KR100932147B1 - 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 - Google Patents
테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100932147B1 KR100932147B1 KR1020080012903A KR20080012903A KR100932147B1 KR 100932147 B1 KR100932147 B1 KR 100932147B1 KR 1020080012903 A KR1020080012903 A KR 1020080012903A KR 20080012903 A KR20080012903 A KR 20080012903A KR 100932147 B1 KR100932147 B1 KR 100932147B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unloading
- tray
- chamber
- test
- test tray
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (14)
- 테스트 핸들러에 구비된 챔버에서 반도체소자가 적재된 테스트 트레이를 언로딩하는 장치에 있어서,상기 챔버의 상부에 회동가능하도록 설치된 플레이트;상기 플레이트의 양측에 베어링으로 연결되는 제1ㆍ제2지지체, 및 상기 제1ㆍ제2지지체 중 어느 하나의 지지체에 힌지축으로 연결되어 상기 플레이트를 수직 및 수평 상태로 전환하는 구동기로 구성되어, 상기 플레이트를 수직 및 수평상태로 방향 전환하는 회동구동부;상기 왕복이송부는,상기 플레이트에 길이 방향으로 형성되고 상기 언로딩부의 왕복 운동을 안내하는 가이드바, 및 상기 언로딩부를 왕복 운동시키는 이송구동기로 구성되며, 상기 플레이트에 설치되어 상기 챔버 내부에 수직 상태로 승강되는 왕복이송부;실린더 또는 모터로 이루어진 동력원, 상기 동력원에 의해 왕복 이동되는 위치이동부재, 및 상기 위치이동부재의 끝단에 구비되어 상기 테스트 트레이의 하단을 지지하는 회동돌기로 구성되며, 상기 플레이트와 이격된 상태로 설치되어 수직 상태로 위치된 상기 테스트 트레이의 하단을 지지한 상태로 상승하여 상기 챔버 내부에 위치된 테스트 트레이를 픽업하는 그립부; 및상기 테스트 트레이를 상기 챔버의 외부에서 수평 상태로 배출하는 언로딩부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치.
- 제 1항에 있어서,상기 왕복이송부는,상기 언로딩부를 상기 플레이트에 대하여 왕복운동 되도록 구동하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치.
- 삭제
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 그립부는,상기 위치이동부재의 일측면 방향으로 90°회전되어 상기 테스트 트레이의 하단을 지지하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치.
- 삭제
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 언로딩부는,상기 그립부의 상측에 위치되어 수평 상태로 위치된 상기 테스트 트레이를 배출하는 가압부재;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치.
- 테스트 핸들러에 구비된 챔버에서 반도체소자가 적재된 테스트 트레이를 언로딩하는 방법에 있어서,(a) 상기 챔버의 상부에 수직 상태로 위치된 그립부를 상기 챔버 내부로 하강하는 단계;(b) 그립부에 구비된 회동돌기가 회전하여 회돌돌기의 상면이 상기 테스트 트레이의 저면을 지지하여 상기 챔버 내부에 위치된 상기 테스트 트레이를 픽업하는 단계;(c) 상기 그립부가 상승하여 상기 챔버의 외부로 이송되는 단계;(d) 상기 그립부를 수평 상태로 변경하는 단계; 및(e) 상기 언로딩부에 구비된 가압부재가 상기 테스트 트레이의 후방을 가압하여 배출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러용 트레이 언로딩방법.
- 제 9항에 있어서,상기 (e) 단계 후,(f) 상기 언로딩부가 후방으로 복귀되는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩방법.
- 제 10항에 있어서,상기 (f) 단계 후,상기 그립부 및 상기 언로딩부를 수직 상태로 변경하여 상기 (a) 단계가 수행되는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩방법.
- 삭제
- 제 9항에 있어서,상기 (d) 단계는,(g) 상기 그립부가 상기 테스트 트레이의 픽업 상태를 해제하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩방법.
- 제 13항에 있어서,상기 (g) 단계는,상기 테스트 트레이가 수평 상태로 위치되면 상기 그립부를 90°회전하는 것을 특징으로 하는 상기 테스트 핸들러용 트레이 언로딩방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080012903A KR100932147B1 (ko) | 2008-02-13 | 2008-02-13 | 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080012903A KR100932147B1 (ko) | 2008-02-13 | 2008-02-13 | 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090087582A KR20090087582A (ko) | 2009-08-18 |
KR100932147B1 true KR100932147B1 (ko) | 2009-12-16 |
Family
ID=41206544
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080012903A KR100932147B1 (ko) | 2008-02-13 | 2008-02-13 | 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100932147B1 (ko) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000034233A (ko) * | 1998-11-28 | 2000-06-15 | 정문술 | 모듈 아이씨 핸들러의 언로딩측 로테이터 |
KR20030040675A (ko) * | 2001-11-15 | 2003-05-23 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 반송용로테이터 |
-
2008
- 2008-02-13 KR KR1020080012903A patent/KR100932147B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000034233A (ko) * | 1998-11-28 | 2000-06-15 | 정문술 | 모듈 아이씨 핸들러의 언로딩측 로테이터 |
KR20030040675A (ko) * | 2001-11-15 | 2003-05-23 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 반송용로테이터 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090087582A (ko) | 2009-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101940199B1 (ko) | 핸드 유닛 및 이동탑재 방법 | |
US20110048469A1 (en) | Liquid processing apparatus and liquid processing method | |
JPH11204615A (ja) | ローディングロボットのウェーハローディング、アンローディング機構 | |
CA2491999A1 (en) | Apparatus and methods for automated handling and embedding of tissue samples | |
KR101416852B1 (ko) | 웨이퍼 자동 공급장치 | |
KR101113528B1 (ko) | 과일 선별장치 | |
KR100932147B1 (ko) | 테스트 핸들러용 트레이 언로딩장치 및 이를 이용한 트레이언로딩방법 | |
FR2983344A1 (fr) | Dispositif pour le montage de puces de semi-conducteurs | |
US7648056B1 (en) | Selective soldering bath | |
KR101276267B1 (ko) | 트레이 순환장치 | |
JP2011020794A (ja) | 移載装置 | |
JP6544658B2 (ja) | 載置物の転倒防止装置 | |
JP3027580B2 (ja) | 振とう機 | |
KR100656155B1 (ko) | 트레이 이송장치 | |
KR101344499B1 (ko) | 템플릿의 캐버티들에 용융된 솔더를 주입하기 위한 노즐 및이를 포함하는 장치 | |
JPH11233555A (ja) | バンプボンディング装置 | |
US6479982B1 (en) | Rotator for a module integrated circuit (IC) handler | |
KR100528707B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러의 트레이 정렬장치 | |
KR100376773B1 (ko) | 핸들러용 인덱스장치 | |
JP5075869B2 (ja) | 金属成形機の棒状材料搬送供給装置 | |
FR2565761A1 (fr) | Appareil de montage automatique de puces d'un type special sur un substrat | |
JP2020044603A (ja) | 物品移送方法及び物品移送装置 | |
KR101361497B1 (ko) | 테스트핸들러용 캐리어보드 이송장치 및 자세변환장치 | |
JP6012067B2 (ja) | 部品実装機 | |
KR100306301B1 (ko) | 모듈아이씨핸들러에서고객트레이내의모듈아이씨픽킹방법및그장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121130 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131129 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141127 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161129 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171129 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181127 Year of fee payment: 10 |