KR101074551B1 - Photo detecting apparatus - Google Patents

Photo detecting apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR101074551B1
KR101074551B1 KR1020067006154A KR20067006154A KR101074551B1 KR 101074551 B1 KR101074551 B1 KR 101074551B1 KR 1020067006154 A KR1020067006154 A KR 1020067006154A KR 20067006154 A KR20067006154 A KR 20067006154A KR 101074551 B1 KR101074551 B1 KR 101074551B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage value
terminal
output
pixel
value
Prior art date
Application number
KR1020067006154A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20060095552A (en
Inventor
세이이치로 미즈노
유키노부 스기야마
Original Assignee
하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 filed Critical 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
Publication of KR20060095552A publication Critical patent/KR20060095552A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101074551B1 publication Critical patent/KR101074551B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/571Control of the dynamic range involving a non-linear response
    • H04N25/573Control of the dynamic range involving a non-linear response the logarithmic type
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/571Control of the dynamic range involving a non-linear response
    • H04N25/575Control of the dynamic range involving a non-linear response with a response composed of multiple slopes

Abstract

본 발명은 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지에서의 광검출을 가능하게 하기 위한 구조를 구비한 광검출 장치에 관한 것이다. 광검출부내의 액티브 픽셀형의 화소부에 광이 입사하면, 그 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 발생한 전하량에 따른 전압치가 선택용 트랜지스터를 거쳐서 화소부로부터 출력된다. 제1 화소 데이터 독출부는 화소부로부터의 출력을 제1 전압치로서 출력한다. 한편, 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 발생한 전하는 방전용 트랜지스터를 거쳐서 화소부로부터 출력된다. 스위치를 거쳐서 제2 화소 데이터 독출부에 유입한 전하는 용량 소자에 축적되고, 상기 축적 전하량에 따른 전압치가 제2 화소 데이터 독출부로부터 제2 전압치로서 출력된다. 제2 화소 데이터 독출부내의 용량 소자의 용량치는 화소부에 포함되는 기생 용량부의 용량치보다 크다. The present invention relates to a light detection device having a structure for enabling light detection at high sensitivity and wide dynamic range. When light enters the pixel portion of the active pixel type in the photodetector, the voltage value corresponding to the amount of charge generated in the photodiode included in the pixel portion is output from the pixel portion via the selection transistor. The first pixel data readout outputs the output from the pixel portion as a first voltage value. On the other hand, charges generated in the photodiodes included in the pixel portion are output from the pixel portion via the discharge transistor. Electric charges flowing into the second pixel data reading unit via the switch are accumulated in the capacitor, and the voltage value corresponding to the accumulated charge amount is output from the second pixel data reading unit as the second voltage value. The capacitance of the capacitor in the second pixel data reading portion is larger than the capacitance of the parasitic capacitor in the pixel portion.

Description

광검출 장치{PHOTO DETECTING APPARATUS}Photodetector {PHOTO DETECTING APPARATUS}

본 발명은 포토 다이오드를 포함하는 액티브 픽셀(active pixel)형의 화소부를 갖는 광검출 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a photodetecting device having a pixel portion of an active pixel type including a photodiode.

광검출 장치로서 CMOS 기술을 이용한 것이 알려져 있으며, 그 중에서도 액티브 픽셀 방식의 것이 알려져 있다(예를 들면 특허 문헌 1을 참조). 액티브 픽셀 방식의 광검출 장치는 입사광 강도에 따른 양(量)의 전하를 발생하는 포토 다이오드를 포함하는 액티브 픽셀형의 화소부를 갖고 있고, 화소부에 있어서 광입사에 따라 포토 다이오드에서 발생한 전하를, 트랜지스터로 이루어지는 소스 팔로워 회로를 거쳐서 전하-전압 변환함으로써, 고감도이면서 저노이즈로 광검출을 행할 수 있다. As a photodetector, it is known to use CMOS technology, and among them, an active pixel system is known (see Patent Document 1, for example). An active pixel type photodetector has an active pixel type pixel portion including a photodiode that generates positive charges according to incident light intensity, and the charge generated by the photodiode according to light incidence in the pixel portion, By charge-to-voltage conversion via a source follower circuit made of a transistor, photodetection can be performed with high sensitivity and low noise.

화소부내에 있어서 포토 다이오드에서 발생한 전하를 축적하는 기생 용량부의 용량치를 Cf로 하고, 그 전하의 양을 Q로 하면, 전하-전압 변환에 의해 얻어지는 출력 전압치 V는 「V=Q/Cf」로 이루어지는 식으로 나타난다. 이 식으로부터 알 수 있는 바와 같이, 기생 용량부의 용량치 Cf를 작게 함으로써, 광검출의 감도를 높게 할 수 있다. If the capacitance value of the parasitic capacitance portion that accumulates the charge generated in the photodiode in the pixel portion is set to C f , and the amount of the charge is set to Q, the output voltage value V obtained by charge-voltage conversion is “V = Q / C f. It is represented by the formula consisting of As can be seen from this equation, the sensitivity of photodetection can be increased by reducing the capacitance C f of the parasitic capacitance portion.

한편, 출력 전압치 V는 사용 가능한 전원 전압 범위 및 회로계의 제약으로 인해, 수 V 정도가 상한이다. 이것으로부터, 기생 용량부에 축적될 수 있는 전하의 양 Q에도 상한이 있다. On the other hand, the output voltage value V is about several V upper limit due to the available power supply voltage range and the limitation of the circuit system. From this, there is an upper limit to the amount Q of charges that can accumulate in the parasitic capacitance portion.

만일, 이 기생 용량부에 축적될 수 있는 전하의 양 Q의 상한치(포화 전하량)를 크게 하면, 기생 용량부의 용량치 Cf를 크게 하거나, 또는 전원 전압치를 크게 하는 것이 고려된다. 그러나, 기생 용량부의 용량치 Cf를 크게 하면, 미세 CMOS 프로세스에 의해 제조하지 않을 수 없기 때문에, 전원 전압치를 작게 해야 하고, 결국 포화 전하량을 크게 할 수 없다. 또, 기생 용량부의 용량치 Cf를 크게 하면, 모처럼의 고감도라고 하는 이점이 없어지게 된다. If the upper limit (saturated charge amount) of the amount Q of charges that can accumulate in the parasitic capacitance portion is increased, it is considered to increase the capacitance value C f of the parasitic capacitance portion or increase the power supply voltage value. However, increasing the parasitic capacitance unit capacitance value C f, since there may not be produced by a fine CMOS process, be less power-supply voltage value, and can not be increased eventually saturated charge amount. In addition, by increasing the parasitic capacitance unit capacitance value C f, then it is not the advantage of high sensitivity that much effort.

[특허 문헌 1] 일본 특개평 11-274454호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-274454

발명자 등은 종래의 광검출 장치에 대해 상세하게 검토한 결과, 이하와 같은 과제를 발견하였다. 즉, 종래의 광검출 장치는 고감도로 광검출을 할 수 있으나, 포화 전하량의 제약에 기인하여 광검출의 다이나믹 레인지(dynamic range)가 좁다고 하는 과제가 있었다. The inventors have studied the conventional photodetector in detail and found the following problems. That is, although the conventional photodetector can perform photodetection with high sensitivity, there is a problem that the dynamic range of photodetection is narrow due to the limitation of the saturation charge amount.

본 발명은 상술과 같은 과제를 해결하기 위하여 이루어진 것으로서, 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지에서의 광검출을 가능하게 하기 위한 구조를 구비한 광검출 장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a photodetecting device having a structure for enabling photodetection in a high sensitivity and wide dynamic range.

본 발명에 관한 광검출 장치는 (1) 입사광 강도에 따른 양의 전하를 발생하는 포토 다이오드와, 게이트 단자에 형성된 기생 용량부에 축적되어 있는 전하의 양에 따른 전압치를 출력하는 증폭용 트랜지스터와, 포토 다이오드에서 발생한 전하를 증폭용 트랜지스터의 게이트 단자에 전송하는 전송용 트랜지스터와, 기생 용량부의 전하를 초기화하는 방전용 트랜지스터와, 증폭용 트랜지스터로부터 출력되는 전압치를 선택적으로 출력하는 선택용 트랜지스터를 포함하는 화소부와, The photodetecting device according to the present invention comprises: (1) a photodiode for generating a positive charge in accordance with incident light intensity, an amplifying transistor for outputting a voltage value corresponding to the amount of charge stored in the parasitic capacitance formed in the gate terminal; A transfer transistor for transferring charges generated in the photodiode to a gate terminal of the amplifying transistor, a discharge transistor for initializing the charges of the parasitic capacitor portion, and a selection transistor for selectively outputting a voltage value output from the amplification transistor. The pixel section,

(2) 화소부의 선택용 트랜지스터로부터 출력되는 전압치를 독출하고, 이 전압치에 따른 제1 전압치를 출력하는 제1 화소 데이터 독출부와, (2) a first pixel data reading portion for reading out a voltage value output from the selection transistor of the pixel portion and outputting a first voltage value corresponding to the voltage value;

(3) 화소부의 방전용 트랜지스터에 접속된 제1 단자와, 화소부의 증폭용 트랜지스터의 게이트 단자의 전하를 초기화하기 위한 바이어스 전위를 입력하는 제2 단자와, 제3 단자를 갖고, 제1 단자와 제2 단자와의 사이 또는 제1 단자와 제3 단자와의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 전환부와, (3) a first terminal connected to the discharge transistor of the pixel portion, a second terminal for inputting a bias potential for initializing charges of the gate terminal of the amplifying transistor of the pixel portion, and a third terminal; A connection switching unit for electrically connecting between the second terminal or between the first terminal and the third terminal,

(4) 접속 전환부의 제3 단자에 입력 단자가 접속되고, 기생 용량부의 용량치보다 큰 용량치를 갖는 용량 소자를 포함하고, 접속 전환부의 제3 단자로부터 입력 단자에 유입한 전하를 용량 소자에 축적하고, 그 축적한 전하의 양에 따른 제2 전압치를 출력하는 제2 화소 데이터 독출부를 구비하는 것을 특징으로 한다. (4) An input terminal is connected to the third terminal of the connection switching unit, and includes a capacitor having a capacitance larger than that of the parasitic capacitance unit, and accumulates charges introduced into the input terminal from the third terminal of the connection switching unit in the capacitor. And a second pixel data readout portion for outputting a second voltage value corresponding to the accumulated charge amount.

상기 광검출 장치에서는 화소부에 광이 입사하면, 그 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 입사광 강도에 따른 양의 전하가 발생하고, 그 전하는 전송용 트랜지스터를 거쳐서 기생 용량부에 축적된다. 기생 용량부에 축적된 전하의 양에 따른 전압치가 증폭용 트랜지스터 및 선택용 트랜지스터를 거쳐서 화소부로부터 출력되고, 제1 화소 데이터 독출부에 의해 독출된다. 그리고, 이 독출된 전압치에 따른 제1 전압치가 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력된다. 이 제1 전압치는 화소부의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에, 그 입사광 강도를 고감도로 검출한 결과를 고정밀도로 나타낸다. In the photodetector, when light enters the pixel portion, a positive charge corresponding to the incident light intensity is generated in the photodiode included in the pixel portion, and the charge is accumulated in the parasitic capacitance portion through the transfer transistor. The voltage value corresponding to the amount of charge stored in the parasitic capacitance section is output from the pixel section via the amplifying transistor and the selection transistor, and read out by the first pixel data reading section. Then, a first voltage value corresponding to the read voltage value is output from the first pixel data reading unit. This first voltage value shows the result of highly sensitive detection of the incident light intensity with high sensitivity when the parasitic capacitance of the pixel portion is not saturated, that is, when the intensity of incident light into the pixel portion is relatively small.

또, 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 발생한 전하는 방전용 트랜지스터를 거쳐서 화소부로부터 출력되고, 접속 전환 수단을 거쳐서 제2 화소 데이터 독출부에 입력한다. 제2 화소 데이터 독출부에서는 유입한 전하가 용량 소자에 축적되고, 그 축적된 전하의 양에 따른 제2 전압치가 출력된다. 여기서, 제2 화소 데이터 독출부에 포함되는 용량 소자의 용량치는 화소부에 포함되는 기생 용량부의 용량치보다 크다. 이것으로 인해, 이 제2 전압치는 화소부의 기생 용량부가 포화하고 있을 때, 즉 화소부에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에도, 그 입사광 강도를 검출한 결과를 고정밀도로 나타낸다. The charge generated by the photodiodes included in the pixel portion is output from the pixel portion via the discharge transistor and input to the second pixel data read portion through the connection switching means. In the second pixel data readout portion, the introduced charge is accumulated in the capacitor, and a second voltage value corresponding to the amount of the accumulated charge is output. The capacitance of the capacitor included in the second pixel data readout is greater than the capacitance of the parasitic capacitor included in the pixel. For this reason, this second voltage value shows the result of detecting the incident light intensity with high precision, even when the parasitic capacitance part of a pixel part is saturated, ie, the intensity of incident light to a pixel part is comparatively large.

따라서, 이 광검출 장치에 의하면, 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제1 전압치와 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제2 전압치에 근거하여, 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로 광검출을 행할 수 있다. Therefore, according to this photodetector, it is possible to perform photodetection with high sensitivity and wide dynamic range based on the first voltage value output from the first pixel data reader and the second voltage value output from the second pixel data reader. Can be.

여기서, 제2 화소 데이터 독출부에 포함되는 용량 소자의 용량치가 기생 용량부의 용량치의 2K배(단, K는 1 이상의 정수)인 것이 바람직하다. 이 경우에는 화소부의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제2 전압치는 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제1 전압치의 2K배로 될 수 있다. 그리고, 예를 들면, 화소부의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부의 판정, 제1 전압치 및 제2 전압치 중에서 어느 하나의 선택, 제1 전압치 및 제2 전압치의 쌍방 또는 어느 한 쪽의 A/D 변환 등의 후처리가 용이하게 된다. Here, the second pixel data reading unit 2 K times the value of capacitance of the capacitor value parasitic capacitance capacitor portion included in preferably a (where, K is an integer of 1 or greater). In this case, when the parasitic capacitance portion of the pixel portion is not saturated, the second voltage value output from the second pixel data read portion may be 2 K times the first voltage value output from the first pixel data read portion. Then, for example, determination of whether the parasitic capacitance portion of the pixel portion is saturated, selection of any one of the first voltage value and the second voltage value, both of the first voltage value and the second voltage value, or either A Post-processing such as / D conversion becomes easy.

본 발명에 관한 광검출 장치는 화소부에 포함되는 포토 다이오드가 제1 도전형의 제1 반도체 영역의 위에 제2 도전형의 제2 반도체 영역을 갖고, 이 제2 반도체 영역의 위에 제1 도전형의 제3 반도체 영역을 갖고, 제1 반도체 영역과 제2 반도체 영역이 pn 접합을 형성하고 있고, 제2 반도체 영역과 제3 반도체 영역이 pn 접합을 형성하고 있는 것이 바람직하다. 이와 같이 포토 다이오드가 매입형의 것인 경우에는 더욱 고감도인 광검출을 행할 수 있다. 또, 제1 도전형 및 제2 도전형 중 한 쪽은 n 형을 의미하고, 다른 쪽은 p 형을 의미한다. In the photodetecting device according to the present invention, the photodiode included in the pixel portion has a second semiconductor region of the second conductivity type on the first semiconductor region of the first conductivity type, and a first conductivity type on the second semiconductor region. It is preferable to have a 3rd semiconductor region of which the 1st semiconductor region and the 2nd semiconductor region form the pn junction, and the 2nd semiconductor region and the 3rd semiconductor region form the pn junction. Thus, when a photodiode is a buried type | mold, more highly sensitive photodetection can be performed. One of the first conductivity type and the second conductivity type means n type, and the other means p type.

본 발명에 관한 광검출 장치는 화소부가 포토 다이오드와 전송용 트랜지스터 사이에 설치되어서 포화 영역에서 이용되는 차단용 트랜지스터를 추가로 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우에도, 더욱 고감도인 광검출을 행할 수 있다. The photodetecting device according to the present invention preferably further includes a blocking transistor in which the pixel portion is provided between the photodiode and the transfer transistor and used in the saturation region. Also in this case, more sensitive photodetection can be performed.

본 발명에 관한 광검출 장치는 복수개의 화소부가 2 차원 배열되어 있는 것이 적합하고, 이 경우에는 2 차원 화상을 촬상할 수 있다. As for the photodetector which concerns on this invention, it is suitable that a some pixel part is arrange | positioned two-dimensionally, In this case, a two-dimensional image can be picked up.

또, 제2 화소 데이터 독출부는 2 차원 배열된 화소부의 전체에 대해서 하나의 용량 소자를 갖고 있어도 되지만, 열마다 하나의 용량 소자를 갖는 것이 바람직하다. 후자의 경우에는 하나의 행에 있는 각 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 발생한 전하는 동시에 이 화소부의 방전용 트랜지스터를 거쳐서 출력되고, 접속 전환 수단을 거쳐서 제2 화소 데이터 독출부에 입력하고, 열마다 설치된 대응하는 용량 소자에 축적될 수 있다. 따라서, 고속으로 촬상을 행할 수 있다. The second pixel data reading portion may have one capacitive element for the entire two-dimensionally arranged pixel portion, but it is preferable to have one capacitive element for each column. In the latter case, the electric charges generated by the photodiodes included in each pixel portion in one row are simultaneously output through the discharge transistors of the pixel portion, input to the second pixel data reading portion via connection switching means, and are provided for each column. Can accumulate in the corresponding capacitive element. Therefore, imaging can be performed at high speed.

또, 제1 화소 데이터 독출부가 어떤 행의 화소부로부터의 출력 전압치를 처리하는 기간에, 제2 화소 데이터 독출부가 상기 행의 화소부로부터의 출력 전하를 처리하는 것이 바람직하다. 또는 제1 화소 데이터 독출부가 어떤 행의 화소부로부터의 출력 전압치를 처리하는 기간에, 제2 화소 데이터 독출부가 다른 행의 화소부로부터의 출력 전하를 처리하는 것이 바람직하다. 이와 같이 제1 화소 데이터 독출부 및 제2 화소 데이터 독출부가 병렬적으로 동작하는 경우에는 프레임 레이트(frame rate)를 저하시키는 일 없이 촬상을 행할 수 있다. Further, it is preferable that the second pixel data readout processes the output charges from the pixel portion of the row during the period in which the first pixel data readout processes the output voltage value from the pixel portion of the row. Alternatively, it is preferable that the second pixel data read portion processes the output charges from the pixel portions of the other rows in the period during which the first pixel data read portion processes the output voltage values from the pixel portions of the one row. In this manner, when the first pixel data reader and the second pixel data reader operate in parallel, imaging can be performed without lowering the frame rate.

본 발명에 관한 광검출 장치는 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 제1 전압치에 따른 제1 디지털치를 출력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 제2 전압치에 따른 제2 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. 또, 이 A/D 변환부로부터 출력되는 제1 디지털치 및 제2 디지털치를 입력하고, 제1 전압치, 제2 전압치, 제1 디지털치 및 제2 디지털치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 디지털치 및 제2 디지털치 중 하나를 선택하여 출력하는 선택 출력부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. The photodetector according to the present invention inputs the first voltage value output from the first pixel data reader and performs A / D conversion, outputs the first digital value according to the first voltage value, and simultaneously outputs the second pixel data reader. It is preferable to further include an A / D converter which inputs a second voltage value outputted from the A / D converter and outputs a second digital value according to the second voltage value. Also, the first digital value and the second digital value outputted from the A / D converter are input, and any one of the first voltage value, the second voltage value, the first digital value, and the second digital value is compared with the reference value. Based on the result, it is preferable to further include a selection output section for selecting and outputting one of the first digital value and the second digital value.

