KR101051662B1 - 휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 - Google Patents
휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101051662B1 KR101051662B1 KR1020090026513A KR20090026513A KR101051662B1 KR 101051662 B1 KR101051662 B1 KR 101051662B1 KR 1020090026513 A KR1020090026513 A KR 1020090026513A KR 20090026513 A KR20090026513 A KR 20090026513A KR 101051662 B1 KR101051662 B1 KR 101051662B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- thin film
- metal thin
- film layer
- insulator
- Prior art date
Links
- 238000005452 bending Methods 0.000 title abstract description 22
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 121
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 87
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 81
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 81
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 61
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 59
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 58
- -1 planarization Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 claims description 39
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 22
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 16
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 14
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 13
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 11
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 9
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 9
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 8
- ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N tungsten trioxide Chemical compound O=[W](=O)=O ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 4
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 4
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 claims description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 130
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 5
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 3
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001720 action spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000013086 organic photovoltaic Methods 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3205—Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
- H01L21/321—After treatment
- H01L21/32115—Planarisation
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
- H10K30/15—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
- H10K30/151—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2 the wide bandgap semiconductor comprising titanium oxide, e.g. TiO2
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
- H10K30/15—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
- H10K30/152—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2 the wide bandgap semiconductor comprising zinc oxide, e.g. ZnO
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
- H10K77/111—Flexible substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/07—Polyamine or polyimide
- H01L2924/07025—Polyimide
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/351—Thickness
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
Description
종류 | 상대적 전기 전도도 | n (@ 550nm) | k (@ 550nm) | a (@ 550nm) |
Ag | 100 | 0.124 | 3.348 | 0.0764 |
Cu | 94 | 0.950 | 2.577 | 0.0588 |
Au | 67 | 0.346 | 2.731 | 0.0623 |
Al | 57 | 0.963 | 6.700 | 0.1528 |
Claims (15)
- 투명 전도막에 있어서,기판;상기 기판 상부에 적층되며, 상기 기판의 표면을 평탄화시키는 평탄화 층;상기 평탄화 층 상부에 적층된 제1 절연체 층;상기 제1 절연체 층 상부에 적층되며, 광학적 소멸 계수가 낮고 전도도가 우수한 금속 또는 그 혼합물로 이루어진 금속 박막 층; 및상기 금속 박막 층 상부에 적층된 제2 절연체 층을 포함하며,상기 금속 박막 층의 두께는,상기 투명 전도막의 전기전도도 및 광학 투과율을 기반으로 결정되고,상기 제1 절연체 층 및 제2 절연체 층 중 적어도 하나는,상기 투명 전도막에서의 전하 주입(carrier injection) 특성에 따라 전하 이동층으로 이용되며, 황화 아연(ZnS), 산화 텅스텐(WO3), 산화 아연(ZnO), 산화 티타늄(TiOx) 또는 각각의 혼성계를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.제 1항에 있어서,상기 기판은 PET(polyethylen terephthalate), PES(polyether sulfone), PEN(polyethylen naphthalate), 폴리이미드(polyimide)를 포함하는 유연성 재질로 구현되는 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 제 1항에 있어서,상기 평탄화 층은 고분자 층, 솔-젤 층, 스핀-온 글래스, 산화막, 황화막, 질화막 중의 적어도 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 삭제
- 청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.제 1항에 있어서,상기 제1 절연체 층 및 상기 제2 절연체 층의 두께는 1nm 내지 200nm의 범위 내에서 형성되는 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 제 1항에 있어서,상기 제1 절연체 층은 서로 다른 종류의 복층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 제 1항에 있어서,상기 제2 절연체 층은 서로 다른 종류의 복층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.제 1항에 있어서,상기 금속 박막 층은 은(Ag), 금(Au), 구리(Cu) 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 청구항 9은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.제 1항 또는 제 8항에 있어서,상기 금속 박막 층의 상기 소정 두께는 3nm 내지 50nm의 범위 내에서 형성되는 것을 특징으로 하는 투명 전도막.
- 투명 전극에 있어서,기판;상기 기판 상부에 적층되며, 상기 기판의 표면을 평탄화시키는 평탄화 층;상기 평탄화 층 상부에 적층된 제1 절연체 층;상기 제1 절연체 층 상부에 적층되며, 광학적 소멸 계수가 낮고 전도도가 우수한 금속 또는 그 혼합물로 이루어진 금속 박막 층;상기 금속 박막 층 상부에 적층된 제2 절연체 층; 및상기 제2 절연체 층 상부에 적층된 유기 반도체 층을 포함하며,상기 금속 박막 층의 두께는,상기 투명 전극의 전기전도도 및 광학 투과율을 기반으로 결정되고,상기 제1 절연체 층 및 제2 절연체 층 중 적어도 하나는,상기 투명 전극에서의 전하 주입(carrier injection) 특성에 따라 전하 이동층으로 이용되며, 황화 아연(ZnS), 산화 텅스텐(WO3), 산화 아연(ZnO), 산화 티타늄(TiOx) 또는 각각의 혼성계를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 전극.
