirings for causing each of the light emitting elements to emit light, and a peripheral portion of the support substrate And a wiring board on which connection wiring corresponding to the light emission wiring is formed, and an electrical connection portion for electrically connecting the light emission wiring and the connection wiring, Has a pair of free terminals that do not correspond to the connection wiring outside the light emission wiring of the electrical connection portion, and the wiring board includes the light emission wiring and the connection wiring at the electrical connection portion. Is a matrix type display device having a short-circuit wiring that is electrically connected to each of the free terminals to short-circuit the free terminals.

また、本発明の請求項5に記載の発明は、請求項1に記載の発明と同様の発光素子と、発光用配線が形成された支持基板と、接続用配線が形成された配線基板と、電気接続部とを備え、前記配線基板は、前記電気接続部の前記接続用配線の外側に、前記発光用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記支持基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有するマトリックス型表示装置である。   The invention according to claim 5 of the present invention is a light emitting element similar to that of the invention according to claim 1, a support substrate on which light emitting wiring is formed, a wiring substrate on which connection wiring is formed, The wiring board has a pair of free terminals that do not correspond to the light-emitting wiring outside the connection wiring of the electrical connection part, and the support substrate is the electrical connection part When the light-emitting wiring and the connection wiring are electrically connected, the matrix display device includes a short-circuit wiring that is electrically connected to the free terminals to short-circuit the free terminals.

(作用)
上記の請求項1及び請求項5に記載の発明は、電気接続部の発光用配線又は接続用配線の外側に、一対の自由端子を有している。そして、配線基板又は支持基板は、電気接続部で発光用配線と接続用配線とを電気的に接続したときに、各自由端子に電気的に接続されて自由端子同士を短絡するための短絡配線を有している。そのため、電気接続部の発光用配線又は接続用配線の両外側間において、自由端子同士の導通状態を確認することができる。
(Function)
The invention described in claim 1 and claim 5 has a pair of free terminals on the outside of the light emission wiring or the connection wiring of the electrical connection portion. The wiring board or the support board is a short-circuit wiring that is electrically connected to each free terminal and short-circuits between the free terminals when the light-emitting wiring and the connection wiring are electrically connected at the electrical connection portion. have. Therefore, the conduction state of the free terminals can be confirmed between the outer sides of the light emission wiring or the connection wiring of the electrical connection portion.

また、本発明の請求項6に記載の発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部とを備え、前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有しており、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続した後、前記自由端子間の抵抗値を測定するマトリックス型表示装置の検査方法である。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a support substrate on which a plurality of light emitting elements arranged in a matrix, light emitting wirings for causing each of the light emitting elements to emit light, A wiring board disposed in a peripheral portion and provided with a connection wiring corresponding to the light emission wiring; and an electrical connection portion for electrically connecting the light emission wiring and the connection wiring, The support substrate has a pair of free terminals that do not correspond to the connection wiring outside the light emission wiring of the electrical connection portion, and the wiring substrate is connected to the light emission wiring and the connection at the electrical connection portion. When the wiring is electrically connected, it has a short-circuit wiring that is electrically connected to each free terminal to short-circuit the free terminals, and the light-emitting wiring and the connection wiring After electrical connection, between the free terminals An inspection method of a matrix type display device for measuring the anti-values.

(作用)
上記の請求項6に記載の発明は、電気接続部の発光用配線の外側に、一対の自由端子を有している。また、配線基板は、電気接続部で発光用配線と接続用配線とを電気的に接続したときに、各自由端子に電気的に接続されて自由端子同士を短絡するための短絡配線を有している。そして、発光用配線と接続用配線とを電気的に接続した後、自由端子間の抵抗値を測定する。そのため、測定された抵抗値により、自由端子間の導通状態を確認することができる。
(Function)
The invention described in claim 6 has a pair of free terminals on the outer side of the light emitting wiring of the electrical connecting portion. In addition, the wiring board has a short-circuit wiring that is electrically connected to each free terminal to short-circuit the free terminals when the light-emitting wiring and the connection wiring are electrically connected at the electrical connection portion. ing. And after electrically connecting the wiring for light emission and the wiring for connection, the resistance value between free terminals is measured. Therefore, the conduction state between the free terminals can be confirmed from the measured resistance value.

上記の発明によれば、電気接続部の発光用配線(又は接続用配線)の外側にある一対の自由端子同士の導通状態を確認することができる。そして、自由端子同士が導通していれば、その内側にある発光用配線(又は接続用配線)も導通していると予想できる。逆に、自由端子同士が導通していなければ、その内側にある発光用配線(又は接続用配線)も導通していないと予想できる。したがって、発光素子の点灯確認をしなくても、電気接続部の発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。   According to said invention, the conduction | electrical_connection state of a pair of free terminals in the outer side of the light emission wiring (or connection wiring) of an electrical connection part can be confirmed. If the free terminals are electrically connected, it can be expected that the light emitting wiring (or connecting wiring) inside thereof is also electrically connected. On the other hand, if the free terminals are not conductive, it can be expected that the light emitting wiring (or the connecting wiring) inside thereof is not conductive. Therefore, it is possible to easily confirm whether or not there is an electrical connection between the light emission wiring and the connection wiring in the electrical connection portion without confirming the lighting of the light emitting element.

以下、図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態(以下、実施の形態とする)について説明する。
ここで、本発明におけるマトリックス型表示装置は、以下の実施の形態では、有機ELディスプレイ10、80、90であるとする。なお、説明は、以下の順序で行う。

1.第1の実施の形態(有機ELディスプレイ10:支持基板に自由端子を設けた例)
2.第2の実施の形態(有機ELディスプレイ80:支持基板に自由端子を設けた例)
3.第3の実施の形態(有機ELディスプレイ90:配線基板に自由端子を設けた例)
The best mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as an embodiment) will be described below with reference to the drawings.
Here, the matrix type display device according to the present invention is assumed to be the organic EL displays 10, 80, 90 in the following embodiments. The description will be given in the following order.

1. First embodiment (organic EL display 10: an example in which a free terminal is provided on a support substrate)
2. Second embodiment (organic EL display 80: an example in which a free terminal is provided on a support substrate)
3. Third embodiment (organic EL display 90: an example in which a free terminal is provided on a wiring board)

<1.第1の実施の形態>
[マトリックス型表示装置の構成例]

図1は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第1の実施の形態)としての、有機ELディスプレイ10を示す平面図である。
<1. First Embodiment>
[Configuration example of matrix type display device]

FIG. 1 is a plan view showing an organic EL display 10 as one embodiment (first embodiment) of a matrix display device of the present invention.