이 경우에는 A/D 변환부에 의해, 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치가 A/D 변환되고, 이 제1 전압치에 따른 제1 디지털치가 출력되고, 또 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치가 A/D 변환되고, 이 제2 전압치에 따른 제2 디지털치가 출력된다. 그리고, 선택 출력부에 의해, 제1 전압치, 제2 전압치, 제1 디지털치 및 제2 디지털치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 디지털치 및 제2 디지털치 중 하나가 선택되어서 출력된다. In this case, the A / D conversion unit performs A / D conversion on the first voltage value output from the first pixel data reading unit, and outputs a first digital value corresponding to the first voltage value, and further outputs a second pixel data dock. The second voltage value outputted from the output is A / D converted, and the second digital value corresponding to the second voltage value is output. The first digital value and the second digital value are based on a result of comparing the reference value with any one of the first voltage value, the second voltage value, the first digital value, and the second digital value by the selection output unit. One of them is selected and output.

또는, 본 발명에 관한 광검출 장치는 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치와 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치를 입력하고, 제1 전압치 및 제2 전압치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 전압치 및 제2 전압치 중 하나를 선택하여 출력하는 선택 출력부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. 또, 이 선택 출력부로부터 출력되는 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 전압치에 따른 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. Alternatively, the photodetector according to the present invention inputs a first voltage value output from the first pixel data reader and a second voltage value output from the second pixel data reader, and includes a first voltage value and a second voltage value. It is preferable to further provide the selection output part which selects and outputs one of a 1st voltage value and a 2nd voltage value based on the result of having compared the magnitude with either reference value. Moreover, it is preferable to further provide an A / D conversion part which inputs the voltage value output from this selection output part, performs A / D conversion, and outputs the digital value according to this voltage value.

이 경우에는 선택 출력부에 의해, 제1 전압치 및 제2 전압치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 전압치 및 제2 전압치 중 하나가 선택되어서 출력된다. 그리고, A/D 변환부에 의해, 이 선택 출력부로부터 출력되는 전압치가 A/D 변환되고, 이 전압치에 따른 디지털치가 출력된다. In this case, one of the first voltage value and the second voltage value is selected and output by the selection output unit based on a result of comparing the reference value with any one of the first voltage value and the second voltage value. Then, the voltage value output from the selective output unit is A / D converted by the A / D converter, and a digital value corresponding to the voltage value is output.

본 발명에 관한 광검출 장치는 제2 화소 데이터 독출부가 용량 소자에 대해서 병렬적으로 설치된 대수(對數) 압축 회로를 추가로 포함하고, 접속 전환부의 제3 단자로부터 입력 단자에 유입한 전하를 대수 압축 회로에 입력하고, 그 입력한 전하의 유입량의 대수치(對數値)에 따른 제3 전압치를 출력하는 것이 바람직하다. 이 경우에는 제2 화소 데이터 독출부에서는 화소부에 포함되는 포토 다이오드에서 발생한 전하의 양에 따른 제2 전압치가 출력될 뿐만 아니라, 그 전하의 유입량의 대수치에 따른 제3 전압치가 대수 압축 회로로부터 출력된다. 따라서, 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제1 전압치와 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력된 제2 전압치 및 제3 전압치에 근거하여, 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로 광검출을 행할 수 있다. The photodetector according to the present invention further includes a logarithmic compression circuit in which the second pixel data reading unit is provided in parallel with the capacitor, and compresses the charges introduced into the input terminal from the third terminal of the connection switching unit. It is preferable to input into a circuit and to output the 3rd voltage value corresponding to the logarithmic value of the inflow amount of the input electric charge. In this case, the second pixel data reader not only outputs a second voltage value corresponding to the amount of charge generated in the photodiode included in the pixel portion, but also a third voltage value corresponding to the logarithm of the inflow amount of the charge from the logarithmic compression circuit. Is output. Therefore, based on the first voltage value output from the first pixel data reader and the second voltage value and third voltage value output from the second pixel data reader, photodetection can be performed with high sensitivity and wide dynamic range. .

이와 같이 제2 화소 데이터 독출부가 대수 압축 회로도 포함하는 경우에는 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 제1 전압치에 따른 제1 디지털치를 출력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치 및 제3 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 제2 전압치에 따른 제2 디지털치 및 제3 전압치에 따른 제3 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. 또, A/D 변환부로부터 출력되는 제1 디지털치, 제2 디지털치 및 제3 디지털치를 입력하고, 제1 전압치, 제2 전압치, 제3 전압치, 제1 디지털치, 제2 디지털치 및 제3 디지털치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 디지털치, 제2 디지털치 및 제3 디지털치 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 선택 출력부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. As described above, when the second pixel data reader includes a logarithmic compression circuit, the first voltage value output from the first pixel data reader is input and A / D converted, and the first digital value corresponding to the first voltage value is output. And A / D conversion by inputting the second voltage value and the third voltage value output from the second pixel data reader, and outputting the second digital value according to the second voltage value and the third digital value according to the third voltage value. It is preferable to further provide an A / D conversion unit. Also, the first digital value, the second digital value, and the third digital value outputted from the A / D converter are input, and the first voltage value, the second voltage value, the third voltage value, the first digital value, and the second digital value are inputted. And a selection output unit for selecting and outputting any one of the first digital value, the second digital value, and the third digital value based on a result of comparing the reference value with any one of the value and the third digital value. desirable.

또는, 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치와 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치 및 제3 전압치를 입력하고, 제1 전압치, 제2 전압치 및 제3 전압치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 전압치, 제2 전압치 및 제3 전압치 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 선택 출력부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. 또, 선택 출력부로부터 출력되는 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 전압치에 따른 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 추가로 구비하는 것이 바람직하다. Alternatively, the first voltage value output from the first pixel data reader and the second voltage value and third voltage value output from the second pixel data reader are input, and the first voltage value, the second voltage value, and the third voltage value are input. It is preferable to further provide a selection output part which selects and outputs any one of a 1st voltage value, a 2nd voltage value, and a 3rd voltage value based on the result of the comparative comparison of any one of the values with a reference value. Moreover, it is preferable to further provide an A / D conversion part which inputs the voltage value output from a selection output part, performs A / D conversion, and outputs the digital value according to this voltage value.

도 1은 본 발명에 관한 광검출 장치의 제1 실시예의 개략적인 구성을 나타내 는 도면. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The figure which shows schematic structure of the 1st Example of the photodetecting apparatus which concerns on this invention.

도 2는 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 광검출부의 구성을 나타내는 도면. Fig. 2 is a diagram showing the configuration of a light detector in the light detector according to the first embodiment.

도 3은 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 제1 화소 데이터 독출부의 구성을 나타내는 도면. Fig. 3 is a diagram showing the configuration of a first pixel data reading unit in the photodetector according to the first embodiment.

도 4는 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 화소부 Pm ,n, 전압 유지부 Hn 및 스위치 SWn 각각의 회로 도면. Fig. 4 is a circuit diagram of each of the pixel portion P m , n , the voltage holding portion H n and the switch SW n in the photodetecting apparatus according to the first embodiment.

도 5는 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 제2 화소 데이터 독출부의 구성을 나타내는 도면. Fig. 5 is a diagram showing the structure of a second pixel data reading unit in the photodetector according to the first embodiment.

도 6은 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 화소부 Pm ,n, 적분 회로 31n 및 스위치 SWn 각각의 회로 도면이다. FIG. 6 is a circuit diagram of each of the pixel portions P m , n , the integration circuit 31 n, and the switch SW n in the photodetector according to the first embodiment.

도 7은 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 데이터 출력부의 한 구성예를 나타내는 도면. FIG. 7 is a diagram showing an example of a configuration of a data output unit in the light-detecting device according to the first embodiment. FIG.

도 8은 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 데이터 출력부의 다른 구성예를 나타내는 도면. 8 is a diagram showing another example of the configuration of a data output unit in the light-detecting device according to the first embodiment.

도 9는 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 화소부 Pm ,n의 단면 구조를 나타내는 도면. Fig. 9 is a diagram showing a cross-sectional structure of pixel portions P m and n in the photodetector device according to the first embodiment.

도 10은 제1 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 화소부 Pm ,n의 다른 구성을 나타내는 회로 도면. Fig. 10 is a circuit diagram showing another structure of the pixel portions P m and n in the photodetecting device according to the first embodiment.

도 11은 제1 실시예에 관한 광검출 장치의 동작예를 설명하기 위한 타이밍 차트. 11 is a timing chart for explaining an operation example of the light-detecting device according to the first embodiment.

도 12는 본 발명에 관한 광검출 장치의 제2 실시예의 개략 구성을 나타내는 도면. 12 is a diagram showing a schematic configuration of a second embodiment of a light-detecting device according to the present invention.

도 13은 제2 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 제2 화소 데이터 독출부의 구성을 나타내는 도면. Fig. 13 is a diagram showing the configuration of a second pixel data reading unit in the photodetecting device according to the second embodiment.

도 14는 제2 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 화소부 Pm ,n, 적분 회로 31n, 대수 압축 회로 32n 및 스위치 SWn 각각의 회로도. Fig. 14 is a circuit diagram of each of the pixel portion P m , n , the integration circuit 31 n , the logarithmic compression circuit 32 n, and the switch SW n in the photodetector according to the second embodiment.

도 15는 제2 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 데이터 출력부의 한 구성예를 나타내는 도면. FIG. 15 is a diagram showing an example of a configuration of a data output unit in the light-detecting device according to the second embodiment. FIG.

도 16은 제2 실시예에 관한 광검출 장치에 있어서 데이터 출력부의 다른 구성예를 나타내는 도면. Fig. 16 is a diagram showing another example of the configuration of a data output unit in the light-detecting device according to the second embodiment.

도 17은 제2 실시예에 관한 광검출 장치의 동작예를 설명하기 위한 타이밍 차트. 17 is a timing chart for explaining an operation example of the light-detecting device according to the second embodiment.

[부호의 설명][Description of the code]

1, 2ㆍㆍㆍㆍㆍ광검출 장치,1, 2, photodetector,

10ㆍㆍㆍㆍㆍㆍ광검출부,10, photodetector,

20ㆍㆍㆍㆍㆍㆍ제1 화소 데이터 독출부,20... First pixel data reading unit,

30, 30Aㆍㆍㆍ제2 화소 데이터 독출부,30, 30A ... second pixel data reading unit,

40, 40Aㆍㆍㆍ데이터 출력부,40, 40A ... data output section,

50, 50Aㆍㆍㆍ타이밍 제어부.50, 50A ... timing control part.

이하, 본 발명에 관한 광검출 장치의 각 실시예를, 도 1 내지 도 17을 이용하여 상세하게 설명한다. 또, 도면의 설명에 있어서 동일한 요소에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명을 생략한다. 또, M 및 N 각각은 2 이상의 정수이며, 특히 명시하지 않는 한은 m은 1 이상 M 이하의 임의의 정수이며, n은 1 이상 N 이하의 임의의 정수이다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, each Example of the photodetector which concerns on this invention is described in detail using FIGS. In addition, in description of drawing, the same code | symbol is attached | subjected to the same element, and the overlapping description is abbreviate | omitted. In addition, each of M and N is an integer of 2 or more, unless otherwise specified, m is an arbitrary integer of 1 or more and M or less, and n is an arbitrary integer of 1 or more and N or less.

(제1 실시예)(First embodiment)

먼저, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 전체 구성의 개요에 대해 도 1 및 도 2를 이용하여 설명한다. First, the outline | summary of the whole structure of the light-detecting apparatus 1 which concerns on 1st Example is demonstrated using FIG. 1 and FIG.

도 1은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 개략 구성도이다. 도 2는 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 광검출부(10)의 구성도이다. 이러한 도면에 나타나는 광검출 장치(1)는 광검출부(10), 제1 화소 데이터 독출부(20), 제2 화소 데이터 독출부(30), 데이터 출력부(40), 타이밍 제어부(50) 및 스위치 SW1~SWN을 갖는다. 이것들은 공통의 반도체 기판상에 형성되어 있는 것이 적합하고, 이 경우의 기판상의 배치가 도시한 바와 같은 것이 바람직하다. 또, 타이밍 제어부(50)는 이 광검출 장치(1)의 전체의 동작을 제어하는 것이지만, 복수의 부분에 분할되어 서로 떨어져서 기판상에 배치되어 있어도 된다. 1 is a schematic configuration diagram of a light detection apparatus 1 according to the first embodiment. 2 is a configuration diagram of the light detection unit 10 of the light detection apparatus 1 according to the first embodiment. The photodetector 1 shown in this figure includes a photodetector 10, a first pixel data reader 20, a second pixel data reader 30, a data output unit 40, a timing controller 50, and the like. It has switches SW 1 to SW N. These are preferably formed on a common semiconductor substrate, and it is preferable that the arrangement on the substrate in this case is as shown. In addition, although the timing control part 50 controls the operation | movement of the whole photodetector 1, it may be divided | segmented into several parts, and may be arrange | positioned on the board | substrate apart from each other.

광검출부(10)는 M행 N열에 2 차원 배열된 M×N개의 화소부 Pm ,n을 갖는다. 각 화소부 Pm ,n은 제m행 제n열에 위치한다. 각 화소부 Pm ,n은 공통의 구성을 갖고 있고, 포토 다이오드를 포함하는 액티브 픽셀형의 것이며, 이 포토 다이오드에 입사한 광의 강도에 따른 전압치를 배선 L1 ,n에 출력한다. 각 배선 L1 ,n은 제n열에 있는 M개의 화소부 P1 ,n~PM,n 각각의 출력단에 공통으로 접속되어 있다. 또, 각 배선 L2 ,n은 제n열에 있는 M개의 화소부 P1 ,n~PM,n 각각의 다른 단자에 공통으로 접속되어 있다. The photodetector 10 has M x N pixel portions P m , n two-dimensionally arranged in M rows and N columns. Each pixel portion P m , n is located in the m th row n th column. Each pixel portion P m , n has a common configuration, is of an active pixel type including a photodiode, and outputs a voltage value corresponding to the intensity of light incident on the photodiode to the wiring L 1 , n . Each wiring L 1 , n is commonly connected to an output terminal of each of the M pixel parts P 1 , n to P M , n in the nth column. In addition, each wiring L 2 , n is commonly connected to the other terminals of the M pixel parts P 1 , n to P M, n in the nth column.

제1 화소 데이터 독출부(20)는 N개의 배선 L1 ,1~L1 ,N과 접속되어 있고, 각 화소부 Pm ,n으로부터 배선 L1 ,n에 출력되는 전압치를 입력하고, 소정의 처리를 행한 후에 화소 데이터를 나타내는 제1 전압치 V1 ,m,n을 차례로 출력한다. 각 전압치 V1 ,m,n은 화소부 Pm ,n에 입사하는 광의 강도에 따른 값이다. 특히, 이 제1 전압치 V1 ,m,n은 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에, 그 입사광 강도를 고감도로 검출한 결과를 고정밀도로 나타낸다. The first pixel data reading unit 20 is connected to the N wirings L 1 , 1 to L 1 , N, and inputs a voltage value outputted from the pixel parts P m , n to the wiring L 1 , n , and predetermined. After the processing, the first voltage values V 1 , m and n representing the pixel data are sequentially output. Each voltage value V 1, m, n is a value corresponding to the intensity of light incident on the pixel unit P m, n. In particular, the first voltage value V 1 , m, n represents the incident light intensity when the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is not saturated, that is, when the intensity of incident light to the pixel portion P m , n is relatively small. The detection result with high sensitivity is shown with high precision.

제2 화소 데이터 독출부(30)는 스위치 SW1~SWN을 통하여 N개의 배선 L2,1~L2,N과 접속되어 있고, 각 화소부 Pm ,n으로부터 배선 L2 ,n에 출력되고, 스위치 SWn을 거쳐 서 유입하는 전하를 입력하고, 그 전하를 용량 소자에 축적하고, 그 용량 소자에 축적한 전하의 양에 따른 제2 전압치 V2 ,m,n을 차례로 출력한다. 이 제2 화소 데이터 독출부(30)에 포함되는 용량 소자의 용량치는 화소부 Pm ,n에 포함되는 기생 용량부의 용량치보다 크다. 각 전압치 V2 ,m,n은 화소부 Pm ,n에 입사하는 광의 강도에 따른 값이다. 또, 이 제2 전압치 V2 ,m,n은 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에도, 그 입사광 강도를 검출한 결과를 고정밀도로 나타낸다. The second pixel data reading unit 30 is connected to the N wirings L 2, 1 to L 2, N through the switches SW 1 to SW N , and is output from the pixel portions P m , n to the wiring L 2 , n . Then, the charge flowing through the switch SW n is input, the charge is accumulated in the capacitor, and the second voltage value V 2 , m, n in accordance with the amount of charge accumulated in the capacitor is output in order. The capacitance of the capacitor included in the second pixel data readout 30 is greater than the capacitance of the parasitic capacitance included in the pixel Pm , n . Each voltage value V 2, m, n is a value corresponding to the intensity of light incident on the pixel unit P m, n. The second voltage value V 2 , m, n detects the incident light intensity even when the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is saturated, that is, when the incident light intensity on the pixel portion P m , n is relatively large. One result is represented with high precision.

데이터 출력부(40)는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n과, 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n을 입력하고, 소정의 처리를 행하여 디지털치 Dm,n을 출력한다. 각 디지털치 Dm,n은 제1 전압치 V1,m,n 및 제2 전압치 V2 ,m,n의 어느 하나가 A/D 변환된 결과의 값이며, 화소부 Pm ,n에 입사하는 광의 강도를 나타낸다. The data output unit 40 may include the first voltage values V 1 , m and n output from the first pixel data reader 20, the second voltage values V 2 , output from the second pixel data reader 30 , and. m, n are input, and a predetermined process is performed to output the digital values D m, n . Each digital value D m, n is a result of A / D conversion of any one of the first voltage value V 1, m, n and the second voltage value V 2 , m, n , and the pixel portion P m , n The intensity of incident light is shown.

타이밍 제어부(50)는 광검출부(10), 제1 화소 데이터 독출부(20), 제2 화소 데이터 독출부(30), 데이터 출력부(40) 및 스위치 SW1~SWN 각각의 동작을 제어한다. 타이밍 제어부(50)는 예를 들면 시프트 레지스터 회로에 의해 소정의 타이밍에 각종의 제어 신호를 발생시키고, 이러한 제어 신호를 광검출부(10), 제1 화소 데이터 독출부(20), 제2 화소 데이터 독출부(30), 데이터 출력부(40) 및 스위치 SW1~SWN 각 각에 송출한다. 또, 도 1 및 도 2에서는 제어 신호를 보내기 위한 배선의 도시가 일부 생략되어 있다. The timing controller 50 controls operations of the light detector 10, the first pixel data reader 20, the second pixel data reader 30, the data output unit 40, and the switches SW 1 to SW N. do. The timing controller 50 generates various control signals at a predetermined timing by, for example, the shift register circuit, and generates the control signals by the photodetector 10, the first pixel data reader 20, and the second pixel data. The data is sent to the reading unit 30, the data output unit 40, and the switches SW 1 to SW N, respectively. In addition, in FIG. 1 and FIG. 2, illustration of the wiring for sending a control signal is abbreviate | omitted.

다음에, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 광검출부(10) 및 제1 화소 데이터 독출부(20)의 구성에 대해 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. Next, the structures of the light detector 10 and the first pixel data reader 20 of the light detector 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

도 3은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 제1 화소 데이터 독출부(20)의 구성도이다. 제1 화소 데이터 독출부(20)는 N개의 전압 유지부 H1~HN, 2개의 전압 팔로워 회로 F1, F2, 및 감산 회로 S를 갖는다. 각 전압 유지부 Hn은 공통의 구성을 갖고 있고, 배선 L1 ,n과 접속되어 있고, 제n열에 있는 M개의 화소부 P1 ,n~PM,n 각각으로부터 배선 L1 ,n에 출력되는 전압치를 입력하여 유지할 수 있고, 또 그 유지하고 있는 전압치를 출력할 수 있다. N개의 전압 유지부 H1~HN 각각은 차례로 전압치를 출력한다. 각 전압 유지부 Hn이 유지하여 출력하는 전압치는 화소부 Pm ,n으로부터 서로 다른 시각에 출력되는 2개의 전압치 Vn ,1, Vn , 2 이다. 3 is a configuration diagram of the first pixel data reading unit 20 of the photodetector 1 according to the first embodiment. The first pixel data reading section 20 has N voltage holding sections H 1 to H N , two voltage follower circuits F 1 , F 2 , and a subtraction circuit S. And each voltage holding section H n has a common configuration, the wiring L 1, is connected to n, the n M pixel portions P 1, n ~ P M, n output to the wiring L 1, n from each column The voltage value to be input can be inputted and maintained, and the held voltage value can be outputted. Each of the N voltage holding sections H 1 to H N outputs a voltage value in turn. The voltage values held and output by each voltage holding unit H n are two voltage values V n , 1 , V n , 2 which are output from the pixel units P m , n at different times.

