KR101065047B1 - NAND flash memory test system for MP3 player - Google Patents

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Abstract

본 발명은 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에 관한 것으로, MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 결과에 대한 신뢰성을 제고시킬 수 있도록 함에 그 목적이 있다. 이를 위해 구성되는 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템은 양측 단부에 MP3 플레이어의 회로기판의 접점패턴에 납땜 연결되는 단부 접점패턴이 형성되어 MP3 플레이어의 회로기판에서 낸드 플래시 메모리를 제거한 자리에 납땜 고정되어지되 상면에는 단부 접점패턴과 전기적으로 연결된 채로 노출되어 있는 상면 접점패턴이 형성된 어댑터; 하부에 접점핀이 형성되어 상면 접점패턴에 납땜 연결되어지되 일측에는 플레이어측 암커넥터가 형성된 플레이어 커넥터; 테스트될 낸드 플래시 메모리가 삽입 고정되는 1개 이상의 소켓이 구비되어지되 일측에는 소켓블록측 암커넥터가 형성된 소켓블록; 및 전기 케이블과 전기 케이블의 양단에 설치되어 각각 플레이어 커넥터와 소켓블록 각각의 암커넥터에 연결되는 수커넥터가 구비된 케이블 뭉치를 포함한 구성으로 이루어진다.The present invention relates to a NAND flash memory test system for an MP3 player, and to test a NAND flash memory used for storing sound sources in an MP3 player so that the NAND flash memory can be tested while actually connected to a commercially available MP3 player. The purpose is to increase the reliability of the test results. The NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention configured for this purpose is formed with an end contact pattern which is soldered and connected to a contact pattern of a circuit board of the MP3 player at both ends thereof, thereby removing the NAND flash memory from the MP3 player circuit board. An adapter having a top contact pattern which is fixed to the soldering surface and is exposed while being electrically connected to the end contact pattern; A contact pin is formed at a lower side thereof and is soldered to the upper contact pattern, but at one side of the player connector is formed with a female connector; A socket block having one or more sockets to which the NAND flash memory to be tested is inserted and fixed, at one side of which a socket block female connector is formed; And a bundle of cables installed at both ends of the electrical cable and the electrical cable and having male connectors respectively connected to the female connectors of the player connector and the socket block, respectively.

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Description

ＭＰ３ 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템{NAND flash memory test system for MP3 player}NAND flash memory test system for MP3 player

본 발명은 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어 상용되고 있는 MP3 플레이어에 적용되는 해당 낸드 플래시 메모리를 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있도록 한 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a NAND flash memory test system for an MP3 player, and more particularly, to an N3 flash memory applied to an MP3 player commonly used in testing a NAND flash memory used for storing sound sources in an MP3 player. It is about a NAND flash memory test system for MP3 players that can be tested while actually connected.

일반적으로 근래 들어 데이터 압축 기술과 반도체 메모리 제조 기술이 비약적으로 발전함에 따라 MP3 플레이어가 젊은이들에게는 없어서는 안 될 필수 휴대품으로 자리매김하고 있다. 이러한 MP3 플레이어에서는 기기의 사이즈를 줄이기 위해 음원 저장용으로 사용되는 메모리로 읽기 및 쓰기가 가능할 뿐만 아니라 전원이 없는 상태에서도 저장된 내용이 지워지지 않는 반도체 메모리의 일종인 낸드 플래시 메모리(NAND flash memory)를 주로 사용하고 있다.In general, with the rapid development of data compression technology and semiconductor memory manufacturing technology, MP3 players are becoming indispensable portable items for young people. In order to reduce the size of the device, such an MP3 player mainly uses NAND flash memory, which is a type of semiconductor memory that can be read and written as a sound source and not stored in the absence of power. I use it.

한편, 전술한 바와 같은 낸드 플래시 메모리(NAND flash memory)는 플래시 메모리의 한 형태를 마하는 것으로, 이러한 플래시 메모리는 전원이 없는 상태에서도 메모리에 데이타가 계속 저장되어질 수 있는 메모리를 말한다. 이러한 플래시 메모리는 내부방식에 따라 NOR 형과 NAND형으로 나누는데 NOR형이란 셀이 병렬로 연결된 방식이고, NAND형이란 셀이 직렬로 연결된 구조를 가지고 있다.On the other hand, the NAND flash memory as described above refers to a form of flash memory, which refers to a memory in which data can be continuously stored in the memory even without a power source. Such flash memory is divided into NOR type and NAND type according to the internal method. The NOR type has a structure in which cells are connected in parallel, and the NAND type has a structure in which cells are connected in series.