図1に示すように、有機ELディスプレイ10は、ガラス等の透明基板やシリコン基板等の中から適宜選択して用いられる絶縁基板を支持基板11としている。そして、支持基板11の上に、複数の有機EL素子20(本発明における発光素子に相当するもの)によって構成された表示領域10a(各有機EL素子20の配列範囲)が形成されている。具体的には、表示領域10aにおいて、有機EL素子20は、M行×N列のマトリックス状の画素として配列されている。そして、有機EL素子20には、光の三原色中の赤を発光するR画素20aと、緑を発光するG画素20bと、青を発光するB画素20cとの3種類がある。   As shown in FIG. 1, the organic EL display 10 uses an insulating substrate that is appropriately selected from a transparent substrate such as glass or a silicon substrate as a supporting substrate 11. On the support substrate 11, a display region 10 a (an arrangement range of the organic EL elements 20) composed of a plurality of organic EL elements 20 (corresponding to the light emitting elements in the present invention) is formed. Specifically, in the display area 10a, the organic EL elements 20 are arranged as pixels in a matrix of M rows × N columns. The organic EL element 20 includes three types of an R pixel 20a that emits red in the three primary colors of light, a G pixel 20b that emits green, and a B pixel 20c that emits blue.

このような有機ELディスプレイ10の支持基板11には、各有機EL素子20を発光させるための発光用配線として、走査線41、電源制御線42、及び信号線51が形成されている。また、支持基板11の周辺部には、発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板が配置されている。この配線基板は、フレキシブルプリント基板からなり、走査信号・電源制御信号配線基板40、映像信号配線基板50、及び電源供給配線基板60がそれぞれ別々に支持基板11に接続されるようになっている。   On the support substrate 11 of the organic EL display 10, scanning lines 41, power supply control lines 42, and signal lines 51 are formed as light emission wirings for causing each organic EL element 20 to emit light. In addition, a wiring board on which connection wiring corresponding to the light emission wiring is formed is disposed around the support substrate 11. This wiring board is composed of a flexible printed circuit board, and the scanning signal / power control signal wiring board 40, the video signal wiring board 50, and the power supply wiring board 60 are separately connected to the support board 11, respectively.

ここで、走査信号・電源制御信号配線基板40及び映像信号配線基板50には、それぞれドライバIC43(図示せず)及びドライバIC52(図示せず)が接続されており、TCP(Tape Carrier Package)となっている。一方、電源供給配線基板60は、TAB(Tape Automated Bonding)によって外部回路と接続されている。そして、これらと支持基板11とは、ACF(Anisotropic Conductive Film )を用いた圧着(ACF圧着)によって接続されている。そして、走査信号・電源制御信号配線基板40、映像信号配線基板50、及び電源供給配線基板60に実装ミスがなければ、各有機EL素子20を発光させることができる。   Here, a driver IC 43 (not shown) and a driver IC 52 (not shown) are connected to the scanning signal / power control signal wiring board 40 and the video signal wiring board 50, respectively, and TCP (Tape Carrier Package) and It has become. On the other hand, the power supply wiring board 60 is connected to an external circuit by TAB (Tape Automated Bonding). These and the support substrate 11 are connected by pressure bonding (ACF pressure bonding) using ACF (Anisotropic Conductive Film). If there is no mounting error in the scanning signal / power control signal wiring board 40, the video signal wiring board 50, and the power supply wiring board 60, each organic EL element 20 can emit light.

[発光素子の構成例]
図2は、図1に示す有機ELディスプレイ10の有機EL素子20(R画素20a、G画素20b、及びB画素20c)を示す平面図である。
また、図3は、図1に示す有機ELディスプレイ10の1つの有機EL素子20の表層部を示す平面図及び断面図である。
さらにまた、図4は、図1に示す有機ELディスプレイ10の1つの有機EL素子20の内部構造を示す平面図である。
さらに、図5は、図1に示す有機ELディスプレイ10の等価回路図である。
[Configuration example of light emitting element]
FIG. 2 is a plan view showing the organic EL elements 20 (R pixel 20a, G pixel 20b, and B pixel 20c) of the organic EL display 10 shown in FIG.
3 is a plan view and a cross-sectional view showing a surface layer portion of one organic EL element 20 of the organic EL display 10 shown in FIG.
FIG. 4 is a plan view showing the internal structure of one organic EL element 20 of the organic EL display 10 shown in FIG.
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of the organic EL display 10 shown in FIG.

有機EL素子20は、上部電極である透明なカソード電極21(図3参照)と、下部電極であるアノード電極22(図2及び図3参照)との間に、有機物の発光層である有機物層23(図3参照)を積層したものである。そして、このような有機EL素子20は、支持基板11(図1参照)の上に、図2に示すように、R画素20a、G画素20b、及びB画素20cを一組として、マトリックス状に配列されている。また、有機EL素子20は、図4及び図5に示すように、有機EL素子20ごとにそれぞれ設けられた薄膜トランジスタ(駆動TFT30a、書込みTFT30b)や容量素子(キャパシタ34)からなる駆動手段によって駆動される。したがって、第1の実施の形態の有機ELディスプレイ10(図1参照)は、有機EL素子20ごとに設けられた駆動手段によって駆動されるアクティブマトリックス型表示装置となっている。   The organic EL element 20 includes an organic material layer, which is an organic light emitting layer, between a transparent cathode electrode 21 (see FIG. 3) as an upper electrode and an anode electrode 22 (see FIGS. 2 and 3) as a lower electrode. 23 (see FIG. 3) are stacked. Such an organic EL element 20 is formed in a matrix on the support substrate 11 (see FIG. 1), as shown in FIG. It is arranged. Further, as shown in FIGS. 4 and 5, the organic EL element 20 is driven by driving means including a thin film transistor (driving TFT 30a and writing TFT 30b) and a capacitive element (capacitor 34) provided for each organic EL element 20. The Therefore, the organic EL display 10 (see FIG. 1) of the first embodiment is an active matrix display device that is driven by a driving unit provided for each organic EL element 20.

ここで、有機EL素子20は、図5に示すように、カソード電極21がGND(グラウンド)に接続され、アノード電極22が駆動TFT30aのソース電極31aに接続されている。そして、アノード電極22とソース電極31aとは、接続コンタクト24(図2ないし図4参照)を介して接続されている。   Here, as shown in FIG. 5, in the organic EL element 20, the cathode electrode 21 is connected to GND (ground), and the anode electrode 22 is connected to the source electrode 31a of the driving TFT 30a. The anode electrode 22 and the source electrode 31a are connected through a connection contact 24 (see FIGS. 2 to 4).

また、支持基板11(図1参照)の上には、図2、図4、及び図5に示すように、有機EL素子20を発光させるための発光用配線として、走査線41、電源制御線42、及び信号線51が形成されている。この走査線41は、マトリックス状に配列された有機EL素子20の各行(各行の上方)ごとに配線され、電源制御線42は、有機EL素子20の各行(各行の下方)ごとに配線され、信号線51は、有機EL素子20の各列ごとに配線されている。そして、図4及び図5に示すように、駆動TFT30aのドレイン電極32aは、正電位(Vcc)の電源制御線42に接続され、駆動TFT30aのソース電極31aと書込みTFT30bのソース電極31bとの間には、キャパシタ34が接続されている。さらにまた、駆動TFT30aのゲート電極33aは、書込みTFT30bのソース電極31bと接続され、書込みTFT30bのドレイン電極32bは、信号線51と接続され、ゲート電極33bは、走査線41と接続されている。   Further, on the support substrate 11 (see FIG. 1), as shown in FIGS. 2, 4, and 5, scanning lines 41 and power control lines are provided as light emission wirings for causing the organic EL elements 20 to emit light. 42 and a signal line 51 are formed. The scanning line 41 is wired for each row (above each row) of the organic EL elements 20 arranged in a matrix, and the power supply control line 42 is wired for each row (below each row) of the organic EL elements 20, The signal line 51 is wired for each column of the organic EL elements 20. 4 and 5, the drain electrode 32a of the drive TFT 30a is connected to the power supply control line 42 having a positive potential (Vcc), and between the source electrode 31a of the drive TFT 30a and the source electrode 31b of the write TFT 30b. A capacitor 34 is connected to the capacitor. Furthermore, the gate electrode 33a of the driving TFT 30a is connected to the source electrode 31b of the writing TFT 30b, the drain electrode 32b of the writing TFT 30b is connected to the signal line 51, and the gate electrode 33b is connected to the scanning line 41.

