KR101101749B1 - Apparatus and method for manufacturing thin film type solar cell - Google Patents

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Abstract

본 발명은 에어 커튼(Air Curtain)을 이용한 비접촉 방식으로 공정 챔버를 기밀함으로써 가요성 기판의 막질 손상을 방지함과 아울러 연속 공정을 가능하게 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 한 박막형 태양전지의 제조 장치 및 제조 방법에 관한 것으로, 박막형 태양전지의 제조 장치는 플라즈마 공정을 이용하여 가요성 기판 상에 반도체층을 형성하기 위한 공정 챔버 유닛을 포함하며, 상기 공정 챔버 유닛은 하부 챔버; 상기 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 챔버와 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 상부 챔버; 및 상기 가요성 기판이 반송되도록 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버 사이에 마련된 기판 출입부에 위치한 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간의 기밀을 유지하는 기밀 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The present invention provides an apparatus for manufacturing a thin-film solar cell that can improve the productivity by preventing the film damage of the flexible substrate and enabling the continuous process by hermetically sealing the process chamber in a non-contact method using an air curtain; A manufacturing method of a thin film solar cell includes a process chamber unit for forming a semiconductor layer on a flexible substrate using a plasma process, the process chamber unit comprising: a lower chamber; An upper chamber disposed to face the lower chamber with the flexible substrate therebetween to form a reaction space; And an airtight unit configured to maintain the airtightness of the reaction space by using an air curtain positioned at a substrate entrance provided between the lower chamber and the upper chamber so that the flexible substrate is conveyed.

가요성 기판, 박막형 태양전지, 기밀, 승강, 챔버, 에어 커튼 Flexible Substrates, Thin Film Solar Cells, Airtight, Lifting, Chambers, Air Curtains

Description

박막형 태양전지의 제조 장치 및 제조 방법{APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TYPE SOLAR CELL}Manufacturing apparatus and manufacturing method of thin film solar cell {APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TYPE SOLAR CELL}

본 발명은 태양전지(Solar Cell)에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 에어 커튼(Air Curtain)을 이용한 비접촉 방식으로 공정 챔버 내부의 기밀을 유지함으로써 가요성 기판의 막질 손상을 방지함과 아울러 연속 공정을 가능하게 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 한 박막형 태양전지의 제조 장치 및 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solar cell, and more particularly, to maintain film-tightness inside a process chamber by a non-contact method using an air curtain to prevent film damage of a flexible substrate and to perform a continuous process. The present invention relates to a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a thin-film solar cell capable of improving productivity.

태양전지는 태양으로부터 지구에 전달되는 빛 에너지를 전기 에너지로 변환하여 에너지를 생산하는 청정 에너지원으로써 지구 온난화 방지를 위한 이산화탄소 발생량을 줄일 수 있다는 장점이 있다.The solar cell is a clean energy source that produces energy by converting light energy transmitted from the sun to the earth into electrical energy, which has the advantage of reducing carbon dioxide generation for preventing global warming.

이와 같은 태양전지는 기판형 태양전지와 박막형 태양전지로 구분할 수 있다. Such a solar cell can be classified into a substrate type solar cell and a thin film solar cell.

기판형 태양전지는 실리콘과 같은 반도체물질 자체를 기판으로 이용하여 태양전지를 제조한 것이고, 상기 박막형 태양전지는 유리 등과 같은 기판 상에 박막의 형태로 반도체를 형성하여 태양전지를 제조한 것이다. The substrate type solar cell is a solar cell manufactured using a semiconductor material such as silicon as a substrate, and the thin film type solar cell is a solar cell manufactured by forming a semiconductor in the form of a thin film on a substrate such as glass.

기판형 태양전지는 상기 박막형 태양전지에 비하여 효율이 다소 우수하기는 하지만, 공정상 두께를 최소화하는데 한계가 있고 고가의 반도체 기판을 이용하기 때문에 제조비용이 상승되는 단점이 있다.Although the substrate type solar cell has a somewhat superior efficiency than the thin film type solar cell, there is a limitation in minimizing the thickness in the process and the manufacturing cost is increased due to the use of an expensive semiconductor substrate.

박막형 태양전지는 기판형 태양전지에 비하여 효율이 다소 떨어지기는 하지만, 얇은 두께로 제조가 가능하고 저가의 재료를 이용할 수 있어 제조비용이 감소되는 장점이 있어 대량생산에 적합하다는 장점이 있다.Although thin film type solar cells are somewhat inferior in efficiency to substrate type solar cells, they can be manufactured in a thin thickness and inexpensive materials can be used to reduce manufacturing costs.

일반적으로 박막형 태양전지는 유리 기판을 사용하고 있지만, 경량화, 시공성, 및 양산성을 높일 수 있는 가요성 기판을 이용한 박막형 태양전지에 대한 연구 개발이 활발히 진행되고 있다.In general, a thin film solar cell uses a glass substrate, but research and development of thin film solar cells using a flexible substrate that can increase the weight, constructability, and mass productivity are being actively conducted.

종래의 가요성 기판을 이용한 박막형 태양전지는 가요성 기판 상에 제 1 전극층, 반도체층, 및 제 2 전극층으로 이루어지는 복수의 태양전지 셀을 포함하며, 인접한 태양전지 셀은 서로 전기적으로 직렬 접속된다.A conventional thin film solar cell using a flexible substrate includes a plurality of solar cells composed of a first electrode layer, a semiconductor layer, and a second electrode layer on a flexible substrate, and adjacent solar cell cells are electrically connected in series with each other.

도 1은 종래의 가요성 기판을 이용한 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining an apparatus for manufacturing a thin film solar cell using a conventional flexible substrate.

도 1을 참조하면, 종래의 가요성 기판을 이용한 박막형 태양전지의 제조 장치는 공용 챔버(10), 기판 피딩 롤러(20), 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50), 및 기판 회수 롤러(60)를 구비한다.Referring to FIG. 1, the apparatus for manufacturing a thin film solar cell using a conventional flexible substrate includes a common chamber 10, a substrate feeding roller 20, first to third process chamber units 30, 40, and 50. The substrate recovery roller 60 is provided.

공용 챔버(10)는 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50), 기판 피딩 롤러(20), 및 기판 회수 롤러(60)를 감싸도록 설치된다. 이러한, 공용 챔버(10)의 내부는 복수의 제 1 진공 펌핑 장치(12, 14)에 의해 진공 상태를 유지한다.The common chamber 10 is installed to surround the first to third process chamber units 30, 40, and 50, the substrate feeding roller 20, and the substrate recovery roller 60. The inside of the common chamber 10 is maintained in a vacuum state by the plurality of first vacuum pumping devices 12 and 14.

기판 피딩 롤러(20)는 공용 챔버(10)의 일측에 설치된다. 이때, 기판 피딩 롤러(20)에는 소정의 길이를 가지는 가요성 기판(FS)이 감겨져 있다. 여기서, 가요성 기판(FS) 상에는 박막형 태양전지의 제 1 전극층(미도시)이 소정 간격으로 형성되어 있다.The substrate feeding roller 20 is installed at one side of the common chamber 10. At this time, the flexible substrate FS having a predetermined length is wound around the substrate feeding roller 20. Here, the first electrode layer (not shown) of the thin film solar cell is formed at predetermined intervals on the flexible substrate FS.

이러한, 기판 피딩 롤러(20)는 스테핑 롤링(Stepping Rolling) 방식으로 회전하면서 가요성 기판(FS)을 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50)으로 공급한다. 이때, 기판 피딩 롤러(20)와 제 1 공정 챔버 유닛(30) 사이에는 기판 피딩 롤러(20)로부터 제 1 공정 챔버 유닛(30)으로 공급되는 가요성 기판(FS)의 반송을 가이드하기 위한 제 1 가이드 롤러(16)가 설치된다.The substrate feeding roller 20 supplies the flexible substrate FS to the first to third process chamber units 30, 40, and 50 while rotating in a stepping rolling manner. At this time, between the substrate feeding roller 20 and the first process chamber unit 30, a material for guiding the conveyance of the flexible substrate FS supplied from the substrate feeding roller 20 to the first process chamber unit 30. 1 The guide roller 16 is installed.

제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각은 기판 피딩 롤러(20)와 기판 회수 롤러(60) 사이에 배치되도록 공용 챔버(10) 내부에 설치된다. 이러한, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각은 PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)을 이용하여 스테핑 롤링 방식에 따라 기판 피딩 롤러(20)로부터 공급되는 가요성 기판(FS) 상에 반도체층을 형성한다. 이때, 반도체층은 가요성 기판(FS) 상에 순차적으로 형성된 P형 반도체층, I형 반도체층 및 N형 반도체층으로 이루어진다. 이에 따라, 제 1 공정 챔버 유닛(30)은 가요성 기판(FS) 상에 P형 반도체층을 형성하고, 제 2 공정 챔버 유닛(40)은 P형 반도체층 상에 I형 반도체층을 형성하고, 제 3 공정 챔버 유닛(50)은 I형 반도체층 상에 N형 반도체층을 형성한다.Each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50 is installed inside the common chamber 10 to be disposed between the substrate feeding roller 20 and the substrate recovery roller 60. Each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50 may be supplied from the substrate feeding roller 20 according to a stepping rolling method using a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD). A semiconductor layer is formed on it. In this case, the semiconductor layer includes a P-type semiconductor layer, an I-type semiconductor layer, and an N-type semiconductor layer sequentially formed on the flexible substrate FS. Accordingly, the first process chamber unit 30 forms a P-type semiconductor layer on the flexible substrate FS, and the second process chamber unit 40 forms an I-type semiconductor layer on the P-type semiconductor layer. The third process chamber unit 50 forms an N-type semiconductor layer on the I-type semiconductor layer.

이를 위해, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각은 하부 챔버(31), 히터(32), 상부 챔버(33), 샤워 헤드(34), 상부 챔버 승강부(35), 및 제 2 진공 펌핑 장치(36)를 구비한다.To this end, each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50 has a lower chamber 31, a heater 32, an upper chamber 33, a shower head 34, and an upper chamber lift 35. And a second vacuum pumping device 36.

하부 챔버(31)는 공용 챔버(10)의 바닥면에 설치된다.The lower chamber 31 is installed on the bottom surface of the common chamber 10.

히터(32)는 하부 챔버(31) 내부에 설치되어 스테핑 방식으로 반송되는 가요성 기판(FS)을 소정의 온도로 가열한다.The heater 32 is installed in the lower chamber 31 and heats the flexible substrate FS conveyed by the stepping method to a predetermined temperature.

상부 챔버(33)는 상부 챔버 승강부(35)에 의해 지지되도록 공용 챔버(10)의 상부에 설치된다. 이러한, 상부 챔버(33)는 상부 챔버 승강부(35)에 의해 승강되어 가요성 기판(FS)을 사이에 두고 하부 챔버(31)에 접촉됨으로써 반응 공간을 형성한다. 이때, 접촉되는 하부 챔버(31)와 상부 챔버(33) 사이에는 실링부재(미도시)가 설치되어 반응 공간을 실링한다.The upper chamber 33 is installed on the upper part of the common chamber 10 so as to be supported by the upper chamber lifting part 35. The upper chamber 33 is elevated by the upper chamber lifting unit 35 to contact the lower chamber 31 with the flexible substrate FS therebetween to form a reaction space. At this time, a sealing member (not shown) is installed between the lower chamber 31 and the upper chamber 33 in contact to seal the reaction space.

샤워 헤드(34)는 상부 챔버(33) 내부에 설치되어 외부로부터 공급되는 공정 가스를 반응 공간에 분사한다.The shower head 34 is installed inside the upper chamber 33 to inject a process gas supplied from the outside into the reaction space.

상부 챔버 승강부(35)는 공용 챔버(10)와 상부 챔버(33) 간에 설치되어 상부 챔버(33)를 승강시킨다.The upper chamber lifting unit 35 is installed between the common chamber 10 and the upper chamber 33 to lift the upper chamber 33.

제 2 진공 펌핑 장치(36)는 공용 챔버(10)의 바닥면을 관통하여 하부 챔버(31)에 연통되도록 설치되어 반응 공간에 진공 분위기를 형성한다.The second vacuum pumping device 36 is installed to communicate with the lower chamber 31 through the bottom surface of the common chamber 10 to form a vacuum atmosphere in the reaction space.

기판 회수 롤러(60)는 공용 챔버(10)의 타측에 설치된다. 이러한, 기판 회수 롤러(60)는 스테핑 롤링 방식으로 회전하는 기판 피딩 롤러(20)와 연동되어 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50)에 의해 공정이 완료된 가요성 기판(FS)을 회수한다. 이때, 제 3 공정 챔버 유닛(50)과 기판 회수 롤러(60) 사이에는 제 3 공정 챔버 유닛(50)으로부터 기판 회수 롤러(60)로 반송되는 가요성 기판(FS)을 가 이드하기 위한 제 2 가이드 롤러(18)가 설치된다.The substrate recovery roller 60 is installed at the other side of the common chamber 10. The substrate recovery roller 60 is connected to the substrate feeding roller 20 which rotates in a stepping rolling manner, and the flexible substrate FS is completed by the first to third process chamber units 30, 40, and 50. Recover. At this time, between the third process chamber unit 50 and the substrate recovery roller 60, a second for guiding the flexible substrate FS conveyed from the third process chamber unit 50 to the substrate recovery roller 60. The guide roller 18 is installed.

도 2a 내지 도 2c는 종래의 박막형 태양전지의 제조 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 도면이다.2A to 2C are views for explaining a method of driving a conventional thin film solar cell manufacturing apparatus.

도 2a 내지 도 2c를 참조하여 종래의 박막형 태양전지의 제조 장치의 구동 방법을 설명하면 다음과 같다.Referring to FIGS. 2A to 2C, a driving method of a conventional apparatus for manufacturing a thin film solar cell is as follows.

