KR100901996B1 - 테스트 소켓 내구성 시험 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 서보모터의 회전운동에 의해 워크 프레스가 테스트 소켓을 반복적으로 가압함으로써, 반도체 패키지의 테스트시 중간부재 역할을 제공하는 테스트 소켓 자체의 라이프 타임을 정확하게 측정할 수 있는 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것이다.

이를 위해, 본 발명은 핸들부를 사용하여 워크 프레스의 높이를 조절하고, 서보모터를 이용하여 워크 프레스가 반복적으로 테스트 소켓을 가압하도록 하며, 콘트롤 패널에 의해 워크 프레스의 가압횟수 및 높이를 자동으로 조절할 수 있는 테스트 소켓 내구성 시험 장치를 제공한다.

테스트 소켓, 워크 프레스, 반도체 패키지, 서보모터, 핸들부, 내구성

Description

테스트 소켓 내구성 시험 장치{Test socket durability checking apparatus}

본 발명은 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 서보모터의 회전운동에 의해 워크 프레스가 테스트 소켓을 반복적으로 가압함으로써, 반도체 패키지의 테스트시 중간 부재 역할을 제공하는 테스트 소켓 자체의 라이프 타임을 미리 정확하게 측정할 수 있는 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것이다.

현대 사회 전반에서는 수많은 전자기기들이 사용되고 있으며 그러한 전자기기들에는 다양한 종류의 반도체 패키지(Semiconductor Package)들이 다량 사용되고 있다.

이러한 반도체 패키지들은 자동화된 양산체제하에서 대규모로 생산되고 있는데, 대규모 생산을 위한 공정 과정에서 여러가지 원인으로 인하여 예상치 못한 불량이 발생할 수 있으며, 이러한 불량의 발생은 생산성의 저하 및 손실을 초래하기 때문에 그 발생을 억제 및 감소시키는 대책이 그 무엇보다도 중요하다.

이와 같은 반도체 패키지의 불량은 패키지 공정이 완료된 반도체 패키지의 전기적 신호가 제대로 흐르는지를 테스트함으로써 해결할 수 있으며, 이를 위한 테스트 장치는 이미 개발되어 사용되고 있다.

또한, 상기 테스트 장치는 반도체 패키지가 삽입되어 반도체 패키지와 테스트 장치간에 중간 매개체 역할을 하는 테스트 소켓을 구비하는데, 이하 첨부 도면을 참조하여 테스트 소켓의 일반적인 구조를 살펴보기로 한다.

첨부한 도 1은 반도체 패키지용 테스트 소켓의 개시도이다.

도 1에서 도시한 바와 같이, 테스트 소켓(10)은 일정 규격의 패널(20) 중앙에 탄성수단에 의해 눌림 및 탄성복원이 가능한 복수의 포고핀(30)이 장착된 구조로서, 테스트의 대상이 되는 반도체 패키지의 외부연결단자와 테스트 보드의 외부연결단자를 연결하는 포고핀(30)을 구비하는 것이 일반적이다.

이러한 테스트 소켓은 반도체 패키지의 기능 시험(Function test)시 반도체 테스트 장치에 의해 반복적인 외부 압력을 받게되어 계속적인 피로(Fatigue)가 쌓임으로써, 일정 횟수 이상의 테스트후에 변형되는 문제점이 있다.

따라서, 상기 테스트 소켓의 라이프 타임을 미리 테스트하여 내구성이 떨어지는 불량 테스트 소켓을 걸러 내기 위해 별도의 테스트 소켓용 시험 장치를 사용하게 된다.

이하 첨부 도면을 참조하여 종래 테스트 소켓 시험 장치의 문제점을 살펴보기로 한다.

첨부한 도 2는 종래 테스트 소켓 시험 장치의 개시도이다.

도 2에서 도시한 바와 같이, 종래 테스트 소켓 시험 장치는 테스트를 위한 회로패턴(105)이 형성된 회로기판(100)상에 테스트 소켓(120)의 하부면이 부착된다.

