KR101004881B1 - 방사선 수집 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 방사선을 수집하기 위한 방법을 제공한다. 방사선 수집 장치가 롤로 배향된 방사선을 수집하도록 롤 내에 배치된다. 본 발명은 또한 외부면을 갖는 롤을 포함한다. 방사선 수집 장치는 롤 내에 배치된다.
선량, 방사선, 롤, 수집 장치, 측정 장치

Description

방사선 수집 방법 {METHOD FOR COLLECTION RADIATION}
본 발명은 방사 에너지 수집 장치에 관한 것이다. 보다 구체적으로는, 본 발명은 공정 라인에서 사용하는 롤 기반(roll based) 방사 에너지 수집 및 측정 장치에 관한 것이다.
방사 에너지 공급원을 사용하는 처리 시스템은 많은 산업 공정에서 공지되어 있다. 하나의 예시적인 처리 시스템은 제품 내에서 또는 제품 상에서 화학 반응을 발생시키도록 제조 라인에서 제품 부근에 배치된 자외선(UV) 램프 또는 전구를 사용한다. 흔히, 이러한 화학 반응은 경화로[일부 산업에서는 건조로] 지칭된다. 가시 및 비가시 스펙트럼 모두에서 UV 램프에 의해 방사되는 방사 에너지의 파장은 요구되는 화학 변화를 달성하기 위하여 제품에 에너지를 전달하는데 특히 효과적인 것으로 판명되었다.
제품 상으로 방사되는 에너지 파장은 전형적으로 대략 2.5 마이크로미터 내지 대략 190 나노미터의 범위를 갖는다. 시스템에 의해 처리되는 제품은 거의 모든 재료가 가능하지만, 전형적으로 종이, 플라스틱 또는 종이와 유사한 재료[예를 들면, 보드지]의 "웨브"이다. "웨브"는 일련의 롤러를 통해 이송되는 연속적으로 이동하는 재료를 포함한다. 방사 에너지 공급원(전형적으로, 하나 이상의 램프 또는 전구)은 에너지를 웨브 상으로 방사하도록 웨브를 따른 다양한 지점에 배치된다. 웨브의 표면 상의 하나 이상의 코팅 또는 웨브 재료 자체는 이러한 공정 중에 화학 변화를 겪게 된다. 이러한 방식에서, 웨브 상의 코팅(예를 들면, 잉크, 래커 또는 접착제) 또는 웨브 자체는 경화된다.
불행하게도, 각각의 UV 에너지 램프(또는 임의의 다른 에너지 공급원)의 성능은 변화할 수 있다. 새 램프가 오래된 램프의 경우보다 더욱 강하게 에너지를 방사할 수 있다. 동일한 사양을 가진 램프 또한 상이하게 작동할 수 있다. 각각의 램프는 또한 그 길이를 따라 상이하게 작동할 수도 있다. 구체적으로, 상이한 파장이 일 램프로부터 다음 램프까지 보다 강하게 방출될 수 있다. 예상할 수 있는 것처럼, 램프가 오래될수록, 그 성능은 램프가 최종적으로 고장날 때까지 전형적으로 저하된다. 램프에 공급되는 전원도 램프 성능에 영향을 미칠 수 있다. 램프에 대한 전기 공급이 일정하지 않다면, 램프에 의해 발생된 특정 파장은 그 강도가 변화할 수 있다. 램프를 시동하는데 걸리는 시간뿐만 아니라 램프 주위의 공기 온도의 차이도 파장 강도의 변동을 초래할 수 있다. 램프에 의해 방출된 방사 에너지의 강도에 대한 이러한 모든 변화들은 웨브의 경화의 수준을 변화하게 할 수 있다. 그러므로 공정을 최적화하고 일관된 제품을 제공하기 위해서는 웨브의 적절한 경화를 보장하도록 램프에 의해 방출된 방사 에너지의 양(즉, 강도와 노출 시간의 함수로서의 방사선 노출)을 감시할 필요가 있다.
웨브 상에 작용하는 방사 에너지의 양[또는 "선량(dose)"]을 측정하기 위하여 검출 시스템이 요구된다. 공급원이 적절한 방사 에너지를 제공하는지의 여부를 평가하기 위한 하나의 종래의 방법은 램프로부터 하류에 있는 웨브를 검사하는 것 이다. 비록, 이 방법은 웨브가 적절하게 경화되었는지의 여부에 대한 매우 정확한 측정을 제공하지만, 이러한 측정은 공정 내에서 너무 늦게 발생되는데, 이는 적절하게 경화되지 않은 제품이 사용될 수 없기 때문이며, 따라서 폐기되었다.
대안적인 측정 방법은 램프에 의해 방출된 방사 에너지의 양의 시험 측정을 제공하도록 웨브 상에 배치되어 램프와 웨브 사이에서 웨브와 함께 이동하는 소형 통합 측정기(당해 기술 분야에 공지되어 있음)와 같은 전자 장치를 사용하는 것이다. 이러한 방법이 램프 성능의 보다 직접적인 측정을 제공하지만, 이는 설치 중에 작동하고 실제 생산 중에는 작동되지 않으며, 따라서 실제 주행 시간 공정 중에 웨브 상에 작용하는 에너지에 대한 정보를 수집하지는 못한다. 특히, 웨브에 작용하는 방사 에너지의 변화에 대한 측정은 이루어질 수 없다. 역시, 부적절하게 경화된 제품으로 귀결된다. 또한, 소정 주조 공정에서 요구되는 바와 같이 닙 지점과 아이들러 롤을 통해 웨브를 통과시키는 것은 측정이 얻어지기 전에 소형 통합 측정기에 손상을 줄 수 있다.
다른 대안적인 방법은 방사선의 양을 측정하기 위한 광량 장치를 사용하는 것이다. 광량 장치의 화학적 조성은 방사선에 노출되면 변화한다. 예시적인 광량 장치는 방사선에 응답하여 색깔이 변화하는 물질이 내장된 테이프 또는 필름이다. 비록, 이러한 장치가 닙을 통과할 수 있지만, 이러한 장치들을 방사선에 노출시키기 위해서는 장치들을 웨브 상에 수동으로 배치하여야 하며, 판독값을 얻기 위해서 수동으로 제거하여야 한다. 이는 공정 내의 방사선의 연속 측정치가 아니다.