먼저, 도 2a에 도시된 바와 같이, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각의 상부 챔버 승강부(35)을 구동하여 상부 챔버(33)를 소정 높이로 상승시킨 후, 기판 피딩 롤러(20)와 기판 회수 롤러(60)를 동시에 구동하여 가요성 기판(FS)을 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각을 경유하도록 스테핑 롤링 방식으로 소정 길이 만큼 반송한다.First, as shown in FIG. 2A, after driving the upper chamber lifter 35 of each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50, the upper chamber 33 is raised to a predetermined height. The substrate feeding roller 20 and the substrate recovery roller 60 are simultaneously driven to step the flexible substrate FS by a predetermined length in a stepping rolling manner to pass through each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50. Return.

이어서, 도 2b에 도시된 바와 같이, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각의 상부 챔버 승강부(35)을 구동하여 상부 챔버(33)를 소정 높이로 하강시켜 하부 챔버(31)와 접촉시킨다. 이에 따라, 하부 챔버(31)는 상부 챔버(33)와 접촉되어 반응 공간을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 2B, the upper chamber lifter 35 of each of the first to third process chamber units 30, 40, and 50 is driven to lower the upper chamber 33 to a predetermined height to lower the lower chamber. Contact with (31). Accordingly, the lower chamber 31 is in contact with the upper chamber 33 to form a reaction space.

이어서, 제 2 진공 펌핑 장치(36)를 구동하여 하부 챔버(31)와 상부 챔버(33)에 의해 마련된 반응 공간에 진공 분위기를 형성한다.Subsequently, the second vacuum pumping device 36 is driven to form a vacuum atmosphere in the reaction space provided by the lower chamber 31 and the upper chamber 33.

이어서, 도 2c에 도시된 바와 같이, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 각각의 공정에 대응되는 공정 가스를 샤워 헤드(34)에 공급하고, 샤워 헤드(34)를 통해 반응 공간에 분사되는 공정 가스를 플라즈마로 변환시켜 가요성 기판(FS) 상에 반도체층을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 2C, a process gas corresponding to each process of the first to third process chamber units 30, 40, and 50 is supplied to the shower head 34, and the shower head 34 is provided. The process gas injected into the reaction space is converted into plasma to form a semiconductor layer on the flexible substrate FS.

이어서, 가요성 기판(FS)에 해당 반도체층이 형성되면, 상부 챔버(33)를 소정 높이로 상승시킨 후, 도 2a 내지 도 2c에 도시된 공정을 반복적으로 수행함으로써 가요성 기판(FS)에 반도체층을 형성하게 된다.Subsequently, when the semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS, the upper chamber 33 is raised to a predetermined height, and then the process illustrated in FIGS. 2A to 2C is repeatedly performed to the flexible substrate FS. The semiconductor layer is formed.

그러나, 상술한 종래의 박막형 태양전지의 제조 장치는 다음과 같은 문제점이 있다.However, the above-described conventional thin film solar cell manufacturing apparatus has the following problems.

첫째, 제 1 전극층이 형성된 가요성 기판(FS) 상에 반도체층을 형성할 경우, 각 공정 챔버 유닛(30, 40, 50) 간의 분리, 공정 가스의 유입 방지, 및 압력 제어를 위해 상부 챔버(33)의 승강에 따라 반응 공간을 실링하게 되므로, 상부 챔버(33)가 가요성 기판(FS)과 접촉되어 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층의 막질이 손상된다는 문제점이 있다.First, when the semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS on which the first electrode layer is formed, the upper chamber may be used to separate the process chamber units 30, 40, and 50, prevent inflow of process gas, and pressure control. Since the reaction space is sealed according to the lifting and lowering of 33, the upper chamber 33 is in contact with the flexible substrate FS, thereby damaging the film quality of the first electrode layer formed on the flexible substrate FS.

둘째, 가요성 기판(FS)의 반송을 정지시킨 후, 각 공정 챔버 유닛(30, 40, 50)의 실링을 위해 상부 챔버(33)를 가요성 기판(FS)에 접촉시키게 되므로 공정 시간이 증가하여 생산성이 저하된다는 문제점이 있다.Second, after stopping the transfer of the flexible substrate FS, the upper chamber 33 is brought into contact with the flexible substrate FS for sealing the process chamber units 30, 40, 50, thereby increasing the process time. There is a problem that the productivity is lowered.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 에어 커튼(Air Curtain)을 이용한 비접촉 방식으로 공정 챔버 내부의 기밀을 유지함으로써 가요성 기판의 막질 손상을 방지함과 아울러 연속 공정을 가능하게 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 한 박막형 태양전지의 제조 장치 및 제조 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.The present invention is to solve the above problems, by maintaining the airtight inside the process chamber in a non-contact method using an air curtain to prevent the film damage of the flexible substrate and to enable a continuous process to improve productivity It is a technical problem to provide a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a thin film solar cell which can be improved.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 플라즈마 공정을 이용하여 가요성 기판 상에 반도체층을 형성하기 위한 공정 챔버 유닛을 포함하며, 상기 공정 챔버 유닛은 하부 챔버; 상기 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 챔버와 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 상부 챔버; 및 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간을 기밀하도록 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버에 설치된 기밀 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.An apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the present invention for achieving the above technical problem includes a process chamber unit for forming a semiconductor layer on a flexible substrate using a plasma process, the process chamber unit comprises a lower chamber; An upper chamber disposed to face the lower chamber with the flexible substrate therebetween to form a reaction space; And an airtight unit installed in the lower chamber and the upper chamber to airtight the reaction space using an air curtain.

상기 기밀 유닛은 상기 하부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 하부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하기 위한 제 1 에어 커튼부; 및 상기 상부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 상부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하기 위한 제 2 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The hermetic unit may include: a first air curtain part installed at both side chamber walls of the lower chamber to seal between the chamber wall of the lower chamber and the rear surface of the flexible substrate; And a second air curtain part installed at both side chamber walls of the upper chamber to seal between the chamber wall of the upper chamber and the upper surface of the flexible substrate.

상기 제 1 및 제 2 에어 커튼부 각각은 상기 챔버 벽에 설치된 몸체; 상기 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 가스 분사부; 및 상기 몸체의 타측에 설치되어 상기 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 반응 공간을 기밀하는 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Each of the first and second air curtain portions has a body installed on the chamber wall; A gas injector installed at one side of the body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And a gas suction part installed on the other side of the body to suck an airtight gas injected from the gas injection part to hermetically seal the reaction space.

상기 기밀용 가스는 질소 가스인 것을 특징으로 한다.The hermetic gas is characterized in that the nitrogen gas.

상기 공정 챔버 유닛은 상기 하부 챔버에 설치된 히터; 및 상기 상부 챔버에 설치되어 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버에 의해 형성된 반응 공간에 상기 반도체층을 형성하기 위한 공정 가스를 분사하기 위한 샤워 헤드를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The process chamber unit may include a heater installed in the lower chamber; And a shower head installed in the upper chamber to inject a process gas for forming the semiconductor layer into the reaction space formed by the lower chamber and the upper chamber.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 공용 챔버; 상기 공용 챔버의 내부 일측에 설치되어 가요성 기판을 반송하기 위한 기판 피딩 롤러; 상기 공용 챔버의 내부 타측에 설치되어 상기 가요성 기판을 회수하기 위한 기판 회수 롤러; 및 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러 사이에 설치되어 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러의 동시 구동에 의해 반송되는 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 복수의 공정 챔버 유닛을 포함하며, 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각은 하부 챔버; 상기 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 챔버와 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 상부 챔버; 및 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간을 기밀하도록 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버에 설치된 기밀 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.An apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the present invention for achieving the above technical problem is a common chamber; A substrate feeding roller installed at one side of the common chamber to convey a flexible substrate; A substrate recovery roller installed at the other side of the common chamber to recover the flexible substrate; And a plurality of process chamber units provided between the substrate feeding roller and the substrate recovery roller to form a semiconductor layer on the flexible substrate conveyed by simultaneous driving of the substrate feeding roller and the substrate recovery roller. Each of the plurality of process chamber units comprises a lower chamber; An upper chamber disposed to face the lower chamber with the flexible substrate therebetween to form a reaction space; And an airtight unit installed in the lower chamber and the upper chamber to airtight the reaction space using an air curtain.

상기 박막형 태양전지의 제조 장치는 상기 공용 챔버에 진공 분위기를 형성 하기 위한 적어도 하나의 제 1 펌핑 장치; 및 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각에 진공 분위기를 형성하기 위한 복수의 제 2 펌핑 장치를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The apparatus for manufacturing a thin film solar cell includes at least one first pumping device for forming a vacuum atmosphere in the common chamber; And a plurality of second pumping devices for forming a vacuum atmosphere in each of the plurality of process chamber units.

상기 복수의 공정 챔버 유닛은 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하기 위한 제 1 공정 챔버 유닛; 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하기 위한 제 2 공정 챔버 유닛; 및 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하기 위한 제 3 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The plurality of process chamber units may include a first process chamber unit for forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate; A second process chamber unit for forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate; And a third process chamber unit for forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 외곽 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러의 동시 구동에 의해 연속적으로 반송되는 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 공용 챔버를 포함하며, 상기 공용 챔버는 하부 공용 챔버; 상기 반송되는 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 공용 챔버와 마주보도록 설치된 상부 공용 챔버; 에어 커튼을 이용하여 상기 가요성 기판과 상기 하부 공용 챔버 사이와, 상기 가요성 기판과 상기 상부 공용 챔버 사이를 기밀하기 위한 기밀 유닛; 외주면을 통해 상기 가요성 기판을 반송하면서 상기 가요성 기판을 소정 온도로 가열하기 위한 히팅 롤러; 및 상기 히팅 롤러의 외주면과 마주보도록 소정 간격으로 설치되며, 플라즈마 공정을 이용하여 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판에 상기 반도체층을 형성하기 위한 복수의 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.An apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the present invention for achieving the above technical problem is to form a semiconductor layer on a flexible substrate that is continuously conveyed by the simultaneous driving of the substrate feeding roller and the substrate recovery roller installed in the outer chamber A common chamber, wherein the common chamber comprises: a lower common chamber; An upper common chamber installed to face the lower common chamber with the conveyed flexible substrate therebetween; An airtight unit for hermetically sealing between the flexible substrate and the lower common chamber using an air curtain and between the flexible substrate and the upper common chamber; A heating roller for heating the flexible substrate to a predetermined temperature while conveying the flexible substrate through an outer circumferential surface; And a plurality of process chamber units installed at predetermined intervals to face the outer circumferential surface of the heating roller and for forming the semiconductor layer on the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller using a plasma process. It is characterized by.

상기 기밀 유닛은 상기 하부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 하부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하기 위한 제 1 에어 커튼부; 및 상기 상부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 상부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하기 위한 제 2 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The hermetic unit may include: a first air curtain part installed at both side chamber walls of the lower common chamber to seal between the chamber wall of the lower common chamber and the rear surface of the flexible substrate; And a second air curtain part installed on both side chamber walls of the upper common chamber to seal between the chamber wall of the upper common chamber and the upper surface of the flexible substrate.

상기 제 1 및 제 2 에어 커튼부 각각은 상기 챔버 벽에 설치된 제 1 몸체; 상기 제 1 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 제 1 가스 분사부; 및 상기 제 1 몸체의 타측에 설치되어 상기 제 1 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 반응 공간을 기밀하는 제 1 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Each of the first and second air curtain portions may include a first body installed on the chamber wall; A first gas injector installed on one side of the first body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And a first gas suction part installed on the other side of the first body to suck the gas for gas tightly injected from the first gas injection part to hermetically seal the reaction space.

상기 복수의 공정 챔버 유닛은 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하기 위한 제 1 공정 챔버 유닛; 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하기 위한 제 2 공정 챔버 유닛; 및 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하기 위한 제 3 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The plurality of process chamber units may include a first process chamber unit for forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate; A second process chamber unit for forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate; And a third process chamber unit for forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate.

상기 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛 각각은 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판과 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 공정 챔버; 상기 공정 챔버에 설치되어 상기 반응 공간에 공정 가스를 분사하는 샤워 헤드; 및 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간을 기밀하도록 상기 공정 챔버의 챔버 벽에 설치된 제 3 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Each of the first to third process chamber units may include: a process chamber installed to face the flexible substrate conveyed along an outer circumferential surface of the heating roller to form a reaction space; A shower head installed in the process chamber to inject a process gas into the reaction space; And a third air curtain portion installed on the chamber wall of the process chamber to airtight the reaction space using an air curtain.

상기 제 3 에어 커튼부는 상기 챔버 벽에 설치된 제 2 몸체; 상기 제 2 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 제 2 가스 분사부; 및 상기 제 2 몸체의 타측에 설치되어 상기 제 2 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 반응 공간을 기밀하는 제 2 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The third air curtain portion includes a second body installed on the chamber wall; A second gas injector installed on one side of the second body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And a second gas suction part installed at the other side of the second body to suck the gas for gas leaking from the second gas injection part to hermetically seal the reaction space.

상기 기밀용 가스는 질소 가스인 것을 특징으로 한다.The hermetic gas is characterized in that the nitrogen gas.

상기 공용 챔버는 상기 공용 챔버의 내부에 설치되어 상기 공용 챔버의 내부로 반송되는 상기 가요성 기판을 상기 히팅 롤러의 외주면 쪽으로 반송되도록 가이드 하는 제 1 기판 가이드 롤러; 및 상기 공용 챔버의 내부에 설치되어 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판을 상기 기판 회수 롤러 쪽으로 반송되도록 가이드 하는 제 2 기판 가이드 롤러를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The shared chamber may include a first substrate guide roller installed in the shared chamber to guide the flexible substrate conveyed into the shared chamber toward the outer circumferential surface of the heating roller; And a second substrate guide roller installed in the common chamber to guide the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller to the substrate recovery roller.