2개의 전압 팔로워 회로 F1, F2 각각은 공통의 구성을 갖고 있고, 증폭기의 반전 입력 단자와 출력 단자가 서로 직접 접속되어 있고, 고입력 임피던스 및 저출력 임피던스를 갖고, 이상적으로는 증폭율이 1인 증폭 회로이다. 일방(一方)의 전압 팔로워 회로 F1은 N개의 전압 유지부 H1~HN 각각으로부터 차례로 출력되는 일방의 전압치 Vn ,1을 비반전 입력 단자에 입력한다. 타방(他方)의 전압 팔로워 회로 F2 는 N개의 전압 유지부 H1~HN 각각으로부터 차례로 출력되는 타방의 전압치 Vn ,2를 비반전 입력 단자에 입력한다. Each of the two voltage follower circuits F 1 and F 2 has a common configuration, the inverting input terminal and the output terminal of the amplifier are directly connected to each other, has a high input impedance and a low output impedance, and ideally, the amplification factor is 1 Amplification circuit. One voltage follower circuit F 1 inputs one voltage value V n , 1, which is sequentially output from each of the N voltage holding portions H 1 to H N , to a non-inverting input terminal. The other voltage follower circuit F 2 inputs the other voltage value V n , 2 which is sequentially output from each of the N voltage holding portions H 1 to H N to the non-inverting input terminal.

감산 회로 S는 증폭기 및 4개의 저항기 R1~R4를 갖고 있다. 증폭기의 반전 입력 단자는 저항기 R1을 통하여 전압 팔로워 회로 F1의 출력 단자와 접속되고, 저항기 R3을 통하여 자기의 출력 단자와 접속되어 있다. 증폭기의 비반전 입력 단자는 저항기 R2를 통하여 전압 팔로워 회로 F2의 출력 단자와 접속되고, 저항기 R4를 통하여 접지 전위와 접속되어 있다. 전압 팔로워 회로 F1, F2 각각의 증폭율을 1로 하여 4개의 저항기 R1~R4 각각의 저항값이 서로 동일하다고 하면, 감산 회로 S의 출력 단자로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n은 「V1 ,m,n=Vn ,2-Vn ,1」으로 이루어지는 식으로 나타난다.The subtraction circuit S has an amplifier and four resistors R 1 to R 4 . The inverting input terminal of the amplifier is connected to the output terminal of the voltage follower circuit F 1 via the resistor R 1, and to the output terminal thereof through the resistor R 3 . The non-inverting input terminal of the amplifier is connected to the output terminal of the voltage follower circuit F 2 via the resistor R 2, and is connected to the ground potential via the resistor R 4. When the amplification factor of each of the voltage follower circuits F 1 and F 2 is 1 and the resistance values of the four resistors R 1 to R 4 are equal to each other, the first voltage value V 1 , output from the output terminal of the subtraction circuit S , m, n are "V 1, m, n = V n, 2 -V n, 1 " shown by the following formula composed of.

도 4는 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 화소부 Pm ,n, 전압 유지부 Hn 및 스위치 SWn 각각의 회로 도면이다. 이 도면에서는 간편화를 위하여 하나의 화소부 Pm ,n, 하나의 전압 유지부 Hn 및 1개의 스위치 SWn이 대표해서 나타나 있다. 4 is a circuit diagram of each of the pixel portion P m , n , the voltage holding portion H n, and the switch SW n of the photodetector 1 according to the first embodiment. In this figure, one pixel portion P m , n , one voltage holding portion H n, and one switch SW n are representatively shown for simplicity.

각 화소부 Pm,n은 입사광 강도에 따른 양의 전하를 발생하는 포토 다이오드 PD, 게이트 단자에 형성된 기생 용량부에 축적되어 있는 전하의 양에 따른 전압치를 출력하는 증폭용 트랜지스터 T1, 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 전송하기 위한 전송용 트랜지스터 T2, 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 형성된 기생 용량부의 전하를 초기화하기 위한 방전용 트랜지스터 T3, 및 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치를 외부의 배선 L1,n에 출력하기 위한 선택용 트랜지스터 T4를 포함한다. Each pixel portion P m, n is a photodiode PD for generating a positive charge according to incident light intensity, an amplifying transistor T 1 for outputting a voltage value corresponding to the amount of charge stored in a parasitic capacitance formed at a gate terminal, and a photodiode. transfer transistor for transferring electric charge generated in the PD to the gate terminal of the amplifying transistor T 1 for T 2, discharge for initializing the parasitic capacitance portion charges formed on the gate terminal of the amplifying transistor T 1 for the transistor T 3, and amplified for transistor to a voltage value outputted from the T 1 comprises a transistor T 4 for selecting for output to an external wiring L 1, n.

포토 다이오드 PD는 그 애노드 단자가 접지 전위로 되어 있다. 증폭용 트랜지스터 T1은 그 게이트 단자에 기생 용량부가 형성되어 있고, 그 드레인 단자가 바이어스 전위로 되어 있다. 전송용 트랜지스터 T2는 그 드레인 단자가 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 접속되고, 상기 소스 단자가 포토 다이오드 PD의 캐소드 단자에 접속되어 있다. 방전용 트랜지스터 T3은 그 소스 단자가 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 접속되고, 상기 드레인 단자가 스위치 SWn과 접속되어 있다. 선택용 트랜지스터 T4는 그 소스 단자가 증폭용 트랜지스터 T1의 소스 단자와 접속되고, 상기 드레인 단자가 배선 L1 ,n과 접속되어 있다. 또, 이 배선 L1 ,n에는 정전류원이 접속되어 있다. 증폭용 트랜지스터 T1 및 선택용 트랜지스터 T4는 소스 팔로워 회로를 구성하고 있다. The photodiode PD has its anode terminal at ground potential. Transistor T 1 for the amplification and is added to the parasitic capacitance formed at the gate terminal, a drain terminal that is in the bias potential. The drain terminal of the transfer transistor T 2 is connected to the gate terminal of the amplifying transistor T 1 , and the source terminal is connected to the cathode terminal of the photodiode PD. In the discharge transistor T 3 , a source terminal thereof is connected to a gate terminal of the amplifying transistor T 1 , and the drain terminal is connected to a switch SW n . The source transistor of the selection transistor T 4 is connected with the source terminal of the amplifying transistor T 1 , and the drain terminal is connected with the wirings L 1 , n . In addition, a constant current source is connected to the wirings L 1 and n . The amplifying transistor T 1 and the selecting transistor T 4 constitute a source follower circuit.

또, 정전류원은 열마다 배선 L1 ,n에 접속되어서 설치되어 있어도 된다. 또, 예를 들면 각 배선 L1 ,n과 제1 화소 데이터 독출부(20)와의 사이에 스위치를 설치하 고, 이러한 스위치를 차례로 닫는 것으로, 제m행의 N개의 화소부 Pm ,1~Pm ,N 각각으로부터 출력되는 전압치를 제1 화소 데이터 독출부(20)가 차례로 독출하는 경우에는 이러한 스위치와 제1 화소 데이터 독출부(20)와의 사이의 배선에 정전류원이 하나만 설치되어 있어도 된다. The constant current source may be connected to the wirings L 1 and n for each column. For example , by providing a switch between each wiring L 1 , n and the first pixel data reading unit 20, and closing the switches in sequence, the N pixel units P m , 1 to m in the mth row are closed. When the first pixel data reader 20 sequentially reads the voltage values output from P m and N , even if only one constant current source is provided in the wiring between the switch and the first pixel data reader 20. do.

전송용 트랜지스터 T2는 그 게이트 단자에 전송 제어 신호 Strans를 입력하고, 그 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨일 때, 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 형성되어 있는 기생 용량부에 전송한다. 방전용 트랜지스터 T3은 그 게이트 단자에 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m을 입력하고, 그 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m이 하이 레벨일 때, 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자와 스위치 SWn과의 사이를 저저항으로 한다. 선택용 트랜지스터 T4는 그 게이트 단자에 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m을 입력하고, 그 제m행 선택 제어 신호 Sselect,m이 하이 레벨일 때, 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치를 외부의 배선 L1,n에 출력한다. The transfer transistor T 2 inputs the transfer control signal S trans to the gate terminal thereof, and when the transfer control signal S trans is at a high level, charge generated in the photodiode PD is formed at the gate terminal of the amplifying transistor T 1 . Transfer to parasitic capacities. Discharge transistor T 3 is the m-th row discharge control signal S reset, input the m, and the m-th row discharge control signal S reset, the gate terminal of the amplifying transistor T 1 for when m is at a high level to the gate terminal and The resistance between the switch SW n is made low. The selection transistor T 4 inputs the m-th row selection control signal S select , m to its gate terminal, and the voltage output from the amplifying transistor T 1 when the m- th row selection control signal S select, m is at a high level. Value is output to the external wiring L1 , n .

이와 같이 구성되는 각 화소부 Pm ,n은 전송 제어 신호 Strans가 로 레벨이며 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m이 하이 레벨로 되고, 바이어스 전위 Vbias가 스위치 SWn을 거쳐서 방전용 트랜지스터 T3에 입력하면, 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자의 기생 용량부의 전하가 초기화되고, 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m이 하이 레벨이면, 그 초기화 상태에 있는 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치(암(暗)신호 성분)가 선택용 트랜지스터 T4를 거쳐서 배선 L1 ,n에 출력된다. 한편, 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m이 로 레벨이며, 전송 제어 신호 Strans 및 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m 각각이 하이 레벨이면, 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하는 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 입력하고, 그 전하의 양에 따라 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치(명(明)신호 성분)가 선택용 트랜지스터 T4를 거쳐서 배선 L1 ,n에 출력된다. Each pixel portion P m , n configured as described above has a low level of the transmission control signal S trans , and the mth row discharge control signal S reset , m has a high level, and a bias potential V bias passes through the switch SW n to discharge the transistor. When input to T 3 , the charge of the parasitic capacitance portion of the gate terminal of the amplifying transistor T 1 is initialized, and when the mth row selection control signal S select , m is at a high level, it is output from the amplifying transistor T 1 in the initialization state. The voltage value (dark signal component) to be outputted to the wirings L 1 and n via the selection transistor T 4 . On the other hand, when the m-th row discharge control signal S reset , m is at a low level and each of the transmission control signal S trans and the m- th row selection control signal S select , m is at a high level, the charge generated in the photodiode PD is amplified transistor T 1. The voltage value (light signal component) inputted to the gate terminal of and output from the amplifying transistor T 1 in accordance with the amount of the electric charge thereof is output to the wirings L 1 , n via the selection transistor T 4 .

전압 유지부 Hn은 제1 유지부 Hn ,1 및 제2 유지부 Hn ,2를 포함한다. 제1 유지부 Hn,1 및 제2 유지부 Hn ,2 각각은 서로 동일한 구성이고, 제n열에 있는 M개의 화소부 P1,n~PM,n 각각의 선택용 트랜지스터 T4로부터 차례로 출력되는 전압치를 입력하여 유지할 수 있고, 또 그 유지하고 있는 전압치를 출력할 수 있다. The voltage holding part H n includes a first holding part H n , 1 and a second holding part H n , 2 . Each of the first holding portions H n, 1 and the second holding portions H n , 2 has the same configuration, and is sequentially selected from the selection transistors T 4 of each of the M pixel portions P 1, n to P M, n in the nth column. The voltage value to be output can be inputted and maintained, and the held voltage value can be outputted.

제1 유지부 Hn ,1은 트랜지스터 T11, 트랜지스터 T12 및 용량 소자 C1을 포함한다. 용량 소자 C1의 일단(一端)은 접지 전위로 되고, 용량 소자 C1의 타단(他端)은 트랜지스터 T11의 드레인 단자 및 트랜지스터 T12의 소스 단자 각각과 접속되어 있다. 트랜지스터 T11의 소스 단자는 배선 L1 ,n을 통하여 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지 스터 T4와 접속되어 있다. 트랜지스터 T12의 드레인 단자는 전압 팔로워 회로 F1과 접속되어 있다. 이와 같이 구성되는 제1 유지부 Hn ,1은 트랜지스터 T11의 게이트 단자에 입력하는 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1이 하이 레벨일 때, 배선 L1 ,n을 통하여 접속되어 있는 화소부 Pm ,n으로부터 출력되는 전압치를 용량 소자 C1에 유지시키고, 트랜지스터 T12의 게이트 단자에 입력하는 출력 제어 신호 Soutput ,n이 하이 레벨일 때, 용량 소자 C1에 유지되어 있는 전압치 Vn ,1을 전압 팔로워 회로 F1에 출력한다. The first holding part H n , 1 includes a transistor T 11 , a transistor T 12, and a capacitor C 1 . One end of the capacitor C 1 is at the ground potential, and the other end of the capacitor C 1 is connected to each of the drain terminal of the transistor T 11 and the source terminal of the transistor T 12 . The source terminal of the transistor T 11 is connected to the selection transistor T 4 of the pixel portion P m , n through the wirings L 1 , n . The drain terminal of the transistor T 12 is connected to the voltage follower circuit F 1 . The first holding portion H n , 1 configured as described above is the pixel portion P connected via the wiring L 1 , n when the first input control signal S input , 1 input to the gate terminal of the transistor T 11 is at a high level. The voltage value V n held in the capacitor C 1 when the voltage value output from m , n is held in the capacitor C 1 and the output control signal S output , n input to the gate terminal of the transistor T 12 is at a high level. and outputs, to the first voltage follower circuit F 1.

제2 유지부 Hn ,2는 트랜지스터 T21, 트랜지스터 T22 및 용량 소자 C2를 포함한다. 용량 소자 C2의 일단은 접지 전위로 되고, 용량 소자 C2의 타단은 트랜지스터 T21의 드레인 단자 및 트랜지스터 T22의 소스 단자 각각과 접속되어 있다. 트랜지스터 T21의 소스 단자는 배선 L1 ,n을 통하여 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지스터 T4와 접속되어 있다. 트랜지스터 T22의 드레인 단자는 전압 팔로워 회로 F2와 접속되어 있다. 이와 같이 구성되는 제2 유지부 Hn ,2는 트랜지스터 T21의 게이트 단자에 입력하는 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2가 하이 레벨일 때, 배선 L1 ,n을 통하여 접속되어 있는 화소부 Pm ,n으로부터 출력되는 전압치를 용량 소자 C2에 유지시키고, 트랜지스터 T22의 게이트 단자에 입력하는 출력 제어 신호 Soutput ,n이 하이 레벨일 때, 용량 소자 C2에 유 지되어 있는 전압치 Vn ,2를 전압 팔로워 회로 F2에 출력한다. The second holding portion H n , 2 includes a transistor T 21 , a transistor T 22, and a capacitor C 2 . One end of the capacitor C 2 is at the ground potential, and the other end of the capacitor C 2 is connected to each of the drain terminal of the transistor T 21 and the source terminal of the transistor T 22 . The source terminal of the transistor T 21 is connected to the selection transistor T 4 of the pixel portion P m , n through the wirings L 1 , n . The drain terminal of the transistor T 22 is connected to the voltage follower circuit F 2 . The second holding portion H n , 2 configured as described above is the pixel portion P connected through the wiring L 1 , n when the second input control signal S input , 2 input to the gate terminal of the transistor T 21 is at a high level. m, keeping a voltage value outputted from the n in the capacitor C 2 and a transistor output control signal inputted to the gate terminals of T 22 S output, when n is at the high level, the voltage is maintained in the capacitor element C 2 value V Outputs n and 2 to voltage follower circuit F 2 .

제1 유지부 Hn ,1 및 제2 유지부 Hn ,2 각각은 서로 다른 타이밍에 동작한다. 예를 들면, 제1 유지부 Hn ,1은 배선 L1 ,n을 통하여 접속되어 있는 화소부 Pm ,n에 있어서 전송 제어 신호 Strans가 로 레벨이며 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m 및 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m 각각이 하이 레벨일 때 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치(암신호 성분) Vn ,1을 입력하여 유지한다. 한편, 제2 유지부 Hn ,2는 배선 L1 ,n을 통하여 접속되어 있는 화소부 Pm ,n에 있어서 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m이 로 레벨이며 전송 제어 신호 Strans 및 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m 각각이 하이 레벨일 때 증폭용 트랜지스터 T1로부터 출력되는 전압치(명신호 성분) Vn ,2를 입력하여 유지한다. Each of the first holding part H n , 1 and the second holding part H n , 2 operates at different timings. For example, the first holding part H n , 1 is in the pixel part P m , n connected through the wiring L 1 , n and the transmission control signal S trans is at a low level and the mth row discharge control signal S reset , m And the voltage value (dark signal component) V n , 1 output from the amplifying transistor T 1 when the m- th row select control signal S select , m is at a high level. On the other hand, the second holding part H n , 2 has the mth row discharge control signal S reset , m at the low level in the pixel part P m , n connected through the wiring L 1 , n and the transmission control signal S trans and When the m row select control signals S select and m are each at a high level, the voltage value (bright signal component) V n , 2 output from the amplifying transistor T 1 is input and held.

또, 전송 제어 신호 Strans, 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m, 제m행 선택 제어 신호 Sselect ,m, 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1, 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2 및 제n열 출력 제어 신호 Soutput ,n 각각은 타이밍 제어부(50)로부터 출력된다. Further, the transmission control signal S trans , the mth row discharge control signal S reset , m , the mth row selection control signal S select , m , the first input control signal S input , 1 , the second input control signal S input , 2 and Each of the n-th column output control signal S output , n is output from the timing controller 50.

다음에, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 제2 화소 데이터 독출부(30)의 구성에 대해 도 5 및 도 6을 이용하여 설명한다. Next, the structure of the 2nd pixel data reading part 30 of the photodetector 1 which concerns on 1st Example is demonstrated using FIG. 5 and FIG.

도 5는 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 제2 화소 데이터 독출부(30)의 구성도이다. 제2 화소 데이터 독출부(30)는 N개의 적분 회로 311~31N 및 N개의 스위치 SW1 ,1~SW1 ,N을 갖는다. 각 적분 회로 31n은 공통의 구성을 갖고 있고, 스위치 SWn으로부터 입력단에 유입한 전하를 축적하는 용량 소자를 갖고, 이 용량 소자에 축적한 전하의 양에 따른 전압치를 스위치 SW1 ,n에 출력한다. 제2 화소 데이터 독출부(30)는 N개의 스위치 SW1 ,1~SW1 ,N이 차례로 닫힘으로써, N개의 적분 회로 311~31N 각각으로부터 출력되는 전압치를 제2 전압치 V2 ,m,n으로서 출력한다. 5 is a configuration diagram of a second pixel data reading unit 30 of the photodetector 1 according to the first embodiment. The second pixel data reader 30 has N integrating circuits 31 1 to 31 N and N switches SW 1 , 1 to SW 1 , N. Each integrating circuit 31 n has a common configuration, has a capacitor which accumulates the charge flowing into the input terminal from the switch SW n , and outputs a voltage value corresponding to the amount of charge accumulated in this capacitor to the switches SW 1 and n . do. The second pixel data reader 30 closes the N switches SW 1 , 1 to SW 1 , N in sequence, thereby outputting voltage values output from the N integration circuits 31 1 to 31 N, respectively, to the second voltage value V 2 , m. Output as n .

도 6은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 화소부 Pm ,n, 적분 회로 31n 및 스위치 SWn 각각의 회로 도면이다. 이 도면에서는 간편화를 위하여 하나의 화소부 Pm ,n, 하나의 적분 회로 31n 및 1개의 스위치 SWn이 대표해서 나타나 있다. Fig. 6 is a circuit diagram of each of the pixel portions P m , n , the integration circuit 31 n, and the switch SW n of the photodetector 1 according to the first embodiment. In this figure, one pixel portion P m , n , one integrating circuit 31 n, and one switch SW n are representatively shown for simplicity.