램프에 의해 사용되는 실제 에너지의 "실시간" 측정을 제공하기 위한 시도로 서 각각의 램프에 공급되는 전력의 에너지 배출을 감시하는 다른 방법이 개발되었다. 이 측정법은 램프에 의해 방출되어 연속적으로 웨브 상에 작용하는 방사 에너지의 양의 평가하기에는 매우 개략적이고 부정확한 방법이다. 비록 부정확하지만, 이 방법은 얼마나 많은 양의 방사 에너지가 "실시간"으로 웨브 상에 작용하는지를 결정하려는 시도이다. "실시간"으로 방사 에너지를 측정하는 것은 (예를 들면, 더 긴 또는 더 짧은 처리 시간을 제공하도록 공정을 통과하는 웨브의 속도를 변경함으로써) 웨브의 경화 시간을 보다 정확하게 제어하고, 제품의 손실을 감소시킬 수 있게 한다. 불행하게도, 램프로부터 배출된 에너지의 측정치는 많은 요인에 의해 웨브에 작용하는 방사 에너지의 부정확한 측정치가 되고 실시간 측정에 의해 얻어진 모든 장점을 헛되게 한다. 예를 들면, 광 자체가 오래될수록 변쇠되기 때문에, 램프에 의해 배출된 에너지의 양은 방출된 방사선의 양과 관련하여 변화할 수 있다. 또한, 특정한 양의 전력 배출에 대한 방출된 방사선은 램프들 사이에서 변화된다. 이러한 문제점을 완화하기 위하여, 전자 검출 장치가 램프로부터 방출된 방사 에너지의 직접 출력을 측정하도록 램프 주위에 배치된다. 그러나 공정 주위의 환경 조건(예컨대, 고습도, 고온, RF 방사, 및 공기 중의 접착제, 래커 등과 같은 외부 물질)이 흔히 검출기 내의 전자 장비의 고장과 오작동을 초래한다.
마지막으로, 원격 수집 장치가 개발되어 램프에 의해 방출된 방사 에너지를 수집하여 웨브 주위의 해로운 환경으로부터 이격되어 위치된 검출 장치로 (전형적으로, 광섬유 케이블에 의해) 운반된다. 이러한 장치는 램프의 후방측(웨브와 반대편)에 배치되어, 램프에 의해 방출된 방사 에너지의 양의 직접 측정이 이루어지 도록 한다. 웨브로부터 램프의 반대편에 이러한 장치를 배치하는 것은 2가지의 주요 이유를 위해 이루어지는데, 즉 첫째, 웨브와 램프 사이에는 거의 공간 없고, 둘째 공정 내의 가장 해로운 환경은 웨브 흐름과 램프 하우징의 표면 바로 사이에 있기 때문이다. 웨브와 램프 사이의 공간은 램프로부터 웨브에 작용하는 방사 에너지의 최대 양을 보장할 뿐만 아니라 (일부 공정에서 웨브의 경화에 영향을 줄 수 있는) 산소와 같은 오염 물질을 최소화하기 위하여 작게 설정된다. 주위 환경은 이 지점에서 매우 해로운데, 이는 이 지점이 웨브로부터의 접착제 및 공기 중의 오염 물질뿐만 아니라 램프로부터의 방사선 및 열과 직접 접촉하기 때문이다. 원격 수집 장치가 전술된 문제점의 일부를 해결하지만, 웨브에 작용하는 방사 에너지 강도의 정확한 측정은 여전히 이룰 수 없다. 전형적으로, 투명한 덮개가 공기 중의 오염 물질로부터 램프 요소를 보호하기 위하여 램프 위에 배치된다. 이러한 투명한 덮개는 시간이 지날수록 (공기 중의 오염 물질에 의해) 흐려지고, 이는 램프로부터 방출된 방사 에너지의 일부가 웨브 상에 작용하는 것을 방해한다. 그러므로 램프의 후방에 배치된 수집 장치로는 이러한 열화를 알 수 없고, 웨브 상으로 방사된 에너지의 정확한 측정은 얻어질 수 없다. 상기 장치들 중 어떠한 장치도 웨브에 대한 방사 에너지의 실시간 수집을 허용하지 않는다.
본 발명의 일 실시예는 방사선을 수집하기 위한 방법을 포함한다. 방사선 수집 장치가 롤로 배향된 방사선을 수집하도록 롤 내에 배치된다.
본 발명의 다른 실시예는 방사선을 측정하기 위한 방법에 관한 것이다. 방 사선 수집 장치는 롤 내에 배치된다. 롤은 외부면을 갖고, 수집 장치는 외부면과 접하는 평면에 배치된다. 웨브는 방사선 공급원과 수집 장치 사이에 배치된다. 롤로 배향된 방사선이 수집되며, 수집된 방사선의 특성이 측정된다.
본 발명의 또 다른 실시예는 외부면을 갖는 롤을 포함하는 장치에 관한 것이다. 방사선 수집 장치가 롤 내에 배치된다.
본 발명의 다른 실시예는 외부면을 갖는 롤을 포함하는 장치에 관한 것이다. 방사선의 통과를 허용하기에 충분한 개구가 외부면 내에 배치된다. 방사선 수집 장치는 개구 내에 이동 가능하게 배치된다. 수집 장치로부터 이격되어 배치된 측정 장치가 장치 내에 포함된다. 측정 장치는 수집 장치에 의해 수집된 방사선을 수용하도록 수집 장치에 연결된다. 구동 조립체는 수집 장치에 연결된다. 구동 조립체는 개구의 길이를 따라 수집 장치를 이동시키도록 작동된다.
도1은 본 발명의 수집 장치의 일 실시예를 도시하는 개략도이다.
도2는 본 발명의 에너지 수집 장치의 일 실시예의 사시도이다.
도3은 도2의 선 3-3을 따라 취한 본 발명의 에너지 수집 장치의 부분도이다.
도4는 본 발명의 에너지 수집 장치 기구 조립체의 일 실시예의 사시도이다.
도4a는 본 발명의 에너지 수집 장치의 일 실시예의 사시도이다.
도4b는 본 발명의 에너지 수집 장치의 일 실시예의 사시도이다.
도4c는 본 발명의 에너지 수집 장치의 일 실시예의 사시도이다.
도4d는 본 발명의 에너지 수집 장치의 일 실시예의 사시도이다.
도5는 본 발명의 에너지 수집 장치 기구 조립체의 일 실시예의 분해 사시도이다.