상기 박막형 태양전지의 제조 장치는 상기 외곽 챔버의 내부에 진공 분위기를 형성하기 위한 적어도 하나의 제 1 펌핑 장치; 상기 공용 챔버의 내부에 진공 분위기를 형성하기 위한 제 2 펌핑 장치; 및 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 내부에 진공 분위기를 형성하기 위한 복수의 제 3 펌핑 장치를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The thin film solar cell manufacturing apparatus includes at least one first pumping device for forming a vacuum atmosphere inside the outer chamber; A second pumping device for forming a vacuum atmosphere inside the common chamber; And a plurality of third pumping devices for forming a vacuum atmosphere in each of the plurality of process chamber units.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제 조 방법은 서로 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 하부 챔버와 상부 챔버 사이를 경유하도록 가요성 기판을 반송하는 단계; 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간을 기밀하는 단계; 및 상기 반응 공간에 공급되는 공정 가스에 의해 형성되는 플라즈마를 이용하여 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film solar cell, the method comprising: conveying a flexible substrate to pass between a lower chamber and an upper chamber installed to face each other to form a reaction space; Hermetically sealing the reaction space using an air curtain; And forming a semiconductor layer on the flexible substrate using a plasma formed by the process gas supplied to the reaction space.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법은 공용 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러를 동시에 구동하여 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러 사이에 설치된 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 하부 챔버와 상부 챔버에 의해 마련되는 반응 공간을 경유하도록 가요성 기판을 반송하는 단계; 에어 커튼을 이용하여 각 공정 챔버 유닛의 반응 공간을 기밀하는 단계; 및 상기 각 공정 챔버 유닛의 상기 반응 공간에 공급되는 공정 가스에 의해 형성되는 플라즈마를 이용하여 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film solar cell, wherein a plurality of substrates are disposed between the substrate feeding roller and the substrate recovery roller by simultaneously driving a substrate feeding roller and a substrate recovery roller installed in a common chamber. Conveying the flexible substrate via the reaction space provided by the lower chamber and the upper chamber of each process chamber unit; Hermetically sealing the reaction space of each process chamber unit using an air curtain; And forming a semiconductor layer on the flexible substrate using a plasma formed by a process gas supplied to the reaction space of each process chamber unit.

상기 반응 공간을 기밀하는 단계는 상기 하부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 1 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 배면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 하부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 단계; 및 상기 상부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 2 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 상기 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 상부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.Hermetically sealing the reaction space may inject a gas for airtight to the rear surface of the flexible substrate by using first air curtains installed on both side chamber walls of the lower chamber, and suck the injected gas for gastight gas into the lower chamber. Hermetically sealing between the chamber wall of the substrate and the back side of the flexible substrate; And injecting the airtight gas to an upper surface of the flexible substrate by using second air curtains installed on both side chamber walls of the upper chamber, and sucking the injected gas for gastight gas to allow the chamber walls of the upper chamber and the flexible body to flow. And airtight between the top surfaces of the substrates.

상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계는 상기 가요성 기판이 반송되 는 상태에서 상기 반도체층을 형성하는 것을 특징으로 한다.In the forming of the semiconductor layer on the flexible substrate, the semiconductor layer may be formed while the flexible substrate is being conveyed.

상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계는 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 1 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하는 단계; 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 2 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하는 단계; 및 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 3 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The forming of the semiconductor layer on the flexible substrate may include forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate in a first process chamber unit of the plurality of process chamber units; Forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate in a second process chamber unit of the plurality of process chamber units; And forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate in a third process chamber unit of the plurality of process chamber units.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법은 외곽 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러의 연동에 의해 연속적으로 반송되는 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 공용 챔버를 포함하는 박막형 태양전지의 제조 방법에 있어서, 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러를 동시에 구동하여 상기 공용 챔버의 하부 공용 챔버와 상부 공용 챔버 사이를 경유하도록 상기 가요성 기판을 반송하는 제 1 단계; 에어 커튼을 이용하여 상기 가요성 기판과 상기 하부 공용 챔버 사이와, 상기 가요성 기판과 상기 상부 공용 챔버 사이를 기밀하는 제 2 단계; 상기 공용 챔버의 내부에 설치된 히팅 롤러의 회전에 따라 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 상기 가요성 기판을 반송하는 제 3 단계; 및 상기 히팅 롤러의 외주면과 마주보도록 소정 간격으로 설치된 복수의 공정 챔버 유닛에 의한 플라즈마 공정을 이용하여 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판에 상기 반도체층을 형성하는 제 4 단계를 포함하 여 이루어지는 것을 특징으로 한다.A method of manufacturing a thin film solar cell according to the present invention for achieving the above technical problem is for forming a semiconductor layer on a flexible substrate that is continuously conveyed by interlocking a substrate feeding roller and a substrate recovery roller installed in an outer chamber. A method of manufacturing a thin film solar cell including a common chamber, the method comprising: driving the substrate feeding roller and the substrate recovery roller simultaneously to convey the flexible substrate to pass between a lower common chamber and an upper common chamber of the common chamber; Stage 1; A second step of sealing an air curtain between the flexible substrate and the lower common chamber and between the flexible substrate and the upper common chamber; A third step of conveying the flexible substrate along an outer circumferential surface of the heating roller according to the rotation of the heating roller installed in the common chamber; And a fourth step of forming the semiconductor layer on the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller by using a plasma process by a plurality of process chamber units disposed at predetermined intervals to face the outer circumferential surface of the heating roller. It is characterized by made by.

상기 제 2 단계는 상기 하부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 1 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 배면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 하부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 단계; 및 상기 상부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 2 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 상기 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 상부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The second step is to inject a gas for airtight to the back of the flexible substrate using a first air curtain portion provided on both side chamber walls of the lower common chamber, and to suck the injected airtight gas gas of the lower common chamber Hermetically sealing between a chamber wall and a back side of the flexible substrate; And spraying the airtight gas onto the upper surface of the flexible substrate by using second air curtains provided on both side chamber walls of the upper common chamber, and sucking the injected gas for the airtight gas to form a chamber wall of the upper common chamber. And sealing the upper surface of the flexible substrate.

상기 제 4 단계는 에어 커튼을 이용하여 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각과 상기 가요성 기판 사이를 기밀하여 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각에 반응 공간을 형성하는 단계; 및 상기 각 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판 상에 상기 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The fourth step may include airtight between each of the plurality of process chamber units and the flexible substrate using an air curtain to form a reaction space in each of the plurality of process chamber units; And forming the semiconductor layer on the flexible substrate in each process chamber unit.

상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각에 반응 공간을 형성하는 단계는 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 공정 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 3 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 공정 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 것을 특징으로 한다.Forming a reaction space in each of the plurality of process chamber units may inject gas for airtight onto the upper surface of the flexible substrate by using a third air curtain part provided on both side chamber walls of the process chambers of each of the plurality of process chamber units. And inhale the injected gastight gas to hermetically seal between the chamber wall of the process chamber and the upper surface of the flexible substrate.

상기 각 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판 상에 상기 반도체층을 형성하는 단계는 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 1 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하는 단계; 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 2 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하는 단계; 및 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 3 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The forming of the semiconductor layer on the flexible substrate in each of the process chamber units may include forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate in a first process chamber unit of the plurality of process chamber units. Making; Forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate in a second process chamber unit of the plurality of process chamber units; And forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate in a third process chamber unit of the plurality of process chamber units.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치 및 제조 방법은 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the manufacturing apparatus and the manufacturing method of the thin-film solar cell according to the present invention have the following effects.

첫째, 에어 커튼을 이용하여 공정 챔버 유닛을 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층의 막질 손상을 방지할 수 있으며, 가요성 기판의 반송하면서 플라즈마 공정을 수행하게 되므로 연속 공정을 통해 생산성을 향상시킬 수 있다는 효과가 있다.First, by air-tightening the process chamber unit in a non-contact manner, it is possible to prevent the film quality damage of the first electrode layer formed on the flexible substrate, and to perform the plasma process while conveying the flexible substrate, thereby increasing productivity through a continuous process. There is an effect that can be improved.

둘째, 에어 커튼을 이용하여 히팅 롤러의 원주면을 따라 연속적으로 반송되는 가요성 기판과 공정 챔버 사이를 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판에 형성된 박막의 손상을 방지할 수 있으며, 연속 공정을 통해 생산성을 크게 향상시킬 수 있다는 효과가 있다.Second, the air curtain is used to airtight between the flexible substrate and the process chamber continuously conveyed along the circumferential surface of the heating roller in a non-contact manner to prevent damage to the thin film formed on the flexible substrate, and the productivity through the continuous process There is an effect that can be greatly improved.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining an apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to a first embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 공용 챔버(110), 기판 피딩 롤러(120), 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150), 기판 회수 롤러(160), 및 복수의 기판 가이드 롤러(170)를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 3, the apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the first exemplary embodiment may include a common chamber 110, a substrate feeding roller 120, and first to third process chamber units 130, 140, and 150. , The substrate recovery roller 160, and the plurality of substrate guide rollers 170 are configured.

공용 챔버(110)는 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150), 기판 피딩 롤러(120), 및 기판 회수 롤러(160)를 감싸도록 설치된다. 이때, 공용 챔버(110)의 내부 압력은 복수의 제 1 펌핑 장치(112, 114)에 의해 소정 압력으로 낮아진 상태를 유지한다.The common chamber 110 is installed to surround the first to third process chamber units 130, 140, and 150, the substrate feeding roller 120, and the substrate recovery roller 160. In this case, the internal pressure of the common chamber 110 is maintained at a predetermined pressure lowered by the plurality of first pumping devices 112 and 114.

기판 피딩 롤러(120)는 공용 챔버(110)의 일측에 설치된다. 이때, 기판 피딩 롤러(120)에는 소정의 길이를 가지는 가요성 기판(FS)이 감겨져 있다. 여기서, 가요성 기판(FS) 상에는 박막형 태양전지의 제 1 전극층(미도시)이 소정 간격으로 형성되어 있다. 이러한, 기판 피딩 롤러(120)는 구동 장치(미도시)의 회전에 따라 회전되면서 가요성 기판(FS)을 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)으로 공급한다.The substrate feeding roller 120 is installed at one side of the common chamber 110. At this time, the flexible substrate FS having a predetermined length is wound around the substrate feeding roller 120. Here, the first electrode layer (not shown) of the thin film solar cell is formed at predetermined intervals on the flexible substrate FS. The substrate feeding roller 120 is rotated according to the rotation of the driving device (not shown) and supplies the flexible substrate FS to the first to third process chamber units 130, 140, and 150.

제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 각각은 기판 피딩 롤러(120)와 기판 회수 롤러(160) 사이에 배치되도록 공용 챔버(110) 내부에 설치된다. 이러한, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 각각은 PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) 공정을 이용하여 기판 피딩 롤러(120)에 의해 반송되는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 반도체층을 형성한다. 이때, 반도체층은 가요성 기판(FS)의 제 1 전극층 상에 순차적으로 형성되는 P형 반도체층, I형 반도체층 및 N형 반도체층으로 이루어진다. 이에 따라, 제 1 공정 챔버 유닛(130)은 가요성 기판(FS) 상의 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층(예를 들어, P형 반도체층)을 형성하고, 제 2 공정 챔버 유닛(140)은 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층(예를 들어, I형 반도체층)을 형성하고, 제 3 공정 챔버 유닛(150)은 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층(예를 들어, N형 반도체층)을 형성한다. 여기서, 박막형 태양전지의 구조에 따라 제 1 공정 챔버 유닛(130)은 가요성 기판(FS)의 제 1 전극층 상에 N형 반도체층을 형성하고, 제 2 공정 챔버 유닛(140)은 N형 반도체층 상에 I형 반도체층을 형성하고, 제 3 공정 챔버 유닛(150)은 I형 반도체층 상에 P형 반도체층을 형성할 수도 있다.Each of the first to third process chamber units 130, 140, and 150 is installed inside the common chamber 110 to be disposed between the substrate feeding roller 120 and the substrate recovery roller 160. Each of the first to third process chamber units 130, 140, and 150 may be formed on a flexible substrate FS conveyed by the substrate feeding roller 120 using a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) process. A semiconductor layer is formed on one electrode layer. In this case, the semiconductor layer includes a P-type semiconductor layer, an I-type semiconductor layer, and an N-type semiconductor layer sequentially formed on the first electrode layer of the flexible substrate FS. Accordingly, the first process chamber unit 130 forms a first semiconductor layer (eg, a P-type semiconductor layer) on the first electrode layer on the flexible substrate FS, and the second process chamber unit 140. Forms a second semiconductor layer (eg, an I-type semiconductor layer) on the first semiconductor layer, and the third process chamber unit 150 is a third semiconductor layer (eg, N on the second semiconductor layer). Type semiconductor layer). Here, according to the structure of the thin film solar cell, the first process chamber unit 130 forms an N-type semiconductor layer on the first electrode layer of the flexible substrate FS, and the second process chamber unit 140 is an N-type semiconductor. An I-type semiconductor layer may be formed on the layer, and the third process chamber unit 150 may form a P-type semiconductor layer on the I-type semiconductor layer.

이를 위해, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 각각은 하부 챔버(131), 히터(132), 상부 챔버(133), 샤워 헤드(134), 제 2 펌핑 장치(136), 및 기밀 유닛(300)을 포함하여 구성된다.To this end, each of the first to third process chamber units 130, 140, and 150 may include a lower chamber 131, a heater 132, an upper chamber 133, a shower head 134, and a second pumping device 136. , And the airtight unit 300.

하부 챔버(131)는 공용 챔버(110)의 바닥면에 설치된다.The lower chamber 131 is installed on the bottom surface of the common chamber 110.

히터(132)는 하부 챔버(131) 내부에 설치되어 가요성 기판(FS)을 소정의 온도로 가열한다. 이때, 히터(132)는 적외선 램프 등의 발열 광원을 포함하여 이루어질 수 있다. 이러한, 히터(132)는 가요성 기판(FS)과 비접촉 방식을 통해 가요성 기판(FS)을 가열하는 것이 바람직하다.The heater 132 is installed in the lower chamber 131 to heat the flexible substrate FS to a predetermined temperature. In this case, the heater 132 may include a heat source such as an infrared lamp. Such a heater 132 preferably heats the flexible substrate FS through a non-contact method with the flexible substrate FS.