각 적분 회로 31n은 증폭기 A, 용량 소자 C 및 스위치 SW를 갖는다. 용량 소자 C 및 스위치 SW 각각은 증폭기 A의 입력 단자와 출력 단자 사이에 병렬적으로 설치되어 있다. 이 용량 소자 C의 용량치는 화소부 Pm ,n의 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자에 형성된 기생 용량부의 용량치보다 크다. 또, 용량 소자 C의 용량치는 기생 용량부의 용량치의 2K배(K는 1 이상의 정수)인 것이 바람직하다. 이 적분 회로 31n은 스위치 SW가 닫혀 있을 때는 용량 소자 C를 초기화한다. 또, 적분 회로 31n은 스위치 SW가 열려 있을 때는 배선 L2 ,n으로부터 스위치 SWn을 거쳐서 입력 단 자에 유입한 전하를 용량 소자 C에 축적하고, 그 용량 소자 C에 축적한 전하의 양에 따른 전압치를 스위치 SW1 ,n에 출력한다. Each integrated circuit 31 n has an amplifier A, a capacitor C and a switch SW. Each of the capacitor C and the switch SW is provided in parallel between the input terminal and the output terminal of the amplifier A. The capacitance of the capacitor C is larger than that of the parasitic capacitor formed in the gate terminal of the amplifying transistor T 1 of the pixel portion P m , n . In addition, the capacity parasitic capacitance value 2 K times the unit capacitance value of the capacitor C is preferably a (K is an integer of 1 or greater). This integrating circuit 31 n initializes the capacitor C when the switch SW is closed. In addition, when the switch SW is open, the integrating circuit 31 n accumulates the charge flowing in the input terminal from the wiring L 2 , n through the switch SW n in the capacitor element C, and the amount of charge accumulated in the capacitor element C is increased. The corresponding voltage value is output to the switches SW 1 and n .

각 스위치 SWn은 화소부 Pm,n의 방전용 트랜지스터 T3의 드레인 단자에 접속된 제1 단자와, 화소부 Pm,n의 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자의 전하를 초기화하기 위한 바이어스 전위 Vbias와 접속되는 제2 단자와, 적분 회로 31n의 입력 단자와 접속된 제3 단자를 갖는다. 그리고, 스위치 SWn은 제1 단자와 제2 단자와의 사이 또는 제1 단자와 제3 단자와의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 전환부로서 작용한다. 스위치 SWn의 제1 단자와 제2 단자와의 사이가 전기적으로 접속되어 있을 때는 바이어스 전위 Vbias는 스위치 SWn을 거쳐서 화소부 Pm,n의 방전용 트랜지스터 T3에 공급된다. 한편, 스위치 SWn의 제1 단자와 제3 단자와의 사이가 전기적으로 접속되어 있을 때는 화소부 Pm,n의 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하는 방전용 트랜지스터 T3 및 스위치 SWn을 거쳐서 적분 회로 31n의 입력 단자에 이동한다. Each switch SW n are bias for initializing the electric charge of the first terminal, and a pixel portion P m, the gate terminal of the amplifying transistor T 1 for the n connected to the drain terminal of the pixel portion P m, n discharge transistor T 3 of the And a second terminal connected with the potential V bias, and a third terminal connected with the input terminal of the integrating circuit 31 n . And the switch SW n acts as a connection switching part which electrically connects between a 1st terminal and a 2nd terminal, or between a 1st terminal and a 3rd terminal. When the first terminal and the second terminal of the switch SW n are electrically connected, the bias potential V bias is supplied to the discharge transistor T 3 of the pixel portion P m, n via the switch SW n . On the other hand, when the first terminal and the third terminal of the switch SW n are electrically connected, the charge generated in the photodiode PD of the pixel portion P m, n is integrated through the discharge transistor T 3 and the switch SW n . Move to n input terminal.

또, 스위치 SW, SWn, SW1 ,n 각각의 개폐 동작을 제어하기 위한 제어 신호는 타이밍 제어부(50)로부터 출력된다. 또, 스위치 SWn은 제1 단자와 제2 단자와의 사이 및 제1 단자와 제3 단자와의 사이의 어느 쪽도 전기적으로 접속되지 않는 상태도 있다. The control signal for controlling the opening / closing operation of each of the switches SW, SW n , SW 1 , n is output from the timing controller 50. In addition, there is a state in which the switch SW n is neither electrically connected between the first terminal and the second terminal and between the first terminal and the third terminal.

다음에, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 데이터 출력부(40)의 구성에 대해 도 7 및 도 8을 이용하여 설명한다. Next, the structure of the data output part 40 of the photodetector 1 which concerns on 1st Example is demonstrated using FIG. 7 and FIG.

도 7은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 데이터 출력부(40)의 한 구성예를 나타내는 도면이다. 이 도면에 나타나는 데이터 출력부(40)는 A/D 변환 회로 411, 412 및 선택 출력부(42)를 갖는다. A/D 변환 회로 411은 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n을 입력하여 A/D 변환하고, 이 제1 전압치 V1 ,m,n에 따른 제1 디지털치 D1 ,m,n을 출력한다. A/D 변환 회로 412는 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n을 입력하여 A/D 변환하고, 이 제2 전압치 V2 ,m,n에 따른 제2 디지털치 D2 ,m,n을 출력한다. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a configuration of a data output unit 40 of the photodetector 1 according to the first embodiment. The data output section 40 shown in this figure has an A / D conversion circuit 41 1 , 41 2 and a selective output section 42. The A / D conversion circuit 41 1 inputs the first voltage values V 1 , m and n output from the first pixel data reading unit 20 to perform A / D conversion, and the first voltage values V 1 , m, n Outputs the first digital value D 1 , m, n according to. The A / D conversion circuit 41 2 inputs the second voltage values V 2 , m and n output from the second pixel data reader 30 to perform A / D conversion, and the second voltage values V 2 , m, n Outputs a second digital value D 2 , m, n according to

또, 각 적분 회로 31n의 용량 소자 C의 용량치가 화소부 Pm ,n의 기생 용량부의 용량치의 2K배인 것에 대응하고, A/D 변환 회로 411에의 입력 전압치가 어떤 값 V일 때의 제1 디지털치와, A/D 변환 회로 412에의 입력 전압치가 V/2K 일 때의 제2 디지털치는 서로 동일하다. The capacitance value of the capacitor C of each of the integrating circuits 31 n corresponds to 2 K times the capacitance of the parasitic capacitor of the pixel portion P m , n , and the value of the input voltage to the A / D conversion circuit 41 1 is a certain value V. a first digital value and the second digital value is the same as each other when the a / D conversion circuit 41 to the second input voltage value V / 2 K.

선택 출력부(42)는 이들 제1 디지털치 D1 ,m,n 및 제2 디지털치 D2 ,m,n을 입력하고, 제1 디지털치 D1 ,m,n과 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 디지털치 D1,m,n 및 제2 디지털치 D2 ,m,n 중 하나를 선택하고, 그 선택한 값을 디지털치 Dm,n으로 서 출력한다. The selection output section 42 inputs the first digital values D 1 , m, n and the second digital values D 2 , m, n , and compares the first digital values D 1 , m, n with the reference value. Based on the above, one of the first digital values D 1, m, n and the second digital values D 2 , m, n is selected, and the selected value is output as the digital values D m, n .

구체적으로, 기준치는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치의 포화(飽和)치에 대응하는 디지털치, 또는 이것보다 다소 작은 디지털치로 설정된다. 즉, 제1 디지털치 D1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 것으로, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부가 판정될 수 있다. 그리고, 선택 출력부(42)는 제1 디지털치 D1 ,m,n이 기준치보다 작을 때에는 제1 디지털치 D1 ,m,n을 디지털치 Dm,n으로서 출력하고, 한편 제1 디지털치 D1 ,m,n이 기준치 이상일 때는 제2 디지털치 D2,m,n을 디지털치 Dm,n으로서 출력한다. Specifically, the reference value is set to a digital value corresponding to the saturation value of the first voltage value output from the first pixel data reading unit 20, or a digital value slightly smaller than this. That is, by comparing the first digital value D 1 , m, n with the reference value in large and small size, it can be determined whether the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is saturated. The selection output section 42 outputs the first digital value D 1 , m, n as the digital value D m, n when the first digital value D 1 , m, n is smaller than the reference value. D 1, m, n and outputs a second digital value D 2, m, n, when the reference value or more as a digital value D m, n.

또, 제1 디지털치 D1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 일 없이, 제2 디지털치 D2,m,n과 기준치를 대소 비교해도 되고, 또, 제1 전압치 V1 ,m,n 또는 제2 전압치 V2 ,m,n과 기준치를 대소 비교해도 된다. 이들 모든 경우에도, 기준치는 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 값으로 설정된다. Further, the first digital value D 1 , m, n may be compared with the second digital value D 2, m, n with the reference value without having to compare the reference value with the first voltage value V 1 , m, n or the second voltage value V 2, is also compared to the case m, n with the reference value. Also in all these cases, the reference value is set to a value capable of determining whether or not the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated.

이와 같이 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 제1 디지털치 D1 ,m,n(즉, 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지스터 T4로부터 출력되고, 제1 화소 데이터(20)에 의해 독출된 제1 전압치 V1 ,m,n의 A/D 변환 결과)가 데이터 출력부(40)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력 되므로, 고감도로 광검출이 가능하다. 한편, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때), 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 제2 디지털치 D2 ,m,n(즉, 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30)에 의해 독출된 제2 전압치 V2 ,m,n의 A/D 변환 결과)가 데이터 출력부(40)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. 따라서, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)는 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로 촬상을 행할 수 있다. In this manner , when the parasitic capacitances of the pixel portions P m and n are not saturated, that is, when the intensity of incident light into the pixel portions P m and n is relatively small, the first digital values D 1 , m and n (ie, the pixel portions P m). A / D conversion result of the first voltage value V 1 , m, n outputted from the selection transistor T 4 of , n and read out by the first pixel data 20) is converted into a digital value from the data output unit 40. Since it is output as D m, n , photodetection is possible with high sensitivity. Meanwhile, the pixel portion P m, when the parasitic capacitance of the n adding saturated (or when the status immediately before sat.), That is, when the pixel portion P m, the incident light intensity to the n relatively large second digital value D 2, m, n (that is, the result of A / D conversion of the second voltage value V 2 , m, n output from the discharge transistor T 3 of the pixel portion P m , n and read out by the second pixel data 30) is data. Since it outputs as digital value Dm, n from the output part 40, light detection is possible with a wide dynamic range. Therefore, the light-detecting device 1 according to the first embodiment can perform imaging with a high sensitivity and a wide dynamic range.

도 8은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 데이터 출력부(40)의 다른 구성예를 나타내는 도면이다. 이 도면에 나타나는 데이터 출력부(40)는 선택 출력부(43) 및 A/D 변환 회로(44)를 갖는다. 선택 출력부(43)는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n과 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n을 입력하고, 제1 전압치 V1 ,m,n과 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 전압치 V1 ,m,n 및 제2 전압치 V2 ,m,n 중 하나를 선택하여 출력한다. 8 is a diagram showing another example of the configuration of the data output unit 40 of the photodetector 1 according to the first embodiment. The data output section 40 shown in this figure has a selection output section 43 and an A / D conversion circuit 44. The selection output unit 43 may include the first voltage values V 1 , m and n output from the first pixel data reader 20 and the second voltage values V 2 , m output from the second pixel data reader 30. , type n, and the first voltage value V 1, m, on the basis of a result of case compares n with the reference value, the first voltage value V 1, m, n and the second voltage value V 2, m, n one of the Select to print.

구체적으로, 기준치는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치의 포화치, 또는 이것보다 다소 작은 값으로 설정된다. 즉, 제1 전압치 V1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 것으로, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부가 판정될 수 있다. 그리고, 선택 출력부(43)는 제1 전압치 V1 ,m,n이 기준치보다 작을 때에는 제1 전압치 V1 ,m,n을 출력하고, 또한 제1 전압치 V1 ,m,n이 기준치 이상일 때는 제2 전압치 V2 ,m,n을 출력한다. Specifically, the reference value is set to a saturation value of the first voltage value output from the first pixel data reader 20 or a value slightly smaller than this. That is, by comparing the first voltage value V 1 , m, n with the reference value in large or small size, it can be determined whether the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated. When the first voltage value V 1 , m, n is smaller than the reference value, the selection output unit 43 outputs the first voltage value V 1 , m, n , and the first voltage value V 1 , m, n is If it is more than the reference value, the second voltage value V 2 , m, n is output.

또, 제1 전압치 V1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 일 없이, 제2 전압치 V2 ,m,n과 기준치를 대소 비교해도 된다. 이 경우에도, 기준치는 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 값으로 설정된다. Further, the first voltage value V 1 , m, n may be compared with the reference value without being compared with the second voltage value V 2 , m, n . Also in this case, the reference value is set to a value capable of determining whether or not the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated.

A/D 변환 회로(44)는 선택 출력부(43)로부터 출력되는 전압치를 입력하여 A/D 변환하고, 이 전압치에 따른 디지털치 Dm,n을 출력한다. 또, 각 적분 회로 31n의 용량 소자 C의 용량치가 화소부 Pm ,n의 기생 용량부의 용량치의 2K배인 것에 대응하고, A/D 변환 회로(44)는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1,m,n을 A/D 변환하는 경우에는 그 A/D 변환에 의해 얻어진 디지털치를 디지털치 Dm,n으로서 출력하고, 또한 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력되는 제2 전압치 V2,m,n을 A/D 변환하는 경우에는 그 A/D 변환에 의해 얻어진 디지털치를 K 비트만큼 상위로 시프트한 것을 디지털치 Dm,n으로서 출력한다. The A / D conversion circuit 44 inputs a voltage value output from the selection output section 43 to perform A / D conversion , and outputs digital values D m, n corresponding to this voltage value. In addition, the capacitance value of the capacitor C of each integrating circuit 31 n corresponds to 2 K times the capacitance of the parasitic capacitor of the pixel portion P m , n , and the A / D conversion circuit 44 provides the first pixel data reading portion 20. In the case of A / D conversion of the first voltage value V 1, m, n outputted from the & lt ; RTI ID = 0.0 > 1), < / RTI > In the case of A / D conversion of the second voltage value V2 , m, n outputted from 30) , the digital value obtained by the A / D conversion is shifted up by K bits as digital value Dm, n . .

이와 같이 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지스터 T4로부터 출력되고, 제1 화소 데이터(20)에 의해 독출된 제1 전압치 V1 ,m,n의 A/D 변환 결과가 데이터 출력부(40)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 고감도로 광검출이 가능하다. 한편, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때), 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30)에 의해 독출된 제2 전압치 V2,m,n의 A/D 변환 결과가 데이터 출력부(40)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. 따라서, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)는 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로 촬상을 행할 수 있다. In this manner , when the parasitic capacitors of the pixel portions P m and n are not saturated, that is, when the intensity of incident light into the pixel portions P m and n is relatively small, the parasitic capacitances of the pixel portions P m and n are output from the selection transistor T 4 of the pixel portions P m and n . Since the A / D conversion result of the first voltage values V 1 , m, n read out by the one pixel data 20 is output from the data output unit 40 as digital values D m, n , photodetection is possible with high sensitivity. Do. On the other hand, when the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated (or just before saturation), that is, when the intensity of incident light to the pixel portion P m , n is relatively large, the discharge portion of the pixel portion P m , n is used. The A / D conversion result of the second voltage values V 2, m, n outputted from the transistor T 3 and read out by the second pixel data 30 is output from the data output unit 40 as digital values D m, n . Therefore, light detection is possible with a wide dynamic range. Therefore, the light-detecting device 1 according to the first embodiment can perform imaging with a high sensitivity and a wide dynamic range.

다음에, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 화소부 Pm ,n의 구성에 대해 도 9 및 도 10을 이용하여 설명한다. Next, a will be described with reference to the pixel portion P m, 9 and 10 for the configuration of n of the photodetecting device 1 according to the first embodiment.

도 9는 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 화소부 Pm ,n의 구성도이다. 이 도면에 있어서, 포토 다이오드 PD 및 전송용 트랜지스터 T2에 대해서는 반도체의 단면도로서 나타나고, 잔부는 회로도로서 나타나 있다. 이 도면에 나타낸 바와 같이, 포토 다이오드 PD는 매입형의 것이며, p 영역(101)과, 이 p 영역(101) 위의 n- 영역(102)과, 이 n- 영역(102) 위의 p+ 영역(103)을 포함하여 구성된다. p 영역(101)과 n- 영역(102)과는 pn 접합을 형성하고 있고, n- 영역(102)과 p+ 영역(103)도 pn 접합을 형성하고 있다. 또, n- 영역(102)의 일부는 반도체 표면에 이르고 있다. 9 is a configuration diagram of the pixel portions P m and n of the photodetector 1 according to the first embodiment. In this figure, the photodiode PD and the transfer transistor T 2 are shown as cross-sectional views of a semiconductor, and the balance is shown as a circuit diagram. As shown in this figure, the photodiode PD is buried and has a p region 101, an n region 102 over the p region 101, and a p + region over the n region 102. 103 is configured to include. The p region 101 and the n− region 102 form a pn junction, and the n − region 102 and the p + region 103 also form a pn junction. In addition, part of the n− region 102 reaches the semiconductor surface.

전송용 트랜지스터 T2는 p 영역(101) 위의 n 영역(104)과, n- 영역(102) 중 반도체 표면에 이르고 있는 부분과, 이러한 사이의 영역에 있어서 절연층(105)상에 형성된 게이트 전극(106)을 포함하여 구성된다. n 영역(104)은 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자와 전기적으로 접속되고, 방전용 트랜지스터 T3의 소스 단자와 전기적으로 접속되어 있다. p 영역(101)과 n 영역(104)은 pn 접합을 형성하고 있고, 화소부 Pm ,n내에 있어서 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 축적하는 기생 용량부를 구성하고 있다. The transfer transistor T 2 includes an n region 104 above the p region 101, a portion of the n − region 102 reaching the semiconductor surface, and a gate formed on the insulating layer 105 in the region therebetween. And an electrode 106. The n region 104 is electrically connected to the gate terminal of the amplifying transistor T 1 and electrically connected to the source terminal of the discharge transistor T 3 . The p region 101 and the n region 104 form a pn junction, and constitute a parasitic capacitance portion that accumulates charges generated in the photodiode PD in the pixel portions P m and n .

이와 같이 포토 다이오드 PD가 매입형의 것인 경우에는 리크 전류의 발생이 억제된다. 또, 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 기생 용량부에 전송하는 기간에, 포토 다이오드 PD의 역바이어스 전압을 크게 하는 것으로, 포토 다이오드 PD의 pn 접합부에 있어서 n- 영역(102)를 완전하게 공핍화 하고, 포토 다이오드 PD의 접합 용량치를 대부분 영으로 할 수 있으므로, 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 대부분 완전하게 기생 용량부에 전송할 수 있다. 따라서, 포토 다이오드 PD가 매입형의 것인 경우에는 광검출의 S/N비 향상 및 고감도화에 유효하다. As described above, when the photodiode PD is buried, the generation of the leakage current is suppressed. In addition, by increasing the reverse bias voltage of the photodiode PD during the period in which charge generated in the photodiode PD is transferred to the parasitic capacitance portion, the n-region 102 is completely depleted at the pn junction of the photodiode PD. Since the junction capacitance of the photodiode PD can be almost zero, most of the charge generated in the photodiode PD can be transferred completely to the parasitic capacitance. Therefore, when the photodiode PD is buried, it is effective for improving the S / N ratio and high sensitivity of photodetection.