このような有機EL素子20では、駆動TFT30aが駆動トランジスタとなり、書込みTFT30bがスイッチングトランジスタとなっている。そして、走査線41に信号を印加し、書込みTFT30bのゲート電極33bの電位を制御すると、信号線51の電圧が駆動TFT30aのゲート電極33aに印加される。この際、ゲート電極33aの電位は、次に走査線41に信号が印加されるまでの間、キャパシタ34によって安定的に保持される。そのため、この間は、駆動TFT30aのゲート電極33aとソース電極31aとの間の電圧に応じた電流が有機EL素子20に流れる。その結果、有機EL素子20が電流値に応じた輝度で発光し続けることとなる。   In such an organic EL element 20, the driving TFT 30a is a driving transistor, and the writing TFT 30b is a switching transistor. When a signal is applied to the scanning line 41 and the potential of the gate electrode 33b of the writing TFT 30b is controlled, the voltage of the signal line 51 is applied to the gate electrode 33a of the driving TFT 30a. At this time, the potential of the gate electrode 33 a is stably held by the capacitor 34 until a signal is next applied to the scanning line 41. Therefore, during this time, a current corresponding to the voltage between the gate electrode 33a and the source electrode 31a of the driving TFT 30a flows through the organic EL element 20. As a result, the organic EL element 20 continues to emit light with a luminance corresponding to the current value.

このように、有機ELディスプレイ10(図1参照)は、有機EL素子20に流れる電流値をコントロールして発光させている。また、電源制御線42をパルス駆動(2回パルス)することにより、有機EL素子20を駆動している。そして、1回目のパルスで駆動TFT30aの特性バラツキである閾値電圧の補正を行い、2回目のパルスで信号の印加と移動度の補正とを同時に行なっている。そのため、有機EL素子20の経時劣化や駆動TFT30aの特性のバラツキが抑制されたものとなっている。   Thus, the organic EL display 10 (see FIG. 1) emits light by controlling the value of the current flowing through the organic EL element 20. Further, the organic EL element 20 is driven by driving the power supply control line 42 in a pulse manner (two pulses). Then, the threshold voltage, which is the characteristic variation of the driving TFT 30a, is corrected by the first pulse, and the signal application and the mobility correction are simultaneously performed by the second pulse. Therefore, the deterioration with time of the organic EL element 20 and the variation in the characteristics of the driving TFT 30a are suppressed.

また、有機EL素子20から発生した光は、図3に示す開口規定絶縁膜25が抜かれた開口部分(図2に示す開口部)から取り出される。具体的には、開口規定絶縁膜25は、アノード電極22及びその同層の補助配線26の全体を覆い、アノード電極22の上を部分的に抜いて画素(図2に示すR画素20a、G画素20b、及びB画素20c)用の開口としている。また、有機物層23は、アノード電極22よりも一回り大きく蒸着されている。さらにまた、透明なカソード電極21は、全画素の共通電極として全体的に成膜されており、カソード電極21の上には、封止材を介して封止ガラス(図示せず)が配置されている。そのため、有機EL素子20の発生光は、開口規定絶縁膜25の開口で、カソード電極21を通って外部に出ることとなる。なお、カソード電極21を構成している光透過率の高い導電性材料は、抵抗値が高いものである。そこで、カソード電極21の電気抵抗を調整し、カソード電極21の低抵抗化を図るため、カソード電極21には、補助配線26が接続されている。そして、この補助配線26は、アノード電極22の周囲に配線されており、カソード電極21と同電位で、例えば、GNDに接地されている。   Further, light generated from the organic EL element 20 is extracted from the opening portion (opening portion shown in FIG. 2) from which the opening defining insulating film 25 shown in FIG. 3 is removed. Specifically, the opening regulating insulating film 25 covers the entire anode electrode 22 and the auxiliary wiring 26 in the same layer, and a part of the anode electrode 22 is partially removed to form a pixel (R pixel 20a, G shown in FIG. 2). The openings are for pixels 20b and B pixels 20c). Further, the organic layer 23 is deposited to be slightly larger than the anode electrode 22. Furthermore, the transparent cathode electrode 21 is entirely formed as a common electrode for all pixels, and sealing glass (not shown) is disposed on the cathode electrode 21 via a sealing material. ing. Therefore, the light generated by the organic EL element 20 exits through the cathode electrode 21 through the opening of the opening defining insulating film 25. The conductive material having a high light transmittance constituting the cathode electrode 21 has a high resistance value. Therefore, an auxiliary wiring 26 is connected to the cathode electrode 21 in order to adjust the electric resistance of the cathode electrode 21 and reduce the resistance of the cathode electrode 21. The auxiliary wiring 26 is wired around the anode electrode 22 and is grounded to GND, for example, at the same potential as the cathode electrode 21.

しかし、図1に示す走査信号・電源制御信号配線基板40や映像信号配線基板50に実装ミスがあれば、有機EL素子20が発光しない。具体的には、図2、図4、及び図5に示す走査線41及び電源制御線42は、走査信号・電源制御信号配線基板40との間でACF圧着によって接続される。しかし、実装ミスによって接続されない走査線41や電源制御線42があれば、有機EL素子20の点灯不良となる。また、信号線51も、映像信号配線基板50との間でACF圧着によって接続されるが、実装ミスによって接続されない信号線51があれば、有機EL素子20の点灯不良となる。   However, if there is a mounting error in the scanning signal / power control signal wiring board 40 or the video signal wiring board 50 shown in FIG. 1, the organic EL element 20 does not emit light. Specifically, the scanning line 41 and the power supply control line 42 shown in FIGS. 2, 4, and 5 are connected to the scanning signal / power supply control signal wiring board 40 by ACF pressure bonding. However, if there is a scanning line 41 or a power supply control line 42 that is not connected due to a mounting error, the organic EL element 20 will be poorly lit. The signal line 51 is also connected to the video signal wiring board 50 by ACF crimping. However, if there is a signal line 51 that is not connected due to a mounting error, the organic EL element 20 is poorly lit.