특히, 전술한 바와 같은 낸드 플래시 메모리는 주로 요즘 나오는 메모리카드 중 SD카드나 Memory stick에서 쓰이는 메모리를 말하고, 노어 플래시 메모리는 MMC카드나 Compact flash 메모리에 쓰이는 타입을 말한다. 이외에 NOR 형은 주로 핸드폰이나 셋탑박스 등에 주로 쓰이고, NAND 형은 디지털카메라나 MP3 등에 주로 쓰이고 있다.In particular, the NAND flash memory as described above refers to the memory used in SD cards or memory sticks, and the NOR flash memory refers to the type used in MMC cards or Compact flash memory. In addition, the NOR type is mainly used for mobile phones and set-top boxes, and the NAND type is mainly used for digital cameras and MP3s.

도 1 은 일반적인 MP3 플레이어의 회로 기판에 낸드 플래시 메모리가 탑재된 상태를 보인 개략 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a NAND flash memory is mounted on a circuit board of a general MP3 player.

도 1 에 도시한 바와 같이 일반적인 MP3 플레이어에서는 낸드 플래시 메모리(20)로 패키지의 양쪽에 Gull-Form의 리드가 있어서 회로기판(10)의 표면에 실장되는 표면 실장형 패키지의 일종인 SOP(Small Outline Package) 타입이 주로 사용되고 있다.As shown in FIG. 1, in a typical MP3 player, a NAND flash memory 20 has a lead of a Gull-Form on both sides of a package, so that SOP (Small Outline) is a type of surface mount package mounted on the surface of the circuit board 10. The Package type is mainly used.

한편, 낸드 플래시 메모리를 포함한 대부분의 메모리 소자들은 그 제조과정에서 웨이퍼에 탑재된 상태로 실시되는 번-인(Burn-In) 테스트 공정과 칩에 패킹이 완료된 상태에서 실시되는 각종 전기적인 기능 테스트 공정을 거치게 된다.Meanwhile, most memory devices, including NAND flash memory, are burn-in test processes that are performed on a wafer during manufacturing, and various electrical functional test processes that are performed after packing is completed on a chip. Will go through.

그러나, 종래 낸드 플래시 메모리에 대한 전기적인 기능 테스트를 수행함에 있어서는 이러한 낸드 플래시 메모리가 실제로 탑재될 MP3 플레이어와는 별개, 즉 MP3 플레이어와 연결이 되지 않은 상태에서 독립적인 테스트가 이루어지기 때문에 테스트 결과에 대한 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.However, in performing electrical functional tests on conventional NAND flash memory, the test results are independent of the MP3 player in which the NAND flash memory is actually mounted, i.e., independent of the MP3 player. There was a problem that the reliability is lowered.

본 발명은 전술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 결과에 대한 신뢰성을 제고시킬 수 있는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템을 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, in the test of the NAND flash memory used for the sound source storage in the MP3 player in the state that actually connected the NAND flash memory to a commercially available MP3 player The aim is to provide a NAND flash memory test system for MP3 players that can increase the reliability of the test results by enabling the test.

본 발명에 따른 기술의 다른 목적은 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있는 구조의 테스트 시스템을 구성함으로써 테스트 장비의 소형화와 단순화를 기할 수 있도록 함에 있다.Another object of the technology according to the present invention is to test a NAND flash memory used for storing music in an MP3 player, and to construct a test system having a structure that can be tested while actually connecting the NAND flash memory to a commercially available MP3 player. By doing so, the test equipment can be miniaturized and simplified.

아울러, 본 발명에 따른 기술은 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있는 구조의 테스트 시스템을 구성함으로써 저렴한 구조의 테스트 장비를 제공함에 그 목적이 있다.In addition, the technology according to the present invention by constructing a test system of the structure that can be tested in the state in which the NAND flash memory actually connected to a commercially available MP3 player in testing the NAND flash memory used for storing the sound source in the MP3 player The purpose is to provide a test equipment of low cost structure.