또한, 테스트 소켓(120)이 구성된 회로기판(100)면의 상부 공간에는 이동수단(150), 예를 들어, 다축 로봇(robot) 등에 의해 그 위치를 이동시킬 수 있으며 테스트 소켓(120)을 그 상부에서 푸셔 구동부(140)의 작동에 의해 가압할 수 있는 푸셔(130)가 구성되어 있다.

이와 같이 구성된 종래 테스트 소켓 시험 장치에서 푸셔 구동부(140)는 주로 운영자나 프로그램 등으로부터의 제어신호에 의해 제어되는 전동력으로 구동된다.

이때, 전기적 노이즈(electrical noise) 또는 제어 프로그램 등의 오류로 인한 이상 신호가 푸셔 구동부(140)에 유입되는 경우 테스트 소켓(120)에 대한 푸셔(130)의 가압 동작에 미스가 발생하여 테스트 소켓(120)에 손상을 주거나 아니면 테스트 소켓(120)에 전혀 가압을 하지 못하는 문제점이 발생하였다.

또한, 이동수단(150)으로서 주로 이용되는 다축 로봇 등도 앞선 푸셔 구동부(140)에서와 같이 이상 신호 유입으로 인한 오작동 문제가 발생하였으며, 이동에 있어서 기계적 마모, 프로그램의 오류 등으로 인해 수 만회 이상의 장시간에 걸친 내구성 시험을 하게 되면 가압량이나 위치 제어가 정확히 이루어지지 않거는 하는 문제점도 있었다.

이외에도 하나의 테스트 소켓(120)의 내구성를 테스트하고 나서, 다른 테스트 소켓(120)을 테스트하기 위해서는 그 때마다 푸셔(130)의 위치를 이동해야 했기 때문에 테스트 소켓(120)의 테스트에 소요되는 시간, 즉 인덱스 시간(index time)이 많이 소요되는 문제점이 있었다.

덧붙여, 종래 테스트 소켓 시험 장치를 구성하는 푸셔(130), 푸셔 구동부(140) 및 이동 수단(150) 등은 큰 부피를 차지한채 결합 설치되어 테스트 소켓 시험 장치 자체의 크기를 소형화하는데 한계로 작용하였을 뿐만 아니라, 그 자체의 교체나 정비도 용이하게 이루어지지 못하게 하는 문제점을 제공하였다.

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 기존의 테스트 소켓 내구성 장치의 구조를 개선한 것으로서, 서보모터의 회전운동을 링크부에 의해 왕복운동으로 변환시켜 일정한 압력을 테스트 소켓에 가함으로써, 테스트 소켓에 대한 내구성 시험의 정밀도를 향상시키고, 콘트롤 패널을 사용하여 워크 프레스의 가압 횟수 및 높이를 조절함으로써, 테스트 소켓의 라이프 타임 측정에 대한 용이성을 향상시키는 테스트 소켓 내구성 시험 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은

받침판에 수직으로 길게 설치되는 복수의 지지대와; 상기 받침판의 중앙 하부에 장착되되, 반복적으로 일정한 압력을 받는 테스트 소켓과; 상기 받침판과 수평을 이룬채 상기 지대대에 삽입 장착되는 중앙판과; 상기 중앙판의 하부에 장착되어 왕복운동에 의해 상기 테스트 소켓을 반복적으로 가압하는 워크 프레스와; 상기 워크 프레스의 상부에 연결 설치되어 회전운동을 왕복운동으로 변환시키는 링크부와; 상기 링크부의 일측에 장착되어 상기 링크부에 회전력을 제공하는 서보모터와; 상기 중앙판에 수직으로 관통한채 나사결합하는 이동나사와; 상기 이동나사의 상부에 설치되어 상기 이동나사를 작동시키는 나사 작동부; 상기 지지대 및 이동나사의 상부에 수직으로 삽입 장착되는 상부판;

을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 링크부는 상기 서보모터의 중심에 장착되되 일측에 힌지 베어링을 포함하는 회전기와; 상기 회전기와 힌지 베어링에 의해 연결되어 상기 회전기의 회전운동시 왕복운동하는 이동링크와; 상기 이동링크와 워크 프레스를 연결하여 상기 이동링크의 왕복운동을 워크 프레스에 전달하는 전달기;