상부 챔버(133)는 하부 챔버(131)의 챔버 벽과 소정 높이로 이격되어 마주보도록 공용 챔버(110)의 상부에 설치된다. 이때, 상부 챔버(133)는 공용 챔버(110)의 상부에 설치된 상부 챔버 지지대(135)에 의해 지지된다.The upper chamber 133 is installed above the common chamber 110 so as to face the chamber wall of the lower chamber 131 at a predetermined height. In this case, the upper chamber 133 is supported by the upper chamber support 135 installed on the upper portion of the common chamber 110.

샤워 헤드(134)는 상부 챔버(133) 내부에 설치되어 외부로부터 공급되는 공정 가스를 후술되는 반응 공간에 분사한다.The shower head 134 is installed inside the upper chamber 133 to inject a process gas supplied from the outside into the reaction space to be described later.

제 2 펌핑 장치(136)는 공용 챔버(110)의 바닥면을 관통하여 하부 챔버(131)에 연통되도록 설치되어 반응 공간의 내부 압력을 소정 압력으로 낮춘다.The second pumping device 136 is installed to communicate with the lower chamber 131 through the bottom surface of the common chamber 110 to lower the internal pressure of the reaction space to a predetermined pressure.

기밀 유닛(300)은 하부 챔버(131)의 양측면 챔버 벽과 상부 챔버(133)의 챔버 양측면 챔버 벽 사이에 마련된 기판 출입부에 설치되어 하부 챔버(131)의 챔버 벽과 상부 챔버(133)의 챔버 벽 사이를 기밀한다.The airtight unit 300 is installed at a substrate entrance provided between the both side chamber walls of the lower chamber 131 and the chamber both side chamber walls of the upper chamber 133, so that the airtight unit 300 of the upper chamber 133 and the chamber wall of the lower chamber 131 is disposed. Airtight between the chamber walls.

이를 위해, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기밀 유닛(300)은, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 포함하여 구성된다.To this end, the airtight unit 300 according to the first exemplary embodiment of the present invention includes the first and second air curtains 310 and 320 as shown in FIG. 4.

제 1 에어 커튼부(310)는 제 1 몸체(312), 제 1 가스 분사부(314), 및 제 1 가스 흡입부(316)를 포함하여 구성된다.The first air curtain 310 includes a first body 312, a first gas injector 314, and a first gas intake 316.

제 1 몸체(312)는 하부 챔버(131)의 양측 챔버 벽에 설치된다.The first body 312 is installed on both chamber walls of the lower chamber 131.

제 1 가스 분사부(314)는 제 1 몸체(312)의 일측 가장자리 또는 타측 가장자리에 설치되어 외부로부터 공급되는 소정 압력의 기밀용 가스를 제 1 가스 흡입부(316) 쪽으로 분사한다. 여기서, 기밀용 가스는 질소(N2) 가스가 될 수 있다.The first gas injector 314 is installed at one edge or the other edge of the first body 312 to inject a gastight gas having a predetermined pressure supplied from the outside toward the first gas inlet 316. Here, the gas tight gas may be nitrogen (N 2 ) gas.

제 1 가스 흡입부(316)는 제 1 가스 분사부(314)의 설치 위치와 반대되도록 제 1 몸체(312)의 타측 가장자리 또는 일측 가장자리에 설치되어 제 1 가스 분사부(314)로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입한다.The first gas inlet 316 is installed on the other edge or one side edge of the first body 312 so as to be opposite to the installation position of the first gas injector 314, and the airtight sprayed from the first gas injector 314. Inhale gas.

한편, 제 1 몸체(312)는 기밀용 가스의 원활한 흐름을 위해 제 1 가스 분사 부(314)와 제 1 가스 흡입부(316) 사이에 형성된 제 1 곡면을 더 포함하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the first body 312 may further include a first curved surface formed between the first gas injector 314 and the first gas inlet 316 to smoothly flow the gas for airtightness.

상술한 제 1 에어 커튼부(310)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)에 공급되는 공정 가스가 외부로 유출되는 것을 방지하기 위한 제 1 공정 가스 유출 방지부(318)를 더 포함하여 구성된다.As illustrated in FIG. 5, the first air curtain 310 described above may prevent first process gas leakage to prevent the process gas supplied to the process chamber units 130, 140, and 150 from flowing out. It further comprises a portion 318.

제 1 공정 가스 유출 방지부(318)는 제 1 회전부(318a), 및 제 1 스토퍼(318b)를 포함하여 구성된다.The first process gas leakage preventing part 318 includes a first rotating part 318a and a first stopper 318b.

제 1 회전부(318a)는 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부에 대응되는 제 1 몸체(312)의 일측면에 회전 가능하도록 설치된다. 이때, 제 1 회전부(318a)는 회전시 가요성 기판(FS)의 배면에 접촉되더라도 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층의 막질을 손상시키지 않으면서 열에 강한 재질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제 1 회전부(318a)는 테프론(Teflon) 재질로 이루어질 수 있다.The first rotating part 318a is installed to be rotatable on one side of the first body 312 corresponding to the inside of the process chamber unit 130, 140, 150. In this case, the first rotating part 318a may be made of a material that is heat resistant without damaging the film quality of the first electrode layer formed on the flexible substrate FS even if it is in contact with the rear surface of the flexible substrate FS. For example, the first rotating part 318a may be made of Teflon material.

제 1 스토퍼(318b)는 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부에 대응되는 제 1 몸체(312)의 일측면에 설치되어 제 1 회전부(318a)의 회전을 구속한다. 즉, 제 1 스토퍼(318b)는 제 1 회전부(318a)가 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부 방향으로 회전 가능하게 하는 반면에, 제 1 회전부(318a)가 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 외부 방향으로 회전되지 않도록 제 1 회전부(318a)의 회전을 구속한다.The first stopper 318b is installed on one side of the first body 312 corresponding to the interior of the process chamber units 130, 140, and 150 to constrain the rotation of the first rotating part 318a. That is, the first stopper 318b allows the first rotary part 318a to rotate in the inner direction of the process chamber units 130, 140, and 150, whereas the first rotary part 318a allows the process chamber unit 130, Constrain the rotation of the first rotating part 318a so as not to rotate in the outward directions of the 140 and 150.

도 4에서, 제 2 에어 커튼부(320)는 제 2 몸체(322), 제 2 가스 분사부(324), 및 제 2 가스 흡입부(326)를 포함하여 구성된다.In FIG. 4, the second air curtain 320 includes a second body 322, a second gas injector 324, and a second gas intake 326.

제 2 몸체(322)는 상부 챔버(133)의 양측 챔버 벽에 설치된다. 여기서, 제 2 몸체(322)는 제 1 에어 커튼부(310)의 제 1 몸체(312)와 마주보도록 설치되거나 소정 간격으로 엇갈리게 설치될 수 있다.The second body 322 is installed on both chamber walls of the upper chamber 133. Here, the second body 322 may be installed to face the first body 312 of the first air curtain 310 or staggered at predetermined intervals.

제 2 가스 분사부(324)는 제 2 몸체(322)의 일측 가장자리 또는 타측 가장자리에 설치되어 외부로부터 공급되는 소정 압력의 상술한 기밀용 가스를 제 2 가스 흡입부(326) 쪽으로 분사한다. 이때, 제 2 가스 분사부(324)는 제 1 에어 커튼부(310)의 제 1 가스 분사부(314)와 마주보도록 설치되거나 제 1 가스 흡입부(316)와 마주보도록 설치될 수 있다.The second gas injector 324 is installed at one edge or the other edge of the second body 322 to inject the above-described gastight gas of a predetermined pressure supplied from the outside toward the second gas inlet 326. In this case, the second gas injection unit 324 may be installed to face the first gas injection unit 314 of the first air curtain unit 310 or to face the first gas suction unit 316.

제 2 가스 흡입부(326)는 제 2 가스 분사부(324)의 설치 위치와 반대되도록 제 2 몸체(322)의 타측 가장자리 또는 일측 가장자리에 설치되어 제 2 가스 분사부(324)로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입한다.The second gas inlet 326 is installed on the other edge or one edge of the second body 322 so as to be opposite to the installation position of the second gas injector 324, and the airtight sprayed from the second gas injector 324. Inhale gas.

한편, 제 2 몸체(322)는 기밀용 가스의 원활한 흐름을 위해 제 2 가스 분사부(324)와 제 2 가스 흡입부(326) 사이에 형성된 제 2 곡면을 더 포함하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the second body 322 may further include a second curved surface formed between the second gas injector 324 and the second gas inlet 326 to smoothly flow the gas for airtightness.

상술한 제 2 에어 커튼부(320)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)에 공급되는 공정 가스가 외부로 유출되는 것을 방지하기 위한 제 2 공정 가스 유출 방지부(328)를 더 포함하여 구성된다.As described above, the second air curtain unit 320 may prevent the second process gas leaking out to prevent the process gas supplied to the process chamber units 130, 140, and 150 from flowing out. It further comprises a portion 328.

제 2 공정 가스 유출 방지부(328)는 제 2 회전부(328a), 및 제 2 스토퍼(328b)를 포함하여 구성된다.The 2nd process gas outflow prevention part 328 is comprised including the 2nd rotation part 328a and the 2nd stopper 328b.

제 2 회전부(328a)는 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부에 대응되는 제 2 몸체(322)의 일측면에 회전 가능하도록 설치된다. 이때, 제 2 회전부(328a)는 제 1 회전부(318a)와 동일한 재질로 이루어질 수 있다.The second rotating part 328a is installed to be rotatable on one side of the second body 322 corresponding to the inside of the process chamber unit 130, 140, 150. In this case, the second rotating part 328a may be made of the same material as the first rotating part 318a.

제 2 스토퍼(328b)는 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부에 대응되는 제 2 몸체(322)의 일측면에 설치되어 제 2 회전부(328a)의 회전을 구속한다. 즉, 제 2 스토퍼(328b)는 제 2 회전부(328a)가 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 내부 방향으로 회전 가능하게 하는 반면에, 제 2 회전부(328a)가 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 외부 방향으로 회전되지 않도록 제 2 회전부(328a)의 회전을 구속한다.The second stopper 328b is installed on one side of the second body 322 corresponding to the inside of the process chamber units 130, 140, and 150 to constrain the rotation of the second rotating part 328a. That is, the second stopper 328b allows the second rotating part 328a to rotate in the inner direction of the process chamber units 130, 140, and 150, while the second rotating part 328a has the process chamber unit 130, The rotation of the second rotating part 328a is constrained so as not to rotate in the outward directions of the 140 and 150.

이와 같은 기밀 유닛(300)은 가요성 기판(FS)이 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)로 반송되면, 가스 분사부(314, 324)를 통해 소정 압력의 기밀용 가스를 가요성 기판(FS)의 배면 및 상면에 분사함과 아울러 가스 흡입부(316, 326)를 통해 기밀용 가스를 흡입함으로써 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)를 기밀한다. 이에 따라, 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 반응 공간은 기밀 유닛(300)에 의해 기밀을 유지하게 된다.When the flexible substrate FS is transferred to each of the process chamber units 130, 140, and 150, the airtight unit 300 may pass the gas for airtightness at a predetermined pressure through the gas injection units 314 and 324. Each process chamber unit 130, 140, 150 is hermetically sealed by spraying the back and upper surfaces of the FS and sucking the gas for hermeticity through the gas suction units 316,326. Accordingly, the reaction space of each process chamber unit 130, 140, 150 is kept airtight by the airtight unit 300.

한편, 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)이 기밀 유닛(300)에 의해 비접촉 방식으로 기밀됨으로써 기판 피딩 롤러(120)는 스테핑 롤링(Stepping Rolling) 방식으로 가요성 기판(FS)을 반송할 수 있으나, 바람직하게는 생산성 향상을 위해 연속 공정이 가능하도록 가요성 기판(FS)의 반송을 정지시키지 않고 연속적으로 반송할 수 있다.Meanwhile, each process chamber unit 130, 140, 150 is hermetically sealed by the hermetic unit 300 so that the substrate feeding roller 120 can convey the flexible substrate FS in a stepping rolling manner. However, it can be carried out continuously without stopping the transfer of the flexible substrate (FS), preferably to enable a continuous process to improve the productivity.

도 3에서, 기판 회수 롤러(160)는 공용 챔버(110)의 타측에 설치된다. 이러 한, 기판 회수 롤러(160)는 기판 피딩 롤러(120)의 회전에 연동되어 제 3 공정 챔버 유닛(150)에 의해 공정이 완료된 가요성 기판(FS)을 회수한다.In FIG. 3, the substrate recovery roller 160 is installed at the other side of the common chamber 110. The substrate recovery roller 160 recovers the flexible substrate FS in which the process is completed by the third process chamber unit 150 in conjunction with the rotation of the substrate feeding roller 120.

복수의 기판 가이드 롤러(170)는 기판 피딩 롤러(120), 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150), 및 기판 회수 롤러(160) 사이마다 설치되어 가요성 기판(FS)의 반송을 가이드 한다.The plurality of substrate guide rollers 170 are installed between the substrate feeding rollers 120, the first to third process chamber units 130, 140, and 150, and the substrate recovery roller 160 to form the flexible substrate FS. Guide the return.

이와 같은, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 이용하여 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)을 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층의 막질 손상을 방지할 수 있으며, 가요성 기판(FS)의 반송하면서 플라즈마 공정을 수행하게 되므로 연속 공정을 통해 생산성을 향상시킬 수 있다.As described above, in the apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the first exemplary embodiment of the present invention, the process chamber units 130, 140, and 150 may be contacted in a non-contact manner by using the first and second air curtains 310 and 320. By hermetic sealing, it is possible to prevent film quality damage of the first electrode layer formed on the flexible substrate FS, and to perform the plasma process while conveying the flexible substrate FS, thereby improving productivity through a continuous process.

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 단계적으로 설명하기 위한 도면이다.6A and 6B are views for explaining step-by-step a method of manufacturing a thin film solar cell according to a first embodiment of the present invention.

도 6a 및 도 6b를 참조하여 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 단계적으로 설명하면 다음과 같다.6A and 6B, the manufacturing method of the thin film solar cell according to the first exemplary embodiment of the present invention will be described step by step.