[配線基板の構成及び実装例]

図6は、図1に示す有機ELディスプレイ10の走査信号・電源制御信号配線基板40を示す平面図である。
また、図7は、図1に示す有機ELディスプレイ10の映像信号配線基板50を示す平面図である。
さらにまた、図8は、図7に示す映像信号配線基板50(50a、50b)の実装部を示す斜視図である。なお、図8では、理解の容易のために、映像信号配線基板50aの一部をめくって図示している。
[Configuration and mounting example of wiring board]

FIG. 6 is a plan view showing the scanning signal / power control signal wiring board 40 of the organic EL display 10 shown in FIG.
FIG. 7 is a plan view showing the video signal wiring board 50 of the organic EL display 10 shown in FIG.
FIG. 8 is a perspective view showing a mounting portion of the video signal wiring board 50 (50a, 50b) shown in FIG. In FIG. 8, for easy understanding, a part of the video signal wiring board 50a is turned over.

図6に示すように、走査信号・電源制御信号配線基板40は、制御用のドライバIC43と、接続用配線である走査・電源制御接続線44とを有している。そして、走査・電源制御接続線44は、ドライバIC43を介して、支持基板11上に配線された走査線41(41a、41b、・・・)及び電源制御線42(42a、42b、・・・)と電気的に接続されるようになっている。   As shown in FIG. 6, the scanning signal / power supply control signal wiring board 40 includes a driver IC 43 for control and a scanning / power supply control connection line 44 that is a connection wiring. The scanning / power control connection line 44 is connected to the scanning line 41 (41a, 41b,...) And the power control line 42 (42a, 42b,...) Wired on the support substrate 11 via the driver IC 43. ) To be electrically connected.

ここで、走査信号・電源制御信号配線基板40は、走査・電源制御接続線44を可とう性のあるフィルム状の絶縁体(例えば、ポリイミド樹脂)で両面側からはさみ込んだサンドイッチ構造をなすフレキシブルプリント基板である。そして、走査・電源制御接続線44は、ポリイミド樹脂製のフィルムの上に導体箔(例えば、銅箔)を貼り付けた後、エッチングすることによって形成されている。   Here, the scanning signal / power control signal wiring board 40 is a flexible film having a sandwich structure in which the scanning / power control connection line 44 is sandwiched from both sides by a flexible film-like insulator (for example, polyimide resin). It is a printed circuit board. The scanning / power supply control connection line 44 is formed by attaching a conductive foil (for example, copper foil) on a polyimide resin film and then etching it.

また、走査信号・電源制御信号配線基板40と支持基板11とは、ACF圧着によって接続される。そして、ドライバIC43と、走査線(41a、41b、・・・)及び電源制御線42(42a、42b、・・・)とが電気接続部12で接続される。具体的には、ドライバIC43の1番目のピン43aと、1行目の有機EL素子20(図1参照)に対応する走査線41aとが接続される。さらにまた、ドライバIC43の2番目のピン43bと、1行目の有機EL素子20に対応する電源制御線42aとが接続される。同様に、3番目のピン43cと、2行目の有機EL素子20に対応する走査線41bとが接続され、4番目のピン43dと、2行目の有機EL素子20に対応する電源制御線42bとが接続される。   The scanning signal / power control signal wiring board 40 and the support board 11 are connected by ACF pressure bonding. The driver IC 43 is connected to the scanning lines (41a, 41b,...) And the power supply control lines 42 (42a, 42b,. Specifically, the first pin 43a of the driver IC 43 is connected to the scanning line 41a corresponding to the organic EL element 20 in the first row (see FIG. 1). Furthermore, the second pin 43b of the driver IC 43 is connected to the power supply control line 42a corresponding to the organic EL element 20 in the first row. Similarly, the third pin 43c is connected to the scanning line 41b corresponding to the second row organic EL element 20, and the fourth pin 43d and the power control line corresponding to the second row organic EL element 20 are connected. 42b is connected.

一方、図7に示すように、映像信号配線基板50は、制御用のドライバIC52と、接続用配線である信号接続線53とを有している。そして、映像信号配線基板50は、ドライバIC52を介して、支持基板11上に配線された信号線51(51a、51b、51c、51d、・・・)と電気的に接続されるようになっている。   On the other hand, as shown in FIG. 7, the video signal wiring board 50 includes a driver IC 52 for control and a signal connection line 53 that is a connection wiring. The video signal wiring board 50 is electrically connected to the signal lines 51 (51a, 51b, 51c, 51d,...) Wired on the support board 11 via the driver IC 52. Yes.

ここで、映像信号配線基板50は、信号接続線53を可とう性のあるフィルム状の絶縁体(例えば、ポリイミド樹脂)で両面側からはさみ込んだサンドイッチ構造をなすフレキシブルプリント基板である。そして、信号接続線53は、ポリイミド樹脂製のフィルムの上に導体箔(例えば、銅箔)を貼り付けた後、エッチングすることによって形成されている。   Here, the video signal wiring board 50 is a flexible printed board having a sandwich structure in which the signal connection line 53 is sandwiched from both sides with a flexible film-like insulator (for example, polyimide resin). And the signal connection line 53 is formed by affixing a conductor foil (for example, copper foil) on a polyimide resin film and then etching.

また、映像信号配線基板50と支持基板11とは、ACF圧着によって接続される。そして、ドライバIC52と、信号線51(51a、51b、51c、51d、・・・)とが電気接続部12で接続される。具体的には、ドライバIC52の1番目のピン52aと、1行目の有機EL素子20(図1参照)に対応する信号線51aとが接続される。さらにまた、ドライバIC52の2番目のピン52bと、2行目の有機EL素子20に対応する信号線51bとが接続される。同様に、3番目のピン52cと、3行目の有機EL素子20に対応する信号線51cとが接続され、4番目のピン52dと、4行目の有機EL素子20に対応する信号線51dとが接続される。   Further, the video signal wiring board 50 and the support board 11 are connected by ACF pressure bonding. Then, the driver IC 52 and the signal lines 51 (51a, 51b, 51c, 51d,...) Are connected by the electrical connection unit 12. Specifically, the first pin 52a of the driver IC 52 is connected to the signal line 51a corresponding to the organic EL element 20 in the first row (see FIG. 1). Furthermore, the second pin 52b of the driver IC 52 and the signal line 51b corresponding to the organic EL element 20 in the second row are connected. Similarly, the third pin 52c and the signal line 51c corresponding to the organic EL element 20 in the third row are connected, and the signal line 51d corresponding to the fourth pin 52d and the organic EL element 20 in the fourth row. And are connected.

このような走査信号・電源制御信号配線基板40(図6参照)及び映像信号配線基板50(図7参照)は、図1に示すように、支持基板11の周辺部にそれぞれ別々に配置される。具体的には、走査信号・電源制御信号配線基板40は、マトリックス状に配列された有機EL素子20の列方向に複数配置され、映像信号配線基板50は、有機EL素子20の行方向に複数配置される。   The scanning signal / power control signal wiring board 40 (see FIG. 6) and the video signal wiring board 50 (see FIG. 7) are separately arranged on the periphery of the support substrate 11 as shown in FIG. . Specifically, a plurality of scanning signal / power control signal wiring boards 40 are arranged in the column direction of the organic EL elements 20 arranged in a matrix, and a plurality of video signal wiring boards 50 are arranged in the row direction of the organic EL elements 20. Be placed.