도6은 본 발명의 에너지 수집 장치 기구 조립체 판의 일 실시예의, 도5와 관련하여 반대인 분해 사시도이다.
도7은 광 헤드의 일 실시예의 사시도이다.
도8은 광 헤드의 일 실시예의 분해 사시도이다.
도9는 본 발명의 에너지 수집 장치에 대한 예시적인 조정 그래프를 도시하는 그래프이다.
도10은 본 발명의 에너지 수집 장치에 의해 수집된 예시적인 데이터를 도시하는 그래프이다.
도11은 본 발명의 에너지 수집 장치에 의해 수집된 예시적인 데이터를 도시하는 그래프이다.
전술된 도면 설명이 본 발명의 일 실시예를 설명하고 있지만, 전술된 것처럼 다른 실시예도 고려한다. 모든 경우에서, 이러한 설명은 본 발명에 대한 설명으로서 제공되며 이를 제한하지 않는다. 본 발명의 범주와 사상 내에 있는 수많은 다른 변경과 실시예가 당업자들에 의해 이루어질 수 있음을 이해하여야 한다.
본 발명의 에너지 수집 장치(10)의 일 실시예가 도1에서 예시적인 산업 공정으로 도시되어 있다. 에너지 수집 장치(10)는 롤(14) 내부에 장착된 기구 조립체(12)를 포함한다. 방사선 공급원(16)[예컨대, 자외선(UV) 램프 또는 방사선 방출기]가 롤(14)에 인접하게 배치된다. 연속 이동 웨브(18)(예컨대, 종이, 중합체, 천 또는 금속계 재료)는 방사선 공급원(16)을 지나 방향(20)으로 전진한다. 안내 롤(22)이 웨브(18)를 롤(14) 상으로 배향하도록 사용될 수 있다. 웨브(18)(이하에서는 기판 재료에 도포된 임의의 접착제 또는 다른 층을 포함하는 것으로 가정함)는 웨브(18)가 방사선 공급원(16)과 롤(14) 사이로 진행함에 따라 방사선 공급원(16)으로부터 방출된 방사 에너지에 의해 경화된다. 에너지 수집 장치(10)는 웨브(18)로 배향된 방사 에너지의 실시간 수집을 허용한다. 웨브(18)는 롤(14)과 방사선 공급원(16) 사이에 배치된다.
비록, 이하의 설명에서 에너지 수집 장치(10)가 종이계 또는 중합체계 웨브에 방출된 UV 방사를 이용하는 용도에 사용하기 위하여 형성되는 것으로 설명되지만, 이는 단지 예시적인 목적으로 이루어지는 것이라는 것을 이해하여야 한다. 본 발명의 수집 장치(10)는 롤 또는 롤의 등가물을 사용하는 다수의 다른 웨브 또는 호일에 기초한 공정 용도에 사용될 수 있다. 예를 들면, 전자 비임형 방사선을 사용하는 경화 공정도 본 발명의 에너지 수집 장치(10)를 사용할 수 있다. 설명된 공정은 웨브(18)를 경화하기 위하여 UV형 방사선을 사용하는 것을 언급되기 때문에, 용어 "방사선 공급원(16)"은 "램프(16)"로 서로 교환하여 사용될 것이다.
도2는 자켓(26), 단부 캡(28) 및 지지 샤프트(30)를 포함하는 롤(14)의 사시도를 도시한다. 롤(14)은 전형적으로 알루미늄으로 제조되며, 일 실시예에서 대략 60.325 cm(23 ¾인치)의 길이와 대략 30.48 cm(12 인치)의 직경을 갖는다. 슬롯(32)이 롤(14)의 환형 외부 벽(34)을 완전하게 통과하도록 기계 가공된다. 일 실시예에서, 환형 벽(34)은 대략 19.05 mm(¾ 인치) 내지 대략 25.4 mm(1 인치) 사이의 두께를 갖는다. 샤프트(30)는 자켓(26)에 전형적으로 볼트 고정되는 단부 캡(28)에 연결된다. 단부 캡(28)은 전형적으로 알루미늄으로 제조된다. 샤프트(30)는 롤(14)의 종축(36)을 형성하며, 전형적으로 롤(14)이 (도시 안된) 제공된 지지 구조물과 연결되어 회전하도록 한다. 이러한 회전식 연결은 샤프트(30)와 단부 캡(28) 사이의 접촉 영역 사이에 또는 샤프트(30)와 (도시 안된) 지지 구조물 사이에 (도시 안된) 베어링을 위치시키는 것을 포함하는, 당업자들에게 공지된 임의의 다수의 방법으로 달성될 수 있다. 샤프트(30)는 또한 [예컨대, 롤(14) 내부에 배치된 구성 요소의 배선을 위한] 도관 및/또는 (예컨대, 자켓(26)을 냉각하도록 사용되는 유체를 위한) 파이프의 역할을 할 수도 있다. 버지니아주 블랙스버그 소재의 리톤 폴리 사이언티픽(Litton Poly Scientific)에 의해 제조된 모델 번호 AC6023-24 슬립 링(slip ring)과 같은 (도시 안된) 회전 슬립 링이 회전 가능한 롤(14)에 와이어 체결을 제공하도록 롤(14)과 함께 사용될 수 있다. 유사하게, 회전 워터 결합(도시 안됨)이 롤(14)을 향한 또는 롤부터의 액체를 냉각하도록 하는 체결을 제공하도록 롤(14)에 제공될 수 있다. 롤들은 웨브계 공정에서는 통상적인 것이며, 비록 특정한 롤이 설명되어 있지만, 광범위한 롤들이 본 발명의 사상과 범주를 벗어나지 않고 사용될 수 있다는 것에 주목하여야 한다. 예를 들면, 롤(14)은 완만한 환형 벽(34)을 갖는 것으로 도시되어 있지만, 롤(14)은 웨브를 압착하기 위하여 (점선으로 도시된) 일련의 상승된 패턴(37)을 사용하는 플렉소그래픽형 롤(flexographic type roll) 또는 인쇄형 롤(printing type roll)일 수 있다. 슬롯(32)은 롤에 의한 웨브의 처리에 영향을 미치지 않도록 패턴 내에서 파단선 또는 시임(37A)을 따라 롤(14)을 통해 배치될 수 있다. 또한, 웨브에 기반한 용도(예컨대, 활주 바아 또는 선회부)에 사용되는 다른 종류의 환형면들이 본 발명의 사상과 범주를 벗어나지 않고 이용될 수 있다.