먼저, 도 6a에 도시된 바와 같이, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 각각에 설치된 기밀 유닛(300)의 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 구동하여 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)으로 반송된 가요성 기판(FS)의 배면 및 상면을 기밀함으로써 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)에 마련되는 반응 공간의 기밀을 유지한다. 이때, 가요성 기판(FS)은 스테핑 롤링 방식에 따른 기판 피딩 롤러(120)와 기판 회수 롤러(160)의 연동에 의해 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 으로 반송되어 정지된 상태를 유지한다.First, as shown in FIG. 6A, the first and second air curtain portions 310 and 320 of the airtight unit 300 installed in each of the first to third process chamber units 130, 140, and 150 are driven to The airtightness of the reaction space provided in each process chamber unit 130,140,150 is hold | maintained by sealing the back surface and the upper surface of the flexible board | substrate FS conveyed to each process chamber unit 130,140,150. At this time, the flexible substrate FS is conveyed to each process chamber unit 130, 140, 150 by the interlocking of the substrate feeding roller 120 and the substrate recovery roller 160 according to the stepping rolling method, thereby maintaining a stopped state. do.

이어서, 도 6b에 도시된 바와 같이, 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)의 히터(132)를 이용하여 가요성 기판(FS)을 소정의 온도로 가열하면서, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(130, 140, 150) 각각의 공정에 대응되는 공정 가스를 샤워 헤드(134)에 공급하고, 샤워 헤드(134)를 통해 반응 공간에 분사되는 공정 가스를 플라즈마로 변환시켜 가요성 기판(FS) 상에 반도체층을 형성한다. 이에 따라, 제 1 공정 챔버 유닛(130)에서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층이 형성되고, 제 2 공정 챔버 유닛(140)에서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층이 형성되며, 제 3 공정 챔버 유닛(150)에서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층이 형성된다.Subsequently, as illustrated in FIG. 6B, the first to third process chambers are heated while heating the flexible substrate FS to a predetermined temperature using the heaters 132 of the process chamber units 130, 140, and 150. The process gas corresponding to each process of the units 130, 140, and 150 is supplied to the shower head 134, and the process gas injected into the reaction space through the shower head 134 is converted into a plasma to provide a flexible substrate FS. ) To form a semiconductor layer. Accordingly, in the first process chamber unit 130, the first semiconductor layer is formed on the first electrode layer formed on the flexible substrate FS, and in the second process chamber unit 140, the first semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS. A second semiconductor layer is formed on the first semiconductor layer, and a third semiconductor layer is formed on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate FS in the third process chamber unit 150.

이어서, 가요성 기판(FS)에 해당 반도체층이 형성되면, 상술한 도 6a 및 도 6b에 도시된 공정을 반복적으로 수행함으로써 가요성 기판(FS)에 반도체층을 형성하게 된다.Subsequently, when the semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS, the semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS by repeatedly performing the processes illustrated in FIGS. 6A and 6B.

한편, 상술한 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법에서는 가요성 기판(FS)을 스테핑 롤링 방식으로 반송하여 반도체층의 형성 공정을 수행하였으나, 이에 한정되지 않고 가요성 기판(FS)을 연속적으로 반송하면서 상술한 반도체층의 형성 공정을 수행할 수 있다. 즉, 본 발명은 에어 커튼부(310, 320)를 이용한 비접촉 방식을 통해 각 공정 챔버 유닛(130, 140, 150)에 마련되는 반응 공간의 기밀을 유지시키기 때문에 가요성 기판(FS)의 반송을 정지시키지 않고, 가요성 기판(FS)을 연속적으로 반송하면서 상술한 반도체층의 형성 공정을 수 행할 수 있다.Meanwhile, in the method of manufacturing the thin film solar cell according to the first embodiment of the present invention described above, the flexible substrate FS is conveyed by a stepping rolling method to perform a process of forming a semiconductor layer, but the present invention is not limited thereto. The formation process of the semiconductor layer mentioned above can be performed, conveying FS continuously. That is, the present invention maintains the airtightness of the reaction space provided in each of the process chamber units 130, 140, and 150 through the non-contact method using the air curtains 310 and 320, thereby conveying the flexible substrate FS. The above-described process of forming the semiconductor layer can be performed while continuously conveying the flexible substrate FS without stopping.

이와 같은, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법은 에어 커튼부(310, 320)를 이용하여 가요성 기판(FS)과 각 공정 챔버(652, 662, 672) 사이를 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 박막의 손상을 방지할 수 있으며, 연속 공정을 통해 생산성을 크게 향상시킬 수 있다.As described above, in the method of manufacturing the thin film solar cell according to the first embodiment of the present invention, the non-contact between the flexible substrate FS and each of the process chambers 652, 662, and 672 using the air curtains 310 and 320. By hermetically sealing in such a manner, damage to the thin film formed on the flexible substrate FS can be prevented and productivity can be greatly improved through a continuous process.

도 7은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.7 is a view for explaining a manufacturing apparatus of a thin film solar cell according to a second embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 외곽 챔버(510), 기판 피딩 롤러(520), 공용 챔버(530), 및 기판 회수 롤러(540), 제 1 및 제 2 기판 가이드 롤러(550, 560)를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 7, the apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to a second exemplary embodiment of the present invention may include an outer chamber 510, a substrate feeding roller 520, a common chamber 530, and a substrate recovery roller 540. And first and second substrate guide rollers 550 and 560.

외곽 챔버(510)는 기판 피딩 롤러(520), 공용 챔버(530), 및 기판 회수 롤러(540)를 감싸도록 설치된다. 이러한, 외곽 챔버(510)의 내부 압력은 복수의 제 1 펌핑 장치(512, 514)에 의해 소정의 압력으로 낮아진 상태를 유지한다.The outer chamber 510 is installed to surround the substrate feeding roller 520, the common chamber 530, and the substrate recovery roller 540. The internal pressure of the outer chamber 510 is maintained at a predetermined pressure by the plurality of first pumping devices 512 and 514.

기판 피딩 롤러(520)는 외곽 챔버(510)의 일측에 설치된다. 이때, 기판 피딩 롤러(520)에는 소정의 길이를 가지는 가요성 기판(FS)이 감겨져 있다. 여기서, 가요성 기판(FS) 상에는 박막형 태양전지의 제 1 전극층(미도시)이 소정 간격으로 형성되어 있다. 이러한, 기판 피딩 롤러(520)는 구동 장치(미도시)의 회전에 따라 회전되면서 가요성 기판(FS)을 공용 챔버(530)로 공급한다.The substrate feeding roller 520 is installed at one side of the outer chamber 510. At this time, the flexible substrate FS having a predetermined length is wound around the substrate feeding roller 520. Here, the first electrode layer (not shown) of the thin film solar cell is formed at predetermined intervals on the flexible substrate FS. The substrate feeding roller 520 is rotated according to the rotation of the driving device (not shown) and supplies the flexible substrate FS to the common chamber 530.

공용 챔버(530)는 외곽 챔버(510)에 설치된 기판 피딩 롤러(520)와 기판 회수 롤러(540) 사이에 설치되어 기판 피딩 롤러(520)와 기판 회수 롤러(540)에 의해 반송되는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 반도체층을 형성한다. 이러한, 공용 챔버(530)에 대한 구체적인 설명은 후술하기로 한다.The common chamber 530 is installed between the substrate feeding roller 520 and the substrate recovery roller 540 installed in the outer chamber 510 and is conveyed by the substrate feeding roller 520 and the substrate recovery roller 540. A semiconductor layer is formed on the first electrode layer formed at (FS). Such a detailed description of the common chamber 530 will be described later.

기판 회수 롤러(540)는 공용 챔버(510)의 타측에 설치된다. 이러한, 기판 회수 롤러(540)는 기판 피딩 롤러(520)의 회전에 연동되어 공용 챔버(530)에 의해 공정이 완료된 가요성 기판(FS)을 회수한다.The substrate recovery roller 540 is installed at the other side of the common chamber 510. The substrate recovery roller 540 recovers the flexible substrate FS in which the process is completed by the common chamber 530 in conjunction with the rotation of the substrate feeding roller 520.

제 1 반송 가이드 롤러(550)는 기판 피딩 롤러(520)와 공용 챔버(530) 사이에 설치되어 기판 피딩 롤러(520)로부터 공용 챔버(530)로 반송되는 가요성 기판(FS)의 반송을 가이드 한다.The first conveyance guide roller 550 is installed between the substrate feeding roller 520 and the common chamber 530 to guide the conveyance of the flexible substrate FS conveyed from the substrate feeding roller 520 to the common chamber 530. do.

제 2 반송 가이드 롤러(560)는 공용 챔버(530)와 기판 회수 롤러(540) 사이에 설치되어 공용 챔버(530)로부터 기판 회수 롤러(540)로 반송되는 가요성 기판(FS)의 반송을 가이드 한다.The second conveyance guide roller 560 is provided between the common chamber 530 and the substrate recovery roller 540 to guide the conveyance of the flexible substrate FS conveyed from the common chamber 530 to the substrate recovery roller 540. do.

이와 같은, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치는 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 이용하여 공용 챔버(530)를 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층의 막질 손상을 방지할 수 있으며, 공용 챔버(530)에서 가요성 기판(FS)의 반송하면서 플라즈마 공정을 수행하게 되므로 연속 공정을 통해 생산성을 향상시킬 수 있다.As described above, the apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the second embodiment of the present invention uses the first and second air curtains 310 and 320 to hermetically seal the common chamber 530 in a non-contact manner, thereby providing a flexible substrate ( Damage to the film of the first electrode layer formed in the FS may be prevented, and the plasma process may be performed while the flexible substrate FS is transferred from the common chamber 530, thereby improving productivity through a continuous process.

이하에서는 공용 챔버(530)에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.Hereinafter, the common chamber 530 will be described in detail.

공용 챔버(530)는 하부 공용 챔버(610), 상부 공용 챔버(620), 기밀 유닛(630), 히팅 롤러(640), 제 1 및 제 2 기판 가이드 롤러(642, 644), 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(650, 660, 670), 및 제 2 내지 제 5 펌핑 장치(682, 684, 686, 688)를 포함하여 구성된다.The common chamber 530 includes the lower common chamber 610, the upper common chamber 620, the airtight unit 630, the heating roller 640, the first and second substrate guide rollers 642 and 644, and the first to the first. And three process chamber units 650, 660, 670, and second to fifth pumping devices 682, 684, 686, 688.

하부 공용 챔버(610)는 외곽 챔버(510)의 바닥면에 설치된다.The lower common chamber 610 is installed on the bottom surface of the outer chamber 510.

상부 공용 챔버(620)는 하부 공용 챔버(610)의 챔버 벽과 소정 높이로 이격되어 마주보도록 외곽 챔버(510)의 상부에 설치된다. 이때, 상부 공용 챔버(620)는 외곽 챔버(510)의 상부에 설치된 상부 공용 챔버 지지대(미도시)에 의해 지지될 수 있다.The upper common chamber 620 is installed above the outer chamber 510 to face the chamber wall of the lower common chamber 610 at a predetermined height. In this case, the upper common chamber 620 may be supported by an upper common chamber supporter (not shown) installed above the outer chamber 510.

기밀 유닛(630)은 하부 공용 챔버(610)의 양측면 챔버 벽과 상부 공용 챔버(620)의 양측면 챔버 벽 사이에 각각 설치되어 하부 공용 챔버(610)의 챔버 벽과 상부 공용 챔버(620)의 챔버 벽 사이를 기밀한다.The airtight unit 630 is installed between the side chamber walls of the lower common chamber 610 and the side chamber walls of the upper common chamber 620, respectively, so that the chamber walls of the lower common chamber 610 and the chambers of the upper common chamber 620 are provided. Keep it tight between the walls.

이를 위해, 기밀 유닛(630)은, 도 8에 도시된 바와 같이, 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 포함하여 구성된다. 이러한, 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)는 상술한 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기밀 유닛(300)과 동일하게 구성되므로, 이들에 대한 설명은 상술한 도 4에 대한 설명으로 대신하기로 한다. 이때, 기밀 유닛(630)은 도 5에 도시된 공정 가스 유출 방지부(318, 328)를 더 포함하여 구성될 수 있다.For this purpose, the airtight unit 630 is configured to include the first and second air curtains 310 and 320, as shown in FIG. Since the first and second air curtains 310 and 320 are configured in the same manner as the airtight unit 300 according to the first embodiment of the present invention described above, the description thereof will be described with reference to FIG. 4. I will replace it with In this case, the airtight unit 630 may further include the process gas leakage preventing parts 318 and 328 illustrated in FIG. 5.

이와 같은, 기밀 유닛(630)은 상술한 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 이용하여 하부 공용 챔버(610)의 챔버 벽과 상부 공용 챔버(620)의 챔버 벽 사이로 반송되는 가요성 기판(FS)의 배면 및 상면을 비접촉 방식으로 기밀함으로써 공용 챔버(510)의 내부를 기밀한다.As such, the airtight unit 630 is conveyed between the chamber wall of the lower common chamber 610 and the chamber wall of the upper common chamber 620 by using the first and second air curtain portions 310 and 320 described above. The inside and the inside of the common chamber 510 are hermetically sealed by hermetically sealing the back and the top surface of the substrate FS in a non-contact manner.

히팅 롤러(640)는 공용 챔버(530)의 내부에 회전 가능하도록 설치되어 공급 되는 가요성 기판(FS)을 반송함과 동시에 가요성 기판(FS)을 소정의 온도로 가열한다. 이때, 가요성 기판(FS)은 히팅 롤러(540)의 원주면을 따라 회전되어 반송된다. 여기서, 히팅 롤러(640)는 적외선 램프 등의 발열 광원을 포함하여 이루어질 수 있다.The heating roller 640 conveys the flexible substrate FS that is rotatably installed in the common chamber 530, and simultaneously heats the flexible substrate FS to a predetermined temperature. At this time, the flexible substrate FS is rotated along the circumferential surface of the heating roller 540 and conveyed. Here, the heating roller 640 may include a heat source such as an infrared lamp.