도 10은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 화소부 Pm ,n의 다른 구성을 나타내는 회로 도면이다. 이 도면에 나타나는 화소부 Pm ,n은 도 4 및 도 6으로 나타낸 구성에 더하여 차단용 트랜지스터 T5를 추가로 구비하고 있다. 차단용 트랜지스터 T5는 포토 다이오드 PD와 전송용 트랜지스터 T2 와의 사이에 설치되어 있고, 포화 영역에서 동작 할 수 있는 전압치가 게이트 단자에 인가된다. 이로 인해, 이 화소 부 Pm,n에서는 포토 다이오드 PD의 접합 용량이 증폭용 트랜지스터 T1의 게이트 단자의 전위에 미치는 영향이 억제된다. 따라서, 이 경우에도, 광검출의 S/N비 향상 및 고감도화에 유효하다. FIG. 10 is a circuit diagram showing another configuration of the pixel portions P m and n of the photodetector 1 according to the first embodiment. The pixel portions P m and n shown in this figure further include a blocking transistor T 5 in addition to the configurations shown in FIGS. 4 and 6. The blocking transistor T 5 is provided between the photodiode PD and the transmission transistor T 2 , and a voltage value capable of operating in the saturation region is applied to the gate terminal. Thus, the pixel portion P m, n in the photodiode PD of the junction capacitance effect on the potential of the gate terminal of the amplifying transistor T 1 for is suppressed. Therefore, even in this case, it is effective for the S / N ratio improvement and high sensitivity of light detection.

다음에, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 동작예에 대해 설명한다. 도 11은 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)의 동작예를 설명하는 타이밍 차트이다. 이 도은 제1행의 각 화소부 P1 ,n 및 제2행의 각 화소부 P2 ,n 각각의 데이터를 독출하는 시간 범위를 나타내고 있다. Next, an operation example of the photodetecting device 1 according to the first embodiment will be described. 11 is a timing chart for explaining an operation example of the light-detecting device 1 according to the first embodiment. This figure shows a time range for reading data of each pixel portion P 1 , n in the first row and each pixel portion P 2 , n in the second row.

이 도면에는 위로부터 차례로 각 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3의 게이트 단자에 입력하는 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m, 각 화소부 Pm ,n의 전송용 트랜지스터 T2의 게이트 단자에 입력하는 전송 제어 신호 Strans, 제1행의 화소부 P1,n의 선택용 트랜지스터 T4의 게이트 단자에 입력하는 제1행 선택 제어 신호 Sselect ,1, 및 제2행의 화소부 P2 ,n의 선택용 트랜지스터 T4의 게이트 단자에 입력하는 제2행 선택 제어 신호 Sselect ,2 각각이 나타나 있다. In this figure, the m- th row discharge control signal S reset , m inputted to the gate terminal of the discharge transistor T 3 of each pixel portion P m , n in order from the top , and the transfer transistor T 2 of each pixel portion P m , n The transmission control signal S trans input to the gate terminal, the first row selection control signal S select , 1 , and the second row pixel input to the gate terminal of the selection transistor T 4 of the pixel portions P 1 and n of the first row. Each of the second row select control signals S select , 2 input to the gate terminal of the selection transistor T 4 of the sub-P 2 , n is shown.

계속하여, 각 전압 유지부 Hn의 제1 유지부 Hn ,1의 트랜지스터 T11의 게이트 단자에 입력하는 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1, 각 전압 유지부 Hn의 제2 유지부 Hn,2의 트랜지스터 T21의 게이트 단자에 입력하는 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2, 제1열의 전압 유지부 H1의 트랜지스터 T12 및 T22 각각의 게이트 단자에 입력하는 제1열 출력 제어 신호 Soutput ,1, 제N열의 전압 유지부 HN의 트랜지스터 T12 및 T22 각각의 게이트 단자에 입력하는 제N열 출력 제어 신호 Soutput ,N, 및 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n 각각이 나타나 있다. Subsequently, each voltage holding section first holding of H n portions H n, the first input control signal S input, first, second holding of each voltage holding section H n inputted to the gate terminal of one of the transistors T 11 parts H a second input control signal S input, 2, a first thermal output control of the input to the transistors T 12 and T 22, each of the gate terminals of the column voltage holding portions H 1 to n, input to the gate terminal of the second transistor T 21 From the N-th column output control signal S output , N , and the first pixel data readout unit 20, which are input to the gate terminals of the transistors T 12 and T 22 of the voltage holding unit H N of the signal S output , 1 , and N-th column, respectively. Each of the output first voltage values V 1 , m, n is shown.

또한, 계속하여, 각 스위치 SWn의 바이어스 전위 Vbias 공급 동작, 각 스위치 SWn의 전하 전송 동작, 각 적분 회로 31n의 스위치 SW의 개폐, 제1열의 스위치 SW1 ,1의 개폐, 제N열의 스위치 SW1 ,N의 개폐, 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n, 및 데이터 출력부(40)로부터 출력되는 디지털치 Dm,n 각각이 나타나 있다. In addition, the following, the bias potential of each of the switches SW n V bias supply operation, the charge transfer operation of the switches SW n, opening and closing of each integrating circuit 31 n switch SW, the first on-off of the column switches SW 1, 1, the N Opening and closing of the switches SW 1 and N of the column , the second voltage values V 2 , m, n output from the second pixel data reading unit 30, and the digital values D m, n output from the data output unit 40 are respectively. Is shown.

시각 t10 이전에 있어서, 각 화소부 Pm ,n에 입력하고 있는 방전 제어 신호 Sreset,m, 전송 제어 신호 Strans 및 제n행 선택 제어 신호 Sselect ,n 각각은 로 레벨이다. 또, 제1 화소 데이터 독출부(20)의 각 전압 유지부 Hn에 입력하고 있는 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1, 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2 및 제n열 출력 제어 신호 Soutput ,n 각각도 로 레벨이다. Before time t 10 , each of the discharge control signals S reset, m , the transfer control signals S trans, and the n-th row selection control signal S select , n input to each pixel portion P m , n is at a low level. Further, the first input control signal S input , 1 , the second input control signal S input , 2, and the n-th column output control signal S output input to each voltage holding unit H n of the first pixel data reading unit 20. , n is also low level.

시각 t10 에서부터 시각 t20 까지의 사이에 제1행의 각 화소부 P1 ,n의 데이터의 독출이 행해진다. 화소부 P1 ,n에 있어서, 방전 제어 신호 Sreset ,m은 시각 t10 에 하 이 레벨로 변하고, 시각 t10 보다 이후의 시각 t11 에 로 레벨로 변한다. 전송 제어 신호 Strans는 시각 t11 보다 이후의 시각 t12 에 하이 레벨로 변하고, 시각 t12 보다 이후의 시각 t13 에 로 레벨로 변한다. 제1행 선택 제어 신호 Sselect ,1은 시각 t10 에 하이 레벨로 변한다. 스위치 SWn은 시각 t10 에서부터 시각 t11 까지의 사이에 바이어스 전위 Vbias를 각 화소부 Pm ,n에 공급한다. From time t 10 to time t 20 , data of each pixel portion P 1 , n in the first row is read out. In the pixel portion P 1, n, the discharge control signal S reset, m is changed to the level and the time t 10, changes with the time t 11 after the time t 10 than the low level. The transmission control signal S trans changes to a high level at time t 12 after time t 11 , and to a low level at time t 13 after time t 12 . The first row select control signal S select , 1 changes to a high level at time t 10 . The switch SW n supplies the bias potential V bias to each pixel portion P m , n between time t 10 and time t 11 .

제1 화소 데이터 독출부(20)의 각 전압 유지부 Hn에 있어서, 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1은 방전 제어 신호 Sreset ,m이 로 레벨로 변하는 시각 t11 에서부터, 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨로 변하는 시각 t12 까지의 사이에 있는 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 이로 인해, 이전에 화소부 P1 ,n으로부터 배선 L1 ,n에 출력되는 전압치(암신호 성분)는 전압 유지부 Hn의 제1 유지부 Hn ,1에 의해 유지된다. In each voltage holding unit H n of the first pixel data reading unit 20, the first input control signal S input , 1 is the transmission control signal S from the time t 11 at which the discharge control signal S reset , m changes to the low level. Only a certain period between time t 12 when trans changes to high level becomes high level. For this reason, the voltage value (dark signal component) previously outputted from the pixel portions P 1 , n to the wiring L 1 , n is held by the first holding portion H n , 1 of the voltage holding portion H n .

또, 제1 화소 데이터 독출부(20)의 각 전압 유지부 Hn에 있어서, 제2 입력 제어 신호 Sinput,2는 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨인 시각 t12 에서부터 시각 t13 까지의 사이의 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 이로 인해, 이전에 화소부 P1,n으로부터 배선 L1,n에 출력되는 전압치(명신호 성분)는 전압 유지부 Hn의 제2 유지부 Hn,2에 의해 유지된다. In the voltage holding unit H n of the first pixel data reading unit 20, the second input control signal S input, 2 is between time t 12 and time t 13 when the transmission control signal S trans is at a high level. Only a certain period of time becomes a high level. For this reason, the voltage value (light signal component) previously outputted from the pixel portions P 1, n to the wirings L 1, n is held by the second holding portions H n, 2 of the voltage holding portions H n .

그리고, 시각 t13 보다 이후의 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에, 출 력 제어 신호 Soutput ,1~Soutput ,N 각각은 차례로 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 제n열 출력 제어 신호 Soutput ,n이 하이 레벨인 기간에는 전압 유지부 Hn에 유지되어 있던 제1행 제n열의 화소부 P1 ,n의 암신호 성분 및 명신호 성분이 전압 유지부 Hn으로부터 출력되고, 이들 암신호 성분과 명신호 성분과의 차가 감산 회로 S에 의해 구해지고, 화소부 P1 ,n에 입사한 광의 강도에 따른 제1 전압치 V1 ,1,n이 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력된다. 이와 같이 하여, 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에, 제1행의 N개의 화소부 P1 ,1~P1 ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제1 전압치 V1,1,1~V1,1,N이 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 차례로 출력된다. 또, 이 기간에 출력되는 각 전압치 V1 ,1,n의 레벨은 화소부 P1 ,n에 입사한 광의 강도에 따른 레벨이며, 일반적으로는 n 값에 의해 달라진다. 그 후, 시각 t15 에 제1행 선택 제어 신호 Sselect, 1은 로 레벨로 변한다. 이상에 의해, 제1행의 각 화소부 P1 ,n의 데이터의 독출이 종료된다. Then, between the time t 14 and the time t 15 after the time t 13 , each of the output control signals S output , 1 to S output , N becomes a high level only for a predetermined period in turn. In the period in which the n-th column output control signal S output , n is at the high level, the dark signal component and the bright signal component of the pixel portions P 1 and n of the first row n-th column held in the voltage holding unit H n are the voltage holding unit H. is output from the n, these dark signal component and kills the difference between the signal component is obtained by the subtraction circuit S, the pixel portion P 1, a first voltage according to the intensity of light incident on the n values V 1, 1, n is the first It is output from the pixel data reader 20. Thus , the first voltage value V 1,1, in accordance with the intensity of light incident on each of the N pixel portions P 1 , 1 to P 1 , N in the first row, from time t 14 to time t 15 . 1 to V 1, 1, and N are sequentially output from the first pixel data reader 20. The level of each of the voltage values V 1, 1, n that is output in this period is a level corresponding to the intensity of light incident on the pixel portion P 1, n, generally depend on the n value. Thereafter, at time t 15 , the first row selection control signal S select, 1 changes to a low level. From the above, the reading of each pixel portion P 1, n of the data of the first row is terminated.

계속하여, 시각 t20 에서부터 시각 t30 까지의 사이에 제2행의 각 화소부 P2,n의 데이터의 독출이 행해진다. 화소부 P2 ,n에 있어서, 방전 제어 신호 Sreset ,m은 시각 t20 에 하이 레벨로 변하고, 시각 t20 보다 이후의 시각 t21 에 로 레벨로 변한다. 전송 제어 신호 Strans는 시각 t21 보다 이후의 시각 t22 에 하이 레벨로 변하고, 시각 t22 보다 이후의 시각 t23 에 로 레벨로 변한다. 제2행 선택 제어 신호 Sselect ,2는 시각 t20 에 하이 레벨로 변한다. 스위치 SWn은 시각 t20 에서부터 시각 t21 까지의 사이에 바이어스 전위 Vbias를 각 화소부 Pm ,n에 공급한다. Subsequently, the data of each pixel portion P 2, n in the second row is read out from the time t 20 to the time t 30 . The pixel portion P 2, according to n, a discharge control signal S reset, m is changed to the time t 20 to the high level and changes to the time t 21 after the time t 20 than the low level. Transmission control signal S trans is time t 21 More changes to the time t 22, the high level to the subsequent changes to the time t 23 after the time t at a level greater than 22. The second row select control signal S select , 2 changes to a high level at time t 20 . The switch SW n supplies the bias potential V bias to each pixel portion P m , n between time t 20 and time t 21 .

제1 화소 데이터 독출부(20)의 각 전압 유지부 Hn에 있어서, 제1 입력 제어 신호 Sinput ,1은 방전 제어 신호 Sreset ,m이 로 레벨로 변하는 시각 t21 에서부터, 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨로 변하는 시각 t22 까지의 사이에 있는 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 이로 인해, 이전에 화소부 P2 ,n으로부터 배선 L1 ,n에 출력되는 전압치(암신호 성분)는 전압 유지부 Hn의 제1 유지부 Hn ,1에 의해 유지된다. In each voltage holding unit H n of the first pixel data reading unit 20, the first input control signal S input , 1 is the transmission control signal S from the time t 21 at which the discharge control signal S reset , m changes to the low level. Only a certain period between time t 22 when trans changes to the high level becomes a high level. For this reason, the voltage value (dark signal component) previously outputted from the pixel portion P 2 , n to the wiring L 1 , n is held by the first holding portion H n , 1 of the voltage holding portion H n .

또, 제1 화소 데이터 독출부(20)의 각 전압 유지부 Hn에 있어서, 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2는 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨인 시각 t22 에서부터 시각 t23 까지의 사이의 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 이로 인해, 이전에 화소부 P2 ,n으로부터 배선 L1 ,n에 출력되는 전압치(명신호 성분)는 전압 유지부 Hn의 제2 유지부 Hn ,2에 의해 유지된다. In the voltage holding unit H n of the first pixel data reading unit 20, the second input control signal S input , 2 is between time t 22 and time t 23 when the transmission control signal S trans is at a high level. Only a certain period of time becomes a high level. For this reason, the voltage value (light signal component) previously output from the pixel portion P 2 , n to the wiring L 1 , n is held by the second holding portion H n , 2 of the voltage holding portion H n .

그리고, 시각 t23 보다 이후의 시각 t24 에서부터 시각 t25 까지의 사이에, 출력 제어 신호 Soutput ,1~Soutput ,N 각각은 차례로 일정 기간만 하이 레벨로 된다. 제n열 출력 제어 신호 Soutput ,n이 하이 레벨인 기간에는 전압 유지부 Hn에 유지되어 있던 제 2행 제n열의 화소부 P2 ,n의 암신호 성분 및 명신호 성분이 전압 유지부 Hn으로부터 출력되고, 이들 암신호 성분과 명신호 성분과의 차가 감산 회로 S에 의해 구해지고, 화소부 P2 ,n에 입사한 광의 강도에 따른 제1 전압치 V1 ,2,n이 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력된다. 이와 같이 하여, 시각 t24 에서부터 시각 t25 까지의 사이에, 제2행의 N개의 화소부 P2 ,1~P2 ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제1 전압치 V1,2,1~V1,2,N이 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 차례로 출력된다. 또, 이 기간에 출력되는 각 전압치 V1 ,2,n의 레벨은 화소부 P2 ,n에 입사한 광의 강도에 따른 레벨이며, 일반적으로는 n값에 의해 달라진다. 그 후, 시각 t25 에 제2행 선택 제어 신호 Sselect,2는 로 레벨로 변한다. 이상에 의해, 제2행의 각 화소부 P2 ,n의 데이터의 독출이 종료된다. Then, between the time t 24 and the time t 25 after the time t 23 , each of the output control signals S output , 1 to S output , N becomes a high level only for a predetermined period in turn. In the period where the nth column output control signal S output , n is at the high level, the dark signal component and the bright signal component of the pixel portion P 2 , n of the second row nth column held in the voltage holding unit H n are the voltage holding unit H. The difference between these dark signal components and the bright signal components, which are output from n , is obtained by the subtraction circuit S, and the first voltage values V 1 , 2, n corresponding to the intensity of the light incident on the pixel portions P 2 , n are firstly obtained. It is output from the pixel data reader 20. In this manner, the first voltage value V 1,2, corresponding to the intensity of light incident on each of the N pixel portions P 2 , 1 to P 2 , N in the second row between the time t 24 and the time t 25 . 1 to V 1,2 and N are sequentially output from the first pixel data reader 20. In addition, each voltage value V 1, 2, the level of n which is output in this period is the level corresponding to the intensity of light incident on the pixel unit P 2, n, generally depend on the n value. Thereafter, at time t 25 , the second row selection control signal S select, 2 changes to a low level. From the above, the reading of each pixel portion P 2, n of the data of the second line is finished.

이후도 이와 같이 하여, 제1 화소 데이터 독출부(20)에 의해 차례로 각 행의 화소부 Pm ,n의 데이터가 독출되고 있다. 이와 같이 하여, 제1 화소 데이터 독출부(20)에 의해, 제1행 ~ 제M행 각각에 대하여 차례로, 각 행의 N개의 화소부 Pm ,1~Pm ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제1 전압치 V1 ,m,1~V1 ,m,N이 차례로 출력된다. 또, 이 제1 화소 데이터 독출부(20)에 의한 제1 전압치 V1 ,m,n의 독출과 병렬적으로, 제2 화소 데이터 독출부(30)에 의한 제2 전압치 V2 ,m,n의 독출이 이하와 같이 행해진다. Thereafter, the data of the pixel portions P m and n of each row are sequentially read by the first pixel data reading portion 20 in this manner. In this manner, the first pixel data reading unit 20 intensifies the light incident on each of the N pixel portions P m , 1 to P m , N of each row in order with respect to each of the first to Mth rows. The first voltage values V 1 , m, 1 to V 1 , m, and N in order are output in this order. In addition, in parallel with the reading of the first voltage values V 1 , m, n by the first pixel data reading unit 20, the second voltage value V 2 , m by the second pixel data reading unit 30. Reading of n is performed as follows.

제2 화소 데이터 독출부(30)는 이하와 같이 동작한다. 시각 t10 에서부터 시각 t11 까지의 기간에, 각 적분 회로 31n의 스위치 SW는 닫히고, 각 적분 회로 31n의 용량 소자 C는 방전된다. 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨인 시각 t12 에서부터 시각 t13 까지의 기간 중에서, 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2가 일단 하이 레벨로 되어서 로 레벨로 변한 후의 기간에, 방전 제어 신호 Sreset ,m이 일단 하이 레벨로 되어서 로 레벨로 되고, 동시에 각 스위치 SWn이 닫히고, 제1행의 화소부 P1 ,n의 용량부에 축적되어 있던 전하를, 적분 회로 31n의 용량 소자 C에 이동시킨다. 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에, 각 스위치 SW1 ,n 각각은 차례로 일정 기간만 닫힌다. 스위치 SW1 ,n이 닫혀 있는 기간에, 적분 회로 31n의 용량 소자 C에 축적되어 있던 전하의 양에 따른 제2 전압치 V2 ,1,n이 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력된다. 이와 같이 하여, 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에, 제1행의 N개의 화소부 P1,1~P1,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제2 전압치 V2 ,1,1~V2 ,1,N이 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 차례로 출력된다. 이상에 의해, 제1행의 각 화소부 P1 ,n의 데이터의 독출이 종료된다. The second pixel data reader 30 operates as follows. In the period from time t 10 to time t 11, each integrating circuit is closed and the switch SW 31 of the n, the capacitor element C of each integrating circuit 31 n is discharged. In the period from the time t 12 when the transmission control signal S trans is high level to the time t 13 , the discharge control signal S reset , in the period after the second input control signal S input , 2 once becomes high and changes to the low level. m is one end in to be a high-level level, and at the same time closed and the switches SW n, to move the charges accumulated in the pixel portion capacitor unit of P 1, n of the first row, in the integrating circuit the capacitance element C of the 31 n Let's do it. Between time t 14 and time t 15 , each switch SW 1 , n each closes for a period of time only in turn. In the period in which the switches SW 1 , n are closed, the second voltage values V 2 , 1, n corresponding to the amount of charge accumulated in the capacitor C of the integrating circuit 31 n are outputted from the second pixel data reading unit 30. do. In this manner, the second voltage value V 2 , 1, corresponding to the intensity of light incident on each of the N pixel portions P 1, 1 to P 1, N in the first row, from time t 14 to time t 15 . 1 to V 2 , 1 and N are sequentially output from the second pixel data reader 30. From the above, the reading of each pixel portion P 1, n of the data of the first row is terminated.