를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 이동링크의 일측에는 원점확인 센서가 설치되어, 상기 이동링크 및 이동링크에 전달기로 연결된 워크 프레스가 테스트 소켓에 가압이 전달되는 상태, 즉 내구성 시험을 위한 자동 조작 준비가 완료된 상태에 있을 때, 워크 프레스와 테스트 소켓간의 상하간 거리를 확인하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 나사 작동부는 상기 이동나사에 회전력을 가하는 핸들부와;상기 핸들부의 하부에 설치되어 핸들부의 회전력을 이동나사에 전달하는 타이밍풀리 및 타이밍벨트와; 상기 타이밍벨트의 중앙에 장착되어 타이밍풀리의 장력이 한쪽으로 치우침을 방지하는 장력조정 브라켓;

을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 중앙판의 일측에는 높이측정 센서가 장착되어 상기 받침판으로부터 중앙판까지의 높이를 측정하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 높이측정 센서 및 서보모터에 콘트롤 패널이 연결되어 워크 프레스의 높이 및 서보모터의 작동을 제어하는 것을 특징으로 한다.

이상에서 본 바와 같이 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치는 다음과 같은 효과를 제공한다.

우선, 서보모터를 사용하여 일정한 압력으로 테스트 소켓을 반복적으로 가압함으로써, 소켓 라이프 타임 테스트의 정밀도를 향상시키고,

핸들부 및 높이조절 센서를 사용하여 워크 프레스의 높이를 조절함으로써, 작업자가 원하는 위치에서 워크 프레스를 작동시키는 것이 가능해지고,

콘트롤 패널을 사용하여 워크 프레스의 가압횟수 및 높이를 변경 설정한 후에 자동 모드를 수행케 함으로써, 소켓 라이프 타임 테스트에 소요되는 시간을 절감시키는 효과가 있다.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, “포함하다” 또는 “가지다” 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들의 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조로 상세하게 설명한다.

첨부한 도 3은 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 개시도이고, 도 4은 도 3의 사시도이다.

본 발명은 도 3에서 도시한 바와 같이, 서보모터(200)의 회전운동에 의해 워크 프레스(210)가 왕복운동하여 테스트 소켓(220)을 반복적으로 가압함으로써, 테스트 소켓의 라이프 타임을 평가하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치를 제공한다.

우선, 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 구성을 살펴보면, 받침판(270)의 저면에 평판형의 보드(271)가 장착되어 테스트 소켓(220)이 설치 고정되도록 하고, 받침판(270)의 중앙에는 관통홈(272)이 형성되어 워크 프레스(210)가 이 관통홈(272)을 통해 테스트 소켓(220)을 가압시킬 수 있게 된다.

상기 테스트 소켓(220)은 반도체 패키지의 테스트를 위한 전용 구조물로서, 테스트의 대상이 되는 반도체 패키지의 외부 연결단자와 테스트보드의 외부 연결단자를 연결하는 포고핀을 구비하는 것이 일반적이다.

또한, 상기 테스트 소켓(220)은 테스트 대상의 반도체 패키지의 종류에 따라 포고핀 타입이나 리드 등 여러가지 형태로 제작될 수 있고, 이러한 테스트 소켓(220)의 형태 및 포고핀의 길이에 따라 본 발명은 다양한 세팅 모드(워크 프레스의 높이, 가압횟수, 가압력의 크기)에서 테스트 조건을 설정한 후 자동모드로 소켓 라이프 타임 테스트를 수행하게 된다.

그리고, 상기 테스트 소켓(220)은 별도의 소켓 베이스 플레이트에 의해 보드(271)에 장착되어 워크 프레스(210)의 계속되는 가압으로 인해 보드(271)에서 이탈되는 것이 방지된다.

상기 받침판(270)의 상부에는 수직으로 길게 복수의 지지대(280)가 설치되어 장치의 각종 구성을 지지하는 역할을 제공하고, 지지대(280) 사이에는 이동나사(290)가 길게 설치되어 중앙판(240)의 높이를 조절하게 된다.

여기서, 상기 중앙판(240)은 받침판(270)과 수평을 이룬채 지지대(280)에 삽입 장착되고, 이동나사(290)에 나사결합하여 이동나사(290)의 회전에 의해 지지대(280)를 따라 상하로 이동하게 된다.