일 실시예에서, 슬롯(32)은 사실상 자켓(26)의 전체 종방향 길이에서 대략 58.24 cm(23 인치)로 연장한다. 또한, 슬롯(32)은 대략 6.35 mm(¼ 인치) 내지 대략 12.7 mm(½ 인치) 사이의 폭을 갖는다. 본 발명의 다른 실시예는 자켓(26)의 종방향 길이를 따라 단지 부분적으로 연장하는 슬롯을 포함한다. 대안적으로, 다수의 슬롯(또는 구멍)이 롤(14)을 따라 종방향으로 및/또는 롤(14)에 대하여 반경방향으로의 다양한 위치에서 자켓(26)을 통해 배치될 수 있다. 에너지 수집 장치에 의해 수집되는 방사선이 통과하는 재료[즉, 점선으로 도시된 투과창(38)]가 롤(14) 내부의 해로운 구성 요소일 수 있는 임의의 물질의 진입 또는 롤(14)에 의한 포함된 물질의 배출을 방지하도록 슬롯(32) 위에 배치될 수 있다. 대안적으로, 전체 롤은 방사선이 자켓(26)을 통과하여 수집 장치(58)에 작용하도록 방사선을 투과시키는 재료로 제조될 수 있다.
도3은 도2의 선 3-3을 따라 취한 롤(14)을 도시한다. 냉각 채널(42)이 자켓(26) 내부로 연장하는 것을 도시되어 있으며, 이는 주조 롤에서 발견되는 전형적인 특징이다. 건 드릴로 가공된 구멍(gun-drilled hole)[예컨대, 대략 9.525 내지 대략 12.7 mm(3/8 인치 내지 ½ 인치) 직경의 리세스(도시 안됨)]가 자켓(26)을 통한 냉각 액체(예컨대, 물)를 위한 경로를 제공하도록 자켓(26) 내에 전형적으로 천공된다. 알루미늄 덮개 부품(도시 안됨)이 냉각 유체를 채널(42) 내부에서 밀봉하도록 냉각 채널(42)에 용접될 수 있다. 볼트 구멍(44)은 단부 캡(28)이 자켓(26)에 볼트 고정되는 것을 허용한다. 자켓(26)의 내부 벽(46) 또한 도시되어 있다.
기구 조립체(12)가 롤(14) 내부에 고정된 것으로 도시되어 있다. 기구 조립체(12)는 판 장착부(52) 상에 지지된 판(50)을 포함한다. 판 장착부(52)와 판(50)은 자켓(26)의 내부 벽(46)에 (예를 들면, 볼트를 사용하여) 고정된다. 맞춤 핀(54; dowel pin)이 판(50)에 대한 추가의 장착 지점과 구조적 지지를 제공하도록 [판(50)의 종방향으로 대향하는 단부들 상에서] 판(50) 내부로 그리고 각각의 단부 캡(28) 내부로 부분적으로 삽입된다. 자켓(26)으로부터 하나의 단부 캡(28)을 제거하고 판(50)을 볼트 해제함으로써, 판(50)은 화살표(56A, 56B)에 의해 도시된 바와 같이 활주 가능하게 롤(14)로부터 제거되거나 롤 내부로 삽입될 수 있다. 일 실시예에서, 판(50)은 대략 20.3 내지 25.4 cm(8 내지 10 인치)의 폭과 대략 54.4 cm(23 인치)의 길이를 갖는다.
수집 장치(58)는 롤(14)의 내부로부터 슬롯(32) 내로 연장하는 것으로 도시되어 있다. 수집 장치(58)는 그 표면 상에 작용하는 방사선을 수용하고 배향할 수 있다. 도시된 실시예에서, 수집 장치(58)는 UV 방사선을 수용하고 배향할 수 있는 결속된 광섬유 케이블이다. 다른 실시예에서, 수집 장치는 본 발명이 사용되는 용도에 따라 변화할 수 있다. 구체적으로, 수집되는 방사선의 종류는 상이한 종류의 수집 장치의 사용을 요구할 수 있다. 광 튜브, 거울, 렌즈, 실리콘 검출기(예를 들면, 광다이오드 또는 대전 체결 장치), 황화카드뮴 검출기, 갈륨 비소 검출기, 열전대, 분리 검출기 및 섬광 검출기가 본 발명의 에너지 수집 장치(10)에 사용될 수 있는 많은 수집 장치의 일부 예들이다. 이러한 예들은 예시의 목적만을 위하여 제공되며, 상기 열거된 수집 장치들로 본 발명을 제한하는 것으로 해석되어서는 안된다는 것에 주목하여야 한다.
수집 장치(58)는 외부면과 접하는 평면에서 또는 이 평면으로부터 반경방향 내측으로 배치되도록 슬롯(32) 내부에 배치된다. 바꿔 말하면, 슬롯(32)이 롤(14) 내에 포함되지 않는다면, 수집 장치(58)는 외부면이 슬롯 위로 연장하는 장소에 또는 이 장소로부터 반경방향 내측에 있을 것이다. 이러한 방식으로 수집 장치(58)를 위치시키는 것은 수집 장치가, 웨브(18)(점선으로 도시됨)가 방사선 공급원(예를 들면, 자외선 램프)에 의해 방출된 방사선을 직접 측정할 수 있도록 한다. 또한, 수집 장치(58)를 환형 벽(34)에 또는 이로부터 반경방향 내측에 위치시킴으로써 웨브(18)가 수집 장치(58)에 의해 영향을 받지 않는다.[예를 들면, 융기 또는 돌출부가 웨브(18) 내부로 가압되지 않는다.] 수집 장치(58) 자체는 롤(14)에 대한 외부적인 환경의 오염 물질로부터 웨브(18)에 의해 보호된다. 또한, 수집 장치(58)의 이러한 위치 설정은 수집 장치(58)를 (전형적으로 롤로부터 25 미크론 내에 배치될 수 있는) 닙 또는 안내 롤과의 접촉으로부터 보호하고, 수집 장치가 기계적으로 손상되지 않도록 수집 장치를 롤의 외부면을 지나 연장하면서 접촉하게 할 수 있다. 수집 장치(58)의 선단(58A)은 환형 벽(34)과 사실상 동일한 평면 내에 위치된 것으로 도시되어 있지만, 본 발명의 대안적인 실시예는 선단(58A)을 환 형 벽(34)으로부터 반경방향 내측의 임의의 위치에 배치할 수 있다. 수집 장치(58)는 롤(14)을 따른 다양한 지점에서 방사선을 수용하도록 슬롯(32)을 따라 이동될 수 있다. 또한, 본 발명의 에너지 수집 장치(10)는 웨브(18) 만이 슬롯(32)의 일부분을 덮도록 형성될 수 있다. 웨브(18)의 이러한 위치 설정은 수집 장치(58)가 웨브(18)의 종방향 에지(59)를 지나 이동할 수 있도록 하여, 참조 데이터 지점을 제공하도록 웨브(18)의 종방향 에지(59) 외부의 방사선을 표본 검사할 수 있도록 한다. 대안적으로, 웨브(18)는 슬롯(32) 전체를 덮도록 배치될 수 있다. 환형 벽(34)의 외부면에 또는 이로부터 반경방향 내측으로 수집 장치(58)를 위치시키는 것은 전술된 이유로 인하여 양호하지만, 공정에 대한 적용에서 환형 벽(34)의 외부면을 지나 수집 장치를 연장시키는 것이 유리한 지점까지 상승될 수 있음을 고려한다.