ここで、図8に示すように、支持基板11に対して映像信号配線基板50(50a、50b、・・・)を実装するには、電気接続部12において、信号線51(51a、51b、51c、・・・、51n)と信号接続線53(53a、53b、53c、・・・、53n)とを合わせる。そして、信号線51の先端に信号接続線53の先端を1対1で対向させてACF接続する。また、図6に示す走査・電源制御接続線44と走査線41及び電源制御線42との電気的な接続も、まったく同様にして行う。なお、図8では、説明の便宜のため、ドライバIC52(図7参照)の図示を省略している。   Here, as shown in FIG. 8, in order to mount the video signal wiring board 50 (50a, 50b,...) On the support board 11, the signal line 51 (51a, 51b,. 51c) and the signal connection line 53 (53a, 53b, 53c,..., 53n) are aligned. Then, an ACF connection is made with the tip of the signal connection line 53 facing the tip of the signal line 51 on a one-to-one basis. Further, the electrical connection between the scanning / power supply control connection line 44, the scanning line 41, and the power supply control line 42 shown in FIG. In FIG. 8, the driver IC 52 (see FIG. 7) is not shown for convenience of explanation.

しかし、映像信号配線基板50(50a、50b、・・・)の実装ミスにより、電気接続部12の接続不良が発生することがある。特に、映像信号配線基板50は、フレキシブルプリント基板であるため、信号線51(51a、51b、51c、・・・、51n)の外側で接続不良が発生しやすい。例えば、映像信号配線基板50aのように、実装ミスによって一部がめくられたようになると、信号線51a、51b、51cと信号接続線53a、53b、53cとの間が接続不良となる。逆に、反対側の信号線51nと信号接続線53nとの間のように、接続不良がなければ、信号線51n及び信号接続線53nより信号線51c及び信号接続線53cに近い側も、接続不良がないと予想できる。   However, a connection failure of the electrical connection portion 12 may occur due to a mounting error of the video signal wiring board 50 (50a, 50b,...). In particular, since the video signal wiring board 50 is a flexible printed board, a connection failure is likely to occur outside the signal lines 51 (51a, 51b, 51c,..., 51n). For example, when a part of the circuit board is turned due to a mounting error like the video signal wiring board 50a, the connection between the signal lines 51a, 51b, 51c and the signal connection lines 53a, 53b, 53c becomes poor. Conversely, as long as there is no poor connection between the signal line 51n on the opposite side and the signal connection line 53n, the side closer to the signal line 51c and the signal connection line 53c than the signal line 51n and the signal connection line 53n is also connected. Expect no defects.

そこで、第1の実施の形態の有機ELディスプレイ10(図1参照)は、支持基板11における電気接続部12の外側の信号線51a及び信号線51nのさらに外側に、信号接続線53(53a、53b、53c、・・・、53n)に対応しない一対の自由端子54a及び自由端子54bを有している。また、自由端子54aの先端部は、抵抗測定部55aとなっており、自由端子54bの先端部は、抵抗測定部55bとなっている。さらにまた、映像信号配線基板50aは、短絡配線56aを有している。そして、短絡配線56aは、電気接続部12で信号線51(51a、51b、51c、・・・、51n)と信号接続線53(53a、53b、53c、・・・、53n)とを電気的に接続したときに、自由端子54a及び自由端子54bに電気的に接続されて自由端子54aと自由端子54bとの間を短絡するようになっている。なお、映像信号配線基板50bも同様の構成となっており、映像信号配線基板50bの短絡配線56bは、映像信号配線基板50aと映像信号配線基板50bとの間に配置された自由端子54cに電気的に接続される。そして、自由端子54cの先端部は、自由端子54bと共通の抵抗測定部55bとなっている。   Therefore, in the organic EL display 10 (see FIG. 1) of the first embodiment, the signal connection line 53 (53a, 53a, 53) is formed on the support substrate 11 on the outer side of the signal line 51a and the signal line 51n outside the electrical connection unit 12. 53b, 53c,..., 53n) has a pair of free terminals 54a and 54b. Moreover, the front-end | tip part of the free terminal 54a becomes the resistance measurement part 55a, and the front-end | tip part of the free terminal 54b becomes the resistance measurement part 55b. Furthermore, the video signal wiring board 50a has a short-circuit wiring 56a. The short-circuit wiring 56a electrically connects the signal line 51 (51a, 51b, 51c,..., 51n) and the signal connection line 53 (53a, 53b, 53c,. Are connected to the free terminal 54a and the free terminal 54b to short-circuit the free terminal 54a and the free terminal 54b. The video signal wiring board 50b has the same configuration, and the short circuit wiring 56b of the video signal wiring board 50b is electrically connected to a free terminal 54c disposed between the video signal wiring board 50a and the video signal wiring board 50b. Connected. And the front-end | tip part of the free terminal 54c becomes the resistance measurement part 55b common to the free terminal 54b.

このような抵抗測定部55a及び抵抗測定部55bは、自由端子54aと自由端子54bとの間の抵抗値を測定するためのものである。具体的には、映像信号配線基板50(50a、50b、・・・)を実装し、信号線51(51a、51b、51c、・・・、51n)と信号接続線53(53a、53b、53c、・・・、53n)とを電気的に接続した後、自由端子54aと自由端子54bとの間の抵抗値を測定する。そして、検査工程に行く前の実装工程において測定された抵抗値により、実装状態を検査する。   The resistance measuring unit 55a and the resistance measuring unit 55b are for measuring the resistance value between the free terminal 54a and the free terminal 54b. Specifically, the video signal wiring board 50 (50a, 50b,...) Is mounted, the signal line 51 (51a, 51b, 51c,..., 51n) and the signal connection line 53 (53a, 53b, 53c). ,..., 53n) are electrically connected, and then the resistance value between the free terminal 54a and the free terminal 54b is measured. And a mounting state is test | inspected by the resistance value measured in the mounting process before going to an inspection process.

[配線基板の実装状態の検査例]

図9は、本発明のマトリックス型表示装置の検査方法の一実施形態としての、有機ELディスプレイ10の検査方法を示す平面図である。
図9に示すように、有機ELディスプレイ10には、映像信号配線基板50aや映像信号配線基板50bが実装される。そして、信号接続線53と信号線51とがドライバIC52を介して電気的に接続される。
[Example of inspection of wiring board mounting state]

FIG. 9 is a plan view showing an inspection method of the organic EL display 10 as an embodiment of the inspection method of the matrix type display device of the present invention.
As shown in FIG. 9, a video signal wiring board 50 a and a video signal wiring board 50 b are mounted on the organic EL display 10. The signal connection line 53 and the signal line 51 are electrically connected via the driver IC 52.

また、信号線51の外側には、信号接続線53に対応しない自由端子54a、54b、54c、54dがある。そして、自由端子54aの先端部は、抵抗測定部55aを有し、自由端子54bと自由端子54cとの間は、抵抗測定部55bを有し、自由端子54dの先端部は、抵抗測定部55cを有している。さらにまた、映像信号配線基板50aは、自由端子54aと自由端子54bとを短絡するための短絡配線56aを有している。さらに、映像信号配線基板50bは、自由端子54cと自由端子54dとを短絡するための短絡配線56bを有している。   In addition, there are free terminals 54 a, 54 b, 54 c, 54 d that do not correspond to the signal connection line 53 outside the signal line 51. The distal end portion of the free terminal 54a has a resistance measurement portion 55a, the resistance measurement portion 55b is provided between the free terminal 54b and the free terminal 54c, and the distal end portion of the free terminal 54d is the resistance measurement portion 55c. have. Furthermore, the video signal wiring board 50a has a short-circuit wiring 56a for short-circuiting the free terminal 54a and the free terminal 54b. Further, the video signal wiring board 50b has a short-circuit wiring 56b for short-circuiting the free terminal 54c and the free terminal 54d.