제 1 기판 가이드 롤러(642)는 히팅 롤러(640)의 일측 외주면에 인접하도록 공용 챔버(530)의 일측에 설치되어 가요성 기판(FS)이 히팅 롤러(640)의 원주면을 따라 반송되도록 가이드 한다.The first substrate guide roller 642 is installed at one side of the common chamber 530 so as to be adjacent to one outer peripheral surface of the heating roller 640 so that the flexible substrate FS is conveyed along the circumferential surface of the heating roller 640. do.

제 2 기판 가이드 롤러(644)는 히팅 롤러(640)의 타측 외주면에 인접하도록 공용 챔버(530)의 타측에 설치되어 히팅 롤러(640)의 원주면을 따라 반송되는 가요성 기판(FS)이 기판 회수 롤러(540)로 반송되도록 가이드 한다.The second substrate guide roller 644 is installed on the other side of the common chamber 530 so as to be adjacent to the outer peripheral surface of the other side of the heating roller 640, and the flexible substrate FS conveyed along the circumferential surface of the heating roller 640 is a substrate. It guides so that it may be conveyed to the collection roller 540.

제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(650, 660, 670) 각각은 히팅 롤러(640)의 원주면에 일정한 간격으로 설치된다. 이러한, 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(650, 660, 670) 각각은 PECVD 공정을 이용하여 히팅 롤러(640)에 의해 반송되는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 반도체층을 형성한다. 이때, 반도체층은 가요성 기판(FS)의 제 1 전극층 상에 순차적으로 형성되는 P형 반도체층, I형 반도체층 및 N형 반도체층으로 이루어진다. 이에 따라, 제 1 공정 챔버 유닛(650)은 가요성 기판(FS) 상의 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층(예를 들어, P형 반도체층)을 형성하고, 제 2 공정 챔버 유닛(660)은 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층(예를 들어, I형 반도체층)을 형성하고, 제 3 공정 챔버 유닛(670)은 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층(예를 들어, N형 반도체층)을 형성한다. 여기서, 박막형 태양전지의 구조에 따라 제 1 공정 챔버 유닛(650)은 가요성 기판(FS)의 제 1 전극층 상에 N형 반도체층을 형성하고, 제 2 공정 챔버 유닛(660)은 N형 반도체층 상에 I형 반도체층을 형성하고, 제 3 공정 챔버 유닛(670)은 I형 반도체층 상에 P형 반도체층을 형성할 수도 있다.Each of the first to third process chamber units 650, 660, and 670 is installed at regular intervals on the circumferential surface of the heating roller 640. Each of the first to third process chamber units 650, 660, and 670 forms a semiconductor layer on the first electrode layer formed on the flexible substrate FS conveyed by the heating roller 640 using a PECVD process. do. In this case, the semiconductor layer includes a P-type semiconductor layer, an I-type semiconductor layer, and an N-type semiconductor layer sequentially formed on the first electrode layer of the flexible substrate FS. Accordingly, the first process chamber unit 650 forms a first semiconductor layer (eg, a P-type semiconductor layer) on the first electrode layer on the flexible substrate FS, and the second process chamber unit 660. Forms a second semiconductor layer (eg, an I-type semiconductor layer) on the first semiconductor layer, and the third process chamber unit 670 is a third semiconductor layer (eg, N on the second semiconductor layer). Type semiconductor layer). Here, according to the structure of the thin film solar cell, the first process chamber unit 650 forms an N-type semiconductor layer on the first electrode layer of the flexible substrate FS, and the second process chamber unit 660 is an N-type semiconductor. An I-type semiconductor layer may be formed on the layer, and the third process chamber unit 670 may form a P-type semiconductor layer on the I-type semiconductor layer.

제 1 공정 챔버 유닛(650)은 히팅 롤러(640)의 일측 외주면과 마주보도록 공용 챔버(530)의 내부에 설치된다. 이러한, 제 1 공정 챔버 유닛(650)은 제 1 반도체층을 형성하기 위한 소정의 압력 하에서 제 1 공정 가스를 이용한 플라즈마 공정을 통해 가요성 기판(FS)의 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성한다.The first process chamber unit 650 is installed in the common chamber 530 to face an outer circumferential surface of one side of the heating roller 640. The first process chamber unit 650 may be configured to form the first semiconductor layer on the first electrode layer of the flexible substrate FS through a plasma process using the first process gas under a predetermined pressure for forming the first semiconductor layer. Form.

이를 위해, 제 1 공정 챔버 유닛(650)은, 도 9에 도시된 바와 같이, 공정 챔버(652), 샤워 헤드(654), 및 제 3 에어 커튼부(656)를 포함하여 구성된다.To this end, the first process chamber unit 650 includes a process chamber 652, a shower head 654, and a third air curtain 656, as shown in FIG. 9.

공정 챔버(652)는 히팅 롤러(640)의 일측 외주면과 마주보도록 공용 챔버(530)의 내부에 설치된다.The process chamber 652 is installed inside the common chamber 530 to face an outer circumferential surface of one side of the heating roller 640.

샤워 헤드(654)는 공정 챔버(652)의 내부에 설치되어 외부로부터 공급되는 제 1 공정 가스를 후술되는 반응 공간에 분사한다.The shower head 654 is installed inside the process chamber 652 to inject the first process gas supplied from the outside into the reaction space to be described later.

제 3 에어 커튼부(656)는 공정 챔버(652)의 양측면 챔버 벽에 설치되어 기밀용 가스의 분사 및 흡입을 이용하여 가요성 기판(FS)과 공정 챔버(652)의 챔버 벽 사이를 기밀함으로써 공정 챔버(652)의 내부에 반응 공간을 기밀한다. 이를 위해, 제 3 에어 커튼부(656)는 제 3 몸체(712), 제 3 가스 분사부(714), 및 제 3 가스 흡입부(716)를 포함하여 구성된다.The third air curtain portion 656 is installed on both side chamber walls of the process chamber 652 to hermetically seal between the flexible substrate FS and the chamber wall of the process chamber 652 using the injection and suction of the gas tight. The reaction space is hermetically sealed inside the process chamber 652. To this end, the third air curtain portion 656 includes a third body 712, a third gas injector 714, and a third gas intake 716.

제 3 몸체(712)는 공정 챔버(652)의 양측면 챔버 벽 각각에 설치된다.The third body 712 is installed on each side chamber wall of the process chamber 652.

제 3 가스 분사부(714)는 제 3 몸체(712)의 일측 가장자리 또는 타측 가장자리에 설치되어 외부로부터 공급되는 소정 압력의 기밀용 가스를 제 3 가스 흡입부(716) 쪽으로 분사한다. 여기서, 기밀용 가스는 질소(N2) 가스가 될 수 있다.The third gas injector 714 is installed at one edge or the other edge of the third body 712 to inject a gas tight gas of a predetermined pressure supplied from the outside toward the third gas inlet 716. Here, the gas tight gas may be nitrogen (N 2 ) gas.

제 3 가스 흡입부(716)는 제 3 가스 분사부(714)의 설치 위치와 반대되도록 제 3 몸체(712)의 타측 가장자리 또는 일측 가장자리에 설치되어 제 3 가스 분사부(714)로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입한다.The third gas inlet 716 is installed at the other edge or one edge of the third body 712 so as to be opposite to the installation position of the third gas injector 714, and the airtight air is injected from the third gas injector 714. Inhale gas.

한편, 제 3 몸체(712)는 기밀용 가스의 원활한 흐름을 위해 제 3 가스 분사부(714)와 제 3 가스 흡입부(716) 사이에 형성된 곡면을 더 포함하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the third body 712 may further include a curved surface formed between the third gas injector 714 and the third gas inlet 716 to smoothly flow the gas for airtightness.

상술한 제 3 에어 커튼부(656)는 제 1 공정 챔버 유닛(650)에 공급되는 공정 가스가 외부로 유출되는 것을 방지하기 위하여 상술한 공정 가스 유출 방지부(도 5 참조)를 더 포함하여 구성될 수 있다.The third air curtain unit 656 further includes the above-described process gas leakage preventing unit (see FIG. 5) in order to prevent the process gas supplied to the first process chamber unit 650 from flowing out. Can be.

제 2 공정 챔버 유닛(660)은 제 1 공정 챔버 유닛(650)에 인접하도록 히팅 롤러(640)의 외주면과 마주보도록 공용 챔버(530)의 내부에 설치된다. 이러한, 제 2 공정 챔버 유닛(660)은 제 2 반도체층을 형성하기 위한 소정의 압력 하에서 제 2 공정 가스를 이용한 플라즈마 공정을 통해 가요성 기판(FS)의 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성한다.The second process chamber unit 660 is installed in the common chamber 530 to face the outer circumferential surface of the heating roller 640 so as to be adjacent to the first process chamber unit 650. The second process chamber unit 660 is a second semiconductor layer on the first semiconductor layer of the flexible substrate FS through a plasma process using a second process gas under a predetermined pressure for forming the second semiconductor layer. To form.

이를 위해, 제 2 공정 챔버 유닛(660)은, 도 9에 도시된 바와 같이, 공정 챔버(662), 샤워 헤드(664), 및 제 3 에어 커튼부(666)를 포함하여 구성된다. 이러 한 구성을 가지는 제 2 공정 챔버 유닛(660)은 도면 부호만 다를 뿐 상술한 제 1 공정 챔버 유닛(660)과 동일하게 구성되므로 동일한 구성에 대한 설명은 상술한 제 1 공정 챔버 유닛(660)에 대한 설명으로 대신하기로 한다.To this end, the second process chamber unit 660 includes a process chamber 662, a shower head 664, and a third air curtain 666, as shown in FIG. 9. Since the second process chamber unit 660 having such a configuration is the same as the first process chamber unit 660 described above except for the reference numerals, the description of the same configuration will be described in the above-described first process chamber unit 660. I'll replace it with an explanation.

제 3 공정 챔버 유닛(670)은 제 2 공정 챔버 유닛(660)에 인접하도록 히팅 롤러(640)의 외주면과 마주보도록 공용 챔버(530)의 내부에 설치된다. 이러한, 제 3 공정 챔버 유닛(670)은 제 3 반도체층을 형성하기 위한 소정의 압력 하에서 제 3 공정 가스를 이용한 플라즈마 공정을 통해 가요성 기판(FS)의 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성한다.The third process chamber unit 670 is installed in the common chamber 530 to face the outer circumferential surface of the heating roller 640 so as to be adjacent to the second process chamber unit 660. The third process chamber unit 670 is formed on the second semiconductor layer of the flexible substrate FS through a plasma process using a third process gas under a predetermined pressure for forming the third semiconductor layer. To form.

이를 위해, 제 3 공정 챔버 유닛(670)은, 도 9에 도시된 바와 같이, 공정 챔버(672), 샤워 헤드(674), 및 제 3 에어 커튼부(676)를 포함하여 구성된다. 이러한 구성을 가지는 제 3 공정 챔버 유닛(670)은 도면 부호만 다를 뿐 상술한 제 1 공정 챔버 유닛(660)과 동일하게 구성되므로 동일한 구성에 대한 설명은 상술한 제 1 공정 챔버 유닛(660)에 대한 설명으로 대신하기로 한다.To this end, the third process chamber unit 670 includes a process chamber 672, a shower head 674, and a third air curtain 676, as shown in FIG. 9. Since the third process chamber unit 670 having such a configuration is the same as the first process chamber unit 660 described above except for the reference numerals, a description of the same configuration is provided in the first process chamber unit 660 described above. The description will be replaced.

도 7에서, 제 2 펌핑 장치(682)는 외곽 챔버(510)를 관통하여 공용 챔버(530)에 연통되도록 설치되어 기밀 유닛(630)에 의해 기밀된 공용 챔버(530)의 내부 압력을 소정 압력으로 낮춘다.In FIG. 7, the second pumping device 682 is installed to communicate with the common chamber 530 through the outer chamber 510 so as to supply a predetermined pressure to the internal pressure of the common chamber 530 hermetically sealed by the hermetic unit 630. Lowers.

제 3 펌핑 장치(684)는 외곽 챔버(510) 및 공용 챔버(530)를 관통하여 제 1 공정 챔버 유닛(650)의 공정 챔버(652)에 연통되어 공정 챔버(652)에 마련되는 반응 공간의 내부 압력을 소정 압력으로 낮춘다. 이때, 제 3 펌핑 장치(684)는 제 3 에어 커튼부(656)에 의해 기밀된 공정 챔버(652)의 반응 공간을 제 1 반도체층을 형성하기 위한 공정 조건에 대응되는 압력으로 낮춘다.The third pumping device 684 passes through the outer chamber 510 and the common chamber 530 to communicate with the process chamber 652 of the first process chamber unit 650 to provide a reaction space provided in the process chamber 652. The internal pressure is lowered to the predetermined pressure. At this time, the third pumping device 684 lowers the reaction space of the process chamber 652 hermetically sealed by the third air curtain 656 to a pressure corresponding to the process conditions for forming the first semiconductor layer.

제 4 펌핑 장치(686)는 외곽 챔버(510) 및 공용 챔버(530)를 관통하여 제 2 공정 챔버 유닛(660)의 공정 챔버(662)에 연통되어 공정 챔버(662)에 마련되는 반응 공간의 내부 압력을 소정 압력으로 낮춘다. 이때, 제 4 펌핑 장치(686)는 제 3 에어 커튼부(666)에 의해 기밀된 공정 챔버(662)의 반응 공간에 제 2 반도체층을 형성하기 위한 공정 조건에 대응되는 압력으로 낮춘다.The fourth pumping device 686 passes through the outer chamber 510 and the common chamber 530 to communicate with the process chamber 662 of the second process chamber unit 660 to provide a reaction space provided in the process chamber 662. The internal pressure is lowered to the predetermined pressure. At this time, the fourth pumping device 686 is lowered to a pressure corresponding to the process conditions for forming the second semiconductor layer in the reaction space of the process chamber 662 hermetically sealed by the third air curtain portion 666.