계속하여, 시각 t20 에서부터 시각 t21 까지의 기간에, 각 적분 회로 31n의 스 위치 SW는 닫히고, 각 적분 회로 31n의 용량 소자 C는 방전된다. 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨인 시각 t22 에서부터 시각 t23 까지의 기간 중에서, 제2 입력 제어 신호 Sinput ,2가 일단 하이 레벨로 되어서 로 레벨로 변한 후의 기간에, 방전 제어 신호 Sreset ,m이 일단 하이 레벨로 되어서 로 레벨로 되고, 동시에 각 스위치 SWn이 닫히고, 제2행의 화소부 P2 ,n의 용량부에 축적되어 있던 전하를, 적분 회로 31n의 용량 소자 C에 이동시킨다. 시각 t24 에서부터 시각 t25 까지의 사이에, 각 스위치 SW1 ,n 각각은 차례로 일정 기간만 닫힌다. 스위치 SW1 ,n이 닫혀 있는 기간에, 적분 회로 31n의 용량 소자 C에 축적되어 있던 전하의 양에 따른 제2 전압치 V2 ,2,n이 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력된다. 이와 같이 하여, 시각 t24 에서부터 시각 t25 까지의 사이에, 제2행의 N개의 화소부 P2 ,1~P2 ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제2 전압치 V2 ,2,1~V2 ,2,N이 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 차례로 출력된다. 이상에 의해, 제2행의 각 화소부 P2 ,n의 데이터의 독출이 종료된다. Then, from the time t 20 in the period of time t to 21, closes the switch SW of each integrating circuit 31 n, the capacitor element C of each integrating circuit 31 n is discharged. In the period from the time t 22 at which the transmission control signal S trans is at a high level to the time t 23 , the discharge control signal S reset , in a period after the second input control signal S input , 2 once becomes a high level and changes to a low level. m is one end be a high level and at the low level, at the same time closed and the switches SW n, second, move the pixel portion P 2, charges accumulated in the capacitance portion of the n row, the integrating circuit the capacitance element C of the 31 n Let's do it. Between time t 24 and time t 25 , each switch SW 1 , n each closes for a period of time only in turn. In the period in which the switches SW 1 , n are closed, the second voltage values V 2 , 2, n corresponding to the amount of charge accumulated in the capacitor C of the integrating circuit 31 n are outputted from the second pixel data reading part 30. do. Thus, between the time t 24 and the time t 25 , the second voltage value V 2 , 2, corresponding to the intensity of light incident on each of the N pixel portions P 2 , 1 to P 2 , N in the second row . 1 to V 2 , 2 and N are sequentially output from the second pixel data reading unit 30. From the above, the reading of each pixel portion P 2, n of the data of the second row is finished.

이후도 이와 같이 하여 제2 화소 데이터 독출부(30)에 의해 차례로 각 행의 화소부 Pm ,n의 데이터가 독출되고 있다. 이와 같이 하여, 제2 화소 데이터 독출부(30)에 의해, 제1행 ~ 제M행 각각에 대하여 차례로, 각 행의 N개의 화소부 Pm ,1~Pm ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 제2 전압치 V2 ,m,1~V2 ,m,N이 차례로 출력된 다. Thereafter, the data of the pixel portions P m and n of each row are sequentially read by the second pixel data reading portion 30 in this manner. In this manner, the intensity of light incident on the N pixel portions P m , 1 to P m , N in each row is sequentially performed by the second pixel data reader 30 in the first to Mth rows, respectively. The second voltage values V 2 , m, 1 to V 2 , m, N according to the outputs are sequentially output.

그리고, 데이터 출력부(40)는 이하와 같이 동작한다. 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 기간에, 제1 화소 데이터 독출부(20)에 의해 독출된 제1행의 화소부 P1,n에 대한 제1 전압치 V1 ,1,n이 데이터 출력부(40)에 차례로 입력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부(30)에 의해 독출된 제1행의 화소부 P1 ,n에 대한 제2 전압치 V2,1,n이 데이터 출력부(40)에 차례로 입력하고, 제1 전압치 V1 ,1,n 또는 제2 전압치 V2 ,1,n이 A/D 변환된 결과인 디지털치 D1 ,n이 데이터 출력부(40)로부터 차례로 출력된다. And the data output part 40 operates as follows. In the period from the time t 14 to the time t 15 , the first voltage value V 1 , 1, n for the pixel portions P 1, n of the first row read by the first pixel data reading unit 20 outputs the data. part while simultaneously input to the (40), the second pixel data reading unit 30, the second voltage value V 2,1, n the data output to the pixel portion P 1, n of the first row is read by the unit ( 40), and the digital value D 1 , n, which is the result of A / D conversion of the first voltage value V 1 , 1, n or the second voltage value V 2 , 1, n, is inputted from the data output part 40. It is output in turn.

계속하여, 시각 t24 에서부터 시각 t25까지의 기간에, 제1 화소 데이터 독출부(20)에 의해 독출된 제2행의 화소부 P2 ,n에 대한 제1 전압치 V1 ,2,n이 데이터 출력부(40)에 차례로 입력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부(30)에 의해 독출된 제2행의 화소부 P2 ,n에 대한 제2 전압치 V2 ,2,n이 데이터 출력부(40)에 차례로 입력하고, 제1 전압치 V1 ,2,n 또는 제2 전압치 V2 ,2,n이 A/D 변환된 결과인 디지털치 D2 ,n이 데이터 출력부(40)로부터 차례로 출력된다. Subsequently, in the period from the time t 24 to the time t 25 , the first voltage values V 1 , 2, n with respect to the pixel portions P 2 , n of the second row read by the first pixel data reading unit 20. at the same time input to the data output section 40, the second pixel data read read out by chulbu 30 of the second row pixel portion P 2, the second voltage value V 2, 2, n the data for the n The digital values D 2 , n, which are input to the output unit 40 in turn and are the result of A / D conversion of the first voltage value V 1 , 2, n or the second voltage value V 2 , 2, n , are the data output part ( Are output in turn from 40).

이후도 이와 같이 하여, 제1행 ~ 제M행 각각에 대하여 차례로, 각 행의 N개의 화소부 Pm ,1~Pm ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 디지털치 Dm,1~Dm,N이 데이터 출 력부(40)로부터 차례로 출력된다. 여기서, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 제1 전압치 V1 ,m,n이 A/D 변환된 결과가 디지털치 Dm,n으로서 출력된다. 한편, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 제2 전압치 V2 ,m,n이 A/D 변환된 결과가 디지털치 Dm,n으로서 출력된다. 따라서, 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)는 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로 입사광 강도를 검출할 수 있다. Thereafter, the digital values D m, 1 to D according to the intensity of light incident on each of the N pixel portions P m , 1 to P m , N in each row are sequentially applied to each of the first to Mth rows. m and N are sequentially output from the data output unit 40. Here, when the parasitic capacitance of the pixel portions P m and n is not saturated, that is, when the intensity of incident light into the pixel portions P m and n is relatively small, the first voltage value V 1 , m, n is A / D converted. Is output as the digital value D m, n . On the other hand, when the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is saturated, that is, when the intensity of incident light to the pixel portion P m , n is relatively large, the result of A / D conversion of the second voltage value V 2 , m, n is obtained. It is output as the digital value D m, n . Therefore, the photodetector 1 according to the first embodiment can detect incident light intensity with a high sensitivity and a wide dynamic range.

또, 상기의 동작예에서는 제1 화소 데이터 독출부(20)가 제m행의 화소부 Pm,n으로부터의 출력 전압치를 처리하는 기간에, 제2 화소 데이터 독출부(30)가 제m행의 화소부 Pm ,n으로부터의 출력 전하를 처리하는 것이었다. 그러나, 제1 화소 데이터 독출부(20)이 어떤 행의 화소부 Pm ,n으로부터의 출력 전압치를 처리하는 기간에, 제2 화소 데이터 독출부(30)가 다른 행의 화소부 Pm ,n으로부터의 출력 전하를 처리하도록 해도 된다. 예를 들면, 제1 화소 데이터 독출부(20)가 제(m+1) 행의 화소부 Pm,n으로부터의 출력 전압치를 처리하는 기간에, 제2 화소 데이터 독출부(30)가 제m행의 화소부 Pm ,n으로부터의 출력 전하를 처리하도록 해도 된다. 어떤 경우에도, 제1 화소 데이터 독출부 및 제2 화소 데이터 독출부가 병렬적으로 동작하는 경우에는 프레임 레이트를 저하시키는 일 없이 촬상을 행할 수 있다. 단, 후자의 경우에 는 제m행의 화소부 Pm ,n에 입력되는 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m은 개개로 설정되고, 또 먼저 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력된 제m행의 화소부 Pm ,n에 대한 제1 전압치 V1,m,n은 제m행의 화소부 Pm ,n에 대한 제2 전압치 V2 ,m,n이 제2 화소 데이터 독출부(30)로부터 출력될 때까지 기억된다. In addition, in the above operation example, the second pixel data reading unit 30 performs the m- th row during the period in which the first pixel data reading unit 20 processes the output voltage value from the pixel units P m and n in the m-th row. It was to process the output charge from the pixel portion P m , n of. However, part 1 of pixel data read unit 20 is a period for processing an output value voltage from the pixel section P m, n of some row, the second pixel data reading unit 30, the pixels of the other row P m, n The output charge from may be treated. For example, in a period in which the first pixel data reader 20 processes the output voltage value from the pixel units P m and n in the (m + 1) th row, the second pixel data reader 30 is connected to the m row. The output charges from the pixel portions P m and n may be processed. In any case, when the first pixel data reader and the second pixel data reader operate in parallel, imaging can be performed without lowering the frame rate. In the latter case, however, the m- th row discharge control signals S reset and m input to the m- th pixel portions P m and n are individually set, and are first output from the first pixel data reading unit 20. the first voltage value V 1, m, n are pixel portions P m, the second voltage to the n value V 2, m, n is the second pixel of the m-th line data of the pixel portion P m, n of the m-th row It is stored until it outputs from the read part 30.

(제2 실시예)(2nd Example)

다음에, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)에 대해 설명한다. 도 12는 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 개략 구성도이다. 기술한 제1 실시예에 관한 광검출 장치(1)와 비교하면, 이 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)는 제2 화소 데이터 독출부(30)로 바꾸어서 제2 화소 데이터 독출부(30A)를 구비하는 점, 데이터 출력부(40)로 바꾸어서 데이터 출력부(40A)를 구비하는 점, 및 타이밍 제어부(50)로 바꾸어서 타이밍 제어부(50A)를 구비하는 점에서 상위하다. Next, the photodetector 2 according to the second embodiment will be described. 12 is a schematic configuration diagram of a light detection apparatus 2 according to the second embodiment. Compared with the photodetector 1 according to the first embodiment described above, the photodetector 2 according to the second embodiment is replaced with the second pixel data reader 30 and the second pixel data reader ( 30A) differs from the point provided with the data output part 40 and the data output part 40A, and the timing control part 50, and the timing control part 50A.

제2 실시예에서는 제2 화소 데이터 독출부(30A)는 데이터 출력부(40A)에 대하여 제2 전압치 V2 ,m,n을 출력할 뿐만 아니라, 제3 전압치 V3 ,m,n도 출력한다. 제2 전압치 V2 ,m,n은 기술한 바와 같이, 화소부 Pm ,n내의 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하의 양에 대하여 선형 관계에 있는 값이다. 한편, 제3 전압치 V3 ,m,n은 후술하는 바와 같이, 화소부 Pm ,n내의 포토 다이오드 PD에서 발생하여 제2 화소 데이터 독출부(30A)에 유입한 전하의 유입량의 대수치에 따른 값이다. 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제3 전압치 V3 ,m,n은 서로 다른 타이밍 으로 출력되고, 공통의 배선을 거쳐서 데이터 출력부(40A)에 입력해도 된다. 또, 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제3 전압치 V3 ,m,n은 서로 다른 배선을 거쳐서 데이터 출력부(40A)에 입력해도 된다. In the second embodiment, the second pixel data reader 30A not only outputs the second voltage values V 2 , m, n to the data output unit 40A, but also the third voltage values V 3 , m, n . Output As described above, the second voltage value V 2 , m, n is a value in a linear relationship with respect to the amount of charge generated in the photodiode PD in the pixel portion P m , n . On the other hand, the third voltage value V 3 , m, n is a logarithmic value of the inflow amount of the charge generated in the photodiode PD in the pixel portion P m , n and introduced into the second pixel data reader 30A, as described later. According to the value. The second voltage values V 2 , m, n and the third voltage values V 3 , m, n output from the second pixel data reading part 30A are output at different timings, and the data output part ( You may input to 40A). Further, the second voltage values V 2 , m, n and the third voltage values V 3 , m, n output from the second pixel data reading part 30A may be inputted to the data output part 40A via different wirings. do.

도 13은 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 제2 화소 데이터 독출부(30A)의 구성도이다. 도 5에 나타난 제1 실시예에 있어서의 제2 화소 데이터 독출부(30)의 구성과 비교하면, 이 도 13에 나타나는 제2 실시예에 있어서의 제2 화소 데이터 독출부(30A)는 적분 회로 31n에 대하여 병렬적으로 설치된 대수 압축 회로 32n을 추가로 포함하는 점에서 상위하다. 13 is a configuration diagram of the second pixel data reading unit 30A of the photodetector 2 according to the second embodiment. Compared with the configuration of the second pixel data reader 30 in the first embodiment shown in FIG. 5, the second pixel data reader 30A in the second embodiment shown in FIG. 13 has an integrating circuit. It differs in that it includes the logarithmic compression circuit 32 n installed in parallel with respect to 31 n .

도 14는 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 화소부 Pm ,n, 적분 회로 31n, 대수 압축 회로 32n 및 스위치 SWn 각각의 회로 도면이다. 대수 압축 회로 32n은 적분 회로 31n의 용량 소자 C에 대하여 병렬적으로 설치되어 있다. 대수 압축 회로 32n은 트랜지스터 T32 및 스위치 SW32를 갖고 있다. 트랜지스터 T32의 소스 단자는 스위치 SW32를 통하여 증폭기 A의 입력 단자와 접속되어 있다. 트랜지스터 T32의 드레인 단자는 트랜지스터 T32의 게이트 단자와 직접 접속되고, 또 증폭기 A의 출력 단자와도 접속되어 있다. 이 대수 압축 회로 32n은 스위치 SWn으로부터 유입한 전하를 입력하고, 그 입력한 전하의 유입량의 대수치에 따른 제3 전압치 V3 ,m,n을 출력할 수 있다. FIG. 14 is a circuit diagram of each of the pixel portions P m , n , the integration circuit 31 n , the logarithmic compression circuit 32 n, and the switch SW n of the photodetector 2 according to the second embodiment. The logarithmic compression circuit 32 n is provided in parallel with the capacitor C of the integrating circuit 31 n . The logarithmic compression circuit 32 n has a transistor T 32 and a switch SW 32 . The source terminal of the transistor T 32 is connected to the input terminal of the amplifier A via the switch SW 32 . The drain terminal of the transistor T 32 is a transistor is directly connected to the gate terminal of the T 32, is again also connected to the output terminal of the amplifier A. The logarithmic compression circuit 32 n may be input to a charge introduced from the switch SW n, and outputs the third voltage value V 3, m, n according to a logarithmic value of the flow rate of the input charge.

여기서, 화소부 Pm ,n내의 전송용 트랜지스터 T2의 게이트 단자에 인가되는 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨이고, 방전용 트랜지스터 T3의 게이트 단자에 인가되는 제m행 방전 제어 신호 Sreset ,m도 하이 레벨이다. 또, 스위치 SWn이 배선 L2 ,n과 증폭기 A의 입력 단자를 접속하고 있고, 적분 회로 31n내의 스위치 SW가 열려 있고, 대수 압축 회로 32n내의 스위치 SW32가 닫혀 있다. 이 때, 화소부 Pm ,n내의 포토 다이오드 PD에의 광의 입사에 수반하여 대수 압축 회로 32n에 유입하는 전하의 유입량(즉 전류)을 Ish로 하면, 대수 압축 회로 32n으로부터 출력되는 제3 전압치 V3 ,m,n은 아래와 같이 (1) 식에서 나타내는 k는 볼츠만 정수이고, T는 절대 온도이고, q는 전자의 전하이고, I는 정수이다. Here, the transfer control signal S trans applied to the gate terminal of the transfer transistor T 2 in the pixel portion P m , n has a high level, and the m- th row discharge control signal S reset applied to the gate terminal of the discharge transistor T 3 ; m is also high level. The switch SW n connects the wiring L 2 , n and the input terminal of the amplifier A, the switch SW in the integrating circuit 31 n is open, and the switch SW 32 in the logarithmic compression circuit 32 n is closed. At this time, when the inflow amount (that is, the current) of the charge flowing into the logarithmic compression circuit 32 n with the incident of light to the photodiode PD in the pixel portion P m , n is set to Ish, the third voltage output from the logarithm compression circuit 32 n is obtained. The values V 3 , m and n are as shown below in formula (1), k is Boltzmann's integer, T is absolute temperature, q is the charge of the electron, and I is the integer.

V3 ,m,n=(kT/q)ln(Ish/I) ㆍㆍㆍ(1)V 3 , m, n = (kT / q) ln (Ish / I) ... (1)

이와 같이 본 실시예에서는 제2 화소 데이터 독출부(30A)는 화소부 Pm ,n내의 포토 다이오드 PD에서 발생한 적분 회로 31n내의 용량 소자 C에 축적된 전하의 양에 따른 제2 전압치 V2 ,m,n을 적분 회로 31n으로부터 출력할 뿐만 아니라, 그 전하의 양의 대수치에 따른 제3 전압치 V3 ,m,n을 대수 압축 회로 32n으로부터 출력한다. 또, 제2 화소 데이터 독출부(30A)는 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제3 전압치 V3 ,m,n을, 데이터 출력부(40A)에 도달하는 공통의 배선에 서로 다른 타이밍으로 출력한다. As described above, in the present exemplary embodiment, the second pixel data reading unit 30A has the second voltage value V 2 corresponding to the amount of charge accumulated in the capacitor C in the integrating circuit 31 n generated by the photodiode PD in the pixel unit P m , n . not only outputs , m, n from the integrating circuit 31 n , but also outputs the third voltage value V 3 , m, n corresponding to the logarithm of the positive amount of the charge from the logarithm compression circuit 32 n . In addition, the second pixel data reading unit 30A has different second voltage values V 2 , m, n and third voltage values V 3 , m, n from common wirings reaching the data output unit 40A. Output at the timing.

다음에, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 데이터 출력부(40A)의 구성에 대해 도 15 및 도 16을 이용하여 설명한다. Next, the structure of the data output part 40A of the photodetector 2 which concerns on 2nd Example is demonstrated using FIG. 15 and FIG.

도 15는 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 데이터 출력부(40A)의 한 구성예를 나타내는 도면이다. 이 도면에 나타나는 데이터 출력부(40A)는 도 7에 나타난 것과 대략 동일한 구성이고, A/D 변환 회로 411, 412 및 선택 출력부(42)를 갖는다. 단, 제2 실시예에서는 A/D 변환 회로 412는 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n을 입력하여 A/D 변환하고, 이 제2 전압치 V2 ,m,n에 따른 제2 디지털치 D2 ,m,n을 출력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제3 전압치 V3 ,m,n을 입력하여 A/D 변환하고, 이 제3 전압치 V3 ,m,n에 따른 제3 디지털치 D3 ,m,n을 출력한다. FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a configuration of a data output unit 40A of the photodetector 2 according to the second embodiment. The data output section 40A shown in this figure has a configuration substantially the same as that shown in FIG. 7, and has an A / D conversion circuit 41 1 , 41 2 and a selective output section 42. However, in the second embodiment, the A / D conversion circuit 41 2 inputs the second voltage values V 2 , m and n output from the second pixel data reading unit 30A to perform A / D conversion. value V 2, m, n second digital value according to D 2, m, and outputting the n at the same time, the third voltage output from the second pixel data read unit (30A) value V 3, m, by entering the n a / D conversion, and outputs the third digital value D 3 , m, n corresponding to the third voltage value V 3 , m, n .