このような有機ELディスプレイ10において、映像信号配線基板50aの実装状態を検査するには、図9に示すように、テスタ70のテストリードを抵抗測定部55a及び抵抗測定部55bに接触させる。そして、自由端子54aと自由端子54bとの間の抵抗値を測定する。その結果、抵抗値が0オーム〜数オーム程度であれば、短絡配線56aによって自由端子54aと自由端子54bとの間が短絡され、導通していることとなる。なお、数オーム程度になることがあるのは、映像信号配線基板50a内の配線抵抗のためである。   In such an organic EL display 10, in order to inspect the mounting state of the video signal wiring board 50a, the test leads of the tester 70 are brought into contact with the resistance measuring unit 55a and the resistance measuring unit 55b as shown in FIG. Then, the resistance value between the free terminal 54a and the free terminal 54b is measured. As a result, if the resistance value is about 0 ohms to several ohms, the free terminal 54a and the free terminal 54b are short-circuited by the short-circuit wiring 56a and are conductive. The reason why it may be several ohms is due to the wiring resistance in the video signal wiring board 50a.

したがって、信号線51の外側にある自由端子54aと自由端子54bとの間が導通しているので、自由端子54a及び自由端子54bの内側にある信号線51も導通している(実装ミスなし)と予想できる。逆に、測定された抵抗値が大きく、自由端子54aと自由端子54bとの間が導通していないと判断される場合には、その内側にある信号線51も導通していない(実装ミスあり)と予想できる。そのため、有機EL素子20(図1参照)の点灯確認をしなくても、信号線51と信号接続線53との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。   Therefore, since the free terminal 54a and the free terminal 54b outside the signal line 51 are electrically connected, the signal line 51 inside the free terminal 54a and the free terminal 54b is also electrically connected (no mounting error). Can be expected. Conversely, when the measured resistance value is large and it is determined that the free terminal 54a and the free terminal 54b are not conducting, the signal line 51 inside thereof is not conducting (there is a mounting error). ). Therefore, the presence / absence of electrical connection between the signal line 51 and the signal connection line 53 can be easily confirmed without checking the lighting of the organic EL element 20 (see FIG. 1).

また、映像信号配線基板50bの実装状態を検査するには、テスタ70のテストリードを抵抗測定部55b及び抵抗測定部55cに接触させ、自由端子54cと自由端子54dとの間の抵抗値を測定する。そして、短絡配線56bによって自由端子54cと自由端子54dとの間が短絡され、導通していれば、映像信号配線基板50bにおける信号線51と信号接続線53とが電気的に接続されていることが確認できる。なお、同様にして、走査信号・電源制御信号配線基板40(図1参照)の実装ミスの有無(図6に示す走査・電源制御接続線44と走査線41及び電源制御線42との電気的な接続の有無)を確認できる。   Further, in order to inspect the mounting state of the video signal wiring board 50b, the test lead of the tester 70 is brought into contact with the resistance measuring unit 55b and the resistance measuring unit 55c, and the resistance value between the free terminal 54c and the free terminal 54d is measured. To do. If the free terminal 54c and the free terminal 54d are short-circuited by the short-circuit wiring 56b and are conductive, the signal line 51 and the signal connection line 53 in the video signal wiring board 50b are electrically connected. Can be confirmed. Similarly, the presence / absence of mounting error of the scanning signal / power control signal wiring board 40 (see FIG. 1) (the electrical connection between the scanning / power control connection line 44, the scanning line 41, and the power control line 42 shown in FIG. 6). Can be confirmed).

このように、映像信号配線基板50aや映像信号配線基板50bの実装工程で実装状態の検査を行えば、次の検査工程で検査を行い、実装ミスがあった場合には、実装工程に戻して実装をやり直す場合よりも、生産性が大幅に向上する。また、映像信号配線基板50aや映像信号配線基板50bを一つ実装するごとに検査を行えば、すべてを実装した後に検査を行う場合よりも生産性が向上する。   As described above, if the mounting state is inspected in the mounting process of the video signal wiring board 50a and the video signal wiring board 50b, the inspection is performed in the next inspection process, and if there is a mounting error, the process is returned to the mounting process. Productivity is greatly improved compared to re-implementation. Further, if the inspection is performed every time one video signal wiring board 50a or one video signal wiring board 50b is mounted, the productivity is improved as compared with the case where the inspection is performed after all of them are mounted.

<2.第2の実施の形態>
[マトリックス型表示装置の構成例]

図10は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第2の実施の形態)としての、有機ELディスプレイ80を示す平面図である。
図10に示す第2の実施の形態の有機ELディスプレイ80は、支持基板81の周辺部に、図1に示す第1の実施の形態の有機ELディスプレイ10と同じ走査信号・電源制御信号配線基板40及び映像信号配線基板50を複数配置したものである。
<2. Second Embodiment>
[Configuration example of matrix type display device]

FIG. 10 is a plan view showing an organic EL display 80 as one embodiment (second embodiment) of the matrix type display device of the present invention.
The organic EL display 80 according to the second embodiment shown in FIG. 10 has the same scanning signal / power control signal wiring substrate as the organic EL display 10 according to the first embodiment shown in FIG. 40 and a plurality of video signal wiring boards 50 are arranged.

しかし、図10に示す第2の実施の形態の有機ELディスプレイ80では、両端の走査信号・電源制御信号配線基板40の外側だけに一対の自由端子を配置し、支持基板81の各自由端子の先端部を抵抗測定部81a及び抵抗測定部81bとしている。そのため、テスタ70(図9参照)のテストリードを抵抗測定部81a及び抵抗測定部81bに接触させ、抵抗値を測定することにより、複数の走査信号・電源制御信号配線基板40の実装状態(実装ミスの有無)を1回で検査できる。   However, in the organic EL display 80 of the second embodiment shown in FIG. 10, a pair of free terminals are arranged only outside the scanning signal / power control signal wiring board 40 at both ends, and each free terminal of the support board 81 is arranged. The tip portions are a resistance measurement unit 81a and a resistance measurement unit 81b. For this reason, the test leads of the tester 70 (see FIG. 9) are brought into contact with the resistance measuring unit 81a and the resistance measuring unit 81b, and the resistance values are measured, thereby mounting the plurality of scanning signal / power control signal wiring boards 40 (mounting). The presence or absence of mistakes can be inspected at a time.