본 발명의 장치(10)는 2개의 기본적인 방법, 즉 웨브를 구비하거나 웨브 없이 사용될 수 있다. 하나의 사용 예에서, 롤(14)은 주행되는 웨브가 없는 동안 특정한 공정에 대한 적용에서의 위치로 장착된다. 이는 작동자에게 램프로부터 방출된 방사선을 측정하고 공정을 조정할 수 있도록 하여, 제품을 주행시키기 전에 방출된 방사선의 적절한 수준을 맞출 수 있게 한다. 또한, 에너지 수집 장치는 하나의 공정 라인으로부터 용이하게 제거되어 다른 공정 라인으로 배치될 수 있다. 그러므로 웨브는 본 발명의 장치가 제위치에 있는 상태에서 "기준" 또는 시험 공정 라인에서 주행할 수 있다. 웨브 상으로 방출된 방사선의 양은 웨브가 충분하게 처리(예컨대, 경화)될 때까지 변화할 수 있다. 그리고 나서, 웨브는 제거되고, 수집 장치가 방사선 공급원에 의해 방출된 방사선의 수준을 결정하도록 사용된다. 그 후, 수집 장치는 다른 공정으로 전달될 수 있고, 방사선 공급원은 수집 장치에 작용하는 방사선의 수준을 정확하게 반복하도록 조절된다. 동일한 종류의 웨브가 제2 생산 라인 상에서 주행할 때, 동일한 수준의 방사선이 웨브 상에 작용하여 웨브를 적절하게 경화한다. 그러므로 조정 시간과 낭비되는 제품 모두가 감소될 수 있다. 본 발명은 상이한 라인들 사이에서 사실상 정확하게 동일한 위치에서 방사선의 수준을 정확하게 반복할 수 있는 능력을 제공한다. 그러면, 이러한 교차 조정(cross-calibration)은 상이한 공정 라인들에 대해 각각의 공정 라인의 신속한 시동을 허용할 수 있다. 그러므로 조정 공정은 매우 단순화되며, 시스템을 올바르게 조정하기 위한 작동자의 훈련의 양을 감소시킬 수 있다. 또한, 작동자는 종래의 조정 방법(예컨대, 소형 통합 선량계 또는 광량 장치)에서 요구되는 바와 같이 시스템을 조정하기 위하여 웨브 또는 롤을 조작할 필요가 없기 때문에, 작동자와 시스템의 안전에 대한 위험이 감소된다.(예를 들면, 장비 내에서의 의복 또는 손가락의 물림, 화재에 노출되는 웨브 등)
다른 사용 예에서, 에너지 수집 장치는 웨브가 주행될 때 공정 내에 남겨질 수 있다. 웨브를 통과하여 수집 장치(58)에 작용하는 방사선의 수준을 연속적으로 감시함으로써, 공정의 변화가 관찰되어 "실시간"으로 수정될 수 있으며, 이로써 공정을 최적화할 수 있다. 예를 들면, 웨브를 통과하는 방사선의 수준이 방사선 공급원의 노화에 의해 감소되는 경우, 수집 장치는 방사선의 감소를 감지하여 공급원에게 전력을 증가시키도록 하는 피드백으로 제공함으로써, 웨브에 작용하는 방사선 의 강도가 증가한다. 유사하게, 웨브 두께 또는 웨브 재료 특성의 변화가 발생하는 경우, 수집 장치는 웨브를 통과하는 방사선의 양의 상승 또는 하강을 관찰하여 방사선 공급원의 강도 또는 웨브의 속도를 조절하는 피드백을 제공할 것이다.
전술된 바와 같이, 비록 하나의 슬롯(32)이 도1 내지 도3에서 롤(14)을 따라 종방향으로 연장하는 것으로 도시되어 있지만, 롤(14)을 통해 연장하는 슬롯(또는 구멍)의 개수와 위치 설정에 관한 다양한 변경이 본 발명의 사상과 범주를 벗어나지 않고 이루어질 수 있다. 예를 들면, 본 발명의 대안적인 실시예는 롤의 내부로부터 구멍 내로 연장하는 수집 장치를 각각 갖는 다수의 구멍을 사용할 수 있다. 대안적으로, 다수의 수집 장치가 단일 슬롯 내에 사용될 수 있다. 다수의 수집 장치를 사용함으로써, 웨브를 따른 상이한 지점에서 다수의 측정치를 동시에 수집하기 위한 기회를 제공한다. 슬롯과 수집 장치의 위치와 개수의 결정은 작동자에 의해 요구되는 데이터뿐만 아니라 공정 적용에 따라 변화할 수 있다.
도3에 도시된 실시예에서, 하나의 수집 장치(58)가 사용되어 슬롯(32)을 따라 종방향으로 전달될 수 있다. 슬롯(32)을 따른 종방향으로의 수집 장치(58)의 이동은 웨브의 주행 방향을 따른 지점[즉, 화살표(62)로 도시된 "상류" 또는 "하류"]뿐만 아니라 웨브(18)를 가로지르는 횡방향으로의 지점[화살표(60A 및 60B) 참조]에서의 방사선의 표본 검사를 허용한다. 도4에 도시된 바와 같이, 수집 장치(58)는 기구 조립체(12)를 따라 지지 및 이동된다.