제 5 펌핑 장치(688)는 외곽 챔버(510) 및 공용 챔버(530)를 관통하여 제 3 공정 챔버 유닛(670)의 공정 챔버(672)에 연통되어 공정 챔버(672)에 마련되는 반응 공간의 내부 압력을 소정 압력으로 낮춘다. 이때, 제 5 펌핑 장치(688)는 제 3 에어 커튼부(676)에 의해 기밀된 공정 챔버(672)의 반응 공간에 제 3 반도체층을 형성하기 위한 공정 조건에 대응되는 압력으로 낮춘다.The fifth pumping device 688 penetrates the outer chamber 510 and the common chamber 530 to communicate with the process chamber 672 of the third process chamber unit 670 to provide a reaction space in the process chamber 672. The internal pressure is lowered to the predetermined pressure. At this time, the fifth pumping device 688 is lowered to a pressure corresponding to the process conditions for forming the third semiconductor layer in the reaction space of the process chamber 672 hermetically sealed by the third air curtain 676.

상술한 공용 챔버(530)는 히팅 롤러(640)를 회전시킴과 동시에 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(650, 660, 670)의 에어 커튼부(656, 666, 676)를 이용하여 히팅 롤러(640)의 외주면을 따라 반송되는 가요성 기판(FS)과 공정 챔버(652, 662, 672) 사이를 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 내지 제 3 반도체층을 순차적으로 형성한다. 이에 따라, 공용 챔버(530)는 에어 커튼부(656, 666, 676)를 통해 공정 챔버(652, 662, 672)를 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 박막의 손상을 방지할 수 있다.The common chamber 530 rotates the heating roller 640 and simultaneously uses the heating rollers 656, 666, and 676 of the first to third process chamber units 650, 660, and 670. The first to third semiconductor layers are sequentially formed on the first electrode layer formed on the flexible substrate FS by sealing between the flexible substrate FS conveyed along the outer circumferential surface of the 640 and the process chambers 652, 662, and 672. To form. Accordingly, the common chamber 530 may hermetically seal the process chambers 652, 662, and 672 through the air curtains 656, 666, and 676 in a non-contact manner to prevent damage to the thin film formed on the flexible substrate FS. Can be.

도 10은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.10 is a view for explaining a method of manufacturing a thin film solar cell according to a second embodiment of the present invention.

도 10을 도 9와 결부하여 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 설명하면 다음과 같다.Referring to FIG. 10 and FIG. 9, a method of manufacturing a thin film solar cell according to a second exemplary embodiment of the present invention is as follows.

먼저, 공용 챔버(530)에 설치된 기밀 유닛(630)의 제 1 및 제 2 에어 커튼부(310, 320)를 구동하여 공용 챔버(530)로 반송되는 가요성 기판(FS)의 배면 및 상면을 기밀함과 아울러 공용 챔버(530)에 마련되는 반응 공간을 소정의 압력으로 낮춘다.First, the back and top surfaces of the flexible substrate FS conveyed to the common chamber 530 by driving the first and second air curtain portions 310 and 320 of the airtight unit 630 installed in the common chamber 530. In addition to airtightness, the reaction space provided in the common chamber 530 is lowered to a predetermined pressure.

이어서, 롤 투 롤(Roll to Roll) 방식에 따른 기판 피딩 롤러(120)와 기판 회수 롤러(160), 및 히팅 롤러(640)의 연동에 의해 히팅 롤러(640)의 외주면을 따라 가요성 기판(FS)을 연속적으로 반송함과 동시에 히팅 롤러(640)를 통해 가요성 기판(FS)을 소정의 온도로 가열한다.Subsequently, the flexible substrate may be formed along the outer circumferential surface of the heating roller 640 by interlocking the substrate feeding roller 120, the substrate recovery roller 160, and the heating roller 640 according to a roll to roll method. While conveying FS continuously, the flexible board | substrate FS is heated to predetermined temperature via the heating roller 640. As shown in FIG.

이와 동시에, 공용 챔버(530)의 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛(650, 660, 670) 각각의 에어 커튼부(656, 666, 676)를 구동하여 히팅 롤러(640)의 외주면을 따라 반송되는 가요성 기판(FS)과 각 공정 챔버(652, 662, 672) 사이를 기밀함과 아울러 각 공정 챔버(652, 662, 672)의 내부에 마련되는 반응 공간의 압력을 반도체층을 형성하기 위한 압력으로 낮춘다.At the same time, the air curtains 656, 666, and 676 of the first to third process chamber units 650, 660, and 670 of the common chamber 530 are driven to be conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller 640. The pressure between the flexible substrate FS and each process chamber 652, 662, 672 and the pressure of the reaction space provided inside the process chamber 652, 662, 672 to form the semiconductor layer. Lowers.

이와 동시에, 각 공정 챔버(652, 662, 672)의 공정에 대응되는 공정 가스를 각 샤워 헤드(654, 664, 674)에 공급하고, 각 샤워 헤드(654, 664, 674)를 통해 반응 공간에 분사되는 공정 가스를 플라즈마로 변환시켜 가요성 기판(FS) 상에 반도체층을 형성한다. 이에 따라, 제 1 공정 챔버 유닛(650)에서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층이 형성되고, 제 2 공정 챔버 유닛(660)에 서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층이 형성되며, 제 3 공정 챔버 유닛(670)에서는 가요성 기판(FS)에 형성된 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층이 형성된다.At the same time, the process gas corresponding to the process of each process chamber 652, 662, 672 is supplied to each shower head 654, 664, 674, and through each shower head 654, 664, 674 to a reaction space. The injection process gas is converted into plasma to form a semiconductor layer on the flexible substrate FS. Accordingly, in the first process chamber unit 650, a first semiconductor layer is formed on the first electrode layer formed on the flexible substrate FS, and in the second process chamber unit 660, the first semiconductor layer is formed on the flexible substrate FS. A second semiconductor layer is formed on the formed first semiconductor layer, and a third semiconductor layer is formed on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate FS in the third process chamber unit 670.

이와 같은, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법은 에어 커튼부(656, 666, 676)를 이용하여 히팅 롤러(640)의 원주면을 따라 연속적으로 반송되는 가요성 기판(FS)과 각 공정 챔버(652, 662, 672) 사이를 비접촉 방식으로 기밀함으로써 가요성 기판(FS)에 형성된 박막의 손상을 방지할 수 있으며, 연속 공정을 통해 생산성을 크게 향상시킬 수 있다.As described above, the method of manufacturing the thin film solar cell according to the second exemplary embodiment of the present invention includes a flexible substrate continuously conveyed along the circumferential surface of the heating roller 640 using the air curtains 656, 666, and 676. The airtightness between the FS and each of the process chambers 652, 662, and 672 in a non-contact manner can prevent damage to the thin film formed on the flexible substrate FS and can greatly improve productivity through a continuous process.

본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those skilled in the art to which the present invention pertains will understand that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. Therefore, it is to be understood that the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is shown by the following claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention. do.

도 1은 종래의 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining a conventional thin film solar cell manufacturing apparatus.

도 2a 내지 도 2c는 종래의 박막형 태양전지의 제조 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 도면이다.2A to 2C are views for explaining a method of driving a conventional thin film solar cell manufacturing apparatus.

도 3은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining an apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to a first embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기밀 유닛을 설명하기 위하여 도 3에 도시된 B 부분을 확대하여 나타내는 도면이다.FIG. 4 is an enlarged view of a portion B shown in FIG. 3 to describe an airtight unit according to a first embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기밀 유닛을 설명하기 위하여 도 3에 도시된 B 부분을 확대하여 나타내는 도면이다.FIG. 5 is an enlarged view of a portion B shown in FIG. 3 to describe an airtight unit according to a second embodiment of the present disclosure.

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 단계적으로 설명하기 위한 도면이다.6A and 6B are views for explaining step-by-step a method of manufacturing a thin film solar cell according to a first embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 장치를 설명하기 위한 도면이다.7 is a view for explaining a manufacturing apparatus of a thin film solar cell according to a second embodiment of the present invention.

도 8은 도 7에 도시된 C 부분을 확대하여 나타내는 도면이다.FIG. 8 is an enlarged view of a portion C shown in FIG. 7.

도 9는 도 7에 도시된 D 부분을 확대하여 나타내는 도면이다.FIG. 9 is an enlarged view of a portion D shown in FIG. 7.

도 10은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막형 태양전지의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.10 is a view for explaining a method of manufacturing a thin film solar cell according to a second embodiment of the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호설명 ><Explanation of Signs of Major Parts of Drawings>

FS: 가요성 기판FS: flexible substrate

110, 530: 공용 챔버110, 530: common chamber

112, 114, 136, 512, 514, 682, 684, 686, 688: 펌핑 장치112, 114, 136, 512, 514, 682, 684, 686, 688: pumping device

120, 520: 기판 피딩 롤러120, 520: substrate feeding roller

130, 140, 150, 650, 660, 670: 공정 챔버 유닛130, 140, 150, 650, 660, 670: process chamber unit

132: 히터132: heater

134, 654, 664, 674: 샤워 헤드134, 654, 664, 674: shower head

160, 540: 기판 회수 롤러160, 540: substrate recovery roller

300, 630: 기밀 유닛300, 630: air tight unit

310, 320, 656, 666, 676: 에어 커튼부310, 320, 656, 666, 676: air curtain

510: 외곽 챔버510: outer chamber

610: 하부 공용 챔버610: lower common chamber

620: 상부 공용 챔버620: upper common chamber

630: 히팅 롤러630: heating roller

Claims (27)