상기 중앙판(240)의 하부에는 하면이 평평한 워크 프레스(210)가 설치되어 왕복운동에 의해 일정한 압력으로 테스트 소켓(220)을 반복적으로 가압한다.

또한, 상기 워크 프레스(210)가 일정 가압 횟수에 도달하면 테스트 소켓(220)의 불량 포고핀 발생 유무를 확인함으로써, 포고핀의 내구성을 테스트하게 된다.

또한, 워크 프레스(210)의 상부에는 링크부(310)가 장착되어 링크부(310)의 일측에 장착된 서보모터(200)의 회전력을 왕복운동으로 변환함으로써 이를 워크 프레스(210)에 전달하게 된다.

이때, 본 발명에서는 링크부(310)에 회전력을 부여하기 위해 서보모터(200)를 사용함으로써, 빠른 응답과 넓은 속도제어의 범위로 워크 프레스(210)의 왕복운동을 조절하는 것이 가능해진다.

덧붙여, 상기 서보모터(200)는 콘트롤 패널(400)에 의해 회전속도가 제어되어 워크 프레스(210)의 왕복이동 속도 및 인덱스 타임(가압과 다음 가압과의 시간차)을 테스트 특성에 맞게 조절할 수 있게 된다.

그리고, 테스트 소켓의 포고핀의 탄성력을 충분히 가압할 수 있는 힘을 얻기 위하여 상기 서보모터(200)의 일측에는 감속기(230)를 설치하여 서보모터의 회전 스피드를 늦추는 대신 회전력을 증대시킨다.

한편, 상기 링크부(310)는 서보모터(200)의 중심축에 장착되어 서보모터(200)의 작동시 회전하는 회전기(311)와, 회전기(311)의 일측에 힌지 베어링(313)으로 결합되어 회전기(311)의 회전운동을 왕복운동으로 변환하는 이동링크(312)와, 이동링크(312)의 하부에 설치되되 중앙판(240)을 관통하여 워크 프레스(210)에 왕복운동을 전달하는 전달기(314)로 이루어진다.

또한, 상기 전달기(314)는 중앙판(240)에 형성된 관통홀에 슬라이드 베어링(241)으로 연결되어 왕복운동시 중앙판(240)과의 사이에서 발생하는 마찰력을 최소화하게 된다.

그리고, 상기 이동링크(312)의 일측에는 원점확인 센서(315)가 설치되어, 상기 이동링크(312) 및 이동링크에 전달기(314)로 연결된 워크 프레스(210)가 테스트 소켓(220)에 가압이 전달되는 상태, 즉 내구성 시험을 위한 자동 모드 준비가 완료된 상태에 있을 때, 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220)간의 거리를 확인하게 된다.

이 확인 거리 정보는 어느 정도 시일이 경과한 후에 동일한 소켓의 내구성 시험을 하고자 할 때 이용하기 위한 세팅 정보이다.

덧붙여, 상기 이동나사(290)의 상부에는 나사 작동부(350)가 설치되어 이동나사(290)를 돌리 것이 가능해지는데, 상기 나사 작동부(350)는 상부판(250)의 일 측 상부에 장착되어 수동조작에 의해 회전력을 부여하는 핸들부(300)와, 핸들부(300)의 회전력을 상부판(250) 양측의 이동나사(290)에 전달하는 타이밍풀리(351) 및 타이밍벨트(352)와, 타이밍 벨트(352)상에 설치되어 타이밍풀리(351)의 장력이 좌우 한쪽으로 몰리는 것을 방지하는 장력조정 브라켓(353)으로 이루어진다.

구체적인 작동과정을 설명하면, 테스트 소켓(220)을 가압하기 전에 핸들부(300)를 수동으로 돌리는 경우 핸들부(300) 하부에 장착된 타이밍풀리(351a)가 회전하면서 타이밍풀리(351)에 결합된 이동나사(290a)가 함께 회전하여 이동나사(290)와 나사결합된 중앙판(240)이 핸들부의 회전방향에 따라 상하 이동한다.