슬롯(32)의 길이를 따라 수집 장치(58)를 이동시키는 능력은 웨브를 따라 또는 이를 가로질러 방사선 표본을 수집하는 다양한 방법을 제공한다. 예를 들면, 도4a에 도시된 바와 같이, 롤(14)은 회전될 수 있고[화살표(63)], 방사선은 방사선 공급원(16)(점선으로 도시됨)에 의해 방출된 방사선에 대한 노출의 전체 범위에 걸쳐 웨브(18)(점선으로 도시됨)의 횡방향과 종방향으로의 단일 위치에서 수집될 수 있다.
도4b에 도시된 바와 같이, 롤(14)은 고정식으로 유지될 수 있고, 수집 장치(58)는 롤(14)을 가로질러 횡방향으로의 단일 위치에서 유지될 수 있으며, 이로써 방사선 공급원(16)에 의해 방출된 방사선의 범위를 통한 단일 위치에서의 그리고 [웨브(18)가 수집 장치(58)를 넘어 당겨질 때] 웨브(18)의 종방향으로의 일련의 지점에서의 측정을 제공한다.
도4c에서와 같이, 롤(14)은 웨브(18)가 수집 장치(58)를 지나 당겨질 때 고정되어 유지될 수 있다. 수집 장치(58)는 웨브(18)를 가로질러 이동할 수 있고[화살표(60A 및 60B) 참조], 웨브(18)를 따른 횡방향과 종방향으로의 지점에서의 수집을 제공한다.
도4d는 수집 장치(58)가 이동하는 동안 롤(14)이 회전될 수 있고[화살표(63)참조], 수집 장치가 방사선 공급원(16)에 의해 방출된 방사선의 범위에 걸쳐 웨브의 단일 횡방향 선을 따라 웨브(18)를 가로질러 횡방향으로의[화살표(60A 및 60B)] 방사선을 수집하는 것을 도시한다. 전술된 모든 표본 검사 방법에 대한 변경도 고려된다. 예를 들면, 수집 장치(58)는 롤(14)의 각각의 회전 후에 웨브(14)를 가로질러 횡방향으로 연동될 수 있다.
도5 및 도6에 가장 양호하게 도시된 바와 같이, (도3 및 도4와 관련하여) 전술된 구성 요소 이외에, 기구 조립체(12)는 장착 조립체(64), 직선 레일(66), [캘 리포니아주 커비너 소재의 퀵 실러 콘트롤즈(Quick Silver Controls)에 의해 제작된 모델 번호 "실버맥스(Silvermax) QCI-23-3"과 같은] 서보 모터(68), [콜로라도주 덴버 소재의 게일스 러버 컴파니(Gales Rubber Company)에 의해 제조된 모델 번호 570XL025와 같은] 타이밍 벨트(70), 보호대(70A), 풀리(72), 나사(74), 스페이서(76), [일리노이주 팔라틴 소재의 칼톤-베이츠 컴파니(Carlton-Bates Company)에 의해 제작된 Quint-PS 전원 공급 장치와 같은] 전원 공급 장치(78), [버지니아주 스터링 소재의 EIT에 의해 제작된 EIT UV 검출기와 같은] 측정 기구(80), 모니터 장착 조립체(82), 스펙트로미터(83; spectrometer), [캐나다 온타리오 소재의 오지 옵틱스(OZ Optics)에 의해 제작된 것과 같은] 조절 가능한 블록킹 직렬 섬유 필터(84), 단자 블록(85) 및 [일 실시예에서 5개의 광섬유 케이블을 포함하는, 매사추세츠주 롱메도우 소재의 세람옵틱(CeramOptic)에 의해 제작된 것과 같은] 결속된 접속 케이블(86)을 포함한다. DIN 레일(87)은 구성 요소를 판(50)에 고정하는데 사용된다. 벨트(70)는 장착 조립체(64)에 고정되어 풀리(72) 둘레로 권취된다. 하나의 풀리(72A)가 서보 모터(68)에 의해 구동된다. 장착 조립체(64)는 판(50)의 길이를 따라 직선 레일(66)에 의해 활주 가능하게 지지된다. 서보 모터에 의해 풀리(72A)를 회전하게 함으로써, 벨트(70)는 직선 레일(66)을 따라 장착 조립체(64)를 구동할 것이다. 수집 장치(58)는 장착 조립체(64)에 고정된다.(도7 및 도8과 관련하여 추가로 설명됨) 그러므로 수집 장치(58)는 서보 모터(66)를 사용하여 직선 레일(66)의 길이를 따라[그리고 결과적으로 슬롯(32)의 길이를 따라] 선택적으로 위치될 수 있다. 보호대(70A)는 어떤 부품도 벨트(70) 및 풀리(72)와 우발적으 로 간섭되지 않도록 한다. 본 발명의 수집 장치의 기구 부분의 형상은 수집되도록 요구되는 데이터뿐만 아니라 본 발명의 장치가 사용되는 공정 용도에 따라 변화할 수 있다.
방사선이 수집 장치(58)에 작용하면, 수집 장치(58)는 수집된 방사선을 결속된 접속 케이블(86)을 통해 4개의 광섬유 케이블을 종단 접속시키고 수집된 방사선을 측정 기구(80)로 안내하는 모니터 장착 조립체(82)로 안내된다. 측정 기구(80)는 파장의 강도, 분극 에너지 분배, 가속 입자의 개수, 또는 감시되는 것이 바람직한 임의의 다른 특성과 같은 방사선의 각종 특성의 수준을 확인하도록 분석한다. 전술된 바와 같이, 일 실시예에서, 측정 기구는 UV(자외선) 검출기이다. 이러한 검출기들은 UVA(320 내지 390 나노미터 길이의 파장을 갖는 광으로 정의됨), UVB(280 내지 320 나노미터의 파장), UVC(250 내지 260 나노미터의 파장), 및 UVV(395 내지 445 나노미터의 파장) 필터를 포함하며, 이러한 종류의 UV 광의 각각에 대한 강도 수준을 측정을 허용한다. 검출기는 또한 검출기를 구동하고 롤로부터 최종 전기 신호를 송신하는 증폭기를 포함한다.