- 유기 전자 소자에 있어서,기판;상기 기판 상부에 적층된 하부 박막 층;상기 하부 박막 층 상부에 적층된 적어도 하나의 유기 박막 층;상기 유기 박막 층 상부에 적층된 제1 절연체 층;상기 제1 절연체 층 상부에 적층되며, 광학적 소멸 계수가 낮고 전도도가 우수한 금속 또는 그 혼합물로 이루어진 상부 금속 박막 층; 및상기 상부 금속 박막 층 상부에 적층되는 제2 절연체 층을 포함하며,상기 상부 금속 박막 층의 두께는, 상기 유기 전자 소자의 전기 전도도 및 광학 투과율을 기반으로 결정되고,상기 제1 절연체 층 및 제2 절연체 층 중 어느 하나는,상기 유기 전자 소자에서의 전하 주입(carrier injection) 특성에 따라 전하 이동층으로 이용되며, 황화 아연(ZnS), 산화 텅스텐(WO3), 산화 아연(ZnO), 산화 티타늄(TiOx) 또는 각각의 혼성계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 전자 소자.
- 제 11항에 있어서,상기 기판 상에 적층되며, 상기 기판의 표면을 평탄화시키는 평탄화 층을 더 포함하며,상기 하부 박막 층은 상기 평탄화 층 위에 적층되는 것을 특징으로 하는 유기 전자 소자.
- 유기 전자 소자에 있어서기판;상기 기판 상부에 적층되며, 상기 기판의 표면을 평탄화시키는 평탄화 층;상기 평탄화 층 상부에 적층된 제1 절연체 층;상기 제1 절연체 층 상부에 적층되며, 광학적 소멸 계수가 낮고 전도도가 우수한 금속 또는 그 혼합물로 이루어진 하부 금속 박막 층;상기 하부 금속 박막 층 위에 적층된 제2 절연체 층;상기 제2 절연체 층 상부에 적층된 적어도 하나의 유기 박막 층; 및상기 유기 박막 층 상부에 적층된 상부 박막 층을 포함하며,상기 하부 금속 박막 층의 두께는, 상기 유기 전자 소자의 전기 전도도 및 광학 투과율을 기반으로 결정되고,상기 제1 절연체 층 및 제2 절연체 층 중 어느 하나는,상기 유기 전자 소자에서의 전하 주입(carrier injection) 특성에 따라 전하 이동층으로 이용되며, 황화 아연(ZnS0, 산화 텅스텐(WO3), 산화 아연(ZnO), 산화 티타늄(TiOx) 또는 각각의 혼성계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 전자 소자.
- 제 11항 내지 제 13항 중의 어느 한 항에 있어서,상기 하부 박막 층 또는 상기 상부 박막 층은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), FTO(F-doped Tin Oxide)를 포함하는 전도성 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기 전자 소자.
- 유기 전자 소자에 있어서,기판;상기 기판 상부에 적층되며, 상기 기판의 표면을 평탄화시키는 평탄화 층;상기 평탄화 층 상부에 적층된 제1 절연체 층;상기 제1 절연체 층 위에 적층된 하부 금속 박막 층;상기 하부 금속 박막 층 위에 적층된 제2 절연체 층;상기 제2 절연체 층 위에 적층된 적어도 하나의 유기 박막 층;상기 유기 박막 층 위에 적층된 제3 절연체 층;상기 제3 절연체 층 위에 적층된 상부 금속 박막 층; 및상기 상부 금속 박막 층 위에 적층되는 제4 절연체 층을 포함하며,상기 하부 금속 박막 층 및 상기 상부 금속 박막 층은,광학적 소멸 계수가 낮고 전도도가 우수한 금속 또는 그 혼합물로 이루어지고, 상기 하부 금속 박막 층의 두께 및 상기 상부 금속 박막 층의 두께는, 상기 유기 전자 소자의 전기 전도도 및 광학 투과율을 기반으로 결정되고,상기 제1 절연체 층 내지 제4 절연체 층 중 적어도 하나는,상기 유기 전자 소자에서의 전하 주입(carrier injection) 특성에 따라 전하 이동층으로 이용되며, 황화 아연(ZnS), 산화 텅스텐(WO3), 산화 아연(ZnO), 산화 티타늄(TiOx) 또는 각각의 혼성계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 전자 소자.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090026513A KR101051662B1 (ko) | 2009-03-27 | 2009-03-27 | 휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090026513A KR101051662B1 (ko) | 2009-03-27 | 2009-03-27 | 휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100108058A KR20100108058A (ko) | 2010-10-06 |
KR101051662B1 true KR101051662B1 (ko) | 2011-07-26 |
Family
ID=43129688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090026513A KR101051662B1 (ko) | 2009-03-27 | 2009-03-27 | 휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101051662B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101308755B1 (ko) * | 2011-07-08 | 2013-09-12 | 한국과학기술원 | 유기 발광 소자 및 유기 발광 소자를 포함하는 디스플레이 장치 |
KR101290714B1 (ko) * | 2012-02-03 | 2013-07-29 | 한국과학기술원 | 투명전극 제조방법 |
KR101394967B1 (ko) * | 2012-08-10 | 2014-05-14 | 한국과학기술원 | 투명전극 제조방법 및 투명전극을 포함하는 전자소자 제조방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1170610A (ja) * | 1996-07-26 | 1999-03-16 | Asahi Glass Co Ltd | 透明導電膜、および透明電極の形成方法 |
KR100797077B1 (ko) * | 2007-04-04 | 2008-01-22 | 한양대학교 산학협력단 | 유동적 디스플레이용 전극, 이의 제조방법 및 이를포함하는 유동적 디스플레이 |
KR20080079891A (ko) * | 2007-02-28 | 2008-09-02 | 주식회사 동진쎄미켐 | 태양전지용 투명전극 및 그 제조방법 |
KR20090066245A (ko) * | 2007-12-18 | 2009-06-23 | 한국전자통신연구원 | 투명전도막 및 이의 제조방법 |