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해 구성되는 본 발명은 다음과 같다. 즉, 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템은 양측 단부에 MP3 플레이어의 회로기판의 접점패턴에 납땜 연결되는 단부 접점패턴이 형성되어 MP3 플레이어의 회로기판에서 낸드 플래시 메모리를 제거한 자리에 납땜 고정되어지되 상면에는 단부 접점패턴과 전기적으로 연결된 채로 노출되어 있는 상면 접점패턴이 형성된 어댑터; 하부에 접점핀이 형성되어 상면 접점패턴에 납땜 연결되어지되 일측에는 플레이어측 암커넥터가 형성된 플레이어 커넥터; 테스트될 낸드 플래시 메모리가 삽입 고정되는 1개 이상의 소켓이 구비되어지되 일측에는 소켓블록측 암커넥터가 형성된 소켓블록; 및 전기 케이블과 전기 케이블의 양단에 설치되어 각각 플레이어 커넥터와 소켓블록 각각의 암커넥터에 연결되는 수커넥터가 구비된 케이블 뭉치의 구성으로 이루어진다.The present invention is configured to achieve the object as described above is as follows. That is, the NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention has end contact patterns which are connected to solder patterns of the MP3 player's circuit boards at both ends thereof, and are soldered in place where the NAND flash memory is removed from the MP3 player's circuit boards. An adapter having a top contact pattern which is fixed but is exposed while being electrically connected to the end contact pattern; A contact pin is formed at a lower side thereof and is soldered to the upper contact pattern, but at one side of the player connector is formed with a female connector; A socket block having one or more sockets to which the NAND flash memory to be tested is inserted and fixed, at one side of which a socket block female connector is formed; And a bundle of cables installed at both ends of the electrical cable and the electrical cable and having male connectors respectively connected to the female connectors of the player connector and the socket block, respectively.

전술한 바와 같은 본 발명의 구성에서 단부 접점패턴 각각에는 상하로 관통 형성된 내외 2개의 쓰루홀이 구비되어지되 외측의 쓰루홀을 중간 부분을 따라 절개되어 도전체 단면을 형성시킨 상태에서 MP3 플레이어에 구성된 회로기판의 접점패턴에 납땜 연결되는 구성으로 이루어질 수 있다.In the configuration of the present invention as described above, each of the end contact patterns are provided with two through holes formed inside and outside through the upper and lower parts, but are formed in the MP3 player while cutting the outer through hole along the middle portion to form a conductor cross section. It may be configured to be soldered to the contact pattern of the circuit board.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명의 구성에서 어댑터의 상면 접점패턴 양측에는 패드 형태로 된 한 쌍의 지지패턴이 형성되는 한편, 플레이어 커넥터의 하부에 형성된 접점패턴의 양측에도 지지패턴과 납땜 연결되는 지지패드가 더 형성될 수 있다.Meanwhile, in the configuration of the present invention as described above, a pair of support patterns in the form of pads are formed on both sides of the top contact pattern of the adapter, while the support patterns are soldered and connected to both sides of the contact patterns formed at the bottom of the player connector. Pads may be further formed.

또한, 본 발명의 구성에서 어댑터의 일측에는 MP3 플레이어에 기 설치되어 있는 가이드 돌기에 삽입되어 MP3 플레이어에 구성된 회로기판의 접점패턴과 단부 접점패턴의 정합을 유도하는 2개 이상의 가이드홀이 더 형성될 수 있다.In addition, in the configuration of the present invention, at least one guide hole may be further formed at one side of the adapter to guide the contact pattern of the circuit board configured in the MP3 player and the end contact pattern to be inserted into the guide protrusion pre-installed in the MP3 player. Can be.

그리고, 본 발명의 플레이어 커넥터에는 MP3 플레이어에 형성된 돌기에 삽입되어 상면 접점패턴과 접점핀의 정합을 유도하는 2개 이상의 가이드홈이 더 형성되는 구성으로 이루어질 수 있다.And, the player connector of the present invention may be made of a configuration in which two or more guide grooves are further formed to be inserted into the projection formed in the MP3 player to guide the matching of the upper surface contact pattern and the contact pin.

아울러, 본 발명에 따른 구성에서 접점핀은 ZIF(Zero Insertion Force) 타입으로 이루어질 수 있으며, 낸드 플래시 메모리는 SOP(Small Outline Package) 형태로 이루어질 수 있다.In addition, the contact pin in the configuration according to the present invention may be made of ZIF (Zero Insertion Force) type, the NAND flash memory may be made in the form of Small Outline Package (SOP).

본 발명의 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에 따르면 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어 낸드 플래시 메모리를 실제 상용되고 있는 MP3 플레이어에 전기적으로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 결과에 대한 신뢰성을 제고시킬 수가 있다.According to the NAND flash memory test system for an MP3 player of the present invention, in testing a NAND flash memory used for storing sound sources in an MP3 player, the NAND flash memory can be tested while being electrically connected to a commercially available MP3 player. This can increase the reliability of the test results.

또한, 본 발명의 기술에 따르면 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어 낸드 플래시 메모리를 실제 상용되고 있는 MP3 플레이어에 전기적으로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 속도를 향상시킬 수가 있다.In addition, according to the technique of the present invention, in testing the NAND flash memory used for storing sound sources in the MP3 player, the test speed is improved by allowing the NAND flash memory to be tested while being electrically connected to a commercially available MP3 player. I can do it.