플로리다주 듀네딘 소재의 오션 옵틱스(Ocean Optics)에 의해 제작된 오션 옵틱스 S2000과 같은 고해상도 스펙트로미터(83)가 판(50) 하부에 배치된다. 수집 장치(58)에 의해 수집된 방사선은 결속된 접속 케이블(86)로부터 스펙트로미터(83)까지 하나의 광섬유 케이블을 통해 송신된다. 예시된 실시예에서, 광섬유 케이블은 먼저 조절 가능한 블로킹 직렬 필터(84)에 연결되어, 스펙트로미터에 더욱 적합할 수 있는 광 케이블에 의해 안내되는 방사선의 강도의 감소를 제공한다. 조절 가능한 블로킹 직렬 필터(84)의 출력은 스펙트로미터(83)와 간섭하도록 보호대(70A)와 판(50)을 통해 안내된다.
측정 기구(80)와 스펙트로미터(83)가 롤(14) 내측의 기구 조립체 상에 포함되어 있지만, 이들은 대안적으로 롤(14)의 외부에 장착될 수 있다는 것을 이해하여야 한다. 기구가 롤(14)의 외부에 장착된 때, 결속된 접속 케이블(86)로부터의 광섬유 케이블은 기구 및/또는 스펙트로미터를 측정하도록 (도시되어 있지 않지만 당해 기술 분야에 공지된) 회전 슬립 링을 통해 안내된다. 도시된 실시예에서, 내부적으로 장착된 측정 기구(80), 스펙트로미터(83) 및 서보 모터(68)는 전형적으로 (전술된) 슬립 링을 거쳐 컴퓨터 또는 프로그램 가능한 논리 제어기(PLC)와 같은 (도시 안된) 외부 제어/감시 장치까지 샤프트를 통해 연장하는 와이어에, 단자 블록(85)을 통과하는 와이어에 의해 접속된다. 외부 장치에 의한 서보 모터(68)의 제어는 수집 지점 및 작동자에 의해 요구되는 바에 따라 변경되는 수집 주파수를 허용한다. 데이터 출력을 외부 제어기에 연결하는 것은 데이터가 실시간을 기반으로 판독 및 처리되도록 하여, (방사선 강도의 증가, 웨브를 통과하는 속도의 감소 등과 같은) 웨브의 올바른 처리를 보장하도록 시스템의 변경이 필요하다면, 제어기는 웨브의 적절한 경화 시간을 보장하도록 시스템의 균형을 자동적으로 보정할 수 있다. 또한, 본 발명의 장치(10)를 원격 컴퓨터에 연결함으로써, 데이터 분석은 공정 라인으로부터 원격적으로 이루어질 수 있다. 컴퓨터는 네트워크에 소속될 수 있고, 이로써 공정 설비 외부의 위치로부터 데이터에 접근할 수 있으므로 제조 설비로부터 이격된 위치에 있는 기술자와 과학자들이 실시간에 기반한 본 발명의 장치에 의해 얻어진 데이터에 대한 검토와 분석 능력을 허용한다.
역시, 예시된 실시예가 광 측정 장치(즉, UV 검출기, 스펙트로미터)를 사용하지만, 다른 종류의 방사선을 측정할 수 있는 다른 장치가 수집 장치에 (내부적으로 또는 외부적으로 롤에) 연결될 수 있다.
도7 및 도8은 장착 조립체(64)를 보다 상세하게 예시한다. 장착 조립체(64)는 스위치(88), 센서 블록(90), 브라켓(92), 벨트 장착부(94) 및 캐리지(96)를 포함한다. [전술된 바와 같이 벨트(10)에 의해 구동되는] 벨트 장착부(94)는 캐리지(96)에 고정되는 브라켓(92)에 고정된다. 수집 장치(58)는 브라켓(92)에 고정된다. 장착 조립체(64)의 캐리지(96) 부분은 벨트에 의해 직선 레일(66)을 따라 종방향으로 이동하도록 가압되며, 이로써 장착 조립체(64)에 대한 동기력(motivating force)을 제공한다. 스위치(88)는 "제한" 스위치로서 사용된다. 장착 조립체(64)가 직선 레일(66)의 단부들 중 하나에 도달된 때, 스위치들 중 하나(88)가 결합하여 장착 조립체(64)의 이동을 그 방향으로 정지시키도록 서보 모터(68)(도6에 도시됨)에 신호를 송신한다.
예
예시적인 조정과 본 발명의 에너지 수집 장치(10)의 사용이 수행되며 표본 데이터가 수집된다. 측정 기구(80)는 메릴랜드주 게이더스버그 소재의 퓨전 UV 시스템즈(Fusion UV systems)에 의해 제작된 퓨전 D 램프와 대향하는 평면 내에서 수집 장치(58)를 제위치에 고정함으로써 조정된다. 브라켓은 수집 장치(58)와 동일한 평면에서 조정된 측정 기구 [버지니아주 스털링 소재의 EIT에 의해 제조된 EIT UV 파워맵(PowerMAP)]에 고정되도록 설계되어, 동등한 광 경로가 램프로부터 파워맵과 수집 장치(58) 모두까지 생성된다. 전력은 램프의 출력을 변경하도록 램프에서 변화된다. EIT UV 센서에 의해 발생된 전압 출력과 파워맵 검출기에 의해 측정된 전력은 전압-밀리와트/cm2 곡선을 생성하도록 작성되며, 이로써 파워맵 조정을 EIT UV 센서로 전달한다. 도9는 UVA 영역을 위한 이러한 조정의 예를 도시한다. 이러한 방식으로 시스템을 조정하는 것은 본 발명의 장치를 사용하는 제품 라인에 대한 편리한 조정의 전달을 허용한다.
롤은 웨브가 롤 둘레로 통과하도록 UV 하우징 장비 스탠드 상에 장착된다. 퓨전 D 램프의 각 쌍(전체는 4개의 램프)의 2개의 열은 광이 롤의 표면에 초점을 맞추도록 장착된다. 닙은 웨브를 제위치에 유지하고 25 미크론의 공차 거리를 갖도록 하는 방식으로 장착된다. 이 실험을 위해 사용되는 웨브는 없다. 장착 브라켓은 제거 및 안착의 각각의 경우에 베어링과 롤의 실질적인 정렬을 허용하는, 본 산업계에 공지된 표준 브라켓이다.