-
2009
- 2009-03-27 KR KR1020090026513A patent/KR101051662B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1170610A (ja) * | 1996-07-26 | 1999-03-16 | Asahi Glass Co Ltd | 透明導電膜、および透明電極の形成方法 |
KR20080079891A (ko) * | 2007-02-28 | 2008-09-02 | 주식회사 동진쎄미켐 | 태양전지용 투명전극 및 그 제조방법 |
KR100797077B1 (ko) * | 2007-04-04 | 2008-01-22 | 한양대학교 산학협력단 | 유동적 디스플레이용 전극, 이의 제조방법 및 이를포함하는 유동적 디스플레이 |
KR20090066245A (ko) * | 2007-12-18 | 2009-06-23 | 한국전자통신연구원 | 투명전도막 및 이의 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100108058A (ko) | 2010-10-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kim et al. | Bending stability of flexible amorphous IGZO thin film transistors with transparent IZO/Ag/IZO oxide–metal–oxide electrodes | |
KR101680928B1 (ko) | 투명 전도성 산화물, 금속 및 산화물의 조합에 기초한 투명 전극 | |
Cattin et al. | Toward indium‐free optoelectronic devices: dielectric/metal/dielectric alternative transparent conductive electrode in organic photovoltaic cells | |
US20120260983A1 (en) | Multilayer metallic electrodes for optoelectronics | |
CN104979037B (zh) | 一种热稳定性增强的透明导电薄膜及其制备方法和应用 | |
Krantz et al. | Solution‐processed metallic nanowire electrodes as indium tin oxide replacement for thin‐film solar cells | |
CN100495719C (zh) | 带有黑矩阵的平板显示装置及其制造方法 | |
KR102418493B1 (ko) | 이차원 반도체를 포함하는 박막 트랜지스터 및 이를 포함하는 표시장치 | |
US20090278120A1 (en) | Thin Film Transistor | |
Yang et al. | Flexible organic light-emitting diodes with ZnS/Ag/ZnO/Ag/WO3 multilayer electrode as a transparent anode | |
CN103258968A (zh) | 一种主动式oled显示器件及其制备方法 | |
Bou et al. | Numerical optimization of multilayer electrodes without indium for use in organic solar cells | |
Choi et al. | Thermally-evaporated C60/Ag/C60 multilayer electrodes for semi-transparent perovskite photovoltaics and thin film heaters | |
Cattin et al. | New dielectric/metal/dielectric electrode for organic photovoltaic cells using Cu: Al alloy as metal | |
KR101051662B1 (ko) | 휨 특성이 뛰어난 투명 전도막, 및 그것을 이용한 투명 전극 및 유기 전자 소자 | |
Park et al. | Efficient TADF-based blue OLEDs with 100% stretchability using titanium particle-embedded indium zinc oxide mesh electrodes | |
CN102891163A (zh) | 有机电激发光显示装置 | |
US9871217B1 (en) | Transparent conductive film and electro-optical device having the same | |
KR101268696B1 (ko) | 투명 기판 또는 플렉시블 기판을 이용한 투명 또는 플렉서블한 비휘발성 메모리 소자 제조 방법 | |
KR20110010019A (ko) | 투명 기판 또는 플렉시블 기판을 이용한 투명 또는 플렉서블한 비휘발성 메모리 소자 제조 방법 | |
US11489081B2 (en) | Photoelectric conversion device and method of manufacturing photoelectric conversion device | |
US20150155521A1 (en) | Transparent supported electrode for oled | |
KR101832521B1 (ko) | 투명전극 및 이를 포함하는 전자 소자 | |
Chrzanowski et al. | Semi-transparent quantum-dot light-emitting diode with ultrathin Au electrode embedded in solution-processed coatings | |
KR101820038B1 (ko) | 투명전극 및 이를 포함하는 유기 전자소자 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140630 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150629 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160627 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170627 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180702 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190625 Year of fee payment: 9 |