선택 출력부(42)는 이것들 제 1 디지털치 D1 ,m,n, 제2 디지털치 D2 ,m,n 및 제3 디지털치 D3 ,m,n을 입력하고, 제1 디지털치 D1 ,m,n과 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 디지털치 D1 ,m,n, 제2 디지털치 D2 ,m,n 및 제3 디지털치 D3 ,m,n 중 어느 하나를 선택하고, 그 선택한 값을 디지털치 Dm,n으로서 출력한다. 또, 제1 디지털치 D1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 일 없이, 제2 디지털치 D2 ,m,n 또는 제3 디지털치 D3 ,m,n과 기준치를 대소 비교해도 되고, 또 제1 전압치 V1 ,m,n, 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제 3 전압치 V3,m,n의 어느 하나와 기준치를 대소 비교해도 된다. 기준치로서는 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 제1 기준치, 및 적분 회로 31n의 용량 소자 C가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 제2기준치인 두 값이 이용된다. The selection output section 42 inputs these first digital values D 1 , m, n , second digital values D 2 , m, n and third digital values D 3 , m, n , and the first digital values D 1. Any one of the first digital value D 1 , m, n , the second digital value D 2 , m, n and the third digital value D 3 , m, n based on a result of comparing the , m, n and the reference value with magnitude. Is selected and the selected value is output as the digital value D m, n . In addition, a is 1 digital values D 1, m, without case compares n with the reference value, compared to case a second digital value D 2, m, n, or a third digital value D 3, m, n and the reference value, The reference value may be compared with any one of the first voltage value V 1 , m, n , the second voltage value V 2 , m, n and the third voltage value V 3, m, n . The reference value is a first reference value that can determine whether the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated, and a second reference value that can determine whether or not the capacitance element C of the integrating circuit 31 n is saturated. Two values are used.

그리고, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 제1 디지털치 D1 ,m,n(즉, 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지스터 T4로부터 출력되고, 제1 화소 데이터(20)에 의해 독출된 제1 전압치 V1 ,m,n의 A/D 변환 결과)가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 고감도로 광검출이 가능하다. When the parasitic capacitances of the pixel portions P m and n are not saturated, that is, when the intensity of incident light to the pixel portions P m and n is relatively small, the first digital values D 1 , m and n (ie, the pixel portions P m). A / D conversion result of the first voltage value V 1 , m, n outputted from the selection transistor T 4 of , n and read out by the first pixel data 20) is converted into a digital value from the data output unit 40A. Since it is output as D m, n , photodetection is possible with high sensitivity.

또, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때)에 있어서, 적분 회로 31n의 용량 소자 C가 포화하고 있지 않을 때에는 제2 디지털치 D2 ,m,n(즉, 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30A)의 적분 회로 31n에 의해 독출된 제2 전압치 V2 ,m,n의 A/D 변환 결과)가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. Also, when the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated (or just before saturation), when the capacitor C of the integrating circuit 31 n is not saturated, the second digital value D 2 , m n (i.e., A / of the second voltage values V 2 , m, n output from the discharge transistor T 3 of the pixel portion P m , n and read out by the integrating circuit 31 n of the second pixel data 30A). The D conversion result) is output from the data output section 40A as the digital values D m and n , so that light detection can be performed with a wide dynamic range.

또한, 적분 회로 31n의 용량 소자 C도 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때), 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 제3 디지털치 D3,m,n(즉, 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30A)의 대수 압축 회로 32n에 의해 독출된 제3 전압치 V3 ,m,n의 A/D 변환 결과)가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 더욱 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. 따라서, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)는 고감도이면서 더욱 넓은 다이나믹 레인지로 촬상을 행할 수 있다. Further, when the capacitor C of the integrating circuit 31 n is also saturated (or just before saturation), that is, when the intensity of incident light to the pixel portions P m and n is relatively large, the third digital value D 3, m, n (that is, the pixel portion P m, n of the discharge transistor and the output from the T 3, the third voltage value read out by a 32 n logarithmic compression circuit of the second pixel data (30A) V 3, m, n of the a / D The conversion result) is output from the data output section 40A as the digital values D m and n , so that photodetection can be performed with a wider dynamic range. Therefore, the light-detecting device 2 according to the second embodiment can perform imaging with a high sensitivity and a wider dynamic range.

도 16은 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 데이터 출력부(40A)의 다른 구성예를 나타내는 도면이다. 이 도면에 나타나는 데이터 출력부(40A)는 도 8에 나타낸 바와 동일한 구성이고, 선택 출력부(43) 및 A/D 변환 회로(44)를 갖는다. 단, 제2 실시예에서 선택 출력부(43)는 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력되는 제1 전압치 V1 ,m,n을 입력하는 동시에, 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제3 전압치 V3 ,m,n을 입력하고, 제1 전압치 V1 ,m,n과 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 제1 전압치 V1 ,m,n, 제2 전압치 V2 ,m,n 및 제3 전압치 V3 ,m,n 중 어느 하나를 선택하여 출력한다. 또, 제1 전압치 V1 ,m,n과 기준치를 대소 비교하는 일 없이, 제2 전압치 V2 ,m,n 또는 제3 전압치 V3 ,m,n과 기준치를 대소 비교해도 된다. 기준치로서는 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 제1기준치, 및 적분 회로 31n의 용량 소자 C가 포화하고 있는지의 여부를 판정할 수 있는 제2기준치인 두 값이 이용된다. FIG. 16 is a diagram showing another example of the configuration of the data output unit 40A of the photodetector 2 according to the second embodiment. The data output section 40A shown in this figure has the same configuration as shown in FIG. 8 and has a selection output section 43 and an A / D conversion circuit 44. However, in the second embodiment, the selection output unit 43 inputs the first voltage values V 1 , m and n output from the first pixel data reading unit 20, and at the same time, the second pixel data reading unit 30A. The second voltage values V 2 , m, n and the third voltage values V 3 , m, n outputted from the input values are input, and based on the result of comparing the first voltage values V 1 , m, n with the reference value, Any one of the first voltage value V 1 , m, n , the second voltage value V 2 , m, n and the third voltage value V 3 , m, n is selected and output. Further, the first voltage value V 1 , m, n may be compared with the reference value with the second voltage value V 2 , m, n or the third voltage value V 3 , m, n without having to compare the reference value with the reference value. The reference value is a first reference value for determining whether the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is saturated, and a second reference value for determining whether or not the capacitor C of the integrating circuit 31 n is saturated. Two values are used.

그리고, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 화소부 Pm ,n의 선택용 트랜지스터 T4로부터 출력되고, 제1 화소 데이터(20)에 의해 독출된 제1 전압치 V1 ,m,n의 A/D 변환 결과가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 고감도로 광검출이 가능하다. When the parasitic capacitances of the pixel portions P m and n are not saturated, that is, when the intensity of incident light to the pixel portions P m and n is relatively small, the parasitic capacitances of the pixel portions P m and n are output from the selection transistor T 4 of the pixel portions P m and n . Since the A / D conversion result of the first voltage values V 1 , m, n read out by the one pixel data 20 is output from the data output unit 40A as digital values D m, n , photodetection is possible with high sensitivity. Do.

또, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때)에 있어서, 적분 회로 31n의 용량 소자 C가 포화하고 있지 않을 때에는 화소부 Pm,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30A)의 적분 회로 31n에 의해 독출된 제2 전압치 V2 ,m,n의 A/D 변환 결과가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. Further, when the parasitic capacitance portion of the pixel portion P m , n is saturated (or just before saturation), when the capacitance element C of the integrating circuit 31 n is not saturated , the room of the pixel portion P m, n The A / D conversion result of the second voltage value V 2 , m, n output from the dedicated transistor T 3 and read out by the integrating circuit 31 n of the second pixel data 30A is obtained from the data output unit 40A. Since it is output as D m, n , photodetection is possible with a wide dynamic range.

또, 적분 회로 31n의 용량 소자 C도 포화하고 있을 때(또는 포화 직전의 상태일 때), 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 화소부 Pm ,n의 방전용 트랜지스터 T3로부터 출력되고, 제2 화소 데이터(30A)의 대수 압축 회로 32n에 의해 독출된 제3 전압치 V3 ,m,n의 A/D 변환 결과가 데이터 출력부(40A)로부터 디지털치 Dm,n으로서 출력되므로, 더욱 넓은 다이나믹 레인지로 광검출이 가능하다. 따라 서, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)는 고감도이면서 더욱 넓은 다이나믹 레인지로 촬상을 행할 수 있다. When the capacitor C of the integrating circuit 31 n is also saturated (or just before saturation), that is, when the intensity of incident light to the pixel portions P m and n is relatively large, the discharge transistors of the pixel portions P m and n are relatively large. The A / D conversion result of the third voltage value V 3 , m, n outputted from T 3 and read out by the logarithmic compression circuit 32 n of the second pixel data 30A is obtained from the data output unit 40A. Since it is output as m, n , photodetection is possible with a wider dynamic range. Therefore, the light-detecting device 2 according to the second embodiment can perform imaging with a high sensitivity and a wider dynamic range.

다음에, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 동작예에 대해 설명한다. 도 17은 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 동작예를 설명하는 타이밍 차트이다. 이 도면은 제1행의 각 화소부 P1 ,n의 데이터를 독출하는 시간 범위를 나타내고 있다. 도 11에 나타난 제1 실시예의 경우의 타이밍 차트와 비교하면, 이 도 17에 나타나는 제2 실시예의 경우의 타이밍 차트에서는 각 적분 회로 31n의 스위치 SW의 개폐에 이어서, 각 대수 압축 회로 32n의 스위치 SW32의 개폐, 제1열의 스위치 SW1 ,1의 개폐, 제N열의 스위치 SW1 ,N의 개폐, 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제2 전압치 V2 ,m,n, 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력되는 제3 전압치 V3 ,m,n, 및 데이터 출력부(40A)로부터 출력되는 디지털치 Dm,n 각각이 차례로 나타나 있다. 또, 제2 전압치 V2 ,m,n과 제3 전압치 V3 ,m,n은 이 타이밍 차트에서 서로 별개로 나타나 있으나, 스위치 W1 ,n에 접속되는 공통의 배선에 서로 다른 타이밍으로 출력된다. Next, an example of operation of the photodetector 2 according to the second embodiment will be described. 17 is a timing chart for explaining an operation example of the light-detecting device 2 according to the second embodiment. This figure shows the time range for reading the data of each pixel portion P 1 , n in the first row. Compared with the timing chart in the case of the first embodiment shown in Fig. 11, in the timing chart in the case of the second embodiment shown in Fig. 17, the switching SW of each integration circuit 31 n is followed by opening and closing of each logarithmic compression circuit 32 n . switch SW 32 closing in the first column, the switch SW 1, first opening, the N-th column, the switch SW 1, opening and closing of the N, the second pixel data read unit (30A) the second voltage value V 2, which is output from m, the n , The third voltage values V 3 , m, n output from the second pixel data reading unit 30A , and the digital values D m, n output from the data output unit 40A are shown in sequence. In addition, although the second voltage value V 2 , m, n and the third voltage value V 3 , m, n are shown separately from each other in this timing chart, they have different timings for common wirings connected to the switches W 1 , n . Is output.

시각 t10 이전부터 시각 t15 까지의 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)의 동작은 제1 실시예의 경우와 동일하다. 또, 이 기간에는 각 대수 압축 회로 32n의 스위치 SW32는 열려 있다. The operation of the light-detecting device 2 according to the second embodiment from before time t 10 to time t 15 is the same as that in the first embodiment. In this period, the switch SW 32 of each logarithmic compression circuit 32 n is opened.

시각 t15 보다 이후의 시각 t16 에서부터, 그 후의 시각 t17 까지의 사이에, 각 적분 회로 31n의 스위치 SW는 일정 기간만 닫히고, 각 적분 회로 31n의 용량 소자 C는 방전된다. 시각 t16 에서부터, 시각 t17 보다 이후의 시각 t18 까지의 사이에, 각 대수 압축 회로 32n의 스위치 SW32는 닫히고, 방전 제어 신호 Sreset ,m 및 전송 제어 신호 Strans가 하이 레벨로 되고, 동시에 각 스위치 SWn이 닫히고, 제1행의 화소부 P1 ,n의 포토 다이오드 PD에서 발생한 전하를 각 대수 압축 회로 32n에 유입시킨다. 또, 시각 t17 에서부터 시각 t18 까지의 사이에, 각 스위치 SW1 ,n 각각은 차례로 일정 기간만 닫힌다. 스위치 SW1 ,n이 닫혀 있는 기간에, 대수 압축 회로 32n에 유입한 전하의 양의 대수치에 따른 제3 전압치 V3 ,1,n이 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력된다. 이와 같이 하여, 시각 t17 에서부터 시각 t18 까지의 사이에, 제1행의 N개의 화소부 P1 ,1~P1 ,N 각각에 입사한 광의 강도의 대수치에 따른 제3 전압치 V3,1,1~V3,1,N이 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 차례로 출력된다. From the time t 16 is later than time t 15, the later the time between t and 17, is closed and only the switch SW is a period of time of each integrating circuit 31 n, the capacitor element C of each integrating circuit 31 n is discharged. From time t 16 to time t 18 after time t 17 , the switch SW 32 of each logarithmic compression circuit 32 n is closed, and the discharge control signal S reset , m and the transfer control signal S trans are at a high level. At the same time, each switch SW n is closed and charge generated in the photodiode PD of the pixel portion P 1 , n in the first row is introduced into each logarithmic compression circuit 32 n . Further, between the distance from time t 17 to time t 18, the switches SW 1, n respectively are closed in turn only a certain period of time. In the period in which the switches SW 1 , n are closed, the third voltage values V 3 , 1, n corresponding to the logarithmic value of the amount of charge flowing into the logarithmic compression circuit 32 n are output from the second pixel data reading unit 30A. . Thus, the third voltage value V 3 according to the logarithm of the intensity of light incident on each of the N pixel portions P 1 , 1 to P 1 , N in the first row from time t 17 to time t 18 . , 1,1 to V3,1, N are sequentially output from the second pixel data reader 30A.

그리고, 데이터 출력부(40A)에서는 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에 제1 화소 데이터 독출부(20)로부터 출력된 제1 전압치 V1 ,1,1~V1 ,1,N, 시각 t14 에서부터 시각 t15 까지의 사이에 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력된 제2 전압 치 V2 ,1,1~V2 ,1,N, 및 시각 t17 에서부터 시각 t18 까지의 사이에 제2 화소 데이터 독출부(30A)로부터 출력된 제3 전압치 V3 ,1,1~V3 ,1,N에 근거하여, 제1 전압치 V1 ,1,n, 제2 전압치 V2 ,1,n 및 제3 전압치 V3 ,1,n 중 어느 하나가 A/D 변환된 결과인 디지털치 D1 ,n이 데이터 출력부(40A)로부터 차례로 출력된다. 또, 제3 전압치 V3 ,1,n이 출력되는 타이밍은 제1 전압치 V1 ,1,n 및 제2 전압치 V2 ,1,n이 출력되는 타이밍보다 늦으므로, 먼저 출력된 제1 전압치 V1 ,1,n 및 제2 전압치 V2 ,1,n(또는, 이러한 A/D 변환 결과)을 유지하는 데이터 유지부가 설치된다. In the data output unit 40A, the first voltage values V 1 , 1 , 1 to V 1 , 1, N , which are output from the first pixel data reading unit 20 between the time t 14 and the time t 15 . From time t 14 to time t 15 , the second voltage value V 2 , 1,1 to V 2 , 1, N output from the second pixel data reader 30A and time t 17 to time t 18 . Based on the third voltage values V 3 , 1,1 to V 3 , 1, N output from the second pixel data reader 30A during the first voltage value V 1 , 1, n , and second voltage The digital values D 1 , n which are the result of A / D conversion of any one of the values V 2 , 1, n and the third voltage values V 3 , 1, n are sequentially output from the data output unit 40A. In addition, the timing at which the third voltage values V 3 , 1, n are output is later than the timing at which the first voltage values V 1 , 1, n and the second voltage values V 2 , 1, n are output. A data holding unit for holding one voltage value V 1 , 1, n and the second voltage value V 2 , 1, n (or the result of such A / D conversion) is provided.

이후도 이와 같이 하여, 제1행 ~ 제M행 각각에 대하여 차례로, 각 행의 N개의 화소부 Pm ,1~Pm ,N 각각에 입사한 광의 강도에 따른 디지털치 Dm,1~Dm,N이 데이터 출력부(40A)로부터 차례로 출력된다. 여기서, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있지 않을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 작을 때에는 제1 전압치 V1,m,n이 A/D 변환된 결과가 디지털치 Dm,n으로서 출력된다. 또, 화소부 Pm ,n의 기생 용량부가 포화하고 있을 때에 있어서, 적분 회로 31n의 용량 소자가 포화하고 있지 않을 때에는 제2 전압치 V2 ,m,n이 A/D 변환된 결과가 디지털치 Dm,n으로서 출력된다. 또, 적분 회로 31n의 용량 소자가 포화하고 있을 때, 즉 화소부 Pm ,n에의 입사광의 강도가 비교적 클 때에는 제3 전압치 V3 ,m,n이 A/D 변환된 결과가 디지털치 Dm,n으로 서 출력된다. 따라서, 제2 실시예에 관한 광검출 장치(2)는 고감도이면서 더욱 넓은 다이나믹 레인지로 입사광 강도를 검출할 수 있다. Thereafter, the digital values D m, 1 to D according to the intensity of light incident on each of the N pixel portions P m , 1 to P m , N in each row are sequentially applied to each of the first to Mth rows. m and N are sequentially output from the data output section 40A. Here, when the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is not saturated, that is, when the intensity of incident light into the pixel portion P m , n is relatively small, the result of the A / D conversion of the first voltage values V 1, m, n Is output as the digital value D m, n . When the parasitic capacitance of the pixel portion P m , n is saturated, and the capacitance element of the integrating circuit 31 n is not saturated, the result of A / D conversion of the second voltage value V 2 , m, n is digital. It is output as the value D m, n . Further, when the capacitor element of the integrating circuit 31 n is saturated, that is, when the intensity of incident light to the pixel portion P m , n is relatively large, the result of A / D conversion of the third voltage value V 3 , m, n is a digital value. It is output as D m, n . Therefore, the photodetector 2 according to the second embodiment can detect incident light intensity with a high sensitivity and a wider dynamic range.

본 발명에 의하면, 고감도이면서 넓은 다이나믹 레인지로의 광검출이 가능하게 된다. According to the present invention, light detection with high sensitivity and wide dynamic range is possible.