롤은 공정 라인 제어가 롤을, 공정이 주행하도록 설계된 임의의 속도로 회전시킬 수 있도록 장착된다. 라인 속도는 23 m/분(분당 75 피트)으로 설정되며, 램프는 총 전력의 60%로 설정되며, 대략 5분 동안의 워밍업을 허용한다. 자켓(26)을 통해 주행하는 냉각수는 내부 롤 공동을 24 내지 27℃(75 내지 80℉)의 온도로 유지한다. 장착 조립체(64)는 UV 램프들 중 하나의 중심에 있도록 위치되며, 롤이 회전하는 동안 고정된 상태로 유지된다. 데이터는 3000 Hz의 비율로 수집되며, 데 이터 순서의 시작과 끝은 롤의 측면 상의 보증 마크(fiduciary mark)의 동기화에 의해 제어된다. 데이터는 데이터의 신호 대 소음비를 증가시키기 위하여 동기화 지점을 정렬함으로써 평균된다. 도10은 고정된 위치에서 광 번들(optic bundle)에 의한 광의 하나의 주변 데이터 수집으로부터의 데이터를 도시한다. 이 도면은 UVA 파장에서의 2개의 램프의 밀리와트/cm2 단위의 강도(열1, 램프 2 및 열2, 램프 2) 대 공간 내의 관찰 슬릿의 각도 위치를 도시한다. 0도는 롤의 단부에서 볼 때 12시에 해당한다. 데이터는 전체 360도 경로 중 306도에 대해 수집된다.
표1은 도9의 미리 생성된 조정 그래프와 비교하여 전구의 중심에 대응하는 일부 데이터를 사용하는 UVA 파장의 4개의 램프 모두에 대해 계산된 최종 선량을 도시한다.
표1
75 FPM에서의 UVA 선량
공급원 밀리주울(millijoule)/cm 2
열1, 램프1 61.4
열1, 램프2 40.9
열2, 램프1 58.2
열2, 램프2 85.2
그러면, 광 번들은 12.7 mm(0.5 인치)의 증분으로 롤의 전체 길이에 걸쳐 연속적으로 조사된다. 롤을 동시에 회전시키면서 롤을 따라 종방향으로 수집 장치를 조사함으로써 도11에 도시된 바와 같은 램프 출력의 3차원 UV 강도 맵이 형성된다. 도11은 고해상도로 각각의 열에서 각각의 램프에 대한 UVA 광 강도의 분포를 도시한다.
본 발명이 양호한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 당업자들은 본 발명의 사상과 범주를 벗어나지 않고 형태와 상세 사항들에 대한 변경이 이루어질 수 있다는 것을 인식할 것이다.

Claims (35)

  1. 방사선을 수집하는 방법이며,
    외부면을 구비한 롤에 작용하는 방사선을 수집하기 위하여 상기 롤 내에 방사선 수집 장치를 배치하는 단계와,
    상기 수집 장치 사이와 방사선 공급원 사이에 웨브를 배치하는 단계와,
    상기 롤로 배향된 방사선을 수집하는 단계와,
    측정 장치를 이용하여 수집된 방사선의 특성을 측정하는 단계를 포함하고,
    상기 수집 장치는 상기 외부면과 접하는 평면 또는 상기 평면으로부터 반경 방향 내측에 배치되고,
    상기 방사선의 특성은 수집된 방사선에 존재하는 에너지의 양, 수집된 방사선의 에너지 분포, 수집된 방사선의 분극 및 수집된 방사선 내의 가속된 입자의 수 중의 하나 이상을 포함하는, 방사선 수집 방법.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    방사선은 연속적으로 수집되고 측정되는, 방사선 수집 방법.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 외부면은 패턴들 사이에 시임을 형성하는 일련의 패턴을 갖고,
    상기 수집 장치를 상기 외부면의 시임에 배치하는 단계를 추가로 포함하는, 방사선 수집 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 웨브는 적어도 하나의 코팅 층을 포함하는, 방사선 수집 방법.
  9. 삭제
  10. 제1항에 있어서,
    측정된 상기 방사선의 특성을 사용하여 상기 방사선 공급원을 조정하는 단계를 추가로 포함하는, 방사선 수집 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 웨브를 가로질러 횡방향으로 복수 개의 지점에서 방사선을 수집하는 단계를 추가로 포함하는, 방사선 수집 방법.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 롤을 가로질러 횡방향으로 복수 개의 지점에서 방사선을 수집하는 단계를 추가로 포함하는, 방사선 수집 방법.
  13. 제1항에 있어서,
    수집된 방사선은 전자기 특성을 갖는, 방사선 수집 방법.
  14. 제1항에 있어서,
    수집된 방사선은 입자형 방사선인, 방사선 수집 방법.
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
  19. 방사선을 수집하는 방법이며,
    외부면을 구비한 롤에 작용하는 방사선을 수집하기 위하여 상기 롤 내에 방사선 수집 장치를 배치하는 단계와,
    제1 공급 라인에 배치된 제1 방사선 공급원으로부터 방사선을 방출하는 단계와,
    상기 제1 방사선 공급원과 상기 롤 사이에 제1 웨브를 배치하는 단계와,
    수집 장치로 방사선을 수집하는 단계와,
    수집된 방사선의 특성을 측정하는 단계와,
    제2 공급 라인에 배치된 제2 방사선 공급원으로부터 방사선을 방출하는 단계와,
    상기 제2 방사선 공급원과 상기 롤 사이에 제2 웨브를 배치하는 단계와,
    상기 수집 장치로 방사선을 수집하는 단계와,
    수집된 방사선의 특성을 측정하는 단계와,
    상기 제1 방사선 공급원으로부터 수집된 방사선의 측정된 특성을 상기 제2 방사선 공급원으로부터 수집된 방사선의 측정된 특성과 비교하는 단계를 포함하고,
    상기 수집 장치는 상기 외부면과 접하는 평면 또는 상기 평면으로부터 반경 방향 내측에 배치되는, 방사선 수집 방법.
  20. 제1항에 있어서,
    측정된 상기 방사선의 특성을 컴퓨터 소프트웨어로 처리하는 단계를 추가로 포함하는, 방사선 수집 방법.
  21. 삭제
  22. 삭제
  23. 삭제
  24. 삭제
  25. 삭제
  26. 삭제
  27. 삭제
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  35. 삭제
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