また、図10に示す第2の実施の形態の有機ELディスプレイ80では、両端の映像信号配線基板50の外側だけに一対の自由端子を配置し、支持基板81の各自由端子の先端部を抵抗測定部82a及び抵抗測定部82bとしている。そのため、テスタ70(図9参照)のテストリードを抵抗測定部82a及び抵抗測定部82bに接触させ、抵抗値を測定することにより、複数の映像信号配線基板50の実装状態(実装ミスの有無)を1回で検査できる。   Further, in the organic EL display 80 of the second embodiment shown in FIG. 10, a pair of free terminals is arranged only outside the video signal wiring board 50 at both ends, and the tip of each free terminal of the support board 81 is a resistor. The measurement unit 82a and the resistance measurement unit 82b are used. Therefore, the test leads of the tester 70 (see FIG. 9) are brought into contact with the resistance measuring unit 82a and the resistance measuring unit 82b, and the resistance values are measured, thereby mounting the plurality of video signal wiring boards 50 (presence of mounting errors). Can be tested at once.

<3.第3の実施の形態>
[配線基板の構成及び実装例]

図11は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第3の実施の形態)としての、有機ELディスプレイ90の一部を示す平面図である。
図11に示すように、有機ELディスプレイ90の支持基板91の周辺部には、映像信号配線基板92が配置されている。そして、支持基板91には、図9に示す第1の実施の形態の有機ELディスプレイ10と同様の信号線51が形成されている。一方、映像信号配線基板92は、図9に示す第1の実施の形態の有機ELディスプレイ10と同様のドライバIC52を有しており、信号接続線53が接続されている。
<3. Third Embodiment>
[Configuration and mounting example of wiring board]

FIG. 11 is a plan view showing a part of an organic EL display 90 as an embodiment (third embodiment) of a matrix display device of the present invention.
As shown in FIG. 11, a video signal wiring substrate 92 is disposed around the support substrate 91 of the organic EL display 90. Then, on the support substrate 91, signal lines 51 similar to those of the organic EL display 10 of the first embodiment shown in FIG. 9 are formed. On the other hand, the video signal wiring board 92 has a driver IC 52 similar to that of the organic EL display 10 of the first embodiment shown in FIG. 9, and a signal connection line 53 is connected thereto.

ここで、信号線51と信号接続線53とは、電気接続部12によって電気的に接続されるが、図11に示す第3の実施の形態の有機ELディスプレイ90は、映像信号配線基板92に、一対の自由端子93a及び自由端子93bが設けられている。また、自由端子93aの先端部は、抵抗測定部94aとなっており、自由端子93bの先端部は、抵抗測定部94bとなっている。そして、支持基板91は、自由端子93aと自由端子93bとの間を短絡するための短絡配線95を有している。   Here, the signal line 51 and the signal connection line 53 are electrically connected by the electrical connection unit 12, but the organic EL display 90 of the third embodiment shown in FIG. 11 is connected to the video signal wiring board 92. A pair of free terminals 93a and 93b are provided. Moreover, the front-end | tip part of the free terminal 93a becomes the resistance measurement part 94a, and the front-end | tip part of the free terminal 93b becomes the resistance measurement part 94b. And the support substrate 91 has the short circuit wiring 95 for short-circuiting between the free terminal 93a and the free terminal 93b.

このような第3の実施の形態の有機ELディスプレイ90において、映像信号配線基板92の実装状態を検査するには、テスタ70(図9参照)のテストリードを抵抗測定部94a及び抵抗測定部94bに接触させる。そして、自由端子93aと自由端子93bとの間の抵抗値を測定する。その結果、抵抗値が0オーム〜数オーム程度であれば、短絡配線95によって自由端子93aと自由端子93bとの間が短絡され、導通していることとなる。   In the organic EL display 90 of the third embodiment, in order to inspect the mounting state of the video signal wiring board 92, the test leads of the tester 70 (see FIG. 9) are connected to the resistance measuring unit 94a and the resistance measuring unit 94b. Contact. Then, the resistance value between the free terminal 93a and the free terminal 93b is measured. As a result, if the resistance value is about 0 ohm to several ohms, the short-circuit wiring 95 short-circuits between the free terminal 93a and the free terminal 93b, thereby conducting.

したがって、信号接続線53の外側にある自由端子93aと自由端子93bとの間が導通しているので、自由端子93a及び自由端子93bの内側にある信号接続線53も導通している(実装ミスなし)と予想できる。逆に、測定された抵抗値が大きく、自由端子93aと自由端子93bとの間が導通していないと判断される場合には、その内側にある信号接続線53も導通していない(実装ミスあり)と予想できる。そのため、有機EL素子20(図1参照)の点灯確認をしなくても、信号線51と信号接続線53との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。   Therefore, since the free terminal 93a and the free terminal 93b outside the signal connection line 53 are conductive, the signal connection line 53 inside the free terminal 93a and the free terminal 93b is also conductive (a mounting error). None). Conversely, when the measured resistance value is large and it is determined that the free terminal 93a and the free terminal 93b are not conducting, the signal connection line 53 inside thereof is not conducting (mounting error). Yes). Therefore, the presence / absence of electrical connection between the signal line 51 and the signal connection line 53 can be easily confirmed without checking the lighting of the organic EL element 20 (see FIG. 1).

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されることなく、例えば、以下のような種々の変形が可能である。
(1)実施形態では、複数の有機EL素子20ごとにそれぞれ駆動TFT30a等を設けたアクティブマトリックス型の有機ELディスプレイ10とした。しかし、パッシブマトリックス型のものにも適用可能である。
(2)実施形態では、有機EL素子20が発した光を支持基板11と反対側から取り出すようにしたトップエミッション方式の有機ELディスプレイ10とした。しかし、有機EL素子20が発した光を支持基板11と同じ側から取り出すようにしたボトムエミッション方式にも適用できる。
(3)実施形態では、発光素子に有機EL素子20(有機エレクトロルミネッセンス素子)を用いている。しかし、無機エレクトロルミネッセンス素子や発光ダイオード等であってもよい。また、有機ELディスプレイに限らず、プラズマディスプレイ等の自発光素子を備えたマトリックス型表示装置であってもよい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to embodiment mentioned above, For example, the following various deformation | transformation are possible.
(1) In the embodiment, the active matrix type organic EL display 10 is provided in which the driving TFT 30a is provided for each of the plurality of organic EL elements 20. However, it can also be applied to a passive matrix type.
(2) In the embodiment, the top emission type organic EL display 10 in which light emitted from the organic EL element 20 is extracted from the side opposite to the support substrate 11 is used. However, the present invention can also be applied to a bottom emission method in which light emitted from the organic EL element 20 is extracted from the same side as the support substrate 11.
(3) In the embodiment, the organic EL element 20 (organic electroluminescence element) is used as the light emitting element. However, an inorganic electroluminescent element, a light emitting diode, etc. may be sufficient. Further, the display device is not limited to the organic EL display, and may be a matrix display device including a self-luminous element such as a plasma display.