아울러, 본 발명에 따른 기술은 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있는 구조의 테스트 시스템을 구성함으로써 테스트 장비의 소형화와 단순화를 기할 수가 있다.In addition, the technology according to the present invention by constructing a test system of the structure that can be tested in the state in which the NAND flash memory actually connected to a commercially available MP3 player in testing the NAND flash memory used for storing the sound source in the MP3 player Miniaturization and simplification of test equipment can be achieved.

나아가. 본 발명에 따른 기술은 MP3 플레이어에서 음원 저장용으로 사용되는 낸드 플래시 메모리를 테스트함에 있어서 낸드 플래시 메모리를 상용되고 있는 MP3 플레이어에 실제로 연결시킨 상태에서 테스트할 수 있는 구조의 테스트 시스템을 구성함으로써 저렴한 구조의 테스트 장비를 제공할 수가 있다.Furthermore. The technique according to the present invention is an inexpensive structure by constructing a test system that can test a NAND flash memory while actually connecting the NAND flash memory to a commercially available MP3 player in testing a NAND flash memory used for storing sound in an MP3 player. Test equipment can be provided.

이하에는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에 대해 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, a NAND flash memory test system for an MP3 player according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2 는 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템을 보인 전체적인 개략 구성도, 도 3a 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공전 상태를 보인 사시 구성도, 도 3b 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공후 상태를 보인 사시 구성도, 도 4a 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공전 상태를 보인 평면 구성도, 도 4b 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공후 상태를 보인 평면 구성도이다.Figure 2 is a schematic overall configuration showing a NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention, Figure 3a is a perspective configuration diagram showing a state before the outer processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention, Figure 3b Fig. 4A is a plan view showing the state before the external processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention. Fig. 4B is a plan view showing the state before the external processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention. In the NAND flash memory test system according to the present invention is a plan view showing the state after the outer processing of the adapter.

도 2 내지 도 4 에 도시한 바와 같이 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템의 전체적인 구성은 크게 MP3 플레이어(MP3P : 10)의 회로기판(12)에서 납땜을 해체하여 낸드 플래시 메모리(20)를 제거한 자리에 플레이어 커넥터(110)를 고정하기 위해 납땜 고정되는 어댑터(100), 어댑터(100) 상면에 형성된 상면 접점패턴(104)에 납땜 고정되어 어댑터(100)와 전기적으로 연결되 는 플레이어 커넥터(110), 전기적인 기능 테스트가 수행될 낸드 플래시 메모리(20)가 삽입 고정되는 소켓블록(130) 및 플레이어 커넥터(110)와 소켓블록(130)을 전기적으로 연결하는 케이블 뭉치(120)를 포함한 구성으로 이루어진다.2 to 4, the overall configuration of the NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention is largely dismantled from the circuit board 12 of the MP3 player (MP3P: 10) to remove the NAND flash memory 20. ) The player 100 is soldered and fixed to the top contact pattern 104 formed on the top of the adapter 100 and the adapter 100 that is soldered and fixed to fix the player connector 110 in the place where the player 100 is electrically connected to the adapter 100. Connector 110, a socket block 130 into which the NAND flash memory 20 to be subjected to electrical functional tests is inserted, and a bundle of cables 120 electrically connecting the player connector 110 to the socket block 130; It consists of the included configuration.

전술한 바와 같은 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템의 구성에서 낸드 플래시 메모리(20)를 MP3 플레이어(MP3P : 10)에서 분리 설치한 채로 테스트하는 이유는 전기적인 접속여부를 테스트할 낸드 플래시 메모리(20)가 삽입되는 소켓블록(130)을 MP3 플레이어(MP3P : 10)의 회로기판(12)에 직접 설치하는 것이 MP3 플레이어(MP3P : 10)의 공간 및 구조적인 한계에 의해 불가능할 뿐만 아니라 다수의 낸드 플래시 메모리(20)를 동시에 테스트할 공간을 확보하는 것이 불가능하기 때문이다.In the configuration of the NAND flash memory test system for the MP3 player according to the present invention as described above, the reason for testing the NAND flash memory 20 while being installed separately from the MP3 player (MP3P: 10) is to test the electrical connection. Direct installation of the socket block 130 into which the flash memory 20 is inserted into the circuit board 12 of the MP3 player (MP3P: 10) is not only impossible due to the space and structural limitations of the MP3 player (MP3P: 10). This is because it is impossible to secure a space for testing a plurality of NAND flash memories 20 at the same time.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 기술의 구성에서 낸드 플래시 메모리(20)가 제거된 부위의 MP3 플레이어(MP3P : 10)의 회로기판(12)에는 다수의 접점패턴(14), 예를 들어 각 측면에 24개씩 총 48개의 접점패턴(14)이 간격을 두고 양측에 나란히 형성되어 있다. 따라서, 여기에 납땜 고정되는 어댑터(100) 또한 각 측면에 다수의 접점, 예를 들어 24개의 단부 접점패턴(102)이 형성되어 있어야 한다.On the other hand, the circuit board 12 of the MP3 player (MP3P: 10) where the NAND flash memory 20 is removed in the configuration of the technology according to the present invention as described above, a plurality of contact patterns 14, for example A total of 48 contact patterns 14, 24 on each side, are formed side by side at intervals. Accordingly, the adapter 100 to be soldered thereto should also have a plurality of contacts formed on each side, for example, 24 end contact patterns 102.