이때, 핸들부(300) 하부에 장착된 타이밍풀리(351a)에 연결되는 타이밍벨트(352)가 작동하면서 핸들부(300) 반대측에 위치한 타이밍풀리(351b) 및 이동나사(290b)도 같이 회전함에 따라, 중앙판(240)을 상하로 이동시키는데 소요되는 힘이 양쪽에서 부여되도록 한다.

또한, 상기 이동나사(290)는 상부판(250)에 설치된 고정 베어링과 결합하고 중앙판(240) 상부에 설치된 고정 브라켓(251)과 결합하여, 핸들부(300)의 조작에 의한 회전시 이동나사(290) 자체는 상하로 이동되지 않고 중앙판(240)만이 상하로 이동할 수 있도록 한다.

다만, 이동나사(290)의 하부는 받침판(270)의 상면에 설치된 스러스트 베어링(275)과 결합하여 회전시 발생하는 마찰열을 감소시키게 된다.

그리고, 상기 중앙판(240)의 내부홀에는 슬라이딩 베어링(281)을 이용하여 복수의 지지대(280)를 삽입 장착시킴으로써, 이동나사(290)에 의한 중앙판(240) 이동시 지지대(280)와의 마찰을 최소화하게 된다.

상기 중앙판(240)의 일측에는 레이져를 이용한 높이측정 센서(260)가 설치되어 받침판(270)으로부터 중앙판(240)까지의 높이를 측정함으로써, 중앙판(240) 하부에 전달기(314)로 연결된 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220) 사이의 거리를 측정할 수 있게 된다.

더욱이, 상기 콘트롤 패널(400)은 서보모터(200)와 연결되어 서보모터(200)의 방향 전환수를 통해 워크 프레스(210)의 가압 횟수를 산출함으로써, 일정 횟수(예를 들어 10만 또는 20만)만큼의 가압이 이루어진 후에 테스트 소켓(220)을 꺼내어 소켓 내부의 포고핀 변형상태를 관찰하게 된다.

또한, 상기 콘트롤 패널(400)은 각 테스트 소켓(220)별로 가압 횟수에 따른 워크 프레스(210)의 높이를 저장하여, 동일한 테스트 소켓(220)을 가압하거나 일정 가압횟수 이후에 다시 테스트를 시작하는 경우 저장된 가압횟수와 워크 프레스(210)의 높이로 테스트를 재개하는 것이 가능해진다.

그리고, 콘트롤 패널(400)의 전면에는 스톱버튼(410)이 설치되어 테스트 장치에 응급상황 발생시 서보모터(200)의 일측에 장착된 감속기(230)를 작동시킴에 따라 서보모터(200)의 작동을 재빨리 중단시킴으로써, 안전사고의 발생을 차단하게 된다.

이하 상기에서 설명한 본 발명에 따른 테스트 소켓을 이용한 반도체 칩 테스트 장치의 작동과정을 살펴보기로 한다.

우선, 워크 프레스(210)가 받침판(270)에서 일정 거리만큼 이격된 상태에서 받침판(270) 하부의 보드(271)에 테스트 소켓(220)을 안착시키고, 콘트롤 패널(400)에 나타난 워크 프레스(210)의 높이를 관측하면서 핸들부(300) 조작에 의해 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220) 사이의 거리를 조절한다.

이후, 콘트롤 패널(400)의 조작을 통해 서보모터(200)의 회전각을 미세 이동시켜 워크 프레스(210)를 하강시킴으로써, 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220)간의 미세한 거리를 조절하게 된다.

이때, 워크 프레스(210)가 적정 높이에 세팅되었을때 그 높이값을 콘트롤 패널(400)에 저장하여 동일한 종류의 테스트 소켓(220)을 테스트시 세팅 조건을 그대로 활용함으로써, 워크 프레스(210)의 높이를 조절하는데 소요되는 시간을 절감할 수 있다.

그리고, 워크 프레스(210)의 높이를 조절한 후에는 콘트롤 패널(400)에 일정한 회전각을 입력하여 서보모터(200)가 일정한 압력으로 테스트 소켓(220)을 가압하도록 한다.