本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第1の実施の形態)としての、有機ELディスプレイを示す平面図である。It is a top view which shows the organic electroluminescent display as one Embodiment (1st Embodiment) of the matrix type display apparatus of this invention. 図1に示す有機ELディスプレイの有機EL素子を示す平面図である。It is a top view which shows the organic EL element of the organic EL display shown in FIG. 図1に示す有機ELディスプレイの1つの有機EL素子の表層部を示す平面図である。It is a top view which shows the surface layer part of one organic EL element of the organic EL display shown in FIG. 図1に示す有機ELディスプレイの1つの有機EL素子の内部構造を示す平面図である。It is a top view which shows the internal structure of one organic EL element of the organic EL display shown in FIG. 図1に示す有機ELディスプレイの等価回路図である。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of the organic EL display shown in FIG. 1. 図1に示す有機ELディスプレイの走査信号・電源制御信号配線基板を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a scanning signal / power control signal wiring board of the organic EL display shown in FIG. 1. 図1に示す有機ELディスプレイの映像信号配線基板を示す平面図である。It is a top view which shows the video signal wiring board of the organic electroluminescent display shown in FIG. 図7に示す映像信号配線基板の実装部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the mounting part of the video signal wiring board shown in FIG. 本発明のマトリックス型表示装置の検査方法の一実施形態としての、有機ELディスプレイの検査方法を示す平面図である。It is a top view which shows the inspection method of an organic electroluminescent display as one Embodiment of the inspection method of the matrix type display apparatus of this invention. 本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第2の実施の形態)としての、有機ELディスプレイを示す平面図である。It is a top view which shows the organic electroluminescent display as one Embodiment (2nd Embodiment) of the matrix type display apparatus of this invention. 本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態(第3の実施の形態)としての、有機ELディスプレイの一部を示す平面図である。It is a top view which shows a part of organic electroluminescent display as one Embodiment (3rd Embodiment) of the matrix type display apparatus of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 有機ELディスプレイ(マトリックス型表示装置)
11 支持基板
12 電気接続部
20 有機EL素子(発光素子)
40 走査信号・電源制御信号配線基板(配線基板)
41、41a、41b 走査線(発光用配線)
42、42a、42b 電源制御線(発光用配線)
44 走査・電源制御接続線(接続用配線)
50、50a、50b 映像信号配線基板(配線基板)
51、51a、51b、51c、51n 信号線(発光用配線)
53a、53b、53c、53d、53n 信号接続線(接続用配線)
54a、54b、54c、54d 自由端子
55a、55b、55c 抵抗測定部
56a、56b 短絡配線
80 有機ELディスプレイ(マトリックス型表示装置)
81 支持基板
81a、81b 抵抗測定部
82a、82b 抵抗測定部
90 有機ELディスプレイ(マトリックス型表示装置)
91 支持基板
92 映像信号配線基板(配線基板)
93a、93b 自由端子
94a、94b 抵抗測定部
95 短絡配線
10 Organic EL display (matrix display)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Support substrate 12 Electrical connection part 20 Organic EL element (light emitting element)
40 Scanning signal / power control signal wiring board (wiring board)
41, 41a, 41b Scanning line (light emission wiring)
42, 42a, 42b Power supply control line (light emission wiring)
44 Scanning / power control connection line (connection wiring)
50, 50a, 50b Video signal wiring board (wiring board)
51, 51a, 51b, 51c, 51n Signal line (light emission wiring)
53a, 53b, 53c, 53d, 53n Signal connection line (connection wiring)
54a, 54b, 54c, 54d Free terminals 55a, 55b, 55c Resistance measurement units 56a, 56b Short-circuit wiring 80 Organic EL display (matrix type display device)
81 Support substrate 81a, 81b Resistance measurement unit 82a, 82b Resistance measurement unit 90 Organic EL display (matrix type display device)
91 Support board 92 Video signal wiring board (wiring board)
93a, 93b Free terminals 94a, 94b Resistance measurement unit 95 Short-circuit wiring

Claims (6)

マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有する
マトリックス型表示装置。
A plurality of light emitting elements arranged in a matrix,
A support substrate on which a light-emitting wiring for causing each of the light-emitting elements to emit light is formed;
A wiring board disposed in a peripheral portion of the support substrate and having a connection wiring corresponding to the light emission wiring; and
An electrical connection portion for electrically connecting the light emission wiring and the connection wiring;
The support substrate has a pair of free terminals that do not correspond to the connection wiring outside the light emission wiring of the electrical connection portion,
When the wiring board is electrically connected to the light-emitting wiring and the connection wiring at the electrical connection portion, the wiring board is electrically connected to the free terminals to short-circuit the free terminals. Matrix type display device having wiring.
請求項1に記載のマトリックス型表示装置において、
各前記自由端子は、前記自由端子間の抵抗値を測定するための抵抗測定部を有する
マトリックス型表示装置。
The matrix type display device according to claim 1,
Each said free terminal has a resistance measurement part for measuring the resistance value between the said free terminals. The matrix type display apparatus.
請求項1に記載のマトリックス型表示装置において、
前記配線基板は、可とう性のあるフィルム状の絶縁体の上に導体箔で前記接続用配線及び前記短絡配線を形成したフレキシブルプリント基板である
マトリックス型表示装置。
The matrix type display device according to claim 1,
The said wiring board is a flexible printed circuit board which formed the said connection wiring and the said short circuit wiring with the conductor foil on the flexible film-form insulator. The matrix type display apparatus.
請求項1に記載のマトリックス型表示装置において、
前記配線基板は、マトリックス状に配列された前記発光素子の列方向又は行方向に複数配置され、
各前記自由端子は、両端の前記配線基板の外側及び各前記配線基板の間にそれぞれ配置されている
マトリックス型表示装置。
The matrix type display device according to claim 1,
A plurality of the wiring boards are arranged in the column direction or row direction of the light emitting elements arranged in a matrix,
Each said free terminal is respectively arrange | positioned on the outer side of the said wiring board of both ends, and between each said wiring board, The matrix type display apparatus.
マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記配線基板は、前記電気接続部の前記接続用配線の外側に、前記発光用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記支持基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有する
マトリックス型表示装置。
A plurality of light emitting elements arranged in a matrix,
A support substrate on which a light-emitting wiring for causing each of the light-emitting elements to emit light is formed;
A wiring board disposed in a peripheral portion of the support substrate and having a connection wiring corresponding to the light emission wiring; and
An electrical connection portion for electrically connecting the light emission wiring and the connection wiring;
The wiring board has a pair of free terminals that do not correspond to the light emitting wiring on the outside of the connecting wiring of the electrical connection portion,
The support substrate is short-circuited to be electrically connected to the free terminals and to short-circuit the free terminals when the light-emitting wiring and the connection wiring are electrically connected at the electrical connection portion. Matrix type display device having wiring.
マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有しており、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続した後、前記自由端子間の抵抗値を測定する
マトリックス型表示装置の検査方法。
A plurality of light emitting elements arranged in a matrix,
A support substrate on which a light-emitting wiring for causing each of the light-emitting elements to emit light is formed;
A wiring board disposed in a peripheral portion of the support substrate and having a connection wiring corresponding to the light emission wiring; and
An electrical connection portion for electrically connecting the light emission wiring and the connection wiring;
The support substrate has a pair of free terminals that do not correspond to the connection wiring outside the light emission wiring of the electrical connection portion,
When the wiring board is electrically connected to the light-emitting wiring and the connection wiring at the electrical connection portion, the wiring board is electrically connected to the free terminals to short-circuit the free terminals. Have wiring,
An inspection method for a matrix type display device, wherein the light emitting wiring and the connection wiring are electrically connected and then a resistance value between the free terminals is measured.
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