플라즈마 공정을 이용하여 가요성 기판 상에 반도체층을 형성하기 위한 공정 챔버 유닛을 포함하며,A process chamber unit for forming a semiconductor layer on the flexible substrate using a plasma process, 상기 공정 챔버 유닛은,The process chamber unit, 하부 챔버;Lower chamber; 상기 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 챔버와 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 상부 챔버; 및An upper chamber disposed to face the lower chamber with the flexible substrate therebetween to form a reaction space; And 상기 가요성 기판이 반송되도록 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버 사이에 마련된 기판 출입부에 위치한 에어 커튼을 이용해 상기 상부 챔버와 가요성 기판 사이를 기밀함과 동시에 상기 하부 챔버와 상기 가요성 기판 사이를 기밀하여 상기 반응 공간의 기밀을 유지하는 기밀 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.An air curtain positioned between the lower chamber and the upper chamber to convey the flexible substrate is sealed between the upper chamber and the flexible substrate while airtight between the lower chamber and the flexible substrate. And an airtight unit configured to maintain the airtightness of the reaction space. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기밀 유닛은,The hermetic unit, 상기 하부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 하부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 제 1 에어 커튼부; 및First air curtains disposed on both side chamber walls of the lower chamber to seal between the chamber wall of the lower chamber and the rear surface of the flexible substrate; And 상기 상부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 상부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 제 2 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a second air curtain part installed on both side chamber walls of the upper chamber and airtight between the chamber wall of the upper chamber and the upper surface of the flexible substrate. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제 1 및 제 2 에어 커튼부 각각은,Each of the first and second air curtain portions, 상기 챔버 벽에 설치된 몸체;A body mounted to the chamber wall; 상기 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 가스 분사부; 및A gas injector installed at one side of the body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And 상기 몸체의 타측에 설치되어 상기 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 반응 공간을 기밀하는 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a gas suction part installed on the other side of the body to suck the gas for gas leaking from the gas injecting part to seal the reaction space. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 기밀용 가스는 질소 가스인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.The hermetic gas is a thin film solar cell manufacturing apparatus, characterized in that the nitrogen gas. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공정 챔버 유닛은,The process chamber unit, 상기 하부 챔버에 설치된 히터; 및A heater installed in the lower chamber; And 상기 상부 챔버에 설치되어 상기 하부 챔버와 상기 상부 챔버에 의해 형성된 반응 공간에 상기 반도체층을 형성하기 위한 공정 가스를 분사하기 위한 샤워 헤드를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a shower head installed in the upper chamber and configured to inject a process gas for forming the semiconductor layer into a reaction space formed by the lower chamber and the upper chamber. . 공용 챔버;Shared chamber; 상기 공용 챔버의 내부 일측에 설치되어 가요성 기판을 반송하기 위한 기판 피딩 롤러;A substrate feeding roller installed at one side of the common chamber to convey a flexible substrate; 상기 공용 챔버의 내부 타측에 설치되어 상기 가요성 기판을 회수하기 위한 기판 회수 롤러; 및A substrate recovery roller installed at the other side of the common chamber to recover the flexible substrate; And 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러 사이에 설치되어 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러의 동시 구동에 의해 반송되는 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재된 복수의 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.Any one of claims 1 to 5 provided between said substrate feeding roller and said substrate recovery roller for forming a semiconductor layer on said flexible substrate conveyed by simultaneous driving of said substrate feeding roller and said substrate recovery roller. An apparatus for manufacturing a thin-film solar cell, comprising the plurality of process chamber units according to claim. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 공용 챔버에 내부 압력을 낮추기 위한 적어도 하나의 제 1 펌핑 장치; 및At least one first pumping device for lowering an internal pressure in the common chamber; And 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 내부 압력을 낮추기 위한 복수의 제 2 펌핑 장치를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a plurality of second pumping devices for lowering internal pressure of each of the plurality of process chamber units. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 복수의 공정 챔버 유닛은,The plurality of process chamber units, 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하기 위한 제 1 공정 챔버 유닛;A first process chamber unit for forming a first semiconductor layer on the first electrode layer formed on the flexible substrate; 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하기 위한 제 2 공정 챔버 유닛; 및A second process chamber unit for forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate; And 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하기 위한 제 3 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a third process chamber unit for forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate. 외곽 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러의 동시 구동에 의해 반송되는 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 반응 공간을 가지는 공용 챔버를 포함하며,It includes a common chamber having a reaction space for forming a semiconductor layer on the flexible substrate conveyed by the simultaneous driving of the substrate feeding roller and the substrate recovery roller provided inside the outer chamber, 상기 공용 챔버는,The common chamber, 하부 공용 챔버;Lower common chamber; 상기 반송되는 가요성 기판을 사이에 두고 상기 하부 공용 챔버와 마주보도록 설치된 상부 공용 챔버;An upper common chamber installed to face the lower common chamber with the conveyed flexible substrate therebetween; 상기 가요성 기판이 반송되도록 상기 하부 공용 챔버와 상기 상부 공용 챔버 사이에 마련된 기판 출입부에 위치한 에어 커튼을 이용하여 상기 공용 챔버 내부의 기밀을 유지하는 기밀 유닛;An airtight unit that maintains the airtight inside the common chamber by using an air curtain located at a substrate entrance provided between the lower common chamber and the upper common chamber so that the flexible substrate is conveyed; 외주면을 통해 상기 가요성 기판을 반송하면서 상기 가요성 기판을 소정 온도로 가열하기 위한 히팅 롤러; 및A heating roller for heating the flexible substrate to a predetermined temperature while conveying the flexible substrate through an outer circumferential surface; And 상기 히팅 롤러의 외주면과 마주보도록 소정 간격으로 설치되며, 플라즈마 공정을 이용하여 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판에 상기 반도체층을 형성하기 위한 복수의 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.It is provided at a predetermined interval to face the outer circumferential surface of the heating roller, and comprises a plurality of process chamber units for forming the semiconductor layer on the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller using a plasma process An apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 기밀 유닛은,The hermetic unit, 상기 하부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 하부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 제 1 에어 커튼부; 및First air curtains disposed on both side chamber walls of the lower common chamber to seal between the chamber wall of the lower common chamber and the rear surface of the flexible substrate; And 상기 상부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치되어 상기 상부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 제 2 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a second air curtain part installed on both side chamber walls of the upper common chamber and airtight between the chamber wall of the upper common chamber and the upper surface of the flexible substrate. 제 10 항에 있어서,11. The method of claim 10, 상기 제 1 및 제 2 에어 커튼부 각각은,Each of the first and second air curtain portions, 상기 챔버 벽에 설치된 제 1 몸체;A first body mounted to the chamber wall; 상기 제 1 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 제 1 가스 분사부; 및A first gas injector installed on one side of the first body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And 상기 제 1 몸체의 타측에 설치되어 상기 제 1 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 공용 챔버의 반응 공간을 기밀하는 제 1 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a first gas suction part installed on the other side of the first body to suck an airtight gas injected from the first gas injector to seal the reaction space of the common chamber. Manufacturing device. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 복수의 공정 챔버 유닛은,The plurality of process chamber units, 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하기 위한 제 1 공정 챔버 유닛;A first process chamber unit for forming a first semiconductor layer on the first electrode layer formed on the flexible substrate; 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하기 위한 제 2 공정 챔버 유닛; 및A second process chamber unit for forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate; And 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하기 위한 제 3 공정 챔버 유닛을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a third process chamber unit for forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate. 제 12 항에 있어서,13. The method of claim 12, 상기 제 1 내지 제 3 공정 챔버 유닛 각각은,Each of the first to third process chamber units, 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판과 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 공정 챔버;A process chamber installed to face the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller to form a reaction space; 상기 공정 챔버에 설치되어 상기 공정 챔버의 반응 공간에 공정 가스를 분사하는 샤워 헤드; 및A shower head installed in the process chamber to inject a process gas into a reaction space of the process chamber; And 에어 커튼을 이용하여 상기 공정 챔버의 반응 공간을 기밀하도록 상기 공정 챔버의 챔버 벽에 설치된 제 3 에어 커튼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a third air curtain part provided on the chamber wall of the process chamber to hermetically seal the reaction space of the process chamber using an air curtain. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13, 상기 제 3 에어 커튼부는,The third air curtain unit, 상기 챔버 벽에 설치된 제 2 몸체;A second body mounted to the chamber wall; 상기 제 2 몸체의 일측에 설치되어 상기 가요성 기판으로 기밀용 가스를 분사하는 제 2 가스 분사부; 및A second gas injector installed on one side of the second body to inject an airtight gas to the flexible substrate; And 상기 제 2 몸체의 타측에 설치되어 상기 제 2 가스 분사부로부터 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 반응 공간을 기밀하는 제 2 가스 흡입부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a second gas suction part installed on the other side of the second body to suck the gas for gas leaking from the second gas injector to seal the reaction space. 제 11 항 또는 제 14 항에 있어서,The method according to claim 11 or 14, 상기 기밀용 가스는 질소 가스인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.The hermetic gas is a thin film solar cell manufacturing apparatus, characterized in that the nitrogen gas. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 공용 챔버는,The common chamber, 상기 공용 챔버의 내부에 설치되어 상기 공용 챔버의 내부로 반송되는 상기 가요성 기판을 상기 히팅 롤러의 외주면 쪽으로 반송되도록 가이드 하는 제 1 기판 가이드 롤러; 및A first substrate guide roller installed in the common chamber to guide the flexible substrate conveyed into the shared chamber toward the outer circumferential surface of the heating roller; And 상기 공용 챔버의 내부에 설치되어 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판을 상기 기판 회수 롤러 쪽으로 반송되도록 가이드 하는 제 2 기판 가이드 롤러를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a second substrate guide roller installed in the common chamber to guide the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller to the substrate recovery roller. Manufacturing device. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 외곽 챔버의 내부 압력을 낮추기 위한 적어도 하나의 제 1 펌핑 장치;At least one first pumping device for lowering an internal pressure of the outer chamber; 상기 공용 챔버의 내부 압력을 낮추기 위한 제 2 펌핑 장치; 및A second pumping device for lowering the internal pressure of the common chamber; And 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 내부 압력을 낮추기 위한 복수의 제 3 펌핑 장치를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 장치.And a plurality of third pumping devices for lowering internal pressure of each of the plurality of process chamber units. 서로 마주보도록 설치되어 반응 공간을 형성하는 하부 챔버와 상부 챔버 사이를 경유하도록 가요성 기판을 반송하는 단계;Conveying the flexible substrate so as to pass between the lower chamber and the upper chamber which are installed to face each other and form a reaction space; 에어 커튼을 이용하여 상기 반응 공간의 기밀을 유지하는 단계; 및Maintaining an air tightness of the reaction space using an air curtain; And 상기 반응 공간에 공급되는 공정 가스에 의해 형성되는 플라즈마를 이용하여 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.And forming a semiconductor layer on the flexible substrate by using a plasma formed by the process gas supplied to the reaction space. 공용 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러를 동시에 구동하여 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러 사이에 설치된 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 하부 챔버와 상부 챔버에 의해 마련되는 반응 공간을 경유하도록 가요성 기판을 반송하는 단계;Simultaneously driving the substrate feeding roller and the substrate recovery roller installed in the common chamber to pass through the reaction space provided by the lower chamber and the upper chamber of each of the plurality of process chamber units provided between the substrate feeding roller and the substrate recovery roller. Conveying the flexible substrate; 에어 커튼을 이용하여 상기 각 공정 챔버 유닛의 반응 공간의 기밀을 유지하는 단계; 및Maintaining the airtightness of the reaction space of each process chamber unit using an air curtain; And 상기 각 공정 챔버 유닛의 반응 공간에 공급되는 공정 가스에 의해 형성되는 플라즈마를 이용하여 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.And forming a semiconductor layer on the flexible substrate using a plasma formed by a process gas supplied to the reaction space of each process chamber unit. 제 18 항 또는 제 19 항에 있어서,20. The method according to claim 18 or 19, 상기 반응 공간의 기밀을 유지하는 단계는,Maintaining airtightness of the reaction space, 상기 하부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 1 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 배면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 하부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 단계; 및The airtight gas is injected to the rear surface of the flexible substrate by using first air curtains provided on both side chamber walls of the lower chamber, and the injected gastight gas is sucked in to allow the chamber wall of the lower chamber and the flexible substrate to be injected. Hermetically sealing between the back of the; And 상기 상부 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 2 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 상기 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 상부 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.The airtight gas is injected onto the upper surface of the flexible substrate by using second air curtains provided on both side chamber walls of the upper chamber, and the injected gastight gas is sucked in to allow the chamber wall of the upper chamber and the flexible material to be injected. A method of manufacturing a thin film solar cell comprising the step of airtight between the upper surface of the substrate. 제 18 항 또는 제 19 항에 있어서,20. The method according to claim 18 or 19, 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계는 상기 가요성 기판이 반송되는 상태에서 상기 반도체층을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.The forming of the semiconductor layer on the flexible substrate may include forming the semiconductor layer while the flexible substrate is being conveyed. 제 19 항에 있어서,The method of claim 19, 상기 가요성 기판에 반도체층을 형성하는 단계는,Forming a semiconductor layer on the flexible substrate, 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 1 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하는 단계;Forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate in a first process chamber unit of the plurality of process chamber units; 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 2 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하는 단계; 및Forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate in a second process chamber unit of the plurality of process chamber units; And 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 3 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.Forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate in a third process chamber unit of the plurality of process chamber units. 외곽 챔버의 내부에 설치된 기판 피딩 롤러와 기판 회수 롤러의 연동에 의해 연속적으로 반송되는 가요성 기판에 반도체층을 형성하기 위한 공용 챔버를 포함하는 박막형 태양전지의 제조 방법에 있어서,In the manufacturing method of the thin film type solar cell containing the common chamber for forming a semiconductor layer in the flexible substrate continuously conveyed by the interlocking of the board | substrate feeding roller and the board | substrate collection roller provided in the outer chamber, 상기 기판 피딩 롤러와 상기 기판 회수 롤러를 동시에 구동하여 상기 공용 챔버의 하부 공용 챔버와 상부 공용 챔버 사이를 경유하도록 상기 가요성 기판을 반송하는 제 1 단계;A first step of conveying the flexible substrate to drive the substrate feeding roller and the substrate recovery roller simultaneously to pass between the lower common chamber and the upper common chamber of the shared chamber; 에어 커튼을 이용하여 상기 가요성 기판과 상기 하부 공용 챔버 사이와, 상기 가요성 기판과 상기 상부 공용 챔버 사이의 기밀을 유지하는 제 2 단계;A second step of maintaining airtightness between the flexible substrate and the lower common chamber and between the flexible substrate and the upper common chamber using an air curtain; 상기 공용 챔버의 내부에 설치된 히팅 롤러의 회전에 따라 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 상기 가요성 기판을 반송하는 제 3 단계; 및A third step of conveying the flexible substrate along an outer circumferential surface of the heating roller according to the rotation of the heating roller installed in the common chamber; And 상기 히팅 롤러의 외주면과 마주보도록 소정 간격으로 설치된 복수의 공정 챔버 유닛에 의한 플라즈마 공정을 이용하여 상기 히팅 롤러의 외주면을 따라 반송되는 상기 가요성 기판에 상기 반도체층을 형성하는 제 4 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.A fourth step of forming the semiconductor layer on the flexible substrate conveyed along the outer circumferential surface of the heating roller by using a plasma process by a plurality of process chamber units disposed at predetermined intervals to face the outer circumferential surface of the heating roller; Method for producing a thin-film solar cell, characterized in that made. 제 23 항에 있어서,The method of claim 23, wherein 상기 제 2 단계는, The second step, 상기 하부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 1 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 배면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 하부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 배면 사이를 기밀하는 단계; 및The gaseous gas is injected to the rear surface of the flexible substrate by using the first air curtains installed on both side chamber walls of the lower common chamber, and the injected airtight gas is sucked into the chamber wall and the flexible chamber of the lower common chamber. Hermetically sealing between the back side of the substrate; And 상기 상부 공용 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 2 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 상기 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기 밀용 가스를 흡입하여 상기 상부 공용 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.The airtight gas is injected onto the upper surface of the flexible substrate by using second air curtains provided on both side chamber walls of the upper common chamber, and the inhaled gas is injected into the chamber wall of the upper common chamber. A method of manufacturing a thin film solar cell comprising the step of airtight between the upper surface of the flexible substrate. 제 23 항에 있어서,The method of claim 23, wherein 상기 제 4 단계는,The fourth step, 에어 커튼을 이용하여 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각과 상기 가요성 기판 사이를 기밀하여 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각에 반응 공간을 형성하는 단계; 및Airtight between each of the plurality of process chamber units and the flexible substrate using an air curtain to form a reaction space in each of the plurality of process chamber units; And 상기 각 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판 상에 상기 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.And forming the semiconductor layer on the flexible substrate in each process chamber unit. 제 25 항에 있어서,The method of claim 25, 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각에 반응 공간을 형성하는 단계는 상기 복수의 공정 챔버 유닛 각각의 공정 챔버의 양측면 챔버 벽에 설치된 제 3 에어 커튼부를 이용하여 상기 가요성 기판의 상면으로 기밀용 가스를 분사하고, 상기 분사되는 기밀용 가스를 흡입하여 상기 공정 챔버의 챔버 벽과 상기 가요성 기판의 상면 사이를 기밀하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.Forming a reaction space in each of the plurality of process chamber units may inject gas for airtight onto the upper surface of the flexible substrate by using a third air curtain part provided on both side chamber walls of the process chambers of each of the plurality of process chamber units. And inhaling the injected gas-tight gas to hermetically seal between the chamber wall of the process chamber and the upper surface of the flexible substrate. 제 25 항에 있어서,The method of claim 25, 상기 각 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판 상에 상기 반도체층을 형성하는 단계는,Forming the semiconductor layer on the flexible substrate in each process chamber unit, 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 1 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 제 1 전극층 상에 제 1 반도체층을 형성하는 단계;Forming a first semiconductor layer on a first electrode layer formed on the flexible substrate in a first process chamber unit of the plurality of process chamber units; 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 2 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 1 반도체층 상에 제 2 반도체층을 형성하는 단계; 및Forming a second semiconductor layer on the first semiconductor layer formed on the flexible substrate in a second process chamber unit of the plurality of process chamber units; And 상기 복수의 공정 챔버 유닛 중 제 3 공정 챔버 유닛에서 상기 가요성 기판에 형성된 상기 제 2 반도체층 상에 제 3 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조 방법.Forming a third semiconductor layer on the second semiconductor layer formed on the flexible substrate in a third process chamber unit of the plurality of process chamber units.
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