또한, 상기 콘트롤 패널(400)은 서보모터(200)의 회전수를 통해 워크 프레스(210)의 가압 횟수를 제어하고, 가압 횟수가 콘트롤 패널(400)에 설정된 일정값에 도달시 서보모터(200)의 작동은 자동 중단된다.

다음으로, 핸들부(300)를 다시 조작하여 워크 프레스(210)를 상방향으로 이동시킨후 테스트 소켓(220)을 꺼내어 현미경 등을 통해 그 소켓 내부의 포고핀 변형상태를 육안으로 관찰하거나 전기적 성능 저하(Electrical Contact Failure)를 검사하게 된다.

이와 같이, 본 발명은 핸들부(300)를 사용하여 워크 프레스(210)의 높이를 조절하고, 서보모터(200)를 이용하여 워크 프레스(210)가 반복적으로 테스트 소켓(220)을 가압하도록 하며, 콘트롤 패널(400)에 의해 워크 프레스의 가압횟수 및 높이를 자동으로 조절함으로써, 내구성 테스트의 용이성과 정밀성을 향상시키는 테스트 소켓 내부의 포고핀에 대한 내구성 시험 장치를 제공한다.

이상에서는 본 발명을 특정의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되지 않으며, 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 실시할 수 있는 다양한 형태의 실시예들을 모두 포함한다.

도 1은 반도체 패키지용 테스트 소켓의 개시도,

도 2는 종래 테스트 소켓 시험 장치,

도 3는 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 개시도,

도 4는 도 3의 사시도.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

200 : 서보모터 210 : 워크 프레스

220 : 테스트 소켓 230 : 감속기

240 : 중앙판 250 : 상부판

270 : 받침판 280 : 지지대

290 : 이동나사 300 : 핸들부

Claims (6)

1. 받침판에 수직으로 길게 설치되는 복수의 지지대와;

   상기 받침판의 중앙 하부에 장착되되, 반복적으로 일정한 압력을 받는 테스트 소켓과;

   상기 받침판과 수평을 이룬채 상기 지대대에 삽입 장착되는 중앙판과;

   상기 중앙판의 하부에 장착되어 왕복운동에 의해 상기 테스트 소켓을 반복적으로 가압하는 워크 프레스와;

   상기 워크 프레스의 상부에 연결 설치되어 회전운동을 왕복운동으로 변환시키는 링크부와;

   상기 링크부의 일측에 장착되어 상기 링크부에 회전력을 제공하는 서보모터와;

   상기 중앙판에 수직으로 관통한채 나사결합하는 이동나사와;

   상기 이동나사의 상부에 설치되어 상기 이동나사를 작동시키는 나사 작동부;

   상기 지지대 및 이동나사의 상부에 수직으로 삽입 장착되는 상부판;

   을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.
2. 청구항 1에 있어서, 상기 링크부는 상기 서보모터의 중심에 장착되되 일측에 힌지 베어링을 포함하는 회전기와;

   상기 회전기와 힌지 베어링에 의해 연결되어 상기 회전기의 회전운동시 왕복운동하는 이동링크와;

   상기 이동링크와 워크 프레스를 연결하여 상기 이동링크의 왕복운동을 워크 프레스에 전달하는 전달기;

   를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.
3. 청구항 2에 있어서, 상기 이동링크의 일측에는 원점확인 센서가 설치되어 상기 워크 프레스와 테스트 소켓 사이의 거리를 확인하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.
4. 청구항 1에 있어서, 상기 나사 작동부는 상기 이동나사에 회전력을 가하는 핸들부와;

   상기 핸들부의 하부에 설치되어 핸들부의 회전력을 이동나사에 전달하는 타이밍풀리 및 타이밍벨트와;

   상기 타이밍벨트의 중앙에 장착되어 타이밍풀리의 장력이 한쪽으로 치우침을 방지하는 장력조정 브라켓;

   을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.
5. 청구항 1에 있어서, 상기 중앙판의 일측에는 높이측정 센서가 장착되어 상기 받침판으로부터 중앙판까지의 높이를 측정하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.
6. 청구항 5에 있어서, 상기 높이측정 센서 및 서보모터에 콘트롤 패널이 연결되어 워크 프레스의 높이 및 서보모터의 작동을 제어하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치.

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