그리고, 전술한 어댑터(100)는 예를 들어 직사각형의 회로기판(101)으로 이루어지는데, 이러한 회로기판(101)의 양측 단부에 마주보고 마련된 각각의 단부 접점패턴(102)에는 상하로 관통 형성된 1쌍, 즉 2개의 쓰루홀(through hole : 102a)이 구비되어 있다. 따라서, 어댑터(100)의 단부 접점패턴(102a)을 MP3 플레이 어(MP3P : 10)의 회로기판(12)에 납땜 고정하기 위해서는 각각의 단부 접점패턴(102) 외측의 쓰루홀(102a)을 중간 부분을 따라 절개하여 어댑터(100)를 구성하는 회로기판(101)의 절개단면(102a-1)을 제거하게 되는데, 이러한 절개단면(102a-1)은 전기적인 도전체로 이루어져 있어 MP3 플레이어측 회로기판(12)의 접점패턴(14)과 납땜 결합이 가능해진다.In addition, the above-described adapter 100 is made of, for example, a rectangular circuit board 101, each end contact pattern 102 provided to face the opposite ends of the circuit board 101 is formed through one up and down A pair, ie two through holes 102a, is provided. Therefore, in order to solder and fix the end contact pattern 102a of the adapter 100 to the circuit board 12 of the MP3 player (MP3P: 10), the through holes 102a outside the respective end contact patterns 102 are intermediate. The cut section 102a-1 of the circuit board 101 constituting the adapter 100 is removed by cutting along the portion, and the cut section 102a-1 is made of an electrical conductor, so the MP3 player side circuit board is removed. Solder bonding with the contact pattern 14 of (12) becomes possible.

또한, 전술한 어댑터(100)의 상면에는 내부 배선 패턴에 의해 단부 접점패턴(102)과 전기적으로 연결되는 상면 접점패턴(104)이 형성되고, 이러한 상면 접점패턴(104)의 양측에는 어댑터(100)에 플레이어 커넥터(110)를 보다 확실하게 납땜 고정하기 위해 패드 형태로 형성된 한 쌍의 지지패턴(103)이 마주보고 마련되어 있다. 도면에서 미설명 부호 105는 MP3 플레이어(MP3P : 10)에 기 설치되어 있는 가이드 돌기(도시하지 않음)에 삽입되어 MP3 플레이어(MP3P : 10)의 회로기판(12)에 형성된 접점패턴(14)과 단부 접점패턴(102)의 정합을 유도하는 가이드홀을 나타낸다. 이러한 가이드홀(105)은 대각선으로 마주한 채로 2개가 형성되는 것이 바람직하다.In addition, an upper surface contact pattern 104 electrically connected to the end contact pattern 102 by an internal wiring pattern is formed on the upper surface of the adapter 100 described above, and the adapter 100 is provided on both sides of the upper contact pattern 104. In order to more reliably solder the player connector 110 to a), a pair of support patterns 103 formed in the form of pads are provided facing each other. In the drawing, reference numeral 105 denotes a contact pattern 14 formed on a circuit board 12 of the MP3 player MP3P 10 inserted into a guide protrusion (not shown) that is pre-installed in the MP3 player MP3P 10. A guide hole for inducing registration of the end contact pattern 102 is shown. Two such guide holes 105 are preferably formed diagonally facing each other.