Claims (18)

입사광 강도에 따른 양(量)의 전하를 발생하는 포토 다이오드와, 게이트 단자에 형성된 기생 용량부에 축적되어 있는 전하의 양에 따른 전압치를 출력하는 증폭용 트랜지스터와, 상기 포토 다이오드에서 발생한 전하를 상기 증폭용 트랜지스터의 게이트 단자에 전송하는 전송용 트랜지스터와, 상기 기생 용량부의 전하를 초기화하는 방전용 트랜지스터와, 상기 증폭용 트랜지스터로부터 출력되는 전압치를 선택적으로 출력하는 선택용 트랜지스터를 포함하는 화소부와,A photodiode for generating a positive charge according to incident light intensity, an amplifying transistor for outputting a voltage value corresponding to the amount of charge stored in the parasitic capacitance formed at the gate terminal, and a charge generated at the photodiode. A pixel portion including a transfer transistor for transferring to a gate terminal of the amplifying transistor, a discharge transistor for initializing charges of the parasitic capacitance portion, and a selection transistor for selectively outputting a voltage value output from the amplification transistor; 상기 화소부의 상기 선택용 트랜지스터로부터 출력되는 전압치를 독출하고, 상기 전압치에 따른 제1 전압치를 출력하는 제1 화소 데이터 독출부와,A first pixel data read part that reads a voltage value output from the selection transistor of the pixel portion and outputs a first voltage value according to the voltage value; 상기 화소부의 상기 방전용 트랜지스터에 접속된 제1 단자와, 상기 화소부의 상기 증폭용 트랜지스터의 게이트 단자의 전하를 초기화하기 위한 바이어스 전위를 입력하는 제2 단자와, 제3 단자를 갖고, 상기 제1 단자와 상기 제2 단자와의 사이 또는 상기 제1 단자와 상기 제3 단자와의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 전환부와,A first terminal connected to the discharge transistor of the pixel portion, a second terminal for inputting a bias potential for initializing charges of the gate terminal of the amplifying transistor of the pixel portion, and a third terminal; A connection switching unit that electrically connects between the terminal and the second terminal or between the first terminal and the third terminal; 상기 접속 전환부의 상기 제3 단자에 입력 단자가 접속되고, 상기 기생 용량부의 용량치보다 큰 용량치를 갖는 용량 소자를 포함하고, 상기 접속 전환부의 상기 제3 단자로부터 상기 입력 단자에 유입한 전하를 상기 용량 소자에 축적하고, 상기 축적한 전하의 양에 따른 제2 전압치를 출력하는 제2 화소 데이터 독출부를 구비하는 광검출 장치. An input terminal is connected to the third terminal of the connection switching unit, and includes a capacitor having a capacitance larger than that of the parasitic capacitance unit, wherein the charge flowed into the input terminal from the third terminal of the connection switching unit is performed. And a second pixel data read portion stored in the capacitor and outputting a second voltage value corresponding to the accumulated amount of charge. 입사광 강도에 따른 양의 전하를 발생하는 포토 다이오드, 전송 제어 신호를 입력하기 위한 게이트 단자와, 상기 포토 다이오드에 접속된 제1 단자와, 제2 단자를 갖는 전송용 트랜지스터, 방전 제어 신호를 입력하기 위한 게이트 단자와, 상기 전송용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 제1 단자와, 제2 단자를 갖는 방전용 트랜지스터, 상기 전송용 트랜지스터의 제2 단자 및 상기 방전용 트랜지스터의 제1 단자에 각각 접속된 게이트 단자와, 미리 결정된 전위로 설정된 제1 단자와, 제2 단자를 갖는 증폭용 트랜지스터, 및 선택 제어 신호를 입력하기 위한 게이트 단자와, 상기 증폭용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 제1 단자와, 제2 단자를 갖는 선택용 트랜지스터를 포함하는 화소부와,Inputting a photodiode for generating a positive charge according to incident light intensity, a gate terminal for inputting a transmission control signal, a first terminal connected to the photodiode, a transmission transistor having a second terminal, and a discharge control signal A discharge terminal having a gate terminal for connection, a first terminal connected to a second terminal of the transfer transistor, a second transistor having a second terminal, a second terminal of the transfer transistor, and a first terminal of the discharge transistor, respectively. An amplifying transistor having a gate terminal, a first terminal set to a predetermined potential, a second terminal, a gate terminal for inputting a selection control signal, and a first terminal connected to a second terminal of the amplifying transistor A pixel portion including a selection transistor having a second terminal; 상기 화소부에 있어서의 상기 선택용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 입력 단자를 갖는 제1 화소 데이터 독출부와,A first pixel data reading portion having an input terminal connected to a second terminal of the selection transistor in the pixel portion; 상기 화소부에 있어서의 상기 방전용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 제1 단자와, 미리 결정된 바이어스 전위로 설정된 제2 단자와, 제3 단자를 갖고, 상기 방전용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 제1 단자와 상기 미리 결정된 바이어스 전위로 설정된 제2 단자의 사이, 및 상기 방전용 트랜지스터의 제2 단자에 접속된 제1 단자와 상기 제3 단자와의 사이 중 어느 하나를 전기적으로 접속하기 위한 접속 전환부와,A first terminal connected to a second terminal of the discharge transistor in the pixel portion, a second terminal set to a predetermined bias potential, and a third terminal, and connected to a second terminal of the discharge transistor A connection for electrically connecting any one between a first terminal and a second terminal set to the predetermined bias potential and between a first terminal and the third terminal connected to a second terminal of the discharge transistor With the transition unit, 상기 접속 전환부에 있어서의 제3 단자에 접속된 입력 단자와, 상기 입력 단자를 통하여 유입한 전하가 축적되는 용량 소자를 포함하는 제2 화소 데이터 독출부를 구비하는 광검출 장치. And a second pixel data reading portion including an input terminal connected to a third terminal in the connection switching section, and a capacitive element for storing charges flowing through the input terminal. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 화소 데이터 독출부에 포함되는 상기 용량 소자의 용량치는 상기 기생 용량부의 용량치의 2K배(단, K는 1 이상의 정수)인 광검출 장치. And a capacitance value of the capacitance element included in the second pixel data reading portion is 2 K times (wherein K is an integer of 1 or more) of the capacitance value of the parasitic capacitance portion. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 화소부에 포함되는 상기 포토 다이오드는 The photodiode included in the pixel portion 제1 도전형의 제1 반도체 영역과, A first semiconductor region of a first conductivity type, 상기 제1 반도체 영역의 위에 설치되고, 상기 제1 반도체 영역과의 사이에 pn 접합을 형성하는 제2 도전형의 제2 반도체 영역과, A second semiconductor region of a second conductivity type provided on the first semiconductor region and forming a pn junction between the first semiconductor region, 상기 제2 반도체 영역의 위에 설치되고, 상기 제2 반도체 영역과의 사이에 pn 접합이 형성되는 제1 도전형의 제3 반도체 영역을 구비하는 광검출 장치. And a third semiconductor region of a first conductivity type, provided on the second semiconductor region, wherein a pn junction is formed between the second semiconductor region. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 화소부는 The pixel portion 상기 포토 다이오드와 상기 전송용 트랜지스터와의 사이에 배치되고, 미리 결정된 전위로 설정된 게이트 단자와, A gate terminal disposed between the photodiode and the transfer transistor and set to a predetermined potential; 상기 포토 다이오드에 접속된 제1 단자와, A first terminal connected to the photodiode; 상기 전송용 트랜지스터의 제1 단자에 접속된 제2 단자를 갖는 차단용 트랜지스터를 추가로 포함하는 광검출 장치. And a blocking transistor having a second terminal connected to the first terminal of the transfer transistor. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 각각이 상기 화소부와 동일한 구조를 갖는 동시에, 상기 화소부와 함께 2 차원 배열을 구성하는 복수의 화소부를 구비하는 광검출 장치. And a plurality of pixel portions each having the same structure as the pixel portion and forming a two-dimensional array together with the pixel portion. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 제2 화소 데이터 독출부는, 상기 용량 소자로서, 상기 2 차원 배열된 화소부의 각 열에 대응하여 설치된 복수의 용량 소자를 갖는 광검출 장치. And the second pixel data reading unit has, as the capacitor, a plurality of capacitors provided corresponding to each column of the two-dimensionally arranged pixel units. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 2 차원 배열된 화소부 중 임의의 행에 속하는 화소부 그룹으로부터의 출력 전압치를 상기 제1 화소 데이터 독출부가 처리하는 기간에, 상기 제2 화소 데이터 독출부는 상기 행에 속하는 화소부 그룹으로부터의 출력 전하를 처리하는 광검출 장치. In a period during which the first pixel data reading unit processes an output voltage value from a pixel unit group belonging to any row of the two-dimensionally arranged pixel units, the second pixel data reading unit outputs from the pixel unit group belonging to the row. Photodetector for processing charge. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 2 차원 배열된 화소부 중 임의의 행에 속하는 화소부 그룹으로부터의 출력 전압치를 상기 제1 화소 데이터 독출부가 처리하는 기간에, 상기 제2 화소 데이터 독출부가 다른 행에 속하는 화소부 그룹으로부터의 출력 전하를 처리하는 광검출 장치. Output from the pixel portion group belonging to another row in the period during which the first pixel data read portion processes an output voltage value from the pixel portion group belonging to any row of the two-dimensionally arranged pixel portions; Photodetector for processing charge. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 제1 전압치에 따른 제1 디지털치를 출력하는 동시에, 상기 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 제2 전압치에 따른 제2 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 구비하는 광검출 장치. By A / D converting the first voltage value output from the first pixel data reader, the first digital value according to the first voltage value is output, and the second voltage value output from the second pixel data reader is A / D. And an A / D converter for outputting a second digital value according to the second voltage value by performing D conversion. 제10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 A/D 변환부로부터 출력되는 제1 디지털치 및 제2 디지털치를 입력하고, 상기 제1 전압치, 상기 제2 전압치, 상기 제1 디지털치 및 상기 제2 디지털치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 상기 제1 디지털치 및 상기 제2 디지털치 중 하나를 출력하는 선택 출력부를 구비하는 광검출 장치. Inputs a first digital value and a second digital value output from the A / D converter, wherein any one of the first voltage value, the second voltage value, the first digital value, and the second digital value and a reference value And a selection output section for outputting one of the first digital value and the second digital value, based on the result of the magnitude comparison. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치와 상기 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치를 입력하고, 상기 제1 전압치 및 상기 제2 전압치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 상기 제1 전압치 및 상기 제2 전압치 중 하나를 출력하는 선택 출력부를 구비하는 광검출 장치. Inputs a first voltage value output from the first pixel data reader and a second voltage value output from the second pixel data reader, and selects one of the first voltage value and the second voltage value and a reference value; And a selection output unit configured to output one of the first voltage value and the second voltage value based on a result of the comparison. 제12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 선택 출력부로부터 출력되는 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 전압치에 따른 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 구비하는 광검출 장치. And an A / D conversion unit for outputting a digital value according to the voltage value by performing A / D conversion on the voltage value output from the selection output unit. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 제2 화소 데이터 독출부는 상기 용량 소자에 대하여 병렬적으로 설치되고, 상기 접속 전환부의 상기 제3 단자로부터의 유입 전하량의 대수치(對數値;logarithm value)에 따른 제3 전압치를 출력하는 대수 압축 회로를 구비하는 광검출 장치. The second pixel data readout part is provided in parallel with the capacitor and outputs a third voltage value according to a logarithm value of the amount of incoming charge from the third terminal of the connection switching part. A photodetector comprising a circuit. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 제1 전압치에 따른 제1 디지털치를 출력하는 동시에, 상기 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치 및 제3 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 제2 전압치에 따른 제2 디지털치 및 제3 전압치에 따른 제3 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 구비하는 광검출 장치. A / D conversion of the first voltage value outputted from the first pixel data readout part to output a first digital value according to the first voltage value, and at the same time, a second voltage value and a second outputted value from the second pixel data readout part. And an A / D conversion unit for outputting a second digital value according to the second voltage value and a third digital value according to the third voltage value by performing A / D conversion of the three voltage values. 제15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 A/D 변환부로부터 출력되는 제1 디지털치, 제2 디지털치 및 제3 디지털치를 입력하고, 상기 제1 전압치, 상기 제2 전압치, 상기 제3 전압치, 상기 제1 디지털치, 상기 제2 디지털치 및 상기 제3 디지털치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 상기 제1 디지털치, 상기 제2 디지털치 및 상기 제3 디지털치 중 어느 하나를 출력하는 선택 출력부를 구비하는 광검출 장치. Inputting a first digital value, a second digital value, and a third digital value output from the A / D converter, wherein the first voltage value, the second voltage value, the third voltage value, the first digital value, A selective output for outputting any one of the first digital value, the second digital value, and the third digital value based on a result of comparing the reference value with any one of the second digital value and the third digital value; The photodetector provided with a part. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 제1 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제1 전압치와 상기 제2 화소 데이터 독출부로부터 출력되는 제2 전압치 및 제3 전압치를 입력하고, 상기 제1 전압치, 상기 제2 전압치 및 상기 제3 전압치 중 어느 하나와 기준치를 대소 비교한 결과에 근거하여, 상기 제1 전압치, 상기 제2 전압치 및 상기 제3 전압치 중 어느 하나를 출력하는 선택 출력부를 구비하는 광검출 장치. A first voltage value output from the first pixel data readout part, a second voltage value and a third voltage value output from the second pixel data readout part, and input the first voltage value, the second voltage value, and the And a selection output unit for outputting any one of the first voltage value, the second voltage value, and the third voltage value based on a result of comparing the reference value with any one of the third voltage values. 제17항에 있어서,The method of claim 17, 상기 광검출 장치는 추가로,The photodetector further comprises 상기 선택 출력부로부터 출력되는 전압치를 A/D 변환함으로써 상기 전압치에 따른 디지털치를 출력하는 A/D 변환부를 구비하는 광검출 장치. And an A / D conversion unit for outputting a digital value according to the voltage value by performing A / D conversion on the voltage value output from the selection output unit.
KR1020067006154A 2003-10-02 2004-09-27 Photo detecting apparatus KR101074551B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2003-00344895 2003-10-02
JP2003344895A JP4268492B2 (en) 2003-10-02 2003-10-02 Photodetector
PCT/JP2004/014091 WO2005034511A1 (en) 2003-10-02 2004-09-27 Photo detecting apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060095552A KR20060095552A (en) 2006-08-31
KR101074551B1 true KR101074551B1 (en) 2011-10-17

Family

ID=34419401

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020067006154A KR101074551B1 (en) 2003-10-02 2004-09-27 Photo detecting apparatus

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7800667B2 (en)
EP (1) EP1677522B1 (en)
JP (1) JP4268492B2 (en)
KR (1) KR101074551B1 (en)
CN (1) CN100401751C (en)
WO (1) WO2005034511A1 (en)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4421353B2 (en) * 2004-04-01 2010-02-24 浜松ホトニクス株式会社 Solid-state imaging device
JP4744828B2 (en) * 2004-08-26 2011-08-10 浜松ホトニクス株式会社 Photodetector
JP5269286B2 (en) * 2005-07-12 2013-08-21 浜松ホトニクス株式会社 Photodetection circuit
JP4747781B2 (en) 2005-10-27 2011-08-17 船井電機株式会社 Imaging device
WO2007085942A2 (en) * 2006-01-25 2007-08-02 Melexis Nv Image sensor with a photodiode readout circuit
WO2007088710A1 (en) * 2006-02-02 2007-08-09 National University Corporation NARA Institute of Science and Technology Photo detection device
JP4762030B2 (en) * 2006-03-31 2011-08-31 三洋電機株式会社 Photodetector
US7969490B2 (en) 2006-08-25 2011-06-28 Micron Technology, Inc. Method, apparatus, and system providing an imager with pixels having extended dynamic range
KR100808014B1 (en) * 2006-09-11 2008-02-28 (주)실리콘화일 Unit pixel including three transistors and pixel array including the unit pixels
JP4825116B2 (en) 2006-11-22 2011-11-30 浜松ホトニクス株式会社 Solid-state imaging device and imaging method
FR2929055B1 (en) * 2008-03-19 2010-05-28 Commissariat Energie Atomique SYSTEM FOR CONVERTING CHARGES IN VOLTAGE AND METHOD FOR CONTROLLING SUCH A SYSTEM
US9131142B2 (en) 2009-07-17 2015-09-08 Nikon Corporation Focusing device and camera
FR2983296B1 (en) * 2011-11-29 2013-12-27 Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir RADIATION DETECTION DEVICE WITH ENHANCED ILLUMINATION SCALE
US9752929B2 (en) * 2014-05-08 2017-09-05 Pinnacle Imaging Corporation Light-detecting device and method for converting optical radiation on switched conductivity diodes
US9526468B2 (en) 2014-09-09 2016-12-27 General Electric Company Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers
JP6837639B2 (en) * 2017-02-16 2021-03-03 国立大学法人豊橋技術科学大学 Ion concentration distribution measuring device
EP3607738B1 (en) * 2017-04-04 2021-07-07 Artilux Inc. High-speed light sensing apparatus
CN110784670B (en) * 2018-07-30 2022-02-08 普里露尼库斯新加坡私人有限公司 Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000023044A (en) 1998-06-30 2000-01-21 Toshiba Corp Image pickup device

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2577559B2 (en) 1987-04-12 1997-02-05 浜松ホトニクス株式会社 Solid-state imaging device
JPH08149376A (en) 1994-11-18 1996-06-07 Olympus Optical Co Ltd Solid-state image pickup device
JP3680366B2 (en) 1995-08-11 2005-08-10 ソニー株式会社 Imaging device
JPH1093868A (en) 1996-09-18 1998-04-10 Sony Corp Solid-state image pickup element and its drive method
US6246436B1 (en) * 1997-11-03 2001-06-12 Agilent Technologies, Inc Adjustable gain active pixel sensor
JPH11274454A (en) 1998-03-19 1999-10-08 Canon Inc Solid image pick-up device and its forming method
JP3592106B2 (en) * 1998-11-27 2004-11-24 キヤノン株式会社 Solid-state imaging device and camera
US6727946B1 (en) * 1999-12-14 2004-04-27 Omnivision Technologies, Inc. APS soft reset circuit for reducing image lag
JP3558589B2 (en) 2000-06-14 2004-08-25 Necエレクトロニクス株式会社 MOS type image sensor and driving method thereof
JP3493405B2 (en) 2000-08-31 2004-02-03 ミノルタ株式会社 Solid-state imaging device
JP2002204398A (en) * 2000-10-05 2002-07-19 Honda Motor Co Ltd Image sensor
US7268815B1 (en) * 2000-10-06 2007-09-11 Cypress Semiconductor Corporation (Belgium) Bvba Differential readout of a pixel array with elimination of pixel- and column-wise fixed pattern noise
US7286174B1 (en) * 2001-06-05 2007-10-23 Dalsa, Inc. Dual storage node pixel for CMOS sensor
JP3984814B2 (en) * 2001-10-29 2007-10-03 キヤノン株式会社 Imaging device, radiation imaging apparatus using the imaging device, and radiation imaging system using the imaging device
JP4132850B2 (en) * 2002-02-06 2008-08-13 富士通株式会社 CMOS image sensor and control method thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000023044A (en) 1998-06-30 2000-01-21 Toshiba Corp Image pickup device

Also Published As

Publication number Publication date
EP1677522A1 (en) 2006-07-05
CN1864403A (en) 2006-11-15
US20080036887A1 (en) 2008-02-14
KR20060095552A (en) 2006-08-31
EP1677522B1 (en) 2013-04-24
EP1677522A4 (en) 2010-03-31
US7800667B2 (en) 2010-09-21
WO2005034511A1 (en) 2005-04-14
JP2005117101A (en) 2005-04-28
CN100401751C (en) 2008-07-09
JP4268492B2 (en) 2009-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101074551B1 (en) Photo detecting apparatus
US7468501B2 (en) Linear dynamic range enhancement in a CMOS imager
US9769396B2 (en) Solid-state image pickup apparatus, signal processing method for a solid-state image pickup apparatus, and electronic apparatus
CN108600661B (en) Integrated circuit image sensor and method of operation within an image sensor
US5708263A (en) Photodetector array
US7626620B2 (en) Photoelectric conversion unit stacked structure
JP2976242B2 (en) Integrated circuit, camera using the integrated circuit, and method for detecting incident light incident on an image sensor manufactured using the integrated circuit technology
US7791657B2 (en) Dynamic range enhancement scheme for imagers
US6882367B1 (en) High-sensitivity storage pixel sensor having auto-exposure detection
US8537259B2 (en) Photoelectric conversion circuit and solid state imaging device including same
US7605855B2 (en) Dual sensitivity image sensor
EP2140676B1 (en) Image sensor pixel with gain control
JP4421353B2 (en) Solid-state imaging device
US20080007640A1 (en) Photoelectric conversion circuit and solid-state image-sensing device using it
JP2008258973A (en) Thermal infrared solid-state image pickup device and infrared camera
US7679663B2 (en) Photodetection apparatus
EP3138279B1 (en) Device and method
EP1874044B1 (en) Solid state imaging device
EP1712886B1 (en) Photodetector device
US7675562B2 (en) CMOS image sensor including column driver circuits and method for sensing an image using the same
JP2004187017A (en) Read processor
US20050167771A1 (en) Photodetector device, solid-state imaging device, and camera system
Pain Linear dynamic range enhancement in a CMOS imager

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141001

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150917

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160921

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170920

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180920

Year of fee payment: 8