다음으로, 플레이어 커넥터(110)의 커넥터 본체(112)의 하부에는 어댑터(100)와의 사이에서 납땜 연결을 위해 어댑터(100)의 상면 접점패턴(104)과 일대일로 정합되는 접점핀(도시하지 않음)이 마련되어 있고, 이러한 접점핀의 양측에는 어댑터(100)의 지지패턴(103)과 납땜 결합되는 지지패드(도시하지 않음)가 형성되어 있다. 플레이어 커넥터(110)의 측면에는 또한 케이블 뭉치(120)의 플레이어측 수커넥터(122)가 삽입되는 플레이어측 암커넥터(114)가 형성되어 있다. 도면에서 미설명 부호 116은 MP3 플레이어(MP3P : 10)에 기 형성되어 있는 돌기에 삽입되어 어댑터(100)의 상면 접점패턴(104)과 접점핀의 정합을 유도하는 가이드홈을 나타낸다. 이때, 플레이어 커넥터(110)의 접점핀은 ZIF(Zero Insertion Force) 타입으로 형성되어 있다.Next, a contact pin (not shown) that is matched one-to-one with the top contact pattern 104 of the adapter 100 for soldering connection between the adapter body 100 and the lower part of the connector body 112 of the player connector 110. ) Is provided, and support pads (not shown) are soldered to the support patterns 103 of the adapter 100 on both sides of the contact pins. On the side of the player connector 110 is also formed a player side female connector 114 into which the player side male connector 122 of the cable bundle 120 is inserted. In the drawing, reference numeral 116 denotes a guide groove which is inserted into a protrusion pre-formed in the MP3 player (MP3P: 10) to induce matching of the upper contact pattern 104 and the contact pin of the adapter 100. At this time, the contact pin of the player connector 110 is formed of a Zero Insertion Force (ZIF) type.

한편, 소켓블록(130)은 그 본체(132)에 테스트될 1개 이상, 바람직하게는 2개 내지 4개의 낸드 플래시 메모리(20)가 삽입될 2개 내지 4개의 소켓(134)이 구비되어 이루어질 수 있고, 이러한 소켓블록(130)의 적소에는 케이블 뭉치(120)의 소켓블록측 수커넥터(126)와 전기적으로 연결되는 소켓블록측 암커넥터(136)가 형성되어 있다. 또한, 소켓블록(130)에는 비록 도시되어 있지는 않지만 소켓블록(130)의 각 소켓(134)에 형성된 접점핀(134a)과 여기에 삽입된 낸드 플래시 메모리(20)를 확실하게 접촉시키기 위한 푸셔가 구비되어 있다.Meanwhile, the socket block 130 includes two or four sockets 134 to be inserted into one or more, preferably two to four NAND flash memories 20 to be tested in the main body 132. The socket block female connector 136 is electrically connected to the socket block male connector 126 of the cable bundle 120 in place of the socket block 130. In addition, although not shown, the socket block 130 includes a pusher for reliably contacting the contact pin 134a formed at each socket 134 of the socket block 130 and the NAND flash memory 20 inserted therein. It is provided.

그리고, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 구성에서 케이블 뭉치(120)는 플레이어 커넥터(110)의 플레이어측 암커넥터(114)와 소켓블록(130)의 소켓블록측 암커넥터(136)에 각각 연결되는 플레이어측 수커넥터(122)와 소켓블록측 수커넥터(126) 및 이들 사이를 전기적으로 연결하는 전기 케이블(124)의 구성으로 이루어진다.And, in the configuration according to the present invention as described above, the bundle of cables 120 are connected to the female connector 114 of the player connector 110 and the socket block side female connector 136 of the socket block 130, respectively. The player side male connector 122 and the socket block side male connector 126 and an electrical cable 124 electrically connecting them are formed.

전술한 바와 같은 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템의 구성에서 낸드 플래시 메모리(20)를 테스트하기 위해서는 먼저, 케이블 뭉치(120)의 플레이어측 수커넥터(122)와 소켓블록측 수커넥터(126)를 플레이어 커넥터(110)의 플레이어측 암커넥터(114)와 소켓블록(130)의 소켓블록측 암커넥터(136) 각각에 삽입 결합하여 MP3 플레이어(MP3P : 10)와 소켓블록(130)을 전기적으로 연결시킨다.In order to test the NAND flash memory 20 in the configuration of the NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention having the above-described configuration, first, the male connector 122 and the socket block of the player bundle of the cable bundle 120 are formed. MP3 player (MP3P: 10) and socket block by inserting and connecting the male connector 126 to the female connector 114 of the player connector 110 and the female connector 136 of the socket block side of the socket block 130, respectively. Electrically connect 130.

다음으로, 소켓블록(130)의 각 소켓(134)에 낸드 플래시 메모리(20)를 삽입한 상태에서 푸셔를 통해 소켓블록(130)과 낸드 플래시 메모리(20) 사이의 접점 연결을 확립한다. 이후에 MP3 플레이어(MP3P : 10)를 통해 미리 정해진 테스트 데이터를 기록하고, 다시 이렇게 기록된 내용을 출력한 후에 테스트 데이터와 비교함으로써 낸드 플래시 메모리(20)가 MP3 플레이어(MP3P : 10)에 연결된 상태에서 정확하게 동작하는지를 테스트하게 된다.Next, a contact connection between the socket block 130 and the NAND flash memory 20 is established through the pusher while the NAND flash memory 20 is inserted into each socket 134 of the socket block 130. After that, the predetermined test data is recorded through the MP3 player (MP3P: 10), and the recorded data is output again, and then compared with the test data, so that the NAND flash memory 20 is connected to the MP3 player (MP3P: 10). Will test for correct operation.

이상에서와 같이 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템은 이미 상용되고 있는 MP3 플레이어(MP3P : 10)를 이용하여 낸드 플래시 메모리(20)의 전기적인 접속여부를 테스트할 수 있는 시스템으로, 이러한 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템은 실제 상용되고 있는 MP3 플레이어(MP3P : 10)를 통해 낸드 플래시 메모리(20)의 전기적인 접속여부를 테스트함으로써 보다 정확한 테스트가 이루어질 수 있도록 한다.As described above, the NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention is a system capable of testing whether the NAND flash memory 20 is electrically connected using an MP3 player (MP3P: 10), which is already commercially available. The NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention allows a more accurate test to be performed by testing whether the NAND flash memory 20 is electrically connected through an actual MP3 player (MP3P: 10).

또한, 전술한 바와 같이 이미 상용되고 있는 MP3 플레이어(MP3P : 10)를 이용하여 낸드 플래시 메모리(20)의 전기적인 접속여부를 테스트할 수 있는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템을 구성함으로써 테스트 장비의 소형화와 단순화를 기할 수 있음은 물론, 저렴한 구조의 테스트 장비를 제공할 수가 있다.In addition, as described above, by configuring a NAND flash memory test system for the MP3 player that can test whether the NAND flash memory 20 is electrically connected using an MP3 player (MP3P: 10) that is already commercially available. In addition to miniaturization and simplicity, it is possible to provide test equipment with low cost.

본 발명의 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템은 전술한 실시예에 국한되지 않고 본 발명의 기술 사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하 여 실시할 수가 있다.The NAND flash memory test system for an MP3 player of the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be modified in various ways within the scope of the technical idea of the present invention.

도 1 은 일반적인 MP3 플레이어의 회로 기판에 낸드 플래시 메모리가 탑재된 상태를 보인 개략 단면도.1 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a NAND flash memory is mounted on a circuit board of a typical MP3 player.

도 2 는 본 발명에 따른 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템을 보인 전체적인 개략 구성도.2 is a schematic overall configuration diagram showing a NAND flash memory test system for an MP3 player according to the present invention;

도 3a 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공전 상태를 보인 사시 구성도.Figure 3a is a perspective configuration showing a state before the outer processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention.

도 3b 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공후 상태를 보인 사시 구성도.Figure 3b is a perspective configuration showing a state after the outer shell processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention.

도 4a 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공전 상태를 보인 평면 구성도.Figure 4a is a plan view showing a state before the outer processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention.

도 4b 는 본 발명에 따른 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템에서 어댑터의 외각 가공후 상태를 보인 평면 구성도.Figure 4b is a plan view showing a state after the outer shell processing of the adapter in the NAND flash memory test system according to the present invention.

[도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명][Description of Symbols for Main Parts of Drawing]

10. MP# 플레이어 12. 회로기판10. MP # Player 12. Circuit Board

14. 접점패턴 20. 낸드 플래시 메모리14. Contact pattern 20. NAND flash memory

100. 어댑터 101. 회로기판100. Adapter 101. Circuit board

102. 단부 접점패턴 102a. 쓰루홀102. End contact pattern 102a. Through Hole

102a-1. 절개단면 103. 지지패턴102a-1. Incision section 103. Support pattern

104. 상면 접점패턴 105. 가이드홀104. Top Contact Pattern 105. Guide Hole

110. 플레이어 커넥터 112. 커넥터 본체110. Player connector 112. Connector body

114. 플레이어측 암커넥터 120. 케이블 뭉치114. Female connector on player side 120. Bundle of cables

122. 플레이어측 수커넥터 124. 전기 케이블122. Male connector on player side 124. Electrical cable

126. 소켓블록측 수커넥터 130. 소켓블록126. Male connector on the socket block side 130. Socket block

132. 소켓블록 본체 134. 소켓132.Socket block body 134.Socket

134a. 접점핀 136. 소켓블록측 암커넥터134a. Contact pin 136. Female connector on the socket block side

Claims (7)

양측 단부에 MP3 플레이어를 구성하는 회로기판의 접점패턴에 납땜 연결되는 단부 접점패턴이 형성되어 MP3 플레이어의 회로기판에서 낸드 플래시 메모리를 제거한 자리에 납땜 고정되어지되 상면에는 상기 단부 접점패턴과 전기적으로 연결된 채로 노출되는 상면 접점패턴이 형성된 어댑터;End contact patterns are soldered and connected to the contact patterns of the circuit board constituting the MP3 player at both ends, and are soldered and fixed in place where the NAND flash memory is removed from the circuit board of the MP3 player, but the upper surface is electrically connected to the end contact pattern. An adapter having a top contact pattern exposed while remaining; 하부에 접점핀이 형성되어 상기 상면 접점패턴에 납땜 연결되어지되 일측에는 암커넥터가 형성된 플레이어 커넥터;A contact pin formed at a lower side thereof to be soldered to the upper contact pattern, and a player connector having a female connector formed at one side thereof; 테스트될 낸드 플래시 메모리가 삽입 고정되는 1개 이상의 소켓이 구비되어지되 일측에는 암커넥터가 형성된 소켓블록;A socket block having one or more sockets to which the NAND flash memory to be tested is inserted and fixed, one side of which has a female connector; 전기 케이블과 상기 전기 케이블의 양단에 설치되어 각각 상기 플레이어 커넥터와 소켓블록 각각의 암커넥터에 연결되는 수커넥터가 구비된 케이블 뭉치;A bundle of cables installed at both ends of the electrical cable and the electrical cable and having male connectors respectively connected to the female connectors of the player connector and the socket block; 상기 어댑터의 상면 접점패턴 양측에 패드 형태로 형성된 한 쌍의 지지패턴; 및A pair of support patterns formed in pads on both sides of the top contact pattern of the adapter; And 상기 플레이어 커넥터의 하부에 형성된 접점패턴의 양측에 형성되어지되 상기 지지패턴과 납땜 연결되는 지지패드를 포함한 구성으로 이루어진 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.NAND flash memory test system for MP3 player is formed on both sides of the contact pattern formed on the lower portion of the player connector, including a support pad that is soldered and connected to the support pattern. 제 1 항에 있어서, 상기 단부 접점패턴 각각에는 상하로 관통 형성된 내외 2개의 쓰루홀이 구비되어지되 상기 쓰루홀 중 외측에 형성된 쓰루홀을 중간 부분을 따라 절개되어 도전체 단면을 형성시킨 상태에서 상기 MP3 플레이어에 구성된 회로기판의 접점패턴에 납땜 연결되는 것을 특징으로 하는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.According to claim 1, wherein each of the end contact pattern is provided with two through holes formed up and down through the upper and lower through the through hole formed in the outside of the through holes along the middle portion to form a cross-section of the conductor A NAND flash memory test system for an MP3 player, characterized in that it is soldered and connected to a contact pattern of a circuit board configured in the MP3 player. 삭제delete 제 2 항에 있어서, 상기 어댑터의 일측에는 상기 MP3 플레이어에 기 설치되어 있는 가이드 돌기에 삽입되어 상기 MP3 플레이어에 구성된 회로기판의 접점패턴과 상기 단부 접점패턴의 정합을 유도하는 2개 이상의 가이드홀이 더 형성된 것을 특징으로 하는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.According to claim 2, One side of the adapter has two or more guide holes which are inserted into the guide projections pre-installed in the MP3 player to guide the contact pattern of the circuit board configured in the MP3 player and the end contact pattern NAND flash memory test system for MP3 player, characterized in that further formed. 제 4 항에 있어서, 상기 플레이어 커넥터에는 상기 MP3 플레이어에 형성된 돌기에 삽입되어 상기 상면 접점패턴과 접점핀의 정합을 유도하는 2개 이상의 가이드홈이 더 형성된 것을 특징으로 하는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.5. The NAND flash memory test of claim 4, wherein the player connector further includes two or more guide grooves inserted into protrusions formed in the MP3 player to induce matching of the upper contact pattern and the contact pin. system. 제 5 항에 있어서, 상기 접점핀은 ZIF(Zero Insertion Force) 타입으로 이루어진 것을 특징으로 하는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.The NAND flash memory test system of claim 5, wherein the contact pin is formed of a Zero Insertion Force (ZIF) type. 제 1 항, 제 2 항 그리고 제 4 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 낸드 플래시 메모리는 SOP(Small Outline Package) 형태로 이루어진 것을 특징으로 하는 MP3 플레이어용 낸드 플래시 메모리 테스트 시스템.The NAND flash memory test system of claim 1, wherein the NAND flash memory is in the form of a small outline package (SOP).
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JP2006138745A (en) * 2004-11-12 2006-06-01 Sharp Corp Substrate inspection method and electronic device

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